\r\nIEC 60086-3:2016
Lời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 12668-3:2020 hoàn toàn tương\r\nđương với IEC 60086-3:2016;
\r\n\r\nTCVN 12668-3:2020 do Ban kỹ thuật tiêu\r\nchuẩn quốc gia TCVN/TC/E1 Máy điện và khí cụ điện biên soạn, Tổng cục\r\nTiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.
\r\n\r\nBộ tiêu chuẩn TCVN 12668 (IEC 60086),\r\nPin sơ cấp, gồm có các phần sau:
\r\n\r\n- TCVN 12668-1:2020 (IEC 60086-1:2015),\r\nPhần 1: Quy định chung
\r\n\r\n- TCVN 12668 -2:2020 (IEC\r\n60086-2:2015), Phần 2: Quy định kỹ thuật về vật lý và điện
\r\n\r\n- TCVN 12668 -3:2020 (IEC\r\n61558-3:2016), Phần 3: Pin dùng cho đồng hồ đeo tay
\r\n\r\n- TCVN 12668 -4:2020 (IEC\r\n60086-4:2019), Phần 4: An toàn của pin lithium
\r\n\r\n- TCVN 12668 -5:2020 (IEC\r\n60086-5:2016), Phần 5: An toàn của pin sử dụng chất điện phân lỏng
\r\n\r\n\r\n\r\n
Tiêu chuẩn này quy định các kích thước,\r\nký hiệu, phương pháp thử và các yêu cầu đối với pin sơ cấp dùng cho đồng hồ đeo\r\ntay. Trong một vài trường hợp, cho trước danh mục các phương pháp thử nghiệm.\r\nKhi trình bày các đặc tính điện của pin và/hoặc dữ liệu về tính năng, nhà chế tạo\r\nquy định phương pháp thử nghiệm được sử dụng.
\r\n\r\n\r\n\r\nCác tài liệu viện dẫn dưới đây là cần\r\nthiết để áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn có ghi năm công\r\nbố thì áp dụng các bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm\r\ncông bố thì áp dụng phiên bản mới nhất (kể cả các sửa đổi).
\r\n\r\nTCVN 12668-1:2020 (IEC 60086-1:2015), Pin\r\nsơ cấp - Phần 1: Quy định chung
\r\n\r\nTCVN 12668-2:2020 (IEC 60086-2:2015), Pin\r\nsơ cấp - Phần 2: Quy định kỹ thuật về vật lý và điện
\r\n\r\nIEC 60086-4:2014
TCVN 12668-5:2020 (IEC 60086-5:2016), Pin\r\nsơ cấp - Phần 5: An toàn của pin sử dụng chất điện phân lỏng
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này sử dụng các thuật ngữ\r\nvà định nghĩa sau.
\r\n\r\n3.1
\r\n\r\nDung kháng (capacitive\r\nreactance)
\r\n\r\nPhần của điện trở trong, dẫn đến sụt\r\náp trong các giây đầu tiên khi có tải.
\r\n\r\n3.2
\r\n\r\nDung lượng (capacity)
\r\n\r\nĐiện tích (lượng điện năng) mà ngăn hoặc\r\npin có thể cung cấp trong các điều kiện phóng điện quy định.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đơn vị SI đối với điện tích\r\nlà cu lông (1 C = 1 As) nhưng trên thực tế dung lượng thường được thể hiện dưới\r\nampe giờ (Ah).
\r\n\r\n3.3
\r\n\r\nPin mới (fresh battery)
\r\n\r\nPin chưa phóng điện trong tối đa 60\r\nngày kể từ ngày chế tạo.
\r\n\r\n3.4
\r\n\r\nSụt áp thuần trở
Phần điện trở trong dẫn đến sụt áp\r\nngay sau khi đóng tải.
\r\n\r\n\r\n\r\nKích thước và dung sai của pin đối với\r\nđồng hồ đeo tay phải theo Hình 1, Bảng 1 và Bảng 2. Các kích thước của pin phải\r\nđược thử nghiệm theo 7.1.
\r\n\r\nKý hiệu được sử dụng để chỉ các kích\r\nthước như trong Hình 1 phù hợp với TCVN 12668-2:2020 (IEC 60086-2:2015), Điều\r\n4.
\r\n\r\n![](\"00919847_files/image001.jpg\")
CHÚ D
h
h2
h5
d1
d2
d4
CHÚ THÍCH: Việc đánh số này hài hòa với\r\nbộ tiêu chuẩn IEC 60086.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||||||||||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||||||||||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n ||||||||||||||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n CHÚ THÍCH: Các ô để trống trong bảng\r\n không nhất thiết phải được tiêu chuẩn hóa do dung sai chờm lên nhau. \r\na | \r\n ||||||||||||||||||
\r\n\r\n\r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n |||||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n CHÚ THÍCH: Các ô trống trong bảng\r\n không nhất thiết phải được tiêu chuẩn hóa do các dung sai chờm lên nhau. \r\na Xem Phụ lục A. \r\n | \r\n |||||||||
| \r\n Tiếp điểm âm (-): \r\n | \r\n \r\n tiếp điểm âm (kích thước | \r\n
| \r\n Tiếp điểm dương (+): \r\n | \r\n \r\n bề mặt hình trụ được nối với đầu nối\r\n dương. Tiếp điểm dương nên nằm phía cạnh bên của pin nhưng cũng cho phép nằm ở\r\n mặt đáy. \r\n | \r\n
Kích thước h5 phải\r\nnhư sau:
\r\n\r\nh5
h5
h5
Tiếp điểm âm nên là điểm cao nhất của\r\npin.
\r\n\r\nCác yêu cầu về không gian phải được chứa\r\ntrong góc 45° (xem Hình 2).
\r\n\r\nCác giá trị nhỏ nhất của l1,\r\nđối với các chiều cao h1/h2 khác nhau, được\r\ncho trong Bảng 3.
\r\n\r\n![](\"00919847_files/image002.jpg\")
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Lực F (N), như quy định trong Bảng 4,\r\nđặt trong 10 s thông qua viên bi thép đường kính 1 mm, tại tâm của từng diện\r\ntích tiếp xúc, không được gây ra biến dạng bất kỳ gây tổn hại cho hoạt động\r\nđúng của pin, tức là sau thử nghiệm này, pin phải đạt các thử nghiệm quy định\r\ntrong Điều 7.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
Các kích thước của pin phải phù hợp với\r\ncác kích thước quy định liên quan tại tất cả các lần kể cả phóng điện xuống đến\r\nđiện áp điểm cuối xác định.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Việc tăng chiều cao của\r\npin lên đến 0,25 mm có thể xảy ra, nếu phóng điện xuống thấp hơn điện áp này.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Việc giảm chiều cao của\r\npin có thể xảy ra trong các hệ thống B và C khi phóng điện vẫn tiếp diễn.
\r\n\r\n\r\n\r\nCác pin chưa phóng điện và, nếu yêu cầu,\r\npin đã được thử nghiệm theo 7.2.6 phải được kiểm tra như nêu trong 7.3. số lượng\r\nkhuyết tật cho phép phải theo thỏa thuận giữa nhà chế tạo và người mua.
\r\n\r\n\r\n\r\n4.8.1 Quy định chung
\r\n\r\nKý hiệu và cực tính phải được ghi nhãn\r\ntrên pin. Ghi nhãn pin không nên cản trở tiếp điểm điện. Tất cả các ghi nhãn có\r\nthể được cho trên bao bì thay vì trên pin:
\r\n\r\na) ký hiệu theo Phụ lục A hoặc theo ký\r\nhiệu thông dụng;
\r\n\r\nb) ngày hết hạn của thời gian sử dụng\r\ndự kiến hoặc năm và tháng hoặc tuần chế tạo;
\r\n\r\nNăm và tháng hoặc tuần chế tạo có thể\r\nđược mã hóa. Mã hóa được tạo thành từ con số cuối cùng của năm và bằng chữ số chỉ\r\nthị tháng. Tháng mười, tháng mười một và tháng mười hai cần được thể hiện bằng\r\nchữ cái O, Y và Z tương ứng.
\r\n\r\nVÍ DỤ
\r\n\r\n41: Tháng 1 năm 2014.
\r\n\r\n4Y: Tháng mười một năm 2014.
\r\n\r\nc) cực tính của đầu nối dương (+);
\r\n\r\nd) điện áp danh nghĩa;
\r\n\r\ne) tên hoặc nhãn thương mại của nhà\r\ncung cấp;
\r\n\r\nf) các lời khuyên cảnh báo;
\r\n\r\ng) phải có lời khuyên cảnh báo đối với\r\nkhả năng nuốt pin. Xem IEC 60086-4:2014 (7.2 a) và 9.2) và TCVN 12668-5:2020\r\n(IEC 60086-5:2016) (7.1 I) và 9.2) để có thông tin chi tiết.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Các ví dụ về ký hiệu thông\r\ndụng có thể tìm trong Phụ lục D của TCVN 12668-2:2020 (IEC 60086-2:2015)
\r\n\r\n4.8.2 Thải bỏ
\r\n\r\nGhi nhãn pin liên quan đến phương pháp\r\nthải bỏ phải theo các yêu cầu pháp lý của quốc gia.
\r\n\r\n\r\n\r\n5.1 Hệ thống điện hóa, điện áp danh\r\nnghĩa, điện áp điểm cuối và điện áp hở mạch
\r\n\r\nCác yêu cầu liên quan đến hệ thống điện\r\nhóa, điện áp danh nghĩa, điện áp điểm cuối và điện áp hở mạch được cho trong Bảng\r\n5.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Chất điện phân hữu cơ \r\n | \r\n \r\n Cacbon mono | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Chất điện phân hữu cơ \r\n | \r\n \r\n Mangan dioxit (Mn | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Hydroxit kim loại kiềm \r\n | \r\n \r\n Mangan dioxit (Mn | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Hydroxit kim loại kiềm \r\n | \r\n \r\n Bạc oxit (Ag | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
5.2 Điện áp mạch kín Ucc\r\n(CCV), điện trở trong và trở kháng
\r\n\r\nĐiện áp mạch kín và điện trở trong phải\r\nđược đo theo 7.2.
\r\n\r\nTrở kháng xoay chiều cần được đo bằng\r\nthiết bị đo LCR.
\r\n\r\nCác giá trị giới hạn phải theo thỏa\r\nthuận giữa nhà chế tạo và người mua.
\r\n\r\n5.3 Dung lượng
\r\n\r\nDung lượng phải theo thỏa thuận giữa\r\nnhà chế tạo và người mua trên cơ sở thử nghiệm phóng điện liên tục kéo dài khoảng\r\n30 ngày, theo 7.2.6.
\r\n\r\n5.4 Khả năng duy trì dung lượng
\r\n\r\nKhả năng duy trì dung lượng là tỷ số\r\ngiữa các dung lượng trong các điều kiện phóng điện cho trước được đo trên pin mới\r\nvà mẫu của cùng một lô được bảo quản trong 365 ngày ở (20 ± 2) °C và độ ẩm\r\ntương đối trong khoảng (55 ± 20) %.
\r\n\r\nTỷ lệ về khả năng duy trì dung lượng\r\nphải theo thỏa thuận giữa nhà chế tạo và người mua. Giá trị tối thiểu cần ít nhất\r\nlà 90 % trong 12 tháng. Phép đo dung lượng được thực hiện theo 7.2.6.
\r\n\r\nVới mục đích kiểm tra sự phù hợp với\r\ntiêu chuẩn này, việc chấp nhận có điều kiện có thể được cho sau khi hoàn thành\r\ncác thử nghiệm dung lượng ban đầu.
\r\n\r\n6 Lấy mẫu và đảm bảo\r\nchất lượng
\r\n\r\nViệc sử dụng kế hoạch lấy mẫu hoặc chỉ\r\nsố chất lượng sản phẩm cần theo thỏa thuận giữa nhà chế tạo và người mua.
\r\n\r\nKhi không quy định thỏa thuận này, xem\r\nTCVN 7790 (ISO 2859) và TCVN 9599 (ISO 21747) đối với lấy mẫu và đánh giá sự\r\nphù hợp.
\r\n\r\n\r\n\r\n7.1.1 Yêu cầu về hình dạng
\r\n\r\nHình dạng của tiếp điểm âm được kiểm\r\ntra ưu tiên sử dụng hình chiếu quang hoặc bằng dưỡng hở theo Hình 3.
\r\n\r\nPhương pháp đo phải theo thỏa thuận giữa\r\nnhà chế tạo và người mua.
\r\n\r\n![](\"00919847_files/image003.jpg\")
7.2.1 Điều kiện môi trường
\r\n\r\nNếu không có quy định khác, các pin mẫu\r\nphải được thử nghiệm ở nhiệt độ (20 ± 2) °C và độ ẩm tương đối trong khoảng 55\r\n+ 20 / - 40 %.
\r\n\r\nTrong quá trình sử dụng, các pin có thể\r\nphải chịu nhiệt độ thấp; do đó khuyến cáo thực hiện các thử nghiệm bổ sung ở (0\r\n± 2) °C và ở (-10 ± 2) °C.
\r\n\r\n7.2.2 Mạch điện tương đương - điện trở\r\ntrong hiệu quả - phương pháp DC
\r\n\r\nĐiện trở của linh kiện điện bất kỳ xác\r\nđịnh bằng cách tính tỷ số giữa điện áp rơi ∆U trên linh kiện này và phạm vi\r\ndòng điện ∆i chạy qua cũng linh kiện đó và gây ra điện áp rơi R = ∆U/∆i.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Một cách tương tự, điện trở\r\ntrong một chiều Ri của ngăn điện hóa bất kỳ được xác định bởi\r\nquan hệ sau:
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Điện trở trong một chiều được minh họa\r\nbằng lược đồ quá độ điện áp như cho trên Hình 4 dưới đây.
\r\n\r\n![](\"00919847_files/image005.jpg\")
Như có thể nhìn thấy từ lược đồ trên\r\nHình 4, điện áp rơi ∆U của hai linh kiện khác nhau về bản chất, như thể hiện\r\ntrong quan hệ sau:
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Thành phần đầu tiên ∆U
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Trong quan hệ này, R
7.2.3 Thiết bị
\r\n\r\nThiết bị được sử dụng cho các phép đo\r\nđiện áp phải có quy định kỹ thuật sau:
\r\n\r\n| \r\n - độ chính xác: \r\n | \r\n \r\n ≤ 0,25 %; \r\n | \r\n
| \r\n - độ phân tán: \r\n | \r\n \r\n ≤ 50 % chữ số cuối cùng; \r\n | \r\n
| \r\n - điện trở trong: \r\n | \r\n \r\n ≥ 1 MΩ; \r\n | \r\n
| \r\n - thời gian đo: \r\n | \r\n \r\n trong các thử nghiệm đề xuất trong\r\n điều này, điều quan trọng là phải đảm bảo rằng phép đo được\r\n thực hiện trong giai đoạn phẳng của quá độ điện áp (xem Hình 5). Mặt khác, có\r\n thể xảy ra sai số phép đo do điện dung (điện trở trong thấp). \r\n | \r\n
Thời gian ∆t’ cần thiết để đo phải ngắn\r\nkhi so sánh với ∆t, và thiết bị đo tương thích với các tiêu chí này.
\r\n\r\n![](\"00919847_files/image006.jpg\")
CHÚ DẪN:
\r\n\r\n1 điện áp hở mạch Uoc\r\n(OCV)
\r\n\r\n2 ảnh hưởng của dung kháng
\r\n\r\n3 điện áp mạch kín Ucc\r\n(CCV)
\r\n\r\n4 ∆t’ (phép đo Ucc)
\r\n\r\n7.2.4 Phép đo điện áp hở mạch Uoc\r\n(OCV) và điện áp mạch kín Ucc (CCV)
\r\n\r\nXem Hình 6:
\r\n\r\nPhép đo đầu tiên Uoc:\r\nThiết bị đóng cắt được để mở trong khi phép đo này đang được tiến hành.
\r\n\r\nPhép đo tiếp theo Ucc:\r\nPin được thử nghiệm phải được nối với tải Rm. Thiết bị đóng cắt\r\nphải được giữ đóng trong khoảng thời gian ∆t theo Bảng 6.
\r\n\r\n![](\"00919847_files/image007.jpg\")
CHÚ DẪN
\r\n\r\n1 đọc Ucc/Uoc
\r\n\r\n2 điện trở Rm của\r\nphép đo
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n R a b c d | \r\n ||||
7.2.5 Tính điện trở trong Ri
\r\n\r\nĐiện trở trong có thể được xác định bằng\r\nphép tính sau:
\r\n\r\n![](\"00919847_files/image008.jpg\")
CHÚ THÍCH: Quan hệ Ucc
7.2.6
7.2.6.1
Có hai phương pháp để đo dung lượng:
\r\n\r\n- phương pháp khuyến cáo là phương\r\npháp A, sẽ thể hiện tốt hơn các yêu cầu của đồng hồ đeo tay:
\r\n\r\n- phương pháp B là phương pháp phổ biến\r\nhơn và quy định sẵn trong IEC 60825-1 và IEC 60825-2. Khi trình bày dữ liệu\r\ndung lượng, nhà chế tạo phải nêu phương pháp thử nghiệm đã được sử dụng.
\r\n\r\n7.2.6.2 Phương pháp A
\r\n\r\na) Nguyên lý mạch điện (xem Hình 7)
\r\n\r\n![](\"00919847_files/image009.jpg\")
CHÚ D
1 đọc Ucc/Uoc
\r\n\r\n2 điện trở Rm của\r\nphép đo
\r\n\r\n3 điện trở Rd của\r\nphóng điện liên tục
\r\n\r\nb) Quy trình
\r\n\r\nKhoảng thời gian của thử nghiệm phóng\r\nđiện ở điện trở Rd xấp xỉ là 30 ngày.
\r\n\r\nGiá trị của điện trở Rd:\r\ngiá trị của tải thuần trở (quy định trong Bảng 7 và Bảng 8) phải bao gồm tất cả\r\ncác phần của mạch điện bên ngoài và phải có độ chính xác trong phạm vi ± 0,5 %.
\r\n\r\nc) Xác định dung lượng
\r\n\r\nCác phép đo điện áp hở mạch U’oc\r\nvà điện áp mạch kín Ucc được tiến hành tối thiểu một lần một\r\nngày trên pin được nối cố định với Rd, cho đến khi lần đầu\r\ntiên Ucc giảm xuống thấp hơn điện áp điểm cuối xác định trong\r\nBảng 5.
\r\n\r\n1) Phép đo đầu tiên U’oc:\r\nđiện trở Rd cao hơn nhiều điện trở Rm, U’oc\r\nxấp xỉ Uoc.
\r\n\r\nThiết bị đóng cắt được để mở trong khi\r\nthực hiện phép đo.
\r\n\r\n2) Phép đo tiếp theo Ucc:\r\npin cần thử nghiệm được nối với Rm. Thiết bị đóng cắt được giữ\r\nđóng trong thời gian ∆t theo Bảng 7.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
3) Tính dung lượng C: dung lượng của\r\npin tính được bằng cách cộng các dung lượng thành phần Cp, được\r\ntính sau từng phép đo với công thức sau:
\r\n\r\n![](\"00919847_files/image010.jpg\")
trong đó t
4) Gần đến cuối thời gian phóng điện,\r\nkhuyến cáo rằng nên tiến hành một vài phép đo trong một ngày để đạt được đủ độ\r\nchính xác.
\r\n\r\n7.2.6.3 Phương pháp B
\r\n\r\na) Nguyên lý mạch điện (xem Hình 8)
\r\n\r\n![](\"00919847_files/image011.jpg\")
CHỦ DẪN
\r\n\r\n1 đọc Ucc
\r\n\r\n2 điện trở Rd của\r\nphóng điện liên tục
\r\n\r\nb) Xem quy trình trong 7.2.6.2 b).
\r\n\r\nc) Xác định dung lượng: Khi điện áp có\r\ntải của pin trong thử nghiệm điện áp rơi lần đầu tiên thấp hơn điểm cuối quy định\r\nnhư quy định trong Bảng 5, thời gian t được tính và xác định là tuổi thọ vận\r\nhành.
\r\n\r\nDung lượng được tính bằng công thức\r\nsau:
\r\n\r\n![](\"00919847_files/image012.jpg\")
trong đó
\r\n\r\nC là dung lượng;
\r\n\r\nUcc
t
7.2.7 Tính điện trở trong Ri\r\ntrong quá trình phóng điện với phương pháp A (tùy chọn)
\r\n\r\nSau mỗi phép đo U’oc\r\nvà Ucc được tiến hành theo các quy trình mô tả trong 7.2.6,\r\ncó thể tính điện trở trong Ri của pin bằng cách sử dụng công\r\nthức sau:
\r\n\r\n![](\"00919847_files/image013.jpg\")
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n CHÚ THÍCH: Các giá trị để trống đang\r\n được xem xét. \r\n | \r\n |||||
7.3.1 Ổn định trước và xem xét bằng mắt\r\nban đầu
\r\n\r\nTrước khi tiến hành các thử nghiệm quy\r\nđịnh trong 7.3.2 và 7.3.3, các pin phải được kiểm tra bằng mắt theo các yêu cầu\r\nnêu trong Điều 8.
\r\n\r\nĐối với các thử nghiệm trong 7.3.2.1\r\nvà 7.3.2.2, các pin phải được bảo quản trước ở nhiệt độ quy định (40 °C và 45 °C\r\ntương ứng) trong 2 h. Pin phải được lấy khỏi tủ (hoặc lò) ổn định trước (hoặc bảo\r\nquản trước) đưa vào tủ thử nhiệt độ cao và độ ẩm cao trong vài phút để tránh\r\nlàm mát pin và rủi ro ngưng tụ ở độ ẩm nâng cao.
\r\n\r\n7.3.2 Thử nghiệm nhiệt độ cao và độ ẩm\r\ncao
\r\n\r\n7.3.2.1 Thử nghiệm khuyến cáo
\r\n\r\nPin phải được bảo quản trong các điều\r\nkiện quy định trong Bảng 9.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Thời gian thử nghiệm 30 ngày có thể\r\n sử dụng trong thử nghiệm đảm bảo chất lượng thường xuyên có gia tốc trong khi\r\n đó thời gian thử nghiệm 90 ngày áp dụng cho thử nghiệm đánh giá chất lượng của\r\n pin mới. \r\n | \r\n ||
7.3.2.2 Thử nghiệm tùy chọn
\r\n\r\nSau khi có thỏa thuận giữa nhà chế tạo\r\nvà người mua, cho phép chọn các điều kiện thử nghiệm sau (xem Bảng 10).
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Thời gian thử nghiệm 20 ngày có thể\r\n sử dụng trong thử nghiệm đảm bảo chất lượng thường xuyên có gia tốc, trong\r\n khi đó thời gian thử nghiệm 60 ngày áp dụng cho thử nghiệm đánh giá chất lượng\r\n của pin mới. \r\n | \r\n ||
7.3.3 Thử nghiệm bằng các chu kỳ nhiệt\r\nđộ
\r\n\r\nPin phải cho chịu 150 chu kỳ nhiệt độ\r\ntheo lịch biểu trong Hình 9:
\r\n\r\n![](\"00919847_files/image014.jpg\")
8 Kiểm tra bằng mắt\r\nvà điều kiện chấp nhận
\r\n\r\n8.1 Ổn định trước
\r\n\r\nTrước khi thực hiện kiểm tra bằng mắt\r\nban đầu hoặc sau các thử nghiệm quy định trong Điều 7, các pin phải được bảo quản\r\ntrong tối thiểu 24 h ở nhiệt độ phòng và ở độ ẩm tương đối trong khoảng (55 ±\r\n20) %.
\r\n\r\nRò rỉ cần được quan sát sau quá trình\r\ntinh thể hóa chất điện phân. Thời gian bảo quản 24 h có thể kéo dài nếu cần. Việc\r\nkiểm tra này có thể áp dụng cho các pin mới hoặc đã qua sử dụng, hoặc cho các\r\npin được giao nộp cho các thử nghiệm khác nhau.
\r\n\r\n8.2 Độ phóng đại
\r\n\r\nViệc xem xét bằng mắt phải được thực\r\nhiện với độ phóng đại x 15.
\r\n\r\n8.3 Chiếu sáng
\r\n\r\nViệc xem xét bằng mắt phải được thực\r\nhiện dưới ánh sáng trắng khuếch tán cường độ 900 Ix đến 1 100 Ix được đo tại bề\r\nmặt của pin cần kiểm tra.
\r\n\r\n8.4 Mức rò rỉ và phân loại
\r\n\r\nViệc xem xét bằng mắt phải được tiến\r\nhành dưới ánh sáng trắng khuếch tán cường độ 900 Ix đến 1 100 Ix được đo tại bề\r\nmặt của pin cần kiểm tra. (Xem Bảng 11).
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Một chút hơi mặn được phát hiện gần\r\n gioăng ảnh hưởng ít hơn 10 % chu vi của gioăng, được phát hiện khi quan sát với\r\n độ khuếch đại x15. Rò rỉ không phát hiện được bằng mắt thường. \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Vết hơi mặn gần gioăng có thể được\r\n phát hiện bằng mắt thường. Với độ phóng đại x15, có thể nhận thấy rằng các\r\n hơi mặn này ảnh hưởng đến nhiều hơn 10 % chu vi của gioăng. \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Hơi mặn lan ra cả hai phía của\r\n gioăng có thể được phát hiện bằng mắt thường nhưng không lan đến bề mặt của\r\n tiếp điểm âm \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Rò rỉ lan thành các đám mây ở cả hai\r\n phía của gioăng, lan đến mặt phẳng của tiếp điểm âm nhưng chưa lan đến phần\r\n trung tâm của tiếp điểm âm. \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Rò rỉ lan thành các đám mây, lan đến\r\n phần trung tâm của tiếp điểm âm \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Việc tích tụ chất lỏng kết tinh do\r\n chất điện phân đùn lên một phần đám mây lan ra, che phủ toàn bộ bề mặt của tiếp\r\n điểm âm \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Việc tích tụ chất lỏng kết tinh do\r\n chất điện phân đùn lên trên toàn bộ đám mây lan ra, che phủ toàn bộ bề mặt của\r\n tiếp điểm âm \r\n | \r\n |
8.5 Điều kiện chấp nhận
\r\n\r\nMức chấp nhận, cũng như tỷ lệ các mảnh\r\nkhuyết tật, phải theo thỏa thuận của nhà chế tạo và người mua.
\r\n\r\nPin mới, với mức rò rỉ vượt quá S1,\r\nkhông được giao nộp để kiểm tra chất lượng. Tiêu chí chấp nhận có thể ít khắc\r\nnghiệt hơn đối với các pin được thử nghiệm theo 7.3.2. Nếu cần, có thể thiết lập\r\ncác ảnh tham chiếu.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Pin đồng hồ đeo tay được chế tạo với mục\r\nđích thể hiện sự phù hợp với tiêu chuẩn này cần được ký hiệu bởi hệ thống các\r\nchữ cái và chữ số được mã hóa như thể hiện dưới đây. Tuy nhiên, chữ cái W được\r\nsử dụng đề chỉ thị sự phù hợp với tiêu chuẩn này.
\r\n\r\n\r\n\r\n
[1] TCVN 7699-2-78:2007 (IEC\r\n60068-2-78:2001), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-78: Các thử nghiệm - Thử\r\nnghiệm Cab: Nóng ẩm, không đổi
\r\n\r\n[2] TCVN ISO 8601:2004, Phần tử dữ\r\nliệu và dạng thức trao đổi. Trao đổi thông tin. Biểu diễn thời gian
\r\n\r\n[3] TCVN 7790 (ISO 2859), Quy trình\r\nlấy mẫu để kiểm tra định tính
\r\n\r\n[4] TCVN 9599 (ISO 21747), Phương\r\npháp thống kê. Thống kê hiệu năng và năng lực quá trình đối với các đặc trưng\r\nchất lượng đo được
\r\n\r\n\r\n\r\n
Lời nói đầu
\r\n\r\n1 Phạm vi áp dụng
\r\n\r\n2 Tài liệu viện dẫn
\r\n\r\n3 Thuật ngữ và định nghĩa
\r\n\r\n4 Yêu cầu vật lý
\r\n\r\n5 Yêu cầu về điện
\r\n\r\n6 Lấy mẫu và đảm bảo chất lượng
\r\n\r\n7 Phương pháp thử nghiệm
\r\n\r\n8 Kiểm tra bằng mắt và điều kiện chấp\r\nnhận
\r\n\r\nPhụ lục A (quy định) - Ký hiệu
\r\n\r\nThư mục tài liệu tham khảo
\r\n\r\n\r\n\r\n
\r\n\r\n
File gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 12668-3:2020 (IEC 60086-3:2016) về Pin sơ cấp – Phần 3: Pin dùng cho đồng hồ đeo tay đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 12668-3:2020 (IEC 60086-3:2016) về Pin sơ cấp – Phần 3: Pin dùng cho đồng hồ đeo tay
Tóm tắt
| Cơ quan ban hành | Đã xác định |
| Số hiệu | TCVN12668-3:2020 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 2020-01-01 |
| Ngày hiệu lực | |
| Lĩnh vực | Điện - điện tử |
| Tình trạng | Còn hiệu lực |