Specification\r\nfor radio disturbances and immunity measuring apparatus and methods – Part\r\n2-3: Methods of measurement of disturbances and immunity – Radiated disturbance\r\nmeasurements
\r\n\r\nLời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 6989-2-3:2010 hoàn toàn tương\r\nđương với CISPR 16-2-3:2010;
\r\n\r\nTCVN 6989-2-3:2010 do Ban kỹ thuật\r\ntiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC/E9 Tương thích điện từ biên soạn, Tổng cục\r\nTiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.
\r\n\r\nLời giới thiệu
\r\n\r\nBộ tiêu chuẩn TCVN 6989 (CISPR 16)\r\nhiện đã có các phần sau:
\r\n\r\nTCVN 6989-1-1:2008, Thiết bị đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Thiết bị đo
\r\n\r\nTCVN 6989-1-2:2010, Thiết bị đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Thiết bị đo phụ trợ – Nhiễu dẫn
\r\n\r\nTCVN 6989-1-3:2008, Thiết bị đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Thiết bị đo phụ trợ – Công suất nhiễu
\r\n\r\nTCVN 6989-1-4:2010, Thiết bị đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Anten và vị trí thử nghiệm dùng để đo nhiễu\r\nbức xạ
\r\n\r\nTCVN 6989-1-5:2008, Thiết bị đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Vị trí thử nghiệm hiệu chuẩn anten trong dảI\r\ntần từ 30 MHz đến 1 000 MHz
\r\n\r\nTCVN 6989-2-1:2010, Phương pháp đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm – Đo nhiễu dẫn
\r\n\r\nTCVN 6989-2-2:2008, Phương pháp đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm – Đo công suất nhiễu
\r\n\r\nTCVN 6989-2-3:2010, Phương pháp đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm – Đo nhiễu bức xạ
\r\n\r\nTCVN 6989-2-4:2008, Phương pháp đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm – Đo miễn nhiễm
\r\n\r\nNgoài ra, bộ tiêu chuẩn quốc tế\r\nCISPR 16 còn có các tiêu chuẩn sau:
\r\n\r\nCISPR 16-3, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 3: CISPR\r\ntechnical reports
\r\n\r\nCISPR 16-4-1, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 4-1:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling – Uncertainties in standardized\r\nEMC tests
\r\n\r\nCISPR 16-4-2, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 4-2:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling – Uncertainties in EMC\r\nmeasurements
\r\n\r\nCISPR 16-4-3, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 4-3:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling – Statistics considerations in\r\nthe determination of EMC compliance of mass-produced products
\r\n\r\nCISPR 16-4-4, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 4-4:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling – Statistics of compliants and a\r\nmodel for the calculation of limits
\r\n\r\n\r\n\r\n
YÊU\r\nCẦU KỸ THUẬT ĐỐI VỚI THIẾT BỊ ĐO VÀ PHƯƠNG PHÁP ĐO NHIỄU VÀ MIỄN NHIỄM TẦN SỐ\r\nRAĐIÔ – PHẦN 2-3: PHƯƠNG PHÁP ĐO NHIỄU VÀ MIỄN NHIỄM – ĐO NHIỄU BỨC XẠ
\r\n\r\nSpecification\r\nfor radio disturbances and immunity measuring apparatus and methods – Part\r\n2-3: Methods of measurement of disturbances and immunity – Radiated disturbance\r\nmeasurements
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này qui định phương pháp\r\nđo hiện tượng nhiễu bức xạ trong dải tần từ 9 kHz đến 18 GHz. Các khía cạnh về\r\nđộ không đảm bảo đo được qui định trong CISPR 16-4-1 và CISPR 16-4-2.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Theo IEC Guide 107, tiêu\r\nchuẩn này là tiêu chuẩn EMC cơ bản để các ban kỹ thuật sản phẩm của IEC sử\r\ndụng. Như được công bố trong Guide 107, các ban kỹ thuật sản phẩm có trách\r\nnhiệm xác định khả năng ứng dụng của tiêu chuẩn EMC. Ban kỹ thuật CISPR và các\r\ntiểu ban kỹ thuật của CISPR đã có chương trình phối hợp với các ban kỹ thuật\r\nsản phẩm trong việc đánh giá giá trị của các thử nghiệm EMC riêng rẽ đối với\r\ncác sản phẩm cụ thể.
\r\n\r\n\r\n\r\nCác tài liệu viện dẫn dưới đây là\r\ncần thiết để áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu có ghi năm công bố,\r\nchỉ áp dụng các bản được nêu. Đối với các tài liệu không ghi năm công bố, áp\r\ndụng bản mới nhất (kể cả các sửa đổi).
\r\n\r\nTCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1), Yêu\r\ncầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số\r\nrađiô – Phần 1-1: Thiết bị đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Thiết bị đo
\r\n\r\nTCVN 6989-1-2:2010 (CISPR\r\n16-1-2:2006), Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và\r\nmiễn nhiễm tần số rađiô – Phần 1-2: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm – Thiết\r\nbị phụ trợ – Nhiễu dẫn
\r\n\r\nTCVN 6989-1-4:2010 (CISPR\r\n16-1-4:2010), Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và\r\nmiễn nhiễm tần số rađiô – Phần 1-4: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm – Thiết\r\nbị phụ trợ – Nhiễu bức xạ
\r\n\r\nTCVN 6989-2-1:2010 (CISPR\r\n16-2-1:2008), Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và\r\nmiễn nhiễm tần số rađiô – Phần 2-1: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm – Đo\r\nnhiễu dẫn
\r\n\r\nTCVN 7492-1 (CISPR 14-1), Tương\r\nthích điện từ – Yêu cầu đối với thiết bị gia dụng, dụng cụ điện và thiết bị\r\ntương tự – Phần 1: Phát xạ
\r\n\r\nTCVN 8241-4-3:2009 (IEC\r\n61000-4-3:2006), Tương thích điện từ (EMC) – Phần 4-3: Phương pháp đo và thử –\r\nMiễn nhiễm đối với nhiễu phát xạ tần số vô tuyến
\r\n\r\nCISPR 16-4-1, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 4-1:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling – Uncertainty in standardized EMC\r\ntests (Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn\r\nnhiễm tần số rađiô – Phần 4-1: Độ không đảm bảo đo, phép thống kê và lập mô\r\nhình giới hạn – Độ không đảm bảo đo trong thử nghiệm EMC tiêu chuẩn)
\r\n\r\nCISPR 16-4-2, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 4-2:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling – Uncertainty in EMC measurements\r\n(Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần\r\nsố rađiô – Phần 4-2: Độ không đảm bảo đo, phép thống kê và lập mô hình giới hạn\r\n– Độ không đảm bảo đo trong các phép đo EMC)
\r\n\r\nCISPR 16-4-5, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 4-5:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling – Conditions for the use of\r\nalternative test methods (Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp\r\nđo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Phần 4-5: Độ không đảm bảo đo, phép thống\r\nkê và lập mô hình giới hạn – Điều kiện sử dụng các phương pháp thử nghiệm thay\r\nthế)
\r\n\r\nIEC 60050-161:1990, amendment 1\r\n(1997), amendment 2 (1998), International Electrotechnical Vocabulary (IEV) Chapter\r\n161: Electromagnetic compatibility (Từ vựng kỹ thuật điện quốc tế (IEV) -\r\nChương 161: Tương thích điện từ)
\r\n\r\nIEC 61000-4-20, Electromagnetic\r\ncompatibility (EMC) – Part 4-20: Testing and measurement techniques – Emission\r\nand immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides (Tương\r\nthích điện từ (EMC) – Phần 4-20: Kỹ thuật thử nghiệm và đo – Thử nghiệm phát xạ\r\nvà miễn nhiễm trong ống dẫn sóng điện từ ngang (TEM))
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này áp dụng các thuật\r\nngữ và định nghĩa nêu trong IEC 60050-161 cùng với các thuật ngữ và định nghĩa\r\ndưới đây.
\r\n\r\n3.1. OATS/SAC có lót chất hấp\r\nthụ (absorber-lined OATS/SAC)
\r\n\r\nOATS hoặc SAC có một phần mặt phẳng\r\nnền được phủ vật liệu hấp thụ năng lượng RF.
\r\n\r\n3.2. Thiết bị phụ trợ\r\n(ancillary equipment)
\r\n\r\nThiết bị chuyển đổi (ví dụ: đầu dò\r\ndòng điện và điện áp, mạng giả) được nối đến máy thu đo hoặc bộ tạo tín hiệu\r\n(thử nghiệm) và được sử dụng trong việc truyền tín hiệu nhiễu giữa EUT đến\r\nthiết bị đo hoặc thiết bị thử nghiệm.
\r\n\r\n3.3. Búp sóng anten (antenna\r\nbeam)
\r\n\r\nBúp chính của giản đồ anten (giản\r\nđồ độ lợi) của anten thu (thường theo chiều có độ nhạy lớn nhất hoặc hệ số\r\nanten thấp nhất) hướng về phía EUT.
\r\n\r\n3.4. Độ rộng búp sóng anten\r\n(antenna beamwidth)
\r\n\r\nGóc giữa các điểm nửa công suất (3\r\ndB) của búp chính của búp sóng anten, khi qui về công suất lớn nhất của búp\r\nchính. Độ rộng này có thể được thể hiện trong mặt phẳng H hoặc mặt phẳng E của\r\nanten.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Độ rộng búp sóng anten\r\nđược thể hiện bằng độ.
\r\n\r\n3.5. Thiết bị kết hợp\r\n(associated equipment)
\r\n\r\nAE
\r\n\r\nThiết bị, không phải là một phần\r\ncủa hệ thống cần thử nghiệm, nhưng cần thiết để hỗ trợ vận hành EUT.
\r\n\r\n3.6. Thiết bị phụ (auxiliary\r\nequipment)
\r\n\r\nAuxEq
\r\n\r\nThiết bị ngoại vi là một phần của\r\nhệ thống cần thử nghiệm.
\r\n\r\n3.7. Tiêu chuẩn cơ bản\r\n(basic standard)
\r\n\r\nTiêu chuẩn bao trùm phạm vi rộng\r\nhoặc chứa các điều khoản chung cho một lĩnh vực cụ thể.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Tiêu chuẩn cơ bản có thể\r\ncó chức năng như một tiêu chuẩn để ứng dụng trực tiếp hoặc làm cơ sở cho tiêu\r\nchuẩn khác.
\r\n\r\n[ISO/IEC Guide 2, định nghĩa 5.1]
\r\n\r\n3.8. Cáp đồng trục (coaxial\r\ncable)
\r\n\r\nCáp gồm một hoặc nhiều dây đồng\r\ntrục, chủ yếu dùng cho mối nối phối hợp của thiết bị kết hợp với thiết bị đo\r\nhoặc máy phát tín hiệu (máy phát thử nghiệm) để tạo ra trở kháng đặc tính qui định\r\nvà trở kháng đường truyền cáp lớn nhất cho phép qui định.
\r\n\r\n3.9. Thiết bị hấp thụ phương\r\nthức chung (common mode absorption device)
\r\n\r\nCMAD
\r\n\r\nThiết bị, có thể được đặt vào phần\r\ncáp bên ngoài thể tích thử nghiệm trong phép đo phát bức xạ để giảm độ không\r\nđảm bảo đo phù hợp.
\r\n\r\n[TCVN 6989-1-4 (CISPR 16-1-4),\r\n3.1.4]
\r\n\r\n3.10. Đánh giá sự phù hợp\r\n(conformity assessment)
\r\n\r\nChứng minh rằng các yêu cầu qui\r\nđịnh liên quan đến sản phẩm, quá trình, hệ thống, con người hoặc tổ chức được\r\nthỏa mãn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Phạm vi của đánh giá sự\r\nphù hợp bao gồm các hoạt động được xác định trong ISO/IEC 17000:2004, như thử\r\nnghiệm, kiểm tra giám sát và chứng nhận cũng như công nhận các tổ chức đánh giá\r\nsự phù hợp.
\r\n\r\n[ISO/IEC 17000:2004, 2.1, có sửa\r\nđổi]
\r\n\r\n3.11. Nhiễu liên tục\r\n(continuous disturbance)
\r\n\r\nNhiễu RF kéo dài trong khoảng thời\r\ngian lớn hơn 200 ms tại đầu ra IF của máy thu đo, gây ra sai lệch trên đồng hồ\r\nđo của máy thu đo theo phương thức tách sóng tựa đỉnh, nhiễu liên tục không suy\r\ngiảm tức thời.
\r\n\r\n[IEC 60050-161:1990, 161-02-11, có\r\nsửa đổi]
\r\n\r\n3.12. Phát xạ (điện từ)\r\n((electromagnetic) emission)
\r\n\r\nHiện tượng mà nhờ đó năng lượng\r\nđiện từ được phát ra từ nguồn.
\r\n\r\n[IEC 60050-161:1990, 161-01-08]
\r\n\r\n3.13. Giới hạn phát xạ (từ\r\nnguồn gây nhiễu) (emission limit (from a disturbing source))
\r\n\r\nMức phát xạ lớn nhất qui định của\r\nnguồn nhiễu điện từ.
\r\n\r\n[IEC 60050-161:1990, 161-03-12]
\r\n\r\n3.14. Thiết bị cần thử nghiệm\r\n(equipment-under-test)
\r\n\r\nEUT
\r\n\r\nTrang bị (dụng cụ, thiết bị và hệ\r\nthống) chịu các thử nghiệm sự phù hợp (đánh giá sự phù hợp) về EMC (phát xạ).
\r\n\r\n3.15. Phòng hấp thụ hoàn toàn\r\n(fully anechoic room)
\r\n\r\nFAR
\r\n\r\nPhòng hình hộp có chống nhiễu, các\r\nbề mặt bên trong của phòng được lót vật liệu hấp thụ năng lượng tần số rađiô\r\n(tức là chất hấp thụ RF) để hấp thụ năng lượng điện từ trong dải tần cần xét.
\r\n\r\n3.16. Hệ thống anten vòng\r\n(loop-antenna system)
\r\n\r\nLAS
\r\n\r\nHệ thống anten gồm ba anten vòng\r\nhướng vuông góc với nhau được sử dụng để đo ba mômen lưỡng cực từ vuông góc với\r\nnhau của EUT đặt ở tâm của ba vòng.
\r\n\r\n3.17. Thời gian đo, quét và rà
\r\n\r\n3.17.1. Thời gian đo\r\n(measurement time)
\r\n\r\nTm
\r\n\r\nThời gian hiệu quả, nhất quán đối\r\nvới kết quả đo tại một tần số (đôi khi còn gọi là thời gian dừng)
\r\n\r\n- đối với bộ tách sóng đỉnh, thời\r\ngian hiệu quả để tách giá trị cực đại của đường bao tín hiệu
\r\n\r\n- đối với bộ tách sóng tựa đỉnh,\r\nthời gian hiệu quả để đo giá trị cực đại của đường bao trọng số
\r\n\r\n- đối với bộ tách sóng trung bình,\r\nthời gian hiệu quả để lấy giá trị trung bình của đường bao tín hiệu
\r\n\r\n- đối với bộ tách sóng hiệu dụng,\r\nthời gian hiệu quả để xác định giá trị hiệu dụng của đường bao tín hiệu.
\r\n\r\n3.17.2. Quét (scan)
\r\n\r\nSự biến đổi tần số liên tục hoặc\r\ntheo bước trong khoảng tần số cho trước.
\r\n\r\n3.17.3. Khoảng tần số (span)
\r\n\r\nD
Hiệu giữa tần số kết thúc và tần số\r\nbắt đầu của quá trình rà hoặc quét.
\r\n\r\n3.17.4. Rà (sweep)
\r\n\r\nSự biến đổi tần số liên tục trong\r\nkhoảng tần số cho trước.
\r\n\r\n3.17.5. Tốc độ rà hoặc quét\r\n(sweep or scan rate)
\r\n\r\nKhoảng tần số chia cho thời gian rà\r\nhoặc thời gian quét.
\r\n\r\n3.17.6. Thời gian rà hoặc quét\r\n(sweep or scan time)
\r\n\r\nTs
\r\n\r\nThời gian tính từ tần số bắt đầu\r\nđến tần số kết thúc của quá trình rà hoặc quét.
\r\n\r\n3.17.7. Thời gian quan sát\r\n(observation time)
\r\n\r\nTo
\r\n\r\nTổng các thời gian đo Tm\r\ntrên một tần số nhất định trong trường hợp rà nhiều lần. Nếu n là số lần rà hoặc\r\nquét thì To = n x Tm.
\r\n\r\n3.17.8. Thời gian quan sát tổng\r\n(total observation time)
\r\n\r\nTtot
\r\n\r\nThời gian hiệu quả để quan sát phổ (rà\r\nmột lần hoặc rà nhiều lần); nếu c là số kênh trong một lần quét hoặc rà thì Ttot\r\n= c x n x Tm.
\r\n\r\n3.18. Máy thu đo (measuring\r\nreceiver)
\r\n\r\nDụng cụ đo như vônmét điều chỉnh\r\nđược, máy thu EMI, máy phân tích phổ hoặc dụng cụ đo dựa vào FFT, có hoặc không\r\nchọn trước, phù hợp hợp với các phần liên quan của TCVN 6989-1-1 (CISPR\r\n16-1-1).
\r\n\r\n3.19. Số lần rà trong một đơn vị\r\nthời gian (ví dụ, trong một giây) (number of sweeps per time (e.g. per\r\nsecond))
\r\n\r\nns
\r\n\r\nNghịch đảo của tổng thời gian rà và\r\nthời gian trở về, 1/(thời gian rà + thời gian trở về).
\r\n\r\n3.20. Vị trí thử nghiệm thoáng\r\n(open-area test site)
\r\n\r\nOATS
\r\n\r\nPhương tiện được sử dụng để đo\r\ntrường điện từ, mục đích của nó là để mô phỏng môi trường không gian nửa tự do\r\ntrên dải tần qui định dùng để thử nghiệm phát bức xạ của sản phẩm. Một OATS\r\nđiển hình được đặt ngoài trời trong khu vực thoáng, và có mặt phẳng nền dẫn\r\nđiện.
\r\n\r\n3.21. Tiêu chuẩn sản phẩm\r\n(product publication)
\r\n\r\nTiêu chuẩn qui định các yêu cầu cần\r\nđáp ứng của sản phẩm hoặc nhóm sản phẩm để thiết lập sự thích hợp cho mục đích\r\ncủa nó.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Ngoài các yêu cầu về\r\nsự thích hợp cho mục đích, tiêu chuẩn sản phẩm có thể bao gồm, một cách trực\r\ntiếp hoặc bằng cách tham khảo, các khía cạnh như thuật ngữ, lấy mẫu, thử\r\nnghiệm, bao gói và dán nhãn và đôi khi, các yêu cầu về quá trình.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Tiêu chuẩn sản phẩm có\r\nthể toàn diện hoặc không, tùy thuộc vào việc nó qui định tất cả hoặc chỉ một\r\nphần các yêu cầu cần thiết. Về khía cạnh này, có thể phân biệt các tiêu chuẩn\r\nsản phẩm là tiêu chuẩn về kích thước, tiêu chuẩn về vật liệu và tiêu chuẩn\r\nchuyển giao kỹ thuật.
\r\n\r\n[ISO/IEC Guide 2, định nghĩa 5.4]
\r\n\r\n3.22. Phòng bán hấp thụ\r\n(semi-anechoic chamber)
\r\n\r\nSAC
\r\n\r\nPhòng hình hộp có chống nhiễu,\r\ntrong đó năm trong số sáu bề mặt bên trong được lót vật liệu hấp thụ năng lượng\r\ntần số rađiô (tức là chất hấp thụ RF), hấp thụ năng lượng điện từ trong dải tần\r\ncần xét còn mặt đáy nằm ngang là mặt phẳng nền dẫn để sử dụng với bố trí thử\r\nnghiệm OATS.
\r\n\r\n3.23. Cấu hình thử nghiệm\r\n(test configuration)
\r\n\r\nSự kết hợp để tạo ra bố trí đo theo\r\nqui định để đo mức phát xạ của EUT.
\r\n\r\n3.24. Trọng số (ví dụ, của nhiễu\r\nxung) (weighting (of e.g.impulsive disturbance))
\r\n\r\nSự chuyển đổi (chủ yếu là suy giảm)\r\nphụ thuộc vào tần số lặp xung (PRF) của mức điện áp xung tách sóng đỉnh thành\r\nchỉ số tương ứng với ảnh hưởng nhiễu khi thu tần số rađiô.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Đối với máy thu\r\nanalog, mức gây khó chịu về tâm lý do nhiễu là đại lượng chủ quan (nghe thấy\r\nhoặc nhìn thấy) thường không phải là số lượng nhất định những hiểu nhầm trong\r\nmột bài nói.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Đối với máy thu\r\ndigital, ảnh hưởng nhiễu là đại lượng khách quan có thể được xác định bằng tỷ\r\nsố lỗi bit tới hạn (BER) hoặc xác suất lỗi bit (BEP) mà việc hiệu chỉnh lỗi\r\nhoàn hảo có thể vẫn xảy ra hoặc bằng cách khác, sử dụng tham số khách quan và\r\ncó khả năng tái lập.
\r\n\r\n3.24.1. Đo nhiễu có trọng số\r\n(weighted disturbance measurement)
\r\n\r\nĐo nhiễu sử dụng bộ tách sóng có\r\ntrọng số.
\r\n\r\n3.24.2. Đặc tính trọng số\r\n(weighting characteristic)
\r\n\r\nMức điện áp đỉnh là hàm số của tần\r\nsố lặp xung đối với ảnh hưởng không đổi lên hệ thống vô tuyến điện cụ thể, tức\r\nlà nhiễu được lấy trọng số bằng bản thân hệ thống vô tuyến điện đó.
\r\n\r\n3.24.3. Bộ tách sóng trọng số\r\n(weighting detector)
\r\n\r\nBộ tách sóng có hàm trọng số theo\r\nthỏa thuận.
\r\n\r\n3.24.4. Hệ số trọng số\r\n(weighting factor)
\r\n\r\nGiá trị của hàm trọng số liên quan\r\nđến tần số lặp xung chuẩn hoặc giá trị đỉnh.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Hệ số trọng số được thể\r\nhiện bằng dB.
\r\n\r\n3.24.5. Hàm trọng số hoặc đường\r\ncong trọng số (weighting function or weighting curve)
\r\n\r\nMối liên quan giữa mức điện áp đỉnh\r\nđầu vào và tần số lặp xung đối với chỉ số mức không đổi của máy thu đo có bộ\r\ntách sóng trọng số, tức là đường cong đáp tuyến của máy thu đo theo các xung\r\nlặp.
\r\n\r\n\r\n\r\n4.1. Yêu cầu chung
\r\n\r\nĐiều này qui định việc phân loại\r\ncác loại nhiễu khác nhau và các bộ tách sóng thích hợp để đo nhiễu.
\r\n\r\n4.2. Loại nhiễu
\r\n\r\nVì các lý do vật lý và tâm lý
a) nhiễu liên tục băng tần hẹp,\r\nnghĩa là nhiễu ở các tần số rời rạc, ví dụ như sóng cơ bản và hài phát ra với\r\nứng dụng có cchủ ý của năng lượng RF cùng với thiết bị ISM, tạo nên phổ tần chỉ\r\ngồm các vạch phổ đơn lẻ có khoảng cách giữa chúng lớn hơn độ rộng băng tần máy\r\nthu đo sao cho trong quá trình đo chỉ có một vạch phổ nằm trong độ rộng băng\r\ntần trái ngược với điểm b);
\r\n\r\nb) nhiễu liên tục băng tần rộng,\r\nthường được tạo ra ngẫu nhiên do các xung lặp của, ví dụ, động cơ cổ góp, và có\r\ntần số lặp thấp hơn độ rộng băng tần của máy thu đo sao cho trong quá trình đo\r\ncó nhiều hơn một vạch phổ nằm trong độ rộng băng tần; và
\r\n\r\nc) nhiễu không liên tục băng tần\r\nrộng cũng phát sinh ngẫu nhiên do quá trình đóng cắt điện hoặc cơ, ví dụ\r\nbằng bộ điều nhiệt hoặc bộ điều khiển theo chương trình có tốc độ lặp thấp hơn\r\n1 Hz (tốc độ nháy nhỏ hơn 30 nháy/min).
\r\n\r\nPhổ tần của b) và c) được đặc trưng\r\nbởi phổ liên tục trong trường hợp xung đơn (riêng biệt) và phổ không liên tục\r\ntrong trường hợp xung lặp, cả hai loại phổ được đặc trưng bởi dải tần rộng hơn\r\nđộ rộng băng tần của máy thu đo qui định trong TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1).
\r\n\r\n4.3. Chức năng của bộ tách sóng
\r\n\r\nTùy thuộc vào loại nhiễu, các phép\r\nđo có thể được thực hiện bằng cách sử dụng máy thu đo có:
\r\n\r\na) bộ tách sóng trung bình thường,\r\nsử dụng trong phép đo nhiễu và tín hiệu băng tần hẹp, và đặc biệt, để phân biệt\r\ngiữa nhiễu băng tần hẹp và nhiễu băng tần rộng;
\r\n\r\nb) bộ tách sóng tựa đỉnh dùng để đo\r\ntrọng số của nhiễu băng tần rộng để đánh giá tạp tới tai nghe, nhưng cũng có\r\nthể sử dụng cho nhiễu băng tần hẹp;
\r\n\r\nc) bộ tách sóng hiệu dụng trung\r\nbình để đo trọngsố của nhiễu băng tần rộng để đánh giá ảnh hưởng của nhiễu xung\r\nlên dịch vụ vô tuyến điện loại digital nhưng cũng có thể sử dụng cho nhiễu băng\r\ntần hẹp;
\r\n\r\nd) bộ tách sóng đỉnh có thể sử dụng\r\nđể đo nhiễu băng tần rộng hoặc nhiễu băng tần hẹp.
\r\n\r\nCác máy thu đo kết hợp với các bộ\r\ntách sóng này được qui định trong TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1).
\r\n\r\n\r\n\r\nLiên quan đến đấu nối thiết bị đo,\r\nmáy thu đo và thiết bị phụ trợ như anten: cáp nối giữa máy thu đo và thiết bị\r\nphụ trợ phải được chống nhiễu và trở kháng đặc tính của nó phải phối hợp với\r\ntrở kháng đầu vào của máy thu đo. Đầu ra của thiết bị phụ trợ phải được nối với\r\ntrở kháng qui định.
\r\n\r\n6. Yêu cầu và\r\nđiều kiện đo chung
\r\n\r\n\r\n\r\nCác phép đo nhiễu rađiô phải:
\r\n\r\n● có khả năng tái lập, nghĩa là\r\nkhông phụ thuộc vào vị trí đo và các điều kiện môi trường, đặc biệt là tạp xung\r\nquanh; và
\r\n\r\n● không bị ảnh hưởng lẫn nhau,\r\nnghĩa là việc nối EUT tới thiết bị đo phải không làm ảnh hưởng đến chức năng\r\ncủa EUT cũng như không ảnh hưởng đến độ chính xác của thiết bị đo.
\r\n\r\nCác yêu cầu này có thể được đáp ứng\r\nbằng cách tuân thủ các điều kiện sau đây:
\r\n\r\na) đảm bảo tỷ số tín hiệu-tạp thích\r\nhợp ở mức đo mong muốn, ví dụ mức giới hạn nhiễu liên quan;
\r\n\r\nb) có bố trí đo, đầu ra và các điều\r\nkiện làm việc xác định của EUT;
\r\n\r\nc) khi sử dụng máy phân tích phổ\r\nhoặc máy thu quét, phải chú ý đến các yêu cầu làm việc cụ thể của các máy này\r\nvà yêu cầu hiệu chuẩn chúng.
\r\n\r\n6.2. Nhiễu\r\nkhông do thiết bị cần thử nghiệm sinh ra
\r\n\r\n6.2.1. Yêu cầu chung
\r\n\r\nPhép đo tỷ số tín hiệu-tạp liên\r\nquan đến tạp xung quanh phải đáp ứng các yêu cầu nêu dưới đây. Nếu mức tạp giả\r\nvượt quá mức yêu cầu thì phải ghi trong báo cáo thử nghiệm.
\r\n\r\n6.2.2. Thử nghiệm sự phù hợp\r\n(đánh giá sự phù hợp)
\r\n\r\nVị trí thử nghiệm phải cho phép\r\nphân biệt được phát xạ từ EUT với tạp xung quanh. Mức tạp xung quanh tốt nhất\r\nlà 20 dB, nhưng phải thấp hơn mức đo mong muốn ít nhất là 6 dB. Đối với điều\r\nkiện 6 dB, mức nhiễu biểu kiến từ EUT sẽ tăng đến 3,5 dB. Sự phù hợ của vị trí\r\nứng với mức tạp xung quanh yêu cầu có thể được xác định bằng cách đo mức tạp\r\nxung quanh với sự có mặt của thiết bị thử nghiệm nhưng không hoạt động.
\r\n\r\nTrong trường hợp phép đo sự phù hợp\r\ntheo một giới hạn, mức tạp xung quanh được phép vượt quá mức ưu tiên -6 dB với\r\nđiều kiện là tổng mức tạp xung quanh và phát xạ của nguồn không vượt quá giới\r\nhạn qui định. Khi đó EUT được coi là đáp ứng giới hạn. Có thể thực hiện theo\r\ncách khác, ví dụ, giảm độ rộng băng tần đối với tín hiệu băng tần hẹp và/hoặc\r\nchuyển anten tới gần EUT hơn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Nếu hai đại lượng cường\r\nđộ trường xung quanh và cường độ trường xung quanh có EUT được đo riêng rẽ, thì\r\ncó thể ước lượng cường độ trường EUT với độ không đảm bảo xác định được. Tham\r\nkhảo thêm khía cạnh này trong Phụ lục C của TCVN 6988 (CISPR 11).
\r\n\r\n\r\n\r\n6.3.1. Nhiễu liên tục băng tần\r\nhẹp
\r\n\r\nMáy thu phải được điều chỉnh để\r\nđiều hưởng với tần số rời rạc cần xét và điều hưởng lại nếu tần số biến động.
\r\n\r\n6.3.2. Nhiễu liên tục băng tần\r\nrộng
\r\n\r\nĐể đánh giá nhiễu liên tục băng tần\r\nrộng có mức nhiễu không ổn định, phải tìm được giá trị phép đo có khả năng tái\r\nlập lớn nhất. Chi tiết xem trong 6.5.1.
\r\n\r\n6.3.3. Sử dụng máy phân tích phổ\r\nvà máy thu quét
\r\n\r\nMáy phân tích phổ và máy thu quét\r\nlà loại thích hợp dùng cho các phép đo nhiễu, đặc biệt để giảm thời gian đo.\r\nTuy nhiên, cần quan tâm đặc biệt đến các đặc tính nhất định của thiết bị đo\r\nnày, trong đó bao gồm: quá tải, tuyến tính, khả năng chọn lọc, đáp tuyến thông\r\nthường với các xung, tốc độ quét tần, chặn tín hiệu, độ nhạy, độ chính xác biên\r\nđộ và tách sóng đỉnh, tách sóng trung bình và tách sóng tựa đỉnh. Các đặc tính\r\nnày được xem xét trong Phụ lục B.
\r\n\r\n6.4. Điều\r\nkiện làm việc của EUT
\r\n\r\nEUT phải làm việc trong các điều\r\nkiện sau đây:
\r\n\r\n6.4.1. Điều kiện tải thông\r\nthường
\r\n\r\nĐiều kiện tải thông thường phải là\r\nđiều kiện được xác định trong qui định kỹ thuật sản phẩm của nhà chế tạo liên\r\nquan với EUT, nếu EUT không được đề cập thì phải chỉ ra như trong hướng dẫn của\r\nnhà chế tạo.
\r\n\r\n6.4.2. Thời gian làm việc
\r\n\r\nTrong trường hợp các EUT có thời\r\ngian làm việc danh định cho trước, thời gian làm việc phải theo thời gian ghi\r\ntrên nhãn; trong các trường hợp khác, không hạn chế thời gian.
\r\n\r\n6.4.3. Thời gian chạy rà
\r\n\r\nKhông qui định thời gian chạy rà\r\ntrước khi thử nghiệm, nhưng EUT phải làm việc trong một khoảng thời gian đủ để\r\nđảm bảo rằng các phương thức và điều kiện làm việc là điển hình cho suốt tuổi\r\nthọ của thiết bị. Đối với một số EUT, các điều kiện thử nghiệm đặc biệt có thể\r\nđược qui định trong các tiêu chuẩn của thiết bị liên quan.
\r\n\r\n6.4.4. Nguồn cung cấp
\r\n\r\nEUT phải làm việc với nguồn có điện\r\náp danh định của EUT. Nếu mức nhiễu thay đổi đáng kể theo điện áp nguồn, thì\r\nphép đo phải được thực hiện với nguồn điện áp trong dải từ 0,9 đến 1,1 lần điện\r\náp danh định. Các EUT có nhiều giá trị điện áp danh định phải được thử nghiệm ở\r\nđiện áp danh định gây nhiễu lớn nhất.
\r\n\r\n6.4.5. Phương thức làm việc
\r\n\r\nEUT phải làm việc trong các điều\r\nkiện thực tế gây nhiễu lớn nhất ở tần số đo.
\r\n\r\n\r\n\r\n6.5.1. Nhiễu liên tục
\r\n\r\na) Nếu mức nhiễu không ổn định,\r\nviệc đọc trên máy thu đo được thực hiện trong ít nhất là 15 s đối với mỗi phép\r\nđo; phải ghi lại số đọc lớn nhất, bỏ qua các nháy đơn lẻ (xem 4.2 của TCVN\r\n7492-1 (CISPR 14-1)).
\r\n\r\nb) Nếu mức nhiễu chung không ổn\r\nđịnh, nhưng có biểu hiện tăng hoặc giảm liên tục hơn 2 dB trong khoảng thời\r\ngian 15 s, thì mức điện áp nhiễu phải được theo dõi thêm một khoảng thời gian\r\nvà mức đó phải được thể hiện theo các điều kiện sử dụng bình thường của EUT như\r\nsau:
\r\n\r\n1) nếu EUT có thể đóng và ngắt\r\nthường xuyên, hoặc có thể đảo chiều quay của EUT, thì tại mỗi tần số đo, EUT\r\nphải được đóng hoặc đảo chiều ngay trước mỗi phép đo, và cắt ngay sau mỗi phép\r\nđo. Mức lớn nhất thu được trong phút đầu tiên tại mỗi tần số đo phải được ghi\r\nlại;
\r\n\r\n2) nếu EUT vận hành trong khoảng\r\nthời gian dài hơn trong sử dụng bình thường, thì cần đóng EUT trong suốt thời gian\r\nthử nghiệm, và tại mỗi tần số mức nhiễu phải được ghi lại chỉ sau khi có số đọc\r\nổn định (với điều kiện là phù hợp với điểm a)).
\r\n\r\nc) Nếu dạng nhiễu từ EUT trong một\r\nthử nghiệm thay đổi từ phần đặc tính ổn định sang phần đặc tính ngẫu nhiên, thì\r\nkhi đó EUT phải được thử nghiệm phù hợp với điểm b).
\r\n\r\nd) Phép đo được thực hiện trên toàn\r\nbộ dải phổ và được ghi lại ít nhất là tại tần số có số đọc lớn nhất và theo yêu\r\ncầu của tiêu chuẩn CISPR liên quan.
\r\n\r\n6.5.2. Nhiễu không liên tục
\r\n\r\nHiện tại không có yêu cầu đối với\r\nphép đo nhiễu bức xạ không liên tục.
\r\n\r\n6.6. Thời\r\ngian đo và tốc độ quét đối với nhiễu liên tục
\r\n\r\n6.6.1. Yêu cầu chung
\r\n\r\nĐối với cả phép đo thủ công và phép\r\nđo tự động hoặc bán tự động, thời gian đo và tốc độ quét của máy thu đo và máy\r\nthu quét phải được đặt sao cho đo được phát xạ lớn nhất. Đặc biệt trong trường\r\nhợp sử dụng bộ tách sóng đỉnh để quét sơ bộ, thời gian đo và tốc độ quét phải\r\ntính đến thời gian phát xạ cần thử nghiệm. Hướng dẫn chi tiết hơn về việc thực\r\nhiện các phép đo tự động có thể xem trong Điều 8.
\r\n\r\n6.6.2. Thời gian đo tối thiểu
\r\n\r\nĐiều B.7 đưa ra bảng thời gian rà\r\ntối thiểu hoặc tốc độ quét nhanh nhất có thể đạt được trong thực tế. Từ bảng đó\r\nsuy ra thời gian quét tối thiểu cho phép đo trên toàn bộ băng tần CISPR trong\r\nBảng 1 dưới đây.
\r\n\r\nBảng\r\n1 – Thời gian quét tối thiểu đối với ba băng tần CISPR với bộ tách sóng đỉnh và\r\ntựa đỉnh
\r\n\r\n| \r\n Băng\r\n tần \r\n | \r\n \r\n Thời\r\n gian quét Ts đối với tách sóng đỉnh \r\n | \r\n \r\n Thời\r\n gian quét Ts đối với tách sóng tựa đỉnh \r\n | \r\n |
| \r\n A \r\n | \r\n \r\n 9\r\n kHz – 150 kHz \r\n | \r\n \r\n 14,1\r\n s \r\n | \r\n \r\n 2\r\n 820 s = 47 min \r\n | \r\n
| \r\n B \r\n | \r\n \r\n 0,15\r\n MHz – 30 MHz \r\n | \r\n \r\n 2,985\r\n s \r\n | \r\n \r\n 5\r\n 970 s = 99,5 min = 1 h 39 min \r\n | \r\n
| \r\n C\r\n và D \r\n | \r\n \r\n 30\r\n MHz – 1 000 MHz \r\n | \r\n \r\n 0,97\r\n s \r\n | \r\n \r\n 19\r\n 400 s = 323,3 min = 5 h 23 min \r\n | \r\n
Thời gian quét trong Bảng 1 áp dụng\r\ncho phép đo tín hiệu sóng liên tục (CW). Tùy thuộc vào loại nhiễu, thời gian\r\nquét có thể phải tăng lên - ngay cả đối với phép đo tựa đỉnh. Trong các trường\r\nhợp cực biên, thời gian đo Tm tại tần số nhất định có thể phải tăng\r\nthành 15 s, nếu mức phát xạ quan sát được này không ổn định (xem 6.5.1). Tuy\r\nnhiên, không tính các nháy đơn lẻ.
\r\n\r\nTốc độ quét và thời gian đo để sử\r\ndụng với bộ tách sóng trung bình được cho trong Phụ lục C.
\r\n\r\nNếu không áp dụng các qui trình\r\ntiết kiệm thời gian (xem Điều 8) thì hầu hết các tiêu chuẩn sản phẩm qui định\r\ntách sóng tựa đỉnh đối với các phép đo sự phù hợp là rất mất thời gian. Trước\r\nkhi có thể áp dụng các qui trình tiết kiệm thời gian thì cần phải phát hiện sự\r\nphát xạ trong quá trình quét sơ bộ. Để đảm bảo rằng, ví dụ, các tín hiệu gián\r\nđoạn không bị bỏ sót trong quá trình quét tự động thì cần tính đến các xem xét\r\ntrong các điều từ 6.6.3 đến 6.6.5.
\r\n\r\n6.6.3. Tốc độ quét đối với máy\r\nthu quét và bộ phân tích phổ
\r\n\r\nMột trong hai điều kiện cần đáp ứng\r\nđể đảm bảo tín hiệu không bị bỏ qua trong quá trình quét tự động trong các\r\nkhoảng tần số:
\r\n\r\n● trong trường hợp rà một lần: thời\r\ngian đo tại mỗi tần số phải lớn hơn khoảng thời gian giữa các xung đối với các\r\ntín hiệu gián đoạn;
\r\n\r\n● trong trường hợp rà nhiều lần có\r\nlưu giữ đường quét cực đại: thời gian quan sát tại từng tần số phải đủ để thu\r\ncác tín hiệu gián đoạn.
\r\n\r\nTốc độ quét tần số bị hạn chế bởi\r\nđộ rộng băng tần phân giải của dụng cụ đo và chế độ đặt độ rộng băng tần tín\r\nhiệu hình. Nếu tốc độ quét được chọn quá nhanh so với tình trạng của dụng cụ đo\r\ncho trước thì sẽ cho các kết quả đo không đúng. Vì vậy, cần chọn thời gian rà\r\nđủ dài với khoảng tần số đã chọn. Các tín hiệu gián đoạn có thể thu được bởi\r\nquá trình rà một lần với thời gian quan sát thích hợp tại từng tần số hoặc quá\r\ntrình rà nhiều lần có lưu giữ đường quét cực đại. Thông thường với phát xạ chưa\r\nbiết thì quá trình rà nhiều lần có hiệu quả cao: miễn là khi đáp tuyến phổ thay\r\nđổi, có thể vẫn có các tín hiệu gián đoạn cần phát hiện. Thời gian quan sát\r\nphải được chọn theo định kỳ tại đó xuất hiện các tín hiệu nhiễu. Trong một số\r\ntrường hợp, thời gian rà có thể biến đổi để tránh các hiệu ứng đồng bộ hóa.
\r\n\r\nKhi xác định thời gian rà tối thiểu\r\ncho các phép đo với máy phân tích phổ hoặc máy thu quét nhiễu điện từ, dựa trên\r\nchế độ đặt cho trước của dụng cụ đo và sử dụng tách sóng đỉnh, thì phải phân\r\nbiệt hai trường hợp khác nhau. Nếu độ rộng băng tần tín hiệu hình được chọn là\r\nrộng hơn so với độ rộng băng tần phân giải thì có thể sử dụng công thức dưới\r\nđây để tính thời gian rà tối thiểu:
\r\n\r\nTs\r\nmin = (k x D
trong đó:
\r\n\r\nTs min là thời\r\ngian rà tối thiểu
\r\n\r\nD
Bres là độ rộng\r\nbăng tần phân giải
\r\n\r\nk là hằng số tỷ lệ, liên\r\nquan đến hình dạng của bộ lọc phân giải; hằng số này có giá trị từ 2 đến 3 đối\r\nvới các bộ lọc điều hưởng đồng bộ, xấp xỉ Gauxơ. Đối với các bộ lọc xấp xỉ hình\r\nchữ nhật, điều hưởng chéo, k có giá trị từ 10 đến 15.
\r\n\r\nNếu độ rộng băng tần tín hiệu hình\r\nđược chọn nhỏ hơn hoặc bằng độ rộng băng tần phân giải thì có thể sử dụng công\r\nthức dưới đây để tính thời gian rà tối thiểu:
\r\n\r\nTs\r\nmin = (k x D
trong đó, Bvideo là độ\r\nrộng băng tần tín hiệu hình.
\r\n\r\nHầu hết các máy phân tích phổ và\r\nmáy thu quét nhiễu điện từ tự động kết hợp thời gian rà với khoảng tần số được\r\nchọn và các chế độ đặt độ rộng băng tần. Thời gian rà được điều chỉnh để duy\r\ntrì hiển thị đã hiệu chuẩn. Việc chọn thời gian rà tự động có thể quá dài nếu\r\nyêu cầu thời gian quan sát dài hơn, ví dụ, để thu các tín hiệu biến đổi chậm.
\r\n\r\nNgoài ra, đối với các rà lặp lại,\r\nsố lần rà trong một giây sẽ được xác định bằng thời gian quét Ts min\r\nvà thời gian trở về (thời gian cần để điều hưởng lại máy tạo dao động nội và để\r\nlưu giữ các kết quả đo, v.v...).
\r\n\r\n6.6.4. Thời gian quét đối với\r\nmáy thu theo bước
\r\n\r\nMáy thu nhiễu điện từ (EMI) theo\r\nbước được điều hưởng liên tiếp đến các tần số đơn lẻ bằng cách sử dụng cỡ bước\r\nđã xác định trước. Trong khi bao trùm dải tần cần xét theo các bước tần số rời\r\nrạc, yêu cầu dụng cụ đo phải có thời gian dừng tối thiểu tại mỗi tần số để đo\r\nchính xác tín hiệu vào.
\r\n\r\nVới phép đo thực tế, yêu cầu cỡ\r\nbước tần số xấp xỉ 50 % độ rộng băng tần phân giải sử dụng hoặc nhỏ hơn 50 %\r\n(tùy thuộc vào hình dạng bộ lọc phân giải) để giảm độ không đảm bảo đo đối với\r\ncác tín hiệu băng hẹp do độ rộng của bước. Với các giả định này, đối với máy\r\nthu theo bước có thể tính thời gian quét Ts min bằng cách sử\r\ndụng công thức dưới đây:
\r\n\r\nTs\r\nmin = Tm min x
trong đó Tm min\r\nlà thời gian đo tối thiểu (thời gian dừng) tại mỗi tần số.
\r\n\r\nNgoài thời gian đo, đôi khi phải\r\ntính đến đến bộ tổng hợp để chuyển sang tần số tiếp theo và chương trình để lưu\r\ngiữ kết quả đo, mà trong hầu hết các máy thu đo, điều này được thực hiện tự động\r\nsao cho thời gian đo được chọn là thời gian hiệu quả đối với kết quả đo. Ngoài\r\nra, bộ tách sóng được chọn, ví dụ, tách sóng đỉnh hoặc tựa đỉnh, cũng xác định\r\nkhoảng thời gian này.
\r\n\r\nĐối với phát xạ hoàn toàn là băng\r\nrộng, có thể tăng cỡ bước tần số. Trong trường hợp này, mục đích chỉ là để tìm\r\nphổ phát xạ lớn nhất.
\r\n\r\n6.6.5. Cách lấy tổng thể phổ sử\r\ndụng bộ tách sóng đỉnh
\r\n\r\nVới mỗi phép đo khi quét sơ bộ, xác\r\nsuất thu tất cả các thành phần tới hạn của phổ EUT phải bằng 100 % hoặc càng\r\ngần với 100 % càng tốt. Tùy thuộc vào kiểu máy thu đo và đặc trưng của nhiễu mà\r\ncó thể có các phần tử băng thông hẹp và băng thông rộng, đề xuất hai phương\r\npháp tiếp cận chung sau:
\r\n\r\n- quét theo bước: thời gian đo\r\n(dừng) phải đủ dài tại mỗi tần số để đo đỉnh tín hiệu, ví dụ, đối với tín hiệu\r\ndạng xung, thời gian đo (dừng) nên dài hơn giá trị nghịch đảo của tần số lặp\r\ncủa tín hiệu.
\r\n\r\n- quét rà: thời gian đo phải lớn\r\nhơn khoảng thời gian giữa các tín hiệu gián đoạn (rà một lần) và số lần quét\r\ntần số trong thời gian quan sát cần lớn nhất để tăng xác suất thu tín hiệu.
\r\n\r\nHình 1, 2 và 3 thể hiện các ví dụ\r\nvề mối quan hệ giữa các phổ phát xạ biến đổi theo thời gian khác nhau và hiển\r\nthị tương ứng trên máy thu đo. Trong từng trường hợp, phần phía trên của hình\r\nvẽ chỉ ra vị trí của độ rộng băng tần máy thu khi rà qua hoặc nhảy bậc qua phổ\r\nnày.
\r\n\r\nTp là thời gian\r\nlặp xung của tín hiệu xung. Xung xuất hiện tại mỗi đường thẳng đứng của hiển\r\nthị phổ theo thời gian (phần phía trên của hình vẽ).
\r\n\r\nHình\r\n1 – Phép đo một phối hợp của tín hiệu sóng liên tục (băng hẹp) và tín hiệu xung\r\n(băng rộng) bằng cách rà nhiều lần có lưu giữ đường quét cực đại
\r\n\r\nNếu loại phát xạ chưa biết thì rà\r\nnhiều lần với thời gian rà ngắn nhất có thể và tách sóng đỉnh cho phép xác định\r\nđường bao phổ. Rà một lần thời gian ngắn là đủ để đo thành phần tín hiệu băng\r\nhẹp liên tục của phổ EUT. Với các tín hiệu băng rộng liên tục và băng hẹp gián\r\nđoạn, rà nhiều lần với tốc độ quét khác nhau bầng cách sử dụng chức năng “lưu\r\ngiữ đường quét cực đại” có thể cần thiết để xác định đường bao phổ. Với tín\r\nhiệu xung có tần số lặp thấp, việc rà nhiều lần là cần thiết để điền đầy đường bao\r\nphổ của thành phần băng rộng.
\r\n\r\nViệc giảm thời gian đo đòi hỏi phải\r\nphân tích theo thời gian của các tín hiệu cần đo. Có thể thực hiện việc này\r\nbằng máy thu đo có hiển thị tín hiệu đồ họa được sử dụng theo phương thức mở\r\nrộng điểm 0 hoặc sử dụng máy hiện sóng nối với đầu ra tín hiệu hình hoặc đầu ra\r\nIF của máy thu như ví dụ chỉ ra trên Hình 2.
\r\n\r\nNhiễu từ động cơ một chiều cổ góp;\r\nvì có nhiều phiến góp nên tần số lặp xung cao (xấp xỉ 800 Hz) và biên độ xung\r\nbiến đổi mạnh. Do đó, với ví dụ này, thời gian đo (dừng) khuyến cáo với bộ tách\r\nsóng đỉnh lớn hơn 10 ms.
\r\n\r\nHình\r\n2 – Ví dụ về phân tích theo thời gian
\r\n\r\nVới sự phân tích theo thời gian\r\nnày, độ rộng xung và tần số lặp xung có thể được xác định và tốc độ quét hoặc\r\nthời gian dừng được chọn tương ứng theo:
\r\n\r\n- đối với nhiễu băng hẹp không\r\nđiều biến liên tục, có thể sử dụng thời gian quét nhanh nhất có thể đối với\r\nchế độ đặt dụng cụ đo được chọn;
\r\n\r\n- đối với nhiễu băng rộng liên\r\ntục thuần túy, ví dụ từ động cơ có đánh lửa, thiết bị hàn hồ quang, và động\r\ncơ cổ góp, có thể sử dụng quét theo bước (có tách sóng đỉnh hoặc ngay cả tách\r\nsóng tựa đỉnh) để lấy mẫu phổ phát xạ. Trong trường hợp này, dùng hiểu biết về\r\nloại nhiễu để vẽ đường cong gồm nhiều đoạn thẳng là đường bao phổ (xem Hình 3).\r\nPhải chọn cỡ bước sao cho không bỏ qua các biến đổi đáng kể trong đường bao\r\nphổ. Đo rà một lần, nếu tiến hành đủ chậm, cũng sẽ có được đường bao phổ;
\r\n\r\n- đối với nhiễu băng hẹp không\r\nliên tục với tần số chưa biết, có thể sử dụng rà nhanh trong thời gian ngắn\r\ncó chức năng “lưu giữ đường quét cực đại” (xem Hình 4) hoặc rà một lần chậm. Có\r\nthể yêu cầu phân tích thời gian trước phép đo thực tế để đảm bảo thu đúng tín\r\nhiệu.
\r\n\r\n- nhiễu băng rộng không liên tục\r\nphải được đo theo qui trình phân tích nhiễu không liên tục, như mô tả trong\r\nTCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thời gian đo (dừng) Tm\r\nphải dài hơn thời gian lặp xung Tp, là nghịch đảo của tần số lặp\r\nxung.
\r\n\r\nHình\r\n3 – Phổ băng rộng được đo bằng máy thu theo bước
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Số lần rà yêu cầu hoặc\r\nthời gian rà có thể phải tăng lên, tùy thuộc vào độ rộng xung và thời gian lặp\r\nxung.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Ở ví dụ trên, yêu cầu\r\n5 lần rà đối với tất cả các thành phần phổ cần thu.
\r\n\r\nHình\r\n4 – Đo nhiễu băng hẹp gián đoạn sử dụng rà nhanh lặp lại, thời gian ngắn có\r\nchức năng lưu giữ đường quét cực đại để có được tổng thể phổ phát xạ
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\nĐiều này đặt ra các qui trình chung\r\nđối với phép đo cường độ trường nhiễu rađiô do hệ thống và thiết bị gây ra.\r\nKinh nghiệm với các phép đo nhiễu bức xạ ít hơn kinh nghiệm với các phép đo\r\nđiện áp. Vì vậy, các qui trình đo nhiễu bức xạ được xem xét và mở rộng theo\r\nkiến thức và kinh nghiệm tích luỹ được. Đặc biệt, phải lưu ý đến ảnh hưởng của\r\ndây dẫn và cáp đi liền với EUT. Bảng 2 cung cấp một danh mục tóm tắt về vị trí\r\nthử nghiệm và phương pháp thử nghiệm phát bức xạ CISPR và tham khảo chéo liên\r\nquan đến các điều của tiêu chuẩn này hoặc tài liệu khác.
\r\n\r\nVới một số sản phẩm, có thể cần đo\r\ncác thành phần điện, từ, hoặc cả hai thành phần của nhiễu bức xạ. Đôi khi phép\r\nđo đại lượng liên quan đến công suất bức xạ là thích hợp hơn. Các phép đo thông\r\nthường cần được thực hiện đối với các thành phần nhiễu ngang và dọc liên quan\r\nđến mặt phẳng nền chuẩn.
\r\n\r\nKết quả của phép đo các thành phần\r\nđiện hoặc từ có thể được biểu thị bằng giá trị đỉnh, giá trị tựa đỉnh, giá trị\r\ntrung bình hoặc giá trị hiệu dụng.
\r\n\r\nThành phần từ của nhiễu thường được\r\nđo ở tần số đến 30 MHz. Trong phép đo trường từ, chỉ đo thành phần ngang của\r\ntrường ở vị trí anten thu khi sử dụng qui trình có anten đặt cách xa. Nếu sử\r\ndụng hệ thống anten vòng (LAS), thì cần đo ba mômen lưỡng cực từ vuông góc của\r\nEUT. (Lưu ý là trong phương pháp một anten, thành phần ngang của trường tại vị\r\ntrí anten được xác định bằng mômen lưỡng cực dọc và ngang của EUT, vì phản xạ\r\ncó một phần trong đó.)
\r\n\r\nBảng\r\n2 – Dải tần số có thể áp dụng và tài liệu tham khảo đối với vị trí thử nghiệm\r\nvà phương pháp thử nghiệm phát bức xạ CISPR
\r\n\r\n| \r\n Vị\r\n trí/phương pháp \r\n | \r\n \r\n 9\r\n kHz đến 30 MHz \r\n | \r\n \r\n 30\r\n MHz đến 1 000 MHz \r\n | \r\n \r\n 1\r\n GHz đến 18 GHz \r\n | \r\n
| \r\n Vị trí ngoài trời \r\n | \r\n \r\n tbd \r\n | \r\n \r\n 7.3.8 \r\n | \r\n \r\n n/a \r\n | \r\n
| \r\n Hệ thống anten vòng (LAS) \r\n | \r\n \r\n 7.2 \r\n | \r\n \r\n n/a \r\n | \r\n \r\n n/a \r\n | \r\n
| \r\n Vị trí thử nghiệm thoáng (OATS)\r\n hoặc Phòng bán hấp thụ (SAC) \r\n | \r\n \r\n tbd \r\n | \r\n \r\n 7.3 \r\n | \r\n \r\n n/a \r\n | \r\n
| \r\n Phòng hấp thụ hoàn toàn (FAR) \r\n | \r\n \r\n n/a \r\n | \r\n \r\n 7.4 \r\n | \r\n \r\n 7.6 \r\n | \r\n
| \r\n RE/RI chung \r\n | \r\n \r\n n/a \r\n | \r\n \r\n 7.5 \r\n(RI\r\n bắt đầu 80 MHz) \r\n | \r\n \r\n n/a \r\n | \r\n
| \r\n Vị trí thử nghiệm thoáng có lót\r\n chất hấp thụ \r\n | \r\n \r\n n/a \r\n | \r\n \r\n n/a \r\n | \r\n \r\n 7.6 \r\n | \r\n
| \r\n Tại hiện trường \r\n | \r\n \r\n 7.7.2 \r\n | \r\n \r\n 7.7.3,\r\n 7.7.4.2 \r\n | \r\n \r\n 7.7.3,\r\n 7.7.4.3 \r\n | \r\n
| \r\n Thay thế \r\n | \r\n \r\n n/a \r\n | \r\n \r\n 7.8 \r\n | \r\n \r\n 7.8 \r\n | \r\n
| \r\n Phòng không hấp thụ \r\n | \r\n \r\n n/a \r\n | \r\n \r\n 7.9 \r\n(Bắt\r\n đầu 80 MHz) \r\n | \r\n \r\n 7.9 \r\n | \r\n
| \r\n Ống dẫn sóng TEM \r\n | \r\n \r\n IEC\r\n 61000-4-20 \r\n | \r\n \r\n 7.10 \r\n | \r\n \r\n 7.10 \r\n | \r\n
| \r\n n/a = không áp dụng; tbd = cần\r\n xác định hoặc đang xem xét. \r\n | \r\n |||
7.2. Đo bằng\r\nhệ thống anten vòng (9 kHz đến 30 MHz)
\r\n\r\n7.2.1. Yêu cầu chung
\r\n\r\nHệ thống anten vòng (LAS) được xem\r\nxét trong điều này thích hợp cho phép đo trong nhà có cường độ trường từ được\r\nphát ra bởi một EUT trong dải tần từ 9 kHz đến 30 MHz. Cường độ từ trường được\r\nđo theo dòng điện cảm ứng trong LAS do từ trường nhiễu của EUT. LAS phải luôn\r\nluôn có hiệu lực khi sử dụng phương pháp mô tả trong TCVN 6989-1-4 (CISPR\r\n16-1-4). TCVN 6989-1-4 (CISPR 16-1-4) này cũng mô tả đầy đủ về LAS và quan hệ\r\ngiữa các kết quả đo thu được khi sử dụng LAS và các kết quả thu được như mô tả\r\ntrong điều 7.2 này.
\r\n\r\n7.2.2. Phương pháp đo chung
\r\n\r\nHình 5 thể hiện các khái niệm chung\r\ncủa các phép đo thực hiện với LAS. EUT được đặt ở tâm của LAS. Dòng điện cảm\r\nứng bởi từ trường của EUT vào một trong số ba anten vòng lớn của LAS được đo\r\nbằng cách nối đầu dò dòng điện của anten vòng lớn đến máy thu đo (hoặc thiết bị\r\ntương đương). Trong suốt quá trình đo, EUT được giữ ở một vị trí cố định.
\r\n\r\nCác dòng điện trong ba anten vòng\r\nlớn, hình thành từ ba thành phần từ trường vuông góc với nhau, được đo liên\r\ntiếp. Mỗi mức dòng điện đo được phải tuân thủ giới hạn phát xạ, tính bằng dB(µA),\r\nnhư qui định trong tiêu chuẩn sản phẩm. Giới hạn phát xạ phải áp dụng với LAS\r\ncó các anten vòng lớn, đường kính tiêu chuẩn là 2 m.
\r\n\r\nF: thanh hấp thụ bằng ferit
\r\n\r\nHình\r\n5 – Khái niệm về các phép đo dòng điện cảm ứng gây ra bởi trường từ được thực\r\nhiện với hệ thống anten vòng
\r\n\r\n7.2.3. Môi trường thử nghiệm
\r\n\r\nKhoảng cách giữa vành ngoài của LAS\r\nvới các vật thể ở gần, như sàn và tường, ít nhất phải là 0,5 m. Dòng điện gây\r\nra trong LAS do trường RF xung quanh phải được điều chỉnh phù hợp với TCVN\r\n6989-1-4 (CISPR 16-1-4).
\r\n\r\n7.2.4. Cấu hình của thiết bị thử\r\nnghiệm
\r\n\r\nĐể tránh ghép nối điện dung không\r\nmong muốn giữa EUT và LAS, kích thước lớn nhất của EUT phải cho phép khoảng\r\ncách giữa EUT và anten vòng lớn 2 m tiêu chuẩn của LAS ít nhất là 0,20 m.
\r\n\r\nVị trí của dây dẫn nguồn phải được\r\ntối ưu hóa để cảm ứng dòng điện lớn nhất. Nói chung, vị trí này sẽ không quan\r\ntrọng khi EUT phù hợp với giới hạn phát xạ dẫn.
\r\n\r\nTrong trường hợp EUT lớn, đường\r\nkính các anten vòng của LAS có thể tăng đến 4 m. Trong trường hợp đó:
\r\n\r\na) giá trị dòng điện đo được phải\r\nđược hiệu chỉnh theo B.6 của TCVN 6989-1-2 (CISPR 16-1-2); và
\r\n\r\nb) kích thước lớn nhất của EUT phải\r\ncho phép khoảng cách giữa EUT và các vòng lớn ít nhất là (0,1 x D) m, trong đó\r\nD là đường kính của vòng phi tiêu chuẩn.
\r\n\r\n7.2.5. Độ không đảm bảo đo đối\r\nvới LAS
\r\n\r\nCác lưu ý chung và cơ bản về độ\r\nkhông đảm bảo đo của phép đo phát xạ được nêu ở CISPR 16-4-1.
\r\n\r\n7.3. Đo ở vị\r\ntrí thử nghiệm thoáng hoặc trong phòng bán hấp thụ (30 MHz đến 1 GHz)
\r\n\r\n7.3.1. Đại lượng đo
\r\n\r\nĐại lượng cần đo là cường độ trường\r\nđiện lớn nhất phát ra bởi EUT là hàm số của phân cực ngang và phân cực thẳng và\r\nở độ cao trong phạm vi từ 1 m đến 4 m và ở khoảng cách nằm ngang bằng 10 m tính\r\ntừ EUT, trên tất cả các góc của mặt phẳng phương vị. Đại lượng này phải được\r\nxác định với các yêu cầu sau:
\r\n\r\na) dải tần cần xét từ 30 MHz đến 1\r\n000 MHz;
\r\n\r\nb) đại lượng phải thể hiện theo đơn\r\nvị cường độ trường tương ứng với đơn vị được dùng để thể hiện các mức giới hạn\r\ncho đại lượng này;
\r\n\r\nc) vị trí đo SAC/OATS và bàn định\r\nvị phải được sử dụng phù hợp với các yêu cầu về đánh giá hiệu lực CISPR áp dụng\r\nđược.
\r\n\r\nd) sử dụng máy thu đo phù hợp với\r\nTCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1);
\r\n\r\ne) sử dụng khoảng cách đo thay thế,\r\nnhư 3 m hoặc 30 m thay cho 10 m, phải được xem là phương pháp đo thay thế;
\r\n\r\nf) khoảng cách đo là hình chiếu nằm\r\nngang của khoảng cách giữa biên của EUT và điểm chuẩn của anten đến mặt phẳng\r\nnền;
\r\n\r\ng) EUT có cấu hình và làm việc theo\r\ncác yêu cầu kỹ thuật CISPR;
\r\n\r\nh) phải sử dụng hệ số anten trong\r\nkhông gian tự do.
\r\n\r\nĐại lượng đo E được suy ra từ số\r\nđọc điện áp lớn nhất Vr bằng cách sử dụng hệ số anten không gian tự do\r\nFa:
\r\n\r\nE =\r\nVr –| Ac –| Fa (4)
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nE là cường độ trường, tính bằng dB(µV/m)\r\nnhư trong bản mô tả đại lượng đo;
\r\n\r\nVr là điện áp thu được\r\nlớn nhất, tính bằng dB(µV) sử dụng qui trình như trong bản mô tả đại lượng đo;
\r\n\r\nAc là tổn hao, tính bằng\r\ndB của cáp đo giữa anten và máy thu;
\r\n\r\nFa là hệ số anten trong\r\nkhông gian tự do của anten thu, tính bằng dB(m-1).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Hệ số anten trong không\r\ngian tự do được sử dụng như một số có giá trị cho anten. Cần lưu ý rằng cường\r\nđộ trường được đo phía trên mặt phẳng nền, không phải trong môi trường không\r\ngian tự do.
\r\n\r\n7.3.2. Yêu cầu về vị trí thử\r\nnghiệm
\r\n\r\nVị trí thử nghiệm phải phù hợp với\r\ncác yêu cầu kỹ thuật liên quan của TCVN 6989-1-4 (CISPR 16-1-4) đối với các đặc\r\ntính lý và điện của nó, và đối với kiểm tra hiệu lực của nó.
\r\n\r\n7.3.3. Phương pháp đo chung
\r\n\r\nHình 6 thể hiện khái niệm về phép\r\nđo được thực hiện trong vị trí thử nghiệm thoáng (OATS) hoặc trong phòng bán\r\nhấp thụ (SAC) có các tia tới và tia phản xạ nền đến anten thu.
\r\n\r\nHình\r\n6 – Khái niệm về các phép đo cường độ trường điện thực hiện trong vị trí thử\r\nnghiệm thoáng (OATS) hoặc phòng bán hấp thụ (SAC) thể hiện tia tới và tia phản\r\nxạ đến anten thu
\r\n\r\nEUT được đặt ở độ cao qui định phía\r\ntrên mặt phẳng nền và có cấu hình để thể hiện các điều kiện làm việc bình\r\nthường. Anten được định vị ở khoảng cách qui định. Quay EUT trong mặt phẳng nằm\r\nngang rồi ghi lại số đọc lớn nhất. Điều chỉnh độ cao của anten sao cho tia tới\r\nvà tia phản xạ xấp xỉ đồng pha hoặc đồng pha. Trình tự các bước có thể thay đổi\r\nvà có thể cần lặp lại để tìm được giá trị nhiễu lớn nhất. Vì các lý do thực tế,\r\nsự thay đổi độ cao bị giới hạn và do đó có thể không đạt được đồng pha trọn\r\nvẹn.
\r\n\r\n7.3.4. Khoảng cách đo
\r\n\r\nEUT chịu giới hạn nhiễu bức xạ ở\r\nkhoảng cách qui định cần được đo ở khoảng cách đó, trừ khi không thể thực hiện\r\nđược việc này do kích thước thiết bị, v.v… Khoảng cách đo là khoảng cách giữa\r\nhình chiếu của điểm EUT gần nhất với anten và hình chiếu của điểm chuẩn hiệu\r\nchuẩn của anten lên mặt phẳng nền. Nếu điểm chuẩn của anten không được qui định\r\ntrong báo cáo hiệu chuẩn anten thì đối với anten chu kỳ loga, điểm chuẩn là điểm\r\ndọc theo đường giữa của cần anten nằm ngang giữa các phần tử lưỡng cực tương\r\nứng với nửa bước sóng tại tần số giữa dải tần của anten.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Tần số giữa được xác\r\nđịnh bằng: log(f giữa) = (log fmin + log fmax)/2;\r\nf giữa = 10log(f giữa).
\r\n\r\nKhoảng cách 10 m ưu tiên với hầu\r\nhết các vị trí thử nghiệm ngoài trời, vì ở khoảng cách này mức nhiễu mong muốn\r\ncần đo đủ cao hơn mức tạp môi trường xung quanh để cho phép thử nghiệm là hữu\r\ních. Khoảng cách nhỏ hơn 3 m hoặc lớn hơn 30 m thông thường không được sử dụng.\r\nNếu cần khoảng cách đo khác với khoảng cách qui định thì cần ngoại suy các kết\r\nquả bằng cách sử dụng các qui trình qui định trong tiêu chuẩn sản phẩm. Nếu\r\nkhông có hướng dẫn thì phải đưa ra sự chứng minh thích hợp đối với phương pháp\r\nngoại suy. Nói chung, phép ngoại suy không tuân thủ qui tắc nghịch đảo khoảng\r\ncách đơn thuần.
\r\n\r\nNếu có thể, phép đo cần được thực\r\nhiện trong vùng trường xa. Vùng trường xa có thể được xác định bằng các điều\r\nkiện dưới đây. Khoảng cách đo d được chọn sao cho:
\r\n\r\na) d ³\r\nl/6. ở khoảng cách này E/H = Zo\r\n= 120 p = 377 W, ở đó thành phần cường độ điện trường và từ trường vuông góc\r\nvới nhau và sai số phép đo thường là 3 dB nếu EUT được coi như một anten lưỡng\r\ncực điều hưởng; hoặc
\r\n\r\nb) d ³\r\nl, điều kiện đối với sóng phẳng, ở đó\r\nsai số là 0,5 dB nếu EUT được coi như một anten lưỡng cực điều hưởng; hoặc
\r\n\r\nc) d ³\r\n2 D2/l, trong đó D là kích\r\nthước lớn nhất của EUT hoặc của anten xác định độ mở nhỏ nhất đối với chiếu xạ\r\ncủa EUT, áp dụng với các trường hợp D >> l.
\r\n\r\n7.3.5. Sự thay đổi độ cao anten
\r\n\r\nVới phép đo cường độ trường điện,\r\nđộ cao anten so với mặt phẳng nền phải được thay đổi trong phạm vi dải qui định\r\nđể thu được số đọc lớn nhất sẽ xuất hiện khi tia phản xạ và tia tới cùng pha.\r\nNguyên tắc chung, đối với các khoảng cách đo đến và bằng 10 m, độ cao anten\r\ntrong phép đo cường độ trường điện phải được thay đổi trong khoảng từ 1 m đến 4\r\nm. Ở khoảng cách lớn hơn lên đến 30 m, độ cao phải được ưu tiên thay đổi trong\r\nkhoảng từ 2 m đến 6 m. Có thể cần điều chỉnh độ cao nhỏ nhất của anten so với\r\nmặt phẳng nền xuống 1 m để số đọc đạt lớn nhất. Độ cao này áp dụng cho cả phân\r\ncực ngang và phân cực thẳng, ngoài ra đối với phân cực thẳng, độ cao tối thiểu\r\nphải được tăng lên sao cho điểm thấp nhất của anten cách mặt phẳng nền của vị\r\ntrí thử nghiệm ít nhất là 25 cm.
\r\n\r\n7.3.6. Nội dung yêu cầu kỹ thuật\r\nsản phẩm
\r\n\r\n7.3.6.1. Qui định chung
\r\n\r\nNgoài việc qui định chi tiết phương\r\npháp đo và các thông số nhiễu cần đo, tiêu chuẩn sản phẩm phải đề cập đến các\r\nnội dung liên quan khác như trình bày dưới đây.
\r\n\r\n7.3.6.2. Môi trường thử nghiệm
\r\n\r\nẢnh hưởng của môi trường thử nghiệm\r\nphải được xem xét sao cho đảm bảo hoạt động chính xác của EUT. Các thông số\r\nquan trọng trong môi trường tự nhiên phải được qui định, ví dụ như nhiệt độ và\r\nđộ ẩm.
\r\n\r\nMôi trường điện từ cần có sự xem\r\nxét đặc biệt để đảm bảo tính chính xác của các phép đo nhiễu. Mức tín hiệu và\r\ntạp rađiô xung quanh đo được ở vị trí thử nghiệm khi EUT không được cấp điện\r\nphải thấp hơn mức giới hạn ít nhất là 6 dB. Có thể nhận thấy rằng điều này\r\nkhông phải luôn thực hiện được ở mọi tần số. Tuy nhiên, trong trường hợp mức\r\ntạp xung quanh đo được cộng với phát xạ tạp rađiô của EUT không cao hơn mức\r\ngiới hạn, thì EUT phải được coi là phù hợp với mức giới hạn. Hướng dẫn về mức\r\ntạp xung quanh và sai số phép đo, xem 6.2.2 và Phụ lục A.
\r\n\r\nNếu mức cường độ trường xung quanh\r\nở tần số nằm trong dải đo qui định vượt quá (các) giới hạn, thì có thể sử dụng\r\ncác phương pháp thay thế sau đây:
\r\n\r\na) thực hiện phép đo ở khoảng cách\r\nngắn hơn và ngoại suy kết quả đến khoảng cách có mức giới hạn qui định. Công\r\nthức ngoại suy phải theo khuyến cáo trong tiêu chuẩn sản phẩm hoặc phải được\r\nkiểm tra bằng phép đo ở ít nhất là ba khoảng cách khác nhau;
\r\n\r\nb) thực hiện phép đo trong băng tần\r\ntới hạn trong nhiều giờ khi trạm quảng bá không phát sóng và môi trường bị ảnh\r\nhưởng bởi các thiết bị công nghiệp ít hơn;
\r\n\r\nc) so sánh biên độ nhiễu của EUT ở\r\ntần số cần khảo sát với biên độ nhiễu ở các tần số gần kề trong phòng có chống\r\nnhiễu hoặc phòng chống nhiễu có lót chất hấp thụ. Biên độ nhiễu của EUT ở tần\r\nsố cần khảo sát có thể được đánh giá bằng cách đo biên độ nhiễu tần số liền kề\r\nrồi so sánh;
\r\n\r\nd) khi định hướng trục của vị trí\r\nthử nghiệm thoáng, cần phải xét đến hướng của tín hiệu mạnh xung quanh, sao cho\r\nhướng của anten thu ở vị trí càng phân biệt được các tín hiệu này càng tốt;
\r\n\r\ne) với nhiễu băng tần hẹp từ EUT\r\nxuất hiện gần môi trường RF, khi cả hai nằm trong độ rộng băng tần tiêu chuẩn,\r\ncó thể sử dụng dụng cụ đo có độ rộng băng tần hẹp hơn.
\r\n\r\n7.3.6.3. Cấu hình của thiết bị\r\ncần thử nghiệm
\r\n\r\nCác điều kiện làm việc của EUT phải\r\nđược qui định, ví dụ như các đặc tính tín hiệu đầu vào, các phương thức làm\r\nviệc, bố trí các linh kiện, độ dài và loại cáp nối, v.v…
\r\n\r\nViệc thử nghiệm các hệ thống riêng\r\nbiệt và hệ thống nhiều thành phần phải thỏa mãn hai điều kiện sau:
\r\n\r\na) hệ thống có cấu hình để sử dụng\r\nđiển hình;
\r\n\r\nb) hệ thống có cấu hình cho phép\r\nthu được mức nhiễu lớn nhất.
\r\n\r\nThuật ngữ hệ thống để chỉ\r\nEUT kết hợp với các thành phần được nối đến EUT và tất cả các cáp nối cần\r\nthiết.
\r\n\r\nThuật ngữ cấu hình nói đến\r\nhướng EUT, các thành phần khác của hệ thống, các cáp nối và các dây dẫn nguồn\r\nđiện có trong hệ thống. Trong tất cả các phép đo, cấu hình của hệ thống phải\r\nđược điều chỉnh sao cho thỏa mãn hai điều kiện trên, trước tiên là thỏa mãn\r\nđiều kiện a) và tiếp theo là điều kiện
\r\n\r\nb), trong phạm vi các chỉ dẫn mô tả\r\ndưới đây.
\r\n\r\nThuật ngữ điển hình được\r\ndùng để mô tả cách bố trí EUT sẽ sử dụng trên thực tế. Các chỉ dẫn để thiết lập\r\ncấu hình điển hình được nêu dưới đây.
\r\n\r\nĐối với thiết bị thiết kế làm thành\r\nbộ phận của một hệ thống nhiều thành phần, EUT phải được lắp đặt trong hệ thống\r\nđiển hình và có cấu hình phù hợp với chỉ dẫn của nhà chế tạo. EUT phải làm việc\r\ntheo cách tiêu biểu cho sử dụng phổ biến của EUT đó. Trong tất cả các thử\r\nnghiệm, EUT và mọi thành phần của hệ thống phải được dịch chuyển trong phạm vi\r\ngiới hạn của sử dụng điển hình để tối đa hóa từng mức nhiễu.
\r\n\r\nCáp kết nối phải được nối đến từng\r\ncổng kết nối trên EUT. Phải xem xét ảnh hưởng của việc thay đổi vị trí từng cáp\r\nđể tìm ra cấu hình tối đa hoá từng mức nhiễu theo yêu cầu của cấu hình điển\r\nhình trong sử dụng thực tế. Có thể giới hạn số lượng các dịch chuyển nếu một số\r\nít cấu hình cáp như vậy sẽ cho mức nhiễu lớn nhất trên dải tần nghiên cứu.
\r\n\r\nCáp kết nối phải là loại và có\r\nchiều dài do nhà chế tạo thiết bị qui định. Phần chiều dài vượt quá qui định\r\ncủa từng cáp phải được bó riêng theo cách gấp khúc ở gần giữa cáp thành các bó\r\ncó chiều dài từ 30 cm đến 40 cm. Nếu không thực hiện được điều này do bó cáp\r\nlớn hoặc do độ cứng của cáp hoặc do việc thử nghiệm được thực hiện ở hệ thống\r\nlắp đặt của người sử dụng, thì việc bố trí cáp dài hơn qui định tuỳ theo quyết\r\nđịnh của kỹ sư thử nghiệm và cần ghi vào báo cáo thử nghiệm. Các yêu cầu khác\r\nnhau đối với cáp có chiều dài vượt quá qui định có thể được qui định trong tiêu\r\nchuẩn sản phẩm.
\r\n\r\nKhông được đặt cáp ở bên dưới, hoặc\r\ntrên nóc của EUT hoặc phía trên của các thành phần hệ thống trừ khi thích hợp\r\nđể làm như vậy, ví dụ như cáp thường đi xuyên qua các giá cáp trên không hoặc\r\nbên dưới mặt phẳng nền. Cáp chỉ được đặt sát với các vỏ bên ngoài của EUT và\r\ncác thành phần hệ thống nếu được sử dụng phổ biến theo cách đó. EUT phải được\r\nnghiên cứu ở các phương thức làm việc khác nhau.
\r\n\r\nĐối với EUT thường làm việc đặt\r\ntrên bàn, thử nghiệm phát bức xạ cần được thực hiện với EUT đặt trên bàn không\r\ndẫn điện, mặt bàn có kích thước thích hợp. Bàn cần được đặt trên một bệ quay\r\nđiều khiển từ xa và bằng vật liệu không dẫn điện. Đỉnh của bệ quay thường cao\r\nhơn mặt phẳng nền ít hơn 0,5 m, chiều cao của bàn cùng với bệ là 0,8 m so với\r\nmặt phẳng nền. Nếu bệ quay có cùng độ cao với mặt phẳng nền thì bề mặt của nó\r\nphải làm bằng vật liệu dẫn điện và chiều cao 0,8 m phải được đo tính từ đỉnh\r\ncủa bệ quay. EUT thường được đặt trên sàn sẽ được thử nghiệm trên sàn. Bệ quay\r\nlắp bằng mặt (bàn quay) là thích hợp trong trường hợp này. EUT thường được đặt\r\ntrên sàn hoặc trên mặt bàn phải được thử nghiệm như thiết bị đặt trên mặt bàn.
\r\n\r\nEUT phải được nối đất phù hợp với\r\nyêu cầu của nhà chế tạo và các điều kiện sử dụng dự kiến. Nếu EUT làm việc\r\nkhông có nối đất thì phải được thử nghiệm không nối đất. Nếu EUT được trang bị\r\ncác đầu nối để nối đất hoặc dây dẫn nối đất bên trong để nối trong điều kiện\r\nlắp đặt thực, thì dây đất hoặc mối nối đất phải được nối tới mặt phẳng nền\r\n(hoặc phương tiện để nối đất), để mô phỏng điều kiện lắp đặt thực tế. Mọi dây\r\ndẫn nối đất bên trong nằm trong đầu phích cắm dây dẫn nguồn xoay chiều của EUT\r\nphải được nối đất qua dịch vụ điện lưới. Ngoại trừ ở các vị trí nối đất mà nhà\r\nchế tạo dự kiến, EUT đứng trên sàn phải được cách điện với mặt phẳng nền bằng\r\nvật liệu điện môi có chiều dày đến 15 cm.
\r\n\r\n7.3.7. Phương tiện đo
\r\n\r\nPhương tiện đo, bao gồm cả anten,\r\nphải tuân thủ các yêu cầu liên quan trong TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1) và TCVN\r\n6989-1-4 (CISPR 16-1-4).
\r\n\r\n7.3.8. Phép đo cường độ trường\r\ntrong các vị trí thử nghiệm ngoài trời khác
\r\n\r\nVị trí thử nghiệm ngoài trời tương\r\ntự với vị trí thử nghiệm thoáng, nhưng không có mặt phẳng nền bằng kim loại, có\r\nthể cần được qui định đối với một số sản phẩm vì nhiều lý do thực tế, ví dụ\r\nthiết bị ISM và xe có động cơ. Các điều khoản nêu trong 7.3.4 đến 7.3.7 vẫn có\r\nhiệu lực.
\r\n\r\n7.3.9. Độ không đảm bảo đo đối\r\nvới vị trí thử nghiệm thoáng và phòng bán hấp thụ
\r\n\r\nLưu ý chung và cơ bản về độ không\r\nđảm bảo đo trong phép đo phát xạ được nêu trong CISPR 16-4-1. Các khía cạnh về\r\nđộ không đảm bảo đo qui định cho phép đo phát bức xạ trong OATS hoặc SAC (30 MHz\r\nđến 1 GHz) được nêu trong CISPR 16-4-2.
\r\n\r\n7.4. Đo trong\r\nphòng hấp thụ hoàn toàn (30 MHz đến 1 GHz)
\r\n\r\n7.4.1. Bố trí thử nghiệm và dạng\r\nhình học của vị trí
\r\n\r\nPhải sử dụng loại anten cho thử\r\nnghiệm phát xạ của EUT giống như anten thu được sử dụng cho thử nghiệm kiểm tra\r\nhiệu lực vị trí trong phòng hấp thụ hoàn toàn. Độ cao anten là cố định ở độ cao\r\ntrung bình hình học của thể tích thử nghiệm. Phép đo được thực hiện theo cả\r\nphân cực ngang và phân cực thẳng của anten thu. Cần đo phát xạ trong khi bàn\r\nxoay quay cùng với EUT trong từng vị trí của ít nhất ba vị trí góc phương vị\r\nliên tiếp (0o, 45o, 90o) khi không yêu cầu quay liên tục. Hình 7 minh họa vị\r\ntrí hình học của phòng hấp thụ hoàn toàn điển hình và các kích thước liên quan.
\r\n\r\nEUT phải được đặt trên bàn xoay.\r\nHình 7, Hình 8 và Hình 9 giải thích các kích thước khác nhau trong FAR. Bàn\r\nxoay, cột anten và sàn đỡ phải được đặt đúng vị trí trong qui trình kiểu tra\r\nhiệu lực vị trí. Khoảng cách a, b, c và e có thể bị hạn chế bởi kích cỡ của thể\r\ntích thử nghiệm. Mức của mặt phẳng đáy (chiều cao của chất hấp thụ cộng với c)\r\nlà mức đối với thiết bị đứng trên sàn (độ cao giá nâng để vận chuyển sẽ nằm bên\r\nngoài thể tích thử nghiệm).
\r\n\r\nA bàn xoay và cơ cấu đỡ EUT
\r\n\r\n2X 1,5 m, 2,5 m, 5 m – ứng với\r\nkhoảng cách thử nghiệm được sử dụng (3 m, 5 m hoặc 10 m tương ứng)
\r\n\r\nhm mức giữa của thể tích\r\nthử nghiệm;
\r\n\r\na, b, c, e nên
d 3 m, 5 m hoặc 10 m.
\r\n\r\n1) Bố trí anten và cáp\r\nphải cùng được kiểm tra hiệu lực cùng nhau và được sử dụng trong cùng một cấu\r\nhình trong khi thử nghiệm EUT.
\r\n\r\n2) Thiết bị hấp thụ\r\nphương thức chung (CMAD) phải được sử dụng phù hợp với tiêu chuẩn sản phẩm áp\r\ndụng được; việc sử dụng (nếu yêu cầu) phải được ghi lại trong báo cáo thử\r\nnghiệm.
\r\n\r\nHình\r\n7 – Dạng hình học của vị trí trong phòng hấp thụ hoàn toàn điển hình, trong đó\r\na, b, c, e phụ thuộc vào tính năng của phòng
\r\n\r\nA bàn xoay và cơ cấu đỡ EUT;
\r\n\r\n2X 1,5 m, 2,5 m, 5 m;
\r\n\r\nd 3 m, 5 m hoặc 10 m (đối với\r\nkhoảng cách thử nghiệm 3 m, 5 m hoặc 10 m tương ứng).
\r\n\r\n1) Bố trí cáp anten phải\r\ngiống như trong qui trình đánh giá hiệu lực vị trí thử nghiệm (xem Hình 7).
\r\n\r\n2) Thiết bị hấp thụ\r\nphương thức chung (CMAD) phải được sử dụng phù hợp với tiêu chuẩn sản phẩm áp\r\ndụng; việc sử dụng (nếu yêu cầu) phải được ghi lại trong báo cáo thử nghiệm.
\r\n\r\nHình\r\n8 – Bố trí thử nghiệm điển hình đối với thiết bị đặt trên bàn trong thể tích\r\nthử nghiệm của phòng hấp thụ hoàn toàn
\r\n\r\nKhoảng cách thử nghiệm được đo từ\r\nđiểm chuẩn của anten đến biên của EUT. Trong trường hợp chênh lệch giữa điểm\r\nchuẩn trên anten và tâm pha, có thể áp dụng hệ số hiệu chỉnh để đạt được cường\r\nđộ trường ở khoảng cách thử nghiệm.
\r\n\r\nHệ số hiệu chỉnh, Cdr,\r\ntính bằng dB, trong công thức (5) có thể được thêm vào cường độ trường để giảm độ\r\nkhông đảm bảo đo của nó. Trong qui trình hiệu chuẩn đối với anten, hệ số hiệu\r\nchỉnh pha Cdr được đo cho từng tần số. Qui trình đo được xác định\r\nkhi hiệu chuẩn anten hoặc được tính từ khoảng cách về cơ của các phần tử chu kỳ\r\nloga cùng với hệ số anten Fa. Hai hệ số (Cdr, và Fa)\r\ntính bằng dB được cộng vào điện áp ra của anten để có cường độ trường, theo\r\ncông thức (6). Nếu việc hiệu chỉnh tâm pha không được tính đến thì việc thêm\r\nvào phải được tính đến trong quỹ độ không đảm bảo đo.
\r\n\r\nCdr\r\n= 20log[(d + Pf – r)/d] (5)
\r\n\r\nCường độ trường được cho bởi:
\r\n\r\nEf\r\n= Vf + Fa + Cdr (6)
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nf là tần số (MHz);
\r\n\r\nd là điểm cách ly yêu cầu từ biên\r\nEUT đến điểm chuẩn trên anten (m);
\r\n\r\nPf là vị trí tâm pha là\r\nhàm số của tần số, (m tính từ đầu của anten);
\r\n\r\nr là khoảng cách của điểm chuẩn\r\ntrên anten tính từ đầu của anten (m);
\r\n\r\nEf là trường E ở khoảng\r\ncách d so với nguồn [dB(µV/m)];
\r\n\r\nVf là điện áp ở đầu ra\r\ncủa anten tại tần số f [dB(µV)];
\r\n\r\nCdr là hệ số hiệu chỉnh\r\ntâm pha (dB);
\r\n\r\nFa là hệ số anten (không\r\ngian tự do) đối với trường E tại tâm pha [dB(m-1)].
\r\n\r\nA bàn xoay và cơ cấu đỡ EUT;
\r\n\r\n2X 1,5 m, 2,5 m, 5 m;
\r\n\r\nd 3 m, 5 m hoặc 10 m đối với khoảng\r\ncách thử nghiệm 3 m, 5 m hoặc 10 m tương ứng
\r\n\r\nGiá nâng 12 cm (10 cm đến 14 cm) là\r\nsự thoả hiệp giữa mặt phẳng nền bằng kim loại và mặt phẳng nền bằng gỗ.
\r\n\r\n1) Bố trí cáp anten phải\r\ngiống như trong qui trình đánh giá hiệu lực vị trí thử nghiệm (xem Hình 7).
\r\n\r\n2) Bố trí cáp phụ thuộc\r\nvào vị trí của đầu ra cáp và phải gần với bề mặt của vỏ.
\r\n\r\n3) Thiết bị hấp thụ\r\nphương thức chung (CMAD) phải được sử dụng phù hợp với tiêu chuẩn sản phẩm áp\r\ndụng; việc sử dụng (nếu yêu cầu) phải được ghi lại trong báo cáo thử nghiệm.
\r\n\r\nHình\r\n9 – Bố trí thử nghiệm điển hình đối với thiết bị đặt trên sàn trong thể tích\r\nthử nghiệm của phòng hấp thụ hoàn toàn
\r\n\r\n7.4.2. Vị trí của EUT
\r\n\r\nHình 8 và Hình 9 minh họa bố trí\r\nthử nghiệm trong phòng hấp thụ hoàn toàn đối với EUT đặt trên bàn và trên sàn\r\nđiển hình tương ứng. EUT phải có cấu hình, lắp đặt, bố trí và làm việc theo\r\ncách nhất quán với các ứng dụng điển hình. Toàn bộ EUT phải lắp đặt vừa trong\r\nthể tích thử nghiệm. Thiết bị kết hợp cần thiết để làm việc với EUT nhưng không\r\ntạo thành một phần của EUT phải được đặt bên ngoài phòng chống nhiễu.
\r\n\r\nCáp kết nối phải được nối với từng\r\nloại cổng kết nối của EUT. Nếu EUT gồm các thiết bị riêng rẽ thì các thiết bị\r\nphải có cấu hình như bình thường nhưng đặt cách nhau 10 cm nếu có thể. Cáp liên\r\nkết phải được bó lại. Bó cáp phải có chiều dài từ 30 cm đến 40 cm dọc theo cáp.
\r\n\r\nĐể cải thiện tính tái lặp của phép\r\nđo, phải áp dụng các hướng dẫn sau:
\r\n\r\na) EUT (kể cả cáp được bố trí theo\r\n7.4.3) phải được đặt sao cho tâm của nó ở độ cao bằng với tâm của thể tích thử\r\nnghiệm. Có thể sử dụng giá đỡ không dẫn có độ cao thích hợp để đạt được điều\r\nnày.
\r\n\r\nb) Trong trường hợp, về mặt vật lý\r\nkhông thể nâng EUT cỡ lớn đến tâm của thể tích thử nghiệm (Hình 7 và Hình 8),\r\nEUT có thể vẫn được giữ trên giá nâng không dẫn trong quá trình thử nghiệm\r\n(Hình 9). Độ cao của giá nâng phải được ghi trong báo cáo thử nghiệm.
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật về lắp đặt đối với\r\nmột số thiết bị đặt trên sàn đòi hỏi thiết bị cần lắp đặt và liên kết trực tiếp\r\nđến sàn dẫn. Các lưu ý dưới đây áp dụng cho thử nghiệm thiết bị đặt trên sàn\r\ntrong FAR: nếu các kết quả thử nghiệm trong FAR đối với thiết bị đặt trên sàn\r\nđược thiết kế để lắp đặt và liên kết trực tiếp vào sàn dẫn thể hiện sự không\r\nphù hợp với giới hạn phát xạ áp dụng cho vị trí FAR thì các phát xạ thực tế có\r\nthể thấp hơn nếu EUT được thử nghiệm trên mặt phẳng nền mà mô phỏng tốt hơn môi\r\ntrường lắp đặt cuối cùng. Việc này đặc biệt đúng nếu phát xạ ở tần số thấp hơn\r\n200 MHz, phân cực ngang, và nguồn phát xạ là từ vị trí trên thiết bị ứng với độ\r\ncao so với mặt nền là 0,4 m hoặc nhỏ hơn trong hệ thống lắp đặt điển hình.\r\nTrước khi xác định sự không phù hợp dựa trên các phép đo phòng hấp thụ hoàn\r\ntoàn, nên kiểm tra thêm trong môi trường thử nghiệm mặt phẳng nền (tức là, vị\r\ntrí thử nghiệm thoáng hoặc phòng bán hấp thụ) để mô phỏng tốt hơn điều kiện lắp\r\nđặt dự kiến cuối cùng cho thiết bị.
\r\n\r\n7.4.3. Bố trí cáp và đầu nối
\r\n\r\nTrong thử nghiệm EMC, tính tái lập\r\ncủa các kết quả đo thường kém do các sai khác trong bố trí cáp và đầu nối, khi\r\nmột EUT đơn lẻ được đo ở nhiều vị trí thử nghiệm khác nhau. Các điểm được liệt\r\nkê dưới đây thường là các điều kiện chung đối với bố trí thử nghiệm để cung cấp\r\nđộ tái lập tốt (xem Hình 8 và Hình 9). Một cách lý tưởng, tất cả các bức xạ cần\r\nđo chỉ nên phát ra từ thể tích thử nghiệm. Cáp được dùng trong thử nghiệm phải\r\nphù hợp với yêu cầu kỹ thuật của nhà chế tạo. EUT có thể sử dụng cáp không có\r\nđầu nối nếu các đầu nối cáp không sẵn có. Yêu cầu kỹ thuật của cáp và đầu nối\r\nsử dụng trong thử nghiệm phải được qui định rõ ràng trong báo cáo thử nghiệm.
\r\n\r\na) Cáp được nối đến EUT và thiết bị\r\nphụ hoặc nguồn điện phải có chiều dài 0,8 m chạy theo chiều ngang và 0,8 m chạy\r\ntheo chiều dọc (không bó) bên trong thể tích thử nghiệm (xem Hình 8 và Hình 9).\r\nChiều dài cáp bất kỳ vượt quá 1,6 m với dung sai tương đối bằng ± 5 % phải được\r\nrải bên ngoài thể tích thử nghiệm.
\r\n\r\nb) Nếu nhà chế tạo qui định chiều\r\ndài ngắn hơn 1,6 m thì trong trường hợp có thể, phải hướng sao cho nửa chiều\r\ndài của cáp là nằm ngang và nửa còn lại theo chiều dọc trong thể tích thử\r\nnghiệm.
\r\n\r\nc) Cáp không được sử dụng thông qua\r\nthiết bị kết hợp trong quá trình thử nghiệm phải có kết cuối thích hợp:
\r\n\r\n1) cáp (có chống nhiễu) đồng trục\r\ncó bộ nối đồng trục có trở kháng thích hợp (50 W\r\nhoặc 75 W);
\r\n\r\n2) cáp có chống nhiễu với nhiều hơn\r\nmột sợi dây bên trong phải có đầu nối phương thức chung (pha đến đất chuẩn) và\r\nđầu nối phương thức vi sai (pha-pha) phù hợp với yêu cầu kỹ thuật của nhà chế\r\ntạo;
\r\n\r\n3) cáp không được chống nhiễu phải\r\ncó đầu nối phương thức vi sai cũng như đầu nối phương thức chung phù hợp với\r\nyêu cầu kỹ thuật của nhà chế tạo.
\r\n\r\nd) Nếu EUT cần thiết bị kết hợp để\r\nlàm việc đúng thì phải đặc biệt cẩn thận sao cho phát xạ của thiết bị đó không\r\nảnh hưởng đến phép đo bức xạ. Thiết bị kết hợp phải được đặt bên ngoài phòng có\r\nchống nhiễu trong trường hợp có thể. Phải thực hiện các biện pháp chống rò RF\r\nvào trong FAR qua cáp liên kết.
\r\n\r\ne) Bố trí thử nghiệm gồm bố trí\r\ncáp, yêu cầu kỹ thuật của cáp và đầu nối đi kèm và biện pháp thực hiện để triệt\r\nảnh hưởng phát xạ của chiều dài cáp bên ngoài thể tích thử nghiệm (ví dụ, sử\r\ndụng kẹp ferit) được qui định trong các tiêu chuẩn sản phẩm khác nhau.
\r\n\r\nDo bản chất khác nhau của nhiều\r\nEUT, tiêu chuẩn sản phẩm có thể khác đáng kể so với các yêu cầu của điều này\r\n(ví dụ 10.5 của TCVN 7189 (CISPR 22) [3])2.
\r\n\r\n7.4.4. Độ không đảm bảo đo đối\r\nvới FAR
\r\n\r\nLưu ý chung và cơ bản về độ không\r\nđảm bảo đo trong phép đo phát xạ được nêu trong CISPR 16-4-1. Điều kiện để sử\r\ndụng phương pháp thử nghiệm thay thế được nêu trong CISPR 16-4-5. Ví dụ về quỹ\r\nđộ không đảm bảo đo đối với phép đo phát xạ ở khoảng cách 3 m trong FAR được\r\nnêu trong CISPR 16-4-2.
\r\n\r\n\r\n\r\n7.5.1. Khả năng áp dụng
\r\n\r\nĐể thay cho các bố trí thử nghiệm\r\nkhác dùng để thử nghiệm phát bức xạ và thử nghiệm miễn nhiễm bức xạ, với sự\r\nđồng ý của ban kỹ thuật sản phẩm, thử nghiệm theo cả hai yêu cầu có thể được\r\nthực hiện sử dụng bố trí EUT chung phù hợp với các yêu cầu của điều này. Có thể\r\náp dụng bố trí thử nghiệm mô tả trong điều này khi thử nghiệm phát bức xạ và\r\nthử nghiệm miễn nhiễm của EUT sử dụng cùng cấu hình và bố trí thử nghiệm được\r\nchứng minh về kỹ thuật. Bố trí thử nghiệm này được xem là có thể áp dụng tốt\r\nnhất cho EUT có cấu hình đơn giản, ví dụ một hộp đơn lẻ, tổ hợp của các hộp\r\nnhỏ, có ít hơn năm cáp nối đến EUT. Bố trí thử nghiệm thay thế này được phép sử\r\ndụng cho các EUT mà các tiêu chuẩn sản phẩm về phát xạ cho phép thử nghiệm phát\r\nbức xạ ở khoảng cách 3 m.
\r\n\r\nThử nghiệm miễn nhiễm bức xạ có thể\r\nđược thực hiện với vật liệu hấp thụ bao phủ các phần của mặt phẳng nền giữa EUT\r\nvà anten truyền, nếu cần để đạt được sự đồng nhất trường, như qui định ở TCVN\r\n8241-4-3 (IEC 61000-4-3) (tức là phòng bán hấp thụ có lót chất hấp thụ, tương\r\ntự như vị trí thử nghiệm thoáng có lót chất hấp thụ). Đối với các phép đo phát\r\nxạ, đặc tính suy giảm vị trí chuẩn hóa của phòng bán hấp thụ không có chất hấp\r\nthụ mặt phẳng nền phải thoả mãn các yêu cầu của TCVN 6989-1-4 (CISPR 16-1-4).
\r\n\r\n7.5.2. Xác định chu vi EUT và\r\nkhoảng cách từ anten đến EUT
\r\n\r\nThử nghiệm phát bức xạ và miễn\r\nnhiễm bức xạ phải được thực hiện với anten thu hoặc phát đặt ở khoảng cách nằm\r\nngang bằng 3 m cộng với một nửa chiều rộng lớn nhất của EUT đang được thử\r\nnghiệm, đo từ tâm của EUT. Điểm chuẩn của anten được sử dụng khi xác định\r\nkhoảng cách của nó so với EUT là điểm chuẩn đã biết. Tuy nhiên, nếu điểm chuẩn\r\nkhông được qui định thì điểm chuẩn là điểm dọc theo đường giữa cần anten nằm\r\nngang giữa các phần tử anten lưỡng cực tương ứng với nửa bước sóng của giới hạn\r\ntần số trên và giới hạn tần số dưới cần đánh giá.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đối với anten chu kỳ\r\nloga, nhà chế tạo có thể qui định điểm chuẩn.
\r\n\r\nChu vi EUT được xác định bằng hình\r\nchữ nhật ảo (tưởng tượng) nhỏ nhất bao quanh EUT. Tất cả các cáp bên trong hệ\r\nthống phải nằm trong chu vi này (xem Hình 10). Từng cạnh của chu vi này phải\r\nnằm trong một trong bốn mặt của EUT, đồng phẳng với (và có thể nằm bên trong)\r\nvùng trường đồng nhất (UFA) được hiệu chuẩn cho thử nghiệm miễn nhiễm, tùy\r\nthuộc vào khoảng cách thử nghiệm theo chiều ngang.
\r\n\r\nHình\r\n10 – Vị trí của các mặt phẳng chuẩn dùng để hiệu chuẩn trường đồng nhất (nhìn\r\ntừ phía trên)
\r\n\r\n7.5.3. Thể tích thử nghiệm đồng\r\nnhất
\r\n\r\nThể tích thử nghiệm đồng nhất được\r\nxác định bằng các điều kiện dưới đây.
\r\n\r\n● EUT và thiết bị phụ của nó\r\n(AuxEq) (ví dụ thiết bị ngoại vi và cáp) phải được lắp vừa trong thể tích thử\r\nnghiệm thoả mãn các yêu cầu về kiểm tra hiệu lực vị trí thử nghiệm theo TCVN\r\n6989-1-4 (CISPR 16-1-4). Xem qui trình kiểm tra hiệu lực vị trí đối với vị trí\r\nthử nghiệm thay thế để sử dụng trong phép đo phát xạ của TCVN 6989-1-4 (CISPR\r\n16-1-4);
\r\n\r\n● EUT và thiết bị phụ của nó phải lắp\r\nvừa trong thể tích thử nghiệm cho phép từng mặt của EUT và thiết bị phụ của nó\r\nthẳng hàng với vùng trường đồng nhất theo các yêu cầu của TCVN 8241-4-3 (IEC\r\n61000-4-3) và như mô tả trong điều này.
\r\n\r\nĐánh giá EUT có các biên không đều\r\nhoặc không đối xứng ở hai khoảng cách của anten cần hiệu chuẩn vùng trường đồng\r\nnhất theo các yêu cầu của TCVN 8241-4-3 (IEC 61000-4-3). Trong ví dụ thể hiện ở\r\nHình 10, đây là ở mặt phẳng có chiều dài b dọc theo mặt trước của EUT (góc\r\nphương vị 0o) và mặt phẳng theo chiều dài a dọc theo mặt bên cạnh\r\ncủa EUT (góc phương vị 90o).
\r\n\r\nĐể chứa được EUT có chiều rộng lớn\r\nnhất bằng 1,5 m, vùng trường đồng nhất có thể được hiệu chỉnh theo hai điều\r\nkiện:
\r\n\r\n● trong mặt phẳng vuông góc với\r\ntrục của anten qua tâm của bàn xoay;
\r\n\r\n● trong mặt phẳng vuông góc với\r\ntrục của anten cách tâm bàn xoay 0,75 m về phía trước, vuông góc với trục đo.
\r\n\r\nCó thể nội suy tuyến tính để thử\r\nnghiệm EUT bất kỳ có mặt trước hở nằm giữa hai vùng trường đồng nhất đã hiệu\r\nchuẩn. Giả thiết rằng:
\r\n\r\n● tiêu chí -0 dB đến +6 dB phù hợp\r\nở nhiều điểm xác định bởi TCVN 8241-4-3 (IEC 61000-4-3) đối với từng bề mặt\r\ntrong hai bề mặt, và
\r\n\r\n● cường độ trường trung bình của\r\ncác điểm thoả mãn tiêu chí -0 dB đến +6 dB trong hai UFA tỷ lệ nghịch với\r\nkhoảng cách từ anten đến UFA khi đặt công suất thuận không đổi đến anten.
\r\n\r\nGọi Pc1 là công suất\r\nthuận (thang đo logarit) đối với UFA ở tâm của bàn xoay, được đánh giá bởi việc\r\nhiệu chuẩn với cường độ trường không đổi hoặc phương pháp hiệu chuẩn với công\r\nsuất không đổi, và Pc2 là công suất thuận tương ứng đối với UFA ở\r\n0,75 m phía trước tâm của bàn xoay. Công suất thuận cần thiết để minh họa bề\r\nmặt EUT có thể được tính bằng nội suy tuyến tính từ Pc1 và Pc2\r\nvà khoảng cách tương ứng (cũng trong thang đo logarit) đến anten. Về mô tả chi\r\ntiết và bản mô tả phép đo khác, xem phương pháp hiệu chuẩn trường ở 6.2 của\r\nTCVN 8241-4-3 (IEC 61000-4-3).
\r\n\r\nĐối với các kích thước chu vi của\r\nEUT sai khác nhỏ hơn hoặc bằng 20 % khoảng cách 3 m (nghĩa là nhỏ hơn hoặc bằng\r\n0,6 m) chỉ yêu cầu hiệu chuẩn một vùng trường đồng nhất ở khoảng cách tương ứng\r\nvới mặt phẳng 1 trong Hình 10 (mặt rộng nhất của EUT).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Khi sử dụng phương pháp\r\nmô tả trong đoạn đầu, hai bề mặt của EUT phải được thử nghiệm ở mức cường độ\r\ntrường miễn nhiễm cao hơn do khoảng cách của chúng đến anten phát gần hơn.
\r\n\r\nChu vi EUT, kể cả cáp nối, phải lắp\r\nvừa trong thể tích thử nghiệm thoả mãn yêu cầu về kiểm tra hiệu lực vị trí. Đối\r\nvới bố trí thử nghiệm phát xạ/miễn nhiễm chung, trang bị thử nghiệm phải được\r\nhiệu chuẩn ở hai mặt phẳng thẳng đứng tương ứng với kích thước nhỏ nhất và lớn\r\nnhất của chu vi EUT ở 0o, 90o, 180o và 270o\r\nso với các bề mặt của EUT. Các loại thiết bị cần thử nghiệm trong trang bị thử\r\nnghiệm có thể được xem xét để chọn hai vị trí mặt phẳng.
\r\n\r\nNếu sử dụng chất hấp thụ của sàn để\r\nđạt được tiêu chí trường đồng nhất thì các chất hấp thụ này phải được đặt giữa\r\nanten phát và mặt phẳng 2. Nếu chỉ một mặt phẳng được hiệu chuẩn (nghĩa là EUT\r\ncó sự sai khác giữa hai kích thước biên nhỏ hơn 0,6 m) thì chất hấp thụ sàn nếu\r\nđược sử dụng phải được đặt giữa anten phát và mặt phẳng được hiệu chuẩn.
\r\n\r\n7.5.4. Yêu cầu kỹ thuật đối với\r\nbố trí EUT trong bố trí thử nghiệm phát xạ/miễn nhiễm chung
\r\n\r\nCác thử nghiệm phải được thực hiện\r\nvới thiết bị có cấu hình càng gần càng tốt với hoạt động thực tế điển hình của\r\nnó. Trừ khi có qui định khác, cáp và hệ thống đi dây phải như qui định của nhà\r\nchế tạo và thiết bị phải nằm trong hộp (hoặc tủ) của nó với tất cả các nắp và\r\ntấm đậy để tiếp cận được ở đúng vị trí. Mọi sai lệch với các điều kiện làm việc\r\nbình thường của EUT phải được đưa vào báo cáo thử nghiệm. Áp dụng yêu cầu kỹ\r\nthuật ở 7.3.6.3. EUT (trên kết cấu đỡ không dẫn, trong trường hợp thuộc đối\r\ntượng áp dụng) phải được đặt trên bàn xoay vận hành từ xa, như qui định trong\r\n7.3.6.3 để cho phép quay EUT.
\r\n\r\nĐộ cao của EUT trên mặt phẳng nền\r\nphải phù hợp với các yêu cầu dưới đây.
\r\n\r\n● Thiết bị đặt trên bàn được đặt\r\ntrên bàn bố trí thử nghiệm không dẫn có chiều cao 0,8 m ± 0,01 m, xem 7.3.6.3.\r\nTCVN 6989-1-4 (CISPR 16-1-4) qui định phương pháp xác định ảnh hưởng của bàn bố\r\ntrí thử nghiệm không dẫn lên các kết quả thử nghiệm.
\r\n\r\n● Thiết bị đặt trên sàn được đặt\r\ntrên giá đỡ không dẫn, như qui định trong tiêu chuẩn sản phẩm áp dụng. Nếu\r\nkhông có yêu cầu về độ cao đặt EUT trong tiêu chuẩn sản phẩm thì EUT phải được\r\nđặt trên giá đỡ không dẫn ở độ cao từ 5 cm đến 15 cm trên mặt phẳng nền.
\r\n\r\nThiết bị được thiết kế để lắp trên\r\ntrường khi làm việc phải được thử nghiệm như thiết bị đặt trên bàn. Hướng đặt\r\ncủa EUT phải nhất quán với hoạt động bình thường (tức là được định vị như lắp\r\nđặt bình thường).
\r\n\r\nCáp kết nối, tải và thiết bị cần\r\nđược nối đến ít nhất một trong từng loại cổng kết nối của EUT và, trong trường\r\nhợp có thể, từng cáp phải được kết cuối trong thiết bị điển hình cho sử dụng\r\nthực tế của nó. Trong trường hợp có nhiều cổng kết nối cùng loại, một số lượng\r\nđiển hình các cổng này phải được nối đến thiết bị hoặc tải. Chỉ cần nối đến một\r\ntrong các tải là đủ với điều kiện là có thể chỉ ra rằng, ví dụ bằng thử nghiệm\r\nsơ bộ, việc nối các cổng khác không làm tăng đáng kể mức nhiễu (tức là, quá 2\r\ndB) hoặc giảm đáng kể mức miễn nhiễm. Lý do sử dụng cấu hình và mang tải của\r\ncổng phải được ghi vào báo cáo thử nghiệm.
\r\n\r\nSố lượng cáp bổ sung cần hạn chế ở\r\nđiều kiện khi việc thêm cáp khác vào không làm giảm biên một lượng đáng kể (ví\r\ndụ, 2 dB) so với giới hạn. Trong một số trường hợp, bố trí tối ưu của các đặc\r\ntrưng, tải, loại kết nối và cáp để thử nghiệm phát xạ và miễn nhiễm là khác\r\nnhau, có thể dẫn đến cần cấu hình lại EUT trong giới hạn của bố trí EUT đồng\r\nnhất.
\r\n\r\nBố trí cáp và đầu nối phải phù hợp\r\nvới các yêu cầu sau.
\r\n\r\n● Cáp phải được định hướng sao cho\r\nkhông có trường bức xạ phân cực thẳng và phân cực ngang. Phải áp dụng qui tắc\r\nbố trí cáp và chiều dài cáp xác định trong tiêu chuẩn sản phẩm về phát xạ và\r\nmiễn nhiễm áp dụng được. Tuy nhiên, trong trường hợp có các yêu cầu mâu thuẫn,\r\nbố trí cáp và chiều dài cáp lớn nhất trong tiêu chuẩn sản phẩm về phát xạ. Có\r\nthể đạt được sự thoả mãn các qui tắc này bằng cách áp dụng qui tắc đặt cáp của\r\ntiêu chuẩn phát xạ và đặt tối thiểu 1 m chiều dài, cáp với các phần nằm ngang hoặc\r\nthẳng đứng lẫn lộn, vào trường điện từ trong khi thử nghiệm miễn nhiễm (trừ khi\r\nyêu cầu kỹ thuật của nhà chế tạo yêu cầu các cáp ngắn hơn). Chiều dài cáp vượt\r\nquá cần được bó lại ở khoảng giữa chiều dài cáp để tạo thành bó có chiều dài từ\r\n30 cm đến 40 cm. Nếu không có thông tin về bố trí cáp trong tiêu chuẩn sản phẩm\r\nvề phát xạ thì áp dụng bố trí dưới đây:
\r\n\r\n● Đối với EUT đặt trên bàn (Hình 11\r\nvà Hình 12), cáp đi ra khỏi thể tích thử nghiệm đồng nhất (tức là, các cáp nối\r\nEUT với phần bên ngoài) phải được đặt vào trường điện từ theo Hình 11 và Hình\r\n12 đối với chiều dài tổng bằng 1 m (± 0,1 m) và sau đó kéo dài hướng thẳng\r\nxuống sàn (với chiều dài tối thiểu là 0,4 m (± 0,04 m) so với mặt phẳng dẫn.\r\nNếu cáp được treo cách mặt phẳng dẫn ít hơn 40 cm mà không thể làm ngắn lại đến\r\nchiều dài thích hợp thì phần cáp vượt quá phải được gập lại và tạo thành bó dài\r\ntừ 30 cm đến 40 cm. Nếu chiều dài lớn nhất do nhà chế tạo công bố đối với một\r\nsố cáp nhất định không cho phép bố trí 1 m cáp nằm ngang kể cả chiều dài để\r\nchạm đến mặt phẳng nền đối với sản phẩm đặt trên bàn (đặt trên bàn có độ cao\r\n0,8 m), thì bố trí nằm ngang phải tùy thuộc vào phần chiều dài vượt quá 0,8 m\r\ncủa cáp. Không yêu cầu bó lại.
\r\n\r\n● Đối với EUT đặt trên sàn (Hình 13\r\nvà Hình 14), cáp nằm ngoài thể tích thử nghiệm đồng nhất phải được bố trí với\r\nchiều dài ít nhất là 0,3 m chạy theo chiều ngang nằm trong thể tích thử nghiệm\r\nvà với phần chạy theo chiều dọc theo sử dụng bình thường điển hình (tuỳ thuộc\r\nvào độ cao so với sàn của cổng I/O). Cáp nằm ngang phải được đặt cách mặt phẳng\r\nnền ở độ cao nhỏ nhất là 10 cm trên toàn bộ chiều dài của cáp dự kiến được bố\r\ntrí dọc theo sàn.
\r\n\r\nCáp giữa các hộp của EUT phải được\r\nxử lý như sau:
\r\n\r\n● Phải sử dụng loại cáp và bộ nối\r\ndo nhà chế tạo qui định.
\r\n\r\n● Nếu yêu cầu kỹ thuật của nhà chế\r\ntạo đòi hỏi chiều dài cáp nhỏ hơn hoặc bằng 3 m thì phải sử dụng chiều dài qui\r\nđịnh. Chiều dài cáp phải chịu trường điện từ là 1 m (± 0,1 m) và phần vượt quá\r\nphải được gập lại và tạo thành bó dài 30 cm đến 40 cm đối với thiết bị đặt trên\r\nbàn (xem Hình 11 và Hình 12) và xấp xỉ 1 m đối với thiết bị đặt trên sàn (xem\r\nHình 13 và 14).
\r\n\r\n● Nếu chiều dài qui định lớn hơn 3\r\nm hoặc không qui định thì chiều dài được chiếu xạ phải là 1 m. Phần cáp vượt\r\nquá phải được kéo ra ngoài thể tích thử nghiệm.
\r\n\r\n● Tổ hợp EUT của thiết bị đặt trên\r\nbàn và thiết bị đặt trên sàn phải được bố trí theo bố trí của từng cấu hình\r\nthiết bị riêng rẽ và cáp liên kết giữa thiết bị đặt trên bàn và thiết bị đặt\r\ntrên sàn phải theo các qui tắc này.
\r\n\r\n● Đối với cáp không được kết cuối\r\ntrong thiết bị phụ thì đầu nối phương thức vi sai và đầu nối phương thức chung\r\ncần được mô phỏng để thể hiện thiết bị phụ được nối với cáp và thể hiện trở\r\nkháng chức năng yêu cầu.
\r\n\r\n● Cáp không nối với thiết bị khác\r\ncó thể được kết cuối như dưới đây (xem thêm 7.3.6.3).
\r\n\r\nCáp đồng trục có chống nhiễu phải\r\nđược kết cuối bằng đầu nối đồng trục (thường là 50 W hoặc 75 W);
\r\n\r\n- Cáp có chống nhiễu với nhiều hơn\r\nmột sợi dây bên trong phải có đầu nối phương thức chung và đầu nối phương thức\r\nvi sai phù hợp với yêu cầu kỹ thuật của nhà chế tạo EUT. Đầu nối phương thức\r\nchung được nối một cách thích hợp giữa sợi dây bên trong hoặc đầu nối phương\r\nthức vi sai và màn chắn cáp. Nếu không có sẵn thông tin về đầu nối phương thức\r\nchung thì nên sử dụng đầu nối phương thức chung 150 W.
\r\n\r\n- Cáp không được chống nhiễu phải\r\ncó đầu nối phương thức vi sai phù hợp với yêu cầu kỹ thuật của nhà chế tạo;
\r\n\r\n- Tất cả các cáp được làm ngắn lại\r\nchiều dài lớn nhất của chúng do nhà chế tạo công bố và được cung cấp đầu nối\r\ngiả để thuận tiện cho thử nghiệm thì cần được cung cấp thêm các đầu nối phương\r\nthức chung 150 W cho vách hoặc sàn của\r\nphòng thử nghiệm.
\r\n\r\nCác hạng mục dưới đây cần được xem\r\nxét với 7.3.6.3.
\r\n\r\n● Nếu EUT cần thiết bị kết hợp (AE)\r\nđể làm việc đúng thì phải hết sức cẩn thận để đảm bảo rằng AE không ảnh hưởng đến\r\nphép đo phát bức xạ hoặc thử nghiệm miễn nhiễm bức xạ. AE có thể được đặt ngoài\r\nphòng hấp thụ hoàn toàn trong khi thử nghiệm nếu sẵn có các giao diện dùng để\r\nnối đúng trên lớp chống nhiễu của phòng. Có thể cần các biện pháp để ngăn ngừa\r\nrò RF vào hoặc ra khỏi phòng hấp thụ hoàn toàn qua cáp kết nối.
\r\n\r\n● Các phương pháp hoặc thiết bị\r\nkhác được sử dụng để giảm các phát xạ không mong muốn từ AE phải được đặt bên\r\nngoài phòng thử nghiệm hoặc bên dưới sàn được nâng lên.
\r\n\r\n● Bố trí thử nghiệm, kể cả bố trí\r\ncáp, yêu cầu kỹ thuật về cáp và đầu nối kèm theo, sử dụng CMAD trên cáp đi ra\r\nkhỏi thể tích thử nghiệm và các biện pháp khác được thực hiện để giảm phát xạ\r\ntừ AE bên ngoài thể tích thử nghiệm phải được mô tả rõ ràng trong báo cáo thử\r\nnghiệm.
\r\n\r\nHình\r\n11 – Bố trí thử nghiệm cho thiết bị đặt trên bàn
\r\n\r\nHình\r\n12 – Bố trí thử nghiệm cho thiết bị đặt trên bàn – Nhìn từ trên xuống
\r\n\r\nHình\r\n13 – Bố trí thử nghiệm cho thiết bị đặt trên sàn
\r\n\r\nHình\r\n14 – Bố trí thử nghiệm cho thiết bị đặt trên sàn – Nhìn từ trên xuống
\r\n\r\n7.5.5. Độ không đảm bảo đo đối\r\nvới bố trí và phương pháp thử nghiệm phát xạ/miễn nhiễm chung
\r\n\r\nLưu ý chung và cơ bản về độ không\r\nđảm bảo đo trong phép đo phát xạ được nêu trong CISPR 16-4-1.
\r\n\r\n7.6. Phòng\r\nhấp thụ hoàn toàn và phép đo OATS/SAC có lót chất hấp thụ (1 GHz đến 18 GHz)
\r\n\r\n7.6.1. Đại lượng cần đo
\r\n\r\nCường độ trường điện do EUT phát ra\r\nở khoảng cách đo là đại lượng cần đo. Kết quả phải được biểu thị theo cường độ\r\ntrường.
\r\n\r\nTrong một số tiêu chuẩn, các giới\r\nhạn phát xạ trên 1 GHz đối với thiết bị được biểu thị theo công suất bức xạ\r\nhiệu dụng (PRE), tính bằng dB (pW). Ở điều kiện trường xa trong\r\nkhông gian tự do, công thức chuyển đổi PRE sang cường độ trường,\r\ntính bằng dB(µV/m) ở khoảng cách 3 m như sau:
\r\n\r\nE3m\r\n= PRE + 7,4 \r\n(7)
\r\n\r\nVới khoảng cách d, tính bằng m,\r\nkhác 3 m:
\r\n\r\nEd\r\n= PRE + 7,4 + 20log
7.6.2. Khoảng cách đo
\r\n\r\nCường độ trường do EUT phát ra được\r\nđo ở khoảng cách ưu tiên là 3 m. Khoảng cách đo, d là khoảng cách nằm ngang\r\ngiữa chu vi của EUT và điểm chuẩn của anten thu (xem Hình 15). EUT bao quanh\r\ntất cả các phần của EUT, kể cả rãnh cáp và thiết bị đỡ và chiều dài cáp nhỏ\r\nnhất bằng 30 cm.
\r\n\r\nTrong thực tế có thể sử dụng các\r\nkhoảng cách khác, như sau:
\r\n\r\n- khoảng cách ngắn hơn, trong\r\ntrường hợp tạp môi trường cao hoặc để giảm ảnh hưởng của các phản xạ không mong\r\nmuốn, nhưng cần lưu ý đảm bảo khoảng cách đo lớn hơn hoặc bằng D2/(2
- khoảng cách lớn hơn đối với các\r\nEUT lớn để cho phép búp sóng anten bao quanh EUT.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Vì các thành phần chủ\r\nyếu của tín hiệu nhiễu của EUT có thể xem là rời rạc và được bức xạ từ điểm\r\nnguồn, nên khoảng cách nhỏ nhất đề cập ở trên, tức là D2/(2
Nếu thực hiện phép đo ở khoảng cách\r\nkhác 3 m (xem CHÚ THÍCH ở trên), khoảng cách đo phải lớn hơn hoặc bằng 1 m và\r\nnhỏ hơn hoặc bằng 10 m. Trong trường hợp này, dữ liệu đo được điều chỉnh về\r\nkhoảng cách 3 m, giả thiết là lan truyền trong không gian tự do. Người sử dụng\r\ncần biết rằng việc so sánh các phép đo ở các khoảng cách khác nhau và việc\r\nngoại suy các kết quả thường sẽ không tương quan như các phép đo được thực hiện\r\nở cùng khoảng cách. Tiêu chuẩn hoặc yêu cầu kỹ thuật đề cập đến phương pháp thử\r\nnghiệm này cần nhận biết khoảng cách đo ưu tiên.
\r\n\r\n7.6.3. Bố trí và điều kiện làm\r\nviệc của thiết bị cần thử nghiệm (EUT)
\r\n\r\nLà hướng dẫn chung, việc bố trí thử\r\nnghiệm và điều kiện làm việc của EUT phải giống như bố trí thử nghiệm và điều\r\nkiện làm việc được sử dụng ở tần số dưới 1 GHz. Trong trường hợp có thể, bố trí\r\nthử nghiệm cần đại diện cho cấu hình điển hình nhất của EUT (đặt trên bàn, đặt\r\ntrên sàn, lắp trong rãnh, lắp trên tường, v.v…).
\r\n\r\nCần xem xét bố trí thử nghiệm đối\r\nvới phép đo ở tần số trên 1 GHz, ở đó thường yêu cầu đặt các chất hấp thụ trên\r\nsàn giữa anten và EUT. Trong trường hợp có thể, đối với các phép đo phát xạ\r\ntrên 1 GHz, cần nâng EUT lên cao hơn độ cao của chất hấp thụ. Nếu không thể\r\nnâng toàn bộ EUT lên cao hơn chất hấp thụ (tức là, đối với thiết bị lắp trong\r\nrãnh hoặc thiết bị đặt trên sàn), thì cần cố gắng đặt cấu hình EUT (ví dụ, bên\r\ntrong rãnh hoặc bệ) sao cho phần tử bức xạ được đặt bên trên chất hấp thụ. EUT\r\nphải được đặt trong thể tích thử nghiệm được thiết lập trong khi kiểm tra hiệu\r\nlực vị trí như mô tả trong TCVN 6989-1-4 (CISPR 16-1-4). Nếu không thể và không\r\nan toàn khi nâng EUT hoặc phần tử phát xạ của nó lên cao hơn chiều cao của chất\r\nhấp thụ thì phạm vi tối đa mà EUT được phép đặt bên dưới điểm cao nhất của chất\r\nhấp thụ là 30 cm (xem 7.6.6.1 và Hình 15).
\r\n\r\nCấu hình EUT thực và bố trí thử\r\nnghiệm được sử dụng phải được ghi trong báo cáo thử nghiệm bằng hình ảnh hoặc\r\nsơ đồ chỉ ra rõ ràng vị trí của EUT so với sàn của thể tích thử nghiệm hoặc bề\r\nmặt của bàn xoay, việc đặt chất hấp thụ trên sàn (độ cao và vị trí) và vị trí\r\ncủa anten thu.
\r\n\r\n7.6.4. Vị trí đo
\r\n\r\nVị trí đo phải phù hợp với các yêu\r\ncầu được qui định trong TCVN 6989-1-4 (CISPR 16-1-4).
\r\n\r\n7.6.5. Dụng cụ đo
\r\n\r\nDụng cụ đo phải phù hợp với các yêu\r\ncầu qui định trong TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1) và TCVN 6989-1-4 (CISPR\r\n16-1-4).
\r\n\r\nPhép đo để xác nhận sự phù hợp với\r\ngiới hạn đỉnh phải được thực hiện với máy phân tích phổ hoặc máy thu đo giá trị\r\nđỉnh sử dụng băng tần đo bằng 1 MHz (băng tần xung) như xác định ở TCVN\r\n6989-1-1 (CISPR 16-1-1).
\r\n\r\nPhép đo để xác nhận sự phù hợp với\r\ngiới hạn trung bình phải được thực hiện với máy phân tích phổ đo giá trị đỉnh\r\nsử dụng băng tần đo bằng 1 MHz (băng tần xung) và băng tần tín hiệu hình giảm\r\nbớt, được đặt như xác định ở TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1). Giá trị của độ rộng\r\nbăng hình được yêu cầu cho phép đo trung bình phải nhỏ hơn thành phần phổ thấp\r\nnhất của tín hiệu đầu vào cần đo.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Máy phân tích phổ có thể\r\nđược sử dụng để thực hiện phép đo trung bình bằng cách đặt chế độ hiển thị\r\ntuyến tính và độ rộng băng hình đến giá trị thấp hơn thành phần phổ thấp nhất\r\ncủa tín hiệu đầu vào cần đo. Ví dụ, nếu tín hiệu đầu vào có tần số lặp xung\r\n(PRF) 1 kHz đối với độ rộng băng hình nhỏ hơn 1 kHz, thì chỉ thành phần một\r\nchiều của tín hiệu (tức là giá trị trung bình) sẽ đi qua bộ lọc hình.
\r\n\r\nViệc sử dụng các loại bộ tách sóng\r\ntrung bình tuyến tính khác phù hợp với các yêu cầu này là được phép. Nói chung,\r\nmáy phân tích phổ phải được đặt ở chế độ hiển thị tuyến tính khi thực hiện phép\r\nđo trung bình, không phải chế độ hiển thị loga. Thời gian rà của máy phân tích\r\nphổ phải được tăng lên, do sử dụng độ rộng băng hình hẹp, để đảm bảo các kết\r\nquả đo chính xác. Cho phép sử dụng phương thức loga đối với các phép đo trung\r\nbình khi các giới hạn trong yêu cầu kỹ thuật cho là sẽ sử dụng bộ tách sóng\r\nloga.
\r\n\r\n7.6.6. Qui trình đo
\r\n\r\n7.6.6.1. Mô tả chung về phương\r\npháp đo trường bức xạ ở tần số trên 1 GHz
\r\n\r\nPhương pháp đo trường bức xạ ở tần\r\nsố trên 1 GHz dựa trên phép đo trường điện lớn nhất phát ra từ EUT, với bố trí\r\nthử nghiệm như thể hiện trên Hình 15.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Vật liệu hấp thụ đặt\r\ntrên mặt phẳng nền chỉ để minh họa. Xem TCVN 6989-1-4 (CISPR 16-1-4) để có\r\nhướng dẫn chi tiết hơn về việc đặt chất hấp thụ phù hợp với yêu cầu của kiểm\r\ntra hiệu lực vị trí.
\r\n\r\nHình\r\n15 – Phương pháp đo ở tần số trên 1 GHz, anten thu có phân cực thẳng
\r\n\r\nÁp dụng các mô tả dưới đây cho tham\r\nsố và thuật ngữ nêu ở Hình 15.
\r\n\r\n● Thể tích thử nghiệm có hiệu lực:\r\nthể tích được kiểm tra trong quá trình kiểm tra hiệu lực vị trí (xem TCVN\r\n6989-1-4 (CISPR 16-1-4)). Thông thường, việc này xác định đường kính lớn nhất\r\ncủa EUT có thể thử nghiệm được trong thể tích thử nghiệm.
\r\n\r\n● EUT (thể tích): Hình trụ có đường\r\nkính nhỏ nhất bao quanh hoàn toàn tất cả các phần của EUT thực, kể cả các rãnh\r\ncáp và các cáp có chiều dài tối thiểu bằng 30 cm. EUT được đặt bên trong hình\r\ntrụ này phải có khả năng quay xung quanh tâm của nó (thông thường bằng bàn xoay\r\nđiều khiển từ xa). EUT phải được định vị bên trong thể tích thử nghiệm có hiệu\r\nlực. Kích thước lớn nhất bằng 30 cm của w (xem định nghĩa về w dưới đây) có thể\r\nnhỏ hơn chiều cao của chất hấp thụ trên sàn chỉ khi EUT đặt trên sàn và không thể\r\nnâng cao hơn độ cao của chất hấp thụ (xem 7.6.3).
\r\n\r\n● q3\r\ndB: Độ rộng búp sóng nhỏ nhất 3 dB của anten thu ở từng tần số cần xét.
● d: Khoảng cách đo (tính bằng\r\nmét). Khoảng cách này được đo là khoảng cách nằm ngang giữa chu vi của EUT và\r\nđiểm chuẩn của anten thu.
\r\n\r\n● w: Kích thước của đường tiếp\r\ntuyến với EUT tạo thành bởi q3 dB\r\nở khoảng cách đo d. Công thức (9) phải được sử dụng để tính w cho từng anten\r\nthực và khoảng cách đo được sử dụng. Giá trị w phải được ghi trong báo cáo thử\r\nnghiệm. Phép tính này có thể dựa vào các yêu cầu kỹ thuật về độ rộng búp sóng\r\ncủa anten thu mà nhà chế tạo cung cấp:
\r\n\r\nw =\r\n2d tg (0,5 q3 dB) (9)
\r\n\r\nw phải là kích thước nhỏ nhất như\r\nqui định ở Bảng 3.
\r\n\r\n● h: Độ cao của anten thu, được đo\r\ntừ điểm chuẩn của nó đến sàn.
\r\n\r\nBảng 3 qui định kích thước nhỏ nhất\r\nchấp nhận được của w (wmin). Yêu cầu tối thiểu chỉ ra trong Bảng 3 được\r\ntính từ công thức (9) dựa trên thử nghiệm ở khoảng cách đo bằng 1 m cho phép\r\nnhỏ nhất qui định ở 7.6.2 và các giá trị của q3\r\ndB(min) được thể hiện. Việc chọn khoảng cách đo d và loại anten phải được\r\nthực hiện sao cho w lớn hơn hoặc bằng giá trị chỉ ra trong Bảng 3 ở tần số bất kỳ\r\nmà trường được đo. ở các tần số không được chỉ ra trong Bảng 3, giới hạn wmin\r\nphải được nội suy tuyến tính giữa hai tần số gần nhất được liệt kê. Bảng 4 đưa\r\nra các giá trị ví dụ của w được tính bằng công thức (9) cho ba loại anten, ở\r\ncác khoảng cách đo bằng 1 m, 3 m và 10 m.
\r\n\r\nPhát xạ lớn nhất được đo bằng cách\r\ndi chuyển anten thu dọc theo chiều cao anten, vừa di chuyển vừa quay EUT theo\r\ncác góc phương vị (từ 0o đến 360o). Phạm vi yêu cầu về\r\nkhảo sát độ cao được qui định dưới đây và được minh họa trong Hình 16 cho hai\r\nloại EUT điển hình.
\r\n\r\nBảng\r\n3 – Kích thước nhỏ nhất của w (wmin)
\r\n\r\n| \r\n Tần\r\n số \r\nGHz \r\n | \r\n \r\n o \r\n | \r\n \r\n wmin \r\nm \r\n | \r\n
| \r\n 1,00 \r\n | \r\n \r\n 60 \r\n | \r\n \r\n 1,15 \r\n | \r\n
| \r\n 2,00 \r\n | \r\n \r\n 35 \r\n | \r\n \r\n 0,63 \r\n | \r\n
| \r\n 4,00 \r\n | \r\n \r\n 35 \r\n | \r\n \r\n 0,63 \r\n | \r\n
| \r\n 6,00 \r\n | \r\n \r\n 27 \r\n | \r\n \r\n 0,48 \r\n | \r\n
| \r\n 8,00 \r\n | \r\n \r\n 25 \r\n | \r\n \r\n 0,44 \r\n | \r\n
| \r\n 10,00 \r\n | \r\n \r\n 25 \r\n | \r\n \r\n 0,44 \r\n | \r\n
| \r\n 12,00 \r\n | \r\n \r\n 25 \r\n | \r\n \r\n 0,44 \r\n | \r\n
| \r\n 14,00 \r\n | \r\n \r\n 25 \r\n | \r\n \r\n 0,44 \r\n | \r\n
| \r\n 16,00 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 0,09 \r\n | \r\n
| \r\n 18,00 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 0,09 \r\n | \r\n
| \r\n CHÚ THÍCH 1: Kích thước, w, được\r\n phép lớn hơn kích thước nhỏ nhất được chỉ ra và có thể sử dụng anten khác và\r\n khoảng cách khác để thoả mãn giá trị nhỏ nhất yêu cầu của w = wmin\r\n được chỉ ra, với điều kiện là đáp ứng công thức (9). \r\nCHÚ THÍCH 2: Vì yêu cầu đo cả hai\r\n phân cực cho từng độ cao của anten thu nên w tạo thành diện tích hình vuông\r\n quan sát nhỏ nhất bằng w2(m2). \r\nCHÚ THÍCH 3: Trong một số trường\r\n hợp, w có thể chứa nhiều thành phần của EUT được tách riêng rẽ về vật lý. Ví\r\n dụ, nhiều tủ riêng rẽ của hệ thống nhiều tủ được thử nghiệm đồng thời. \r\nCHÚ THÍCH 4: Yêu cầu về quét độ\r\n cao phụ thuộc vào w sao cho có thể tạo thuận lợi để tối đa hóa w bằng cách\r\n chọn anten có độ rộng búp sóng rộng hơn và khoảng cách đo lớn hơn so với yêu\r\n cầu tối thiểu được chỉ ra. \r\nCHÚ THÍCH 5: Dạng và độ rộng búp\r\n sóng của anten được sử dụng có thể ảnh hưởng đến kết quả đo. Anten có ít nhất\r\n hai hệ số ảnh hưởng ngoài độ không đảm bảo đo trong hệ số anten: 1) nhấp nhô\r\n hoặc sự bất thường khác trong dạng anten và 2) độ rộng búp sóng khác nhau giữa\r\n các anten mà cho các kết quả khác nhau tùy thuộc vào việc có bao nhiêu phát\r\n xạ (về kết cấu) phát ra từ các vị trí vật lý riêng rẽ trên EUT rơi vào độ\r\n rộng búp sóng của anten. \r\n | \r\n ||
Bảng\r\n4 – Giá trị ví dụ của w đối với ba loại anten
\r\n\r\n| \r\n Frequency \r\nGHz \r\n | \r\n \r\n Loa\r\n DRG \r\n | \r\n \r\n LPDA\r\n or LPDA-Va \r\n | \r\n ||||||
| \r\n Độ \r\n | \r\n \r\n d\r\n = 1m \r\n | \r\n \r\n d\r\n = 3m \r\n | \r\n \r\n d\r\n = 10m \r\n | \r\n \r\n Độ \r\n | \r\n \r\n d\r\n = 1m \r\n | \r\n \r\n d\r\n = 3m \r\n | \r\n \r\n d\r\n = 10m \r\n | \r\n |
| \r\n w | \r\n \r\n w | \r\n \r\n w | \r\n \r\n w | \r\n \r\n w | \r\n \r\n w | \r\n |||
| \r\n 1,00 \r\n | \r\n \r\n 60 \r\n | \r\n \r\n 1,15 \r\n | \r\n \r\n 3,46 \r\n | \r\n \r\n 11,55 \r\n | \r\n \r\n 60 \r\n | \r\n \r\n 1,15 \r\n | \r\n \r\n 3,46 \r\n | \r\n \r\n 11,55 \r\n | \r\n
| \r\n 2,00 \r\n | \r\n \r\n 35 \r\n | \r\n \r\n 0,63 \r\n | \r\n \r\n 1,89 \r\n | \r\n \r\n 6,31 \r\n | \r\n \r\n 55 \r\n | \r\n \r\n 1,04 \r\n | \r\n \r\n 3,12 \r\n | \r\n \r\n 10,41 \r\n | \r\n
| \r\n 4,00 \r\n | \r\n \r\n 35 \r\n | \r\n \r\n 0,63 \r\n | \r\n \r\n 1,89 \r\n | \r\n \r\n 6,31 \r\n | \r\n \r\n 55 \r\n | \r\n \r\n 1,04 \r\n | \r\n \r\n 3,12 \r\n | \r\n \r\n 10,41 \r\n | \r\n
| \r\n 6,00 \r\n | \r\n \r\n 27 \r\n | \r\n \r\n 0,48 \r\n | \r\n \r\n 1,44 \r\n | \r\n \r\n 4,80 \r\n | \r\n \r\n 55 \r\n | \r\n \r\n 1,04 \r\n | \r\n \r\n 3,12 \r\n | \r\n \r\n 10,41 \r\n | \r\n
| \r\n 8,00 \r\n | \r\n \r\n 25 \r\n | \r\n \r\n 0,44 \r\n | \r\n \r\n 1,33 \r\n | \r\n \r\n 4,43 \r\n | \r\n \r\n 50 \r\n | \r\n \r\n 0,93 \r\n | \r\n \r\n 2,80 \r\n | \r\n \r\n 9,33 \r\n | \r\n
| \r\n 10,00 \r\n | \r\n \r\n 25 \r\n | \r\n \r\n 0,44 \r\n | \r\n \r\n 1,33 \r\n | \r\n \r\n 4,43 \r\n | \r\n \r\n 50 \r\n | \r\n \r\n 0,93 \r\n | \r\n \r\n 2,80 \r\n | \r\n \r\n 9,33 \r\n | \r\n
| \r\n 12,00 \r\n | \r\n \r\n 25 \r\n | \r\n \r\n 0,44 \r\n | \r\n \r\n 1,33 \r\n | \r\n \r\n 4,43 \r\n | \r\n \r\n 50 \r\n | \r\n \r\n 0,93 \r\n | \r\n \r\n 2,80 \r\n | \r\n \r\n 9,33 \r\n | \r\n
| \r\n 14,00 \r\n | \r\n \r\n 25 \r\n | \r\n \r\n 0,44 \r\n | \r\n \r\n 1,33 \r\n | \r\n \r\n 4,43 \r\n | \r\n \r\n 45 \r\n | \r\n \r\n 0,83 \r\n | \r\n \r\n 2,49 \r\n | \r\n \r\n 8,28 \r\n | \r\n
| \r\n 16,00 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 0,09 \r\n | \r\n \r\n 0,26 \r\n | \r\n \r\n 0,87 \r\n | \r\n \r\n 40 \r\n | \r\n \r\n 0,73 \r\n | \r\n \r\n 2,18 \r\n | \r\n \r\n 7,28 \r\n | \r\n
| \r\n 18,00 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 0,09 \r\n | \r\n \r\n 0,26 \r\n | \r\n \r\n 0,87 \r\n | \r\n \r\n 40 \r\n | \r\n \r\n 0,73 \r\n | \r\n \r\n 2,18 \r\n | \r\n \r\n 7,28 \r\n | \r\n
| \r\n a LPDA-V: Giàn anten\r\n lưỡng cực chu kỳ loga loại V. Giá trị chỉ ra đối với q3 dB và w là điển hình cho LPDA và LPDA-V. Tuy\r\n nhiên, các anten này thường có độ lợi khác nhau. \r\n | \r\n ||||||||
\r\n\r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n a)\r\n w chứa chiều cao EUT | \r\n \r\n b)\r\n w không chứa chiều cao EUT | \r\n
Hình\r\n16 – Minh họa yêu cầu về quét theo độ cao cho hai loại EUT khác nhau
\r\n\r\nĐối với EUT bất kỳ có kích thước\r\nlớn nhất nhỏ hơn hoặc bằng w, tâm của anten thu phải được cố định ở độ cao của\r\ntâm của EUT (xem Hình 16 a)). Đối với EUT bất kỳ có kích thước thẳng đứng lớn\r\nnhất lớn hơn w, tâm của anten phải được quét theo chiều thẳng đứng dọc theo\r\nđường thẳng song song với w, như thể hiện trên Hình 16 b). Dải quét yêu cầu đối\r\nvới h là 1 m đến 4 m. Nếu chiều cao của EUT nhỏ hơn 4 m thì không yêu cầu quét\r\ntâm của anten thu đến độ cao phía trên mặt trên cùng của EUT. Trong cả hai\r\ntrường hợp, độ cao cố định, h, hoặc dải độ cao khảo sát phải được ghi trong báo\r\ncáo thử nghiệm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Khi yêu cầu quét độ cao\r\ncho mỗi đoạn ở trên, nên quét độ cao liên tục trong dải độ cao yêu cầu để đạt\r\nđược phát xạ cuối cùng lớn nhất. Nếu sử dụng số gia độ cao theo nấc thì cần chú\r\ný để đảm bảo rằng số gia độ cao là đủ nhỏ để thu được phát xạ lớn nhất.
\r\n\r\nVề phạm vi theo chiều ngang của w,\r\nkhông yêu cầu EUT nằm hoàn toàn bên trong w. Trong trường hợp chiều rộng EUT\r\nlớn hơn w, EUT phải được định tâm theo chiều ngang trên trục đo, và việc quay\r\nEUT sẽ tạo ra quét theo chiều ngang cần thiết để xác định cường độ trường lớn\r\nnhất. Không yêu cầu quét theo đường nằm ngang (quét ngang) bằng cách di chuyển\r\nanten thu theo chiều ngang ra khỏi trục đo nhưng có thể sử dụng nếu được qui\r\nđịnh trong tiêu chuẩn sản phẩm.
\r\n\r\n7.6.6.2. Phép đo sử dụng bộ tách\r\nsóng qui ước (không thống kê)
\r\n\r\n7.6.6.2.1. Qui trình đo chung
\r\n\r\nĐối với EUT bất kỳ, tần số phát xạ\r\ntrước hết cần được phát hiện bằng qui trình cực đại hóa phát xạ sơ bộ (xem\r\n7.6.6.2.2). Sau đó thực hiện thử nghiệm phát xạ cuối (xem 7.6.6.2.3). Cả hai\r\nphép đo này được ưu tiên thực hiện ở khoảng cách giới hạn. Nếu, vì lý do nào\r\nđó, phép đo cuối được thực hiện ở khoảng cách khác với khoảng cách giới hạn,\r\nthì trước tiên cần thực hiện phép đo ở khoảng cách giới hạn, giúp cho việc giải\r\nthích dữ liệu thu được trong trường hợp có mâu thuẫn.
\r\n\r\nKhi thực hiện các phép đo này, độ\r\nnhạy của thiết bị đo liên quan đến giới hạn phải được xác định trước khi thử\r\nnghiệm. Nếu độ nhạy toàn bộ phép đo không thỏa đáng thì có thể sử dụng bộ\r\nkhuếch đại tạp thấp, khoảng cách đo gần hơn hoặc anten có độ lợi cao hơn. Nếu\r\nsử dụng khoảng cách đo gần hơn hoặc anten có độ lợi cao hơn, thì độ rộng búp\r\nsóng so với kích thước của EUT phải được tính đến. Mức quá tải của hệ thống đo\r\nphải được xác định là thích hợp khi sử dụng bộ tiền khuếch đại.
\r\n\r\nBảo vệ cháy và bão hòa đối với\r\ntrang thiết bị đo được yêu cầu khi cần đo phát xạ mức thấp khi có tín hiệu mức\r\ncao. Có thể sử dụng kết hợp các mạch lọc thông dải, chặn dải, thông thấp và\r\nthông cao. Tuy nhiên, phải biết tổn hao do các mạch lọc này hoặc cơ cấu bất kỳ\r\nkhác ở tần số đo và đưa chúng vào tính toán trong báo cáo các phép đo.
\r\n\r\nChú thích: Phương pháp đơn giản để\r\nxác định xem các hiệu ứng phi tuyến (quá tải, bão hòa, v.v…) có xuất hiện không\r\ngồm có việc lắp một bộ suy giảm 10 dB tại đầu vào của thiết bị đo (phía trước\r\nbộ tiền khuếch đại, nếu sử dụng bộ tiền khuếch đại) và kiểm tra xác nhận xem\r\nbiên độ của tất cả các hài của tín hiệu biên độ cao (có thể gây nên các hiệu\r\nứng phi tuyến) có giảm đi 10 dB không.
\r\n\r\n7.6.6.2.2. Qui trình đo sơ bộ
\r\n\r\nCác qui trình ở điều này chỉ dùng\r\nđể tham khảo – yêu cầu đo qui định được liệt kê ở 7.6.6.2.3. Phát bức xạ tối đa\r\nđối vối phương thức làm việc cho trước có thể tìm được trong thử nghiệm sơ bộ.\r\nĐể giảm thiểu thời gian đo, đầu tiên nên thực hiện phép đo sử dụng bộ tách sóng\r\nđỉnh rồi sau đó so sánh kết quả thử nghiệm với giới hạn trung bình. Phép đo\r\ntiếp theo với bộ tách sóng trung bình và so sánh kết quả với giới hạn trung\r\nbình chỉ thực hiện trong dải tần số mà giới hạn trung bình bị vượt quá bởi dữ\r\nliệu thu thập được với tách sóng đỉnh.
\r\n\r\nHướng dẫn về qui trình sơ bộ để\r\nnhận biết phát bức xạ như dưới đây.
\r\n\r\na) Sử dụng phương thức quét hoặc rà\r\ntrên toàn bộ dải tần của anten sử dụng phương thức tách sóng đỉnh và lưu giữ\r\nđường quét lớn nhất.
\r\n\r\nb) Thời gian rà hoặc quét đúng cần\r\nđược xác định để đảm bảo việc chặn tín hiệu thích hợp.
\r\n\r\nc) Nếu cần, trong quá trình thử\r\nnghiệm sơ bộ, có thể giảm độ rộng băng tần phân giải ở phương thức rà để giảm\r\nmức tạp hiển thị của máy phân tích phổ hoặc máy thu. Lưu ý rằng điều này có thể\r\ngiảm biên độ của phát xạ băng rộng do đó kiểm tra thêm để xác định xem phát xạ\r\nlà băng rộng hay băng hẹp là cần thiết.
\r\n\r\nd) Quay EUT liên tục hoặc theo nấc\r\n15o hoặc nhỏ hơn, sau đó lặp lại đối với phân cực khác. Nên quay EUT 360o\r\nvề phương vị cho cả hai phân cực để xác định phát xạ lớn nhất ở từng tần số cần\r\nxét.
\r\n\r\ne) Đối với bàn phương thức quay\r\nbằng bàn xoay liên tục, thời gian rà của máy phân tích phổ cần được đặt sao cho\r\nkhoảng tần số được chọn có thể được rà trong thời gian nhỏ hơn hoặc bằng thời\r\ngian cần thiết để bàn xoay quay 15o. Nếu tốc độ quay của bàn xoay\r\nsao cho góc rộng hơn 15o được bao trùm trong khi rà hoặc quét hoàn\r\ntoàn bằng máy phân tích phổ, thì cần sử dụng dải tần số nhỏ hơn để giảm thời\r\ngian rà của máy phân tích phổ và đạt được độ quay của bàn xoay lớn nhất là 15o \r\ncho mỗi lần rà.
\r\n\r\nf) Để nhận biết các tần số của phát\r\nxạ lớn nhất, có thể áp dụng phương pháp được mô tả ở trên cho tất cả các mức độ\r\ncao yêu cầu ở 7.6.6.1 (và Hình 16) và cho các phương thức làm việc khác nhau\r\ncủa EUT.
\r\n\r\ng) Để đánh giá thêm tần số tìm được\r\ntrong các bước từ a) đến d), sử dụng khoảng tần số nhỏ (thường nhỏ hơn hoặc\r\nbằng 5 MHz) và khảo sát xung quanh các tần số gần giới hạn sử dụng thêm số gia\r\nbàn xoay và nấc độ cao của bàn xoay nhỏ hơn. Thông thường, tất cả các tần số\r\nnằm trong khoảng xấp xỉ 10 dB của giới hạn qui định sẽ đảm bảo việc khảo sát\r\nthêm ở khoảng tần số hẹp và số gia về góc quay/độ cao nhỏ hơn bổ sung.
\r\n\r\n7.6.6.2.3. Qui trình đo cuối
\r\n\r\nCường độ trường phát ra bởi EUT ở\r\nkhoảng cách đo cho trước được đo sử dụng cấu hình (độ cao anten, góc phương vị\r\nEUT, v.v…) để tạo ra phát xạ lớn nhất như được xác định trong quá trình tối đa\r\nhóa phát xạ sơ bộ (anten thu thẳng hàng với phát xạ lớn nhất này). Các phép đo\r\ncuối phải được thực hiện sử dụng phương thức làm việc của EUT được nhận biết\r\nbởi các phép đo sơ bộ để có phát xạ cao nhất.
\r\n\r\nPhép đo cuối này phải là kết quả\r\ncủa việc lưu giữ đường quét lớn nhất trên máy phân tích phổ trong thời gian cho\r\ntrước tỷ lệ với khoảng tần số được sử dụng. Thời gian cho trước này cần được\r\nxác định cho từng sản phẩm hoặc họ sản phẩm, có tính đến khoảng thời gian của\r\ncác phương thức làm việc và hằng số thời gian kết hợp với từng sản phẩm cụ thể\r\ncần thử nghiệm. Phép đo cuối phải được thực hiện sử dụng tất cả các bộ tách\r\nsóng yêu cầu. Một cách khác, có thể sử dụng kết quả đo đỉnh để thể hiện sự phù\r\nhợp với tất cả các giới hạn qui định.
\r\n\r\nNếu cấu hình của EUT (độ cao anten,\r\ngóc phương vị EUT, phương thức làm việc, v.v…) tạo ra phát xạ lớn nhất không\r\nđược xác định chắc chắn bằng phép đo sơ bộ thì phải thực hiện các phép đo bổ\r\nsung sau:
\r\n\r\na) Đối với EUT bất kỳ có kích thước\r\nlớn nhất nhỏ hơn hoặc bằng w, tâm của anten thu phải được cố định ở độ cao của\r\ntâm của EUT (xem Hình 16 a)).
\r\n\r\nb) Đối với EUT bất kỳ có kích thước\r\nthẳng đứng lớn nhất lớn hơn w, quét theo độ cao phải được thực hiện theo các\r\nyêu cầu về quét theo độ cao (biên trên và biên dưới) qui định ở 7.6.6.1.
\r\n\r\nc) Trong mọi trường hợp, để tìm\r\nđược phát xạ lớn nhất, EUT phải được quay theo góc phương vị qua tất cả các góc\r\ntrong dải từ 0o đến 360o và phải thực hiện phép đo cho cả\r\nphân cực ngang và phân cực thẳng.
\r\n\r\nTóm lại, yêu cầu đối với phép đo\r\ncuối ở tần số trên 1 GHz như sau:
\r\n\r\n1) Quay EUT theo góc phương vị từ 0o\r\nđến 360o bằng bàn xoay hoặc di chuyển anten thu xung quanh thể tích\r\nthử nghiệm.
\r\n\r\n2) Anten thu phải được quét theo độ\r\ncao nếu chiều cao của EUT cao hơn w theo phương thẳng đứng.
\r\n\r\n3) Phải kiểm tra cả phân cực ngang\r\nvà phân cực thẳng.
\r\n\r\n7.6.6.3. Phép đo sử dụng hàm\r\nphân bố xác suất biên độ (thống kê)
\r\n\r\n7.6.6.3.1. Yêu cầu chung
\r\n\r\nĐo phân bố xác suất biên độ (APD)\r\ncủa tín hiệu nhiễu cung cấp đặc tính thống kê của tín hiệu nhiễu cần xét. Tài\r\nliệu cơ bản cho ứng dụng hàm đo APD được nêu trong 4.6 của CISPR 16.3 [2]. Ban\r\nkỹ thuật về sản phẩm có thể chọn phép đo APD làm phương pháp sử dụng cho thử\r\nnghiệm phát xạ cuối. Phải thực hiện phép đo APD ở các tần số mà EUT phát ra\r\ncường độ trường nhiễu cao. Số lượng và phương pháp lựa chọn tần số phải do ban\r\nkỹ thuật sản phẩm thiết lập.
\r\n\r\nPhải thực hiện phép đo sử dụng một\r\ntrong hai phương pháp dưới đây. Phương pháp đầu tiên là đo mức nhiễu Emeas\r\ntính bằng dB(µV/m) liên quan đến xác suất thời gian qui định plimit,\r\nđược gọi là Phương pháp 1 (xem 7.6.6.3.2). Phương pháp thứ hai là đo xác suất\r\nthời gian pmeas mà trong thời gian đó đường bao nhiễu vượt quá mức\r\nqui định Elimit, tính bằng dB(µV/m), được gọi là Phương pháp 2 (xem\r\n7.6.6.3.3). Thông tin thêm và các hình vẽ được cho trong Phụ lục D để chỉ ra cụ\r\nthể hai phương pháp đo APD.
\r\n\r\nNếu ban kỹ thuật về sản phẩm quyết\r\nđịnh sử dụng cách tiếp cận APD thì phải chọn phương pháp 1 hoặc phương pháp 2.\r\nNếu dụng cụ đo APD không có bộ chuyển đổi A/D thì chỉ được sử dụng phương pháp\r\n2. Nếu dụng cụ đo APD có chuyển đổi A/D, thì có thể sử dụng phương pháp 1 hoặc\r\nphương pháp 2.
\r\n\r\nSố cặp giới hạn (Elimt,\r\nplimit) và giá trị của chúng phải được ban kỹ thuật về sản phẩm qui\r\nđịnh. Ban kỹ thuật về sản phẩm cũng phải quyết định xem có sử dụng thêm giới\r\nhạn đỉnh cùng với các giới hạn APD hay không.
\r\n\r\n7.6.6.3.2. Phương pháp 1 – Đo\r\nmức nhiễu
\r\n\r\nPhải thực hiện phép đo theo qui\r\ntrình sau:
\r\n\r\n1) Đặt băng tần phân giải (RBW) và\r\nbăng tần tín hiệu hình (VBW) của máy phân tích phổ theo TCVN 6989-1-1 (CISPR\r\n16-1-1) (đối với các phép đo ở tần số lớn hơn 1 GHz).
\r\n\r\n2) Tìm các tần số tại đó quan sát\r\nđược nhiễu cao. Điều này có thể thực hiện được bằng cách sử dụng chức năng lưu\r\ngiữ đường quét lớn nhất trong khoảng tần số cần xét. Phải sử dụng tách sóng\r\nđỉnh khi áp dụng qui trình này.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Trong các trường hợp khi\r\nphát xạ băng hẹp bị che bởi phát xạ băng rộng thì phương thức lưu giữ đường\r\nquét lớn nhất kết hợp với bộ tách sóng đỉnh có thể bỏ qua phát xạ băng hẹp. Do\r\nđo, có thể cần đo thêm để tìm ra các tần số của phát xạ băng hẹp cần đo. Ban kỹ\r\nthuật về sản phẩm có thể yêu cầu thực hiện thêm việc rà sử dụng bộ tách sóng\r\ntrung bình hoặc lấy trung bình tín hiệu hình digital. Ngoài ra, số lượng tần số\r\ndùng cho phép đo APD cũng có thể được ban kỹ thuật sản phẩm qui định.
\r\n\r\n3) Xác định các tần số dùng cho\r\nphép đo APD. Số lượng tần số phải do ban kỹ thuật sản phẩm qui định.
\r\n\r\n4) Đặt tần số giữa của máy phân\r\ntích phổ đến tần số tại đó quan sát được mức cao nhất trong quá trình áp dụng\r\nbước 2) của qui trình này.
\r\n\r\n5) Đặt mức chuẩn của máy phân tích\r\nphổ đến mức lớn hơn tối thiểu 5 dB so với mức lớn nhất của nhiễu thu được trong\r\nbước 2).
\r\n\r\n6) Đặt máy phân tích phổ đến phương\r\nthức khoảng tần số bằng “0” và đo APD của nhiễu trong khoảng thời gian đo do\r\nban kỹ thuật sản phẩm qui định. Thời gian đo phải dài hơn thời gian nhiễu.
\r\n\r\nTrong trường hợp tần số nhiễu dao\r\nđộng, ban kỹ thuật sản phẩm phải qui định dải tần số XX (tính bằng MHz) trong\r\nđó phải đo APD của nhiễu. APD trong dải XX MHz phải được đo với cỡ bước tần số\r\n1 MHz. Tuy nhiên, đối với các dải tần số có giá trị đo APD lớn hơn -6 dB so với\r\ngiới hạn APD thì có thể cần các phép đo bổ sung với cỡ bước tần số nhỏ hơn (ví\r\ndụ, 0,5 MHz). Ban kỹ thuật sản phẩm phải xác định cỡ bước tần số nhỏ hơn này.
\r\n\r\n7) Thay đổi tần số giữa của máy\r\nphân tích phổ đến tần số tiếp theo được xác định ở bước 2) rồi lặp lại các qui\r\ntrình từ bước 4) đến bước 6) cho đến khi thực hiện phép đo APD ở tất cả các tần\r\nsố.
\r\n\r\n8) Đọc mức nhiễu Emeas\r\ndB(µV/m) liên quan đến xác suất qui định plimit từ các kết quả ở\r\nbước 6).
\r\n\r\n9) So sánh Emeas dB(µV/m)\r\nvới giới hạn Elimit dB(µV/m). EUT phù hợp nếu Emeas nhỏ\r\nhơn hoặc bằng Elimit ở tất cả các tần số.
\r\n\r\n7.6.6.3.3. Phương pháp 2 – Đo\r\nxác suất thời gian
\r\n\r\nPhải thực hiện phép đo theo qui\r\ntrình sau:
\r\n\r\nCác bước 1), 2), 3), 4), 5) và 7)\r\ncủa phương pháp 2 giống với các bước tương ứng của phương pháp 1 (7.6.6.3.2).
\r\n\r\nĐối với phương pháp 2, thay đổi\r\nbước 6), bước 8) và bước 9) của phương pháp 1 như sau:
\r\n\r\n6) Đặt máy phân tích phổ đến chế độ\r\nkhoảng tần số bằng “0” và đo APD (hoặc đo xác suất pmeas liên quan trực tiếp\r\nđến các mức qui định) của nhiễu trong khoảng thời gian đo do ban kỹ thuật sản\r\nphẩm qui định.
\r\n\r\n8) Đọc xác suất pmeas mà\r\ntrong đó đường bao nhiễu vượt quá mức qui định Elimit, tính bằng dB(µV/m)\r\ntừ các kết quả ở bước 6).
\r\n\r\n9) So sánh pmeas với\r\ngiới hạn plimit. EUT phù hợp nếu pmeas nhỏ hơn hoặc bằng\r\nplimit ở tất cả các tần số.
\r\n\r\n7.6.7. Độ không đảm bảo đo đối\r\nvới phòng hấp thụ hoàn toàn
\r\n\r\nLưu ý chung và cơ bản về độ không\r\nđảm bảo đo trong phép đo phát xạ được nêu trong CISPR 16-4-1.
\r\n\r\n7.7. Phép đo\r\ntại hiện trường (9 kHz đến 18 GHz)
\r\n\r\n7.7.1. Khả năng áp dụng và việc\r\nchuẩn bị cho các phép đo tại hiện trường
\r\n\r\nCó thể cần đo tại hiện trường để\r\nxem xét vấn đề nhiễu ở vị trí cụ thể, tức là nơi mà thiết bị có khả năng gây ra\r\nnhiễu cho việc thu tín hiệu rađiô ở vùng lân cận. Khi tiêu chuẩn sản phẩm liên\r\nquan cho phép, có thể thực hiện phép đo tại hiện trường để đánh giá sự phù hợp\r\nnếu vì lý do kỹ thuật không thể thực hiện phép đo phát bức xạ ở vị trí thử\r\nnghiệm tiêu chuẩn. Các lý do kỹ thuật đối với phép đo tại hiện trường là kích\r\ncỡ và/hoặc trọng lượng của EUT quá lớn hoặc trường hợp mà việc liên kết đến cơ\r\nsở hạ tầng cho EUT là quá đắt đối với phép đo tại vị trí thử nghiệm tiêu chuẩn.\r\nKết quả đo tại hiện trường của EUT thông thường sẽ sai lệch từ vị trí này sang\r\nvị trí khác hoặc sai lệch so với kết quả đạt được ở vị trí thử nghiệm tiêu\r\nchuẩn và do đó không thể sử dụng cho thử nghiệm điển hình.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Tuy nhiên, nhìn chung\r\ndo sự khiếm khuyết ví dụ như ghép nối tương hỗ giữa các kết cấu dẫn, thường có\r\ntrong môi trường tại hiện trường mà cũng có thể ít nhiều bị hỏng bởi trường\r\nđiện từ xung quanh, và anten/thiết bị đo cần thử nghiệm nên các phép đo tại\r\nhiện trường không thể thay thế hoàn toàn các phép đo ở vị trí thử nghiệm thích\r\nhợp [vị trí thử nghiệm thoáng hoặc vị trí thử nghiệm thay thế, ví dụ phòng hấp\r\nthụ hoàn toàn (bán hấp thụ)] như qui định ở TCVN 6989-1-4 (CISPR 16-1-4).
\r\n\r\nEUT thường gồm một hoặc nhiều thiết\r\nbị và/hoặc hệ thống là một phần của hệ thống lắp đặt hoặc được nối liên kết với\r\nhệ thống lắp đặt. Phần ngoại vi để nối các bộ phận bên ngoài của EUT thường\r\nđược lấy làm điểm chuẩn để xác định khoảng cách đo. Trong một số tiêu chuẩn sản\r\nphẩm, các vách bên ngoài hoặc biên của các công viên thương mại hoặc khu vực\r\ncông nghiệp thì được lấy làm điểm chuẩn.
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo sơ bộ để\r\nxác định tần số và biên độ của cường độ trường nhiễu trong số các tín hiệu môi\r\ntrường xung quanh, có tính đến các nguồn nhiễu tiềm ẩn (ví dụ, máy dao động)\r\ntrong EUT. Đối với các phép đo này, nên sử dụng máy phân tích phổ thay cho máy\r\nthu vì có thể phải phân tích phổ tần rộng. Để nhận biết tần số và biên độ của\r\ncác tín hiệu nhiễu, nên sử dụng đầu dò dòng điện trên cáp nối hoặc đầu dò\r\ntrường gần hoặc anten đo đặt gần EUT.
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo ở các\r\ntần số được chọn để xác định, trong trường hợp có thể, các phương thức làm việc\r\nmà EUT phát ra cường độ trường nhiễu cao nhất. Các phép đo tiếp theo phải được\r\nthực hiện với EUT ở các phương thức làm việc này.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Trong trường hợp EUT\r\nlà một thiết bị mà việc chuyển phương thức làm việc phải phụ thuộc vào thiết bị\r\nkhác thì việc chọn các điều kiện để tạo ra các nhiễu cao nhất có thể không thực\r\nhiện được. Đối với một số thiết bị và phương thức làm việc, các điều kiện này\r\ncó thể phụ thuộc vào thời gian, đặc biệt là nếu hoạt động chu kỳ. Trong các\r\ntrường hợp như vậy, thời gian quan sát cần được chọn để đạt được điều kiện tạo\r\nra nhiễu cao nhất. Phải thực hiện các phép đo xung quanh EUT ở khoảng cách đo\r\nxấp xỉ nhau cho từng tần số được chọn để xác định hướng của cường độ trường\r\nnhiễu cao nhất. EUT cần được thử nghiệm theo ít nhất ba hướng khác nhau. Các\r\nphép đo cường độ trường nhiễu cuối cho từng tần số phải được thực hiện theo các\r\nhướng có cường độ trường nhiễu cao nhất mà có thể thay đổi từ tần số này sang\r\ntần số khác, có tính đến các điều kiện cục bộ (môi trường xung quanh). Cường độ\r\ntrường nhiễu cao nhất phải được đo với anten ở cả phân cực thẳng và phân cực\r\nngang. Nếu tỷ số giữa cường độ trường nhiễu đo được và phát xạ môi trường xung\r\nquanh bất kỳ thấp hơn 6 dB thì có thể sử dụng phương pháp đo mô tả trong Phụ\r\nlục A.
\r\n\r\n7.7.2. Đo cường độ trường tại\r\nhiện trường trong dải tần từ 9 kHz đến 30 MHz
\r\n\r\n7.7.2.1. Phương pháp đo
\r\n\r\nPhải đo cường độ nhiễu trường từ\r\ntheo hướng có bức xạ tối đa, với EUT ở phương thức làm việc phát ra cường độ\r\ntrường nhiễu cao nhất.
\r\n\r\nPhải đo cường độ trường nhiễu phân\r\ncực ngang ở khoảng cách đo tiêu chuẩn dlimit sử dụng anten vòng như mô tả ở\r\n4.3.2 của TCVN 6989-1-4 (CISPR 16-1-4) ở độ cao bằng 1 m (giữa nền và phần thấp\r\nnhất của anten). Cường độ trường nhiễu lớn nhất phải được xác định bằng cách\r\nquay anten.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đối với phép đo cường độ\r\ntrường nhiễu lớn nhất dọc theo các đường hướng tâm được bố trí theo hướng bất\r\nkỳ, cần hướng anten theo ba hướng vuông góc nhau, và cường độ trường cần đo\r\nđược tính bởi:
\r\n\r\nTrong trường hợp các giới hạn được\r\ncho đối với trường E tương đương nhưng cường độ trường đo được lại là các thành\r\nphần từ thì cường độ trường H có thể được chuyển đổi về cường độ trường E tương\r\nứng bằng cách nhân giá trị đọc của trường H với trở kháng không gian tự do 377
Giá trị trường H có thể được sử\r\ndụng trực tiếp trong trường hợp đưa ra các giới hạn trực tiếp cho cường độ\r\ntrường từ.
\r\n\r\nNếu anten không thể định hướng theo\r\nba hướng vuông góc nhau thì có thể quay bằng tay theo hướng có giá trị đọc lớn\r\nnhất đối với phép đo cường độ trường nhiễu lớn nhất.
\r\n\r\n7.7.2.2. Khoảng cách đo khác\r\nkhoảng cách tiêu chuẩn
\r\n\r\nNếu không thể thực hiện ở khoảng\r\ncách tiêu chuẩn dlimit như qui định trong tiêu chuẩn sản phẩm hoặc\r\ntiêu chuẩn chung thì nên thực hiện phép đo ở khoảng cách nhỏ hơn hoặc lớn hơn\r\nkhoảng cách đo tiêu chuẩn theo hướng của bức xạ lớn nhất. Phải sử dụng ít nhất\r\nba phép đo ở khoảng cách đo khác nhau nhỏ hơn hoặc lớn hơn khoảng cách đo tiêu\r\nchuẩn nếu không thể sử dụng khoảng cách tiêu chuẩn.
\r\n\r\nKết quả đo (tính bằng đêxiben) phải\r\nđược vẽ thành đồ thị là hàm số của khoảng cách đo trên thang logarit. Vẽ một\r\nđường để nối các kết quả đo lại. Đường này thể hiện độ giảm cường độ trường và\r\ncó thể được dùng để xác định cường độ trường nhiễu ở khoảng cách không phải là\r\nkhoảng cách đo, ví dụ ở khoảng cách tiêu chuẩn.
\r\n\r\n7.7.3. Đo cường độ trường tại\r\nhiện trường trong dải tần trên 30 MHz
\r\n\r\n7.7.3.1. Phương pháp đo
\r\n\r\nCường độ nhiễu trường điện phải\r\nđược đo theo hướng bức xạ lớn nhất ở khoảng cách tiêu chuẩn với EUT ở phương\r\nthức làm việc phát ra cường độ trường nhiễu cao nhất. Phải đo cường độ trường\r\nnhiễu theo phân cực ngang và phân cực thẳng lớn nhất bằng anten băng rộng có độ\r\ncao thay đổi từ 1 m đến 4 m trong chừng mực có thể. Giá trị cao nhất phải được\r\nlấy làm giá trị đo.
\r\n\r\nNên sử dụng anten hình nón kép để\r\nđo ở dải tần đến 200 MHz và anten chu kỳ loga để đo ở dải tần trên 200 MHz.\r\nKhoảng cách giữa anten đo và phần tử kim loại ở gần bất kỳ (kể cả cáp) cần lớn\r\nhơn 2 m.
\r\n\r\n7.7.3.2. Khoảng cách đo khác\r\nkhoảng cách tiêu chuẩn
\r\n\r\nKhoảng cách đo tiêu chuẩn dstd\r\nđược qui định trong tiêu chuẩn sản phẩm hoặc tiêu chuẩn chung. Nếu không thể\r\nthực hiện ở khoảng cách tiêu chuẩn thì cường độ trường nhiễu phải được đo ở các\r\nkhoảng cách đo khác như qui định ở 7.7.2.2. Phải sử dụng quét theo độ cao anten\r\ncho mỗi phép đo. Cường độ trường nhiễu ở khoảng cách tiêu chuẩn dstd\r\nphải được xác định theo 7.7.2.2 bằng cách vẽ đồ thị cường độ trường đo được là\r\nhàm số của khoảng cách đo trên thang logarit.
\r\n\r\nNếu không thể đo ở các khoảng cách\r\nkhác nhau và khoảng cách đo liên quan đến vách bên ngoài của toà nhà hoặc biên\r\ncủa các cơ sở thì phải chuyển đổi kết quả đo về khoảng cách tiêu chuẩn sử dụng\r\ncông thức (10).
\r\n\r\n (10)
trong đó
\r\n\r\nEstd là cường độ trường\r\nở khoảng cách tiêu chuẩn, tính bằng dB(µV/m) để so sánh với giới hạn phát xạ;
\r\n\r\nEmeas là cường độ trường\r\nở khoảng cách đo, tính bằng dB(µV/m);
\r\n\r\ndmeas là khoảng cách đo,\r\ntính bằng mét;
\r\n\r\ndstd là khoảng cách tiêu\r\nchuẩn, tính bằng mét.
\r\n\r\nHệ số n phụ thuộc vào khoảng cách dmeas\r\nnhư sau:
\r\n\r\nnếu 30 m £ dmeas, n = 1;
\r\n\r\nnếu 10 m £ dmeas < 30 m, n = 0,8;
\r\n\r\nnếu 3 m £ dmeas < 10 m n = 0,6
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: n < 1 do có chênh\r\nlệch giữa khoảng cách đo và khoảng cách đến EUT.
\r\n\r\nKhông được sử dụng khoảng cách đo\r\ngần hơn 3 m.
\r\n\r\nNếu không thể đo ở các khoảng cách\r\nkhác nhau và công thức (10) không được sử dụng vì khoảng cách đo không liên\r\nquan đến vách bên ngoài của tòa nhà hoặc biên của các cơ sở thì cường độ trường\r\ncần được xác định bằng cách đo công suất nhiễu bức xạ (xem 7.7.4).
\r\n\r\n7.7.4. Đo công suất nhiễu bức xạ\r\nhiệu quả tại hiện trường sử dụng phương pháp thay thế
\r\n\r\n7.7.4.1. Điều kiện đo chung
\r\n\r\nPhương pháp thay thế có thể được sử\r\ndụng mà không có các điều kiện bổ sung khi và chỉ khi có thể ngắt nguồn EUT và\r\ncó thể tháo EUT ra để thay thế.
\r\n\r\nNếu không thể tháo EUT ra và nếu\r\nmặt phía trước của EUT là bề mặt rộng thì ảnh hưởng của bề mặt này lên việc\r\nthay thế phải được tính đến [xem công thức (12)]. Nếu bề mặt phía trước của EUT\r\nkhông vừa với mặt phẳng hai kích thước theo chiều đo thì không xét đến độ không\r\nđảm bảo đo bổ sung.
\r\n\r\nNếu không thể ngắt nguồn cho EUT\r\nthì vẫn có thể sử dụng phương pháp thay thế để đo công suất bức xạ của nhiễu từ\r\nEUT ở tần số cụ thể, bằng cách sử dụng tần số gần đó mà tại đó cường độ trường\r\ncủa nhiễu từ EUT ít nhất là thấp hơn 20 dB so với ở tần số cần xét (“gần đó”\r\nnghĩa là bên trong phạm vi một hoặc hai băng tần IF của máy thu). Tần số chọn\r\nlựa, trong trường hợp có thể, cần được chọn có tính đến nhiễu có thể có đến\r\ndịch vụ rađiô.
\r\n\r\n7.7.4.2. Dải tần từ 30 MHz đến 1\r\n000 MHz
\r\n\r\n7.7.4.2.1. Khoảng cách đo
\r\n\r\nKhoảng cách đo được chọn phải sao\r\ncho phép đo được thực hiện trong trường xa. Yêu cầu này thường được đáp ứng,\r\nnếu:
\r\n\r\n● d lớn hơn l/(2p) và
\r\n\r\n● d ³\r\n2D2/l
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nd là khoảng cách đo, tính bằng mét;
\r\n\r\nD là kích thước lớn nhất của EUT có\r\nđi cáp, tính bằng mét;
\r\n\r\nl\r\nlà bước sóng, tính bằng mét;
\r\n\r\nhoặc nếu khoảng cách đo d lớn hơn\r\nhoặc bằng 30 m. ở trường xa, số mũ n trong công thức (10) có thể được xem là\r\n“1”. Nếu chọn khoảng cách đo nhỏ hơn thì giả thiết này vẫn có thể có hiệu lực\r\nbằng cách sử dụng qui trình ở 7.7.3.2 để kiểm tra xem cường độ trường giảm tỷ\r\nlệ nghịch với khoảng cách. Nếu điều kiện cục bộ yêu cầu rằng cần chọn khoảng\r\ncách đo ngắn hơn thì phải được chỉ ra.
\r\n\r\n7.7.4.2.2. Phương pháp đo
\r\n\r\nCông suất nhiễu bức xạ hiệu quả\r\nphải được đo theo hướng bức xạ lớn nhất với EUT ở phương thức làm việc phát ra\r\ncường trường nhiễu cao nhất. Phải chọn khoảng cách đo theo 7.7.4.2.1 và cường\r\nđộ trường nhiễu cao nhất ở tần số đã chọn được xác định bằng cách thay đổi độ\r\ncao anten ít nhất trong phạm vi từ 1 m đến 4 m trong chừng mực có thể.
\r\n\r\nĐối với phép đo công suất nhiễu bức\r\nxạ hiệu quả, phải sử dụng các bước từ a) đến g) dưới đây.
\r\n\r\na) EUT phải được ngắt nguồn và tháo\r\nra. Lưỡng cực nửa sóng hoặc anten có đặc tính bức xạ tương tự và độ lợi G đã\r\nbiết liên quan đến lưỡng cực nửa sóng được thay thế vào chỗ của EUT. Nếu không\r\nthể tháo EUT thì lưỡng cực nửa sóng hoặc lưỡng cực băng rộng (ở dải tần số thấp\r\nhơn khoảng 150 MHz để giảm thiểu ghép nối tương hỗ đến EUT) được đặt ở gần EUT.\r\nĐộ gần trong phạm vi đến 3 m.
\r\n\r\nb) Sau đó, lưỡng cực nửa sóng (hoặc\r\nlưỡng cực băng rộng) phải được nuôi bởi máy phát tín hiệu làm việc ở cùng tần\r\nsố.
\r\n\r\nc) Vị trí và phân cực của lưỡng cực\r\nnửa sóng (hoặc anten băng rộng) phải sao cho máy thu đo thu được cường độ\r\ntrường cao nhất. Nếu EUT không tháo ra được thì nếu có thể, phải ngắt nguồn cho\r\nEUT và di chuyển lưỡng cực trong phạm vi đến 3 m xung quanh EUT.
\r\n\r\nd) Công suất của tín hiệu phát ra\r\nphải được thay đổi cho đến khi máy thu đo chỉ ra cùng một số đọc như khi đo\r\ncường độ trường nhiễu cao nhất từ EUT.
\r\n\r\ne) Nếu EUT bao gồm mặt trước của bề\r\nmặt rộng (ví dụ, toà nhà có mạng lưới cáp TV), anten thay thế (lưỡng cực nửa\r\nsóng) được định vị ở phía trước của bề mặt rộng khoảng 1 m (ví dụ, tường phía\r\ntrước của toà nhà). Vị trí đo thay thế phải được chọn sao cho đường thẳng tưởng\r\ntượng giữa anten thay thế và anten đo vuông góc với hướng của bề mặt toà nhà.
\r\n\r\nf) Độ cao, phân cực và khoảng cách\r\ngiữa lưỡng cực nửa sóng (hoặc anten băng rộng) và bề mặt phải được thay đổi sao\r\ncho máy thu hiển thị số đọc cường độ trường cao nhất.
\r\n\r\ng) Công suất của máy phát tín hiệu\r\nphải được thay đổi như ở d).
\r\n\r\nĐối với EUT tháo ra được và EUT\r\nkhông thể tháo ra được [xem bước a) và c), tương ứng], công suất ở máy phát tín\r\nhiệu, Pg, cộng với độ lợi của anten phát liên quan đến lưỡng cực nửa\r\nsóng, G, thu được công suất nhiễu bức xạ hiệu quả, Pr cần đo:
\r\n\r\nPr\r\n= Pg + G (12)
\r\n\r\nĐối với EUT có bề mặt rộng (ví dụ\r\ntòa nhà có mạng lưới viễn thông), mức tăng độ lợi của lưỡng cực đặt ở trước bề\r\nmặt này được cho bởi:
\r\n\r\nPr\r\n= Pg + G + 4 dB (13)
\r\n\r\ntrong đó:
\r\n\r\nPr được tính bằng\r\ndB(pW);
\r\n\r\nPg được tính bằng\r\ndB(pW); và
\r\n\r\nG được tính bằng dB.
\r\n\r\nCông suất nhiễu bức xạ hiệu quả có\r\nthể được dùng để tính cường độ trường nhiễu ở khoảng cách đo tiêu chuẩn dstd.\r\nCường độ trường trong không gian tự do Efree phải được tính bằng\r\ncông thức sau:
\r\n\r\n (14)
trong đó
\r\n\r\nEfree được tính bằng µV/m;
\r\n\r\nPr được tính bằng pW và
\r\n\r\ndstd được tính bằng m.
\r\n\r\nNếu cường độ trường trong không\r\ngian tự do ở công thức (14) được so sánh với giới hạn của cường độ trường nhiễu\r\nđo được ở vị trí thử nghiệm tiêu chuẩn, thì cần phải coi độ lớn của cường độ\r\ntrường đo được ở vị trí thử nghiệm tiêu chuẩn cao hơn xấp xỉ 6 dB so với cường\r\nđộ trường trong không gian tự do ở công thức (14) do các phản xạ từ mặt phẳng\r\nnền. Công thức (14) có thể được thay đổi để tính đến chênh lệch này. Cường độ\r\ntrường nhiễu ở khoảng cách tiêu chuẩn Estd do đó có thể được tính toán bằng\r\ncông thức dưới đây, đối với trường hợp phân cực thẳng.
\r\n\r\nEstd\r\n= Pr – 20lgdstd –| 22,9 \r\n(15)
\r\n\r\nĐối với phân cực ngang tần số dưới\r\n160 MHz, cường độ trường lớn nhất không được đo tại vị trí thử nghiệm tiêu\r\nchuẩn. Do đó, phải hiệu chỉnh hệ số 6 dB bằng công thức dưới đây, Bảng 5 chỉ ra\r\nmột số giá trị đã tính.
\r\n\r\nEstd\r\n= Pr – 20lgdstd –| 16,9 –| (6 – cc) (16)
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nEstd được tính bằng dB(µV/m);
\r\n\r\nf là tần số đo;
\r\n\r\ndstd được tính bằng m;\r\nvà
\r\n\r\ncc là hệ số hiệu chỉnh\r\nđối với phân cực ngang. Giá trị này được xác định với giả thiết là nguồn bức xạ\r\nở độ cao 1 m.
\r\n\r\nPhương pháp này để xác định cường\r\nđộ trường nhiễu chủ yếu được sử dụng khi có các chướng ngại vật giữa anten đo\r\nvà EUT.
\r\n\r\nBảng\r\n5 – Hệ số hiệu chỉnh phân cực ngang là hàm của tần số
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n 40 \r\n | \r\n \r\n 50 \r\n | \r\n \r\n 60 \r\n | \r\n \r\n 70 \r\n | \r\n \r\n 90 \r\n | \r\n \r\n 100 \r\n | \r\n \r\n 120 \r\n | \r\n \r\n 140 \r\n | \r\n \r\n 160 \r\n | \r\n \r\n 180 \r\n | \r\n \r\n 200 \r\n | \r\n \r\n 750 \r\n | \r\n \r\n 1000 \r\n | \r\n
| \r\n cc | \r\n \r\n 11 \r\n | \r\n \r\n 10,2 \r\n | \r\n \r\n 9,3 \r\n | \r\n \r\n 8,5 \r\n | \r\n \r\n 7,6 \r\n | \r\n \r\n 5,9 \r\n | \r\n \r\n 5,1 \r\n | \r\n \r\n 3,4 \r\n | \r\n \r\n 1,7 \r\n | \r\n \r\n 0 \r\n | \r\n \r\n 0 \r\n | \r\n \r\n 0 \r\n | \r\n \r\n 0 \r\n | \r\n \r\n 0 \r\n | \r\n
7.7.4.3. Dải tần từ 1 GHz đến 18\r\nGHz
\r\n\r\n7.7.4.3.1. Khoảng cách đo
\r\n\r\nKhoảng cách đo được chọn phải sao\r\ncho phép đo được thực hiện trong trường xa. Điều kiện trường xa phải được kiểm\r\ntra bằng cách đo công suất nhiễu bức xạ với anten loa dẫn sóng có gờ kép hoặc\r\nanten chu kỳ loga là hàm số của khoảng cách. Yêu cầu này được đáp ứng nếu\r\nkhoảng cách đo lớn hơn hoặc bằng khoảng cách chuyển đổi. Khoảng cách chuyển đổi\r\nđược đánh dấu bằng điểm chuyển đổi, được xác định như chỉ ra trên Hình 17. Kết\r\nquả đo phải được vẽ đồ thị và hai đường thẳng song song cách nhau 5 dB được vẽ\r\nđể bao quanh càng nhiều kết quả đo càng tốt; điểm chuyển đổi là điểm cắt nhau\r\ncủa các đường thẳng và sau điểm đó, công suất bức xạ giảm 20 dB/đề các.
\r\n\r\nHình\r\n17 – Xác định khoảng cách chuyển đổi
\r\n\r\n7.7.4.3.2. Phương pháp đo
\r\n\r\nCông suất nhiễu bức xạ phải được đo\r\ntheo hướng bức xạ lớn nhất với EUT ở phương thức làm việc phát ra cường độ\r\ntrường nhiễu cao nhất. Phải sử dụng anten loa dẫn sóng có gờ kép hoặc anten chu\r\nkỳ loga để xác định hướng bức xạ lớn nhất. Sau đó, khoảng cách đo phải được\r\nchọn theo 7.7.4.2.1 và đo cường độ trường nhiễu ở tần số được chọn. Vị trí của\r\nanten phải được thay đổi một chút để đảm bảo rằng cường độ trường đo được không\r\nở giá trị tối thiểu cục bộ (ví dụ, do phản xạ).
\r\n\r\nĐối với phép đo công suất nhiễu bức\r\nxạ, phải ngắt nguồn cho EUT và anten loa dẫn sóng có gờ kép và anten chu kỳ\r\nloga được định vị ngay gần EUT hoặc ở vị trí của EUT. Sau đó, anten được nuôi\r\ntừ máy phát tín hiệu làm việc ở cùng tần số. Hướng của anten phải sao cho máy\r\nthu thử nghiệm thu được cường độ trường cao nhất. Vị trí của anten này phải\r\nđược cố định. Công suất của tín hiệu phát ra phải được thay đổi cho đến khi máy\r\nthu thử nghiệm thu được công suất giống như công suất do EUT phát ra. Công suất\r\nở máy phát tín hiệu Pg cộng với độ lợi G của anten phát liên quan\r\nđến lưỡng cực nửa sóng thu được công suất nhiễu bức xạ yêu cầu Pr.
\r\n\r\nPr\r\n= Pg + G (12)
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nPr được tính bằng\r\ndB(pW);
\r\n\r\nPg được tính bằng\r\ndB(pW); và
\r\n\r\nG được tính bằng dB.
\r\n\r\n7.7.5. Lập tài liệu các kết quả\r\nđo
\r\n\r\nCác trường hợp và điều kiện cụ thể\r\ncủa phép đo tại hiện trường cần được ghi vào tài liệu để cho phép các điều kiện\r\nlàm việc được tái lập nếu lặp lại các phép đo. Tài liệu cần có:
\r\n\r\n- lý do thực hiện phép đo tại hiện\r\ntrường thay vì sử dụng vị trí thử nghiệm tiêu chuẩn;
\r\n\r\n- mô tả EUT;
\r\n\r\n- tài liệu kỹ thuật;
\r\n\r\n- bản vẽ kỹ thuật của vị trí đo,\r\nthể hiện các điểm tại đó thực hiện phép đo;
\r\n\r\n- mô tả hệ thống lắp đặt cần đo;
\r\n\r\n- mô tả chi tiết tất cả các dây nối\r\ngiữa hệ thống lắp đặt cần đo và EUT: dữ liệu kỹ thuật và mô tả chi tiết vị\r\ntrí/cấu hình của chúng;
\r\n\r\n- mô tả các điều kiện làm việc;
\r\n\r\n- mô tả chi tiết thiết bị đo;
\r\n\r\n- kết quả đo:
\r\n\r\n● phân cực của anten;
\r\n\r\n● giá trị đo: tần số, mức đo và mức\r\nnhiễu;
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Mức nhiễu là mức liên\r\nquan đến khoảng cách đo tiêu chuẩn.
\r\n\r\n● đánh giá cấp độ nhiễu (nếu thuộc\r\nđối tượng áp dụng).
\r\n\r\n7.7.6. Độ không đảm bảo đo đối\r\nvới phép đo tại hiện trường
\r\n\r\nLưu ý chung và lưu ý cơ bản về độ\r\nkhông đảm bảo đo trong phép đo phát xạ được nêu trong CISPR 16-4-1.
\r\n\r\n7.8. Phép đo\r\nthay thế (30 MHz đến 18 GHz)
\r\n\r\n7.8.1. Yêu cầu chung
\r\n\r\nPhương pháp thay thế được thiết kế\r\nđể đo nhiễu rađiô bức xạ từ tủ của thiết bị cần thử nghiệm, gồm dây đi và mạch\r\nđiện bên trong tủ. EUT có thể là một khối độc lập không có cổng để đấu nối hoặc\r\ncó một hoặc nhiều cổng để nối điện và các đấu nối bên ngoài khác. Đối với các\r\ntiêu chuẩn sản phẩm sau này, ban kỹ thuật sản phẩm nên sử dụng phương pháp đo\r\ncường độ trường được mô tả trong 7.6 ở tần số từ 1 GHz đến 18 GHz.
\r\n\r\n7.8.2. Vị trí thử nghiệm
\r\n\r\nVị trí thử nghiệm phải là vùng bằng\r\nphẳng. Có thể sử dụng vị trí trong nhà nhưng cần có bố trí đặc biệt, đặc biệt\r\nlà ở phần cao hơn của dải tần số, để đáp ứng các yêu cầu về phản xạ ổn định và\r\nkhông tới hạn từ các vật xung quanh – ví dụ, bộ phản xạ góc được thêm vào anten\r\nđo và vách hấp thụ phía sau EUT. Tính thích hợp của vị trí phải được xác định\r\nnhư dưới đây.
\r\n\r\nHai lưỡng cực nửa sóng nằm ngang,\r\ngọi là A và B (xem thêm 7.8.3) phải được đặt song song với nhau, ở cùng độ cao\r\nh, với độ cao không nhỏ hơn 1 m so với sàn và cách nhau một khoảng cách đo d.\r\nLưỡng cực B phải được nối vào máy phát tín hiệu và lưỡng cực A nối vào đầu vào\r\ncủa máy thu đo. Máy phát tín hiệu phải được điều hưởng để cho số chỉ lớn nhất\r\ntrên máy thu đo và đầu ra của nó được điều chỉnh đến mức thuận tiện. Vị trí\r\nphải được xem là thích hợp để đo ở tần số thử nghiệm nếu số chỉ trên máy thu đo\r\nkhông thay đổi quá ± 1,5 dB khi lưỡng cực B di chuyển 100 mm theo hướng bất kỳ.\r\nThử nghiệm phải được lặp lại trong toàn bộ dải tần số ở các khoảng tần số đủ\r\nnhỏ để đảm bảo rằng vị trí là thoả mãn cho tất cả các phép đo dự kiến. Nếu EUT\r\nyêu cầu rằng phép đo cũng phải được thực hiện với phân cực thẳng (xem 7.8.4)\r\nthì thử nghiệm tính thích hợp của vị trí phải được lặp lại với hai lưỡng cực\r\nđịnh vị theo phân cực thẳng.
\r\n\r\n7.8.3. Anten thử nghiệm
\r\n\r\nAnten thử nghiệm A và B của Hình 18\r\nđược qui định ở trên là hai lưỡng cực nửa sóng. Đối với dải tần số dưới 1 GHz,\r\nyêu cầu này áp dụng chủ yếu cho anten phát B trong đó công suất bức xạ theo\r\nhướng bức xạ lớn nhất có liên quan đến công suất ở các đầu nối của anten B.\r\nAnten dùng để đo A cũng phải là lưỡng cực nửa sóng. Độ nhạy thực tế của nó được\r\ntính đến trong việc hiệu chuẩn thay thế của cấu hình thử nghiệm. Trong dải tần\r\ntừ 1 GHz đến 18 GHz, nên sử dụng anten loa phân cực thẳng.
\r\n\r\na)\r\nPhép đo
\r\n\r\nb)\r\nHiệu chuẩn
\r\n\r\nHình\r\n18 – Bố trí hình học trong phương pháp thay thế đối với a) Phép đo, b) Hiệu\r\nchuẩn
\r\n\r\n7.8.4. Cấu hình EUT
\r\n\r\nEUT phải được đặt trên bàn không\r\ndẫn có phương tiện để quay trong mặt phẳng (phương vị) nằm ngang. EUT phải có\r\ncấu hình sao cho tâm hình học của EUT trùng với điểm được sử dụng trước đó như điểm\r\ngiữa của lưỡng cực B (xem Hình 18). Nếu EUT gồm hai khối trở lên, thì mỗi khối\r\nphải được đo riêng rẽ. Các dây tháo ra được nối với EUT cần được tháo ra nếu\r\nviệc này không bị ảnh hưởng bất lợi. Các dây yêu cầu phải được cung cấp với các\r\nxuyến ferit hấp thụ và được định vị sao cho chúng không ảnh hưởng đến phép đo.\r\nĐối với EUT có chống nhiễu, tất cả các bộ nối không được sử dụng phải được kết\r\ncuối bằng đầu nối có chống nhiễu.
\r\n\r\n7.8.5. Qui trình thử nghiệm
\r\n\r\nVới EUT được bố trí như qui định ở\r\n7.8.4, lưỡng cực dùng để đo có phân cực ngang A phải được đặt trong cùng vị trí\r\nnhư khi kiểm tra vị trí thử nghiệm. Lưỡng cực này phải vuông góc với mặt phẳng\r\nthẳng đứng qua tâm của nó và của EUT. Trước tiên, EUT được đo ở vị trí đặt trên\r\nbàn bình thường và tiếp theo khi nghiêng 90o để đứng trên mặt thẳng\r\nđứng bình thường. ở từng vị trí, EUT phải được quay 360o trong mặt\r\nphẳng nằm ngang. Số đọc lớn nhất phải là giá trị đặc trưng đối với EUT.
\r\n\r\nHệ thống dùng để đo được hiệu chuẩn\r\nbằng cách thay EUT bằng lưỡng cực nửa sóng B. Tâm của lưỡng cực B dùng để hiệu\r\nchuẩn này ở cùng điểm với tâm hình học của EUT được đo trước đó và song song với\r\nanten đo A, và được nối đến máy phát tín hiệu. Công suất bức xạ từ tủ của EUT\r\nđược xác định là công suất tại các đầu nối của lưỡng cực nửa sóng B khi máy\r\nphát tín hiệu được điều chỉnh để cho số đọc trên máy thu đo giống như số đọc\r\nlớn nhất ghi được trước đó (Y), ở từng tần số đo.
\r\n\r\nKhi thực hiện phép đo với các lưỡng\r\ncực dùng để đo phân cực ngang và dọc, phải thực hiện hiệu chuẩn riêng rẽ cho cả\r\nhai phương thức.
\r\n\r\n7.8.6. Độ không đảm bảo đo đối\r\nvới phương pháp thay thế
\r\n\r\nLưu ý chung và lưu ý cơ bản về độ\r\nkhông đảm bảo đo trong phép đo phát xạ được nêu trong CISPR 16-4-1.
\r\n\r\n7.9. Phép đo\r\ntrong phòng phản xạ (80 MHz đến 18 GHz)
\r\n\r\nPhép đo phát bức xạ có thể thực\r\nhiện trong phòng phản xạ sử dụng các phương pháp qui định ở IEC 61000-4-21. Các\r\nđiều kiện sử dụng phương pháp thử nghiệm thay thế được nêu ở CISPR 16-4-5. Lưu\r\ný chung và cơ bản về độ không đảm bảo đo trong phép đo phát xạ được nêu trong\r\nCISPR 16-4-1.
\r\n\r\n7.10. Phép\r\nđo trong ống dẫn sóng TEM (30 MHz đến 18 GHz)
\r\n\r\nPhép đo phát bức xạ có thể thực\r\nhiện trong ống dẫn sóng TEM sử dụng các phương pháp qui định ở IEC 61000-4-20.\r\nCác điều kiện sử dụng phương pháp thử nghiệm thay thế được nêu ở CISPR 16-4-5.\r\nLưu ý chung và cơ bản về độ không đảm bảo đo trong phép đo phát xạ được nêu\r\ntrong CISPR 16-4-1.
\r\n\r\n8. Phép đo tự\r\nđộng về phát xạ
\r\n\r\n8.1. Lời giới\r\nthiệu: Phòng ngừa trong phép đo tự động
\r\n\r\nCó thể loại bỏ được việc lặp lại\r\nphép đo nhiễu điện từ nhờ kỹ thuật tự động hóa. Sai số của vận hành trong việc\r\nđọc và ghi giá trị của phép đo được giảm thiểu. Tuy nhiên, bằng cách sử dụng\r\nmáy tính để thu thập dữ liệu, có thể đưa vào các dạng sai số mới mà chúng có\r\nthể được người vận hành phát hiện. Trong một số trường hợp, thử nghiệm tự động\r\ncó thể dẫn đến độ không đảm bảo đo lớn hơn trong các dữ liệu thu thập được so\r\nvới phép đo bằng tay do người thao tác có kỹ năng thực hiện. Về cơ bản, không\r\ncó khác nhau về độ chính xác của giá trị phát xạ đo được khi đo bằng tay hoặc\r\ndùng phần mềm điều khiển. Ở cả hai trường hợp, độ không đảm bảo đo dựa vào qui\r\nđịnh về độ chính xác của thiết bị được sử dụng trong bố trí thử nghiệm. Tuy\r\nnhiên, có thể nảy sinh các rắc rối khi tình trạng của phép đo khác với chương\r\ntrình phần mềm.
\r\n\r\nVí dụ, phát xạ của EUT có tần số\r\ngần với tín hiệu xung quanh ở mức cao có thể không đo được chính xác, nếu tín\r\nhiệu xung quanh xuất hiện trong suốt thời gian thử nghiệm tự động. Tuy nhiên,\r\nngười thực hiện thử nghiệm có kiến thức có nhiều khả năng phân biệt giữa nhiễu\r\nthực tế với tín hiệu xung quanh; vì vậy, phương pháp đo phát xạ của EUT có thể\r\nđược điều chỉnh khi yêu cầu. Tuy nhiên, có thể tiết kiệm thời gian thử nghiệm\r\nbằng cách tiến hành quét môi trường xung quanh trước khi đo phát xạ thực tế với\r\nEUT đã tắt điện để ghi lại các tín hiệu xung quanh xuất hiện trên OATS. Trong\r\ntrường hợp này phần mềm có khả năng cảnh báo người vận hành về sự xuất hiện\r\ntiềm ẩn của các tín hiệu xung quanh ở một số tần số nhất định bằng cách áp dụng\r\nthuật giải nhận dạng tín hiệu thích hợp. Nên có sự tương tác của người vận hành\r\nnếu phát xạ của EUT biến đổi chậm, nếu phát xạ EUT có chu kỳ đóng cắt thấp hoặc\r\nkhi có thể xuất hiện các tín hiệu quá độ xung quanh (ví dụ, quá độ hàn hồ\r\nquang).
\r\n\r\n\r\n\r\nMáy thu nhiễu điện từ cần thu các\r\ntín hiệu trước khi chúng được cực đại hóa và được đo. Sử dụng bộ tách sóng tựa\r\nđỉnh trong quá trình cực đại hóa phát xạ ở tất cả các tần số trong phổ tần cần\r\nđo sẽ làm cho thời gian thử nghiệm quá lớn (xem 6.6.2). Các quá trình tiêu tốn\r\nthời gian như quét theo độ cao anten không cần thiết đối với mỗi tần số phát\r\nxạ. Nên hạn chế các qui trình này ở các tần số tại đó biên độ đỉnh đo được của\r\nphát xạ cao hơn hoặc gần giới hạn phát xạ. Vì vậy, chỉ các phát xạ tại các tần\r\nsố tới hạn có biên độ gần hoặc vượt quá giới hạn sẽ được cực đại hóa và được\r\nđo. Thủ tục đo chung trong Hình 19 sẽ giảm thời gian đo.
\r\n\r\nHình\r\n19 – Thủ tục đo để giảm thời gian đo
\r\n\r\n8.3. Các phép\r\nđo khi quét sơ bộ
\r\n\r\n8.3.1. Yêu cầu chung
\r\n\r\nBước ban đầu này trong toàn bộ qui\r\ntrình đo đáp ứng nhiều mục đích. Quét sơ bộ đặt ra số lượng tối thiểu các hạn\r\nchế và các yêu cầu đối với hệ thống thử nghiệm vì mục đích chính của nó là thu\r\nthập lượng thông tin tối thiểu dựa vào đó xác định các tham số của thử nghiệm\r\nhoặc quét bổ sung. Có thể sử dụng phương thức đo này để thử nghiệm sản phẩm\r\nmới, trong trường hợp biết rất ít về phổ phát xạ. Nói chung, quét sơ bộ là qui\r\ntrình thu thập dữ liệu được sử dụng để xác định xem các tín hiệu có nghĩa nằm ở\r\nđâu trong dải tần cần xét. Tùy thuộc vào mục đích của phép đo này, có thể cần\r\nphải có cột anten và bàn xoay (đối với thử nghiệm phát bức xạ) cũng như tăng\r\ncường độ chính xác về tần số (ví dụ, đối với quá trình xử lý thêm trên OATS) và\r\ngiản lược dữ liệu thông qua so sánh biên độ. Các yếu tố này xác định trình tự\r\nđo trong quá trình tiến hành quét sơ bộ. Trong mọi trường hợp, kết quả phải\r\nđược lưu giữ trong danh mục tín hiệu để xử lý thêm. Nếu thực hiện phép đo khi\r\nquét sơ bộ để có được các thông tin một cách nhanh chóng trên phổ phát xạ chưa\r\nbiết của EUT thì có thể thực hiện quét tần số bằng cách áp dụng các xem xét ở\r\n6.6.
\r\n\r\n8.3.2. Xác định thời gian đo yêu\r\ncầu
\r\n\r\nNếu phổ phát xạ và đặc biệt là thời\r\ngian lặp xung lớn nhất Tp của EUT là chưa biết thì cần phải khảo sát\r\nđể đảm bảo thời gian đo Tm không ngắn hơn Tp. Đặc trưng\r\ngián đoạn của phát xạ EUT đặc biệt liên quan đến các giá trị đỉnh tới hạn của phổ\r\nphát xạ. Đầu tiên, cần xác định tần số tại đó biên độ phát xạ là không ổn định.\r\nCó thể thực hiện việc này bằng cách so sánh chức năng lưu giữ đường quét cực\r\nđại với chức năng lưu giữ đường quét cực tiểu hoặc chức năng xóa/ghi của thiết\r\nbị đo hoặc phần mềm và quan sát phát xạ trong thời gian 15 s. Trong suốt thời\r\ngian này, không nên có thay đổi về bố trí (không thay dây dẫn trong trường hợp\r\nphát xạ dẫn, không di chuyển kẹp hấp thụ, không di chuyển bàn xoay hoặc anten\r\ntrong trường hợp phát bức xạ). Các tín hiệu có chênh lệch, ví dụ, lớn hơn 2 dB\r\ngiữa giá trị lưu giữ đường quét cực đại và giá trị lưu giữ đường quét cực tiểu\r\nđược đánh dấu là các tín hiệu gián đoạn. (Cần cẩn thận để không đánh dấu tín\r\nhiệu tạp thành tín hiệu gián đoạn).
\r\n\r\nTrong trường hợp phát bức xạ, thay\r\nđổi phân cực của anten và lặp lại phép đo để giảm rủi ro không tìm được các giá\r\ntrị đỉnh gián đoạn nhất định vì chúng duy trì ở mức thấp hơn mức tạp. Từ mỗi\r\ntín hiệu gián đoạn, có thể đo thời gian lặp xung Tp bằng cách áp\r\ndụng khoảng zero hoặc sử dụng máy hiện sóng nối với đầu ra IF của máy thu đo.\r\nThời gian đo chính xác cũng có thể được xác định bằng cách tăng thời gian này\r\ncho đến khi chênh lệch giữa hiển thị lưu giữ đường quét cực đại và hiển thị\r\nxóa/ghi thấp hơn 2 dB. Trong các phép đo thêm (phép đo cực đại hóa và phép đo\r\nkết thúc), phải chắc chắn rằng thời gian đo Tm không nhỏ hơn chu kỳ\r\nlặp xung Tp áp dụng được, đối với mỗi phần của dải tần.
\r\n\r\n8.3.3. Yêu cầu quét sơ bộ đối\r\nvới các kiểu đo khác nhau
\r\n\r\nKiểu đo xác định định nghĩa về phép\r\nđo quét sơ bộ theo cách sau:
\r\n\r\n● Đối với phát bức xạ trong dải tần\r\ntừ 9 kHz đến 30 MHz, ví dụ TCVN 6988 (CISPR 11), cả anten vòng và EUT cần được\r\nquay để tìm cường độ trường lớn nhất trong khi máy thu đang quét phổ phát xạ.
\r\n\r\n● Trong dải tần từ 30 MHz đến 1 000\r\nMHz, độ cao anten có thể được đặt trước đến các độ cao cố định nêu ở Bảng 6,\r\ndựa vào khoảng cách đo, dải tần số và phân cực. Phép đo quét sơ bộ cần thiết\r\nphải được thực hiện với đủ số lượng góc phương vị của EUT. Đối với phép đo tổng\r\nquát nhanh, việc này sẽ tạo ra số chỉ của biên độ phát bức xạ như điểm bắt đầu\r\ndùng cho phép cực đại hóa cuối cùng. Nếu mong muốn xác định chi tiết hơn độ cao\r\nanten trong trường hợp xấu nhất, phân cực và góc phương vị của EUT thì cần sử\r\ndụng tiêu chuẩn áp dụng được để xác định qui trình cực đại hóa thích hợp.
\r\n\r\n● Trong dải tần lớn hơn 1 GHz,\r\nanten cần được định vị theo phân cực ngang và phân cực thẳng và EUT được quay\r\nđể tìm cường độ trường lớn nhất trong khi quét phổ phát xạ. Để có chi tiết về\r\nqui trình thử nghiệm, xem 7.6.6.1.
\r\n\r\nBảng\r\n6 – Độ cao anten khuyến cáo để đảm bảo việc chặn tín hiệu (đối với quét sơ bộ) trong\r\ndải tần từ 30 MHz đến 1 000 MHz
\r\n\r\n| \r\n Khoảng\r\n cách đo \r\nm \r\n | \r\n \r\n Phân\r\n cực \r\nh\r\n – ngang | \r\n \r\n Dải\r\n tần số \r\nMHz \r\n | \r\n \r\n Độ\r\n cao anten khuyến cáo đối với từng dải tần số (nhỏ nhất/lớn nhất) \r\nm \r\n | \r\n
| \r\n 3 \r\n | \r\n \r\n h \r\n | \r\n \r\n 30\r\n đến 100 \r\n100\r\n đến 250 \r\n250\r\n đến 1 000 \r\n | \r\n \r\n 2,5 \r\n1\r\n / 2 \r\n1\r\n / 1,5 \r\n | \r\n
| \r\n v \r\n | \r\n \r\n 30\r\n đến 100 \r\n100\r\n đến 250 \r\n250\r\n đến 1 000 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n1\r\n / 2 \r\n1\r\n / 1,5 / 2 \r\n | \r\n |
| \r\n 10 \r\n | \r\n \r\n h \r\n | \r\n \r\n 30\r\n đến 100 \r\n100\r\n đến 200 \r\n200\r\n đến 400 \r\n400\r\n đến 1 000 \r\n | \r\n \r\n 4 \r\n2,5\r\n / 4 \r\n1,5\r\n / 2,5 /4 \r\n1\r\n /1,5 /2,5 \r\n | \r\n
| \r\n v \r\n | \r\n \r\n 30\r\n đến 200 \r\n200\r\n đến 300 \r\n300\r\n đến 600 \r\n600\r\n đến 1 000 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n1\r\n / 3,5 \r\n1\r\n / 2 / 3,5 \r\n1\r\n / 1,5 / 2 / 3,5 \r\n | \r\n |
| \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n h \r\n | \r\n \r\n 30\r\n đến 300 \r\n300\r\n đến 500 \r\n500\r\n đến 1 000 \r\n | \r\n \r\n 4 \r\n2,5\r\n / 4 \r\n1,5\r\n / 2,5 / 4 \r\n | \r\n
| \r\n v \r\n | \r\n \r\n 30\r\n đến 500 \r\n500\r\n đến 800 \r\n800\r\n đến 1 000 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n1\r\n / 3,5 \r\n1\r\n / 2,5 / 3,5 \r\n | \r\n |
| \r\n CHÚ THÍCH 1: Các độ cao anten\r\n khuyến cáo được suy ra đối với độ cao tâm pha của nguồn trong phạm vi từ 0,8\r\n m đến 2,0 m đối với sai số lớn nhất bằng 3 dB (chỉ tốt cho quét sơ bộ). Nếu\r\n dải độ cao tâm pha giảm thì có thể giảm số lượng độ cao anten thu. Nếu có các\r\n búp có giản đồ bức xạ (phân biệt đỉnh và đáy), ví dụ trong dải tần số trên,\r\n thì có thể cần nhiều độ cao anten hơn. \r\nCHÚ THÍCH 2: Đối với EUT rất lớn,\r\n ví dụ hệ thống viễn thông, có thể cần định vị anten thu ở nhiều vị trí thẳng\r\n đứng hoặc nằm ngang, tuỳ thuộc vào độ rộng búp sóng của anten. \r\n | \r\n |||
Bước thứ hai trong toàn bộ qui\r\ntrình đo được sử dụng để giảm số lượng tín hiệu thu thập được trong quá trình\r\nquét sơ bộ và do đó hướng vào việc giản lược hơn nữa thời gian đo tổng thể. Các\r\nqui trình này có thể thực hiện các nhiệm vụ khác nhau, ví dụ như xác định các\r\ntín hiệu lớn trong phổ, phân biệt giữa tín hiệu xung quanh hoặc tín hiệu của\r\nthiết bị phụ trợ với phát xạ EUT, so sánh tín hiệu với các đường giới hạn hoặc\r\ngiản lược dữ liệu dựa trên qui tắc do người sử dụng xác định. Một ví dụ khác\r\ncủa phương pháp giản lược dữ liệu liên quan đến trình tự sử dụng các bộ tách\r\nsóng khác nhau và so sánh biên độ theo giới hạn. Ví dụ này được nêu trong sơ đồ\r\ncây trong Phụ lục C của TCVN 6989-2-1 (CISPR 16-2-1). Giản lược dữ liệu có thể\r\ntiến hành tự động hoàn toàn hoặc có tương tác, bao hàm các công cụ phần mềm\r\nhoặc tương tác bằng tay của người vận hành. Giản lược dữ liệu không cần phải là\r\nmột phần riêng của thử nghiệm tự động, tức là nó có thể là một phần của quét sơ\r\nbộ.
\r\n\r\nTrong các dải tần nhất định, đặc\r\nbiệt là băng FM, sự phân biệt về âm thanh xung quanh là rất hiệu quả. Điều này\r\nđòi hỏi tín hiệu đã được giải điều chế có khả năng nghe được thành phần điều\r\nchế của chúng. Nếu danh mục đầu ra khi quét sơ bộ có chứa số lượng lớn các tín\r\nhiệu và cần phân biệt âm thanh thì qui trình có thể khá dài. Tuy nhiên, nếu có\r\nthể qui định dải tần dùng cho điều hưởng và nghe thì chỉ các tín hiệu nằm trong\r\ncác dải tần này mới được giải điều chế. Kết quả của qui trình giản lược dữ liệu\r\nđược lưu lại trong danh mục tín hiệu riêng rẽ để xử lý thêm.
\r\n\r\n8.5. Cực đại\r\nhóa phát xạ và phép đo cuối
\r\n\r\nTrong thử nghiệm cuối cùng, phát xạ\r\nđược cực đại hóa để xác định mức cao nhất của chúng. Sau khi cực đại hóa tín\r\nhiệu, biên độ phát xạ được đo sử dụng tách sóng tựa đỉnh và/hoặc tách sóng\r\ntrung bình trong thời gian đo thích hợp (ít nhất 15 s nếu giá trị đọc cho thấy\r\nsự dao động gần với giới hạn).
\r\n\r\nKiểu phép đo phát bức xạ xác định\r\nqui trình cực đại hóa cho biên độ tín hiệu cao nhất:
\r\n\r\n● Trong dải tần số từ 9 kHz đến 30\r\nMHz – cực đại hóa mức chỉ thị bằng cách thay đổi góc phương vị của EUT và góc\r\nphương vị của mặt phẳng (thẳng đứng) của anten vòng (ví dụ, các thử nghiệm đối\r\nvới TCVN 6988 (CISPR 11));
\r\n\r\n● Trong dải tần số từ 30 kHz đến 1\r\n000 MHz – cực đại hóa mức chỉ thị bằng cách thay đổi độ cao và phân cực của\r\nanten đo cũng như thay đổi góc phương vị của EUT;
\r\n\r\n● Trong dải tần số lớn hơn 1 GHz –\r\ncực đại hóa mức chỉ thị bằng cách thay đổi phân cực của anten và thay đổi góc\r\nphương vị EUT và, nếu bề mặt EUT rộng hơn búp sóng của anten, cực đại hóa mức\r\nchỉ thị bằng cách di chuyển anten dọc theo bề mặt EUT.
\r\n\r\nTrước khi có thể tiến hành qui\r\ntrình cực đại hóa thực tế, phải xác định bố trí EUT trong trường hợp xấu nhất\r\nđể chắc chắn phát hiện được các biên độ phát xạ lớn nhất. Qui trình tìm cấu\r\nhình EUT và cáp cho phát xạ trường hợp xấu nhất chủ yếu được thao tác bằng tay.\r\nViệc này có thể thực hiện bằng máy thu quét có hiển thị đồ họa của phổ phát xạ\r\nvà khả năng lưu giữ tín hiệu lớn nhất để quan sát sự thay đổi biên độ khi thao\r\ntác bố trí cáp và thiết bị. Phép đo phát xạ tự động cuối cùng cần được bắt đầu\r\nsau khi phương thức làm việc và bố trí EUT trường hợp xấu nhất được định hình.
\r\n\r\nPhép đo phát bức xạ cụ thể gồm qui\r\ntrình cực đại hóa bao gồm quay EUT, quét anten thu trên dải độ cao và thay đổi\r\nphân cực anten. Qui trình tìm kiếm tiêu tốn thời gian này có thể được tự động\r\ncó hiệu quả nhưng cần phải biết rằng tính đa dạng của chiến lược tìm kiếm có\r\nthể được sử dụng mà có thể dẫn đến các kết quả khác nhau. Trong trường hợp kiến\r\nthức trước đó về đặc tính bức xạ của EUT, cần chọn qui trình cực đại hóa cho\r\nphép xác định biên độ trường hợp xấu nhất trong dải tìm kiếm của cột anten và\r\nbàn xoay. Ví dụ, nếu EUT phát ra các tín hiệu trực tiếp cao trong mặt phẳng nằm\r\nngang, ví dụ do các khe trong hộp, bàn xoay cần được quay liên tục trong khi\r\nlấy dữ liệu bằng máy thu. Mặt khác, việc dịch chuyển bàn theo các nấc rời rạc\r\ncó thể không cho phép phát hiện biên độ cực đại hoặc có thể gây ra mất tín hiệu\r\nhoàn toàn nếu độ tăng theo góc được chọn của các vị trí là quá cách xa nhau.\r\nThời gian quét của máy phân tích phổ cần nhỏ hơn thời gian để bàn xoay quay 15o\r\nđể tạo ra dữ liệu cực đại hóa hiệu quả.
\r\n\r\nMột chiến lược nghiên cứu có thể là\r\nquay bàn xoay 360o trong khi di rời anten ở độ cao cố định để tìm\r\ngóc cho biên độ phát xạ cực đại. Tiếp theo, bàn xoay được quay trở về hoàn toàn\r\nsau khi thay đổi phân cực của anten (ví dụ, từ ngang sang dọc). Trong qui trình\r\nnày, dữ liệu thử nghiệm được lấy liên tục bằng máy thu và ở cuối lần quét bàn\r\nthứ hai, các biên độ cao nhất, dựa trên góc của bàn xoay và phân cực anten,\r\nđược xác định. Từ đó, chọn được các vị trí trường hợp xấu nhất của anten và bàn\r\nxoay và anten được quét trên dải độ cao yêu cầu để tìm vị trí cho biên độ lớn\r\nnhất. Tại điểm này, mức phát xạ được ghi lại sử dụng bộ tách sóng tựa đỉnh của\r\nmáy thu sau khi trở về độ cao phát xạ lớn nhất hoặc tiếp tục tìm kiếm tinh hơn\r\nvợi việc quay tăng dần bàn xoay và sau đó là tìm kiếm độ cao tăng dần để tìm\r\nbiên độ phát xạ lớn nhất ở tần số cho trước với độ chính xác cao hơn. Lại một\r\nlần nữa, điều quan trọng là phải hiểu về dạng bức xạ của EUT để cấu hình phần\r\nmềm đối với chiến lược tìm kiếm tối ưu để tìm được giá trị lớn nhất của phát xạ\r\ncủa EUT trong thời gian ngắn nhất. Tính biến động được đưa vào kết quả thử\r\nnghiệm khi phép đo cuối cùng được thực hiện trên đoạn dốc của dạng phát xạ mà\r\nkhông phải ở đỉnh của nó.
\r\n\r\n8.6. Xử lý\r\ncuối cùng và báo cáo
\r\n\r\nPhần cuối cùng của qui trình thử\r\nnghiệm qui định các yêu cầu về tài liệu. Chức năng để xác định chuỗi sắp xếp và\r\nchuỗi so sánh mà sau đó có thể áp dụng một cách tự động hoặc có tương tác cho\r\ndanh mục tín hiệu hỗ trợ người sử dụng biên soạn các hồ sơ và tài liệu cần\r\nthiết. Biên độ tín hiệu đỉnh, tựa đỉnh hoặc trung bình đã được hiệu chỉnh cần\r\nsẵn có như tiêu chí phân loại hoặc lựa chọn. Kết quả của các qui trình này được\r\nlưu giữ trong danh mục riêng rẽ hoặc có thể kếp hợp trong một danh mục và sẵn\r\ncó để lập tài liệu hoặc xử lý thêm.
\r\n\r\nKết quả phải sẵn có ở dạng bảng và\r\ndạng đồ thị để sử dụng trong hồ sơ thử nghiệm. Ngoài ra, thông tin về chính hệ\r\nthống thử nghiệm, ví dụ, bộ chuyển đổi được sử dụng, dụng cụ đo, và tài liệu về\r\nbố trí EUT theo yêu cầu của tiêu chuẩn sản phẩm, cũng cần là một phần của hồ sơ\r\nthử nghiệm.
\r\n\r\n\r\n\r\n
(tham\r\nkhảo)
\r\n\r\nA.1. Yêu cầu chung
\r\n\r\nPhát xạ cao ở môi trường xung quanh\r\nphải được tính đến trong quá trình thử nghiệm tại hiện trường (dẫn và bức xạ)\r\nvà thử nghiệm điển hình ở vị trí thử nghiệm thoáng (OATS). Mục đích của phụ lục\r\nnày là mô tả qui trình đo cho nhiều trường hợp khác nhau.
\r\n\r\nTrong một số trường hợp, các qui\r\ntrình sẽ không đưa ra giải pháp cho các vấn đề do các tín hiệu xung quanh gây\r\nra. Cụ thể là, các qui trình không thể khắc phục các vấn đề ở 5.2.4 của TCVN\r\n6989-1-4 (CISPR 16-1-4). Nhưng ngoài các vấn đề này thì có thể sử dụng các qui\r\ntrình dưới đây.
\r\n\r\nA.2. Định nghĩa
\r\n\r\nA.2.1. Nhiễu EUT (EUT\r\ndisturbance)
\r\n\r\nPhổ phát xạ cần đo của EUT.
\r\n\r\nA.2.2. Phát xạ của môi trường\r\nxung quanh (ambient emission)
\r\n\r\nPhổ phát xạ xếp chồng lên phổ nhiễu\r\nEUT làm ảnh hưởng đến độ chính xác của phép đo nhiễu của EUT.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Phương pháp này không\r\nxét đến các qui trình ở 10.8 của CISPR 22 [3].
\r\n\r\nA.3. Mô tả vấn đề
\r\n\r\nTrong thử nghiệm tại hiện trường và\r\nthử nghiệm điển hình trên OATS, phát xạ của môi trường xung quanh thường không\r\ntương ứng với môi trường tần số rađiô xung quanh của vị trí thử nghiệm khuyến\r\ncáo ở TCVN 6989-1-4 (CISPR 16-1-4).
\r\n\r\nNhiễu rađiô của EUT thường có trong\r\ncác băng tần phát xạ của môi trường xung quanh và không thể đo với máy thu đo\r\nnhiễu rađiô như qui định ở TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1) do không đủ khoảng cách\r\ntần số giữa nhiễu EUT và phát xạ của môi trường xung quanh hoặc do xếp chồng.
\r\n\r\nMáy thu đo tiêu chuẩn CISPR thích\r\nhợp để cung cấp các kết quả thử nghiệm đồng nhất cho tất cả các loại phát xạ\r\ntần số rađiô, trong đó riêng nhiễu EUT là cần đo. Tuy nhiên, để phân biệt giữa\r\nnhiễu EUT và phát xạ của môi trường xung quanh hoặc để đo nhiễu EUT trong\r\ntrường hợp đã kể trên là không tối ưu.
\r\n\r\nVì trong các trường hợp khảo sát\r\nnhiễu thực tế, không có thử nghiệm thay thế cho thử nghiệm tại hiện trường nên\r\ndưới đây đưa ra giải pháp cho các trường hợp khi có thể có sự khác nhau giữa\r\nnhiễu EUT và phát xạ môi trường.
\r\n\r\nA.4. Giải pháp đề xuất
\r\n\r\nA.4.1. Tổng quan
\r\n\r\nPhát xạ nhiễu EUT và phát xạ môi\r\ntrường có thể được phân loại như trong Bảng A.1.
\r\n\r\nBảng\r\nA.1 – Kết hợp nhiễu EUT và phát xạ của môi trường xung quanh
\r\n\r\n| \r\n Nhiễu\r\n EUT \r\n | \r\n \r\n Phát\r\n xạ của môi trường xung quanh \r\n | \r\n
| \r\n Băng\r\n hẹp \r\n | \r\n \r\n Băng\r\n hẹp \r\n | \r\n
| \r\n Băng\r\n rộng \r\n | \r\n |
| \r\n Băng\r\n rộng \r\n | \r\n \r\n Băng\r\n hẹp \r\n | \r\n
| \r\n Băng\r\n rộng \r\n | \r\n
Phát xạ băng hẹp của môi trường\r\nxung quanh có thể được điều biên hoặc điều tần; phát xạ băng rộng của môi\r\ntrường xung quanh có thể là, ví dụ, tín hiệu TV hoặc điều chế digital. ở đây,\r\nthuật ngữ “băng hẹp” và “băng rộng” luôn liên quan đến độ rộng băng tần của máy\r\nthu đo, như qui định trong TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1). Tín hiệu băng hẹp được\r\nxác định là tín hiệu có độ rộng băng tần nhỏ hơn độ rộng băng tần của máy thu\r\nđo. Trong trường hợp này, tất cả các thành phần phổ của tín hiệu được chứa\r\ntrong độ rộng băng tần của máy thu. Tín hiệu sóng liên tục luôn là băng hẹp;\r\ntín hiệu điều tần hẹp có thể là băng hẹp hoặc băng rộng, tuỳ thuộc vào độ rộng\r\nbăng tần của máy thu thực tế. Ngược lại, tín hiệu xung thường là băng rộng vì\r\nchỉ rất ít thành phần phổ của nó nằm trong độ rộng băng tần của máy thu còn\r\nphần lớn các thành phần phổ của nó nằm ngoài độ rộng băng tần của máy thu.
\r\n\r\nPhép đo nhiễu EUT là một vấn đề\r\nphức tạp: đầu tiên là để nhận biết nhiễu EUT và phát xạ của môi trường xung\r\nquanh và thứ hai là để phân biệt giữa phát xạ băng hẹp và phát xạ băng rộng.\r\nMáy thu đo hiện đại và máy phân tích phổ cung cấp các độ rộng băng tần phân\r\ngiải khác nhau và các loại bộ tách sóng. Các máy này có thể được dùng để phân\r\ntích phổ kết hợp, để phân biệt giữa phổ nhiễu EUT và phổ phát xạ của môi trường\r\nxung quanh, để phân biệt giữa phát xạ băng hẹp và phát xạ băng rộng và để đo\r\n(hoặc trong các trường hợp khó khăn, để ước tính) nhiễu EUT.
\r\n\r\nTrong trường hợp thử nghiệm điển\r\nhình ở OATS, nhận biết và đo sơ bộ nhiễu EUT cũng có thể được thực hiện bằng\r\ncách thử nghiệm sơ bộ EUT trong phòng có chống nhiễu có lót chất hấp thụ không\r\nphù hợp (ví dụ, một phần), và thử nghiệm cuối cùng ở OATS trong đó các mức phát\r\nxạ bị che bởi môi trường xung quanh có thể được xác định bằng cách so sánh với\r\nphát xạ trong vùng lân cận.
\r\n\r\nXếp chồng các phát xạ phải được\r\ntính đến khi nhiễu EUT và phát xạ của môi trường xung quanh không thể tách\r\nriêng. Việc tách riêng cần có tỷ số giữa phát xạ nhiễu EUT và môi trường xung\r\nquanh trên phát xạ của môi trường xung quanh là khoảng 20 dB.
\r\n\r\nTrong trường hợp khi độ rộng băng\r\ntần IF và bộ tách sóng khác với độ rộng băng tần qui định và bộ tách sóng tựa\r\nđỉnh (QP), giá trị QP ở độ rộng băng tần qui định được lấy làm chuẩn để xác\r\nđịnh sai số của phép đo.
\r\n\r\nHình A.1 thể hiện lưu đồ chọn độ\r\nrộng băng tần và bộ tách sóng và sai số đo ước tính do việc chọn này.
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
Hình\r\nA.1 - Lưu đồ để chọn độ rộng băng tần và bộ tách sóng và sai số đo ước tính do\r\nviệc chọn này
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
A.4.2. Thử nghiệm sơ bộ EUT\r\ntrong phòng có chống nhiễu
\r\n\r\nDữ liệu về tần số và biên độ phát\r\nxạ có được từ thử nghiệm sơ bộ trong phòng có chống nhiễu có thể được sử dụng\r\ntrong các điều kiện hạn chế nhất định [phòng chống nhiễu đơn giản không phải là\r\nphòng có chống nhiễu có lót chất hấp thụ – bán hấp thụ hoặc hấp thụ hoàn toàn –\r\nvà do đó không đáp ứng được các giá trị NSA hiện hành trong Phụ lục E của TCVN\r\n6989-1-4 (CISPR 16-1-4, (Phụ lục A của [3])]. Dữ liệu này sẽ cho các giá trị\r\nphổ phát xạ có biên độ đáng kể. Trong trường hợp phát xạ băng hẹp, phổ phát xạ\r\ncủa sản phẩm có các hài và hài phụ của tần số nhịp bất kỳ được dùng trong sản\r\nphẩm.
\r\n\r\nCác kết quả thử nghiệm sơ bộ này có\r\nthể được dùng để xác định các biên độ phát xạ của sản phẩm trong các trường hợp\r\nhạn chế nhất định. Cụ thể là, khi thực hiện thử nghiệm sự phù hợp cuối cùng ở\r\nOATS và một (hoặc nhiều) tần số bị che (ẩn) bởi môi trường RF thì khả năng là\r\ntần số liền kề với các tần số bị che này sẽ không trùng khớp với môi trường RF.\r\nDo đó, phát xạ không bị che chắn có thể được ghi lại theo cách bình thường sử\r\ndụng máy thu hoặc máy phân tích phổ có độ rộng băng tần yêu cầu. Sau đó, biên\r\nđộ của phát xạ EUT bị che bởi môi trường RF cao có thể được đánh giá sử dụng\r\nphép đo sơ bộ trong phòng hấp thụ hoàn toàn theo cách dưới đây.
\r\n\r\nGiả thiết rằng trong quá trình đo\r\nsơ bộ ở phòng có chống nhiễu, hai phát xạ tần số liền kề chênh lệch X dB về\r\nbiên độ (xem Hình A.2). Tần số tiếp theo của các tần số này không bị che bởi\r\nmôi trường RF được đo ở OATS. Sự chênh lệch về biên độ (X dB) của tần số bị che\r\nso với tần số liền kề đo được có thể được cộng thêm (hoặc trừ đi, tuỳ thuộc vào\r\ndấu của chênh lệch) vào biên độ tìm được trong phòng có chống nhiễu để xác định\r\nbiên độ của các tần số liền kề. Điều này được chỉ ra trong Hình A.2, trong đó\r\n(giả thiết rằng tần số f1 là tần số bị che và f0 là tần\r\nsố không bị che), biên độ đối với f1 được thể hiện lớn hơn X dB so\r\nvới biên độ ở f0. Sau đó, để tìm biên độ của f1 ở OATS,\r\ncộng thêm X dB vào giá trị của biên độ đo được của f0. Tương tự, nếu\r\nbiên độ của f6 nhỏ hơn biên đối của f7 là Y dB trong quá\r\ntrình thử nghiệm trong phòng hấp thụ hoàn toàn thì biên độ f6 (nếu\r\nbị che bởi môi trường xung quanh) nhỏ hơn biên độ của f7 là Y dB,\r\nđược giả thiết là đo được ở OATS.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Qui trình ở trên nhấn\r\nmạnh đến những điều chứa trong điểm c) của 7.3.6.2 (môi trường thử nghiệm).
\r\n\r\nCần thực hiện một số phòng ngừa khi\r\nsử dụng qui trình có hạn chế này.
\r\n\r\na) Tần số liền kề tìm được trong\r\nthử nghiệm sơ bộ không được lớn hơn một hoặc hai tần số kề ngay cạnh (thường là\r\nhài con hoặc hài của tần số nhịp cơ bản), để ảnh hưởng của sự không đều đặn của\r\nphòng có chống nhiễu không làm tăng hoặc làm giảm một cách không cần thiết tần\r\nsố liền kề với tần số cần ước tính ở OATS. Trong trường hợp này, giá trị X\r\n(hoặc Y trên Hình A.2) có thể không thích hợp.
\r\n\r\nb) Biên độ của tần số liền kề cần\r\nđược đo rất cẩn thận bằng cách quét độ cao của anten thu trong phòng hấp thụ\r\nhoàn toàn (như là trường hợp đối với phép đo cuối về sự phù hợp). Nếu không thể\r\nthực hiện quét độ cao đầy đủ thì có thể phải thực hiện mối tương quan xen kẽ\r\ngiữa phép đo trong phòng hấp thụ hoàn toàn và phép đo ở OATS trước khi áp dụng\r\nkỹ thuật ước tính biên độ ở OATS này (đối với phát xạ bị che bởi môi trường\r\nRF).
\r\n\r\nc) Đối với phòng hấp thụ hoàn toàn\r\nđược lót hoàn toàn bằng chất hấp thụ ở cả sáu mặt của phòng, kỹ thuật quét độ\r\ncao thay thế có thể sẵn có, ví dụ như đo ở hai hoặc ba độ cao cố định (vì các\r\nphản xạ từ mặt phẳng nền bị khử và sự góp phần vào tín hiệu thu bị giảm bớt) và\r\nsử dụng số đọc lớn nhất trong các số đọc này. Kỹ thuật này có thể cần các phép\r\nđo tương quan tương tự như được chỉ ra ở điểm b) ở trên.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Nói chung, fn\r\nbằng n lần tần số phát xạ cơ bản của EUT, f0 (tần số nhịp cơ bản).
\r\n\r\nHình\r\nA.2 – Chênh lệch tương đối về các biên độ phát xạ liền kề trong thử nghiệm sơ\r\nbộ
\r\n\r\nA.4.3. Phương pháp đo nhiễu EUT\r\nkhi có phát xạ băng hẹp của môi trường xung quanh
\r\n\r\nA.4.3.1. Yêu cầu chung
\r\n\r\nTuỳ thuộc vào loại nhiễu EUT, phép\r\nđo của nó có thể dựa vào:
\r\n\r\n- phân tích phổ kết hợp ở băng tần\r\nhẹp hơn băng tần của máy thu đo CISPR;
\r\n\r\n- xác định băng tần thích hợp của\r\nphép đo để chọn nhiễu băng hẹp sát với phát xạ của môi trường xung quanh;
\r\n\r\n- sử dụng bộ tách sóng đỉnh (nếu\r\nnhiễu được điều chế biên độ hoặc điều chế xung) hoặc bộ tách sóng trung bình;
\r\n\r\n- tăng tỷ số giữa nhiễu EUT và phát\r\nxạ của môi trường xung quanh trong trường hợp nhiễu băng hẹp nằm trong phạm vi\r\nphát xạ băng rộng tương đối của môi trường xung quanh khi sử dụng băng tần đo\r\nhẹp hơn; và
\r\n\r\n- tính đến xếp chồng của nhiễu EUT\r\nvà phát xạ của môi trường xung quanh, nếu không thể tách riêng.
\r\n\r\nA.4.3.2. Nhiễu EUT không điều\r\nchế
\r\n\r\nNhiễu EUT không điều chế (xem Hình\r\nA.3) có thể được tách riêng khỏi tín hiệu sóng mang của môi trường xung quanh\r\nbằng cách chọn độ rộng băng tần đo hẹp thích hợp. Có thể sử dụng bộ tách sóng đỉnh\r\nhoặc bộ tách sóng trung bình. Không có sai số đo thêm vào so với bộ tách sóng\r\ntựa đỉnh. Nếu chênh lệch về mức giữa các giá trị đỉnh và giá trị trung bình là\r\nrất nhỏ (ví dụ, nhỏ hơn 1 dB), thì giá trị trung bình đo được là tương đương\r\nvới giá trị tựa đỉnh.
\r\n\r\nChú dẫn
\r\n\r\nĐường nét đứt Nhiễu\r\nEUT
\r\n\r\nĐường đậm nét phát xạ\r\ncủa môi trường xung quanh
\r\n\r\nĐường nét mảnh Băng tần\r\nIF 120 kHz
\r\n\r\nHình\r\nA.3 – Nhiễu bởi tín hiệu không điều chế (đường nét đứt)
\r\n\r\nA.4.3.3. Nhiễu EUT có điều biên
\r\n\r\nNhiễu EUT có điều biên (xem Hình\r\nA.4) có thể được tách ra khỏi tín hiệu sóng mang của môi trường xung quanh bằng\r\ncách chọn băng tần đo hẹp thích hợp. Cần cẩn thận để đảm bảo rằng băng tần đo\r\nhẹp được chọn không khử phổ điều chế của nhiễu EUT. Khử phổ điều chế này được\r\nnhận biết bởi độ giảm biên độ đỉnh của nhiễu EUT do tăng tính chọn lọc.
\r\n\r\nChú dẫn
\r\n\r\nĐường nét đứt Nhiễu\r\nEUT
\r\n\r\nĐường đậm nét Phát xạ\r\ncủa môi trường xung quanh
\r\n\r\nĐường nét mảnh Băng tần\r\nIF 120 kHz
\r\n\r\nHình\r\nA.4 – Nhiễu bởi tín hiệu có điều biên (đường nét đứt)
\r\n\r\nChỉ sử dụng bộ tách sóng đỉnh có\r\nthời gian đo lớn hơn nghịch đảo của tần số điều chế. Sai số đo thêm vào phải\r\nđược tính đến đối với các tần số điều chế thấp hơn 10 Hz (0,4 dB ở 10 Hz; 1,4\r\ndB ở 2 Hz đối với băng C và D và 0,9 dB ở 10 Hz; 3 dB ở 2 Hz đối với băng B),\r\ntrong đó giá trị đỉnh nằm trên giá trị tựa đỉnh. Giá trị tựa đỉnh là hàm số của\r\ntần số điều chế được thể hiện ở Hình A.5.
\r\n\r\nHình\r\nA.5 – Số chỉ của tín hiệu điều biên là hàm của tần số điều chế với bộ tách sóng\r\ntựa đỉnh trong băng CISPR B, C và D
\r\n\r\nA.4.3.4. Nhiễu EUT có điều chế\r\nxung
\r\n\r\nNhiễu có điều chế xung băng hẹp từ\r\nEUT được phân loại là trường hợp đặc biệt của điều biên và cũng có thể được\r\ntách ra khỏi tín hiệu sóng mang của môi trường xung quanh bằng băng tần đo hẹp\r\nthích hợp. Chọn lọc không được làm khử phổ điều chế. Chỉ được sử dụng bộ tách\r\nsóng đỉnh.
\r\n\r\nTrong trường hợp tần số lặp thấp,\r\ncó thể có sai số thêm nhưng miễn là chênh lệch giữa số đọc của bộ tách sóng\r\nđỉnh và số đọc của bộ tách sóng trung bình vào khoảng 12 dB đến 14 dB thì không\r\ncần tính đến sai số đo thêm vào so với giá trị tựa đỉnh.
\r\n\r\nĐối với độ rộng xung t = 50 µs,\r\nHình A.6 chỉ ra rằng miễn là chênh lệch giữa mức đỉnh và mức trung bình nhỏ hơn\r\nhoặc bằng 14 dB thì độ lệch giữa mức đỉnh và mức tựa đỉnh là không đáng kể. Do\r\nđó, có thể so sánh giữa mức đỉnh và mức trung bình để kiểm tra tính khả dụng\r\ncủa bộ tách sóng đỉnh.
\r\n\r\nHình\r\nA.6 – Số chỉ của tín hiệu điều chế xung (độ rộng xung bằng 50 µs) là hàm số của\r\ntần số lặp xung với bộ tách sóng đỉnh, tựa đỉnh và trung bình
\r\n\r\nA.4.3.5. Nhiễu EUT băng rộng
\r\n\r\nĐối với phép đo nhiễu băng rộng (xem\r\nHình A.7), phải sử dụng bộ tách sóng tựa đỉnh. Trên thực tế, không thể thực\r\nhiện phép đo trong băng tần của tín hiệu môi trường xung quanh. Vì băng tần có\r\nhạn nên nhìn chung nhiễu có thể được đo bên ngoài phổ tín hiệu của môi trường\r\nxung quanh sử dụng bộ tách sóng tựa đỉnh.
\r\n\r\nChú dẫn
\r\n\r\nĐường nét đứt Nhiễu\r\nEUT
\r\n\r\nĐường đậm nét Phát xạ\r\ncủa môi trường xung quanh
\r\n\r\nĐường nét mảnh Băng tần\r\nIF 120 kHz
\r\n\r\nHình\r\nA.7 – Nhiễu bởi tín hiệu băng rộng (đường nét đứt)
\r\n\r\nA.4.4. Phương pháp đo nhiễu EUT\r\nkhi có phát xạ băng rộng của môi trường xung quanh
\r\n\r\nA.4.4.1. Yêu cầu chung
\r\n\r\nĐối với trường hợp này, phương pháp\r\nđo dựa vào:
\r\n\r\n- phân tích phổ kết hợp ở băng tần\r\nbằng với băng tần của máy thu đo CISPR;
\r\n\r\n- đo với băng hẹp (trong trường hợp\r\nnhiễu EUT băng hẹp; việc sử dụng băng hẹp sẽ làm tăng tăng tỷ số giữa nhiễu EUT\r\nvà phát xạ của môi trường xung quanh);
\r\n\r\n- sử dụng bộ tách sóng trung bình\r\nđối với nhiễu EUT băng hẹp; và
\r\n\r\n- tính đến xếp chồng của nhiễu EUT\r\nvà phát xạ của môi trường xung quanh, nếu không thể tách riêng.
\r\n\r\nA.4.4.2. Nhiễu EUT không điều\r\nchế
\r\n\r\nBiên độ của nhiễu EUT (xem Hình\r\nA.8) cần được đo với bộ tách sóng trung bình (qui định trong TCVN 6989-1-1\r\n(CISPR 16-1-1)). Sai số đo phụ thuộc vào giá trị trung bình của phổ tín hiệu\r\nbăng rộng trong băng tần được chọn. Sai số đo này có thể được giảm thiểu bằng\r\ncách chọn băng tần đo để cực đại hóa tỷ số giữa nhiễu EUT và phát xạ của môi\r\ntrường xung quanh (phương pháp tính chọn lọc).
\r\n\r\nChú dẫn
\r\n\r\nĐường nét đứt Nhiễu\r\nEUT
\r\n\r\nĐường đậm nét Phát xạ\r\ncủa môi trường xung quanh
\r\n\r\nĐường nét mảnh Băng tần\r\nIF 120 kHz
\r\n\r\nHình\r\nA.8 – Nhiễu EUT không điều chế (đường nét đứt)
\r\n\r\nA.4.4.3. Nhiễu EUT có điều biên
\r\n\r\nBiên độ của nhiễu EUT (xem Hình\r\nA.9) được đo với bộ tách sóng trung bình, mặc dù phải tính đến sai số đo thêm\r\nvào đến 6 dB (điều chế 100 %) so với bộ tách sóng tựa đỉnh. Cần chọn các băng\r\ntần đo để cực đại hóa tỷ số giữa nhiễu EUT và phát xạ của môi trường xung quanh\r\n(phương pháp tính chọn lọc).
\r\n\r\nChú dẫn
\r\n\r\nĐường nét đứt Nhiễu\r\nEUT
\r\n\r\nĐường đậm nét Phát xạ\r\ncủa môi trường xung quanh
\r\n\r\nĐường nét mảnh Băng tần\r\nIF 120 kHz
\r\n\r\nHình\r\nA.3 – Nhiễu EUT có điều biên (đường nét đứt)
\r\n\r\nA.4.4.4. Nhiễu EUT có điều chế\r\nxung
\r\n\r\nViệc phát hiện và nhận biết nhiễu\r\nEUT có điều chế xung trong phổ tín hiệu băng rộng của môi trường xung quanh với\r\nmức tin cậy cao là không dễ dàng vì điều biên 100 % của nhiễu có thể che nhiễu\r\nEUT trong phổ này.
\r\n\r\nBiên độ của nhiễu EUT có thể được\r\nđo bằng bộ tách sóng trung bình trong trường hợp các chu kỳ làm việc lớn. Do độ\r\nsâu điều biên 100 % với chu kỳ làm việc nhỏ hơn nên việc sử dụng bộ tách sóng\r\ntrung bình sẽ làm tăng sai số đo so với bộ tách sóng tựa đỉnh. Trong trường hợp\r\nchu kỳ làm việc là 1:1 và sử dụng bộ tách sóng trung bình tuyến tính, sai số đo\r\nlà 6 dB. Độ rộng băng tần của phép đo phải sao cho mối liên quan giữa giá trị\r\ntrung bình đo được của nhiễu EUT và giá trị trung bình của tín hiệu băng rộng\r\nmôi trường xung quanh là lớn nhất.
\r\n\r\nTrong trường hợp chu kỳ làm việc\r\nnhỏ, giá trị trung bình sẽ sai lệch đáng kể so với giá trị tựa đỉnh. Trong\r\ntrường hợp này, cần sử dụng bộ tách sóng đỉnh kết hợp với độ rộng băng tần của\r\nphép đo càng hẹp càng tốt nhưng vẫn đủ rộng để chứa được hoàn toàn băng tần\r\nnhiễu. Có thể phải tính đến xếp chồng với phát xạ của môi trường xung quanh.
\r\n\r\nA.4.4.5. Nhiễu EUT băng rộng
\r\n\r\nVề qui tắc không thể phát hiện hoặc\r\nđo nhiễu băng rộng trong phổ tín hiệu băng rộng của môi trường xung quanh; có\r\nthể đo nhiễu này bên ngoài phổ tín hiệu môi trường hoặc bằng cách tính đến xếp\r\nchồng.
\r\n\r\nCác tổ hợp giữa nhiễu EUT với phát\r\nxạ của môi trường xung quanh và sai số liên quan trong phép đo được thể hiện\r\ntrong Bảng A.2.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Máy thu quét hoặc máy\r\nphân tích phổ sẽ cho phổ của hai tín hiệu băng rộng khác nhau, trừ khi tần số\r\ntín hiệu hoặc tốc độ xung hài hòa với nhau, hoặc tốc độ rà của thiết bị đo hài\r\nhoà với tốc độ xung đo được.
\r\n\r\nA.5. Xác định nhiễu EUT trong\r\ntrường hợp xếp chồng
\r\n\r\nDo kết quả của việc chọn nhiễu EUT\r\nvà phát xạ của môi trường xung quanh, nếu tỷ số giữa mức đo được và phát xạ của\r\nmôi trường xung quanh nhỏ hơn 20 dB thì cần tính đến xếp chồng phát xạ của môi\r\ntrường xung quanh và nhiễu EUT. Đối với điện áp xung băng rộng có thể cần thực\r\nhiện việc tính toán dưới đây.
\r\n\r\nTín hiệu thu được Ur là\r\ntổng của nhiễu EUT Ui và phát xạ của môi trường xung quanh Ua.\r\nUa chỉ có thể đo khi EUT được ngắt nguồn. Xếp chồng là tuyến tính\r\nđối với bộ tách sóng đỉnh (Hình A.10).
\r\n\r\nUa là mức phát xạ của\r\nmôi trường xung quanh
\r\n\r\nUi là mức nhiễu EUT
\r\n\r\nHình\r\nA.10 – Độ tăng giá trị đỉnh có xếp chồng hai tín hiệu không điều chế
\r\n\r\nCông thức dưới đây áp dụng khi sử\r\ndụng bộ tách sóng đỉnh:
\r\n\r\nUr\r\n= Ui + Ua (A.1)
\r\n\r\nDo đó, nhiễu EUT có thể được tính\r\ntừ công thức:
\r\n\r\nUi\r\n= Ur – Ua (A.2)
\r\n\r\nTỷ số biên độ d của tín hiệu thu\r\nđược so với phát xạ của môi trường xung quanh có thể dễ dàng tính được.
\r\n\r\nD =, d = 20logD (A.3)
Phát xạ của môi trường xung quanh Ua\r\ncó thể được thay vào công thức (A.2):
\r\n\r\n (A.4)
hoặc
\r\n\r\n (A.5)
i được xác định bằng công thức\r\n(A.6):
\r\n\r\n (A.6)
được dùng để xác định biên độ của\r\nnhiễu EUT. Hệ số i được minh họa trên Hình A.11. Sử dụng i từ Hình A.11, biên\r\nđộ của nhiễu EUT có thể được tính như sau:
\r\n\r\nUi,dB\r\n= Ur,dB - i (A.7)
\r\n\r\nUa là tín hiệu của môi\r\ntrường xung quanh, tính bằng dB
\r\n\r\nUr là số chỉ của tín\r\nhiệu thu được (bằng cách xếp chồng), tính bằng dB
\r\n\r\nUi là tín hiệu nhiễu,\r\ntính bằng dB
\r\n\r\nd = Ur – Ua
\r\n\r\nUi = Ur – i
\r\n\r\n![](\"00907211_files/image040.gif\"){kind=small}
Hình\r\nA.11 – Xác định biên độ của tín hiệu nhiễu bằng tỷ số biên độ d và hệ số i [xem\r\ncông thức (A.3) và công thức (A.6)]
\r\n\r\nHình A.11 có thể được sử dụng như\r\nsau:
\r\n\r\na) đo cường độ trường của môi\r\ntrường xung quanh, Ua, tính bằng dB(µV/m) (EUT được ngắt điện);
\r\n\r\nb) đo cường độ trường thu được Ur,\r\ntính bằng dB(µV/m) (EUT được đóng điện);
\r\n\r\nc) xác định d = Ur – Ua;
\r\n\r\nd) tìm giá trị i từ Hình A.11;
\r\n\r\ne) xác định Ui, tính\r\nbằng dB(µV/m) sử dụng công thức Ui = Ur – i.
\r\n\r\nNếu tín hiệu thu được được đo bằng\r\nbộ tách sóng trung bình thì có thể áp dụng Hình A.12. Hình A.12 chỉ ra rằng\r\ntrong trường hợp tín hiệu không điều chế, công thức:
\r\n\r\n (A.8)
có thể được sử dụng với sai số đo\r\nthêm vào đến khoảng 1,5 dB. Trong trường hợp điều chế, sai số giảm (xem Hình\r\nA.12) nhưng các sai số trong Bảng A.2 phải được tính đến.
\r\n\r\nBằng bộ tách sóng trung bình, nhiễu\r\ntrong băng có thể được ước tính bằng cách áp dụng công thức (A.7) nếu sử dụng\r\nđường cong của bộ tách sóng trung bình (Hình A.11) được sử dụng. Trong trường\r\nhợp này hệ số i được xác định là:
\r\n\r\n (A.9)
Hình\r\nA.12 – Mức tăng số chỉ trung bình đo được với máy thu thực và được tính từ công\r\nthức (A.8)
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
Bảng\r\nA.2 - Sai số đo phụ thuộc vào kiểu bộ tách sóng và phụ thuộc vào sự kết hợp của\r\nphổ tín hiệu môi trường xung quanh và phổ tín hiệu nhiễu
\r\n\r\n| \r\n Phát\r\n xạ của môi trường xung quanh \r\n | \r\n \r\n Nhiễu\r\n EUT \r\n | \r\n |||
| \r\n Không\r\n điều chế \r\n | \r\n \r\n Điều\r\n biên \r\n | \r\n \r\n Điều\r\n chế xung \r\n | \r\n \r\n Nhiễu\r\n băng rộng \r\n | \r\n |
| \r\n Băng\r\n hẹp \r\n | \r\n \r\n Tăng\r\n tính chọn lọc \r\n | \r\n \r\n Tăng\r\n tính chọn lọc \r\n | \r\n \r\n Tăng\r\n tính chọn lọc \r\n | \r\n \r\n Đo\r\n bên ngoài phát xạ của môi trường xung quanh \r\n | \r\n
| \r\n Các bước cần thực hiện để tăng tỷ\r\n số tín hiệu trên tạp \r\n | \r\n ||||
| \r\n Sai số của giá trị đỉnh | \r\n \r\n 0\r\n dB \r\n | \r\n \r\n Nhỏ\r\n hơn hoặc bằng | \r\n \r\n Nhỏ\r\n hơn hoặc bằng +1 dB | \r\n \r\n - \r\n | \r\n
| \r\n Sai số của giá trị trung bình | \r\n \r\n 0\r\n dB \r\n | \r\n \r\n Nhỏ\r\n hơn hoặc bằng -6 dBa \r\n | \r\n \r\n Lớn\r\n hơn hoặc bằng -6 dBa \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n
| \r\n Băng\r\n rộng \r\n | \r\n \r\n Tính\r\n chọn lọc \r\n | \r\n \r\n Tính\r\n chọn lọc \r\n | \r\n \r\n Tính\r\n chọn lọc \r\n | \r\n \r\n Không\r\n thực hiện được phép đo (chỉ xếp chồng) \r\n | \r\n
| \r\n Các bước cần thực hiện để tăng tỷ\r\n số tín hiệu trên tạp \r\n | \r\n ||||
| \r\n Sai số của giá trị đỉnh | \r\n \r\n +X\r\n dBa \r\n | \r\n \r\n Nhỏ\r\n hơn hoặc bằng +X dBa \r\n | \r\n \r\n Lớn\r\n hơn hoặc bằng +X dBa \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n
| \r\n Sai số của giá trị trung bình | \r\n \r\n 0\r\n dB \r\n | \r\n \r\n Nhỏ\r\n hơn hoặc bằng -6 dBa \r\n | \r\n \r\n Lớn\r\n hơn hoặc bằng -6 dBa \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n
| \r\n a Qui trình đo không được khuyến\r\n cáo - không cho phép đối với các phép đo sự phù hợp. \r\n | \r\n ||||
| \r\n CHÚ THÍCH 1: X là sai số phụ\r\n thuộc vào đặc tính xung của phát xạ của môi trường xung quanh. \r\nCHÚ THÍCH 2: PL là giá trị đỉnh;\r\n QP là giá trị tựa đỉnh; AV là giá trị trung bình. \r\nCHÚ THÍCH 3: Băng B, C, D được\r\n xác định trong TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1). \r\n | \r\n ||||
![](\"00907211_files/image045.gif\"){kind=small}
![](\"00907211_files/image047.gif\"){kind=small}
\r\n\r\n
\r\n\r\n\r\n
(tham\r\nkhảo)
\r\n\r\nB.1. Giới thiệu
\r\n\r\nKhi sử dụng các máy phân tích phổ\r\nvà máy thu quét, phải tính đến các đặc tính sau. Xem thêm Điều 6 của tiêu chuẩn\r\nnày để có thêm thông tin.
\r\n\r\nB.2. Quá tải
\r\n\r\nHầu hết các máy phân tích phổ không\r\nchọn sơ bộ RF trong dải tần đến 2 000 MHz; điều đó có nghĩa là, tín hiệu đầu\r\nvào được cấp trực tiếp cho bộ trộn băng rộng. Để tránh quá tải, tránh làm hỏng\r\nvà để máy phân tích phổ làm việc tuyến tính, biên độ tín hiệu ở bộ trộn thường\r\nphải nhỏ hơn 150 mV đỉnh. Bộ suy giảm RF hoặc việc chọn trước RF bổ sung có thể\r\ncần thiết để giảm tín hiệu đầu vào về mức này.
\r\n\r\nB.3. Thử nghiệm tính tuyến tính
\r\n\r\nTính tuyến tính có thể được đo bằng\r\ncách đo mức tín hiệu cụ thể cần nghiên cứu và lặp lại phép đo này sau khi bộ\r\nsuy giảm X dB được đặt tại đầu vào của thiết bị đo hoặc đầu vào bộ tiền khuếch\r\nđại (X ³ 6 dB) nếu được sử dụng. Nếu hệ\r\nthống đo là tuyến tính thì số đọc mới của thiết bị đo được hiển thị sai khác so\r\nvới số đọc đầu là X dB đến ± 0,5 dB.
\r\n\r\nB.4. Tính chọn lọc
\r\n\r\nMáy phân tích phổ và máy thu quét\r\nphải có độ rộng băng tần qui định trong TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1) để đo\r\nchính xác các tín hiệu băng rộng, tín hiệu xung và nhiễu băng hẹp với một số\r\nthành phần phổ nằm trong độ rộng băng tần tiêu chuẩn.
\r\n\r\nB.5. Đáp tuyến vuông góc với\r\nxung
\r\n\r\nĐáp tuyến của máy phân tích phổ và\r\nmáy thu quét có tách sóng tựa đỉnh có thể được kiểm tra bằng các xung thử\r\nnghiệm hiệu chuẩn qui định trong TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1). Điện áp đỉnh lớn\r\ncủa các xung thử nghiệm hiệu chuẩn thường đòi hỏi việc đặt bộ suy giảm RF 40 dB\r\nhoặc lớn hơn vào để thoả mãn yêu cầu về tuyến tính. Việc này làm giảm độ nhạy\r\nvà làm cho phép đo có tốc độ lặp lại thấp và không thể tách các xung thử nghiệm\r\nhiệu chuẩn đối với băng tần B, C và D. Nếu dùng bộ lọc chọn trước đặt trước\r\nthiết bị đo, thì mức suy giảm RF có thể giảm. Bộ lọc hạn chế độ rộng phổ của\r\nxung thử nghiệm hiệu chuẩn được xem như bộ trộn.
\r\n\r\nB.6. Tách sóng đỉnh
\r\n\r\nPhương thức tách sóng (đỉnh) thông\r\nthường của thiết bị phân tích phổ cung cấp chỉ số hiển thị, về cơ bản, không\r\nbao giờ nhỏ hơn chỉ số tựa đỉnh. Điều này thuận lợi cho việc đo phát xạ sử dụng\r\ntách sóng đỉnh vì nó cho phép quét tần số nhanh hơn tách sóng tựa đỉnh. Sau đó,\r\ncần đo lại các tín hiệu gần với giới hạn phát xạ bằng cách sử dụng tách sóng\r\ntựa đỉnh để ghi lại các biên độ tựa đỉnh.
\r\n\r\nB.7. Tốc độ quét tần số
\r\n\r\nTốc độ quét của thiết bị phân tích\r\nphổ hoặc máy thu quét cần được điều chỉnh đối với băng tần CISPR và phương thức\r\ntách sóng sử dụng. Thời gian tần số quét nhỏ nhất hoặc tốc độ quét nhanh nhất\r\nđược liệt kê trong bảng sau:
\r\n\r\n| \r\n Băng\r\n tần \r\n | \r\n \r\n Tách\r\n sóng đỉnh \r\n | \r\n \r\n Tách\r\n sóng tựa đỉnh \r\n | \r\n
| \r\n A \r\n | \r\n \r\n 100\r\n ms/kHz \r\n | \r\n \r\n 20\r\n s/kHz \r\n | \r\n
| \r\n B \r\n | \r\n \r\n 100\r\n ms /MHz \r\n | \r\n \r\n 200\r\n s/MHz \r\n | \r\n
| \r\n C\r\n và D \r\n | \r\n \r\n 1\r\n ms/MHz \r\n | \r\n \r\n 20\r\n s/MHz \r\n | \r\n
Đối với thiết bị phân tích phổ hoặc\r\nmáy thu quét sử dụng ở phương thức không quét được chỉnh cố định, thời gian\r\nquét hiển thị có thể được điều chỉnh không phụ thuộc vào phương thức tách sóng\r\nvào theo yêu cầu theo dõi tác động của phát xạ. Nếu mức nhiễu không ổn định,\r\nthì số đọc trên thiết bị đo phải được quan sát trong ít nhất 15 s để xác định\r\ngiá trị lớn nhất (xem 6.5.1).
\r\n\r\nB.8. Chặn tín hiệu
\r\n\r\nPhổ của phát xạ gián đoạn có thể\r\nthu được với tách sóng đỉnh và lưu giữ hiển thị kỹ thuật số nếu được cung cấp.\r\nViệc quét nhiều lần ở tần số nhanh, rút ngắn thời gian chặn phát xạ so với quét\r\nmột lần tần số chậm. Thời gian bắt đầu quét cần được thay đổi nhằm tránh trùng\r\nlặp với phát xạ và do đó che lấp nó. Tổng thời gian theo dõi đối với dải tần\r\ncho trước phải dài hơn thời gian giữa các phát xạ. Tuỳ theo loại nhiễu cần đo,\r\ncác phép đo tách sóng đỉnh có thể thay thế toàn bộ hoặc một phần các phép đo\r\ncần thiết sử dụng tách sóng tựa đỉnh. Sau đó, cần thực hiện việc thử nghiệm\r\nlại, sử dụng bộ tách sóng tựa đỉnh ở các tần số mà tại đó thu được phát xạ lớn\r\nnhất.
\r\n\r\nB.9. Tách sóng trung bình
\r\n\r\nTách sóng trung bình với thiết bị\r\nphân tích phổ đạt được bằng cách giảm độ rộng băng tần hình cho đến khi không\r\nnhìn thấy sự san bằng tín hiệu hiển thị. Thời gian rà phải tăng cùng với việc\r\ngiảm độ rộng băng tần hình để duy trì biên độ hiệu chuẩn. Đối với các phép đo\r\nnhư vậy, máy thu phải được sử dụng ở phương thức tuyến tính của bộ tách sóng.\r\nSau khi thực hiện việc tách sóng tuyến tính, tín hiệu có thể được xử lý theo\r\nlôga để hiển thị, trong trường hợp đó giá trị được hiệu chỉnh ngay cả khi nó là\r\nhàm lôga của tín hiệu tách sóng tuyến tính.
\r\n\r\nPhương thức hiển thị biên độ dạng\r\nlôga có thể được sử dụng, ví dụ, để phân biệt tốt hơn giữa tín hiệu băng tần\r\nhẹp và tín hiệu băng tần rộng. Giá trị hiển thị là giá trị trung bình của hình\r\nbao tín hiệu méo IF theo lôga. Nó dẫn đến sự suy giảm lớn hơn của tín hiệu băng\r\ntần rộng so với ở phương thức tách sóng tuyến tính mà không ảnh hưởng đến giá\r\ntrị hiển thị của tín hiệu băng tần hẹp. Việc lọc hình theo phương thức loga, vì\r\nthế, đặc biệt có ích cho việc đánh giá thành phần băng tần hẹp trong phổ có\r\nchứa cả hai dạng.
\r\n\r\nB.10. Độ nhạy
\r\n\r\nĐộ nhạy có thể tăng với khuếch đại\r\nsơ bộ RF tạp thấp đặt trước thiết bị phân tích phổ. Mức tín hiệu đầu vào bộ\r\nkhuếch đại cần được điều chỉnh bằng bộ suy giảm để thử nghiệm tính tuyến tính\r\ncủa toàn bộ hệ thống đối với tín hiệu đang nghiên cứu.
\r\n\r\nĐộ nhạy với phát xạ băng tần cực\r\nrộng, đòi hỏi suy giảm RF lớn đối với tính tuyến tính hệ thống, tăng lên với bộ\r\nlọc chọn trước RF đặt trước thiết bị phân tích phổ. Các bộ lọc này làm giảm\r\nbiên độ đỉnh của phát xạ băng tần rộng và có thể sử dụng suy giảm RF nhỏ hơn.\r\nCác bộ lọc này có thể cần thiết để loại bỏ hoặc làm giảm tín hiệu ngoài băng\r\ntần mạnh và các sản phẩm điều biến tương hỗ do chúng gây ra. Nếu các bộ lọc này\r\nđược sử dụng thì chúng phải được hiệu chuẩn với tín hiệu băng tần rộng.
\r\n\r\nB.11. Độ chính xác về biên độ
\r\n\r\nĐộ chính xác biên độ của thiết bị\r\nphân tích phổ hoặc thiết bị đo quét có thể được kiểm tra bằng cách sử dụng bộ\r\ntạo tín hiệu, dụng cụ đo công suất và bộ suy giảm chính xác. Các đặc tính của\r\ntrang thiết bị, cáp và tổn hao không hợp bộ phải được phân tích để đánh giá sai\r\nsố trong thử nghiệm kiểm tra.
\r\n\r\n\r\n\r\n
(tham\r\nkhảo)
\r\n\r\nC.1. Yêu cầu chung
\r\n\r\nPhụ lục này nêu hướng dẫn về việc\r\nchọn tốc độ quét và thời gian đo khi đo nhiễu xung bằng bộ tách sóng trung\r\nbình.
\r\n\r\nBộ tách sóng trung bình có mục đích\r\ndưới đây:
\r\n\r\na) khử tạp xung và vì vậy mở rộng\r\nphép đo thành phần CW trong tín hiệu nhiễu cần đo
\r\n\r\nb) khử điều biên (AM) để đo mức mang\r\ncủa tín hiệu điều biên
\r\n\r\nc) chỉ ra số đọc giá trị đỉnh có\r\ntrọng số đối với nhiễu băng hẹp không liên tục, không ổn định hoặc nhiễu trôi\r\nsử dụng hằng số thời gian của đồng hồ đo tiêu chuẩn hóa.
\r\n\r\nĐiều 6 của tiêu chuẩn này định\r\nnghĩa máy thu đo trung bình ở dải tần từ 9 kHz đến 1 GHz.
\r\n\r\nĐể chọn độ rộng băng tần tín hiệu\r\nhình thích hợp và tốc độ quét hoặc thời gian đo tương ứng, áp dụng các xem xét\r\ndưới đây.
\r\n\r\nC.2. Khử nhiễu
\r\n\r\nC.2.1. Khử nhiễu xung
\r\n\r\nĐộ rộng xung Tp\r\ncủa nhiễu xung thường được xác định bằng độ rộng băng tần IF Bres,\r\ntức là Tp = 1/Bres. Để khử tạp này, hệ số\r\nkhử nhiễu a được xác định nhờ độ rộng băng tần tín hiệu hình Bvideo\r\ntương đối so với độ rộng băng tần IF: a = 20lg (Bres/ Bvideo).\r\nĐộ rộng băng tần Bvideo được xác định bằng độ rộng băng tần\r\ncủa bộ lọc thông thấp sau bộ tách sóng bao. Để có xung dài hơn, hệ số khử nhiễu\r\nphải thấp hơn a. Thời gian quét nhỏ nhất Ts min (và tốc độ quét lớn\r\nnhất Rs max) được xác định bằng công thức sau:
\r\n\r\nTs\r\nmin = (k/Df)/Bres.Bvideo) (C.1)
\r\n\r\nRs\r\nmax = Df/Ts min\r\n= (Bres.Bvideo)/k (C.2)
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nDf\r\nlà khoảng tần số và
\r\n\r\nk là hệ số tỷ lệ, phụ thuộc vào tốc\r\nđộ của máy thu đo hoặc máy phân tích phổ.
\r\n\r\nĐể có thời gian quét dài hơn, k\r\nphải gần với 1. Nếu chọn độ rộng băng tần tín hiệu hình là 100 Hz thì phải đạt\r\nđược tốc độ quét lớn nhất và hệ số khử xung lớn nhất cho trong Bảng C.1.
\r\n\r\nBảng\r\nC.1 – Hệ số khử xung và tốc độ quét với độ rộng băng tần tín hiệu hình 100 Hz
\r\n\r\n| \r\n \r\n | \r\n \r\n Băng\r\n tần A \r\n | \r\n \r\n Băng\r\n tần B \r\n | \r\n \r\n Băng\r\n tần C và D \r\n | \r\n
| \r\n Dải tần \r\n | \r\n \r\n 9\r\n kHz đến 150 kHz \r\n | \r\n \r\n 150\r\n kHz đến 30 MHz \r\n | \r\n \r\n 30\r\n MHz đến 1 000 MHz \r\n | \r\n
| \r\n Độ rộng băng tần IF Bres \r\n | \r\n \r\n 200\r\n Hz \r\n | \r\n \r\n 9\r\n kHz \r\n | \r\n \r\n 120\r\n kHz \r\n | \r\n
| \r\n Độ rộng băng tần tín hiệu hình Bvideo \r\n | \r\n \r\n 100\r\n Hz \r\n | \r\n \r\n 100\r\n Hz \r\n | \r\n \r\n 100\r\n Hz \r\n | \r\n
| \r\n Tốc độ quét lớn nhất \r\n | \r\n \r\n 17,4\r\n kHz/s \r\n | \r\n \r\n 0,9\r\n MHz/s \r\n | \r\n \r\n 12\r\n MHz/s \r\n | \r\n
| \r\n Hệ số khử nhiễu lớn nhất \r\n | \r\n \r\n 6\r\n dB \r\n | \r\n \r\n 39\r\n dB \r\n | \r\n \r\n 61,5\r\n dB \r\n | \r\n
Có thể áp dụng bảng này cho tiêu\r\nchuẩn sản phẩm có yêu cầu các giới hạn tựa đỉnh và giới hạn trung bình trong\r\nbăng tần B (và C) nếu có khả năng có xung ngắn trong tín hiệu nhiễu. Phải chứng\r\ntỏ sự phù hợp của EUT với cả hai giới hạn này. Nếu tần số lặp xung lớn hơn 100\r\nHz và giới hạn tựa đỉnh không bị vượt quá do nhiễu xung thì các xung ngắn được\r\nkhử thích hợp đối với tách sóng trung bình có độ rộng băng tần tín hiệu hình là\r\n100 Hz.
\r\n\r\nC.2.2. Khử nhiễu xung bằng cách\r\nlấy trung bình số học
\r\n\r\nTách sóng trung bình có thể thực\r\nhiện được bằng cách lấy trung bình số học của biên độ tín hiệu. Khử nhiễu có\r\nhiệu quả tương đương có thể đạt được nếu thời gian lấy trung bình bằng nghịch\r\nđảo của độ rộng băng tần bộ lọc tín hiệu hình. Trong trường hợp này, hệ số khử\r\nnhiễu a = 20 lg (TavBres), trong đó Tav là\r\nthời gian lấy trung bình (hoặc thời gian đo) tại tần số nhất định. Do đó, thời\r\ngian đo bằng 10 ms sẽ cho hệ số khử nhiễu giống với độ rộng băng tần tín hiệu\r\nhình 100 Hz. Việc lấy trung bình số học có thuận lợi là thời gian trễ bằng 0\r\nkhi chuyển từ tần số này sang tần số khác. Mặt khác, để lấy trung bình của tần\r\nsố lặp xung nhất định fp thì kết quả có thể biến đổi tùy thuộc vào n\r\nhoặc (n+1) xung được tính trung bình. ảnh hưởng này là nhỏ hơn 1 dB nếu (Tavfp)>\r\n10.
\r\n\r\nC.2.3. Khử điều biên
\r\n\r\nĐể đo sóng mang của tín hiệu điều\r\nbiến, việc điều biến phải được khử bằng cách lấy trung bình tín hiệu trong một\r\nthời gian đủ dài hoặc bằng cách sử dụng bộ lọc tín hiệu hình với sự suy giảm\r\nthích hợp tại tần số nhỏ nhất. Nếu fm là tần số điều biến nhỏ nhất\r\nvà nếu giả thiết là sai số đo lớn nhất do điều biến 100 % được giới hạn ở 1 dB\r\nthì thời gian đo Tm nên là Tm = 10 / fm.
\r\n\r\nC.3 Phép đo nhiễu băng hẹp gián\r\nđoạn, không ổn định hoặc trôi chậm
\r\n\r\nTrong TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1)\r\nđáp tuyến của nhiễu băng hẹp gián đoạn, không ổn định hoặc trôi được xác định\r\nbằng cách sử dụng giá trị đọc đỉnh với hằng số thời gian của đồng hồ đo là 160\r\nms (đối với băng tần A và B) và 100 ms (đối với băng tần C và D). Các hằng số\r\nthời gian này tương ứng với độ rộng băng tần bộ lọc tín hiệu hình thứ hai tương\r\nứng là 0,64 Hz hoặc 1 Hz. Để có phép đo đúng, các độ rộng băng tần này đòi hỏi\r\nthời gian đo rất dài (xem Bảng C.2).
\r\n\r\nBảng\r\nC.2 – Hằng số thời gian của đồng hồ đo và độ rộng băng tần tín hiệu hình và tốc\r\nđộ quét lớn nhất tương ứng
\r\n\r\n| \r\n \r\n | \r\n \r\n Băng tần A \r\n | \r\n \r\n Băng tần B \r\n | \r\n \r\n Băng tần C và D \r\n | \r\n
| \r\n Dải tần \r\n | \r\n \r\n từ\r\n 9 kHz đến 150 kHz \r\n | \r\n \r\n từ\r\n 150 kHz đến 30 MHz \r\n | \r\n \r\n từ\r\n 30 MHz đến 1 000 MHz \r\n | \r\n
| \r\n Độ rộng băng tần IF Bres \r\n | \r\n \r\n 200\r\n Hz \r\n | \r\n \r\n 9\r\n kHz \r\n | \r\n \r\n 120\r\n kHz \r\n | \r\n
| \r\n Hằng số thời gian của đồng hồ đo \r\n | \r\n \r\n 160\r\n ms \r\n | \r\n \r\n 160\r\n ms \r\n | \r\n \r\n 100\r\n ms \r\n | \r\n
| \r\n Độ rộng băng tần tín hiệu hình Bvideo \r\n | \r\n \r\n 0,64\r\n Hz \r\n | \r\n \r\n 0,64\r\n Hz \r\n | \r\n \r\n 1\r\n Hz \r\n | \r\n
| \r\n Tốc độ quét lớn nhất \r\n | \r\n \r\n 8,9\r\n s/kHz \r\n | \r\n \r\n 172\r\n s/MHz \r\n | \r\n \r\n 8,3\r\n s/MHz \r\n | \r\n
Tuy nhiên, chỉ có thể áp dụng bảng\r\nnày cho các tần số lặp xung bằng 5 Hz hoặc nhỏ hơn. Đối với tất cả các độ rộng\r\nxung và tần số điều biến cao hơn, có thể sử dụng độ rộng băng tần bộ lọc tín\r\nhiệu hình cao hơn (xem C.2.1). Hình C.1 và C.2 biểu thị hàm trọng số của xung\r\ncó độ rộng 10 ms theo tần số lặp xung fp có số đọc giá trị đỉnh ("CISPR\r\nAV") và lấy trung bình thực tế ("AV") đối với hằng số thời gian\r\ncủa đồng hồ đo là 160 ms (Hình C.1) và 100 ms (Hình C.2).
\r\n\r\nMức tương đối, dB
\r\n\r\nHình\r\nC.1 – Hàm trọng số của xung 10 ms đối với tách sóng đỉnh ("PK") và\r\ntách sóng trung bình có số đọc đỉnh ("CISPR AV") và không có số đọc\r\nđỉnh ("AV"): hằng số thời gian của đồng hồ đo là 160 ms
\r\n\r\nMức tương đối, dB
\r\n\r\nHình\r\nC.2 – Hàm trọng số của xung 10 ms đối với tách sóng đỉnh ("PK") và\r\ntách sóng trung bình có số đọc đỉnh ("CISPR AV") và không có số đọc\r\nđỉnh ("AV"): hằng số thời gian của đồng hồ đo là 100 ms
\r\n\r\nHình C.1 và C.2 hàm ý là chênh lệch\r\ngiữa tách sóng trung bình có giá trị đọc đỉnh ("CISPR AV") và không\r\ncó giá trị đọc đỉnh ("AV") tăng khi tần số lặp xung fp\r\ngiảm. Hình C.3 và C.4 thể hiện chênh lệch với fp = 1 Hz là hàm của\r\nđộ rộng xung.
\r\n\r\nMức tương đối, dB
\r\n\r\nHình\r\nC.3 – Ví dụ về hàm trọng số (của xung 1 Hz) có tách sóng đỉnh ("PK")\r\nvà tách sóng trung bình là hàm của độ rộng xung: hằng số thời gian của đồng hồ\r\nđo là 160 ms
\r\n\r\nMức tương đối, dB
\r\n\r\nHình\r\nC.4 – Ví dụ về hàm trọng số (của xung 1 Hz) có tách sóng đỉnh ("PK")\r\nvà tách sóng trung bình là hàm của độ rộng xung: hằng số thời gian của đồng hồ\r\nđo là 100 ms
\r\n\r\nC.4 Qui trình khuyến cáo dùng\r\ncho phép đo tự động hoặc bán tự động
\r\n\r\nKhi đo EUT không phát ra nhiễu băng\r\nhẹp gián đoạn, không ổn định hoặc trôi chậm thì nên đo bằng bộ tách sóng trung\r\nbình sử dụng độ rộng băng tần bộ lọc tín hiệu hình ví dụ là 100 Hz, tức là thời\r\ngian tính trung bình ngắn trong suốt qui trình quét sơ bộ. Tại tần số mà phát\r\nxạ ở gần giới hạn trung bình thì nên thực hiện phép đo kết thúc sử dụng độ rộng\r\nbăng tần bộ lọc tín hiệu hình thấp hơn, tức là thời gian tính trung bình dài\r\nhơn. (Đối với qui trình đo quét sơ bộ/đo kết thúc, xem thêm Điều 8 của tiêu\r\nchuẩn này).
\r\n\r\nĐối với nhiễu băng hẹp gián đoạn,\r\nkhông ổn định hoặc trôi chậm thì phép đo bằng tay là giải pháp được ưu tiên.
\r\n\r\n\r\n\r\n
(tham\r\nkhảo)
\r\n\r\nMột trong hai phương pháp dưới đây\r\nđược sử dụng khi áp dụng phép đo APD cho thử nghiệm sự phù hợp. Hình D.1 và\r\nHình D.2 minh họa phương pháp đo APD cụ thể, bao gồm phép đo mức nhiễu (tức là\r\nphương pháp 1, xem 7.6.6.3.2) và phép đo xác suất (tức là phương pháp 2, xem\r\n7.6.6.3.3), tương ứng.
\r\n\r\nHình\r\nD.1 – Ví dụ về phép đo APD phương pháp 1 đối với nhiễu dao động
\r\n\r\nHình\r\nD.2 – Ví dụ về phép đo APD phương pháp 2 đối với nhiễu dao động
\r\n\r\nNếu kết quả đo sơ bộ, thu được bằng\r\ncách sử dụng phương thức hiển thị lưu giữ lớn nhất và tách sóng đỉnh, vượt quá\r\ngiới hạn APD qui định (nên sử dụng giới hạn cao hơn nếu áp dụng hai giới hạn\r\nAPD) YY dB ở tần số nhất định thì cần thực hiện phép đo APD ở các tần số xác\r\nđịnh này. Giá trị YY dB được qui định bởi ban kỹ thuật sản phẩm liên quan (ví\r\ndụ, YY = 5, 10, v.v…).
\r\n\r\nTrong trường hợp nhiễu dao động,\r\nban kỹ thuật sản phẩm cần qui định dải tần số XX (= Df x N) MHz mà ở đó phép đo APD được thực hiện, trong đó
ở bước thứ nhất, XX được xác định\r\nbằng các kết quả đo sơ bộ. Sau đó, Df\r\ncần bằng độ rộng băng tần phân dải (RBW) (RBW = 1 MHz đối với các phép đo trên\r\n1 GHz) của máy phân tích phổ. Tuy nhất, tất cả các tần số có giá trị APD nằm\r\ntrong khoảng 6 dB của giới hạn APD có thể cần kiểm tra thêm với cỡ bước tần số\r\nnhỏ hơn (tức là B6/2, trong đó B6 là băng tần 6 dB của\r\nmáy phân tích phổ). RBW của máy phân tích phổ đối với phép đo trên 1 GHz được\r\nxác định bởi băng tần xung Bimp mà không phải là băng tần 6 dB. Mối\r\nliên quan giữa Bimp và B6 phụ thuộc vào kiểu bộ lọc và\r\nkhông thể tổng quát hóa. Nếu Bimp có thể xấp xỉ B6 thì cỡ\r\nbước tần số nhỏ hơn B6/2 được khuyến cáo là Bimp/2 (tức\r\nlà 0,5 MHz) đối với phép đo trên 1 GHz. Cuối cùng, N được xác định từ giá trị\r\nXX và Df.
\r\n\r\n\r\n\r\n
(qui\r\nđịnh)
\r\n\r\nNgười sử dụng máy phân tích phổ\r\nphải có thể chứng tỏ rằng máy phân tích đáp ứng các yêu cầu về tách sóng tựa\r\nđỉnh đối với các tần số lặp xung lớn hơn 20 Hz trong dải tần số sử dụng bằng\r\ncác yêu cầu kỹ thuật từ nhà chế tạo hoặc bằng phép đo. Đối với bộ tách sóng\r\ntrung bình, đáp tuyến xung được nêu trong TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1).
\r\n\r\nVì có thể không thể thực hiện phép\r\nđo tần số lặp xung của một phát xạ nên một phương pháp đơn giản để chứng tỏ\r\ntính hiệu lực của phép đo tựa đỉnh phải được áp dụng khi sử dụng máy phân tích\r\nphổ. Phương pháp này dựa vào việc so sánh các kết quả đo với bộ tách sóng đỉnh\r\nvà tựa đỉnh. Từ các hàm trọng số tựa đỉnh, sự chênh lệch về biên độ được thể\r\nhiện trong Bảng E.1 là kết quả đo đối với tín hiệu có tần số lặp xung bằng 20\r\nHz.
\r\n\r\nBảng\r\nE.1 – Chênh lệch biên độ lớn nhất giữa tín hiệu tách sóng đỉnh và tựa đỉnh
\r\n\r\n| \r\n Băng\r\n A \r\n | \r\n \r\n Băng\r\n B \r\n | \r\n \r\n Băng\r\n C và D \r\n | \r\n
| \r\n 7\r\n dB \r\n | \r\n \r\n 13\r\n dB \r\n | \r\n \r\n 21\r\n dB \r\n | \r\n
Phép đo so sánh được thực hiện ở\r\ncác tần số tín hiệu thể hiện biên độ gần với giới hạn áp dụng trong tách sóng\r\ntựa đỉnh. Nếu chênh lệch giữa biên độ tách sóng đỉnh và tựa đỉnh nhỏ hơn giá\r\ntrị trong Bảng E.1 thì phép đo tựa đỉnh là có hiệu lực và kết quả thu được với máy\r\nphân tích phổ có thể được sử dụng để chứng tỏ sự phù hợp. Nếu chênh lệch về\r\nbiên độ lớn hơn giá trị được chỉ ra trong Bảng E.1 thì cần sử dụng máy thu đo\r\nphù hợp hoàn toàn với các phép đo tần số lặp xung thấp ở TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1)\r\nđối với phép đo tựa đỉnh thay cho máy phân tích phổ. Phép đo so sánh này yêu\r\ncầu tỷ số tín hiệu-tạp đủ để đảm bảo kết quả đúng.
\r\n\r\n\r\n\r\n
[1] CISPR 11:2009, Industrial,\r\nscientific and medical equipment – Radio-frequency disturbance characteristics\r\n– Limits and methods of measurement (Thiết bị tần số rađiô dùng trong công\r\nnghiệp, nghiên cứu khoa học và y tế – Đặc tính nhiễu tần số rađiô – Giới hạn và\r\nphương pháp đo)
[2] CISPR 16-3:2003, Specification\r\nfor radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 3:\r\nCISPR technical reports (Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị và phương pháp đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm – Phần 3: Báo kỹ thuật CISPR)
\r\n\r\n[3] CISPR 22:2008, Information\r\ntechnology equipment – Radio disturbance characteristics - Limits and methods\r\nof measurement (Thiết bị công nghệ thông tin – Đặc tính nhiễu tần số rađiô –\r\nGiới hạn và phương pháp đo)
[4] IEC 61140:2001, Protection\r\nagainst electric shock – Common aspects for installation and equipment (Bảo vệ\r\nchống điện giật – Các khía cạnh chung đối với hệ thống lắp đặt và thiết bị)
\r\n\r\n[5] ISO/IEC Guide 2:2004,\r\nStandardization and related activities – General vocabulary (Tiêu chuẩn hóa và\r\ncác hoạt động liên quan – Từ vựng chung)5
\r\n\r\n[6] ISO/IEC 17000:2004, Conformity\r\nassessment – Vocabulary and general principles (Đánh giá sự phù hợp – Từ vựng\r\nvà nguyên tắc chung)
\r\n\r\n[7] IEC 61000-4-21, Electromagnetic\r\ncompatibility (EMC) – Part 4-21: Testing and measurement techniques –\r\nReverberation chamber test methods (Tương thích điện từ (EMC) – Phần 4-21:\r\nPhương pháp đo và thử – Phương pháp thử nghiệm trong phòng phản xạ)
\r\n\r\n\r\n\r\n
MỤC\r\nLỤC
\r\n\r\nLời nói đầu
\r\n\r\nLời giới thiệu
\r\n\r\n1. Phạm vi áp dụng
\r\n\r\n2. Tài liệu viện dẫn
\r\n\r\n3. Thuật ngữ và định nghĩa
\r\n\r\n4. Loại nhiễu cần đo
\r\n\r\n5. Đấu nối thiết bị đo
\r\n\r\n6. Yêu cầu và điều kiện đo chung
\r\n\r\n7. Đo nhiễu bức xạ
\r\n\r\n8. Phép đo tự động về phát xạ
\r\n\r\nPhụ lục A (tham khảo) – Đo nhiễu\r\nkhi có phát xạ của môi trường xung quanh
\r\n\r\nPhụ lục B (tham khảo) – Sử dụng máy\r\nphân tích phổ và máy thu quét
\r\n\r\nPhụ lục C (tham khảo) – Tốc độ quét\r\nvà thời gian đo sử dụng với bộ tách sóng trung bình
\r\n\r\nPhụ lục D (tham khảo) – Giải thích\r\nphương pháp đo APD áp dụng cho thử nghiệm sự phù hợp
\r\n\r\nThư mục tài liệu tham khảo
\r\n\r\n\r\n\r\n
\r\n\r\n
File gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6989-2-3:2010 (CISPR 16-2-3:2010) về Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Phần 2-3: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm – Đo nhiễu bức xạ đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6989-2-3:2010 (CISPR 16-2-3:2010) về Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Phần 2-3: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm – Đo nhiễu bức xạ
Tóm tắt
| Cơ quan ban hành | Đã xác định |
| Số hiệu | TCVN6989-2-3:2010 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 2010-01-01 |
| Ngày hiệu lực | |
| Lĩnh vực | Xây dựng - Đô thị |
| Tình trạng | Còn hiệu lực |