Lời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 7942-2 : 2008
TCVN 7942-2 : 2008
TCVN 7942 với tên chung “An\r\ntoàn bức xạ - Bức xạ chuẩn tia X và gamma hiệu chuẩn liều kế và máy đo suất liều\r\nvà xác định đáp ứng của thiết bị theo năng lượng photon” gồm các phần sau\r\nđây:
\r\n\r\nTCVN 7942-1 : 2008 (ISO 4307 - 1:\r\n1996) Phần 1: Đặc tính bức xạ và phương pháp tạo ra bức xạ;
\r\n\r\nTCVN 7942-2 : 2008 (ISO 4307 - 2:\r\n1997) Phần 2: Đo liều trong bảo vệ bức xạ cho dải năng lượng từ 8 keV đến 1,3\r\nMeV và từ 4 MeV đến 9 MeV;
\r\n\r\nISO 4307 - 3:1999 Phần 3: Hiệu chuẩn\r\nliều kế khu vực và liều kế cá nhân và phép đo đáp ứng của chúng theo năng lượng\r\nvà góc tới.
\r\n\r\nISO 4307 - 4: 2004 Phần 4 : Hiệu chuẩn\r\nliều kế khu vực và liều kế cá nhân trong trường bức xạ tia X năng lượng thấp.
\r\n\r\nLời giới thiệu
\r\n\r\nThuật ngữ đo liều trong tiêu chuẩn này\r\ndùng để mô tả phương pháp xác định giá trị của đại lượng vật lý đặc trưng cho\r\ntương tác của bức xạ với vật chất ở một điểm xác định bằng cách sử dụng thiết bị\r\nchuẩn đã được hiệu chuẩn. Đo liều là cơ sở để hiệu chuẩn các dụng cụ và thiết bị\r\nbảo vệ bức xạ và xác định đáp ứng theo hàm của năng lượng bức xạ.
\r\n\r\nHiện tại, các đại lượng theo đó thiết\r\nbị hay nguồn chuẩn bức xạ photon thứ cấp được hiệu chuẩn để sử dụng trong các\r\nphòng thí nghiệm chuẩn liều bảo vệ bức xạ đều liên quan đến các phép đo thực hiện\r\ntrong không khí, nghĩa là kerma không khí.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Trong tiêu chuẩn này, kerma\r\nlà tên gọi tắt của kerma không khí.
\r\n\r\nNhằm xác định mối tương quan giữa các\r\nđại lượng vật lý với hiệu quả sinh học, cần phải có một đại lượng kiểu như\r\ntương đương liều [1] để dùng trong bảo vệ bức xạ. ICRU đã xác định các đại lượng\r\nnày [2] và sau này sẽ có Tiêu chuẩn quốc gia gồm các bảng hệ số chuyển đổi từ\r\nkerma không khí sang các đại lượng liều tương đương này (ISO 4037-3).
\r\n\r\n\r\n\r\n
Tiêu chuẩn này đưa ra các quy
Các tài liệu viện dẫn sau là rất cần\r\nthiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm\r\ncông bố thì áp dụng bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm\r\ncông bố thì áp dụng bản mới nhất (bao gồm cả sửa đổi).
\r\n\r\nTCVN 7942-1: 2008 (ISO 4037-1: 1996)\r\nAn toàn bức xạ - Bức xạ chuẩn tia X và tia gamma hiệu chuẩn liều kế và máy đo\r\nsuất liều và xác định đáp ứng của thiết bị như là hàm của năng lượng photon -\r\nPhần 1: Đặc tính bức xạ và phương pháp tạo ra bức xạ;
\r\n\r\nISO 4037-3: 1999
Báo cáo 33: 1980 của ICRU, Các đại lượng\r\nbức xạ và đơn vị;
\r\n\r\nVIM, 1984 International Vocabulary of\r\nBasic and General Terms in Metrology, BIPM-IEC-ISO-OIML (Từ điển quốc tế các\r\nthuật ngữ cơ bản và thông dụng trong đo lường ).
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này áp dụng các định nghĩa\r\ntrong Báo cáo số 33 của ICRU, “Từ điển quốc tế các thuật ngữ cơ bản và thông dụng\r\ntrong Đo lường (VIM)” và các định nghĩa dưới đây
\r\n\r\n3.1
Các điều kiện sử dụng thiết bị đo được\r\nquy định để thực hiện việc kiểm tra tính năng hoặc các điều kiện để đảm bảo sự\r\nso sánh phù hợp của các kết quả đo [VIM].
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Các điều kiện chuẩn thường\r\nquy định các giá trị chuẩn hoặc khoảng giới hạn chuẩn cho những thông số có ảnh\r\nhưởng tới thiết bị đo. Trong tiêu chuẩn này, các giá trị chuẩn cho nhiệt độ, áp\r\nsuất không khí và độ ẩm tương đối như\r\nsau:
\r\n\r\n- nhiệt độ môi trường: 293,15 K;
\r\n\r\n- áp suất không khí: 101,3 kPa;
\r\n\r\n- độ ẩm tương đối: 65%.
\r\n\r\n3.2
Giá trị (hay khoảng giá trị) của các đại\r\nlượng ảnh hưởng [VIM] hoặc các thông số thiết bị quy định đối với đo liều của\r\ntrường bức xạ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Khoảng giá trị của nhiệt độ\r\nmôi trường, áp suất không khí và độ ẩm tương đối là:
\r\n\r\n- nhiệt độ môi trường: 291,15 K đến\r\n295,15 K;
\r\n\r\n- áp suất môi trường: 86 kPa đến 106\r\nkPa;
\r\n\r\n- độ ẩm tương đối: 30% đến 75%.
\r\n\r\nLàm việc ở ngoài khoảng này có thể dẫn\r\ntới kết quả có độ chính xác kém.
\r\n\r\n3.3. Buồng ion hóa
Đầu dò ion hóa gồm buồng chứa khí\r\nthích hợp, trong đó có một điện trường, không tạo ra sự khuếch đại khí, để thu\r\ngom về các điện cực điện tích của các ion và electron do bức xạ ion hóa tạo ra\r\ntrong vùng nhạy của đầu dò [3].
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Buồng ion hóa bao gồm thể\r\ntích nhạy, các điện cực thu gom và phân cực, điện cực bảo vệ (nếu có), thành buồng,\r\ncác phần cách điện ở gần thể tích nhạy và bất kỳ nắp đậy cần thiết nào để đảm bảo\r\ncân bằng điện tử.
\r\n\r\n3.4. Khối buồng ion hóa
Buồng ion hóa và tất cả các bộ phận\r\nkhác gắn chặt với buồng ion hóa, ngoại trừ khối đo.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Với buồng có cáp nối, khối\r\nbuồng ion hóa bao gồm cả thân máy, bộ phận ghép nối điện và dây cáp hay bộ tiền\r\nkhuếch đại gắn liền. Với buồng có cửa sổ mỏng, khối buồng ion hóa bao gồm cả khối\r\nvật liệu bao bọc buồng ion hóa.
\r\n\r\n3.5. Khối đo (measuring assembly)
\r\n\r\nThiết bị đo dòng hay điện tích từ buồng\r\nion hóa và chuyển đổi thành dạng phù hợp để hiển thị, kiểm soát hay lưu giữ.
\r\n\r\n3.6
Điểm đo khoảng cách từ nguồn bức xạ đến\r\nbuồng ion hóa theo một hướng xác định.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Điểm tham chiếu phải được\r\nnhà sản xuất thiết bị đánh dấu trên buồng. Nếu không được đánh dấu thì điểm\r\ntham chiếu phải được chỉ rõ trong tài liệu hướng dẫn đi kèm với thiết bị.
\r\n\r\n3.7. Điểm thử nghiệm
Vị trí của điểm tham chiếu trên buồng\r\nion hóa dùng cho hiệu chuẩn và quy ước ở đó đo được suất kerma thực (xem 3.11).
\r\n\r\n3.8. Ảnh hưởng của hướng buồng ion
Sự thay đổi dòng ion trong buồng ion\r\nhóa do hướng đến của tia bức xạ chuẩn thay đổi.
\r\n\r\n3.9. Hệ
Buồng ion hóa cùng với khối đo đi kèm\r\nlà tỷ số giữa giá trị thực quy ước của đại lượng mà thiết bị định đo và chỉ số\r\ncủa thiết bị, đã hiệu chỉnh về điều kiện chuẩn.
\r\n\r\n3.10
(Buồng ion hóa tự hiệu chuẩn mà không\r\ncần khối đo)
\r\n\r\nHệ số để chuyển đổi dòng ion hay điện\r\ntích, đã được hiệu chỉnh về điều kiện chuẩn, về giá trị thực quy ước của đại lượng\r\nliều ở điểm tham chiếu của buồng.
\r\n\r\n3.11
Giá trị đặc trưng cho đại lượng được\r\nxác định một cách hoàn hảo, trong những điều kiện khi xem xét đại lượng đó.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Giá trị thực của một đại lượng\r\nlà một khái niệm lý tưởng, nói chung không thể biết chính xác được. Thực tế,\r\ncác hiệu ứng lượng tử có thể ngăn trở sự tồn tại của một giá trị thực duy nhất\r\n[VIM].
\r\n\r\n3.12
Giá trị đánh giá tốt nhất của đại lượng\r\nđược đo, xác định bằng chuẩn sơ cấp hoặc thứ cấp hoặc thiết bị chuẩn đã hiệu chỉnh\r\ntheo chuẩn sơ cấp hoặc thứ cấp.
\r\n\r\nVÍ DỤ: Trong một tổ chức, kết quả đo\r\nnhận được bằng thiết bị chuẩn thứ cấp có thể được dùng làm giá trị thực quy
CHÚ THÍCH Nói chung, giá trị thực quy\r\nước được xem là đủ gần với giá trị thực với\r\nkhác biệt không đáng kể theo mục đích đo.
\r\n\r\n3.13. Đáp ứng (response)
\r\n\r\nTỷ số giữa chỉ số của khối đo và giá\r\ntrị thực quy ước của đại lượng đo tại điểm tham chiếu trong không gian.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Đáp ứng thường thay đổi theo\r\nphân bố phổ và góc của bức xạ tới.
\r\n\r\n3.14
Khoảng thời gian giữa thời điểm tức thời\r\nkhi vật được kích thích thay đổi đột ngột và thời điểm mà ở đó đáp ứng đạt tới\r\nvà duy trì giá trị ổn định cuối cùng trong giới hạn nhất định [VIM].
\r\n\r\n3.15
Độ lệch phần trăm tuyến tính được tính\r\ntheo công thức:
\r\n\r\nTrong đó
\r\n\r\nM và Q lần lượt\r\nlà chỉ số và đầu vào ở điểm thử đã chọn;
\r\n\r\nm là chỉ số quan sát\r\nđược của tín hiệu đầu vào q khác.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Với các thiết bị có nhiều thang đo thì định nghĩa trên được áp dụng\r\ncho mỗi thang đo.
\r\n\r\n3.16. Dòng rò (leakage current)
\r\n\r\nDòng điện tổng cộng chạy trong đầu dò ở\r\nđiện áp vận hành khi không có bức xạ [3].
\r\n\r\n3.17. Độ trôi điểm không
Sự thay đổi chậm theo thời gian của chỉ\r\nsố trên khối đo khi lối vào bị đoản mạch.
\r\n\r\n3.18. Độ lệch điểm không
Thay đổi đột ngột trên thang đo do\r\nphân cực khối đo thay đổi từ chế độ kiểm tra điểm “không” sang chế độ đo với dữ\r\nliệu đầu vào được kết nối với buồng ion hóa\r\nkhi chỉ có bức xạ ion hóa mà không có phông bức xạ môi trường.
\r\n\r\n3.19
Chuẩn của một đại lượng có chất lượng\r\nđo cao nhất trong một lĩnh vực nào đó.
\r\n\r\n3.20
Chuẩn mà giá trị của nó được xác định\r\nbằng cách so sánh trực tiếp hay gián tiếp với chuẩn sơ cấp.
\r\n\r\n\r\n\r\n4.1. Khái quát
\r\n\r\nThiết bị dùng để đo bức xạ chuẩn phải\r\nlà thiết bị chuẩn thứ cấp hoặc thiết bị thích hợp khác. Thông thường bao gồm khối\r\nbuồng ion hóa và khối đo. Trong một số ứng dụng, ví dụ như xác định các suất kerma\r\nthấp, các thiết bị như liều kế nhấp nháy được sử dụng. Với các năng lượng cao từ\r\n4 MeV đến 9 MeV (xem 10.2 và 10.6.3) thì các thiết bị như TLD và liều kế Fricke\r\ncũng được sử dụng.
\r\n\r\n4.2. Hiệu chuẩn
\r\n\r\nThiết bị chuẩn phải được hiệu chuẩn\r\ncho khoảng năng lượng và các đại lượng dự định sử dụng.
\r\n\r\n4.3. Đáp ứng phụ thuộc năng lượng của\r\nthiết bị
\r\n\r\nỞ năng lượng trung bình trên [xem TCVN\r\n7942-1 (ISO 4037-1)] 30 keV, tỷ số giữa đáp ứng cực đại và cực tiểu của thiết bị\r\nkhông được vượt quá 1, 1 trên dải năng lượng mà thiết bị chuẩn được sử dụng. Với\r\ncác năng lượng trung bình từ 8 keV đến 30 keV, tỷ số này không được vượt quá\r\n1,2.
\r\n\r\nKhi có thể, thì các bức xạ chuẩn dùng\r\nđể hiệu chuẩn thiết bị chuẩn thứ cấp phải giống như bức xạ dùng để hiệu chuẩn\r\ncác thiết bị bảo vệ bức xạ.
\r\n\r\n4.4. Thiết bị kiểm tra độ ổn
Nên sử dụng một nguồn phóng xạ kiểm\r\ntra để xác nhận thiết bị hoạt động tốt trước khi sử dụng.
\r\n\r\n\r\n\r\nCác quy trình được nêu trong điều này\r\ndùng chung cho đo liều lượng của cả bức xạ chuẩn tia X và tia gamma.
\r\n\r\n5.1. Vận hành thiết bị chuẩn
\r\n\r\nChế độ vận hành của thiết bị chuẩn phải\r\ntuân thủ chứng chỉ hiệu chuẩn thiết bị và tài liệu hướng dẫn sử dụng thiết bị.\r\nKhoảng thời gian giữa các lần hiệu chuẩn định kỳ cho thiết bị chuẩn hoặc giữa\r\ncác lần thẩm định định kỳ độ ổn định hiệu chuẩn thực hiện với thiết bị chuẩn phải\r\nnằm trong khoảng thời gian có thể chấp nhận được theo quy định của quốc gia. Nếu\r\nkhông có những quy định như vậy thì thời gian này không được vượt quá ba năm.
\r\n\r\n5.2. Kiểm tra độ ổn
Phải thực hiện các phép đo để kiểm tra\r\nđộ ổn định bằng cách sử dụng nguồn phóng xạ kiểm tra phù hợp hoặc trường bức xạ\r\nhiệu chuẩn nhằm khẳng định rằng khả năng chỉ thị của thiết bị nằm trong khoảng\r\n± 2%. Cần phải hiệu chỉnh cho sự phân rã phóng xạ của nguồn và những thay đổi của\r\náp suất khí và nhiệt độ so với điều kiện hiệu chuẩn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Với thiết bị có nhiều thang\r\nđo, nguồn kiểm tra có thể chỉ kiểm tra một thang nhất định của thiết bị. Nếu\r\nnguồn kiểm tra có thể dùng để kiểm tra nhiều thang đo thì dùng thang đo cho độ\r\nchính xác số đo tốt nhất.
\r\n\r\n5.3. Thời gian
Cần phải có đủ thời gian để thiết bị ổn\r\nđịnh trước khi tiến hành bất kỳ phép đo nào. Cần phải có đủ thời gian giữa các\r\nphép đo để các phép không phụ thuộc vào thời gian đáp ứng của thiết bị. Khi đo\r\nsuất kerma, khoảng thời gian giữa các lần đo liên tiếp không được nhỏ hơn
5.4. Thiết lập điểm không
\r\n\r\nNếu có kiểm soát thiết lập điểm không\r\nthì phải hiệu chỉnh kiểm soát này theo thang đo mà thiết bị đang sử dụng, có nối\r\nvới đầu dò.
\r\n\r\n5.5. Số lần đo
\r\n\r\nThiết bị chuẩn yêu cầu lấy ít nhất là\r\nbốn số đo liên tiếp. Tuy nhiên, cần lấy đủ số lần đo để đảm bảo có được giá trị\r\ntrung bình của của các số đo ấy với độ chính xác phù hợp.
\r\n\r\n5.6. Đáp ứng phụ thuộc năng lượng của\r\nthiết bị chuẩn
\r\n\r\nCác hệ số hiệu chuẩn của thiết bị chuẩn\r\nxác định với các phổ nhất định. Nếu đáp ứng của buồng chuẩn phụ thuộc vào năng\r\nlượng thì có thể phải sử dụng hệ số hiệu chỉnh khi phân bố của phổ bức xạ khác\r\nxa với phổ dùng để hiệu chuẩn thiết bị chuẩn.
\r\n\r\n5.7. Thang đo và dải đo phi tuyến tính\r\ncủa thiết bị
\r\n\r\nCần phải hiệu chỉnh các thang đo và dải\r\nđo phi tuyến tính của thiết bị chuẩn.
\r\n\r\n5.6. Thời gian di chuyển c
Nếu thiết bị chuẩn là loại tích hợp với\r\nthời gian chiếu xạ được xác định bởi hoạt động của cửa sập thì có thể cần phải\r\nhiệu chỉnh khoảng cách của thời gian chiếu do có thời gian di chuyển của cửa sập\r\n[xem TCVN 7942-1 (ISO 4037-1)]. Ví dụ, thời gian di chuyển cửa sập
Do đó, thời gian di chuyển cửa sập,
Kỹ thuật này cho kết các kết quả tốt\r\nkhi hoạt độ nguồn ổn định hoặc phép đo được lặp lại nhiều lần để nhận được giá\r\ntrị Δ
5.9. Chuyển đổi từ đại lượng đo sang đại\r\nlượng yêu cầu
\r\n\r\nNếu thiết bị chuẩn được hiệu chuẩn\r\ntheo một đại lượng khác với đại lượng được yêu cầu thì cần áp dụng các hệ số\r\nchuyển đổi đối với các giá trị đo được.
\r\n\r\n6. Quy trình áp dụng\r\ncho buồng ion hóa
\r\n\r\n6.1. Khối buồng ion hóa dược hiệu chuẩn\r\nriêng biệt với khối đo
\r\n\r\nNếu khối buồng ion hóa được hiệu chuẩn\r\nriêng biệt với toàn bộ hệ đo thì có thể theo dõi việc hiệu chuẩn khối đo điện\r\ntích hay dòng phụ trợ theo các tiêu chuẩn thích hợp về điện.
\r\n\r\n6.2. Ảnh hưởng bởi góc tới của tia bức xạ Iên đáp ứng của buồng ion hóa
\r\n\r\nNói chung hướng của buồng ion
Nếu có thể được thì phải phù hợp với\r\ncác đặc trưng kỹ thuật của nhà sản xuất.
\r\n\r\n6.3. Xác định ảnh hưởng của sự rò rỉ
\r\n\r\nVới các thiết bị được thiết kế để đo\r\nsuất kerma, dòng rò của khối đo khi không có bức xạ ngoài bức xạ môi trường ra\r\nphải nhỏ hơn 2% số chỉ lớn nhất trên thang đo nhạy nhất. Với các thiết bị được\r\nthiết kế để đo kerma, chỉ số độ rò rỉ tích lũy tương ứng phải nhỏ hơn 2% số chỉ\r\ntạo bởi bức xạ chuẩn trong khoảng thời gian đo. Nếu rò rỉ nhiều thì phải hiệu\r\nchỉnh dòng rò.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1 Dưới đây là các ví dụ về\r\nnguồn gốc của dòng rò
\r\n\r\na) rò rỉ sau chiếu xạ
b) rò rỉ trong phân cách điện khi\r\nkhông có bức xạ - Các dòng rò này có thể xuất hiện ở trên bề mặt hoặc trong thể\r\ntích vật liệu cách điện dùng để chế tạo buồng, cáp dẫn, đầu nối và các bộ phận\r\nđầu vào có trở kháng cao của điện kế và /hoặc bộ tiền khuếch đại;
\r\n\r\nc) các thiết bị có tín hiệu từ buồng\r\nđược số hóa có thể không có dòng rò do phân cực ngược với sự phân cực do quá\r\ntrình ion hóa trong buồng.
\r\n\r\nTrong trường hợp này không thể xác định\r\nđược độ lớn của dòng rò trừ khi có sẵn các bức xạ phù\r\nhợp đã biết suất kerma hoặc tỷ số suất kerma.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2 Còn có các nguồn gây sai số\r\nkhác cũng tạo ra các hiệu ứng giống như dòng rò, ví dụ:
\r\n\r\na) cáp truyền âm: cáp đồng trục có thể\r\ntạo ra ồn điện khi bị uốn hoặc biến dạng. Có thể sử dụng cáp có độ ồn thấp,\r\nkhông truyền âm và đợi đủ thời gian để dòng điện cơ học giảm xuống;
\r\n\r\nb) tín hiệu do tiền khuếch đại: bất cứ\r\nkhi nào có thể, nên đặt bộ tiền khuếch đại ở ngoài vùng chùm bức xạ để loại bỏ\r\ndòng rò cảm ứng. Nếu không thể được thì phải che chắn đầy đủ cho bộ tiền khuếch\r\nđại.
\r\n\r\n6.4. Vị trí và hướng của buồng chuẩn
\r\n\r\nPhải đặt buồng chuẩn theo quy định của\r\nphòng thí nghiệm hiệu chuẩn, trên trục của chùm bức xạ chuẩn ở khoảng cách cần\r\nthiết từ nguồn đến điểm tham chiếu của buồng và hướng chuẩn của buồng so với\r\nchùm tia phải được nhà sản xuất nêu rõ.
\r\n\r\n6.5. Điều kiện hình học
\r\n\r\nTiết diện ngang của chùm bức xạ chuẩn\r\nphải đủ lớn để chiếu buồng chuẩn hoặc thiết bị được hiệu chuẩn, tùy theo đối tượng\r\nnào lớn hơn. Thay đổi suất kerma trong tiết diện chùm tia có ích phải nhỏ hơn\r\n5% và đóng góp của bức xạ tán xạ vào suất kerma tổng cộng phải nhỏ hơn 5% [xem\r\nTCVN 7942 -1 (ISO 4037-1)]. Cần phải hiệu chỉnh nếu thấy cần thiết.
\r\n\r\nKích thước hạn chế
6.6. Tán xạ trên phần hỗ trợ buồng và\r\nchạc phân nhánh
\r\n\r\nKết cấu hỗ trợ buồng chuẩn trong chùm\r\ntia phải được thiết kế nhằm đóng góp bức xạ tán xạ ít nhất. Vì hiệu ứng tán xạ\r\ntrên thân máy và dòng rò do bức xạ trong thân máy tạo ra trong điều kiện hiệu\r\nchuẩn đã được đưa vào hệ số hiệu chuẩn cho thiết bị chuẩn nên không cần phải hiệu\r\nchỉnh các hiệu ứng này nữa trừ khi diện tích chùm tia khác xa với diện tích\r\nchùm tia sử dụng để hiệu chuẩn thiết bị chuẩn.
\r\n\r\nHiệu ứng tán xạ trên thân máy có thể\r\nthấy ở các phép đo có và không có thân máy trong các điều kiện hình học phù hợp.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Tán xạ trên thân máy là hàm\r\ncủa chất lượng bức xạ chuẩn và tiết diện chùm tia. Tuy nhiên, ảnh hưởng của bức\r\nxạ tán xạ đối với việc sử dụng chùm tia để hiệu chuẩn thiết bị về sau phụ thuộc\r\nvào loại thiết bị và phương pháp hỗ trợ\r\ntrừ khi thiết bị chuẩn và thiết bị được chuẩn giống hệt nhau.
\r\n\r\n6.7. Hiệu chỉnh phép đo
\r\n\r\nSố đo của thiết bị chuẩn phải được hiệu\r\nchỉnh khi cần thiết đối với các hiệu ứng nêu trong 5.6 và 5.7 để xác định kết\r\nquả của phép đo.
\r\n\r\n6.7.1. Dịch chuyển
Hiệu ứng này có thể lớn trên các dải\r\nđo nhạy hơn và nếu cần phải được hiệu chỉnh hay tốt hơn là loại bỏ bằng các kỹ\r\nthuật đo phù hợp.
\r\n\r\n6.7.2. Hiệu chỉnh rò điện và rò do bức\r\nxạ, kể cả bức xạ phông
\r\n\r\nKhi thích hợp phải hiệu chỉnh cho hiệu\r\nứng rò nêu trong 6.3.
\r\n\r\n6.7.3. Hiệu chỉnh sai lệch nhiệt độ\r\nkhông khí, áp suất và độ ẩm so với điều kiện chuẩn
\r\n\r\nVới buồng ion hóa chuẩn hở, phải áp dụng\r\ncác hiệu chỉnh khí lý tưởng sau đây cho bất kỳ khác biệt nào giữa điều kiện đo\r\nvà điều kiện hiệu chuẩn:
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nM giá trị hiệu chỉnh về\r\ncác điều kiện hiệu chuẩn p0, T0 và h0\r\ndưới đây:
\r\n\r\np0 áp suất không khí\r\nchuẩn, 101,3 kPa;
\r\n\r\nT0 nhiệt độ không khí\r\nchuẩn, 293,15 K;
\r\n\r\nh0 độ ẩm tương đối chuẩn,\r\n65%;
\r\n\r\nMj giá trị nhận được\r\ntrong điều kiện đo: p, T và h;
\r\n\r\np áp suất không khí\r\ntrong quá trình đo;
\r\n\r\nT nhiệt độ không khí\r\ntrong quá trình đo;
\r\n\r\nh độ ẩm tương đối\r\ntrong quá trình đo;
\r\n\r\nCT,p hệ số hiệu chỉnh nhiệt\r\nđộ và áp suất không khí tính theo công thức:
\r\n\r\nCh là hệ số hiệu chỉnh\r\ncho bất kỳ sai khác nào về độ ẩm tương đối giữa đi
Một số loại thiết bị có cơ chế tự động\r\nbù nhiệt độ và /hoặc áp suất mà không cần phải hiệu chỉnh, với điều kiện là bù\r\ntrừ về điều kiện chuẩn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Có thể điều chỉnh nhiệt độ\r\nvà độ ẩm trong giới hạn các giá trị ở điều kiện kiểm tra chuẩn. Không áp dụng đối\r\nvới áp suất. Làm việc ở ngoài vùng giá trị cho trong tiêu chuẩn này có thể làm\r\ngiảm độ chính xác hoặc cần phải xử lý đặc biệt đối với hệ số hiệu chỉnh.
\r\n\r\n6.7.4. Thu gom ion không hoàn toàn
\r\n\r\nKhi dùng thiết bị chuẩn ở dải các suất\r\nliều cao, có thể cần phải hiệu chỉnh đối với việc thu gom ion không hoàn toàn\r\ntrong khối buồng ion hóa.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1 Nếu có thể thì nên tránh\r\nviệc sử dụng các tín hiệu điện để xác định độ hiệu chỉnh ở các dải liều cao của\r\nthiết bị. Nếu sử dụng tín hiệu điện thì cần hiệu chỉnh sự thu gom ion không đầy\r\nđủ trong buồng.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2 Nên chiếu toàn bộ khối đầu\r\ndò vì phương pháp này sẽ kiểm tra toàn bộ hệ thống đo.
\r\n\r\n6.7.5. Sự không đồng đều của chùm tia
\r\n\r\nPhải xác định sự biến thiên của suất\r\nkerma trên diện tích chùm tia bằng cách khảo sát chùm tia với đầu dò kích thước\r\nnhỏ hoặc nhũ tương ảnh (phim).
\r\n\r\n\r\n\r\n7.1. Sử dụng nguồn đã biết hoạt độ
\r\n\r\nKhông dùng hoạt độ đã biết của nguồn để\r\nhiệu chuẩn trường bức xạ. Việc đo liều lượng của tất cả các trường bức xạ chuẩn\r\nđều phải tiến hành bằng cách sử dụng thiết bị chuẩn đã được hiệu chuẩn. Quy\r\ntrình này tránh được các sai số do khác biệt về điều kiện hình học giữa các\r\nphép đo ban đầu của hoạt độ nguồn đã biết và khi sử dụng nguồn về sau.
\r\n\r\nTuy nhiên, khi đo các suất kerma môi\r\ntrường nhỏ hơn xấp xỉ 10 mGy h-1 thì việc sử dụng các nguồn phóng xạ chuẩn\r\nvà các kỹ thuật thích hợp được chấp nhận. Việc đo liều lượng chính xác, và hiệu\r\nchuẩn, cho các thiết bị đo kerma /suất kerma môi trường dẫn đến nhiều vấn đề.\r\nNghiên cứu chi tiết về các vấn đề liên quan và các kỹ thuật được khuyến cáo cho\r\nviệc hiệu chuẩn có trong Tài liệu tham khảo [6].
\r\n\r\n7.2. Sử dụng nắp cân bằng điện tử
\r\n\r\nTất cả các phép đo phải thực hiện với\r\nnắp mà đã được dùng tại mỗi năng lượng trong quá trình hiệu chuẩn thiết bị chuẩn;\r\nnếu không hệ số hiệu chuẩn của thiết bị chuẩn sẽ không hợp lệ.
\r\n\r\n7.3. Phân rã nguồn phóng xạ
\r\n\r\nKhi có yêu cầu, cần phải hiệu chỉnh đối\r\nvới sự phân rã phóng xạ của nguồn [xem TCVN 7942-1 (ISO 4037-1)] để biết chi tiết\r\nvề thời gian bán rã của các đồng vị phóng\r\nxạ].
\r\n\r\n7.4. Tạp bẩn đồng vị phóng xạ
\r\n\r\nVì các nguồn 137Cs vừa mới\r\nsản xuất có thể chứa một lượng lớn 134Cs nên việc áp dụng hiệu chuẩn\r\nphân rã dựa trên giả thiết tinh khiết đồng vị phóng xạ 137Cs có thể\r\ncó sai số.
\r\n\r\nNhà sản xuất nguồn phải cho biết các đặc\r\ntrưng về tạp nhiễm của nguồn [xem TCVN 7942-1 (ISO 4037-1)].
\r\n\r\n7.5. Nội suy giữa các vị trí hiệu chuẩn
\r\n\r\nViệc xác định suất kerma bằng cách nội\r\nsuy cho các khoảng cách chứ không thực hiện các phép đo ở đó chỉ được phép với\r\ncác khoảng cách có sự sai khác so với quy luật tỷ lệ nghịch với bình phương khoảng\r\ncách nhỏ hơn ± 5% [xem TCVN 7942-1 (ISO 4037-1)].
\r\n\r\n8. Quy trình bổ sung\r\nvà lưu ý riêng đối với đo liều lượng bức xạ tia X
\r\n\r\n8.1. Thăng giáng cường độ tia X
\r\n\r\nKhi có sự thay đổi cường độ bức xạ từ\r\nmáy phát tia X theo thời gian, thì phải theo dõi đầu ra của máy phát bằng buồng\r\nion hóa.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Vì có một lượng lớn tấm lọc\r\nthêm vào dùng để tạo ra các bức xạ được lọc chuẩn trong TCVN 7942-1 (ISO\r\n4037-1), những thay đổi lớn về cường độ có thể xảy ra chỉ với những thay đổi nhỏ\r\ncủa điện áp. Với các suất kerma thấp, thay đổi 1% điện áp ống phát tia X\r\ncó thể tạo ra thay đổi cường độ chùm tia lọc lên đến 15%. Tuy nhiên, nếu điện\r\náp trung bình không thay đổi thì bất kỳ sự biến thiên nào trong một chu kỳ điện\r\náp cũng sẽ tạo ra những biến thiên rất lớn đối với suất kerma tức thời của bức\r\nxạ tia X [xem TCVN 7942-1 (ISO 4037-1) để biết đặc trưng kỹ thuật cho các giới\r\nhạn về biến thiên điện áp].
\r\n\r\n8.2. Đầu dò theo dõi
\r\n\r\n8.2.1. Đầu dò theo dõi phải\r\nlà khối buồng ion hóa hở truyền qua có khối đo đi kèm.
\r\n\r\n8.2.2. Phần của buồng ion\r\nhóa mà chùm bức xạ đi qua phải có cấu trúc đồng nhất và được đặt ở sau và gần với\r\ntấm lọc thêm vào. Buồng đầu dò phải đủ mỏng để không tạo thêm tấm lọc không\r\nmong muốn đối với chùm tia [xem TCVN 7942-1 (ISO 4037-1)]. Hình 1 là một ví dụ\r\nvề hệ tia X điển hình.
\r\n\r\n8.2.3. Hiệu suất thu gom ion\r\ncủa buồng không được nhỏ hơn 99% đối với tất cả các suất kerma.
\r\n\r\n8.2.4. Với một chất lượng bức\r\nxạ đã cho, nếu tỷ số số đo của đầu dò và số đo của thiết bị chuẩn cho thấy sự ổn\r\nđịnh theo thời gian, nghĩa là thay đổi không quá 0,5% trong khoảng thời gian\r\nxác định thì đầu dò có thể dùng làm thiết bị chuyển đổi trong khoảng thời gian\r\nđó mà không cần phải so sánh thêm.
\r\n\r\n8.2.5. Dòng rò của buồng ion\r\nhóa phải nhỏ hơn 2% số đo lớn nhất trong thang đo dòng nhạy nhất, và phải áp dụng\r\ncác hiệu chỉnh nếu thích hợp.
\r\n\r\n8.2.6. Khi đo suất kerma, hằng\r\nsố thời gian của hệ đo buồng ion hóa phải\r\ntương xứng với và không lớn hơn hằng số thời gian của thiết bị chuẩn.
\r\n\r\n8.2.7. Phải hiệu chỉnh số đo\r\ncủa hệ đo buồng ion hóa do những sai lệch về nhiệt độ và áp suất so với điều kiện\r\nchuẩn (xem 6.7.3).
\r\n\r\n8.2.8. Các đặc trưng vận\r\nhành của khối buồng ion hóa và khối đo đi kèm phải tương tự với thiết bị chuẩn.
\r\n\r\n8.3. Khe tia
\r\n\r\nKhe tia phải được đặt sau và gần với tấm\r\nlọc thêm vào để giới hạn chùm tia theo kích thước yêu cầu. Thiết kế khe tia phải\r\nđảm bảo đóng góp tán xạ ít nhất tại điểm kiểm tra. Diện tích chùm tia phải đủ lớn\r\nđể đảm bảo rằng cả buồng chuẩn và dụng cụ hoặc thiết bị được chuẩn được chiếu xạ\r\nhoàn toàn, và phải đủ nhỏ để giảm thiểu chiếu xạ lên thân máy và phần hỗ trợ\r\nthân máy. Kích thước chùm tia phải giữ không đổi trong quá trình hiệu chuẩn.
\r\n\r\n8.4. Cửa sập tia X
\r\n\r\nCửa sập phải đặt giữa ống phát tia X\r\nvà buồng ion hóa. Cửa sập phải đủ dày để làm giảm suất kerma truyền qua chỉ còn\r\n0,1% để sử dụng được bức xạ chuẩn có năng lượng cao nhất (xem 5.8). Khi đo\r\nkerma, phải lấy số đo càng sớm càng tốt sau khi ngừng chiếu xạ.
\r\n\r\nCHÚ GIẢI
\r\n\r\n| \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n Khoảng cách hiệu chuẩn \r\n | \r\n \r\n 7 \r\n | \r\n \r\n Vị trí A \r\n | \r\n
| \r\n 2 \r\n | \r\n \r\n Chuẩn trực bằng chì \r\n | \r\n \r\n 8 \r\n | \r\n \r\n Vị trí B \r\n | \r\n
| \r\n 3 \r\n | \r\n \r\n Buồng theo dõi chùm\r\n tia \r\n | \r\n \r\n 9 \r\n | \r\n \r\n Vị trí C \r\n | \r\n
| \r\n 4 \r\n | \r\n \r\n Tấm lọc bổ sung \r\n | \r\n \r\n 10 \r\n | \r\n \r\n Không lọc, A \r\n | \r\n
| \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n Cửa sập \r\n | \r\n \r\n 11 \r\n | \r\n \r\n Với tấm lọc sẵn có, B \r\n | \r\n
| \r\n 6 \r\n | \r\n \r\n Ống phát tia X \r\n | \r\n \r\n 12 \r\n | \r\n \r\n Với tấm lọc bổ sung, C \r\n | \r\n
8.5. Hiệu chỉnh suất kerma
\r\n\r\nVới bất kỳ bức xạ chuẩn nào cũng có thể\r\ncó được các suất kerma khác nhau bằng cách thay đổi dòng trong ống phát tia X\r\nhoặc khoảng cách đến bia. Việc lựa chọn điều kiện vận hành là sự dung hòa giữa\r\ncác yêu cầu đối kháng nhau như tán xạ, độ đồng đều của chùm tia, ổn định đầu\r\nra, thăng giáng điện áp và suy giảm trong không khí.
\r\n\r\n\r\n\r\n9.1. Bất cứ khi nào có thể\r\nthực hiện được và phù hợp với suất kerma được yêu cầu thì nên hiệu chỉnh điện\r\náp của máy phát tia X để giảm thiểu bức xạ không phải là bức xạ đặc trưng được\r\nyêu cầu đối với bộ phận phát bức xạ.
\r\n\r\n9.2. Trong các ứng dụng\r\nsau đó của chùm bức xạ này, cần chú ý tới vai trò của các tạp nhiễu trong phân\r\nbố phổ; điều này đặc biệt quan trọng đối với bức xạ huỳnh quang từ lớp K có\r\nnăng lượng thấp.
\r\n\r\n9.3. Khi phát bức xạ tia X\r\nhuỳnh quang từ lớp K của uranium, cả bộ phận phát và tấm lọc thorium đều bức xạ\r\ncho nên có thể tạo ra dòng giả lớn trong buồng ion hóa; dòng này phải được hiệu\r\nchỉnh khi cần thiết.
\r\n\r\n10. Đo liều lượng bức\r\nxạ chuẩn có năng lượng photon từ 4 MeV đến 9 MeV
\r\n\r\n10.1. Đại lượng liều lượng
\r\n\r\nĐại lượng được chọn đặc trưng cho bức\r\nxạ chuẩn từ 4 MeV đến 9 MeV ở điểm kiểm tra là (suất) kerma không khí đo trong\r\nkhông khí, tức là trong điều kiện không có thiết bị thu gom, hoặc (suất) liều hấp\r\nthụ đối với vật liệu hoặc nước xác định tương đương mô, đo ở các độ sâu cần thiết\r\ntrong hình nộm chuẩn, tức là khi có thiết bị thu gom. Các đại lượng bảo vệ bức\r\nxạ cần thiết sẽ dựa trên đại lượng đã chọn (xem Báo cáo của ICRU: Báo cáo số\r\n39, Báo cáo số 43, Báo cáo số 47, Báo cáo số 51 và ấn phẩm số 74 của ICRP).
\r\n\r\n10.2. Đo các đại lượng liều
\r\n\r\nCả hai đại lượng liều đều có thể xác định\r\nbằng phương pháp đo trực tiếp sử dụng thiết bị hiệu chuẩn theo đại lượng đã chọn,\r\nhoặc gián tiếp bằng cách đo một đại lượng khác và áp dụng các hệ số chuyển đổi.\r\nCác ví dụ về xác định trực tiếp và gián tiếp cho trong 10.2.1 và 10.2.2.
\r\n\r\n10.2.1. Với
Trực tiếp
\r\n\r\n- đo (suất) kerma không khí bằng buồng\r\nion hóa hiệu chuẩn theo (suất) kerma không khí.
\r\n\r\nGián tiếp
\r\n\r\n- từ phép đo phổ (thông lượng) dòng\r\nphoton (xem 10.5.3);
\r\n\r\n- từ phép đo phát xạ\r\nhạt anpha thứ cấp trong trường hợp trường bức xạ tạo bởi phản ứng 19F(p,\r\na
10.2.2. Với (suất) liều hấp thụ trong\r\nđiều kiện có thiết bị thu gom
\r\n\r\nTrực tiếp
\r\n\r\n- đo (suất) liều hấp thụ đối với mô bằng\r\nbuồng ion hóa hiệu chuẩn theo (suất) liều hấp thụ trong mô.
\r\n\r\nGián tiếp
\r\n\r\n- đo phổ (thông lượng) dòng photon\r\ntrong điều kiện không có thiết bị thu gom;
\r\n\r\n- đo (suất) kerma không khí, trong\r\nkhông khí hoặc hình nộm (xem 10.6 về cách xác định trong hình nộm).
\r\n\r\nCác phương pháp đo được đề
10.3. Hình học đo
\r\n\r\nĐiểm tham chiếu của đầu dò đặt ở điểm\r\nkiểm tra.
\r\n\r\nKhoảng cách từ tâm nguồn đến điểm kiểm\r\ntra được chọn sao cho dòng photon đồng đều trong giới hạn 5%:
\r\n\r\n- trên toàn bộ tiết diện ngang của khối\r\nđầu dò dùng để hiệu chuẩn trường bức xạ chuẩn trong điều kiện không có thiết bị\r\nthu gom;
\r\n\r\n- trên toàn bộ tiết diện ngang của khối\r\nhình nộm và đầu dò dùng để hiệu chuẩn trường bức xạ chuẩn trong điều kiện có\r\nthiết bị thu gom.
\r\n\r\nảnh hưởng\r\ncủa chùm tia phân kỳ lên kết quả đo không được vượt quá 3%. Khi diện tích tiết\r\ndiện ngang của chùm tia tại điểm kiểm tra nhỏ hơn tiết diện ngang của khối bị\r\nchiếu, khối bị chiếu phải được quét ngang khắp chùm tia một cách hợp lý.
\r\n\r\n10.4. Đầu dò theo dõi
\r\n\r\nTất cả các phép đo tại điểm kiểm tra\r\nphải được liên hệ với các phép đo tức thời bằng một đầu dò theo dõi được lắp đặt\r\nsao cho số đo của nó không bị ảnh hưởng bởi\r\nbức xạ tán xạ từ thiết bị đo đặt tại điểm kiểm tra.
\r\n\r\nViệc lựa chọn thiết bị theo dõi tùy\r\nthuộc vào thông lượng. Ví dụ các lựa chọn có thể là các hệ thống sử dụng buồng\r\nion hóa, đầu dò nhấp nháy Nal(TI) hoặc nhựa, ống đếm GM, thiết bị đếm hạt thứ cấp\r\nhoặc đầu dò bán dẫn. Số đo của đầu dò theo dõi chùm tia phải tỷ lệ trong khoảng\r\n2% so với giá trị thực quy ước của đại lượng\r\nđược đo.
\r\n\r\n10.5. Xác định (suất) kerma không khí trong điều kiện không có thiết bị thu\r\ngom
\r\n\r\nGiá trị chuẩn của (suất) kerma không\r\nkhí phải được xác định tại điểm kiểm tra. Có thể xác định giá trị này một cách\r\ntrực tiếp hoặc gián tiếp (xem 10.2).
\r\n\r\n10.5.1. Điều kiện đo
\r\n\r\n10.5.1.1. Lựa chọn và định vị đầu dò
\r\n\r\nNếu có thể được, cần dùng buồng ion\r\nhóa có thành buồng gần tương đương với không khí để làm đầu dò. Điểm tham chiếu\r\ncủa đầu dò phải đặt tại điểm kiểm tra. Nếu buồng đặt ở khoảng cách khác với khoảng\r\ncách hiệu chuẩn thì cần phải có hệ số hiệu chỉnh cho (suất) kerma không khí đo\r\nđược.
\r\n\r\n10.5.1.2. Cân bằng điện tử tạm thời
\r\n\r\nĐể thiết lập cân bằng điện tử tạm thời\r\ntrên bề mặt đầu dò, đầu dò phải được bao bọc bằng một lớp (nắp) tạm thời làm bằng\r\nvật liệu tương đương không khí.
\r\n\r\nNếu dùng vật liệu không tương đương\r\nkhông khí thì phải có các hiệu chỉnh cho sự khác nhau về năng lượng hãm (xem\r\nBáo cáo ICRU số 37). Độ dày tổng cộng của thành và nắp đầu dò phải nằm trong\r\nkhoảng 0,4 g/cm2 và 0,6 g/cm2 khi đo bức xạ gamma từ 137Cs\r\nhoặc 60Co, và 0,4 g/cm2 ± 0,1 g/cm2 khi đo bức\r\nxạ chuẩn năng lượng cao (ISO 4037-3).
\r\n\r\n10.5.2. Đo trực tiếp bằng buồng ion\r\nhóa
\r\n\r\nBuồng ion hóa sử dụng phải hiệu chuẩn\r\ntrong không khí theo kerma không khí và phải dùng tổng độ dày thành buồng bằng\r\n0,4 g/cm2 ± 0,1 g/cm2 cho tất cả các phép đo với photon\r\ntrong dải năng lượng từ 4 MeV đến 9 MeV.
\r\n\r\nNếu có thể, phải hiệu chuẩn buồng ion\r\nhóa bằng phổ photon tương tự với bức xạ chuẩn. Sau đó, xác định kerma không\r\nkhí, (Ka)r đối với bức xạ chuẩn của năng lượng Er\r\ntừ số đo của buồng Mr3) như sau:
\r\n\r\ntrong đó (NK)r\r\nlà hệ số hiệu chuẩn kerma không khí nhận được với photon năng lượng Er.
\r\n\r\nKhi không thể hiệu chuẩn cho buồng ion\r\nhóa với phổ photon tương tự như bức xạ chuẩn thì buồng được hiệu chuẩn bằng bức\r\nxạ gamma của 60Co, sử dụng độ dày tổng cộng thông th
(2)
trong đó NK là hệ số\r\nhiệu chuẩn kerma không khí nhận được với tia gamma của 60Co, hệ số\r\n(1-ga) hiệu chỉnh cho sự phát bức xạ hãm trong không khí, hệ\r\nsố katt hiệu chỉnh cho sự hấp thụ và tán xạ bức xạ sơ cấp\r\ntrong thành buồng (kể cả nắp tích lũy gắn cùng), và hệ số km\r\nhiệu chỉnh cho sự khác biệt có thể có giữa không khí của thành buồng và nắp.\r\nQuá trình biến đổi để nhận được công thức (2) có trong Phụ lục A. Với trường hợp\r\nthành buồng và nắp làm từ cùng một loại vật liệu (ký hiệu dưới là Gm) nhưng\r\nkhông nhất thiết phải tương đương với không khí, km được xác định bởi:
\r\n\r\n(3)
trong đó là tỷ số hệ số hấp thụ năng lượng khối\r\ntrung bình của vật liệu làm thành buồng (và nắp) và không khí. Lưu ý rằng km\r\nbằng 1 đối với buồng ion hóa có thành buồng và nắp tương đương không khí.
Có thể phải tiến hành thêm các hiệu chỉnh\r\ntrong các điều kiện đo cụ thể, ví dụ như hiệu chỉnh cho hiệu suất thu gom ion\r\nkhông hoàn toàn trong những trường hợp mật độ thông lượng lớn, các hiệu ứng\r\nphân cực và tương tác photon với các bộ phận khác của buồng (thân máy, điện cực\r\ntrung tâm) xảy ra trong một số loại buồng ion hóa nhất định, và sự khác biệt giữa\r\ntâm hiệu dụng và tâm hình học của buồng ion hóa trong trường hợp buồng có thể\r\ntích tương đối lớn. Thông thường các hệ số hiệu chỉnh bổ sung sai khác với 1 dưới\r\n1%, và do vậy có thể bỏ qua khi sử dụng các trường bức xạ chuẩn trong đo liều\r\nlượng bảo vệ bức xạ. Ví dụ các giá trị đại số cần cho việc ước tính (Ka)r\r\ntừ công thức (2) được cho trong các Bảng từ 1 đến 4. Bảng 1 cho các giá trị hiệu\r\nchỉnh mất mát do bức xạ hãm trong không khí của buồng ion hóa, nhận được bởi\r\nnhiều tác giả khác nhau. Bảng 2 cho, ví dụ, sự so sánh katt\r\ncho năm loại và kích thước buồng ion hóa ở năng lượng 1,25 MeV và 7 MeV.
\r\n\r\nGiá trị các tỷ số giữa công suất dừng\r\nvà hệ số hấp thụ năng lượng cần để tính toán hệ số hiệu chỉnh km cho\r\nbuồng ion hóa có thành buồng và nắp không tương đương không khí, ví dụ như nước,\r\npolymethyl methacrylate (PMMA) và polystyrene, được cho trong các Bảng 3 và 4.\r\nTất cả các tỷ số hệ số hấp thụ năng lượng cho trong Bảng 4 áp dụng đối với các\r\nđộ dày thành buồng cho cân bằng điện tử và photon đơn năng [15]. Vì rằng hầu hết\r\ncác tỷ số này thay đổi tương đối chậm theo năng lượng photon nên các giá trị đã\r\ncho có thể xem là tương đối đồng đều với các năng lượng photon mà độ dày 0,4\r\ng/cm2 lớn hơn độ dày cho cân bằng điện tử. Xem Phụ lục A để biết về\r\ncác giá trị trong bằng và ứng dụng của chúng.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n
| \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n H.E Johns và J. R. Cunningham, The\r\n Physics of Radiology, trang 723, Charles Thomas, Spring + * | \r\n ||
![](\"00911790_files/image009.gif\"){kind=small}
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n Trụ tương đối nông \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n
| \r\n Trụ tương đối nông \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Trụ tương đối nông \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n
| \r\n Trụ sâu \r\n(máy đo) \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n
| \r\n Trụ rất nông \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
| \r\n CHÚ THÍCH Các giá trị tính được sử dụng\r\n trong phần này của TCVN 7942 (ISO 4037) thực hiện bởi D.W.O. Rogers thuộc Hội\r\n đồng nghiên cứu quốc gia Canađa (National Research Council of Canada) sử dụng\r\n các phương pháp đã xuất bản trước đó của mình [12, 13]. Liên hệ riêng [1987]. \r\n1) Được tính cho khoảng cách nguồn đến\r\n buồng là 100 cm trừ các trường hợp cụ thể khác. \r\n2) ý nghĩa của các ký hiệu: r\r\n = bán kính; d = độ sâu. \r\n3) Trung bình các giá trị của 35 buồng\r\n có thể tích 1 cm3 cho trong Bảng XVIII của Các báo cáo kỹ thuật của\r\n IAEA (IAEA Technical Report Seires) số 277. \r\n4) Chiếu xạ liên tục. \r\n5) Độc lập với khoảng cách. \r\n6) Chiếu xạ từ một bên. \r\n7) Chiếu xạ ở khoảng cách 50 cm từ\r\n nguồn đến buồng. \r\n8) Nếu không có sai số thì lấy giá\r\n trị < ± 0,005. \r\n | \r\n |||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n CHÚ THÍCH Năng lượng cắt của điện tử\r\n thứ cấp: 10 keV. Ký tự dưới w thay cho nước, PMMA 1) Theo 2) Các giá trị tính được sử dụng\r\n trong tiêu chuẩn này thực hiện bởi J.R. Cunningham, Viện Ung thư Ontario, sử\r\n dụng các phương pháp đã xuất bản trước đó của mình [10,11]. \r\n | \r\n ||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||
| \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n
| \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n CHÚ THÍCH Xem Bảng 3 để biết chú giải\r\n cho các ký hiệu dưới. \r\n | \r\n ||||||
10.5.3. Xác định (suất) kerma không khí\r\ntừ (thông lượng) dòng photon
\r\n\r\nCó thể xác định gián tiếp (suất) kerma\r\nkhông khí từ phổ (thông lượng) dòng photon dựa trên phổ biên độ xung đo bằng đầu\r\ndò chất rắn đã hiệu chuẩn (xem 10.5.3.1) hoặc, nếu có thể được, từ (thông lượng)\r\ndòng photon tổng có được bằng cách đếm hạt liên kết (xem 10.5.3.2).
\r\n\r\nNói chung, khi fi là hệ số truyền năng lượng khối trung\r\nbình trong khoảng này [11], [16], kerma không khí, Ka, được\r\nxác định bởi:
(4)
trong đó tổng được lấy trên toàn bộ phổ\r\ndòng photon. Hệ số truyền năng lượng khối có thể tính theo - xem Báo cáo ICRU số 33 trong đó
là hệ số hấp thụ năng lượng khối [15]\r\nvà
10.5.3.1. Xác định kerma không khí từ\r\ncác phép đo dòng photon
\r\n\r\nCó thể sử dụng các đầu dò Nal(TI), Ge\r\nthuần, hoặc Ge(Li). Tâm mặt trước của vỏ bọc đầu dò đặt ở điểm kiểm tra. Nếu\r\nbình nitơ được sử dụng thì phải đặt sao cho tránh tạo ra bức xạ tán xạ thừa từ\r\nbức xạ trực tiếp. Đầu dò phải hiệu chuẩn theo các hàm đáp ứng, đã biết số đếm ứng\r\nvới mỗi đơn vị dòng photon trong các khoảng năng lượng liên tiếp, đối với các\r\nphoton tới có năng lượng khác nhau thuộc dải năng lượng quan tâm. Phải sử dụng\r\ncác giá trị đã tính, trừ khi trong dải năng lượng quan tâm đã có đồng vị phóng\r\nxạ và /hoặc nguồn gia tốc để đo đủ số lượng cho các hàm đáp ứng. Các photon\r\n6,13 MeV có được từ phản ứng 19F(p,ag)16O tại\r\nnăng lượng proton bằng hoặc cao hơn một chút so với năng lượng ngưỡng 340 keV\r\nkhiến chúng phù hợp cho việc xác định hàm đáp ứng của các đầu dò này ở các năng\r\nlượng gần 6 MeV, vì ở các năng lượng proton này hơn 97% hạt anpha phát ra có\r\nliên quan tới các photon này (xem 10.5.3.2).
\r\n\r\nĐể có được phổ dòng cần để giải công\r\nthức (4), có thể phân tích phổ biên độ xung đo được với một trong số các đầu dò\r\nnày, có xem xét đến ma trận đáp ứng của đầu dò. Kinh nghiệm thực tế về phương\r\npháp xác định kerma không khí trong các chùm bức xạ chuẩn còn hạn chế, nhưng có\r\nthể đơn giản hóa vì phổ dòng của các chùm bức xạ này bị giới hạn trong một dải\r\nnăng lượng tương đối hẹp gần với Ec dùng để hiệu chuẩn đầu\r\ndò, công thức (4) trở thành:
\r\n\r\nTrong đó n là tổng số photon tới; N
Các ví dụ về sử dụng đầu dò hiệu chuẩn\r\nđể xác định thông lượng của chùm tia chuẩn có thể tìm thấy trong [17], [18],\r\nbao gồm các bước để có được nguồn hiệu chuẩn tuyệt đối có năng lượng photon\r\n6,13 MeV [19].
\r\n\r\n10.5.3.2. Xác định kerma không khí bằng\r\ncách đếm hạt liên kết [19, 20]
\r\n\r\nPhương pháp này chỉ áp dụng được khi bức\r\nxạ chuẩn được tạo ra bởi phản ứng 19F(p,ag)16O ở\r\nnăng lượng proton chỉ không quá vài keV với ngưỡng phản ứng 340 keV. Năng lượng\r\nthấp của proton đảm bảo rằng độ dày của lớp bia mà proton tới xuyên qua nhỏ hơn\r\nquãng chạy của hạt anpha tạo ra bởi proton ở trong bia [xem TCVN 7942-1 (ISO\r\n4037-1)]; và không làm thay đổi số đếm của đầu dò do các trạng thái kích thích\r\ncao hơn của 16O hoặc từ phản ứng cạnh tranh 19F(p, p')19F\r\n[xem TCVN 7942-1 (ISO 4037-1)]. Chú ý rằng, để nhận được cường độ bức xạ chuẩn\r\nđủ để hiệu chuẩn các thiết bị bảo vệ bức xạ ở năng lượng proton thấp như vậy thì\r\ncần phải có dòng hạt lên đến 1 mA. Các dòng hạt nhỏ hơn vài bậc độ lớn cũng đủ\r\nđể hiệu chuẩn các đầu dò Nal(TI) và Ge thuần hoặc Ge(Li) (xem 10.5.3.1).
\r\n\r\nHệ đo hạt liên kết bao gồm đầu dò\r\nanpha đã hiệu chuẩn (ví dụ đầu dò silic) ở đầu cuối của ống gắn đối diện với\r\nbia của ống gia tốc proton và được hút chân không đến cùng áp suất.
\r\n\r\nKhông cần sử dụng thêm bộ theo dõi\r\nchùm tia.
\r\n\r\nViệc lựa chọn góc giữa ống hạt liên kết\r\nvà ống gia tốc không quan trọng vì hạt anpha phát ra hoàn toàn đẳng hướng [17,\r\n21]. Có thể loại bỏ hoàn toàn ảnh hưởng của sự bất đẳng hướng nhỏ bằng cách sử\r\ndụng góc 55° giữa ống hạt liên kết và ống gia tốc (125° giữa trục của chùm\r\nproton và trục của chùm hạt anpha cần đo) [19]. Năng lượng của proton đến bia\r\nCaF2 chỉ lớn hơn vài keV so với 340 keV.
\r\n\r\nĐể giữ cho bức xạ hãm ở mức thấp, độ\r\ndày và nguyên tử số của giá đỡ bia phải càng nhỏ càng tốt. Phải loại bỏ proton\r\ndo tán xạ tĩnh điện trong giá đỡ bia sinh ra và proton bị tán xạ bằng cách hấp\r\nthụ chúng trong tấm nhôm đặt trước đầu dò hạt liên kết. Độ dày của tấm nhôm phải\r\nmỏng, xấp xỉ 1 mg/cm2, so với quãng chạy của hạt anpha cần đo. Cần sử\r\ndụng bộ chuẩn trực ở gần bia để chắn tất cả các hạt đã tán xạ trên thành của ống\r\nhạt liên kết. Từ đó, thông lượng photon, f, tại điểm kiểm tra ở\r\nkhoảng cách chuẩn d từ bia xác định bởi f = n
Do vậy, suất kerma không khí được xác\r\nđịnh bằng công thức:
\r\n\r\n(6)
Trong đó Er = 6,13\r\nMeV. Photon năng lượng 6,13 MeV phải được đếm đồng thời với các hạt anpha liên\r\nkết [19], cần phải hiệu chỉnh phông tia vũ trụ cho đầu dò photon, bức xạ hủy cặp\r\nvà các hạt anpha và photon tán xạ còn lại. Hình 2 trình\r\nbày ví dụ về hình học đếm hạt liên kết.
\r\n\r\n10.6. Xác định (suất) liều hấp thụ trong tổ chức mô trong điều kiện có thiết\r\nbị thu gom
\r\n\r\nGiá trị chuẩn của (suất) liều hấp thụ\r\nphải được xác định tại điểm kiểm tra. Giá trị này có thể nhận từ các phép đo trực\r\ntiếp hoặc gián tiếp (xem 10.2).
\r\n\r\n10.6.1. Điều kiện đo trực tiếp
\r\n\r\nSử dụng
Đặc trưng của bia:
10.6.1.1. Vật liệu làm hình nộm
\r\n\r\nBáo cáo số 47 của ICRU đưa ra tổ chức\r\nmô theo ICRU không có thành phần đánh dấu được. Các ví dụ về thành phần thay thế\r\nđủ gần với tổ chức mô của ICRU được cho trong các tài liệu [22,23]. Tuy nhiên,\r\nvới các bức xạ chuẩn có năng lượng cao trong TCVN 7942-1 (ISO 4037-1) thì nước\r\ncũng có thể được xem như tương đương mô.
\r\n\r\n10.6.1.2. Hình dạng và kích thước hình\r\nnộm
\r\n\r\nĐể xác định tương đương liều môi trường\r\nbằng phương pháp đo liều hấp thụ trong mô, hình nộm chuẩn có dạng hình cầu, đường\r\nkính 30 cm (ICRU 47). Để xác định tương đương liều cá nhân, hình nộm có tiết diện\r\nngang 30 cm x 30 cm và độ sâu 20 cm được sử dụng cho các phép đo.
\r\n\r\n10.6.1.3. Điểm kiểm tra
\r\n\r\nNhằm xác định giá trị chuẩn của liều hấp\r\nthụ, tâm hình học của thể tích nhạy của thiết bị đo bức xạ phải đặt ở điểm kiểm\r\ntra, dưới bề mặt hình nộm 4,0 g/cm2, như trong Hình 3, như trình bày\r\ntrong ISO 4037-3. Đối với tương đương liều cá nhân, điểm kiểm tra nên tương ứng\r\nvới vị trí đặt điểm tham chiếu của liều kế trong khi kiểm tra [xem ISO 4037-3].
\r\n\r\n10.6.1.4. Lựa chọn thiết bị đo bức xạ
\r\n\r\nTùy thuộc vào mức suất liều hấp thụ của\r\nbức xạ chuẩn tại điểm kiểm tra mà có thể sử dụng nhiều loại thiết bị khác nhau.\r\nKích thước và thành phần của thiết bị sử dụng phải đảm bảo ảnh hưởng của thiết\r\nbị đến trường bức xạ trong hình nộm đóng góp không đáng kể vào sai số của phép\r\nđo.
\r\n\r\n10.6.2. Các phương pháp đo bằng buồng\r\nion hóa (sử dụng cho các suất liều hấp thụ lớn hơn một vài mGy/h)
Các phép đo này phải được thực hiện hoặc\r\nlà (1) trực tiếp với buồng ion hóa có thể tích nhỏ được hiệu chuẩn theo (suất)\r\nliều hấp thụ đối với nước trong hình học chuẩn, với photon có phổ năng lượng\r\ntương tự bức xạ chuẩn, hoặc (2) nếu không hiệu chuẩn như vậy được thì thực hiện\r\ngián tiếp với buồng được hiệu chuẩn theo (suất) kerma không khí trong không khí\r\ntrong chùm tia gamma của 60Co.
\r\n\r\nTrong trường hợp đầu, liều hấp thụ của\r\nnước, (Dw)r, với năng lượng chuẩn được xác định từ\r\nsố đo của buồng, Mr:
\r\n\r\nTrong đó (
Khi sử dụng buồng ion hóa hiệu chuẩn\r\ntrong không khí theo kerma không khí, (trường hợp thứ hai), liều hấp thụ của nước\r\nđối với năng lượng photon Er của bức xạ chuẩn sẽ nhận được từ\r\nsố đo trong hình nộm Mr của thiết bị như sau:
\r\n\r\n (8)
trong đó, giống như trong công thức\r\n(2) ở 5.2, NK là hệ số hiệu chuẩn kerma không khí nhận được với\r\ntia gamma từ 60Co, hệ số
Có thể phải có thêm các hiệu chỉnh\r\nkhác trong một số điều kiện đo nhất định, ví dụ như các hiệu chỉnh tính đến sự\r\nthay đổi phổ photon do sai khác giữa vật liệu làm hình nộm và không khí, hiệu\r\nsuất thu gom ion không hoàn toàn trong trường hợp mật độ thông lượng cao, và\r\ncác hiệu ứng phân cực và hiệu ứng do tương tác photon với các phần khác của buồng\r\n(thân máy, điện cực trung tâm) có thể xảy ra trong một số loại buồng ion hóa.\r\nVí dụ về các giá trị đại số cần cho việc ước tính (Dw)r\r\ntừ công thức (8) được cho trong các Bảng từ 1 đến 4. Xem Phụ lục A để biết về\r\ncác giá trị trong bảng và ứng dụng của chúng. Một lần nữa, các hệ số hiệu chỉnh\r\nphụ có thể không đáng kể trong các ứng dụng trường bức xạ chuẩn khi đo liều bảo\r\nvệ bức xạ.
\r\n\r\n10.6.3. Phương pháp đo trực tiếp với\r\ndung dịch sắt sunphát (sử dụng cho các liều hấp thụ trong nước từ vài chục đến\r\nvài trăm gray) [27] đến [29] (xem thêm các Báo cáo số 34 và 35 của ICRU)
\r\n\r\nKhi suất liều hấp thụ trong nước quá\r\ncao, không thể sử dụng buồng ion hóa cỡ nhỏ, thì phải tiến hành các phép đo bức\r\nxạ với dung dịch sắt sunphát (Fricke) truyền thống đựng trong cốc thủy tinh\r\nborosilicat kín hoặc có nắp thủy tinh gắn chặt. Vì không làm việc được với bức\r\nxạ chuẩn có xung cường độ cao nên phải thêm natri clorua vào để làm giảm độ nhạy\r\ncủa hệ thống do tạp chất hữu cơ. Độ thay đổi hấp thụ quang học,
Liều hấp thụ trong nước, Dw,\r\nđược tính như sau:
\r\n\r\n(9)
Trong đó:
\r\n\r\n| \r\n G | \r\n \r\n là lượng hóa bức xạ của phản ứng sắt\r\n III và sắt II; \r\n | \r\n
| \r\n Δe \r\n | \r\n \r\n là hiệu, (Fe+++) - (Fe++),\r\n giữa các hệ số hấp thụ mol (còn được gọi là các hệ số phân hủy mol) của ion\r\n Fe+++ và Fe++; \r\n | \r\n
| \r\n d \r\n | \r\n \r\n là độ dài đường đi quang học trong\r\n dung dịch của liều kế; \r\n | \r\n
| \r\n r \r\n | \r\n \r\n là mật độ của dung dịch li | \r\n
| \r\n T \r\n | \r\n \r\n là nhiệt độ của dung dịch liều kế trong các phép đo hấp thụ; và hệ số\r\n 0,007, theo đơn vị nghịch đảo của nhiệt độ là hệ số nhiệt độ của | \r\n
Khi đo độ hấp thụ ở nhiệt độ 298 K, ở\r\nđỉnh hấp thụ 304 nm, ở độ dài đường đi quang học 0,01 m, giả thiết rằng mật độ\r\ncủa dung dịch Fricke là 1 024 kg/m3 và tích số
trong đó Dw tính bằng\r\nGray.
\r\n\r\n10.6.4. Đo trực tiếp bằng liều kế nhiệt\r\nphát quang (TLD) được hiệu chuẩn theo liều hấp thụ trong nước (sử dụng
Trong phần dải liều hấp thụ quá nhỏ,\r\nkhông thể sử dụng buồng ion hóa trong hình nộm, thì nên sử dụng TLD trần có khối\r\nlượng nhỏ, có nguyên tử số trung bình gần với tổ chức mô hoặc nước và được hiệu\r\nchuẩn theo liều hấp thụ. Các ấn phẩm gần đây cho các kết quả hiệu chuẩn vật liệu\r\nlàm TLD với photon đơn năng trong dải năng lượng từ 4 MeV đến 9 MeV [30].
\r\n\r\nTuy nhiên, các phép đo trên hình nộm\r\ntrong chùm bức xạ hãm trong khoảng điện thế gia tốc từ 4 MV đến 30 MV cho thấy\r\nđáp ứng của TLD LiF trên mỗi đơn vị liều hấp thụ trong nước là độc lập với điện\r\nthế gia tốc, và bằng với đáp ứng với bức xạ gamma 60Co, nằm trong\r\ncác giới hạn độ chính xác thực nghiệm nhỏ hơn hoặc bằng 5% [31]. Do vậy, nếu\r\nkhông thể hiệu chuẩn ở năng lượng chuẩn được thì có thể sử dụng các hệ số hiệu\r\nchuẩn nhận được từ các phép hiệu chuẩn trên hình nộm theo liều hấp thụ trong nước\r\nvới bức xạ gamma từ 60Co.
\r\n\r\n\r\n\r\n11.1. Khái quát
\r\n\r\nSai số được xác định bằng hai phương\r\npháp: sai số ngẫu nhiên nhận được từ phân tích thống kê các phép đo l
11.2. Các thành phần của sai số
\r\n\r\nSai số nhận được là sự kết hợp của các\r\nsai số thành phần được trình bày trong 11.2.1 và 11.2.2.
\r\n\r\n11.2.1. Sai số trong hiệu chuẩn của\r\nchuẩn thứ cấp
\r\n\r\nCác sai số trong hiệu chuẩn của chuẩn\r\nthứ cấp có thể là:
\r\n\r\na) sai số tổng thể khi xác định đại lượng\r\nsơ cấp;
\r\n\r\nb) sai số khi chuyển đổi từ đại lượng\r\nsơ cấp sang chuẩn thứ cấp.
\r\n\r\n11.2.2. Sai số khi đo bức xạ chuẩn do\r\nthiết bị chuẩn và việc sử dụng
\r\n\r\n11.2.2.1. Sai số ngẫu nhiên
\r\n\r\nSai số ngẫu nhiên của các phép đo có\r\nthể có được từ việc phân tích thống kê các phép đo thực hiện theo 5.5.
\r\n\r\n11.2.2.2. Sai số hệ thống
\r\n\r\nCác thành phần của sai số hệ thống sau\r\nđây phát sinh từ các hệ số hiệu chỉnh áp dụng cho số đo hoặc do bản thân các hiệu\r\nứng khi không áp dụng các hệ số hiệu chỉnh:
\r\n\r\na) dịch điểm không (xem 6.7.1);
\r\n\r\nb) rò rỉ và bức xạ môi trường (xem\r\n6.7.2);
\r\n\r\nc) thang của hệ đo và sự không tuyến\r\ntính của dải đo (xem 5.7) bất cứ sai số nào trong các hiệu chỉnh này có thể lấy\r\ntừ chứng chỉ hiệu chuẩn, nếu có;
\r\n\r\nd) sai khác năng lượng giữa bức xạ\r\ndùng để hiệu chuẩn thiết bị chuẩn thứ cấp và bức xạ chuẩn dùng để hiệu chuẩn\r\nthiết bị bảo vệ bức xạ (xem 5.6);
\r\n\r\ne) các thăng giáng nhiệt độ, áp suất\r\nvà độ ẩm không khí (xem 6.7.3) sai số do đo nhiệt độ, áp suất và độ ẩm không\r\nkhí;
\r\n\r\nf) khoảng cách hiệu chuẩn (xem 6.5)\r\nsai số này sinh ra do khả năng không đặt được mặt phẳng đo xác định của buồng\r\nchuẩn tại điểm yêu cầu trên trục chùm tia chuẩn và khi xác định tâm hình học của\r\nnguồn bức xạ; sai số cũng có thể do sử dụng buồng chuẩn có kích thước lớn cho\r\ncác phép đo ở các khoảng cách từ nguồn đến buồng nhỏ;
\r\n\r\ng) định hướng buồng trong chùm tia\r\n(xem 6.4) sai số này phát sinh nếu đáp ứng của buồng chuẩn phụ thuộc vào định\r\nhướng của nó và nếu buồng được định vị lại trong chùm bức xạ chuẩn;
\r\n\r\nh) sự không đồng nhất của chùm tia\r\n(xem 6.7.5);
\r\n\r\ni) tán xạ trên thân máy, giá đỡ (xem\r\n6.6);
\r\n\r\nj) thời gian di chuyển cửa sập (xem\r\n5.8);
\r\n\r\nk) tính ổn định lâu dài của toàn bộ\r\nthiết bị (xem 5.2) nếu có nguồn kiểm tra thì số đo tại thời điểm sử dụng (sau khi\r\nđã có các hiệu chỉnh thích hợp) phải được xác định và so sánh với giá trị trong\r\nchứng chỉ;
\r\n\r\nl) độ phân giải của chỉ số thang đo.
\r\n\r\n11.3. Xác định sai số
Việc xác định sai số đo liều cho bức xạ\r\nchuẩn phải bao gồm các thành phần được nêu từ 11.3.1 đến 11.3.3.
\r\n\r\n11.3.1. Sai số ngẫu nhiên
\r\n\r\na) độ lệch chuẩn thực nghiệm;
\r\n\r\nb) giới hạn độ tin cậy ở mức tin cậy\r\n95%;
\r\n\r\nc) số bậc tự do.
\r\n\r\n11.3.2. Sai số hệ thống
\r\n\r\na) liệt kê các sai số thành phần\r\nchính, độ lớn của chúng và phương pháp đánh giá;
\r\n\r\nb) sử dụng phương pháp kết hợp (nghĩa\r\nlà cộng bậc hai hay số học);
\r\n\r\nc) sai số hệ thống tổng cộng.
\r\n\r\n11.3.3. Sai số tổng cộng
\r\n\r\nNếu sai số tổng cộng được thể hiện là\r\nkết hợp của sai số ngẫu nhiên và sai số hệ thống thì phải nói rõ phương pháp kết\r\nhợp.
\r\n\r\n\r\n\r\n
A.1. Khái quát
\r\n\r\nPhụ lục này đề cập tới việc xác định\r\nkerma không khí và liều hấp thụ trong nước bằng cách đo sử dụng buồng ion hóa\r\nkhi không thể hiệu chuẩn buồng trong trường bức xạ giống với bức xạ chuẩn.\r\nTrong trường hợp này, giá trị của các đại lượng này trong trường bức xạ chuẩn\r\ncó thể tính từ số đo của buồng bằng cách sử dụng hệ số hiệu chuẩn kerma không\r\nkhí của buồng nhận được theo cách thông thường trong điều kiện không có thiết bị\r\nthu gom với bức xạ gamma 60Co, và áp dụng một số hệ thống chuyển đổi\r\nvà /hoặc hiệu chỉnh.
\r\n\r\nĐể có được các hệ số hiệu chỉnh này,\r\ncó thể sử dụng một trong số các Quy tắc hoặc Chuẩn được xây dựng để xác định liều\r\nhấp thụ trong nước áp dụng cho xạ trị. Trong tiêu chuẩn này, phương pháp trong\r\nBáo cáo kỹ thuật số 277 của IAEA được dùng vì đã được chấp nhận rộng rãi.
\r\n\r\nPhương pháp và ứng dụng nó vào tính\r\ntoán kerma không khí đo được trong điều kiện không có thiết bị thu gom và liều\r\nhấp thụ trong nước trong điều kiện có thiết bị thu gom được trình bày dưới đây.\r\nVì yêu cầu độ chính xác trong đo liều lượng bảo vệ bức xạ thấp hơn nhiều so với\r\nyêu cầu trong đo liều xạ trị nên một số hệ số hiệu chỉnh trong Báo cáo kỹ thuật\r\nsố 227 của IAEA có giá trị gần bằng đơn vị trong vùng năng lượng quan tâm ở\r\ntrong tiêu chuẩn này không được đưa vào, mặc dù vậy trong một số điều kiện đo\r\nnhất định, chúng phải được xem xét cẩn thận.
\r\n\r\nVì tiêu chuẩn này chỉ đề cập đến bức xạ\r\nchuẩn hoàn toàn đơn năng, trong khi đó xạ trị photon năng lượng cao lại sử dụng\r\nphổ bức xạ hãm phân bố rộng nên việc lập bảng các hệ số chuyển đổi và hiệu chỉnh\r\ntrong các chuẩn liều lượng xạ trị khác nhau chỉ áp dụng cho bức xạ gamma 60Co\r\ndùng trong hiệu chuẩn buồng ion hóa.
\r\n\r\nA.2. Phương pháp
\r\n\r\nĐiểm khởi đầu của phương pháp là hệ số\r\nliều hấp thụ của buồng không khí, ND, xác định như sau:
\r\n\r\n (A.1)
Trong đó
\r\n\r\nM số đo của buồng ion\r\nhóa được hiệu chỉnh về nhiệt độ và áp suất chuẩn.
\r\n\r\nVới sự trợ giúp
(A.2)
trong đó
\r\n\r\nKa
katt
ND
Đo kerma không khí bằng buồng ion hóa\r\ntrong điều kiện không có thiết bị thu gom (10.5.2)
\r\n\r\nNếu giả thiết rằng W/e không phụ\r\nthuộc vào năng lượng photon trong dải năng lượng quan tâm thi có thể đặt:
\r\n\r\nTrong đó các chỉ số dưới c và r lần lượt\r\nchỉ các điều kiện chiếu xạ khi hiệu chuẩn và trong chùm bức xạ chuẩn.
\r\n\r\nThay công thức (A.2) vào (A.3) và tìm\r\n(Ka)r ta được:
\r\n\r\n(A.4)
hoặc, sử dụng hệ số hiệu chuẩn kerma\r\nkhông khí NK = (Ka)c/Mc,
\r\n\r\n(A.5)
chính là công thức (2) của 10.5.2.\r\nTrong các công thức (A.4) và (A.5), các chỉ số trên và dưới, c và r, của các biểu\r\nthức trong ngoặc vuông là tỷ số của các biểu thức này lần lượt cho điều kiện\r\nchuẩn và điều kiện đo trong bức xạ chuẩn.
\r\n\r\nKhi đã biết ND của một\r\nbuồng ion hóa cụ thể thì công thức (A.5) có thể viết lại dưới dạng:
\r\n\r\n (A.6)
A.3. Đo liều hấp thụ trong nước bằng\r\nbuồng ion hóa trong điều kiện có thiết bị thu gom (10.6.2)
\r\n\r\nTheo phương pháp trong Báo cáo số 277\r\ncủa IAEA, liều hấp thụ trong nước ở năng lượng chuẩn có thể tính như sau:
\r\n\r\n(A.7)
hoặc
\r\n\r\n(A.8)
là công thức (8) trong mục 10.6.2 nếu\r\nbỏ qua kpert. Với photon có năng lượng trong khoảng từ 4 MeV\r\nđến 9 MeV, giá trị của kpert nằm trong khoảng từ 1, 000 đến\r\n1, 005 đối với hầu hết các vật liệu làm thành buồng ion hóa không tương đương\r\nkhông khí (tương đối nhỏ) dùng trong các phép đo trên hình nộm này.
\r\n\r\nLập bảng giá trị số của các hệ số cần\r\nđể tính (Ka)r
Trong khi đã có rất nhiều công sức\r\ndành cho việc thiết lập các giá trị số của các hệ số cần thiết cho tính toán\r\nkerma không khí của bức xạ gamma 60Co thì các giá trị tương ứng cho\r\ncác photon đơn năng có năng lượng từ 4 MeV đến 9 MeV (không cần cho các ứng dụng\r\nđiều trị) vẫn còn tương đối hiếm. Dữ liệu hiện có vào thời điểm soạn thảo của\r\ntiêu chuẩn này được đưa ra như là các ví dụ trong các Bảng ở trong tài liệu.\r\nNgười sử dụng sẽ quyết định có thể dùng hoặc bỏ qua chúng vì chúng chỉ khác đơn\r\nvị một chút, hoặc chọn các giá trị phù hợp khác, ví dụ như các giá trị trong\r\nBáo cáo số 277 của IAEA cho katt và km ở\r\ncác giá trị năng lượng của 60Co và các giá trị năng lượng cao mới\r\nkhi được đưa ra.
\r\n\r\nCác Bảng 3 và 4 cho các giá trị số của\r\ncác tỷ số công suất dừng giới hạn và các hệ số hấp thụ năng lượng cần cho tính\r\ntoán hệ số km cho buồng ion hóa có thành buồng không tương đương với\r\nkhông khí. (Với thành buồng tương đương không khí, hệ số km bằng đơn vị.) Tất cả\r\ncác số liệu trong Bảng 3 đều dựa trên công suất dừng va chạm khối trong Báo cáo\r\nsố 37 của ICRU. Các giá trị của
Nghịch đảo của các tỷ số công suất dừng\r\ngiới hạn cho trong Bảng 3 cũng có thể dùng để tính (Da)r\r\ntừ công thức (A.7) nếu giả thiết rằng vật liệu làm thành buồng giống với hình nộm\r\nhoặc có thể bỏ qua tất cả vì chúng tương đương với không khí. Khi cần phải lấy\r\nliều hấp thụ trong nước [công thức (A.7)] từ các phép đo trong hình nộm làm bằng\r\nvật liệu không phải là nước thì áp dụng hiệu chỉnh bằng tích số của các tỷ số công\r\nsuất dừng và các hệ số hấp thụ năng lượng cho vật liệu và nước. Hiệu chỉnh cho\r\nPMMA hoặc polystyrene có trong Bảng 3 và 4.
\r\n\r\n\r\n\r\n
[1] ICRU Report 25,1976, Conceptual Basis\r\nfor the Determination of Dose Equivalent.
\r\n\r\n[2] ICRU Report 39, 1985, Determination of\r\nDose Equivalents Resulting from Extemal Radiation Sources, và ICRU Report 47,\r\n1992, Measurement of Dose Equivalents from External Photon and Electron Radiations.
\r\n\r\n[3] IEC Publication 50(391), 1975,\r\nInternational Electrotechnical Vocabulary Detection and Measurement of lonizing\r\nRadiation by Electric Means.
\r\n\r\n[4] Kondo, S. và Randolph, M. L.;\r\nEffect of Finite Size of lonization Chambers on Measurements of Small Photon\r\nSources, Radiation Research, 13,1960, trang 37-60.
\r\n\r\n[5] ICRU Report 31, 1979, Average Energy\r\nRequired to Produce an lon Pair.
\r\n\r\n[6] Gibson, J. A. B., Thompson, I. M. G.\r\nvà Spiers, F. W
[7] Evans, R. D., X-ray and Gamma-Ray\r\nInteractions; in Radiation Dosimetry I, (biên tập b
[8] Attix, F. H
[9] Greening, J. R., Fundamentals of\r\nRadiation Dosimetry, Medical Physics Series, Adam Hilger Ltd., Bristol, 1982,\r\ntrang 23, Bảng 2.4.
\r\n\r\n[10] Cunningham, J. R. và Schulz, R. J., On\r\nthe Selection of Stopping-Power Ratios and Mass Energy Absorption Coefficient\r\nRatios for High-Energy X-ray Dosimetry, Med. Phys., 11(5), 1984, trang\r\n618-623.
\r\n\r\n[11] Johns, H. E và Cunningham, J. R
[12] Bielajew, A. F., Rogers, D.
[13] Rogers, D.W.O.,
[14] Andreo, P. và Nahum, A. E.,\r\nStopping-Pow
[15] Higgins, P.D., Attix, F.H., Hubbell,\r\nJ.H., Seltzer, S.M., Berger, M.J. và Silbata, C.H., Mass Energy-Trans
[16] Xem, Burlin, T. E., Cavity-Chamber\r\nTheory; trong Radiation Dosimetry I, (do Attix, F. H. và Roesch,
[17] Mach, H. và Rogers, D.
[18] Duvall, K.
[19] Mach, H. và Rogers, D.W.O., An\r\nAbsolutely Calibrated Source of 6.13 MeV Gamma-Rays, IEEE Trans. Nucl. Soc. NS-30,1983,\r\ntrang 1514-1517.
\r\n\r\n[20] Hall, R.
[21] Rogers, D.W.O., A Nearly Mono-Energetic\r\n6-13-MeV Photon Calibration Source, Health Phys. 45, 1983, trang\r\n127-137.
\r\n\r\n[22] ICRU Report 44, 1989, Tissue\r\nSubstitutes in Radiation Dosimetry and Measurements,
\r\n\r\n[23] Harder, D. và Hermann, K.-P., Tissue\r\nEquivalent Materials and the ICRU Sphere, Rad. Prot. Dosim. 12(2), 1985,\r\ntrang 125-128.
\r\n\r\n[24] A Protocol for the Determination of\r\nAbsorbed Dose from High-Energy Photon and Electron Beams. Task Group 21,\r\nRadiation Therapy Committee, American Association of Physicists in Medicine,\r\nMed. Phys. 10, 1983, trang 741-771, 28. Nordic Association of Clinical Physics\r\n(NACP): Procedures in External Radiation Therapy Dosimetry with Electron and\r\nPhoton Beams with Maximum Energies between 1 MeV and 50 MeV; Actal Radiol.\r\nOncol. 19,1980, trang 55.
\r\n\r\n[25] Hospital Physicists Association,\r\nScientif
[26] Fricke, H. và Hart, E. J., Chemical\r\nDosimetry; in Radiation Dosimetry II, (do Attix, F. H. và Roesch,
[27] ASTM E 1026-84, 1985, Standard Method\r\nfor Using the Fricke Dosimeter to Measure Absorbed Dose in
[28] Matthews, R.
[29] Saez Vergara, J.
[30] Soares, C. G. và Ehrlich, M. ;\r\nA Thermoluminescence Dosimetry System for use in a Su
[31] ISO 2602-1980, Statistical\r\ninterpretation of test results Estimation of the mean Confidence interval
\r\n\r\n[32] ISO 3534 (tất c
[33] Campion,
[24] Andreo, P., Nahum, A. E.,\r\nBrahme, A., Chamber-Dependent Wall Correction Factors in Dosimetry, Phys. Med.\r\nBiol. 31, 1986, trang 1189-1199.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Các thông tin bổ sung hữu\r\ních về liều lượng trong các vùng photon năng lượng cao có thể tìm thấy trong\r\ntài liệu của Kramer, H.M. và Schọffler, D., Dosimetry in High-Energy Photon\r\nFields for the Calibration of Measuring Instruments for Radiation Protection Purposes,\r\nPTB-Dos-18, Braunschw
ICRU Report 33:1980, Radiation Quantities\r\nand Units
\r\n\r\nICRU Report 34:1982 The Dosimetry of\r\nPulsed Radiation
\r\n\r\nICRU Report 35:1984 Radiation\r\nDosimetry: Electron Beams with Energies between 1 and 50 MeV
\r\n\r\nICRU Report 37:1984
ICRU Report 43:1988 Determination of\r\nDose Equivalents from External Radiation Sources Part 2
\r\n\r\nICRU Report 44:1989 Tissue Substitutes\r\nin Radiation Dosimetry and Measurement
\r\n\r\nICRU Report 51:1993 Quantities and\r\nUnits in Radiation Protection
\r\n\r\nIAEA Technical Report Series No. 277\r\nAbsorbed Dose Determination in Photon and Electron Beams An International Code\r\nof Practice, 1987
\r\n\r\nICRP Publication 51:1987 Data for Use\r\nin Protection against External Radiation
\r\n\r\nICRP Publication 74:1996 Conversion\r\ncoefficients for use in Radiological Protection against Extemal Radiation.\r\nAnnals of the ICRP, Val. 26, No. 3/4.
\r\n\r\n\r\n\r\n
\r\n\r\n
4) Ví dụ, Báo cáo ICRU số 37, kí hiệu ,\r\nthay cho L(T/Δ
File gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7942-2:2008 (ISO 4037-2 : 1997) về An toàn bức xạ – Bức xạ chuẩn tia X và gamma hiệu chuẩn liều kế và máy đo suất liều và xác định đáp ứng của thiết bị theo năng lượng photon – Phần 2: Đo liều trong bảo vệ bức xạ cho dải năng lượng từ 8 KeV đến 1,3 MeV và và từ 4 MeV đến 9 MeV đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7942-2:2008 (ISO 4037-2 : 1997) về An toàn bức xạ – Bức xạ chuẩn tia X và gamma hiệu chuẩn liều kế và máy đo suất liều và xác định đáp ứng của thiết bị theo năng lượng photon – Phần 2: Đo liều trong bảo vệ bức xạ cho dải năng lượng từ 8 KeV đến 1,3 MeV và và từ 4 MeV đến 9 MeV
Tóm tắt
| Cơ quan ban hành | Đã xác định |
| Số hiệu | TCVN7942-2:2008 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 2008-01-01 |
| Ngày hiệu lực | |
| Lĩnh vực | Hóa chất |
| Tình trạng | Còn hiệu lực |