Lời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 12670-1:2020 hoàn toàn tương đương với IEC\r\n60825-1:2014;
\r\n\r\nTCVN 12670-1:2020 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn\r\nquốc gia TCVN/TC/E1 Máy điện và khí cụ điện biên soạn, Tổng cục Tiêu\r\nchuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.
\r\n\r\nBộ tiêu chuẩn TCVN 12670 (IEC 60825), An toàn\r\nsản phẩm laser, gồm có các phần sau:
\r\n\r\n- TCVN 12670-1:2020 (IEC 60825-1:2014), Phần\r\n1: Phân loại thiết bị và các yêu cầu
\r\n\r\n- TCVN 12670-14:2019 (IEC/TR 60825-14:2004),\r\nPhần 14: Hướng dẫn sử dụng
\r\n\r\n\r\n\r\n
Tiêu chuẩn này quy định an toàn của các sản\r\nphẩm laser phát bức xạ laser trong dải bước sóng từ 180 nm đến 1 mm.
\r\n\r\nMặc dù vẫn có những bộ phát laser phát ra bức\r\nxạ ở các bước sóng nhỏ hơn 180 nm (trong phạm vi cực tím chân không), nhưng nó\r\nkhông thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này vì tia laser thường phải được\r\nbọc trong vỏ bọc hút chân không và do đó các nguy hiểm bức xạ quang tiềm ẩn\r\nthường là rất nhỏ.
\r\n\r\nSản phẩm laser có thể gồm một bộ phát laser\r\nduy nhất có hoặc không có nguồn cấp riêng hoặc có thể có một hoặc nhiều bộ phát\r\nlaser trong hệ thống quang, điện hoặc cơ kết hợp. Thông thường, các sản phẩm\r\nlaser được sử dụng để minh họa các hiện tượng vật lý hoặc quang, xử lý vật\r\nliệu, đọc và lưu trữ dữ liệu, truyền tải và hiển thị thông tin, v.v. Các hệ\r\nthống này được sử dụng trong công nghiệp, kinh doanh, giải trí, nghiên cứu,\r\ngiáo dục, y tế và các sản phẩm tiêu dùng.
\r\n\r\nKhông áp dụng tiêu chuẩn này cho các sản phẩm\r\nlaser được bán cho các nhà chế tạo khác để sử dụng như các thành phần cấu thành\r\ncho hệ thống bất kỳ cho sản phẩm laser đó mà áp dụng cho bản thân sản phẩm cuối\r\ncùng. Các sản phẩm laser được bán cho hoặc bán bởi nhà chế tạo sản phẩm cuối\r\ncùng để sử dụng làm linh kiện thay thế cho sản phẩm cuối cùng thì cũng không\r\nphải áp dụng tiêu chuẩn này. Tuy nhiên, nếu hệ thống laser trong sản phẩm cuối\r\ncùng có khả năng hoạt động khi đã được tháo ra khỏi sản phẩm cuối cùng thì áp\r\ndụng các yêu cầu của tiêu chuẩn này cho hệ thống laser có thể tháo rời đó.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Thiết bị có khả năng hoạt động\r\nlà thiết bị không đòi hỏi dụng cụ để chuẩn bị hoạt động.
\r\n\r\nSản phẩm laser bất kỳ không phải đáp ứng bất\r\nkỳ yêu cầu thêm nữa trong tiêu chuẩn này nếu sự phân loại sản phẩm đó được thực\r\nhiện bởi nhà chế tạo theo Điều 4 và Điều 5 cho thấy mức phát xạ không vượt quá\r\nAEL (mức phát xạ chấp nhận được) của cấp 1 trong tất cả các điều kiện vận hành,\r\nbảo trì, bảo dưỡng và sửa chữa. Sản phẩm laser như vậy có thể được gọi là sản\r\nphẩm laser được loại trừ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Việc loại trừ nêu trên để đảm\r\nbảo rằng các sản phẩm laser an toàn vốn có sẽ không phải chịu các yêu cầu của\r\nĐiều 6, Điều 7, Điều 8 và Điều 9.
\r\n\r\nNgoài các ảnh hưởng bất lợi tiềm ẩn xuất phát\r\ntừ việc phơi nhiễm bức xạ laser, một số thiết bị laser cũng có thể có các nguy\r\nhiểm kết hợp khác, ví dụ về điện, hóa và các nhiệt độ cao hoặc thấp. Bức xạ\r\nlaser có thể gây ra việc hỏng thị lực tạm thời ví dụ lóa hoặc chói mắt. Các ảnh\r\nhưởng này phụ thuộc vào tác vụ và mức ánh sáng môi trường xung quanh và vượt ra\r\nkhỏi phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này. Phân loại và các yêu cầu khác của tiêu\r\nchuẩn này được thiết kế chỉ cho các nguy hiểm bức xạ laser đến mắt và da. Các\r\nnguy hiểm khác không thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn.
\r\n\r\nTiêu chuẩn này đưa ra các yêu cầu tối thiểu.\r\nSự phù hợp với tiêu chuẩn này có thể không đủ để có mức an toàn sản phẩm cần\r\nthiết. Các sản phẩm laser cũng có thể đòi hỏi phải phù hợp với các yêu cầu về\r\ntính năng và thử nghiệm áp dụng được trong các tiêu chuẩn an toàn sản phẩm áp\r\ndụng được khác.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Các tiêu chuẩn khác có thể chứa\r\ncác yêu cầu bổ sung. Ví dụ, sản phẩm laser cấp 3B hoặc cấp 4 có thể không thlch\r\nhợp để sử dụng như sản phẩm tiêu dùng.
\r\n\r\nTrong trường hợp hệ thống laser tạo thành một\r\nphần của thiết bị thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn an toàn sản phẩm khác,\r\nví dụ thiết bị điện y tế (TCVN 7303-2-22 (IEC 60601-2-22)), thiết bị công nghệ\r\nthông tin (bộ tiêu chuẩn TCVN 7326 (IEC 60950)), thiết bị audio và video (TCVN\r\n6385 (IEC 60065)), thiết bị audio-video và công nghệ thông tin (IEC 62368-1),\r\nthiết bị sử dụng trong khí quyển nguy hiểm (TCVN 10888 (IEC 60079)) hoặc đồ\r\nchơi sử dụng điện (TCVN 11332 (IEC 62115)), thì tiêu chuẩn này sẽ áp dụng theo\r\ncác quy định của IEC Guide 104 đối với các nguy hiểm gây ra do bức xạ laser.\r\nNếu không có tiêu chuẩn an toàn sản phẩm nào áp dụng được thì có thể áp dụng\r\nIEC 61010-1.
\r\n\r\nĐối với các thiết bị chữa mắt, để đảm bảo an\r\ntoàn cho bệnh nhân, cần áp dụng thêm ISO 15004-2 và cần áp dụng các nguyên tắc\r\ncủa giới hạn cho trong tiêu chuẩn ISO đó cho bức xạ laser (xem thêm Phụ lục C\r\nvà D).
\r\n\r\nTrước đây, điốt phát quang (LED) cũng thuộc\r\nphạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này, và có thể vẫn thuộc phạm vi áp dụng của các\r\nphần khác của bộ tiêu chuẩn IEC 60825. Tuy nhiên, với việc xây dựng các tiêu\r\nchuẩn an toàn bóng đèn, an toàn bức xạ quang của LED nhìn chung có thể được đề\r\ncập thích hợp hơn trong các tiêu chuẩn an toàn bóng đèn đó. Việc loại bỏ LED ra\r\nkhỏi phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này không nhằm ngăn ngừa các tiêu chuẩn\r\nkhác đưa LED vào bất cứ khi nào đề cập đến laser. Có thể áp dụng IEC 62471 để\r\nxác định nhóm rủi ro của LED hoặc sản phẩm có chứa một hoặc nhiều LED. Một số\r\ntiêu chuẩn khác có thể yêu cầu áp dụng phép đo, phân loại, quy định kỹ thuật và\r\ncác yêu cầu về ghi nhãn của tiêu chuẩn này cho các sản phẩm LED.
\r\n\r\nCác sản phẩm laser có bức xạ tiếp cận được\r\nthấp hơn tiêu chí quy định trong 4.4, được thiết kế để làm việc như các nguồn\r\nsáng thông thường, và đáp ứng các yêu cầu quy định trong 4.4 thì có thể được\r\nđánh giá bằng bộ tiêu chuẩn IEC 62471. Sản phẩm này vẫn thuộc phạm vi áp dụng\r\ncủa tiêu chuẩn này, tuy nhiên phát xạ bức xạ quang nêu trên không nhất thiết\r\nđược phân loại.
\r\n\r\nCác giá trị phơi nhiễm lớn nhất cho phép\r\n(MPE) được cho trong Phụ lục A được xây dựng cho bức xạ laser và không áp dụng\r\ncho bức xạ phụ thêm. Tuy nhiên, nếu có lo ngại là bức xạ phụ thêm tiếp cận được\r\ncó thể nguy hiểm, các giá trị MPE của laser có thể áp dụng để đánh giá nguy\r\nhiểm tiềm ẩn này hoặc xem xét thêm các giá trị giới hạn phơi nhiễm trong IEC\r\n62471.
\r\n\r\nCác giá trị MPE trong Phụ lục A không áp dụng\r\ncho phơi nhiễm có chủ ý của người với bức xạ laser cho mục đích điều trị y tế\r\nhoặc điều trị mỹ phẩm/thẩm mỹ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 4: Các phụ lục tham khảo từ A đến G\r\nđược đưa vào tiêu chuẩn nhằm cung cấp hướng dẫn chung và minh họa nhiều trường\r\nhợp điển hình. Tuy nhiên, các phụ lục này không được coi là có tính quyết định\r\nhoặc toàn diện.
\r\n\r\nMục đích của tiêu chuẩn này nhằm:
\r\n\r\n- đưa ra hệ thống phân loại laser và sản phẩm\r\nlaser phát bức xạ trong dải bước sóng 180 nm đến 1 mm theo cấp nguy hiểm bức xạ\r\nquang của chúng để giúp đánh giá và xác định các biện pháp bảo vệ cho người sử\r\ndụng;
\r\n\r\n- thiết lập các yêu cầu cho nhà chế tạo cung\r\ncấp thông tin sao cho có thể sử dụng được biện pháp phòng ngừa thích hợp;
\r\n\r\n- thông qua nhãn và hướng dẫn, đầm bảo cảnh\r\nbáo đủ cho các cá nhân về các nguy hiểm liên quan đến bức xạ tiếp cận được từ\r\ncác sản phẩm laser;
\r\n\r\n- giảm khả năng bị thương hoặc giảm thiểu bức\r\nxạ tiếp cận được không cần thiết và đưa ra biện pháp bảo vệ tăng cường đối với\r\ncác nguy hiểm bức xạ laser thông qua các đặc trưng bảo vệ.
\r\n\r\n\r\n\r\nCác tài liệu viện dẫn dưới đây là cần thiết\r\nđể áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn có ghi năm công bố thì\r\náp dụng các bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố\r\nthì áp dụng phiên bản mới nhất (kể cả các sửa đổi).
\r\n\r\nIEC 60050 (tất cả các phần), International\r\nElectrotechnical Vocabulary (Từ vựng kỹ thuật điện quốc tế)
\r\n\r\nIEC 62471 (tất cả các phần), Photobiological\r\nsafety of lamps and lamp systems (An toàn quang sinh học của bóng đèn và hệ\r\nthống bóng đèn)
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này sử dụng các thuật ngữ và định\r\nnghĩa trong IEC 60845 và các thuật ngữ và định nghĩa dưới đây.
\r\n\r\n3.1
\r\n\r\nTấm tiếp cận
Phần của vỏ bảo vệ tạo ra tiếp cận với bức xạ\r\nlaser khi tháo hoặc dịch chuyển tấm này.
\r\n\r\n3.2
\r\n\r\nPhát xạ tiếp cận được
Mức bức xạ được xác định tại vị trí và với\r\ncác nắp che lỗ mở (khi AEL được cho dưới dạng oát hoặc jun) hoặc các lỗ mở giới\r\nhạn (khi AEL được cho dưới dạng W·m-2 hoặc J·m-2) như mô\r\ntả trong Điều 5.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Phát xạ tiếp cận được được xác\r\nđịnh trong trường hợp xét đến sự tiếp cận của người, như quy định trong 3.40.\r\nPhát xạ tiếp cận được (được xác định trong quá trình vận hành) được so sánh với\r\ngiới hạn phát xạ tiếp cận được (xem 3.3) để xác định cấp của sản phẩm laser.\r\nTrong tiêu chuẩn này, bất cứ khi nào sử dụng thuật ngữ mức phát xạ thì cần được\r\nhiểu là phát xạ tiếp cận được.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Khi chùm tia rộng hơn nắp che lỗ\r\nmở, phát xạ tiếp cận được khi đó được cho dưới dạng oát hoặc jun nhỏ hơn tổng năng\r\nlượng hoặc công suất phát ra của sản phẩm laser. Khi chùm tia nhỏ hơn lỗ mở\r\ngiới hạn, phát xạ tiếp cận được khi đó được cho dưới dạng W·m-2 hoặc\r\nJ·m-2, tức là độ rọi hoặc phơi nhiễm bức xạ lấy trung bình trên lỗ mở\r\ngiới hạn, nhỏ hơn độ rọi thực hoặc phơi nhiễm bức xạ của chùm tia. Xem thêm nắp\r\nche lỗ mở (3.9) và lỗ mở giới hạn (3.55).
\r\n\r\n3.3
\r\n\r\nGiới hạn phát xạ tiếp cận được
AEL
\r\n\r\nPhát xạ lớn nhất tiếp cận được được phép\r\ntrong phạm vi cấp cụ thể của sản phẩm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Trong trường hợp nội dung đề cập\r\nđến “mức phát xạ không vượt quá AEL” hoặc nội dung tương tự thì có nghĩa là\r\nphát xạ tiếp cận được được xác định theo tiêu chí đo quy định trong Điều 5.
\r\n\r\n3.4
\r\n\r\nKiểm soát về hành chính
Biện pháp an toàn không thuộc loại kỹ thuật,\r\nví dụ giám sát chìa khóa; huấn luyện an toàn cho người vận hành; cảnh báo; các\r\nquy trình đếm ngược; và các bảo vệ an toàn về khoảng cách.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Điều này có thể được nhà chế tạo\r\nquy định (xem Điều 8).
\r\n\r\n3.5
\r\n\r\nGóc chấp nhận
γ
\r\n\r\nGóc phẳng trong đó bộ phát hiện sẽ phản ứng\r\nvới bức xạ quang và thường được đo bằng radian.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Góc chấp nhận này có thể được\r\nkiểm soát bằng các lỗ mở hoặc phần tử quang phía trước bộ phát hiện (xem Hình 1\r\nvà Hình 2). Góc chấp nhận đôi khi cũng được gọi là trường nhìn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: radian.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Không nên nhầm góc chấp nhận với\r\ngóc trương của nguồn hoặc sự phân kỳ của chùm tia.
\r\n\r\n3.6
\r\n\r\nGóc trương (angular subtense)
\r\n\r\nGóc phẳng được trương bởi một cung tròn, tính\r\nbằng tỷ số giữa chiều dài cung tròn và bán kính của cung.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Đơn vị SI: radian.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Đối với các góc nhỏ, góc trương của\r\nđường thẳng ở khoảng cách cho trước được tính bằng cách chia chiều dài đường\r\nthẳng cho khoảng cách. Đối với các góc lớn, cần tính đến sự khác biệt giữa đoạn\r\nthẳng dây cung và cung.
\r\n\r\n3.7
\r\n\r\nGóc trương của nguồn biểu kiến
α
\r\n\r\nGóc được trương bởi nguồn biểu kiến khi nhìn\r\ntừ một điểm trong không gian, như thể hiện trên Hình 1.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Đối với trường hợp biên dạng độ\r\nrọi theo phân bố Gauss của hình ảnh nguồn biểu kiến, ví dụ đối với sự phản xạ\r\nkhuếch tán của chùm tia TEM00, α được xác định với định nghĩa đường\r\nkính chùm tia d63 (xem 3.13). Đối với các biên dạng độ rọi không\r\nđồng nhất hoặc nhiều nguồn, α được xác định theo 4.3 d).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: radian.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Vị trí và góc trương của nguồn\r\nbiểu kiến phụ thuộc vào vị trí nhìn trong chùm tia (xem 3.10).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 4: Góc trương của nguồn biểu kiến\r\nchỉ áp dụng trong tiêu chuẩn này trong dải bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm,\r\nvùng có nguy hiểm võng mạc.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 5: Không được nhầm lẫn góc trương\r\ncủa nguồn laser với sự phân kỳ của chùm tia. Góc trương của nguồn laser không\r\nthể lớn hơn sự phân kỳ của chùm tia mà thường nhỏ hơn sự phân kỳ này.
\r\n\r\n3.8
\r\n\r\nLỗ mở (aperture)
\r\n\r\nKhe hở bất kỳ trong vỏ bảo vệ của sản phẩm\r\nlaser mà thông qua đó bức xạ laser được phát ra, và người có thể tiếp cận bức\r\nxạ này.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Xem thêm lỗ mở giới hạn (3.55).
\r\n\r\n3.9
\r\n\r\nNắp che lỗ mở
Lỗ mở dùng để xác định vùng đo bức xạ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Xem thêm lỗ mở giới hạn (3.55).
\r\n\r\n3.10
\r\n\r\nNguồn biểu kiến
Vật thể thực hoặc ảo tạo nên hình ảnh võng\r\nmạc nhỏ nhất có thể có (xét đến phạm vi điều tiết của mắt người), đối với vị\r\ntrí đánh giá cho trước của nguy hiểm võng mạc.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Phạm vi điều tiết của mắt người\r\nđược giả thiết là có thể thay đổi từ 100 mm đến vô hạn. Vị trí của nguồn biểu\r\nkiến đối với vị trí nhìn cho trước trong chùm tia là vị trí tại đó mắt điều\r\ntiết để tạo ra tình trạng độ rọi võng mạc nguy hiểm nhất.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Định nghĩa này được sử dụng để\r\nxác định, đối với vị trí đánh giá cho trước, vị trí điểm xuất phát biểu kiến\r\ncủa bức xạ laser trong dải bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm. Trong giới hạn\r\ntriệt tiêu phân kỳ, tức là trường hợp chùm tia chuẩn trực lý tưởng thì vị trí\r\nnguồn biểu kiến tiến đến vô hạn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Đối với các ảnh hình tròn của\r\ncác nguồn kéo dài trên võng mạc có biên dạng phân bổ Gauss, có thể sử dụng định\r\nnghĩa d63 để xác định góc trương của nguồn biểu kiến α.
\r\n\r\n3.11
\r\n\r\nChùm tia (beam)
\r\n\r\nBức xạ laser mà có thể được đặc trưng bởi\r\nhướng, độ phân kỳ, đường kính hoặc các thông số quét.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Bức xạ tán xạ do phản xạ không\r\nphải loại phản xạ gương không được coi là chùm tia.
\r\n\r\n3.12
\r\n\r\nBộ suy giảm chùm tia
Thiết bị làm giảm bức xạ laser đến hoặc thấp\r\nhơn mức quy định hoặc giảm đi một phần cụ thể.
\r\n\r\n3.13
\r\n\r\nĐường kính chùm tia /Độ rộng chùm tia
d
Đường kính của đường tròn nhỏ nhất chứa u %\r\ntổng công suất laser (hoặc tổng năng lượng laser).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Trong tiêu chuẩn này sử dụng d63.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Phần thu hẹp của chùm tia là vị\r\ntrí trong chùm tia nơi đường kính chùm tia là nhỏ nhất.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Đơn vị SI: mét.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 4: Định nghĩa đường kính của chùm\r\ntia nhìn chung không nên sử dụng để xác định góc trương của nguồn biểu kiến α\r\nvì các định nghĩa này là khác nhau. Tuy nhiên, đối với trường hợp độ rọi có\r\nbiên dạng phân bố Gauss của hình ảnh nguồn biểu kiến, có thể áp dụng d63\r\nđể xác định góc trương của nguồn biểu kiến α. Đối với độ rọi có biên dạng của\r\nhình ảnh góc trương nguồn biểu kiến không theo phân bố Gauss, sử dụng phương\r\npháp mô tả trong 4.3 d).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 5: Trong trường hợp chùm tia Gauss,\r\nd63 ứng với điểm có độ rọi (phơi nhiễm bức xạ) nằm trong phạm vi 1/e\r\ncủa giá trị đỉnh tại tâm của nó.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 6: Định nghĩa về đường kính mômen\r\nthứ hai (như xác định trong ISO 11146-1) không thích hợp để sử dụng cho biên\r\ndạng chùm tia có các đỉnh bức xạ cao tại tâm và mức nền thấp, ví dụ được tạo ra\r\nbởi bộ cộng hưởng không ổn định trong trường xa: công suất đi qua lỗ mở có thể\r\nđược đánh giá không đúng mức đáng kể khi sử dụng mômen thứ hai và tính công\r\nsuất với giả thiết biên dạng chùm tia là phân bố Gauss.
\r\n\r\n3.14
\r\n\r\nSự phân kỳ của chùm tia
Góc trong mặt phẳng trường xa của hình nón\r\nxác định bởi đường kính chùm tia.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Nếu đường kính chùm tia (xem\r\n3.13) tại hai điểm cách nhau bởi khoảng cách r là d63 và d’63,\r\nsự phân kỳ được cho bởi:
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image001.jpg\")
CHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: radian.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Định nghĩa về đường kính\r\nmômen thứ hai (như xác định trong ISO 11146-1) không thích hợp để sử dụng cho\r\nbiên dạng chùm tia có đỉnh bức xạ cao tại tâm và mức nền thấp, ví dụ được tạo\r\nra bởi bộ cộng hưởng không ổn định trong trường xa hoặc biên dạng chùm tia thể\r\nhiện các dạng khuếch tán gây ra do các lỗ mở.
\r\n\r\n3.15
\r\n\r\nSự mở rộng chùm tia
Kết hợp các phần tử quang sẽ làm tăng đường\r\nkính của chùm tia laser.
\r\n\r\n3.16
\r\n\r\nThành phần tuyến chùm tia
Thành phần quang nằm trên tuyến chùm tia xác\r\nđịnh.
\r\n\r\nVÍ DỤ: Gương dẫn hướng chùm tia, thấu kính\r\nhội tụ hoặc bộ khuếch đại chùm tia.
\r\n\r\n3.17
\r\n\r\nBộ khóa chùm tia
Thiết bị kết thúc tuyến chùm tia laser.
\r\n\r\n3.18
\r\n\r\nSản phẩm laser Cấp 1
Sản phẩm laser bất kỳ mà trong quá trình hoạt\r\nđộng không cho phép con người tiếp cận đến bức xạ laser (phát xạ tiếp cận được,\r\nxem 3.2) vượt quá AEL cấp 1 đối với các bước sóng và khoảng thời gian phát xạ\r\náp dụng được (xem 5.3 và 4.3 e)).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Xem thêm hạn chế của phương thức\r\nphân loại trong Phụ lục C.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Khi các thử nghiệm để xác định\r\nphân loại sản phẩm được giới hạn ở các thử nghiệm trong vận hành thì có thể xảy\r\nra đối với các sản phẩm laser loại lắp trong mà bức xạ laser cao hơn AEL của\r\ncấp tương ứng của sản phẩm có thể trở nên tiếp cận được trong quá trình bảo\r\ndưỡng (xem 6.2.1) hoặc bảo trì khi các khóa liên động của các tấm tiếp cận bị\r\nlàm mất hiệu lực hoặc sản phẩm được mở ra hoặc tháo ra.
\r\n\r\n3.19
\r\n\r\nSản phẩm laser Cấp 1C
Sản phẩm laser bất kỳ được thiết kế riêng cho\r\nứng dụng tiếp xúc với da hoặc mô không thuộc mắt và:
\r\n\r\n- trong quá trình hoạt động, nguy hiểm về mắt\r\nđược ngăn ngừa bởi biện pháp kỹ thuật, tức là phát xạ tiếp cận được được ngăn\r\nchặn hoặc giảm xuống thấp hơn AEL của cấp 1 khi laser được giữ không cho tiếp\r\nxúc với da hoặc mô không thuộc mắt,
\r\n\r\n- trong quá trình hoạt động và khi tiếp xúc\r\nvới da hoặc mô không thuộc mắt, bức xạ hoặc các mức phơi nhiễm bức xạ có thể\r\nvượt quá MPE của da khi cần cho quy trình điều trị dự kiến, và sản phẩm laser\r\nphù hợp với các tiêu chuẩn áp dụng được.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Không đủ để phân loại sản phẩm là\r\ncấp 1C khi chỉ theo tiêu chuẩn này mà không xét đến các yêu cầu quy định trong\r\ntiêu chuẩn an toàn sản phẩm áp dụng được. Xem thêm các hạn chế của phương thức\r\nphân loại trong Phụ lục C.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Vì bức xạ phát có thể vượt quá\r\nMPE trên da nên laser cấp 1C có thể có nguy hiểm tiềm ẩn đến các mô. Khái niệm\r\nvề các giới hạn thích hợp của phát xạ tiếp cận được trong điều kiện tiếp xúc,\r\nví dụ tiếp xúc có thể có với mí mắt, không thuộc phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn\r\nnày.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Khi các thử nghiệm xác định sự\r\nphân loại của sản phẩm được giới hạn ở các thử nghiệm trong quá trình vận hành,\r\ncác sản phẩm laser lắp trong, tùy thuộc vào sản phẩm, có bức xạ trên mức AEL\r\ncủa cấp 1 có thể trở nên tiếp cận được trong quá trình bảo dưỡng (xem 6.2.1)\r\nhoặc bảo trì khi các khóa liên động của các tấm tiếp cận bị mất hiệu lực hoặc\r\nsản phẩm được mở ra hoặc tháo ra.
\r\n\r\n3.20
\r\n\r\nSản phẩm laser Cấp 1M
Sản phẩm laser bất kỳ trong dải bước sóng từ\r\n302,5 nm đến 4 000 nm mà trong quá trình vận hành không cho phép người tiếp cận\r\nđến bức xạ laser (phát xạ tiếp cận được, xem 3.2) vượt quá mức AEL của Cấp 1\r\nđối với các bước sóng và khoảng thời gian phát xạ áp dụng được (xem 4.3 e)),\r\nvới mức bức xạ được đo theo 5.3 a).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Xem thêm các hạn chế của phương\r\nthức phân loại trong Phụ lục C.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Đầu ra của sản phẩm laser cấp 1M\r\ncó nguy hiểm tiềm ẩn khi được quan sát bằng kính thiên văn ví dụ như kinh viễn\r\nvọng hoặc ống nhòm (xem 5.3 a)).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Khi các thử nghiệm xác định sự\r\nphân loại của sản phẩm được giới hạn ở các thử nghiệm trong quá trình vận hành,\r\ncác sản phẩm laser lắp trong, tùy thuộc vào sản phẩm, có bức xạ trên mức AEL\r\ncủa cấp tương ứng có thể trở nên tiếp cận được trong quá trình bảo dưỡng (xem\r\n6.2.1) hoặc bảo trì khi các khóa liên động của các tấm tiếp cận bị mất hiệu lực\r\nhoặc sản phẩm được mở ra hoặc tháo ra.
\r\n\r\n3.21
\r\n\r\nSản phẩm laser Cấp 2
Sản phẩm laser bất kỳ trong dải bước sóng từ\r\n400 nm đến 700 nm mà trong quá trình vận hành không cho phép người tiếp cận đến\r\nbức xạ laser (phát xạ tiếp cận được, xem 3.2) vượt quá mức AEL của cấp 2 đối\r\nvới các bước sóng và khoảng thời gian phát xạ áp dụng được (xem 5.3 c)).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Xem thêm các hạn chế của phương\r\nthức phân loại trong Phụ lục C.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Khi các thử nghiệm xác định sự\r\nphân loại của sản phẩm được giới hạn ở các thử nghiệm trong quá trình vận hành,\r\ncác sản phẩm laser lắp trong, tùy thuộc vào sản phẩm, có bức xạ trên mức AEL\r\ncủa cấp tương ứng có thể trở nên tiếp cận được trong quá trình bảo dưỡng (xem\r\n6.2.1) hoặc bảo trì khi các khỏa liên động của các tấm tiếp cận bị mất hiệu lực\r\nhoặc sản phẩm được mở ra hoặc tháo ra.
\r\n\r\n3.22
\r\n\r\nSản phẩm laser cấp 2M
Sản phẩm laser bất kỳ trong dải bước sóng từ\r\n400 nm đến 700 nm mà trong quá trình vận hành không cho phép người tiếp cận đến\r\nbức xạ laser (phát xạ tiếp cận được, xem 3.2) vượt quá mức AEL của cấp 2 đối\r\nvới các bước sóng và khoảng thời gian phát xạ áp dụng được (xem 4.3 e)), với\r\nmức bức xạ được đo theo 5.3 c).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Xem thêm các hạn chế của phương\r\nthức phân loại trong Phụ lục C.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Đầu ra của sản phẩm laser cấp 2M\r\ncó nguy hiểm tiềm ẩn khi được quan sát sử dụng kính thiên văn ví dụ như kính\r\nviễn vọng hoặc ống nhòm (xem 5.3 c)).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Khi các thử nghiệm xác định sự\r\nphân loại của sản phẩm được giới hạn ở các thử nghiệm trong quá trình vận hành,\r\ncác sản phẩm laser lắp trong, tùy thuộc vào sản phẩm, có bức xạ trên mức AEL\r\ncủa cấp tương ứng có thể trở nên tiếp cận được trong quá trình bảo dưỡng (xem\r\n6.2.1) hoặc bảo trì khi các khóa liên động của các tấm tiếp cận bị mất hiệu lực\r\nhoặc sản phẩm được mở ra hoặc tháo ra.
\r\n\r\n3.23
\r\n\r\nSản phẩm laser Cấp 3R và Cấp 3B
Sản phẩm laser bất kỳ mà trong quá trình vận\r\nhành cho phép người tiếp cận đến bức xạ laser (phát xạ tiếp cận được, xem 3.2)\r\nvượt quá mức AEL của cấp 1 và cấp 2, nếu thuộc đối tượng áp dụng, nhưng không\r\ncho phép người tiếp cận với bức xạ laser vượt quá mức AEL của cấp 3R và 3B\r\n(tương ứng) đối với khoảng thời gian và bước sóng phát xạ bất kỳ (xem 5.3 d) và\r\n5.3 e)).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Xem thêm các hạn chế của phương\r\nthức phân loại trong Phụ lục C.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Các sản phẩm laser cấp 1M và cấp\r\n2M có thể có đầu ra cao hơn hoặc thấp hơn mức AEL của Cấp 3R, tùy thuộc vào các\r\nđặc tính quang của chúng.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Khi các thử nghiệm xác định sự\r\nphân loại của sản phẩm được giới hạn ở các thử nghiệm trong quá trình vận hành,\r\ncác sản phẩm laser lắp trong, tùy thuộc vào sản phẩm, có bức xạ trên mức AEL\r\ncủa cấp tương ứng có thể trở nên tiếp cận được trong quá trình bảo trì khi các\r\nkhóa liên động của các tấm tiếp cận bị mất hiệu lực hoặc sản phẩm được mở ra\r\nhoặc tháo ra.
\r\n\r\n3.24
\r\n\r\nSản phẩm laser Cấp 4
Sản phẩm laser bất kỳ cho phép người tiếp cận\r\nđến bức xạ laser (phát xạ tiếp cận được, xem 3,2) vượt quá mức AEL của cấp 3B\r\n(xem 5.3 f)).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Xem thêm các hạn chế của phương\r\nthức phân loại trong Phụ lục C.
\r\n\r\n3.25
\r\n\r\nBức xạ phụ (collateral radiation)
\r\n\r\nBức xạ điện từ bất kỳ, trong dải bước sóng từ\r\n180 nm đến 1 mm, ngoại trừ bức xạ laser, được phát bởi sản phẩm laser là kết\r\nquả của hoặc trạng thái vật lý cần thiết cho sự vận hành của bộ phát laser.
\r\n\r\n3.26
\r\n\r\nChùm tia chuẩn trực
Tia bức xạ có sự phân kỳ hoặc hội tụ ở góc\r\nrất nhỏ.
\r\n\r\n3.27
\r\n\r\nChế độ tiếp xúc
Sử dụng sản phẩm laser trong đó hệ thống phân\r\nphối chùm tia tiếp cận gần với mục tiêu dự kiến.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Hệ thống phân phối chùm tia\r\nkhông nhất thiết có tiếp xúc vật lý. Ví dụ hệ thống có thể đặt sát với mục tiêu\r\ndự kiến với điều kiện các biện pháp điều khiển ký thuật thích hợp được đặt đúng\r\nvị trí.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Định nghĩa này liên quan đến các\r\nsản phẩm được phân loại là Cấp 1C.
\r\n\r\n3.28
\r\n\r\nSóng liên tục
CW
\r\n\r\nBộ phát laser vận hành với đầu ra liên tục\r\ntrong khoảng thời gian bằng hoặc lớn hơn 0,25 s.
\r\n\r\n3.29
\r\n\r\nTuyến chùm tia xác định
Tuyến dự kiến của chùm tia laser trong sản\r\nphẩm laser.
\r\n\r\n3.30
\r\n\r\nSản phẩm laser trình diễn
Sản phẩm laser bất kỳ được thiết kế, chế tạo,\r\ndự kiến hoặc xúc tiến nhằm mục đích trình diễn, giải trí, quảng cáo, hiển thị\r\nhoặc tác phẩm nghệ thuật.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thuật ngữ “sản phẩm laser trình\r\ndiễn” không áp dụng cho các sản phẩm laser được thiết kế và dự kiến cho các ứng\r\ndụng khác, mặc dù chúng có thể được sử dụng để trình diễn các ứng dụng này.
\r\n\r\n3.31
\r\n\r\nSự phản xạ khuếch tán
Sự thay đổi phân bố theo không gian của chùm\r\ntia bức xạ do phân tán theo nhiều hướng bởi mặt phẳng hoặc môi chất.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Bộ khuếch tán hoàn hảo sẽ phá vỡ\r\nmọi sự tương quan giữa các hướng của bức xạ tới và bức xạ phản xạ.
\r\n\r\n[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-04-47, có sửa\r\nđổi - Định nghĩa được viết lại hoàn toàn]
\r\n\r\n3.32
\r\n\r\nSản phẩm laser lắp trong
Trong tiêu chuẩn này, sản phẩm laser có cấp\r\nthấp hơn khả năng vốn có của bộ phát laser kết hợp, do các đặc điểm kỹ thuật\r\ngiới hạn phát xạ tiếp cận được.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Sản phẩm laser được kết hợp trong\r\nsản phẩm laser lắp trong được gọi là sản phẩm laser bao kín hoặc hệ thống laser\r\nbao kín.
\r\n\r\n3.33
\r\n\r\nKhoảng thời gian phát xạ
Khoảng thời gian của xung, của một chuỗi các xung,\r\nhoặc của hoạt động liên tục, trong đó có thể xảy ra việc tiếp cận của người với\r\nbức xạ laser do vận hành, bảo dưỡng hoặc bảo trì sản phẩm laser.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đối với xung đơn, đây là khoảng\r\nthời gian giữa điểm công suất nửa đỉnh của sườn trước và điểm tương ứng trên\r\nsườn sau. Đối với chuỗi các xung (hoặc một phần của chuỗi xung), đây là khoảng\r\nthời gian giữa điểm công suất nửa đỉnh đầu tiên của sườn trước và điểm công\r\nsuất nửa đỉnh cuối cùng của sườn sau.
\r\n\r\n3.34
\r\n\r\nBức xạ laser tán xạ
Bức xạ laser lệch khỏi tuyến xác định hoặc\r\ntuyến theo thiết kế của chùm tia.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Bức xạ này bao gồm cả các phản xạ\r\nkhông mong muốn từ các thành phần của tuyến chùm tia và bức xạ lạc do các thành\r\nphần sắp xếp sai hoặc bị hỏng.
\r\n\r\n3.35
\r\n\r\nKhoảng thời gian phơi nhiễm
Khoảng thời gian của xung, của một chuỗi các\r\nxung, hoặc của phát xạ liên tục của bức xạ laser tới cơ thể người.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đối với xung đơn, đây là khoảng\r\nthời gian giữa điểm công suất nửa đỉnh của sườn trước và điểm tương ứng trên\r\nsườn sau. Đối với chuỗi các xung (hoặc một phần của chuỗi xung), đây là khoảng\r\nthời gian giữa điểm công suất nửa đỉnh đầu tiên của sườn trước và điểm công\r\nsuất nửa đỉnh cuối cùng của sườn sau.
\r\n\r\n3.36
\r\n\r\nQuan sát nguồn kéo dài
Điều kiện quan sát bằng cách cho nguồn biểu\r\nkiến ở khoảng cách 100 mm hoặc lớn hơn trương một góc tại mắt lớn hơn góc\r\ntrương nhỏ nhất (αmin).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Hai điều kiện nguồn kéo dài được\r\nxem xét trong tiêu chuẩn này khi xét đến các nguy hiểm gây thương tích bởi\r\nnhiệt lên võng mạc: nguồn trung bình và nguồn lớn. Chúng được sử dụng để phân\r\nbiệt các nguồn có góc trương của nguồn biểu kiến, α, giữa αmin và αmax\r\n(các nguồn trung bình) và lớn hơn (αmax (các nguồn lớn). Xem thêm\r\n3.82.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Các ví dụ trong đó hệ số C6\r\n(4.3 c) và Bảng 9) có thể lớn hơn 1 bao gồm quan sát một số nguồn laser khuếch\r\ntán, phản xạ khuếch tán, một số laser đơn sắc và một số mạng điốt laser.
\r\n\r\n3.37
\r\n\r\nAn toàn cho mắt
Phát xạ tiếp cận được thấp hơn mức AEL của\r\ncấp 1 hoặc phơi nhiễm dưới mức MPE đối với mắt trong thời gian phơi nhiễm cho\r\ntrước.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Thuật ngữ này được sử dụng không\r\nđúng trong một số quảng cáo đối với phát xạ laser trong dải bước sóng lớn hơn 1\r\n400 nm dựa trên các giới hạn phơi nhiễm cao hơn trong dải bước sóng đó so với\r\nvùng nguy hiểm cho võng mạc. Thuật ngữ “laser an toàn cho mắt” chỉ có thể được\r\nsử dụng để mô tả các sản phẩm laser cấp 1. Ngay cả khi cấp 1 có thể được coi là\r\n“an toàn cho mắt” nếu đây là phát xạ nhìn thấy, các nhiễu hình ảnh ngắn hạn như\r\n“mất khả năng nhìn tạm thời” và “lưu ảnh” có thể vẫn gây ra khi quan sát trực\r\ntiếp chùm tia.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Thuật ngữ “laser an toàn cho\r\nmắt” không thể được sử dụng để mô tả laser chỉ dựa trên bước sóng đầu ra lớn\r\nhơn 1 400 nm, vì các bộ phát laser có bước sóng bất kỳ có công suất ra đủ lớn\r\ncũng có thể gây thương tích.
\r\n\r\n3.38
\r\n\r\nHỏng một cách an toàn
Xem xét thiết kế trong đó việc hỏng một thành\r\nphần nào đó không làm tăng nguy hiểm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Trong chế độ hỏng, hệ thống được\r\nlàm mất hiệu lực hoặc không làm tăng nguy hiểm.
\r\n\r\n3.39
\r\n\r\nKhóa liên động an toàn hỏng một cách an toàn
Khóa liên động mà trong chế độ hỏng không làm\r\nhỏng mục đích của khóa liên động.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Ví dụ, khóa liên động được điều\r\nkhiển chủ động vào vị trí OFF ngay khi nắp có bản lề bắt đầu mở ra, hoặc trước\r\nkhi tháo nắp tháo rời được, và khóa liên động được giữ chủ động ở vị trí OFF\r\ncho đến khi nắp có bản lề được đóng lại hoặc nắp tháo rời được được giữ ở vị\r\ntrí đóng.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Với mục đích của tiêu chuẩn này,\r\nkhóa liên động an toàn ở vị trí OFF sẽ kết thúc chùm tia hoặc giảm công suất ra\r\nđến mức yêu cầu. Nếu sử dụng các thành phần điện, điện tử hoặc thành phần lập\r\ntrình được thì cho phép sử dụng IEC 61508 hoặc ISO 13849 để đánh giá tính tin\r\ncậy của khóa liên động.
\r\n\r\n3.40
\r\n\r\nKhả năng tiếp cận của người
a) khả năng cơ thể người tiếp nhận bức xạ\r\nlaser do sản phẩm laser phát ra, tức là bức xạ có thể được chặn bên ngoài vỏ\r\nbảo vệ, hoặc
\r\n\r\nb) khả năng một que hình trụ có đường kính\r\n100 mm và chiều dài 100 mm chặn các mức bức xạ cấp 3B và thấp hơn, hoặc
\r\n\r\nc) khả năng bàn tay hoặc cánh tay người chặn\r\ncác mức bức xạ lớn hơn mức AEL của cấp 3B,
\r\n\r\nd) ngoài ra đối với các mức bức xạ trong vỏ\r\nbảo vệ tương đương với cấp 3B hoặc cấp 4, khả năng của phần bất kỳ của cơ thể người\r\ntiếp nhận bức xạ laser nguy hiểm mà có thể được phản xạ trực tiếp bởi bề mặt\r\nphẳng bất kỳ từ bên trong sản phẩm xuyên qua lỗ mở bất kỳ trong vỏ bảo vệ của nó.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đối với các sản phẩm laser tạo ra\r\nsự tiếp cận khi đi vào, cần xét đến bức xạ cả bên trong và bên ngoài vỏ bảo vệ\r\nđể xác định khả năng tiếp cận của người. Khả năng tiếp cận của người bên trong\r\nvỏ bảo vệ có thể được ngăn ngừa bằng các cơ cấu điều khiển ví dụ các hệ thống\r\nphát hiện tự động.
\r\n\r\n3.41
\r\n\r\nTích phân của bức xạ
Liều bức xạ (radiance dose)
\r\n\r\nL
Tích phân của bức xạ trong khoảng thời\r\ngian phơi nhiễm cho trước thể hiện bằng năng lượng bức xạ trên một đơn vị diện\r\ntích của bề mặt bức xạ trên mỗi đơn vị góc khối phát xạ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Trong hướng dẫn của\r\nICNIRP, đại lượng này cũng được gọi là liều bức xạ và sử dụng ký hiệu D.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: jun trên mét vuông\r\ntrên một đơn vị góc khối (J·m-2·sr-1).
\r\n\r\n3.42
\r\n\r\nQuan sát nội chùm tia
Tất cả các điều kiện quan sát ở đó mắt bị\r\nphơi nhiễm trực tiếp hoặc phản xạ gương với chùm tia laser khác với, ví dụ,\r\nviệc quan sát các phản xạ khuếch tán.
\r\n\r\n3.43
\r\n\r\nĐộ rọi (irradiance)
\r\n\r\nE
\r\n\r\nTỷ số giữa lượng bức xạ dФ tới một\r\nphần tử của mặt phẳng có diện tích dA
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image002.jpg\")
CHÚ THÍCH: Đơn vị SI: oát trên mét vuông (W·m-2).
\r\n\r\n3.44
\r\n\r\nBộ phát laser
Thiết bị bất kỳ có thể được thực hiện để tạo\r\nra hoặc khuếch đại bức xạ điện tử trong dải bước sóng từ 180 nm đến 1 mm chủ\r\nyếu bởi quá trình phát xạ cưỡng bức có khống chế.
\r\n\r\n[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-04-39, có sửa\r\nđổi - Nội dung định nghĩa được trình bày lại]
\r\n\r\n3.45
\r\n\r\nKhu vực có khống chế laser
Khu vực ở đó việc có mặt và hoạt động trong\r\nphạm vi khu vực chịu sự khống chế và kiểm soát với mục đích bảo vệ khỏi nguy\r\nhiểm bức xạ laser.
\r\n\r\n3.46
\r\n\r\nNguồn cấp năng lượng laser
Thiết bị bất kỳ được thiết kế để sử dụng cùng\r\nvới bộ phát laser nhằm cấp năng lượng để kích thích các điện tử, ion hoặc phân\r\ntử.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Các nguồn năng lượng thông dụng\r\nví dụ như nguồn điện hoặc pin/acquy không được xem là tạo thành các nguồn năng\r\nlượng laser.
\r\n\r\n3.47
\r\n\r\nVùng nguy hiểm laser
Vùng trong đó phơi nhiễm của mắt và/hoặc da\r\nvượt quá các giá trị phơi nhiễm lớn nhất cho phép tương ứng (MPE); xem vùng\r\nnguy hiểm danh nghĩa cho mắt (3.64).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Để tránh mập mờ, cần bổ sung thông\r\ntin chỉ rõ vùng nguy hiểm này là dựa trên MPE của mắt hay da.
\r\n\r\n3.48
\r\n\r\nSản phẩm laser
Sản phẩm hoặc cụm linh kiện bất kỳ tạo thành,\r\nkết hợp hoặc được thiết kế để kết hợp với bộ phát laser hoặc hệ thống laser.
\r\n\r\n3.49
\r\n\r\nBức xạ laser
Tất cả các bức xạ điện từ do sản phẩm laser\r\nphát ra trong phạm vi từ 180 nm đến 1 mm mà được tạo ra bởi phát xạ cưỡng bức\r\ncó khống chế.
\r\n\r\n3.50
\r\n\r\nNhân viên an toàn laser
Người có hiểu biết về đánh giá và khống chế\r\ncác nguy hiểm laser và có trách nhiệm giám sát sự khống chế nguy hiểm laser.
\r\n\r\n3.51
\r\n\r\nHệ thống laser
Bộ phát laser kết hợp với nguồn cấp năng\r\nlượng laser tương ứng có hoặc không có các thành phần kết hợp bổ sung khác.
\r\n\r\n3.52
\r\n\r\nĐiốt phát quang
Thiết bị có lớp tiếp giáp bán dẫn p-n nhằm\r\ntạo ra bức xạ điện từ bằng cách kết hợp lại về bức xạ trong các linh kiện bán\r\ndẫn trong dải bước sóng từ 180 nm đến 1 mm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Bức xạ quang được tạo ra chủ yếu\r\nbởi quá trình phát xạ tự phát, mặc dù một số phát xạ cưỡng bức cũng có thể xuất\r\nhiện.
\r\n\r\n3.53
\r\n\r\nGóc giới hạn chấp nhận để đánh giá nguy hiểm\r\nquang hóa lên võng mạc (limiting angle of acceptance for evaluating retinal\r\nphotochemical hazards)
\r\n\r\nγph
\r\n\r\nGóc trên mặt phẳng mà qua đó bức xạ được phát\r\nhiện và được sử dụng để xác định phát xạ tiếp cận được, hoặc mức phơi nhiễm cần\r\nso sánh với các giới hạn quang hóa lên võng mạc.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Góc γph có quan hệ\r\nvới chuyển động của mắt và không phụ thuộc vào góc trương của nguồn. Nếu góc\r\ntrương của nguồn lớn hơn góc giới hạn chấp nhận quy định γph, thì\r\ngóc chấp nhận γ được giới hạn ở góc γph và nguồn được quét để phát\r\nhiện các điểm nóng. Nếu góc chấp nhận γ không bị giới hạn ở mức quy định thì\r\nnguy hiểm có thể bị đánh giá quá cao.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Nếu góc trương của nguồn biểu\r\nkiến nhỏ hơn góc giới hạn chấp nhận quy định thì góc chấp nhận thực tế của\r\nthiết bị đo không ảnh hưởng đến giá trị đo được và không phải giới hạn, tức là\r\ncó thể sử dụng gốc “mở” thông thường của bố trí đo radio chấp nhận.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Đơn vị SI: radian.
\r\n\r\n3.54
\r\n\r\nGóc giới hạn chấp nhận để đánh giá nguy hiểm\r\nvề nhiệt\r\n(limiting angle of acceptance for evaluating thermal hazards)
\r\n\r\nγth
\r\n\r\nGóc trương lớn nhất cần sử dụng để đánh giá\r\nnguy hiểm về nhiệt lên võng mạc.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Giá trị góc chấp nhận γ có thể\r\nthay đổi trong phạm vi từ αmin đến αmax (xem 4.3 d) và\r\n5.4.3 b) 2)).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: radian.
\r\n\r\n3.55
\r\n\r\nLỗ mở giới hạn
Diện tích hình tròn trên đó độ rọi và phơi\r\nnhiễm bức xạ được lấy trung bình.
\r\n\r\n3.56
\r\n\r\nBảo dưỡng (maintenance)
\r\n\r\nViệc thực hiện các điều chỉnh hoặc các quy\r\ntrình được quy định trong thông tin cho người sử dụng do nhà chế tạo cung cấp\r\ncùng với sản phẩm laser, các hoạt động này được thực hiện bởi người sử dụng\r\nnhằm mục đích đảm bảo tính năng dự kiến của sản phẩm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Bảo dưỡng không bao gồm vận hành\r\nhoặc bảo trì.
\r\n\r\n3.57
\r\n\r\nGóc trương lớn nhất
αmax
\r\n\r\nGiá trị góc trương của nguồn biểu kiến mà cao\r\nhơn góc này thì các giá trị MPE và AEL không phụ thuộc vào kích thước của\r\nnguồn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Giá trị αmax có thể\r\nthay đổi trong phạm vi từ 5 mrad đến 100 mrad tùy thuộc vào thời gian phát xạ\r\n(xem Bảng 9).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: radian.
\r\n\r\n3.58
\r\n\r\nĐầu ra lớn nhất
Phát xạ lớn nhất tiếp cận được được sử dụng\r\nđể xác định cấp của sản phẩm laser.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Vì việc xác định phát xạ tiếp cận\r\nđược bao gồm, bên cạnh các điều kiện khác, xem xét các điều kiện sự cố đơn (xem\r\n5.1) nên đầu ra lớn nhất có thể vượt quá đầu ra cao nhất trong hoạt động bình\r\nthường.
\r\n\r\n3.59
\r\n\r\nPhơi nhiễm lớn nhất cho phép
MPE
\r\n\r\nMức bức xạ laser mà, trong các trường hợp\r\nbình thường, người có thể phơi nhiễm mà không có những ảnh hưởng bất lợi.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Các mức MPE thể hiện mức lớn\r\nnhất mà tại đó mắt hoặc da có thể phơi nhiễm mà không bị thương ngay lập tức\r\nhoặc sau thời gian dài; các mức MPE liên quan đến bước sóng của bức xạ laser,\r\nthời gian xung hoặc thời gian phơi nhiễm, mô có nguy hiểm rủi ro và, kích thước\r\ncủa hình ảnh võng mạc đối với bức xạ laser nhìn thấy được và gần hồng ngoại\r\ntrong dải từ 400 nm đến 1 400 nm. Các mức phơi nhiễm lớn nhất cho phép (trong\r\nphạm vi hiểu biết hiện nay) được quy định trong Phụ lục A.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Các giá trị MPE cho trong Phụ\r\nlục A chỉ để tham khảo và được cung cấp sao cho nhà chế tạo có thể tính toán\r\nNOHD, thực hiện phân tích rủi ro và thông tin đến người sử dụng về sử dụng an\r\ntoàn sản phẩm. Các giới hạn phơi nhiễm đối với mắt và da của người sử dụng ở\r\nnơi làm việc và của công chúng được quy định trong luật ở một số quốc gia. Các\r\ngiới hạn phơi nhiễm quốc gia quy định trong luật này có thể khác với MPE cho\r\ntrong Phụ lục A.
\r\n\r\n3.60
\r\n\r\nSản phẩm laser y tế
Sản phẩm laser bất kỳ được thiết kế, chế tạo,\r\ndự kiến hoặc xúc tiến cho các mục đích chẩn đoán, phẫu thuật, thẩm mỹ hoặc\r\nchiếu rọi laser trị liệu vào bộ phận bắt kỳ của cơ thể.
\r\n\r\n3.61
\r\n\r\nGóc trương nhỏ nhất
αmin
\r\n\r\nGiá trị góc trương của nguồn biểu kiến mà lớn\r\nhơn góc này thì nguồn được coi là nguồn kéo dài.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: MPE và AEL không phụ thuộc vào\r\nkích thước nguồn đối với các góc trương nhỏ hơn αmin.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: radian.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3:
3.62
\r\n\r\nKhóa chế độ (mode-locking)
\r\n\r\nCơ chế hoặc hiện tượng thông thường, trong bộ\r\ncộng hưởng laser, tạo ra chuỗi các xung cực ngắn (ví dụ dưới nano giây).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Trong khi đây có thể là một đặc\r\ntrưng có cân nhắc nhưng cũng có thể xảy ra tự phát như “tự khóa chế độ”. Công\r\nsuất đỉnh tạo ra có thể lớn hơn đáng kể công suất trung bình.
\r\n\r\n3.63
\r\n\r\nVị trí khắc nghiệt nhất
Vị trí trong chùm tia nơi mà tỷ số phát xạ\r\ntiếp cận được trên AEL là lớn nhất.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Cả phát xạ tiếp cận được và AEL có\r\nthể phụ thuộc vào vị trí của đánh giá trong chùm tia. Xem thêm 3.36.
\r\n\r\n3.64
\r\n\r\nVùng nguy hiểm danh nghĩa cho mắt
NOHA
\r\n\r\nVùng trong đó độ rọi chùm tia hoặc phơi nhiễm\r\nbức xạ vượt quá phơi nhiễm lớn nhất cho phép (MPE) tương ứng đối với giác mạc,\r\nkể cả khả năng lệch hướng ngẫu nhiên của chùm tia laser.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Nếu NOHD bao gồm cả khả năng quan\r\nsát thông qua hỗ trợ quang thì thuật ngữ này được gọi là “NOHA kéo dài”.
\r\n\r\n3.65
\r\n\r\nKhoảng cách nguy hiểm danh nghĩa cho mắt
NOHD
\r\n\r\nKhoảng cách từ lỗ mở đầu ra mà khi lớn hơn\r\nkhoảng cách đó thì độ rọi chùm tia hoặc phơi nhiễm bức xạ thấp hơn phơi nhiễm\r\nlớn nhất cho phép (MPE) tương ứng.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Nếu NOHD bao gồm cả khả năng quan\r\nsát thông qua hỗ trợ quang thì thuật ngữ này được gọi là “NOHD kéo dài (ENOHD)”.
\r\n\r\n3.66
\r\n\r\nVận hành (operation)
\r\n\r\nSản phẩm laser vận hành trên toàn bộ phạm vi\r\ncác chức năng dự kiến của nó.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Vận hành không bao gồm bảo dưỡng\r\nhoặc bảo trì.
\r\n\r\n3.67
\r\n\r\nGiới hạn nguy hiểm quang hóa
MPE hoặc AEL được dẫn ra để bảo vệ người khỏi\r\ncác ảnh hưởng bất lợi về quang hóa.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Trong dải bước sóng cực tím,\r\ngiới hạn nguy hiểm quang hóa bảo vệ chống các ảnh hưởng bất lợi về quang hóa\r\nlên giác mạc và thủy tinh thể, trong khi giới hạn nguy hiểm quang học lên mắt,\r\nnhư xác định trong dải bước sóng từ 400 nm đến 600 nm, bảo vệ chống viêm võng\r\nmạc - một thương tích quang hóa cho mắt do phơi nhiễm với bức xạ.
\r\n\r\n3.68
\r\n\r\nVỏ bảo vệ (protective housing)
\r\n\r\nCác phần của sản phẩm laser (kể cả sản phẩm\r\nkết hợp bộ phát laser lắp trong) được thiết kế để ngăn sự tiếp cận của người\r\nđến bức xạ laser vượt quá mức AEL quy định (thường được lắp đặt hoặc lắp ráp bởi\r\nnhà chế tạo).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Xem 5.1 liên quan đến các yêu cầu\r\nthử nghiệm để đánh giá sự phù hợp của vỏ bảo vệ trong việc ngăn ngừa sự tiếp\r\ncận của người.
\r\n\r\n3.69
\r\n\r\nThời gian xung
Khoảng thời gian được đo giữa các điểm công\r\nsuất nửa đỉnh trên sườn trước và sườn sau của xung.
\r\n\r\n3.70
\r\n\r\nBộ phát laser dạng xung
Bộ phát laser phát năng lượng của nó dưới\r\ndạng xung đơn hoặc chuỗi các xung.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Trong tiêu chuẩn này, thời gian\r\nxung nhỏ hơn 0,25 s.
\r\n\r\n3.71
\r\n\r\nLượng bức xạ
L
\r\n\r\nĐại lượng được tính theo công thức
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image003.jpg\")
trong đó
\r\n\r\n| \r\n dФ \r\n | \r\n \r\n là thông lượng bức xạ phát ra bởi chùm tia\r\n sơ cấp đi qua điểm cho trước và lan truyền trong góc khối dΩ chứa\r\n hướng cho trước; \r\n | \r\n
| \r\n dA \r\n | \r\n \r\n diện tích phần của chùm tia chứa điểm cho\r\n trước; \r\n | \r\n
| \r\n θ \r\n | \r\n \r\n góc giữa đường vuông góc với phần của chùm\r\n tia và hướng của chùm tia đó. \r\n | \r\n
CHÚ THÍCH 1: Định nghĩa này được đơn giản hóa\r\nso với định nghĩa IEV 845-01-34, đủ cho mục đích của tiêu chuẩn này. Trong\r\ntrường hợp có nghi ngờ, cần tuân thủ định nghĩa IEV trên.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Đơn vị SI: oát trên mét vuông\r\ntrên radian gốc khối. (W·m-2·sr-1)
\r\n\r\n[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-01-34, có sửa\r\nđổi - Định nghĩa được đơn giản hóa]
\r\n\r\n3.72
\r\n\r\nNăng lượng bức xạ
Q
\r\n\r\nTích phân theo thời gian của thông lượng bức\r\nxạ Ф trong khoảng thời gian cho trước Δt.
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image004.jpg\")
CHÚ THÍCH: Đơn vị SI: jun (J)
\r\n\r\n[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-01-27, có sửa\r\nđổi - Định nghĩa được đơn giản hóa]
\r\n\r\n3.73
\r\n\r\nPhơi nhiễm bức xạ
H
\r\n\r\nTại một điểm trên mặt phẳng, năng\r\nlượng bức xạ tới một phần tử của mặt phẳng chia cho diện tích phần tử đó.
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image005.jpg\")
CHÚ THÍCH: Đơn vị SI: jun trên mét vuông (J·m-2)
\r\n\r\n3.74
\r\n\r\nCông suất bức xạ/Thông lượng bức xạ
Ф, P
\r\n\r\nCông suất phát ra, truyền tải hoặc nhận được\r\ndưới dạng bức xạ
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image006.jpg\")
CHÚ THÍCH: Đơn vị SI: oát (W)
\r\n\r\n[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-01-24]
\r\n\r\n3.75
\r\n\r\nHệ số phản xạ
ρ
\r\n\r\nTỷ số giữa công suất bức xạ phản xạ và công\r\nsuất bức xạ tới trong các điều kiện cho trước.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đơn vị SI: Tỷ số không có thứ\r\nnguyên.
\r\n\r\n[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-04-58, có sửa\r\nđổi để đề cập đến công suất bức xạ thay cho thông lượng bức xạ.]
\r\n\r\n3.76
\r\n\r\nBộ nối khóa liên động từ xa
Bộ nối cho phép đấu nối các cơ cấu điều khiển\r\nbên ngoài đặt xa các phần khác của sản phẩm laser.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Xem 6.4.
\r\n\r\n3.77
\r\n\r\nKhóa liên động an toàn
Cơ cấu tự động kết hợp với từng ngăn của vỏ\r\nbảo vệ của sản phẩm laser để ngăn ngừa tiếp cận của người đến bức xạ laser cấp\r\n3R, cấp 3B hoặc cấp 4 khi ngăn đó được tháo ra, mở ra hoặc thay thế.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Xem 6.3.
\r\n\r\n3.78
\r\n\r\nQuét bức xạ laser
Bức xạ laser có hướng, điểm bắt nguồn hoặc\r\ndạng lan truyền thay đổi theo thời gian so với khung tham chiếu tĩnh tại.
\r\n\r\n3.79
\r\n\r\nBảo trì (service)
\r\n\r\nViệc thực hiện các quy trình hoặc điều chỉnh\r\nđược mô tả trong hướng dẫn bảo trì của nhà chế tạo mà có thể ảnh hưởng đến khía\r\ncạnh bất kỳ trong tính năng của sản phẩm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Bảo trì không bao gồm bảo dưỡng và\r\nvận hành.
\r\n\r\n3.80
\r\n\r\nPanel bảo trì
Panel tiếp cận được được thiết kế để tháo ra\r\nhoặc thay thế khi bảo trì.
\r\n\r\n3.81
\r\n\r\nĐiều kiện sự cố đơn
Sự cố đơn bất kỳ có thể xảy ra trong sản phẩm\r\nvà các hậu quả trực tiếp của sự cố đó.
\r\n\r\n3.82
\r\n\r\nNguồn nhỏ (small source)
\r\n\r\nNguồn có góc trương α nhỏ hơn hoặc bằng góc\r\ntrương nhỏ nhất αmin.
\r\n\r\n3.83
\r\n\r\nPhản xạ gương
Phản xạ từ bề mặt có thể quan sát chùm tia\r\n(xem 3.11) kể cả các phản xạ từ các bề mặt đối xứng gương.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Định nghĩa này nhằm thừa nhận rằng\r\nmột số bề mặt phản xạ, ví dụ bộ phản xạ parabol, có thể làm tăng nguy hiểm từ\r\nchùm tia tới.
\r\n\r\n3.84
\r\n\r\nGiới hạn nguy hiểm về nhiệt
MPE hoặc AEL được tính toán để bảo vệ con\r\nngười khỏi các ảnh hưởng bất lợi về nhiệt, khác với thương tích về quang hóa.
\r\n\r\n3.85
\r\n\r\nGốc thời gian
Thời gian phát xạ cần xem xét để phân loại\r\ncác sản phẩm laser.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Xem 4.3 e).
\r\n\r\n3.86
\r\n\r\nDụng cụ (tool)
\r\n\r\nTuốc nơ vít, chìa khóa lục giác hoặc đồ vật\r\nkhác có thể sử dụng để thao tác vít hoặc phương tiện cố định tương tự.
\r\n\r\n3.87
\r\n\r\nHệ số truyền
т
\r\n\r\nTỷ số giữa thông lượng bức xạ truyền đi và\r\nthông lượng bức xạ tới trong các điều kiện cho trước.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đơn vị SI: tỷ số không có thứ\r\nnguyên.
\r\n\r\n[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-04-59, có sửa\r\nđổi]
\r\n\r\n3.88
\r\n\r\nMật độ truyền
Mật độ quang
D
\r\n\r\nLogarit cơ số 10 của nghịch đảo hệ số truyền т.
\r\n\r\nD = - log10т
\r\n\r\n[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-04-66]
\r\n\r\n3.89
\r\n\r\nBức xạ nhìn thấy được
Ánh sáng (light)
\r\n\r\nBức xạ quang bất kỳ có khả năng gây ra cảm\r\nnhận của mắt một cách trực tiếp.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Trong tiêu chuẩn này, bức xạ nhìn\r\nthấy là bức xạ điện từ có các bước sóng của các thành phần một màu nằm trong\r\ndải từ 400 nm đến 700 nm.
\r\n\r\n[NGUỒN: IEC 60050-845:1987, 845-01-03, có sửa\r\nđổi - chú thích trong định nghĩa ban đầu được thay bằng chú thích hiện tại]
\r\n\r\n3.90
\r\n\r\nVật cần gia công
Vật được thiết kế để gia công bằng bức xạ\r\nlaser.
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\nPhân loại sản phẩm laser dựa trên việc xác\r\nđịnh mức bức xạ tiếp cận được (được xác định theo quy tắc quy định trong Điều\r\n5) và so sánh với mức đó với giới hạn phát xạ tiếp cận được (AEL) kết hợp với\r\ntừng cấp. Đối với Cấp 1, Cấp 1M, Cấp 2, Cấp 2M và cấp 3R, có thể cần có các\r\nphép đo bổ sung để xác định xem có cần các cảnh báo bổ sung hay không (xem Điều\r\n7). Các quy tắc cụ thể áp dụng để phân loại sản phẩm (ví dụ đối với cấp 1C, xem\r\n5.3 b) và 4.4 đối với một số sản phẩm nguồn kéo dài bức xạ).
\r\n\r\nDo bước sóng có thể thay đổi trong phạm vi\r\nrộng, thành phần năng lượng và đặc tính xung của chùm tia laser, các nguy hiểm\r\ntiềm ẩn có thể xuất hiện trong ứng dụng đa dạng của nó. Không thể xem bộ phát\r\nlaser như một nhóm duy nhất để có thể áp dụng các mức an toàn như nhau. Phụ lục\r\nC mô tả các nguy hiểm kết hợp với các nhóm và các giới hạn có thể có (ví dụ khi\r\ncó thể xuất hiện từ việc quan sát có hỗ trợ quang) một cách chi tiết hơn.
\r\n\r\n\r\n\r\nNhà chế tạo có trách nhiệm cung cấp phân loại\r\nđúng của sản phẩm laser. (Tuy nhiên, xem thêm 6.1).
\r\n\r\n\r\n\r\nSản phẩm phải được phân loại dựa trên cơ sở\r\nkết hợp (các) công suất ra và (các) bước sóng của phát xạ tiếp cận được (bức xạ\r\nlaser) trên toàn dải khả năng trong quá trình hoạt động tại thời điểm bất kỳ\r\nsau khi chế tạo mà tạo ra sự phân bổ cho cấp thích hợp cao nhất. Đánh giá phải\r\nbao gồm việc xem xét điều kiện sự cố đơn dự đoán được một cách hợp lý bất kỳ\r\ntrong quá trình hoạt động (xem 5.1 liên quan đến việc áp dụng các nguyên tắc\r\nphân tích rủi ro để xác định sự cố đơn nào là có thể dự đoán được một cách hợp\r\nlý).
\r\n\r\nSản phẩm laser chỉ có thể được ấn định một\r\ncấp cụ thể khi nó đáp ứng tất cả các yêu cầu trong tiêu chuẩn này đối với cấp\r\nđó; ví dụ các cơ cấu điều khiển, ghi nhãn và thông tin cho người sử dụng.
\r\n\r\nĐối với các sản phẩm laser phát các chùm tia\r\nlaser CW có một bước sóng duy nhất mà trực chuẩn hoặc được giả thiết là từ\r\nnguồn nhỏ, thì quy trình phân loại có thể được đơn giản hóa và cần xét các hạng\r\nmục sau:
\r\n\r\n4.3 b), 4.3 c), 4.3 d), 4.3 f).
\r\n\r\nVới mục đích của nguyên tắc phân loại, phải\r\nsử dụng các thứ bậc của các cấp (theo thứ tự tăng dần về nguy hiểm cho mắt) như\r\nsau: Cấp 1, Cấp 1C, Cấp 1M, Cấp 2, Cấp 2M, Cấp 3R, Cấp 3B, Cấp 4.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Cấp 1C được xem là không nguy\r\nhiểm cho mắt (tương tự cấp 1), nhưng có thể có nguy hiểm cho da nếu sử dụng\r\nkhông thích hợp (xem thêm 5.3 b)).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Để phân loại sản phẩm laser là Cấp\r\n1M hoặc Cấp 2M, việc sử dụng lỗ mở quy định như Điều kiện 3 sẽ giới hạn lượng\r\nbức xạ thu được bởi đồng tử của mắt từ các chùm tia có đường kính lớn. Khi được\r\nđo trong Điều kiện 1, các sản phẩm Cấp 1M và Cấp 2M có thể có năng lượng lớn\r\nhơn hoặc mức công suất lớn hơn AEL của Cấp 2 hoặc Cấp 3R. Đối với các sản phẩm\r\nlaser như vậy, phân loại 1M hoặc 2M là thích hợp.
\r\n\r\nCác giới hạn phát xạ tiếp cận được (AEL) đối\r\nvới Cấp 1 và 1M, Cấp 2 và 2M, cấp 3R và cấp 3B được cho trong các bảng từ Bảng\r\n3 đến Bảng 8. Các giá trị của hệ số hiệu chỉnh được sử dụng được cho trong Bảng\r\n9 là các hàm của bước sóng, thời gian phát xạ, số lượng xung và góc trương.
\r\n\r\na) Bức xạ một bước sóng
\r\n\r\nSản phẩm laser một bước sóng, có dải phổ của\r\nphát xạ đủ hẹp sao cho các AEL không thay đổi, được ấn định cho một cấp khi bức\r\nxạ laser tiếp cận được, được đo trong các điều kiện thích hợp với cấp đó, vượt\r\nquá AEL của tất cả các cấp thấp hơn nhưng không vượt quá cấp được ấn định đó.
\r\n\r\nb) Bức xạ nhiều bước sóng
\r\n\r\n1) Sản phẩm laser phát ra hai hoặc nhiều bước\r\nsóng trong các vùng phổ được thể hiện là sự cộng dồn đối với mắt trong Bảng 1\r\nđược ấn định cho một cấp khi tổng các tỷ số của bức xạ laser tiếp cận được\r\n(được đo trong các điều kiện thích hợp với cấp đó) với các AEL của các bước\r\nsóng đó lớn hơn một đơn vị đối với tất cả các cấp thấp hơn nhưng không vượt quá\r\nmột đơn vị đối với cấp được ấn định. Quy tắc này cũng áp dụng cho bức xạ không\r\nlaser trùng khớp trên võng mạc đối với các bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm\r\nhoặc trùng khớp trên nắp che lỗ mở đối với các dải bước sóng khác. Do đó, bức\r\nxạ không laser phải được xét đến đối với phân loại theo tiêu chuẩn này.
\r\n\r\n2) Sản phẩm laser phát ra hai hoặc nhiều bước\r\nsóng không thể hiện là sự cộng dồn đối với mắt trong Bảng 1 được ấn định cho\r\nmột cấp khi bức xạ laser tiếp cận được, được đo trong các điều kiện thích hợp\r\nvới cấp đó, vượt quá AEL của tất cả các cấp thấp hơn đối với tối thiểu một bước\r\nsóng nhưng không vượt quá AEL đối với cấp được ấn định đối với bước sóng bất\r\nkỳ.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||
| \r\n o Mắt \r\n | \r\n ||||
| \r\n s Da \r\n | \r\n ||||
| \r\n a Đối với các định nghĩa của vùng phổ, xem\r\n Bảng D.1. \r\n | \r\n ||||
| \r\n b Trong trường hợp AEL và MPE cho mắt được\r\n đánh giá đối với các gốc thời gian hoặc thời gian phơi nhiễm là 1 s hoặc lâu\r\n hơn thì các ảnh hưởng quang hóa bổ sung (400 nm đến 600 nm) và các ảnh hưởng\r\n nhiệt bổ sung (400 nm đến 1 400 nm) phải được đánh giá một cách độc lập và sử\r\n dụng giá trị khắc nghiệt nhất. \r\n | \r\n ||||
| \r\n c Để xác định AEL, chỉ áp dụng các quy tắc\r\n bổ sung đối với mắt. \r\n | \r\n ||||
c) Bức xạ từ các nguồn kéo dài
\r\n\r\nNguy hiểm cho mắt từ các nguồn laser trong\r\ndải bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm phụ thuộc vào góc trương của nguồn biểu\r\nkiến α. Sự phụ thuộc này được biểu thị trong các giá trị AEL bằng hệ số C6\r\n(xem Bảng 9), cũng như trong các quy tắc xác định phát xạ tiếp cận được với góc\r\nchấp nhận quy định.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Một nguồn được coi là nguồn kéo\r\ndài khi góc trương của nguồn lớn hơn αmin, trong đó αmin\r\n= 1,5 mrad. Hầu hết các nguồn laser có góc trương α nhỏ hơn αmin, và\r\nxuất hiện như một “nguồn điểm” biểu kiến (nguồn nhỏ) khi được nhìn từ trong chùm\r\ntia (quan sát trong phạm vi chùm tia). Thực vậy, một chùm tia laser hình tròn\r\nkhông thể chuẩn trực với sự phân kỳ nhỏ hơn 1,5 mrad nếu nó là nguồn kéo dài,\r\ndo đó bộ phát laser bất kỳ khi quy định sự phân kỳ chùm tia là 1,5 mrad hoặc\r\nnhỏ hơn không thể được coi là nguồn kéo dài. Đối với nguồn nhỏ, α được đặt đến αmin\r\n= 1,5 mrad và C6 = 1.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 4: Để đánh giá nguy hiểm về nhiệt\r\nlên võng mạc (400 nm đến 1 400 nm), AEL đối với các nguồn kéo dài thay đổi trực\r\ntiếp theo góc trương của nguồn. Để đánh giá nguy hiểm về quang hóa lên võng mạc\r\n(400 nm đến 600 nm), đối với các phơi nhiễm lâu hơn 1 s, các AEL không thay đổi\r\ntrực tiếp theo góc trương của nguồn. Tùy thuộc vào khoảng thời gian phát xạ\r\n(xem 5.4.3 b)1), góc chấp nhận giới hạn bằng 11 mrad hoặc lớn hơn được sử dụng\r\nđể đo liên quan đến nguy hiểm quang hóa, và quan hệ của góc chấp nhận giới hạn γph\r\nvới góc trương α của nguồn biểu kiến có thể ảnh hưởng đến kết quả đo.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 5: Đối với điều kiện mặc định trong\r\nđó C6 = 1, Bảng 3 đơn giản hóa cung cấp AEL Cấp 1,1M và Bảng 6 đơn\r\ngiản hóa cung cấp AEL Cấp 3R.
\r\n\r\nĐối với các nguồn trương một góc nhỏ hơn hoặc\r\nbằng αmin, AEL và MPE không phụ thuộc vào góc trương của nguồn biểu\r\nkiến α.
\r\n\r\nĐể phân loại các sản phẩm laser ở vị trí hạn\r\nchế nhất trong trường hợp áp dụng Điều kiện 1 (xem 5.4.3), cho phép áp dụng\r\nphóng đại 7 lần của góc trương a của nguồn biểu kiến để xác định C6,\r\ntức là C6 = 7 x α/αmin. Biểu thức (7 x α) phải được giới hạn đến αmax\r\ntrước khi tính C6. Phải sử dụng giá trị 7 x của α để xác định T2\r\ncủa Bảng 9.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 6: Đối với các trường hợp khi α\r\n< 1,5 mrad nhưng 7 x α > 1,5 mrad thì áp dụng các giới hạn đối với α >\r\n1,5 mrad của Bảng 4 và Bảng 7.
\r\n\r\nd) Nguồn biểu kiến không đồng nhất, không\r\ntròn hoặc nhiều nguồn
\r\n\r\nĐể so sánh với các giới hạn võng mạc về\r\nnhiệt, nếu
\r\n\r\n- dải bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm; và
\r\n\r\n- AEL phụ thuộc vào C6.
\r\n\r\nvà nếu:
\r\n\r\n- hình ảnh của nguồn biểu kiến không có biên\r\ndạng chiếu rọi đồng nhất
- hình ảnh của nguồn biểu kiến gồm nhiều\r\nđiểm,
\r\n\r\nthì các phép đo hoặc đánh giá phải được thực\r\nhiện đối với từng kịch bản sau:
\r\n\r\n- đối với từng điểm đơn lẻ; và
\r\n\r\n- đối với cụm các điểm khác nhau; và
\r\n\r\n- đối với các vùng từng phần.
\r\n\r\nĐiều này là cần thiết để đảm bảo rằng AEL\r\nkhông bị vượt quá đối với từng góc trương α có thể có trong từng kịch bản. Để\r\nđánh giá các cụm điểm hoặc các vùng từng phần, góc chấp nhận γ được thay đổi\r\ntrong từng kích thước trong khoảng từ (αmin đến αmax, tức\r\nlà αmin < γ < αmax, để xác định phát xạ tiếp cận\r\nđược từng phần kết hợp với kịch bản tương ứng. Để so sánh các mức phát xạ từng\r\nphần tiếp cận được với AEL tương ứng thì giá trị α được đặt bằng góc trương kết\r\nhợp với hình ảnh từng phần của nguồn biểu kiến.
\r\n\r\nPhân loại dựa trên trường hợp mà tỷ số nằm\r\ngiữa:
\r\n\r\n- phát xạ tiếp cận từng phần trong vùng từng\r\nphần với góc trương α của vùng đó; và
\r\n\r\n- AEL tương ứng
\r\n\r\nlà lớn nhất.
\r\n\r\nGóc trương của nguồn chữ nhật hoặc nguồn\r\ntuyến tính được xác định bằng giá trị trung bình số học của hai kích thước góc của\r\nnguồn. Kích thước góc bất kỳ lớn hơn αmax hoặc nhỏ hơn αmin\r\nphải được giới hạn ở αmax hoặc αmin tương ứng, trước khi\r\ntính trung bình.
\r\n\r\nĐể xác định góc trương của nguồn không tròn\r\nđược phóng đại trong Điều kiện 1, độ phóng đại 7 lần trong điểm c) cần được áp\r\ndụng độc lập đối với từng trục trước khi xác định giá trị trung bình số học.
\r\n\r\nCác giới hạn quang hóa (400 nm đến 600 nm)\r\nkhông phụ thuộc vào góc trương của nguồn, và nguồn được phân tích với góc chấp\r\nnhận giới hạn quy định trong 5.4.3 b). Đối với các nguồn lớn hơn góc chấp nhận\r\ngiới hạn, phát xạ tiếp cận được phải được xác định đối với nguồn biểu kiến từng\r\nphần tạo ra giá trị phát xạ lớn nhất.
\r\n\r\ne) Gốc thời gian
\r\n\r\nCác gốc thời gian dưới đây được sử dụng trong\r\ntiêu chuẩn này để phân loại:
\r\n\r\n1) 0,25 s đối với bức xạ laser cấp 2, cấp 2M\r\nvà cấp 3R trong dải bước sóng từ 400 nm đến 700 nm;
\r\n\r\n2) 100 s đối với bức xạ laser của tất cả các\r\nbước sóng lớn hơn 400 nm ngoại trừ các trường hợp liệt kê trong điểm 1) và 3);
\r\n\r\n3) 30 000 s đối với bức xạ laser của tất cả\r\ncác bước sóng nhỏ hơn hoặc bằng 400 nm và đối với bức xạ laser có các bước sóng\r\nlớn hơn 400 nm trong trường hợp việc quan sát dài hạn có chủ ý là cố hữu trong\r\nthiết kế hoặc hoạt động của sản phẩm laser.
\r\n\r\nMỗi khoảng thời gian phát xạ có thể có trong\r\nphạm vi gốc thời gian phải được xem xét khi xác định phân loại của sản phẩm.\r\nĐiều này có nghĩa là mức phát xạ của một xung đơn lẻ phải được so sánh với AEL\r\náp dụng cho khoảng thời gian xung, v.v. Sẽ là không đủ nếu chỉ xác định giá trị\r\ntrung bình mức phát xạ trong khoảng thời gian phân loại của gốc thời gian hoặc\r\nđể thực hiện đánh giá giá trị của gốc thời gian mà không xét đến các khoảng\r\nthời gian phát xạ ngắn hơn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 7: Đối với sản phẩm laser phát xạ\r\nnhiều bước sóng có phát xạ đồng thời hoặc phát xạ chờm lên nhau trong không\r\ngian trong phần phổ ánh sáng nhìn thấy và không nhìn thấy, trường hợp phát xạ\r\nđược đánh giá là phần bổ sung (xem Bảng 1), và trong trường hợp phần nhìn thấy\r\ntrên bản thân nó có thể phân loại là cấp 2 hoặc 2M hoặc 3R và phần không nhìn\r\nthấy được phân loại là Cấp 1 hoặc Cấp 1M, thì gốc thời gian để đánh giá phát xạ\r\nkhông nhìn thấy có thể là 0,25 s.
\r\n\r\nf) Laser dạng xung hoặc điều biến liên tục
\r\n\r\nPhải sử dụng các phương pháp dưới đây để xác\r\nđịnh cấp của sản phẩm laser cần áp dụng cho các phát xạ dạng xung hoặc phát xạ\r\nđiều biến liên tục.
\r\n\r\nNhư một yêu cầu chung, phát xạ tiếp cận được\r\ncủa nhóm xung bất kỳ (hoặc nhóm các xung trong một chuỗi) được phát ra trong\r\nthời gian cho trước bất kỳ không được vượt quá AEL đối với thời gian cho trước\r\nđó (xem thêm 4.3 e) liên quan đến việc xem xét từng khoảng thời gian phát xạ có\r\nthể có).
\r\n\r\nĐối với tất cả các bước sóng, phải đánh giá các\r\nyêu cầu 1) và 2). Ngoài ra, đối với các bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm, yêu\r\ncầu 3) cũng phải được đánh giá để so sánh với các giới hạn nhiệt. Yêu cầu 3)\r\nkhông cần đánh giá để so sánh với các giới hạn về quang hóa cũng như xác định\r\nAEL của Cấp 3B.
\r\n\r\nCấp (xem Bảng 3 đến Bảng 8) được xác định\r\nbằng cách áp dụng trường hợp hạn chế nhất trong 1), 2), và 3) nếu thuộc đối\r\ntượng áp dụng.
\r\n\r\n1) Phơi nhiễm từ một xung đơn bất kỳ trong\r\nchuỗi xung không được vượt quá AEL đối với xung đơn (AELsingle). Để\r\nxác định phát xạ tiếp cận được đối với nguồn kéo dài, thời gian xung được sử\r\ndụng để xác định αmax và góc chấp nhận γth (xem 5.4.3 b)\r\nvà Bảng 9).
\r\n\r\n2) Công suất trung bình đối với chuỗi xung có\r\nkhoảng thời gian phát xạ T không được vượt quá công suất tương ứng với AEL đối\r\nvới xung đơn có thời gian xung T (AELT). Để xác định phát xạ chấp\r\nnhận được đối với nguồn kéo dài, thời gian phát xạ T được sử dụng để xác định αmax\r\nvà góc chấp nhận γth (xem 5.4.3 b) và Bảng 9).
\r\n\r\nĐối với các dạng xung không bình thường (kể\r\ncả các năng lượng xung thay đổi), T phải được thay đổi trong khoảng từ Ti\r\n(xem Bảng 2) đến gốc thời gian. Đối với các dạng xung thông thường, chỉ cần lấy\r\ntrung bình trên gốc thời gian là đủ (T được đặt bằng gốc thời gian).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 8: Khi so sánh AELT với\r\nAELsingle hoặc AELs.p.train để xác định xem tiêu chí nào\r\nlà hạn chế nhất, AELT được thể hiện là năng lượng hoặc phơi nhiễm\r\nbức xạ và được chia cho N và gọi là AELs.p.T.
\r\n\r\n3) Năng lượng trên mỗi xung không được vượt\r\nquá AEL đối với xung đơn nhân với hệ số hiệu chỉnh C5.
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image007.jpg\")
trong đó
\r\n\r\n| \r\n AELs.p.train \r\n | \r\n \r\n là AEL đối với xung đơn trong chuỗi xung; \r\n | \r\n
| \r\n AELsingle \r\n | \r\n \r\n là AEL đối với xung đơn (Bảng 3 đến Bảng\r\n 8); \r\n | \r\n
| \r\n N \r\n | \r\n \r\n số lượng xung hiệu quả trong chuỗi xung\r\n trong khoảng thời gian phát xạ được đánh giá (khi các xung xuất hiện trong\r\n khoảng thời gian Ti (xem Bảng 2), N nhỏ hơn số xung thực\r\n tế, xem dưới đây). Khoảng thời gian phát xạ lớn nhất cần xét là T2\r\n (xem Bảng 9) hoặc gốc thời gian áp dụng được, chọn khoảng thời gian nào ngắn\r\n hơn. \r\n | \r\n
| \r\n C5 \r\n | \r\n \r\n chỉ áp dụng đối với các khoảng thời gian\r\n xung đơn lẻ bằng hoặc ngắn hơn 0,25 s. \r\n | \r\n
Nếu thời gian xung t ≤ Ti\r\nthì:
\r\n\r\nĐối với gốc thời gian nhỏ hơn hoặc bằng 0,25\r\ns, C5 = 1,0
\r\n\r\nĐối với gốc thời gian lớn hơn 0,25 s
\r\n\r\nNếu N ≤ 600 C5=1,0
\r\n\r\nNếu N > 600 C5 = 5\r\nN-0,25 với giá trị nhỏ nhất C5 = 0,4.
\r\n\r\nNếu thời gian xung t > Ti\r\nthì:
\r\n\r\nĐối với α ≤ 5 mrad:
\r\n\r\nC5 = 1,0
\r\n\r\nĐối với 5 mrad < α ≤ αmax:
\r\n\r\nC5 = N-0,25 đối với N ≤ 40
\r\n\r\nC5 = 0,4 đối với N > 40
\r\n\r\nĐối với α > αmax:
\r\n\r\nC5 = N-0,25 đối với N ≤ 625
\r\n\r\nC5 = 0,2 đối với N > 625
\r\n\r\nTrừ khi α > 100 mrad, khi đó C5\r\n= 1,0 trong tất cả các trường hợp.
\r\n\r\nNếu nhiều xung xuất hiện trong khoảng thời\r\ngian Ti (xem Bảng 2), chúng được tính là xung đơn để xác định\r\nN và năng lượng của các xung đơn lẻ này được cộng lại để so sánh với AEL của Ti.
\r\n\r\nTrong một số trường hợp, giá trị tính được\r\nđối với AELs.p.train có thể thấp hơn AEL áp dụng cho hoạt động CW\r\ntại công suất đỉnh như nhau bằng cách sử dụng cùng gốc thời gian. Trong các\r\ntrường hợp này, cho phép sử dụng AEL đối với hoạt động CW.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
CHÚ THÍCH 9: Ví dụ về các tính toán được cho\r\ntrong Phụ lục B.
\r\n\r\nĐối với các sản phẩm laser, ngoại trừ đồ\r\nchơi, được thiết kế để hoạt động như các bóng đèn thông thường và phát ra bức\r\nxạ nhìn thấy và bức xạ quang gần hồng ngoại (400 nm đến 1 400 nm) từ các nguồn\r\nkéo dài có góc trương α lớn hơn 5 mrad ở khoảng cách 200 mm, và có tổng các mức\r\nbức xạ đỉnh không trọng số (từ 400 nm đến 1 400 nm) được lấy trung bình với góc\r\nchấp nhận 5 mrad không vượt quá LT khi hoạt động và điều kiện\r\nsự cố đơn dự đoán được một cách hợp lý, trong đó
\r\n\r\nPhát xạ có thể được đánh giá theo cách khác\r\ntrong bộ tiêu chuẩn IEC 62471 (An toàn quang sinh học của bóng đèn và hệ thống\r\nbóng đèn). Để tính LT, góc trương α được thể hiện bằng radian\r\nvà được xác định ở khoảng cách 200 mm tính từ điểm gần nhất mà người tiếp cận.\r\nGiá trị α trong biểu thức LT được giới hạn ở các giá trị giữa\r\n0,005 rad và 0,1 rad sao cho đối với các nguồn trương một góc 0,005 rad, tiêu\r\nchí bức xạ áp dụng được bằng 200 MW·m-2·sr-1, và đối với\r\ncác nguồn lớn hơn 0,1 rad, tiêu chí áp dụng được bằng 10 MW·m-2·sr-1.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Các giá trị bức xạ nêu trên\r\nkhông phải là các giới hạn phơi nhiễm hoặc các giới hạn phát xạ mà là các tiêu\r\nchí để thiết lập khi bức xạ phát có thể được đánh giá theo bộ tiêu chuẩn IEC\r\n62471.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Bức xạ quang không nằm trong\r\nphân loại laser có thể là đơn sắc.
\r\n\r\nSản phẩm như vậy cần phù hợp với và được phân\r\nloại theo tiêu chuẩn này ngoại trừ phát xạ bức xạ quang mô tả ở trên trong hoạt\r\nđộng bình thường và các điều kiện sự cố đơn dự đoán được một cách hợp lý không\r\nnhất thiết cần được xét đến khi phân loại (tức là phát xạ bức xạ quang mô tả ở\r\ntrên trong hoạt động bình thường không được coi là bức xạ laser tiếp cận được).\r\nSản phẩm này phải phù hợp với các yêu cầu của tiêu chuẩn này đối với bức xạ\r\nlaser tiếp cận được trong quá trình bảo dưỡng hoặc bảo trì.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Nếu không có bức xạ laser tiếp\r\ncận được từ sản phẩm như vậy trong khi hoạt động, khác với mô tả như trên được\r\nđánh giá theo IEC 62471, nó cần được coi là sản phẩm laser Cấp 1.
\r\n\r\nCác sản phẩm này phải được ấn định là nhóm\r\nrủi ro theo bộ tiêu chuẩn IEC 62471 và phải chứa nhãn nêu nhóm rủi ro này cũng\r\nnhư phân loại sản phẩm laser (kể cả Cấp 1 nếu thuộc đối tượng áp dụng) và các\r\ncảnh báo có thể có.
\r\n\r\nPhát xạ laser tiếp cận được có các bước sóng\r\nthấp hơn 400 nm hoặc cao hơn 1 400 nm được coi là phân loại sản phẩm theo tiêu\r\nchuẩn này.
\r\n\r\nCác thử nghiệm phải tính đến tất cả các sai\r\nlỗi và độ không đảm bảo đo theo thống kê trong quá trình đo và việc tăng phát\r\nxạ, giảm an toàn bức xạ theo tuổi thọ. Các yêu cầu cụ thể của người sử dụng có\r\nthể yêu cầu các thử nghiệm bổ sung. Đối với hướng dẫn bổ sung về các phép đo,\r\nxem IEC/TR 60825-13.
\r\n\r\nCác thử nghiệm trong khi hoạt động phải được\r\nsử dụng để xác định phân loại của sản phẩm. Các thử nghiệm trong vận hành, bảo\r\ndưỡng và bảo trì cũng phải được sử dụng khi thích hợp để xác định các yêu cầu\r\nđối với khóa liên động an toàn, nhãn và thông tin cho người sử dụng. Các thử\r\nnghiệm nêu trên phải được thực hiện trong từng và với mỗi điều kiện sự cố đơn\r\ncó thể dự đoán được một cách hợp lý. Tuy nhiên, nếu phát xạ được giảm đến mức\r\nthấp hơn AEL bằng cách tự động giảm trong khoảng thời gian mà không thể dự đoán\r\nđược một cách hợp lý sự tiếp cận của con người thì các sự cố như vậy không nhất\r\nthiết cần được xét đến. Độ tin cậy yêu cầu của việc tự động giảm mức phát xạ để\r\nnằm trong cấp cho trước có thể được đánh giá trên các nguyên tắc phân tích rủi\r\nro, ví dụ như mô tả trong IEC 61508 trong trường hợp quy định mức liền mạch an\r\ntoàn (SIL). Ngoài ra, để quy định các mức SIL, thời gian phản ứng với sự cố\r\ncũng cần được xác định đối với thiết kế việc tự động giảm; thời gian phản ứng\r\nmục tiêu cũng có thể dựa trên rủi ro. Không yêu cầu phân tích đầy đủ theo IEC\r\n61508 hoặc áp dụng IEC 61508.
\r\n\r\nPhân tích rủi ro có thể được sử dụng để xác\r\nđịnh các điều kiện sự cố đơn có thể dự đoán một cách hợp lý. Để xác định xem\r\nđiều kiện sự cố đơn có được coi là có thể dự đoán được một cách hợp lý hay\r\nkhông, cả xác suất (tần suất) sự cố cũng như rủi ro bị thương (xác suất phơi\r\nnhiễm đến mức có thể gây thương tích và độ khắc nghiệt của thương tích) cần\r\nđược xem xét. Rủi ro gây thương tích do sự cố cho trước càng thấp thì sự cố (có\r\nthể gây ra mức phát xạ cho trước) càng có thể chấp nhận được và không cần xét\r\nđến khi phân loại thiết bị. Phương thức phân tích chấp nhận được của xác suất\r\nvà rủi ro liên quan đến hư hỏng là FMEA (phương thức hỏng và phân tích hậu\r\nquả), và các quy trình được mô tả trong IEC 61508.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Tự động giảm bao gồm việc hạn\r\nchế phát xạ về vật lý như hỏng linh kiện hoặc hệ thống về điều kiện an toàn; Nó\r\nkhông bao gồm việc giảm hoặc kết thúc phát xạ một cách thủ công.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Ví dụ, tấm bảo vệ an toàn khi\r\nquét có thể không phản ứng đủ nhanh để ngăn phát xạ cao hơn AEL trong điều kiện\r\nsự cố; tuy nhiên, điều này có thể được chấp nhận dựa trên các kết quả phân tích\r\nrủi ro.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Phân loại được xác định trong\r\nkhi vận hành và các hạn chế về bảo dưỡng khi đó phụ thuộc vào phân loại của\r\nthiết bị.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 4: Các điều kiện sự cố đơn có thể\r\nđược đánh giá bằng các phương pháp với điều kiện không đưa thêm sự cố cho thử\r\nnghiệm.
\r\n\r\nKhi đánh giá tính thích hợp của vỏ bảo vệ để\r\nngăn sự tiếp cận của người đến mức năng lượng tương đương cấp 4, phải xem xét\r\ncác trường hợp sự cố đơn đối với những thay đổi về hướng của chùm tia có thể dự\r\nđoán được một cách hợp lý. Việc phân tích phải xét xem trường hợp sự cố đơn có\r\ngây ra đủ năng lượng làm suy giảm hoặc phá hủy vỏ bảo vệ hay không. Ví dụ, khi\r\ntrong quá trình vận hành hoặc điều kiện sự cố đơn, việc đưa vào các cơ cấu tự động\r\nhoặc cơ cấu khác để thao tác chùm tia, hoặc việc sử dụng thiết bị quang học\r\nhoặc các vật cần gia công có thể làm năng lượng hướng trực tiếp lên các bề mặt\r\ncủa vỏ bảo vệ, thì phải xảy ra một trong các trường hợp dưới đây:
\r\n\r\n- sự cố đơn phải được triệt tiêu bằng các\r\nbiện pháp kỹ thuật; hoặc
\r\n\r\n- vật liệu của vỏ bảo vệ phải chịu được năng\r\nlượng mà không bị suy giảm đặc tính bảo vệ đủ để cho phép phơi nhiễm với năng\r\nlượng laser nguy hiểm; hoặc
\r\n\r\n- sự cố phải được phát hiện và việc phát bức\r\nxạ laser qua vỏ bảo vệ phải được ngăn ngừa trước khi xảy ra sự suy giảm đặc\r\ntính.
\r\n\r\nThời gian đánh giá vỏ bảo vệ nhỏ hơn 30 000 s\r\nnhư quy định trong IEC 60825-4 không áp dụng cho phân loại sản phẩm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 5: Điều này là do cấp phân loại\r\nđược xác định mà không xét đến sự can thiệp của con người (xem 6.2.1) và, do\r\nđó, không xét đến việc người sử dụng kiểm tra vỏ bảo vệ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 6: Việc đánh giá vỏ bảo vệ có xét\r\nđến việc người sử dụng kiểm tra hoặc can thiệp có thể được sử dụng để thiết lập\r\ncác mức an toàn, hoặc để phát hiện sự suy giảm dự kiến về chất lượng của vỏ bảo\r\nvệ mà gây ra do các trường hợp nhiều sự cố hoặc các trường hợp sự cố không thể\r\ndự đoán được một cách hợp lý, không phụ thuộc vào phân loại của sản phẩm.
\r\n\r\nMáy khuếch đại quang phải được phân loại bằng\r\ncách sử dụng công suất hoặc năng lượng đầu ra tổng lớn nhất tiếp cận được mà có\r\nthể bao gồm cả công suất hoặc năng lượng đầu vào danh định lớn nhất. Trong các\r\ntrường hợp khi không có giới hạn về công suất hoặc năng lượng đầu ra một cách\r\nrõ ràng thì cần sử dụng công suất hoặc năng lượng lớn nhất được đưa vào bởi máy\r\nkhuếch đại cộng với công suất hoặc năng lượng tín hiệu đầu vào cần thiết để đạt\r\nđược điều kiện đó.
\r\n\r\nChấp nhận các thử nghiệm và quy trình tương\r\nđương với thử nghiệm và quy trình được quy định trong Điều 5.
\r\n\r\n\r\n\r\nViệc đo các mức bức xạ laser có thể cần thiết\r\nđể phân loại sản phẩm laser theo 5.1. Các phép đo không cần thiết khi các đặc\r\ntính vật lý và các giới hạn của nguồn laser đã xác định sản phẩm laser hoặc hệ\r\nthống lắp đặt laser một cách rõ ràng theo cấp cụ thể (tuy nhiên, cần xét đến\r\ncác nguyên tắc cho trong a) đến f)).
\r\n\r\nCác phép đo bất kỳ phải được thực hiện trong\r\ncác điều kiện và quy trình sau đây.
\r\n\r\na) Điều kiện và quy trình tối đa hóa các mức\r\nphát xạ tiếp cận được bao gồm khởi động, phát xạ ổn định và tắt sản phẩm laser.
\r\n\r\nb) Với tất cả các cơ cấu điều khiển và cài\r\nđặt được nêu trong hướng dẫn vận hành, bảo dưỡng và bảo trì được điều chỉnh một\r\ncách kết hợp để tạo ra mức tiếp cận bức xạ lớn nhất. Các phép đo cũng được yêu\r\ncầu sử dụng các phụ kiện mà có thể làm tăng nguy hiểm bức xạ (ví dụ thiết bị\r\nquang chuẩn trực) được cung cấp hoặc giới thiệu bởi nhà chế tạo để sử dụng với\r\nsản phẩm và có thể được thêm vào hoặc tháo ra mà không cần sử dụng dụng cụ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Điều này bao gồm cấu hình bất kỳ\r\ncủa sản phẩm mà có thể có được mà không cần sử dụng dụng cụ hoặc làm mất hiệu\r\nlực khóa liên động, kể cả các cấu hình và cài đặt mà các hướng dẫn vận hành và\r\nbảo dưỡng có cảnh báo. Ví dụ, khi các phần tử quang như bộ lọc, bộ khuếch tán\r\nhoặc thấu kính trong tuyến quang của chùm tia laser có thể tháo ra mà không cần\r\nsử dụng dụng cụ thì sản phẩm này phải được thử nghiệm theo cấu hình nào tạo mức\r\nnguy hiểm lớn nhất. Hướng dẫn của nhà chế tạo không được tháo các phần tử quang\r\nkhông thể đánh giá phân loại là cấp thấp hơn. Phân loại được dựa trên thiết kế\r\ncủa sản phẩm mà không thể dựa trên đáp ứng thích hợp của người sử dụng.
\r\n\r\nc) Đối với sản phẩm laser không phải loại hệ\r\nthống laser, với bộ phát laser được ghép với kiểu nguồn năng lượng laser được\r\nnhà chế tạo sản phẩm laser quy định là tương thích và tạo ra phát bức xạ laser\r\ntiếp cận được lớn nhất từ sản phẩm.
\r\n\r\nd) Tại các điểm trong không gian mà người có\r\nthể tiếp cận trong vận hành để đo các mức phát xạ tiếp cận được (ví dụ nếu vận\r\nhành đòi hỏi tháo các phần của vỏ bảo vệ và làm mất hiệu lực khóa liên động,\r\nthì các phép đo phải được thực hiện tại các điểm tiếp cận được trong cấu hình\r\nsản phẩm đó).
\r\n\r\ne) Với bộ phát hiện thiết bị đo được lắp ở vị\r\ntrí và có hướng liên quan đến sản phẩm laser sao cho thiết bị phát hiện bức xạ\r\nlà nhiều nhất.
\r\n\r\nf) Phải thực hiện dự phòng thích hợp để tránh\r\nhoặc triệt tiêu sự góp phần của bức xạ phụ đến phép đo.
\r\n\r\nCác mức AEL Cấp 1 và 1M được cho trong Bảng 3\r\nvà Bảng 4, AEL Cấp 2 trong Bảng 5, AEL Cấp 3R trong Bảng 6 và Bảng 7, và AEL Cấp\r\n3B trong Bảng 8. Hệ số điều chỉnh C1 đến C7 và điểm gãy T1\r\nvà T2 được sử dụng trong các bảng từ Bảng 3 đến Bảng 8 được xác định\r\ntrong Bảng 9.
\r\n\r\na) Cấp 1 và 1M
\r\n\r\nCấp 1 áp dụng cho dải bước sóng từ 180 nm đến\r\n1 mm. Cấp 1M áp dụng cho dải bước sóng 302,5 nm đến 4 000 nm. Để xác định phát\r\nxạ tiếp cận được trong Điều kiện 1 và Điều kiện 3, xem Bảng 10.
\r\n\r\nĐối với các bước sóng nhỏ hơn 302,5 nm và lớn\r\nhơn 4 000 nm, nếu phát xạ tiếp cận được nhỏ hơn hoặc bằng AEL Cấp 1 đối với\r\nĐiều kiện 3 thì sản phẩm laser được ấn định là Cấp 1.
\r\n\r\nĐối với các bước sóng trong phạm vi từ 302,5\r\nnm đến 4 000 nm:
\r\n\r\nNếu phát xạ tiếp cận được là
\r\n\r\n- nhỏ hơn hoặc bằng AEL Cấp 1 đối với Điều\r\nkiện 1 và Điều kiện 3, thì sản phẩm laser được ấn định là Cấp 1.
\r\n\r\nNếu phát xạ tiếp cận được là:
\r\n\r\n- lớn hơn AEL của Cấp 1 đối với Điều kiện 1;\r\nvà
\r\n\r\n- nhỏ hơn AEL của Cấp 3B đối với Điều kiện 1;\r\nvà
\r\n\r\n- nhỏ hơn hoặc bằng AEL của Cấp 1 đối với\r\nĐiều kiện 3,
\r\n\r\nthì sản phẩm laser được ấn định là Cấp 1M.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Lý do để kiểm tra AEL của Cấp 3B\r\nnhằm hạn chế công suất lớn nhất đi qua thiết bị quang đối với trường hợp phơi\r\nnhiễm chùm tia từ sản phẩm laser Cấp 1M.
\r\n\r\nNếu phát xạ tiếp cận được vượt quá AEL của Cấp\r\n3B như xác định với lỗ mở đường kính 3,5 mm đặt tại điểm gần nhất mà con người\r\ntiếp cận, thì phải có cảnh báo bổ sung liên quan đến nguy hiểm tiềm ẩn cho da\r\nvà/hoặc nguy hiểm cho giác mạc/con người (xem 7.13).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Sản phẩm laser Cấp 1 với chùm\r\ntia có độ phân kỳ lớn có thể tạo ra các mức chiếu rọi đủ lớn ở gần hoặc tiếp\r\nxúc với nguồn (ví dụ, đầu sợi cáp) đến mức có thể làm tổn thương da hoặc con người.\r\nTổn thương giác mạc cũng có thể xảy ra trong các điều kiện này đối với các bước\r\nsóng dài hơn 1 000 nm.
\r\n\r\nb) Cấp 1C
\r\n\r\nCấp 1C áp dụng khi bức xạ laser được dự kiến\r\nđặt tiếp xúc với đích dự kiến và có cơ cấu bảo vệ ngăn rò rỉ bức xạ laser vượt\r\nquá AEL của Cấp 1. Sản phẩm laser có thể được ấn định chỉ là Cấp 1C nếu nó cũng\r\nđáp ứng các yêu cầu về an toàn đối với các sản phẩm laser Cấp 1C quy định trong\r\ntiêu chuẩn sản phẩm cụ thể.
\r\n\r\nCác sản phẩm laser được thiết kế để sử dụng ở\r\nchế độ tiếp xúc với da và mô của người nhưng không phải mắt có thể được phân\r\nloại chỉ là Cấp 1C nếu áp dụng tiêu chuẩn trong bộ tiêu chuẩn TCVN 7303 (IEC\r\n60601) hoặc bộ tiêu chuẩn TCVN 5699 (IEC 60335) và có chứa các yêu cầu về an\r\ntoàn áp dụng cho các sản phẩm laser Cấp 1C. Các sản phẩm laser Cấp 1C này phải\r\ncó các cơ cấu điều khiển cơ khí để đảm bảo phơi nhiễm bức xạ laser đến mắt là\r\nkhông dự đoán được một cách hợp lý. Chỉ cho phép phân loại là Cấp 1C nếu có\r\ntiêu chuẩn IEC áp dụng được, quy định các giới hạn phơi nhiễm của mô đích dự kiến\r\nvới các mức thích hợp cho ứng dụng dự kiến.
\r\n\r\nĐối với thử nghiệm ánh sáng tán xạ hoặc bức\r\nxạ rò rỉ, AEL của cấp 1 không được vượt quá trong Điều kiện 3 với thiết bị đặt\r\nđược đặt ở khoảng cách làm việc hoặc tiếp xúc với bề mặt trắng khuếch tán.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Các sản phẩm laser Cấp 1C điển\r\nhình có thể có bộ phận được thiết kế để loại bỏ lông, giảm nếp nhăn trên da và\r\ngiảm mụn trứng cá, kể cả loại được sử dụng tại gia đình.
\r\n\r\nc) Cấp 2 và Cấp 2M
\r\n\r\nCấp 2 và Cấp 2M áp dụng cho dải bước sóng từ\r\n400 nm đến 700 nm. Để xác định phát xạ tiếp cận được trong Điều kiện 1 và Điều\r\nkiện 3, xem Bảng 10.
\r\n\r\nNếu phát xạ tiếp cận được vượt quá các giới\r\nhạn yêu cầu đối với Cấp 1 và Cấp 1M (xem điểm a) nêu trên), và
\r\n\r\n- nhỏ hơn hoặc bằng AEL của Cấp 2 đối với\r\nĐiều kiện 1 và Điều kiện 3,
\r\n\r\nthì sản phẩm laser đó được ấn định là Cấp 2.
\r\n\r\nNếu phát xạ tiếp cận được vượt quá các mức\r\nyêu cầu đối với Cấp 1 và Cấp 1M (xem điểm a) nêu trên), và
\r\n\r\n- lớn hơn AEL của Cấp 2 đối với Điều kiện 1;\r\nvà
\r\n\r\n- nhỏ hơn AEL của Cấp 3B đối với Điều kiện 1;\r\nvà
\r\n\r\n- nhỏ hơn hoặc bằng AEL của cấp 2 đối với\r\nĐiều kiện 3,
\r\n\r\nthì sản phẩm laser đó được ấn định là Cấp 2M.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 4: Lý do để kiểm tra AEL của Cấp 3B\r\nnhằm giới hạn công suất lớn nhất đi qua thiết bị đo quang đối với trường hợp\r\nphơi nhiễm với chùm tia từ sản phẩm laser Cấp 2M.
\r\n\r\nNếu phát xạ tiếp cận được vượt quá AEL của Cấp\r\n3B như xác định với lỗ mở có đường kính 3,5 mm đặt tại điểm gần nhất mà con\r\nngười tiếp cận, thì phải có cảnh báo bổ sung liên quan đến nguy hiểm tiềm ẩn\r\ncho da và/hoặc nguy hiểm cho giác mạc/con người (xem 7.13).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 5: Sản phẩm laser Cấp 2 có chùm tia\r\nphân kỳ lớn có thể sinh ra các mức độ rọi đủ cao ở gần hoặc tiếp xúc với nguồn\r\n(ví dụ đầu của sợi quang) đến mức gây tổn thương da hoặc con người.
\r\n\r\nBên ngoài dải bước sóng từ 400 nm đến 700 nm,\r\ncác phát xạ bổ sung của bộ phát laser Cấp 2 phải thấp hơn mức AEL của Cấp 1\r\n(xem 4.3 e) đối với gốc thời gian). Ngoài ra, nếu các bước sóng có ảnh hưởng bổ\r\nsung lên mắt (xem Bảng 1) thì tổng của các tỷ số giữa ánh sáng nhìn thấy tiếp\r\ncận được với AEL Cấp 2 và tỷ số giữa ánh sáng không nhìn thấy tiếp cận được với\r\nAEL Cấp 1 phải nhỏ hơn 1.
\r\n\r\nd) Cấp 3R
\r\n\r\nNếu phát xạ tiếp cận được, như xác định theo\r\n5.4, đối với Điều kiện 1 và Điều kiện 3 là:
\r\n\r\n- nhỏ hơn hoặc bằng AEL của Cấp 3R, và
\r\n\r\n- phát xạ tiếp cận được được xác định với\r\nĐiều kiện 3 vượt quá AEL đối với Cấp 1 và Cấp 2, nếu thuộc đối tượng áp dụng thì\r\nsản phẩm laser được ấn định là Cấp 3R.
\r\n\r\nNếu phát xạ tiếp cận được vượt quá AEL Cấp 3B\r\nđược xác định với lỗ mở có đường kính 3,5 mm đặt tại điểm gần nhất mà con người\r\ntiếp cận, phải có cảnh báo bổ sung liên quan đến nguy hiểm da tiềm ẩn và/hoặc\r\nnguy hiểm giác mạc/con người (xem 7.13).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 6: Sản phẩm laser cấp 3R cố chùm\r\ntia phân kỳ lớn có thể sinh ra các mức độ rọi đủ cao ở gần hoặc tiếp xúc với\r\nnguồn (ví dụ đầu của sợi quang) đến mức gây tổn thương da hoặc con người.
\r\n\r\ne) Cấp 3B
\r\n\r\nNếu phát xạ tiếp cận được, như xác định theo\r\n5.4:
\r\n\r\n- nhỏ hơn hoặc bằng AEL của Cấp 3B đối với\r\nĐiều kiện 1 và Điều kiện 3, và
\r\n\r\n- vượt quá AEL của Cấp 3R đối với Điều kiện 1\r\nhoặc Điều kiện 3, và
\r\n\r\n- vượt quá AEL của cấp 1 và cấp 2 đối với\r\nĐiều kiện 3
\r\n\r\nthì sản phẩm laser được ấn định là cấp 3B.
\r\n\r\nf) Cấp 4
\r\n\r\nNếu phát xạ tiếp cận được, như xác định theo\r\n5.4, đối với Điều kiện 1 hoặc Điều kiện 3, vượt quá AEL của Cấp 3B thì sản phẩm\r\nphải được ấn định là Cấp 4.
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image008.jpg\")
![](\"00919261_files/image009.jpg\")
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n CHÚ THÍCH: Các sản phẩm laser đáp ứng các\r\n yêu cầu về phân loại là Cấp 2 bằng cách đáp ứng phép đo Điều kiện 1 có thể\r\n nguy hiểm khi được sử dụng với thiết bị quan sát quang học có đường kính lỗ mở\r\n lớn hơn giá trị quy định trong Bảng 10 (xem thêm Phụ lục C). \r\n | \r\n ||
| \r\n a Đối với hệ số hiệu chỉnh và đơn vị, xem\r\n Bảng 9. \r\n | \r\n ||
![](\"00919261_files/image010.jpg\")
![](\"00919261_files/image011.jpg\")
\r\n\r\n\r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n a Đối với các hệ số hiệu chỉnh và đơn vị,\r\n xem Bảng 9. \r\n | \r\n |||
Các hệ số hiệu chỉnh C1 đến C7\r\nvà các điểm gãy T1 và T2 được sử dụng trong Bảng 3 đến\r\nBảng 8 được xác định trong Bảng 9.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n αmin = 1,5 mrad \r\nαmax = 5 mrad đối với t < 625\r\n μs \r\n= 200 t0,5 mrad đối với\r\n 625 μ = 100 mrad đối với t > 0,25 s \r\nN là số lượng xung nằm trong khoảng\r\n thời gian áp dụng (4.3 f) và Điều A.3). \r\n | \r\n |
| \r\n CHÚ THÍCH 1: Chỉ có bằng chứng hạn\r\n chế về những ảnh hưởng đối với các phơi nhiễm nhỏ hơn 10-9 s đối với các bước\r\n sóng nhỏ hơn 400 nm và lớn hơn 1 400 nm. AEL đối với các khoảng thời gian\r\n phát xạ này và các bước sóng tính được bằng cách tính công suất bức xạ tương\r\n đương hoặc độ rọi từ công suất bức xạ hoặc phơi nhiễm bức xạ áp dụng ở 10-9\r\n s đối với các bước sóng nhỏ hơn 400 nm và lớn hơn 1 400 nm. \r\nCHÚ THÍCH 2: Xem Bảng 10 đối với cơ\r\n cấu chặn lỗ mở và Bảng A.4 đối với các lỗ mở giới hạn. \r\nCHÚ THÍCH 3: Trong các công thức ở\r\n Bảng 3 đến Bảng 8 và trong các chú thích này, bước sóng được tính bằng\r\n nanomét, khoảng thời gian phát xạ t được tính bằng giây và CHÚ THÍCH 4: Đối với các khoảng thời\r\n gian phát xạ nằm trên các giá trị biên của ngăn (ví dụ 10 s) trong các bảng\r\n từ Bảng 3 đến Bảng 8, áp dụng giới hạn dưới. Trong trường hợp tại các đường\r\n biên của ngăn (tức là không áp dụng các công thức rõ ràng) sử dụng ký hiệu\r\n “<”, điều này có nghĩa là nhỏ hơn hoặc bằng. Khi quy định các dải bước\r\n sóng, dải bước sóng λ | \r\n |
| \r\n a C5 chỉ áp dụng cho các\r\n khoảng thời gian xung nhỏ hơn 0,25 s. Xem quy tắc để xác định C5\r\n trong 4.3 f). \r\nb C6 chỉ áp dụng cho các\r\n giới hạn nhiệt lên võng mạc. \r\nc Góc giới hạn chấp nhận lớn nhất γth\r\n phải bằng αmax (nhưng xem thêm 4.3 c)). \r\n | \r\n |
Hai điều kiện đo được quy định để xác định\r\nphát xạ tiếp cận được. Điều kiện 1 áp dụng cho các bước sóng trong trường hợp\r\nquan sát các chùm tia chuẩn trực có hỗ trợ bằng kính thiên văn có thể tăng nguy\r\nhiểm. Điều kiện 3 áp dụng cho quan sát bằng mắt không có hỗ trợ. Đối với phép\r\nđo công suất và năng lượng của bức xạ laser quét, chỉ được sử dụng Điều kiện 3.
\r\n\r\nĐể phân loại các sản phẩm laser được thiết kế\r\nđể sử dụng chỉ cho trong nhà và trường hợp việc quan sát nội chùm tia bằng kính\r\nthiên văn như kính hiển vi không được dự đoán trước thì không yêu cầu áp dụng\r\nĐiều kiện 1.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Phép đo Điều kiện 3 cũng bao gồm\r\nđánh giá bức xạ tiếp cận được để quan sát với kính phóng đại công suất thấp.\r\nQuan sát với kính phóng đại công suất cao hơn có thể xảy ra với hệ thống sợi\r\nquang được đề cập trong IEC 60825-2. Các giới hạn của chương trình phân loại\r\nđược thảo luận trong Điều C.3, với đề xuất các trường hợp khi phân tích rủi ro\r\nbổ sung và các cảnh báo có thể thích hợp. Điều kiện 2 được sử dụng trong các\r\nphiên bản trước của tiêu chuẩn này như là điều kiện "kính phóng đại".
\r\n\r\nPhải áp dụng các điều kiện đo áp dụng được và\r\nkhắc nghiệt nhất. Nếu điều kiện khắc nghiệt nhất là không rõ ràng thì phải đánh\r\ngiá cả hai điều kiện. Đối với Cấp 1M hoặc 2M, luôn cần thiết phải đánh giá cả\r\nhai điều kiện.
\r\n\r\nQuy định hai phương thức đánh giá dưới đây.
\r\n\r\na) Phương pháp đơn giản hóa (mặc định), trong\r\ntrường hợp thử nghiệm để phân loại được thực hiện ở khoảng cách cố định (xem\r\nBảng 10) liên quan đến điểm tham chiếu mà thường có thể dễ dàng nhận biết (xem\r\nBảng 11). Đối với đánh giá đơn giản hóa này, không nhất thiết xác định góc\r\ntrương của nguồn biểu kiến, vì C6 (xem Bảng 9) được đặt bằng\r\nmột đơn vị.
\r\n\r\nb) Đối với bức xạ có các bước sóng nằm trong\r\nvùng nguy hiểm đến võng mạc từ 400 nm đến 1 400 nm, khi AEL được tăng lên bởi\r\ntham số C6 với các giá trị lớn hơn 1 đối với các nguồn kéo\r\ndài, cần đánh giá cấp của sản phẩm (tức là so sánh giá trị phát xạ tiếp cận\r\nđược với AEL tương ứng) ở vị trí khắc nghiệt nhát trong chùm tia. Phương pháp\r\nthứ hai này phức tạp hơn đánh giá mặc định trong điểm a) ở trên nhưng đối với\r\ncác nguồn kéo dài nó cho phép các giá trị bức xạ tiếp cận được cao hơn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Vị trí khắc nghiệt nhất trong\r\nnhiều trường hợp không nằm ở khoảng cách 100 mm đến điểm tham chiếu được sử\r\ndụng cho đánh giá cơ bản, mà nằm xa hơn. Việc xác định góc trương của nguồn\r\nbiểu kiến ở khoảng cách 100 mm tính từ điểm tham chiếu trong các trường hợp này\r\ntạo ra AEL vượt quá AEL xác định được ở vị trí khắc nghiệt nhất.
\r\n\r\nNếu đánh giá đơn giản hóa (mặc định) tạo ra\r\nphân loại mong muốn thì không cần thực hiện toàn bộ đánh giá đối với các nguồn\r\nkéo dài (xem 5.4.3) ngay cả khi nguồn thực tế có thể được kéo dài và hệ số thực\r\nC6 có thể lớn hơn 1 và vị trí khắc nghiệt nhất khác với vị\r\ntrí cho trong Bảng 10.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Nếu nguồn là điốt laser để trần\r\nhoặc nếu nó phát ra chùm tia laser chuẩn trực tốt thì đánh giá đơn giản hóa\r\n(mặc định) luôn là phương pháp thích hợp, tức là sinh ra các kết quả tương\r\nđương với phương pháp nguồn kéo dài như mô tả trong 5.4.3.
\r\n\r\nÁp dụng các khoảng cách đo mặc định, đơn giản\r\nhóa trong Bảng 10:
\r\n\r\n- đối với các nguồn có bước sóng nhỏ hơn 400\r\nnm và lớn hơn 1 400 nm, hoặc
\r\n\r\n- nếu hệ số C6 được đặt\r\nbằng 1, hoặc
\r\n\r\n- đối với giới hạn võng mạc về quang hóa với\r\ncác giá trị gốc thời gian lớn hơn 100 s khi góc đo chấp nhận không bị hạn chế\r\n(tức là phải tối thiểu lớn bằng góc trương của nguồn biểu kiến),
\r\n\r\n- đối với các giới hạn khác mà không phải\r\ngiới hạn võng mạc về quang hóa hay giới hạn võng mạc về nhiệt (tức là không phụ\r\nthuộc C6) (ví dụ AEL của cấp 3B).
\r\n\r\nKhoảng cách quy định trong Bảng 10 được xác\r\nđịnh là khoảng cách từ các điểm tham chiếu liệt kê trong Bảng 11.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n CHÚ THÍCH: Các mô tả bên dưới tiêu đề\r\n "Điều kiện" là các trường hợp điển hình chỉ để tham khảo và không\r\n nhằm loại trừ. \r\n | \r\n |||||
| \r\n a Điều kiện 1 không áp dụng để phân loại các\r\n sản phẩm laser được thiết kế để dùng riêng trong nhà và trong trường hợp việc\r\n quan sát nội chùm tia bằng kính viễn vọng ví dụ như ống nhòm là không được dự\r\n đoán trước. \r\n | \r\n |||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Bộ phát bán dẫn (ví dụ điốt laser, điốt\r\n siêu phát sáng) \r\n | \r\n \r\n Vị trí vật lý của mảnh bắn ra \r\n | \r\n
| \r\n Phát xạ quét (kể cả bộ phát laser đơn sắc) \r\n | \r\n \r\n Đỉnh quét (điểm chốt của chùm tia quét) \r\n | \r\n
| \r\n Bộ phát laser đơn sắc \r\n | \r\n \r\n Điểm tiêu cự của đường (đỉnh của góc quạt) \r\n | \r\n
| \r\n Đầu ra của sợi quang \r\n | \r\n \r\n Điểm đầu của sợi quang \r\n | \r\n
| \r\n Các nguồn khuếch tán tổng \r\n | \r\n \r\n Bề mặt của bộ khuếch tán \r\n | \r\n
| \r\n Sản phẩm khác \r\n | \r\n \r\n Phần thu hẹp của chùm tia \r\n | \r\n
| \r\n Đối với các phép đo trong Điều kiện 3, nếu\r\n điểm tham chiếu nằm trong vỏ bảo vệ (tức là không tiếp cận được) tại khoảng\r\n cách từ điểm con người tiếp cận gần nhất xa hơn khoảng cách đo quy định trong\r\n Bảng 10, phép đo phải được thực hiện tại điểm con người tiếp cận gần nhất.\r\n Đối với Điều kiện 1, các phép đo được thực hiện ở khoảng cách tối thiểu 2 m\r\n tính từ điểm con người tiếp cận gần nhất không phụ thuộc vào vị trí của\r\n nguồn. \r\n | \r\n |
Đối với các bước sóng trong vùng nguy hiểm\r\nvõng mạc (400 nm đến 1 400 nm), phát xạ tiếp cận được và AEL để phân loại phải\r\nđược xác định ở vị trí khắc nghiệt nhất:
\r\n\r\n- khi giá trị C6 lớn hơn 1\r\nđược xem xét để xác định AEL, hoặc
\r\n\r\n- khi góc chấp nhận giới hạn được xem xét để\r\nxác định phát xạ tiếp cận được khi so sánh với các giới hạn võng mạc về quang\r\nhóa.
\r\n\r\nPhát xạ tiếp cận được và AEL (C6)\r\nđược xác định cùng nhau (tức là chúng là các giá trị đi theo cặp) tại các vị\r\ntrí khác nhau trong chùm tia, và các giá trị đạt được ở vị trí khắc nghiệt nhất\r\nđược sử dụng để xác định phân loại của sản phẩm. Điều này ngụ ý là phát xạ tiếp\r\ncận được (được so sánh với AEL) và AEL được xác định đối với cùng một vị trí\r\ntrong chùm tia, tức là góc trương của nguồn biểu kiến α (và do đó C6)\r\nđược xác định ở vị trí cơ cấu chặn lỗ mở mà cũng được sử dụng để xác định phát\r\nxạ tiếp cận được. Đối với phép đo Điều kiện 3, vị trí đo không bao giờ gần hơn\r\nkhoảng cách đo mặc định tính từ điểm tham chiếu và đối với Điều kiện 1, vị trí\r\nđo không bao giờ gần hơn 2 mét tính từ điểm con người tiếp cận gần nhất đến sản\r\nphẩm và không gần hơn 2 mét từ điểm tham chiếu cho phép đo nguồn nhỏ. Trong\r\ntrường hợp khi độ phân kỳ của chùm tia laser nhỏ hơn 1,5 mrad thì góc trương\r\ncủa nguồn biểu kiến α nhỏ hơn αmin và việc xác định phát xạ tiếp cận\r\nđược có thể được thực hiện trong các điều kiện quy định trong 5.4.2.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Nếu nguồn là khuếch tán, ví dụ\r\nchùm tia laser tới trên tấm khuếch tán truyền được thì bộ khuếch tán có thể\r\nđược coi là vị trí của nguồn biểu kiến và dạng phát xạ tại bộ khuếch tán được\r\nsử dụng để xác định góc trương của nguồn biểu kiến (xem 4.3 d)) đối với phương\r\npháp đánh giá các dạng không đồng nhất.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Trong một số bố trí phức tạp với\r\nnhiều nguồn hoặc nhiều điểm tiêu cự, có thể thích hợp hơn khi sử dụng công nghệ\r\nphức tạp hơn, ví dụ như theo dấu của tia.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Đối với các sản phẩm laser phát\r\nchùm tia quét, tùy thuộc vào điều kiện điều tiết đến hình ảnh của nguồn biểu\r\nkiến, chùm tia quét có thể tạo ra hình ảnh của nguồn biểu kiến được quét qua\r\nvõng mạc, tạo ra nguồn biểu kiến chuyển động. Nếu nguồn biểu kiến chuyển động\r\ncần được tính đến trong phân loại thì phân loại sản phẩm dựa trên phương pháp\r\nđánh giá được mô tả ở đây đối với các nguồn kéo dài (ngược với phân tích đơn\r\ngiản hóa khi giả thiết nguồn nhỏ là tĩnh tại). Nguồn biểu kiến chuyển động được\r\nđánh giá như mô tả trong 4.3 d) với việc xét đến bản chất xung lặp lại của phát\r\nxạ tiếp cận được được xác định với góc chấp nhận tương ứng.
\r\n\r\na) Đường kính lỗ mở
\r\n\r\nĐối với Điều kiện 1 và Điều kiện 3, để xác\r\nđịnh phát xạ tiếp cận được cũng như góc trương của nguồn biểu kiến (cả hai được\r\nxác định ở vị trí khắc nghiệt nhất trong chùm tia), phải sử dụng đường kính lỗ\r\nmở và các khoảng cách đo nhỏ nhất như quy định trong Bảng 10 (xem Hình 1 và\r\nHình 2).
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image012.jpg\")
![](\"00919261_files/image013.jpg\")
CHÚ THÍCH: Khi nguồn biểu kiến không tiếp cận\r\nđược, bố trí này là không thích hợp.
\r\n\r\nb) Góc chấp nhận
\r\n\r\nGóc chấp nhận là góc được trương bởi đường\r\nkính của nắp che trường từ điểm tại tâm của thấu kính trong Hình 1 (đối với các\r\ngóc nhỏ) hoặc bởi tỷ số giữa đường kính của nắp che trường và khoảng cách\r\nnguồn-bộ phát hiện (Hình 2). Phải tính đến tổn hao do thấu kính.
\r\n\r\nĐối với Điều kiện 3, góc chấp nhận để xác\r\nđịnh mức phát xạ tiếp cận được phải như nêu trong 1) và 2) dưới đây. Đối với\r\nĐiều kiện 1, góc chấp nhận được xác định bằng cách chia các giá trị cho trong\r\n1) và 2) cho hệ số 7.
\r\n\r\n1) Các giới hạn võng mạc về quang hóa
\r\n\r\nĐể đo các nguồn cần đánh giá theo các giới\r\nhạn quang hóa (400 nm đến 600 nm), góc giới hạn chấp nhận γph được\r\ncho trong Bảng 12.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Nếu góc trương của nguồn α lớn hơn góc chấp\r\nnhận giới hạn quy định γph thì góc chấp nhận không nên lớn hơn các\r\ngiá trị quy định đối với γph. Nếu góc trương của nguồn α nhỏ hơn góc\r\nchấp nhận giới hạn quy định γph, góc chấp nhận phải chứa hoàn toàn\r\nnguồn đang xét nhưng không nhất thiết được xác định (tức là góc chấp nhận không\r\nnhất thiết bị giới hạn đến γph).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 5: Đối với các phép đo các nguồn\r\nđơn lẻ trong đó α < γph, sẽ không cần đo với góc chấp nhận cụ\r\nthể, xác định. Để có được góc chấp nhận xác định, góc chấp nhận có thể được xác\r\nđịnh bằng cách tạo hình ảnh của nguồn trên nắp che trường hoặc bằng cách che\r\nkín nguồn - xem Hình 1 và Hình 2 tương ứng.
\r\n\r\n2) Tất cả các giới hạn võng mạc khác
\r\n\r\nĐể đo bức xạ cần so sánh với các giới hạn\r\nvõng mạc không phải các giới hạn về quang hóa, góc chấp nhận phải chứa hoàn\r\ntoàn nguồn cần xét (tức là góc chấp nhận phải tối thiểu lớn bằng góc trương của\r\nnguồn α). Tuy nhiên, nếu α > αmax thì góc chấp nhận giới hạn là αmax.\r\nTrong phạm vi bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm, để đánh giá nguồn biểu kiến với\r\nprofin bức xạ không bình thường của hình ảnh nguồn biểu kiến (profin bức xạ\r\nnguồn), ví dụ bao gồm nhiều điểm, góc chấp nhận phải được thay đổi trong dải từ\r\n(αmin ≤ γ ≤ αmax (xem 4.3 d)).
\r\n\r\n\r\n\r\nCác sản phẩm laser yêu cầu các đặc trưng an\r\ntoàn tích hợp nhất định, tùy thuộc vào cấp mà chúng được ấn định bởi nhà chế\r\ntạo. Các yêu cầu đối với các sản phẩm laser được cho trong 6.2 đến 6.13. Nhà\r\nchế tạo phải đảm bảo rằng người chịu trách nhiệm phân loại các sản phẩm và hệ\r\nthống laser nhận được huấn luyện đầy đủ về mức thích hợp cho phép họ hiểu đầy\r\nđủ về quy trình phân loại.
\r\n\r\nNếu việc sửa đổi các sản phẩm laser đã được\r\nphân loại trước đó có ảnh hưởng đến các khía cạnh bất kỳ trong tính năng của\r\nsản phẩm hoặc chức năng dự kiến trong phạm vi áp dụng của tiêu chuẩn này, người\r\nhoặc tổ chức thực hiện sửa đổi bất kỳ này có trách nhiệm đảm bảo phân loại lại\r\nhoặc dán nhãn lại cho sản phẩm laser đó.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thuật ngữ sửa đổi được hiểu là\r\nđược giới hạn ở những sửa đổi làm thay đổi phân loại hoặc sự phù hợp với tiêu\r\nchuẩn này.
\r\n\r\n\r\n\r\n6.2.1 Quy định chung
\r\n\r\nMỗi sản phẩm laser phải có vỏ bảo vệ sao cho\r\nkhi được đặt đúng vị trí sẽ ngăn ngừa sự tiếp cận của người với bức xạ laser\r\n(kể cả bức xạ laser tán xạ) vượt quá AEL đối với cấp 1, ngoại trừ khi tiếp cận\r\ncủa người là cần thiết cho việc thực hiện (các) chức năng của sản phẩm.
\r\n\r\nKhi phân loại sản phẩm laser dựa trên sự ngăn\r\nngừa tiếp cận của người với mức năng lượng tương đương cấp 4 (ví dụ đối với máy\r\nxử lý bằng laser) thì vỏ bảo vệ phải chịu được phơi nhiễm trong các điều kiện\r\nsự cố đơn dự đoán được một cách hợp lý (xem 5.1), mà không có sự can thiệp của\r\nngười. Nếu vỏ bảo vệ có kích cỡ cho phép con người đi vào, xem 6.13.
\r\n\r\nBảo dưỡng các sản phẩm laser Cấp 1, 1C, 1M,\r\n2, 2M hoặc 3R không cho phép người tiếp cận với các mức bức xạ laser Cấp 3B\r\nhoặc Cấp 4. Bảo dưỡng các sản phẩm laser Cấp 3B không cho phép người tiếp cận\r\nvới các mức bức xạ laser Cấp 4.
\r\n\r\n6.2.2 Bảo trì
\r\n\r\nPhần bất kỳ của vỏ bảo vệ của sản phẩm laser\r\n(kể cả các sản phẩm laser lắp trong) mà có thể tháo ra hoặc thay thế khi bảo\r\ntrì và cho phép tiếp cận đến bức xạ laser lớn hơn AEL được ấn định và không\r\nđược khóa liên động (xem 6.3) phải được giữ theo cách để việc tháo hoặc thay\r\nthế các phần đó đòi hỏi phải sử dụng dụng cụ.
\r\n\r\n6.2.3 Hệ thống laser tháo ra được
\r\n\r\nNếu hệ thống laser có thể tháo ra khỏi vỏ bảo\r\nvệ và được vận hành bằng cách đơn giản là cắm vào nguồn điện hoặc acquy thì hệ\r\nthống laser phải phù hợp với các yêu cầu về chế tạo trong Điều 6 và Điều 7\r\nthích hợp với cấp của nó.
\r\n\r\n6.3.1 Phải có khóa liên động an toàn để tiếp cận\r\nvới các tấm của vỏ bảo vệ khi cả hai điều kiện dưới đây được đáp ứng:
\r\n\r\na) tấm tiếp cận được thiết kế để tháo ra hoặc\r\nthay thế trong bảo dưỡng hoặc vận hành, và
\r\n\r\nb) việc tháo hoặc thay thế tấm đó có thể làm\r\ntiếp cận với các mức bức xạ laser được ghi nhãn “X” trong Bảng 13 dưới đây.
\r\n\r\nKhả năng áp dụng khóa liên động an toàn được\r\nchỉ thị bởi (X) trong Bảng 13 dưới đây.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Việc tháo hoặc mở tấm được khóa liên động của\r\nsản phẩm laser Cấp 1, 1C, 1M, 2 hoặc 2M không được gây ra phát xạ thông qua lỗ\r\nmở đó vượt quá AEL của Cấp 1M hoặc Cấp 2M khi áp dụng theo bước sóng, trừ khi\r\nkhóa liên động được làm mất hiệu lực sau khi mở tấm đó. Việc tháo hoặc mở tấm\r\nđược khóa liên động của sản phẩm laser Cấp 3R, 3B hoặc 4 không được gây ra phát\r\nxạ thông qua lỗ mở đó vượt quá AEL của Cấp 3R trừ khi khóa liên động được làm\r\nmất hiệu lực sau khi mở tấm đó. Cấp công suất/năng lượng laser cao hơn có thể\r\nphát ra khỏi tấm đã được mở khi khóa liên động được làm mất hiệu lực.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Phát xạ cao hơn AEL của cấp sản\r\nphẩm mà được thiết kế trong quá trình vận hành có thể làm cho cấp phân loại của\r\nthiết bị tăng lên. Phát xạ cao hơn AEL của cấp phân loại của sản phẩm được\r\nthiết kế trong quá trình bảo dưỡng có thể tác động đến phân loại của sản phẩm\r\n(xem 6.2.1).
\r\n\r\nKhi yêu cầu khóa liên động an toàn, khóa liên\r\nđộng an toàn phải ngăn ngừa được sự tiếp cận với các mức bức xạ được ghi nhãn\r\nlà X trong Bảng 13 khi tháo tấm ngăn. Việc đặt lại không chủ ý khóa liên động\r\nkhông được phục hồi các giá trị phát xạ cao hơn AEL áp dụng trong Bảng 13. Các\r\nkhóa liên động này phải phù hợp với các yêu cầu trong tiêu chuẩn an toàn của\r\nsản phẩm (xem Điều 1).
\r\n\r\nCác yêu cầu trong 5.1 liên quan đến các điều\r\nkiện sự cố đơn dự đoán được cũng áp dụng cho các khóa liên động an toàn.
\r\n\r\n6.3.2 Nếu có cơ chế làm mất hiệu lực thì nhà chế\r\ntạo cũng phải cung cấp các hướng dẫn đầy đủ về phương pháp làm việc an toàn.\r\nKhông được có khả năng để chức năng làm mất hiệu lực được kích hoạt khi tấm\r\ntiếp cận được lắp trở lại vị trí bình thường của nó. Cho phép loại trừ đối với\r\nyêu cầu này nếu việc chọn chế độ “làm mất hiệu lực” sẽ tự động cách ly chùm tia\r\nlaser và ngăn việc tự động phục hồi hoạt động của máy điện. Loại trừ này cũng\r\nđòi hỏi bộ chọn chế độ có thể khóa và yêu cầu làm mất hiệu lực bằng tay để sử\r\ndụng chùm tia.
\r\n\r\nMặc dù vậy mạch điện khóa liên động cũng cần\r\nđược bố trí (thông qua các tiếp điểm của rơ le hãm hoặc công nghệ khác) sao cho\r\nngay cả ở chế độ làm mất hiệu lực, nếu cửa mở được đóng lại thì nó sẽ tự động\r\ntrở về hoạt động khóa liên động bình thường (loại bỏ giả thiết “an toàn khi có\r\nsự cố” có thể có về tấm ngăn hoặc cửa).
\r\n\r\nKhóa liên động phải được kết hợp với nhãn phù\r\nhợp với 7.10.2. Việc sử dụng chức năng làm mất hiệu lực phải đòi hỏi cảnh báo\r\nnhìn thấy hoặc nghe thấy được bất cứ khi nào bộ phát laser được mang điện hoặc\r\ncác dãy tụ điện được phóng điện hoàn toàn, không phụ thuộc vào việc tấm tiếp\r\ncận có được tháo ra hay thay thế hay không. Các cảnh báo nhìn thấy được phải nhìn\r\nthấy rõ ràng bằng kính mắt bảo vệ được thiết kế riêng hoặc được quy định đối\r\nvới (các) bước sóng của bức xạ laser tiếp cận được.
\r\n\r\nTừng hệ thống laser cấp 3B và cấp 4 phải có\r\nbộ nối khóa liên động từ xa. Khi các đầu nối của bộ nối được hở mạch, bức xạ\r\ntiếp cận được không được vượt quá AEL đối với Cấp 1M hoặc Cấp 2M nếu thuộc đối\r\ntượng áp dụng. Điều này không yêu cầu đối với hệ thống laser cầm tay cấp 3B\r\nđược cấp nguồn bằng pin/acquy.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Nhà chế tạo có thể cung cấp bộ nối\r\nkhóa liên động thứ hai mà không yêu cầu kích hoạt để khởi động phát xạ nhưng\r\nsản phẩm không đòi hỏi phải có hai bộ nối.
\r\n\r\n\r\n\r\nTừng hệ thống laser cấp 4 phải có chức năng\r\nđặt lại bằng tay cho phép phục hồi phát xạ laser cấp 4 tiếp cận được sau khi\r\nngắt phát xạ do sử dụng bộ nối khóa liên động từ xa hoặc ngắt lâu hơn 5 s khỏi\r\nnguồn điện lưới.
\r\n\r\nTừng hệ thống laser Cấp 3B và Cấp 4 phải có\r\ncơ cấu điều khiển trung tâm hoạt động bằng chìa khóa. Chìa khóa này phải tháo\r\nra được và bức xạ laser không tiếp cận được khi chìa khóa được tháo ra.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Trong tiêu chuẩn này, thuật ngữ\r\n“chìa khóa” bao gồm cả thiết bị điều khiển khác bất kỳ ví dụ như thẻ từ, tổ hợp\r\nmật mã, mật khẩu máy tính, v.v.
\r\n\r\n6.7.1 Từng hệ thống laser cấp 3R trong dải bước\r\nsóng nhỏ hơn 400 nm và lớn hơn 700 nm và từng hệ thống laser Cấp 1C, Cấp 3B và Cấp\r\n4 phải phải đáp ứng các yêu cầu dưới đây.
\r\n\r\n6.7.2 Thiết bị cảnh báo phải đưa ra tín hiệu nghe\r\nthấy hoặc nhìn thấy khi hệ thống laser được bật hoặc nếu dãy tụ điện của bộ\r\nphát laser dạng xung được nạp điện hoặc không phóng điện tích cực. Thiết bị\r\ncảnh báo phải thuộc loại hỏng nhưng vẫn an toàn hoặc loại dự phòng. Thiết bị cảnh\r\nbáo nhìn thấy bất kỳ phải nhìn thấy được rõ ràng bằng kính mắt bảo vệ được\r\nthiết kế riêng đối với (các) bước sóng của bức xạ laser phát ra. (Các) thiết bị\r\ncảnh báo nhìn thấy được phải được đặt sao cho việc quan sát không đòi hỏi phơi\r\nnhiễm với bức xạ laser vượt quá AEL đối với Cấp 1M và 2M.
\r\n\r\n6.7.3 Mỗi lỗ mở laser và cơ cấu điều khiển hoạt\r\nđộng mà có thể đặt cách thiết bị cảnh báo bức xạ 2 m hoặc xa hơn thì đều phải\r\ncó riêng một thiết bị cảnh báo bức xạ. Thiết bị cảnh báo bức xạ phải nhìn thấy\r\nhoặc nghe thấy rõ ràng đối với người ở gần cơ cấu điều khiển hoạt động hoặc lỗ\r\nmở laser.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Yêu cầu về chỉ thị phát xạ có thể\r\nđược đáp ứng trên sản phẩm cầm tay trong trường hợp lỗ mở và các cơ cấu điều\r\nkhiển đặt sát nhau khi nó có lắp cơ cấu đóng cắt thường đóng, mở nhanh tạo ra\r\nchỉ thị rõ ràng và cảm nhận được về phát xạ.
\r\n\r\n6.7.4 Trong trường hợp phát xạ laser có thể được\r\nphân bố thông qua nhiều hơn một lỗ mở đầu ra thì thiết bị cảnh báo nhìn thấy\r\nđược phải được chỉ thị rõ ràng lỗ mở đầu ra nào phát xạ laser có thể phát ra\r\nqua đó, theo 6.7.2.
\r\n\r\n6.7.5 Đối với thiết bị cầm tay cấp 3R, cho phép\r\nsử dụng thiết bị đóng cắt tức thời mà cần được ấn liên tục để cho phép sử dụng\r\nphát xạ thay vì yêu cầu thiết bị chỉ thị phát xạ.
\r\n\r\nTừng hệ thống laser Cấp 3B và Cấp 4 phải có\r\nlắp một hoặc nhiều phương tiện suy hao hoặc kết thúc phát xạ được gắn cố định\r\n(ví dụ bộ khóa chùm tia, bộ suy hao, cơ cấu điều khiển hoặc cơ cấu đóng cắt\r\nđiện). Bộ khóa chùm tia, cơ cấu đóng cắt hoặc bộ suy hao phải có khả năng ngăn\r\nngừa sự tiếp cận của người đến bức xạ laser vượt quá AEL đối với Cấp 1M hoặc Cấp\r\n2M nếu thuộc đối tượng áp dụng.
\r\n\r\n\r\n\r\nTừng sản phẩm laser phải có các cơ cấu điều\r\nkhiển được đặt sao cho việc điều chỉnh và thao tác không đòi hỏi phơi nhiễm với\r\nbức xạ laser tương đương Cấp 3R, Cấp 3B hoặc Cấp 4.
\r\n\r\nThiết bị quan sát quang bất kỳ, khung nhìn\r\nhoặc màn hình hiển thị được lắp trong sản phẩm laser phải có đủ suy hao để ngăn\r\nngười tiếp cận với bức xạ laser vượt quá AEL đối với Cấp 1M và đối với màn chập\r\nhoặc bộ suy hao biến đổi có lắp trong thiết bị quan sát quang, khung hình hoặc\r\nmàn hiền thị, phải có phương tiện để:
\r\n\r\na) ngăn người tiếp cận với bức xạ laser vượt\r\nquá AEL đối với Cấp 1M khi màn chập được mở ra hoặc việc suy hao có thay đổi;
\r\n\r\nb) ngăn việc mở màn chập hoặc thay đổi bộ suy\r\nhao khi có thể có phơi nhiễm với bức xạ laser vượt quá AEL đối với Cấp 1M.
\r\n\r\nCác sản phẩm laser được thiết kế để phát bức\r\nxạ quét và được phân loại trên cơ sở này không được cho phép người tiếp cận với\r\nbức xạ laser vượt quá AEL đối với cấp ấn định, do không quét hoặc thay đổi tốc\r\nđộ quét hoặc biên độ quét, trừ khi phơi nhiễm của người là không dự đoán được\r\ntrong khoảng thời gian giữa thời điểm hỏng và khi cơ cấu bảo vệ an toàn quét\r\ngiâm bức xạ xuống các mức thấp hơn AEL tương ứng với cấp của sản phẩm (xem thêm\r\n5.1).
\r\n\r\nKhác với phơi nhiễm dự kiến của mô đang xét,\r\nsản phẩm Cấp 1C không được phép để người tiếp cận đến bức xạ laser vượt quá AEL\r\nđối với
\r\n\r\na) Cấp 1 được đo trong Điều kiện 3, và
\r\n\r\nb) Cấp 3B được đo qua lỗ mở 3,5 mm đặt ở\r\nkhoảng cách 5 mm tính từ cơ cấu đặt với cơ cấu đặt được di chuyển hai bên áp\r\ndụng trong thời gian phát xạ sau khi mất tiếp xúc. Xem IEC 61508 để có hướng\r\ndẫn về các yêu cầu tính năng và tính tin cậy của cơ cấu bảo vệ an toàn, mặc dù\r\ncó thể không cần phân tích đầy đủ.
\r\n\r\n\r\n\r\nNếu vỏ bảo vệ có trang bị tấm tiếp cận tạo ra\r\ntiếp cận “đi vào” thì
\r\n\r\na) phải có phương tiện sao cho người bất kỳ\r\nbên trong vỏ bảo vệ có thể ngăn kích hoạt nguy hiểm laser tương đương với Cấp\r\n3B hoặc Cấp 4;
\r\n\r\nb) thiết bị cảnh báo phải được đặt sao cho\r\ntạo ra cảnh báo đủ về phát xạ bức xạ laser tương đương Cấp 3R trong dải bước\r\nsóng thấp hơn 400 nm và cao hơn 700 nm, hoặc phát xạ bức xạ laser tương đương\r\nvới Cấp 3B hoặc Cấp 4 đến người bất kỳ có thể ở trong phạm vi vỏ bảo vệ;
\r\n\r\nc) trong trường hợp tiếp cận “đi vào” trong quá\r\ntrình hoạt động được thiết kế hoặc dự đoán được một cách hợp lý thì phải ngăn\r\nngừa bằng các phương tiện kỹ thuật việc phát xạ bức xạ laser tương đương với\r\nCấp 3B hoặc Cấp 4 trong khi có người đang ở bên trong vỏ bảo vệ của sản phẩm Cấp\r\n1, Cấp 2 hoặc Cấp 3R.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Các phương pháp ngăn ngừa tiếp cận\r\ncủa người đến bức xạ khi người đang ở bên trong vỏ bảo vệ có thể bao gồm cả\r\nthảm trải sàn nhạy với áp lực, bộ phát hiện hồng ngoại, v.v.
\r\n\r\n\r\n\r\nSản phẩm laser phải đáp ứng các yêu cầu về an\r\ntoàn được xác định trong tiêu chuẩn này trong tất cả các điều kiện làm việc dự\r\nkiến tương ứng với sử dụng dự kiến của sản phẩm. Các hệ số cần xem xét bao gồm:
\r\n\r\n- các điều kiện khí hậu (ví dụ nhiệt độ, độ\r\nẩm tương đối);
\r\n\r\n- rung và xóc.
\r\n\r\nNếu không có quy định trong tiêu chuẩn an\r\ntoàn sản phẩm cụ thể, cho phép áp dụng các điều liên quan của IEC 61010-1.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Yêu cầu liên quan đến tương thích\r\nđiện từ đang được xem xét.
\r\n\r\n6.15.1 Nguy hiểm không quang
\r\n\r\nCác yêu cầu của tiêu chuẩn an toàn sản phẩm\r\nliên quan phải được đáp ứng trong quá trình hoạt động và khi có sự cố đơn đối\r\nvới các trường hợp sau:
\r\n\r\n- nguy hiểm về điện;
\r\n\r\n- nhiệt độ (cao hoặc thấp) quá mức;
\r\n\r\n- cháy lan từ thiết bị;
\r\n\r\n- âm thanh và siêu âm;
\r\n\r\n- chất độc hại;
\r\n\r\n- nổ.
\r\n\r\nNếu không có quy định trong tiêu chuẩn an\r\ntoàn sản phẩm cụ thể, cho phép áp dụng các điều liên quan trong IEC 61010-1.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Nhiều quốc gia có quy định kỹ\r\nthuật để khống chế các chất độc hại.
\r\n\r\n6.15.2 Bức xạ phụ
\r\n\r\nVỏ bảo vệ của các sản phẩm laser thường sẽ\r\nbảo vệ khỏi các nguy hiểm của bức xạ phụ (ví dụ bức xạ cực tím, nhìn thấy, hồng\r\nngoại). Tuy nhiên, nếu có lo lắng về việc bức xạ phụ tiếp cận được có thể nguy\r\nhiểm thì cho phép áp dụng các giá trị MPE của laser để đánh giá nguy hiểm này.
\r\n\r\nNếu mạch điều khiển công suất được sử dụng để\r\ngiới hạn công suất điện của thiết bị phát laser sao cho AEL của cấp laser quy\r\nđịnh không bị vượt quá trong quá trình hoạt động, nó cũng phải giới hạn được\r\nphát xạ trong các điều kiện sự cố đơn dự đoán được kể cả việc xem xét sự phụ\r\nthuộc của thiết bị vào nhiệt độ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Điều này thường áp dụng cho các bộ\r\nphát laser sử dụng điốt bán dẫn trong trường hợp cuộn cản dòng điện có thể gây\r\nra bức xạ cao hơn AEL. Các tham số làm việc khuyến cáo đối với bộ phát laser sử\r\ndụng điốt (ví dụ dòng điện và nhiệt độ) thường thấp hơn nhiều chế độ bão hòa để\r\nđảm bảo các đặc tính phổ tốt. Do đó việc tăng đáng kể phát xạ laser có thể xảy\r\nra vượt quá các tham số khuyến cáo.
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\nMỗi sản phẩm laser phải mang (các) nhãn phù\r\nhợp với các yêu cầu của các điều sau. Các nhãn phải bền, gắn cố định, dễ đọc và\r\ncó thể nhìn thấy dễ dàng trong quá trình vận hành, bảo dưỡng hoặc bảo trì theo\r\nmục đích sử dụng của nó. Các nhãn phải được đặt ở vị trí sao cho chúng có thể\r\nđược đọc mà người không cần phải phơi nhiễm với bức xạ laser vượt quá mức AEL\r\nđối với Cấp 1. Các đường bao ngoài của phần nội dung và các ký hiệu phải có màu\r\nđen trên nền vàng ngoại trừ đối với Cấp 1, ở đó không nhất thiết phải sử dụng\r\nkết hợp màu này.
\r\n\r\nNội dung của nhãn được thể hiện trong Điều 7\r\nđược khuyến cáo mà không bắt buộc. Cho phép sử dụng các nội dung khác có thể\r\ntruyền tải cùng một ý nghĩa (kể cả các nhãn cảnh báo trong các phiên bản trước\r\ncủa tiêu chuẩn này). Phụ lục C đưa ra thông tin bổ sung về các cấp laser, giả\r\nthiết và các hạn chế.
\r\n\r\nNếu kích cỡ hoặc thiết kế của sản phẩm khiến\r\ncho không thể dán được nhãn thì nhãn phải được đưa vào thông tin cho người sử\r\ndụng hoặc trên bao bì.
\r\n\r\nViệc in hoặc khắc trực tiếp của các nhãn\r\ntương đương lên sản phẩm hoặc tấm ngăn là chấp nhận được.
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image014.jpg\")
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Các kích thước D1, D2,\r\n D3, g1 và d là các giá trị khuyến cáo. \r\n | \r\n |||||||
CHÚ THÍCH 1: Quan hệ giữa khoảng cách lớn\r\nnhất L mà nhãn có thể đọc được và diện tích tối thiểu A của nhãn được cho bởi\r\ncông thức A = L2/2 000, trong đó A và L được tính bằng mét vuông và\r\nmét tương ứng. Công thức này áp dụng cho khoảng cách L nhỏ hơn 50 m.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Các kích thước này là các giá\r\ntrị khuyến cáo. Ký hiệu và đường bao có thể có kích cỡ thay đổi bất kỳ để phù\r\nhợp với kích cỡ của sản phẩm với điều kiện là chúng tỷ lệ với các giá trị trên.
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image015.jpg\")
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n Kích thước g1 là giá trị khuyến\r\n cáo. \r\n | \r\n |||||
CHÚ THÍCH 1: Quan hệ giữa khoảng cách lớn\r\nnhất L mà nhãn có thể đọc được và diện tích tối thiểu A của nhãn được cho bởi\r\ncông thức A = L2/2 000, trong đó A và L được tính bằng mét vuông và\r\nmét tương ứng. Công thức này áp dụng cho khoảng cách L nhỏ hơn 50 m.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Các kích thước này là các giá\r\ntrị khuyến cáo. Nhãn có thể có kích cỡ bất kỳ cần thiết để chứa nội dung và\r\nđường bao yêu cầu. Chiều rộng tối thiểu của từng kích thước đường bao g2\r\nvà g3 bằng 0,06 lần chiều dài của cạnh ngắn hơn của nhãn.
\r\n\r\nTrừ khi được cho phép trong Điều 1, mỗi sản\r\nphẩm laser cấp 1 phải có nhãn thông tin (Hình 4) nêu nội dung sau:
\r\n\r\nMột cách khác, cho phép gắn lên sản phẩm nhãn\r\nminh họa trên Hình 5:
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image016.jpg\")
Từng sản phẩm laser Cấp 1M đều phải gắn nhãn\r\nthông tin (Hình 4) có nội dung sau:
\r\n\r\nMột cách khác, cho phép gắn lên sản phẩm nhãn\r\nminh họa trên Hình 6:
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image017.jpg\")
Thay cho các nhãn trên lên sản phẩm, khi có\r\ntham vấn với nhà chế tạo, cho phép đưa nội dung tương tự trong tờ thông tin cho\r\nngười sử dụng.
\r\n\r\n\r\n\r\nMỗi sản phẩm laser Cấp 1C phải có nhãn cảnh\r\nbáo (Hình 3) và nhãn thông tin (Hình 4) nêu nội dung sau:
\r\n\r\nMột cách khác, cho phép gắn lên sản phẩm nhãn\r\nmình họa trên Hình 7:
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image018.jpg\")
Mỗi sản phẩm laser cấp 2 phải có nhãn cảnh\r\nbáo (Hình 3) và nhãn thông tin (Hình 4) nêu nội dung sau:
\r\n\r\nMột cách khác, cho phép gắn lên sản phẩm nhãn\r\nminh họa trên Hình 8:
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image019.jpg\")
Mỗi sản phẩm laser Cấp 2M phải có nhãn cảnh\r\nbáo (Hình 3) và nhãn thông tin (Hình 4) nêu nội dung sau:
\r\n\r\nMột cách khác, cho phép gắn lên sản phẩm nhãn\r\nminh họa trên Hình 9:
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image020.jpg\")
CHÚ THÍCH: Người sử dụng được hướng dẫn bởi\r\ncác nhãn nêu trên không được nhìn vào chùm tia có nghĩa là thực hiện phản xạ\r\nbảo vệ chủ động bằng cách di chuyển đầu hoặc nhắm mắt lại và tránh nhìn liên\r\ntục vào chùm tia một cách cố ý. Xem thêm thông tin chi tiết trong Phụ lục C.
\r\n\r\n\r\n\r\nMỗi sản phẩm laser Cấp 3R phải có nhãn cảnh\r\nbáo (Hình 3) và nhãn thông tin (Hình 4) nêu nội dung sau:
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Các nhãn sử dụng nội dung TRÁNH\r\nPHƠI NHIỄM VỚI CHÙM TIA trong dòng thứ hai cũng được chấp nhận.
\r\n\r\nMột cách khác, cho phép gắn lên sản phẩm nhãn\r\nminh họa trên Hình 10:
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image021.jpg\")
Mỗi sản phẩm laser Cấp 3B phải có nhãn cảnh\r\nbáo (Hình 3) và nhãn thông tin (Hình 4) nêu nội dung sau:
\r\n\r\nMột cách khác, cho phép gắn lên sản phẩm nhãn\r\nminh họa trên Hình 11:
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image022.jpg\")
Mỗi sản phẩm laser cấp 4 phải có nhãn cảnh\r\nbáo (Hình 3) và nhãn thông tin (Hình 4) nêu nội dung sau:
\r\n\r\nMột cách khác, cho phép gắn lên sản phẩm nhãn\r\nminh họa trên Hình 12:
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image023.jpg\")
Mỗi sản phẩm laser Cấp 3R, Cấp 3B và Cấp 4\r\nphải có nhãn gắn sát vào từng lỗ mở mà thông qua đó phát ra bức xạ laser vượt\r\nquá AEL đối với Cấp 1 và Cấp 2.
\r\n\r\nMột cách khác, cho phép gắn lên sản phẩm nhãn\r\nminh họa trên Hình 13:
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image024.jpg\")
Tên và ngày xuất bản tiêu chuẩn dùng để phân\r\nloại sản phẩm phải được đưa vào nhãn thông tin, trên các nhãn thể hiện trong\r\n7.2 đến 7.7 hoặc nơi nào đó gần với sản phẩm. Mỗi sản phẩm laser, ngoại trừ sản\r\nphẩm Cấp 1, phải được mô tả trên nhãn thông tin (Hình 4) hoặc trên các nhãn thể\r\nhiện trong 7.2 đến 7.7 bằng các nội dung về công suất lớn nhất của bức xạ laser\r\nphát ra (xem định nghĩa 3.58), thời gian xung (nếu thích hợp) và (các) bước\r\nsóng phát ra. Đối với sản phẩm laser Cấp 1 và Cấp 1M, thay vì các nhãn trên sản\r\nphẩm, thông tin có thể nêu trong tờ thông tin cho người sử dụng.
\r\n\r\nNếu thông tin trong 7.9 được kết hợp trong\r\ncác nhãn ở 7.2 đến 7.7, thông tin này có thể được ghi trên các tấm với cấp\r\nlaser hoặc trong các tấm riêng rẽ bên dưới cấp laser hoặc trong các nội dung mô\r\ntả bên dưới tấm chứa cấp laser nếu thích hợp với kích cỡ của nhãn.
\r\n\r\n7.10.1 Nhãn dùng cho các tấm
\r\n\r\nTừng đấu nối và từng tấm của vỏ bảo vệ mà,\r\nkhi được tháo ra hoặc thay thế, cho phép người tiếp cận đến bức xạ laser vượt\r\nquá AEL đối với Cấp 1, phải có nhãn gắn cố định mang nội dung (đối với trường\r\nhợp laser Cấp 1M tích hợp, nội dung này có thể được nêu trong tờ thông tin cho\r\nngười sử dụng):
\r\n\r\na)
\r\n\r\nnếu bức xạ tiếp cận không vượt quá AEL đối\r\nvới cấp 1M khi mức bức xạ được đo theo 5.3 a) và 5.4;
\r\n\r\nb)
\r\n\r\nnếu bức xạ tiếp cận không vượt quá AEL đối\r\nvới cấp 2 khi mức bức xạ được đo theo 5.3 c) và 5.4;
\r\n\r\nc)
\r\n\r\nnếu bức xạ tiếp cận không vượt quá AEL đối\r\nvới Cấp 2M khi mức bức xạ được đo theo 5.3 c) và 5.4;
\r\n\r\nd)
\r\n\r\nnếu bức xạ tiếp cận không vượt quá AEL đối\r\nvới Cấp 3R;
\r\n\r\nCác nhãn sử dụng TRÁNH PHƠI NHIỄM VỚI CHÙM\r\nTIA trong dòng thứ hai cũng được chấp nhận.
\r\n\r\ne)
\r\n\r\nnếu bức xạ tiếp cận không vượt quá AEL đối\r\nvới Cấp 3B;
\r\n\r\nf)
\r\n\r\nnếu bức xạ tiếp cận vượt quá các giới hạn đối\r\nvới Cấp 3B.
\r\n\r\nThông tin này có thể được cung cấp trong\r\nnhiều hơn một nhãn gắn trên sản phẩm.
\r\n\r\n7.10.2 Nhãn dùng cho các tấm được khóa liên\r\nđộng an toàn
\r\n\r\nNhãn thích hợp phải được gắn rõ ràng với từng\r\nkhóa liên động an toàn mà có thể dễ dàng làm mất hiệu lực và khi đó con người\r\ncó thể tiếp cận đến bức xạ laser vượt quá AEL của Cấp 1. Nhãn này phải nhìn\r\nthấy được trước và trong khi khóa liên động bị làm mất hiệu lực và đặt sát với\r\nlỗ hở được tạo ra do tháo vỏ bảo vệ. Nhãn này phải có nội dung quy định trong\r\ncác mục a) đến f) của 7.10.1, nếu thuộc đối tượng áp dụng, bằng việc thêm một\r\ndòng mới ngay sau dòng đầu tiên, với nội dung sau:
\r\n\r\nTrong nhiều trường hợp, nội dung quy định cho\r\ncác nhãn trong Điều 7 là “BỨC XẠ LASER”. Nếu laser đầu ra nằm ngoài dải bước\r\nsóng từ 400 nm đến 700 nm thì nội dung này phải được sửa đổi thành “BỨC XẠ\r\nLASER KHÔNG NHÌN THẤY” hoặc nếu laser đầu ra ở các bước sóng nằm cả bên trong\r\nvà bên ngoài dải bước sóng này thì nội dung ghi nhãn được sửa đổi thành “BỨC XẠ\r\nLASER NHÌN THẤY VÀ KHÔNG NHÌN THẤY”.
\r\n\r\nNếu sản phẩm được phân loại trên cơ sở mức\r\nbức xạ laser nhìn thấy và cũng phát vượt quá mức AEL của Cấp 1 ở các bước sóng\r\nkhông nhìn thấy thì nhãn phải có nội dung “BỨC XẠ LASER NHÌN THẮY VÀ KHÔNG NHÌN\r\nTHẤY” thay vì “BỨC XẠ LASER”.
\r\n\r\nNếu sử dụng các nhãn thay thế trên Hình 5 đến\r\nHình 12 thì cảnh báo đối với bức xạ nhìn thấy và không nhìn thấy phải được đưa\r\nvào trên tấm bổ sung đặt bên dưới hoặc bên cạnh nhãn đó.
\r\n\r\nNội dung “BỨC XẠ LASER” đối với các nhãn\r\ntrong Điều 7 có thể được sửa đổi thành “ÁNH SÁNG LASER” nếu đầu ra của sản phẩm\r\nlaser nằm trong dải bước sóng (nhìn thấy) từ 400 nm đến 700 nm.
\r\n\r\nĐối với Cấp 1, 1M, 2, 2M hoặc Cấp 3R, nếu\r\nphát xạ tiếp cận được vượt quá AEL của Cấp 3B như xác định với lỗ hở có đường\r\nkính 3,5 mm tại điểm người tiếp cận gần nhất, phải có cảnh báo bổ sung trên\r\nnhãn của sản phẩm và thông tin cho người sử dụng (xem 5.3 a) đối với Cấp 1 và\r\n1M, xem 5.3 c) đối với Cấp 2 và 2M, và xem 5.3 d) đối với cấp 3R).
\r\n\r\nCảnh báo dưới đây phải được ghi trên vỏ của\r\nsản phẩm và thông tin cho người sử dụng. Đường biên của dòng chữ và ký hiệu\r\nphải màu đen trên nền vàng, kể cả đối với Cấp 1.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Rủi ro gây thương tích trên da chỉ\r\ncó khả năng xảy ra đối với chùm tia phân kỳ lớn khi phơi nhiễm gần lỗ mở.
\r\n\r\nTrong khi việc đặt nhãn thông tin đối với Cấp\r\n1 và 1M trên sản phẩm là một tùy chọn (xem 7.2) thì việc cảnh báo nêu trên là\r\nbắt buộc.
\r\n\r\nNhà chế tạo các sản phẩm laser phải cung cấp\r\nhướng dẫn sử dụng hoặc sổ tay vận hành có chứa tất cả các thông tin an toàn\r\nliên quan. Nhà chế tạo phải có trách nhiệm cung cấp thông tin an toàn nêu dưới\r\nđây và quyết định xem thông tin nào liên quan và phải cung cấp.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Thông tin liên quan hoặc không\r\nliên quan phụ thuộc vào sản phẩm cụ thể kể cả ứng dụng dự kiến và thậm chí có\r\nthể phải tuân thủ quy định của quốc gia.
\r\n\r\nPhải cung cấp các thông tin dưới đây nếu\r\nthuộc đối tượng áp dụng:
\r\n\r\na) Hướng dẫn đủ để lắp ráp, bảo dưỡng đúng và\r\nsử dụng an toàn, kể cả các cảnh báo rõ ràng liên quan đến những phòng ngừa để\r\ntránh phơi nhiễm có thể có với bức xạ laser nguy hiểm và mô tả các hạn chế của\r\nphân loại, nếu thích hợp (xem Phụ lục C đối với bản mô tả các cấp và hạn chế có\r\nthể có).
\r\n\r\nb) Cảnh báo bổ sung đối với các sản phẩm\r\nlaser Cấp 1M và 2M. Cảnh báo này phải nêu rõ việc quan sát laser đầu ra bằng\r\nthiết bị đo quang viễn vọng (ví dụ ống nhòm) có thể gây nguy hiểm cho mắt và do\r\nđó người sử dụng không nên chiếu trực tiếp chùm tia vào vùng mà các thiết bị đo\r\nnày có nhiều khả năng được sử dụng.
\r\n\r\nc) Đối với các mức bức xạ laser cao hơn AEL\r\ncủa Cấp 1, bản mô tả (các) dạng bức xạ bất kỳ phát ra từ vỏ bảo vệ trong quá\r\ntrình vận hành và quá trình bảo dưỡng. Trong trường hợp áp dụng được, bản mô tả\r\nnày phải được nêu các đại lượng dưới đây với các đơn vị thích hợp:
\r\n\r\n• bước sóng,
\r\n\r\n• độ phân kỳ của chùm tia,
\r\n\r\n• thời gian xung và tốc độ lặp xung (hoặc mô\r\ntả dạng xung không đều đặn),
\r\n\r\n• công suất hoặc năng lượng đầu ra lớn nhất.
\r\n\r\nCác giá trị này phải, khi thích hợp, bao gồm\r\nđộ không đảm bảo đo lũy tích và sự tăng dự kiến bất kỳ của các đại lượng được\r\nđo ở thời điểm bất kỳ sau khi chế tạo. Thời gian xung tạo ra từ việc khóa chế\r\nđộ ngoài dự kiến không nhất thiết cần được quy định; trong khi đó các điều kiện\r\nkết hợp với sản phẩm đã biết để tạo ra khóa chế độ ngoài dự kiến phải được quy\r\nđịnh. Đối với các xung siêu ngắn, phải quy định băng tần của bức xạ (tức là dải\r\nbước sóng của phát xạ).
\r\n\r\nd) Đối với các sản phẩm laser lắp trong và\r\ncác sản phẩm laser kết hợp khác, thông tin để mô tả bộ phát laser kết hợp (xem\r\nđiểm c)). Thông tin này cũng phải bao gồm các hướng dẫn an toàn thích hợp cho\r\nngười sử dụng để tránh phơi nhiễm bất lợi với bức xạ laser nguy hiểm. Điều này\r\ncũng liên quan cụ thể đến các sản phẩm laser lắp trong mà được phân loại là Cấp\r\n1, Cấp 1M, Cấp 2 hoặc Cấp 2M nhưng trong trường hợp việc quan sát nội chùm tia\r\nđến các mức phát xạ tiếp cận được vượt quá AEL của các cấp này có thể xảy ra\r\ntrong quá trình bảo dưỡng. Trong trường hợp này, nhà chế tạo phải đưa ra cảnh\r\nbáo rằng phải ngăn ngừa việc quan sát nội chùm tia của bộ phát laser.
\r\n\r\ne) Trong trường hợp thích hợp và có liên\r\nquan, MPE áp dụng được (xem Phụ lục A) và NOHD đối với các sản phẩm laser Cấp\r\n3B và Cấp 4. Vì NOHD phụ thuộc nhiều vào hệ thống phân phối chùm tia và các\r\nphần tử quang đặt trong chùm tia, khi điều này được xem là có liên quan, khuyến\r\ncáo rằng các giá trị NOHD khác nhau được cho đối với các phụ kiện hoặc hệ thống\r\nphân phối chùm tia khác nhau. Nếu độ phân kỳ chùm tia là biến thiên thì NOHD có\r\nthể được cho đối với một vài giá trị lựa chọn của độ phân kỳ. Khi MPE và giá\r\ntrị NOHD được quy định, khoảng thời gian phơi nhiễm giả thiết để xác định các\r\ngiá trị này cũng phải được quy định. Đối với bộ phát laser Cấp 1M và Cấp 2M có\r\nchùm tia chuẩn trực, phải quy định NOHD kéo dài (ENOHD), trong trường hợp thích\r\nhợp và có liên quan.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Thường không yêu cầu thông tin\r\ncụ thể về ENOHD đối với các chùm tia chuẩn trực được sử dụng trong nhà. Trong\r\ntrường hợp đó, thường là đủ khi đưa ra khoảng cách mà tại đó MPE có thể bị vượt\r\nquá.
\r\n\r\nf) Khi thích hợp, thông tin để lựa chọn bảo\r\nvệ mắt. Thông tin này phải gồm mật độ quang cần thiết và dải bước sóng cũng như\r\nmức độ rọi hoặc mức phơi nhiễm bức xạ mà có thể tới mặt phẳng của thiết bị bảo\r\nvệ mắt sao cho có thể xác định các mức chịu đựng.
\r\n\r\ng) Việc tái lặp dễ dàng (tông đen một màu\r\nhoặc các màu thích hợp nêu trong Điều 7) của tất cả các nhãn yêu cầu và cảnh\r\nbáo nguy hiểm cần gắn lên sản phẩm laser hoặc cung cấp cùng sản phẩm laser. Vị\r\ntrí tương ứng của từng nhãn gắn lên sản phẩm laser phải được chỉ ra hoặc nếu\r\nđược cung cấp cùng sản phẩm thì phải nêu rằng các nhãn có thể không được gắn\r\nvới sản phẩm nhưng đã được cung cấp với sản phẩm và nêu dạng và cách thức được\r\ncung cấp. Nếu sử dụng các nhãn đồ họa thay thế trong 7.2 đến 7.8 trên sản phẩm\r\nthì các nội dung tương ứng của nó phải được đưa vào sổ tay sử dụng cùng với sự\r\ntái lặp của nhãn đồ họa đó.
\r\n\r\nh) Chỉ thị rõ ràng trong sổ tay về tất cả các\r\nvị trí của lỗ mở laser mà qua đó bức xạ laser phát ra vượt quá AEL cấp 1.
\r\n\r\ni) Danh mục các điều khiển, điều chỉnh và các\r\nquy trình vận hành và bảo dưỡng, kể cả cảnh báo “Lưu ý - Sử dụng các điều khiển\r\nhoặc điều chỉnh hoặc thực hiện các quy trình khác với quy định ở đây có thể gây\r\nra phơi nhiễm bức xạ nguy hiểm” (hoặc một cách khác bằng các cảnh báo thích hợp\r\ntương đương).
\r\n\r\nj) Trong trường hợp các sản phẩm laser không\r\nlắp nguồn năng lượng laser cần thiết cho phát xạ laser, các yêu cầu về tương\r\nthích đối với nguồn năng lượng laser để đảm bảo an toàn.
\r\n\r\nk) Đối với Cấp 1, 1M, 2, 2M và 3R, cảnh báo\r\nbổ sung có thể là cần thiết (xem 5.3 a), 5.3 c) và 5.3 d)). Cảnh báo bổ sung\r\nphải được cung cấp để đảm bảo, ví dụ, người sử dụng nhận biết được rủi ro gây\r\ncho da hoặc bỏng giác mạc.
\r\n\r\nl) Các tiêu chuẩn quy định các yêu cầu có thể\r\náp dụng liên quan đến thông tin cho người sử dụng đối với các sản phẩm Cấp 1C.\r\nVí dụ về các thông tin liên quan gồm:
\r\n\r\n• cảnh báo phải nêu rõ laser đầu ra từ thiết\r\nbị có thể nguy hiểm nếu không sử dụng theo đúng hướng dẫn sử dụng;
\r\n\r\n• người sử dụng phải được cảnh báo về việc sử\r\ndụng thiết bị trên các vùng da trong trường hợp không an toàn ví dụ như mí mắt;\r\nvà
\r\n\r\n• người sử dụng phải được cảnh báo về tần\r\nsuất áp dụng khi việc áp dụng lặp lại có thể có rủi ro.
\r\n\r\nNhà chế tạo các sản phẩm laser phải cung cấp\r\nhoặc đảm bảo các thông tin sau được cung cấp.
\r\n\r\na) Trong tất cả các catalo, các tờ quy định\r\nkỹ thuật và tài liệu giới thiệu, phải nêu phân loại của từng sản phẩm laser và\r\ncảnh báo bất kỳ, kể cả các nội dung quy định trong 8.1 b) và 8.1 k), nếu thích\r\nhợp.
\r\n\r\nb) Cho các nhà cung cấp dịch vụ bảo trì và\r\ncho những người khác khi có yêu cầu, các hướng dẫn đầy đủ về điều chỉnh bảo trì\r\nvà quy trình bảo trì đối với từng model sản phẩm laser, bao gồm:
\r\n\r\n- cảnh báo rõ ràng và các biện pháp phòng\r\nngừa cần thực hiện để tránh phơi nhiễm có thể có với bức xạ laser cao hơn Cấp 1\r\nvà các nguy hiểm khác;
\r\n\r\n- lịch biểu bảo dưỡng cần thiết để duy trì sự\r\nphù hợp của sản phẩm;
\r\n\r\n- danh mục các điều khiển và quy trình có thể\r\nsử dụng bởi những người không phải nhà chế tạo hoặc đại lý của nhà chế tạo để\r\ntăng mức phát xạ tiếp cận được của bức xạ;
\r\n\r\n- bản mô tả rõ ràng về vị trí của phần thay\r\nthế được của vỏ bảo vệ có thể cho phép tiếp cận bức xạ laser vượt quá các giới\r\nhạn phát xạ tiếp cận được trong các bảng từ Bảng 3 đến Bảng 8;
\r\n\r\n- quy trình bảo vệ đối với người bảo trì; và
\r\n\r\n- việc dễ dàng tái lặp (tùy chọn màu) của các\r\nnhãn và các cảnh báo nguy hiểm cần thiết.
\r\n\r\n9.1 Các phần khác của bộ tiêu chuẩn IEC\r\n60825
\r\n\r\nĐối với các ứng dụng cụ thể, cho phép áp dụng\r\nmột hoặc nhiều tiêu chuẩn dưới đây (xem thêm Thư mục tài liệu tham khảo).
\r\n\r\n- IEC 60825-2, Safety of laser products -\r\nPart 2: Safety of optical fibre communication systems (OFCS) (cung cấp các\r\nchú thích áp dụng và ví dụ)
\r\n\r\n- IEC 60825-4, Safety of laser products -\r\nPart 4: Laser guards (cung cấp thông tin về thiết kế và kết cấu đối với các\r\ntấm bảo vệ laser và vật liệu đặc biệt khi sử dụng các bộ phát laser công suất cao)
\r\n\r\n- IEC 60825-12, Safety of laser products -\r\nPart 12: Safety of free space optical communication systems used for\r\ntransmission of information
\r\n\r\nThông tin thêm có thể tìm thấy trong:
\r\n\r\n- IEC/TR 60825-3, Safety of laser products\r\n- Part 3: Guidance for laser displays and shows
\r\n\r\n- IEC/TR 60825-5, Safety of laser products\r\n- Part 5: Manufacturer's checklist for IEC 60825-1 (thích hợp để sử dụng\r\ntrong báo cáo an toàn)
\r\n\r\n- IEC/TR 60825-8, Safety of laser products\r\n- Part 8: Guidelines for the safe use of laser beams on humans
\r\n\r\n- IEC/TR 60825-9, Safety of laser products\r\n- Part 9: Compilation of maximum permissible exposure to incoherent optical\r\nradiation (các nguồn băng tần rộng)
\r\n\r\n- IEC/TR 60825-13, Safety of laser\r\nproducts-Part 13: Measurements for classification of laser products
\r\n\r\n- TCVN 12670-14 (IEC/TR 60825-14), Safety\r\nof laser products - Part 14: A user's guide
\r\n\r\n- IEC 62471 (CIE S 009), Photobiological\r\nsafety of lamps and lamp systems
\r\n\r\n9.2 Sản phẩm laser y tế
\r\n\r\nMỗi sản phẩm laser y tế phải phù hợp với các\r\nyêu cầu áp dụng được đối với các sản phẩm laser với cấp cụ thể của nó. Ngoài\r\nra, sản phẩm laser y tế và thẩm mỹ Cấp 3B hoặc Cấp 4 có thể phải theo TCVN\r\n7303-2-22 (IEC 60601-2-22).
\r\n\r\n9.3 Máy xử lý bằng laser
\r\n\r\nMáy xử lý bằng laser phải phù hợp với các yêu\r\ncầu áp dụng được đối với các sản phẩm laser với cấp cụ thể của nó. Ngoài ra,\r\nmáy xử lý bằng laser có thể phải theo bộ tiêu chuẩn ISO/IEC 11553.
\r\n\r\n9.4 Đồ chơi chạy điện
\r\n\r\nĐồ chơi chạy điện là các sản phẩm laser phải\r\nphù hợp với các yêu cầu áp dụng được đối với các sản phẩm laser có cấp cụ thể\r\ncủa nó. Ngoài ra, các sản phẩm này phải theo TCVN 11332 (IEC 62115).
\r\n\r\n9.5 Sản phẩm điện tử tiêu dùng
\r\n\r\nCác sản phẩm điện tử tiêu dùng là sản phẩm\r\nlaser phải phù hợp với các yêu cầu áp dụng được đối với các sản phẩm laser có\r\ncấp cụ thể của nó. Ngoài ra, các sản phẩm này có thể phải theo TCVN 7326-1 (IEC\r\n60950-1) (thiết bị công nghệ thông tin) hoặc theo TCVN 6385 (IEC 60065) (thiết\r\nbị audio).
\r\n\r\n\r\n\r\n
A.1 Lưu ý chung
\r\n\r\nCác giới hạn phát xạ tiếp cận được (AEL) nhìn\r\nchung được rút ra từ các phơi nhiễm lớn nhất cho phép (MPE). MPE đã được đưa\r\nvào phụ lục tham khảo này nhằm cung cấp cho nhà chế tạo thông tin bổ sung có\r\nthể hỗ trợ để đánh giá các khía cạnh an toàn liên quan đến sử dụng dự kiến của\r\nsản phẩm của họ (ví dụ xác định NOHD).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Các tính toán đơn giản hóa có thể\r\nđánh giá thấp đáng kể NOHD. Ví dụ, khi lỗ mở laser nằm bên trong dải Ralaigh\r\nlớn, khi có phần thu nhỏ của chùm tia nằm bên ngoài, hoặc khi profin của chùm\r\ntia sao cho công suất đi qua lỗ mở bị đánh giá thấp với giả thiết profin chùm\r\ntia là phân bổ Gauss. Trong các trường hợp đó, thông thường việc xác định NOHD\r\nbằng phép đo sẽ tốt hơn.
\r\n\r\nCác giá trị phơi nhiễm lớn nhất cho phép như\r\nđề cập trong tiêu chuẩn này được chấp nhận từ các giá trị giới hạn phơi nhiễm\r\nđược công bố bởi Ủy ban quốc tế về bảo vệ bức xạ không ion hóa. Các giá trị MPE\r\nđược đặt thấp hơn các mức nguy hiểm đã biết và dựa trên thông tin sẵn có tốt\r\nnhất từ các nghiên cứu thực nghiệm. Các giá trị MPE cần được sử dụng làm hướng\r\ndẫn trong việc khống chế các phơi nhiễm, đối với thiết kế an toàn của sản phẩm\r\nvà làm cơ sở để cung cấp thông tin cho người sử dụng, và không nên coi là xác\r\nđịnh chính xác biên giới giữa các mức an toàn và nguy hiểm. Trong trường hợp\r\nbất kỳ, phơi nhiễm với bức xạ laser cần càng thấp càng tốt.
\r\n\r\nMPE được cho trong phụ lục này chỉ mang tính\r\ntham khảo, và không nên hiểu là các giới hạn có tính pháp lý đối với phơi nhiễm\r\ncủa người lao động tại nơi làm việc hoặc của công chúng. Các mức phơi nhiễm với\r\nmắt và da của người lao động tại nơi làm việc và của công chúng ở nhiều nước\r\nđược quy định trong luật quốc gia. Các mức phơi nhiễm này có thể khác với các\r\nMPE cho trong phụ lục này.
\r\n\r\nCác phơi nhiễm từ một vài bước sóng cần được\r\ngiả thiết là có ảnh hưởng cộng thêm trên cơ sở tỷ lệ với hiệu ứng quang phổ\r\ntheo MPE của Bảng A.1, A.2, A.3, A.4 và A.5 với điều kiện các vùng phổ được thể\r\nhiện là cộng thêm bởi các ký hiệu (o) đối với phơi nhiễm mắt và (s) đối với\r\nphơi nhiễm da trong Bảng 1. Trong trường hợp các bước sóng được bức xạ không\r\nđược thể hiện là cộng thêm thì các nguy hiểm cần được đánh giá riêng rẽ.
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
![](\"00919261_files/image025.jpg\")
\r\n\r\n\r\n
![](\"00919261_files/image026.jpg\")
![](\"00919261_files/image027.jpg\")
![](\"00919261_files/image028.jpg\")
![](\"00919261_files/image029.jpg\")
A.2 Lỗ mở giới hạn
\r\n\r\nLỗ mở thích hợp cần được sử dụng cho tất cả\r\ncác phép đo và tính toán giá trị phơi nhiễm. Đây là lỗ mở giới hạn và được xác\r\nđịnh theo đường kính của diện tích hình tròn mà trên đó phơi nhiễm bức xạ hoặc\r\nđộ rọi được lấy trung bình. Các giá trị của lỗ mở giới hạn được thể hiện trên\r\nBảng A.6. Khi sử dụng các giá trị MPE đối với cùng nguy hiểm võng mạc được thể\r\nhiện là công suất hoặc năng lượng và được xác định là công suất hoặc năng lượng\r\nđi qua lỗ mở với đường kính 7 mm.
\r\n\r\nĐối với các phơi nhiễm laser dạng xung lặp\r\nlại trong dài phổ từ 1 400 nm đến 105 nm, sử dụng lỗ mở 1 mm để đánh giá nguy\r\nhiểm từ một xung riêng rẽ; trong khi sử dụng lỗ mở 3,5 mm để đánh giá MPE áp\r\ndụng cho phơi nhiễm lớn hơn 10 s.
\r\n\r\nCác giá trị phơi nhiễm mắt trong dải bước\r\nsóng 400 nm đến 1 400 nm được đo trên lỗ mở đường kính 7 mm (đồng tử). MPE\r\nkhông được điều chỉnh để tính đến các đường kính đồng tử nhỏ hơn.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||
| \r\n CHÚ THÍCH: Đối với các phơi nhiễm nhiều\r\n xung, xem Điều A.3. \r\n | \r\n ||||
A.3 Bộ phát laser dạng xung lặp lại hoặc\r\nlaser có điều biến
\r\n\r\nCác phương pháp dưới đây cần được sử dụng để\r\nxác định MPE áp dụng cho các phơi nhiễm với bức xạ xung lặp lại.
\r\n\r\nPhơi nhiễm từ nhóm xung bất kỳ (hoặc nhóm nhỏ\r\ncác xung trong chuỗi xung) được phát ra trong khoảng thời gian cho trước không\r\nđược vượt quá MPE đối với khoảng thời gian đó.
\r\n\r\nMPE đối với phơi nhiễm của mắt trong các bước\r\nsóng nhỏ hơn 400 nm và lớn hơn 1 400 nm, cũng như MPE đối với phơi nhiễm da\r\nđược giới hạn bởi các yêu cầu khắc nghiệt nhất a) và b).
\r\n\r\nMPE đối với phơi nhiễm của mắt trong các bước\r\nsóng từ 400 nm đến 1 400 nm được xác định bằng cách sử dụng các yêu cầu khắc\r\nnghiệt nhất a), b) và c). Yêu cầu c) chỉ áp dụng cho các giới hạn võng mạc về\r\nnhiệt mà không áp dụng cho các giới hạn võng mạc về quang hóa.
\r\n\r\na) Phơi nhiễm từ một xung đơn bất kỳ trong\r\nchuỗi xung không vượt quá MPE đối với xung đơn.
\r\n\r\nb) Phơi nhiễm trung bình đối với phơi nhiễm\r\nchuỗi xung trong khoảng thời gian T không vượt quá MPE cho trong Bảng A.1, A.2\r\nvà A.3 đối với phơi nhiễm xung đơn trong khoảng thời gian T. Đối với các dạng\r\nxung không đều (kể cả năng lượng xung thay đổi), T phải được thay đổi từ Ti\r\nđến khoảng thời gian phơi nhiễm lớn nhất giả thiết. Đối với các dạng xung đều,\r\nviệc lấy trung bình trên khoảng thời gian phơi nhiễm lớn nhất giả thiết là đủ.
\r\n\r\nc) Phơi nhiễm trên xung không vượt quá MPE\r\nđối với xung đơn nhân với hệ số hiệu chỉnh C5. C5 chỉ áp\r\ndụng cho các khoảng thời gian xung đơn lẻ ngắn hơn 0,25 s.
\r\n\r\nMPEs.p .train = MPEsingle\r\nx C5
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nMPEsingle là MPE đối với xung đơn;
\r\n\r\nMPEs.p.train là MPE đối với xung\r\nđơn bất kỳ trong chuỗi xung.
\r\n\r\nNếu khoảng thời gian xung t ≤ Ti\r\nthì
\r\n\r\nĐối với khoảng thời gian phơi nhiễm dự kiến\r\nlớn nhất nhỏ hơn hoặc bằng 0,25 s
\r\n\r\nC5 = 1,0
\r\n\r\nĐối với khoảng thời gian phơi nhiễm dự kiến\r\nlớn hơn 0,25 s
\r\n\r\nNếu N ≤ 600 C5 = 1,0
\r\n\r\nNếu N > 600 C5 = 5 · N-0,25\r\nvới giá trị nhỏ nhất C5 = 0,4
\r\n\r\nNếu khoảng thời gian xung t > Ti\r\nthì
\r\n\r\nĐối với α ≤ 5 mrad
\r\n\r\nC5 = 1,0
\r\n\r\nĐối với 5 mrad < α ≤ αmax
\r\n\r\nđối với N ≤ 40 C5 = N-0,25
\r\n\r\nđối với N > 40 C5 =\r\n0,4
\r\n\r\nĐối với α > αmax
\r\n\r\nđối với N ≤ 625 C5\r\n= N-0,25
\r\n\r\nđối với N > 625 C5\r\n= 0,2
\r\n\r\nTrừ khi α > 100 mrad, khi đó C5\r\n= 1,0 trong mọi trường hợp
\r\n\r\nN là số lượng xung hiệu quả trong chuỗi xung\r\ntrong khoảng thời gian phơi nhiễm được đánh giá (khi các xung xuất hiện trong\r\nkhoảng thời gian Ti (xem Bảng 2), N nhỏ hơn số lượng xung thực tế,\r\nxem dưới đây). Khoảng thời gian phơi nhiễm lớn nhất cần thiết để đánh giá là T2\r\n(xem Bảng 9) hoặc khoảng thời gian phơi nhiễm dự kiến, chọn giá trị nhỏ hơn.
\r\n\r\nNếu nhiều xung xuất hiện trong khoảng thời\r\ngian Ti (xem Bảng 2), chúng được tính là xung đơn để xác định N, và\r\nphơi nhiễm bức xạ của các xung đơn lẻ được cộng lại đề so sánh với MPE của Ti.
\r\n\r\nA.4 Điều kiện đo
\r\n\r\nA.4.1 Quy định chung
\r\n\r\nĐể đánh giá phơi nhiễm thực tế, cần áp dụng\r\ncác điều kiện đo dưới đây.
\r\n\r\nA.4.2 Lỗ mở giới hạn
\r\n\r\nCác giá trị phơi nhiễm bức xạ hoặc độ rọi cần\r\nso sánh với MPE tương ứng được lấy trung bình trên nắp che lỗ mở hình tròn theo\r\ncác lỗ mở giới hạn của Bảng A.6. Đối với phơi nhiễm của mắt trong dải bước sóng\r\ntừ 400 nm đến 1 400 nm, sử dụng khoảng cách đo nhỏ nhất 100 mm.
\r\n\r\nA.4.3 Góc chấp nhận
\r\n\r\na) Giới hạn võng mạc về quang hóa
\r\n\r\nĐối với phép đo các nguồn cần được đánh giá\r\ntheo các giới hạn quang hóa (400 nm đến 600 nm), góc chấp nhận giới hạn γph\r\nlà
\r\n\r\nđối với 10 s < t ≤ 100 s: γph\r\n= 11 mrad
\r\n\r\nđối với 100 s < t ≤ 104 s: γph\r\n= 1,1 t0,5 mrad
\r\n\r\nđối với 104 s < t ≤ 3 x 104\r\ns: γph = 110 mrad
\r\n\r\nNếu góc trương của nguồn α lớn hơn góc giới\r\nhạn chấp nhận quy định γph, góc chấp nhận không nên lớn hơn các giá\r\ntrị quy định đối với γph. Nếu góc trương của nguồn α nhỏ hơn góc\r\nchấp nhận giới hạn γph, góc chấp nhận cần chứa toàn bộ nguồn cần xét\r\nnhưng không nhất thiết được xác định tốt (tức là góc chấp nhận không nhất thiết\r\nbị giới hạn ở γph).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đối với các phép đo các nguồn đơn\r\ntrong đó α < γph, sẽ không cần phải đo với góc chấp nhận cụ thể\r\nđược xác định tốt. Để có được góc chấp nhận xác định tốt, góc chấp nhận có thể\r\nđược xác định bằng cách tạo hình ảnh của nguồn lên nắp che trường hoặc bằng\r\ncách che nguồn đi - xem Hình 1 và Hình 2 tương ứng.
\r\n\r\nb) Tất cả các giới hạn khác
\r\n\r\nĐối với phép đo bức xạ cần so sánh với các\r\ngiới hạn không phải giới hạn nguy hiểm võng mạc về quang hóa, góc chấp nhận cần\r\nchứa toàn bộ nguồn cần xét (tức là góc chấp nhận cần tối thiểu rộng bằng góc\r\ntrương của nguồn α). Tuy nhiên, nếu α > αmax, trong dải bước sóng\r\ntừ 302,5 nm đến 4 000 nm, góc chấp nhận giới hạn không nên lớn hơn αmax\r\nđối với các giới hạn nguy hiểm nhiệt. Trong phạm vi dải bước sóng từ 400 nm đến\r\n1 400 nm đối với các giới hạn nguy hiểm về nhiệt, để đánh giá nguồn biểu kiến\r\ngồm nhiều điểm, góc chấp nhận cần nằm trong dải αmin ≤ γ ≤ αmax\r\n(xem 4.3 d)).
\r\n\r\nĐể xác định MPE đối với các nguồn có dạng\r\nphát xạ không tròn, giá trị góc trương của nguồn chữ nhật hoặc nguồn tuyến tính\r\nđược xác định bằng trung bình số học của hai kích thước góc của nguồn. Kích\r\nthước góc bất kỳ lớn hơn αmax hoặc nhỏ hơn αmin cần được\r\ngiới hạn ở αmax hoặc αmin tương ứng, trước khi tính trung\r\nbình. Các giới hạn nguy hiểm võng mạc về quang hóa không phụ thuộc vào góc\r\ntrương của nguồn, và nguồn được đo với góc trương như quy định nêu trên.
\r\n\r\nA.5 Laser của nguồn kéo dài
\r\n\r\nViệc hiệu chỉnh MPE nguồn nhỏ dưới đây được\r\nhạn chế trong hầu hết các trường hợp để quan sát phản xạ khuếch tán, và trong\r\nmột số trường hợp, các hiệu chỉnh này cũng có thể áp dụng cho các mạng laser,\r\nlaser đơn sắc, laser có đường kính phần thu hẹp của chùm tia lớn hơn 0,2 mm và\r\ncác góc phân kỳ lớn hơn 2 mrad hoặc các sản phẩm laser phân tán nguồn kéo dài.
\r\n\r\nĐối với bức xạ laser nguồn kéo dài (ví dụ,\r\nquan sát phản xạ khuếch tán) ở bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm, MPE nguy hiểm\r\nvề nhiệt cho mắt được tăng lên bởi hệ số C6 với điều kiện góc\r\ntrương của nguồn (được đo tại mắt của người quan sát) lớn hơn αmin\r\ntrong đó αmin bằng 1,5 mrad.
\r\n\r\nHệ số hiệu chỉnh C6 được cho bởi:
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n đối với α ≤ αmin \r\n | \r\n
| \r\n
| \r\n \r\n đối với αmin < α ≤ αmax \r\n | \r\n
| \r\n
| \r\n \r\n đối với α > αmax \r\n | \r\n
![](\"00919261_files/image030.jpg\"){kind=small}
![](\"00919261_files/image031.jpg\"){kind=small}
B.1 Ký hiệu được sử dụng trong các ví dụ của\r\nphụ lục này
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n a \r\n | \r\n \r\n m \r\n | \r\n \r\n Đường kính của chùm tia laser phát ra \r\n | \r\n
| \r\n AEL \r\n | \r\n \r\n W, J, W·m-2 hoặc J·m-2 \r\n | \r\n \r\n Giới hạn phát xạ tiếp cận được \r\n | \r\n
| \r\n α \r\n | \r\n \r\n rad \r\n | \r\n \r\n Góc trương bởi nguồn biểu kiến (hoặc phản\r\n xạ khuếch tán) khi quan sát từ một điểm trong không gian \r\n | \r\n
| \r\n αmin \r\n | \r\n \r\n rad \r\n | \r\n \r\n Góc nhỏ nhất được trương bởi nguồn áp dụng\r\n tiêu chí nguồn kéo dài (1,5 mrad) \r\n | \r\n
| \r\n αmax \r\n | \r\n \r\n rad \r\n | \r\n \r\n Góc lớn nhất được trương bởi nguồn có tiêu\r\n chí nguồn kéo dài thay đổi tuyến tính với kích cỡ nguồn (từ 5 mrad đến 100\r\n mrad) \r\n | \r\n
| \r\n C1, C2,…., C7 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n Hệ số hiệu chỉnh (xem Bảng 9) \r\n | \r\n
| \r\n PRF,F \r\n | \r\n \r\n Hz \r\n | \r\n \r\n Tần số lặp xung \r\n | \r\n
| \r\n H \r\n | \r\n \r\n J·m-2 \r\n | \r\n \r\n Phơi nhiễm bức xạ \r\n | \r\n
| \r\n E \r\n | \r\n \r\n W·m-2 \r\n | \r\n \r\n Độ rọi ở khoảng cách quy định, r, từ\r\n nguồn biểu kiến \r\n | \r\n
| \r\n Ho \r\n | \r\n \r\n J·m-2 \r\n | \r\n \r\n Phơi nhiễm bức xạ chùm tia laser phát ra \r\n | \r\n
| \r\n Eo \r\n | \r\n \r\n W·m-2 \r\n | \r\n \r\n Độ rọi tại khoảng cách bằng “không” tính từ\r\n nguồn biểu kiến \r\n | \r\n
| \r\n λ \r\n | \r\n \r\n nm \r\n | \r\n \r\n Bước sóng của bức xạ laser \r\n | \r\n
| \r\n N \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n Số lượng xung trong khoảng thời gian phơi\r\n nhiễm \r\n | \r\n
| \r\n Po \r\n | \r\n \r\n W \r\n | \r\n \r\n Công suất bức xạ tổng (thông lượng bức xạ)\r\n của laser sóng liên tục hoặc công suất bức xạ trung bình của laser dạng xung\r\n lặp lại \r\n | \r\n
| \r\n Pp \r\n | \r\n \r\n W \r\n | \r\n \r\n Công suất bức xạ trong phạm vi một xung của\r\n laser dạng xung \r\n | \r\n
| \r\n ϕ \r\n | \r\n \r\n rad \r\n | \r\n \r\n Góc phân kỳ của chùm tia laser phát ra \r\n | \r\n
| \r\n π \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n Hằng số 1,142 \r\n | \r\n
| \r\n Q \r\n | \r\n \r\n J \r\n | \r\n \r\n Năng lượng bức xạ tổng của laser dạng xung \r\n | \r\n
| \r\n t \r\n | \r\n \r\n s \r\n | \r\n \r\n Khoảng thời gian của một xung laser đơn \r\n | \r\n
| \r\n T \r\n | \r\n \r\n s \r\n | \r\n \r\n Tổng thời gian phơi nhiễm của chuỗi xung \r\n | \r\n
| \r\n T1, T2 \r\n | \r\n \r\n s \r\n | \r\n \r\n Các điểm gãy về thời gian (xem Bảng 9) \r\n | \r\n
B.2 Phân loại sản phẩm laser - Giới thiệu
\r\n\r\nCác ví dụ thể hiện trong phụ lục này minh họa\r\nquy trình tính toán để phân loại sản phẩm laser từ các tham số đo được bằng\r\ncách tuân thủ các điều kiện đo quy định trong tiêu chuẩn này. Các sơ đồ được\r\ncho trong phụ lục này nhằm minh họa các bước cơ bản mà có thể cần thiết để hoàn\r\nchỉnh tính toán đối với sản phẩm laser, nhưng không phải tất cả các sản phẩm\r\nlaser đều được đề cập đến trong các sơ đồ này.
\r\n\r\nNhư quy định trong 4.2 và 4.3:
\r\n\r\n- Nhà chế tạo và đại lý của nhà chế tạo có\r\ntrách nhiệm cung cấp phân loại đúng của sản phẩm laser. Sản phẩm laser được\r\nphân loại trên cơ sở kết hợp (các) công suất ra và (các) bước sóng của bức xạ\r\nlaser tiếp cận được trên toàn bộ dải khả năng trong quá trình làm việc ở thời\r\nđiểm bất kỳ sau khi chế tạo, mà tạo ra sự phân bổ của nó đến cấp thích hợp cao\r\nnhất. Giới hạn phát xạ tiếp cận được (AEL) đối với Cấp 1, 1C và 1M, Cấp 2 và\r\n2M, Cấp 3R và Cấp 3B (liệt kê theo thứ tự nguy hiểm tăng dần) được cho trong\r\ncác bảng từ Bảng 3 đến Bảng 8.
\r\n\r\n- Các giá trị của hệ số hiệu chỉnh được sử\r\ndụng được cho trong Bảng 9 là hàm của bước sóng, thời gian phát xạ, số lượng\r\nxung và góc trương.
\r\n\r\nNếu người sử dụng sửa đổi sản phẩm laser đến\r\nmức thay đổi bức xạ laser tiếp cận được thì người sử dụng phải có trách nhiệm\r\nđảm bảo sản phẩm đó vẫn được phân loại đúng.
\r\n\r\nPhân loại đúng của sản phẩm laser có thể bao\r\ngồm việc tính AEL đối với nhiều hơn một trong các cấp được liệt kê trong 5.3 để\r\nxác định phân loại đúng, như minh họa trong Hình B.1 và Hình B.2. Các ví dụ về\r\nCấp 1 được thể hiện trên các Hình B.3 đến Hình B.5.
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image032.jpg\")
CHÚ THÍCH 1: AELsingle được xác\r\nđịnh trên khoảng thời gian của một xung.
\r\n\r\nAELs.p.T được tính từ AELT xác định trên cơ sở\r\nthời gian chọn, trong đó:
\r\n\r\nNếu AELT tính bằng J hoặc J·m-2\r\nthì AELs.p.T = AELT/NT (tính bằng đơn vị J\r\nhoặc J·m-2)
\r\n\r\nNếu AELT tính bằng W hoặc W·m-2\r\nthì AELs.p.T = AELT/PRF (tính bằng đơn vị J hoặc J·m-2)
\r\n\r\nT= góc thời gian được chọn tính bằng giây
\r\n\r\nNT = số lượng xung theo thời gian\r\nT
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Nếu nhiều xung xảy ra trong\r\nkhoảng thời gian Ti, khoảng thời gian xung đơn được thay đổi\r\nđến Ti và tính giá trị mới của AELsingle. PRF được\r\nthay đổi theo để xác định giá trị lớn nhất cho phép của N (4.3 f)). Giá trị AELsingle\r\nđược chia cho số lượng xung ban đầu có trong khoảng thời gian Ti\r\ntrước khi thay giá trị cuối cùng AELsingle trong công thức đối với\r\nAELs.p.train.
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image033.jpg\")
![](\"00919261_files/image034.jpg\")
![](\"00919261_files/image035.jpg\")
![](\"00919261_files/image036.jpg\")
B.3 Các ví dụ
\r\n\r\nVí dụ B.3.1
\r\n\r\nPhân loại laser HeNe CW (λ = 633 nm), với\r\ncông suất ra 50 mW, đường kính chùm tia 3 mm và độ phân kỳ 1 mrad.
\r\n\r\nLời giải:
\r\n\r\nTừ đặc tính chùm tia có thể suy ra rằng sản\r\nphẩm này là một nguồn điểm có độ chuẩn trực tốt trong đó α ≤ αmin\r\n=1,5 mrad. Vì đường kính chùm tia và góc phân kỳ nhỏ nên công suất toàn phần\r\ncủa chùm tia sẽ đi qua lỗ mở 7 mm và do đó phép đo Điều kiện 1 và Điều kiện 3\r\nsẽ cho mức phát xạ tiếp cận được như nhau. Chọn cấp phân loại và chọn gốc thời\r\ngian thích hợp (xem 4.3 e)).
\r\n\r\nChọn Cấp 3B và gốc thời gian là 100 s. Mặc dù\r\ncông suất laser nằm trong dải bước sóng nhìn thấy từ 400 nm đến 700 nm, gốc\r\nthời gian 0,25 s không được phép đối với Cấp 3B và việc quan sát có chủ ý là ít\r\ncó khả năng xảy ra. Đối với cấp 3B, Bảng 8 cho
\r\n\r\nVì laser chỉ phát 50 mW nên nó không vượt quá\r\nAEL Cấp 3B và có thể được phân loại là Cấp 3B. Điểm 4.3 a) nêu rằng AEL đối với\r\ntất cả các cấp thấp hơn phải bị vượt quá, tuy nhiên có thể không phải luôn quan\r\nsát được rằng sản phẩm không đáp ứng các yêu cầu của phân loại thấp hơn, do đó\r\nnếu có nghi ngờ cần kiểm tra các yêu cầu của cấp thấp hơn.
\r\n\r\nĐối với Cấp 3R, phải sử dụng gốc thời gian\r\n0,25 s đối với phát xạ trong dải bước sóng từ 400 nm đến 700 nm,khi đo từ Bảng\r\n6 có
\r\n\r\nTừ Bảng 9, C6 = 1 đối với\r\nquan sát trực tiếp của chùm tia trực chuẩn, tức là a ≤ 1,5 mrad, do đó
\r\n\r\nVì công suất ra của laser là 50 mW, nó vượt\r\nquá AEL đối với Cấp 3R nhưng nhỏ hơn AEL đối với cấp 3B và vì Điều kiện 1 và 3\r\nlà như nhau nên nó không thể là cấp 1M hoặc 2M. Do đó, laser phải được phân\r\nloại là Cấp 3B.
\r\n\r\nVí dụ B.3.2
\r\n\r\nMột bộ phát laser điốt CW 12 mW (λ = 900 nm)\r\nkhông có các thấu kính trực chuẩn có độ phân kỳ của chùm tia là 0,5 rad. Cho\r\ntrước các tham số đối với các điều kiện đo quy định trong Bảng 10, hỏi thiết bị\r\nnày được phân loại gì? Giả thiết góc trương a của nguồn tại khoảng cách đo 100\r\nmm nhỏ hơn αmin.
\r\n\r\nĐiều kiện 1: < 20 μW đi qua nắp che lỗ mở\r\nkích thước 50 mm và đặt cách điốt laser 2 m.
\r\n\r\nĐiều kiện 3: 0,7 mW đi qua nắp che lỗ mở kích\r\nthước 7 mm đặt cách điốt laser 100 mm.
\r\n\r\nLời giải:
\r\n\r\nĐối với nguồn phân kỳ này, hiển nhiên thấy\r\nĐiều kiện 3 sẽ khắc nghiệt hơn Điều kiện 1.
\r\n\r\nChọn Cấp 1 và gốc thời gian 100 s (xem 4.3\r\ne)); khi đó đối với laser có bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm và α ≤ 1,5 mrad, C6\r\n= 1 (xem Bảng 9) thì có được AEL đối với Cấp 1 từ Bảng 3 như sau:
\r\n\r\nTrong đó, từ Bảng 9, có C4\r\n= 100,002(λ-700) = 2,51 và C7 = 1. Do đó
\r\n\r\nKhi so sánh dữ liệu Điều kiện 3 với AEL đối\r\nvới các sản phẩm laser Cấp 1, sản phẩm đáp ứng các yêu cầu đối với Cấp 1.
\r\n\r\nNếu người sử dụng lắp các thấu kính chuẩn\r\ntrực vào điốt laser này thì sản phẩm có thể cần phân loại lại.
\r\n\r\nNgoài ra, cần thực hiện các lưu ý rằng việc\r\nquan sát nguồn này có sử dụng bộ khuếch đại công suất cao cố định có thể nguy\r\nhiểm. Phạm vi phân loại của tiêu chuẩn này chỉ bao gồm bộ khuếch đại cầm tay\r\nđến 7x, xem Điều C.3.
\r\n\r\nVí dụ B.3.3
\r\n\r\nPhân loại bộ phát laser neodim dạng xung đơn,\r\ntần số kép có các đặc tính đầu ra dưới đây; giả thiết cả hai bước sóng được\r\nphát ra đồng thời.
\r\n\r\nNăng lượng xung đầu ra là 100 mJ ở λ = 1 060\r\nnm
\r\n\r\nNăng lượng xung đầu ra là 25 mJ ở λ = 530 nm
\r\n\r\nThời gian xung = 25 ns
\r\n\r\nĐường kính lỗ mở = 5 mm
\r\n\r\nĐộ phân kỳ chùm tia ở từng bước sóng < 1\r\nmrad
\r\n\r\nLời giải:
\r\n\r\nTrường hợp khắc nghiệt nhất đối với bộ phát\r\nlaser này là khi các chùm tia phối hợp lan truyền và bộ phát laser được phân\r\nloại như vậy. Vì các chùm tia có đường kính nhỏ và độ phân kỳ thấp nên hiển\r\nnhiên là các phép đo được thực hiện trong các điều kiện nêu trong Bảng 10 sẽ\r\ntạo ra năng lượng tổng cho từng bước sóng. Giả thiết bộ phát laser chỉ có thể\r\nphát một xung trong gốc thời gian 100 s thì thời gian xung có thể được sử dụng\r\ntrong thời gian phơi nhiễm. Chọn sản phẩm laser Cấp 3B, Bảng 8 sẽ cho AEL như sau:
\r\n\r\nλ = 1 060 nm AEL1 060 = 0,03·C4\r\nJ = 0,15 J = 150 mJ
\r\n\r\nλ = 530 nm AEL530 = 0,03 J\r\n= 30 mJ (vì t < 0,06 s)
\r\n\r\nQuy tắc phân loại nhiều bước sóng được nêu\r\ntrong 4.3 b) và Bảng 1 cho thấy rằng hai bước sóng này là công thêm tại mắt.
\r\n\r\nDo đó sử dụng phương pháp luận mô tả trong\r\n4.3 b) 1) để ấn định cấp bằng cách đánh giá nếu
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image037.jpg\")
Thay các giá trị thích hợp vào ta có
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image038.jpg\")
Vì kết quả lớn hơn 1 nên sản phẩm laser sẽ có\r\ncấp cao hơn.
\r\n\r\nDo đó sản phẩm laser này được phân loại là Cấp\r\n4.
\r\n\r\nVí dụ B.3.4
\r\n\r\nPhân loại bộ phát laser dioxit CW (λ = 10,6 μm)\r\nđược sử dụng cho hệ thống an ninh chùm tia hở. Giả thiết rằng công suất ra\r\ntrung bình là 0,4 W, đường kính chùm tia là 2 mm và độ phân kỳ chùm tia là 1\r\nmrad.
\r\n\r\nLời giải:
\r\n\r\nChọn Cấp 3R và không kỳ vọng có quan sát chủ\r\ný, 4.3 e) cho gốc thời gian là 100 s.
\r\n\r\nBảng 9 thể hiện rằng đối với bước sóng này C6\r\n= 1 vì vậy Bảng 6 được sử dụng và AEL đối với cấp 3R với T = 100 s sẽ bằng 5\r\n000 W·m-2. Từ Bảng 10 thấy rằng đối với bước sóng này, chỉ áp dụng\r\nĐiều kiện 3 và vì AEL có đơn vị là W·m-2, thích hợp để tìm độ rọi\r\nchùm tua đối với Điều kiện 3. Tra Bảng 11 đối với điểm tham chiếu cho phép đo\r\nĐiều kiện 3, giả thiết rằng phần thu hẹp của chùm tia nằm trong vỏ và theo phần\r\nnội dung phía cuối Bảng 11, độ rọi được tìm thấy tại điểm con người tiếp cận\r\ngần nhất.
\r\n\r\nLưu ý, Bảng 10 đưa ra lỗ mở giới hạn đối với\r\nphơi nhiễm 100 s là 3,5 mm nhưng đường kính chùm tia laser chỉ là 2 mm. Để tính\r\nđộ rọi chùm tia (E0 = P0/diện tích), cần sử dụng giá trị\r\nlớn hơn trong hai giá trị đường kính chùm tia thực hoặc lỗ mở giới hạn, do đó
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image039.jpg\")
Giá trị này vượt quá AEL đối với Cấp 3R vì\r\nvậy cần được đánh giá ở cấp cao hơn. Bảng 8 đưa ra AEL đối với Cấp 3B là 0,5 W;\r\ndo đó vì giá trị này vượt quá công suất ra tổng của laser nên laser này được\r\nphân loại là Cấp 3B.
\r\n\r\nVí dụ B.3.5
\r\n\r\nPhân loại bộ phát laser phát các xung 1 μs\r\nvới tần số lặp xung (F) là 500 Hz, công suất ra giá trị đỉnh là 10 kW ở λ = 694\r\nnm, đường kính chùm tia là 5 mm và độ phân kỳ của chùm tia là 0,5 mrad. Góc\r\ntrương phải nhỏ hơn hoặc bằng độ phân kỳ. Do đó có thể giả thiết là nguồn điểm\r\ncó α < αmin < 1,5 mrad.
\r\n\r\nĐiểm f) của 4.3 đưa ra thông tin chi tiết về\r\ncác yêu cầu đối với các bộ phát laser dạng xung lặp lại được tổng kết như dưới\r\nđây.
\r\n\r\nĐối với tất cả các bước sóng, phải đánh giá\r\ncác yêu cầu 1) và 2). Ngoài ra, đối với các bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm,\r\ncần đánh giá thêm yêu cầu 3) để so sánh với các giới hạn nhiệt. Không cần đánh\r\ngiá theo yêu cầu 3) khi so sánh với các giới hạn quang hóa.
\r\n\r\nChọn Cấp 3B và vì không kỳ vọng quan sát có\r\nchủ ý nên điểm 4.3 e) sẽ cho gốc thời gian là 100 s.
\r\n\r\nĐiểm 4.3 f) 3) nêu rằng nếu nhiều xung xuất\r\nhiện trong khoảng thời gian Ti (xem Bảng 2 đối với Ti)\r\nchúng được tính là xung đơn để xác định N và phơi nhiễm bức xạ của các xung\r\nriêng rẽ được cộng lại và so sánh với AEL của Ti. Do đó, cần\r\nkhẳng định xem liệu có nhiều xung xuất hiện trong khoảng thời gian Ti\r\nhay không. Nếu khoảng thời gian giữa các xung của bộ phát laser nhỏ hơn khoảng\r\nthời gian Ti, phải tính đến các nội dung dưới đây:
\r\n\r\nKiểm tra xem có thể xuất hiện nhiều xung\r\ntrong khoảng thời gian Ti như cho trong Bảng 2 hay không. Đối\r\nvới bước sóng laser này Ti = 5 x 10-6 s và thời\r\ngian thực giữa các xung là 1/F = 2 x 10-3 s, do đó không xuất hiện\r\nnhiều xung trong khoảng thời gian Ti. Theo quy trình trong\r\n4.3 f):
\r\n\r\na) Điểm 4.3 f) 1) xét đến phơi nhiễm xung\r\nđơn. Bảng 8 cho t = 1 x 10-6 s.
\r\n\r\nb) Điểm 4.3 f) 2) xét đến công suất trung\r\nbình của chuỗi xung trong khoảng thời gian T. Bảng 8 cho AEL đối với t = 100\r\nnhư sau:
\r\n\r\nVì bộ phát laser này có chuỗi xung đều đặn\r\nnên không cần lấy trung bình trong các khoảng thời gian ngắn hơn. Để thuận lợi\r\ntrong việc so sánh (xem chú thích cho điểm 4.3 f) 2)) AELT được\r\nchuyển đổi thành giá trị liên quan đến xung đơn. Trong trường hợp này, vì AELT\r\ncó đơn vị là W nên khi chia cho PRF sẽ cho năng lượng AEL tương đương trên mỗi\r\nxung; do đó
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image040.jpg\")
c) Điểm 4.3 f) 3) xét đến năng lượng từ một\r\nxung đơn nhân với C5. Ta có AELs.p.train = AELsingle\r\nx C5. Theo 4.3 f) 3):
\r\n\r\nđối với t < Ti và gốc\r\nthời gian > 0,25 s
\r\n\r\nnếu N ≤ 600 C5 = 1
\r\n\r\nnếu N > 600 C5 = 5·N-0,25\r\nvới giá trị tối thiểu là 0,4.
\r\n\r\nNgoài ra N được giới hạn đến số lượng xung\r\nxuất hiện trong khoảng thời gian T2 = 10 s đối với có α ≤ αmin\r\n(xem Bảng 9). Do đó, với độ lặp xung là 500 Hz trong 10 s, N = 500 x 10 = 5\r\n000, là giá trị lớn hơn 600 và vì vậy
\r\n\r\nDo đó
\r\n\r\nLưu ý rằng ba giá trị AEL nêu trên đều liên\r\nquan đến xung đơn và có thể được so sánh trực tiếp để tìm ra giá trị khắc\r\nnghiệt nhất. Khi đó giá trị khắc nghiệt nhất trong ba giá trị là AELs.p.T và\r\nvì vậy AEL đối với Cấp 3B là 1 x 10-3 J.
\r\n\r\nVì laser có đường kính chùm tia nhỏ và độ\r\nphân kỳ thấp nên phát xạ được đo trong các Điều kiện 1 và Điều kiện 3 (xem Bảng\r\n10) sẽ cho kết quả như nhau và bằng năng lượng laser tổng. AEL (ứng với năng\r\nlượng xung trong trường hợp này) và mức phát xạ (công suất đỉnh quy định) phải\r\nnằm trên đường cơ sở như nhau, vì thế công suất phát xạ đình phải được chuyền\r\nđổi thành năng lượng xung (hoặc ngược lại).
\r\n\r\nNăng lượng laser trên mỗi xung, Q, được tính\r\ntừ
\r\n\r\nQ = (công suất đỉnh) x (thời gian xung)
\r\n\r\nVì năng lượng phát xạ tiếp cận được trên mỗi\r\nxung vượl quá AELs.p.T, sản phẩm laser vượt quá AEL Cấp 3B và, do\r\nđó, phải là Cấp 4.
\r\n\r\n\r\n\r\n
C.1 Quy định chung
\r\n\r\nPhụ lục này đưa ra bản mô tả các cấp cũng như\r\ncác nguy hiểm liên quan tiềm ẩn.
\r\n\r\nPhụ lục này được thiết kế như một hướng dẫn\r\ncho nhà chế tạo giúp họ mô tả các nguy hiểm liên quan của sản phẩm. Phụ lục này\r\ncũng chỉ ra các hạn chế của phương thức phân loại, tức là các tình huống trong\r\nđó ý nghĩa của việc phân loại nhìn chung là không thích hợp.
\r\n\r\nViệc phân loại được xây dựng nhằm hỗ trợ\r\nngười sử dụng trong việc đánh giá nguy hiểm của bộ phát laser và xác định các\r\nbiện pháp khống chế cần thiết. Phân loại bộ phát laser liên quan đến nguy hiểm\r\ntiềm ẩn của bức xạ laser tiếp cận được đến mắt hoặc da mà không liên quan đến\r\ncác nguy hiểm tiềm ẩn khác như các nguy hiểm về điện, cơ hoặc hóa, hoặc các\r\nnguy hiểm từ bức xạ quang thứ cấp. Mục đích của việc phân loại nhằm nhận biết rủi\r\nro thương tích tăng khi công suất bức xạ laser tiếp cận được tăng cao hơn đường\r\ncơ sở của điều kiện Cấp 1 và hầu hết đều mô tả chính xác rủi ro do phơi nhiễm\r\ntiềm ẩn tại các khoảng cách ngắn đến bộ phát laser. Vùng nguy hiểm có thể khác\r\nnhiều đối với các bộ phát laser khác nhau trong cùng một cấp. Nguy hiểm tiềm ẩn\r\ncó thể giảm đáng kể bằng các biện pháp bảo vệ bổ sung của người sử dụng kể cả\r\ncác khống chế kỹ thuật bổ sung ví dụ như vỏ bảo vệ.
\r\n\r\nC.2 Mô tả các cấp
\r\n\r\nC.2.1 Cấp1
\r\n\r\nCác sản phẩm laser là an toàn trong quá trình\r\nsử dụng, kể cả việc quan sát nội chùm tia trực tiếp trong thời gian dài, ngay\r\ncả khi phơi nhiễm xảy ra khi sử dụng ống nhòm. Cấp 1 cũng bao gồm các bộ phát\r\nlaser công suất cao được bao kín hoàn toàn sao cho không có bức xạ nguy hiểm\r\ntiềm ẩn nào tiếp cận được trong sử dụng (sản phẩm laser lắp trong). Quan sát\r\nnội chùm tia của các sản phẩm laser Cấp 1 phát ra năng lượng bức xạ nhìn thấy\r\nđược có thể vẫn sinh ra các hiệu ứng nhìn lóa mắt, đặc biệt là trong ánh sáng\r\nmôi trường thấp.
\r\n\r\nThuật ngữ “an toàn cho mắt” có thể chỉ được\r\nsử dụng đối với các sản phẩm laser Cấp 1. Thuật ngữ “bộ phát laser an toàn cho\r\nmắt” không nên được sử dụng để mô tả bộ phát laser, chỉ trên cơ sở bước sóng\r\nđầu ra của nó lớn hơn 1 400 nm. Các bộ phát laser có bước sóng bất kỳ với công\r\nsuất ra đủ cũng có thể gây thương tích.
\r\n\r\nC.2.2 Cấp 1M
\r\n\r\nSản phẩm laser an toàn kể cả khi quan sát nội\r\nchùm tia trực tiếp dài hạn đối với mắt thường (mắt không có hỗ trợ thị lực).\r\nMPE có thể bị vượt quá và có thể gây thương tích cho mắt sau khi phơi nhiễm có\r\nsử dụng kính thiên văn ví dụ như ống nhòm đối với chùm tia chuẩn trực có đường\r\nkính lớn hơn đường kính đo quy định cho Điều kiện 3 (xem Bảng 10).
\r\n\r\nVùng bước sóng đối với các laser Cấp 1M được\r\nhạn chế ở vùng phổ trong đó hầu hết các vật liệu quang thủy tinh được sử dụng\r\ntrong các thiết bị đo quang có thể truyền đáng kể, tức là trong khoảng từ 302,5\r\nnm đến 4 000 nm. Quan sát nội chùm tia của sản phẩm laser Cấp 1M phát ra năng\r\nlượng bức xạ nhìn thấy có thể vẫn sinh ra các hiệu ứng lóa mắt, đặc biệt là\r\ntrong ánh sáng môi trường thấp.
\r\n\r\nC.2.3 Cấp 1C
\r\n\r\nCác sản phẩm laser được thiết kế để chiếu\r\ntrực tiếp bức xạ laser lên da hoặc các mô bên trong cơ thể người trong các quy\r\ntrình y tế, chẩn đoán, điều trị hoặc thẩm mỹ ví dụ như triệt lông, mờ nếp nhăn\r\nkhóe mắt, mờ mụn trứng cá. Mặc dù bức xạ laser phát ra có thể ở mức Cấp 3R, 3B\r\nhoặc 4, nhưng phơi nhiễm mắt được ngăn ngừa bởi một hoặc nhiều phương tiện kỹ\r\nthuật. Mức phơi nhiễm của da phụ thuộc vào ứng dụng, do đó khía cạnh này được\r\nđề cập trong các tiêu chuẩn sản phẩm cụ thể. Cấp này được đưa vào trong tiêu\r\nchuẩn này vì các sản phẩm này hiện đang có sẵn trên thị trường, và các biện\r\npháp khống chế thường được quy định đối với các sản phẩm laser cấp 3B hoặc 4 là\r\nkhông thích hợp với chúng. Ban kỹ thuật sử dụng cấp 1C phải xây dựng các quy\r\nđịnh kỹ thuật cần thiết đối với an toàn trong các tiêu chuẩn sản phẩm cụ thể của\r\nhọ.
\r\n\r\nC.2.4 Cấp 2
\r\n\r\nCác sản phẩm laser phát bức xạ nhìn thấy\r\ntrong dải bước sóng từ 400 nm đến 700 nm là an toàn đối với các phơi nhiễm tạm\r\nthời nhưng có thể nguy hiểm khi nhìn trực diện vào chùm tia. Gốc thời gian 0,25\r\ns là cố hữu trong định nghĩa của cấp và giả thiết là có rủi ro bị thương rất\r\nthấp khi phơi nhiễm tạm thời lâu hơn chút ít.
\r\n\r\nCác hệ số dưới đây góp phần loại trừ thương\r\ntích trong các điều kiện dự đoán được một cách hợp lý:
\r\n\r\n- phơi nhiễm không chủ ý hiếm khi phản ánh\r\nđiều kiện trường hợp xấu nhất, ví dụ, của việc sắp xếp chùm tia thẳng với con người\r\nkhi đầu được giữ cố định, không gian chứa ở trường hợp xấu nhất;
\r\n\r\n- biên dự phòng an toàn cố hữu trong MPE là\r\ncơ sở cho AEL;
\r\n\r\n- phản ứng khó chịu tự nhiên khi phơi nhiễm\r\nvới ánh sáng mạnh.
\r\n\r\nĐối với Cấp 2, ngược với Cấp 2M, việc sử dụng\r\ncác thiết bị đo quang không làm tăng rủi ro chấn thương mắt.
\r\n\r\nTuy nhiên, chùm tia từ sản phẩm laser Cấp 2\r\ncó thể gây lóa mắt, mù đèn flash và dư ảnh, đặc biệt là trong điều kiện ánh\r\nsáng môi trường yếu. Điều này có thể có ảnh hưởng gián tiếp đến an toàn chung\r\ndo nhiễu tạm thời của việc nhìn hoặc do phản ứng giật mình. Các nhiễu thị lực\r\nnày có thể cần được quan tâm đặc biệt nếu xảy ra trong quá trình thực hiện các\r\nthao tác mà việc an toàn là rất quan trọng ví dụ như làm việc với máy điện hoặc\r\nở độ cao với điện áp cao.
\r\n\r\nNgười sử dụng được hướng dẫn bởi các ghi nhãn\r\nlà không nhìn chằm chằm vào chùm tia, tức là thực hiện các phản ứng bảo vệ chủ\r\nđộng bằng cách di chuyển đầu hoặc nhắm mắt lại và tránh quan sát nội chùm tia\r\nmột cách liên tục có chủ ý.
\r\n\r\nC.2.5 Cấp 2M
\r\n\r\nCác sản phẩm laser phát ra chùm tia laser\r\nnhìn thấy được và chỉ an toàn đối với phơi nhiễm ngắn hạn đối với mắt thường (không\r\ncó hỗ trợ thị lực). MPE có thể bị vượt quá và mắt có thể bị tổn thương sau khi\r\nphơi nhiễm có sử dụng kính thiên văn vì dụ ống nhòm đối với chùm tia chuẩn trực\r\ncó đường kính lớn hơn đường kính đo quy định cho Điều kiện 3 (xem Bảng 10).
\r\n\r\nTuy nhiên, chùm tia từ sản phẩm laser Cấp 2M\r\ncó thể gây lóa mắt, mù đèn flash và dư ảnh, đặc biệt là trong điều kiện ánh\r\nsáng môi trường yếu. Điều này có thể có ảnh hưởng gián tiếp đến an toàn chung\r\ndo nhiễu tạm thời của việc nhìn hoặc do phản ứng giật mình. Các nhiễu thị lực\r\nnày có thể cần được quan tâm đặc biệt nếu xảy ra trong quá trình thực hiện các\r\nthao tác mà việc an toàn là rất quan trọng ví dụ như làm việc với máy điện hoặc\r\nở độ cao với điện áp cao.
\r\n\r\nNgười sử dụng được hướng dẫn bởi các ghi nhãn\r\nlà không nhìn chằm chằm vào chùm tia, tức là thực hiện các phản ứng bảo vệ chủ\r\nđộng bằng cách di chuyển đầu hoặc nhắm mắt lại và tránh quan sát nội chùm tia\r\nmột cách liên tục có chủ ý. Ghi nhãn sản phẩm Cấp 2M cũng hướng dẫn người sử\r\ndụng khi phơi nhiễm sử dụng thiết bị đo quang viễn vọng.
\r\n\r\nC.2.6 Cấp 3R
\r\n\r\nCác sản phẩm phát bức xạ có thể vượt quá MPE\r\nkhi quan sát nội chùm tia trực tiếp, nhưng rủi ro bị thương trong hầu hết các\r\ntrường hợp thường tương đối thấp. AEL đối với Cấp 3R được giới hạn ở 5 lần AEL\r\nCấp 2 (bức xạ laser nhìn thấy) hoặc 5 lần AEL Cấp 1 (bức xạ laser không nhìn\r\nthấy). Vì rủi ro thấp nên ít các yêu cầu chế tạo và các biện pháp khống chế của\r\nngười sử dụng (tùy thuộc vào quy định quốc gia) được áp dụng hơn so với Cấp 3B.\r\nTrong khi các sản phẩm laser Cấp 3R không được coi là an toàn vốn có nhưng rủi\r\nro được hạn chế vì
\r\n\r\n- phơi nhiễm không chủ ý hiếm khi phản ánh\r\ncác điều kiện trường hợp xấu nhất của (ví dụ) sự bố trí chùm tia thẳng hàng với\r\ncon người và không gian trường hợp xấu nhất với toàn bộ năng lượng chùm tia đi vào\r\nmắt,
\r\n\r\n- yếu tố giảm cố hữu (biên dự phòng an toàn)\r\ntrong MPE,
\r\n\r\n- phản ứng khó chịu tự nhiên khi phơi nhiễm\r\nvới ánh sáng mạnh.
\r\n\r\nRủi ro bị thương tăng theo thời gian phơi\r\nnhiễm, và phơi nhiễm có thể nguy hiểm đối với phơi nhiễm mắt trong các điều\r\nkiện trường hợp xấu nhất hoặc đối với quan sát nội chùm tia trực tiếp cố ý.
\r\n\r\nDo phạm vi rủi ro liên quan đến các bộ phát\r\nlaser cấp 3R thay đổi nên khả năng áp dụng các kiểm soát cụ thể của người sử\r\ndụng (kể cả kiểm soát về hành chính và bảo vệ mắt cho cá nhân) cần được mô tả\r\nrõ ràng trong các hướng dẫn sử dụng.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: So với các giá trị MPE của mắt\r\ncũng như các giá trị AEL đối với Cấp 1, 1M, 2, 2M và 3R quy định trong phiên\r\nbản trước của tiêu chuẩn này, các giá trị kỳ vọng trong phiên bản này đã được\r\ngiảm đi đối với các nguồn điểm dạng xung đơn, nhưng tăng lên đối với hầu hết\r\ncác nguồn xung lặp lại, và cũng tăng đối với hầu hết các nguồn kéo dài dạng\r\nxung; các hệ số giảm (biên dự phòng an toàn) trong các giá trị này được thay\r\nđổi tương ứng. Do đó, một số sản phẩm dạng xung đã được phân loại là Cấp 3R\r\ntrong phiên bản trước thì lại được phân loại là Cấp 2 trong phiên bản này, và\r\nmột số sản phẩm dạng xung đã được phân loại là Cấp 3B trong phiên bản trước thì\r\nlại được phân loại là Cấp 3R trong phiên bản này. Với loại sản phẩm thứ hai đề\r\ncập ở trên thì có ít kinh nghiệm thực tế liên quan đến rủi ro bị thương đối với\r\ncác nguồn CW có chùm tia chuẩn trực có công suất đến 5 mW.
\r\n\r\nChùm tia từ sản phẩm laser cấp 3R trong dải\r\nbước sóng nhìn thấy (như từ bộ phát laser cấp 2) có thể gây lóa mắt, mù đèn\r\nflash và dư ảnh, đặc biệt là trong điều kiện ánh sáng môi trường yếu. Điều này\r\ncó thể có ảnh hưởng gián tiếp đến an toàn chung do nhiễu tạm thời của việc nhìn\r\nhoặc do phản ứng giật mình. Các nhiễu thị lực này có thể cần được quan tâm đặc\r\nbiệt nếu xảy ra trong quá trình thực hiện các thao tác mà việc an toàn là rất\r\nquan trọng ví dụ như làm việc với máy điện hoặc ở độ cao với điện áp cao.
\r\n\r\nCác bộ phát laser Cấp 3R chỉ nên sử dụng khi\r\nít có khả năng quan sát nội chùm tia trực tiếp.
\r\n\r\nC.2.7 Cấp 3B
\r\n\r\nCác sản phẩm laser thường nguy hiểm khi xảy\r\nra phơi nhiễm mắt nội chùm tia (tức là trong phạm vi NOHD) kể cả phơi nhiễm\r\nngẫu nhiên trong thời gian ngắn. Việc quan sát các phản xạ khuếch tán thường là\r\nan toàn. Các bộ phát laser Cấp 3B tiếp cận đến AEL đối với Cấp 3B có thể gây ra\r\ncác thương tích nhỏ trên da hoặc thậm chí gây ra rủi ro mồi cháy vật liệu dễ\r\ncháy. Tuy nhiên, điều này chỉ có khả năng xảy ra nếu chùm tia có đường kính nhỏ\r\nhoặc được hội tụ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Tồn tại một vài điều kiện quan sát\r\nvề lý thuyết (nhưng hiếm) khi việc quan sát phản xạ khuếch tán có thể vượt quá\r\nMPE. Ví dụ đối với bộ phát laser Cấp 3B có công suất đạt đến AEL, việc quan sát\r\nkéo dài hơn 10 s các phản xạ khuếch tán thực của bức xạ nhìn thấy và quan sát ở\r\ncác khoảng cách ngắn hơn 13 cm giữa bề mặt khuếch tán và giác mạc có thể vượt\r\nquá MPE.
\r\n\r\nC.2.8 Cấp 4
\r\n\r\nCác sản phẩm laser mà việc quan sát nội chùm\r\ntia và phơi nhiễm da là nguy hiểm và việc quan sát các phản xạ khuếch tán cũng\r\ncó thể nguy hiểm. Các bộ phát laser này cũng thường có nguy hiểm về cháy.
\r\n\r\nC.2.9 Lưu ý về các tên gọi
\r\n\r\n“C” trong cấp 1C được rút ra từ chế độ làm\r\nviệc trong đó bức xạ laser cao hơn AEL của Cấp 1 chỉ có thể phát ra khi tiếp\r\nxúc với (hoặc rất gần với) da hoặc mô bên trong của cơ thể.
\r\n\r\n“M” trong Cấp 1M và Cấp 2M rút ra từ các\r\nthiết bị đo quan sát quang khuếch đại. “R” trong Cấp 3R được rút ra từ các yêu\r\ncầu được giảm nhẹ: các yêu cầu giảm nhẹ cho cả nhà chế tạo (ví dụ không yêu cầu\r\nthiết bị đóng cắt dạng chìa khóa, bộ khóa chùm tia hoặc bộ suy giảm và bộ nối\r\nkhóa liên động) và người sử dụng. “B” đối với Cấp 3B có nguồn gốc lịch sử,\r\ntrong phiên bản trước của tiêu chuẩn này, đã đề cập đến Cấp 3A có ý nghĩa tương\r\ntự với Cấp 1M và Cấp 2M hiện nay.
\r\n\r\nLưu ý rằng đối với các mô tả nêu trên, bất cứ\r\nkhi nào sử dụng từ "nguy hiểm" hoặc có nhắc tới rủi ro gây thương\r\ntích cao, thì nguy hiểm và rủi ro này chỉ tồn tại trong khu vực xung quanh bộ\r\nphát laser nơi vượt quá các mức MPE tương ứng. Đối với phơi nhiễm của mắt\r\nthường, vùng này được bao bởi NOHD, hoặc đối với Cấp 1M và 2M chuẩn trực cao\r\nđược quan sát bằng ống nhòm hoặc kính viễn vọng bởi NOHD kéo dài (ENOHD). Sản\r\nphẩm laser cụ thể (Cấp 3B hoặc Cấp 4) có NOHD rất ngắn sao cho việc lắp đặt và\r\nứng dụng đối với những người ở bên ngoài NOHD thì việc bảo vệ mắt là không cần\r\nthiết. Ví dụ của việc lắp đặt này là các laser quét hoặc các laser đơn sắc lắp\r\ntrên trần nhà của khu vực gia công dùng để chiếu dạng hoặc đường lên vật cần\r\ngia công trong khu vực chế tạo nằm bên dưới. Trong khi mức công suất và dạng\r\nquét có thể khiến cho phơi nhiễm trong khu vực gia công thấp hơn MPE và do đó\r\nan toàn, thì khi bảo dưỡng và bảo trì sẽ cần lưu ý đặc biệt. Ví dụ, phơi nhiễm\r\nở các khoảng cách gần có thể nguy hiểm, ví dụ khi người sử dụng đứng trên thang\r\nđể làm sạch cửa sổ. Ví dụ khác là trong khi dạng quét có thể an toàn nhưng vẫn\r\ncó thể có nguy hiểm nếu chùm tia chuyển sang chế độ không quét. Ngoài ra, đối\r\nvới các sản phẩm laser Cấp 4, có NOHD kết hợp với các phản xạ khuếch tán (mặc\r\ndù NOHD này có nhiều khả năng được giới hạn về mức độ). Đặc tính của nguy hiểm\r\nliên quan đến bộ phát laser cụ thể và ứng dụng của nó là một phần trong đánh\r\ngiá rủi ro.
\r\n\r\nCác thử nghiệm phân loại được thiết kế là\r\ntrường hợp xấu nhất và khắc nghiệt để đảm bảo sản phẩm laser cấp thấp (ví dụ\r\ncấp 1) không có nguy hiểm đến mắt hoặc da ngay cả trong các tình huống trường\r\nhợp xấu nhất dự đoán được một cách hợp lý; các điều kiện thử nghiệm được thiết\r\nkế để xét đến các loại tình huống trường hợp xấu nhất (xem Sliney et al.). Do đó,\r\nsản phẩm Cấp 3B hoặc Cấp 4 có thể vẫn được thiết kế theo cách sao cho nó có thể\r\nđược coi là an toàn đối với sử dụng dự kiến và hoạt động bình thường, vì nguy\r\nhiểm chỉ trở nên tiếp cận được trong các tình huống trường hợp xấu nhất. Ví dụ,\r\nsản phẩm có thể có vỏ bảo vệ (phù hợp với IEC 60825-4) nhưng không phù hợp với\r\nsản phẩm laser cấp 1 lắp trong vì các lý do dưới đây.
\r\n\r\n- Vỏ bảo vệ không đạt thử nghiệm theo tiêu\r\nchuẩn này trong giai đoạn kéo dài (trong khi đối với các máy điện theo IEC\r\n60825-4 cho phép sử dụng thời gian đánh giá ngắn hơn).
\r\n\r\n- Nó không có nắp phía trên nhưng có thể được\r\ncoi là an toàn đối với môi trường ở đó không có người bên trên tấm bảo vệ đó.
\r\n\r\n- Nó không có bộ phát hiện tự động các truy\r\ncập đi vào. (Tuy nhiên, trong môi trường có khống chế, điều này có thể được\r\nthay bằng biện pháp an toàn hệ thống của các khóa riêng rẽ mà ngăn việc đóng\r\ncửa khi có ai đó bên trong vỏ bảo vệ - điều này không ảnh hưởng đến phân loại\r\nnhưng thể hiện quy trình đạt được mức an toàn mong muốn cho người sử dụng).
\r\n\r\nTrong các trường hợp khi nguy hiểm kết hợp\r\nvới sản phẩm laser Cấp 3B và Cấp 4 được giới hạn trong phạm vi vỏ bảo vệ, các\r\nbiện pháp an toàn hệ thống có thể là đủ. Tương tự, đối với hệ thống laser không\r\ncó nắp che, hoặc trường hợp khi cháy xuyên qua tấm bảo vệ có thể xảy ra sau một\r\nvài sự cố kéo dài lâu hơn thì các biện pháp an toàn hệ thống có thể là đủ.
\r\n\r\nCác ví dụ khác là khi các nguy hiểm kết hợp\r\nvới bộ phát laser cấp 3B và cấp 4 chỉ xuất hiện trong các tình huống cụ thể. Ví\r\ndụ, xét đến tình huống khi phân loại dựa trên các phụ kiện như thấu kính trực\r\nchuẩn áp dụng cho nguồn có độ phân kỳ cao để điều trị bằng laser mức thấp, sản\r\nphẩm này có thể được phân loại là Cấp 3B dựa trên các thấu kính được bắt vít vì\r\nthấu kính này sinh ra chùm tia chuẩn trực có nguy hiểm tiềm ẩn. Tuy nhiên, việc\r\nsử dụng không có thấu kính được bắt vít, mà tạo ra chùm tia phân kỳ, có thể an\r\ntoàn (tức là phơi nhiễm bất kỳ cho mắt có thể thấp hơn MPE). Do đó vùng nguy\r\nhiểm chỉ tồn tại xung quanh bộ phát laser một khi phụ kiện được bắt vít.
\r\n\r\nC.3 Các hạn chế của phương thức phân loại
\r\n\r\nMặc dù thử nghiệm phân loại theo nhiều cách\r\nkhá khắc nghiệt và trường hợp xấu nhất những vẫn có những hạn chế mà, trong số\r\nít các trường hợp, có thể dẫn đến nguy hiểm vượt quá các nguy hiểm liên quan\r\nđến các cấp tương ứng. Việc phân loại dựa trên ba “thành phần”:
\r\n\r\na) AEL của các cấp khác nhau;
\r\n\r\nb) Các yêu cầu của phép đo bao gồm khoảng\r\ncách đo, đường kính lỗ mở và góc chấp nhận để phản ánh các điều kiện phơi nhiễm\r\ntiềm ẩn. Các yêu cầu đo này, đối với sản phẩm laser cho trước, xác định phát xạ\r\ntiếp cận được được so sánh với AEL để xác định cấp của sản phẩm;
\r\n\r\nc) Các điều kiện thử nghiệm để xác định AEL\r\nvà phát xạ tiếp cận được. Điều này bao gồm cả việc tính đến các điều kiện sự cố\r\nđơn dự đoán được một cách hợp lý. Ngoài ra vận hành, bảo trì và bảo dưỡng cần\r\nđược phân biệt. Cũng cần xét đến việc sử dụng các phụ kiện và cấu hình khác\r\nnhau của sản phẩm có thể thay đổi mà không cần sử dụng dụng cụ.
\r\n\r\nMỗi thành phần trong ba thành phần này có một\r\nsố giả thiết ngầm sao cho trong một số ít các trường hợp, khi các giả thiết này\r\nkhông được đáp ứng, có thể phát sinh các nguy hiểm vượt quá hiểu biết thông\r\nthường của cấp đó. Ví dụ, AEL đối với Cấp 1 và 1M khi phơi nhiễm thời gian dài\r\ndựa trên giả thiết về các chuyển động của mắt không bị gây tê. Do đó, nếu phơi\r\nnhiễm mắt kéo dài xảy ra trong quá trình y tế đối với mắt bị gây tê thì phát xạ\r\nlaser Cấp 1 và 1M có thể dẫn đến các phơi nhiễm nguy hiểm tiềm ẩn. Ngoài ra,\r\ncác yêu cầu của phép đo phụ thuộc vào các giả thiết và đánh giá của khả năng\r\nxảy ra phơi, nhiễm với các kiều thiết bị đo quang nhất định. Ví dụ chùm tia\r\nchuẩn trực đường kính lớn (lớn hơn 50 mm) bị chặn bởi kính thiên văn lớn có thể\r\nnguy hiểm ngay cả đối với sản phẩm laser Cấp 1. Tuy nhiên, xác suất của phơi\r\nnhiễm mắt ngẫu nhiên này thường rất nhỏ do trường quan sát nhỏ của kính thiên văn\r\nlớn. Tình huống khác mà có thể cần xét đến là khi sản phẩm được đặt vào điều\r\nkiện không được yêu cầu xem xét để phân loại nhưng từ bức xạ nguy hiểm cũng có\r\nthể trở nên tiếp cận được. Ví dụ ngay cả khi không được cung cấp bởi nhà chế\r\ntạo sản phẩm như một phụ kiện nhưng chùm tia phân kỳ từ sản phẩm Cấp 1M hoặc Cấp\r\n2M có thể được biến đổi thành chùm tia chuẩn trực với khoảng cách nguy hiểm lớn\r\ntiềm ẩn bằng cách gắn các thấu kính chuẩn trực vào sản phẩm. Tuy nhiên, điều\r\nnày được coi là thay đổi sản phẩm và người thực hiện thay đổi này cần phải thực\r\nhiện phân loại lại sản phẩm đó.
\r\n\r\nMặc dù vậy, nhà chế tạo cần nhận thức các hạn\r\nchế sao cho có thể đưa ra các cảnh báo trong sổ tay sử dụng cho sản phẩm. Các\r\nví dụ cụ thể của các hạn chế có thể có được cho dưới đây (lưu ý là các hạn chế\r\nnày chỉ là có thề có vì nó phụ thuộc vào kiểu sản phẩm có áp dụng các hạn chế\r\nnày hay không).
\r\n\r\n- Sản phẩm laser Cấp 1, Cấp 2 hoặc Cấp 3R có\r\nchùm tia chuẩn trực đường kính lớn được quan sát bằng kính thiên văn lớn.
\r\n\r\n- Sản phẩm laser Cấp 1, Cấp 2 hoặc Cấp 3R có\r\nchùm tia chuẩn trực đường kính lớn được quan sát bằng kính phóng đại (xem thêm\r\nchú thích 1 trong 5.4.1 của IEC 60825-2).
\r\n\r\n- Ống nhòm hoặc kính thiên văn có độ khuếch\r\nđại nhỏ hơn x7. Trong trường hợp này, đối với Điều kiện 1, khuếch đại của nguồn\r\ngóc α mà có thể áp dụng (xem 4.3 c)), hoặc một cách khác, việc giảm góc chấp\r\nnhận (xem 5.4.3 b)) cần bằng hệ số khuếch đại thực , tức là nhỏ hơn x7.
\r\n\r\n- Các chùm tia quét khi được quan sát bằng\r\nkính thiên văn.
\r\n\r\n- Việc quan sát nội chùm tia ở các khoảng\r\ncách rất gần với bức xạ laser UV-A từ các sản phẩm laser Cấp 1 có thể vượt quá\r\nMPE đối với mắt khi phơi nhiễm trong các khoảng thời gian dài hơn 1 000 s.
\r\n\r\n- Điều kiện sự cố kép có thể xảy ra. Điều này\r\ncó nghĩa là từng sự cố bản thân nó không gây ra phát xạ tiếp cận được cao hơn\r\nAEL nhưng cả hai sự cố xảy ra đồng thời thì lại có thể. Khi các sự cố này được\r\nkỳ vọng là xảy ra với xác suất tương đối cao thì xác suất đối với sự cố kép có\r\nthể đủ cao để cần được xét đến trong thiết kế sản phẩm.
\r\n\r\n- Cấp của bộ phát laser có thể không cho biết\r\nnguy hiểm tại các vị trí khi người có nhiều khả năng phơi nhiễm với chùm tia\r\nlaser, cần xét đến NOHD đặc biệt là với các chùm tia laser có độ phân kỳ cao.
\r\n\r\nC.4 Tài liệu tham khảo
\r\n\r\n[1] HENDERSON, R. and SCHULMEISTER, K. Laser\r\nSafety, Taylor and Francis Ltd., United Kingdom, 2004
\r\n\r\n[2] SLINEY DH, MARSHALL WJ, BRUMAGE EC.\r\nRationale for laser classification measurement conditions. J Laser Appl.\r\n2007; 19(3):197-206
\r\n\r\n[3] ISO/IEC GUIDE 51 :1999, Safety aspects\r\n- Guidelines for their inclusion in standards
\r\n\r\n\r\n\r\n
D.1 Giải phẫu mắt
\r\n\r\nHình D.1 đưa ra chi tiết giải phẫu của mắt\r\nngười.
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image041.jpg\")
Trong Hình D.1, phần (A) là sơ đồ của các đặc\r\ntrưng bên ngoài của mắt trái. Lỗ mở giữa các mí mắt phủ lên trên sẽ giới hạn\r\ntrường nhìn (FOV) của mắt ở hình dạng hạt hạnh nhân. Các đặc trưng chính của\r\nphần phía trước của mắt được minh họa.
\r\n\r\nPhần (B) là mặt cắt ngang dạng biểu đồ của\r\nmắt trái. Mắt được chia thành hai phần, phần phía trước được bao bởi giác mạc,\r\nmống mắt và thủy tinh thể, và phần cốc mắt phía sau được bao bời võng mạc và\r\nchứa dịch thủy tinh dạng gel.
\r\n\r\nPhần (C) là bên trong phần mắt không chạm tới\r\nđược được nhìn thông qua kính soi đáy mắt. Thiết bị này chiếu trực tiếp chùm\r\ntia sáng qua con người và rọi vào bên trong mắt để cho phép nhìn thấy mắt. Hình\r\nảnh quan sát được đáy mắt. Nó có màu hơi đỏ nhưng có thể nhìn rõ tĩnh mạch võng\r\nmạc. Các đặc trưng nổi bật khác là đĩa quang màu hơi trắng và hố mắt. Hố mắt là\r\nđiểm lõm nhỏ trên bề mặt võng mạc mà có thể có sắc tố nhiều hơn võng mạch xung\r\nquang và là vùng nhìn chính xác nhất. Hố mắt là tâm của điểm vàng; điểm vàng\r\ndùng để nhìn chi tiết.
\r\n\r\nPhần (D) là kết cấu của võng mạc như nhìn\r\ntrên mặt phẳng cắt của Hình D.1 (B) nhưng được khuếch đại vài trăm lần so với\r\nthực tế. Võng mạc gồm một loạt các lớp tế bào thần kinh chồng lên các thanh\r\nnhạy sáng và tế bào thụ thể dạng nón; tức là ánh sáng rơi trên bề mặt của võng\r\nmạc phải đi qua các lớp tế bào thần kinh của biểu mô sắc tố có chứa các sắc tố\r\nđen hơi nâu; và bên dưới là lớp mạch máu nhỏ, màng trạch. Lớp hấp thụ cuối cùng\r\nlà màng trạch có chứa cả tế bào sắc tố và mạch máu.
\r\n\r\nPhần (E) là kết cấu của vùng hố mắt được\r\nphóng đại lên hàng trăm lần. Ở đây chỉ thể hiện dạng hình nón. Các tế bào thần\r\nkinh được dịch chuyển theo hướng kính ra khỏi vùng quan sát chính xác nhất này.\r\nSắc tố đen mà hấp thụ mạnh bước sóng từ 400 nm đến 500 nm, được nằm trong lớp\r\nsợi của Henle.
\r\n\r\nD.2 Ảnh hưởng của bức xạ laser lên các mô\r\nsinh học
\r\n\r\nD.2.1 Quy định chung
\r\n\r\nCơ chế mà bức xạ laser gây ra hư hại tương tự\r\nnhau đối với tất cả các hệ thống sinh học và có thể liên quan đến sự tương tác\r\nlẫn nhau của nhiệt, chuyển tiếp âm-nhiệt, các quá trình quang hóa và các ảnh\r\nhưởng không tuyến tính khác. Mức độ mà các cơ chế này chịu trách nhiệm cho việc\r\như hại đều có thể liên quan đến một số tham số vật lý của nguồn bức xạ mà quan\r\ntrọng nhất là bước sóng, thời gian xung, kích cỡ hình ảnh, độ rọi và phơi nhiễm\r\nbức xạ.
\r\n\r\nNhìn chung, trong phơi nhiễm cao hơn ngưỡng,\r\ncơ chế chiếm ưu thế có liên quan nhiều đến thời gian xung của phơi nhiễm. Do\r\nđó, khi tăng thời gian xung, các ảnh hưởng chiếm ưu thế trong vùng thời gian\r\ndưới đây là:
\r\n\r\n- trong các phơi nhiễm nano giây và ngắn hơn\r\nnano giây, các vi lỗ hổng, chuyển tiếp âm thanh và các ảnh hưởng không tuyến\r\ntính,
\r\n\r\n- từ khoảng 100 μs đến vài giây, ảnh hưởng\r\nnhiệt, và
\r\n\r\n- lớn hơn khoảng 10 s, ảnh hưởng quang hóa.
\r\n\r\nBức xạ laser được phân biệt với hầu hết các\r\nkiểu bức xạ đã biết khác bởi sự chuẩn trực của chùm tia và độ bức xạ cao. Điều\r\nnày, cùng với năng lượng ban đầu cao, tạo ra lượng năng lượng quá mức được\r\ntruyền vào các mô sinh học. Sự kiện sơ cấp trong kiểu hỏng bất kỳ do bức xạ\r\nlaser đến hệ thống sinh học là sự hấp thụ bức xạ quang bởi hệ thống đó. Hấp thụ\r\nxảy ra ở mức nguyên tử hoặc phân tử và là quá trình cụ thể của bước sóng. Do\r\nđó, nó là bước sóng xác định mô nào có nhiều khả năng bị hỏng bởi chùm tia\r\nlaser cụ thể.
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image042.jpg\")
Ảnh hưởng về nhiệt. Khi hệ thống hấp thụ đủ\r\nnăng lượng bức xạ, các phân tử thành phần của nó chịu rung tăng lên, và tăng\r\nthành phần nhiệt. Hầu hết hư hại về laser là do nhiệt của các mô hấp thụ. Hư\r\nhại nhiệt này thường được giữ trong vùng giới hạn kéo dài sang cả hai phía của\r\nvị trí hấp thụ năng lượng laser, và có tâm nằm trên chùm tia rọi. Các tế bào\r\nnằm trong vùng này cho thấy đặc tính bỏng, và hư hại mô chủ yếu do biến chất\r\ncủa protein. Như chỉ ra ở trên, việc xuất hiện cơ chế hư hại thứ cấp do các tác\r\nđộng của laser có thể liên quan đến khoảng thời gian mả mô phản ứng với nhiệt\r\nvà liên quan trực tiếp đến thời gian xung (xem Hình D.2) và giai đoạn làm mát.\r\nCác phản ứng nhiệt hóa xảy ra trong cả hai giai đoạn đốt nóng và làm mát, làm\r\ntăng sự phụ thuộc vào kích thước điểm của thương tích do nhiệt. Nếu xung lượng\r\nlaser dạng xung dài hoặc dạng CW được chiếu thẳng vào mô thì do tính dẫn, vùng\r\nmô sinh học chịu nhiệt độ tăng lên sẽ ngày càng lan rộng. Việc lan rộng nhiệt\r\nnày làm cho vùng hư hại tăng lên khi ngày càng nhiều tế bào được nâng lên cao\r\nhơn mức chịu nhiệt của chúng. Kích cỡ ảnh của chùm tia cũng đóng vai trò rất\r\nquan trọng vì mức độ lan rộng do tính dẫn là hàm của kích cỡ cũng như nhiệt độ\r\ncủa vùng mô gia nhiệt ban đầu. Kiểu thương tổn nhiệt này thường được thấy trên\r\nphơi nhiễm với các bộ phát laser dạng xung dải hoặc CW nhưng cũng xảy ra với\r\ncác xung ngắn. Đối với các kích cỡ điểm được rọi cỡ 1 mm đến 2 mm hoặc nhỏ hơn,\r\ndòng nhiệt hướng kính dẫn đến sự phụ thuộc của thương tích vào kích cỡ điểm.
\r\n\r\nẢnh hưởng quang hóa. Mặt khác, hiệu ứng hư\r\nhại có thể là kết quả trực tiếp của quá trình quang hóa. Quá trình này được tạo\r\nra bởi hấp thụ năng lượng ánh sáng cho trước. Khác với việc nhả năng lượng, các\r\nloài chịu phản ứng hóa học đơn nhất theo tình trạng bị kích thích của chúng.\r\nPhản ứng quang hóa này được cho là nguyên nhân của hư hại ở các mức phơi nhiễm\r\nthấp. Bằng cơ chế này, một vài mô sinh học ví dụ như da, thủy tinh thể của mắt,\r\nvà đặc biệt là võng mạc có thể cho thấy sự thay đổi không đảo ngược gây ra do\r\nphơi nhiễm kéo dài với mức trung bình của bức xạ UV và ánh sáng có bước sóng\r\nngắn. Sự thay đổi gây ra do quang hóa này có thể gây ra hư hại đến hệ thống nếu\r\nthời gian chiếu rọi quá mức hoặc nếu các phơi nhiễm ngắn hơn lặp lại trong các\r\ngiai đoạn kéo dài. Một số phản ứng quang hóa được khởi phát bởi phơi nhiễm\r\nlaser có thể là bất thường hoặc là sự phóng đại các quá trình bình thường. Các\r\nphản ứng quang hóa nhìn chung là theo Quy luật Bunsen and Roscoe, đối với\r\nkhoảng thời gian cỡ 1 h đến 3 h hoặc ít hơn (trong trường hợp cơ chế sửa chữa\r\nkhông thể đối phó với tỷ lệ hư hại); ngưỡng thể hiện là phơi nhiễm bức xạ là\r\nkhông đổi trong dải rộng của thời gian phơi nhiễm. Sự phụ thuộc vào kích cỡ\r\nđiểm, như xảy ra với các ảnh hưởng về nhiệt do khuếch tán nhiệt, không xảy ra ở\r\nđây.
\r\n\r\nẢnh hưởng không tuyến tính. Bộ phát laser có\r\ncông suất giá trị đỉnh cao, dạng xung ngắn (tức là được đóng cắt Q hoặc khóa\r\nchế độ) có thể làm tăng hư hại các mô khi kết hợp khác nhau của các cơ chế cảm\r\nứng. Năng lượng được truyền đến đích sinh học trong thời gian rất ngắn và do đó\r\nsinh ra độ rọi cao. Các mô đích chịu sự tăng nhanh về nhiệt độ đến mức các\r\nthành phần chất lỏng trong các tế bào của chúng bị chuyển thành thể khí. Trong\r\nhầu hết các trường hợp, các giai đoạn này nhanh đến mức chúng nổ và các tế bào\r\nbị nứt vỡ. Sự truyền áp lực có thể gây ra do dãn nở nhiệt và cả hai cũng có thể\r\ncắt các mô ở xa các lớp hấp thụ do dịch chuyển vật lý lớn. Tại các phơi nhiễm\r\ncỡ nhỏ hơn nano giây, việc tự hội tụ của môi chất trong mắt sẽ làm tập trung\r\nthêm năng lượng laser từ chùm tia trực chuẩn và làm giảm thêm ngưỡng giữa xấp xỉ\r\n10 ps và 1 ns. Ngoài ra, cơ chế quang không tuyến tính khác xuất hiện để đóng\r\nvai trò trong thương tích võng mạc trong vùng nhỏ hơn nano giây.
\r\n\r\nTất cả các cơ chế hư hại được mô tả ở trên\r\nđều đã cho thấy sự vận hành trong võng mạc, và được phản ánh trong các điểm gãy\r\nhoặc thay đổi độ dốc trong các mức phơi nhiễm an toàn mô tả trong tiêu chuẩn\r\nnày.
\r\n\r\nD.2.2 Nguy hiểm cho mắt
\r\n\r\nMõ tả ngắn gọn về giải phẫu mắt được cho\r\ntrong Điều D.1. Mắt được điều tiết đặc biệt để nhận và chuyển đổi bức xạ quang.\r\nCác bệnh lý gây ra bởi phơi nhiễm quá mức được tổng hợp trong Bảng D.1. Cơ chế\r\ntương tác nhiệt được thể hiện trên Hình D.2. Các bộ phát laser phát bức xạ cực\r\ntím và bức xạ xa hồng ngoại thể hiện nguy hiểm giác mạc trong khi các hệ thống\r\nphát bước sóng nhìn thấy và gần hồng ngoại sẽ truyền đến võng mạc.
\r\n\r\nCác chùm tia laser nhìn thấy và gần hồng\r\nngoại là nguy hiểm đặc biệt cho mắt vì các đặc tính cần thiết cho mắt là bộ\r\nchuyển đổi hiệu quả ánh sáng tạo ra phơi nhiễm bức xạ cao được đưa đến các mô\r\nnhiều sắc tố. Việc tăng độ rọi từ giác mạc đến võng mạc xấp xỉ tỷ lệ của diện\r\ntích con người với hlnh ảnh của nó trên võng mạc. Việc tăng này xảy ra vì ánh\r\nsáng đi vào con người tập trung vào “điểm” trên võng mạc.
\r\n\r\nCon ngươi là lỗ mở thay đổi nhưng đường kính\r\ncó thể lớn cỡ 7 mm khi giãn nở tối đa trong mắt người trẻ. Hình ảnh trên võng\r\nmạc tương ứng với con ngươi có thể có đường kính trong khoảng 10 μm đến 20 μm.\r\nKhi xét đến sự sai lệch của giác mạc và sự phân tán nội trong mắt thì việc tăng\r\nđộ rọi giữa giác mạc và võng mạc cỡ khoảng 2 x 105.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n
| \r\n Cực tím C (180 nm đến 280 nm) \r\n | \r\n \r\n Viêm giác mạc xạ quang \r\n | \r\n \r\n Ban đỏ (cháy nắng) \r\nQuá trình lão hóa da gia tốc \r\nTăng sắc tố da \r\n | \r\n
| \r\n
| \r\n Cực tím B (280 nm đến 315 nm) \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n ||
| \r\n Cực tím A (315 nm đến 400 nm) \r\n | \r\n \r\n Đục nhân mắt do quang hóa \r\n | \r\n \r\n Sẫm màu da \r\nPhản ứng nhạy sáng \r\nBỏng da \r\n | \r\n
| \r\n
| \r\n Nhìn thấy (400 nm đến 780 nm) \r\n | \r\n \r\n Thương tích võng mạc do quang hóa và nhiệt \r\n | \r\n \r\n \r\n \r\n | |
| \r\n \r\n | |||
| \r\n Hồng ngoại A (780 nm đến 1 400 nm) \r\n | \r\n \r\n Đục nhân mắt, bỏng võng mạc \r\n | \r\n \r\n Bỏng da \r\n | \r\n \r\n |
| \r\n \r\n | |||
| \r\n Hồng ngoại B (1,4 μm đến 3,0 μm) \r\n | \r\n \r\n Aqueous flare, đục nhân mắt, bỏng giác mạc \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n |
| \r\n Hồng ngoại C (3,0 μm đến 1 mm) \r\n | \r\n \r\n Chỉ bỏng giác mạc \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n |
| \r\n a Các vùng phổ được xác định bởi CIE là\r\n những câu ngắn gọn có ích trong việc mô tả các hiệu ứng sinh học và có thể\r\n không hoàn toàn phù hợp với các điểm gãy phổ trong các bảng MPE từ Bảng A.1\r\n đến Bảng A.3. \r\n | \r\n
| \r\n ||
Nếu giả thiết tăng 2 x 105, chùm\r\ntia 50 W·m-2 trên giác mạc trở thành 1 x 107 W·m-2 trên\r\nvõng mạc. Trong tiêu chuẩn này, con người 7 mm được coi là lỗ mở giới hạn vì\r\nđây là trường hợp xấu nhất và được suy ra từ các con số có được khi đo đường\r\nkính đồng tử từ mắt người trẻ tuổi, có một ngoại lệ cho giả thiết đồng tử 7 mm\r\náp dụng trong việc rút ra các giới hạn phơi nhiễm để bảo vệ chống viêm võng mạc\r\nxạ quang trong khi quan sát các nguồn laser ánh sáng nhìn thấy mạnh (400 nm đếm\r\n700 nm) trong các khoảng thời gian vượt quá 10 s. Trong trường hợp này, con người\r\n3 mm được giả thiết là điều kiện trường hợp xấu nhất; tuy nhiên lỗ mở trung\r\nbình độ rọi 7 mm cho phép đo vẫn được coi là thích hợp do dịch chuyển sinh lý\r\ncủa con người trong không gian. Do đó, AEL đối với các thời gian lớn hơn 10 s\r\nvẫn được sử dụng đối với lỗ mở 7 mm.
\r\n\r\nNếu chùm tia cường độ mạnh của ánh sáng laser\r\nđược đưa đến tiêu cự của võng mạc thì chỉ một phần nhỏ của áng sáng (đến 5 %)\r\nsẽ được hấp thụ bởi sắc tố hình ảnh trong các tế bào dạng thanh và dạng nón.\r\nHầu hết ánh sáng sẽ được hấp thụ bởi sắc tố được gọi là hắc tố chứa trong biểu\r\nmô sắc tố. (Trong vùng điểm vàng, một số năng lượng trong dải bước sóng 400 nm\r\nđến 500 nm sẽ được hấp thụ bởi sắc tố điểm vàng). Năng lượng hấp thụ sẽ đốt\r\nnóng cục bộ và sẽ gây bỏng cho cả biểu mô sắc tố và các tế bào dạng thanh hoặc\r\nnón nhạy sáng liền kề. Bỏng hoặc thương tổn có thể làm mất khả năng nhìn. Tổn\r\nthương do quang hóa, mặc dù không nhiệt, cũng được cục bộ hóa trong các biểu mô\r\nsắc tố.
\r\n\r\nTùy thuộc vào biên độ phơi nhiễm, việc mất\r\nthị lực có thể vĩnh viễn hoặc không. Giảm thị lực sẽ thường được ghi lại một\r\ncách chủ quan bởi từng cá nhân phơi nhiễm chỉ khi liên quan đến vùng tâm hoặc\r\nvùng hố mắt của điểm vàng. Hố mắt, phần lõm tại tâm của điểm vàng, là phần quan\r\ntrọng nhất của võng mạc vì nó chịu trách nhiệm trong việc nhìn sắc nét nhất. Nó\r\nlà một phần của võng mạc được sử dụng để “nhìn thẳng vào vật thể”. Góc nhìn này\r\nđược trương bởi hố mắt xấp xỉ bằng góc được trương bởi mặt trăng. Nếu vùng này\r\nbị hư hại, việc giảm thị lực có thể xuất hiện ban đầu là điểm trắng mờ làm mờ\r\nvùng tâm của thị lực; tuy nhiên, trong hai tuần tiếp theo hoặc nhiều hơn, nó có\r\nthể chuyển thành điểm đen. Cuối cùng, nạn nhân sẽ không nhận thấy điểm mù (ám\r\nđiểm) trong thị lực bình thường. Tuy nhiên, có có thể bộc lộ tức thì khi nhìn\r\nvào một phông trống rỗng ví dụ một tờ giấy trắng. Thương tổn ngoại vi sẽ chỉ\r\nđược ghi nhận chủ quan khi xảy ra hư hại võng mạc nặng. Các thương tổn ngoại vi\r\nnhỏ sẽ không gây chú ý và thậm chí có thể không được phát hiện trong quá trình\r\nkiểm tra mắt một cách hệ thống.
\r\n\r\nTrong dải bước sóng từ 400 nm đến 1 400 nm,\r\nnguy hiểm lớn nhất là hư hại võng mạc. Giác mạc, dịch lỏng, thủy tinh thể và\r\ndịch thủy tinh là trong suốt đối với bức xạ của các bước sóng này. Trong trường\r\nhợp chùm tia trực chuẩn, nguy hiểm không phụ thuộc vào khoảng cách giữa nguồn\r\nbức xạ và mắt, vì ảnh võng mạc được coi là điểm giới hạn nhiễu xạ có đường kính\r\nxấp xỉ 10 μm đến 20 μm. Trong trường hợp này, giả thiết cân bằng nhiệt, vùng\r\nnguy hiểm võng mạc được xác định bằng góc trương giới hạn αmin,\r\nthường tương ứng với điểm trên võng mạc có đường kính xấp xỉ 25 μm.
\r\n\r\nTrong trường hợp nguồn kéo dài, nguy hiểm\r\nthay đổi theo khoảng cách quan sát giữa nguồn và mắt vì trong khi bức xạ võng\r\nmạc tức thời chỉ phụ thuộc vào bức xạ của nguồn và vào đặc tính thủy tinh thể\r\ncủa mắt, sự truyền năng lượng nhiệt từ các ảnh trên võng mạc lớn hơn có hiệu\r\nquả kém hơn dẫn đến sự phụ thuộc vào kích cỡ điểm ảnh trên võng mạc đối với\r\nthương tích về nhiệt nhưng không xảy ra đối với thương tích quang hóa (chủ yếu\r\nchiếm ưu thế trong vùng phổ từ 400 nm đến 600 nm). Ngoài ra, các dịch chuyển\r\ncủa mắt mở rộng thêm năng lượng hấp thụ đối với các phơi nhiễm laser CW dẫn đến\r\nsự phụ thuộc khác nhau của rủi ro đối với các kích cỡ ảnh võng mạc khác nhau.
\r\n\r\nKhi rút ra các giới hạn đối với phơi nhiễm\r\nmắt trong vùng nguy hiểm võng mạc, các hệ số hiệu chỉnh đối với dịch chuyển của\r\nmắt chỉ áp dụng đối với khoảng thời gian quan sát vượt quá 10 s. Mặc dù dịch\r\nchuyển sinh lý của mắt được biết đến như sự di chuyển mắt cụ thể làm lan rộng\r\nnăng lượng hấp thụ trong các hình ảnh võng mạc nhỏ nhất (cỡ 25 μm hoặc nhỏ hơn)\r\ntrong khoảng thời gian từ 0,1 s đến 10 s, các giới hạn cung cấp hệ số an toàn\r\nbổ sung mong muốn đối với điều kiện quan sát này. Ở 0,25 s, điểm võng mạc trung\r\nbình được chiếu rọi xấp xỉ 50 μm. Đến 10 s, vùng võng mạc được chiếu rọi trở\r\nnên xấp xỉ 75 μm và hệ số an toàn cộng thêm đối với điều kiện ảnh nhỏ nhất trở\r\nthành 1,7 với mắt ổn định, có tính đến sự phụ thuộc vào kích cỡ điểm. Đến 100\r\ns, hiếm khi đạt được vùng được chiếu rọi (được đo ở 50 % số điểm) nhỏ cỡ 135 μm\r\ndẫn đến hệ số an toàn bổ sung là 2,3 hoặc lớn hơn trong điều kiện ảnh nhỏ nhất.
\r\n\r\nDữ liệu từ các nghiên cứu chuyển động của mắt\r\nvà thương tích võng mạc do nhiệt được kết hợp lại để rút ra điểm gãy trong thời\r\ngian quan sát T2 tại đó chuyển động của mắt được bù với rủi ro về lý\r\nthuyết tăng cao của thương tích do nhiệt trong các khoảng thời gian phơi nhiễm\r\nvõng mạc tăng nếu mắt không chuyển động. Vì ngưỡng thương tích do nhiệt được\r\nthể hiện là công suất bức xạ đi vào mắt giảm theo thời gian phơi nhiễm t được\r\ntăng đến -0,25 công suất (tức là chỉ giảm 44 % khi thời gian phơi nhiễm tăng 10\r\nlần), chỉ những lần tăng vừa phải về diện tích võng mạc bị phơi nhiễm sẽ bù cho\r\nrủi ro tăng lên đối với thời gian quan sát dài hơn. Diện tích võng mạc được\r\nchiếu rọi tăng lên do các chuyển động của mắt nhiều hơn với thời gian quan sát\r\ntăng sẽ mất lâu hơn khi bù tác động giảm của sự truyền nhiệt trong các nguồn\r\nkéo dài lớn hơn. Do đó, đối với góc trương α tăng, điểm gãy T2 tăng\r\ntừ 10 s đối với các nguồn nhỏ lên 100 s đối với các nguồn lớn hơn. Quá 100 s,\r\nrủi ro thương tích do nhiệt sẽ không tăng thêm đối với các hình ảnh có kích cỡ\r\nnhỏ và trung bình. Quy định kỹ thuật về các giới hạn và điều kiện đo để cố gắng\r\ntheo kịp những thay đổi này với một số đơn giản hóa dẫn đến việc xác định rủi\r\nro một cách bảo toàn. Giả thiết là các ngưỡng thương tích võng mạc do nhiệt thay\r\nđổi nghịch đảo với kích cỡ hình ảnh trên võng mạc (ổn định) từ xấp xỉ 25 μm đến\r\n1 mm (tương ứng với các kích thước góc cỡ 1,5 mrad đến 59 mrad), trong khi vượt\r\nquá 1,7 mm (tương ứng với các kích thước góc lớn hơn 100 mrad), không có sự phụ\r\nthuộc vào kích cỡ điểm. T2 và các giới hạn công suất và sự chiếu xạ\r\nkhông thay đổi khi đó sẽ phản ánh ảnh hưởng của việc chuyển động của mắt, dòng\r\nmáu cũng như giảm việc phụ thuộc của ngưỡng thương tích đối với các khoảng thời\r\ngian phơi nhiễm dài hơn liên quan đến sự phụ thuộc vào thời gian của các giới\r\nhạn. Điều này sẽ không áp dụng cho các thiết bị đo mắt; xem ISO 15004-2.
\r\n\r\nĐối với thương tích võng mạc gây ra do quang\r\nhóa, không có sự phụ thuộc vào cỡ điểm ảnh đối với ảnh ổn định. Không như cơ\r\nchế thương tích về nhiệt, ngưỡng thương tích quang hóa phụ thuộc nhiều vào bước\r\nsóng và phụ thuộc vào liều lượng phơi nhiễm, tức là các ngưỡng giảm nghịch đảo\r\nvới độ dài thời gian phơi nhiễm. Các nghiên cứu về thương tích võng mạc do\r\nquang hóa từ hồ quang hàn trương các góc cỡ 1 mrad đến 1,5 mrad cho thấy thương\r\ntổn điển hình vào khoảng 185 μm đến 200 μm (tương ứng với các góc nhìn từ 11\r\nmrad đến 12 mrad) thể hiện rõ ràng ảnh hưởng của chuyển động của mắt trong khi\r\ncố định; nghiên cứu này và các nghiên cứu khác về chuyển động của mắt trong khi\r\ncố định dẫn đến việc suy ra MPE để bảo vệ chống thương tích võng mạc do quang\r\nhóa. Các nghiên cứu này cũng dẫn đến việc chiếu rọi MPE cần quy định là được\r\nlấy trung bình trong 11 mrad đối với khoảng thời gian phơi nhiễm từ 10 s đến\r\n100 s. Do đó, các nguồn có góc trương α nhỏ hơn 11 mrad được coi giống như các\r\nnguồn “điểm”, và khái niệm αmin được mở rộng cho quan sát bộ phát\r\nlaser CW. Cách tiếp cận này không hoàn toàn đúng, vì các phép đo sự chiểu rọi\r\ncủa nguồn 11 mrad không tương đương với độ rọi lấy trung bình trong trường nhìn\r\n(γ) 11 mrad trừ khi nguồn có phân bổ bức xạ chữ nhật (“top-hat”). Do đó, trong\r\ntiêu chuẩn này, phân biệt giữa góc trương của nguồn và độ rọi lấy trung bình\r\nđối với các giá trị MPE quang hóa. Đối với thời gian quan sát vượt quá xấp xỉ\r\ntừ 30 s đến 60 s, sự chuyển động rất nhanh của mắt trong khi giữ cố định thường\r\nđược bắt kịp bằng các chuyển động đáp ứng được xác định bởi tác vụ hình ảnh, và\r\nhoàn toàn không hợp lý để giả thiết rằng nguồn sáng chỉ là hình ảnh trong hố\r\nmắt trong thời gian dài hơn 100 s. Với lý do này, góc chấp nhận γph\r\nđược tăng tuyến tính với căn bậc hai của t. Góc trương nhỏ nhất αmin\r\ngiữ đúng tại góc tham chiếu 1,5 mrad đối với tất cả các khoảng thời gian phơi\r\nnhiễm được sử dụng trong đánh giá nguy hiểm võng mạc về nhiệt. Tuy nhiên, đối\r\nvới đánh giá nguy hiểm võng mạc về quang hóa, khái niệm thực sự khác, vì góc γph\r\nlà góc chấp nhận tuyến tính để đo độ rọi, và điều quan trọng chỉ để sử dụng đối\r\nvới các nguồn kéo dài lớn hơn xấp xỉ 11 mrad.
\r\n\r\nKhoảng cách quan sát. Trong trường hợp nguồn\r\nđiểm có chùm tia phân kỳ, nguy hiểm tăng khi khoảng cách giảm giữa phần thu hẹp\r\ncủa chùm tia và mắt. Lý do là vì với khoảng cách giảm, công suất thu nhận tăng\r\nlên, trong khi kích cỡ ảnh võng mạc có thể được giả thiết là vẫn được giới hạn\r\nnhiễu xạ gần đối với các nguồn laser thực đến khoảng cách 100 mm (do khả năng\r\nđiều tiết hình ảnh của mắt). Nguy hiểm lớn nhất xảy ra ở khoảng cách điều tiết\r\nngắn nhất. Với khoảng cách giảm thêm thì nguy hiểm đến mắt không có hỗ trợ cũng\r\nsẽ giảm, vì có sự tăng nhanh về hình ảnh trên võng mạc và giảm tương ứng độ rọi\r\nsáng, mặc dù có thể thu nhận công suất lớn hơn. Để mô phỏng rủi ro quan sát có\r\nhỗ trợ quang của chùm tia trực chuẩn bằng ống nhòm hoặc ống viễn vọng, khoảng\r\ncách tiếp cận gần nhất là 2 m với lỗ mở 50 mm được giả thiết dựa trên khoảng\r\ncách gần nhất để quan sát rõ.
\r\n\r\nTrong tiêu chuẩn này, khoảng cách điều tiết\r\nngắn nhất của mắt người được đặt là 100 mm ở tất cả các bước sóng từ 400 nm đến\r\n1 400 nm. Điều này được chọn là sự thỏa hiệp vì tất cả trừ mắt người trẻ tuổi\r\nvà rất ít người cận thị không thể điều tiết mắt của họ ở khoảng cách nhỏ hơn\r\n100 mm. Khoảng cách này có thể được sử dụng để đo độ rọi trong trường hợp quan\r\nsát nội chùm tia (xem Bảng 10).
\r\n\r\nĐối với các bước sóng nhỏ hơn 400 nm hoặc lớn\r\nhơn 1 400 nm, nguy hiểm lớn nhất là hư hại thủy tinh thể hoặc giác mạc. Tùy\r\nthuộc vào bước sóng, bức xạ quang được hấp thụ một cách ưu tiên hoặc dành riêng\r\nbởi giác mạc hoặc thủy tinh thể (xem Bảng D.1). Đối với các nguồn chùm tia phân\r\nkỳ (kéo dài hoặc nguồn điểm) có các bước sóng này, cần tránh sử dụng các khoảng\r\ncách ngắn giữa nguồn và mắt.
\r\n\r\nTrong dải bước sóng từ 1 500 nm đến 2 600 nm,\r\nbức xạ thâm nhập vào dịch lỏng. Ảnh hưởng về nhiệt do đó được tiêu tán trên thể\r\ntích lớn hơn của mắt, và MPE được tăng lên đối với phơi nhiễm nhỏ hơn 10 s. MPE\r\ntăng nhiều nhất xảy ra trong các khoảng thời gian xung rất ngắn và trong dài\r\nbước sóng từ 1 500 nm đến 1 800 nm ở đó thể tích hấp thụ là lớn nhất. Ở các\r\nthời gian lớn hơn 10 s, tính dẫn nhiệt phân phối lại nhiệt năng sao cho tác\r\nđộng của độ sâu thẩm thấu không còn ý nghĩa nữa.
\r\n\r\nD.2.3 Nguy hiểm trên da
\r\n\r\nNhìn chung, da có thể chịu được phơi nhiễm\r\nvới chùm tia laser nhiều hơn rất nhiều so với mắt có thể chịu. Ảnh hưởng sinh\r\nhọc của độ rọi lên da bởi bộ phát laser hoạt động trong các vùng phổ ánh sáng\r\nnhìn thấy (400 nm đến 700 nm) và hồng ngoại (lớn hơn 700 nm) có thể thay đổi từ\r\nban đỏ nhẹ đến vết phòng rộp nghiêm trọng. Sự xém thành than màu xám tro là phổ\r\nbiến trong các mô có sự hấp thụ bề mặt cao sau khi phơi nhiễm với các tia laser\r\ncông suất đỉnh cao và có dạng xung rất ngắn. Điều này có thể không theo sau bởi\r\nban đỏ.
\r\n\r\nViệc đen da, loét da và tạo sẹo trên da và\r\nhỏng các tế bào hữu cơ nằm bên dưới có thể xảy ra do độ rọi rất cao. Hiệu ứng\r\nâm ỉ hoặc lũy tích của bức xạ laser là không phổ biến. Tuy nhiên, một vài nghiên\r\ncứu hạn chế đã đề xuất rằng trong các điều kiện đặc biệt, các vùng nhỏ của mô\r\nngười có thể nhạy cảm bởi các phơi nhiễm cục bộ lặp lại với kết quả là mức phơi\r\nnhiễm đối với phản ứng nhỏ nhất được thay đổi và phản ứng trong các mô sẽ khắc nghiệt\r\nhơn đối với phơi nhiễm mức thấp này.
\r\n\r\nTrong dải bước sóng từ 1 500 nm đến 2 600 nm,\r\ncác nghiên cứu về ngưỡng sinh học chỉ ra rằng rủi ro bị thương da có dạng tương\r\ntự với tổn thương mắt. Đối với các phơi nhiễm đến 10 s, MPE được tăng lên trong\r\nphạm vi dải phổ này.
\r\n\r\nD.3 MPE và lấy trung bình độ rọi
\r\n\r\nTrong tiêu chuẩn này, chấp nhận các giá trị\r\nphơi nhiễm lớn nhất cho phép (MPE) được khuyến cáo bởi the International\r\nCommission on Non-Ionizing Radiation Protection (ICNIRP). Chấp nhận các lỗ mở\r\nlấy trung bình độ rọi (lỗ mở đo) được khuyến cáo bởi ICNIRP hoặc sử dụng hệ số\r\nan toàn bổ sung áp dụng theo tiêu chuẩn này. Việc xác định độ lệch của AEL, mặc\r\ndù nhìn chung phụ thuộc vào MPE, đòi hỏi phân tích rủi ro và xác định các điều\r\nkiện phơi nhiễm dự đoán trước một cách hợp lý. Việc chọn lỗ mở để đo đóng vai\r\ntrò trong việc suy ra AEL và phản ánh cả hệ sổ sinh học và hệ số sinh lý học.\r\nTrong một số trường hợp, việc xem xét phân tích rủi ro và đơn giản hóa việc thể\r\nhiện cũng đóng vai trò quan trọng. Bảng D.2 tổng hợp các yếu tố được giả thiết\r\ntrong khi lựa chọn các lỗ mở đo. Nhìn chung, tuân thủ các khuyến cáo của ICNIRP\r\nhoặc áp dụng các hệ số an toàn bổ sung.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Sự phát tán trong biểu mô giác mạc và trong\r\n lớp sừng dẫn đến 1 mm; giả thiết không có chuyển động của mô bị phơi nhiễm\r\n trong các điều kiện phơi nhiễm liên tục được áp dụng bởi IEC. Tuy nhiên,\r\n ICNIRP khuyến cáo 3,5 mm đối với các phơi nhiễm dài do cố chuyển động của mắt \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Chuyển động bên của con người đường kính 3\r\n mm trong không gian tạo ra lỗ mở 7 mm lấy trung bình đối với các phơi nhiễm CW\r\n áp dụng cho cơ chế bị thương do quang hóa \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Đường kính của con người khi dãn nở và\r\n chuyển động bên khi phơi nhiễm CW \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Khuếch tán nhiệt trong các mô thuộc lớp sừng\r\n và lớp biểu mô \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Khuếch tán nhiệt lớn hơn và chuyển động của\r\n mô đang xét tương đối so với chùm tia sau 0,35 s \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Lỗ mở cần lớn hơn giới hạn nhiễu xạ (tức là\r\n xấp xỉ 10x) đối với các phép đo chính xác \r\n | \r\n
D.4 Tài liệu tham khảo
\r\n\r\n[1] HENDERSON, R. and SCHULMEISTER, K.: Laser\r\nSafety, Taylor and Francis Ltd., Bristol United Kingdom, 2003 2004
\r\n\r\n[2] ICNIRP guidelines on limits of\r\nexposure to laser radiation of wavelengths between 180 nm and 1,000 μm.\r\nHealth Physics 105(3): 271 -295, 2013
\r\n\r\n[3] NESS, J., ZWICK, H.A., STUCK, B.E., LUND,\r\nD.J., MOLCHANY, J.A. and SLINEY, D.H.: Retinal image motion during\r\ndeliberate fixation: implications to laser safety for long duration viewing.\r\nHealth Phys. 78(2): 131 -142, 2000
\r\n\r\n[4] ROACH, W.P., JOHNSON, P.E. and ROCKWELL,\r\nB.A.: Proposed maximum permissible exposure limits for ultrashort laser\r\npulses, Health Phys. 76(4): 349-354, 1999
\r\n\r\n[5] SCHULMEISTER, K., STUCK, B.E., LUND, D.J.\r\nand SLINEY, D.H. Review of thresholds and recommendations for revised\r\nexposure limits for laser and optical radiation for thermally induced retinal\r\ninjury. Health Phys.; 100(2):210-220, 2011
\r\n\r\n[6] SLINEY, D.H. and WOLBARSHT, M.L.: Safety\r\nwith Lasers and other Optical Sources, New York, Plenum Publishing Corp.,\r\n1980
\r\n\r\n[7] SLINEY, D., ARON-ROSA, D., DELORI, F.,\r\nFANKHAUSER, F., LANDRY, R., MAINSTER, M., MARSHALL, J., RASSOW, B., STUCK, B.,\r\nTROKEL, S., WEST, T.M. and WOLFFE, M.: Adjustment of guidelines for exposure\r\nof the eye to optical radiation from ocular instruments: statement of a task\r\ngroup of the International Commission on Non-Ionizing Radiation Protection,\r\nApplied Optics, 44(11 ): 2162- 2176, 2005
\r\n\r\n[8] United Nations Environment Programme\r\n(UNEP); World Health Organization (WHO); International Radiation Protection\r\nAssociation (IRPA): Environmental Health Criteria No. 23: Lasers and Optical\r\nRadiation, Geneva, WHO, 1982
\r\n\r\n\r\n\r\n
E.1 Tổng quan
\r\n\r\nĐối với các nguồn kéo dài kích thước lớn, có\r\nthể dễ phân tích các nguy hiểm võng mạc tiềm ẩn bằng cách sử dụng bức xạ của\r\nnguồn. Phụ lục này cung cấp cho người sử dụng bảng và các đồ thị của các bức xạ\r\nlớn nhất cho phép dựa trên AEL đối với Cấp 1 và Cấp 1M và các giá trị MPE tương\r\nứng trong vùng bước sóng nguy hiểm võng mạc từ 400 nm đến 1 400 nm đối với các\r\nđiều kiện quan sát trong đó góc trương của nguồn biểu kiến được giả thiết là\r\nlớn hơn αmax. Bằng luật bảo toàn bức xạ, tất cả các nguồn kéo dài\r\nđều khuếch tán và phát ra thắp hơn mức bức xạ quy định trong Bảng E.1 hoặc trên\r\nHình E.1 không thể vượt quá mức phát xạ tiếp cận được (AEL) Cấp 1 bất kể có\r\nthiết bị quang đặt trước nguồn khuếch tán hay không.
\r\n\r\nE.2 Giá trị bức xạ
\r\n\r\nCác giá trị bức xạ trong Bảng E.1 dựa trên\r\ncác mức MPE của IEC/ICNIRP. Vì MPE nhìn chung được biểu thị bằng phơi nhiễm bức\r\nxạ (J·m-2) hoặc độ rọi (W·m-2), nên cần chuyển các giá\r\ntrị MPE thành bức xạ (W·m-2·sr-1). Các giá trị bức xạ khi\r\nđó được vẽ là hàm của bước sóng (xem Điều E.3).
\r\n\r\nBảng E.1 thể hiện các giá trị phơi nhiễm bức\r\nxạ cho phép là hàm của bước sóng đối với thời gian phơi nhiễm 100 s trong đó α\r\ntrương một góc lớn hơn hoặc bằng 100 mrad. Các giới hạn nghiêm ngặt nhất, về\r\nquang hóa hoặc nhiệt, được liệt kê. Các giới hạn nguy hiểm quang hóa võng mạc\r\nđược in nghiêng.
\r\n\r\n![](\"00919261_files/image043.jpg\")
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Chữ số in nghiêng chỉ thị các giới hạn nguy\r\n hiểm võng mạc về quang hóa. \r\n | \r\n ||
E.3 Cơ sở hợp lý
\r\n\r\nCác giá trị bức xạ được tính toán sử dụng các\r\nmức MPE của IEC/ICNIRP. Vì MPE nhìn chung được biểu thị bằng phơi nhiễm bức xạ\r\n(J·m-2) hoặc độ rọi (W·m-2), nên cần chuyển các giá trị\r\nMPE thành bức xạ (W·m-2·sr-1). Các giá trị bức xạ khi đó\r\nđược vẽ là hàm của bước sóng.
\r\n\r\nĐối với MPE được thể hiện là độ rọi, sử dụng\r\nphương pháp dưới đây để tính bức xạ. Bức xạ được xác định như sau:
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n (E.1) \r\n | \r\n
![](\"00919261_files/image044.jpg\")
trong đó Φ là công suất bức xạ, Ω là đơn vị\r\ngóc khối với đỉnh nằm trên mặt phẳng đo độ rọi, và A là diện tích mà trên đó\r\nxác định độ rọi. MPE thường được thể hiện dưới dạng độ rọi và được xác định như\r\nsau:
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n (E.2) \r\n | \r\n
![](\"00919261_files/image045.jpg\"){kind=small}
Thay công thức E.2 vào công thức E.1 ta có\r\nbức xạ là hàm của độ rọi:
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n (E.3) \r\n | \r\n
![](\"00919261_files/image046.jpg\"){kind=small}
Cần tìm góc khối Ω và góc quan sát θ. Thay\r\ncông thức dưới đây đối với Ω:
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n (E.4) \r\n | \r\n
![](\"00919261_files/image047.jpg\"){kind=small}
và giả thiết góc quan sát trường hợp xấu nhất\r\nkhi θ = 0° (người quan sát nhìn thẳng vào chùm tia). Công thức E.3 đơn giản\r\ncòn:
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n (E.5) \r\n | \r\n
![](\"00919261_files/image048.jpg\")
Đối với MPE được thể hiện bằng phơi nhiễm bức\r\nxạ, sử dụng phương pháp khác một chút. Phơi nhiễm bức xạ được xác định như sau:
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n (E.6) \r\n | \r\n
![](\"00919261_files/image049.jpg\")
trong đó Q là năng lượng bức xạ thể hiện bằng\r\nJun. Chia cho thời gian ta có
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n (E.7) \r\n | \r\n
![](\"00919261_files/image050.jpg\")
Vì công suất bức xạ được thể hiện là
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n (E.8) \r\n | \r\n
![](\"00919261_files/image051.jpg\"){kind=small}
Thay công thức E.8 vào công thức E.7 ta có
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n (E.9) \r\n | \r\n
![](\"00919261_files/image052.jpg\")
Trở lại công thức E.1, thay công thức E.9 ta\r\ncó
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n (E.10) \r\n | \r\n
![](\"00919261_files/image053.jpg\"){kind=small}
Lại thay công thức E.4 và giả thiết kịch bản\r\ntrường hợp xấu nhất θ = 0°, ta có
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n (E.11) \r\n | \r\n
![](\"00919261_files/image054.jpg\")
Đối với các tính toán, giả thiết rằng kịch\r\nbản trường hợp xấu nhất là góc trương 100 mrad đối với thời gian phơi nhiễm 100\r\ns. Các kết quả được liệt kê trong Bảng E.1 và được vẽ trên Hình E.1.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Bảng F.1 tổng hợp các đại lượng vật lý trong\r\ntiêu chuẩn này, và đưa ra các đơn vị (và ký hiệu cho đơn vị) được sử dụng cho\r\ntừng đại lượng. Các định nghĩa về đơn vị SI được lấy từ TCVN 7870-1 (ISO\r\n80000-1). Các đơn vị và ký hiệu được lấy từ IEC 60027-1. Bảng F.2 tổng hợp các\r\nyêu cầu của nhà chế tạo.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Chiều dài \r\n | \r\n \r\n mét \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Mét là chiều dài của quãng đường di chuyển\r\n của ánh sáng trong chân không trong khoảng thời gian 1/299 792 458 giây \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n milimét \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n 10-3 m \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n micromét \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n 10-6 m \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n nanomét \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n 10-9 m \r\n | \r\n
| \r\n Diện tích \r\n | \r\n \r\n mét vuônq \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n 1 m2 \r\n | \r\n
| \r\n Khối lượng \r\n | \r\n \r\n kilogam \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Khối lượng bằng khối lượng của nguyên mẫu\r\n quốc tế của kilogam \r\n | \r\n
| \r\n Thời gian \r\n | \r\n \r\n giây \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Tần số \r\n | \r\n \r\n héc \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Tần số của hiên tượng chu kỳ bằng một chu\r\n kỳ trong mỗi giây \r\n | \r\n
| \r\n Góc phẳng \r\n | \r\n \r\n radian \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Góc phẳng giữa hai bán kính của đường trong\r\n cắt chu vi một cung bằng chiều dài của bán kính \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n miliradian \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n 10-3 rad \r\n | \r\n
| \r\n Góc khối \r\n | \r\n \r\n steradian \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Góc khối có đỉnh nằm trên tâm hình cầu, cắt\r\n phần bề mặt của hình cầu bằng phần hình vuông có các cạnh chiều dài bằng bán\r\n kính hình cầu. \r\n | \r\n
| \r\n Lực \r\n | \r\n \r\n niu tơn \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n 1 m·kg·s-2 \r\n | \r\n
| \r\n Năng lượng \r\n | \r\n \r\n jun \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n 1 N·m \r\n | \r\n
| \r\n Phơi nhiễm bức xạ \r\n | \r\n \r\n jun trên mét vuông \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n 1 J·m-2 \r\n | \r\n
| \r\n Bức xạ tích hợp \r\n | \r\n \r\n jun trên mét vuông trên steradian \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n 1 J·m-2·sr-1 \r\n | \r\n
| \r\n Công suất \r\n | \r\n \r\n oát \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n 1 J·sr-1 \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n milioát \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n 10-3 W \r\n | \r\n
| \r\n Độ rọi \r\n | \r\n \r\n oát trên mét vuông \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n 1 W·m-2 \r\n | \r\n
| \r\n Bức xạ \r\n | \r\n \r\n oát trên mét vuông trên steradian \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n 1 J·m-2·sr-1 \r\n | \r\n
| \r\n CHÚ THÍCH: Để thuận tiện, bội số và ước số\r\n của đơn vị được đưa vào bảng khi thích hợp. \r\n | \r\n |||
| \r\n Yêu cầu \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||
| \r\n Mô tả cấp nguy hiểm \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||
| \r\n Vỏ bọc vệ \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Khóa liên động an toàn trong vỏ bảo vệ \r\n | \r\n \r\n Được thiết kế để ngăn việc tháo tấm chắn\r\n cho đến khi các giá trị phát xạ tiếp cận được thấp hơn mức đối với Cấp 3R \r\n | \r\n \r\n Được thiết kế để ngăn việc tháo tấm chắn\r\n cho đến khi các giá trị phát xạ tiếp cận được thấp hơn mức đối với Cấp 3B\r\n hoặc Cấp 3R \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Khóa liên động từ xa \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Cho phép dễ dàng bổ sung các khóa liên động\r\n bên ngoài trong lắp đặt bộ phát laser. Không yêu cầu đối với các sản phẩm Cấp\r\n 3B \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Đặt lại bằng tay \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Yêu cầu đặt lại bằng tay nếu công suất bị\r\n gián đoạn hoặc kích hoạt khỏa liên động từ xa \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Cơ cấu điều khiển bằng chìa khóa \r\n | \r\n \r\n Không yêu cầu \r\n | \r\n \r\n Laser bị mất hiệu lực khi chìa khóa bị rút\r\n ra \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Thiết bị cảnh báo phát xạ \r\n | \r\n \r\n Không yêu cầu \r\n | \r\n \r\n Đưa ra cảnh báo âm thanh hoặc hình ảnh khi\r\n bộ phát laser được bật hoặc nếu dây tụ điện của laser dạng xung được nạp. Đối\r\n với Cấp 3R, chỉ áp dụng nếu phát bức xạ không nhìn thấy \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Bộ suy giảm \r\n | \r\n \r\n Không yêu cầu \r\n | \r\n \r\n Đưa ra phương tiện chặn tạm thời chùm tia \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Vị trí đặt cơ cấu điều khiển \r\n | \r\n \r\n Không yêu cầu \r\n | \r\n \r\n Cơ cấu điều khiển được bố trí sao cho không\r\n có nguy hiểm phơi nhiễm với AEL cao hơn cấp 1 hoặc cấp 2 khi thực hiện việc\r\n điều chỉnh \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Thiết bị quang quang sát \r\n | \r\n \r\n Không yêu cầu \r\n | \r\n \r\n Phát xạ từ tất cả các hệ thống quan sát\r\n phải thấp hơn AEL Cấp 1 \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Quét bức xạ \r\n | \r\n \r\n Không quét được không được làm cho sản phẩm\r\n vượt quá phân loại của nó \r\n | \r\n |||||||||
| \r\n Nhãn các cấp \r\n | \r\n \r\n Nội dung yêu cầu \r\n | \r\n \r\n Hình 3 và Hình 4 và nội dung yêu cầu \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Nhãn lỗ mở \r\n | \r\n \r\n Không yêu cầu \r\n | \r\n \r\n Quy định nội dung yêu cầu \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Nhãn bức xạ đầu ra \r\n | \r\n \r\n Không yêu cầu \r\n | \r\n \r\n Nội dung yêu cầu \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Nhãn thông tin tiêu chuẩn \r\n | \r\n \r\n Yêu cầu trên sản phẩm hoặc trong thông tin\r\n cho người sử dụng \r\n | \r\n \r\n Nội dung yêu cầu \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Nhãn tiếp cận dịch vụ \r\n | \r\n \r\n Không yêu cầu \r\n | \r\n \r\n Yêu cầu khi thích hợp cho cấp bức xạ tiếp\r\n cận được \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Nhãn mất hiệu lực khóa liên động \r\n | \r\n \r\n Yêu cầu trong các điều kiện nhất định khi\r\n thlch hợp cho cấp của laser được sử dụng \r\n | \r\n |||||||||
| \r\n Nhãn dải bước sóng \r\n | \r\n \r\n Yêu cầu đối với các dải bước sóng nhất định \r\n | \r\n |||||||||
| \r\n Nhãn nguy hiểm bỏng \r\n | \r\n \r\n Nội dung yêu cầu khi AE tại điểm tiếp cận\r\n gần nhất với người (lỗ mở 3,5 mm) vượt quá AEL của Cấp 3B \r\n | \r\n \r\n Không áp dụng \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n Thông tin cho người sử dụng \r\n | \r\n \r\n Sổ tay vận hành phải có hướng dẫn cho việc\r\n sử dụng an toàn. Các yêu cầu bổ sung áp dụng cho Cấp 1M và Cấp 2M. \r\n | \r\n |||||||||
| \r\n Thông tin mua hàng và dịch vụ \r\n | \r\n \r\n Tài liệu giới thiệu sản phẩm phải quy định\r\n phân loại của sản phẩm; sổ tay bảo trì phải có thông tin về an toàn. \r\n | \r\n |||||||||
| \r\n Thông tin cho người sử dụng \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Đối với an toàn các sản phẩm laser y tế,\r\n cho phép áp dụng TCVN 7303-2-22 (IEC 60601-2-22) \r\n | \r\n ||||||||
| \r\n * CHÚ THÍCH: Bảng này được thiết kế để cung\r\n cấp tổng hợp các yêu cầu một cách thuận tiện. Xem nội dung của tiêu chuẩn này\r\n đối với các yêu cầu hoàn chỉnh. Do khái niệm cụ thể của Cấp 1C, các yêu cầu đối\r\n với các sản phẩm laser cấp 1C không được đưa vào bảng này; trong tiêu chuẩn\r\n này, hầu hết các yêu cầu chung được quy định; yêu cầu cụ thể kiểu sản phẩm\r\n được xác định trong các tiêu chuẩn cho sản phẩm. \r\n | \r\n ||||||||||
| \r\n | \r\n | \r\n | \r\n | \r\n | \r\n | \r\n | \r\n | \r\n | \r\n | \r\n |
\r\n\r\n
Các phần kết hợp của IEC 60825 được thiết kế\r\nđể sử dụng cùng với tiêu chuẩn cơ bản IEC 60825-1. Từng phần đề cập đến một\r\nphạm vi áp dụng xác định và cung cấp các hướng dẫn quy định và tham khảo bổ\r\nsung cho phép nhà chế tạo và người sử dụng phân loại đủng và sử dụng sản phẩm\r\ntheo cách an toàn bằng cách tính đến các điều kiện sử dụng cụ thể và năng\r\nlực/huấn luyện của người vận hành/người sử dụng. Thông tin đề cập có thể bao\r\ngồm lý do cơ bản, ví dụ, giải thích, phương pháp, ghi nhân, và các giới hạn và\r\nyêu cầu bổ sung bất kỳ. Xem Bảng G.1.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n Tiêu chuẩn \r\n | \r\n \r\n Phân loại thiết bị và yêu cầu \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 2 \r\n | \r\n \r\n Tiêu chuẩn \r\n | \r\n \r\n An toàn hệ thống truyền bằng cáp sợi quang\r\n (đưa ra chú thích và ví dụ về các ứng dụng) \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 3 \r\n | \r\n \r\n Báo cáo kỹ thuật \r\n | \r\n \r\n Hướng dẫn hiển thị và trình chiếu laser \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 4 \r\n | \r\n \r\n Tiêu chuẩn \r\n | \r\n \r\n Cơ cấu bảo vệ laser (cũng đề cập đến khả\r\n năng của các bộ phát laser công suất lớn để tháo vật liệu tấm bảo vệ) \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n Báo cáo kỹ thuật \r\n | \r\n \r\n Danh mục kiểm tra của nhà chế tạo theo IEC\r\n 60825-1 (thích hợp để sử dụng trong báo cáo về an toàn) \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 6 \r\n | \r\n \r\n Quy định kỹ thuật (hủy) \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 7 \r\n | \r\n \r\n Quy định kỹ thuật (hủy) \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 8 \r\n | \r\n \r\n Báo cáo kỹ thuật \r\n | \r\n \r\n Hướng dẫn sử dụng an toàn bộ phát laser y\r\n tế \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 9 \r\n | \r\n \r\n Báo cáo kỹ thuật \r\n | \r\n \r\n Giải thích phơi nhiễm lớn nhất cho phép với\r\n bức xạ quang rời rạc (các nguồn băng thông rộng) \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 10 \r\n | \r\n \r\n Báo cáo kỹ thuật (hủy) \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 12 \r\n | \r\n \r\n Tiêu chuẩn \r\n | \r\n \r\n An toàn của các hệ thống truyền quang trong\r\n không gian tự do được sử dụng để truyền thông tin \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 13 \r\n | \r\n \r\n Báo cáo kỹ thuật \r\n | \r\n \r\n Các phép đo để phân loại sản phẩm laser \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 14 \r\n | \r\n \r\n Báo cáo kỹ thuật \r\n | \r\n \r\n Hướng dẫn sử dụng \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 17 \r\n | \r\n \r\n Báo cáo kỹ thuật \r\n | \r\n \r\n Khía cạnh an toàn để sử dụng các thành phần\r\n quang thụ động và cáp quang trong hệ thống truyền thông bằng sợi quang công\r\n suất cao \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Bảng này được thiết kế để cung cấp các chỉ\r\n thị về nội dung - xem nội dung của tiêu chuẩn cụ thể để có các yêu cầu hoàn\r\n chỉnh. Một số phần được liệt kê trong bảng có thể đang được thảo luận bằng\r\n các ban kỹ thuật và có thể chưa được công bố chính thức. \r\n | \r\n |||||||||
[1] IEC 60027-1, Letters symbols to be\r\nused in electrical technology-Part 1: General (Ký hiệu bằng chữ cái được sử\r\ndụng trong công nghệ điện - Phần 1: Quy định chung)
\r\n\r\n[2] TCVN 6385 (IEC 60065), Thiết bị nghe,\r\nnhìn và thiết bị điện tử tương tự- Yêu cầu an toàn
\r\n\r\n[3] TCVN 10888 (IEC 60079) (all parts), Khí\r\nquyển nổ
\r\n\r\n[4] TCVN 10888-0:2015 (IEC 60079-0:2011), Khí\r\nquyển nổ - Phần 0: Thiết bị - Yêu cầu chung
\r\n\r\n[5] TCVN 12669-1 (IEC 60204-1), An toàn\r\nmáy - Thiết bị điện của máy- Phần 1: Yêu cầu chung
\r\n\r\n[6] TCVN 7303-2-22 (IEC 60601-2-22), Thiết\r\nbị điện y tế. Phần 2-22: Yêu cầu riêng về an toàn của thiết bị chẩn đoán và\r\nđiều trị bằng laze
\r\n\r\n[7] IEC 60825-2, Safety of laser products\r\n- Part 2: Safety of optical fibre communication systems (OFCS) (An toàn sản\r\nphẩm laser - Phần 2: An toàn của hệ thống truyền thông bằng cáp sợi quang\r\n(OFCS))
\r\n\r\n[8] IEC/TR 60825-3, Safety of laser\r\nproducts - Part 3: Guidance for laser displays and shows (An toàn sản phẩm\r\nlaser- Phần 3: Hướng dẫn hiển thị và trình diễn laser)
\r\n\r\n[9] IEC 60825-4, Safety of laser products\r\n- Part 4: Laser guards (An toàn sản phẩm laser-Phần 4: Tấm chắn bảo vệ laser)
\r\n\r\n[10] IEC/TR 60825-5, Safety of laser\r\nproducts - Part 5: Manufacturer's checklist for I EC 60825-1 (An toàn sản phẩm\r\nlaser- Phần 5: Danh mục kiểm tra của nhà chế tạo theo IEC 60825-1)
\r\n\r\n[11] IEC/TR 60825-8, Safety of laser\r\nproducts - Part 8: Guidelines for the safe use of laser beams on humans (An\r\ntoàn sản phẩm laser - Phần 8: Hướng dẫn sử dụng an toàn chùm tia laser trên\r\nngười)
\r\n\r\n[12] IEC/TR 60825-9, Safety of laser\r\nproducts - Part 9: Compilation of maximum permissible exposure to incoherent\r\noptical radiation (An toàn sản phẩm laser - Phần 9: Biên soạn tài liệu về phơi\r\nnhiễm lớn nhất cho phép đối với bức xạ quang cố hữu)
\r\n\r\n[13] IEC 60825-12, Safety of laser\r\nproducts - Part 12: Safety of free space optical communication systems used for\r\ntransmission of information (An toàn sản phẩm laser - Phần 12: An toàn của các\r\nhệ thống truyền thông quang trong không gian tự do để truyền thông tin)
\r\n\r\n[14] IEC/TR 60825-13, Safety of laser\r\nproducts - Part 13: Measurements for classification of laser products (An toàn\r\nsản phẩm laser- Phần 13: Phép đo để phân loại các sản phẩm laser)
\r\n\r\n[15] TCVN 12670-14 (IEC/TR 60825-14), An\r\ntoàn sản phẩm laser- Phần 14: Hướng dẫn sử dụng
\r\n\r\n[16] TCVN 7326 (IEC 60950) (all parts), Thiết\r\nbị công nghệ thông tin
\r\n\r\n[17] IEC 61010-1, Safety requirements for\r\nelectrical equipment for measurement, control, and laboratory use - Part 1:\r\nGeneral requirements (Yêu cầu về an toàn đối với thiết bị điện để đo, điều\r\nkhiển và sử dụng trong phòng thí nghiệm)
\r\n\r\n[18] IEC 61508 (all parts), Functional safety\r\nof electrical/electronic/programmable electronic safety- related systems (An\r\ntoàn về chức năng của các hệ thống điện/điện tử/điện tử lập trình được liên\r\nquan đến an toàn)
\r\n\r\n[19] TCVN 11332 (IEC 62115), Đồ chơi sử\r\ndụng điện - An toàn
\r\n\r\n[20] IEC 62368-1, Audio/video, information\r\nand communication technology equipment - Part 1: Safety requirements\r\n(Audio/video, thiết bị công nghệ thông tin và truyền thông - Phần 1: Yêu cầu về\r\nan toàn)
\r\n\r\n[21] IEC/ISO 11553 (all parts), Safety of\r\nmachinery - Laser processing machines (An toàn máy - Máy xử lý bằng laser)
\r\n\r\n[22] IEC/ISO 11553-1, Safety of machinery\r\n- Laser processing machines - Part 1: General safety requirements (An toàn máy-\r\nMáy xử lý bằng laser- Phần 1: Yêu cầu chung về an toàn)
\r\n\r\n[23] ISO 11146-1, Lasers and laser-related\r\nequipment- Test methods for laser beam widths, divergence angles and beam\r\npropagation ratios - Part 1: stigmatic and simple astigmatic beams (Bộ phát\r\nlaser và thiết bị liên quan đến laser - Phương pháp thử nghiệm độ rộng chùm tia\r\nlaser, góc phân kỳ và tỷ số lan truyền chùm tia)
\r\n\r\n[24] TCVN 7383 (ISO 12100), An toàn máy-\r\nKhái niệm cơ bản, nguyên tắc chung cho thiết kế
\r\n\r\n[25] ISO 13694, Optics and photonics -\r\nLasers and laser-related equipment - Test methods for laser beam power (energy)\r\ndensity distribution (Quang học và quang tử học - Bộ phát laser và thiết bị\r\nliên quan đến laser- Phương pháp thử nghiệm mật độ phân bố công suất (năng\r\nlượng) chùm tia laser)
\r\n\r\n[26] ISO 13849 (all parts), Safety of\r\nmachinery - Safety-related parts of control systems (An toàn máy- Các bộ phận\r\nliên quan đến an toàn của hệ thống điều khiển)
\r\n\r\n[27] ISO 15004-2:2007, Ophthalmic\r\ninstruments - Fundamental requirements and test methods - Part 2: Light hazard\r\nprotection (Thiết bị đo mắt - Yêu cầu cơ bản và phương pháp thử - Phần 2: Bảo vệ\r\nkhỏi nguy hiểm của ánh sáng)
\r\n\r\n[28] TCVN 7870-1 (ISO 80000-1), Đại lượng\r\nvà đơn vị - Phần 1: Quy định chung
\r\n\r\n[29] IEC Guide 104, The preparation of\r\nsafety publications and the use of basic safety publications and group safety\r\npublications (Chuẩn bị các tài liệu về an toàn và sử dụng các tài liệu an toàn\r\ncơ bản và các tài liệu an toàn theo nhóm)
\r\n\r\n\r\n\r\n
Lời nói đầu
\r\n\r\n1 Phạm vi áp dụng
\r\n\r\n2 Tài liệu viện dẫn
\r\n\r\n3 Thuật ngữ và định nghĩa
\r\n\r\n4 Nguyên tắc phân loại
\r\n\r\n5 Xác định mức phát xạ tiếp cận được và phân\r\nloại sản phẩm
\r\n\r\n6 Quy định kỹ thuật
\r\n\r\n7 Gắn nhãn
\r\n\r\n8 Các yêu cầu khác về thông tin
\r\n\r\n9 Yêu cầu bổ sung đối với các sản phẩm laser\r\ncụ thể
\r\n\r\nPhụ lục A (tham khảo) - Giá trị phơi nhiễm\r\nlớn nhất cho phép
\r\n\r\nPhụ lục B (tham khảo) - Các ví dụ tính toán
\r\n\r\nPhụ lục C (tham khảo) - Mô tả các cấp và các\r\nnguy hiểm liên quan tiềm ẩn
\r\n\r\nPhụ lục D (tham khảo) - Lưu ý về lý sinh
\r\n\r\nPhụ lục E (tham khảo) - MPE và AEL thể hiện\r\ndưới dạng bức xạ
\r\n\r\nPhụ lục F (tham khảo) - Các bảng tổng hợp
\r\n\r\nPhụ lục G (tham khảo) - Tổng quan các phần\r\nkết hợp của bộ tiêu chuẩn IEC 60825
\r\n\r\nThư mục tài liệu tham khảo
\r\n\r\n\r\n\r\n
\r\n\r\n
File gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 12670-1:2020 (IEC 60825-1:2014) về An toàn sản phẩm laser – Phần 1: Phân loại thiết bị và các yêu cầu đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 12670-1:2020 (IEC 60825-1:2014) về An toàn sản phẩm laser – Phần 1: Phân loại thiết bị và các yêu cầu
Tóm tắt
| Cơ quan ban hành | Đã xác định |
| Số hiệu | TCVN12670-1:2020 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 2020-01-01 |
| Ngày hiệu lực | |
| Lĩnh vực | Công nghiệp |
| Tình trạng | Còn hiệu lực |