Lời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 6892 : 2001 hoàn toàn tương đương\r\nvới ISO 11934 : 1997.
\r\n\r\nTCVN 6892 : 2001 do Ban kỹ thuật tiêu\r\nchuẩn TCVN/TC 85 “
Tiêu chuẩn này được chuyển đổi năm\r\n2008 từ Tiêu chuẩn Việt Nam cùng số hiệu thành Tiêu chuẩn Quốc gia theo quy định\r\ntại khoản 1 Điều 69 của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật và điểm a khoản 1\r\nĐiều 6 Nghị định số 127/2007/NĐ-CP ngày 1/8/2007 của Chính phủ quy định chi tiết\r\nthi hành một số điều của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Tiêu chuẩn này quy định yêu cầu đối với\r\nliều kế bỏ túi kiểu tụ điện và thiết bị đo phụ trợ khác dùng để đọc trực tiếp,\r\ngián tiếp liều bức xạ cá nhân của tia X và gamma.
\r\n\r\nPhép thử mô tả trong tiêu chuẩn này được\r\nthiết lập đối với các dụng cụ đo liều bức xạ cá nhân kết nối với thiết bị phụ\r\ntrợ do nhà sản xuất quy định.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH - Đặc trưng cơ, điện của các\r\nthiết bị phụ trợ thuộc phạm vi của Ủy ban\r\nKỹ thuật điện Quốc tế - IEC (Ban kỹ thuật 45).
\r\n\r\nTiêu chuẩn này không áp dụng cho liều\r\nkế bỏ túi đo liều bức xạ của nguồn bức xạ của các nguồn xung hoặc trường bức xạ\r\nhỗn hợp nơtron gama. Các liều kế được nêu trong tiêu chuẩn này không được sử dụng\r\ntrong các trường bức xạ với suất liều bức xạ vượt quá mức tối đa mà nhà sản xuất\r\nquy định.
\r\n\r\n\r\n\r\n- ISO 6980:1996, Re
- ISO 8529-3: Neutron re
- ISO 9227:1990, Corrosion tests in arti
- VIM:1993, International Vocabulary of Basic\r\nand General Terms in Metrology, ISO, OIM
\r\n\r\n\r\n\r\nTrong tiêu chuẩn này, áp dụng các định\r\nnghĩa được đưa ra trong VIM (xem điều 2) và các định nghĩa sau đây:
\r\n\r\n3.1. Liều kế bỏ túi kiểu tụ\r\nđiện đọc trực tiếp (Direct-reading capacitor-type pocket dosemeter)
\r\n\r\nThiết bị dùng để theo dõi liều bức xạ\r\ncá nhâ
Chú thích - Liều kế này là thiết bị gồm\r\nchủ yếu là một buồng ion hóa được nối với\r\nmột tụ điện. Tụ được tích điện bởi một thiết bị nạp được đặt trong hoặc ngoài liều\r\nkế, độ lệch điện tích được đọc qua hệ thống quang học theo thang được hiệu chuẩn\r\ntrước. Khi liều kế được chiếu xạ bởi bức xạ ion hóa\r\nthì quá trình ion hóa xảy ra trong buồng sẽ làm giảm điện tích trên tụ điện.
\r\n\r\n3.2. Liều kế bỏ túi kiểu tụ\r\nđiện đọc gián tiếp (Indirect-reading capacitor-type pocket dosemeter)
\r\n\r\nBuồng ion hóa bỏ túi kiểu tụ điện, nhờ nó mà liều bức xạ có thể đọc gián tiếp\r\nthông qua một thiết bị đo điện tách biệt.
\r\n\r\n3.3. Thử kiểu (Type test)
\r\n\r\nViệc thử một hay nhiều thiết bị được sản\r\nxuất theo một thiết kế nào đó xem có đáp ứng được những đặc tính kỹ thuật định\r\ntrước hay không
\r\n\r\n3.4. Đại lượng g
Đại lượng có liên quan đến các kết quả\r\nđo nhưng không phải là mục đích của phép đo [ISO 4037 - 3]
\r\n\r\n3.5. Đi
Tập hợp các đại lượng gây ảnh h
3.6. Đi
Một dải các giá trị của tập hợp các đại\r\nlượng gây ảnh hưởng mà trong đó sự hiệu chuẩn hoặc việc xác định độ đáp ứng được\r\nthực hiện. [ISO 4037 - 3]
\r\n\r\n3.7. Giá trị thực qui
Sự đánh giá tốt nhất của một đại lượng\r\nđược xác định bởi một chuẩn đầu hoặc chuẩn thứ hoặc bởi thiết bị tham chiếu đã\r\nđược hiệu chuẩn theo chuẩn đầu hoặc chuẩn thứ.
\r\n\r\n3.8. Độ đáp ứng của đầu\r\ndò/ detector (Response)
\r\n\r\nTỉ số giữa đại lượng được đánh giá bằng\r\nsố liệu đọc được của đầu dò so với giá trị thực qui ước của đại lượng này. [ISO\r\n4037 - 2]
\r\n\r\n3.9. Sai số chỉ thị (Error\r\nof indication)
\r\n\r\nSự sai khác giữa giá trị hiển thị của\r\nmột đại lượng cần đo với giá trị thực quy ước của đại lượng đó tại điểm quan\r\ntâm.
\r\n\r\n3.10. Sai số nội tương đối\r\n(Relative intrinsic error)
\r\n\r\nTỉ số của sai số chỉ thị của một đại\r\nlượng với giá trị thực quy ước của đại lượng đó, được đo đối với bức xạ chuẩn d
3.11. Đại lượng hiệu chuẩn\r\n(Calibration quantity)
\r\n\r\nĐại lượng vật lý được dùng để thiết lập\r\ncác đặc trưng của liều kế.
\r\n\r\n3.12. Hệ s
Tỉ số giữa giá trị thực quy ước của đại\r\nlượng mà liều kế định đo và giá trị hiển thị.
\r\n\r\n3.13. Kerma, K (Kerma, K)
\r\n\r\nTỉ số của dE
Trong SI, đơn vị của kerma là jun trên\r\nkilogam. Tên riêng của đơn vị của kerma là gray (Gy).
\r\n\r\nChú thích 1 - Kerma không khí, Ka,\r\nlà
Chú thích 2 - Với năng lượng photon nh
3.14. Liều hấp thụ, D\r\n(Absorbed dose, D)
\r\n\r\nTỷ số d
Chú thích - Khi định giá trị
3.15. Tương đương liều, H\r\n(Dose equivalent, H)
\r\n\r\nTích của Q và D tại một điểm trong mô,\r\ntrong đó D là liều hấp thụ và Q là hệ số phẩm chất tại điểm đó.
\r\n\r\nTrong SI, đơn vị của tương đương liều\r\nlà Jun trên kilogam. Tên riêng của đơn vị này sivơ (Sv).
\r\n\r\nChú thích - Đối với bức xạ tia X,\r\ngamma và tia beta, hệ số phẩm chất Q bằng 1.
\r\n\r\n3.16. Tương
Tương đương liều trong mô mềm ở một độ\r\nsâu thích hợp d dưới một điểm được chỉ ra trong cơ thể.
\r\n\r\nTrong SI, đơn vị của liều cá nhân là\r\nJun trên kilogam, tên riêng là sivơ (Sv).
\r\n\r\n3.17. Tương
Đại lượng H*(d) tại một điểm trong trường\r\nbức xạ tạo bởi một trường bức xạ định hướng và mở rộng tương ứng trong một khối\r\ncầu ICRU tại độ sâu d trên bán kính ngược với hướng của trường xạ.
\r\n\r\nTrong SI,
Chú thích - Đối với trường bức xạ đâm\r\nxuyên mạnh, độ sâu 10 mm được khuyến cáo sử dụng. Tương đương liều môi tr
4.1. Điều kiện tham chiếu
\r\n\r\nĐiều kiện tham chiếu cho liều kế bỏ\r\ntúi kiểu tụ điện đọc gián tiếp hoặc trực tiếp theo ISO 4037 - 3 là:
\r\n\r\n- Nhiệt độ T = 20 °C;
\r\n\r\n- Độ ẩm tương đối R.H. = 65 %;
\r\n\r\n- Áp suất khí quyển p = 101,3 kPa;
\r\n\r\n- Phông bức xạ: suất tương đương liều môi trường\r\nlà H* (10) ≤
4.2. Điều kiện thử nghiệm\r\ntiêu chuẩn
\r\n\r\nTrừ các phép thử nhiệt độ và độ ẩm,\r\ncác điều kiện tiêu chuẩn thử nghiệm phải phù hợp với ISO 4037-2:
\r\n\r\n- Nhiệt độ T: từ 18 °
- Độ ẩm tương đối R.H: từ 50 % đến 75 %;
\r\n\r\n- Áp suất khí quyển p: từ 86 kPa đến 106 kPa;
\r\n\r\n- Phông bức xạ: suất tương đương liều môi trường\r\nH* (10) < 0,25 mSv/h.
\r\n\r\nPhải ghi rõ các điều kiện thực tế này\r\ntrong báo cáo thử nghiệm. Các điều kiện này không được thay đổi quá lớn hoặc\r\nquá nhanh trong một loạt phép đo.
\r\n\r\nKhi buồng ion hóa của liều kế không kín, giá trị số đọc của liều kế này phải được\r\nhiệu chuẩn theo các điều kiện nhiệt độ và áp suất chuẩn bằng cách nhân nó với hệ\r\nsố (pre
4.3. Đi
Bức xạ tham chiếu được sử dụng phải được\r\nchọn trong bảng 1 (6.2.9). Đại lượng hiệu chuẩn phải được đo bằng thiết bị đối\r\nchứng, thiết bị này được hiệu chuẩn trong các chùm tia tham chiếu có khả năng đọ\r\nvới chuẩn quốc gia.
\r\n\r\nTrừ trường hợp thử nghiệm đặc biệt,\r\nchiếu xạ phải theo hướng vuông góc với trục chính của liều kế.
\r\n\r\nKhoảng cách từ “nguồn đến liều kế” là\r\nkhoảng cách từ nguồn điểm tương đương đến tâm hình học của vùng thể tích nhạy bức\r\nxạ của liều kế. Khi liều kế được hiệu chuẩn trên hình nộm thì phải đặt vị trí mặt\r\nsau của nó tiếp xúc với hình nộm.
\r\n\r\nNếu sử dụng nguồn phóng xạ để chiếu\r\nthì khoảng thời gian chiếu xạ phải lớn hơn ít nhất là 100 lần khoảng thời gian\r\ndi chuyển của nguồn phóng xạ. Nếu điều kiện này không đạt thì lượng chiếu xạ ảnh\r\nhưởng gây ra bởi sự di chuyển của nguồn\r\nphải được xác định.
\r\n\r\nPhòng chiếu xạ và các thiết bị hiệu\r\nchuẩn phải đạt các quy định kỹ thuật sau đây:
\r\n\r\na) Bàn và các giá đỡ phải được làm bằng vật\r\nliệu có chỉ số nguyên tử thấp và phải có khối lượng tối thiểu.
\r\n\r\nb) Nếu một số liều kế được chiếu xạ đồng\r\nthời thì khoảng cách giữa chúng phải sao cho sự ảnh hưởng lẫn nhau đối với số đọc của chúng là nhỏ nhất. Sự khác nhau\r\nvề số đọc của một liều kế được chiếu xạ cùng với các liều k
c) Để các liều kế có cùng một giá trị đại\r\nlượng hiệu chuẩn thì giá đỡ của chúng phải được đặt trên cùng một đường đẳng suất\r\nliều. Nếu tính đồng nhất không đạt thì có thể quay giá đỡ xung quanh nguồn\r\nphóng xạ.
\r\n\r\n\r\n\r\nĐối với hầu hết các phép thử, đại lượng\r\nchuẩn sẽ là kerma không khí hoặc liều hấp thụ trong mô, miễn là phù hợp với một\r\nloại bức xạ cụ thể. Tuy nhiên, đối với các phép thử về sự phụ thuộc của độ đáp ứng\r\ncủa liều kế vào năng lượng bức xạ và góc tới của chùm tia thì kết quả phải được\r\nbáo cáo là đại lượng tương đương liều cá nhân.
\r\n\r\n6.1. Yêu c
Các yêu cầu sau đây phải được áp dụng\r\ncho tất cả các phép thử nghiệm:
\r\n\r\na) Các phép thử nghiệm luôn phải được thực\r\nhiện trên một số liều kế được chọn ngẫu nhiên từ một lô.
\r\n\r\nb) Để tránh những bất định gây nên b
c) Đối với liều kế đọc trực tiếp thì độ lớn\r\ncủa thang đo và số vạch chia thang phải cho phép đọc được một giá trị tương ứng\r\nvới 2 % giá trị của toàn thang đo.
\r\n\r\nd) Đối với liều kế đọc gián tiếp,\r\nviệc đọc số đọc theo tín hiệu số hay tín hiệu chỉ kim phải cho phép
e) Liều kế phải có khả năng điều chỉnh về\r\n"0" trong khoảng giá trị tương ứng với 2 % giá trị của
f) Đối với tất cả các phép thử nghiệm, một\r\nnguồn bức xạ tham chiếu phải được lựa chọn trong b
6.2. Thử nghiệm với bức xạ\r\ntia X hoặc tia gamma
\r\n\r\n6.2.1. Độ ổn định
6.2.1.1. Yêu c
Độ rò rỉ của điện tích không\r\nđược gây nên độ lệch của điểm “0”
Đối với các liều kế đọc trực\r\ntiếp: sự thay đổ
Đối với các liều kế đọc gián tiếp: Sự\r\nthay đổi số đọc không được vượt quá 2 % giá trị của toàn thang đo khi nối lại\r\nliều kế đã được nạp đủ với thiết bị đọc.
\r\n\r\n6.2.1.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nChỉnh một lô 10 liều kế về "0",\r\ngiữ chúng trong điều kiện thử nghiệm tiêu chuẩn và đọc giá trị đo r
Nếu giá trị lớn nhất của thang đo của\r\nliều kế, rmax
Các liều kế đọc trực tiếp: chỉnh 10 liều\r\nkế về "0", ngắt nguồn và đọc ngay giá trị
Các liều kế đọc gián tiếp: Nạp điện\r\ncho 10 liều kế, ngắt chúng khỏi thiết bị nạp, ngay sau đó nối lại và
Tính độ lệch d
d
6.2.2. Độ ổn định của số đọc
\r\n\r\n6.2.2.1. Yêu cầu
\r\n\r\nSau một khoảng thời gian 8 giờ giữa thời\r\nđiểm chiếu xạ và thời điểm đọc, các số đọc của liều kế không được khác nhau quá 2 %\r\ngiá
6.2.2.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nChiếu xạ 10 liều kế tới giá trị đọc nằm\r\ntrong khoảng từ 50 % đến 85 % giá trị lớn nhất của toàn thang đo. Đọc ngay các\r\ngiá trị r0 và sau đó đọc lại các giá trị này
Đối với mỗi liều kế, tính độ lệch\r\ntương đối di
d
6.2.3. Độ lặp lại
\r\n\r\n6.2.3.1. Yêu cầu
\r\n\r\nĐộ lặp lại của phép đo phải được xác định\r\nbằng cách sử dụng cùng một liều kế được chiếu xạ trong cùng một điều kiện đồng\r\nnhất bao gồm cả phòng thí nghiệm và người vận hành.
\r\n\r\nKết quả của thử nghiệm độ lặp lại cho\r\nmỗi liều kế phải sao cho:
\r\n\r\n2s /<
là số đọc trung bình của liều kế được\r\nlấy làm mẫu và s là độ lệch chuẩn.
6.2.3.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nChỉnh 3 liều kế về "0". Chiếu\r\nxạ các liều kế này tới giá trị đọc nằm trong khoảng từ 50 % đến 85 % giá trị của\r\ntoàn thang đo. Đọc giá trị ri, sau đó điều chỉnh lại về 0. Lặp lại phép thử nghiệm 10\r\nlần.
\r\n\r\nTính giá trị trung bình
![](\"00911780_files/image002.gif\"){kind=small}
6.2.4
6.2.4.1
Độ đồng nhất của lô phải\r\nđược xác định bằng cách quan sát sự biến đổi số đọc của các liều k
Kết quả thử nghiệm độ đ
2s / ![](\"00911780_files/image001.gif\"){kind=small}
<\r\n0,1, trong đó là s
6.2
Chiếu xạ 10 liều kế một lượng bức xạ từ\r\nkhoảng 50 % đến 85 % giá trị của toàn thang đo và đọc các giá trị (r
Tính giá trị trung bình của các s và tính độ lệch chuẩn s:
6.2.5. Giới hạn phát hiện dướ
6.2.5.1. Yêu cầu
\r\n\r\nĐối với liều kế bỏ túi kiểu tụ điện,\r\ngiới hạn phát hiện dưới được xác định bởi giá trị thấp nhất của thang đo và có\r\nthể phân biệt bằng sự thăng giáng của phông bức xạ trong một khoảng
Sau một loạt chiếu xạ với lượng bức xạ\r\nliều tương ứng vớ
6.2.5.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nChỉnh 10 liều kế càng về gần "0"\r\ncàng tốt và đọc các giá trị r0
Tính sự sai khác tuyệt đối giữa 2 sr, và độ lệch chuẩn s:
![](\"00911780_files/image006.gif\"){kind=small}
Giới hạn phát hiện dưới rm
Để thử nghiệm độ
6.2.6. Sai số nội t
6.2.6.1. Yêu c
Sai số nội tương đối / không được vượt\r\nquá 10 %
\r\n\r\n6.2.6.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nChỉnh 10 liều kế về giá trị
Tính sai số nội tương đối
Ii = 100 (ri - r0)/r0
\r\n\r\ntrong đó r0 là giá\r\ntrị thực quy ước của đại lượng bức xạ được dùng để chiếu xạ, r
6.2.7. Độ tuyến tính
\r\n\r\n6.2.7.1. Yêu c
Để kiểm tra độ tuyến tính, hệ số biến đổi,
6.2.7.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nTính giá trị trung bình,
Hệ số biến đổi là
6.2.8. Hiệu ứng nhớ
\r\n\r\n6.2.8.1. Yêu cầu
\r\n\r\nSau khi chiếu xạ đột ngột liều kế với\r\nliều cao, sự trôi gây nên bởi dòng rò không được vượt quá 20 % giá trị của toàn\r\nthang đo trong khoảng thờ
6.2.8.2. Quy
Chọn 3 liều kế đã được thử nghiệm sự ổn\r\nđịnh tại "0" (6.2.1), rồi chiếu xạ chúng một lần với giá trị lượng bức\r\nxạ tương ứng k lần giá trị toàn thang đo, k thường vào khoảng 50.
\r\n\r\nViệc chiếu xạ phải được thực hiện trong\r\nthời gian lớn hơn 1 h và không quá 5 h và với suất liều bức xạ không được vượt\r\nquá giới hạn suất liều do nhà sản xuất quy định.
\r\n\r\nMột giờ sau khi kết thúc chiếu xạ, chỉnh\r\nlại liều kế về "0" và giữ trong điều kiện thử nghiệm tiêu chuẩn. Đọc các giá trị\r\nr
Tính độ trôi
S = 100 r
6.2.9. Sự phụ thuộc năng lượng\r\ncủa độ đáp ứng
\r\n\r\n6.2.9.1. Yêu cầu chung
\r\n\r\nĐây là phép thử nghiệm nhằm xác định độ\r\nđáp ứng của liều kế với bức xạ tia X và gamma, như một hàm của n
Vì các liều kế bỏ túi được sử dụng như\r\nnhững liều kế cá nhân, việc thử nghiệm độ đáp ứng năng lượng cần phải được thực\r\nhiện trong các điều kiện của cơ quan nhận cảm. Các liều kế phải được chiếu xạ ở\r\nmặt trướ
Liều kế thử nghiệm phải được đặt theo\r\ntư thế mà sẽ dùng trong thực tế, tâm của vùng thể tích nhạy bức xạ phải trùng với\r\nđiểm P
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
6.2.9.2. Yêu cầu
\r\n\r\nĐộ đáp ứng của liều kế với bất kỳ năng\r\nlượng bức xạ nào lấy từ bảng 1, trong đó dải năng lượng hữu ích đã được quy định\r\nbở
Đối với liều kế định sử dụng trong dải\r\nnăng lượng từ 3 MeV đến 10 MeV thì độ đáp ứng bức xạ phải nằm trong phạm vi từ\r\n- 50 % đến +100 % độ đáp ứng của bức xạ tham chiếu hiệu chuẩn E
6.2.9.3. Quy
Thực hiện liên tiếp công việc sau với\r\n3 liều kế khác nhau
\r\n\r\nĐặt tâm liều kế thể tích nhạy bức xạ của\r\nvào điểm hiệu chuẩn P
Tính độ đáp ứng R(Ek)\r\nđối với mỗi năng lượng Ek:
\r\n\r\nR(Ek)\r\n= r(
Xác định độ lệch của độ đáp ứng d(Ek)\r\ncho mỗi năng lượng Ei
d(Ek)\r\n= 100 [R(Ek)/R(Er)\r\n- 1]
\r\n\r\ntrong đó
6.2.10. Sự phụ thuộc góc của\r\nđộ đáp ứng
\r\n\r\n6.2.10.1. Yêu cầu
\r\n\r\nĐây là phép thử để xác định độ nhạy\r\ntheo góc của các liều kế với các năng lượng photon trong bảng 2, nằm trong phạm\r\nvi dải năng lượng hữu ích được nhà sản xuất quy định.
\r\n\r\nTrong khoảng từ 0
6.2.10.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nĐặt liều kế trên mặt trước hình nộm nước\r\nISO, giống như cách thử nghiệm độ đáp ứng năng lượng trong 6.2.9. Chiếu chùm\r\ntia vuông góc với liều kế với một giá trị thực quy ước của tương đương liều cá nhân Hp(10),\r\nkhoảng 50 % đến 80 % giá trị của toàn thang đo, đọc giá trị r0° sau\r\nđó chỉnh về 0. Quay hình nộm trình tự theo chiều kim đồng h
Tính các tỉ số r
![](\"00911780_files/image013.gif\")
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||
| \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n N-40 \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n N-60 \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n N-80 hoặc 241Am \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 137 | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 60Co \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
6.3. Thử nghiệm độ ẩm và\r\nnhiệt độ
\r\n\r\n6.3.1. Yêu cầu
\r\n\r\nNhiệt độ: trong dải nhiệt độ từ -10 °
Độ ẩm: ở nhiệt độ 35 °
6.3.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nDùng thiết bị thử nghiệm thích hợp v
Giữ các liều kế này trong 1 h
Ghi lại các gi
Các thử nghiệm này phải được tiến hành\r\nvới một lô 10 liều kế, mỗi liều kế phải được\r\ntiến hành theo trình tự sau:
\r\n\r\n- Ở độ ẩm tương đối bằng 65 %, tại nhiệt độ 10\r\n°C
- Ở độ ẩm tương đối bằng 90 %, tại nhiệt độ 35\r\n°C
\r\n\r\n- Các số đọc r
Đối với các liều kế sử dụng
Tính tỉ số:
\r\n\r\nr-25
6.4. Thử nghi
6.4.1. Thử nghiệm r
6.4.1.1. Yêu c
Liều kế phải chịu được va chạm do bị\r\nrơi mà không ảnh hưởng đến số đọc để nó vượt quá 10 % giá trị của toàn thang\r\nđo. Sau phép thử nghiệm này, liều kế vẫn phải hoạt động chính xác.
\r\n\r\n6.4.1.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nLiều kế phải được đỡ bởi một thiết bị\r\ncó thể thả ra đột ngột, và rơi với vận tốc ban đầu bằng 0 lên một bề mặt bằng gỗ\r\ncứng, ví dụ gỗ sồi dầy 5 cm, đặt trên bệ bê tông. Độ cao từ điểm thấp nhất của liều\r\nkế tới bề mặt trên của tấm gỗ có thể là 1,5 m.
\r\n\r\na) Chiếu 10 liều k
b) Để cho mỗi liều kế rơi xuống 2 lần và\r\nđọc lại kết quả đo, r
c) Tính độ lệch d
d) Chỉnh lại liều kế về 0, chiếu xạ chúng\r\nvới một liều như trên rồi đọc r2
e) Tính độ lệch d2
6.4.2. Thử nghiệm rung
\r\n\r\n6.4.2.1. Yêu cầu
\r\n\r\nGiá trị đọc trung bình của liều kế sau\r\nthử nghiệm rung không được thay đổi so với giá trị đọc ban đầu quá 10 % giá tr
6.4.2.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nChiếu xạ một lô 10 liều kế tới một giá\r\ntrị liều bằng 80 % giá trị của toàn thang đo và đọc giá trị r0
Áp một tải dao động đi
10
Tính giá trị trung bình r
d1 = (r
d2 = (r2\r\n- r
d3 =
Trong đó rmax là giá\r\ntrị lớn nhất của toàn thang đo.
\r\n\r\nGhi nhận qua kiểm tra bằng mắt bất cứ\r\nsự sai hỏng nào.
\r\n\r\n6.4.3. Thử nghi
6.4.3.1. Yêu c
Nhúng vào nước
6.4.3.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nChiếu xạ một lô 10 liều kế tại với liều\r\nbằng 80 % giá trị của toàn thang đo và đọc r0
Nhúng liều kế vào nước ở độ sâu 30 cm\r\ntrong 2 h. Lấy liều kế ra khỏi nước, làm khô và đọc, r
Tính độ lệch
d
6.4.4. Áp suất khí quyển
\r\n\r\n6.4.4.1. Yêu cầu
\r\n\r\nMột liều kế kín phải đạt được các yêu\r\ncầu về độ chính xác được quy định ở 6.2.6. Liều kế không kín phải chịu được các\r\nthay đổi tương tự khi số đọc được hiệu chỉnh theo mật độ không khí.
\r\n\r\n6.4.4.2. Quy
Chọn một lô 10 liều kế, đã đạt yêu cầu\r\nthử nghiệm sai số nội tương đối (6.2.6). Dùng thiết b
p0
p
p2
Nhiệt độ phải ứng với các nhiệt độ\r\ntrong các điều kiện thử nghiệm tiêu chuẩn (xem 4.2). Đọc r
Tính độ lệch d
d
6.5. Thử nghi
6.5.1. Phun muối
\r\n\r\n6.5.1.1. Yêu cầu
\r\n\r\nSau khi thử nghiệm phun muối, liều kế\r\nphải đạt các yêu cầu thử nghiệm độ đồng nhất của lô được quy định ở 6.2.4.
\r\n\r\n6.5.1.2. Quy trình kiểm tra
\r\n\r\nĐặt liều kế vào buồng phun theo ISO\r\n9227.
\r\n\r\n100 giờ trong vòng 1 tuần, phun dung dịch\r\nNaCI với nồng độ 50 g/ lít ở 35 °C. Thời gian còn lại của tuần đó (68 h) không phun nh
Rửa các liều kế bằng nước, làm khô\r\ntrong không khí ở 20 °C
6.5.2. Tẩy xạ
\r\n\r\n6.5.2.1. Yêu cầu
\r\n\r\nĐộ lưu nhiễm phóng xạ của các liều kế\r\nphải càng thấp càng tốt. Tất cả mặt ngoài của liều kế phải cứng và nh
6.5.2.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nChỉnh 3 liều kế về "0" và đọc\r\nsố đọc phông r0,i của chúng sau 1 h.
\r\n\r\nGây nhiễm xạ từng liều kế bằng
Tẩy sạch các liều kế theo chỉ dẫn của\r\nnhà sản xuất.
\r\n\r\nĐiều chỉnh về "0" và đọc số\r\nđọc phông r1,i
So sánh các số đọc r
6.6. Độ đáp ứng đối với bức\r\nxạ beta
\r\n\r\n6.6.1. Yêu c
Độ nhạy của liều kế đối với bức xạ\r\nbeta phải nêu trước.
\r\n\r\n6.6.2. Quy trình thử nghi
Chỉnh 5 liều kế về "0" và\r\nchiếu xạ chúng tớ
Tính độ đáp /
6.7. Độ đáp ứng đối với\r\nnơtron
\r\n\r\n6.7.1. Yêu cầu
\r\n\r\nĐộ đáp ứng của liều kế đối với nơtron\r\nphải được nêu trước.
\r\n\r\n6.7.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nChỉnh 5 liều kế về "0" và\r\nchiếu xạ chúng tới ít nhất 20 % giá trị của toàn thang đo bằng một nguồn 24
Tính độ đáp ứng R = là\r\ngiá trị trung bình của ri.
7. Nhãn và nội dung của\r\nnhãn
\r\n\r\nLiều kế bỏ túi kiểu tụ điện đọc gián\r\ntiếp hoặc trực tiếp phải có nhãn mác và thông tin sau:
\r\n\r\na) Kiểu liều kế và mã số phân biệt;
\r\n\r\nb) Đơn vị liều bức xạ được dùng để đo.\r\nThang đo của liều kế phải được ghi tương ứng đo bằng
c) Kín hoặc không kín;
\r\n\r\nd) Dải năng lượng làm việc của liều kế;
\r\n\r\ne) Điểm tham chiếu chỉ tâm phần nhạy để\r\nxác định khoảng cách từ nguồn đến đầu dò.
\r\n\r\n8. Chứng nhận
\r\n\r\nChứng chỉ phải đi kèm theo mỗi lô liều\r\nkế và phải bao gồm các thông tin sau:
\r\n\r\na) Tên của nhà sản xuất và thương hiệu\r\nđăng ký;
\r\n\r\nb) Kiểu và số sêri của các liều kế trong\r\nmột lô, viết theo dạng bảng kê danh mục;
\r\n\r\nc) Ghi rõ là liều kế kín hay không kín. Với\r\ncác liều kế không kín, phải cung cấp đồ thị hoặc công
d) Điện thế yêu cầu để nạp các liều kế;
\r\n\r\ne) Vị trí và kích thước của thể tích nhạy\r\n(vị trí tham chiếu của tâm thể tích vùng nhạy phải được đánh dấu trên chính các\r\nliều kế nhằm mục đích hiệu chuẩn);
\r\n\r\nf) Vật liệu của vỏ bọc thể tích nhạy và độ\r\ndày của nó được tính theo miligam trên centimet vuông;
\r\n\r\ng) Dải đo của liều kế và đại lượng đo của\r\nnó như kerma không khí hoặc kerma mô hoặc tương đương liều cá nhân;
\r\n\r\nh) Giới hạn phát hiện dưới bức xạ được\r\nxác định từ thử nghiệm ở
i) Dải năng lượng của liều kế gồm năng lượng\r\nthấp nhất tại đó độ đáp ứng là 50 % giá trị danh định và sự phụ thuộc năng lượng\r\ncủa độ đáp ứng đó, như đã được xác định từ việc kiểm tra
j) Độ đáp ứng theo góc như được xác định\r\ntừ thử nghiệm ở 6.2.10 nếu liều kế đo tương tương liều
k) Suất liều tối đa cho liều kế tại đó\r\nhệ số hiệu chuẩn đối với bức xạ tham chiếu quy định vẫn nằm
I) Hệ số hiệu chuẩn ứng với bức xạ\r\ntham chiếu được ghi trong bảng kê cho các liều kế ở trong một
m) Cảnh báo về các giới hạn độ tin cậy\r\ntrong trường hợp suất liều cao và ở trường hỗn hợp. Năng lượng tối thiểu cho độ\r\nđáp ứng 50 % đối với bức xạ beta và độ nhạy đối với nơtron được đo ở trong các\r\nmục kiểm tra 6.6 và 6.7;
\r\n\r\nn) Các quy trình đọc bao gồm cả vị trí\r\ncủa liều kế;
\r\n\r\no) Các thông tin khác: độ kín, các biện\r\npháp tẩy xạ.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Từ khóa: Tiêu chuẩn Việt Nam TCVN6892:2001, Tiêu chuẩn Việt Nam số TCVN6892:2001, Tiêu chuẩn Việt Nam TCVN6892:2001 của Bộ Khoa học Công nghệ và Mội trường, Tiêu chuẩn Việt Nam số TCVN6892:2001 của Bộ Khoa học Công nghệ và Mội trường, Tiêu chuẩn Việt Nam TCVN6892:2001 của Bộ Khoa học Công nghệ và Mội trường, TCVN6892:2001
File gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6892:2001 (ISO 11934 : 1997) về An toàn bức xạ – Bức xạ Gamma và tia X – Liều kế bỏ túi kiểu tụ điện đọc gián tiếp hoặc trực tiếp đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6892:2001 (ISO 11934 : 1997) về An toàn bức xạ – Bức xạ Gamma và tia X – Liều kế bỏ túi kiểu tụ điện đọc gián tiếp hoặc trực tiếp
Tóm tắt
| Cơ quan ban hành | Bộ Khoa học Công nghệ và Mội trường |
| Số hiệu | TCVN6892:2001 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 2001-01-01 |
| Ngày hiệu lực | |
| Lĩnh vực | Hóa chất |
| Tình trạng | Còn hiệu lực |