AN\r\nTOÀN BỨC XẠ - LIỀU KẾ PHIM DÙNG CHO CÁ NHÂN
\r\n\r\nRadiation\r\nprotection - Personal photographic dosemeter
\r\n\r\nLời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 7077 : 2002 hoàn toàn tương đương\r\nvới ISO 1757 : 1996.
\r\n\r\nTCVN 7077 : 2002 do Ban Kỹ thuật Tiêu\r\nchuẩn TCVN/TC 85 “Năng lượng hạt nhân” biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường\r\nChất lượng đề nghị, Bộ Khoa học Công nghệ và Môi trường (nay là Bộ Khoa học và\r\nCông nghệ) ban hành.
\r\n\r\nTiêu chuẩn này được chuyển đổi năm 2008\r\ntừ Tiêu chuẩn Việt Nam cùng số hiệu thành Tiêu chuẩn Quốc gia theo quy định tại\r\nkhoản 1 Điều 69 của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật và điểm a khoản 1\r\nĐiều 6 Nghị định số 127/2007/NĐ-CP ngày 1/8/2007 của Chính phủ quy định chi tiết\r\nthi hành một số điều của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật.
\r\n\r\n\r\n\r\n
AN TOÀN BỨC\r\nXẠ - LIỀU KẾ PHIM DÙNG CHO CÁ NHÂN
\r\n\r\nRadiation\r\nprotection - Personal photographic dosemeter
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này quy định các đặc trưng\r\nvật lý của liều kế phim dùng cho cá nhân và các phương pháp tương ứng để thử nghiệm\r\nđặc trưng vật lý của chúng. Kết quả thử nghiệm thu được biểu thị bằng kerma\r\nkhông khí và chỉ khi cần thiết, thí dụ trong trường hợp đáp ứng góc và năng lượng\r\nthì mới biểu thị bằng tương đương liều cá nhân được định lượng khi vận hành, được\r\nđịnh nghĩa trong ICRU 47.
\r\n\r\nViệc sử dụng liều kế phim dùng cho cá\r\nnhân bao gồm hai bước: trước hết là thu thập số liệu bao gồm cả việc diễn giải\r\nchúng theo đại lượng hiệu chuẩn và thứ hai là giải thích số liệu theo đại lượng\r\nliều cá nhân như tương đương liều cá nhân (ICRU 47) hoặc liều hiệu dụng (ICRP\r\n60). Tiêu chuẩn này nhằm thử nghiệm đặc trưng vật lý của liều kế phim và không\r\ncung cấp thông tin về cách tính liều cá nhân.
\r\n\r\nTiêu chuẩn này áp dụng cho các liều kế\r\nphim dùng cho cá nhân có dải đo tối thiểu từ 200 mSv đến 1 Sv và theo quy phạm quốc gia và\r\nkhuyến cáo ICRP được dùng để:
\r\n\r\n- Xác định liều cá nhân gây bởi bức xạ\r\ntia X hoặc gamma.
\r\n\r\n- Xác định liều cá nhân gây bởi bức xạ\r\nbêta, dù có kèm theo photon hay không.
\r\n\r\nTiêu chuẩn này áp dụng riêng cho liều\r\nkế được thiết kế để đeo trên thân người.
\r\n\r\nTiêu chuẩn này không dùng cho liều kế\r\ncó màn tăng quang .
\r\n\r\nTiêu chuẩn này không áp dụng đối với:
\r\n\r\n- Nhũ tương ảnh đặt trong liều kế dùng\r\nđể phát hiện nơtron hoặc các hạt khác.
\r\n\r\n- Liều kế phim để xác định liều cá\r\nnhân gây ra do bức xạ xung (thí dụ máy gia tốc).1)
\r\n\r\n- Liều kế phim dùng trong các trường\r\nhỗn hợp photon và nơtron.
\r\n\r\n- Nhũ tương vết hạt nhân.
\r\n\r\nTiêu chuẩn này áp dụng cho nhà sản\r\nxuất hoặc cung cấp phim hoặc hệ thống liều kế, những người chịu trách nhiệm\r\ncung cấp vật liệu làm liều kế phù hợp với quy định kỹ thuật của ISO, cũng như\r\ncho người sử dụng muốn thử nghiệm sự phù hợp đó.
\r\n\r\nChú thích 1 – Như quy định trong điều\r\n7, một số đặc trưng về tính năng kỹ thuật là trách nhiệm của nhà sản xuất phim\r\nvà một số đặc trưng khác là trách nhiệm của nhà cung cấp các giá đỡ hoặc toàn\r\nbộ liều kế.
\r\n\r\nNhững thử nghiệm mô tả dưới đây được\r\ndùng cho cả hai: liều kế cung cấp cho người sử dụng mà chính họ sẽ xử lý và\r\nđánh giá chúng trong cơ sở của mình và liều kế được xử lý và đánh giá do dịch\r\nvụ bên ngoài.
\r\n\r\nChú thích 2 - Các thử nghiệm từ i) đến\r\nk) trong bảng 1 của các quy trình trong điều 8 liên quan đến các đặc trưng của liều\r\nkế chỉ có thể được kiểm tra, xác nhận qua việc áp dụng các phương pháp để tính\r\ncác đại lượng liều. Những phương pháp này cũng như những quy trình hiệu chuẩn\r\nsẽ được đề cập đến trong phụ lục B.
\r\n\r\n\r\n\r\nISO 5-1 : 1984, Photography - Density measurements\r\n- Part 1: Terms, symbols and notations (Chụp ảnh - Đo mật độ - Phần 1: Thuật\r\nngữ, ký hiệu và chú thích) .
\r\n\r\nISO 5-2 : 1991, Photography - Density\r\nmeasurements - Part 2: Geometric conditions for transmission density (Chụp ảnh\r\n- Đo mật độ - Phần 2: Điều kiện hình học để truyền mật độ).
\r\n\r\nISO 5-3 : 1995, Photography- Density\r\nmeasurements - Part 3: Spectral conditions (Chụp ảnh - Đo mật độ - Phần 3: Điều\r\nkiện quang phổ).
\r\n\r\nISO 5-4 : 1995, Photography- Density measurements\r\n- Part 4: Geometric conditions for reflection density (Chụp ảnh - Đo mật độ -\r\nPhần 4: Điều kiện hình học cho mật độ phản xạ).
\r\n\r\nISO 921 :-2), Nuclear energy-\r\nVocabulary ((Năng lượng hạt nhân) - Từ vựng).
\r\n\r\nISO 4037-1 :-3), X and gamma reference\r\nradiation for calibrating dosemeters and doserate meters and for determining their\r\nresponse as a function of photon energy - Part 1: Radiation characteristics and\r\nproduction methods (Bức xạ tia X và gamma chuẩn để hiệu chuẩn liều kế và máy đo\r\nsuất liều và để xác định đường đặc trưng của chúng theo năng lượng photon -\r\nPhần 1: Đặc tính của bức xạ và phương pháp điều chế/sản xuất).
\r\n\r\nISO 4037-2 :-3), X and gamma\r\nreference radiation for calibrating dosemeters and doserate meters and for\r\ndetermining their response as a function of photon energy - Part 2: Dosimetry\r\nof X and gamma reference radiation for radiation protection over the energy\r\nrange from 8 keV to 1,3 MeV and from 4 MeV to 9 MeV (Bức xạ và gamma chuẩn để hiệu\r\nchuẩn liều kế và máy đo suất liều và để xác định đường đặc trưng của chúng theo\r\nnăng lượng photon – Phần 2: Đo liều lượng của bức xạ X và gamma chuẩn cho bảo\r\nvệ bức trên giải năng lượng từ 8 keV đến 1,3 MeV và từ 4 MeV đến 9 MeV).
\r\n\r\nISO 6980 :-4), Reference beta radiation\r\nfor calibrating dosemeters and dose ratemeters and for determining their\r\nresponse as a function of beta radiation energy (Bức xạ bêta chuẩn để hiệu\r\nchuẩn liều kế và máy đo suất liều và để xác định đường đặc trưng theo hàm số\r\ncủa năng lượng bức xạ bêta).
\r\n\r\nIEC 846 : 1989, Beta, X and gamma radiation\r\ndose equivalent and dose equivalent rate meters for use in radiation protection\r\n(Máy đo liều tương đương bức xạ bêta, X và gamma về suất liều tương đương dùng\r\ntrong bảo vệ bức xạ).
\r\n\r\n\r\n\r\nTrong tiêu chuẩn này áp dụng các định nghĩa\r\nsau đây
\r\n\r\n3.1. Liều kế phim dùng cho cá nhân (personal\r\nphotographic dosemeter): liều kế bao gồm một hoặc nhiều phim đặt trên một giá gắn\r\nvới một hoặc nhiều bộ lọc, nhờ vậy có thể xác định đại lượng liều bức xạ từ\r\nviệc đo mật độ quang của nhũ tương phim dưới các bộ lọc khác nhau.
\r\n\r\nChú thích - Để đơn giản từ "liều\r\nkế" trong tiêu chuẩn này để chỉ "liều kế phim dùng cho cá nhân".
\r\n\r\n3.2. Bộ lọc (filter): một bộ phận của liều\r\nkế làm thay đổi cường độ bức xạ lên nhũ tương.
\r\n\r\n3.3. Mật độ truyền quang (optical\r\ntransmission density): Lôgarit thập phân của tỷ số giữa thông lượng tới (ISO\r\n5-1) và thông lượng truyền qua mẫu trong cùng điều kiện hình học của chùm tia.
\r\n\r\n3.4. Mật độ phản quang (optical reflection density): Lôgarit thập phân\r\ncủa tỷ số giữa thông lượng phản xạ chuẩn tuyệt đối (ISO 5-1) và thông lượng\r\nphản xạ mẫu đo truyền tới trong cùng điều kiện hình học của chùm tia.
\r\n\r\n3.5. Đường cong đặc trưng (characteristic\r\ncurve):\r\nđối với một bức xạ cho trước có năng lượng nhất định, đường đặc trưng là đường\r\nbiểu diễn giá trị của mật độ quang của nhũ tương xử lý trong các điều kiện đã\r\ncho như một hàm số của đại lượng hiệu chuẩn với một bộ lọc xác định.
\r\n\r\n3.6. Ảnh ẩn (latent image): Sự thay đổi không nhìn\r\nthấy được, xảy ra trong nhũ tương ảnh khi bị chiếu bởi bức xạ quang hóa như ánh\r\nsáng nhìn thấy, tử ngoại hoặc bức xạ ion hóa trực tiếp hoặc gián tiếp và sẽ\r\nchuyển hóa thành ảnh nhìn thấy sau khi xử lý.
\r\n\r\n3.7. Độ ổn định của ảnh ẩn (stability of\r\nlatent image):\r\nMức độ nhũ tương có thể tạo nên ảnh đã được hiện hình với những đặc trưng quang\r\nhọc đã cho không phụ thuộc vào khoảng thời gian từ khi tạo ảnh đến khi hiện ảnh\r\nvà cũng không phụ thuộc vào điều kiện môi trường trong thời gian ấy (nhiệt độ\r\nhoặc độ ẩm).
\r\n\r\n3.8. Sự phai (fading): Sự mất ảnh ẩn (tức\r\nlà thông tin tiềm ẩn) theo thời gian từ khi tạo ảnh ẩn đến khi rửa hiện ảnh.
\r\n\r\nChú thích - Sự phai bị ảnh hưởng rất mạnh bởi\r\ncác điều kiện môi trường như nhiệt độ và độ ẩm.
\r\n\r\n3.9. Sự quá sáng (solarization): Hiện tượng ngược\r\nlại, thường xảy ra ở mức độ chiếu xạ cao, làm cho mật độ quang giảm đi khi\r\nchiếu xạ tăng lên.
\r\n\r\n3.10 Giá trị thực quy ước, Q (conventional\r\ntrue value):\r\nĐánh giá tốt nhất của một đại lượng tại điểm quan tâm.
\r\n\r\n3.11. Độ đáp ứng (response), R: Tỷ số giữa đại lượng\r\nđược đánh giá từ giá trị đọc được của đầu dò M và giá trị thực quy ước của đại\r\nlượng Q.
\r\n\r\n3.12. Độ nhạy của nhũ tương ảnh, (sensitivity\r\nof a photographic emulsion) S: Tỷ số giữa sự thay đổi của mật độ quang DOD và sự thay đổi tương ứng trong giá\r\ntrị thực quy ước của đại lượng hiệu chuẩn DQ.
\r\n\r\n3.13. Giới hạn dưới (lower limit) (của khoảng danh định):\r\nGiá trị của đại lượng hiệu chuẩn tương ứng với mật độ quang bằng giá trị trong\r\ncác mật độ quang của một lô phim chưa chiếu cộng với hai lần độ lệch chuẩn thực\r\nnghiệm của giá trị trung bình đó.
\r\n\r\n3.14. Giới hạn trên (upper limit) (của khoảng danh định)\r\nGiá trị của đại lượng hiệu chuẩn Q (có tính đến sự bão hòa và sự quá sáng) tại\r\nđó độ nhạy của nhũ tương S = DOD/DQ có giá trị dương và ít nhất có giá\r\ntrị bằng 0,4Gy-1 đối với mật độ truyền quang và 0,2 Gy-1\r\nđối với mật độ phản quang.
\r\n\r\n3.15. Hệ số biến thiên (coefficient of\r\nvariation),\r\nV: Đối với một tập hợp n số đo xi; giá trị cho bởi công thức sau\r\nđây:
\r\n\r\ntrong đó là\r\ntrị số trung bình số học của n số đo.
3.16. Hệ số quy định kỹ thuật (coefficient of\r\nperformance),\r\nP: Đối với một tập hợp n số đo xi, trị số cho bởi công thức sau:
\r\n\r\nTrong đó x' là giá trị thực quy ước của đại lượng\r\nchuẩn.
\r\n\r\nChú thích - Hệ số quy định kỹ thuật mô tả độ\r\nlệch của một tập hợp các phép đo so với giá trị thực quy ước.
\r\n\r\n3.17. Mẫu kiểm soát (control specimens): gói phim, giá kẹp\r\nphim hoặc liều kế chuẩn cùng một loại và cùng một lô như những mẫu đã được dùng\r\ntrong thử nghiệm.
\r\n\r\n3.18. Đại lượng hiệu chuẩn (calibration\r\nquantity):\r\nĐại lượng vật lý dùng để xác định các đặc trưng mẫu nhũ tương của phim khi được\r\nchiếu riêng biệt hoặc được chiếu trong giá đỡ cụ thể.
\r\n\r\n3.19. Hệ số chuyển đổi (conversion\r\ncoefficient):\r\nHệ số dựng để chuyển đổi một đại lượng vật lý này sang một đại lượng vật lý khác.
\r\n\r\n3.20. Kerma, K: Thương số của dEtr\r\nchia cho dm, trong đó dEtr là tổng động năng ban đầu của tất cả các\r\nhạt iôn hóa tích điện được giải phóng bởi các hạt iôn hóa không tích điện trong\r\nthể tích phân tố nhỏ thích hợp của một vật liệu cụ thể có khối lượng là dm. Đơn\r\nvị SI của kerma là jun trên kilogam (J/kg). Tên riêng đơn vị của kema là gray\r\n(Gy), Xem /ICRU33).
\r\n\r\nChú thích -
\r\n\r\n1. Kerma không khí (Kerma trong không khí tự\r\ndo) thường được dùng thay cho đại lượng liều chiếu. Đơn vị SI của liều chiếu là\r\nCulông trên kilôgam; đơn vị này trước đây là rơnghen, R (1R = 2,58 x 10-4\r\nC/kg).
\r\n\r\n2. Với năng lượng photon đến 3 MeV, ta có thể\r\ncoi đại lượng Kerma không khí Ka và liều chiếu là tương đương với X và Ka\r\n= 1Gy tương đương với X = 29,45 mC/kg. Từ trên 3 MeV đến dưới 9 MeV, đại lượng\r\nKerma không khí còn có thể đo được bằng cách dùng buồng iôn hóa nhỏ có nắp tích\r\nlũy (DOS18). Tuy nhiên trong dải năng lượng cao hơn này, liều hấp thụ trong mô cần\r\nđược dùng làm đại lượng hiệu chuẩn (xem ISO 4037-2 và ICRP51).
\r\n\r\n3.21. Liều hấp thụ (absorbed dose), D: Tỷ số của d chia cho dm, trong đó d
là năng lượng trung bình truyền cho vật\r\nchất trong một phân tố thể tích nhỏ thích hợp vật chất cụ thể có khối lượng\r\nbằng dm. Đơn vị SI của liều hấp thụ là jun trên kilôgam (J/kg). Tên riêng của đơn\r\nvị liều hấp thụ là gray (Gy) (Xem ICRU 33).
Chú thích - Khi nói đến giá trị của liều hấp\r\nthụ, phải chỉ rõ vật liệu gì, thí dụ liều hấp thụ trong không khí Da\r\nhoặc liều hấp thụ trong mô DT.
\r\n\r\n3.22. Tương đương liều (dose equivalent), H: Tích số của Q và D\r\ntại một điểm trong mô, trong đó D là liều hấp thụ và Q là hệ số phẩm chất tại\r\nđiểm đó. Đơn vị SI của liều tương đương là jun trên kilôgam (J/kg). Tên gọi\r\nriêng cho đơn vị liều tương đương là sivơ (Sv) (xem ICRU 51).
\r\n\r\nChú thích - Hệ số phẩm chất đối với bức xạ\r\ntia X, gamma và bêta bằng 1.
\r\n\r\n3.23. Tương đương liều cá nhân (personal dose\r\nequivalent), Hp (d): tương đương liều trong mô mềm ở một độ sâu d\r\nthích hợp một điểm nhất định trong cơ thể. Đơn vị SI của liều cá nhân tương đương\r\nlà jun trên kilôgam (J/kg). Tên riêng của đơn vị tương đương liều cá nhân là\r\nsivơ (Sv) (xem ICRU 51).
\r\n\r\nChú thích -
\r\n\r\n1. Đối với bức xạ có khả năng đâm xuyên yếu,\r\nđộ sâu 0,07 mm được sử dụng đối với da và ký hiệu là Hp (0,07) còn\r\nđối với bức xạ có khả năng đâm xuyên mạnh thì độ sâu là 10 mm và ký hiệu bằng Hp(10).
\r\n\r\n2. Để hiệu chuẩn, ICRU đã mở rộng định nghĩa\r\ncủa Hp (d) cho phantom có thành phần của mô ICRU, nghĩa là có thành phần khối lượng\r\ngồm 76,2% ôxy, 11,1 cácbon, 10,1 % hydrô và 2,6 % nitơ mật độ bằng một, bao gồm\r\nmột phantom dạng tấm có kích thước 30cm x 30 cm x 15 cm để biểu thị cho thân\r\nthể con người.
\r\n\r\n3. Trong thực tế việc hiệu chuẩn hoặc xác\r\nđịnh độ đáp ứng của mỗi liều kế photon hoặc bức xạ bêta thì nên dùng một\r\nphantom dạng tấm kích thước 30 cm x 30 cm x 15 cm làm bằng Polymethylmethacrylate\r\n(PMMA)5. Khi hiếu xạ phải gắn cố định liều kế cá nhân ở mặt trước của phantom.\r\nCần hiểu rằng không phải hiệu chỉnh số đọc của mỗi liều kế riêng biệt được gắn vào\r\nbề mặt của phantom do sự khác biệt về tán xạ ngược giữa PMMA và phantom mô ICRU\r\n(Xem chú thích 2).
\r\n\r\n4. Mô tả và yêu cầu\r\nthiết kế
\r\n\r\nLiều kế phim dùng cho cá nhân gồm có hai\r\nphần:
\r\n\r\na) Gói phim gồm có:
\r\n\r\n- Phần cảm quang bọc trong một bao bảo vệ\r\nkhông được mở ra trước khi xử lý phim. Phần này có thể gồm một hoặc nhiều nhũ tương\r\nphủ lên một hoặc nhiều đế mỏng.
\r\n\r\n- Bao bảo vệ nhằm bảo vệ nhũ tương cảm quang\r\nchống lại ảnh hưởng của ánh sáng hoặc các tác nhân hóa học hoặc cơ học bên\r\nngoài.
\r\n\r\nb) Giá đỡ có một vài bộ lọc giúp cho việc\r\nquan sát trường bức xạ và điều kiện chiếu xạ và trong một số trường hợp cho phép\r\nđánh giá năng lượng bức xạ; diện tích của bộ lọc phải đủ lớn để tránh hiệu ứng\r\nbiên.
\r\n\r\nMỗi liều kế phải có một số cách nhận biết\r\n(xem điều 9).
\r\n\r\n\r\n\r\n5.1. Phân loại
\r\n\r\nLiều kế phim dùng cho cá nhân có một dải đo\r\ntối thiểu từ 200 mSv cho đến 1Sv được\r\nphân loại như sau:
\r\n\r\n5.1.1. Phân loại liều kế theo dải năng lượng\r\nbức xạ
\r\n\r\nLiều kế được phân theo một trong năm loại sau\r\ntrên cơ sở dải năng lượng bức xạ mà trong đó đáp ứng của liều kế phải thỏa mãn\r\ncác quy định kỹ thuật trong bảng 1k):
\r\n\r\na) Loại 1: các liều kế được thiết kế cho dải\r\nnăng lượng tia X và tia gamma khoảng 250 keV đến 9 MeV;
\r\n\r\nb) Loại 2: các liều kế được thiết kế cho toàn\r\nbộ hoặc một phần của dải năng lượng tia X hoặc gamma từ khoảng 20 keV đến 250\r\nkeV.
\r\n\r\nc) Loại 3: các liều kế dùng cho toàn bộ dải năng\r\nlượng tia X hoặc gamma từ khoảng 20 keV đến 9 MeV
\r\n\r\nd) Loại 4: các liều kế dùng để đo bức xạ bêta\r\nvới năng lượng tối đa từ 0,5 MeV đến 4 MeV
\r\n\r\ne) Loại 5: các liều kế dùng để đo bức xạ bêta\r\nvới năng lượng tối đa từ 1,5 MeV đến 4 MeV.
\r\n\r\nChú thích: Vì năng lượng photon cao nhất đang\r\nđược sử dụng hiện nay, có thể phải đo đến 50 MeV, các liều kế loại 1 và 3 cần\r\ncó khả năng đáp ứng năng lượng đến 50 MeV.
\r\n\r\n5.1.2. Phân loại liều kế theo độ bền với hơi\r\nnước
\r\n\r\nMột trong hai loại sau đây sẽ được dùng cho\r\ntất cả các liều kế, tùy theo độ bền với hơi nước.
\r\n\r\na) Loại W: các liều kế đáp ứng được với quy\r\nđịnh kỹ thuật trong bảng 1 g) (bền với hơi nước và /hoặc hóa chất quang hóa)
\r\n\r\nb) Loại Y: các liều kế không đáp ứng với quy\r\nđịnh kỹ thuật trong bảng 1 g).
\r\n\r\n5.2. Ký hiệu
\r\n\r\nCác liều kế phim phải được ký hiệu: bằng số\r\nhiệu tiêu chuẩn này, tiếp theo là đặc trưng dải năng lượng, độ bền với hơi nước\r\nvà số lượng các nhũ tương
\r\n\r\nTHÍ DỤ
\r\n\r\nLiều kế phim dùng cho cá nhân - TCVN 7077\r\n(ISO 1757-1-W-3)
\r\n\r\n\r\n\r\nĐại lượng hiệu chuẩn để thu nhận và báo cáo kết\r\nquả thử nghiệm theo bảng từ 1a) đến 1h) phải là kerma không khí hoặc liều hấp\r\nthụ trong mô, tùy theo sự thích hợp với loại bức xạ cụ thể. Vì chủ yếu đây là\r\ncác thử nghiệm so sánh nên tất cả các loại chiếu xạ có thể tiến hành trong\r\nkhông khí tự do hoặc trên một phantom nếu không có quy định khác.
\r\n\r\nKết quả thử nghiệm về sự phụ thuộc vào độ đáp\r\nứng của liều kế phim dùng cho cá nhân đối với năng lượng bức xạ và góc tới của tia\r\nbức xạ [(tức là thử nghiệm cho trong bảng 1i) và j)] phải được ghi theo tương đương\r\nliều cá nhân (xem phụ lục A).
\r\n\r\n7. Yêu cầu đặc trưng\r\nquy định kỹ thuật
\r\n\r\nQuy định kỹ thuật liên quan đến đặc trưng\r\nliều kế phim được cho trong bảng 1.
\r\n\r\nNhà sản xuất phim phải có trách nhiệm tiến\r\nhành các thử nghiệm quy định ở bảng 1 từ mục a) tới mục g) để cung cấp thông tin\r\ncủa các kết quả thử nghiệm các đặc trưng của nhũ tương phim. Tương tự nhà sản\r\nxuất giá đỡ, phải có trách nhiệm tiến hành các thử nghiệm trong bảng 1k). Những\r\nthử nghiệm trong bảng 1i) đến k) phải được tiến hành bởi tổ chức có trách nhiệm\r\nlựa chọn tổ hợp phim và giá đỡ để có một liều kế hoàn chỉnh. Các thử nghiệm này\r\ntrong nhiều trường hợp được tiến hành bởi một phòng thí nghiệm thử nghiệm được\r\nchỉ định.
\r\n\r\nBảng 1 - Yêu cầu quy\r\nđịnh kỹ thuật đối với liều kế cá nhân phim
\r\n\r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n\r\n Đặc trưng cần thử \r\n | \r\n Yêu cầu \r\n | \r\n Quy trình thử\r\n nghiệm \r\n |
\r\n a) Độ đồng đều mật độ quang của nhũ tương (liên quan đến nhũ\r\n tương) \r\nThử nghiệm này được tiến hành để bảo đảm độ\r\n đồng đều của nhũ tương phim. \r\n | \r\n Loại 1 đến 5: \r\n1) Hiệu số giữa giá trị cực đại và cực tiểu\r\n của mật độ quang đo được trên bề mặt của mỗi mẫu của nhũ tương phải nhỏ hơn\r\n 0,05 đối với mật độ truyền quang và mật độ phản quang . \r\n2) Độ lệch chuẩn của mật độ trung bình của mẫu\r\n thử phải nhỏ hơn 0,02 đối với mật độ truyền quang và 0,05 cho mật độ phản quang. \r\n | \r\n 8.2.1 \r\n |
\r\n b) Độ ổn định của ảnh ẩn (liên quan đến nhũ\r\n tương) \r\nThử nghiệm này nhằm kiểm tra kiểu phai của ảnh\r\n ẩn trong điều kiện thử nghiệm bình thường và đảm bảo các thông tin về liều đã\r\n nhập vào vẫn được giữ nguyên trong thời gian đeo liều kế \r\n | \r\n Độ lệch tìm thấy khi so sánh mẫu thử nghiệm\r\n với mẫu đối chứng không lớn hơn 10 % đại lượng hiệu chuẩn thu được. \r\n | \r\n 8.2.2 \r\n |
\r\n c) Chống lão hóa (liên quan đến nhũ\r\n tương phim) \r\nThử nghiệm này kiểm tra khả năng nhũ tương chịu\r\n được những điều kiện bảo quản không bình thường trước khi sử dụng. \r\n | \r\n 1) Lão hóa nhân tạo: Độ lệch phát hiện được\r\n khi so sánh mẫu thử nghiệm với mẫu đối chứng không được lớn hơn 20 % đại lượng\r\n hiệu chuẩn thu được. Biến đổi về mật độ quang trung bình của mức mờ của đế so\r\n với mẫu đối chứng không được lớn hơn 0,10 \r\n2) Lão hóa tự nhiên: \r\nXem yêu cầu ở mục a) và b) \r\n | \r\n 8.2.3 \r\n |
\r\n d) ảnh hưởng của năng lượng photon (liên quan đến nhũ\r\n tương) \r\nThử nghiệm này nhằm xác thực sự biến đổi từ\r\n lô này sang lô khác về ảnh hưởng của các năng lượng photon khác nhau đối với mật\r\n độ quang của nhũ tương. \r\n | \r\n Giữa các lô sản phẩm khác nhau, tỷ số giữa\r\n các đại lượng hiệu chuẩn để tạo ra cùng một mật độ quang trong khoảng danh định\r\n không được thay đổi quá 10 % so với khoảng đo danh định của nhũ tương. \r\n | \r\n 8.2.4 \r\n |
\r\n e) Khoảng đo danh định (liên quan đến nhũ\r\n tương) \r\nThử nghiệm khoảng đo danh định của liều kế\r\n là để kiểm tra xem những yêu cầu tối thiểu của khoảng đo liều kế có được thỏa\r\n mãn không. \r\n | \r\n Giới hạn dưới: \r\nĐại lượng hiệu chuẩn ở giới hạn dưới phải\r\n làm tăng mật độ quang ít nhất hai lần độ lệch chuẩn so với mật độ quang trung\r\n bình của mức mờ đế (của ảnh mờ cơ bản). \r\nGiới hạn trên: \r\nGiới hạn trên (có tính đến sự bão hòa và sự\r\n quá sáng) của khoảng danh định là giá trị cực đại của đại lượng hiệu chuẩn Q mà\r\n độ nhạy của nhũ tương S = ∆OD/∆Q là số dương và ít nhất có giá trị 0,4 Gy-1\r\n đối với mật độ quang và 0,2 Gy-1 cho mật độ phản quang. \r\n | \r\n 8.2.5 \r\n |
\r\n f) Độ kín sáng \r\n(liên quan đến bao phim) \r\n | \r\n Trên phim đã rửa không có vết hoặc sự không\r\n đồng đều. Mật độ quang trung bình trên diện tích hữu dụng của phim so với mật\r\n độ trung bình của mẫu đối chứng không được lệch quá độ lệch chuẩn. \r\n | \r\n 8.2.6 \r\n |
\r\n g) Độ chống thấm hơi nước của giấy bọc (liên\r\n quan đến bao phim) \r\nThử nghiệm này chỉ áp dụng cho liều kế loại\r\n W \r\n | \r\n 1) Sự phai ảnh ẩn: \r\nTrung bình độ lệch so với mẫu đối chứng không\r\n vượt quá 10% giá trị của đại lượng hiệu chuẩn thu được. \r\n2. Sự biến thiên của độ đáp ứng: \r\nTrung bình của độ lệch so với mẫu đối chứng\r\n không vượt quá 10% giá trị đại lượng hiệu chuẩn thu được. \r\n3) Sự biến thiên mật độ quang của mức mờ\r\n đế: \r\nTrung bình độ lệch mức độ mức mờ đế so với mẫu\r\n đối chứng không vượt quá 0,05. \r\n | \r\n 8.2.7 \r\n |
\r\n h) Kiểm soát chất lượng bộ lọc và giá đỡ\r\n plastic (Liên quan đến giá đỡ bao đựng phim) \r\n | \r\n 1) Sự đồng đều của bề dày vật liệu \r\nHiệu số giữa mật độ quang tối đa và tối thiểu\r\n của nhũ tương sau cái lọc do sự biến thiên của độ dày vật liệu phải nhỏ hơn 5%\r\n mật độ quang trung bình đối với cùng một mẫu hoặc giá đỡ. Độ lệch chuẩn trung\r\n bình của mật độ quang không được vượt quá 2% đối với cùng một mẫu bộ lọc hoặc\r\n giá đỡ. \r\n2) Ảnh hưởng của hạt nhân phóng xạ (tự nhiên)\r\n có thể có trong bộ lọc \r\nHiệu số giữa giá trị mật độ quang trung\r\n bình giữa các mẫu phim lọc so với phim đối chứng không vượt quá 0,05. \r\n | \r\n 8.2.8 \r\n |
\r\n i) Quan hệ giữa góc và độ đáp ứng (liên\r\n quan đến liều kế) \r\nThử nghiệm này được thực hiện để đánh giá\r\n độ đáp ứng gúc của liều kế và độ đáp ứng của nó khi bức xạ tới bằng 0. \r\n | \r\n Nếu H'p (E, a) là giá trị thực quy ước của tương đương liều cá nhân\r\n (xuyên sâu hoặc trên bề mặt) ở năng lượng trung bình E và góc a tại vị trí đo bên trong phantom\r\n dùng cho các thử nghiệm này và nếu H'p (E, a) là giá trị của tương đương liều cá nhân (đâm xuyên\r\n hoặc trên bề mặt) đã xác định từ liều kế được thử nghiệm thì có thể đánh giá\r\n độ đáp ứng góc R(E, a) = Hp (E, a)/ H'p (E, a). Từ đó tính được các tỷ số này\r\n R(E, a) / R(E, 0). Các tỷ\r\n số ấy không được khác 1,0: \r\n±\r\n 20% cho các loại 1 và 2 \r\n±\r\n 30% cho loại 3 \r\n±\r\n 50% cho loại 4 \r\n | \r\n 8.2.9 \r\n |
\r\n j) Ảnh hưởng của chiếu xạ qua mặt sau\r\n của liều kế (liên quan đến liều kế) \r\nSo sánh độ đáp ứng của liều kế khi chiếu xạ\r\n bình thường và chiếu xạ từ phía sau, tức là theo chiều ngược lại. \r\n | \r\n Tất cả các loại \r\nĐối với các liều kế thử nghiệm, xác định và\r\n ghi rõ tỷ số của độ đáp ứng đối với chiếu xạ từ phía sau so với chiếu xạ từ\r\n phía trước. \r\n | \r\n 8.2.10 \r\n |
\r\n k) Quan hệ giữa năng lượng và độ đáp ứng\r\n (liên quan đến liều kế) \r\nThử nghiệm này nhằm xác định độ đáp ứng vào\r\n năng lượng của liều kế. \r\nThử nghiệm này là thử nghiệm về loại liều kế\r\n và cơ bản chỉ làm một lần và chỉ được lặp lại khi có những thay đổi lớn (bộ\r\n lọc, thuật toán) đối với cả hệ thống. \r\n | \r\n Loại 1 đến 4 : \r\nNếu H'p (E, 0) là giá trị thực quy\r\n ước của tương đương liều cá nhân (đâm xuyên hoặc bề mặt) ở năng lượng trung bình\r\n E và thẳng góc chiếu xạ tới thẳng góc (00) tại điểm đo bên trong phantom dùng\r\n cho các thử nghiệm này và Hp,, i i(E,0) là giá trị của tương đương\r\n liều cá nhân (đâm xuyên hoặc trên bề mặt) xác định cho liều kế thứ i trong số\r\n n liều kế thì giá trị tuyệt đối của hệ số tính năng |P| được tính bằng: \r\nphải: \r\n≤ 0,10 cho loại 1 \r\n≤ 0,20 cho loại 2 \r\n≤ 0,35 cho các loại 3 và 4 \r\nNgoài ra mỗi độ lệch phải thỏa mãn điều\r\n kiện sau: \r\n[Hp,i(E,0) - H'p(E,0)]/H'p(E,0) \r\n≤ 0,30 cho các loại 1 và 2 \r\n≤ 0,45 cho các loại 3 và 4 \r\nVà, hệ số biến thiên V được cho bởi: \r\ntrong đó \r\nHp(E,0) là giá trị trung bình\r\n của Hp,,i(E,0). \r\nV ≤ 0,35 cho tất cả các loại \r\nLoại 4: Thử nghiệm này chỉ tiến hành đối với\r\n đại lượng tương đương liều cá nhân bề mặt Hp(0,07). \r\nLoại 5: Không cần thử nghiệm \r\nChú thích -Nếu sử dụng thuật toán phức tạp\r\n phải tính tới mật độ quang đặt dưới các vùng bộ lọc khác nhau để đáp ứng yêu\r\n cầu về tính năng trong khoảng năng lượng bức xạ quan tâm thì, thuật toán ấy\r\n phải sẵn sàng có cho tất cả những người sử dụng liều kế. \r\n | \r\n 8.2.11 \r\n |
8.1. Điều kiện thử nghiệm chung
\r\n\r\nThử nghiệm trong tiêu chuẩn này trong một số\r\ntrường hợp là thử nghiệm để đánh giá quy định kỹ thuật của các liều kế hoàn\r\nchỉnh bao gồm bao phim đặt trong giá đỡ phim, trong các trường hợp khác là để đánh\r\ngiá quy định kỹ thuật của bao đựng phim đặt trong các giá đỡ, hoặc của các giá\r\nđỡ hoặc của các nhũ tương đựng trong bao phim.
\r\n\r\n8.1.1. Quy định kỹ thuật đối với các mẫu thử\r\n(nhũ tương, bao đựng phim hoặc liều kế) được thử nghiệm và cho các mẫu đối\r\nchứng
\r\n\r\nCác mẫu thử và mẫu đối chứng (xem 3.17) phải\r\ncó cách để nhận biết theo phương pháp do nhà sản xuất quy định.
\r\n\r\nMẫu đối chứng phải lấy ra từ cùng một lô sản\r\nxuất với mẫu thử nghiệm. Đặc biệt chúng phải giống nhau về số lượng và tính\r\nchất của các bộ lọc.
\r\n\r\nTùy theo loại thử nghiệm, chiếu xạ phải được\r\ntiến hành hoặc trên liều kế hoàn chỉnh hoặc chỉ trên bao phim trần.
\r\n\r\nChú thích - Các thử nghiệm phải được tiến\r\nhành có hoặc không có phantom, trừ khi có quy định khác.
\r\n\r\n8.1.2. Ổn định mẫu trước thử nghiệm
\r\n\r\nTrước khi tiến hành bất kỳ thử nghiệm nào,\r\nliều kế sẽ thử nghiệm hoặc liều kế sẽ dùng làm mẫu đối chứng phải được đặt ít nhất\r\n4 giờ nhưng không quá 20 giờ trong môi trường không khí bao quanh có nhiệt độ (20\r\n± 2) 0C và\r\nđộ ẩm tương đối từ 45% đến 75%. Phông bức xạ không được vượt quá suất kerma không\r\nkhí là 0,25 mGy/h.
\r\n\r\n8.1.3. Điều kiện thử nghiệm tiêu chuẩn
\r\n\r\nNếu không có quy định gì khác, thử nghiệm phải\r\nđược tiến hành với bức xạ đi thẳng góc ở nhiệt độ (20 ± 2)0C và độ ẩm tương đối\r\ngiữa 45 % và 75 %. Phông bức xạ không được quá suất kerma không khí 0,25 mGy/h.
\r\n\r\n8.1.4. Bức xạ chuẩn
\r\n\r\n8.1.4.1. Liều kế loại 1 đến 3
\r\n\r\nĐối với các thử nghiệm bức xạ tia gamma và X,\r\nchất lượng bức xạ phải được chọn theo các bảng 2 đến 4 sao cho bao quát được\r\nkhoảng năng lượng danh định liều kế thử nghiệm. Đặc trưng của các bức xạ, phương\r\npháp tạo ra và điều kiện hình học được mô tả trong ISO 4037-1.
\r\n\r\nTùy theo năng lượng và suất liều yêu cầu, một\r\nchùm gamma chuẩn năng lượng cao (năng lượng bức xạ photon trong khoảng từ 4MeV\r\nđến 9MeV) có thể được lựa chọn trong số các chùm xác định trong ISO 4037-1.
\r\n\r\na) 4,44 MeV thu được từ phản ứng 12C\r\n(p,p'g)12C bằng\r\ncách bắn proton 5 MeV lên bia cacbon.
\r\n\r\nb) 6,13 MeV thu được từ phản ứng 19F\r\n(p,ag)16O bằng cách bắn proton\r\nlên bia flo.
\r\n\r\nc) 6 MeV và 9 MeV từ phản ứng bắt nơtron\r\nnhiệt trong titan và niken.
\r\n\r\nTrong khi chiếu xạ, sẽ có cân bằng electron\r\ntrong không khí bao quanh các mẫu. Nếu vì lý do về môi trường, yêu cầu này\r\nkhông được thỏa mãn thì phải có vật liệu thích hợp đặt trước mẫu để đảm bảo cân\r\nbằng electron (hoặc cân bằng electron chuyển tiếp trong trường hợp bức xạ năng\r\nlượng cao).
\r\n\r\nBảng 2 - Phổ hẹp loại\r\n“A”
\r\n\r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n\r\n Điện áp cao \r\nkV \r\n | \r\n Năng lượng trung\r\n bình \r\nkeV \r\n | \r\n Lọc bổ sung 1) \r\nmm \r\n | ||
\r\n Chì \r\n | \r\n Thiếc \r\n | \r\n Đồng \r\n | ||
\r\n 40 \r\n60 \r\n80 \r\n100 \r\n120 \r\n150 \r\n200 \r\n250 \r\n300 \r\n | \r\n 33 \r\n48 \r\n65 \r\n83 \r\n100 \r\n118 \r\n163 \r\n205 \r\n248 \r\n | \r\n -- \r\n-- \r\n-- \r\n-- \r\n-- \r\n-- \r\n1,0 \r\n3,0 \r\n5,0 \r\n | \r\n -- \r\n-- \r\n-- \r\n-- \r\n1,0 \r\n2,5 \r\n3,0 \r\n2,0 \r\n3,0 \r\n | \r\n 0,21 \r\n0,6 \r\n2,0 \r\n5,0 \r\n5,0 \r\n-- \r\n2,0 \r\n-- \r\n-- \r\n |
\r\n Chú thích - Các loại phổ hẹp đặc biệt được\r\n dùng để thử nghiệm sự phụ thuộc vào năng lượng của độ đáp ứng của liều kế \r\n | ||||
\r\n 1) Lọc tổng cộng bao gồm cả lọc cố định được\r\n điều chỉnh đến 4 mm nhôm \r\n |
Bảng 3 - Phổ rộng\r\nloại “B”
\r\n\r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n\r\n Điện áp cao \r\nkV \r\n | \r\n Năng lượng trung\r\n bình \r\nkeV \r\n | \r\n Lọc bổ sung 1) \r\nmm \r\n | |
\r\n Thiếc \r\n | \r\n Đồng \r\n | ||
\r\n 60 \r\n80 \r\n110 \r\n150 \r\n200 \r\n250 \r\n300 \r\n | \r\n 45 \r\n58 \r\n79 \r\n104 \r\n134 \r\n169 \r\n202 \r\n | \r\n -- \r\n-- \r\n-- \r\n1,2 \r\n2,0 \r\n4,0 \r\n6,5 \r\n | \r\n 0,3 \r\n0,5 \r\n2,0 \r\n-- \r\n-- \r\n-- \r\n-- \r\n |
\r\n Chú thích - Loại phổ rộng được dùng khi cường\r\n độ bức xạ cần thiết không thể đạt được bằng cách khác. \r\n | |||
\r\n 1) Lọc tổng cộng bao gồm cả lọc cố định được\r\n điều chỉnh đến 4 mm nhôm \r\n |
Bảng 4 - Nguồn phóng\r\nxạ
\r\n\r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n\r\n Hạt nhân\r\n phóng xạ \r\n | \r\n Năng lượng bức xạ gamma \r\nkeV \r\n | \r\n Chu kỳ bán rã \r\nnăm \r\n |
\r\n 241 Americi \r\n137 Cesi \r\n60 Coban \r\n | \r\n 59,54 \r\n661,6 \r\n1173,3 và 1332,5 \r\n | \r\n 433 \r\n30,1 \r\n5,272 \r\n |
8.1.4.2. Liều kế loại 4 và 5
\r\n\r\nBức xạ dùng để chiếu liều kế trong các thử\r\nnghiệm mô tả dưới đây có năng lượng nằm trong dải năng lượng của các liều kế. Bức\r\nxạ bêta dùng cho thử nghiệm phải được chọn theo ISO 6980 sao cho bao phủ được\r\ndải năng lượng các liều kế được thử nghiệm.
\r\n\r\n8.1.5. Cường độ của trường bức xạ
\r\n\r\nCường độ của trường bức xạ dùng để hiệu chuẩn\r\nphải đủ để cho phép các lần chiếu xạ mà sự thay đổi ảnh ẩn có thể bỏ qua.
\r\n\r\n8.2. Quy trình
\r\n\r\n8.2.1. Kiểm tra độ đồng đều mật độ quang của\r\nnhũ tương [xem\r\nbảng 1 a)]
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành với mật độ\r\nquang bằng 1,0 cho mỗi nhũ tương của bao phim và có thể được thực hiện bằng\r\ncách chọn một trong số các bức xạ chuẩn thích hợp sau:
\r\n\r\na) loại 1: bức xạ gamma của 137 Cs\r\nhoặc 60Co;
\r\n\r\nb) loại 2: bất kỳ một loại bức xạ nào được\r\nlựa chọn từ 8.1.4 trong khoảng năng lượng thấp hơn 250 keV.
\r\n\r\nc) loại 3: bất kỳ bức xạ chuẩn nào được lựa\r\nchọn từ 8.1.4;
\r\n\r\nd) loại 4 và 5: tốt nhất là bức xạ bêta từ\r\nnguồn 90Sr/90Y (xem ISO 6980).
\r\n\r\nĐối với mỗi lô nhũ tương sản xuất, chiếu xạ mười\r\nbao phim, được lựa chọn ngẫu nhiên từ các hộp khác nhau cho đến giá trị đại lượng\r\nhiệu chuẩn tương đương với mật độ quang bằng 1,0. Đối với mỗi nhũ tương đo mật\r\nđộ quang ở mười vị trí khác nhau phân bố đều trên bề mặt của nó. Xác định sự\r\nkhác nhau giữa giá trị tối đa và tối thiểu của mật độ quang mỗi mẫu và tính độ\r\nlệch chuẩn của giá trị trung bình.
\r\n\r\nĐo mật độ quang trên cùng một phía của bề mặt\r\nphim như được sử dụng thường quy.
\r\n\r\nThử nghiệm này bị ảnh hưởng bởi những biến\r\nthiên có thể trong cả điều kiện chiếu xạ và quy trình rửa phim. Do đó điều cốt\r\nyếu là giữ cho ảnh hưởng của cả hai yếu tố ấy là tối thiểu để bảo đảm cho kết quả\r\ncủa thử nghiệm không bị mất giá trị.
\r\n\r\n8.2.2. Thử nghiệm sự ổn định của ảnh ẩn [xem bảng 1 b)]
\r\n\r\nThử nghiệm về độ bền chống phai phải được\r\ntiến hành trên mỗi nhũ tương trong bao phim.
\r\n\r\nĐối với mỗi nhũ tương cần chuẩn bị hai lô mỗi\r\nlô 5 bao phim và đánh dấu các lô bằng chữ A và B, chữ B dùng để chỉ mẫu đối\r\nchứng.
\r\n\r\nChiếu lô A bằng một trong các bức xạ chuẩn\r\n(xem 8.1.4) sao cho mật độ quang ở vùng gần tuyến tính của đường cong đặc trưng\r\ncủa nhũ tương thử nghiệm.
\r\n\r\nBảo quản các lô A và B trong 30 ngày trong\r\nđiều kiện thử nghiệm bình thường. Vào cuối thời gian bảo quản, chiếu lô B với\r\ncùng một giá trị của đại lượng hiệu chuẩn như lô A. Đợi 24 giờ, rửa tất cả các\r\nmẫu phim cùng một lúc.
\r\n\r\n8.2.3. Thử nghiệm độ bền với lão hóa của phim\r\n[xem\r\nbảng 1 c)]
\r\n\r\n8.2.3.1. Lão hóa nhân tạo
\r\n\r\nThử nghiệm này phải tiến hành cho mỗi nhũ tương\r\ntrong bao phim.
\r\n\r\nVới mỗi nhũ tương, chuẩn bị 8 lô phim, mỗi lô\r\n3 bao phim và đánh dấu các lô từ A đến H. Đặt các lô từ A đến D trong 7 ngày\r\ntrong một tủ sấy để mở tiếp xúc với khí quyển (không có chất hút ẩm), ở nhiệt\r\nđộ (50±1)0C và\r\ngiữ các lô E đến H trong điều kiện thử nghiệm bình thường (xem 8.1.3)
\r\n\r\nTrong khoảng từ 4 giờ đến 20 giờ sau khi xử\r\nlý nhiệt, chiếu các lô từ A đến C và các lô E đến G (mẫu đối chứng) bằng một\r\ntrong các bức xạ chuẩn trong các điều kiện sau:
\r\n\r\na) các bao thuộc lô A và E phải nhận được một\r\ngiá trị đại lượng hiệu chuẩn tương đương với một phần tư của dải đo của nhũ tương.
\r\n\r\nb) các bao thuộc lô B và F phải nhận được giá\r\ntrị đại lượng hiệu chuẩn tương đương với nửa dải đó.
\r\n\r\nc) các bao thuộc lô C và G phải nhận được đại\r\nlượng hiệu chuẩn bằng bốn phần năm dải đó.
\r\n\r\nĐặt các bao lô phim D là loại đã được xử lý\r\nnhiệt cùng với các mẫu đối chứng lô H. Hai lô này sẽ không bị chiếu xạ.
\r\n\r\nRửa đồng thời tất cả các phim nói trên. Xác\r\nđịnh giá trị đại lượng hiệu chuẩn cho các lô phim đã được chiếu xạ. Tính riêng\r\ngiá trị trung bình của đại lượng hiệu chuẩn đọc được trên phim đã thử nghiệm và\r\ngiá trị trung bình của đại lượng hiệu chuẩn cho các mẫu đối chứng. So sánh giá\r\ntrị trung bình đó. Xác định và so sánh mật độ quang trung bình của mức mờ đế\r\ncủa hai lô không bị chiếu xạ.
\r\n\r\n8.2.3.2. Lão hóa tự nhiên
\r\n\r\nBảo quản một số bao phim đủ cho các thử\r\nnghiệm được quy định trong bảng 1 a) và b) cho đến một tháng trước ngày hết hạn\r\ntrong điều kiện do nhà sản xuất quy định.
\r\n\r\nTiến hành các thử nghiệm theo quy trình được\r\nquy định trong 8.2.1 và 8.2.2. Kết quả thử nghiệm các yêu cầu quy định trong\r\nbảng 1a) và b).
\r\n\r\n8.2.4. Thử nghiệm ảnh hưởng của năng lượng\r\nphoton lên nhũ tương [xem\r\nbảng 1 d)]
\r\n\r\nThử nghiệm này phải được tiến hành cho mỗi\r\nnhũ tương trong bao phim.
\r\n\r\nĐối với mỗi nhũ tương chuẩn bị hai lô mỗi lô\r\n5 bao phim va đánh dấu các lô ấy bằng chữ A hoặc B. Lô A được chiếu xạ với bức xạ\r\nchuẩn và lô B với năng lượng sao cho độ đáp ứng năng lượng của nhũ tương là cực\r\nđại.
\r\n\r\na) loại 1 và 3: Lô A được chiếu xạ bằng bức xạ\r\ngamma chuẩn (60Co hoặc 137Cs) và lô B với năng lượng E\r\ntrong 8.1.4 với 60 keV (Thí dụ bức xạ Gamma của 241Am hoặc bức xạ "A"\r\ncó năng lượng trung bình 65 keV.
\r\n\r\nb) loại 2: thực hiện theo quy trình trên nhưng\r\nbức xạ chuẩn được chọn trong 8.1.4 phải ở trong dải năng lượng từ 100keV đến\r\n250keV.
\r\n\r\nc) loại 4 và 5: thực hiện theo quy trình trên\r\nnhưng việc chiếu phải được tiến hành với hai nguồn bêta khác nhau theo ISO\r\n6980.
\r\n\r\nGiá trị đại lượng hiệu chuẩn được chọn sao\r\ncho mật độ quang khoảng bằng 1. Tính tỷ số [Q(A)/Q(B)] x [OD(E)/OD(Eref)]\r\ntrong dải đo Q(A) và Q(B) là giá trị đại lượng hiệu chuẩn tương ứng.
\r\n\r\n8.2.5. Thử nghiệm khoảng đo danh định [xem bảng 1 e)]
\r\n\r\n8.2.5.1. Thử nghiệm giới hạn dưới
\r\n\r\nNếu một số nhũ tương có độ nhạy khác nhau được\r\nbỏ cùng vào một bao phim để bao quát cả dải đo thì nhũ tương nhạy nhất cần được\r\nkiểm tra.
\r\n\r\nChiếu xạ 3 bao phim với bằng bức xạ chuẩn sau\r\nđây đến một giá trị đại lượng hiệu chuẩn ở giới hạn dưới.
\r\n\r\na) loại 1 và 3: bức xạ Gamma của 137Cs\r\nhoặc 60Co
\r\n\r\nb) loại 2: năng lượng trung bình 248 keV của\r\nloại bức xạ "A"
\r\n\r\nc) loại 4 và 5: bức xạ bêta 90Sr/90Y
\r\n\r\nRửa đồng thời các phim đã chiếu xạ với 10\r\nphim không chiếu xạ cùng lấy một lô nhũ tương trong điều kiện thử nghiệm chung.
\r\n\r\nĐo mật độ quang của phim không chiếu và xác\r\nđịnh giá trị trung bình và độ lệch chuẩn của phép đo.
\r\n\r\nĐo mật độ quang của các phim đã chiếu và tính\r\ngiá trị trung bình.
\r\n\r\nCộng 2 lần độ lệch chuẩn mật độ quang vào mật\r\nđộ quang của mẫu đối chứng và so sánh với mật độ quang của phim đã chiếu xạ.\r\nGiá trị sau phải lớn hơn giá trị trước.
\r\n\r\n8.2.5.2. Thử nghiệm ở giới hạn trên, có tính\r\nđến sự bão hòa và đảo ngược
\r\n\r\nNếu nhiều nhũ tương có độ nhạy khác nhau cùng\r\nđược cho vào một bao phim để phủ toàn bộ khoảng đo, nhũ tương ít nhất cần phải\r\nđược kiểm tra.
\r\n\r\nChuẩn bị hai lô 3 bao phim đánh dấu A và B. Chiếu\r\nxạ lô A đến một giá trị đại lượng hiệu chuẩn ở giới hạn trên Qul và\r\nlô B đến cùng trị số cộng thêm 0,1Gy, tức là Qul +0,1. Từ mật độ\r\nquang trung bình OD của hai lô, tính độ nhạy S ở giới hạn trên như sau:
\r\n\r\nS = [OD (Qul\r\n+0,1.) - OD(Qul)]/0,1
\r\n\r\n8.2.6. Kiểm tra độ kín sáng của bao phim
\r\n\r\nThử nghiệm này phải được tiến hành trên một\r\nsố bao phim chọn một cách ngẫu nhiên
\r\n\r\nChiếu bao phim bằng ánh sáng của đèn xenon 1000\r\ncd/cm2 trong một giờ ở cách nguồn sáng đủ xa để tránh cho bao phim\r\nkhông chịu nhiệt độ quá 300C. Đặt bề mặt của bao phim vuông góc với\r\nluồng ánh sáng. Sau đó chiếu mặt sau của bao phim trong cùng điều kiện trong\r\nmột giờ. Chiếu mỗi góc của bao phim trong cùng điều kiện. Rửa các bao phim đồng\r\nthời với các mẫu đối chứng và so sánh các mật độ quang xem có vết hoặc sự không\r\nđồng đều của mật độ quang. Đo mật độ quang ở mười điểm khác nhau trên mỗi phim.\r\nTính mật độ quang trung bình và độ lệch chuẩn cho mỗi phim và so sánh các giá\r\ntrị.
\r\n\r\n8.2.7. Kiểm tra độ chống thấm của bao phim\r\nhạng W [xem\r\nbảng 1 g)]
\r\n\r\nThử nghiệm này chỉ được tiến hành trên các\r\nbao phim hạng W.
\r\n\r\nChuẩn bị sáu lô mỗi lô năm bao phim cho mỗi\r\nnhũ tương của bao phim làm thử nghiệm và đánh dấu các lô đó bằng các chữ từ A\r\nđến F.
\r\n\r\nTiến hành các quy trình sau đó trên các lô đã\r\nnói ở trên.
\r\n\r\na) Lô A: chiếu sau đó làm ẩm;
\r\n\r\nb) Lô B: chiếu xạ (không làm ẩm) rồi lưu giữ;
\r\n\r\nc) Lô C: làm ẩm rồi chiếu xạ;
\r\n\r\nd) Lô D: lưu giữ (không làm ẩm) rồi chiếu xạ;
\r\n\r\ne) Lô E: làm ẩm;
\r\n\r\nf) Lô F: không xử lý đặc biệt.
\r\n\r\nChú thích - Các bao phim lô B, D và F dùng\r\nlàm đối chứng cho các lô A, C và E.
\r\n\r\nChiếu các bao phim (lô A và B, sau đó C và D)\r\nvới giá trị đại lượng hiệu chuẩn tương ứng với điểm giữa của dải đo của nhũ tương\r\nthử nghiệm. Làm ẩm các liều kế của các lô A, C và E trong một buồng kín được\r\nthông gió ở nhiệt độ (38 ± 0,5) 0C\r\nvà độ ẩm tương đối (90 ± 2)% trong 7 ngày. Lưu\r\ngiữ các mẫu đối chứng của các lô B, D và F không làm ẩm trong điều kiện thử\r\nnghiệm bình thường.
\r\n\r\nHai thao tác của các lô A và C phải tiến hành\r\nliên tiếp.
\r\n\r\nSáu lô liều kế phải được rửa đồng thời và xác\r\nđịnh giá trị đại lượng hiệu chuẩn cho mỗi lô A, B, C và D và đo mật độ quang\r\ncủa các lô E và F.
\r\n\r\nTính giá trị trung bình cho mỗi một lô trong\r\nsáu lô và xác định sự khác biệt giữa:
\r\n\r\n- lô A và B để xác định độ phai của ảnh ẩn;
\r\n\r\n- lô C và D để xác định sự biến thiên của độ\r\nnhạy;
\r\n\r\n- lô E và F để xác định sự biến thiên mật độ\r\nquang của mức đế.
\r\n\r\n8.2.8. Kiểm soát chất lượng bộ lọc [xem bảng 1 h)]
\r\n\r\nThử nghiệm này phải được tiến hành hoặc trên\r\nvật liệu lọc hoặc trên các giá kẹp phim đã được sản xuất.
\r\n\r\n8.2.8.1. Thử nghiệm độ đồng đều vật liệu lọc
\r\n\r\nKẹp một bộ 10 mẫu có cùng kích thước bộ lọc được\r\ncắt từ những điện tích không tiếp giáp nhau của các tấm dùng để sản xuất bộ lọc\r\nvới 10 bao phim. Chiếu xạ các tổ hợp bộ lọc - phim ấy trong không khí bằng bức\r\nxạ chuẩn theo 8.1.4 có năng lượng giữa 33 keV và bức xạ gamma từ 137Cs/60Co,\r\nthích hợp với vật liệu lọc thử nghiệm.
\r\n\r\nPhải chọn giá trị của đại lượng hiệu chuẩn\r\nsao cho mật độ quang có kết quả là 1,0 ±\r\n0,5.
\r\n\r\nTrên mỗi nhũ tương, đo mật độ quang ở 10 điểm\r\nkhác nhau phân bố đều trên bề mặt. Tính mật độ quang trung bình trên diện tích\r\nlọc của mỗi phim. Thử nghiệm này phải được lặp lại cho mỗi loại bộ lọc mỗi khi\r\ndùng bộ lọc mới hoặc giá kẹp mới.
\r\n\r\nChú thích - Dạng thử nghiệm này cũng có thể\r\ntiến hành với các giá kẹp phim mới được sản xuất. Vì đối với một trường lọc\r\nthông thường chỉ cần đo mật độ quang một lần đối với giá kẹp, thử nghiệm phải được\r\ntiến hành trên ít nhất 50 giá kẹp chọn ngẫu nhiên, thí dụ từ một lần cung cấp\r\nmới để có một kết quả có nghĩa.
\r\n\r\n8.2.8.2. Kiểm tra hoạt độ phóng xạ
\r\n\r\nTrong trường hợp bộ lọc có thể chứa vật liệu\r\nphóng xạ (thí dụ bộ lọc bằng thiếc hoặc chì) cần kiểm tra xem bức xạ từ hạt\r\nnhân phóng xạ này có tạo ra mật độ quang đo được hay không.
\r\n\r\nChuẩn bị hai lô mỗi lô 5 bao phim ký hiệu là\r\nA và B. Đặt các bao phim A vào giá kẹp hoặc kẹp và các tấm lọc và đặt cả hai lô\r\nA và B (mẫu đối chứng) ở điều kiện thử nghiệm (xem 8.1.3) trong thời kỳ bình thường.\r\nĐem rửa các phím cùng một lúc. Đo mật độ quang cho mỗi phim dưới bộ lọc được xem\r\nxét. Tính giá trị trung bình và so sánh kết quả của phim thử nghiệm với phim\r\nđối chứng.
\r\n\r\n8.2.9. Kiểm tra sự phụ thuộc góc của độ đáp\r\nứng của liều kế: [xem\r\nbảng 1 i)]
\r\n\r\nĐối với mỗi nhũ tương, thử nghiệm phải được\r\ntiến hành đối với các liều kế chiếu trên một phantom. Góc tới của bức xạ phải ở\r\ntrong hai mặt phẳng vuông góc với nhau - một mặt phẳng đi qua trục đối xứng của\r\nliều kế song song với cạnh ngắn của liều kế và mặt phẳng kia đi qua trục đối\r\nxứng song song với cạnh dài của liều kế. Trong mỗi trường hợp, góc tới cố định\r\nđược sử dụng cho các bức xạ phải là 00, 300, 450\r\nvà 600 với các liều kế chiếu xạ trên một phantom ở một khoảng cách\r\ncố định đủ lớn để bảo đảm một trường bao quát tất cả bề mặt phantom.
\r\n\r\nChuẩn bị 7 lô mỗi lô 3 liều kế ký hiệu bằng các\r\nchữ A đến G. Tất cả các liều kế phải được chiếu xạ tương tự như nhau với một\r\ngiá trị tương đương liều cá nhân tạo ra mật độ quang trong khoảng tuyến tính\r\ncủa đường đặc trưng của nhũ tương. Lô A chiếu xạ ở 00 (bức xạ đi tới\r\nthẳng góc), lô B và C ở 300 quanh cạnh dài và ngắn của liều kế. Các\r\nlô D và E được chiếu xạ tương tự với góc 450 và F và G với góc 600.\r\nCác bức xạ chuẩn (xem 8.1.4) sau đây sẽ được sử dụng:
\r\n\r\na) loại 1: năng lượng trung bình 248 keV của\r\nloại bức xạ "A" và bức xạ gamma của 137Cs hoặc 60Co.
\r\n\r\nb) loại 2: năng lượng trung bình 65 keV của\r\nloại bức xạ "A" hoặc 241Am và 248 keV của loại bức xạ\r\n"A"
\r\n\r\nc) loại 3: năng lượng trung bình 65 keV của loại\r\nbức xạ "A" hoặc 241Am và bức xạ gamma của 137Cs\r\nhoặc 60Co.
\r\n\r\nd) loại 4: bức xạ bêta 204Tl và 90Sr/90Y\r\n(xem ISO 6980)
\r\n\r\ne) loại 5: không yêu cầu thử nghiệm.
\r\n\r\nĐối với năng lượng bức xạ E cho trước, tính\r\ntỷ số độ đáp ứng của liều kế ở góc a\r\nR(E, a) với độ nhạy ở góc tới\r\nbình thường R(E, 0). Giá trị thực quy ước được sử dụng để tính độ nhạy được thu\r\ntừ hệ số hiệu chỉnh góc f(d,E, a)\r\ncho trong bảng A.2. Độ sâu d bằng 0,07mm hoặc 10mm.
\r\n\r\nChú thích - Để tránh sai số tuyệt đối trong\r\nxác định liều tương đương, kết quả thử nghiệm trên phải được biểu thị bằng các\r\ntỷ số không thứ nguyên.
\r\n\r\n8.2.10. Kiểm tra ảnh hưởng của chiếu xạ từ\r\nphía sau [xem\r\nbảng 1 j)]
\r\n\r\nThử nghiệm này được tiến hành trên một phantom.\r\nCác bức xạ chuẩn sau đây (xem điều 8.1.4) phảI được sử dụng:
\r\n\r\na) loại 1 và 3: bức xạ gamma 137Cs\r\nhoặc 60Co
\r\n\r\nb) loại 2: tia X có năng lượng trung bình\r\ngiữa 100keV và 248keV
\r\n\r\nc) loại 4 và 5: bức xạ bêta 90Sr /\r\n90Y (xem ISO 6980)
\r\n\r\nDùng hai lô mỗi lô 3 bao phim đánh dấu các\r\nchữ A và B. Đặt lô A lên giá kẹp và chiếu chúng trên một phantom ở khoảng cách\r\ncố định tới nguồn cho đến giá trị tương đương liều cá nhân ứng với khoảng gần\r\ntuyến tính của đường cong đặc trưng. Lặp lại quy trình này với cùng giá kẹp,\r\nthay các bao phim bằng bao của lô B và chiếu chúng sau khi đã quay các giá kẹp\r\n1800 (chiếu xạ từ phía sau)
\r\n\r\nTính giá trị riêng biệt trung bình của độ đáp\r\nứng cho các liều kế được chiếu xạ từ mặt trước và những liều kế đã chiếu xạ từ\r\nmặt sau. So sánh các giá trị trung bình đó.
\r\n\r\n8.2.11. Kiểm tra sự phụ thuộc năng lượng độ\r\nđáp ứng của liều kế [xem\r\nbảng 1k)]
\r\n\r\nĐối với mỗi nhũ tương và mỗi loại bức xạ và\r\nnăng lượng, thử nghiệm phải được tiến hành với các liều kế được chiếu xạ trên\r\nmột phantom, với chiếu xạ bình thường.
\r\n\r\nNăm liều kế được lựa chọn ngẫu nhiên sẽ được\r\nchiếu xạ như nhau đến một giá trị tương đương liều cá nhân dùng các bức xạ\r\nchuẩn sau đây (xem 8.1.4):
\r\n\r\na) loại 1: năng lượng trung bình 248 keV của\r\nloại bức xạ "A" và bức xạ gamma 137Cs hoặc 60Co.
\r\n\r\nb) loại 2: năng lượng trung bình 33 keV của\r\ncác loại bức xạ "A":
\r\n\r\n- năng lượng trung bình 58 keV của loại bức\r\nxạ "B" hoặc bức xạ gamma 241Am.
\r\n\r\n- năng lượng trung bình 79 keV của loại bức\r\nxạ "B"
\r\n\r\n- năng lượng trung bình 134 keV của loại bức\r\nxạ "B"
\r\n\r\n- năng lượng trung bình 248 keV của loại bức\r\nxạ "A"
\r\n\r\nc) loại 3: cũng như đối với loại 2 nhưng thêm\r\nbức xạ gamma của 137Cs hoặc 60Co.
\r\n\r\nd) loại 4: bức xạ bêta của 204Tl và 90Sr/90Y\r\n(xem ISO 6980)
\r\n\r\ne) loại 5: không yêu cầu thử nghiệm
\r\n\r\nĐối với mỗi bức xạ chuẩn, giá trị thực quy ước\r\ncủa tương đương liều cá nhân (đâm xuyên hoặc bề mặt) trong phantom dùng cho các\r\nthử nghiệm này H'p(d, E,O) thu được từ giá trị Q(E,O) của đại lượng\r\nhiệu chuẩn Kerma không khí hoặc liều hấp thụ trong mô được cho bởi công thức\r\nsau:
\r\n\r\nH'p(d,E,O)\r\n= Q(E,O) c (d,E 0)
\r\n\r\ntrong đó c (d,E 0) là hệ số chuyển đổi trung\r\nbình trọng số để chuyển từ đại lượng hiệu chuẩn tương ứng Q(E,0) sang tương đương\r\nliều cá nhân cho phổ năng lượng của bức xạ chuẩn có hướng tới bình thường (00).
\r\n\r\nGiá trị của c(d,E,0) ở độ sâu d = 0,07 mm và\r\nd=10mm trong phanton phiến mô ICRU như là hàm số của loại bức xạ (photon, bức\r\nxạ bêta) và năng lượng E cho trong phụ lục A.
\r\n\r\n\r\n\r\nLiều kế phải có cách nhận biết đơn giản, đơn\r\nnhất và chắc chắn. Quy trình ghi nhãn không được làm hỏng gián tiếp hoặc trực\r\ntiếp những phần có ích của nhũ tương, cũng không được làm thay đổi mật độ\r\nquang.
\r\n\r\n10. Ghi nhãn và tài\r\nliệu kèm theo
\r\n\r\n10.1. Ghi nhãn
\r\n\r\n10.1.1. Ghi nhãn riêng
\r\n\r\nBao phim phải có ghi nhãn cần thiết để xác\r\nđịnh nguồn gốc, hạn dùng và đặc trưng độ đáp ứng của liều kế cho mục đích sử\r\ndụng.
\r\n\r\n10.1.2. Ghi nhãn chung
\r\n\r\nTrên mỗi hộp (hoặc một lô) bao phim hoặc thì\r\ntrên một giấy kèm theo cần phải có các thông tin sau đây:
\r\n\r\na) tên thương hiệu của nhà sản xuất;
\r\n\r\nb) ký hiệu đầy đủ (hạng, đơn vị, loại);
\r\n\r\nc) số lô hoặc số mẻ của nhà sản xuất;
\r\n\r\nd) hạn dùng.
\r\n\r\n10.2. Tài liệu kèm theo
\r\n\r\nTài liệu kèm theo mỗi hộp hoặc công ten nơ\r\nkhác phải có ít nhất có các thông tin sau đây, nếu như không ghi trên bao bì:
\r\n\r\na) ký hiệu đầy đủ (xem 5.2);
\r\n\r\nb) tên và thương hiệu của nhà sản xuất;
\r\n\r\nc) dải đo của các bao phim;
\r\n\r\nd) phương pháp xử lý.
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
(quy định)
\r\n\r\nHệ\r\nsố chuyển đổi và hệ số hiệu chỉnh góc
\r\n\r\nTrong tiêu chuẩn này, kerma không khí Ka\r\nđối với photon và liều hấp thụ trong không khí Da được xem là đại lượng\r\nhiệu chuẩn cho hầu hết các thử nghiệm. Để thử nghiệm sự phụ thuộc góc và năng lượng\r\nđộ đáp ứng của liều kế, đại lượng thao tác tương đương liều cá nhân Hp(d) cả\r\nđâm xuyên lẫn bề mặt được sử dụng theo khuyến nghị của ICRU (xem ICRU47).
\r\n\r\nCác hệ số sau đây c(d,E,a) chuyển đổi Ka cho photon,\r\nvà Da cho bức xạ bêta sang tương đương liều cá nhân cho trước với độ\r\nsâu d = 0,07mm và 10mm trong phiến tấm dạng mô ICRU. Phantom này có kích thước\r\n30cm x 30cm x 15cm, có thành phần khối lượng là 76,2% oxy và 11,1% cacbon,\r\n10,1% hyđro và 2,6% nitơ và có mật độ bằng 1. Các hệ số c(d,E,a) phụ thuộc vào loại bức xạ (photôn hoặc\r\nbức xạ \r\n\r\n
\r\n \r\n \r\n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n
|
c(d,E,a) = c(d, E,0) x f(d,E,a)
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nc(d,E,0) là hệ số chuyển đổi cho bức xạ tới bình\r\nthường;
\r\n\r\nf(d,E,a)\r\nlà hệ số hiệu chỉnh độ dày d cho trước, năng lượng E và góc a.
\r\n\r\nGiá trị hệ số chuyển đổi c(d,E,0) đối với\r\nphoton được cho trong bảng A1 là lấy từ ISO 4037-2 và cho nguồn bêta được lấy\r\ntừ ISO 6980.
\r\n\r\nSự phụ thuộc của độ đáp ứng góc f(d,E,a) được cho trong bảng A.2. Các giá trị\r\nđối với photon được tính bằng cách dùng các tài liệu tham khảo [2]. Các giá trị\r\ncủa nguồn bêta lấy từ ISO 6980. Cần phải ghi nhận rằng chúng phụ thuộc rất\r\nnhiều vào khoảng cách đến nguồn.
\r\n\r\nĐể hiệu chuẩn trong thực tế hoặc để xác định\r\nđộ đáp ứng của liều kế cá nhân đối với photon hoặc bức xạ bêta cần phải dùng\r\nmột phantom PMMA kích thước 30 cm x 30 cm x 15cm. Để chiếu xạ, liều kế cá nhân\r\nphải được gắn vào mặt trước của phantom. Không cần có hiệu chỉnh nào cho số đọc\r\ncủa một liều kế cá nhân gắn vào bề mặt của phantom đó do sự khác nhau giữa tán\r\nxạ ngược giữa phantom đó và phantom phiến (slab phantom) mô cùng kích thước.
\r\n\r\nBảng A.1 - Hệ số\r\nchuyển đổi c(d,\r\nE,0)\r\ncủa tương đương liều cá nhân sang kerma không khí đối với tia X được lọc và đối\r\nvới bức xạ gamma chuẩn được quy định trong ISO 4037 - 1 khi bức xạ tới bình thường
\r\n\r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n\r\n Loại bức xạ \r\n | \r\n Năng lượng trung\r\n bình\r\n keV \r\n | \r\n C (0,07, E,0) \r\n | \r\n C(10, E,0) \r\n |
\r\n Phổ hẹp \r\nA40 \r\nA60 \r\nA80 \r\nA100 \r\nA120 \r\nA150 \r\nA200 \r\nA250 \r\nA300 \r\nPhổ rộng \r\nB60 \r\nB80 \r\nB110 \r\nB150 \r\nB200 \r\nB250 \r\nB300 \r\nHạt nhân phóng xạ \r\n241Am \r\n137Cs \r\n60Co \r\nBức xạ bê ta \r\n204Tl \r\n90Sr/90Y \r\n | \r\n \r\n 33 \r\n48 \r\n65 \r\n83 \r\n100 \r\n118 \r\n163 \r\n205 \r\n248 \r\n\r\n 45 \r\n58 \r\n79 \r\n104 \r\n134 \r\n169 \r\n202 \r\n\r\n 59,54 \r\n661,6 \r\n1173,2 và 1332,5 \r\n\r\n 240 \r\n570 \r\n | \r\n \r\n 1,29 \r\n1,57 \r\n1,72 \r\n1,71 \r\n1,67 \r\n1,61 \r\n1,49 \r\n1,42 \r\n1,37 \r\n\r\n 1,52 \r\n1,65 \r\n1,71 \r\n1,65 \r\n1,56 \r\n1,48 \r\n1,43 \r\n\r\n 1,72 \r\n1,21 \r\n1,18 \r\n\r\n 1,12 \r\n1,19 \r\n | \r\n \r\n 1,22 \r\n1,68 \r\n1,89 \r\n1,87 \r\n1,80 \r\n1,72 \r\n1,57 \r\n1,48 \r\n1,42 \r\n\r\n 1,60 \r\n1,80 \r\n1,87 \r\n1,78 \r\n1,66 \r\n1,56 \r\n1,49 \r\n\r\n 1,88 \r\n1,22 \r\n1,18 \r\n |
\r\n Chú thích - Trong trường hợp bức xạ bê ta,\r\n đại lượng kerma không khí được thay bằng liều hấp thụ trong không khí (IEC\r\n 846) \r\n |
Bảng A.2 - Hệ số hiệu\r\nchỉnh góc f(d,E,a) áp dụng cho hệ số\r\nchuyển đổi trong bảng A.1
\r\n\r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n\r\n Bức xạ \r\n | \r\n a = 0 \r\n | \r\n a = 300 \r\nd = 0,07 mm \r\n | \r\n a = 300 \r\nd =10 mm \r\n | \r\n a = 450 \r\nd = 0,07 mm \r\n | \r\n a = 450 \r\nd =10 mm \r\n | \r\n a = 600 \r\nd = 0,07 mm \r\n | \r\n a = 600 \r\nd = 10 mm \r\n | \r\n Thuộc loại \r\n |
\r\n 241Am/A65 \r\nA248 \r\n137Cs \r\n60Co \r\n90Sr/90Y \r\n | \r\n 1,00 \r\n1,00 \r\n1,00 \r\n1,00 \r\n1,00 \r\n | \r\n 0,98 \r\n1,00 \r\n1,01 \r\n1,00 \r\n1,05 \r\n | \r\n 0,97 \r\n0,98 \r\n1,00 \r\n0,99 \r\n- \r\n | \r\n 0,95 \r\n1,00 \r\n1,01 \r\n1,00 \r\n1,13 \r\n | \r\n 0,90 \r\n0,94 \r\n0,98 \r\n0,99 \r\n- \r\n | \r\n 0,89 \r\n0,99 \r\n1,02 \r\n1,01 \r\n1,19 \r\n | \r\n 0,77 \r\n0,86 \r\n0,95 \r\n0,97 \r\n- \r\n | \r\n 2 và 3 \r\n1 và 2 \r\n1 và 3 \r\n1 và 3 \r\n4 và 5 \r\n |
\r\n Chú thích - Hệ số chỉ cho đối với các chất\r\n lượng bức xạ cần thiết trong các thử nghiệm của tiêu chuẩn này. A65 và A248 dùng\r\n cho năng lượng trung bình của tia X thuộc loại loại "A" (xem\r\n 8.1.4). \r\n |
\r\n\r\n\r\n\r\n
(tham khảo)
\r\n\r\nĐánh\r\ngiá liều photon bằng liều kế phim dùng cho cá nhân
\r\n\r\nB.1. Quy định chung
\r\n\r\nB.1.1. Trong việc xác định đặc trưng quy định kỹ\r\nthuật yêu cầu đối với liều kế phim, điều 7 đã phân biệt rõ trách nhiệm trước\r\nhết là của nhà sản xuất phim, thứ hai là của nhà sản xuất giá kẹp phim và thứ\r\nba là của tổ chức chịu trách nhiệm lựa chọn phim, giá kẹp và phương pháp đánh\r\ngiá liều.
\r\n\r\nCác thử nghiệm riêng rẽ phải được quy định\r\ncho mỗi đối tượng trên.
\r\n\r\nMỗi khi tổ chức thứ ba đã chọn giá kẹp fim mà\r\nhọ muốn sử dụng, họ phải quyết định phương pháp đánh giá liều. Một số phương pháp\r\ncó thể dùng được và mục đích của phụ lục này là đưa ra thông tin và thí dụ về\r\nphương pháp thích hợp.
\r\n\r\nB.1.2. Độ nhạy đối với photon của phim không có bộ lọc\r\nthay đổi rõ rệt theo năng lượng bức xạ do sự hấp thụ của bản thân phim và bao bì\r\ncủa nó. Đặc biệt tỷ số giữa độ nhạy đối với tia X năng lượng trung bình và tia\r\ngamma năng lượng cao vào khoảng 20 đến 50. Do đó nếu liều kế được dùng để đo\r\nliều cá nhân, phải có biện pháp để khắc phục khó khăn đó.
\r\n\r\nThông thường phim được đặt bên trong một cái\r\ngiá kẹp có chứa một số cái lọc kim loại và chất dẻo. Những bộ lọc này làm thay\r\nđổi độ nhạy của phim đặt ở dưới chúng và hình ảnh thu được trên phim thực sự được\r\ndùng để thu được thông tin về bức xạ đi tới, để có thể điều chỉnh được độ nhạy\r\ncủa phim nhằm thu được độ đáp ứng đồng đều đối với năng lượng. Loại liều kế này\r\nđược xem là liều kế chọn lọc vì ngoài thông tin về liều chiếu nó có thể cho\r\nthông tin định tính về chiếu xạ. Thí dụ hình ảnh bộ lọc có thể được dùng để cho\r\nthông tin về loại bức xạ và năng lượng của nó.
\r\n\r\nCác liều kế phim dùng cho cá nhân vẫn đang được\r\nsử dụng rộng rãi trên thế giới vào mục đích đo liều cá nhân và nhiều mẫu thiết\r\nkế giá kẹp phim đang được sử dụng. Do đó vấn đề này chỉ có thể đề cập đến ở đây\r\nmột cách tổng quát với một mẫu thiết kế đặc biệt làm thí dụ.
\r\n\r\nB.2. Đại lượng bức xạ
\r\n\r\nĐại lượng bức xạ mà liều kế yêu cầu phải đo\r\nsẽ ảnh hưởng đến cách thiết kế giá kẹp, phương pháp thử nghiệm và phương pháp\r\nđánh giá.
\r\n\r\nNếu yêu cầu đo một đại lượng thu nhận như đại\r\nlượng thao tác ICRU (xem tài liệu tham khảo [4] Hp(10) và Hp(0,07)\r\nthì việc thử nghiệm mẫu phải được tiến hành trên một phantom thích hợp và liều\r\nkế phải được thiết kế đo được sự tán xạ ngược từ giá để phim. Một khả năng khác\r\nlà yêu cầu đo độ chiếu xạ, kerma không khí hoặc liều hấp thụ trong mô trên bề\r\nmặt của cơ thể. Trong trường hợp ấy liều kế cũng phải được thiết kế để phản ứng\r\nđược với sự tán xạ ngược và nó phải được thử nghiệm trên một phantom thích hợp.
\r\n\r\nB.3. Đường cong đặc trưng
\r\n\r\nMột phần quan trọng của việc đánh giá liều\r\nvới một liều kế phim dùng cho cá nhân là đường cong đặc trưng của nhũ tương\r\n(xem tài liệu tham khảo [7]). Độ chiếu xạ có thể được biểu thị bằng bất kỳ đại\r\nlượng bức xạ cho bất kỳ chất lượng bức xạ nào. Thí dụ đại lượng kerma không khí\r\ncho bức xạ năng lượng cao, tức là bức xạ gamma của 226Ra, 60Co\r\nhoặc 127Cs có thể được chọn và mật độ quang được đo dưới diện tích được\r\nlọc nhiều nhất của phim. Liều tương ứng với mật độ quang được gọi là liều biểu\r\nkiến. Sau đó trong bất kỳ sự đánh giá liều, tất cả các mật độ quang phải chuyển\r\nđổi sang liều biểu kiến đọc được trên đường cong.
\r\n\r\nB.4. Độ đáp ứng đặc trưng của diện tích lọc riêng\r\nbiệt của liều kế
\r\n\r\nSự phát triển của phương pháp đánh giá dựa trên\r\ncác số liệu liên quan đến sự biến thiên của độ đáp ứng theo năng lượng các vùng\r\nlọc của liều kế (xem tài liệu tham khảo [4])
\r\n\r\nQuy trình để thu được số liệu đó có thể được\r\nminh họa bằng cách dùng một thí dụ là sự chiếu xạ các liều kế bằng photon để có\r\nsố lượng Hp(10) dựa trên một tài liệu CEC (xem tài liệu tham khảo [5] và chú\r\nthích 6 như sau:
\r\n\r\na) chọn một bức xạ chuẩn ISO và chuẩn bị một\r\nchùm tia bức xạ với buồng ghi đã được hiệu chuẩn (xem hình B.1.)
\r\n\r\nb) thiết kế chuẩn trực sao cho buồng ghi,\r\nphantom phiến (slab phantom) và các liều kế có thể hoàn toàn bao bọc bởi chùm\r\nbức xạ. Phantom và các liều kế phải được chiếu xạ ở cách nguồn ít nhất là 2m.
\r\n\r\nc) khi không có phantom phiến và liều kế và\r\nvới một chỉ số cho trước trên buồng theo dõi, đo kerma không khí (Ka)\r\nở vị trí trung tâm của mặt trước của phantom trong thời gian chiếu xạ thực sự.
\r\n\r\nd) nhân kerma không khí với hệ số chuyển đổi thích\r\nhợp (C) cho Hp(10,a).\r\nLiều tương đương cho Hp(10,a)\r\nđược cho bởi (KaC)/M cho đại lượng Hp(10,a). Hệ số hiệu chuẩn (A) của buồng ghi\r\nlà A = (KaC)/M.
\r\n\r\ne) đặt phantom phiến và liều kế vào chùm tia\r\nsao cho chùm tới của các liều kế theo góc a\r\nvà với thể tích nhạy của liều kế trên trục của chùm tia ở vị trí nơi đo kerma không\r\nkhí trong C) nói trên [xem hình B.1b)]
\r\n\r\nf) cho một giá trị thích hợp của tương đương\r\nliều Hp(10) đối với liều kế. Chiếu xạ liều kế cho đến khi buồng theo\r\ndõi chỉ một giá trị của M = Hp(10)A.
\r\n\r\ng) xử lý liều kế và xác định liều dưới các bộ\r\nlọc thích hợp từ đường cong đặc trưng và so sánh kết quả với giá trị thực quy ước\r\nHp(10,a).
\r\n\r\n6) Việc hiệu chuẩn và thử nghiệm loại liều kế được\r\nnêu trong ISO/TC85/SC2. Đồng thời các thông tin sau được lấy từ tài liệu CEC và\r\ndùng để minh họa. Thông tin về các hệ số Ka sang Hp(10) được\r\ntrình bày tóm tắt bởi nhóm công tác ICRP/ICRU.
\r\n\r\nChú thích - Nếu một số liều kế cùng được\r\nchiếu xạ đồng thời theo cách trên, cần có sự điều chỉnh sự không đồng đều\r\nkhoảng cách đến nguồn đối với các liều kế nằm ngoài trục của chùm tia.
\r\n\r\nNên quay phantom vào điểm giữa của chùm tia\r\nđể liều kế được chiếu xạ ở góc a,\r\nnhư vậy sự chiếu xạ sẽ là trung bình giữa hai hướng ±a.
\r\n\r\nh) lặp lại quy trình trên cho các bức xạ\r\nchuẩn ISO trên toàn bộ dải năng lượng yêu cầu.
\r\n\r\nSử dụng phương pháp trên cùng với đường đặc\r\ntrưng được mô tả trong B.3, đường cong độ nhạy cho mỗi diện tích lọc theo Hp(10)\r\ncó thể thu được tương ứng với mỗi bức xạ dùng để tạo ra đường cong như một hàm\r\nsố của năng lượng photon. Cùng số liệu ấy có thể thu được cho nhiều góc tới\r\nkhác nhau (tài liệu tham khảo [5] khuyến cáo góc 00, 200,\r\n400 và 600). Một đường cong tương tự cho đại lượng Hp(0,07)\r\ncó thể thu được theo cách tương tự bằng cách dùng hệ số chuyển đổi cho đại lượng\r\nnày.
\r\n\r\nHình B.1 - Bố trí\r\nchiếu xạ để thử nghiệm loại liều kế
\r\n\r\nB.5. Thí dụ về cách triển khai phương pháp\r\nđánh giá liều
\r\n\r\nB.5.1. Cho Hp(10) và Hp(0,07)
\r\n\r\nLiều kế phim của Anh NRPB/AERE (xem tài liệu\r\ntham khảo [7]) đã thử nghiệm mẫu được mô tả trong 8.4, mặc dù liều kế trong trường\r\nhợp này đã được chiếu trong phạm vi ICRU.
\r\n\r\nGiá kẹp này chủ yếu bao gồm bốn loại bộ lọc:\r\nmột bộ lọc kết hợp thiếc/chì dùng cho tia X năng lượng cao (Sn/Pb), một bộ lọc\r\nbằng đuara dùng cho tia X năng lượng trung bình, một bộ lọc bằng chất dẻo dày\r\n300 mg.cm-2(P300) cho tia X năng lượng thấp và bức xạ bêta năng lượng\r\ncao và một bộ lọc chất dẻo dày 50 mg.cm-2 (P50)cho bức xạ bêta năng\r\nlượng thấp.
\r\n\r\nCác số liệu độ nhạy tương đối năng lượng thấp\r\ncho Hp(10) dùng cho liều kế này với các góc tới 00, 300, 600\r\nđược ghi trên hình B.2. Trong trường hợp đặc biệt này đường cong đặc trưng trên\r\nmật độ quang ở dưới bộ lọc Sn/Pb chiếu xạ bởi bức xạ Gamma của 226Ra.
\r\n\r\nSau khi thu được các số liệu như trong hình\r\nB.2, thuật toán bao hàm tổng số tuyến tính của các liều biểu kiến dưới tất cả hoặc\r\nmột số diện tích của bộ lọc thường được phát triển bằng phương pháp thực nghiệm\r\nhoặc giải tích để cho một độ đáp ứng tương đối đồng đều cho Hp(10)\r\nvới năng lượng photon. Tương tự có thể thu được cho Hp(0,07). Sử\r\ndụng cùng một thí dụ ấy, tức là liều kế NRPB/AERE, có thể rút ra các thuật toán\r\nsau đây:
\r\n\r\na) dải năng lượng 20 keV đến 1250 keV:
\r\n\r\nHp(10) hoặc Hp (0,07) =\r\nCn[Ka(Sn/Pb)+ 0,111 Ka (P300) - 0,1 Ka\r\n(Dura)]
\r\n\r\nb) dải năng lượng < 20 keV [trong ấy Ka\r\n(P 300)/Ka(Dura 0>4]
\r\n\r\nHp (10) = Cn [0,04 Ka\r\n(P 300)]
\r\n\r\nHp (0,07) = Cn {0,3 Ka\r\n(Dura + 0,61 Ka (P 50) - 0,6 Ka (P 300)]
\r\n\r\ntrong đó -
\r\n\r\nCn là hằng số phụ thuộc vào hạt\r\nnhân phóng xạ hiệu chuẩn.
\r\n\r\nC137Cs = 1,07
\r\n\r\nC226Ra = 1,20
\r\n\r\nC60Co = 1,16
\r\n\r\nChú thích 1 - Các giá trị trên đối với Cn\r\nđược chuẩn hóa cho độ đáp ứng bằng 1 đối với bức xạ gamma của 137Cs.
\r\n\r\nKa (Sn/Pb) là kerma không khí biểu\r\nkiến của bức xạ gamma bằng gray (Gy) dưới bộ lọc Sn/Pb.
\r\n\r\nKa (Dural) là kerma không khí biểu\r\nkiến của bức xạ gamma bằng gray (Gy) dưới bộ lọc dura.
\r\n\r\nKa (P300) là kerma không khí biểu\r\nkiến của bức xạ gamma bằng gray (Gy) dưới bộ lọc P300.
\r\n\r\nKa (P50) là kerma không khí biểu\r\nkiến của bức xạ gamma bằng gray (Gy) dưới bộ lọc P50.
\r\n\r\n\r\nSn/Pb
\r\n\r\nHình B.2 - Đặc trưng\r\nđộ đáp ứng lọc Hp(10)\r\nở góc đi tới 00, 300, 600
\r\n\r\nChú thích 2 - Hằng số Cn trong\r\ncông thức trên có thể áp dụng cho kerma không khí biểu kiến dưới các bộ lọc có\r\nthể hiệu chuẩn theo đại lượng kerma không khí ở góc đi tới bình thường và độ\r\nđáp ứng Hp(10) và Hp(0,07) hiệu chuẩn được lấy bằng 1 cho\r\nbức xạ gamma của 137Cs ở góc đi tới 00.
\r\n\r\nĐặc trưng độ đáp ứng của liều kế với năng lượng\r\nphoton đối với phép đo Hp(10) và Hp(0,07) với bức xạ có\r\ngóc đi tới liều kế 00, 300,600 được cho trong\r\nhình B.3, tương ứng với độ đáp ứng cho bức xạ gamma của 137Cs.
\r\n\r\nCEC đã khuyến cáo rằng số liệu về độ đáp ứng\r\ntoàn bộ của liều kế được xác định bằng cách lấy trung bình độ đáp ứng các góc đi\r\ntới 00, 300, 400 và 600. Lấy trung\r\nbình của các giá trị cho 00, 300 và 600 trong\r\nhình B.3, thu được tính năng của liều kế được cho trong hình B.4.
\r\n\r\nCác phương pháp ngoài với phương pháp sử dụng\r\nthuật toán đã có sẵn để dùng. Thí dụ tỷ số giữa các liều kế biểu kiến dưới hai\r\ndiện tích bộ lọc cũng có thể dùng để ước tính năng lượng bức xạ. Khi ấy hệ số\r\nhiệu chỉnh có thể được dùng cho liều biểu kiến dưới một trong số bộ lọc để thu\r\nđược liều xác định.
\r\n\r\nB.5.2. Đối với chiếu xạ, kerma không khí hoặc\r\nliều hấp thụ bởi mô trên bề mặt cơ thể
\r\n\r\nNếu liều kế được thiết kế để đáp ứng chính\r\nxác với sự tán xạ ngược từ cơ thể người mang liều kế thì liều kế phải được hiệu\r\nchuẩn trên một phantom dùng những hệ số thích hợp để chuyển đổi thông lượng\r\nphoton của chùm tia thành liều trên bề mặt của phantom. Độ đáp ứng dưới mỗi\r\nvùng của bộ lọc được yêu cầu tương ứng với đường cong đặc trưng. Các thuật toán\r\ncần được xây dựng để đảm bảo độ đáp ứng đồng đều với đại lượng mong muốn cho\r\ncác năng lượng photon và góc tới khác nhau.
\r\n\r\nB.6. Hiệu chuẩn thường quy
\r\n\r\nHiệu chuẩn thường quy được tiến hành để hiệu chuẩn\r\nmỗi lô phim và mỗi quy trình xử lý nhằm bảo đảm độ nhạy không đổi của hệ thống.\r\nĐiều này được thực hiện bằng cách xây dựng lại đường cong đặc trưng cho mỗi lô\r\nphim từ nhà cung cấp. Sau đó thu được liều tia gamma biểu kiến dưới các bộ lọc\r\nkhác nhau từ đường cong đặc trưng thích hợp sẽ tự động chuẩn hóa độ nhạy của hệ\r\nthống và giữ nó không đổi từ lô nhũ tương này sang lô nhũ tương khác. Phải xem\r\nxét đến bất kỳ thay đổi nào về hình dạng của đường cong đặc trưng bằng phương\r\npháp này.
\r\n\r\nGóc tới:
\r\n\r\n\r\n00
\r\n\r\nD\r\n300
\r\n\r\nÑ\r\n600
\r\n\r\nHình B.3 - Độ đáp ứng\r\ncủa liều kế Hp(10)\r\nvà Hp(0,07) tương ứng với độ đáp ứng đối với bức xạ gamma của\r\n137Cs
\r\n\r\nD\r\nHp(10)
\r\n\r\nO\r\nHp(0,07)
\r\n\r\nHình B.4 - Độ đáp ứng\r\ntrung bình cho Hp(10)\r\nvà Hp(0,07)
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
(tham khảo)
\r\n\r\n\r\n\r\n[1] SCHAFFLER.D and KRAMER H.M. Dosimetry in\r\nhigh-energy photon fields for the calibration of the measuring instruments for\r\nirradiation protection purposes. PTB-Dos-18, 1989.
\r\n\r\n(Liều kế trong trường photon năng lượng cao để\r\nhiệu chuẩn thiết bị đo đối với mục đích an toàn trong chiếu xạ).
\r\n\r\n[2] GROSSWENDT B. The angular dependence and irradiation\r\ngeometry factor for the dose equivalent for photons in slab phantoms of\r\ntissue-equivalent materials and PMMA. Rad. Prot. Dosim, 35. 1991, pp.\r\n221-235.
\r\n\r\n(Sự phụ thuộc góc và các hệ số hình học chiếu\r\nxạ cho tương đương liều đối với photon trong phantom phẳng của vật liệu tương đương\r\nmô và PMMA).
\r\n\r\n[3] GOLDSTEIN N. TOCHILIN E. Dose rate and spectral\r\nmeasurements from pulsed X-ray generators. Health Physics, 12, 1966, pp.\r\n1705-1713.
\r\n\r\n(Đếm liều và đo phổ từ máy phát tia X xung).
\r\n\r\n[4] International Commission on Radiation Units\r\nand Measurements. Determination of Dose Equivalents Resulting from External\r\nRadiation Sources. ICRU Report 39, Bethesda, MD, 1985
\r\n\r\n(Ủy ban quốc tế về đơn vị và phép đo bức xạ. Xác\r\nđịnh kết quả tương đương liều từ nguồn chiếu ngoài).
\r\n\r\n[5] CHRISTENSEN P, JULIUS H.W. and MARSHALL\r\nT.O Technical Recommendations for monitoring Individuals Occupationally Exposed\r\nto External Radiation. CEC Revision of report EUR 14852, 1994.
\r\n\r\n(Khuyến nghị đối với việc giám sát tiếp xúc\r\nnghề nghiệp cá nhân cho chiếu xạ trong).
\r\n\r\n[6] a) DIMBYLOW P.J, FRANCIS T.M and BARLETT D.T\r\nCalibrations of Photon Personal Dosemeters in Terms of the ICRU Operational\r\nQuantities: Calculations of Phantom Backscatter and Depth in Dose\r\nDistributions. NRPB-R230, 1990.
\r\n\r\n(Hiệu chuẩn liều kế cá nhân photon theo thuật\r\nngữ đại lượng thao tác của ICRU: tính toán tia tán xạ ngược và độ sâu trong\r\nphân bố liều).
\r\n\r\nb) ILES W.J. Private communication.
\r\n\r\n(Truyền thông tư nhân)
\r\n\r\n[7] ILES W.J., MILTON M.I.L., BARTLETT D.T\r\nBURGESS P.H and HILL C.E. Type Testing of the NRPB/AERE Film badge Dosemeter in\r\nTerms of the New ICRU Secondary Quantities. Part 1: Photons over the Energy range\r\n10 keV - 1250 keV NRPB-R236, 1990.
\r\n\r\n(Thử nghiệm loại theo NRPB/AERE Liều kế phim\r\ntheo tờ Tin tức của ICRU về đại lượng thứ hai. Phần 1: Các photon vượt quá dải\r\nnăng lượng 10 keV - 1250 keV)
\r\n\r\n[8] ICRP 35:1982, General principles of\r\nmonitoring for radiation protection of workers, Annals of the ICRP 9, (4).
\r\n\r\n(Nguyên tắc chung về giám sát an toàn bức xạ\r\nđối với nhân viên bức xạ ).
\r\n\r\n[9] ICRP 51:1987, data for use in protection\r\nagainst external radiation, Annals of the ICRP 17, (1).
\r\n\r\n(Dữ liệu để sử dụng trong an toàn bức xạ dựa\r\nvào chiếu ngoài).
\r\n\r\n[10]. ICRP 60:1991, Recommendations of the International\r\nCommission on Radiological Protection, Annals of the ICRP 21, (1-3).
\r\n\r\n(Khuyến nghị của Ủy ban Quốc tế về An toàn\r\nbức xạ).
\r\n\r\n[11] ICRU 33: 1980, Radiation\r\nquantities and units.1)
\r\n\r\n(Đại lượng và đơn vị bức xạ).
\r\n\r\n[12] ICRU 43:1988, Determination of dose\r\nequivalents from external radiation sources - Part 2.
\r\n\r\n(Xác định tương đương liều từ nguồn chiếu\r\nngoài).
\r\n\r\n[13] ICRU 47:1992, Measurement of dose\r\nequivalents from external photon and electron radiations.
\r\n\r\n(Phép đo tương đương liều từ bức xạ photon ngoài\r\nvà bức xạ electron).
\r\n\r\n[14] ICRU 51:1993, Quantities and Units in\r\nradiation protection dosimetry.
\r\n\r\n(Đơn vị và đại lượng trong an toàn bức xạ\r\ntrong sử dụng liều kế).
\r\n\r\n\r\n\r\n
1)To be supereseded by ICRU 51
\r\n\r\n\r\n\r\n
\r\n\r\n
1)\r\nSự phụ thuộc của\r\nđộ đáp ứng tới tốc độ đếm liều phải được thử nghiệm khi tỷ lệ kema không khí\r\nvượt quá 106 Gy/s (xem tài liệu tham khảo [3])
\r\n\r\n2)\r\nSẽ xuất bản (soát xét ISO 921 : 1972)
\r\n\r\n3)\r\nSẽ xuất bản (soát xét ISO 4037 : 1979)
\r\n\r\n4)\r\nĐã xuất bản (soát xét ISO 6980 : 1984)
\r\n\r\n1)\r\nLucite, Perpex và Pexiglas là những thí dụ về các sản phẩm có trên thị trường.\r\nThông tin này chỉ để thuận tiện cho người sử dụng tiêu chuẩn này chứ không phải\r\nlà quảng cáo cho các sản phẩm này.
\r\n\r\nTừ khóa: Tiêu chuẩn Việt Nam TCVN7077:2002, Tiêu chuẩn Việt Nam số TCVN7077:2002, Tiêu chuẩn Việt Nam TCVN7077:2002 của Bộ Khoa học Công nghệ và Mội trường, Tiêu chuẩn Việt Nam số TCVN7077:2002 của Bộ Khoa học Công nghệ và Mội trường, Tiêu chuẩn Việt Nam TCVN7077:2002 của Bộ Khoa học Công nghệ và Mội trường, TCVN7077:2002
File gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7077:2002 (ISO 1757 : 1996) về An toàn bức xạ – Liều kế phim dùng cho cá nhân đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7077:2002 (ISO 1757 : 1996) về An toàn bức xạ – Liều kế phim dùng cho cá nhân
Tóm tắt
Cơ quan ban hành | Bộ Khoa học Công nghệ và Mội trường |
Số hiệu | TCVN7077:2002 |
Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
Người ký | Đã xác định |
Ngày ban hành | 2002-11-07 |
Ngày hiệu lực | |
Lĩnh vực | Hóa chất |
Tình trạng | Còn hiệu lực |