Nuclear energy -\r\nRadiation protection - Individual thermoluminescencedosemeters for extremities\r\nand eyes
\r\n\r\nLời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 7174 : 2002 hoàn toàn tương đương với\r\nISO 12794 : 2000.
\r\n\r\nTCVN 7174 : 2002 do Ban kỹ thuật Tiêu chuẩn\r\nTCVN/TC 85 “Năng lượng hạt nhân” biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng\r\nđề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ ban hành.
\r\n\r\nTiêu chuẩn này được chuyển đổi năm 2008 từ\r\nTiêu chuẩn Việt Nam cùng số hiệu thành Tiêu chuẩn Quốc gia theo quy định tại\r\nkhoản 1 Điều 69 của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật và điểm a khoản 1\r\nĐiều 6 Nghị định số 127/2007/NĐ-CP ngày 1/8/2007 của Chính phủ quy định chi\r\ntiết thi hành một số điều của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật.
\r\n\r\n\r\n\r\n
NĂNG LƯỢNG HẠT NHÂN -\r\nAN TOÀN BỨC XẠ - LIỀU KẾ NHIỆT PHÁT QUANG DÙNG CHO CÁ NHÂN ĐỂ ĐO LIỀU BỨC XẠ\r\nCÁC ĐẦU CHI VÀ MẮT
\r\n\r\nNuclear energy -\r\nRadiation protection - Individual thermoluminescencedosemeters for extremities\r\nand eyes
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này quy định các chuẩn cứ về tính\r\nnăng và phép thử để xác định tính năng của liều kế nhiệt phát quang dự định\r\ndùng để đo liều bức xạ cho mắt và các đầu chi (các ngón tay, và các chi được\r\nxác
\r\n\r\nđịnh như bàn tay, bàn chân, cẳng tay bao gồm\r\nkhuỷu tay, và cẳng chân bao gồm xương bánh chè) đối với photon từ 15 keV đến 3\r\nMeV và bức xạ bêta từ 0,5 MeV đến 3 MeV. Tiêu chuẩn này quy định điều kiện để\r\nsử dụng một hệ đọc, các quy trình và thiết bị phụ trợ thích hợp. Tiêu chuẩn này\r\nkhông bao gồm việc tiếp cận thông tin và xử lý số liệu.
\r\n\r\nTiêu chuẩn này quy định các chuẩn cứ về tính\r\nnăng và phép thử cho các liều kế dự định dùng để đo tương đương liều ở độ sâu 7\r\nmg.cm-2 trong mô ngón tay và các chi; và 300 mg.cm-2\r\ntrong mô mắt, bao gồm cả quy định đối với việc sử dụng các liều kế dự định chỉ\r\ndùng một lần. Các phantom và hệ số chuyển đổi liều thích hợp được khuyến cáo sử\r\ndụng, nhưng không loại bỏ các loại khác.
\r\n\r\nTrong mọi trường hợp, tính năng được đánh giá\r\ntrong điều kiện phòng thí nghiệm mà các điều kiện này có thể không mô phỏng đầy\r\nđủ các điều kiện thực tế xảy ra khi đo liều cá nhân. Ví dụ, có thể cần khử\r\nkhuẩn các liều kế đối với ứng dụng y tế. Do đó, cần chú ý khi áp dụng những kết\r\nquả của các phép thử tính năng này trong hoàn cảnh thực tế.
\r\n\r\n\r\n\r\nTCVN 6398-0 : 1998, Đại lượng và đơn vị -\r\nPhần 0: Nguyên tắc chung (ISO 31 - 0 : 1992, Quantities and units - Part 0:\r\ngeneral principles).
\r\n\r\nISO 4037-3 :1999 X and gamma reference\r\nradiation for calibrating dosemeters and doserate meters and for determining\r\ntheir response as a function of photon energy - Part 3: Calibration of area and\r\npersonal dosemeters and the measurement of their response as a function of\r\nenergy and angle of incidence (Tia X và bức xạ Gamma tham chiếu để chuẩn hoá\r\ncác liều kế và máy đo suất liều và để xác định đường đặc trưng của chúng theo\r\nhàm số của năng lượng photon - Phần 3: Hiệu chuẩn các liều kế đo bề mặt và cá\r\nnhân và đo đường đặc trưng của chúng theo hàm số của năng lượng và góc tới).
\r\n\r\nISO 6980, Reference beta radiations for\r\ncalibrating dosimeters and dose-rate meters and for determining their response\r\nas a function of beta-radiation energy (Bức xạ bêta tham chiếu để hiệu chuẩn\r\ncác liều kế và máy đo suất liều và để xác định đường đặc trưng theo hàm số của\r\nnăng lượng bức xạ bêta).
\r\n\r\n\r\n\r\nCác định nghĩa sau đây được sử dụng trong\r\ntiêu chuẩn này:
\r\n\r\n3.1. Nhiệt phát quang/ nhiệt phát quang bức\r\nxạ/ TL
\r\n\r\n(thermoluminescence/ radiothermoluminescence/\r\nTL)
\r\n\r\nTính chất của một số chất nhất định, đó là sự\r\nphát sáng do bị nung nóng sau khi bị chiếu bởi bức xạ iôn hoá hoặc tia cực tím
\r\n\r\nChú thích - Nói một cách chặt chẽ, tính chất\r\nnày cần được gọi là nhiệt phát quang bức xạ, và thường gọi tắt là “nhiệt phát\r\nquang”.
\r\n\r\n3.2. Vật liệu nhiệt phát quang/ vật liệu TL\r\n(thermoluminescence material/ TL material)
\r\n\r\nVật liệu có tính chất nhiệt phát quang.
\r\n\r\n3.3. Đầu dò nhiệt phát quang/ đầu dò TL/ đầu\r\ndò
\r\n\r\n(thermoluminescence detector / TL detector /\r\ndetector)
\r\n\r\nLượng quy định của vật liệu TL, hoặc là vật\r\nliệu này kết hợp với vật liệu không phát quang khác tạo thành một vật liệu tổ\r\nhợp, được xác định bằng khối lượng, hình dạng hoặc kích thước hoặc khối lượng\r\ncủa chất kết hợp trong vật liệu tổ hợp này.
\r\n\r\n3.4. Liều kế nhiệt phát quang/ liều kế TL/ liều\r\nkế
\r\n\r\n(thermoluminescence dosemeter/ TL dosemeter/\r\ndosemeter)
\r\n\r\nDụng cụ thụ động gồm một hoặc nhiều đầu dò\r\nTL, có thể được lắp đặt vào một hộp chứa (thích hợp để sử dụng), để đeo trên cơ\r\nthể người hoặc đặt vào môi trường nhằm mục đích đánh giá tương đương liều thích\r\nhợp ở tại hoặc ở gần nơi nó được bố trí.
\r\n\r\n3.5. Đầu đọc của liều kế nhiệt phát quang/\r\nĐầu đọc của liều kế TL/ Đầu đọc
\r\n\r\n(thermoluminescence dosemeter reader/ TL\r\ndosemeter reader/ reader)
\r\n\r\nMáy dùng để đo ánh sáng phát ra từ các đầu dò\r\ntrong liều kế nhiệt phát quang; về cơ bản gồm có một dụng cụ nung nóng, một\r\nthiết bị đo ánh sáng và hệ điện tử kèm theo.
\r\n\r\n3.6. Liều kế chân tay (extremity dosemeter)
\r\n\r\nLiều kế được đeo vào ngón tay hoặc chi [bàn\r\ntay, bàn chân, cánh tay (gồm khuỷu tay) và cẳng chân dưới (gồm xương bánh chè)]
\r\n\r\n3.7. Liều kế mắt (eye dosemeter)
\r\n\r\nLiều kế được đeo ở gần mắt.
\r\n\r\n3.8. Liều kế có thể dùng lại (reusable\r\ndosemeter)
\r\n\r\nLiều kế dự định sử dụng lại, ngược lại với\r\nloại liều kế bỏ đi sau một lần sử dụng.
\r\n\r\nChú thích: Khi sử dụng trong các ứng dụng y tế,\r\nviệc khử khuẩn thích hợp có thể cần thiết.
\r\n\r\n3.9. Mẻ (batch)
\r\n\r\nTập hợp các đầu dò hoặc liều kế được chế tạo\r\ntheo một thiết kế hoặc đặc điểm kỹ thuật cụ thể và có cùng các đặc trưng tính\r\nnăng phù hợp với các yêu cầu tương ứng của tiêu chuẩn này.
\r\n\r\n3.10. Ủ (annealing)
\r\n\r\nViệc xử lý nhiệt độ được kiểm soát của một\r\nđầu dò TL hoặc liều kế TL trong hoặc sau quá trình đọc.
\r\n\r\n3.11. Chuẩn bị/ chuẩn bị lại (prepare/\r\nreprepare)
\r\n\r\nViệc xử lý bình thường như ủ, làm sạch, ...\r\nmà các liều kế hoặc đầu dò cần được xử lý để sử dụng thường quy.
\r\n\r\n3.12. Quá trình đọc (readout)
\r\n\r\nQuá trình đo ánh sáng phát ra khi một đầu dò\r\nTL hoặc liều kế được nung nóng trong đầu đọc.
\r\n\r\n3.13. Giá trị đọc (readout value), m
\r\n\r\nGiá trị hiển thị trên đầu đọc TL sau quá\r\ntrình đọc của một đầu dò hoặc liều kế được biểu thị bằng các đơn vị tương thích\r\nvới đơn vị đầu ra của đầu đọc.
\r\n\r\n3.14. Liều hấp thụ (absorbed dose), D
\r\n\r\nThương số của d và\r\ndm trong đó d
là năng lượng trung\r\nbình mà bức xạ iôn hoá truyền cho khối vật chất dm.
Chú thích 1 - Tên riêng của đơn vị liều hấp\r\nthụ là gray (Gy) (1 Gy = 1 J.kg-1). Trong tiêu chuẩn này, liều hấp\r\nthụ được tính bằng gray.
\r\n\r\nChú thích 2 - ở những ngữ cảnh rõ ràng, thuật\r\nngữ “liều hấp thụ” có thể được viết tắt là “liều”
\r\n\r\n3.15. Kerma (kerma), K
\r\n\r\nThương số của dtr và dm trong\r\nđó d
tr là tổng động năng ban đầu của tất cả các hạt\r\nmang điện ion hoá được giải phóng bởi các hạt ion hoá không mang điện trong\r\nkhối vật chất dm.
3.16. Tương đương liều (dose equivalent), H
\r\n\r\nTích số của D và Q tại điểm\r\nquan tâm trong mô, trong đó D là liều hấp thu và Q là hệ số chất\r\nlượng.
\r\n\r\nH = DQ
\r\n\r\nChú thích: Đơn vị SI của H và D\r\nlà jun trên kilogam. Tên riêng của đơn vị tương đương liều là sivơ (Sv): (1 Sv\r\n= 1 J.kg-1).
\r\n\r\n3.17. Tương đương liều cá nhân (personal dose\r\nequivalent), Hp (d)
\r\n\r\nTương đương liều trong mô mềm dưới một vị trí\r\nquy định tại một độ sâu thích hợp, d.
\r\n\r\nChú thích - Đơn vị SI của Hp(d)\r\nlà jun trên kilogam. Tên riêng là sivơ (Sv): (1 Sv = 1 J.kg-1).
\r\n\r\n3.18. Giá trị ước định (evaluated value), E
\r\n\r\nGiá trị của đại lượng quan tâm, ví dụ như tương\r\nđương liều (H), kerma không khí (Ka), liều hấp thụ\r\ntrong không khí (Da) nhận được khi áp dụng một hệ số ước định\r\nthích hợp (Fe) cho giá trị hoặc các giá trị đọc được (m)
\r\n\r\n3.19. Giá trị thực quy ước (conventional true\r\nvalue), C
\r\n\r\nGiá trị ước tính tốt nhất của của đại lượng\r\nquan tâm tại điểm đó, ví dụ như tương đương liều (H), kerma khí (Ka),\r\nliều hấp thụ trong không khí (Da).
\r\n\r\nChú thích - Thuật ngữ này là một thuật ngữ\r\ntiêu chuẩn hoá được sử dụng rộng rãi. Thuật ngữ đồng nghĩa chính xác về ngữ\r\npháp là Conventionally True Value.
\r\n\r\n3.20. Hệ số ước định (evaluation\r\ncoefficient), Fe
\r\n\r\nHệ số hoặc tập hợp các hệ số được dùng để\r\nchuyển đổi giá trị hoặc các giá trị đọc (m) thành giá trị ước định quan\r\ntâm (E).
\r\n\r\nChú thích - Xem phụ lục D.
\r\n\r\n3.21. Phần dư (residue)
\r\n\r\nTín hiệu đọc có được ở lần đọc thứ hai tiếp\r\ntheo các quy trình đọc và ủ bình thường.
\r\n\r\n3.22. Hệ số chuyển đổi (conversion\r\ncoefficient), Fe
\r\n\r\nHệ số dùng để chuyển đổi từ kerma không khí\r\nhoặc liều hấp thụ trong không khí thành tương đương liều tương ứng.
\r\n\r\nChú thích: Xem phụ lục E.
\r\n\r\n3.23. Độ đáp ứng (response, R)
\r\n\r\nThương số của giá trị ước định chia cho giá\r\ntrị thực quy ước.
\r\n\r\n3.24. Tự chiếu xạ (self-irradiation)
\r\n\r\nSự chiếu xạ của đầu dò bởi các chất bẩn phóng\r\nxạ ngay trong hộp đựng liều kế hoặc trong đầu dò.
\r\n\r\n3.25. Phantom (phantom)
\r\n\r\nMột vật xác định dùng để mô phỏng toàn bộ\r\nhoặc một phần cơ thể con người trên phương diện tán xạ và hấp thụ bức xạ gamma\r\nvà bêta.
\r\n\r\n3.26. Điểm “0” (zero point)
\r\n\r\nGiá trị ước định của một liều kế hoặc đầu dò\r\nkhông bị chiếu xạ được chuẩn bị để đo.
\r\n\r\n3.27. Phông đầu đọc (reader background)
\r\n\r\nGiá trị ước định tương ứng với giá trị đọc có\r\nđược khi đầu đọc hoạt động mà không có liều kế hoặc đầu dò.
\r\n\r\n3.28. Ngưỡng phát hiện (detection threshold)
\r\n\r\nGiá trị ước định tối thiểu mà đối với nó giá\r\ntrị đọc của một liều kế hoặc một đầu dò có sự khác biệt đáng kể (ở mức tin cậy\r\nlà 95 %) so với giá trị đọc của một liều kế hoặc đầu dò không bị chiếu xạ.
\r\n\r\n3.29. Hệ số biến đổi (coefficient of\r\nvariation)
\r\n\r\nTỷ số của độ lệch chuẩn, s, với trung\r\nbình số học x của n lần đo xi; được cho bằng\r\ncông thức sau:
\r\n\r\nChú thích: Hệ số biến đổi thường được biểu\r\nthị bằng phần trăm.
\r\n\r\n3.30. Thử nghiệm kiểm soát chất lượng, QT\r\n(quality control test, QT)
\r\n\r\nThử nghiệm được thực hiện trên một số hệ liều\r\nkế TL, đầu dò TL hoặc đầu đọc TL của một mẻ hoặc một đợt sản xuất dự kiến để\r\nbảo đảm việc kiểm soát chất lượng.
\r\n\r\n3.31. Thử nghiệm điển hình (type test), TT
\r\n\r\nThử nghiệm được thực hiện trên một số ít hệ\r\nliều kế TL, đầu dò TL hoặc đầu đọc TL của một kiểu đã cho để xác định đặc tính\r\ncủa kiểu đó.
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này sử dụng hệ đơn vị SI. Tuy\r\nnhiên, các đơn vị sau có tầm quan trọng thực tiễn để đo thời gian được sử dụng\r\nkhi cần thiết như: ngày (d), giờ (h). Các ký hiệu đơn vị thời gian được quy\r\nđịnh trong TCVN 6398 - 0 (ISO 31-0).
\r\n\r\n5. Điều kiện thử\r\nnghiệm chung
\r\n\r\n5.1. Điều kiện thử nghiệm
\r\n\r\nMọi thử nghiệm phải được thực hiện trong các\r\nđiều kiện thử nghiệm tiêu chuẩn (xem phụ lục A), trừ khi có các điều kiện khác\r\nđược thiết lập. Các liều kế phải tuân thủ các quy trình ủ, làm sạch và thao tác\r\ntheo khuyến cáo của nhà sản xuất.
\r\n\r\n5.2. Bức xạ tham chiếu
\r\n\r\nCác nguồn bức xạ quy định ở ISO 4037-3 và ISO\r\n6980 phải được sử dụng theo quy cách được quy định trong các tiêu chuẩn này.\r\nCác bức xạ tham chiếu photon sử dụng để kiểm tra độ đáp ứng phổ phải được chọn\r\ntừ cột đầu tiên của bảng 1 trong ô thứ 4 của ISO 4037-3:1999. Các nguồn đo độ\r\nđáp ứng phổ bêta phải là 90Sr (cân bằng với 90Y), 106Ru\r\nvà 204Tl. Việc hiệu chuẩn nguồn bức xạ phải được so với các chuẩn\r\nđầu và chuẩn thứ thích hợp.
\r\n\r\n\r\n\r\nLiều kế phải được phân loại theo bộ phận cơ\r\nthể và độ sâu dự định đo, và phương pháp dự định sử dụng, gồm các loại sau:
\r\n\r\nF(7)D Ngón tay, độ sâu 7 mg.cm-2,\r\ndùng một lần;
\r\n\r\nF(7)R Ngón tay, độ sâu 7 mg.cm-2,\r\ndùng lại được;
\r\n\r\nL(7)D Chi, độ sâu 7 mg.cm-2, dùng\r\nmột lần;
\r\n\r\nL(7)R Chi, độ sâu 7 mg.cm-2, dùng\r\nlại được;
\r\n\r\nE(300)D Mắt, độ sâu 300 mg.cm-2,\r\ndùng một lần;
\r\n\r\nE(300)R Mắt, độ sâu 300 mg.cm-2,\r\ndùng lại được
\r\n\r\n\r\n\r\nCác chuẩn cứ về tính năng được liệt kê tại\r\nBảng 1. Tất cả các giá trị liều được liệt kê trong các chuẩn cứ này là tương đương\r\nliều trong mô tại độ sâu định đo. Giá trị thực quy ước của tương đương liều, C,\r\nđối với bất kỳ thử nghiệm cụ thể nào, có thể nhận được bằng cách sử dụng các hệ\r\nsố chuyển đổi được quy định trong phụ lục E, đối với mỗi kiểu đo dự định (ngón\r\ntay, chi hoặc mắt). Trong tiêu chuẩn này, hệ số chuyển đổi chỉ quy định cho độ\r\nsâu mô từ 7 mg.cm-2 đến 300 mg.cm-2.
\r\n\r\nPhụ lục E gồm hệ số chuyển đổi đối với loại\r\nphantom được lựa chọn cho bức xạ photon và beta. Các phantom được lựa chọn này\r\nlà một ống đặc hình trụ có đường kính 19 mm bằng PMMA (que PMMA theo ISO) dùng\r\ncho ngón tay, một ống chứa đầy nước có đường kính 73 mm bằng PMMA (cột nước\r\ntheo ISO) cho các chi cả hai loại phantom trên có chiều dài 300 mm, quả cầu\r\nICRU hoặc một tấm PMMA đổ đầy nước có kích thước 30 cm x 30 cm x 15 cm (tấm nước\r\ntheo ISO) cho mắt. Không loại trừ việc sử dụng các hệ số và phantom khác nhưng\r\nphải có sự thỏa thuận giữa nhà sản xuất và người mua. Giá trị ước định của tương\r\nđương liều, (E), phải được xác định từ giá trị đọc theo phụ lục E. Tuy nhiên,\r\ntrong trường hợp thử nghiệm so sánh đơn thuần (tức là tất cả các trường hợp\r\nloại trừ thử nghiệm đáp ứng năng lượng và tính đẳng hướng), các giá trị đọc được\r\ncó thể sử dụng thay cho các giá trị ước định.
\r\n\r\nYêu cầu tính về năng được xác định trong Bảng\r\n1 là thử nghiệm điển hình (T) hoặc thử nghiệm kiểm soát chất lượng (Q). Các thử\r\nnghiệm điển hình nhằm chứng tỏ tính năng cơ bản của kiểu liều kế và các thử\r\nnghiệm kiểm soát chất lượng nhằm xác nhận tính năng của một lần sản xuất hoặc\r\nmột mẻ liều kế được cung cấp.
\r\n\r\nSố lượng liều kế sử dụng cho mỗi thử nghiệm\r\nhoặc các thử nghiệm lặp lại phải để đủ chứng tỏ các yêu cầu về tính năng đo được\r\nvới độ tin cậy 95 %. Số lượng n liều kế (hoặc số lần chiếu xạ) được sử\r\ndụng cho mọi thử nghiệm không cần phải như nhau đối với mỗi thử nghiệm, nhưng\r\ncó thể được xác định bằng cách sử dụng phụ lục B. Tuy nhiên, để thuận tiện, có\r\nthể dùng tùy ý, 5, 10 hoặc 20 liều kế (hoặc lần chiếu xạ) trong trường hợp đó\r\ngiá trị t Student nhận được từ phụ lục B, bảng B.1, tương ứng sẽ là\r\n2,78, 2,26 và 2,09.
\r\n\r\nKhi độ đáp ứng với nơtron lớn hơn 1 % của độ\r\nđáp ứng với photon, xác định bằng tương đương liều, nhà sản xuất phải lưu ý người\r\nsử dụng yếu tố này và cung cấp thông tin định lượng thích hợp.
\r\n\r\nYêu cầu về tính năng được quy định theo tương\r\nđương liều tại các độ sâu mô thích hợp, giá trị thực quy ước trong mọi thử\r\nnghiệm được xác định bằng cách sử dụng các hệ số chuyển đổi cho các phantom\r\nthích hợp. Một số ý kiến đề xuất rằng đại lượng này cần gọi là Hp(d),\r\ntương tự với các số đo trên cơ thể. Tuy nhiên, cả ICRP (Ủy ban Quốc tế về Bảo\r\nvệ chống Phóng xạ) lẫn ICRU (Ủy ban Quốc tế về Đơn vị Bức xạ) đều đã không nêu\r\nra một cách cụ thể nào về vấn đề tên gọi cho đại lượng đo đối với tay chân. Do\r\nđó đại lượng đo quy định trong tiêu chuẩn này bằng cách đã được mô tả chứ không\r\nphải bằng tên gọi.
\r\n\r\n\r\n\r\nPhụ lục C nêu các thử nghiệm được đề xuất để\r\nkiểm chứng sự tuân thủ các yêu cầu về tính năng đã nêu ra. Các phép thử khác\r\nchứng minh sự tuân thủ như nhau thì cũng được sử dụng
\r\n\r\n\r\n\r\nNhà sản xuất công bố sự tuân thủ (hoặc tuân\r\nthủ một phần) các yêu cầu về tính năng trong tiêu chuẩn này cần đưa ra một\r\nchứng chỉ có chữ ký gồm những nội dung sau:
\r\n\r\na) tên và địa chỉ của nhà sản xuất và các\r\nphòng thử nghiệm;
\r\n\r\nb) mô tả/ đặc trưng của các liều kế được xem\r\nxét, bao gồm cả việc phân loại liều kế;
\r\n\r\nc) mô tả đầu đọc, quy trình và thiết bị phụ\r\ntrợ sử dụng để thử nghiệm (kiểu loại, số,...);
\r\n\r\nd) công bố về sự chứng nhận phù hợp kết quả\r\ncủa mỗi lần thử nghiệm và ngày thực hiện (các báo cáo thử nghiệm cần sẵn có để\r\nngười mua kiểm tra);
\r\n\r\ne) công bố về độ đáp ứng định lượng đối với\r\nnơtrôn, nếu có yêu cầu;
\r\n\r\nf) các chi tiết về hệ số chuyển đổi và\r\nphantom được thỏa thuận giữa nhà sản xuất và người mua, khi không sử dụng các\r\nhệ số chuyển đổi và phanton quy định ở tiêu chuẩn này.
\r\n\r\nChú thích: Trong trường hợp khi mà tất cả các\r\nthử nghiệm không thực hiện trong cùng một cơ sở, chứng chỉ cần xác định rõ từng\r\nphòng thử nghiệm đối với mỗi thử nghiệm.
\r\n\r\nBảng 1 - Các yêu cầu\r\nvề tính năng đối với liều kế đo các đầu chi và liều kế đo mắt
\r\n\r\n\r\n Số TT \r\n | \r\n \r\n Đặc điểm về \r\ntính năng \r\n | \r\n \r\n Loại liều kế \r\n | \r\n \r\n Các yêu cầu về tính\r\n năng \r\n | \r\n \r\n Loại thử nghiệm a \r\n | \r\n
\r\n 1. \r\n | \r\n \r\n Tính đồng đều của\r\n mẻ \r\n | \r\n \r\n R/D \r\n | \r\n \r\n Hệ số biến đổi của giá trị ước định cho n\r\n liều kế không được quá 15 % đối với liều 10 mSv hoặc nhỏ hơn \r\n | \r\n \r\n Q \r\n | \r\n
\r\n 2. \r\n | \r\n \r\n Độ tái lập \r\n | \r\n \r\n R \r\n
| \r\n \r\n Hệ số biến đổi của giá trị ước định cho n\r\n liều kế không được quá 10 % cho từng liều kế riêng biệt đối với liều 10 mSv\r\n hoặc nhỏ hơn \r\nKhông yêu cầu \r\n | \r\n \r\n Q \r\n | \r\n
\r\n 3. \r\n | \r\n \r\n Độ tuyến tính \r\n | \r\n \r\n R/D \r\n | \r\n \r\n Độ đáp ứng không thay đổi quá 10 % trên\r\n khoảng tương đương liều từ 1 mSv đến 1 Sv \r\n | \r\n \r\n T \r\n | \r\n
\r\n 4. \r\n | \r\n \r\n Khả năng ổn định\r\n của liều kế dưới các điều kiện khí hậu khác nhau \r\n | \r\n \r\n R/D \r\n | \r\n \r\n Các giá trị ước định của liều kế bị chiếu\r\n xạ tại thời điểm bắt đầu hoặc kết thúc của một thời kỳ lưu giữ phải không được\r\n khác với giá trị thực quy ước quá 5% đối với 30 ngày lưu giữ trong điều kiện\r\n thử nghiệm tiêu chuẩn, hoặc 10 % đối với 48 giờ lưu giữ ở nhiệt độ 40 oC\r\n và độ ẩm tương đối khoảng 90 % \r\n | \r\n \r\n T \r\n | \r\n
\r\n 5. \r\n | \r\n \r\n Ngưỡng phát hiện \r\n | \r\n \r\n R/D \r\n | \r\n \r\n Ngưỡng phát hiện phải không được vượt quá 1\r\n mSv \r\n | \r\n \r\n T \r\n | \r\n
\r\n 6. \r\n | \r\n \r\n Tự chiếu xạ \r\n | \r\n \r\n R/D \r\n | \r\n \r\n Sau thời kỳ lưu giữ 60 ngày, điểm “không”\r\n không được vượt quá 2 mSv \r\n | \r\n \r\n T \r\n | \r\n
\r\n 7. \r\n | \r\n \r\n Phần dư \r\n | \r\n \r\n R \r\n | \r\n \r\n Sau khi chiếu xạ với giá trị thực quy ước\r\n 100 mSv, giới hạn ngưỡng phát hiện không được vượt quá và độ đáp ứng phải được\r\n duy trì trong khuôn khổ yêu cầu về độ tuyến tính tại mức liều 2 mSv \r\n | \r\n \r\n T \r\n | \r\n
\r\n 8. \r\n | \r\n \r\n Ảnh hưởng của sự\r\n phơi sáng đến liều kế \r\n | \r\n \r\n R/D \r\n | \r\n \r\n Theo kết quả chiếu 1.000 W.m-2 tương\r\n đương với ánh sáng chói của mặt trời (295 nm đến 769 nm) trong 1 ngày, điểm\r\n “0” không được thay đổi quá 1 mSv và, đối với chiếu trong một tuần, giá trị ước\r\n định không được thay đổi quá 10 % giá trị ước định của liều kế giữ trong bóng\r\n tối. \r\n | \r\n \r\n T \r\n | \r\n
\r\n 9. \r\n | \r\n \r\n Tính đẳng hướng\r\n (photon) \r\n | \r\n \r\n R/D \r\n | \r\n \r\n Khi bị chiếu xạ bằng photon (60 ± 5) keV,\r\n giá trị trung bình của độ đáp ứng tại các góc tới 0o, 20o,\r\n 40o và 60o đối với góc thẳng không được sai khác quá 15\r\n % so với độ đáp ứng tương ứng góc tới thẳng góc \r\n | \r\n \r\n T \r\n | \r\n
\r\n 10 \r\n | \r\n \r\n Độ đáp ứng năng lượng\r\n (photon) \r\n | \r\n \r\n R/D \r\n | \r\n \r\n Khi chiếu xạ bằng photon trong dải năng lượng\r\n từ 15 keV đến 3 MeV, độ đáp ứng không được sai khác quá ± 50 % \r\n | \r\n \r\n T \r\n | \r\n
\r\n 11 \r\n | \r\n \r\n Độ đáp ứng năng lượng\r\n (bức xạ beta) \r\n | \r\n \r\n R/D \r\n | \r\n \r\n Khi chiếu xạ bằng bức xạ beta trong dải\r\n năng lượng (Emax) từ 0,5 MeV đến 3 MeV, độ đáp ứng không được\r\n sai khác quá ± 50 % \r\n | \r\n \r\n T \r\n | \r\n
\r\n a T: điển hình \r\nQ: kiểm soát chất lượng (QC) \r\n | \r\n
\r\n\r\n\r\n\r\n
(quy định)
\r\n\r\nCác\r\nđiều kiện tham chiếu và các điều kiện thử nghiệm tiêu chuẩn
\r\n\r\n\r\n Đại lượng ảnh hưởng \r\n | \r\n \r\n Các điều kiện tham\r\n chiếu (nếu không có quy định của nhà sản xuất) \r\n | \r\n \r\n Các điều kiện thử\r\n nghiệm tiêu chuẩn (nếu không có quy định của nhà sản xuất) \r\n | \r\n
\r\n Bức xạ photon tham chiếu \r\n | \r\n \r\n Phù hợp với ISO\r\n 4037-3 \r\n | \r\n \r\n Phù hợp với ISO\r\n 4037-3 \r\n | \r\n
\r\n Bức xạ beta tham chiếu \r\n | \r\n \r\n Phù hợp với ISO\r\n 6980 \r\n | \r\n \r\n Phù hợp với ISO\r\n 6980 \r\n | \r\n
\r\n Nhiệt độ môi trường \r\n | \r\n \r\n 20 o C \r\n | \r\n \r\n 18 o C\r\n đến 22 o C \r\n | \r\n
\r\n Độ ẩm tương đối \r\n | \r\n \r\n 65 % \r\n | \r\n \r\n 55 % đến 75 % \r\n | \r\n
\r\n Phông bức xạ gamma \r\n | \r\n \r\n ≤ 0,2 mGy.h-1 \r\n | \r\n \r\n ≤ 0,2 mGy.h-1 \r\n | \r\n
\r\n Mức độ nhiễm các nguyên tố phóng xạ \r\n | \r\n \r\n Có thể bỏ qua \r\n | \r\n \r\n Có thể bỏ qua \r\n | \r\n
\r\n Cường độ ánh sáng \r\n | \r\n \r\n 50 W.m-2 \r\n | \r\n \r\n <100 W.m-2 \r\n | \r\n
\r\n\r\n\r\n\r\n
(quy định)
\r\n\r\n\r\n\r\nB.1. Quy định chung
\r\n\r\nNếu độ lớn bất định ngẫu nhiên của giá trị đo\r\nđược là một phần đáng kể của dung sai cho phép đối với giá trị đo, độ bất định\r\nngẫu nhiên phải được xem xét bằng cách tiến hành nhiều phép đo. Số lượng các\r\nphép đo hoặc kích thước mẫu phải được lựa chọn sao cho khoảng tin cậy nhận được\r\ncho từng giá trị trung bình, , với mức tin cậy\r\n95 % hoặc nằm trong các giới hạn biến đổi cho phép của giá trị đo trong phép\r\nthử nghiệm này (thử nghiệm đạt, các điểm ∆ tại Hình B.1) hoặc nằm ngoài các\r\ngiới hạn này (thử nghiệm hỏng, các điểm 0 ở Hình B.1). Nếu một trong các giới\r\nhạn biến đổi cho phép, xu hoặc xl, nằm trong\r\nkhoảng tin cậy của trung bình (các điểm □ ở Hình B.1) thì số lượng các phép đo\r\nhoặc kích thước mẫu có thể tăng lên để giảm độ rộng 2 I của khoảng tin\r\ncậy của trung bình,
, nhằm đạt được một trong\r\nhai trường hợp đã đề cập ở trên, cần thiết để quyết định dứt khoát là thử\r\nnghiệm có đạt hay không.
Chú giải
\r\n\r\n1. Khoảng tin cậy với độ rộng trung bình 2 I
\r\n\r\n2. Giới hạn biến đổi cho phép trên, xu
\r\n\r\n3. Giới hạn biến đổi cho phép dưới, xl
\r\n\r\nHình B.1 - Thử nghiệm\r\nkhoảng tin cậy
\r\n\r\nThử nghiệm là đạt nếu khoảng tin cậy của độ\r\nrộng 2 I xung quanh x nằm giữa giới hạn biến đổi cho phép trên và\r\ngiới hạn biến đổi cho phép dưới, xu và xl:
\r\n\r\nxl + I < x < xu\r\n- I (B.1)
\r\n\r\nTrong từng thử nghiệm, nên bắt đầu 10 phép đo\r\ncho mỗi liều kế. Nếu thấy cần thiết để giảm độ rộng 2 I của khoảng tin\r\ncậy của độ lệch chuẩn thực nghiệm, thì số lượng các phép đo cần được tăng lên\r\n(xem B.2).
\r\n\r\nSẽ tiện lợi hơn, nếu tiến hành một thử nghiệm\r\n(chẳng hạn như, một lần chiếu xạ) với một số lượng liều kế nhất định được lấy\r\nngẫu nhiên từ một mẻ liều kế thay cho việc lặp lại nhiều phép đo với cùng một\r\nliều kế. Cách làm như vậy không bị phản đối, nhưng tính bất định ngẫu nhiên của\r\ncác kết quả thử nghiệm có thể tăng lên.
\r\n\r\nB.2. Khoảng tin cậy đối với độ lệch chuẩn, s
\r\n\r\nKhoảng tin cậy đối với độ lệch chuẩn của các\r\ntrung bình s là:
\r\n\r\n(s - Is, s + Is) \r\n (B.2)
\r\n\r\ntrong đó Is là một nửa độ\r\nrộng của khoảng tin cậy s. Nếu s được tính từ ns\r\nphép đo thì giới hạn trên của Is tại mức tin cậy 95% có thể\r\ntính bằng công thức:
\r\n\r\n (B.3)
trong đó tns được lấy từ bảng B.1 cho ns phép\r\nđo. Coi như ví dụ Is (10) = 0,53 s nhận được đối với 10 liều kế.
\r\n\r\nB.3. Khoảng tin cậy đối với trung bình,
Khoảng tin cậy đối với trung bình là:
(B.4)
trong đó Ii\r\nlà một nửa độ rộng của khoảng tin cậy x liên quan tới tập hợp i của các\r\nphép đo. Khi tính
từ ni\r\nphép đo, một nửa độ rộng của khoảng tin cậy này có thể tính bằng công thức:
(B.5)
trong đó si là độ lệch\r\nchuẩn cho nhóm phép đo i, và tn được lấy từ bảng B.1\r\ncho ni phép đo.
\r\n\r\nVí dụ, cho ni = 10,
\r\n\r\nBảng B.1 - Các giá\r\ntrị t Student cho khoảng tin cậy là 95 %
\r\n\r\n\r\n ni \r\n | \r\n \r\n tn \r\n | \r\n \r\n ni \r\n | \r\n \r\n tn \r\n | \r\n
\r\n 2 \r\n3 \r\n4 \r\n5 \r\n6 \r\n7 \r\n8 \r\n9 \r\n10 \r\n | \r\n \r\n 12,71 \r\n4,30 \r\n3,18 \r\n2,78 \r\n2,57 \r\n2,45 \r\n2,37 \r\n2,31 \r\n2,26 \r\n | \r\n \r\n 15 \r\n20 \r\n25 \r\n30 \r\n40 \r\n60 \r\n120 \r\n∞ \r\n | \r\n \r\n 2,15 \r\n2,09 \r\n2,06 \r\n2,05 \r\n2,02 \r\n2,00 \r\n1,98 \r\n1,96 \r\n | \r\n
B.4. Khoảng tin cậy đối với một đại lượng tổ\r\nhợp
\r\n\r\nNếu các giới hạn biến đổi được thiết lập cho\r\nđại lượng x, giá trị trung bình được tính từ k giá trị trung bình, là:
(B.6)
và một nửa độ rộng của khoảng tin cậy của\r\ntrung bình thứ i là Ii, một nửa độ rộng, I, của khoảng\r\ntin cậy đối với được tính như sau:
(B.7)
VÍ DỤ 1: suy\r\nra
nói chung suy\r\nra
VÍ DỤ 2: suy\r\nra
VÍ DỤ 3: suy\r\nra
\r\n\r\n\r\n\r\n
(quy định)
\r\n\r\n\r\n\r\nC.1. Tính đồng nhất của mẻ (kiểu R và kiểu D)
\r\n\r\nChuẩn bị và chiếu xạ n liều kế với\r\ncùng giá trị thực quy ước (C) đến khoảng 10 mSv hoặc nhỏ hơn. Xác định\r\ngiá trị ước định (E) cho từng liều kế và cho biết hệ số biến đổi đối với\r\nn liều kế không vượt quá 15%.
\r\n\r\nC.2. Độ tái lập (kiểu R)
\r\n\r\nChuẩn bị, chiếu xạ và đọc n liều kế.\r\nLặp lại việc này 10 lần. Giá trị thực quy ước phải đúng như nhau cho mỗi lần\r\nthao tác và bằng khoảng 10 mSv hoặc ít hơn.
\r\n\r\nVới mỗi liều kế trong n liều kế, xác\r\nđịnh trung bình giá trị ước định, Ej, và độ lệch chuẩn, sEj.
\r\n\r\nChứng tỏ rằng đối với mỗi liều kế trong n\r\nliều kế:
\r\n\r\n (C.1)
Trong đó Is được cho ở biểu\r\nthức (B.2).
\r\n\r\nC.3. Độ tuyến tính (Kiểu R và kiểu D)
\r\n\r\nChuẩn bị, chiếu xạ và đọc bốn nhóm liều kế.\r\nCho ni là số liều kế của nhóm i. Các giá trị thực quy ước\r\n(Ci) được cho đối với mỗi nhóm phải là 0,001 Sv, 0,01 Sv, 0,1\r\nSv và 1 Sv.
\r\n\r\nTính giá trị ước định trung bình tại mỗi mức chiếu xạ và độ lệch chuẩn\r\ncủa chúng
.
Chứng tỏ rằng:
\r\n\r\n (C.2)
Trong đó Ii có được từ công\r\nthức (B.5) đối với n liều kế. Độ bất định của Ci được\r\nxem là không đáng kể.
\r\n\r\nC.4. Tính ổn định của liều kế trong những\r\nđiều kiện khí hậu khác nhau (kiểu R và kiểu D)
\r\n\r\nChuẩn bị hai nhóm, mỗi nhóm gồm n liều\r\nkế. Lưu giữ cả hai nhóm trong 24 giờ trong điều kiện tiêu chuẩn.
\r\n\r\nChiếu xạ nhóm 1 đến giá trị thực quy ước đã\r\nbiết (C) khoảng 10 mSv.
\r\n\r\nLưu giữ cả hai nhóm liều kế trong một buồng\r\nkhí hậu trong đó các điều kiện thử nghiệm tiên chuẩn chiếm ưu thế.
\r\n\r\nSau một khoảng thời gian 30 ngày liên tục,\r\nlấy cả hai nhóm liều kế ra khỏi buồng khí hậu. Chiếu xạ nhóm 2 tới cùng giá trị\r\nthực quy ước như nhóm 1.
\r\n\r\nGiữ cả hai nhóm trong 1 ngày trong điều kiện\r\nthử nghiệm tiêu chuẩn. Xác định các giá trị ước định (E) cho từng liều\r\nkế và tính trung bình các giá trị ước định này cho\r\ntừng nhóm và độ lệch chuẩn tương ứng, s.
Chứng tỏ rằng đối với mỗi nhóm:
\r\n\r\n (C.3)
Trong đó Ii được tính theo\r\ncông thức (B.5)
\r\n\r\nLặp lại thử nghiệm với một thời gian bảo quản\r\nlà 2 ngày, nhưng trong một buồng khí hậu ở đó nhiệt độ là 40 oC ± 2 oC\r\nvà độ ẩm tương đối ít nhất là 90 %.
\r\n\r\nChứng tỏ rằng đối với mỗi nhóm:
\r\n\r\n (C.4)
Trong đó Ii được tính theo\r\ncông thức (B.5)
\r\n\r\nC.5. Ngưỡng phát hiện (kiểu R và kiểu D)
\r\n\r\nChuẩn bị và đọc n liều kế.
\r\n\r\nXác định giá trị ước định (E) cho từng\r\nliều kế (không chiếu xạ) và tính độ lệch chuẩn (sE) cho tất cả n liều\r\nkế.
\r\n\r\nChứng tỏ rằng:
\r\n\r\nE + 1 ≤ 10 mSv (C.5)
\r\n\r\nC.6. Tự chiếu xạ (kiểu R và kiểu D)
\r\n\r\nChuẩn bị n liều kế. Giữ các liều kế\r\ntrong 60 ngày trong điều kiện thử nghiệm tiêu chuẩn tại một vị trí mà suất liều\r\nphông đã được biết.
\r\n\r\nĐọc các liều kế và xác định giá trị ước định\r\n(E). Tính trung bình các giá trị ước định cho\r\ntất cả n liều kế và độ lệch chuẩn. Xác định giá trị thực quy ước, CB\r\n(phông), do chiếu xạ phông trong quá trình lưu giữ. Chứng tỏ rằng:
(C.6)
trong đó Ii là một nửa độ\r\nrộng của khoảng tin cậy, xác định theo công thức (B.5).
\r\n\r\nC.7. Phần dư (Kiểu R)
\r\n\r\nC.7.1. Ảnh hưởng lên ngưỡng phát hiện
\r\n\r\nChuẩn bị, chiếu xạ và đọc n liều kế\r\ndùng để thử nghiệm ngưỡng phát hiện. Giá trị thực quy ước (C) phải vào\r\nkhoảng 100 mSv.
\r\n\r\nSử dụng cùng các liều kế, lặp lại thử nghiệm\r\nđể xác định ngưỡng phát hiện.
\r\n\r\nC.7.2. ảnh hưởng lên độ đáp ứng
\r\n\r\nChuẩn bị, chiếu xạ và đọc cũng n liều kế\r\nđược dùng ở trên. Giá trị thực quy ước (C) phải vào khoảng 2 mSv.
\r\n\r\nXác định giá trị ước định (E) cho từng\r\nliều kế và tính trung bình các giá trị ước định ()\r\nvà độ lệch chuẩn, sE.
Chứng tỏ rằng:
\r\n\r\n (C.7)
Trong đó Ii được tính theo\r\ncông thức (B.5)
\r\n\r\nC.8. Hiệu ứng phơi sáng (kiểu R và kiểu D)
\r\n\r\nC.8.1. Ảnh hưởng lên điểm “không”
\r\n\r\nChuẩn bị hai nhóm, mỗi nhóm 20 liều kế.
\r\n\r\nPhơi sáng nhóm 1 ở độ sáng 1.000 W.m-2\r\ntrong 1 ngày. Đảm bảo nhiệt độ của các liều kế được duy trì ở dưới 40 oC.
\r\n\r\nĐể tạo ra ánh sáng 1.000 W.m-2, sử\r\ndụng thiết bị tạo ra ánh sáng có phổ tương đương ánh sáng mặt trời sáng chói\r\n(295 nm đến 769 nm), (ví dụ một đèn xenon được trang bị, nếu cần thiết cùng với\r\ncác bộ lọc thích hợp), hoặc sử dụng một đèn huỳnh quang ánh sáng ban ngày.
\r\n\r\nChú thích: ánh sáng mặt trời 1.000 W.m-2\r\ngồm có 60 W.m-2 của cực tím (UV)
\r\n\r\nGiữ các liều kế nhóm 2 trong bóng tối trong\r\nmột môi trường giống hệt khác. Bảo đảm nhiệt độ của các liều kế nhóm 2 trong\r\nkhoảng ± 5 oC nhiệt độ của các liều kế nhóm 1.
\r\n\r\nSau 1 ngày, đọc tất cả các liều kế.
\r\n\r\nXác định giá trị ước định () cho từng nhóm và tính trung bình các\r\ngiá trị ước định (
) cho từng nhóm trong\r\nhai nhóm và độ lệch chuẩn tương ứng của chúng.
Chứng tỏ rằng:
\r\n\r\n (C.8)
trong đó I được tính theo công thức\r\n(B.7) đối với hiệu số của hai giá trị trung bình.
\r\n\r\nC.8.2. Ảnh hưởng lên độ đáp ứng
\r\n\r\nChuẩn bị và chiếu xạ hai nhóm, mỗi nhóm 20\r\nliều kế. Giá trị thực quy ước (C) phải vào khoảng 10 mSv.
\r\n\r\nChiếu và lưu giữ nhóm 1 và nhóm 2 tương ứng như\r\ntrên.
\r\n\r\nSau một tuần, đọc tất cả các liều kế.
\r\n\r\nXác định giá trị ước định (E) cho từng\r\nnhóm và tính trung bình các giá trị ước định ()\r\ncho từng nhóm trong hai nhóm và độ lệch chuẩn tương ứng của chúng.
Chứng tỏ rằng:
\r\n\r\n (C.9)
trong đó I được tính theo công thức\r\n(B.7) đối với thương số của hai giá trị trung bình.
\r\n\r\nC.9. Tính đẳng hướng (photon) (kiểu R và kiểu\r\nD)
\r\n\r\nChuẩn bị, chiếu xạ trên một phantom và đọc\r\nbốn nhóm, mỗi nhóm gồm n liều kế. Cho ni là số lượng\r\nliều kế của nhóm i. Giá trị thực quy ước C phải vào khoảng 10 mSv\r\nsử dụng photon năng lượng (60 ± 5) keV (tia X hoặc 241Am) và cho\r\nđiều kiện sau:
\r\n\r\n- nhóm 1: góc tới thẳng;
\r\n\r\n- nhóm 2: lệch 20o so với hướng\r\nthẳng;
\r\n\r\n- nhóm 2: lệch 40o so với hướng\r\nthẳng;
\r\n\r\n- nhóm 2: lệch 60o so với hướng\r\nthẳng.
\r\n\r\nĐối với mỗi nhóm, góc tới cho n lần\r\nchiếu xạ thay đổi theo hướng dương và âm trong hai mặt phẳng vuông góc với nhau\r\nvà với mặt phẳng của liều kế.
\r\n\r\nXác định giá trị ước\r\nđịnh (E) cho từng liều kế (xem Bảng E.1) và tính trung bình các giá trị ước\r\nđịnh
cho từng nhóm trong bốn nhóm và độ\r\nlệch chuẩn tương ứng.
Chứng tỏ rằng:
\r\n\r\n (C.10)
trong đó I được xác định theo công\r\nthức (B.7).
\r\n\r\nC.10. Độ đáp ứng năng lượng (photon) (kiểu R\r\nvà kiểu D)
\r\n\r\nChuẩn bị, chiếu xạ trên một phantom và đọc\r\nbốn nhóm, mỗi nhóm gồm n liều kế. Giá trị thực quy ước (C) phải\r\nvào khoảng 10 mSv với các bức xạ tham chiếu sau đây:
\r\n\r\n- nhóm 1: 15,8 keV;
\r\n\r\n- nhóm 2: trong dải từ 30 đến 40 keV;
\r\n\r\n- nhóm 3: trong dải từ 80 đến100 keV
\r\n\r\n- nhóm 4: 137Cs hoặc 60Co
\r\n\r\nChú thích: Đây là các yêu cầu tối thiểu để\r\ntuân thủ tiêu chuẩn này. Có thể sử dụng các loại bức xạ chuẩn bổ sung.
\r\n\r\nXác định giá trị ước định (E) cho từng\r\nliều kế (xem Bảng E.2) và tính trung bình các giá trị ước định () cho từng nhóm và độ lệch chuẩn tương\r\nứng.
Đối với từng nhóm trong 4 nhóm, chứng tỏ\r\nrằng:
\r\n\r\n (đối\r\nvới i = 1,2,3,4) (C.11)
Trong đó Ii được xác định\r\ntheo công thức (B.5).
\r\n\r\nC.11. Độ đáp ứng năng lượng (bức xạ beta)\r\n(kiểu R và kiểu D)
\r\n\r\nChuẩn bị, chiếu xạ trên một phantom và đọc\r\nhai nhóm, mỗi nhóm n liều kế. Giá trị thực quy ước (C) phải vào\r\nkhoảng 10 mSv với các bức xạ sau đây:
\r\n\r\n- nhóm 1: 90Sr/90Y;
\r\n\r\n- nhóm 2: 204Tl.
\r\n\r\nXác định giá trị ước định (E) cho từng\r\nliều kế (xem Bảng E.3) và tính trung bình của các giá trị ước định
\r\n\r\n() cho từng nhóm\r\ntrong 2 nhóm.
Đối với từng nhóm, chứng tỏ rằng:
\r\n\r\n (C.12)
Trong đó Ii được xác định\r\ntheo công thức (B.5).
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
(tham khảo)
\r\n\r\nXác\r\nđịnh giá trị ước định (E) từ các giá trị đọc được
\r\n\r\nĐể xác định giá trị ước định về liều của một\r\nliều kế dự định dùng để đo, phải đọc ít nhất một đầu dò TL và đôi khi vài đầu\r\ndò TL trong đầu đọc TL để có được một giá trị đọc hoặc vài giá trị đọc. Nhằm\r\nthu được kết quả các giá trị đọc được này (m) thành kết quả cuối cùng,\r\nphải tiến hành một số bước tuỳ thuộc vào hệ TLD được sử dụng và cách sử dụng hệ\r\nTLD. Sơ đồ sau được coi là một ví dụ cho những bước cần phải tiến hành.
\r\n\r\nTrong mọi tình huống cụ thể , một vài trong\r\ncác hệ số này có thể không cần thiết và các hệ số khác có thể phải được đưa ra.\r\nVì lý do đó, trong tiêu chuẩn này một hệ số duy nhất được cho là để thay thế\r\ncho toàn bộ quy trình, đó là hệ số ước định (Fe) - hệ số\r\nchuyển đổi giá trị đọc được (m) thành giá trị ước định (E).
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
(quy định)
\r\n\r\n\r\n\r\nBảng E.1 - Hệ số\r\nchuyển đổi - Kerma không khí thành tương đương liều trong mô với photon đơn\r\nnăng hoặc bức xạ tia X phổ hẹp ISO năng lượng trung bình 60±5 keV(Sv/Gy)
\r\n\r\n\r\n Độ sâu trong mô \r\n | \r\n \r\n 7 mg.cm-2 \r\n | \r\n \r\n 7 mg.cm-2 \r\n | \r\n \r\n 300 mg.cm-2 \r\n | \r\n
\r\n Góc tới a \r\n | \r\n \r\n Ngón tay b \r\n | \r\n \r\n Chi b \r\n | \r\n \r\n Mắt c \r\n | \r\n
\r\n 0 o \r\n | \r\n \r\n 1,14 \r\n | \r\n \r\n 1,39 \r\n | \r\n \r\n 1,81 \r\n | \r\n
\r\n 20 o \r\n | \r\n \r\n 1,14 \r\n | \r\n \r\n 1,39 \r\n | \r\n \r\n 1,78 \r\n | \r\n
\r\n 40 o \r\n | \r\n \r\n 1,14 \r\n | \r\n \r\n 1,38 \r\n | \r\n \r\n 1,74 \r\n | \r\n
\r\n 60o \r\n | \r\n \r\n 1,14 \r\n | \r\n \r\n 1,33 \r\n | \r\n \r\n 1,54 \r\n | \r\n
\r\n a Hướng tới lệch theo trục của ống trụ \r\nb Grosswendt, Radiat.Prot.Dosim. 59,\r\n (3), trang 195-203 (1995), Bảng 1 và 2 \r\nc Grosswendt, Radiat.Prot.Dosim. 35,\r\n (4), trang 221-235 (1991), Bảng 1 \r\n | \r\n
Bảng E.2 - Hệ số\r\nchuyển đổi - Kerma không khí thành tương đương liều trong mô đối với photon tới\r\ntrực giao (Sv/Gy)
\r\n\r\n\r\n Độ sâu trong mô \r\n | \r\n \r\n 7 mg.cm-2 \r\n | \r\n \r\n 7 mg.cm-2 \r\n | \r\n \r\n 300 mg.cm-2 \r\n | \r\n
\r\n Năng lượng photon \r\n | \r\n \r\n Ngón tay a \r\n | \r\n \r\n Chi a \r\n | \r\n \r\n Mắt b \r\n | \r\n
\r\n 15 keV \r\n | \r\n \r\n 0,98 \r\n | \r\n \r\n 0,98 \r\n | \r\n \r\n 0,683 \r\n | \r\n
\r\n 30 keV \r\n | \r\n \r\n 1,06 \r\n | \r\n \r\n 1,18 \r\n | \r\n \r\n 1.223 \r\n | \r\n
\r\n 40 keV \r\n | \r\n \r\n 1,09 \r\n | \r\n \r\n 1,29 \r\n | \r\n \r\n 1,496 \r\n | \r\n
\r\n 80 keV \r\n | \r\n \r\n 1,16 \r\n | \r\n \r\n 1,38 \r\n | \r\n \r\n 1,809 \r\n | \r\n
\r\n 100 keV \r\n | \r\n \r\n 1,17 \r\n | \r\n \r\n 1,35 \r\n | \r\n \r\n 1,743 \r\n | \r\n
\r\n 137 Cs \r\n | \r\n \r\n 1,12 \r\n | \r\n \r\n 1,15 \r\n | \r\n \r\n 1,226 \r\n | \r\n
\r\n 60 Co \r\n | \r\n \r\n 1,11 \r\n | \r\n \r\n 1,12 \r\n | \r\n \r\n 1,182 \r\n | \r\n
\r\n a Grosswendt, Radiat.Prot.Dosim. 59,\r\n (3), trang 165-179 (1995), Bảng 1 (mô ICRU) \r\nb Grosswendt, Radiat.Prot.Dosim. 35,\r\n (4), trang 221-235 (1991), Bảng 1 (tấm mô ICRU) \r\n | \r\n
Bảng E.3 - Hệ số\r\nchuyển đổi - Liều hấp thụ trong không khí thành tương đương liều trong mô đối\r\nvới tia beta hướng tới thẳng góc
\r\n\r\n\r\n Độ sâu trong mô \r\n | \r\n \r\n 7 mg.cm-2 \r\n | \r\n \r\n 7 mg.cm-2 \r\n | \r\n \r\n 300 mg.cm-2 \r\n | \r\n
\r\n Năng lượng beta \r\n | \r\n \r\n Ngón tay a \r\n | \r\n \r\n Chi a \r\n | \r\n \r\n Mắt b \r\n | \r\n
\r\n 90Sr/90Y \r\n | \r\n \r\n 1,25 \r\n | \r\n \r\n 1,25 \r\n | \r\n \r\n 0,6 \r\n | \r\n
\r\n 204Tl \r\n | \r\n \r\n 1,22 \r\n | \r\n \r\n 1,22 \r\n | \r\n \r\n Không \r\n | \r\n
\r\n a Ủy ban Đơn vị Bức xạ Anh quốc (BCRU), Radiat.Prot.Dosim.\r\n 14, (4), trang 337-343 (1986), Bảng 3, cho quả cầu ICRU nhưng giả\r\n thiết giá trị với các phantom nhỏ hơn. \r\nb Độ truyền qua của hạt beta 240Tl\r\n qua 300 mg.cm-2 là zero. \r\n | \r\n
\r\n\r\n\r\n\r\n
[1] IEC 1066:1991, Thermoluminescence\r\ndosimetry systems for personal and environmental monitoring.
\r\n\r\n[2] ICRP1) Publication 60:1991\r\n1990 Recommendations of the International Commission on Radiological\r\nProtection.
\r\n\r\n[3] ICRU2) Report 33 :1980 Radiation\r\nquantities and units.
\r\n\r\n[4] ICRU Report 39 :1985 Determination of\r\ndose equivalent resulting from external radiation sources.
\r\n\r\n[5] ICRU Report 43 :1988 Determination of\r\nDose Equivalents from External Radiation Sources - Part 2.
\r\n\r\n[6] ICRU Report 47:1992 Measurement of\r\nDose Equivalents from External Photon and Electron Radiations.
\r\n\r\n[7] ICRU Report 51 : 1993 Quantities and\r\nUnits in Radiation Protection Dosimetry.
\r\n\r\nFile gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7174:2002 (ISO 12794 : 2000) về Năng lượng hạt nhân – An toàn bức xạ – Liều kế nhiệt phát quang dùng cho cá nhân để đo liều bức xạ các đầu chi và mắt đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7174:2002 (ISO 12794 : 2000) về Năng lượng hạt nhân – An toàn bức xạ – Liều kế nhiệt phát quang dùng cho cá nhân để đo liều bức xạ các đầu chi và mắt
Tóm tắt
Cơ quan ban hành | Bộ Khoa học và Công nghệ |
Số hiệu | TCVN7174:2002 |
Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
Người ký | Đã xác định |
Ngày ban hành | 2002-12-31 |
Ngày hiệu lực | |
Lĩnh vực | Hóa chất |
Tình trạng | Còn hiệu lực |