TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 13727-2:2023
IEC 61786-2:2014

PHÉP ĐO TRƯỜNG TỪ MỘT CHIỀU, TRƯỜNG TỪ VÀ TRƯỜNG ĐIỆN XOAY CHIỀU TRONG DẢI TẦN TỪ 1 HZ ĐẾN 100 KHZ CÓ LIÊN QUAN ĐẾN PHƠI NHIỄM LÊN NGƯỜI - PHẦN 2: TIÊU CHUẨN CƠ BẢN CHO PHÉP ĐO

Measurement of DC magnetic, AC magnetic and AC electric fields from 1 Hz to 100 kHz with regard to exposure of human beings - Part 2: Basic standard for measurements

Mục lục

Lời nói đầu

1 Phạm vi áp dụng

2 Tài liệu viện dẫn

3 Thuật ngữ và định nghĩa

4 Xem xét chung

4.1 Các mục tiêu khác nhau của phép đo

4.2 Nguồn có nhiều tần số

4.3 Xem xét trước khi đo

5 Quy trình đo và biện pháp dự phòng

5.1 Trường từ xoay chiều (AC)

5.2 Trường từ một chiều (DC)

5.3 Trường điện AC

6 Độ không đảm bảo đo

7 Báo cáo phép đo

Phụ lục A (tham khảo) - Ví dụ về các đặc tính trường trong các môi trường điển hình

Phụ lục B (tham khảo) - Ví dụ về khoảng cách đo

Phụ lục C (quy định) - Độ không đảm bảo đo

Phụ lục D (tham khảo) - Ví dụ về độ không đảm bảo đo

Thư mục tài liệu tham khảo

Lời nói đầu

TCVN 13727-2:2023 hoàn toàn tương đương với IEC 61786-2:2014;

TCVN 13727-2:2023 do Ban kỹ thuật Tiêu chuẩn Quốc gia TCVN/TC/E9 Tương thích điện từ biên soạn, Viện Tiêu chuẩn Chất lượng Việt Nam đề nghị, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng thẩm định, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

Bộ tiêu chuẩn TCVN 13727 (IEC 61786), Phép đo trường từ một chiều, trường từ và trường điện xoay chiều trong dải tần từ 1 Hz đến 100 kHz có liên quan đến phơi nhiễm lên người, gồm 2 phần:

1) TCVN 13727-1:2023 (IEC 61786-1:2013), Phần 1: Yêu cầu đối với thiết bị đo

2) TCVN 13727-2:2014 (IEC 61786-2:2014), Phần 2: Tiêu chuẩn cơ bản cho phép đo

PHÉP ĐO TRƯỜNG TỪ MỘT CHIỀU, TRƯỜNG TỪ VÀ TRƯỜNG ĐIỆN XOAY CHIỀU TRONG DẢI TẦN TỪ 1 HZ ĐẾN 100 KHZ CÓ LIÊN QUAN ĐẾN PHƠI NHIỄM LÊN NGƯỜI - PHẦN 2: TIÊU CHUẨN CƠ BẢN CHO PHÉP ĐO

Measurement of DC magnetic, AC magnetic and AC electric fields from 1 Hz to 100 kHz with regard to exposure of human beings - Part 2: Basic standard for measurements

1  Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này cung cấp các yêu cầu đối với phép đo trường từ và trường điện tựa tĩnh có tần số nằm trong dải từ 1 Hz đến 100 kHz và trường từ một chiều, để đánh giá mức phơi nhiễm lên cơ thể người trong các trường này.

Cụ thể, tiêu chuẩn này đưa ra các yêu cầu để thiết lập quy trình đo nhằm đạt được các mục tiêu xác định liên quan đến phơi nhiễm lên người.

CHÚ THÍCH: Các yêu cầu đối với máy đo trường và hiệu chuẩn được mô tả trong TCVN 13727-1(IEC 61786-1)

Do sự khác biệt về đặc tính của các nguồn của trường từ trong các môi trường khác nhau, ví dụ: phổ tần số, các thay đổi theo thời gian và không gian, phân cực và độ lớn, và sự khác biệt về mục tiêu của các phép đo, các quy trình đo cụ thể sẽ khác nhau trong các môi trường khác nhau.

Nguồn của trường bao gồm trường do các thiết bị hoạt động ở tần số nguồn điện lực và thiết bị tạo ra tần số nguồn điện lực và trường hài tần số nguồn, cũng như các thiết bị tạo ra trường không phụ thuộc vào tần số nguồn và truyền tải điện một chiều và trường địa từ. Phạm vi đo thuộc phạm vi của tiêu chuẩn này là từ 0,1 μT đến 200 mT ở điện xoay chiều (AC) (1 μT đến 10 T ở điện một chiều (DC)) và từ 1 V/m đến 50 kV/m đối với trường từ và trường điện tương ứng.

Khi thực hiện các phép đo nằm ngoài phạm vi này thì hầu hết các điều khoản của tiêu chuẩn này vẫn được áp dụng nhưng cần đặc biệt lưu ý đối với quy trình quy định về độ không đảm bảo và hiệu chuẩn.

Ví dụ về các nguồn trường có thể được đo theo tiêu chuẩn này gồm:

- thiết bị hoạt động ở tần số nguồn (50/60 Hz) và tạo ra trường tần số nguồn và trường hài tần số nguồn (ví dụ: đường dây điện, thiết bị điện...)

- các thiết bị tạo ra các trường độc lập với tần số nguồn. (Ví dụ: đường sắt chạy điện (DC đến 20 kHz), máy bay thương mại (400 Hz), bộ gia nhiệt cảm ứng (lên đến 100 kHz) và xe điện.)

- các thiết bị tạo ra trường từ tĩnh: MRI, đường dây điện một chiều, hàn điện một chiều, điện phân, nam châm, lò phản ứng điện, v.v.... Dòng điện một chiều thường được tạo ra bởi các bộ chuyển đổi, dòng điện này cũng tạo ra các thành phần AC (sóng hài tần số nguồn), cần được đánh giá.

Đối với các phép đo trường điện, tiêu chuẩn này chỉ xem xét phép đo cường độ trường điện không nhiễu loạn tại một điểm trong không gian (nghĩa là trường điện trước khi đưa máy đo trường và người vận hành vào) hoặc ở trên bề mặt dẫn

Nguồn không đảm bảo trong quá trình đo cũng được xác định và hướng dẫn về cách kết hợp chúng để xác định độ không đảm bảo đo tổng.

2  Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn dưới đây là cần thiết để áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn có ghi năm công bố thì áp dụng các bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất (kể cả các sửa đổi).

TCVN 6165:2009 (ISO/IEC Guide 99:2007), Từ vựng quốc tế về đo lường học - Khái niệm, thuật ngữ chung và cơ bản (VIM)

TCVN 9595-3:2013 (ISO/IEC Guide 98-3:2008), Độ không đảm bảo đo - Phần 3: Hướng dẫn trình bày độ không đảm bảo đo (GUM:1995)

TCVN 13727-1:2023 (IEC 61786-1:2013), Phép đo trường từ một chiều và xoay chiều và trường điện xoay chiều trong dải tần từ 1 Hz đến 100 kHz có liên quan đến phơi nhiễm lên người - Phần 1: Yêu cầu đối với thiết bị đo

3  Thuật ngữ và định nghĩa

Tiêu chuẩn này áp dụng các thuật ngữ và định nghĩa dưới đây.

CHÚ THÍCH: Trong toàn bộ tiêu chuẩn này, từ "mật độ từ thông" và "trường từ" phải được coi là đồng nghĩa.

3.1

Mức phơi nhiễm trung bình (average exposure level)

Trung bình theo không gian trên toàn bộ cơ thể người trong trường mà người đó bị phơi nhiễm.

3.2

Hệ số hiệu chính (correction factor)

Hệ số tính bằng số được nhân với kết quả chưa hiệu chính của phép đo để bù cho một sai số đã biết.

CHÚ THÍCH 1: Vì sai số đã biết không thể được xác định một cách tuyệt đối, nên không thể bù hoàn toàn.

3.3

Hệ số phủ (coverage factor)

Hệ số tính bằng số được sử dụng như một thừa số của độ không đảm bảo chuẩn tổng hợp để thu được độ không đảm bảo mở rộng.

CHÚ THÍCH 1: Đối với đại lượng z được mô tả bằng phân bố chuẩn với kỳ vọng μ_z và độ lệch chuẩn σ, khoảng μ_z ± kơ gồm 68,27 %, 95,45 % và 99,73 % phân phối tương ứng đối với hệ số phủ k = 1, 2 và 3.

3.4

Độ tái lặp (của kết quả đo) (repeatability (of results of measurements))

Mức độ gần nhau của sự nhất quán giữa các kết quả của các phép đo liên tiếp của cùng một đại lượng đo, được thực hiện trong cùng điều kiện đo, tức là:

- cùng một quy trình đo,

- cùng một người quan sát,

- cùng một thiết bị đo, được sử dụng ở cùng điều kiện;

- cùng một phòng thử nghiệm;

- tại các khoảng thời gian tương đối ngắn.

[NGUỒN: IEC 60050-311:2001, 311-06-06, có sửa đổi - Bỏ chú thích.]

3.5

Độ tái lập (của các phép đo) (reproducibility (of measurements))

Mức độ gần nhau của sự nhất quán giữa các kết quả đo có cùng giá trị của một đại lượng, khi các phép đo riêng lẻ được thực hiện trong các điều kiện đo khác nhau:

- nguyên tắc đo,

- phương pháp đo,

- người thao tác,

- thiết bị đo,

- tiêu chuẩn tham chiếu,

- phòng thử nghiệm,

- trong điều kiện sử dụng của các thiết bị đo khác với các điều kiện được sử dụng thông thường,

- sau các khoảng thời gian tương đối dài so với khoảng thời gian của một phép đo đơn lẻ.

[NGUỒN: IEC 60050-311: 2001, 311-06-07, có sửa đổi - Bỏ chú thích.]

3.6

Độ không đảm bảo chuẩn (standard uncertainty)

Độ không đảm bảo của kết quả đo được thể hiện như là độ lệch chuẩn.

3.7

Độ không đảm bảo của phép đo (uncertainty of measurement)

Tham số, kèm theo kết quả đo, đặc trưng cho sự phân tán của các giá trị có thể được quy cho đại lượng đo một cách hợp lý.

CHÚ THÍCH 1: Độ không đảm bảo của phép đo bao gồm nhiều thành phần. Một trong số các thành phần có thể được đánh giá từ phân bố thống kê các kết quả của các dãy phép đo và có thể được đặc trưng bằng các độ lệch chuẩn thực nghiệm. Các thành phần khác được đánh giá dựa trên cơ sở kinh nghiệm hoặc thông tin khác.

4  Xem xét chung

4.1  Các mục tiêu khác nhau của phép đo

4.1.1  Quy định chung

Trường từ và trường điện có thể được đặc trưng theo một số các tham số, bao gồm độ lớn, tần số, phân cực, v.v... (xem Phụ lục C của TCVN 13727-1:2023 (IEC 61786-1:2013)). Đặc trưng của một hoặc nhiều thông số này và cách chúng liên quan đến sự phơi nhiễm lên người có thể đóng vai trò là các mục tiêu có thể có của chương trình đo. Nhằm giúp những người quan tâm đến việc xây dựng một giao thức đo trường, nội dung của điều này đưa ra một danh sách các mục tiêu về phép đo và các phương pháp có thể thực hiện được.

Ngoại trừ trường hợp khi ở gần các nguồn điện áp cao thì không cần đo trường điện tần số nguồn, vì trường điện hầu hết ở vài chục vôn trên mét [3; 22][1].

Phụ lục A đưa ra các ví dụ về các đặc trưng trường điển hình trong các môi trường khác nhau.

Mục tiêu của chương trình đo, chẳng hạn như các mục tiêu được xem xét dưới đây, phải được xác định rõ ràng, cần có một định nghĩa rõ ràng về các mục tiêu để xác định các yêu cầu về thiết bị và hiệu chuẩn, ví dụ dải thông thiết bị đo, phạm vi đo, các điểm hiệu chuẩn tần số, v.v.... Khi đã xác định được các mục tiêu và có được thiết bị đo thích hợp thì có thể cần một nghiên cứu thí điểm trong môi trường đo lường đang xét trước khi đưa ra quyết định về các phương pháp đo cuối cùng và giao thức liên quan. Giao thức sẽ mô tả quy trình từng bước cần tuân theo, bằng cách sử dụng các phương pháp khả thi được chỉ ra, để hoàn thành các mục tiêu về phép đo. Giao thức có thể chỉ ra một cách rõ ràng các điều như các yêu cầu về thiết bị đo (ví dụ: dải thông, kích thước đầu đo, phạm vi đo), vị trí của các phép đo và thời gian đo. Sau đó, có thể sử dụng cùng một giao thức để so sánh với các kết quả đo độ tin cậy thu được trong các môi trường điện tương tự.

Các mục tiêu khả thi về phép đo và các phương pháp khả thi để hoàn thành chúng được nêu trong các điều từ 4.1.2 đến 4.1.6.

Hình 1 - Các mức trường từ trong đường dây tải điện trên không 77 kV (từ [9])

Hình 2 - Các mức trường điện trong đường dây tải điện trên không (từ [9])

Sự phân bố trong không gian của trường từ ở cách xa đường dây điện hoặc các nguồn có thể nhận dạng đơn lẻ thường không được biết.

4.1.2  Đặc trưng của mức trường để phù hợp với các tiêu chuẩn an toàn

Các giới hạn cho phép về mức trường điện hoặc trường từ được biểu thị bằng các giá trị tổng hợp và như một hàm tần số đã được chỉ ra trong một số tài liệu, ví dụ như [17-19; 21] yêu cầu xác định các mức trường với giá trị lớn nhất hoặc giá trị không gian trong các khu vực xác định. Việc lựa chọn vị trí đo phải được thực hiện có tính đến vị trí có thể có người.

Phương pháp: Máy đo ba trục phải được sử dụng để thực hiện các phép đo trường từ và trường điện tổng hợp này. Có sẵn các tiêu chuẩn và hướng dẫn đối với các phép đo gần các đường dây điện [4; 9; 15] và các thiết bị điện [10].

Các phép đo trường từ gần đường dây điện phải tương quan với dòng điện tải. Dòng điện tải dùng cho các thiết bị là không đổi hoặc thường là định kỳ trong một phạm vi cố định ở thời gian tương đối ngắn, cho phép xác định trường từ tổng hợp lớn nhất bởi tương đối ít phép đo.

4.1.3  Đặc tính thay đổi theo không gian

Trường từ và trường điện là không đổi xung quanh các nguồn. Ví dụ, sự thay đổi của trường từ hoặc trường điện nằm phía dưới đường dây điện là điển hình (Hình 1 và Hình 2) và có thể tính được.

Trong Hình 1, tính không đồng nhất được xác định trong [4; 9] là giá trị lớn nhất của

(| B_h - B_avg |) / B_avg × 100 (%)

trong đó

B_h là mức trường từ ở độ cao 0,5 m, 1,0 m và 1,5 m so với mặt đất;

B_avg  là trung bình cộng của ba mức.

Trường từ xoay chiều trong hầu hết các môi trường sẽ không đồng nhất do sự phụ thuộc về không gian của các trường từ các dòng điện nguồn. Đáng chú ý là trường từ tĩnh cũng cho thấy sự thay đổi đáng kể trong không gian ở các khu dân cư [29].

Phương pháp: Các thành phần trường từ phải được ghi lại như một hàm có vị trí tọa độ khi đặc trưng cho sự thay đổi theo không gian. Các tiêu chuẩn tồn tại để thực hiện các phép đo gần đường dây điện [4; 9; 15] và các thiết bị điện [9] như vậy. Trong khi các phép đo như vậy có thể được thực hiện bằng máy đo khảo sát, thiết bị đo kết hợp "bánh xe đo" có sẵn để mô tả sự phân bố không gian của trường từ trong môi trường mà các vật cản vật lý không cản trở sự chuyển động của bánh xe. Khi bánh xe quay, nó kích hoạt định kỳ một máy đo trường từ ba trục để ghi lại trường từ tổng hợp. Phần mềm được cung cấp cùng với thiết bị đo này cho phép tạo ra các đồ thị về dạng trường từ, đường đẳng lượng, phân tích thống kê các mức trường, v.v... [2; 26]. Đối với việc mô tả đặc tính của các mức trường để phù hợp với các giới hạn an toàn, dữ liệu đó sẽ không tính đến các thay đổi theo thời gian của các dạng trường nếu không có các phép đo lặp lại.

4.1.4  Đặc tính thay đổi theo thời gian

Do trường từ được tạo ra bởi dòng điện tải và dòng điện trở lại đất có thể thay đổi rất nhiều theo thời gian, nên các thay đổi theo thời gian của trường từ có thể dễ dàng vượt quá hệ số 2.

Trong trường hợp phía dưới đường dây điện, trường từ phụ thuộc vào tải của đường dây. Đối với đường dây mạch đơn hoặc đường dây mạch kép hoạt động song song, trường từ tỷ lệ thuận với tải của đường dây. Hình 3 đưa ra một ví dụ về tải của đường dây 735 kV và nhiệt độ ngoài trời. Trong trường hợp này, tải chịu ảnh hưởng bởi các hoạt động của con người (chu kỳ hàng ngày) và nhiệt độ ngoài trời (chu kỳ mùa) và bởi vị trí của đường dây trong mạng lưới. Ngoài ra, mức trường từ có thể thay đổi theo độ võng của ruột dẫn do nóng lên bởi tải dòng điện lớn và các điều kiện môi trường [16].

Hình 3 - Ví dụ về sự thay đổi của tải trên đường dây 735 kV do các hoạt động của con người (theo ngày) và nhiệt độ ngoài trời (theo mùa)

Phương pháp: Máy đo trường từ ba trục và một trục có sẵn cùng với các kết nối đầu ra có thể được sử dụng kết hợp với bộ ghi dữ liệu có sẵn trên thị trường để ghi lại các thay đổi của mức trường từ tại một hoặc nhiều vị trí, như một hàm của thời gian. Máy đo phơi nhiễm ba trục và thiết bị đo ghi lại dạng sóng trường từ cũng có thể được sử dụng để định kỳ ghi lại các mức trường. Do sự phụ thuộc của các mức trường từ vào dòng điện tải, có thể thay đổi theo ngày, theo tuần, theo mùa (Hình 3), v.v..., thách thức là để xác định khoảng thời gian ghi lại các phép đo thì phải thu thập được đủ các thay đổi của trường để đạt được mô tả thống kê hợp lệ. Thực hiện một nghiên cứu thí điểm ban đầu trong môi trường đo quan tâm có thể là hữu ích để giải quyết câu hỏi về thời gian lấy mẫu cho phép đo.

Việc tìm ra trường từ có giá trị cực đại theo thời gian bằng phép đo là không dễ dàng. Đối với một số trường hợp đơn giản, chẳng hạn như trong trường hợp đường dây điện mạch đơn, điều này có thể được ước lượng bằng cách ghi lại dòng điện trong quá trình đo trường từ và ngoại suy đến tải lớn nhất.

Nên tính đến việc xem xét thêm khi thực hiện phép đo trong hệ thống vận chuyển có khối lượng lớn hoạt động bằng điện hoặc các khu vực khác có động cơ có tốc độ thay đổi. Ví dụ, trong xe lửa, trường từ có thể là một hàm của tốc độ xe lửa (xem Hình 4).

CHÚ THÍCH: Băng thông = 40 Hz - 800 Hz, sóng hài = 100 Hz - 800 Hz.

Hình 4 - Trường từ ở tần số 50 Hz trên một tàu cao tốc tại Pháp

Đối với trường điện, không giống như các phép đo tại chỗ về trường từ từ đường dây điện, các giá trị đo được sẽ không thay đổi nhiều vì điện áp gần như không đổi. Tuy nhiên, mức trường điện có thể thay đổi theo độ võng của các ruột dẫn do nóng lên bởi tải dòng điện lớn [16].

4.1.5  Đặc trưng của thành phần tần số trong trường từ hoặc trường điện

Vì trường điện và trường từ (1) từ thiết bị điện thường chứa sóng hài tần số nguồn hoặc các tần số không liên quan đến tần số nguồn, và giới hạn trường điện và trường từ (2) được thiết lập như một hàm của tần số [17-19; 21] nên đặc trưng của thành phần tần số có thể là một mục tiêu quan trọng.

Một ví dụ về trường từ có nhiều sóng hài và trường được tạo ra bởi một thiết bị điện thông thường như thể hiện trên Hình 5. Hình 5a cho thấy dạng sóng của thành phần nằm ngang của trường từ cách bề mặt của tâm phía trước của một tivi LCD màn hình phẳng 66,04 cm (26 inch) đang hoạt động là 10 cm. Các thành phần hài trong trường được chỉ ra trên Hình 5b, cho thấy phổ tần số cho dạng sóng trên Hình 5a. Nó cho thấy rằng tần số cơ bản là 50 Hz và bao gồm các mức đáng kể của hài bậc 3 và bậc 5.

Hình 5 - Dạng sóng (a) và phổ tần số (b) của trường từ được tạo ra bởi một tivi LCD màn hình phẳng 66,04 cm (26 inch)

Phương pháp: Máy đo trường từ một trục và ba trục sẵn có trên thị trường đôi khi được cung cấp cùng với các kết nối đầu ra tạo ra điện áp đầu ra tỷ lệ với cường độ trường từ.

Thiết bị đo như vậy, kết hợp với các máy phân tích phổ sẵn có trên thị trường, có thể được sử dụng để mô tả các thành phần tần số trong trường từ. Ngoài ra, thiết bị thu thập dạng sóng có phần mềm cho phép xác định thành phần tần số từ dữ liệu được ghi lại. Cũng có các máy đo trường từ có thể được chuyển mạch để chỉ ra các giá trị trường hiệu dụng của tần số nguồn và một hoặc nhiều tần số hài. Các máy đo trường điện và trường từ hiện đại hơn bao gồm cả một máy phân tích phổ.

Cần lưu ý rằng thành phần tần số của trường từ được tạo ra bởi thiết bị điện có tốc độ thay đổi, ví dụ hệ thống vận chuyển có khối lượng lớn hoạt động bằng điện, có thể thay đổi như một hàm của tốc độ [5].

Trường điện của hệ thống điện xoay chiều có tổng độ méo hài thấp, do đó các hài trong trường điện tần số nguồn là không đáng kể [9].

4.1.6  Đặc trưng của phơi nhiễm dân cư trong trường từ và xác định theo mét

Một số nghiên cứu dịch tễ học về phơi nhiễm nghề nghiệp hoặc dân cư, nhằm kiểm tra khả năng ảnh hưởng đến sức khỏe do phơi nhiễm trong trường từ tần số điện, đã được thực hiện. Từ các phép đo trường từ, có thể xác định các chỉ số thống kê khác nhau.

Phương pháp: Việc đánh giá mức phơi nhiễm một cách chính xác hơn được xác định bằng cách đeo một máy đo độ phơi nhiễm có kích cỡ nhỏ có ba trục, ghi lại định kỳ mức trường tại vị trí quan tâm trên cơ thể.

Các ước lượng về mức phơi nhiễm lên người phải được thực hiện từ sự kết hợp của các phép đo về sự thay đổi theo không gian và theo thời gian và thông tin mô tả các mô hình hoạt động của người [31].

Có thể sử dụng máy đo phơi nhiễm ba trục có thể được đeo lên cơ thể người, sẵn có trên thị trường. Thiết bị đo như vậy ghi lại định kỳ giá trị trường từ thu được trong khoảng thời gian kéo dài đến vài ngày, tùy thuộc vào tần suất lấy mẫu trường từ, dung lượng bộ nhớ lưu trữ và tuổi thọ pin. Tỷ lệ lấy mẫu sẽ phụ thuộc một phần vào mô hình được giả định để tương tác giữa trường và vật thể. Dữ liệu thu thập được có thể được tài xuống máy tính và phần mềm được cung cấp cùng với thiết bị đo hoặc được xây dựng đặc biệt, được sử dụng để xác định mức phơi nhiễm theo các tham số như TWA (trung bình có trọng số thời gian), giá trị trung bình hình học và một số giá trị phần trăm.

Mức phơi nhiễm lên người tại các khu vực quy định nên được ước lượng bằng cách cho người đại diện đeo máy đo độ phơi nhiễm thực hiện các hoạt động đã được thực hiện trong quá khứ tại các khu vực quy định [27-28; 30], Cách tiếp cận này giả định rằng các nguồn trường từ không thay đổi đáng kể theo thời gian.

4.2  Nguồn có nhiều tần số

4.2.1  Quy định chung

Nếu một nguồn không tạo ra trường hình sin đơn lẻ thì trường được tạo ra có thể được mô tả là sự chồng lấp của các trường hình sin với các tần số khác nhau. Phổ của trường có thể bao gồm các thành phần phổ rời rạc hoặc nó có thể liên tục. Ví dụ về các nguồn tạo ra phổ rời rạc là đường dây điện phân phối và bộ chuyển đổi AC/DC. Các ví dụ này cũng có phổ hài, có nghĩa là các thành phần phổ chỉ xảy ra ở bội số nguyên của một tần số cơ bản. Phổ rời rạc không hài có thể được tạo bởi hai hoặc nhiều máy phát điện độc lập. Trong một phổ liên tục, không có thành phần phổ rời rạc nào nhìn thấy được vì nó bao gồm vô số vạch phổ với không gian nhỏ vô hạn. Phổ của một xung đơn lẻ hoặc một đột biến là một ví dụ về phổ liên tục. Ngoài ra, tạp nhiễu nhiệt tạo ra phổ liên tục. Hiển nhiên là các phổ rời rạc và liên tục có thể được chồng lên nhau trong một phổ thực.

Mục tiêu của điều này là chỉ ra cách các trường không phải hình sin có thể được so sánh với các mức tham chiếu của các hướng dẫn hoặc tiêu chuẩn hiện có.

Trong dải tần lên đến 100 kHz, các hướng dẫn dựa trên các hiệu ứng ngắn hạn như kích thích hệ thần kinh [17-19; 21], Các hiệu ứng sinh học khác được biết đến là hiệu ứng nhiệt có thể bị bỏ qua ở tần số thấp hơn 100 kHz. Tài liệu tham khảo [25] đưa ra một bản tóm tắt rất có ích về các tài liệu liên quan đến các hiệu ứng sinh lý thần kinh của trường điện từ.

Các hướng dẫn xác định các giới hạn cơ bản để mô tả các hiệu ứng sinh lý thần kinh. Vì các giới hạn cơ bản này không phải là các đại lượng có thể đo được nên các hướng dẫn này đưa ra các mức tham chiếu đối với các trường bên ngoài. Các giới hạn cơ bản và mức tham chiếu là phụ thuộc vào tần số.

Với mức tham chiếu, có một mô hình thực tế có giá trị đối với các trường hình sin bên ngoài. Sự nghịch đảo của đường cong mức tham chiếu có thể được xem như một hàm truyền từ trường bên ngoài đến hiệu ứng sinh học. Nếu phổ của cường độ trường bên ngoài nhân với hàm truyền này dẫn đến giá trị nhỏ hơn một thì giả định rằng trường bên ngoài phù hợp với tiêu chuẩn an toàn tương ứng.

Khái niệm hàm truyền cũng có thể được áp dụng cho các trường không hình sin. Phép nhân của phổ của trường bên ngoài với hàm truyền tạo ra một phổ có liên quan đến phơi nhiễm và có thể được gọi là phổ có trọng số. Đối với phổ rời rạc, điều này có nghĩa là cường độ trường của mỗi thành phần phổ được chia cho mức tham chiếu tại tần số của vạch phổ. Câu hỏi bây giờ là làm thế nào để thêm các vạch phổ có trọng số. Dưới đây là các phương pháp.

4.2.2  Tổng các độ lớn có trọng số

Theo các tài liệu tham khảo [19], [21] và [18], đề xuất rằng cộng thêm độ lớn của các vạch phổ có trọng số. Ví dụ, tài liệu tham khảo [21] đề xuất các tiêu chí sau đối với trường từ:

Trong đó

H_j  là cường độ trường từ ở tần số j

H_R,j  là mức tham chiếu tại tần số j được xác định trong tài liệu tham khảo [21]

Phương pháp này thường đánh giá quá mức phơi nhiễm vì nó không sử dụng thông tin pha của phổ.

4.2.3  Giá trị đỉnh có trọng số

Một tuyên bố của ICNIRP [20] đã chỉ ra rõ ràng rằng phương pháp tính tổng các độ lớn có trọng số chỉ là một ước lượng trong trường hợp xấu nhất vì pha của các vạch phổ có trọng số không được tính đến. Đề xuất tính đến pha của phổ nguồn và chuyển đổi phổ có trọng số thành miền thời gian. Xét cho cùng giá trị đỉnh của tín hiệu miền thời gian có trọng số thu được là số đo độ phơi nhiễm có liên quan. Đối với độ lớn của hàm truyền, sử dụng nghịch đảo của đường cong mức tham chiếu. Pha của hàm truyền được suy ra từ độ dốc của đường cong mức tham chiếu.

Một phương pháp thực hiện hoàn toàn trong miền thời gian cũng được đề xuất trong tài liệu tham khảo [20]: trong phương pháp này, tín hiệu miền thời gian của trường được kết hợp với đáp ứng xung của bộ lọc trọng số. Hàm truyền của bộ lọc trọng số này giống với hàm truyền đã được mô tả cho phương pháp miền tần số. Một lần nữa, giá trị đỉnh của tín hiệu miền thời gian có trọng số là giá trị phơi nhiễm có liên quan.

Về mặt toán học, không có sự khác biệt giữa hai phương pháp được đề xuất do phép nhân trong miền tần số hoàn toàn giống với phép tích chập trong miền thời gian. Trong Điều 8 của TCVN 13729:2023 (IEC 62311:2007) [11], phương pháp đỉnh có trọng số cũng được mô tả chi tiết. Phương pháp đỉnh có trọng số sử dụng phương pháp tích chập đã có sẵn trong các thiết bị đo trên thị trường. Các thiết bị đo này hoạt động trong thời gian thực, rất dễ sử dụng và có thể được sử dụng đối với các tín hiệu tùy ý. Đặc biệt là các xung, đột biến hoặc các tín hiệu dạng nhiễu có thể được đánh giá theo các tài liệu tham khảo [20] và [11].

4.2.4  Tách xung

Đối với các tín hiệu với trạng thái thời gian bất kỳ, việc đánh giá tín hiệu miền thời gian được đề xuất trong 5.3.2 của tài liệu tham khảo [1]. Chỉ mô tả chi tiết đối với trường từ. Tín hiệu miền thời gian của trường được chia thành một chuỗi các xung đơn. Từ khoảng thời gian của mỗi xung, một tần số tương ứng được tính toán được sử dụng để chọn mức tham chiếu thích hợp cho mỗi xung. Nhìn chung, khi đó giá trị đỉnh của đạo hàm theo thời gian của mỗi xung trường từ sau đó phải được so sánh với giá trị đỉnh của tín hiệu hình sin ở mức tham chiếu được nhân với tần số góc tương ứng của nó.

Trong nhiều trường hợp, quy trình này cho kết quả giống như phương pháp đỉnh có trọng số được mô tả trong tài liệu tham khảo [20] và [11] nếu áp dụng các mức tham chiếu giống nhau, nếu các xung được tách ra một cách chính xác và nếu các tần số tương ứng của các xung được trích xuất một cách chính xác. Lý do cho sự giống nhau này là các hiệu ứng vật lý và hiệu ứng sinh lý thần kinh giống nhau là cơ sở của cả hai phương pháp. Tuy nhiên, cách thể hiện các hiệu ứng này có phần khác nhau. Nhiệm vụ tách tín hiệu miền thời gian thành các xung đơn và trích xuất các tham số liên quan là một việc không dễ dàng và không được xác định rõ ràng. Do đó, khả năng tái lập của phương pháp này là không tốt.

4.2.5  Giá trị hiệu dụng có trọng số

Theo tài liệu tham khảo [10], nên cộng bình phương độ lớn của các thành phần phổ có trọng số trong bước đầu tiên và sau đó lấy căn bậc hai của tổng này ở bước thứ hai, làm số đo của phơi nhiễm thực tế. Theo định lý Parseval, giá trị hiệu dụng của tín hiệu miền thời gian có trọng số hoàn toàn giống nhau. Trong tài liệu tham khảo [10], thời gian trung bình là một giây được đề xuất đối với phương pháp miền thời gian. Phương pháp này đã được đưa vào để tránh việc đánh giá quá cao có thể xảy ra bằng cách tính tổng các độ lớn một cách trực tiếp. Cũng trong tài liệu tham khảo [11], phiên bản miền tần số của phương pháp này được đề xuất như một phương thức tránh đánh giá quá cao. Tuy nhiên, không có cơ sở lý luận nào về sinh lý thần kinh cho cách tiếp cận này. Do đó, quy trình này có thể đánh giá thấp tình hình thực tế.

4.2.6  Vạch phổ có trọng số cao nhất

Theo tài liệu tham khảo [1], giả định là không có hiệu ứng cộng của các thành phần phổ khác nhau liên quan đến các hiệu ứng sinh lý thần kinh. Theo 5.3.3 của tài liệu tham khảo [1], đủ để chỉ ra sự phù hợp của từng thành phần phổ riêng biệt nếu phổ bao gồm một số lượng hài giới hạn và nếu độ lớn của các hài này phân rã theo tần số. Đối với cách phân tích nguồn gốc của cách tiếp cận này, tài liệu tham khảo [8] được trích dẫn trong tài liệu tham khảo [1]. Cần lưu ý rằng [8] chỉ là một bản tóm tắt. Cũng cần lưu ý rằng phương pháp được mô tả trong 5.3.2 của tài liệu tham khảo [1] có thể cho kết quả thận trọng hơn nhiều.

4.2.7  Kết luận và khuyến nghị

Chúng ta đã thấy rằng có nhiều các phương pháp để đánh giá các trường có nhiều tần số. Theo quan điểm hiện tại, phương pháp đỉnh có trọng số nên được sử dụng vì nó có rủi ro thấp nhất đối với việc đánh giá quá cao cũng như đánh giá thấp nhất. Nó cũng đưa ra các kết quả ổn định và có thể dự đoán được với mức công việc tối thiểu cho người thao tác.

4.3  Xem xét trước khi đo

Trước khi thực hiện các phép đo, việc hiểu khái niệm về phân bố của trường cần đo là hữu ích. Đối với điều này, thông tin sau là bắt buộc (nếu có):

- nhận biết các nguồn trường;

- đặc trưng về hình học của trường;

- tải của nguồn (được xác định dưới dạng dòng điện, công suất, v.v...);

- hình ảnh hoặc sơ đồ để mô tả đầy đủ khu vực mà phép đo được thực hiện;

- sơ đồ mạch điện cập nhật;

- điều kiện khí quyển;

- khu vực mà công chúng hoặc công nhân có thể tiếp cận được;

- sự có mặt của các vật bằng kim loại.

CHÚ THÍCH: Mặc dù nhiều nguồn trường có thể nhìn thấy được (ví dụ như việc chiếu sáng trên cao, các thiết bị điện) nhưng nhiều nguồn khác thì không (ví dụ như thiết bị điện ở các phòng liền kề hoặc ở tầng trên hoặc tầng dưới).

Có thể cần tiến hành nghiên cứu thí điểm trước các phép đo cuối cùng. Mức độ của nghiên cứu thí điểm này sẽ tùy thuộc vào bối cảnh. Có thể chỉ là việc quét nhanh khu vực để tìm ra trường lớn nhất. Điều này có thể chi tiết hơn để đưa ra các quyết định liên quan đến khoảng cách giữa các phép đo, chiều cao phép đo, kích thước mẫu, định dạng của tờ dữ liệu, bảng câu hỏi để phân loại công việc/nhiệm vụ, v.v....

Trong nghiên cứu thí điểm, cần kiểm tra sự có mặt của hài. Nếu có thể chứng minh rằng hài là không đáng kể, nghĩa là nếu sự khác biệt về phơi nhiễm được đo khi có và không có hài nhỏ hơn 5 %, thì không cần thiết phải đo chúng trong nghiên cứu chính.

Phạm vi đo của thiết bị đo cũng cần được kiểm tra trong nghiên cứu thí điểm. Một số thiết bị đo tự động điều chỉnh phạm vi đo: điều này có thể thuận tiện hơn, chẳng hạn như nếu các mức trường rất khác nhau ở các khu vực khác nhau. Phạm vi đo tự động không nên được sử dụng cho các tín hiệu quá độ.

Khi mục tiêu của phép đo là một nghiên cứu dịch tễ học thì một nghiên cứu thí điểm sẽ được thực hiện như một phần của quá trình triển khai quy trình đo cuối cùng.

5  Quy trình đo và biện pháp dự phòng

5.1  Trường từ xoay chiều (AC)

Khi thực hiện một phương pháp và thủ tục về phép đo, các nguồn trường từ và các hạng mục dưới đây phải được xem xét khi áp dụng:

- các nguồn điện phục vụ công trình;

- loại và vị trí của máy biến áp;

- vị trí của cáp nguồn và áp tô mát;

- độ lớn của điện áp nguồn và khoảng thời gian sử dụng điện cao điểm;

- tần số (bao gồm cả 0 Hz) của nguồn cấp điện và thiết bị điện;

- vị trí của người trong nguồn trường đã biết;

- vị trí của phép đo liên quan đến cơ thể người, ví dụ như đầu, thân, ...;

- sự có mặt của bất kỳ động cơ và máy phát điện;

- sự có mặt của các bộ gia nhiệt nhỏ;

- sự có mặt của các cuộn dây lõi rỗng được sử dụng trong cuộn kháng bù lõi rỗng và trong các cuộn dây bộ lọc;

- hệ thống nối đất và các kết nối.

Phép đo mật độ từ thông phải được thực hiện bằng thiết bị đo ba trục và phải là trường từ tổng hợp.

Có thể sử dụng thiết bị đo một trục trong một số trường hợp, ví dụ: để biết hướng của trường và trường từ cực đại, hoặc để khảo sát hướng và hình dạng của elip trường từ, và trong các trường hợp khi đã biết được hướng của trường phân cực tuyến tính.

Một số thiết bị đo ba trục cũng có thể xác định các tham số trường được đề cập ở trên.

Kích thước của đầu đo hoặc các phần tử cảm biến phải phù hợp với sự thay đổi theo không gian của trường được đo. Các phần tử cảm biến phải có tiết diện 0,01 m² hoặc nhỏ hơn (5.8.2 của TCVN 13727- 1:2023 (IEC 61786-1:2013)).

Dải thông của thiết bị đo phải phù hợp với thành phần tần số của trường cần đo. Trường hợp trường mà dải thông của thiết bị đo có thể ảnh hưởng số đọc một cách đáng kể (nghĩa là trong trường hợp có nhiều hơn một tần số trong trường) thì dải thông phải được ghi lại và đưa vào báo cáo.

Khi trường từ được tạo bởi một hệ thống điện, các tần số có mặt thường là tần số cơ bản (50 Hz hoặc 60 Hz), cộng với một vài hài đầu tiên. Dải thông nhỏ nhất được sử dụng để đo các trường như vậy phải mở rộng từ tần số cơ bản đến 800 Hz. Chỉ dải thông hẹp hơn được sử dụng nếu có thể chứng minh được rằng thành phần hài là đủ nhỏ đối với kết quả đo có khác biệt không đáng kể, ví dụ: gần đường dây điện hoặc nếu có lý do cụ thể để đo dải tần số hẹp hơn.

Khi đo trường được tạo bởi các nguồn không phải là hệ thống điện, dải thông phải được lựa chọn một cách thích hợp. Trường được tạo bởi một số hệ thống giao thông, có tần số cơ bản thấp hơn, trong khi các bộ gia nhiệt cảm ứng, thiết bị đầu cuối hiển thị video, máy bay thương mại, tàu và các hài được tạo bởi động cơ có tốc độ thay đổi, có thể tạo ra trường có tần số cao hơn.

Khi mở rộng dải thông đến các tần số thấp hơn, phải cẩn thận để tránh các lỗi do sự chuyển động của đầu đo cuộn dây trong trường tĩnh. Các lỗi như vậy thường có thể tránh được bằng cách giữ cuộn dây đứng yên hoặc bằng cách chọn một dải tần số thích hợp.

Các phép đo trong trường từ gần đồng nhất tương ứng với sự phơi nhiễm lên toàn bộ cơ thể người nếu có mặt tại khu vực đo tại thời điểm đo. Đây là trường hợp bên dưới đường dây điện [9].

Có thể sử dụng khái niệm mức phơi nhiễm trung bình khi khoảng cách giữa nguồn và cơ thể lớn hơn 20 cm. Để xác định mức phơi nhiễm trung bình, trường phải được đo ở các độ cao và vị trí khác nhau, có tính đến vị trí của cơ thể người và kết quả được tính trung bình. TCVN 13728 (IEC 62110) đưa ra một giao thức để đo phơi nhiễm công chúng trong trường từ được phát xạ bởi hệ thống lắp đặt điện, xác định 3 độ cao của phép đo [9].

Không được sử dụng việc tính trung bình theo cách này trên cơ thể người khi khoảng cách nhỏ hơn 20 cm.

Giao thức đo phải quy định khoảng cách đo giữa điểm đo và các nguồn (hoặc tường hoặc hàng rào hoặc bề mặt). Khoảng cách này nên mặc định là 20 cm. Một số tiêu chuẩn xác định khoảng cách phép đo trong các tình huống cụ thể (xem Phụ lục B).

Vì phần của quá trình triển khai giao thức đo để xác định mức phơi nhiễm lên người trong trường từ nên các mục tiêu và phương pháp đo để đạt được chúng phải được chỉ ra rõ ràng, cần có định nghĩa rõ ràng về các mục tiêu để xác định các yêu cầu về thiết bị đo và hiệu chuẩn, ví dụ: dải thông thiết bị đo, phạm vi đo và các điểm hiệu chuẩn tàn số. Giao thức đo phải chỉ ra (các) tham số trường cần đo, khu vực thực hiện phép đo và cách thức thực hiện phép đo. Nói chung, điều quan trọng cần lưu ý là, một giao thức đo sẽ không phù hợp cho tất cả các tình huống đo.

Trường từ tỷ lệ với dòng điện và do đó có thể thay đổi trong quá trình đo. Vì vậy, sự thay đổi này phải được biết đến để giải thích cho các kết quả. Điều này có thể được thực hiện bằng cách ghi lại dòng điện trong tải hoặc bằng cách ghi lại trường từ tại một khu vực cố định trong suốt quá trình đo.

5.2  Trường từ một chiều (DC)

Sự khác biệt chính giữa đo trường từ AC và trường từ DC là sự ảnh hưởng của trường địa từ.

Trong trường hợp mạng lưới điện một chiều, giao thức phải được suy ra từ TCVN 13728 (IEC 62110). Nếu đường dây DC được đặt ngầm dưới đất thì trường DC tại khu vực có cơ thể phải được coi là đồng nhất (theo nghĩa của TCVN 13728 (IEC 62110), do đó phép đo ở độ cao 1 m là đủ. Tính đồng nhất của trường có thể được đánh giá trước bằng cách tính toán (Hình 6).

P = 1,4m          D = 1,05 m                e = 35cm                I = 926 A

các cực của I trong mỗi cáp = + - - +

trường địa từ là 50 μT với góc 60° so với đây và thẳng hàng với cáp

Hình 6 - Ví dụ về cấu hình trường từ DC trên cáp ngầm DC (được tính toán ở độ cao 1 m)

Trường địa từ phải được đo tại thời điểm bắt đầu và kết thúc phép đo, trên mỗi phía của cáp. Vì trường địa từ và trường DC do dây cáp phát ra là các vectơ, nên không thể loại trừ thành phần trường địa từ một cách đơn giản. Trường từ đo được phải được báo cáo như nó vốn có. Thành phần trường địa từ cũng phải được báo cáo.

5.3  Trường điện AC

Phép đo trường không nhiễu loạn phải được thực hiện bằng thiết bị đo ba trục và phải phép đo của trường điện tổng hợp.

Có thể sử dụng thiết bị đo một trục trong một số trường hợp, ví dụ: khi đã biết được hướng của trường.

Dải thông của thiết bị đo phải phù hợp với thành phần tần số của trường cần đo. Trường hợp trường mà dải thông của thiết bị đo có thể ảnh hưởng đáng kể đến số đọc (nghĩa là trong trường hợp tồn tại nhiều hơn một tần số trong trường) thì dải thông phải được ghi lại và đưa vào báo cáo.

Khi trường điện được tạo ra bởi hệ thống điện, tức là đường dây điện, máy biến áp, v.v..., tần số chủ yếu là tần số nguồn 50 Hz hoặc 60 Hz. Thiết bị đo có dải thông hẹp được tập trung vào tần số nguồn sẽ thích hợp trong các trường hợp như vậy để đo giá trị hiệu dụng của trường điện.

Khi đo trường điện từ các nguồn khác, ví dụ: trên máy bay thương mại, tàu thủy và một số tàu điện, tần số cơ bản có thể khác biệt đáng kể so với 50 Hz/60 Hz và dải thông phải được chọn một cách thích hợp.

Trong quá trình đo trường điện, cần đặc biệt chú ý để tránh các hiệu ứng gần của người quan sát cũng như các người khác có thể ở gần đầu đo trường. Việc nhiễu loạn trường đáng kể có thể xuất hiện, có khả năng gây ra các sai số không thể chấp nhận được trong phép đo.

Hình 7 cho thấy sự nhiễu loạn trong phép đo trường điện theo phần trăm như là một hàm của khoảng cách người quan sát từ đầu đo và độ cao máy đo trường so với đất [7]. Các điểm dữ liệu đại diện cho các nhiễu loạn đo được bên dưới đường dây 500 kV do một người quan sát cao 1,80 m đứng trên mặt đất (các cánh tay đặt ở bên). Hiệu ứng gần được biểu diễn đối với ba độ cao của máy đo trường so với mặt phẳng đất. Các đường cong liền nét là các dự đoán lý thuyết. Vì điện thế của người quan sát thường gần với điện thế đất do điện trở rò và điện dung với đất, các hiệu ứng gần trong Hình 7 có thể được coi là điển hình.

Hình 7 - Hiệu ứng gần của người quan sát trong quá trình đo trường điện trong trường điện thẳng đứng

Hiệu ứng gần của người quan sát đối với các máy đo cách ly với đất ở các dạng hình học khác, có thể lớn hơn hoặc nhỏ hơn các hiệu ứng thể hiện trên Hình 7, có thể được xác định bằng thực nghiệm. Hiệu ứng gần có thể được xác định bằng cách ghi nhận các thay đổi trong giá trị trường như một hàm của khoảng cách người quan sát từ tâm của đầu đo.

Vì vậy, khoảng cách tối thiểu là 2 m phải được lưu ý giữa người vận hành và đầu đo [4].

Trường điện rất dễ bị nhiễu loạn bởi sự có mặt của các vật thể dẫn điện, ngay cả khi các vật thể này dẫn điện kém (cây cối, hàng rào, thảm thực vật, tòa nhà, v.v...) [4]. Tất cả các vật thể có thể di chuyển được nên được loại bỏ bất cứ khi nào có thể. Nếu không, thì khoảng cách giữa đầu đo và vật thể phải bằng ít nhất ba lần chiều cao của vật thể (vật thể không cố định) hoặc 1 m (vật thể cố định), nếu có thể. Các vật thể không thể loại bỏ phải được liệt kê, chỉ ra kích thước và vị trí của chúng [4].

Đầu đo phải được đặt trên một giá ba chân cách điện (xem 5.8.4 của TCVN 13727-1:2023 (IEC 61786-1:2013)).

Các phép đo trường điện có thể bị sai sót nếu độ ẩm tương đối lớn hơn 70% (xem 5.5 của TCVN 13727-1:2023 (IEC 61786-1: 2013)).

Cần phải thừa nhận rằng các phép đo trong trường điện gần đồng nhất tương ứng với sự phơi nhiễm lên toàn bộ cơ thể người nếu có mặt tại vị trí đo tại thời điểm đo. Phép đo trường điện trong các trường không đồng nhất có cách hiểu hạn chế hơn khi xác định mức phơi nhiễm lên người, tức là phép đo trường chỉ biểu thị mức phơi nhiễm lên người đối với phần giải phẫu người trùng với vị trí đo.

Như một phần của quá trình để triển khai giao thức đo nhằm xác định mức phơi nhiễm lên người trong trường điện, các mục tiêu và phương pháp đo để đạt được chúng phải được chỉ ra rõ ràng, cần có định nghĩa rõ ràng về các mục tiêu để xác định các yêu cầu về thiết bị đo và hiệu chuẩn, ví dụ: dải thông thiết bị đo, phạm vi đo và các điểm hiệu chuẩn tần số. Giao thức đo phải chỉ ra (các) tham số trường nào cần được đo, nơi thực hiện phép đo và cách thức thực hiện phép đo. Nhìn chung, điều quan trọng cần lưu ý là một giao thức đo duy nhất sẽ không phù hợp cho tất cả các tình huống đo.

6  Độ không đảm bảo đo

Độ không đảm bảo đo phải được đánh giá phù hợp với TCVN 9595-3 (ISO/IEC Guide 98-3). Tiêu chuẩn này yêu cầu độ lệch chuẩn liên quan đến từng đại lượng ảnh hưởng đến phép đo phải được xác định trên cơ sở các phép đo được thực hiện (kiểu A) hoặc trên cơ sở kinh nghiệm (kiểu B).

Cần đưa ra các quyết định về độ không đảm bảo tổng cho phép trong quá trình đo (các yêu cầu về độ không đảm bảo của thiết bị đo được đưa ra trong Điều 5 của TCVN 13727-1:2023 (IEC 61786-1:2013)).

Để xác định độ không đảm bảo tổng kết hợp với các phép đo giá trị hiệu dụng của trường điện hoặc trường từ trong các môi trường đo khác nhau, cần có tính toán thích hợp về các nguồn độ không đảm bảo khác nhau. Các nguồn có thể có của độ không đảm bảo được xác định trong Điều 6 của TCVN 13727-1:2023 (IEC 61786-1:2013) và trong Phụ lục C như sau:

• Độ không đảm bảo loại A

- độ không đảm bảo trong hiệu chuẩn;

- độ tái lặp của phép đo;

- độ tái lập của phép đo;

• Độ không đảm bảo loại B

- hệ số hiệu chính;

- ảnh hưởng trung bình của các đầu đo cuộn dây trong phép đo trường không đồng nhất;

- sai số trong việc đặt đầu đo trong các trường không đồng nhất;

- đáp tuyến tần số hoặc các giới hạn dải thông (lựa chọn của bộ lọc);

- hằng số thời gian đo của thiết bị đo;

- độ trôi trong đo lường;

- phân giải;

- nhiệt độ;

- việc gần với các vật thể hoặc chướng ngại vật;

- độ ẩm (chỉ đối với trường điện);

- độ trễ của thang đo ở chế độ tự động điều chỉnh phạm vi đo.

Một số nguồn không đảm bảo có thể được giảm xuống mức không đáng kể. Ví dụ, các chân đế được chế tạo từ vật liệu cách điện có thể được sử dụng để định vị chính xác đầu đo của máy đo trường.

Các hệ số hiệu chính đã biết nên được áp dụng cho các số đọc thu được khi có thể.

Điều này có thể phức tạp do thực tế rằng các hệ số hiệu chính được xác định cho mỗi trục.

Tương tự, cần nhận thức được rằng độ không đảm bảo trong phép đo trường điện hoặc trường từ từ các thiết bị hoặc thiết bị điện khác, là một hàm về khoảng cách từ nguồn, có thể trở nên rất lớn (ví dụ: vượt quá 100 %) như mức trường từ nguồn tiếp cận giá trị của trường nền.

Độ lệch chuẩn tổng hợp u_c phải thu được bằng căn bậc hai của tổng các phương sai (tức là căn bậc hai của tổng bình phương của các độ lệch chuẩn):

trong đó c_i là hệ số độ nhạy và u_i là độ không đảm bảo chuẩn

Độ không đảm bảo mở rộng (tổng) u_e phải bằng k lần độ lệch chuẩn tổng hợp, trong đó k là hệ số phủ.

Hệ số phủ phải được tính là 2, đối với phân bố Gaussian thông thường, sẽ tương ứng với khoảng tin cậy là xấp xỉ 95 %.

u_e = 2u_c

Phụ lục D đưa ra một ví dụ về việc đánh giá độ không đảm bảo đo.

7  Báo cáo phép đo

Thông tin cần thiết khi ghi lại và báo cáo kết quả của phép đo có thể khác nhau tùy thuộc vào mục tiêu của phép đo. Phải cung cấp định nghĩa rõ ràng về các mục tiêu của phép đo ngay từ đầu. Thông tin sau liên quan đến thiết bị đo và phép đo cũng phải được cung cấp khi thích hợp:

- mô tả quy trình đo;

- tên nhà sản xuất;

- tên model thiết bị đo và đầu đo;

- độ rộng băng của thiết bị đo;

- ngày thử nghiệm hiệu chuẩn/kiểm tra xác nhận gần nhất;

- ngày đo;

- thời gian của các phép đo;

- thông tin người thực hiện các phép đo;

- điều kiện thời tiết;

- độ ẩm (chỉ dành cho điện trường;)

- bản mô tả thông tin nguồn, ví dụ tần số và đặc tính tín hiệu;

- điều kiện nguồn, tức là tải dòng điện;

- độ phân giải tần số của phổ đối với các trường chứa nhiều tần số;

- chỉ dẫn rõ ràng về đại lượng trường cần báo cáo, ví dụ: trường lớn nhất, trường tổng hợp, thành phần trường thẳng đứng, trung bình có trọng số theo thời gian (TWA), giá trị hiệu dụng, v.v... (nên sử dụng đơn vị SI; đơn vị phổ biến có thể được biểu diễn trong dấu ngoặc đơn);

- bản mô tả hoạt động của người khi dữ liệu về phơi nhiễm lên người được đưa ra;

- các bản vẽ mô tả khu vực và vị trí thực hiện các phép đo; bằng ảnh nếu có;

- định vị của điểm đo tham chiếu, bằng tọa độ GPS nếu có;

- địa từ trường khi đo từ trường một chiều;

- thông tin thống kê, ví dụ: giá trị trường lớn nhất và nhỏ nhất, giá trị trung bình, giá trị trung bình hình học, v.v...;

- độ không đảm bảo đo tổng;

- kết luận liên quan đến các mục tiêu của phép đo;

- khoảng cách đến nguồn.

Phụ lục A

(tham khảo)

Ví dụ về các đặc tính trường trong các môi trường điển hình

Sự hiểu biết về các đặc tính trường dẫn đến việc lựa chọn đúng thiết bị đo và quy trình đo. Nhìn chung, công nhân có tiếp cận với các môi trường mà cường độ trường điện và cường độ trường từ có thể cao hơn các môi trường mà công chúng có thể tiếp cận được. Trong hầu hết các trường hợp, hai môi trường được phân định một cách tự nhiên bởi các ranh giới vật lý. Ví dụ, trong các trạm biến áp hoặc vỏ bọc dùng cho hệ thống lắp đặt trung áp, có các khu vực hạn chế tiếp cận đối với công nhân.

Nhìn chung, công chúng bị phơi nhiễm trong các trường ở mức cao hơn khi càng ở gần đường dây điện.

Việc thiết kế các thiết bị điện áp cao và dòng điện cao được tối ưu hóa để giảm thiểu trường được tạo bởi các thiết bị điện.

Do tính chất của công việc, ví dụ như kiểm tra hoặc bảo trì đường dây điện, các công nhân có thể phải tiếp cận các khu vực có mức trường cao hơn. Cường độ trường tương đối cao ở mức mặt đất trong các trạm biến áp phía dưới các thanh cái, gần các đầu nối của máy phát điện trong trạm điện và gần các dây pha của đường dây trên không, trong quá trình bảo trì đường dây điện. Các ví dụ khác về nguồn trường từ cao tại nơi làm việc bao gồm máy hàn, điện phân, gia nhiệt cảm ứng, v.v....

Thứ tự độ lớn của trường tần số nguồn trong các khu vực mà công nhân và công chúng có thể tiếp cận được trong hệ thống lắp đặt biến áp dịch vụ ở Bắc Mỹ và đối với quyền dành riêng (ROW) của các đường dây điện được tóm tắt trong Bảng A.1.

Bảng A.1 - Ví dụ về đặc tính trường bên trong (môi trường làm việc) và bên ngoài (môi trường công chúng) các trạm biến áp tại một một cơ sở ở Bắc Mỹ

Số liệu thống kê về mức phơi nhiễm trường từ của 3 công nhân trong một nhà máy điện được thể hiện trong Hình A.1. Điều này minh họa phần trăm thời gian tiếp xúc (Hình A.1a) và kết quả cường độ-thời gian (Hình A.1b) của trường từ trong 3 ngày làm việc. Ví dụ này không dự kiến làm đại diện cho tất cả các công nhân có khả năng bị phơi nhiễm trong nhà máy điện.

Hình A.1 - Phơi nhiễm trường từ của công nhân đại diễn (thợ điện) trong nhà máy diện Bắc Mỹ (dựa trên bản ghi 3 ngày)

Hệ thống giao thông vận chuyển có thể tạo ra trường ở tần số cao hơn tần số nguồn. Các đặc tính trường đối với phơi nhiễm công chúng này được trình bày trong Bảng A.2 [6]. Trường trong các hệ thống này có thể thay đổi trong quá trình tăng và giảm tốc của xe.

Bảng A.2 - Đặc tính trường (μT) trong hệ thống giao thông vận chuyển khác nhau ở Mỹ: trung bình và (tối đa)

Tùy thuộc vào môi trường, trường điện hoặc trường từ có thể không đồng nhất trong khu vực quan tâm. Ví dụ, TCVN 13728 (IEC 62110) [9] giải thích rằng trong môi trường công chúng, trường dưới đường dây điện có thể được coi là đồng nhất, trong khi trường bên trên đường dây điện đi ngầm là không đồng nhất.

Phụ lục B

(tham khảo)

Ví dụ về khoảng cách đo

B.1  TCVN 13728:2023 (IEC 62110:2009) [9]

h là chiều cao của phép đo và d là khoảng cách đến nguồn.

• Điểm duy nhất: h = 1 m

• Ba điểm: h = 0,5 m - 1 m -1,5 m và d = 0,2 m

• Năm điểm: h = 0,2 m và d = 0,5 m từ tâm

• Xung quanh trạm biến áp có đường dây trên không được kết nối với trạm biến áp: h = 1 m và d = 0,2 m

B.2  TCVN 10900:2015 (IEC 62233:2005) [10]

• Thiết bị được sử dụng tiếp xúc với các bộ phận liên quan của cơ thể: 0 cm

• Loại khác: 30 cm

• Trường hợp cụ thể: Thiết bị xông hơi mặt, máy sấy tóc, máy sưởi giường nước: 10 cm

• Bếp từ và bếp điện: d = 30 cm, chiều cao h từ 1 m trên vùng nấu và 0,5 m dưới vùng nấu.

B.3  TCVN 13729 (IEC 62311) [11]

Khoảng cách (nguồn đến người sử dụng): khoảng cách được sử dụng để đánh giá phải do nhà chế tạo quy định và phù hợp với mục đích sử dụng thiết bị.

B.4  IEC 62369-1:2008 [12]

Khoảng cách đo thông thường từ các thiết bị giám sát vật thể điện tử (EAS) là 20 cm/30 cm. Phép đo dựa trên một lưới với mỗi 10 cm hoặc 15 cm trên thân và đầu (chiều cao tối thiểu 85 cm). Nhiều dữ liệu được đưa ra trong [12], mô tả lưới dùng cho phép đo theo chức năng của loại hệ thống EAS.

B.5  IEC/TS 62597:2011 [14]

• Đầu máy xe lửa:

- Công nhân ở bên trong:

• PHƯƠNG PHÁP BỀ MẶT → h = 0,5m -1 m -1,5 m

• PHƯƠNG PHÁP THỂ TÍCH → h = 1 m -1,5 m và d = 0,3 m

- Công chúng ở bên trong:

• PHƯƠNG PHÁP BỀ MẶT và PHƯƠNG PHÁP THỂ TÍCH → h = 0,3 m - 1 m - 1,5 m và d = 0,3 m

- Công nhân và công chúng ở bên ngoài:

• PHƯƠNG PHÁP BỀ MẶT và PHƯƠNG PHÁP THỂ TÍCH → h = 0,5 m -1,5 m - 2,5 và d = 0,3 m

• Hệ thống lắp đặt cố định:

h = 1 m hoặc 1,5 m

d = 10 m (đường dây lưới điện) d =3m (giao thông đô thị)

CÁC KHU VỰC GẦN VỚI HỆ THỐNG LẮP ĐẶT CUNG CẤP ĐIỆN CỐ ĐỊNH:

Lựa chọn giữa hai bộ: h = 0,5 m -1 m-1,5m hoặc h = 0,3 m - 0,9 m -1,5 m

Sàn: h = 0,5 m -1 m -1,5 m và d = 0,3 m

B.6  IEC 62493:2009 [13]

Hình B.1 - Thiết bị chiếu sáng và khoảng cách đo (từ [13])

Phụ lục C

(quy định)

Độ không đảm bảo đo

C.1  Tổng quan

Khi việc hiệu chuẩn hợp lệ của máy đo trường đã được thực hiện, số lượng cơ cấu có thể gây ra sai số trong phép đo là nhỏ. Các nguồn của độ không đảm bảo cần được xem xét và kết hợp với độ không đảm bảo trong hiệu chuẩn, khi thích hợp, được nêu dưới đây.

CHÚ THÍCH: Trong một số trường hợp ở Điều C.2 và Điều C.3, các ước lượng định tính về độ không đảm bảo được cung cấp (ví dụ: ảnh hưởng của trường không đồng nhất), trong khi các trường hợp khác đưa ra hướng dẫn ngắn gọn để xác định (ví dụ: ảnh hưởng của nhiệt độ). Đối với các nguồn không đảm bảo khác, chỉ chú ý đến các ảnh hưởng có thể có của chúng.

C.2  Đánh giá độ không đảm bảo loại A

Độ không đảm bảo trong hiệu chuẩn: giá trị có sẵn trong chứng chỉ hiệu chuẩn

Độ tái lặp của phép đo (xem 3.4). Điều kiện tái lặp bao gồm:

- cùng giao thức đo;

- cùng người quan sát/thao tác;

- cùng thiết bị đo được sử dụng trong cùng điều kiện đo;

- cùng địa điểm đo;

- lặp lại trong khoảng thời gian ngắn (vài phút).

Độ tái lập của phép đo (Xem 3.5). Điều kiện tái lập bao gồm:

- các loại máy đo hoặc loại máy đo trường khác nhau;

- giao thức đo khác nhau;

- người quan sát/thao tác khác nhau;

- các điều kiện đo khác nhau;

- thời gian đo khác nhau.

Hệ số tái lập có thể được xác định bằng cách tham gia vào hoạt động so sánh liên phòng.

C.3  Đánh giá độ không đảm bảo loại B

C.3.1  Trường không đồng nhất

Có thể xuất hiện độ không đảm bảo lớn nhất khi phép đo trường từ không đồng nhất ở mức độ cao được thực hiện thủ công gần với các nguồn như thiết bị điện. Các đầu đo ba trục không có tâm chung, ví dụ: trong máy đo độ phơi nhiễm, sẽ lấy mẫu trường tại các vị trí khác nhau. Ngoài ra, các đầu đo của máy đo trường từ thường được hiệu chuẩn trong một trường từ gần đồng nhất và đang được sử dụng để đo một trường có thể thay đổi là 1/d³ với d khoảng cách đến nguồn. Trong khi tâm của đầu đo thường được coi là vị trí đo, trên thực tế số đọc trường từ là giá trị trung bình của thành phần trực giao của trường từ trên toàn bộ tiết diện của đầu đo. Trong một số trường hợp, trường trung bình có thể khác đáng kể so với giá trị trường trung tâm.

Độ không đảm bảo liên quan đến việc định vị chính xác hơn đầu đo trường từ theo các hướng được xác định rõ ràng, có thể bị suy giảm khi sử dụng các chân đỡ có thể điều chỉnh được chế tạo bằng vật liệu không dẫn điện.

Mặc dù máy đo trường điện được hiệu chuẩn trong trường gần đồng nhất nhưng chúng thường có thể được sử dụng cùng với độ không đảm bảo nhỏ đối với các phép đo trong trường không đồng nhất. Hơn nữa, phải duy trì khoảng cách tối thiểu đến các vật thể (xem 5.3). Do đó, độ không đảm bảo được tạo bởi sự không nhất của trường điện sẽ không đáng kể đối với nhiều trường hợp trong thực tế.

C.3.2  Giới hạn dải thông

Một dải thông bị giới hạn có thể góp phần vào độ không đảm bảo đo và dẫn đến sự sai khác trong kết quả đo. Ví dụ: phép đo trường từ từ một số thiết bị đầu cuối hiển thị hình ảnh (VDT), bằng cách sử dụng máy đo trường tần số nguồn (tức là máy đo trường có dải thông hẹp tập trung vào khoảng 50/60 Hz), có thể chênh lệch nhiều hơn 20 % so với với các phép đo được thực hiện bằng máy đo trường có dải thông rộng hơn [24], Điều này xảy ra do trường từ VDT có nhiều hài mà máy đo tần số nguồn không thể phát hiện được. Nếu trường từ không chứa thành phần tần số nguồn thì sự sai khác hoặc sai số có thể lớn hơn nhiều.

Để giảm thiểu các tín hiệu từ đầu đo do sự chuyển động của đầu đo trong trường từ trái đất, tần số góc thông cao của bộ lọc của mạch tách sóng có thể được tăng lên, miễn là tần số cao hơn không ảnh hưởng đến các phép đo, ví dụ: phép đo trường từ 162/3 Hz và 25 Hz từ một số tàu điện.

C.3.3  Nhiệt độ

Ảnh hưởng của nhiệt độ đến hoạt động của máy đo trường là một nguồn độ không đảm bảo khác có thể xảy ra. Nếu dự đoán được sự sai khác lớn về nhiệt độ tại khu vực đo so với nhiệt độ tại thời điểm hiệu chuẩn, thì ảnh hưởng của nhiệt độ môi trường phải được cho biết hoặc mô tả. Nếu nhiệt độ nằm ngoài phạm vi mà nhà chế tạo khuyến cáo thì ảnh hưởng của nhiệt độ có thể được xác định trong các điều kiện hiệu chuẩn (TCVN 13727-2 (IEC 61768-1)) khi máy đo trường ở trong buồng môi trường. Ảnh hưởng của nhiệt độ được đặc trưng bởi hệ số nhân trên mỗi °C hoặc °K.

C.3.4  Độ ẩm

Ảnh hưởng của độ ẩm đối với phép đo trường từ là không đáng kể.

Độ ẩm có thể ảnh hưởng đến máy đo trường điện. Trong điều kiện độ ẩm cao, một lớp ngưng tụ bề mặt có thể hình thành trên các bộ phận của máy đo trường điện. Nguồn chính của độ không đảm bảo xuất phát từ sự rò rỉ của tay cầm qua lớp cách điện lắp vào một trong các điện cực. Nếu đáng kể, sự rò rỉ này sẽ làm tăng đáng kể dòng điện được dẫn vào đầu đo và kết quả số đọc đo trường. Độ không đảm bảo nhỏ hơn nhiều được kết hợp với việc rò rỉ giữa hai điện cực cảm biến, điều này sẽ làm giảm số đọc của máy đo trường. Máy đo trường, cụm lắp ráp tay cầm và lớp cách điện bên trong của nó phải được giữ sạch và khô ráo để giảm thiểu sai số do dòng điện rò.

Ảnh hưởng của độ ẩm môi trường xung quanh đến tính năng của máy đo trường điện có thể được xác định bằng cách hiệu chuẩn với máy đo trường trong buồng môi trường. Ảnh hưởng của độ ẩm không đáng kể đến phép đo trường điện khi độ ẩm nhỏ hơn 70 % (TCVN 13727-1 (IEC 61786-1), [23]).

C.3 5  Địa điểm thực hiện phép đo

Độ không đảm bảo đo có thể xảy ra trong phép đo trường từ và trường điện không đồng nhất do độ không đảm bảo tại địa điểm đo. Sự thay đổi của trường B đo được có liên quan đến khoảng cách r có thể được mô tả theo quan hệ.

trong đó

1 ≤ α ≤ 3 đối với hầu hết các trường hợp,

K là hằng số, tức là trường xoay chiều có giá trị hiệu dụng không đổi.

Công thức vi phân (C.1) liên quan đến r

Giả định phân bố hình chữ nhật đối với độ không đảm bảo theo r, độ lệch chuẩn của giá trị B, s_d, do độ không đảm bảo trong r(Δr) có thể được biểu diễn bằng

Ví dụ, giả định một nguồn trường từ lưỡng cực (α = 3), Δr = 2 mm và r = 500 mm, s_d = ± 0,007 B.

C.3.6  Độ trôi dài hạn

Do sự thay đổi dần dần trong các linh kiện của thiết bị đo theo thời gian nên có thể xảy ra các thay đổi theo phản ứng của máy đo trường. Kiểm tra xác nhận định kỳ việc hiệu chuẩn (xem Điều 6 của TCVN 13727-1:2023 (IEC 61786-1:2013)) cung cấp phương tiện xác định độ trôi dài hạn và hệ số hiệu chính.

C.3.7  Hằng số thời gian của thiết bị đo

Một nguồn không đảm bảo khác là do hằng số thời gian của mạch bộ tách sóng. Ví dụ, nếu máy đo có màn hiển thị dạng số được đọc quá sớm sau khi được đặt trong trường cao, thì có thể xảy ra việc đọc số sai. Các số đọc sai cũng có thể xảy ra đối với các trường nhấp nháy nhanh do thời gian xử lý tín hiệu không đủ.

Cần phân biệt giữa độ không đảm bảo của phép đo, độ không đảm bảo của phép đo có thể được tạo ra khá nhỏ với thiết kế thiết bị đo thích hợp và việc hiệu chuẩn cẩn thận, và tính chất biến thiên của trường do sự thay đổi theo thời gian và không gian. Các thay đổi theo thời gian và không gian của trường có thể vượt quá độ không đảm bảo trong một phép đo và được xem xét theo 5.1.

C.3.8  Hiệu ứng gần của người quan sát (đối với trường điện)

Hiệu ứng gần của một người quan sát là không đáng kể nếu khoảng cách giữa người quan sát và đầu đo trường điện lớn hơn 2 m.

C.3.9  Hệ số hiệu chính

Hệ số này được đưa ra trong chứng chỉ về hiệu chuẩn. Đối với máy đo ba trục, hệ số này có thể là 1 giá trị hoặc 3 giá trị (1 giá trị là giá trị trung bình). Vì vậy cần cẩn thận trong việc sử dụng các hệ số hiệu chính.

Ví dụ về việc sử dụng hệ số hiệu chính được nêu trong Phụ lục D.

C.3.10  Độ trễ giữa các thang đo

Khi sử dụng máy đo trường ở thang đo tự động, cần cẩn thận khi thay đổi mức thang đo. Ví dụ: khi trường được đo ở gần với giá trị thang đo, một thay đổi nhỏ của trường có thể thay đổi mức thang đo. Khi đó, trường được đo sẽ nằm ở phần thấp hơn của thang đo cao hơn, điều này có thể dẫn đến độ không đảm bảo bổ sung.

Phụ lục D

(tham khảo)

Ví dụ về độ không đảm bảo đo

Bảng D.1 đưa ra một ví dụ về tính toán độ không đảm bảo đối với phép đo trường từ trong khu vực công chúng phía dưới đường dây tải điện trên không điện áp rất cao tần số 50 Hz. Thiết bị đo được sử dụng là đầu đo NARDA EHP-50C được kết nối với PMM 8053B với thang đo là 100 μT. Các phép đo được thực hiện ở độ cao cách mặt đất là 1 m.

Các nguồn độ không đảm bảo được tính đến khi phân tích hệ thống đo được mô tả trong Phụ lục C.

Bảng D.1 - Ví dụ về độ không đảm bảo đo

Thư mục tài liệu tham khảo

[1] BÖRNER, F., et al. Electromagnetic fields at workplaces - a new scientific approach to occupational health and safety. Bonn: Bundesministerium für Arbeit und Soziales, 2011. ISBN FB400

[2] BOTTURA, V., et al. Urban exposure to ELF magnetic field due to high-, medium- and low-voltage electricity supply networks. Radiation Protection Dosimetry, 2009, vol. 137, no. 3-4, p. 214-217

[3] CAOLA, R.J., et al. Measurements of Electric and Magnetic Fields in and Around Homes Near a 500 KV Transmission Line. Power Apparatus and Systems, IEEE Transactions on, 1983, vol. PAS-102, no. 10, p. 3338-3347

[4] CIGRE WORKING GROUP C4.203 Technical Guide for Measurement of Low Frequency Electric and Magnetic Fields near Overhead Power Lines. Technical Brochure n°375, 2009

[5] DIETRICH, F.M., et al. Comparison of magnetic and electric fields of conventional and advanced electrified transportation systems. 1993

[6] DIETRICH, F.M. AND JACOBS, W.L. Survey and Assessment of Electric and Magnetic Field (EMF) Public Exposure in the Transportation Environment. 1999, no. Report No. PB99-130908.

[7] DIPLACIDO, J., et al. Analysis of the proximity effects in electric field measurements. IEEE Transactions on Power Apparatus and Systems, 1978, vol. PAS-97, p. 2167- 2177

[8] HEINRICH, H. AND BÖRNER, F. Summation Formulae - Facts and Fiction. The Biolectromagnetics Society 30th Annual Meeting. San Diego, 2008, p. 33-34

[9] TCVN 13728:2023 (IEC 62110:2009), Mức trường điện và trường từ tạo bởi hệ thống điện xoay chiều (AC) - Quy trình đo liên quan đến phơi nhiễm công chúng

[10] TCVN 10900:2015 (IEC 62233:2005), Phương pháp đo trường điện từ của thiết bị gia dụng và thiết bị tương tự liên quan đến phơi nhiễm lên người

[11] TCVN 13729 (IEC 62311), Đánh giá thiết bị điện và điện tử liên quan đến giới hạn phơi nhiễm lên người trong trường điện (0 Hz đến 300 GHz)

[12] IEC 62369-1:2008, Evaluation of human exposure to electromagnetic fields from short range devices (SRDs) in various applications over the frequency range 0 GHz to 300 GHz - Part 1: Fields produced by devices used for electronic article surveillance, radio frequency identification and similar systems

[13] IEC 62493:2009, Assessment of lighting equipment related to human exposure to electromagnetic fields

[14] IEC TS 62597:2011, Measurement procedures of magnetic field levels generated by electronic and electrical apparatus in the railway environment with respect to human exposure

[15] IEEE STD 644-1994, IEEE Standard Procedures for Measurements of Power Frequency Electric and Magnetic Fields from AC Power Lines

[16] IEEE STD 738-2006, IEEE Standard for Calculating the Current-Temperature of Bare Overhead Conductors

[17] IEEE STD C95.1:2005, IEEE standard for Safety Levels with Respect to Human Exposure to Radiofrequency Electromagnetic Fields, 3 kHz to 300 GHz

[18] IEEE STD C95.6:2002, IEEE Standard for Safety Levels with respect to human exposure to electromagnetic fields, 0-3 kHz

[19] INTERNATIONAL COMMISSION ON NON-IONIZING RADIATION PROTECTION, Guidelines for limiting exposure to time-varying electric, magnetic, and electromagnetic fields (up to 300 GHz). Health Phys, 1998, vol. 74, no. 4, p. 494-522

[20] INTERNATIONAL COMMISSION ON NON-IONIZING RADIATION PROTECTION, Guidance on determining compliance of exposure to pulsed and complex nonsinusoidal waveforms below 100 kHz with ICNIRP guidelines. Health Phys, 2003, vol. 84, no. 3, p. 383-387

[21] INTERNATIONAL COMMISSION ON NON-IONIZING RADIATION PROTECTION, Guidelines for limiting exposure to time-varying electric and magnetic fields (1 Hz to 100 kHz). Health Phys, 2010, vol. 99, no. 6, p. 818-836

[22] KAUNE, W.T., et al. Residential magnetic and electric fields. Bioelectromagnetics, 1987, vol. 8, no. 4, p. 315-335

[23] KORPINEN, L.H., et al. Influence of relative humidity on analyzing electric field exposure using ELF electric field measurements. Bioelectromagnetics, 2013, vol. 34, no. 5, p. 414-418

[24] MISAKIAN, M., et al. Measurements of power frequency magnetic fields away from power lines. Power Delivery, IEEE Transactions on, 1991, vol. 6, no. 2, p. 901-911.

[25] REILLY, J.P. Applied Biolelectricity - from electrical stimulation to electropathology. New-York: Springer, 1998. ISBN 0-387-98407-0

[26] RENEW, D.C., et al. A method for assessing occupational exposure to powerfrequency magnetic fields for electricity generation and transmission workers. Journal of Radiological Protection, 2003, vol. 23, no. 3, p. 279

[27] SAHL, J.D., et al. Cohort and nested case-control studies of hematopoietic cancers and brain cancer among electric utility workers. Epidemiology, 1993, vol. 4, no. 2, p. 104-114

[28] SAVITZ, D.A. AND LOOMIS, D.P. Magnetic field exposure in relation to leukemia and brain cancer mortality among electric utility workers. Am J Epidemiol, 1995, vol. 141, no. 2, p. 123-134

[29] SWANSON, J. Measurements of static magnetic fields in homes in the UK and their implication for epidemiological studies of exposure to alternating magnetic fields. J. Radiol. Prot., 1994, vol. 14, no. 1, p. 67-75

[30] THERIAULT, G., et al. Cancer risks associated with occupational exposure to magnetic fields among electric utility workers in Ontario and Quebec, Canada, and France: 1970-1989. Am J Epidemiol, 1994, vol. 139, no. 6, p. 550-572.

[31] UK CHILDHOOD CANCER STUDY INVESTIGATORS, Exposure to power-frequency magnetic fields and the risk of childhood cancer. UK Childhood Cancer study Investigators. Lancet, 1999, vol.