Lời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 6748-1 : 2009 thay thế TCVN\r\n6748-1: 2000;
\r\n\r\nTCVN 6748-1 : 2009 hoàn toàn tương\r\nđương với IEC 60115-1: 2008;
\r\n\r\nTCVN 6748-1: 2009 do Ban kỹ thuật tiêu\r\nchuẩn quốc gia TCVN/T
\r\n\r\n
1.1. Phạm vi áp dụng
\r\n\r\nTiêu chuẩn này là một yêu cầu kỹ thuật\r\nchung và áp dụng cho các điện trở không đổi dùng trong thiết bị điện tử.
\r\n\r\nTiêu chuẩn này quy định các thuật ngữ\r\ntiêu chuẩn, các quy trình kiểm tra và các phương pháp thử nghiệm dùng trong các\r\nyêu cầu kỹ thuật cụ thể và yêu cầu kỹ thuật từng phần của các linh kiện điện tử\r\nđể đánh giá chất lượng hoặc mục đích khác.
\r\n\r\n1.2. Tài liệu viện dẫn
\r\n\r\nCác tài liệu viện dẫn sau đây là cần\r\nthiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn. Đối với các tài liệu ghi năm công bố thì áp\r\ndụng các bản được nêu. Đối với các tài liệu không ghi năm công bố thì áp dụng bản\r\nmới nhất, bao gồm cả các sửa đổi.
\r\n\r\nIEC 60027 (tất cả các phần), Letter\r\nsymbols to be used in electrical technology (Ký hiệu bằng chữ dùng trong kỹ thuật\r\nđiện)
\r\n\r\nTCVN 8095 (IEC 60050) (tất cả các phần),\r\nTừ vựng kỹ thuật điện quốc tế (IEV)
\r\n\r\nTCVN 6099-1: 2007 (IEC 60060-1:1989),\r\nThử nghiệm điện áp cao - Phần 1: Định nghĩa và các yêu cầu thử nghiệm chung
\r\n\r\nTCVN 6747: 2009 (IEC 60062: 2004), Hệ\r\nthống mã dùng cho điện trở và tụ điện
\r\n\r\nIEC 60063: 1963, Amendment 1 (1967),\r\nAmendment 2 (1977), Pref
TCVN 7699-1: 2007 (IEC 60068-1:1988),\r\nThử nghiệm môi trường - Phần 1: Quy định chung và hướng dẫn
\r\n\r\nTCVN 7699-2-1: 2007 (IEC 60068-2-1:\r\n2007), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-1: Các thử nghiệm - Thử nghiệm A: Lạnh
\r\n\r\nIEC 60068-2-2: 1974, Amendment 1\r\n(1993), Amendment 2 (1994), Environmental testing - Part 2: Tests - Tests B:\r\nDry heat (Thử nghiệm môi trường - Phần 2-2: Các thử nghiệm - Thử nghiệm B: Nóng\r\nkhô)
\r\n\r\nTCVN 7699-2-6: 2008 (IEC\r\n60068-2-6:1995), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-6: Các thử nghiệm - Thử nghiệm\r\nFc: Rung (hình sin))
\r\n\r\nTCVN 7699-2-11: 2007 (IEC 60068-2-11:\r\n1981), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-11: Các thử nghiệm
TCVN 7699-2-13: 2007 (IEC 60068-2-13:1983),\r\nThử nghiệm môi trường - Phần 2-13, Các thử nghiệm - Thử nghiệm M: áp suất\r\nkhông khí thấp
\r\n\r\nTCVN 7699-2-14: 2007 (IEC 60068-2-14:1984,\r\nAmendment 1 (1986), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-14, Các thử nghiệm - Thử\r\nnghiệm N: Thay đổi nhiệt độ
\r\n\r\nIEC 60068-2-20: 1979, Amendment 2\r\n(1987), Environmental testing - Part 2-20: Tests - Test T: Soldering (Thử nghiệm\r\nmôi trường - Phần 2-20, Các thử nghiệm - Thử nghiệm T: Hàn thiếc)
\r\n\r\nIEC 60068-2-21: 2006, Environmental\r\ntesting Part 2: Tests . Test U: Robustness of terminations and integral\r\nmounting devices (Thử nghiệm môi trường - Phần 2-21, Các thử nghiệm - Thử nghiệm\r\nU: Độ vững chắc của các chân và cơ cấu lắp đặt không tháo rời được)
\r\n\r\nTCVN 7699-2-27: 2007 (IEC\r\n60068-2-27:1987), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-27, Các thử nghiệm - Thử nghiệm\r\nEa và hướng dẫn: Xóc
\r\n\r\nTCVN 7699-2-29: 2007 (IEC\r\n60068-2-29:1987), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-29: Các thử nghiệm - Thử nghiệm\r\nEb và hướng dẫn: Va đập
\r\n\r\nTCVN 7699 -2-30: 2007 (IEC\r\n60068-2-30:2005), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-30: Các thử nghiệm
TCVN 7699-2-45: 2007 (IEC\r\n60068-2-45:1980), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-45: Các thử nghiệm - Thử nghiệm\r\nXA và hướng dẫn: Ngâm trong dung môi làm sạch
\r\n\r\nIEC 60068-2-54: 2006, Environmental\r\ntesting - Part 2-54: Tests - Test Ta: Solderability testing of electronic\r\ncomponents by the w
IEC 60068-2-58: 2005. Environmental\r\ntesting - Part 2-58: Tests . Test Td: Solderability, resistance to dissolution\r\nof metallization and to soldering heat of Surface Mounting Devices\r\n(SMD) (Thử nghiệm môi trường - Phần 2-58: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Td: Khả\r\nnăng hàn, khả năng chịu hoàn tan của kim loại và khả năng chịu nhiệt khi hàn của\r\ncơ cấu dùng để lắp đặt bề mặt (SMD))
\r\n\r\nIEC 60068-2-67: 1995, Environmenta
TCVN 7699-2-78: 2007 (IEC\r\n60068-2-78:2001), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-78: Các thử nghiệm - Thử nghiệm\r\nCab: Thử nghiệm nóng ẩm, không đổi
\r\n\r\nIEC 60195: 1965, Method of measurement\r\nof current noise generated in fixed resistors (Phương pháp đo dòng điện tạp\r\nsinh ra từ điện trở cố định)
\r\n\r\nIEC 60286, Packaging of components for\r\nautomatic handling (Đóng gói các linh kiện để vận chuyển tự động)
\r\n\r\nIEC 60294: 1969, Measurement of the
IEC 60410: 1973, Sampling plans and\r\nprocedures for inspection by attributes (Kế hoạch lấy mẫu và quy trình lấy mẫu\r\nđể kiểm tra định tính)
\r\n\r\nIEC 60440: 1973, Method of measurement\r\nof non-linearity in resistors (Phương pháp đo tính phi tuyến của điện\r\ntrở
\r\n\r\nTCVN 7922: 2008 (IEC 60617: 2002), Ký\r\nhiệu bằng hình vẽ trên sơ đồ
\r\n\r\nIEC 60695-11-5: 2004, Fire hazard\r\ntesting - Part 11-5: Test flames - Needle-flame test method - Apparatus, con
IEC 61193-2: 2007, Quality assessment\r\nsystems - Part 2: Selection and use of sampling plans for inspection of\r\nelectronic components and packages (Hệ thống đánh giá chất lượng - Phần 2: Chọn\r\nvà sử dụng kế hoạch lấy mẫu để kiểm tra các linh kiện điện tử và bao gói)
\r\n\r\nIEC 61249-2-7: 2002, Materials for\r\nprinted boards and other interconnecting structures - Part 2-7: Rein
IEC 61249-2-22: 2005, Materials for\r\nprinted boards and other interconnecting structures - Part 2-7: Rein
IEC 61249-2-35, Materials for printed\r\nboards and other interconnecting structures - Part 2-7: Rein
IEC 61340-3-1: 2006, Electrostatics -\r\nPart 3-1: Methods for simulation of electrostatic effects - Human body model\r\n(HBM) electrostatic discharge test waveform (Tĩnh điện - Phần 3-1: Phương pháp\r\nmô phỏng hiệu ứng tĩnh điện - Dạng sóng thử nghiệm phóng tĩnh điện mô hình cơ\r\nthể người (HBM))
\r\n\r\nIEC 61760-1: 2006, Sur
IEC QC 001002-3: 1998, IEC Quality\r\nAssessment System for Electronic Components (IECQ) - Rules of procedure - Part\r\n3: Approval procedures (Hệ thống đánh giá chất lượng IEC dùng cho các linh kiện điện tử\r\n(IECQ) - Nguyên tắc của quy trình - Phần 3: Quy trình phê chuẩn)
\r\n\r\nISO 1000: 1992, SI units and\r\nrecommendations for the use of their multiples and of certain other units (Hệ\r\nđơn vị SI và các khuyến cáo dùng cho các bội số của chúng và các hệ đơn vị\r\nkhác)
\r\n\r\n\r\n\r\n2.1. Đơn vị và k
Các đơn vị, ký hiệu bằng hình vẽ và ký\r\nhiệu bằng chữ, nếu áp dụng, phải được lấy theo các tiêu chuẩn sau:
\r\n\r\n- IEC 60027;
\r\n\r\n- TCVN 8095 (IEC 60050);
\r\n\r\n- TCVN 7922 (IEC 60617);
\r\n\r\n- ISO 1000
\r\n\r\nKhi có yêu cầu các thuật ngữ khác, thì\r\ncác thuật ngữ đó phải phù hợp với các nguyên tắc của các tài liệu liệt kê trên\r\nđây.
\r\n\r\n2.2. Thuật ngữ và định\r\nnghĩa
\r\n\r\nTiêu chuẩn này áp dụng các thuật ngữ\r\nvà định nghĩa dưới đây.
\r\n\r\n2.2.1
Một phần của tiêu tán danh định được\r\nxác định chính xác theo yêu cầu kỹ thuật cụ thể, áp dụng ở nhiệt độ mức trên,\r\ncó tính đến đường cong suy giảm cho trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Đối với điện trở tiêu tán\r\nmức bằng 0, trong đó nhiệt độ mức trên là nhiệt độ lớn nhất của phần tử.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: tiêu\r\ntán danh định, nhiệt độ mức trên, đường cong giảm tải.
\r\n\r\n2.2.2
Dải nhiệt độ môi trường mà điện trở được\r\nthiết kế để làm việc liên tục; được cho bởi nhiệt độ mức dưới và mức trên.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: nhiệt\r\nđộ mức dưới, nhiệt độ mức trên.
\r\n\r\n2.2.3
Giá trị điện trở mà ở đó giá trị điện\r\náp danh định bằng giới hạn điện áp phần tử (xem 2.2.18 và 2.2.11).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Ở nhiệt độ môi trường là\r\n70 °C
CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: điện\r\náp danh định, giới hạn điện áp phần tử.
\r\n\r\n2.2.4
Đường cong chỉ ra tiêu tán cho phép lớn\r\nnhất ở nhiệt độ xung quanh từ nhiệt độ mức trên đến nhiệt độ mức dưới.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Dải từ nhiệt độ mức dưới đến nhiệt\r\nđộ danh định thể hiện tiêu tán danh định và từ nhiệt độ danh định đến nhiệt độ\r\nlớn nhất của phần tử thể hiện đường dốc xuống tuyến tính đến tiêu tán bằng 0 ở\r\nnhiệt độ lớn nhất của phần tử. Đường dốc này phụ thuộc vào các đặc tính nhiệt của\r\nđiện trở, tức là khả năng đưa tiêu tán vào môi trường.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: tiêu\r\ntán danh định, nhiệt độ danh định, nhiệt độ lớn nhất của phần tử.
\r\n\r\n2.2.5
Nhóm các linh kiện có thuộc tính vật\r\nlý trội hơn hẳn và/hoặc thỏa mãn một chức năng xác định.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: nhánh.
\r\n\r\n2.2.6
Thuật ngữ chỉ các đặc tính chung bổ\r\nsung liên quan đến ứng dụng dự kiến, ví dụ các ứng dụng tuổi thọ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Thuật ngữ "hạng"\r\nchỉ có thể dùng kết hợp với một hoặc nhiều từ khác (ví dụ hạng tuổi thọ) mà\r\nkhông là một chữ hoặc một số.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: cấp ổn\r\nđịnh.
\r\n\r\n2.2.7
Loại điện trở được thiết kế để lắp vào\r\nđế tản nhiệt riêng.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: điện\r\ntrở có cách điện.
\r\n\r\n2.2.8
Điện trở thỏa mãn các yêu cầu về thử\r\nnghiệm chịu điện áp, thử nghiệm điện trở cách điện và thử nghiệm nóng ẩm không\r\nđối với điện áp phân cực đặt vào khi lắp đặt trên một tấm kim loại.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: điện trở có đế tản\r\nnhiệt.
\r\n\r\n2.2.9
Giá trị điện trở của toàn bộ điện trở\r\ncách điện được đo giữa các chân của điện trở nối với nhau và bề mặt dẫn bất kỳ\r\ndùng để lắp đặt.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: điện\r\ntrở có cách điện.
\r\n\r\n2.2.10
Điện áp đ
CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: điện\r\ntrở có cách điện.
\r\n\r\n2.2.11
Điện áp một chiều hoặc điện áp hiệu dụng\r\nxoay chiều lớn nhất có thể đặt liên tục lên các chân của điện trở (thường phụ\r\nthuộc vào kích cỡ và công nghệ chế tạo điện trở).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Trong tiêu chuẩn này, nếu\r\ndùng thuật ngữ "điện áp hiệu dụng xoay chiều" th
CHÚ THÍCH 2: Điện áp này chỉ áp dụng cho các điện\r\ntrở có giá trị lớn hơn hoặc bằng giá trị điện trở tới hạn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Thuật ngữ liên quan: điện\r\náp danh định, điện trở tới hạn.
\r\n\r\n2.2.12
LCT
\r\n\r\nNhiệt độ môi trường xung quanh thấp nhất\r\ntại đó điện trở được thiết kế để làm việc liên tục.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: nhiệt\r\nđộ mức trên, dả
2.2.13
Nhiệt độ quy định lớn nhất ở điểm bất\r\nkỳ trên hoặc trong điện trở ở mọi điều kiện làm việc cho phép.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Nhiệt độ lớn nhất của phần\r\ntử là tổng của nhiệt độ danh định và độ tăng nhiệt tạo ra do tiêu tán danh định.\r\nĐối với nhiệt độ môi trường xung quanh lớn hơn nhiệt độ danh định thì nhiệt độ lớn nhất\r\ncủa phần tử là tổng của nhiệt độ môi trường xung quanh và tiêu tán cho phép\r\nliên quan như quy định bởi đường cong giảm tải.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: nhiệt\r\nđộ lớn nhất trên bề mặt.
\r\n\r\n2.2.14
Nhiệt độ lớn nhất cho phép trên bề mặt\r\nbất kỳ của điện trở thuộc kiểu đó khi làm việc liên tục tại tiêu tán danh định
CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: nhiệt\r\nđộ lớn nhất của phần tử.
\r\n\r\n2.2.15
Giá trị điện trở được ấn định thường\r\nthể hiện trên điện trở.
\r\n\r\n2.2.16
Tiêu tán lớn nhất cho phép ở nhiệt độ\r\nmôi trường là 70 °C
CHÚ THÍCH 1: Nếu tiêu tán danh định phụ\r\nthuộc vào phương tiện đặc biệt hỗ trợ tản nhiệt vào môi trường, ví dụ, vật liệu\r\nmạch in đặc biệt, kích thước dây dẫn đặc biệt, bộ tản nhiệt thì các phương tiện này cần\r\nđược nhận biết khi đề cập đến tiêu tán danh định.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ dùng cho điện\r\ntrở có đế tản nhiệt được xác định là tiêu tán cho phép lớn nhất ở nhiệt độ môi\r\ntrường ở 25 °C
CHÚ THÍCH 3: Thuật ngữ liên quan: nhiệt\r\nđộ danh định, điện áp danh định.
\r\n\r\n2.2.17
Nhiệt độ môi trường xung quanh tại đó\r\ncó thể có tiêu tán danh định liên tục trong các điều kiện của thử nghiệm độ bền\r\nquy định đối với nhiệt độ này. Nhiệt độ danh định có giá trị bằng 70 °
CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: tiêu\r\ntán danh định.
\r\n\r\n2.2.18
Ur
\r\n\r\nĐiện áp một chiều hoặc điện áp hiệu dụng\r\nxoay chiều tính bằng căn bậc hai của tích điện trở danh nghĩa và tiêu tán danh\r\nđịnh.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Tại các giá trị điện trở\r\nlớn, điện áp danh định có thể không áp dụng do kích thước và kết cấu của điện\r\ntrở (xem 2.2.11).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: tiêu\r\ntán danh định, giới hạn điện áp phần tử.
\r\n\r\n2.2.19
Thuật ngữ thể hiện tập hợp các yêu cầu\r\nvề ổn định được xác định trước, tức là các giới hạn thay đổi cụ thể về giá tr
CHÚ THÍCH 1: Thuật ngữ "cấp ổn định"\r\nchỉ có thể dùng kết hợp với số rõ ràng thể hiện yêu cầu ổn định điển hình đối với\r\nthử nghiệm dài hạn, ví dụ, độ bền ở nhiệt độ mức trên hoặc độ bền 1 000 h
CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: hạng.
\r\n\r\n2.2.20
Sự chia nhỏ của loại, chủ yếu dựa theo\r\nkích thước, có thể có một vài biến thể khác nhau, thường là về
CHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: loại.
\r\n\r\n2.2.21
Nhóm các linh kiện trong họ được chế tạo\r\nbằng cùng phương pháp công nghệ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: họ.
\r\n\r\n2.2.22
Điện trở không đổi có kích thước nhỏ\r\nvà bản chất cũng như hình dạng các chân thích hợp cho việc dùng trong\r\nmạch lai và tấm mạch in.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: loại,\r\nkiểu.
\r\n\r\n2.2.23
α
\r\n\r\nSự thay đổi tương đối của điện trở\r\ntrong khoảng hai nhiệt độ cho trước chia cho sự chênh lệch nhiệt độ
CHÚ THÍCH 1: Chú ý rằng việc sử dụng\r\nthuật ngữ này không có hàm ý chỉ ra độ tuyến tính của hàm số này, cũng
CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: sự\r\nthay đổi điện trở theo nhiệt độ.
\r\n\r\n2.2.24
Tr
\r\n\r\nSự tăng của nhiệt độ trên hoặc trong\r\nđiện trở tạo ra theo cách ứng dụng tản nhiệt và phụ thuộc vào các thuộc tính\r\nnhiệt của điện trở, tức là khả năng tản nhiệt vào môi trường.
\r\n\r\n2.2.25. Loại
Nhóm linh kiện có cùng đặc điểm thiết\r\nkế và công nghệ chế tạo, cho phép nhóm lại để kiểm tra phê
CHÚ THÍCH 1: Các linh kiện được mô tả\r\ntrong một số yêu cầu kỹ thuật cụ thể, có thể trong một vài trường h
CHÚ THÍCH 2: Các phụ kiện dùng để lắp\r\nđặt được bỏ qua, với điều kiện là chúng không có ảnh hưởng đáng kể đến các kết\r\nquả thử nghiệm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Thuật ngữ liên quan: kiểu.
\r\n\r\n2.2.26
UCT
\r\n\r\nNhiệt độ môi trường lớn nhất mà điện\r\ntrở được thiết kế để làm việc liên tục, tại đó tiêu tán danh định được thể hiện\r\ntheo tiêu tán mức.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Đối với điện trở có đường\r\nthẳng giảm thông số đặc trưng giảm về tiêu tán mức bằng 0, nhiệt độ mức trên bằng với\r\nnhiệt độ lớ
CHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ liên quan: nhiệt\r\nđộ mức dưới, dải nhiệt độ mức.
\r\n\r\n2.2.27
Sự thay đổi điện trở theo nhiệt độ được\r\nbiểu diễn bằng hệ số nhiệt điện trở.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thuật ngữ liên quan: hệ số\r\nnhiệt điện trở.
\r\n\r\n2.2.28
Hư hại nhìn thấy được làm giảm khả\r\nnăng sử dụng của điện trở theo mục đích dự kiến của nó.
\r\n\r\n2.2.29
Sự thay đổi thuận nghịch giá trị điện\r\ntrở do đặt điện áp và được thể hiện bằng phần trăm của sự thay đổi điện trở\r\ntheo điện áp đặt.
\r\n\r\n2.3. Giá trị ưu tiên
\r\n\r\n2.3.1. Quy định chung
\r\n\r\nMỗi yêu cầu kỹ thuật từng phần phải\r\nnêu các giá trị
2.3.2. Giá trị ưu tiên của điện\r\ntrở danh nghĩa
\r\n\r\nCác giá trị ưu tiên của điện trở danh\r\nnghĩa được lấy từ dãy quy định trong IEC 60063.
\r\n\r\n2.4. Ghi nhãn
\r\n\r\nCác thông tin ghi nhãn thường\r\nđược chọn từ liệt kê dưới đây, xếp theo thứ tự mức độ quan trọng:
\r\n\r\na) điện trở danh nghĩa;
\r\n\r\nb) dung sai theo điện trở danh nghĩa;
\r\n\r\nc) năm và tháng (hoặc tuần) chế tạo;
\r\n\r\nd) số hiệu của yêu cầu kỹ thuật cụ thể và\r\ndạng chuẩn;
\r\n\r\ne) tên nhà chế tạo hoặc thương hiệu.
\r\n\r\nĐiện trở phải được ghi nhãn rõ ràng với\r\ncác điểm a) và b) trên đây và các mục còn lại nếu có thể. Tránh lặp lại thông\r\ntin ghi nhãn trên điện trở.
\r\n\r\nBao bì chứa (các) điện trở phải ghi rõ\r\ntất cả các thông tin liệt kê trên đây.
\r\n\r\nMọi ghi nhãn bổ sung không được gây hiểu\r\nnhầm.
\r\n\r\nKiểu điện trở nhỏ thường không ghi được\r\nnhãn trên thân. Tuy nhiên, nếu áp dụng cách ghi nhãn nào đó lên thân thì điện\r\ntrở phải được ghi nhãn tối thiểu với điện trở danh nghĩa theo TCVN 6747 (IEC\r\n60062), Điều 3. Các yêu cầu cụ thể phải được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật liên\r\nquan.
\r\n\r\n2.5. Ghi mã
\r\n\r\nKhi ghi mã cho giá trị điện trở, dung\r\nsai hoặc ngày tháng chế tạo, phương pháp ghi mã phải được chọn theo quy định\r\ntrong TCVN 6747 (IEC 60062).
\r\n\r\n2.6. Bao gói
\r\n\r\nTrong trường hợp thuộc đối tượng áp dụng,\r\nyêu cầu kỹ thuật từng phần phải cung cấp thông tin về ghi nhãn, tốt nhất là được\r\nchọn từ IEC 60286.
\r\n\r\n2.7. Bảo quản
\r\n\r\nNếu không có quy định khác thì các điều\r\nkiện bảo quản không được vượt quá các giới hạn sau:
\r\n\r\n- nhiệt độ lớn nhất: 40 °
- độ ẩm tương đối lớn nhất: 75 %
\r\n\r\nĐiện trở phải được bảo quản trong bao\r\ngói ban đầu.
\r\n\r\nCác yêu cầu khác phải được mô tả trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n2.8. Vận chuyển
\r\n\r\nĐiều kiện môi trường khi vận chuyển có\r\nthể vượt quá các yêu cầu kỹ thuật ở trên trong thời gian hạn chế. Yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan có thể quy định các điều kiện thích hợp.
\r\n\r\n3. Quy trình đánh giá\r\nchất lượng
\r\n\r\nKhi tiêu chuẩn này và các yêu cầu kỹ\r\nthuật từng phần và yêu cầu kỹ thuật cụ thể liên quan được sử dụng cho mục đích\r\ncủa hệ thống đánh giá chất lượng đầy đủ như hệ thống đánh giá chất lượng IEC đối\r\nvới linh kiện điện tử (IECQ) thì áp dụng các điều liên quan của Phụ lục Q.
\r\n\r\n4. Quy trình thử nghiệm\r\nvà do
\r\n\r\n4.1. Quy định chung
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật từng phần và/hoặc yêu\r\ncầu kỹ thuật cụ thể còn để trống phải chỉ rõ các thử nghiệm cần thực hiện, các\r\nphép đo trước và sau mỗi thử nghiệm hoặc một nhóm nhỏ các thử nghiệm cũng như\r\ntrình tự thực hiện thử nghiệm. Các bước của mỗi thử nghiệm được thực hiện theo\r\nđúng trình tự đã ghi. Các điều kiện đo phải giống nhau từ phép đo ban đầu đến\r\nphép đo kết thúc.
\r\n\r\nNếu các yêu cầu kỹ thuật quốc gia\r\ntrong hệ thống đánh giá chất lượng nào đó có các phương pháp khác với các\r\nphương pháp quy định trong các tài liệu trên thì phải được mô tả đầy đủ.
\r\n\r\nCác giới hạn cho trong tất cả các yêu\r\ncầu kỹ thuật là các giới hạn tuyệt đối. Phải áp dụng các quy tắc thực hiện phép\r\nđo có tính đến sự không đảm bảo đo (xem IEC QC 001002-3, Phụ lục
4.2. Đi
4.2.1. Điều kiện khí quyển\r\ntiêu chuẩn đối với thử nghiệm
\r\n\r\nNếu không có quy định nào khác, tất cả\r\ncác thử nghiệm và phép đo đều được thực hiện ở điều kiện khí quyển\r\ntiêu chuẩn như cho trong 5.3 của TCVN 7699-1 (IEC 60068-1):
\r\n\r\n- Nhiệt độ: từ 15 °
- Độ ẩm tương đối:
- Áp suất không khí:
Trước khi thực hiện phép đo, điện trở\r\ncần được để ở
Khi các phép đo được thực hiện ở nhiệt\r\nđộ khác với nhiệt độ quy định thì các kết quả đo được hiệu chỉnh theo nhiệt độ quy\r\nđịnh, nếu cần thiết. Nhiệt độ môi trường trong quá trình đo được ghi trong báo cáo\r\nthử nghiệm. Trường hợp có nghi ngờ, các phép đo được thực hiện lại tại một nhiệt\r\nđộ trong dải nhiệt độ chuẩn (như trong 4.2.3) và các điều kiện khác như được\r\nnêu trong yêu cầu kỹ thuật này.
\r\n\r\nNếu các thử nghiệm được thực hiện tuần\r\ntự thì các phép đo kết thúc của thử nghiệm này có thể dùng làm các phép đo ban\r\nđầu của thử nghiệm tiếp theo.
\r\n\r\nTrong quá trình đo, điện trở không được\r\nđặt trước luồng gió hoặc dưới ánh nắng mặt trời hay các ảnh hưởng khác có thể\r\ngây ra sai số.
\r\n\r\n4.2.2. Điều kiện phục h
Nếu không có quy định nào khác, phục h
Nếu phục h
4.2.3. Điều kiện trọng t
Với mục đích trọng tải, một trong các điều kiện\r\nkhí quyển tiêu chuẩn đối với thử nghiệm trọng tài nêu trong 5.2 của\r\nTCVN 7699-1 (IEC 60068-1), được chọn từ các điều kiện cho sau đây:
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
4.2.4 Điều kiện chuẩn
\r\n\r\nCác điều kiện khí quyển tiêu chuẩn cho\r\ntrong 5.1 của TCVN 7699-1 (IEC 60068-1) được dùng làm chuẩn, như sau:
\r\n\r\n- Nhiệt độ: 20 °C;
\r\n\r\n- Áp suất không khí: 101,3 kPa.
\r\n\r\n4.3 Làm khô
\r\n\r\nKhi yêu cầu phải l
Quy trình I: Để 24 h ± 4 h trong tủ sấy\r\nở
Quy trình II: Để 96 h ± 4 h trong tủ sấy\r\nở nhiệt độ 100 °C
Điện trở sau đó được làm nguội trong\r\nbình hút ẩm có chất hút ẩm thích hợp, như nhôm hoạt tính hoặc silica gel, và được\r\ngiữ trong khoảng thời gian từ khi lấy ra khỏi tủ sấy đến khi bắt đ
4.4. Kiểm tra bằng cách\r\nxem xét và kiểm tra kích thước
\r\n\r\n4.4.1. Kiểm tra bằng cách\r\nxem xét
\r\n\r\nĐiều kiện, chất lượng tay nghề và chất\r\nlượng bề mặt phải được đáp ứng, khi được kiểm tra bằng cách xem xét.
\r\n\r\nNhãn phải rõ ràng và được kiểm tra bằng\r\ncách xem xét. Nhãn phải phù hợp với các yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.4.2. Kích thước (kiểm tra\r\nbằng dưỡng)
\r\n\r\nCác kích thước được ch
Khi áp dụng, các phép đo phải được thực\r\nhiện phù hợp với IEC 60294.
\r\n\r\nBiến dạng của các linh kiện phải được\r\nkiểm tra bằng thiết bị quang, và phải phù hợp với các kích thước quy định trong\r\nyêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nThiết bị quang phải có đủ độ phóng đại\r\nvà độ phân giải hình học để đảm bảo độ chính xác bằng 10 % dung sai kích thước\r\ncho phép.
\r\n\r\n4.4.3. Kích thước (kiểm tra\r\ncụ thể)
\r\n\r\nTất cả các kích thước được mô tả trong\r\nyêu cầu kỹ thuật cụ thể phải được kiểm tra và phải phù hợp với các giá trị quy định.
\r\n\r\n4.5. Điện trở
\r\n\r\n4.5.1. Phương pháp thử nghiệm
\r\n\r\nCác phép đo điện trở được thực hiện bằng\r\ncách sử dụng điện áp một chiều trị số thấp trong một thời gian càng ngắn càng tốt\r\nđể nhiệt độ của điện trở tăng không đáng kể khi đo.
\r\n\r\nTrường hợp các kết quả mâu thuẫn nhau\r\ndo điện áp thử nghiệm này thì các điện áp cho trong Bảng 2 được sử dụng để làm\r\ntrọng tà
| \r\n | \r\n \r\n
| \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n CHÚ THÍCH 1: Khi điện tr CHÚ THÍCH 2: Không được vượt quá giới\r\n hạn điện áp phần tử. \r\n | \r\n |
![](\"00912440_files/image001.gif\"){kind=small}
Độ chính xác của phương pháp đo phải\r\nsao cho sai số tổng không vượt quá 10% đúng sai. Khi phép đo là một phần của trình tự\r\nthử nghiệm thì phải có thể đo sự thay đổi của điện trở với sai số không vượt qu
Ngoài các quy định đối với mục đích\r\nchuẩn, các điểm đo điện trở phải được quy định trong yêu cầu kỹ thuật
Đối với các điện trở có chứa chỉ, việc\r\nxác định thích hợp cần dựa vào khoảng cách xác định
Đối với điện trở SMD, việc xác định\r\nthích hợp cần dựa vào việc tham chiếu đến phía linh kiện tr
Tính tái lập của phép đo là rất quan\r\ntrọng, do đó, việc xác định có thể không bao gồm ảnh hư
4.5.2. Yêu cầu
\r\n\r\nGiá trị điện trở ở 20 °
4.6. Điện trở cách
CHÚ THÍCH: Thử nghiệm này chỉ áp dụng\r\ncho điện trở được cách điện.
\r\n\r\n4.6.1. Phương pháp thử nghiệm
\r\n\r\nThử nghiệm phải được thực hiện theo một\r\ntrong bốn phương pháp dưới đây, như mô tả trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể liên\r\nquan. Phương pháp khối V là phương pháp ưu tiên cho các điện trở không có cơ cấu\r\nlắp đặt.
\r\n\r\n4.6.1.1. Phương pháp khối - V
\r\n\r\nĐiện trở được kẹp vào máng kim loại khối\r\nV 90° có kích thước sao cho thân điện trở không nhô ra ngoài khối.
\r\n\r\nLực kẹp phải đảm b
Điện trở được định vị như sau:
\r\n\r\na) với điện trở hình trụ: Điện trở được định\r\nvị trong khối sao cho chân xa nhất, tính từ trục của điện
b) với điện trở hình chữ nhật: Điện trở\r\nphải được định vị trong khối sao cho chân gần nhất, so với gờ
Với các điện trở hình trụ và hình chữ nhật\r\ncó các chân dọc trục: điểm nhô ra của các chân điện trở tính từ thân có vị trí\r\nngoài tâm bất kỳ thì được bỏ qua.
\r\n\r\n4.6.1.2. Phương pháp lá kim loại
\r\n\r\nĐây là phương pháp thay thế dùng cho\r\ncác điện trở không có cơ cấu lắp đặt.
\r\n\r\nLá kim loại được quấn sát xung quanh\r\nthân điện trở.
\r\n\r\nVới các điện trở không có các chân dọc trục, cần\r\nđể khoảng trống từ 1 mm đến 1,5 mm giữa mép của lá kim loại và mỗi chân điện trở.
\r\n\r\nVới các điện trở có các chân dọc trục,\r\nlá kim loại được quấn quanh toàn bộ thân điện trở sao cho thừa
4.6.1.3. Phương pháp dùng cho\r\ncác đ
Các điện trở được lắp đ
4.6.1.4 Phương pháp dùng cho\r\ncác điện trở chíp hình chữ nhật
\r\n\r\nThử nghiệm được thực hiện với điện trở\r\nđược đặt như Hình 1.
\r\n\r\nLực kẹp của lò xo là 1,0 N ± 0,2 N, nếu\r\nkhông có quy định nào khác cho trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể. Điểm tiếp xúc của\r\nkhối kim loại được cố định ở chính giữa để đảm bảo các kết qu
![](\"00912440_files/image002.jpg\")
Chú giải
\r\n\r\n| \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n Khối kim loại, điểm thử nghiệm A \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n Tấm kim loại, điểm thử nghiệm B \r\n | \r\n
| \r\n 2 \r\n | \r\n \r\n Các chân điện trở \r\n | \r\n \r\n 6 \r\n | \r\n \r\n Vật liệu cách điện \r\n | \r\n
| \r\n 3 \r\n | \r\n \r\n Phía có phủ \r\n | \r\n \r\n 7 \r\n | \r\n \r\n Lò xo \r\n | \r\n
| \r\n 4 \r\n | \r\n \r\n Bán kính từ 0,25 mm đến 0,5 mm \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
4.6.1.5. Phư
Thử nghiệm được thực hiện với điện trở\r\nlắp đặt như Hình 2.
\r\n\r\nLực kẹp của lò xo là 1,0 N ± 0,2 N, nếu\r\nkhông có quy định nào khác trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nKích thước L
Chi tiết của gá
\r\n\r\nChú giải
\r\n\r\n| \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n Tấm kim loại, điểm thử nghiệm B \r\n | \r\n \r\n 4 \r\n | \r\n \r\n Tấm kim loại hình V, điểm thử nghiệm\r\n A \r\n | \r\n
| \r\n 2 \r\n | \r\n \r\n Các chân của điện trở \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n Vật liệu cách điện \r\n | \r\n
| \r\n 3 \r\n | \r\n \r\n Các rãnh trong tấm kim loại \r\n | \r\n \r\n 6 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
4.6.2 Điều kiện đo
\r\n\r\nVới tất cả các điện trở, trừ điện trở\r\nchíp, điện trở cách điện phải được đo giữa một cực là hai chân điện trở nối với\r\nnhau và cực kia là khối V, hoặc lá kim loại hay là cơ cấu lắp đặt điện trở. Điện\r\náp đo là 100 V ± 15 V một chiều đối với các điện trở có điện áp cách điện nhỏ\r\nhơn 500 V, hoặc 500 V ± 50 V một chiều với các điện trở có điện áp cách điện lớn\r\nhơn hoặc bằng 500 V.
\r\n\r\nVới các điện trở chíp, điện trở cách\r\nđiện được đo bằng điện áp một chiều 100 V ± 15 V hoặc điện áp bằng với điện áp\r\ncách điện giữa hai điểm thử nghiệm A và B như chỉ ra ở Hình 2 (điểm A là cực dương).
\r\n\r\nĐiện áp được duy trì trong 1 min hoặc\r\nngắn hơn, đủ để đạt sự ổn định; điện trở cách điện được đọc ở
4.6.3. Yêu cầu
\r\n\r\nĐiện trở cách điện không được nhỏ hơn\r\ngiá trị cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.7. Chịu điện áp
\r\n\r\n4.7.1. Phương pháp thử nghiệm
\r\n\r\nThử nghiệm được thực hiện theo một\r\ntrong số các phương pháp quy định ở 4.6.1 như cho trong yêu cầu kỹ thuật liên\r\nquan.
\r\n\r\nPhương pháp khối V là phương pháp ưu\r\ntiên cho các điện trở không có cơ cấu lắp đặt.
\r\n\r\n4.7.2. Điều kiện thử nghiệm
\r\n\r\nVới tất cả các điện trở, trừ điện trở\r\nchíp, điện áp thử nghiệm được đặt giữa một cực là các chân điện trở nối với nhau và cực\r\nkia là khối V bằng kim loại, hoặc lá kim loại hay (các) tấm lắp đặt. Điện áp thử\r\nnghiệm là điện áp xoay chiều (từ 40 Hz đến 60 Hz) và được tăng với tốc độ 100
Sau khi đạt được điện áp quy định thì\r\nđiện áp được duy trì trong thời gian 60 s ± 5 s.
\r\n\r\nVới điện trở chíp, điện áp xoay chiều\r\n(từ 40 Hz đến 60 Hz) với giá trị đỉnh bằng 1,42 lần điện áp cách điện được duy\r\ntrì trong thời gian 60 s ± 5 s giữa hai điểm thử nghiệm A và B như Hình 1 và\r\nHình 2. Điện áp phải được tăng từ từ với tốc độ 100
4.7.3. Yêu cầu
\r\n\r\nKhông được xảy ra phóng điện đánh thủng\r\n(nghĩa là dòng rò > 10 µA) hoặc phóng điện bề mặt.
\r\n\r\n4.8. Sự thay đổi điện trở\r\ntheo nhiệt độ
\r\n\r\n4.8.1. Ổn định trước
\r\n\r\nĐiện trở được làm khô theo quy trình I\r\nhoặc quy trình II của 4.3, như quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.8.2. Nhiệt độ đo
\r\n\r\nĐiện trở được duy trì lần lượt ở một\r\ntrong các nhiệt độ sau hoặc ở các nhiệt độ khác được quy định trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan.
\r\n\r\na)
b) nhiệt độ mức dưới ± 3 °
c)
d) nhiệt độ mức tr
e)
4.8.3. Quy trình đo
\r\n\r\nCác phép đo điện trở được thực hiện lần\r\nlượt ở các nhiệt độ xác định trong 4.8.2 sau khi điện trở đạt ổn định nhiệt.
\r\n\r\nĐiều kiện ổn định nhiệt được coi là đạt\r\nđược khi hai giá trị đọc của điện trở được lấy cách nhau ít nhất
Nhiệt độ của điện trở tại thời điểm đo\r\nđược ghi lại. Sai số
4.8.4. Tính hệ số nhiệt của\r\nđiện trở α
\r\n\r\nHệ số nhiệt của điện trở α từ nhiệt độ 20 °
trong đó
\r\n\r\n∆T là chênh lệch đại số, tính bằng\r\nkenvin, giữa nhiệt độ môi trường xung quanh quy định và nhiệt độ chuẩn;
\r\n\r\n∆R là thay đổi
R là giá trị điện trở ở nhiệt độ chuẩn.
\r\n\r\nHệ số nhiệt điện trở (α) được tính\r\ntheo phần triệu trên °C
Nếu các giá trị điện trở ở 4.8.3 được\r\nký hiệu là Ra, Rb, Rc, R
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n
| \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
![](\"00912440_files/image007.gif\")
![](\"00912440_files/image008.gif\")
Nếu các nhiệt độ ghi lại ở 4.8.3 được\r\nký hiệu là Ta, Tb, Tc
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n
| \r\n
![](\"00912440_files/image009.gif\")
![](\"00912440_files/image010.gif\")
4.8.5. Yêu cầu
\r\n\r\nHệ số nhiệt điện trở (α), như mô tả ở\r\ntrên, nằm trong các giới hạn cho trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể với mức nhiệt độ\r\ntương ứng.
\r\n\r\nKhi giá trị của điện trở lớn hơn 5 Ω\r\nnhưng nhỏ hơn 10 Ω thì hệ số nhiệt không vượt quá hai lần các giới hạn cho\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật cụ thể, ứng với các điện trở có giá trị lớn hơn hoặc bằng\r\n10 Ω.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Hệ số nhiệt điện trở là không quy định\r\ncho các điện trở có giá trị nhỏ hơn 5 Ω do khó đạt được các phép đo chính xác.
\r\n\r\n4.9. Điện kháng
\r\n\r\n4.9.1. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nThử nghiệm điện kháng chỉ áp dụng với\r\ncác điện trở cần có giá trị điện kháng thấp và được quy định trong yêu cầu kỹ\r\nthuật cụ thể. Đây là thử nghiệm thích hợp cho các điện cảm trong dải tương ứng\r\ncủa các điện trở dây quấn. Thiết bị đo, như cho ở Hình 3, có thể sử dụng với\r\ncác điện trở có hằng số thời gian L/R lớn hơn 20 ns. Dải giá trị điện trở có thể thử\r\nnghiệm là từ 100 Ω đến 1 MΩ.
\r\n\r\nCó thể sử dụng máy phân tích trở kháng\r\nthích hợp để thay cho mạch thử nghiệm được chỉ ra trên Hình 3, xem 4.9.5.
\r\n\r\n1 máy phát xung
\r\n\r\n2 máy hiện s
Rx: điện trở cần thử\r\nnghiệm
\r\n\r\nRL: điện trở thuần có\r\ngiá trị gần bằng 0,1. Rx
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Độ dài của dãy nối giữa máy\r\nphát xung và điện trở
4.9.2 Yêu cầu kỹ thuật
Máy phát xung phải có các đặc tính\r\nsau:
\r\n\r\na) Độ rộng xung: Đủ để phủ hết 3 lần chu\r\nkỳ L/
b) Thời gian tăng trên tải (từ 10 % đến\r\n90 %): nhỏ hơn 3 ns
\r\n\r\nc) Tốc độ lặp lại: l
4.9.3 Yêu cầu kỹ thuật của\r\nmáy hiện sóng
\r\n\r\na) Thời gian tăng (từ 10 % đến 90 %): nhỏ\r\nhơn 37 ns (đáp tuyến tần số, 100 MHz hoặc tốt hơn)
\r\n\r\nb) Thang thời gian: 2 ns/1 mm hoặc nhanh\r\nhơn
\r\n\r\nc) Điện dung vào tại RL là 25\r\npF hoặc nhỏ hơn
\r\n\r\nd) Độ khuếch đại đủ lớn để có thể đọc kết\r\nquả tốt khi sử dụng điện áp xung.
\r\n\r\n4.9.4. Phép đo
\r\n\r\nHằng số thời gian
CHÚ THÍCH: Giới hạn trong yêu cầu kỹ\r\nthuật có thể được ấn định dưới dạng thời gian L/R lớn nhất hoặc rút ra từ tính\r\ntoán dưới dạng điện cảm lớ
4.9.5. Máy phân tích trở\r\nkháng
\r\n\r\nPhải sử dụng máy phân tích trở kháng\r\ncao tần hoặc thiết bị thử nghiệm tương đương.
\r\n\r\nTần số đo phải được lấy từ yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan.
\r\n\r\n4.10. Tính phi tuyến
\r\n\r\nĐo tính phi tuyến của điện trở theo\r\nIEC 60440. Điện áp đặt vào phải là điện áp danh định hoặc điện áp giới hạn của\r\nlinh kiện, chọn giá trị nào khắc nghiệt hơn. Khi có yêu cầu đặc biệt về tính\r\nphi tuyến thì phải được cho trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.11. Hệ Số điện áp
\r\n\r\n4.11.1. Ổn định trước
\r\n\r\nĐiện trở phải được làm khô, theo quy trình\r\nI hoặc quy trình II ở 4.3, như quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.11.2. Phương pháp đo
\r\n\r\nSau đó, điện trở được đo ở 10 % và 100\r\n% điện áp danh định hoặc giới hạn điện áp phần tử, chọn giá trị nào nhỏ hơn.\r\nTrong mỗi chu kỳ 5 s thì 100 % điện áp được đặt không lâu hơn 0,5 s; còn lại\r\n4,5 s đặt 10 % điện áp. Cần chú ý để điện trở không bị tăng nhiệt độ đáng kể.
\r\n\r\n4.11.3 Tính hệ số điện áp
\r\n\r\nHệ số điện áp thường được tính bằng phần\r\ntrăm trên vôn và phải tính theo công thức sau:
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n
trong đó:
\r\n\r\nU là điện áp đặt cao hơn;
\r\n\r\nR1 là điện trở đo tại\r\n0,1 xU;
\r\n\r\nR2 là điện trở đo được tại U.
\r\n\r\n4.11.4. Yêu cầu
\r\n\r\nGiá trị của hệ số điện áp không được\r\nvượt quá giá trị cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.12. Tạp âm
\r\n\r\nCác điện trở phải chịu các quy trình\r\ncho trong IEC 60195.
\r\n\r\n4.13. Quá tải ngắn hạn
\r\n\r\n4.13.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nĐo điện trở như quy định ở 4.5.
\r\n\r\n4.13.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nĐiện trở được đặt nằm ngang. Với các\r\nđiện trở dây quấn, trục quấn phải nằm ngang. Điện trở được đặt trong không khí\r\nlưu thông tự do ở nhiệt độ môi trường xung quanh trong khoảng 15 °
4.13.3 Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nSau khoảng thời gian phục hồi không ít\r\nhơn 1 h và không nhiều hơn
Sau đó điện trở được đo như quy định ở\r\n4.5. Sự thay đổi của điện trở, tương ứng với giá trị đo ở 4.13.1, không được vượt\r\nquá giá trị cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.14. Độ tăng nhiệt
\r\n\r\n4.14.1. Đ
Các điện trở có giá trị điện trở danh\r\nnghĩa nhỏ hơn giá trị điện trở tới hạn phải chịu các thử nghiệm dưới đây.
\r\n\r\n4.14.2. Lắp đặt
\r\n\r\nĐiện trở được đặt nằm ngang. Với các\r\nđiện trở dây quấn, trục quấn phải nằm ngang. Việc đấu nối được thực hiện theo\r\ncách thông thường. Với điện trở có các đầu để hàn thì nối bằng dây đ
Điện trở chíp (SMD) phải được lắp đặt\r\nbình thường lên tấm mạch in dạng tấm mỏng len kính epoxy phủ đồng dày 1,6 mm như\r\nquy định, ví dụ, trong IEC 61249-2-7, IEC 61249-2-22 hoặc IEC 61249-2-35. Nền\r\nnhôm dày 0,635 mm có thể được sử dụng nếu được quy định rõ ràng trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan cho điện trở được lắp ráp và hoạt động điển hình trên nền đó.
\r\n\r\n4.14.3. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nNhiệt độ m
Điện áp sử dụng là điện áp danh định.
\r\n\r\nSau khi điện trở đạt được cân bằng nhiệt\r\nthì đo nhiệt độ tại điểm nóng nhất trên bề mặt của điện trở. Thiết bị đo nhiệt\r\nđộ phải có kích thước sao cho không ảnh hưởng đến kết quả đo.
\r\n\r\n4.14.4. Yêu cầu
\r\n\r\nĐộ tăng nhiệt không được vượt quá giá\r\ntrị quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nNếu thuộc đối tượng áp dụng, nhiệt kế\r\nhồ
4.15. Độ vững chắc của thân\r\nđiện trở
\r\n\r\n4.15.1. Đối tượng
\r\n\r\nĐiện trở có chiều dài thân không nhỏ\r\nhơn 25 mm phải chịu thử nghiệm dưới đây.
\r\n\r\n4.15.2. Quy trình thử nghi
Thân của điện trở được đỡ tại hai đầu,\r\nkhoảng cách từ vị trí đỡ tới các đầu điện trở không lớn hơn 5 mm. Trụ đỡ có bán kính không\r\nnhỏ hơn 6 mm. Một lực nén, như quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể, tác động\r\ntừ từ vào điểm giữa của thân điện trở theo hướng vuông góc với trục trong thời\r\ngian 10 s. Tải được đặt thông qua một chi tiết có bán kính không nhỏ hơn 6 mm\r\n(xem Hình 5).
\r\n\r\n4.15.3. Yêu cầu
\r\n\r\nSau thử nghiệm này, thân điện trở\r\nkhông được nứt hoặc gẫy.
\r\n\r\n1 trụ đỡ
\r\n\r\n2 chi tiết qua đó tải được đặt vào
\r\n\r\n3 tải
\r\n\r\n4.16. Độ vững chắc của các\r\nchân điện trở
\r\n\r\n4.16.1. Phương pháp thử nghiệm
\r\n\r\nCác điện trở phải chịu các thử nghiệm\r\nUa1
Giá trị điện trở được đo như quy định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.16.2. Thử
Lực kéo đặt vào là:
\r\n\r\n- 20 N, đối với các chân không phải dạng dây;
\r\n\r\n- đối với các chân dạng dây, xem Bảng 5.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n ≤ 0,05 \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n ≤ 0,1 \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n ≤ 0,25 \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n ≤ 0,2 \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n ≤ 0,35 \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n ≤ 0,5 \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n ≤ <,5 \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n ≤ 1,2 \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n ≤ 0,8 \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n ≤ 1,25 \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n CHÚ THÍCH: Đối với các sợi dây m | \r\n ||||||
4.16.3. Thử nghiệm Ub-Uốn
\r\n\r\nPhương pháp 1: Đặt hai lần uốn liên tiếp\r\nvào mỗi hướng. Thử nghiệm này không áp dụng nếu trong yêu
4.16.4. Thử nghiệm Uc-Xoắn
\r\n\r\nPhương pháp A, sử dụng mức khắc nghiệt\r\n2 (quay liên tục hai lần 180°).
\r\n\r\nThử nghiệm này không áp dụng, nếu\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật cụ thể nêu các chân là loại cứng và các
4.16.5. Thử nghiệm Ud - Mômen\r\nxoắn
\r\n\r\nThử nghiệm áp dụng cho các chân là bu\r\nlông hoặc vít và cho các linh kiện lắp liền.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
4.16.6. Phép
Phải áp dụng quy trình sau:
\r\n\r\na) Sau mỗi thử nghiệm này, điện trở phải\r\nđược kiểm tra bằng cách xem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được.
\r\n\r\nb) Sau khi hoàn thành các thử nghiệm\r\ntrên, điện trở phải được đo như quy định ở 4.5. Sự thay đổi của điện trở so với\r\ngiá trị đo được theo 4.16.1 không được vượt quá giá trị cho trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan.
\r\n\r\n4.17. Khả năng hàn
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Không áp dụng cho các chân\r\nmà yêu cầu kỹ thuật cụ thể quy định là không được thiết kế để hàn.
\r\n\r\n4.17.1. Ổn định trước
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải quy định\r\ncó áp dụng lão hóa không. Nếu yêu cầu lão hóa nhanh thì phải áp
Nếu không có quy định trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan thì thử nghiệm được thực hiện với chất gây chảy chưa được kích\r\nhoạt.
\r\n\r\n4.17.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nNếu không có quy định trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan thì áp dụng một trong các thử nghiệm dư
Điều kiện thử nghiệm phải được xác định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\na) Đối với tất cả các điện trở, trừ điện\r\ntrở ở điểm b) và c) dưới đây:
\r\n\r\n| \r\n \r\n | \r\n \r\n 1) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Ta,\r\n phương pháp 1 (bể | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n Độ sâu nhúng (tính từ bề mặt nhúng\r\n hoặc từ thân linh kiện): \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n 2) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Ta,\r\n phương pháp 2 (hàn sắt); \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n 3) IEC 60068-2-54, phương pháp bể hàn\r\n cân bằng ướt. \r\n | \r\n
![](\"00912440_files/image014.gif\"){kind=small}
CHÚ THÍCH: Chỉ áp dụng IEC 60068-2-54\r\nkhi được quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể hoặc khi có thỏa thuận giữa nhà\r\nchế tạo và khách hàng.
\r\n\r\nb) Các điện trở được không thiết kế để\r\ndùng cho tấm mạch in nhưng có các mối nối được thiết kế để hàn khi được chỉ ra\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật cụ thể:
\r\n\r\n| \r\n \r\n | \r\n \r\n 1) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Ta,\r\n phương pháp 1 (bể hàn) \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n Độ sâu nhúng (tính từ bề mặt nhúng\r\n hoặc từ thân linh kiện): | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n 2) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Ta,\r\n phương pháp 2 (hàn sắt). \r\n | \r\n
c) Đối với điện trở chíp:
\r\n\r\n| \r\n \r\n | \r\n \r\n 1) IEC 60068-2-58, phương pháp nóng chảy\r\n chất hàn hoặc bể hàn; \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n 2) IEC 60068-2-69, phương pháp bề hàn\r\n cân bằng ướt hoặc phương pháp giọt hàn cân bằng ướt. \r\n | \r\n
CHÚ THÍCH: Chỉ áp dụng IEC 60068-2-69\r\nkhi được quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể hoặc khi có thỏa thuận giữa nhà\r\nchế tạo và khách hàng.
\r\n\r\n4.17.3. Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nCác chân phải được kiểm tra độ bám thiếc\r\ntốt với bằng chứng là dòng thiếc hàn chảy tự do làm ướt các chân điện trở.
\r\n\r\nĐiện trở phải đáp ứng các yêu cầu như quy\r\nđịnh trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.18. Khả năng chịu nhiệt độ\r\nhàn
\r\n\r\n4.18.1. Ổn định trước
\r\n\r\nNếu có quy định trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan thì phải làm khô điện trở sử dụng phương pháp ở 4.3. Điện trở phải được\r\nđo như quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.18.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nNếu không có quy định khác trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan thì thì áp dụng một trong các thử nghiệm dưới dây như được\r\ntrình bày trong cùng một yêu cầu kỹ thuật.
\r\n\r\nĐiều kiện thử nghiệm phải được xác định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\na) Đối với tất cả các điện trở, trừ điện\r\ntrở ở điểm b) và c) dưới đây:
\r\n\r\nIEC 60068-2-20, Thử nghiệm Tb, phương\r\npháp 1 (bể hàn).
\r\n\r\nb) Các điện trở được không thiết kế để\r\ndùng cho tấm mạch in nhưng có các mối nối được thiết kế để hàn khi được chỉ ra\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật cụ thể:
\r\n\r\n1) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Tb, phương\r\npháp 1 (bể hàn);
\r\n\r\n2) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Tb, phương pháp 2\r\n(hàn sắt).
\r\n\r\nc) Đối với điện trở chíp:
\r\n\r\nIEC 60068-2-58, phương pháp nóng ch
4.18.4. Phục hồi
\r\n\r\nNếu không có quy định khác trong yêu cầu\r\nkỹ thuật cụ thể thì thời gian phục hồi không được nhỏ hơn 1 h và không dài hơn\r\n2 h, trừ điện trở chíp, thời gian phục hồi là 24 h ± 2 h.
\r\n\r\n4.18.4. Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nĐối với tất cả các điện trở, trừ điện\r\ntrở chíp, áp dụng như sau:
\r\n\r\n- khi thực hiện thử nghiệm, điện trở phải được\r\nkiểm tra bằng cách xem xét;
\r\n\r\n- không được có các hư hại nhìn thấy được và\r\nnhãn vẫn phải rõ ràng;
\r\n\r\n- sau đó, điện trở phải được đo như quy định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nĐiện trở chíp phải được kiểm tra bằng\r\ncách xem xét và đo và phải đáp ứng các yêu cầu như quy định
4.19. Thay đổi nhiệt độ đột\r\nngột
\r\n\r\n4.19.1. Phép đo ban đ
Điện trở được đo như quy định ở 4.5.
\r\n\r\n4.19.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nĐiện trở phải chịu thử nghiệm Na của\r\nIEC 60068-2-14. S
Các điện trở sau đó được duy trì trong\r\ncác điều kiện khí quyển tiêu chuẩn để phục hồi với thời gian từ 1 h
Với thử nghiệm này, chỉ đếm số chu kỳ. Trong\r\ncác quá trình ngừng, các linh kiện phải được bảo quản trong điều kiện khí quyển\r\ntiêu chuẩn.
\r\n\r\n4.19.3 Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nSau thời gian phục hồi, điện trở phải\r\nđược kiểm tra bằng cách xem xét. Không được có hư hại nh
Điện trở phải được đo như quy định ở 4.5.\r\nSự thay đổi của điện trở so với giá trị đo được ở 4.19.1 không
4.20. Va đập
\r\n\r\n4.20.1. Lắp đặt
\r\n\r\nĐiện trở được lắp đặt như hướng dẫn\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.20.2. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nĐiện trở được đo như quy định trong\r\n4.5.
\r\n\r\n4.20.4. Quy tr
Các điện trở phải chịu thử nghiệm Eb của\r\nTCVN 7699-2-29 (IEC 60068-2-29) áp dụng các mức khắc nghiệt như cho trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.20.4. Kiểm tra kết thúc, ph
Sau thử nghiệm, các điện trở phải được\r\nkiểm tra bằng cách xem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được.
\r\n\r\nĐiện trở phải được đo như quy định ở\r\n4.5. Sự thay đổi của điện trở so với giá trị đo được
4.21. Xóc
\r\n\r\n4.21.1. Lắp đặt
\r\n\r\nĐiện trở được đặt như hướng dẫn trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.21.2. Phép đo ban đ
Điện trở được đo như quy định ở 4.5.
\r\n\r\n4.21.3. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nCác điện trở phải chịu thử nghiệm Ea của\r\nTCVN 7699-2-27 (IEC 60068-2-27) sử dụng mức khắc nghiệt quy định như cho trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.21.4 Phép đo trong khi thử\r\nnghiệm
\r\n\r\nKhi được quy định trong yêu cầu kỹ thuật\r\ncụ thể, phép đo điện trở phải được tiến hành trong khoảng thời
4.21.5. Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đ
Sau thử nghiệm, điện trở phải được kiểm\r\ntra bằng cách xem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được.
\r\n\r\nĐiện trở phải được đo như quy định ở\r\n4.5. Thay đổ
4.22. Rung
\r\n\r\n4.22.1. Lắp đặt
\r\n\r\nĐiện trở được đặt như hướng dẫn trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.22.2. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nĐiện trở được đo như quy định trong\r\n4.5.
\r\n\r\n4.22.3. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nTrừ những trường hợp quy định trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan, các điện trở phải chịu thử nghiệm Fc theo tiêu chuẩn\r\nTCVN 7699-2-6 (IEC 60068-2-6) sử dụng mức khắc nghiệt như cho trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan.
\r\n\r\nKhi được quy định trong yêu cầu kỹ thuật\r\ncụ thể thì trong 30 min cuối của thử nghiệm rung theo mỗi hướng của chuyển động,\r\nphải thực hiện phép đo thông số điện để kiểm tra tiếp xúc không tốt hoặc hở mạch\r\nhoặc ngắn mạch. Thời gian đo là thời gian cần thiết để quét hết dải tần.
\r\n\r\n4.22.4. Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nSau khi thử nghiệm điện trở phải được\r\nkiểm tra bằng cách xem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được. Khi điện trở\r\nđược thử như quy định ở 4.22.3, không được có tiếp xúc không tốt l
Điện trở được đo như quy định trong\r\n4.5. Sự thay đổi của điện trở so với giá trị đo được ở 4.22.2 không được vượt\r\nquá giới hạn cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.23. Trình tự theo khí hậu
\r\n\r\nTrong trình tự theo khí hậu, khoảng thời\r\ngian gián đoạn cho phép lớn nhất là ba ngày giữa các thử nghiệm, trừ trường hợp\r\nthử nghiệm lạnh được tiến hành ngay sau thời gian phục h
4.23.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nÁp dụng quy trình làm khô dưới đây:
\r\n\r\na) điện trở được làm khô theo quy trình I\r\nhoặc quy trình II của 4.3 như quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan;
\r\n\r\nb) điện trở được đo như quy định ở 4.5.
\r\n\r\n4.23.2. Nóng khô
\r\n\r\nCác điện trở phải chịu thử nghiệm
4.23.3. Nóng ẩm, chu kỳ, thử\r\nnghiệm Db, chu kỳ đầu tiên
\r\n\r\nCác điện trở phải chịu thử nghiệm Db của\r\nTCVN 7699-2-30 (IEC 60068-2-30) cho một chu kỳ 24 h, ở nhiệt độ 55 °
4.23.4. Lạnh
\r\n\r\nCác điện trở phải chịu thử nghiệm Aa của\r\nTCVN 7699-2-1 (IEC 60068-2-1) ở nhiệt độ mức thấp trong thời gian 2 h.
\r\n\r\n4.23.5. Áp suất không khí thấp
\r\n\r\nPhải áp dụng quy trình sau:
\r\n\r\na) các điện trở phải chịu thử nghiệm M của\r\nTCVN 7699-2-13 (IEC 60068-2-13), sử dụng mức khắc
b) thử nghiệm phải được thực hiện ở nhiệt\r\nđộ từ 15 °C
4.23.6. Nóng ẩm, chu kỳ, thử\r\nnghiệm Db, các chu kỳ còn lại
\r\n\r\nCác điện trở phải chịu thử nghiệm Db của\r\nTCVN 7699-2-30 (IEC 60068-2-30) cho các chu kỳ tiếp theo của chu kỳ 24 h được\r\nchỉ ra ở Bảng 7, trong các điều kiện giống như sử dụng cho chu kỳ đầu tiên.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
4.23.7. Tải một chiều
\r\n\r\nThử nghiệm này chỉ áp dụng với các điện\r\ntrở không phải điện trở dây quấn.
\r\n\r\nKhi kết thúc thử nghiệm, điện trở phải\r\nđược đặt trong các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn cho thử nghiệm. Thời gian di\r\nchuyển càng ngắn càng tốt và không được quá 5 min. Sau khi đưa ra khỏi phòng thử\r\n30 min ± 5 min các điện trở phải chịu điện áp một chiều trong 1 min. Điện áp đặt\r\nlà điện áp danh định hoặc giới hạn điện áp phần tử, chọn điện áp nào nhỏ hơn.\r\nSau đó điện trở lại được đặt ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn cho thử nghiệm trong\r\nthời gian từ 1 h đến 2 h.
\r\n\r\n4.23.8. Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nSau đó điện trở phải được kiểm tra bằng\r\ncách xem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được và nhãn phải rõ ràng.
\r\n\r\nĐiện trở và điện trở cách điện, chỉ đối\r\nvới các điện trở được cách điện, phải được đo như quy định. Thay đổi điện trở\r\nso với giá trị đo được ở 4.23.1 b) không được vượt quá giá trị cho trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nĐiện trở cách điện không được nhỏ hơn\r\ngiá trị cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.24. Nóng ẩm, không đổi
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thử nghiệm này cũng được biết\r\nđến là thử nghiệm tải trong điều kiện ẩm hoặc thử nghiệm 40/93.
\r\n\r\n4.24.1. Phép đo ban dầu
\r\n\r\nĐiện trở được đo như quy định ở 4.5.
\r\n\r\n4.24.2. Quy tr
Các điện trở phải chịu thử nghiệm Cab\r\ncủa TCVN 7699-2-78 (IEC 60068-2-78) sử dụng mức khắc nghiệt là:
\r\n\r\n- nhiệt độ: 40 °C ± 2 °C;
\r\n\r\n- độ ẩm tương đối: 93 % ± 3 %
\r\n\r\n- thời gian: theo cấp khí hậu của điện trở như\r\nđược cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.24.2.1. Đối với
Đối với điện trở cách điện và c
a) Nhóm đầu tiên phải chịu thử\r\nnghiệm này mà không đặ
b) Nhóm thứ hai phải chịu thử nghiệm với\r\nđiện áp một chiều giữa hai chân. Điện áp sử dụng được chọn từ dãy điện áp sau:\r\n0; 0,25; 0,4; 0,63; 1; 1,6; 2,5; 4; 6,3; 10; 16; 25; 40; 63 và 100 V.
\r\n\r\nGiá trị được chọn phải là giá trị thấp\r\nhơn kế tiếp với giá trị nhận được từ tính toán điện áp yêu cầu sao cho điện trở\r\ntiêu tán ở mức 0,01 lần mức tiêu tán danh định hoặc 0,1 lần giới hạn điện áp phần\r\ntử, chọn giá trị nào nhỏ hơn. Trong suốt thời gian thử điện áp được duy trì ở mức\r\nđiện áp quy định, cho phép dung sai điện áp là ± 5% đối với biến động điện áp\r\nnguồn và các yếu tố khác.
\r\n\r\nc) Nhóm thứ ba phải chịu thử nghiệm với\r\nđiện áp một chiều 20 V ± 2 V đặt lên tấm lắp đặt và một chân điện trở. Tấm lắp\r\nđặt nối với cực âm, chân điện trở nối với cực dương của nguồn điện áp. Điện áp\r\nphải được duy trì liên tục trong suốt quá trình thử nghi
4.24.2.2. Đối với tất cả các điện\r\ntrở khác
\r\n\r\nĐối với các điện trở khác, lô này được\r\nchia thành hai nhóm và chỉ thực hiện các thử nghiệm a) và b) của 4.24.2.1.
\r\n\r\n4.24.3. Tải một chiều
\r\n\r\nThử nghiệm này chỉ áp dụng với các điện\r\ntrở không phải điện trở dây quấn.
\r\n\r\nKhi kết thúc thử nghiệm, các điện trở\r\nphải được đặt ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn cho thử nghiệm. Thời gian di\r\nchuyển càng ngắn càng tốt và không được quá 5 min. Sau khi ra khỏi phòng thử 30\r\nmin ± 5
4.24.4. Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nCác điện trở sau đó được kiểm tra bằng\r\ncách xem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được và nhãn phải rõ ràng.
\r\n\r\nĐiện trở và điện trở cách điện, chỉ đối\r\nvới điện trở cách điện, được đo theo quy định. Thay đổi của điện trở so với giá\r\ntrị đo được theo 4.24.1 không được vượt quá giới hạn cho trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan.
\r\n\r\nĐiện trở cách điện không được nhỏ hơn giá\r\ntrị cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.25. Độ bền
\r\n\r\n4.25.1. Độ bền ở 70 °
4.25.1.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nĐiện trở được đo như quy định\r\nở 4.5
\r\n\r\n4.25.1.2. Thời gian thử nghiệm
\r\n\r\nĐiện trở phải chịu thử nghiệm độ bền\r\ntrong 42 ngày (1 000 h) ở nhiệt độ môi trường 70 °
4.25.1.3. Điện áp thử nghiệm
\r\n\r\nĐiện áp đặt theo chu kỳ 1,5 h đóng và\r\n0,5 h cắt trong suốt quá trình thử nghiệm. Điện áp này là điện áp danh định hoặc\r\ngiới hạn điện áp phần tử, chọn giá trị nào nhỏ hơn.
\r\n\r\nĐiện áp sử dụng lấy giá trị trong khoảng\r\n± 5 % điện áp này.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Chu kỳ nửa giờ cắt được tính\r\nđến trong toàn bộ thời gian thử nghiệm quy định trong 4.25.1.2.
\r\n\r\n4.25.1.4. Lắp đặt
\r\n\r\nĐiện trở phải được lắp đặt như chỉ ra\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nKhông được có luồng gió mạnh thổi qua\r\nđiện trở. Nếu cần lưu thông không khí cưỡng bức trong buồng thử nghiệm thì các\r\nđiện trở phải được bảo vệ khỏi các luồng gió, trừ trường hợp đối lưu tự nhiên.
\r\n\r\n4.25.1.5. Buồng thử nghiệm
\r\n\r\nKích thước của buồng thử nghiệm và số\r\nlượng điện trở thử nghiệm phải sao cho khi tất cả các điện trở chịu tải hoàn\r\ntoàn thì nhiệt sinh ra phải nhỏ hơn lượng nhiệt yêu cầu
4.25.1.6. Phục h
Sau khoảng 48 h, 500 h và 1000 h các\r\nđiện trở được lấy ra khỏi buồng thử nghiệm và cho phục hồi dưới điều kiện khí\r\nquyển tiêu chuẩn cho thử nghiệm trong khoảng từ 1 h đến 4 h. Việc lấy ra khỏi\r\nbuồng thử nghiệm phải được thực hiện ở cuối chu kỳ tắt nửa giờ.
\r\n\r\nMặt khác, các phép đo sự thay đổi điện\r\ntrở có thể được thực hiện ở nhiệt độ thử nghiệm, các ký hiệu phải rõ ràng.\r\nTrong trường hợp này, ở đầu quá trình thử nghiệm, cần thực hiện đo thêm điện trở\r\nở nhiệt độ thử nghiệm để làm chuẩn. Tuy nhiên, các phép đo ban đầu và kết thúc\r\nphải được thực hiện ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn cho thử nghiệm.
\r\n\r\n4.25.1.7 Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nĐiện trở phải được kiểm tra bằng cách\r\nxem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được và nhãn phải rõ ràng. Các điện trở\r\nđược đo như quy định ở 4.5, sự thay đổi về giá trị điện trở so với giá trị đo\r\nđược ở\r\ntrong\r\nmỗi lần đo không được vượt quá giá trị cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nSau mỗi phép đo trung gian điện trở lại\r\nđược đưa vào buồng thử nghiệm. Khoảng thời gian từ khi lấy
Sau 1 000 h, phải đo giá trị điện trở\r\ncách điện (chỉ với các điện trở cách điện) và giá trị không được nhỏ
4.25.1.8. Thử nghiệm kéo dài
\r\n\r\nKhi có quy định trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan thì thời gian thử nghiệm được kéo dài thêm một khoảng quy định. Với\r\nkhoảng thời gian kéo dài này, yêu cầu kỹ thuật liên quan phải quy định thời điểm\r\nthực hiện các phép đo bất kỳ và các yêu cầu.
\r\n\r\n4.25.2. Độ bền
4.25.2.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nĐiện trở được đo như quy định ở 4.5.
\r\n\r\n4.25.2.2. Th
Các điện trở phải chịu thử nghiệm độ bền\r\ntrong 42 ngày (1 000 h) ở nhiệt độ xung quanh từ 15 °
4.25.2.3. Điện áp thử nghiệm
\r\n\r\nTất cả các điện trở có đế tản nhiệt phải\r\nđược thử nghiệm bằng điện áp xoay chiều, nếu không có quy định nào khác trong\r\nyêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nKhi điện trở được thiết kế đặc biệt\r\ncho các ứng dụng một chiều, được phép có nhiệt độ bề mặt vượt quá nhiệt độ môi\r\ntrường 200 °C
Điện áp được đặt theo chu kỳ 1,5 h\r\nđóng và 0,5 h cắt trong suốt thời gian thử nghiệm.
\r\n\r\nĐiện áp đặt lên các điện trở là điện\r\náp trong khoảng ± 5 % điện áp tính được.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Chu kỳ nửa giờ cắt được\r\ntính đến trong tổng thời gian thử nghiệm quy định trong 4.25.2.2.
\r\n\r\n4.25.2.4. Lắp đặt
\r\n\r\nĐiện trở phải được lắp đặt như chỉ ra\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nKhông được có luồng gió mạnh thổi qua điện\r\ntrở. Nếu cần lưu thông không khí cưỡng bức trong buồng thử nghiệm thì các điện\r\ntrở phải được bả
4.25.2.5. Phục hồi
\r\n\r\nSau khoảng 48 h, 168 h, 500 h và 1 000\r\nh các điện trở được lấy ra khỏi buồng thử nghiệm và được phục hồi ở điều kiện\r\nkhí quyển tiêu chuẩn cho thử nghiệm trong thời gian từ 1 h đến 4h.
\r\n\r\n4.25.2.6. Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nĐiện trở phải được kiểm tra bằng cách\r\nxem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được và nhãn phải rõ ràng. Điện trở phải\r\nđược đo như ở 4.5 và sự thay đổi của điện trở so với giá trị đo được ở 4.25.2.1\r\nkhông được vượt quá giá trị cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nSau các phép đo trung gian, các điện\r\ntrở được đưa lại buồng thử nghiệm. Khoảng thời gian giữa khi lấy ra và đưa lại\r\nbuồng thử không được vượt quá 12 h.
\r\n\r\nSau 1 000 h, phải đo giá trị điện trở\r\ncách điện (chỉ áp dụng với điện trở cách điện) như quy định ở 4.6 và giá trị\r\nkhông được nhỏ hơn giá trị cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.25.2.7. Thử nghiệm kéo dài
\r\n\r\nKhi có yêu cầu trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan thì thời gian thử nghiệm phải kéo dài thêm một khoảng quy định. Với\r\nkhoảng thời gian này, yêu cầu kỹ thuật liên quan phải quy định thời điểm thực\r\nhiện phép đo và các yêu cầu.
\r\n\r\n4.25.3. Độ bền ở nhiệt độ mức\r\ntrên
\r\n\r\n4.25.3.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nĐiện trở được đo như quy định ở 4.5.
\r\n\r\n4.25.3.2. Thời gian thử nghiệm\r\nvà quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nĐiện trở phải chịu thử nghiệm độ bền\r\ntrong 42 ngày (1 000 h), ở nhiệt độ môi trường bằng nhiệt độ mức
4.25.3.3. Điện áp thử nghiệm
\r\n\r\nĐiện áp được sử dụng theo chu kỳ 1,5 h\r\nđóng và 0,5 h cắt trong suốt quá trình thử nghiệm.
\r\n\r\nĐiện áp là giới hạn điện áp phần tử hoặc\r\nđiện áp tính theo tiêu tán mức và điện trở danh định, chọn giá trị nào nhỏ hơn.
\r\n\r\nĐiện áp đặt nằm trong khoảng ± 5 % điện\r\náp này.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Chu kỳ 0,5 h cắt nằm trong tổng thời\r\ngian thử nghiệm xác định theo 4.25.3.2.
\r\n\r\n4.25.3.4. Lắp đặt
\r\n\r\nKhi điện trở tiêu tán công suất thì\r\nchúng phải được lắp đặt giống nhau như quy định trong 4.25.1.4 hoặc 4.25.2.4,\r\nkhi thích hợp.
\r\n\r\nKhông được có luồng gió l
4.25.3.5 Buồng thử nghiệm
\r\n\r\nKích thước của buồng thử nghiệm và số\r\nlượng điện trở thử nghiệm phải sao cho khi các điện trở chịu đầy tải thì nhiệt\r\nsinh ra phải nhỏ hơn nhiệt yêu cầu, không khí trong buồng thử nghiệm được giữ ở\r\nnhiệt độ mức trên và nhiệt độ vẫn có thể khống chế được bằng phần tử nhiệt. Các\r\nphần tử khống chế nhiệt được đặt cách điện trở một khoảng thích hợp và được che\r\nchắn sao cho không bị ảnh hưởng trực tiếp bởi bức xạ của các điện trở. Trong thử nghiệm\r\nnày coi nhiệt độ môi trường xung quanh của các điện trở bằng nhiệt độ mức trên.
\r\n\r\n4.25.3.6. Phục hồi
\r\n\r\nSau khoảng 48 h, 500 h và 1 000 h các\r\nđiện trở được lấy ra khỏi buồng thử nghiệm và được phục hồi ở điều kiện khí quyển\r\ntiêu chuẩn cho thử nghiệm trong thời gian từ 1 h đến 4 h. Việc lấy ra khỏi buồng\r\nthử được thực hiện ở cuối chu kỳ nửa giờ cắt đối với các điện trở tiêu tán công\r\nsuất.
\r\n\r\n4.25.3.7. Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nĐiện trở được kiểm tra bằng cách xem\r\nxét. Không được có hư hại nhìn thấy được và nhãn phải rõ ràng. Điện trở được đo\r\nnhư quy định ở 4.5. Sự thay đổi điện trở so với giá trị đo được ở 4.25.3.1\r\ntrong mỗi phép đo liên tiếp không được vượt quá giá trị cho trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan với các thử nghiệm độ bền ở 70 °C (xem 4.25.1) hoặc ở\r\nnhiệt độ phòng (xem 4.25.2).
\r\n\r\nSau các phép đo trung gian các điện trở\r\nđược đưa lại buồng thử nghiệm. Thời gian giữa lần lấy điện trở ra và đưa tr
Sau 1 000 h, điện trở cách điện phải\r\nđược đo (với các điện trở được cách điện) và giá trị không được nhỏ hơn giá trị\r\ncho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.25.3.8. Thử nghiệm kéo dài
\r\n\r\nKhi có yêu cầu trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan thì khoảng thời gian thử nghiệm phải được kéo dài thêm một khoảng quy\r\nđịnh. Đối với khoảng thời gian này, yêu cầu kỹ thuật liên quan quy định thời điểm\r\nthực hiện các phép đo và các yêu cầu.
\r\n\r\n4.26. Thử quá tải ngẫu\r\nnhiên
\r\n\r\n4.26.1. Mục đích
\r\n\r\nMục đích của thử nghiệm quá tải ngẫu\r\nnhiên là để đánh giá nguy cơ cháy do đặt quá tải lên điện trở dây quấn công suất\r\nthấp.
\r\n\r\n4.26.2 Phương pháp thử nghiệm\r\nbằng ống hình trụ
\r\n\r\nGiá thử gồm một ống hình trụ bao quanh\r\nmẫu thử với khoảng cách 25 mm ± 3 mm tính từ thân điện trở.
\r\n\r\nMột lớp v
Khung được cấu tạo từ dây hình trụ có\r\nđường kính nhỏ hơn hoặc bằng 0,6 mm (22 AWG), không sử dụng dây đồng. Các dây của\r\nkhung được đặt cách đều nhau theo suốt hình trụ và không được phủ quá 10 % của\r\nhình trụ vải.
\r\n\r\nA lớn hơn đường kính của mẫu thử 50 mm ± 1.5 mm
\r\n\r\nB không ngắn hơn hai lần độ dài mẫu thử
\r\n\r\nChiều dài h
Vải được dùng để tạo ra hình trụ được làm bằng\r\nvải chưa xử lý cotton loại quy định là 914,4 mm (36 inch) rộng, với khối lượng\r\ntừ 36,3 g/m2 đến 38,8 g/m2 (14 yard/pound đến 15\r\nyard/pound) và có kích thước 32 in x 28 in.
\r\n\r\nTấm vải được ổn định trước\r\ntrong điều kiện khí quyển tiêu chuẩn cho thử nghiệm trong 24 h.
\r\n\r\nMẫu thử được đặt trong giá sao cho hình trụ bằng\r\nvải bao quanh chính giữa mẫu cần thử nghiệm theo cả chiều đối xứng trục và dọc\r\ntrục.
\r\n\r\n4.26.3. Điều kiện thử nghiệm
\r\n\r\n4.26.3.1. Thông gió
\r\n\r\nThử nghiệm này được tiến hành ở n
Tốc độ không khí trên mẫu thử không được\r\nquá 30 m/min.
\r\n\r\n4.26.3.2. Các kẹp lắp đặt
\r\n\r\nCác kẹp được thiết kế v
4.26.4. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nKhi thử nghiệm này được cho trong yêu\r\ncầu kỹ thuật cụ thể thì yêu cầu kỹ thuật cụ thể phải quy định dải điện trở áp dụng\r\ncho thử nghiệm và dải điện trở để chọn các mẫu thử.
\r\n\r\nNếu không có quy định nào khác cho\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật cụ thể, các điện trở được nối với điện
Mức quá tải 5, 10, 16, 25, 40, 63 và\r\n100 lần mức tiêu tán danh định được đặt vào các điện trở thử nghiệm, nhưng điện\r\náp đặt không được lớn hơn bốn lần giới hạn điện áp phần tử, nếu không có quy định\r\nnào khác trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nTừng mức quá tải phải được đặt l
Trong quá trình thử nghiệm, dòng qua mỗi\r\nđiện trở được kiểm tra bằng cách đo điện áp trên điện trở có giá trị nhỏ mắc nối\r\ntiếp với điện trở thử nghiệm. Giá trị của điện trở mắc nối tiếp này phải ≤ 1% R
Sau khi đo được điện áp trên điện trở\r\nnối tiếp này phải tính được dòng qua Rthử
Trong mỗi lần quá tải phải ghi lại thời\r\ngian xảy ra các hiện tượng sau:
\r\n\r\na) cháy ống vải hình trụ;
\r\n\r\nb) trở kháng thấp hoặc h
4.26.5. Yêu cầu
\r\n\r\nKhông được để cháy ống vải hình trụ.
\r\n\r\n4.27. Thử nghiệm quá tải bằng\r\nđiện áp cao dạng xung đơn
\r\n\r\n4.27.1. Mục đích
\r\n\r\nMục đích của thử nghiệm này là để xác\r\nđịnh khả năng chịu quá
Thử nghiệm này cho thấy ảnh hưởng của\r\nquá tải điện áp cao lên
CHÚ THÍCH: Điện áp lặp lại thư
4.27.2. Thuật ngữ
\r\n\r\nĐể xác định tải xung, áp dụng các thuật\r\nngữ và định nghĩa trong TCVN 6099-1 (IEC 60060-1).
\r\n\r\n4.27.3. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\n4.27.3.1. Mô tả thiết bị thử\r\nnghiệm.
\r\n\r\nThiết bị thử nghiệm phải có khả năng\r\nphát ra ít nhất là 6 xung/1 min, với dạng xung theo yêu cầu, tới điện trở thử\r\nnghiệm.
\r\n\r\nCác sơ đồ mạch để tạo ra hai dạng xung\r\nthích hợp cho trên Hình 7 và Hình 8.
\r\n\r\n![](\"00912440_files/image017.gif\")
![](\"00912440_files/image018.jpg\")
CHÚ THÍCH: Thiết bị đóng cắt trên\r\nHì
4.27.3.2. Ổn định trước
\r\n\r\nTrước khi thử nghiệm, điện trở cần đạt\r\nđược cân bằng nhiệt độ và độ ẩm trong các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn đối với\r\nthử nghiệm. Nếu có yêu cầu trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể, thì các điện trở được\r\nlàm khô theo quy trình I của 4.3.
\r\n\r\n4.27.3.3. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nNếu không có quy định nào khác thì các\r\nđiện trở được kiểm tra bằng cách xem xét và phải đo giá trị điện trở.
\r\n\r\n4.27.3.4. Thử nghiệm
\r\n\r\nPhương pháp lắp đặt điện trở được xác\r\nđịnh trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nĐiện trở được thử nghiệm trong các điều\r\nkiện khí quyển tiêu chuẩn dùng cho thử nghiệm.
\r\n\r\nThử nghiệm được tiến hành với các mẫu\r\nthử khô và sạch ở nhiệt độ môi trường của phòng thử nghiệm. Xung điện áp đặt\r\nvào phải dựa trên ứng dụng và phải được chọn theo Bảng 8.
\r\n\r\nPhải đặt điện áp xung thử nghiệm có mức\r\nkhắc nghiệt thích hợp như quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan. Điện trở cần\r\nthử nghiệm được nối qua (a) và (b) như Hình 7 hoặc Hình 8. Điện áp sẽ xuất hiện\r\ntrên các đầu nối của điện trở cần thử nghiệm. Yêu cầu kỹ thuật liên quan phải\r\nnêu các chi tiết cụ thể.
\r\n\r\n4.27.3.5 Mức khắc nghiệt
\r\n\r\nThử nghiệm được tiến hành với\r\ncác mức khắc nghiệt được chọn từ Bảng 8.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n
| \r\n \r\n
| \r\n ||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n CHÚ THÍCH 1: CHÚ THÍCH 2: Các giá trị của điện áp\r\n xung đã | \r\n |||||
| \r\n * Chọn giá trị nào thấp h | \r\n |||||
4.27.3.6. Phục hồi
\r\n\r\nSự phục hồi được thực hiện trong các\r\nđiều kiện khí quyển tiêu chuẩn của thử nghiệm cho tới khi đạt được cân bằng nhiệt,\r\ntrong thời gian nhiều nhất là 24h.
\r\n\r\n4.27.3.7. Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nCác điện trở được kiểm tra bằng cách\r\nxem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được, nhãn phải rõ ràng.
\r\n\r\nĐiện trở phải được đo. Thay đổi của điện\r\ntrở so với giá trị đo được ban đầu (4.27.3.3) không được vượt
4.27.10. Thông tin
Yêu cầu kỹ thuật cụ thể phải gồm có\r\ncác thông tin sau:
\r\n\r\na) Phương pháp lắp đặt điện trở để thử nghiệm.
\r\n\r\nb) Mức khắc nghiệt của thử nghiệm, được\r\nchọn từ Bảng 8.
\r\n\r\nc) Nhiệt độ môi trường xung quanh, nếu\r\nkhác dải từ 15 °C
d) Các tiêu chí hỏng hóc, ví dụ:
\r\n\r\n- sự thay đổi điện trở cho phép khác với lượng\r\ncho trong thử nghiệm độ bền;
\r\n\r\n- đánh thủng cách điện;
\r\n\r\n- ngắn mạch;
\r\n\r\n- hở mạch;
\r\n\r\n- các tiêu chí khác.
\r\n\r\n4.28. Thử nghiệm quá tải b
4.28.1. Mục đích
\r\n\r\nMục đích của thử nghiệm này là để xác\r\nđịnh khả nă
Các thay đổi về các tham số của điện\r\ntrở sau thử nghiệm là do:
\r\n\r\n- các hiệu ứng điện áp bên trong;
\r\n\r\n- các hiệu ứng dòng điện kể cả các ứng suất nhiệt\r\ncục bộ và lực cơ học.
\r\n\r\n4.28.2. Thuật ngữ
\r\n\r\nÁp dụng các thuật ngữ và định nghĩa dưới\r\nđây.
\r\n\r\n4.28.2.1
Khoảng thời gian giữa thời điểm bắt đầu\r\nvà kết thúc xung.
\r\n\r\n4.28.2.2
Khoảng thời gian từ thời điểm bắt đầu\r\nxung của dạng sóng xung đầu tiên đến thời điểm bắt đầu của dạng sóng xung ngay\r\nsau trong chuỗi xung tuần hoàn.
\r\n\r\n4.28.2.3
Giá trị điện áp ổn định chỉ ra ở Phụ lục\r\nC và ký hiệu là Û
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Û có thể được biểu diễn là\r\nbội số của Udđ
4.28.3. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\n4.28.3.1. Mô tả thiết bị thử\r\nnghiệm
\r\n\r\nBộ tạo xung phải có khả năng tạo ra một\r\ndãy các xung quy định có chu kỳ lặp lại quy định trong khoảng thời gian quy định\r\ncủa thử nghiệm, cần chú ý không để không có ảnh hưởng của mẫu thử này tới các mẫu\r\nkhác. Điều này yêu cầu một tầng ra riêng cho mỗi một mẫu.
\r\n\r\nSơ đồ khối của thiết bị thử nghiệm\r\nthích hợp được cho trên Hình C.1. Sơ đồ gồm một dãy các bộ khuếch đại công suất có\r\ntrở
Để sử dụng nguồn cung cấp một cách\r\nkinh tế hơn cho các tầng đệm và tầng công suất trong thử nghiệm nhiều điện trở\r\ncùng một lúc,
4.28.3.2. Ổn định trước
\r\n\r\nTrước khi bắt đầu thử nghiệm, các điện\r\ntrở phải đạt được cân bằng nhiệt và độ ẩm ở các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn\r\ncho thử nghiệm.
\r\n\r\nVới các ứng dụng đặc biệt thì các yêu\r\ncầu ổn định trước khác phải được cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.28.3.3. Phép đo ban
Nếu không có quy định nào khác, các điện\r\ntrở phải được kiểm tra bằng cách xem xét và độ trước giá trị điện\r\ntrở.
\r\n\r\n4.28.3.4. Thử nghiệm
\r\n\r\nThử nghiệm được thực hiện với dãy xung\r\nvuông một cực tính với điện áp xung danh định có chu kỳ lặp lại và độ rộng xung\r\nxác định.
\r\n\r\nPhương pháp lắp điện trở được cho\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan và có sự tương đương về nhiệt với thử nghiệm độ\r\nbền thông thường. Việc lắp đặt không được gây méo dạng xung quá giới hạn cho trên\r\nHình C.2.
\r\n\r\nTại nhiệt độ 25 °
4.28.3.5. Mức khắc nghiệt
\r\n\r\nMức khắc nghiệt của thử nghiệm được\r\nxác định bởi điện áp xung danh định, độ rộng xung, chu kỳ lặp lại xung, khoảng\r\nthời gian thử nghiệm và nhiệt độ môi trường.
\r\n\r\nMức khắc nghiệt của thử nghiệm được chọn\r\ntheo Bảng 9 và được cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan. Khi không quy định mức\r\nkhắc nghiệt cụ thể thì phải áp dụng mức khắc nghiệt 3.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n CHÚ THÍCH 1: Mức khắc nghiệt\r\n này bao hàm cả các yêu cầu quá tải điện áp xung cao. Nó chỉ áp dụng khi có\r\n yêu cầu. \r\nCHÚ THÍCH 2: Các tham số độc lập của\r\n Bả Độ rộng xung tp được điều\r\n chỉnh sao cho khi tr ở CHÚ THÍCH 3: Với giới hạn trên như\r\n được nêu trong yêu cầu kỹ thuật liên quan. \r\n | \r\n ||||
![](\"00912440_files/image019.gif\"){kind=small}
)Các mức khắc nghiệt này dự kiến để sử\r\ndụng với các hình vẽ về sự thay đổi cho phép của điện trở tương tự như ở các thử\r\nnghiệm độ bền.
\r\n\r\nXung chữ nhật là thích hợp với tất cả\r\ncác mức khắc nghiệt. Để thu được nhiều số liệu thử hơn trong một thời gian ngắn\r\ncho phép sử dụng các xung có dạng hàm số mũ, mà có điện áp xung danh định Û,\r\ncông suất trung bình P
Nếu sử dụng các xung khác với dạng mô\r\ntả ở Phụ lục C thì dạng của xung đặt lên các chân của điện trở phải được mô tả\r\nđầy đủ trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.28.3.6. Phép đo trung gian
\r\n\r\nPhép đo trung gian có thể được thực hiện\r\nđể rút ngắn thử nghiệm trong trường hợp hỏng hóc các điện trở thử nghiệm sau 4\r\nh, 24 h và 50 h.
\r\n\r\n4.28.3.7. Phục hồi
\r\n\r\nPhục hồi được thực hiện trong các điều\r\nkiện khí quyển tiêu chuẩn của thử nghiệm cho tới khi đạt được c
4.28.3.8. Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nCác điện trở phải được kiểm tra bằng\r\ncách xem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được. Nhãn phải rõ ràng.
\r\n\r\nĐiện trở phải được đo. Thay đổi của điện\r\ntrở so với giá trị đo ban đầu (4.28.3.3) không được vượt quá giới hạn ở thử\r\nnghiệm độ bền, nếu không có quy định nào khác trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nVới các điện trở cách điện thì chỉ đo\r\ngiá trị điện trở cách điện.
\r\n\r\nGiá trị này không được nhỏ hơn giới hạn\r\ncho trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.28.3.9. Thông tin cần nêu\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật cụ thể
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật cụ thể phải gồm có\r\ncác thông tin dưới đây.
\r\n\r\na)
b)
c)
d)
e)
f) Điện trở cách điện.
\r\n\r\n4.29
4.29.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nThực hiện các phép đo quy định trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.29.2 Điều kiện thử nghiệm
\r\n\r\nCác linh kiện phải chịu thử nghi
| \r\n a) Dung môi được sử dụng: \r\n | \r\n \r\n IPA; \r\n | \r\n
| \r\n b) Nhiệt độ dung môi: \r\n | \r\n \r\n 23 °C ± 5 ° | \r\n
| \r\n c) Thử nghiệm: \r\n | \r\n \r\n Phương pháp 2 (không chà xát); \r\n | \r\n
| \r\n d) Khoảng thời gian: \r\n | \r\n \r\n 5 min ± 0,5 min \r\n | \r\n
| \r\n e) Thời gian phục hồi: \r\n | \r\n \r\n 48 h, trừ khi có quy định khác trong\r\n yêu cầu kỹ thuật cụ thể. \r\n | \r\n
4.29.3. Yêu cầu
\r\n\r\nCác phép đo được mô tả trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan phải được tiến hành và phải thỏa mãn các yêu cầu quy định.
\r\n\r\n4.30. Khả năng chịu dung\r\nmôi của nhãn
\r\n\r\n4.30.1. Điều kiện thử nghiệm
\r\n\r\nCác linh kiện phải chịu thử nghiệm XA của\r\nTCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45), cụ thể như sau:
\r\n\r\n| \r\n a) Dung môi được sử dụng: \r\n | \r\n \r\n IPA; \r\n | \r\n
| \r\n b) Nhiệt độ dung môi: \r\n | \r\n \r\n 23 °C ± 5 ° | \r\n
| \r\n c) Thử nghiệm: \r\n | \r\n \r\n Phương pháp 1 (có chà xát); trừ khi\r\n có quy định khác trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể; \r\n | \r\n
| \r\n d) Vật liệu chà xát: \r\n | \r\n \r\n Len cotton; \r\n | \r\n
| \r\n f) Khoảng thời gian: \r\n | \r\n \r\n 5 min ± 0,5 min \r\n | \r\n
| \r\n e) Thời gian phục hồi: \r\n | \r\n \r\n Không áp dụng, trừ khi có quy định\r\n khác trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể \r\n | \r\n
4.30.2. Yêu cầu
\r\n\r\nSau thử nghiệm, nhãn vẫn phải rõ ràng.
\r\n\r\n4.31. Lắp
4.31.1. Nền
\r\n\r\nĐiện trở chíp phải được lắp đặt trên tấm\r\nnền phù hợp; phương pháp lắp đặt phụ thuộc vào kết cấu của điện trở. Vật liệu nền\r\nthường là epoxy len thủy tinh E dạng tấm mạch in phủ đồng dày 1,6 mm như được\r\nxác định, ví dụ, trong IEC 61249-2-7, IEC 61249-2-22 hoặc IEC 61249-2-35 và\r\nkhông được ảnh hưởng đến kết quả của bất kỳ thử nghiệm hoặc phép đo nào. Nếu được\r\nquy định rõ ràng trong yêu cầu kỹ thuật liên quan thì có thể sử dụng tấm nền\r\nnhôm 0,635 mm, nên sử dụng cho các điện trở được lắp ráp và hoạt động điển hình\r\ntrên tấm nền đó. Yêu cầu kỹ thuật cụ thể phải chỉ ra vật liệu được dùng cho các\r\nphép đo điện.
\r\n\r\nTấm nền phải có diện tích tiếp xúc phủ\r\nkim loại có khoảng cách thích hợp để cho phép lắp
Các ví dụ về tấm nền thử nghiệm đối với\r\ncác thử nghiệm cơ và điện được chỉ ra trên Hình 9 và Hình 10 tương ứng.
\r\n\r\nNếu sử dụng phương pháp khác để lắp điện\r\ntrở thì phải mô tả rõ trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.31.2. Hàn sóng
\r\n\r\nNếu yêu cầu kỹ thuật cụ thể có quy định\r\nhàn sóng thì phải sử dụng keo dán thích hợp, mà nội dung chi tiết được cho\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan để gắn chắc chắn linh kiện vào tấm nền trước\r\nkhi hàn.
\r\n\r\nCác điểm dán nhỏ phải được đặt giữa\r\nhai phần dẫn của tấm nền bằng thiết bị phù hợp để có thể lặp lại kết quả như trên.
\r\n\r\nCác điện trở chíp được đặt lên các điểm\r\ndán bằng các kẹp. Để keo dính không dính vào phần dẫn, các điện trở chíp không\r\nđược xê dịch.
\r\n\r\nTấm nền có điện trở chíp phải được xử\r\nlý nhiệt trong tủ sấy ở 100 °C trong 15 min.
\r\n\r\nTấm nền phải được hàn bằng hệ thống\r\nhàn sóng. Hệ thống phải được điều chỉnh để có nhiệt độ ban đầu từ 80 °
Thao tác hàn phải được lặp lại nhiều\r\nhơn một lần (tổng số hai chu kỳ).
\r\n\r\nTấm nền phải được làm sạch trong 3 min\r\ntrong dung môi phù hợp (xem 3.1.2 của TCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45)).
\r\n\r\n4.31.3. Hàn nóng ch
Nếu yêu cầu kỹ thuật cụ thể quy định\r\nhàn bằng cách làm nóng chảy thiếc, áp dụng trình tự lắp đ
a) Thiếc hàn dùng ở dạng thành phẩm hoặc\r\ndạng bột nhão phải chứa bạc (tối thiểu 2 %) thiếc hàn Sn/Pb eutecti cùng v
b) Sau đó đặt điện trở chíp lên vùng tiếp\r\nxúc phủ kim loại của tấm nền thử nghiệm để tạo tiếp xúc
c) Sau đó đặt tấm nền trong hoặc trên hệ\r\nthống nhiệt thích hợp (nấu chảy thiếc, tấm nhiệt, lò,
CHÚ THÍCH 1: Chất gây chảy phải được\r\nlàm sạch bằng dung môi thích hợp (xem 3.1.2 của TCVN 7699-2-45 (IEC\r\n60068-2-45)). Mọi thao tác bằng tay phải tránh bị ô nhiễm. Phải chú ý giữ sạch\r\nphòng thử nghiệm và duy trì thời gian đặt các phép đo thử nghiệm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Yêu cầu kỹ thuật cụ thể\r\ncó thể yêu cầu dải nhiệt độ hạn chế hơn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Nếu áp dụng phương pháp\r\nhàn hơi, phương pháp tương tự có thể được áp dụng với nhiệt độ thích
Vật liệu: len thuỷ tinh epoxy
\r\n\r\nChiều dày: 1,6 mm ± 0,1 mm hoặc 0,8 mm\r\n± 0,1 mm
\r\n\r\nVật liệu: nền nhôm 90 % đến 98 %
\r\n\r\nChiều dày: 0,635 mm ± 0,05 mm hoặc lớn\r\nhơn
\r\n\r\nChú thích cho Hình 9 và Hình 10
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1:
\r\n\r\nVùng bám thiếc
Vùng không bám thiếc (phủ sơn không bám thiếc)
CHÚ THÍCH 2: Tất cả các kích thước\r\ntính bằng milimét
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Các kích thước không nêu\r\nhoặc không phù hợp đối với loại linh kiện quy định phải được mô tả trong yêu cầu\r\nkỹ thuật cụ thể theo thiết kế và cỡ linh kiện thử nghiệm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 4: Phần dẫn này có thể bỏ\r\nqua hoặc sử dụng như một điện cực bảo vệ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 5: Kích thước
4.32. Thử nghiệm bám chắc
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Thử nghiệm này chỉ áp dụng\r\ncho điện trở chíp.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Thử nghiệm này cũng được xem là thử\r\nnghiệm bám dính.
\r\n\r\n4.32.1. Lắp đặt
\r\n\r\nĐiện trở chíp phải được lắp đặt như mô\r\ntả trong 4.31.
\r\n\r\n4.32.2. M
Điện trở chíp phải chịu thử nghiệm Ue3\r\nở IEC 60068-2-21. Áp dụng một trong các điều kiện dưới đây, như mô tả trong yêu\r\ncầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\na) đặt lực 5 N vào thân của điện trở ch
b) lực tỉ lệ với khối lượng của linh kiện\r\nphải đặt vào thân điện trở một cách tăng dần, không đột ngột. Loại bỏ ngay ứng\r\nsuất sau khi đạt đến lực cho trước. Yêu cầu kỹ thuật liên quan phải quy định\r\ncác lực thử nghiệm yêu cầu dựa trên khối lượng điển hình của điện trở được đề cập\r\nđến.
\r\n\r\n4.23.3. Yêu cầu
\r\n\r\nCác điện trở chíp phải được kiểm tra bằng\r\ncách xem xét ở trạng thái đã lắp đặt. Không được có hư hại nhìn thấy được.
\r\n\r\n4.33. Thử nghi
CHÚ THÍCH: Thử nghiệm này cũng được\r\nxem là độ bền kết dính của lớp mạ.
\r\n\r\n4.33.1. Chuẩn bị
\r\n\r\nĐiện trở chíp được lắp đặt trên tấm mạch\r\nin bằng len thuỷ tinh epoxy như mô tả trong 4.31. Dụng cụ uốn được vát với bán\r\nkính 5 mm phải được sử dụng cho RR3216M và các cỡ nhỏ hơn. Cần sử dụng chiều\r\ndày 0,8 mm cho RR1005M hoặc cỡ nhỏ hơn.
\r\n\r\n4.33.2. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nĐiện trở của điện trở chíp phải được\r\nđo như quy định trong 4.5.
\r\n\r\n4.33.3. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nĐiện trở phải chịu thử nghiệm Ue
Phải đo giá trị điện trở của điện trở\r\nchíp như quy định ở 4.5, với tấm mạch ở tư thế uốn. Thay đổi giá trị điện trở\r\nso với giá trị đo được ở 4.33.2 không được vượt quá giá trị quy định trong yêu\r\ncầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nTấm mạch in phải được để phục hồi từ\r\ntư thế uốn rồi sau đó lấy ra khỏi gá thử nghiệm.
\r\n\r\n4.33.4. Kiểm tra kết thúc và\r\ncác yêu cầu
\r\n\r\nĐiện trở chíp phải được kiểm tra bằng\r\nmắt và không được có hư hại nhìn thấy được.
\r\n\r\n4.34. Ăn mòn
\r\n\r\n4.34.1. Phương pháp thử nghiệm
\r\n\r\nĐiện trở phải chịu thử nghiệm Ka của\r\nTCVN 7699-2-11 (IEC 60068-2-11).
\r\n\r\n4.34.2. Yêu cầu
\r\n\r\nThời gian thử nghiệm và các yêu cầu phải\r\nđược quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.35. Tính dễ cháy
\r\n\r\n4.35.1. Điều kiện thử nghiệm
\r\n\r\nĐiện trở phải chịu thử nghiệm ngọn lửa\r\nhình kim của IEC 60695-11-5 sử dụng mức khắc nghiệt thích hợp được chọn từ khoảng\r\nthời gian đặt ngọn lửa thử nghiệm (ta) 5 s, 10 s, 20 s, 30 s, 60 s\r\nvà 120 s.
\r\n\r\n4.35.2. Yêu cầu
\r\n\r\nThời gian cháy cho phép (
4.36. Làm việc ở nhiệt độ\r\nthấp
\r\n\r\n4.36.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nĐiện trở phải được đo như quy định ở\r\n4.5.
\r\n\r\n4.36.2 Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nĐiện trở phải chịu trình tự thử nghiệm\r\ndướ
- làm lạnh từ nhiệt độ phòng xuống
- giữ các điện trở nguội ở nhiệt độ này trong 1\r\nh không tải nữa;
\r\n\r\n- đặt tiêu tán danh định hoặc giới hạn điện áp\r\nphần tử, chọn giá trị nào ít khắc nghiệt hơn, vào điện trở trong 45 min;
\r\n\r\n- giữ các điện trở nguồi trong 15 min không tải;
\r\n\r\n- tăng nhiệt và phục hồi trong tối thiểu là 24\r\nh.
\r\n\r\n4.36.3. Kiểm tra kết thúc,\r\ncác phép đo và yêu cầu
\r\n\r\nĐiện trở phải được kiểm tra bằng mắt\r\nvà không được có hư hại nhìn thấy được.
\r\n\r\nĐiện trở phải được 5đo như quy định
4.37. Nóng ẩm, ổn định, gia\r\ntốc
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thử nghiệm này cũng được\r\nxem là thử nghiệm tải ẩm hoặc thử nghiệm 85/85.
\r\n\r\n4.37.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nĐiện trở phải được đo như quy định ở\r\n4.5.
\r\n\r\n4.37.2. Phương pháp thử nghiệm
\r\n\r\nĐiện trở tốt nhất là phải chịu thử\r\nnghiệm Cy ở IEC 60068-2-67 trong 1 000 h. Yêu cầu kỹ thuật cụ thể có thể quy định\r\nkhoảng thời gian khác theo Điều 4 ở IEC 60068-2-67.
\r\n\r\n4.37.3. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nĐiện trở phải được đặt với công suất ở\r\n10 % điện áp danh định (lớn nhất là điện áp một chiều bằng 100 V). Trong suốt\r\nthời gian thử nghiệm điện áp thử nghiệm phải được duy trì trong phạm vi dung\r\nsai bằng ±5 % giá trị tính được.
\r\n\r\nĐiện trở ở 500 h phải được đo trong\r\nkhoảng từ 1 h đến 2 h và điện trở ở 1000 h phải được đo trong khoảng từ 4 h đến\r\n24 h như quy định ở 4.5. Có thể quy định phép đo trung gian ở xấp xỉ 48 h.
\r\n\r\n4.37.4. Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nĐiện trở phải được kiểm tra bằng mắt.\r\nKhông được có hư hại nhìn thấy được và nhãn phải rõ ràng.
\r\n\r\nThay đổi giá trị điện trở không được\r\nvượt quá giá trị quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể. Giá trị điện trở cách\r\nđiện đối với điện trở cách điện phải được đo như quy định ở 4.6. Giá trị này\r\nkhông được nhỏ hơn giá trị quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.38. Phóng điện tĩnh điện
\r\n\r\n4.38.1. Phương pháp thử nghiệm
\r\n\r\nKhả năng của điện trở để chịu được các\r\nxung phóng điện tĩnh điện (ESD) phải được thử nghiệm với mô hình cơ thể người\r\n(HBM) theo IEC 61340-3-1.
\r\n\r\nĐiện trở phải được thử nghiệm trong\r\ncác điều kiện khí quyển tiêu chuẩn. Phương pháp lắp đ
4.38.2. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nĐiện trở phải được đo như quy định ở 4.5.
\r\n\r\n4.38.3. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nĐiện áp thử nghiệm xung phải được quy định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật cụ thể, tốt nhất là 300 V, 500 V, 800 V, 1 000 V, 2 000\r\nV, 3 000 V và 4 000 V. Điện áp xung phải được đặt vào mẫu 6 lần (3 lần cực tính\r\ndương và 3 lần cực tính âm) trừ khi có quy định khác trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan. Thời gian tối thiểu giữa các xung phải là 1 s.
\r\n\r\n4.38.4. Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo
Điện trở phải được kiểm tra bằng mắt.\r\nKhông được có hư hại nhìn thấy được và nhãn phải rõ ràng.
\r\n\r\nĐiện trở phải được đo như quy định ở\r\n4.5. Thay đổi giá trị điện trở so với giá trị đo được ở 4.38.2 không được vượt\r\nquá giá trị quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.39. Thử nghiệm quá tải\r\nxung tuầ
4.39.1. Ổn định trước
\r\n\r\nĐiện trở phải được làm khô sử dụng quy\r\ntrình I ở 4.3 (Khô).
\r\n\r\n4.39.2. Lắp đặt
\r\n\r\nPhương pháp lắp đặt điện trở phải được\r\nquy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan và phải tương đương về nhiệt với thử\r\nnghiệm độ bền bình thường.
\r\n\r\n4.39.3. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nĐiện trở phải được đo như quy định ở\r\n4.5.
\r\n\r\n4.39.4. Mức khắc nghiệt
\r\n\r\nMức khắc nghiệt đối với thử nghiệm được\r\ncho như sau: đặt điện áp hoặc công suất, thời gian và số chu kỳ đặt điện áp. Mức\r\nkhắc nghiệt của thử nghiệm phải được chọn từ các mức được quy định trong B
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
4.39.5. Phục hồi
\r\n\r\nQuá trình phục hồi được diễn ra trong\r\nđiều kiện khí quyển tiêu chuẩn để thử nghiệm cho đến khi đạt cân bằng nhiệt\r\ntrong tối đa là 24 h.
\r\n\r\n4.36.6. Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nPhải đo điện trở như quy định ở 4.5.
\r\n\r\nThay đổi điện trở so với giá trị đo được\r\nở 4.39.3 không được vượt quá giá trị quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.40. Thử nghiệm sự phát\r\ntriển của tinh thể dạng râu
\r\n\r\n4.40.1. Quy định chung
\r\n\r\nNếu được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan thì phải áp dụng thử nghiệm ở IEC 60068-2-82 khi thử nghiệm để phê\r\nchuẩn đạt tiêu chuẩn và để kiểm tra sự phù hợp chất lượng, dựa vào các khuyến\r\ncáo của IEC 60068-2-82, Phụ lục C.
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải quy định\r\ngá d
4.40.2. Chuẩn bị mẫu
\r\n\r\nChuẩn bị mẫu phải phù hợp với IEC\r\n60068-2-82, Điề
Mẫu là các điện trở dùng để hàn phải được ổn định\r\ntrước bằng cách xử lý nhiệt theo IEC 60068-2-82, 5.5.
\r\n\r\nĐiện trở có các sợi dây phải được ổn định\r\ntrước bằng cách định hình sợi dây theo IEC 60068-2-82, 5.6.
\r\n\r\n4.40.3. Phép do ban đầu
\r\n\r\nĐiện trở phải được kiểm tra bề ngoài\r\ntheo IEC 60068-2-82, 7.2.
\r\n\r\n4.40.4. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nÁp dụng thử nghiệm không khí, thử nghiệm\r\nnóng ẩm và thử nghiệm nhiệt độ theo chu kỳ theo mô tả trong IEC 60068-2-82, Điều\r\n6.
\r\n\r\n4.40.5. Mức khắc nghiệt của\r\nthử nghiệm
\r\n\r\nPhải áp dụng cách chọn theo Bảng 6 của\r\nIEC 60068-2-82 theo thành phần vật liệu của linh kiện.
\r\n\r\nÁp dụng cách chọn lọc dưới đây để chọn\r\nmức khắc nghiệt của thử nghiệm nhiệt độ theo chu kỳ 0 nhiệt
a) áp dụng mức khắc nghiệt N, -55 °
b) áp dụng mức khắc nghiệt K, -40 °
4.40.6. Kiểm tra kết thúc,\r\nphép đo và các yêu cầu
\r\n\r\nĐiện trở phải được kiểm tra bề ngoài\r\ntheo IEC 60068-2-82, Phụ lục A.
\r\n\r\nTinh thể dạng râu không được vượt quá\r\ngiới hạn quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.41. Thử nghiệm hyđrô sun
Đang xem xét.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Trong tiêu chuẩn này, khi sử dụng IEC\r\n60410 để kiểm tra định tính thì có một số giải thích cho các điều của tiêu chuẩn\r\nIEC 60410 như dưới đây.
\r\n\r\n1 Cơ quan chức trách là cơ quan
1.5 Đơn vị sản phẩm là linh kiện\r\nđiện tử được xác định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n2 Chỉ yêu cầu các định nghĩa sau đây:
\r\n\r\n- Khuyết tật là sự không phù hợp bất kỳ của đơn\r\nvị sản phẩm so với các yêu cầu quy định.
\r\n\r\n- Có khuyết tật là một đơn vị sản phẩm có chứa\r\nmột hoặc nhiều khuyết tật.
\r\n\r\n3.1 Mức độ không phù hợp của sản phẩm được\r\ntính bằng phần trăm sản phẩm có khuyết tật
\r\n\r\n3.3 Không áp dụng
\r\n\r\n4.5 Cơ quan chức trách là Ban kỹ thuật IEC\r\nbiên soạn yêu cầu kỹ thuật cụ thể còn để trống, nó là một phần của yêu cầu kỹ\r\nthuật chung hoặc yêu cầu kỹ thuật từng phần.
\r\n\r\n5.4 Nhà chức trách là Trưởng ban thanh tra\r\n(DMR), hoạt động theo các quy trình được cho trong tài liệu định rõ sự giám sát\r\nđược nhà sản xuất đồng ý và Ban kiểm tra, giám sát nhà nước chấp nhận.
\r\n\r\n6.2 Nhà chức trách là Trư
6.3 Không áp dụng.
\r\n\r\n6.4 Nhà chức trách là Trư
8.1 Kiểm tra thông thường luôn được áp dụng\r\nở phần đầu của quá trình kiểm tra
\r\n\r\n8.3.3 d) Nhà chức trách là Trưởng ban thanh\r\ntra
\r\n\r\n8.4 Nhà chức trách là Ban kiểm tra, giám\r\nsát nhà nước.
\r\n\r\n9.4 Cơ quan chức trách là Ban kỹ thuật IEC\r\nbiên soạn yêu cầu kỹ thuật cụ thể còn để trống, nó là một phần của yêu cầu kỹ\r\nthuật chung hoặc yêu cầu kỹ thuật từng phần.
\r\n\r\n9.4 (Chỉ câu thứ tư) không áp dụng
\r\n\r\n(Chỉ câu thứ năm) nhà chức trách là\r\nTrưởng ban thanh tra.
\r\n\r\n10.2 Không áp dụng.
\r\n\r\n\r\n\r\n
B.1 Nếu có yêu cầu, ban\r\nkỹ thuật số 40 của IEC phải đưa ra dự thảo yêu cầu kỹ thuật cụ thể cho các điện\r\ntrở và tụ điện dùng trong thiết bị điện tử, chỉ khi thỏa mãn các điều kiện sau:
\r\n\r\na) yêu cầu kỹ thuật chung đã được phê chuẩn
\r\n\r\nb) yêu cầu kỹ thuật từng phần, nếu có, đã\r\nđược lưu hành để chấp nhận là dự thảo cuối
\r\n\r\nc) yêu cầu kỹ thuật cụ thể còn để trống\r\nliên quan đã được lưu hành để chấp nhận là dự thảo cuối.
\r\n\r\nd) Có bằng chứng là ít nhất ba
Nếu Ủy ban nhà nước yêu cầu\r\nchính thức áp dụng phần lớn hoặc hầu hết trên toàn đất nước như mô tả trong các\r\ntiêu chuẩn quốc gia khác thì yêu cầu này phải được thêm vào cùng với các yêu cầu\r\nở trên.
\r\n\r\nB.2 Yêu cầu kỹ thuật cụ\r\nthể, do ban kỹ thuật số 40 soạn thảo, phải sử dụng các giá trị tiêu chuẩn hoặc\r\ncác giá trị thích hợp, các thông số đặc trưng, đặc tính và mức khắc nghiệt đối\r\nvới các thử nghiệm về môi trường, v.v... được cho trong yêu cầu kỹ thuật từng\r\nphần hoặc yêu cầu kỹ thuật chung tương ứng.
\r\n\r\nNhững ngoại lệ của yêu cầu kỹ thuật cụ\r\nthể so với nguyên tắc này chỉ được thừa nhận khi được ban kỹ thuật số 40 đồng\r\ný.
\r\n\r\nB.3 Yêu cầu kỹ thuật cụ\r\nthể không được lưu hành như một dự thảo cuối, cho tới khi các yêu cầu kỹ thuật\r\ntừng phần và yêu cầu kỹ thuật còn để trống được phê chuẩn để công bố.
\r\n\r\n\r\n\r\n
G: Bộ tạo xung
\r\n\r\nA1 đến A
Rx1 đến R
U: nguồn điện áp (nguồn cung cấp)
\r\n\r\ntr, tt ≤ 2µs hoặc 10% của\r\ntp (Giá trị lớn nhất)
\r\n\r\n∆Û ≤ 0,1 Û
\r\n\r\n\r\n\r\n
Tên nhà chế tạo
\r\n\r\nĐịa điểm
\r\n\r\nPhê chuẩn năng lực số
Phát hành
\r\n\r\nSố tham chiếu trong sổ tay năng lực
Mô tả PCP/CQC
\r\n\r\nMục đích của PCP/CQC
\r\n\r\nBản vẽ viện dẫn
\r\n\r\nNhận dạng phần
\r\n\r\n\r\n\r\n
E.1 Lời giới thiệu
\r\n\r\nHồ sơ thử nghiệm phải ghi ngày tháng\r\nnăm và phải gồm có các thông tin nêu trong Điều E.2, E.3 và E.4:
\r\n\r\nE.2 Quy định chung
\r\n\r\nPhải nêu các thông tin dưới đây:
\r\n\r\n- tên và địa chỉ của nhà chế tạo;
\r\n\r\n- nơi chế tạo, nếu khác với ở trên;
\r\n\r\n- số hiệu của yêu cầu kỹ thuật chung và từng phần,\r\nngày phát hành và sửa đổi;
\r\n\r\n- số phát hành và ngày của bản mô tả năng lực;
\r\n\r\n- tham khảo yêu cầu kỹ thuật PCP/QCQ;
\r\n\r\n- tham khảo chương trình thử nghiệm phê chuẩn\r\nnăng lực, nếu áp dụng;
\r\n\r\n- danh mục thiết bị thử nghiệm được sử dụng kèm\r\ntheo độ không đảm bảo đo thích hợp.
\r\n\r\nE3 Tóm tắt thông tin\r\nthử nghiệm (đối với từng CQC)
\r\n\r\nPhải nêu thông tin thử nghiệm dưới\r\nđây:
\r\n\r\n- các thử nghiệm;
\r\n\r\n- số lượng mẫu được thử nghiệm;
\r\n\r\n- số hạng mục không phù hợp cho phép;
\r\n\r\n- số hạng mục không phù hợp tìm được.
\r\n\r\nE4 Ghi lại kết quả đo
\r\n\r\nGhi lại các kết quả đo được thực hiện\r\ntrước và sau các thử nghiệm về cơ, môi trường và thử nghiệm độ
\r\n\r\n
F1 Ký hiệu bằng chữ
\r\n\r\n| \r\n L \r\n | \r\n \r\n Chiều dài, được đo dọc trục từ chân\r\n này đến chân kia \r\n | \r\n \r\n mm \r\n | \r\n
| \r\n D \r\n | \r\n \r\n Đường kính \r\n | \r\n \r\n mm \r\n | \r\n
| \r\n Imax \r\n | \r\n \r\n Dòng điện cho phép lớn nhất \r\n | \r\n \r\n A \r\n | \r\n
| \r\n P70 \r\n | \r\n \r\n Công suất tiêu tán danh định ở nhiệt\r\n độ xung quanh bằng 70 °C \r\n | \r\n \r\n W \r\n | \r\n
| \r\n R \r\n | \r\n \r\n Giá trị điện trở thực \r\n | \r\n \r\n Ω \r\n | \r\n
| \r\n Rins \r\n | \r\n \r\n Điện trở cách điện \r\n | \r\n \r\n Ω \r\n | \r\n
| \r\n Rn \r\n | \r\n \r\n Giá trị điện trở danh nghĩa \r\n | \r\n \r\n Ω \r\n | \r\n
| \r\n Rres \r\n | \r\n \r\n Điện trở dư \r\n | \r\n \r\n Ω \r\n | \r\n
| \r\n Rres max \r\n | \r\n \r\n Điện trở dư cho phép lớn nhất \r\n | \r\n \r\n Ω \r\n | \r\n
| \r\n
| \r\n \r\n Thay đổi điện trở \r\n | \r\n \r\n Ω \r\n | \r\n
| \r\n
| \r\n \r\n Thay đổi điện trở liên quan đến phép\r\n đo trước \r\n | \r\n \r\n % \r\n | \r\n
| \r\n U \r\n | \r\n \r\n Điện áp, ví dụ, điện áp thử nghiệm \r\n | \r\n \r\n V \r\n | \r\n
| \r\n Uins \r\n | \r\n \r\n Điện áp cách điện \r\n | \r\n \r\n V \r\n | \r\n
| \r\n Umax \r\n | \r\n \r\n Giới hạn điện áp phần tử, điện áp\r\n cho phép lớn nhất \r\n | \r\n \r\n V \r\n | \r\n
| \r\n Ur \r\n | \r\n \r\n Điện áp danh định, Ur = | \r\n \r\n V \r\n | \r\n
| \r\n ta \r\n | \r\n \r\n Thời gian đặt ngọn lửa thử nghiệm \r\n | \r\n \r\n s \r\n | \r\n
| \r\n tb \r\n | \r\n \r\n Thời gian cháy sau khi rút ngọn lửa\r\n thử nghiệm ra \r\n | \r\n \r\n s \r\n | \r\n
| \r\n T \r\n | \r\n \r\n Chiều cao (độ dày) \r\n | \r\n \r\n mm \r\n | \r\n
| \r\n TA \r\n | \r\n \r\n Nhiệt độ thấp của thử nghiệm sự thay\r\n đổi nhiệt độ \r\n | \r\n \r\n °C \r\n | \r\n
| \r\n TB \r\n | \r\n \r\n Nhiệt độ cao của thử nghiệm sự thay\r\n đổi nhiệt độ \r\n | \r\n \r\n °C \r\n | \r\n
| \r\n W \r\n | \r\n \r\n Chiều rộng \r\n | \r\n \r\n mm \r\n | \r\n
![](\"00912440_files/image027.gif\"){kind=small}
![](\"00912440_files/image028.gif\")
F2
| \r\n c \r\n | \r\n \r\n Các tiêu chí chấp nhận nhóm (số lượng\r\n hạng mục không phù hợp cho phép trong một | \r\n
| \r\n D \r\n | \r\n \r\n Phá hủy \r\n | \r\n
| \r\n DMR \r\n | \r\n \r\n Trưởng ban thanh tra (Quản lý hệ thống\r\n chất lượng) \r\n | \r\n
| \r\n ESD \r\n | \r\n \r\n Phóng điện tĩnh điện \r\n | \r\n
| \r\n HBM \r\n | \r\n \r\n Mô hình cơ thể người, thay cho điện\r\n dung và điện trở của cơ thể người dùng cho thử nghiệm | \r\n
| \r\n IL \r\n | \r\n \r\n Mức xem xét \r\n | \r\n
| \r\n LCT \r\n | \r\n \r\n Nhiệt độ mức dưới \r\n | \r\n
| \r\n n \r\n | \r\n \r\n Cỡ mẫu \r\n | \r\n
| \r\n ND \r\n | \r\n \r\n Không phá h | \r\n
| \r\n NSI \r\n | \r\n \r\n Ban thanh tra giám sát quốc gia \r\n | \r\n
| \r\n p \r\n | \r\n \r\n Tính tuần hoàn, được tính bằng tháng \r\n | \r\n
| \r\n RC \r\n | \r\n \r\n Ký hiệu kiểu đối với "điện trở,\r\n hình trụ", thường sử dụng cho điện trở màng mỏng \r\n | \r\n
| \r\n RR \r\n | \r\n \r\n Ký hiệu kiểu đối với "điện trở,\r\n hình chữ nhật", thường sử dụng cho điện trở màng mỏng \r\n | \r\n
| \r\n SPC \r\n | \r\n \r\n Bộ điều khiển quá trình thống kê \r\n | \r\n
| \r\n TA \r\n | \r\n \r\n Phê chuẩn kỹ thuật \r\n | \r\n
| \r\n TADD \r\n | \r\n \r\n Tài liệu công bố phê chuẩn kỹ thuật \r\n | \r\n
| \r\n TAS \r\n | \r\n \r\n Chương trình phê chuẩn kỹ thuật \r\n | \r\n
| \r\n TC, TCR \r\n | \r\n \r\n Hệ số nhiệt độ \r\n | \r\n
| \r\n UCT \r\n | \r\n \r\n Nhiệt độ mức trên \r\n | \r\n
G.1 Thông tin chung về quy trình thử\r\nnghiệm và đo
\r\n\r\n4.1 Quy định chung
\r\n\r\n4.2.1 Điều kiện kh
4.2.2 Điều kiện phục hồi
\r\n\r\n4.2.3 Điều kiện trọng tải
\r\n\r\n4.2.4 Điều kiện chuẩn
\r\n\r\n4.3 Làm khô
\r\n\r\n4.31 Lắp đặt điện trở chíp
\r\n\r\nG.2 Thử nghiệm và phép đo về điện
\r\n\r\n4.5 Điện trở
\r\n\r\n4.8 Sự thay đổi điện trở theo nhiệt độ
\r\n\r\n4.6 Điện trở cách điện
\r\n\r\n4.7 Chịu điện áp
\r\n\r\n4.9 Điện kháng
\r\n\r\n4.11 Hệ số điện áp
\r\n\r\n4.10 Đặc tính phi tuyến
\r\n\r\n4.12 Tạp âm
\r\n\r\n4.14 Độ tăng nhiệt
\r\n\r\nG.3 Thử nghiệm tải xung
\r\n\r\n4.13 Quá tải ngắn hạn
\r\n\r\n4.27 Thử nghiệm quá tải bằng điện áp cao dạng\r\nxung đơn 1,
4.27 Thử nghiệm quá tải bằng điện áp cao dạng\r\nxung đơn 10/700
\r\n\r\n4.28 Thử nghiệm quá tải bằng điện áp cao dạng\r\nxung tuần hoàn
\r\n\r\n4.38 Phóng điện tĩnh điện
\r\n\r\n4.39 Thử nghiệm quả tải xung tuần hoàn
\r\n\r\nG.4 Thử nghiệm và phép\r\nđo về cơ
\r\n\r\n4.4.1 Kiểm tra bằng cách xem xét
\r\n\r\n4.4.2 Kích thước (kiểm tra bằng dưỡng)
\r\n\r\n4.4.3 Kích thước (kiểm tra cụ thể)
\r\n\r\n4.15 Độ vững chắc của thân điện trở
\r\n\r\n4.16 Độ vững chắc của các chân điện trở
\r\n\r\n4.20 Va đập
\r\n\r\n4.21
4.22
4.32
4.33
G.5
4.25.1 Độ bền ở 70°
4.25.2 Độ bền ở nhiệt độ phòng
\r\n\r\n4.25.3 Độ bền ở nhiệt độ mức trên
\r\n\r\n4.19
4.36
4.23
4.24
4.37
4.34
4.41
4.40
G.6
4.17
4.18 Khả năng chịu nhiệt độ hàn
\r\n\r\n4.29 Khả năng chịu dung môi của linh kiện
\r\n\r\n4.30 Khả năng chịu dung môi của nhãn
\r\n\r\nG.7 Thử nghiệm liên\r\nquan đến an toàn
\r\n\r\n4.26 Thử quá tải ngẫu nhiên
\r\n\r\n4.35 Tính dễ cháy
\r\n\r\n\r\n\r\n
Q.1 Quy định chung
\r\n\r\nKhi tiêu chuẩn này và các tiêu chuẩn\r\nliên quan khác được sử dụng cho mục đích của hệ thống đánh giá chất lượng đầy đủ\r\nnhư hệ thống đánh giá chất lượng IEC đối với linh kiện điện tử (IECQ) đòi hỏi\r\nphải phù hợp với Điều Q.5, Q.6 hoặc Q.14.
\r\n\r\nKhi các tiêu chuẩn này không sử dụng\r\ncho hệ thống đánh giá chất lượng mà cho các mục đích th
Trước khi các linh kiện có thể đạt chất\r\nlượng theo quy trình của điều này thì nhà chế tạo phải có được phê chuẩn công\r\nty của mình theo các điều khoản của IEC QC 001002-3.
\r\n\r\nPhương pháp sẵn có để phê chuẩn các\r\nlinh kiện đã được đánh giá chất lượng và được đề cập trong các điều dưới đây:
\r\n\r\n- phê chuẩn chất lượng theo các điều khoản của\r\nIEC QC 001002-3, Điều 3;
\r\n\r\n- phê chuẩn năng lực theo các điều khoản của\r\nIEC QC 001002-3, Điều 4;
\r\n\r\n- phê chuẩn công nghệ theo các điều khoản của\r\nIEC QC 001002-3, Điều 6.
\r\n\r\nĐối với nhóm các linh kiện cho trước,\r\nyêu cầu kỹ thuật từng phần riêng rẽ để phê chuẩn chất lượng và phê chuẩn năng lực\r\nlà cần thiết và do đó, phê chuẩn năng lực chỉ sẵn có khi đã có yêu cầu kỹ thuật\r\ntừng phần riêng.
\r\n\r\nQ.1.1 Khả năng áp dụng phê chuẩn chất\r\nlượng
\r\n\r\nPhê chuẩn chất lượng thích hợp cho dãy\r\ncác linh kiện tiêu chuẩn được chế tạo theo cùng một thiết kế và quy trình sản\r\nxuất và phù hợp với yêu cầu kỹ thuật cụ thể đã xuất bản.
\r\n\r\nChương trình của các thử nghiệm được\r\nxác định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể để đánh giá tính thích hợp và các mức\r\ntính năng áp dụng trực tiếp cho dãy linh kiện đạt chất lượng, như mô tả ở Điều\r\nQ.5 và yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan.
\r\n\r\nQ.1.2 Khả năng áp dụng phê chuẩn năng\r\nlực
\r\n\r\nPhê chuẩn năng lực thích hợp khi các\r\nlinh kiện dựa theo quy tắc thiết kế thông dụng được chế tạo theo một nhóm các quy\r\ntrình thông dụng. Việc này đặc biệt thích hợp khi các linh kiện được chế tạo\r\ntheo các yêu cầu cụ thể của người sử dụng.
\r\n\r\nKhi phê chuẩn năng lực, các yêu cầu kỹ\r\nthuật cụ thể được chia làm ba mức.
\r\n\r\nQ.1.2.1 Linh kiện đạt tiêu chuẩn năng\r\nlực (CQC), kể cả phương tiện thử nghiệm quy trình hiệu
Yêu cầu kỹ thuật cụ thể phải được chuẩn\r\nbị cho từng CQC theo thỏa thuận với ban kiểm tra giám sát (NSI). Yêu cầu kỹ thu
Q.1.2.2 Catalô tiêu chuẩn của linh kiện
\r\n\r\nKhi nhà chế tạo yêu cầu một linh kiện\r\nđược phê chuẩn theo quy trình phê chuẩn năng lực được liệt kê trong danh sách\r\nphê chuẩn của IECQ, thì phải điền yêu cầu kỹ thuật cụ thể về phê chuẩn năng lực\r\nphù hợp với yêu cầu kỹ thuật cụ thể để trống. Các yêu cầu kỹ thuật này phải được\r\nđăng ký trong IECQ và linh kiện phải được liệt kê trong IEC QC 001005
Q.1.2.3 Linh kiện theo yêu cầu cụ thể\r\ncủa khách hàng
\r\n\r\nNội dung của yêu cầu kỹ thuật cụ thể\r\n(thường được xem là yêu cầu kỹ thuật cụ thể của khách hàng (CDS)) phải theo thỏa\r\nthuận giữa nhà chế tạo và khách hàng theo IEC QC 001002-3, 4.4.3.
\r\n\r\nCác thông tin khác về các yêu cầu kỹ\r\nthuật cụ thể này được nêu trong yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan.
\r\n\r\nViệc phê chuẩn được đưa ra cho phương\r\ntiện chế tạo dựa trên cơ sở các quy tắc thiết kế có hiệu lực, các quy trình đánh\r\ngiá và kiểm soát chất lượng và các kết quả thử nghiệm về linh kiện đạt tiêu chuẩn\r\nnăng lực kể cả các phương tiện thử nghiệm quy trình có hiệu lực. Xem Điều Q.6\r\nvà yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan để có thêm thông tin.
\r\n\r\nQ.1.3 Khả năng áp dụng phê chuẩn công\r\nnghệ
\r\n\r\nPhê chuẩn công nghệ thích hợp khi quy trình\r\ncông nghệ hoàn thiện (thiết kế, thực hiện quá trình, chế tạo sản phẩm, thử nghiệm\r\nvà gửi hàng) bao trùm các khía cạnh chất lượng phổ biến cho tất cả các linh kiện\r\ndo cô
Q.2 Giai đoạn đầu của quá trình chế tạo
\r\n\r\nGiai đoạn đầu của quá trình chế tạo phải\r\nđược quy định trong yêu cầu kỹ thuật từng phần.
\r\n\r\nQ.3 Hợp đồng phụ
\r\n\r\nNếu sử dụng hợp đồng phụ ở giai đoạn đầu\r\ncủa quá trình chế tạo và/hoặc giai đoạn tiếp theo thì phải theo IEC QC\r\n001002-3,4.2.2.
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật từng phần có thể hạn\r\nchế hợp đồng phụ, theo IEC QC 001002-3, 4.2.2.
\r\n\r\nQ.4 Các linh kiện tương tự về cấu trúc
\r\n\r\nViệc nhóm các linh kiện giống nhau về\r\ncấu trúc để thử nghiệm phê chuẩn chất lượng hoặc thử nghiệm sự phù hợp chất lượng\r\ntrong phê chuẩn chất lượng, phê chuẩn chất lượng hoặc phê chuẩn công nghệ phải\r\nđược quy định trong yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan.
\r\n\r\nQ.5 Quy trình phê chuẩn chất lượng
\r\n\r\nQ.5.1 Tính thích hợp để được phê chuẩn\r\nchất lượng
\r\n\r\nNhà chế
Q.5.2 Đơn xin phê chuẩn chất lượng
\r\n\r\nNhà chế tạo phải tuân thủ theo IEC QC\r\n001002-3, 3.1.3.
\r\n\r\nQ.5.3 Quy trình thử nghiệm để được phê\r\nchuẩn chất lượng
\r\n\r\nPhải sử dụng một trong các quy trình\r\ndưới đây.
\r\n\r\na) nhà chế tạo phải có bằng chứng thử\r\nnghiệm chứng tỏ phù hợp với các yêu cầu quy định cho ba lô kiểm tra đối với kiểm\r\ntra từng lô một được tiến hành trong thời gian ngắn nhất có thể và một lô đối với\r\nkiểm tra định kỳ. Quá trình chế tạo trong khoảng thời gian các lô được lấy kiểm\r\ntra không được có thay đổi đáng kể.
\r\n\r\nCác mẫu phải được lấy từ các lô phù hợp\r\nvới IEC 60410 (xem Phụ lục A). Phải thực hiện kiểm tra bình thường, nhưng khi cỡ\r\nmẫu cần chấp nhận khuyết tật bằng không, thì các mẫu bổ sung phải được đưa đến\r\nđể đáp ứng các yêu cầu cỡ mẫu chấp nhận là một khuyết tật;
\r\n\r\nb) nhà chế tạo phải có bằng chứng thử\r\nnghiệm chứng tỏ phù hợp với yêu cầu kỹ thuật theo danh mục thử nghiệm cỡ mẫu\r\nkhông đổi cho trong yêu cầu kỹ thuật từng phần.
\r\n\r\nCác điện trở được lấy làm mẫu phải được\r\nchọn ngẫu nhiên từ sản phẩm hiện có hoặc phải thỏa thuận
Đối với c
Q.5.4 Cấp phê chuẩn chất lượng
\r\n\r\nPhê chuẩn chất lượng phải được cấp khi\r\nquy trình phù hợp với IEC QC 001002-3, 3.1.4 được thỏa mãn hoàn toàn.
\r\n\r\nQ.5.5 Duy trì phê chuẩn chất lượng
\r\n\r\nPhê chuẩn chất lượng phải được duy tr
Q.5.6 Kiểm tra sự phù hợp chất lượng
\r\n\r\n(Các) yêu cầu kỹ thuật cụ thể để trống\r\nkèm theo yêu cầu kỹ thuật từng phần phải quy định chương trình thử nghiệm để kiểm\r\ntra sự phù hợp chất lượng. Chương trình này cũng quy định lập nhóm, lấy mẫu và\r\ntính định kỳ đối với kiểm tra từng lô và kiểm tra định kỳ.
\r\n\r\nHoạt động của quy luật đóng cắt để giảm\r\nviệc xem xét trong nhóm C là được phép cho tất cả các nhóm nhỏ trừ độ bền.
\r\n\r\nKế hoạch lấy mẫu và các mức kiểm tra\r\nphải được chọn từ các kế hoạch và mức nêu trong IEC 60410 ho
Nếu cần, có thể quy định nhiều hơn một\r\nchương trình.
\r\n\r\nQ.6 Quy trình phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nQ.6.1 Quy định chung
\r\n\r\nPhê chuẩn năng lực bao gồm:
\r\n\r\n- thiết kế hoàn thiện, chuẩn bị vật liệu và kỹ\r\nthuật chế tạo, kể cả
- các giới hạn về tính năng yêu cầu cho quy trình\r\nvà sản phẩm, nghĩa là, các giới hạn được quy định
- dãy kết cấu cơ khí để cấp phê chuẩn chất lượng.
\r\n\r\nĐối với sơ đồ chung về phê chuẩn năng\r\nlực, xem Hình Q.1.
\r\n\r\nQ.6.2 Tính thích hợp để được phê chuẩn\r\nnăng lực
\r\n\r\nNhà chế tạo phải tuân thủ các yêu cầu ở\r\nIEC QC 001002-3, 4.2.1.
\r\n\r\nQ.6.3 Nộp đơn xin phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nNhà chế tạo phải tuân thủ các yêu cầu ở\r\nIEC QC 001002-3, 4.2.4, và với các yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật từng phần liên\r\nquan.
\r\n\r\nQ.6.4 Mô tả năng lực
\r\n\r\nNăng lực phải được mô tả trong sổ tay\r\nnăng lực theo IEC QC 001002-3, 4.2.5, và với các yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật từng\r\nphần liên quan, sổ tay phải gồm có hoặc tham chiếu tới tối thiểu là các yêu cầu\r\nsau:
\r\n\r\n- giới thiệu chung và mô tả về công nghệ liên\r\nquan;
\r\n\r\n- khía cạnh liên lạc với khách hàng gồm có các quy\r\ntắc thiết kế (nếu thích hợp) và hỗ trợ khách hàng
- bản mô tả chi tiết các quy tắc thiết kế được\r\nsử dụng;
\r\n\r\n- quy trình kiểm tra quy tắc thiết kế phù hợp với\r\ncông nghệ của linh kiện liên quan được chế tạo theo
- danh mục tất cả các vật liệu được sử dụng,\r\nliên quan đến yêu cầu kỹ thuật mua hàng tương ứng và
- biểu đồ toàn bộ quá trình, chỉ ra các điểm kiểm\r\nsoát chất lượng và các vòng lặp cho phép và bao
- công bố các quy trình mà việc phê chuẩn cần\r\ntìm phù hợp với các yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan;
\r\n\r\n- công bố các giới hạn mà việc phê chuẩn cần\r\ntìm phù hợp với các yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan;
\r\n\r\n- danh mục CQC được sử dụng để đánh giá năng lực,\r\nvới bản mô tả chung của từng CQC, có bảng chi tiết chỉ ra trong trường hợp nào\r\ncác giới hạn công bố năng lực được chứng minh bởi thiết kế CQC riêng.
\r\n\r\n- yêu cầu kỹ thuật cụ thể của từng CQC;
\r\n\r\n- kế hoạch kiểm soát chi tiết, bao gồm PCP được\r\nsử dụng cho các quy trình kiểm soát, có bản mô tả chung của từng PCP và chỉ ra\r\nmối quan hệ giữa PCP cho trước và các đặc tính liên quan và tính năng của linh\r\nkiện thành phẩm;
\r\n\r\n- hướng dẫn về áp dụng sự tư
NSI phải coi sổ tay năng lực là một\r\ntài liệu tin cậy. Nhà chế tạo có thể công khai một phần hoặc tất cả sổ tay cho\r\nbên thứ ba, nếu muốn.
\r\n\r\nQ.6.
Nhà chế tạo phải chứng minh và kiểm\r\ntra năng lực phù hợp với IEC QC 001002-3, 4.2.6 và các yêu cầu của yêu cầu kỹ\r\nthuật từng phần liên quan với thông tin chi tiết dưới đây.
\r\n\r\nQ.6.5.1 CQC để chứng minh năng lực
\r\n\r\nNhà chế tạo phải thỏa thuận với NSI\r\ncác thông số đạt chất lượng quá trình và dãy các linh kiện đạt chất lượng năng\r\nlực cần thiết để chứng minh dãy năng lực trong sổ tay năng lực.
\r\n\r\nViệc chứng minh phải được thực hiện bằng\r\nthử nghiệm dãy CQC theo thỏa thuận, được thiết kế, chế tạo và các tham số quá\r\ntrình được kiểm soát phù hợp với sổ tay năng lực. CQC phải phù hợp với các yêu cầu\r\ndưới đây:
\r\n\r\na) dãy CQC đ
b) CQC phải là một trong các linh kiện\r\nsau:
\r\n\r\n- linh kiện được thiết kế đặc biệt để chứng tỏ\r\nphối hợp các giới hạn năng lực hoặc
\r\n\r\n- linh kiện có thiết kế được sử dụng trong chế\r\ntạo thông dụng hoặc
\r\n\r\n- phối hợp cả hai loại linh kiện trên, với điều\r\nkiện là đáp ứng yêu cầu a).
\r\n\r\nKhi CQC được thiết kế và chế tạo đơn\r\nchiếc để phê chuẩn năng lực thì nhà chế tạo phải s
Yêu cầu kỹ thuật cụ thể phải được chuẩn\r\nbị cho từng CQC và trình bày trang đầu phải theo Phụ lục D. Yêu cầu kỹ thuật cụ\r\nthể phải nhận biết mục đích của CQC và phải gồm có tất cả các mức ứng suất liên\r\nquan và các giới hạn thử nghiệm. Yêu cầu kỹ thuật này có thể đề cập đến tài liệu\r\nkiểm soát nội bộ quy định thử nghiệm và ghi chép chế tạo để chứng minh việc kiểm\r\nsoát và bảo trì các quy trình và giới hạn năng lực.
\r\n\r\nQ.6.5.2 Giới hạn năng lực
\r\n\r\nCác giới hạn về năng lực phải được mô\r\ntả trong yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan.
\r\n\r\nQ.6.6 Chương trình phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nTheo IEC QC 001002-3, 4.2.6, nhà chế tạo\r\nphải chuẩn bị một chương trình để đánh giá năng lực công bố. Chương trình này\r\nphải được thiết kế sao cho từng giới hạn năng lực công bố được kiểm chứng bởi\r\nCQC thích hợp.
\r\n\r\nChương trình này phải gồm có:
\r\n\r\n- một biểu đồ hoặc phương pháp khác chỉ ra thời\r\ngian biểu đề xuất để thực hành cho việc phê chuẩn;
\r\n\r\n- chi tiết về tất cả các CQC được sử dụng có\r\ntham chiếu đến các yêu cầu kỹ thuật cụ thể của chúng;
\r\n\r\n- sơ đồ chỉ ra tính chất cần chứng minh của từng\r\nCQC;
\r\n\r\n- liên quan đến kế hoạch kiểm soát cần sử dụng\r\ncho kiểm soát quá trình.
\r\n\r\nQ.6.7 Báo cáo thử nghiệm phê chuẩn\r\nnăng lực
\r\n\r\nTheo IEC QC001002-3, 4.2.6.3, báo cáo\r\nthử nghiệm phê chuẩn năng lực phải được phát hành. Báo cáo này phải đáp ứng các\r\nyêu cầu cụ thể ở Phụ lục E của tiêu chuẩn này và phải có thông tin dưới đây:
\r\n\r\n- số hiệu và ngày ban hành của sổ tay năng lực;
\r\n\r\n- chương trình phê chuẩn năng lực phù hợp với\r\nQ.6.6;
\r\n\r\n- tất cả các kết qu
- phương pháp thử nghiệm sử dụng;
\r\n\r\n- báo cáo các hành động thực hiện khi hỏng hóc\r\n(xem Q.6.10.1).
\r\n\r\nBáo cáo phải có chữ ký của trư
Q.6.8 Bản tóm tắt mô tả năng lực
\r\n\r\nBản tóm tắt dự kiến để phát hành chính\r\nthức trong IEC QC 001005
Bản tóm tắt phải gồm có b
Q.6.9
Bất kỳ việc sửa đổi nào có khả năng ảnh\r\nhưở
Q.6.10 Phê chuẩn năng lực ban đầu
\r\n\r\nPhê chuẩn được cấp khi:
\r\n\r\n- dãy CQC được chọn thỏa mãn các yêu cầu đánh\r\ngiá chung của yêu cầu kỹ thuật cụ thể của CQC,
\r\n\r\n- với hạng mục không phù hợp cho phép;
\r\n\r\n- kế hoạch kiểm soát được thực hiện đầy đủ\r\ntrong hệ thống kiểm soát quá trình.
\r\n\r\nQ.6.10.1 Quy trình trong trường hợp\r\nkhông đ
Xem IEC QC 001002-3, 4.2.10, với chi\r\ntiết dưới đây.
\r\n\r\nTrong trường hợp các mẫu không đáp ứng\r\ncác yêu cầu thử nghiệm thì nhà chế tạo phải thông báo cho NSI và phải chỉ ra dự\r\nđịnh của mì
a) sửa đổi phạm vi đề xuất về năng lực;
\r\n\r\nb) tiến hành kiểm tra để thiết lập nguyên\r\nnhân không đạt do:
\r\n\r\n- không đạt thử nghiệm, ví dụ, thiết bị thử\r\nnghiệm không đạt hoặc sai lỗi của người vận hành;
- thiết kế hoặc quy trình không đạt.
\r\n\r\nNếu nguyên nhân không đạt được phát hiện\r\nlà do chính thử nghiệm không đạt thì mẫu không đạt hoặc một mẫu mới, nếu thích\r\nhợp, phải được thử nghiệm lại theo chương trình thử nghiệm sau khi thực hiện\r\nhành động khắc phục cần thiết. Nếu sử dụng mẫu mới thì mẫu này phải chịu tất cả\r\ncác thử nghiệm theo trình tự đã cho của (các) chương trình thử nghiệm thích hợp\r\ncho mẫu đã hỏng.
\r\n\r\nNếu nguyên nhân không đạt được thiết lập\r\ndo thiết kế hoặc quy trình không đạt thì phải thực hiện chương trình thử nghiệm\r\nđể chứng tỏ rằng nguyên nhân không đạt đã được xóa bỏ và tất cả các biện pháp khắc phục,\r\nkể cả tài liệu, đã được thực hiện. Khi đã hoàn thành việc này, trình tự thử\r\nnghiệm trong đó xuất hiện hỏng hóc phải được lặp lại đầy đủ sử dụng CQC mới.
\r\n\r\nSau khi đã thực hiện xong, nhà chế tạo\r\nphải gửi báo cáo cho NSI và phải kèm bản sao trong báo cáo thử nghiệm phê chuẩn năng\r\nlực (xem Q.6.7).
\r\n\r\nQ.6.10.2 Kế hoạch chung để chọn PCP và\r\nCQC
\r\n\r\nMỗi nhà chế tạo phải chuẩn bị một biểu\r\nđồ
Quy trình điều khiển phải được nhà chế\r\ntạo chỉ ra như thể hiện trong ví dụ ở yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan.
\r\n\r\nQ.6.10.3 Kế hoạch thử nghiệm trong hệ\r\nthống kiểm soát quá trình
\r\n\r\nKế hoạch thử nghiệm phải tạo thành một\r\nphần của hệ thống kiểm soát quá trình do nhà chế tạo sử dụng. Khi sử dụng hệ thống\r\nkiểm soát điều khiển quá trình bằng thống kê (SPC) phải thực hiện phù hợp với\r\ncác yêu cầu cơ bản của SPC. Kế hoạch SPC thể hiện các quy trình kiểm soát bắt\r\nbuộc ở các giao điểm của quá trình.
\r\n\r\nĐối với từng bước quá trình sử dụng\r\nthiết bị sản xuất, nhà chế tạo phải theo dõi các tham số quá trình đều đặn và\r\nso sánh các số đọc với các giới hạn điều khiển và hoạt động mà họ thiết lập.
\r\n\r\nQ.6.1
Kế hoạch thử nghiệm CQC để chứng minh\r\ncác giới hạn về năng lực phải được quy định trong yêu cầu kỹ thuật từng phần\r\nliên quan.
\r\n\r\nQ.6.11 Cấp phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nPhê chuẩn năng lực được cấp khi thỏa\r\nmãn hoàn toàn các quy trình phù hợp với IEC QC 001002-3,
Q.6.12 Duy trì phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nPhê chuẩn năng lực được duy trì bằng\r\ncách tuân thủ các yêu cầu của IEC 001002-3, 4.2.9, và với các yêu cầu được công\r\nbố trong sổ tay năng lực và chương trình duy trì nêu trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan.
\r\n\r\nNgoài ra, áp
a) phê chuẩn năng lực giữ hiệu lực mà\r\nkhông phải thử nghiệm lại trong hai năm;
\r\n\r\nb) chương trình để thử nghiệm lại của CQC\r\nphải được nhà chế tạo quy định. Đối với quy trình điều khiển quá trình, nhà chế\r\ntạo phải thiết lập hệ thống điều khiển. Ví dụ về biểu đồ chương trình điều khiển\r\ncó thể được nêu trong yêu cầu kỹ thuật từng phần. Để chứng minh các giới hạn về\r\nnăng lực, nhà chế tạo phải đảm bảo rằng tất cả các kế hoạch thử nghiệm ở\r\nQ.6.10.4 liên quan đến phê chuẩn năng lực của mình được lặp lại ít nhất hai năm\r\nmột lần.
\r\n\r\nc) kiểm tra sự phù hợp chất lượng của các\r\nlinh kiện để tiêu thụ có thể được sử dụng để hỗ trợ việc duy trì phê chuẩn năng\r\nlực khi có liên quan. Nói chung, trong trường hợp nhà chế tạo giữ phê chuẩn\r\nnăng lực cho một dãy các linh kiện được chế tạo theo các quá trình giống nhau\r\nvà cũng rơi vào các giới hạn năng lực mà nhà chế tạo giữ phê chuẩn năng lực,\r\ncác kết quả thử nghiệm quy trình điều khiển quá trình và các kết quả của thử\r\nnghiệm sự phù hợp chất lượng định kỳ nảy sinh từ phê chuẩn chất lượng có thể được\r\nsử dụng để hỗ trợ việc duy trì phê chuẩn năng lực;
\r\n\r\nd) nhà chế tạo phải đảm bảo rằng dãy CQC\r\nvẫn là đại diện của các sản phẩm xuất xưởng và phù hợp với các yêu cầu của yêu cầu kỹ\r\nthuật từng phần liên quan;
\r\n\r\ne) nhà chế tạo phải duy trì sản xuất, để
- các quá trình quy định trong sổ tay năng lực,\r\ntrừ các điều bổ sung hoặc lược bỏ theo thỏa thuận với NSI sau quy trình
- không thay đổi nơi chế tạo, và thử nghiệm kết\r\nthúc;
\r\n\r\n- việc sản xuất của nhà chế tạo không ngừng quá\r\nsáu tháng trong trường hợp có phê chuẩn năng lực;
\r\n\r\nf) nhà chế tạo phải duy trì báo cáo sự tiến\r\ntriển của việc duy trì chương trình năng lực để bất kỳ thời điểm nào, các giới\r\nhạn về năng lực đã được chứng minh và các giới hạn về năng lực đang chờ để chứng\r\nminh trong thời gian quy định có thể được thiết lập.
\r\n\r\nQ.6.13 Gia hạn phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nNhà chế tạo có thể gia hạn các gi
Đơn xin gia hạn năng lực phải được thực\r\nhiện theo cách giống như phê chuẩn ban đầu.
\r\n\r\nQ.6.14 Kiểm tra phù hợp chất lượng
\r\n\r\nCác yêu cầu thử nghiệm sự ph
Q.7 Gia công lại và sửa chữa
\r\n\r\nQ.7.1 Gia công lại
\r\n\r\nKhông được gia công lại, được định\r\nnghĩa trong IEC QC 001002-3, 4.1.4, nếu yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan\r\nkhông cho phép. Yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan phải chỉ ra nếu có hạn chế\r\nvề số cơ hội có thể thực hiện gia công lại trên một linh kiện cụ thể.
\r\n\r\nTất cả việc gia công lại phải được thực\r\nhiện trước khi hình thành lô kiểm tra để kiểm tra theo các yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật\r\ncụ thể.
\r\n\r\nCác quy trình gia công lại này phải được\r\nmô tả đầy đủ trong tài liệu liên quan do nhà chế tạo thiết lập và p
Q.7.2 sửa chữa
\r\n\r\nLinh kiện cần sửa chữa như định nghĩa\r\ntrong IEC QC 001002-3, 4.1.5 không được xuất xưởng theo hệ thống\r\nIECQ.
\r\n\r\nQ.8 Xuất xưởng để tiêu thụ
\r\n\r\nCác linh kiện phải được xuất xưởng để\r\ntiêu thụ theo Q.5.6 và IEC QC 001002-3, 4.3.2, sau khi thực\r\nhiện kiểm tra sự phù hợp chất lượng được quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nQ.8.1 Xuất xưởng để tiêu thụ khi có\r\nphê chuẩn chất lượng trước khi hoàn thành các thử nghiệm nhóm B
\r\n\r\nKhi các điều kiện ở IEC 60410 để thay\r\nđổi việc kiểm tra giảm lược được thỏa mãn cho tất cả các thử nghiệm nhóm B thì\r\nnhà chế tạo được phép xuất xưởng các linh kiện trước khi hoàn thành các thử\r\nnghiệm này.
\r\n\r\nQ.9 Báo cáo thử nghiệm được chứng nhận\r\nvề các lô hàng đã xuất xưởng
\r\n\r\nKhi người mua yêu cầu báo cáo thử nghiệm\r\nđược chứng nhận thì phải có trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đối với phê chuẩn năng lực,\r\nbáo cáo thử nghiệm được chứng nhận chỉ đề cập đến các thử nghiệm được tiến hành trên\r\ncác linh kiện đạt tiêu chuẩn năng lực.
\r\n\r\nQ.10 Tiêu thụ trễ
\r\n\r\nCác linh kiện đã lưu giữ quá 2 năm (nếu\r\nkhông có quy định nào khác trong yêu cầu kỹ thuật từng phần), kể từ khi xuất xưởng\r\nlô
Quy trình kiểm tra lại, do Trưởng Ban\r\nkiểm tra của nhà chế tạo lựa chọn, phải được Ban kiểm tra giám sát Quốc gia phê\r\nchuẩn.
\r\n\r\nKhi lô hàng thỏa mãn các\r\nyêu cầu kiểm tra lại thì chất lượng phải được đảm b
Q.11 Phương pháp thử nghiệm thay thế
\r\n\r\nXem IEC QC 001002-3, 3.2.3.7, với chi\r\ntiết dưới đây.
\r\n\r\nTrong trường hợp có tranh chấp, chỉ\r\ncác phương pháp được quy định mới là phương pháp trọng tải.
\r\n\r\nQ.12 Chế tạo bên ngoài các giới hạn địa\r\nlý của IECQ NSI
\r\n\r\nNhà chế tạo có thể gia hạn phê chuẩn của\r\nhọ để bao trùm một phần hoặc hoàn toàn linh kiện được chế tạo trong nhà máy của\r\ncông ty đặt tại một quốc gia không có NSI cho lĩnh vực công nghệ liên quan, mặc\r\ndù đất nước này là một nước thành viên IECQ hoặc không phải, miễn là đáp ứng\r\ncác yêu cầu của IEC QC 001002-3, 2.5.1.3.
\r\n\r\nQ.13 Thông số không kiểm tra
\r\n\r\nChỉ những thông số của linh kiện được\r\ncho trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể và đã trải qua các thử nghiệm mới được coi là\r\nnằm trong giới hạn quy định. Không được coi một thông số bất kỳ không được quy định\r\nlà không thay đổi giữa linh kiện này với linh kiện khác. Nếu vì một lý do nào\r\nđó, khi một hoặc nhiều thông số khác cần được khống chế thì phải dùng một yêu cầu\r\nkỹ thuật mới, mở
Một hoặc nhiều phương pháp thử bổ sung\r\nđược mô tả đầy đủ, các giới hạn thích hợp, mức phê chuẩn chất lượng và mức kiểm\r\ntra phải được quy định.
\r\n\r\nQ.14 Quy trình phê chuẩn công nghệ
\r\n\r\nQ.14.1 Quy định chung
\r\n\r\nPhê chuẩn công nghệ của linh kiện bao\r\ntrùm quá trình công nghệ hoàn thiện. Nó mở rộng nội dung sẵn có - phê chuẩn chất lượng\r\nvà phê chuẩn năng lực - để thêm vào là điều kiện bắt buộc:
\r\n\r\na) sử dụng phương pháp kiểm soát trong\r\nquá trình, ví dụ, SPC;
\r\n\r\nb) chiến lược cải tiến chất lượng liên tục;
\r\n\r\nc) giám sát công nghệ và hoạt động tổng\r\nthể;
\r\n\r\nd) tính linh hoạt của quy trình do hệ thống\r\nquản lý đảm bảo chất lượng và các yêu cầu của khu vực thị
e) chấp nhận tài liệu hoạt động của nhà\r\nchế tạo để cung cấp phương tiện phê chuẩn nhanh hoặc gia hạn phê chuẩn.
\r\n\r\nQ.14.2 Tính thích hợp để phê chuẩn\r\ncông nghệ
\r\n\r\nNhà chế tạo phải tuân thủ QC 001002-3,\r\n6.2.1.
\r\n\r\nQ.14.3 Nộp đơn xin phê chuẩn công nghệ
\r\n\r\nNhà chế tạo phải tuân thủ QC 001002-3,\r\n6.2.2.
\r\n\r\nQ.14.4 Mô tả công nghệ
\r\n\r\nCông nghệ phải được mô tả trong tài liệu\r\ncông bố phê chuẩn công nghệ (TADD) và chương trình ph
Q.14.5 Chứng minh và kiểm tra công nghệ
\r\n\r\nNhà chế tạo phải chứng minh và kiểm tra\r\ncông nghệ phù hợp với QC 001002-3, 6.4 và 6.5.
\r\n\r\nQ.14.6 Cấp phê chuẩn công nghệ
\r\n\r\nPhê chuẩn công nghệ phải được cấp khi\r\ncác quy trình phù hợp với QC 001002-3, 6.7.3 đã được thỏa mãn hoàn toàn.
\r\n\r\nQ.14.7 Duy trì phê chuẩn công nghệ
\r\n\r\nPhê chuẩn công nghệ phải được duy trì\r\nbằng việc tuân thủ các yêu cầu ở QC 001002-3, 6.7.5.
\r\n\r\nQ.14.8 Kiểm tra sự phù hợp chất lượng
\r\n\r\nThử nghiệm và các yêu cầu phù hợp chất\r\nlượng phải được tiến hành theo yêu cầu kỹ thuật cụ thể liên quan và chương\r\ntrình phê chuẩn công nghệ.
\r\n\r\nQ.14.9 Xác định mức tỷ lệ không đạt
\r\n\r\nViệc xác định mức tỷ lệ không đạt và\r\nchứng nhận phải được quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nQ.14.10 Mức chất lượng sắp hết hạn
\r\n\r\nViệc xác định phải được thỏa thuận giữa\r\nkhách hàng và nhà chế tạo.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Lời nói đầu
\r\n\r\n1. Quy định chung
\r\n\r\n1.1. Phạm vi áp dụng
\r\n\r\n1.2. Tài liệu viện dẫn
\r\n\r\n2. Dữ liệu kỹ thuật
\r\n\r\n2.1. Đơn vị và ký hiệu
\r\n\r\n2.2. Thuật ngữ và định nghĩa
\r\n\r\n2.3. Giá trị ưu tiên
\r\n\r\n2.4. Ghi nhãn
\r\n\r\n2.5. Ghi mã
\r\n\r\n2.6. Bao gói
\r\n\r\n2.7. Bảo quản
\r\n\r\n2.8. Vận chuyển
\r\n\r\n3. Quy trình đánh giá chất lượng
\r\n\r\n4. Quy trình thử nghiệm và đo
\r\n\r\n4.1. Quy định chung
\r\n\r\n4.2. Điều kiện khí quyển tiêu chuẩn
\r\n\r\n4.3. Làm khô
\r\n\r\n4.4. Kiểm tra bằng cách xem xét và kiểm tra\r\nkích thước
\r\n\r\n4.5. Điện trở
\r\n\r\n4.6. Điện trở cách điện
\r\n\r\n4.7. Chịu điện áp
\r\n\r\n4.8. Sự thay đổi điện trở theo nhiệt độ
\r\n\r\n4.9. Điện kháng
\r\n\r\n4.10. Tính phi tuyến
\r\n\r\n4.11. Hệ số điện áp
\r\n\r\n4.12. Tạp âm
\r\n\r\n4.13. Quá tải ngắn hạn
\r\n\r\n4.14. Độ tăng nhiệt
\r\n\r\n4.15. Độ vững chắc của thân điện trở
\r\n\r\n4.16. Độ vững chắc của các chân điện trở
\r\n\r\n4.17. Khả năng hàn
\r\n\r\n4.18. Khả năng chịu nhiệt độ hàn
\r\n\r\n4.19. Thay đổi nhiệt độ đột ngột
\r\n\r\n4.20. Va đập
\r\n\r\n4.21. Xóc
\r\n\r\n4.22. Rung
\r\n\r\n4.23. Trình tự theo khí hậu
\r\n\r\n4.24. Nóng ẩm không đổi
\r\n\r\n4.25. Độ bền
\r\n\r\n4.26. Thử quá tải ngẫu nhiên
\r\n\r\n4.27. Thử nghiệm quá tải bằng điện áp cao dạng\r\nxung đơ
4.28. Thử nghiệm quá tải bằng điện áp cao dạng\r\nxung tuần hoàn
\r\n\r\n4.29. Khả năng chịu dung môi của linh kiện
\r\n\r\n4.30. Khả năng chịu dung môi của nhãn
\r\n\r\n4.31. Lắp đặt điện trở chíp
\r\n\r\n4.32. Thử nghiệm bám chắc
\r\n\r\n4.33. Thử nghiệm uốn chất nền
\r\n\r\n4.34. Ăn mòn
\r\n\r\n4.35. Tính dễ cháy
\r\n\r\n4.36. Làm việc ở nhiệt độ thấp
\r\n\r\n4.37. Nóng ẩm, ổn định, gia tốc
\r\n\r\n4.38. Phóng điện tĩnh điện
\r\n\r\n4.39. Thử nghiệm quá tải xung tuần hoàn
\r\n\r\n4.40. Thử nghiệm sự phát triển của tinh thể\r\ndạng râu
\r\n\r\n4.41. Thử nghiệm hyđrô sun
Phụ lục A (quy định) - Giải thích kế\r\nhoạch lấy mẫu và các quy trình như quy định trong IEC 60410 sử
Phụ lục B (quy định) - Nguyên tắc soạn\r\nthảo các yêu cầu kỹ thuật cụ thể của các điện trở và
Phụ lục C (tham khảo) - Ví dụ về thiết\r\nbị thử quá tải điện áp cao xung tuần hoàn
\r\n\r\nPhụ lục D (quy định) - Trình bày trang\r\nđầu của yêu cầu kỹ thuật PCP/CQC
\r\n\r\nPhụ lục E (quy định) - Yêu cầu đối với\r\nhồ sơ thử nghiệm phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nPhụ lục F (tham khảo) - Ký hiệu bằng\r\nchữ và cách viết tắt
\r\n\r\nPhụ lục G (tham khảo) - Danh mục đối với\r\nquy trình thử nghiệm và đo
\r\n\r\nPhụ lục Q (quy định) - Quy trình đánh\r\ngiá chất lượng
\r\n\r\nFile gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6748-1:2009 (IEC 60115-1 : 2008) về Các điện trở cố định sử dụng trong thiết bị điện tử – Phần 1: Quy định kỹ thuật chung đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6748-1:2009 (IEC 60115-1 : 2008) về Các điện trở cố định sử dụng trong thiết bị điện tử – Phần 1: Quy định kỹ thuật chung
Tóm tắt
| Cơ quan ban hành | Đã xác định |
| Số hiệu | TCVN6748-1:2009 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 2009-01-01 |
| Ngày hiệu lực | |
| Lĩnh vực | Xây dựng - Đô thị |
| Tình trạng | Còn hiệu lực |