Lời nói đầu
\r\n\r\n1 Phạm\r\nvi áp dụng
\r\n\r\n2 Tài\r\nliệu viện dẫn
\r\n\r\n3 Thuật\r\nngữ và định nghĩa
\r\n\r\n4 Yêu\r\ncầu đối với quy trình hiệu chuẩn có thể truy nguyên của thiết bị chuẩn PV
\r\n\r\n5 Phân\r\ntích độ không đảm bảo đo
\r\n\r\n6 Báo\r\ncáo hiệu chuẩn
\r\n\r\n7 Ghi\r\nnhãn
\r\n\r\nPhụ lục A (Tham khảo) - Ví dụ về quy trình hiệu chuẩn\r\ncó hiệu lực
\r\n\r\nThư mục tài liệu tham khảo
\r\n\r\n\r\n\r\n
Lời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 12678-4:2020 hoàn toàn tương đương với IEC\r\n60904-4:2019;
\r\n\r\nTCVN 12678-4:2020 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn Quốc gia\r\nTCVN/TC/E13 Năng lượng tái tạo biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường\r\nChất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.
\r\n\r\nBộ TCVN 12678 (IEC 60904), Thiết bị quang điện, gồm\r\ncác phần sau:
\r\n\r\n- TCVN 12678-1:2020 (IEC 60904-1:2006), Phần 1: Phép\r\nđo đặc tính dòng điện-điện áp quang điện
\r\n\r\n- TCVN 12678-1-1:2020 (IEC 60904-1-1:2017), Phần 1-1:\r\nPhép đo đặc tính dòng điện-điện áp quang điện của thiết bị quang điện nhiều lớp\r\ntiếp giáp
\r\n\r\n- TCVN 12678-2:2020 (IEC 60904-2:2015), Phần 2: Yêu cầu\r\nđối với thiết bị chuẩn quang điện
\r\n\r\n- TCVN 12678-3:2020 (IEC 60904-3:2019), Phần 3: Nguyên\r\nlý đo dùng cho thiết bị quang điện mặt đất với dữ liệu phổ bức xạ chuẩn
\r\n\r\n- TCVN 12678-4:2020 (IEC 60904-4:2019), Phần 4: Thiết\r\nbị chuẩn quang điện - Quy trình thiết lập liên kết chuẩn hiệu chuẩn
\r\n\r\n- TCVN 12678-5:2020 (IEC 60904-5:2011), Phần 5: Xác định\r\nnhiệt độ tương đương của tế bào của thiết bị quang điện bằng phương pháp điện\r\náp hở
- TCVN 12678-7:2020 (IEC 60904-7:2019), Phần 7: Tính\r\ntoán hiệu chỉnh sự không phù hợp phổ đối với các phép đo của thiết bị quang điện
\r\n\r\n- TCVN 12678-8:2020 (IEC 60904-8:2014), Phần 8: Phép\r\nđo đáp ứng phổ của thiết bị quang điện
\r\n\r\n- TCVN 12678-8-1:2020 (IEC 60904-8-1:2017), Phần 8-1:\r\nPhép đo đáp ứng phổ của thiết bị quang điện nhiều lớp tiếp giáp
\r\n\r\n- TCVN 12678-9:2020 (IEC 60904-9:2007), Phần 9: Yêu cầu\r\nvề tính năng của bộ mô
- TCVN 12678-10:2020 (IEC 60904-10:2009), Phần 10:\r\nPhương pháp đo độ tuyến tính
\r\n\r\n\r\n\r\n
Tiêu chuẩn này đưa ra các yêu cầu đối với quy trình hiệu\r\nchuẩn nhằm thiết lập liên kết chuẩn của các thiết bị chuẩn quang điện (thiết bị\r\nchuẩn PV) tới các đơn vị SI như yêu cầu ở TCVN 12678-2 (IEC 60904-2).
\r\n\r\nTiêu chuẩn này áp dụng cho các thiết bị chuẩn PV được\r\nsử dụng để đo cường độ bức xạ của ánh sáng mặt trời tự nhiên hoặc mô phỏng nhằm\r\nmục đích định lượng tính năng của các thiết bị PV. Việc sử dụng thiết bị chuẩn\r\nPV được yêu cầu trong nhiều tiêu chuẩn liên quan đến PV (ví dụ: TCVN 12678-1\r\n(IEC 60904-1) và TCVN 12678-3 (IEC 60904-3)).
\r\n\r\nTiêu chuẩn này được biên soạn cho các thiết bị chuẩn\r\nPV một lớp tiếp giáp, cụ thể là tinh thể silic nhưng phần chính của tiêu chuẩn\r\nnày nói chung là đủ để
Các tài liệu viện dẫn sau đây là cần thiết cho việc áp\r\ndụng tiêu chuẩn. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng bản\r\nđược nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên\r\nbản mới nhất, bao gồm cả các sửa đổi.
\r\n\r\nTCVN 9595-3:2013 (ISO/IEC Guide 98-3:2008), Độ\r\nkhông đảm bảo đo - Phần 3: Hướng dẫn trình bày độ không đảm bảo đo (GUM:1995)
\r\n\r\nTCVN 12678-1 (IEC 60904-1), Thiết bị quang điện -\r\nPhần 1: Phép đo đặc tính dòng điện-điện áp quang điện
\r\n\r\nTCVN 12678-2 (IEC 60904-2), Thiết bị quang điện - Phần 2: Yêu cầu đối\r\nvới thiết bị chuẩn quang điện
\r\n\r\nTCVN 12678-3 (IEC 60904-3), Thiết bị quang điện - Phần 3: Nguyên lý\r\nđo dùng cho thiết bị quang điện mặt đất với dữ liệu phổ bức xạ chuẩn
\r\n\r\nIEC TS 61836, Solar photovoltaic energy systems - Terms, definitions\r\nand symbols (Hệ thống năng lượng quang điện mặt trời - Thuật ngữ, định nghĩa và\r\nký hiệu)
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này áp dụng các thuật ngữ và định nghĩa nêu trong IEC TS\r\n61836 và các thuật ngữ và định nghĩa dưới đây.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Các thiết bị đo chuẩn khác nhau dùng cho chuỗi liên kết chuẩn\r\nđo cường độ bức xạ mặt trời được định nghĩa trong Điều này. Các ví dụ đối với từng\r\nphân loại được liệt kê trong Bảng 1, và cũng đề cập đến tiêu chuẩn liên quan\r\n(trong trường hợp có sẵn). Hình 1 thể hiện theo sơ đồ các chuỗi liên kết ch
3.1
\r\n\r\nChuẩn đầu (primary standard)
\r\n\r\nChuẩn được chỉ định hoặc được biết đến rộng rãi vì có chất lượng đo lường\r\ncao nhất và giá trị của nó được chấp nhận mà không cần tham chiếu đến các chuẩn\r\nkhác của cùng đại lượng.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Khái niệm chuẩn đầu có hiệu lực như nhau đối với các đại\r\nlượng cơ sở và đại lượng được suy ra.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Chuẩn đầu không bao giờ được sử dụng để đo trực tiếp mà\r\ndùng để so sánh với các chuẩn đầu khác hoặc các chuẩn thứ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Chuẩn đầu thường được duy trì bởi các\r\nviện đo lường quốc gia (NMI) hoặc các tổ chức tương tự được ủy thác bảo tr
CHÚ THÍCH 4: Chuẩn đo bức xạ toàn cầu (WRR) được nhận biết b
3.2
\r\n\r\nChuẩn thứ (secondary\r\nstandard)
\r\n\r\nThiết bị, bằng việc so sánh định kỳ với chuẩn đầu, dùng để duy trì sự\r\nphù hợp với các đơn vị SI ở những địa điểm khác với địa điểm của chuẩn đầu.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Chuẩn thứ không nhất thiết phải sử dụng các nguyên lý kỹ\r\nthuật giống như chuẩn đầu nhưng cố gắng để đạt được độ ổn định, độ chính xác và\r\nđộ lặp lại dài hạn tương tự.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Các chuẩn thứ điển hình để đo cường độ bức xạ mặt trời là\r\nmáy đo bức xạ khoang tham gia định kỳ (thông thường cứ sau 5 năm) trong So sánh\r\ntrực xạ kế quốc tế (IPC) với WSG, từ đó cho liên kết chuẩn tới WRR. Liên kết\r\nchuẩn trực tiếp tới thang đo bức xạ theo SI có thể có sẵn\r\nđối với các thiết bị đo này.
\r\n\r\n3.3
\r\n\r\nThiết bị chuẩn sơ cấp\r\n(primary reference)
\r\n\r\nThiết bị đo được phòng thí nghiệm sử dụng để hiệu chuẩn thiết bị chuẩn\r\nthứ cấp được so sánh định kỳ với chuẩn thứ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Thông thường thiết bị chuẩn sơ cấp có thể thu được với chi\r\nphí thấp hơn nhiều so với chuẩn thứ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Một tế bào PV thường được sử dụng làm thiết bị chuẩn đối với\r\nphép đo cường độ bức xạ ánh sáng tự nhiên hoặc mô phỏng. Các thiết bị chuẩn sơ\r\ncấp thường được sử dụng bởi các phòng thí nghiệm hiệu chuẩn và phòng thử nghiệm.
\r\n\r\n3.4
\r\n\r\nThiết bị chuẩn thứ cấp\r\n(secondary reference)
\r\n\r\nThiết bị đo được sử dụng cho các phép đo thường xuyên hàng ngày hoặc để\r\nhiệu chuẩn thiết bị chuẩn làm việc và được hiệu chuẩn định kỳ theo thiết bị chuẩn\r\nsơ cấp.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thiết bị chuẩ
3.5
\r\n\r\nThiết bị chuẩn làm việc\r\n(working reference)
\r\n\r\nThiết bị đo được sử dụng cho các phép đo thường xuyên hàng ngày, được\r\nhiệu chuẩn định kỳ theo thiết bị chuẩn thứ cấp.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Thiết bị chuẩn làm việc thông dụng nhất để\r\nđo cường độ bức xạ ánh sáng tự nhiên hoặc mô phỏng là tế bào PV và môđun PV.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Các thiết bị chuẩn thứ cấp thường được sử dụng trong sản\r\nxuất công nghiệp.
\r\n\r\n3.6
\r\n\r\nLiên kết chuẩn\r\n(traceability)
\r\n\r\n<của thiết bị chuẩn PV> Yêu cầu đối với bất kỳ thiết bị chuẩn PV\r\nnào để liên kết giá trị hiệu chuẩn của thiết bị tới đơn vị SI trong chuỗi lan\r\ntruyền hiệu chuẩn không bị gián đoạn và được lập thành tài liệu bao gồm cả độ\r\nkhông đảm bảo đo được công bố.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: WRR đã được so sánh với thang đo bức xạ SI vài lần. Trong\r\nkhi trong các lần so sánh trước, hai
[NGUỒN: A Fehlmann, G Kopp, W
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Chuẩn sơ cấp \r\n | \r\n \r\n Nhóm các máy đo bức xạ khoang tạo thành Nhóm chuẩn thế giới (WSG) của\r\n máy đo bức xạ chuẩn của thế giới (WRR) \r\nBộ phát hiện bẫy cryo (Cryogenic trap detector) \r\nBóng đèn chuẩn \r\n | \r\n
| \r\n Chuẩn thứ cấp \r\n | \r\n \r\n Máy đo bức xạ khoang có sẵn trên thị trường so sánh 5 năm một lần tại\r\n So sánh trực xạ kế quốc tế (IPC) \r\nBộ phát hiện chuẩn được hiệu chuẩn theo bộ phát hiện bẫy \r\nMáy đo phổ bức xạ được hiệu chuẩn theo bóng đèn chuẩn \r\n | \r\n
| \r\n Thiết bị chuẩn sơ cấp \r\n | \r\n \r\n Trực xạ kế thẳng góc (NIP) (ISO 9059) \r\nThiết bị chuẩn PV (TCVN 12678-2 (IEC 60904-2) và TCVN 12678-4 (IEC\r\n 60904-4)) \r\n | \r\n
| \r\n Thiết bị chuẩn thứ cấp \r\n | \r\n \r\n Nhật xạ kế (ISO 9846) \r\nThiết bị chuẩn PV (TCVN 12678-2 (IEC 60904-2)) \r\n | \r\n
| \r\n Thiết bị chuẩn làm việc \r\n | \r\n \r\n Nhật xạ kế (ISO 9847) \r\nThiết bị chuẩn PV (TCVN 12678-2 (I | \r\n
\r\n\r\n
4 Yêu cầu đối với quy trình hiệu chuẩn có thể truy\r\nnguyên của thiết bị chuẩn PV
\r\n\r\nMột quy trình hiệu chuẩn có thể truy nguyên là cần thiết để lan truyền\r\nviệc hiệu chuẩn từ một chuẩn hoặc một thiết bị chuẩn đo cường độ bức xạ mặt trời\r\nchuẩn và dựa trên nguyên lý vật lý không phải hiệu ứng PV (như máy đo bức xạ\r\nkhoang, trực xạ kế và nhật xạ kế) sang thiết bị chuẩn PV. Các yêu cầu cho quy\r\ntrình này như sau:
\r\n\r\na) Mọi thiết bị đo được yêu cầu và được sử dụng trong quy trình lan\r\ntruyền phải là một thiết bị đo có chuỗi liên kết chuẩn không đứt đoạn.
\r\n\r\nb) Phân tích độ không đảm bảo đo được lập thành tài liệu.
\r\n\r\nc) Độ lặp lại được lập thành tài liệu, ví dụ như kết quả đo so sánh\r\nliên phòng hoặc tài liệu kiểm soát chất lượng phòng thí nghiệm.
\r\n\r\nd) Có độ chính xác tuyệt đối riêng bằng một số giới hạn lan truyền\r\ntrung gian.
\r\n\r\nThông thường việc lan truyền sẽ từ một chuẩn thứ sang thiết bị chuẩn PV\r\ntạo thành một thiết bị chuẩn PV sơ cấp.
\r\n\r\nViệc lan truyền từ một thiết bị chuẩn PV sang thiết bị khác được đề cập\r\ntrong TCVN 12678-2 (IEC 60904-2).
\r\n\r\n5 Phân tích độ không đảm bảo đo
\r\n\r\nƯớc lượng độ không đảm bảo đo theo TCVN 9595-3:2013 (ISO/IEC Guide\r\n98-3:2008) phải được cung cấp cho từng quy trình hiệu chuẩn có thể truy nguyên.\r\nƯớc lượng này phải cung cấp thông tin về độ không đảm bảo đo của quy trình hiệu\r\nchuẩn và dữ liệu định lượng về các yếu tố không đảm bảo sau đây cho mỗi thiết bị\r\nđược sử dụng để thực hiện quy trình hiệu chuẩn. Đặc biệt:
\r\n\r\na) Thành phần của độ không đảm bảo phát sinh từ các ảnh hưởng ngẫu\r\nnhiên (Loại A).
\r\n\r\nb) Thành phần của độ không đảm bảo phát sinh từ các ảnh hưởng hệ thống\r\n(Loại B).
\r\n\r\nPhòng thí nghiệm cụ thể phải phân tích độ không đảm bảo đo đầy đủ để thực\r\nhiện phương pháp hiệu chuẩn. Phụ lục A đưa ra các ví dụ về các thành phần không\r\nđảm bảo chính trong một số phương pháp thực hiện cụ thể. Do sự đa dạng của các\r\nphương pháp có sẵn, không thể đưa ra hướng dẫn chi tiết về cách cần thực hiện\r\nphân tích độ không đảm bảo đo cụ thể. Tuy nhiên, các thành phần dưới đây ph
- độ không đảm bảo đo của tất cả các thiết bị đo liên quan;
\r\n\r\n- bù hoặc độ trôi của tất cả các thiết bị đo;
\r\n\r\n- độ không đảm bảo đo của tất cả các thiết bị chuẩn được sử dụng;
\r\n\r\n- độ không đảm bảo đo của nhiệt độ thiết bị được đo;
\r\n\r\n- độ không đảm bảo đo của phép đo cường độ bức xạ (cường độ bức xạ tổng\r\nvà phổ bức xạ);
\r\n\r\n- độ không đảm bảo đo đưa vào do độ lệch giữa phổ bức xạ thực và phổ bức\r\nxạ chuẩn;
\r\n\r\n- sự góp phần do đô lặp loại và độ tái lập;
\r\n\r\n- độ không đảm bảo đo do độ không ổn định của các điều kiện và thiết bị\r\nđo.
\r\n\r\n\r\n\r\nBáo cáo hiệu chuẩn phải bao gồm ít nhất các thông tin sau:
\r\n\r\na) tiêu đề (ví dụ: "Giấy chứng nhận hiệu chuẩn);
\r\n\r\nb) tên và địa chỉ của phòng thí nghiệm, và địa điểm nơi thực hiện hiệu\r\nchuẩn, nếu khác với địa chỉ của phòng thí nghiệm;
\r\n\r\nc) nhận dạng duy nhất của báo cáo (như số sê-ri) và của từng trang, tổng\r\nsố trang và ngày phát hành;
\r\n\r\nd) tên và địa chỉ của khách hàng đặt hàng;
\r\n\r\ne) mô tả và xác định rõ ràng của (các) vật phẩm được hiệu chuẩn;
\r\n\r\nf) ngày nhận (các) vật phẩm hiệu chuẩn và (các) ngày thực hiện hiệu chuẩn,\r\nnếu thích hợp;
\r\n\r\ng) các kết quả hiệu chuẩn và độ không đảm bảo đo của chúng, bao gồm nhiệt\r\nđộ của thiết bị khi thực hiện hiệu chuẩn;
\r\n\r\nh) tham chiếu đến các quy trình lấy mẫu được sử dụng bởi phòng thí nghiệm\r\ntrong đó các quy trình này có liên quan đến tính hợp lệ hoặc áp dụng kết quả;
\r\n\r\ni) tên, chức vụ và chữ ký hoặc nhận dạng tương đương của người phê duyệt\r\nbáo cáo;
\r\n\r\nj) khi có liên quan, một tuyên bố về ảnh hưởng của kết quả chỉ liên\r\nquan đến các vật phẩm được hiệu chuẩn;
\r\n\r\nk) trong trường hợp có liên quan, đáp ứng phổ của thiết bị chuẩn PV;
\r\n\r\nl) trong trường hợp có liên quan, hệ số nhiệt độ của thiết bị chuẩn PV.
\r\n\r\n\r\n\r\nThiết bị chuẩn PV được hiệu chuẩn phải được ghi nhãn với số sê ri hoặc\r\nsố tham chiếu và các thông tin kèm theo dưới đây hoặc được cung cấp trong giấy\r\nchứng nhận đi kèm:
\r\n\r\na) Ngày hiệu chuẩn (thực tế hoặc hiện hành);
\r\n\r\nb) Giá trị hiệu chuẩn và độ không đảm bảo đo của nó;
\r\n\r\nc) nhận dạng phòng thí nghiệm thực hiện hiệu chuẩn.
\r\n\r\nA.1.1
Phụ lục này mô tả các ví dụ về quy trình hiệu chuẩn cho thiết bị chuẩn\r\nPV là thiết bị chuẩn sơ cấp, cùng với độ không đảm bảo đo đã công bố của chúng.\r\nCác quy trình này dùng để thiết lập liên kết chuẩn của các thiết bị chuẩn PV tới\r\ncác đơn vị SI theo yêu cầu của TCVN 12678-2 (IEC 60904-2). Các thiết bị chuẩn\r\nsơ cấp được hiệu chuẩn theo các quy trình này nhằm thiết lập liên kết chuẩn của\r\ncác thiết bị chuẩn PV khác mà sau đó sẽ trở thành thiết bị chuẩn thứ cấp.
\r\n\r\nNhư đã đề cập trong Điều 1, các phương pháp trong phụ lục này được giới\r\nhạn trong công nghệ PV một lớp tiếp giáp. Ngoài ra, hiện nay chúng chỉ có hiệu\r\nlực cho công nghệ tinh thể silic, mặc dù chúng có thể được áp dụng cho các công\r\nnghệ khác.
\r\n\r\nCác phương pháp đã được thực hiện ở nhiều phòng thí nghiệm khác nhau\r\ntrên khắp thế giới và có hiệu lực trong so sánh liên phòng quốc tế, đáng chú ý\r\nnhất là Thang đo quang điện thế giới (WPVS). Tuy nhiên, mô tả trong tiêu chuẩn\r\nnày là tổng quát hơn. Để biết chi tiết về việc thực hiện khác nhau này, các tài\r\nliệu tham khảo trong các công bố tương đương nhau được đưa ra ở cuối mỗi quy\r\ntrình.
\r\n\r\nCác ước lượng độ không đảm bảo đo dựa trên
A.1.2
A.2
A.3
A.4
A.5
A.1.3
| \r\n ISC \r\n | \r\n \r\n Dòng ngắn mạch của thiết bị chuẩn PV \r\n | \r\n
| \r\n Tj \r\n | \r\n \r\n Nhiệt độ của thiết bị chuẩn \r\n | \r\n
| \r\n MG \r\n | \r\n \r\n Hệ số hiệu chỉnh cường độ bức xạ (xem bên dưới) \r\n | \r\n
| \r\n MT \r\n | \r\n \r\n Hệ số hiệu chỉ | \r\n
| \r\n Tcoef \r\n | \r\n \r\n hệ số nhiệt độ α của dòng điện ngắn mạch (IEC 60891) được chuẩn hóa về | \r\n
| \r\n SMM \r\n | \r\n \r\n Hệ số không phù hợp phổ (TCVN 12678-7 (IEC 60904-7)) \r\n | \r\n
| \r\n λ \r\n | \r\n \r\n Bước sóng \r\n | \r\n
| \r\n s(λ) \r\n | \r\n \r\n Đáp ứng phổ của thiết bị chuẩn PV là hàm của bước sóng λ \r\n | \r\n
| \r\n s(λ, Tj) \r\n | \r\n \r\n Đáp ứng phổ của thiết bị chuẩn PV là hàm của bước sóng λ và nhiệt độ\r\n Tj \r\n | \r\n
| \r\n
| \r\n \r\n Vi phân một phần của đáp ứng phổ với nhiệt độ là hàm của bước sóng λ \r\n | \r\n
| \r\n
| \r\n \r\n Đáp ứng phổ vi sai của thiết bị chuẩn PV \r\n | \r\n
| \r\n Emeas (λ) \r\n | \r\n \r\n Phân bố phổ bức xạ | \r\n
| \r\n Eref (λ) \r\n | \r\n \r\n Phân bố phổ bức xạ tiêu chuẩn hoặc chuẩn theo TCVN 12678-3 (IEC\r\n 60904-3) \r\n | \r\n
| \r\n Gdir \r\n | \r\n \r\n Cường độ bức xạ trực tiếp \r\n | \r\n
| \r\n Gdif \r\n | \r\n \r\n Cường độ bức xạ khuếch tán trong mặt phẳng \r\n | \r\n
| \r\n GT \r\n | \r\n \r\n Cường độ bức xạ tổng trong mặt phẳng \r\n | \r\n
| \r\n GSTC \r\n | \r\n \r\n Cường độ bức xạ ở STC ( = 1 000 W∙m | \r\n
| \r\n CV \r\n | \r\n \r\n Giá trị hiệu chuẩn, ví dụ ISC | \r\n
| \r\n AM \r\n | \r\n \r\n Khối lượng không khí \r\n | \r\n
| \r\n STC \r\n | \r\n \r\n Điều kiện thử nghiệm chuẩn ( 1 000 W∙m | \r\n
| \r\n P \r\n | \r\n \r\n Áp suất không khí cục bộ \r\n | \r\n
| \r\n P0 \r\n | \r\n \r\n 101 300 Pa \r\n | \r\n
| \r\n θ \r\n | \r\n \r\n Góc chiếu của mặt trời \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image002.jpg\"){kind=small}
![](\"00919859_files/image003.jpg\"){kind=small}
A.1.4
Phương pháp được mô tả trong A.2, A.4 và A.5 có chung một số công thức\r\ntính toán được nêu chi tiết trong điều này. Chi tiết của việc thực hiện khác\r\nnhau thì được mô tả trong từng điều nhỏ.
\r\n\r\nISC thông thường không được đo ở chính xác 1 000 Wm
| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image004.gif\")
Nếu phép đo cường độ bức xạ được truy nguyên tới WRR thì số đọc cường độ\r\nbức xạ có thể được hiệu chỉnh đối với thang đo khác với đơn vị SI.
\r\n\r\nSTC bắt buộc nhiệt độ thiết bị là 25 °C, nhưng các phép đo sẽ\r\nkhông luôn luôn được thực hiện ở nhiệt độ này. Các sai lệch về nhiệt độ cần được\r\ntính vào quỹ độ không đảm bảo đo. Cũng có thể hiệu chỉnh ISC từ nhiệt\r\nđộ đo Tj đến 25 °C
| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image005.jpg\")
Hiệu chỉnh cho sự khác nhau của đáp ứng phổ của thiết bị chuẩn PV cần\r\nhiệu chuẩn và thiết bị được sử dụng để đo cường độ bức xạ có thể được tính như\r\nhệ số không phù hợp phổ SMM:
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image006.jpg\")
CHÚ THÍCH: Công thức A.3 giống như trong TCVN 12678-7 (IEC 60904-7) đối\r\nvới trường hợp bộ phát hiện kiểu pin nhiệt điện trong đó đáp ứng phổ của thiết\r\nbị cần thử nghiệm là đáp ứng phổ của thiết bị chuẩn PV cần hiệu chuẩn.
\r\n\r\nPhạm vi tích phân là toàn bộ bước sóng. Đối với Eref (λ),\r\ncường độ bức xạ bằng 0 ở bước sóng dưới 280 nm. Việc này cũng duy trì bình thường\r\nđối với Emeas(λ) đặc biệt trong ánh sáng mặt trời tự nhiên.\r\nVì lý do thực tiễn, tích phân một cách rõ ràng không thể được tính đến ở bước\r\nsóng trên 4 000 nm vì Eref (λ) không xác định được rõ ràng mà\r\nchỉ có thể tích phân cường độ bức xạ trong khoảng từ 4 000 nm đến vô cùng. Emeas(λ)\r\nchỉ được đo một cách điển hình trong phạm vi bước sóng nhỏ hơn, ví dụ đến 2 500\r\nnm. Để tính toán tích phân, có thể sử dụng phép xấp xỉ thích hợp, (cắt bớt tích\r\nphân) hoặc mở rộng các dữ liệu phổ bức xạ đo được bằng cách ngoại suy hoặc mô\r\nhình hóa nhưng cần được tính đến trong tính toán độ không đảm bảo đo. Ví dụ, cắt\r\nbớt tích phân ở 4 000 nm đối với DSM sẽ dẫn đến sai số 0,025 %, trong khi cắt bớt\r\nở 2 500 nm, sai số là 0,116 %. Các giá trị này đã được xác định từ phổ bức xạ\r\ntrực tiếp và toàn cầu như xác định ở TCVN 12678-3 (IEC 60904-3).
\r\n\r\nMáy đo bức xạ khoang được sử dụng cho phép đo bức xạ được giả thiết\r\nphát hiện cường độ bức xạ ở tất cả các bước sóng hoàn chỉnh. Các sai lệch có thể\r\ncó từ đặc tính hoàn thiện này cần được hiệu chỉnh hoặc được tính đến trong độ\r\nkhông đảm bảo đo.
\r\n\r\nGiá trị hiệu chuẩn (CV) của thiết bị chuẩn PV được tính như sau:
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image007.jpg\")
A.1.5
- IEC 60891, Procedures for temperature and irradiance corrections\r\nto measured I
- TCVN 12678-7:2020 (IEC 60904-7:2008), Thiết bị quang điện - Phần\r\n7: Tính toán hiệu chỉnh sự không phù hợp phổ đ
- TCVN 12678-10:2020 (IEC 60904-10:2009), Thiết bị quang điện - Phần\r\n10: Phương pháp đo độ tuyến tính
\r\n\r\n- C. R. Osterwald et al. “The results of the PEP’93\r\nintercomparison of reference cell calibrations and newer technology performance\r\nmeasurements: Final Report”, NREL/TP- 520-23477 (1998) 209 pages.
\r\n\r\n- C. R. Osterwald et al. “The world photovoltaic\r\nscale: an international reference cell calibration prpgram”, Progress in\r\nPhotovoltaics 7 (1999) 287-297.
\r\n\r\n- K. Emery “
- Winter el al.: “The results of the Second World Photovoltaic Scale\r\nRecalibration”, Proc. of the 31st IEEE PVSC 3-7 January 2005,\r\nOrlando, Florida, USA, pp. 1011-1014
\r\n\r\nA.2 Phương pháp ánh sáng mặt trời toàn cầu (GSM)
\r\n\r\nA.2.1
Việc thiết lập liên kết chuẩn dựa trên việc hiệu chuẩn bằng Phương pháp\r\nmặt trời và bóng râm liên tục như được mô tả trong ISO 9846. Thiết bị chuẩn PV\r\ncần hiệu chuẩn được so sánh dưới ánh sáng mặt trời tự nhiên
Trong những điều kiện nhất định, phương pháp ánh sáng mặt trời toàn cầu\r\nđơn giản hóa được áp dụng. Dòng điện ngắn mạch của thiết bị chuẩn PV được hiệu\r\nchỉnh theo công thức (A.1) và (A.2) và sau đó được vẽ đồ thị theo khối lượng\r\nkhông khí (AM) hình học đã hiệu chỉnh áp suất. Giá trị hiệu chuẩn được xác định\r\ntừ bình phương tối thiểu tuyến tính ở AM = 1,5. Không yêu cầu hiệu chỉnh theo
Việc kiểm tra xác nhận và phê duyệt sẽ tạo ra các giá trị số cho cả hai\r\nphương pháp. Nếu sự hài hòa giữa các giá trị số này nằm trong quỹ độ không đảm\r\nbảo đo của các phương pháp thì phương pháp đơn giản hóa sẽ được coi là hợp lệ.
\r\n\r\nQuy trình đơn giản hóa mang lại kết quả chính xác cho các thiết bị có\r\nđáp ứng phổ trên một phạm vi rộng của phổ mặt trời, ví dụ: thiết bị tinh thể\r\nsilic nhưng có thể tạo ra các sai số đáng kể đối với các thiết bị đáp ứng phổ hẹp.
\r\n\r\nA.2.2
a) Một bệ đỡ, có thể được định hướng vuông góc với mặt trời với độ\r\nchính xác ± 0,5 ° trong suốt quá trình hiệu chuẩn.
\r\n\r\nb) Một máy đo bức xạ khoang, có thể truy nguyên tới WRR.
\r\n\r\nc) Một nhật xạ kế, có thể truy nguyên tới WRR.
\r\n\r\nd) Một thiết bị tạo bóng râm để cung cấp bóng râm cho mục c). Góc trường,\r\ngóc quan sát và góc khẩu độ được cung cấp bởi bóng râm sẽ bù cho các góc mô tả\r\ntương ứng của máy đo bức xạ khoang ở mục b).
\r\n\r\ne) Khối lắp có kiểm soát nhiệt độ dùng cho thiết bị chuẩn cần thử nghiệm\r\ncó khả năng duy trì nhiệt độ thiết bị ở (25 ± 2) °
f) Phương tiện có thể truy nguyên để đo dòng điện ngắn mạch của thiết bị\r\nchuẩn PV với độ chính xác là ± 0,1% hoặc tốt hơn.
\r\n\r\ng) Phương tiện có thể truy nguyên để đo tín hiệu của nhật xạ kế với độ\r\nchính xác là ± 0,5 % hoặc tốt hơn.
\r\n\r\nh) Không yêu cầu ở phiên bản đơn giản hóa: Máy đo phổ bức xạ có khả\r\nnăng đo phổ bức xạ của tổng ánh sáng mặt trời tự nhiên trên mặt phẳng.
\r\n\r\ni) Không yêu cầu ở
j) Không yêu cầu ở phiên bản đơn giản hóa: Phương tiện để đo độ cao của\r\nmặt trời đến độ chính xác là ± 2°. Ngoài ra, độ cao của mặt trời trong quá trình\r\nlấy mẫu dữ liệu có thể được lấy từ niên giám hoặc tính toán, miễn là yêu cầu độ\r\nchính xác được đáp ứng ngay khi lấy mẫu dữ liệu. Sau đó thường yêu cầu các\r\nphương tiện có thể truy nguyên để đo thời gian tính toán khối lượng không khí.
\r\n\r\nk) Không yêu cầu ở
A.2.3
Việc hiệu chuẩn theo tiêu chuẩn này chỉ được thực hiện vào những ngày nắng\r\ntrong, không có
a) Không yêu cầu ở phiên bản đơn giản hỏa: Xác định đáp ứng phổ liên\r\nquan của thiết bị chuẩn PV theo TCVN 12678-8 (IEC 60904-8).
\r\n\r\nb) Chọn địa điểm và/hoặc mùa trong năm để đảm bảo rằng độ cao của mặt\r\ntrời đạt đến một góc trong suốt quá trình trong ngày tương ứng với AM 1,5\r\n(41,8° ở P0
c) Lắp máy đo bức xạ khoang trên thiết bị hướng mặt trời (A.2.1.a). Máy\r\nđo bức xạ có sẵn trong thương mại có bộ phận điện tử riêng được kết nối với thiết\r\nbị theo khuyến nghị của nhà chế tạo. Cho phép đủ thời gian để ổn định các bộ phận\r\nđiện tử.
\r\n\r\nd) Lắp thiết bị chuẩn PV cần hiệu chuẩn đồng phẳng trên bệ lắp, gắn nó\r\nvào khối lắp và duy trì nhiệt độ của thiết bị ở (25 ± 2) °
e) Lắp nhật xạ kế nhằm đo bức xạ mặt trời khuếch tán đồng phẳng trên bệ\r\nlắp. Đảm bảo rằng trong phạm vi quan sát của nhật xạ kế, không có bề mặt phản\r\nchiếu nào ảnh hưởng đến kết quả đo. Lắp thiết bị tạo bóng râm và đảm bảo rằng\r\nkhu vực nhạy của nhật xạ kế được chỉ vào trung tâm của bóng râm.
\r\n\r\nf) Không yêu cầu ở phiên bản đơn giản hóa: Lắp máy đo phổ bức xạ đồng\r\nphẳng trên bệ lắp.
\r\n\r\ng) Thực hiện đọc đồng thời theo các bước sau:
\r\n\r\n1) Đảm bảo căn chỉnh của tất cả các thiết\r\nbị liên quan đến mặt trời và căn chỉ
2) Đảm bảo rằng nhiệt độ của thiết bị chuẩn PV nằm trong giới hạn cho\r\ntrong d).
\r\n\r\n3) Ghi lại Gdir, cường độ bức xạ bình thường trực tiếp\r\nnhư được chỉ ra bằng máy đo bức xạ khoang.
\r\n\r\n4) Ghi lại Gdif
5) Ghi lại ISC, dòng điện ngắn mạch\r\ncủa thiết bị chuẩn PV cần hiệu chuẩn
\r\n\r\n6) Không yêu cầu ở phiên bản đơn giản hóa: Ghi lại Emeas(λ),\r\nphổ bức xạ của ánh sáng mặt trời tự nhiên toàn cầu.
\r\n\r\n7) Chỉ yêu cầu ở phiên bản đơn giản hóa: Đo θ, góc độ cao mặt trời, hoặc\r\ncách khác, ghi lại giờ, phút và giây của lấy mẫu dữ liệu và tính độ cao của mặt\r\ntrời.
\r\n\r\n8) Không yêu cầu ở phiên bản đơn giản hỏa: Ghi lại
9) Không yêu cầu ở phiên bản đơn giản hóa: Lặp lại các bước từ 1 đến 6\r\nnhiều lần.
\r\n\r\n10) Không yêu cầu ở phiên bản đơn giản hóa: Lặp lại các bước 1 đến 5, 7\r\nvà 8 ít nhất cứ sau 5 min trong vài giờ trước và sau buổi trưa, trải dài phạm\r\nvi khối lượng không khí từ dưới AM 1,5 đến trên AM 3,0 trong cả hai khoảng thời\r\ngian.
\r\n\r\nh) Lặp lại toàn bộ quy trình đo trong ít nhất hai ngày khác.
\r\n\r\nA.2.4
Đối với tất cả các điểm dữ liệu được thực hiện, áp dụng theo trình tự\r\ncác bước sau:
\r\n\r\na) Từ chối các điểm dữ liệu trong đó Gdir, Gd
b) Tính tổng cường độ bức xạ G
c) Chia tỷ lệ dòng điện ngắn mạch ISC
d) Hiệu chỉnh nhiệt độ theo công thức A.2.
\r\n\r\nViệc này thường không được yêu cầu vì nhiệt độ được duy trì như mô tả\r\ntrong A.2.2.d) và độ lệch nhiệt độ cho phép được tính trong quỹ độ không đảm bảo\r\nđo.
\r\n\r\ne) Hiệu chỉnh sự sai lệch trong đáp ứng phổ theo công thức A.3, trong\r\nđó Emeas(λ) là phổ bức xạ đo được của ánh sáng mặt trời tự\r\nnhiên toàn cầu.
\r\n\r\nf) Tính giá trị hiệu chuẩn theo công thức A.4.
\r\n\r\ng) Trung bình tất cả các giá trị hiệu chuẩn trong một ngày để có được C
h) Lặp lại các bước a) đến g) cho các ngày đo khác để có được C
i) Xác định trung bình số học của tất cả n giá trị CV
| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image008.jpg\")
j) Trong phiên bản đơn giản hóa, các bước e) tới g) được thay thế như\r\nsau:
\r\n\r\n1) Từ chối các điểm dữ liệu mà tỷ lệ Gdif
Điều này để đảm bảo rằng dữ liệu được sử dụng để phân tích được lấy\r\ntrong các điều kiện khí quyển gần với phổ chuẩn tiêu chuẩn.
\r\n\r\n2) Sử dụng góc độ cao của mặt trời và áp suất khí quyển, tính khối lượng\r\nkhông khí (AM) tại thời điểm đo theo:
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image009.jpg\")
3) Từ chối tất cả các mẫu dữ liệu trong đó AM > 3.
\r\n\r\n4) Vẽ đồ thị giá trị của I
5) Bằng cách sử dụng phương pháp phù hợp bình phương tuyến tính nhỏ nhất,\r\ntính độ dốc (m) và độ lệch (b) của đường thẳng phù hợp nhất của tập\r\ndữ liệu. Để cân bằng sự phù hợp, tất cả các giá trị dòng điện ngắn mạch phải được\r\ntính trung bình cho các bin AM là 0,01 trước khi thực hiện sự phù hợp. Cả buổi\r\nsáng và buổi chiều phải đó
Để tạo thành đường thẳng, 10 điểm dữ liệu sẽ được coi là tối thiểu.\r\nCàng nhiều điểm dữ liệu trong phương pháp phù hợp bình phương tối thiểu gần với\r\nAM = 1,5 thì độ không đảm bảo đo của quy trình càng nhỏ.
\r\n\r\nChỉ được phép sử dụng dữ liệu nửa ngày (buổi sáng hoặc buổi chiều). Tuy\r\nnhiên, trong lần trung bình cuối cùng, ít nhất phải có dữ liệu từ ba ngày khác\r\nnhau với ít nhất hai buổi sáng và hai buổi chiều.
\r\n\r\n6) Tính giá trị hiệu chuẩn của thiết bị chuẩn PV theo công thức:
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
7) Thực hiện các bước h) và i).
\r\n\r\nA.2.5
Trong Bảng A.1, giá trị điển hình của thành phần độ không đảm bảo đo đối\r\nvới phương pháp ánh sáng mặt trời toàn cầu (cột trái) và phiên bản đơn giản hóa\r\ncủa chúng được liệt kê, dẫn đến độ không đảm bảo đo mở rộng kết hợp U95\r\n(với hệ số phủ k=2) là 0,7 % và 0,8 % tương ứng
\r\n\r\n| \r\n Độ không đảm bảo đo của dòng điện ngắn mạch \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n Độ không đảm bảo đo do nhiệt độ tế bào không ổn định (±2 K) \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n Độ không đảm bảo đo của cường độ bức xạ trực tiếp \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n Độ không đảm bảo đo của cường độ bức xạ khuếch tán \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n Độ không đảm bảo đo cường độ bức xạ tổng (80 % trực tiếp và 20 % khuếch\r\n tán) \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n Độ không đảm bảo đo của sai lệch thang đo WRR so với SI \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n Độ không đảm bảo đo do hiệu chỉnh theo công thức A.3 hoặc hoặc độ lệch\r\n phổ bức xạ giữa các | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo mở | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
A.2.6
- TCVN 12678-8:2020 (IEC 60904-8:2014), Thiết bị quang điện - Phần\r\n8: Phép đo đáp ứng phổ của thiết bị quang điện
\r\n\r\n- K.A. Emery, C.R. Osterwald, L.L. Kazmerski, and R.E. Hart, (1988c), Calibration\r\nof Primary Terrestrial Reference Cells When Compared With Primary AM
- K. A. Emery, C.R. Osterwald, S
- K.A. Emery, D. Waddington, S
- Gomez, T, Garcia L, Martinez G, "Ground level sunlight\r\ncalibration of space solar cells. Tenerife 99 campaign,"
- J. Metzdorf, T. Wittchen, K. Heidler, K. Dehne, R. Shimokawa, F.\r\nNagamine, H. Ossenbrink, L. Fornarini, C
- H. Mullejans, A. loannides, R. Kenny, W. Zaaiman, H. A. Ossenbrink,\r\nE. D. Dunlop "Spectral mismatch in calibration of photovoltaic\r\nreference devices by global sunlight method" Measurement Science and\r\nTechnology 16 (2005) 1250-1254.
\r\n\r\n- H. Mullejans, W
- H. Mullejans, W
- F.C. Treble and K.H. Krebs, “Comparison of European\r\nReference Solar Cell Calibrations”, Proc. 15th IEEE PV Spec. Conf., 1981, pp.\r\n205-210.
\r\n\r\n- R. Whitaker, G. Zerlaut, and A. Purnell, "Experimental\r\ndemonstration of the efficacy of global versus direct beam use in photovoltaic\r\nperformance prediction of flat plate photovoltaic modules”, Proc 16th IEEE
- A Fehlmann, G Kopp, W
A.3 Hiệu chuẩn đáp ứng phổ vi sai (DSR)
\r\n\r\nA.3.1
Liên kết chuẩn dựa trên việc hiệu chuẩn đáp ứng phổ bằng bộ phát hiện\r\nchuẩn có thể liên kết chuẩn trực tiếp đến các đơn v
A.3.2
Yêu cầu các thiết bị sau đây (xem Hình A.1 và A.2):
\r\n\r\na) một bộ tạo ánh sáng đơn sắc tạo ra phổ bức xạ băm nằm trong dải bước\r\nsóng bao gồm đáp ứng phổ bức xạ của thiết bị chuẩn PV cần hiệu chuẩn, với chế độ\r\nđặt bước sóng truy nguyên được;
\r\n\r\nb) (các) bóng đèn có thấu kính hoặc hệ thống quang học lối vào\r\ngương (được khuyến nghị là bóng đèn thạch anh-halogen để bao phủ các bước s
c) một nguồn sáng định thiên, đáp ứng các yêu cầu về phổ bức xạ, độ đồng\r\nnhất và độ ổn định tạm thời của cấp CBA như được định nghĩa trong TCVN 12678-9\r\n(IEC 60904-9);
\r\n\r\nd) một chùm sáng đơn sắc dạng xung băm, có thể truy nguyên hiệu chuẩn\r\nbước sóng của nó, để hiệu chuẩn tuyệt đối ở một hoặc nhiều bước sóng rời rạc. Độ\r\nkhông đồng đều phải nhỏ hơn ± 3 % trong vùng hoạt động của thiết bị cần hiệu\r\nchuẩn.
\r\n\r\nNhận xét: Chùm ánh sáng đơn sắc từ A.3.2 a) có thể được sử dụng cho mục\r\nđích này nếu nó đáp ứng yêu cầu đã cho.
\r\n\r\ne) Cảm biến quang có màn hình đủ lớn để theo dõi công suất bức xạ của\r\nchùm sáng đơn sắc của a) và d);
\r\n\r\nf) Tùy chọn: một máy đo phổ bức xạ tiêu chuẩn để quan sát bước sóng củ\r\nchùm tia đơn sắc.
\r\n\r\ng) (các) bộ phát hiện phổ bức xạ tiêu chuẩn có kiểm soát nhiệt độ có thể\r\ntruy nguyên trực tiếp tới các đơn vị SI. Các bộ phát hiện này phải là điốt\r\nquang với độ tuyến tính, độ đồng nhất và độ ổn định tốt nhất hiện có;
\r\n\r\nh) khẩu độ có thể điều chỉnh (được chụp vào thiết bị chuẩn\r\nPV);
\r\n\r\ni) phương tiện để duy trì nhiệt độ của thiết bị chuẩn PV ở (25 ± 0,5)\r\n°C;
\r\n\r\nj) phương tiện để đo dòng điện ngắn mạch xoay chiều của thiết bị chuẩn\r\nPV, (các) bộ phát hiện chuẩn và bộ phát hiện có màn hình theo dõi, ví dụ như bộ\r\nkhuếch đại khóa tần. Sự thay đổi của hệ số khuếch đại của các bộ khuếch đại đó\r\nphải nhỏ hơn 0,1 % trong phạm vi tín hiệu được sử dụng. Tốt nhất là cùng một bộ\r\nkhuếch đại được sử dụng cho thiết bị chuẩn PV và bộ phát hiện chuẩn;
\r\n\r\nk) phương tiện để đo thành phần một chiều của thiết bị chuẩn PV
A.3.3
a) Đặt và duy trì nhiệt độ của thiết bị chuẩn PV đến (25 ± 0,5) °
b) Điều chỉnh khẩu độ cho đến khi hình ảnh của nó rọi lên toàn bộ thiết\r\nbị chuẩn PV.
\r\n\r\nc) Lắp bộ phát hiện chuẩn ở cùng vị trí và mặt phẳng mà thiết bị chuẩn\r\nPV được hiệu chuẩn.
\r\n\r\nd) Hiệu chuẩn nguồn bức xạ ánh sáng đơn sắc ở A.3.2.a. (không có bức xạ\r\nđịnh thiên) đối với cường độ bức xạ phổ tương đối của nó. Sử dụng chùm sáng đơn\r\nsắc dạng xung băm để xác định tỷ lệ của dòng điện ngắn mạch xoay chiều của điốt\r\nquang cỏ màn hình (ΔI
e) Đặt cường độ bức xạ định thiên trắng Eb đến mức vận hành\r\nmong muốn (trong khoảng từ 10 Wm-
f) Đo đáp ứng phổ bức xạ vi sai tương đối của thiết bị chuẩn PV bằng\r\ncách sử dụng bức xạ đơn sắc dạng xung băm của nguồn bức xạ A.3.2.a) và xác định\r\ntỷ lệ dòng điện ngắn mạch của thiết bị chuẩn PV ((Δ
| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image011.jpg\")
trong đó s
- Nhận xét: Nếu máy đo phổ bức xạ chuẩn để theo dõi hoặc hiệu chỉnh bước\r\nsóng được sử dụng (A.3.2.f) thì việc hiệu chỉnh bước sóng phải được thực hiện\r\ntrước khi xác định ![](\"00919859_files/image012.jpg\"){kind=small}
g) Lặp lại các bước f) và g) ở 5 mức định thiên vi sai, bao gồm ít nhất\r\nkhoảng giữa 10 Wm-
h) Hiệu chuẩn nguồn bức xạ đơn sắc ở
i) Đặt cường độ bức xạ ánh sáng trắng định thiên đến mức thấp E
j) Đo đáp ứng phổ bức xạ vi sai tuyệt đối của thiết bị chuẩn PV ở một đến\r\nba bước sóng λi bằng cách sử dụng chùm tia đơn sắc dạng băm của nguồn\r\nbức xạ ở A.3.2.d) và xác định tỷ số của các dòng điện ngắn mạch của thiết bị\r\nchuẩn PV (ΔIref\r\n(λi, I![](\"00919859_files/image013.jpg\"){kind=small}
của thiết bị chuẩn PV\r\ndưới cường độ bức xạ định thiên Eb:
| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image014.jpg\")
trong đó ![](\"00919859_files/image015.jpg\"){kind=small}
- Nhận xét: Nếu máy đo phổ bức xạ chuẩn để theo dõi hoặc hiệu chỉnh bước\r\nsóng được sử dụng (A.3.2.f) thì việc hiệu chỉnh bước sóng phải được thực hiện\r\ntrước khi xác định ![](\"00919859_files/image016.gif\"){kind=small}
.
- Nhận xét: Nếu chùm tia đơn sắc ở A.3.2.a) được sử dụng để hiệu chuẩn\r\ntuyệt đối của đáp ứng phổ bức xạ vi sai hoàn chỉnh của thiết bị chuẩn PV, việc\r\nhiệu chuẩn nguồn bức xạ đơn sắc ở ![](\"00919859_files/image017.gif\")
của thiết\r\nbị chuẩn PV thay thế cho đáp ứng phổ bức xạ vi sai tương đối ![](\"00919859_files/image018.gif\")
thu được\r\nở bước A.3.3.f) và bước A.3.3.h), A.3.3.
A.3.4
a) Tính toán tỉ số ki
b) Tính toán các đáp ứng phổ vi sai tuyệt đối bằng cách chia tỷ lệ đáp ứng\r\ntương đối với giá trị trung bình của ki được xác định trong bước a):
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image019.jpg\")
c) Tính toán đáp ứng vi sai S
| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image020.jpg\")
với
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image021.jpg\")
Và
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image022.jpg\")
trong đó, giới hạn tích phân trên I
A.3.5
Trong Bảng A.2, giá trị điển hình của thành phần độ không đảm bảo đo dẫn\r\nđến độ không đảm bảo đo
CHÚ THÍCH: Độ không đảm bảo đo được trích dẫn là không dễ dàng đạt được\r\nvà chỉ có thể có sẵn tại một số
| \r\n Độ không đảm bảo đo do nhiệt độ tế bào không ổn định (± 0,5 K) \r\n | \r\n \r\n 0,1 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo của (cá | \r\n \r\n 0,2 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo do thiết bị không tuyến tính và/hoặc băng hẹp \r\n | \r\n \r\n 0,1 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo lan truyền (lặp lại) do đáp ứng phổ tương đ | \r\n \r\n 0,1 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo lan truyền (lặp lại) do đáp ứng phổ tuyệt đối ở\r\n (các) bước sóng rời rạc \r\n | \r\n \r\n 0,1 % \r\n | \r\n
| \r\n Sự không phù hợp phổ giữa bức xạ định thiên và phổ mặt trời chuẩn;\r\n không đồng nhất của bức xạ định thiên; không đồng nhất của bức xạ đơn sắc; sự\r\n không phù hợp của diện tích thiết bị và diện tích được chiếu bức xạ (hình ảnh\r\n của góc mở); băng thông phổ (≤ | \r\n \r\n 0,4 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đả | \r\n \r\n 0,5 % \r\n | \r\n
| \r\n Trong bảng này, các giá trị điển hình về các thành phần độ không đảm\r\n bảo đo trong độ không đảm bảo đo mở | \r\n |
\r\n\r\n
CHÚ DẪN:
\r\n\r\n| \r\n Mon: bộ tạo ánh sáng đơn sắc \r\n | \r\n \r\n BL: (dàn các) bóng đèn định thiên \r\n | \r\n
| \r\n Ch: bộ băm xung \r\n | \r\n \r\n Sol: Thiết bị PV và bộ phát hiện tiêu chuẩn tương ứng, \r\n | \r\n
| \r\n L: nguồn sáng có hệ thống quang học lối vào \r\n | \r\n \r\n CVC: Bộ chuyển đổi dòng điện-điện áp \r\n | \r\n
| \r\n S: chớp lật \r\n | \r\n \r\n LIA: Bộ khuếch đại khóa tần \r\n | \r\n
| \r\n BS: bộ tách chùm tia \r\n | \r\n \r\n DVM: Vôn mét kỹ thuật số \r\n | \r\n
| \r\n MD: cảm biế | \r\n \r\n \r\n | \r\n
A.3.6
- TCVN 12678-9 (IEC 60904-9, Thiết bị quang điện - Phần 9: Yêu cầu về\r\ntính năng của bộ mô phỏng mặt trời
\r\n\r\n- TCVN 12678-10 (IEC 60904-10), Thiết bị quang điện - Phần 10:\r\nPhương pháp đo độ tuyến tính
\r\n\r\n- J. Metzdorf “Calibration of solar cells. 1: The differential\r\nspectral responsivity method”, Appl. Optics 26 (9) (1987) 1701-1708.
\r\n\r\n- J. Metzdorf, S
- S. Winter, T. Wittchen, J. Metzdorf
- S. Winter, T. Fey, I. Kröger, D. Friedrich, K. Ladner,\r\nB. Ortel, S. Pendsa, F. Witt, "Design, realization and\r\nuncertainty analysis of a laser-based primary calibration facility for solar\r\ncells at PTB", Measurement 51, 2014, 457-463.
\r\n\r\nA.4 Phương pháp bộ mô phỏng mặt trời (SSM)
\r\n\r\nA.4.1
Liên kết chuẩn dựa trên cường độ bức xạ phổ tuyệt đối của ánh sáng mặt\r\ntrời mô phỏng và đáp ứng phổ tương đối của thiết bị chuẩn PV cần hiệ
A.4.2
Yêu cầu các thiết bị dưới đây (xem Hình A.3).
\r\n\r\na) Bộ mô phỏng mặt trời cấp AAA như được định nghĩa trong TCVN 12678-9\r\n(IEC 60904-9). Phân tích độ không đảm bảo đo dưới đây giả thiết rằng độ không đồng\r\nnhất về không gian của cường độ bức xạ dưới 0,2 % và độ không ổn định tạm thời\r\ndưới 0,1 %. Khi máy đo bức xạ khoang (A.4.2.e) được sử dụng, bộ mô phỏng mặt trời\r\nphải ở trạng thái ổn định với chùm ánh sáng chuẩn trực.
\r\n\r\nb) Máy đo phổ bức xạ như được mô tả trong CIE 53-1982.
\r\n\r\nc) Phương tiện đo đáp ứng phổ của thiết bị chuẩn PV như được định nghĩa\r\ntrong TCVN 12678-8 (IEC 60904-8).
\r\n\r\nd) Một bóng đèn tiêu chuẩn đã được hiệu chuẩn trực tiếp bởi các bóng\r\nđèn chuẩn đầu, phải được công nhận lẫn nhau và được CCPR/CIE phê chuẩn.
\r\n\r\ne) Máy đo bức xạ khoang có thể truy nguyên theo WRR có góc quan sát rộng\r\nhơn góc chiếu lan của ánh sáng của mô phỏng mặt trời (tùy chọn).
\r\n\r\nf) Phương tiện đo dòng điện ngắn mạch của thiết bị chuẩn PV phải phù hợp\r\nvới các yêu cầu đo lường chung của TCVN 12678-1 (IEC 60904-1).
\r\n\r\ng) Phương tiện duy trì nhiệt độ của thiết bị chuẩn PV ở (25 ± 2) °
A.4.3
a) Đáp ứng phổ tương đối của thiết bị chuẩn PV phải được đo theo TCVN\r\n12678-8 (IEC 60904-8).
\r\n\r\nb) Cường độ bức xạ của bộ mô phỏng mặt trời trong mặt phẳng thử nghiệm\r\nphải được đặt xấp xỉ GSTC, sử dụng bộ phát hiện ảnh nhiệt như pin\r\nnhiệt điện.
\r\n\r\nc) Phân bố phổ bức xạ tuyệt đối trong mặt phẳng thử nghiệm phải được đo\r\nbằng máy đo phổ bức xạ được hiệu chuẩn như được mô tả trong CIE 63-1984. Để\r\ntính toán như mô tả ở A.4.4 a), dải bước sóng phải được trải dài tối thiểu bằng\r\nkhoảng thời gian như s(λ). Khi máy đo bức xạ khoang được sử dụng như trong\r\nA.4.4. b), dải bước sóng của phép đo cường độ bức xạ phổ phải\r\nđủ lớn để đạt được độ không đảm bảo đo mong muốn.
\r\n\r\nd) Thiết bị chuẩn PV phải được đặt trong mặt phẳng thử nghiệm của bộ mô\r\nphỏng. Nhiệt độ thiết bị phải được duy trì ở (25 ± 2) °
A.4.4
a) Giá trị hiệu chuẩn (CV) được tính như sau:
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image025.jpg\")
Trong đó Emeas(λ) là phân bố phổ bức xạ tuyệt đối của bộ mô\r\nphỏng mặt trời.
\r\n\r\nb) Khi cần liên kết chuẩn trực tiếp đến WRR, cường độ bức xạ tuyệt đối\r\ncủa bộ mô phỏng mặt trời phải được đo bằng cách sử dụng máy đo bức xạ khoang có\r\nthể truy nguyên đến WRR, như được mô tả trong A.4.1.e). Giá trị hiệu chuẩn (CV)\r\nđược tính theo công thức A.4 trong đó GT
c) Lặp lại các bước trong A.4.2. và A.4.3. hai lần, CV trung bình là\r\ngiá trị hiệu chuẩn cuối cùng.
\r\n\r\nA.4.5
Bảng A.3 và Bảng A.4 tóm tắt các giá trị điển hình của thành phần độ\r\nkhông đảm bảo đo dẫn đến độ không đảm bảo đo mở rộng kết hợp
| \r\n Độ không đảm bảo đo của bóng đèn chuẩn \r\n | \r\n \r\n < | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo do máy đo phổ bức xạ \r\n | \r\n \r\n < 0,2 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo do nhiệt độ thiết bị không ổn định \r\n | \r\n \r\n < 0,2 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo lan truyền do đáp ứng phổ, sự không phù hợp phổ\r\n giữa bộ mô phỏng mặt trời và phổ mặt trời chuẩn \r\n | \r\n \r\n < | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo do sự không đồng nhất về thời gian và không gian\r\n của bộ mô phỏng mặt trời và kích thước và hằng số thời gian khác nhau của máy\r\n đo phổ bức xạ và thiết bị: \r\n | \r\n \r\n < 0,2 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo mở rộng kết hợp \r\n | \r\n \r\n 2 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo của WRR so với đơn vị SI \r\n | \r\n \r\n < 0,18 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo của phép đo cường độ bức xạ \r\n | \r\n \r\n < 0,2 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo do nhiệt độ thiết bị không ổn định \r\n | \r\n \r\n < 0,2 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo do sai lêch phổ bức xạ giữa điều kiện thử nghiệm\r\n và phổ bức xạ chuẩn AM 1,5 (TCVN 12678-3 (IEC 60904-3)) hoặc hiệu chỉnh sự\r\n không phù hợp phổ (TCVN 12678-7 (IEC 60904-7)) \r\n | \r\n \r\n < | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo do sự không đồng nhất về thời gian và không gian\r\n của bộ mô phỏng mặt trời và kích thước và hằng số thời gian khác nhau của máy\r\n đo phổ bức xạ, thiết bị và máy đo bức xạ khoang \r\n | \r\n \r\n < 0,2 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo mở | \r\n \r\n 0,6 % \r\n | \r\n
\r\n\r\n
A.4.6
- TCVN 12678-1 (IEC 60904-1), Thiết bị quang điện - Phần 1: Phép đo\r\nđặc tính dòng điện-điện áp quang điện
\r\n\r\n- TCVN 12678-8 (IEC 60904-8), Thiết bị quang điện - Phần 8: Phép đo\r\nđáp ứng phổ của thiết bị quang điện
\r\n\r\n- TCVN 12678-9 (IEC 60904-9), Thiết bị quang điện - Phần 9: Yêu cầu\r\nvề tính năng của bộ mô phỏng mặt trời
\r\n\r\n- R. Shimokawa, F. Nagamine, Y. Miyake, K. Fujisawa, Y. Hamakawa “Japanese\r\nindoor calibration method for the reference solar cell and comparison with\r\noutdoor calibration” Japanese J. Appl. Phys. 26(1) (1987) 86-91.
\r\n\r\n- R. Shimokawa, H. Ikeda, Y. Miyake,
- H. Müllejans, W
- CIE 53-1982 “Methods of Characterizing the Performance of\r\nradiometers and Photometers”, ISBN 92 9034 053 3.
\r\n\r\n- CIE 63-1984 “The Spectroradiometric Measurement of Light Sources”
\r\n\r\nA.5 Phương pháp ánh sáng mặt trời trực tiếp (DSM)
\r\n\r\nA.5.1
Thiết bị chuẩn PV cần hiệu chuẩn được so sánh dưới chùm ánh sáng mặt trời\r\ntự nhiên trực tiếp với máy đo bức xạ chuẩn. Việc thiết lập liên kết chuẩn dựa\r\ntrên việc hiệu chuẩn bằng cách sử dụng một trực xạ kế đo cường độ bức xạ mặt trời\r\ntrực tiếp và có thể truy nguyên đến WRR. Dòng điện ngắn mạch của thiết bị chuẩn\r\nPV được đo ở mức 1 000 W
A.5.2
a) Một bệ đỡ, có thể được định hướng vuông góc với mặt trời với độ\r\nchính xác ± 0,5 ° trong suốt quá trình hiệu chuẩn.
\r\n\r\nb) Một máy đo bức xạ khoang, có thể truy nguyên đến WRR.
\r\n\r\nc) Một ống chuẩn trực cho thiết bị chuẩn PV có cùng góc quan sát với\r\nmáy đo bức xạ khoang.
\r\n\r\nd) Khối lắp có kiểm soát nhiệt độ dùng cho thiết bị chuẩn PV cần hiệu\r\nchuẩn có khả năng duy trì nhiệt độ lớp tiếp giáp ở (25 ± 2) °
e) Phương tiện có thể truy nguyên để đo dòng điện ngắn mạch của thiết bị\r\nchuẩn PV với độ chính xác ± 0,1 % hoặc tốt hơn.
\r\n\r\nf) Máy đo phổ bức xạ dùng để đo phổ bức xạ mặt trời trực tiếp bình thường\r\ncó cùng góc quan sát với máy đo bức xạ khoang.
\r\n\r\ng) Một thiết bị để đo đáp ứng phổ tương đối của thiết bị chuẩn PV theo\r\nTCVN 12678-8 (IEC 60904-8) và là hàm của nhiệt độ.
\r\n\r\nA.5.3
Hiệu chuẩn theo tiêu chuẩn này chỉ được thực hiện cho ngày trong, nắng\r\nvà không có mây nhìn thấy được bao phủ trong phạm vi 30° của mặt trời.
\r\n\r\na) Lắp thiết bị chuẩn PV cần hiệu chỉnh với ống chuẩn trực, máy đo bức\r\nxạ khoang và máy đo phổ trên bệ đỡ bám theo.
\r\n\r\nb) Đo phổ bức xạ tương đối của mặt trời, Emeas
1) Đo đầu ra của máy đo bức xạ khoang, Gdir và kiểm tra xác\r\nnhận rằng cường độ bức xạ nằm trong khoảng từ 750 Wm
2) Đo dòng điện ngắn mạch I
3) Đo nhiệt độ thiết bị chuẩn PV, Tj.
\r\n\r\n4) Lặp lại các bước này ít nhất bốn lần. Việc lặp lại này phải được\r\nphân bố vừa đủ thời gian trong quá trình đo phổ bức xạ đơn lẻ.
\r\n\r\nc) Thực hiện tối thiểu năm lần lặp lại bước b) trong ít nhất ba ngày\r\nriêng biệt.
\r\n\r\nA.5.4
a) Thực hiện hiệu chỉnh công thức A.1, trong đó GT là số đọc\r\ncủa máy đo bức xạ khoang đại diện cho cường độ bức xạ trực tiếp Gd
b) Lấy trung bình các giá trị hiệu chuẩn từ a) cho từng phép đo phổ bức\r\nxạ.
\r\n\r\nc) Hiệu chỉnh dữ liệu về 25 °C
Hiệu chỉnh từng kết quả của bước b) đối với nhiệt độ và các hiệu ứng phổ\r\ntheo công thức (A.16) cho CVi
| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
![](\"00919859_files/image027.jpg\")
![](\"00919859_files/image028.jpg\")
d) Lấy trung bình tất cả các CVi
e) Từ chối bất kỳ điểm nào đáp ứng các tiêu chí sau:
\r\n\r\n1) CVi hơn 1,5 % từ CV;
\r\n\r\n2) Phạm vi I
3) Độ lệch chuẩn CVi
f) Kiểm tra xác nhận rằng có ít nhất 3 ngày dữ liệu với tối thiểu 5 bộ\r\nmỗi ngày của dữ liệu hợp lệ tồn tại. Nếu không thực hiện các phép đo bổ sung\r\ncho đến khi tiêu chí này được đáp ứng. Sử dụng 5 ngày dữ liệu với\r\n10 bộ mỗi ngày của dữ liệu hợp lệ điển hình được sử dụng thu được độ lệch tiêu\r\nchuẩn CV giảm hơn nữa.
\r\n\r\nA.5.5
Bảng A.5 liệt kê giá trị điển hình của thành phần độ không đảm bảo đo đối\r\nvới phương pháp ánh sáng mặt trời trực tiếp và dẫn đến độ không đảm bảo đo mở rộng\r\nkết hợp U95 là 0,6 % (với hệ số phủ k=2).
\r\n\r\n| \r\n Độ không đảm bảo đo của sai lệch thang đo WRR so với đơn vị SI \r\n | \r\n \r\n 0,34 % \r\n | \r\n
| \r\n Cường độ bức xạ trực tiếp được đo \r\n | \r\n \r\n < | \r\n
| \r\n Hiệu chỉnh sự không phù hợp phổ \r\n | \r\n \r\n 0,05 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo do hiệu chỉnh nhiệt độ thiết bị \r\n | \r\n \r\n < 0,1 % \r\n | \r\n
| \r\n Độ không đảm bảo đo mở rộng kết hợp \r\n | \r\n \r\n < 0,46 % \r\n | \r\n
A.5.6
- TCVN 12678-8 (IEC 60904-8), Thiết bị quang điện - Phần 8: Phép đo\r\nđáp ứng phổ
- C.R. Osterwald, K.A. Emery, D.R. Myers, R.E. Hart
- K.A. Emery, C.R. Osterwald, L.L. Kazmerski, R.E. Hart “Calibration of\r\nprimary terrestrial reference cells when compared with primary AM
- C. Osterwald, K. Emery "Spectroradiometric Sun\r\nPhotometry" Journal of Atmospheric and Oceanic Technology, 17
- ASTM E 1125-10: S
- ASTM E 1125-16: S
- A Fehlmann, G Kopp, W
- C.R. Osterwald, M. Campanelli, T. Moriarty, K.A. Emery, R. Williams "Temperature\r\nDependent Spectral Mismatch Corrections," IEEE Journal of\r\nPhotovoltaics 5, 2015, 1692-1697
\r\n\r\n- C.R. Osterwald, L. Ottoson, R. Williams,
\r\n\r\n
[1] ISO 9846, Solar energy - Calibration of a
[2] ISO 9847, Solar energy - Calibration of field pyranometers by\r\ncomparison to a reference
[3] ISO 9059, Solar energy - Calibration of field pyrheliometers by\r\ncomparison to a reference
File gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 12678-4:2020 (IEC 60904-4:2019) về Thiết bị quang điện – Phần 4: Thiết bị chuẩn quang điện – Quy trình thiết lập liên kết chuẩn hiệu chuẩn đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 12678-4:2020 (IEC 60904-4:2019) về Thiết bị quang điện – Phần 4: Thiết bị chuẩn quang điện – Quy trình thiết lập liên kết chuẩn hiệu chuẩn
Tóm tắt
| Cơ quan ban hành | Đã xác định |
| Số hiệu | TCVN12678-4:2020 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 2020-01-01 |
| Ngày hiệu lực | |
| Lĩnh vực | Điện - điện tử |
| Tình trạng | Còn hiệu lực |