\r\n\r\n

TIÊU\r\nCHUẨN QUỐC GIA

\r\n\r\n

TCVN\r\n9897-1:2013

\r\n\r\n

IEC\r\n61051-1:2007

\r\n\r\n

ĐIỆN TRỞ PHI TUYẾN DÙNG TRONG THIẾT BỊ ĐIỆN TỬ - PHẦN 1:\r\nQUI ĐỊNH KỸ THUẬT CHUNG

\r\n\r\n

Varistor for use\r\nin electronic equipment - Part 1: Generic specification

\r\n\r\n

Lời nói đầu

\r\n\r\n

TCVN 9897-1:2013 hoàn toàn tương đương\r\nvới IEC 61051-1:2007;

\r\n\r\n

TCVN 9797-1:2013 do Ban kỹ thuật tiêu\r\nchuẩn quốc gia TCVN/TC/E3 Thiết bị điện tử gia dụng biên soạn, Tổng cục\r\nTiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

ĐIỆN TRỞ PHI\r\nTUYẾN DÙNG TRONG THIẾT BỊ ĐIỆN TỬ - PHẦN 1: QUI ĐỊNH KỸ THUẬT CHUNG

\r\n\r\n

Varistors for use in\r\nelectronic equipment - Part 1: Generic specification

\r\n\r\n

1. Quy định chung

\r\n\r\n

1.1. Phạm vi áp dụng

\r\n\r\n

Tiêu chuẩn này áp dụng cho các điện trở\r\nbiến đổi có đặc tính điện áp - dòng điện đối xứng để sử dụng trong các thiết bị điện tử.

\r\n\r\n

1.2. Mục đích

\r\n\r\n

Mục đích của tiêu chuẩn này nhằm thiết\r\nlập các điều khoản, quy trình thử nghiệm\r\nvà phương pháp thử nghiệm tiêu chuẩn, để sử dụng trong quy định kỹ thuật từng\r\nphần và quy định kỹ thuật cụ thể dùng cho hệ thống phê chuẩn chất lượng và hệ thống\r\nđánh giá chất lượng các linh kiện điện tử.

\r\n\r\n

1.3. Tài liệu viện dẫn

\r\n\r\n

Các tài liệu viện dẫn sau đây là cần\r\nthiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng bản\r\nđược nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng\r\nphiên bản mới nhất, bao gồm cả các sửa đổi.

\r\n\r\n

TCVN 7699-1:2007 (IEC 60068-1), Thử\r\nnghiệm môi trường - Phần 1:\r\nQuy định chung và hướng dẫn

\r\n\r\n

TCVN 7699-2-1:2007 (IEC 60068-2-1), Thử nghiệm môi\r\ntrường - Phần 2-1: Các thử nghiệm - Thử nghiệm A: Lạnh

\r\n\r\n

TCVN 7699-2-2:2011 (IEC\r\n60068-2-2:1994), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-2: Các thử\r\nnghiệm - Thử nghiệm B:\r\nNóng khô

\r\n\r\n

TCVN 7699-2-6:2009 (IEC 60068-2-6), Thử\r\nnghiệm môi trường - Phần 2-6: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Fc:\r\nRung (hình sin)

\r\n\r\n

TCVN 7699-2-13:2007 (IEC 60068-2-13), Thử\r\nnghiệm môi trường - Phần 2-13, Các thử nghiệm - Thử nghiệm M: Áp\r\nsuất không khí thấp

\r\n\r\n

TCVN 7699-2-14:2007 (IEC 60068-2-14), Thử nghiệm môi\r\ntrường - Phần 2-14, Các thử nghiệm - Thử nghiệm N:\r\nThay đổi nhiệt độ

\r\n\r\n

TCVN 7699-2-27:2007 (IEC 60068-2-27), Thử\r\nnghiệm môi trường - Phần 2-27, Các thử nghiệm - Thử nghiệm Ea và hướng dẫn: Xóc

\r\n\r\n

TCVN 7699-2-29:2007 (IEC 60068-2-29), Thử\r\nnghiệm môi trường - Phần 2-29: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Eb và hướng dẫn: Va\r\nđập

\r\n\r\n

TCVN 7699-2-30:2007 (IEC 60068-2-30), Thử\r\nnghiệm môi trường - Phần 2-30: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Db: Nóng ẩm, chu kỳ\r\n(12 h + chu kỳ 12 h)

\r\n\r\n

TCVN 7699-2-45:2007 (IEC\r\n60068-2-45), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-45: Các thử nghiệm - Thử nghiệm\r\nXA và hướng dẫn: Ngâm trong dung môi làm sạch

\r\n\r\n

TCVN 7699-2-78:2007 (IEC\r\n60068-2-78:2001), Thử nghiệm môi trường - Phần 2-78: Các thử nghiệm - Thử nghiệm\r\nCab: Nóng ẩm, không đổi

\r\n\r\n

TCVN 9896:2013 (IEC 60717:1981), Phương\r\npháp xác định không gian yêu cầu của tụ điện và điện trở có các chân theo một\r\nhướng

\r\n\r\n

IEC 60027 (all parts), Letter\r\nsymbols to be used in electrical technology (tất cả các phần), Ký hiệu bằng chữ\r\nsử dụng trong công nghệ điện

\r\n\r\n

IEC 60050 (all parts), International\r\nElectrotechnical\r\nVocabulary (IEV) (tất cả các phần), Từ vựng kỹ thuật điện quốc tế (IEV)

\r\n\r\n

IEC 60060-2:1994, High-voltage test\r\ntechniques - Part 2: Measuring systems, (kỹ thuật thử nghiệm cao áp - Phần 2: Hệ\r\nthống đo)

\r\n\r\n

IEC 60062:2004, Marking codes for\r\nresistors and capacitors (Mã dùng để ghi nhãn cho điện trở và tụ điện).

\r\n\r\n

IEC 60068-2-20:1979, Environment\r\ntesting - Part 2:\r\nTests - Test T:\r\nSoldering amendment 2 (1987) (Thử nghiệm môi trường - Phần 2: Thử nghiệm - Thử\r\nnghiệm T: hàn, sửa đổi 2 (1987))

\r\n\r\n

IEC 60068-2-21:2006, Environmental\r\ntesting Part 2-21: Tests - Test U: Robustness\r\nof terminations and integral mounting devices (Thử nghiệm môi trường Phần 2-21:\r\nThử nghiệm - Thử nghiệm U: Độ cứng vững của\r\ncác chân và các cơ cấu lắp liền)

\r\n\r\n

IEC 60068-2-54:2005, Environmental\r\ntesting - Part 2-54:\r\nTests - Test Ta:\r\nSolderability testing of electronic components by the wetting balance method (Thử nghiệm\r\nmôi trường - Phần 2-54: Thử nghiệm - Thử nghiệm Ta: thử nghiệm khả năng hàn của\r\ncác linh kiện điện\r\ntử theo phương pháp cân bằng ẩm)

\r\n\r\n

IEC 60068-2-58:2004, Environmental\r\ntesting - Part 2-58:\r\nTests - Test Td:\r\nTest methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and\r\nto soldering heat of surface mounting devices (SMD) (Thử nghiệm môi\r\ntrường - Phần 2-58: Thử nghiệm - Thử nghiệm Td: Phương pháp thử khả năng\r\nhàn, khả năng chịu ăn mòn kim loại và nhiệt hàn của các thiết bị lắp đặt bề mặt (SMD))

\r\n\r\n

IEC 60068-2-69:1995, Environmental\r\ntesting Part 2: Tests - Test Te: Solderability testing of electronic\r\ncomponents for surface mount\r\ntechnology by the wetting balance method (Thử nghiệm môi trường - Phần 2: Thử\r\nnghiệm - Thử nghiệm Te: Thử nghiệm khả năng hàn của linh kiện điện tử công nghệ\r\nlắp đặt bề mặt bằng phương pháp cân lượng thiếc bám)

\r\n\r\n

IEC 60294:1969, Measurement of the\r\ndimensions of a cylindrical component having two axial terminations\r\n(đo kích thước của linh kiện hình trụ có\r\nhai chân đồng trục)

\r\n\r\n

IEC 60410:1973, Sampling plans and\r\nprocedures for inspection by attributes (Phương án lấy mẫu và quy trình thử nghiệm bởi các thuộc tính)

\r\n\r\n

IEC 60617:2007, Graphical symbols\r\nfor diagrams (Ký hiệu đồ họa dùng cho sơ đồ)

\r\n\r\n

TCVN 9900-11-5:2013 (IEC\r\n60695-11-5:2004), Thử nghiệm nguy cơ cháy - Phần 11-5: Ngọn lửa thử nghiệm -\r\nPhương pháp thử nghiệm ngọn lửa hình kim - Thiết bị,\r\nbố trí thử nghiệm chấp nhận và hướng dẫn)

\r\n\r\n

IEC 61249-2-7:2002, Materials for\r\nprinted boards\r\nand other interconnecting structures - Part 2-7: Reinforced base\r\nmaterials clad and unclad - Epoxide woven E-glass laminated\r\nsheet of defined flammability\r\n(vertical burning test)\r\ncopper-clad (Vật liệu làm tấm mạch in và cấu trúc kết nối khác - Phần 2-7: Vật liệu nền tăng cường\r\ncó phủ và không phủ - Epoxy đan kết nhiều lớp thủy tinh E có lớp phủ đồng có khả\r\nnăng cháy xác định (thử nghiệm cháy thẳng đứng))

\r\n\r\n

IEC QC 001.002-3, xem http:/iwww.ieccorg

\r\n\r\n

ISO 1000:1992, SI units and\r\nrecommendations for the use of their multiples and of certain other units,\r\nAmendment 1 (1998) (Hệ đơn vị SI và khuyến nghị cho việc sử dụng các bội số của\r\nchúng và của một số đơn vị khác, Sửa đổi 1 (1998))

\r\n\r\n

2. Dữ liệu kỹ thuật

\r\n\r\n

2.1. Đơn vị, ký hiệu và\r\nthuật ngữ

\r\n\r\n

Đơn vị, ký hiệu bằng đồ họa, ký hiệu bằng\r\nchữ cái và các thuật ngữ phải được lấy từ các tiêu chuẩn sau đây, bất cứ khi nào\r\ncó thể:

\r\n\r\n

IEC 60027

\r\n\r\n

IEC 60050

\r\n\r\n

IEC 60617

\r\n\r\n

ISO 1000

\r\n\r\n

Khi các hạng mục khác được yêu cầu, phải\r\nđược lấy phù hợp với các nguyên tắc của các tài liệu được liệt kê trên đây

\r\n\r\n

2.2. Thuật ngữ và định nghĩa

\r\n\r\n

Tiêu chuẩn này áp dụng các thuật ngữ\r\nvà định nghĩa sau đây.

\r\n\r\n

2.2.1. Loại (type)

\r\n\r\n

Nhóm các linh kiện có đặc điểm thiết kế\r\ntương tự và giống nhau về công nghệ chế tạo cho phép được nhóm lại với nhau hoặc\r\nđể phê chuẩn chất lượng hoặc để kiểm tra sự phù hợp chất lượng. Chúng thường được\r\nđề cập bởi một quy định\r\nkỹ thuật cụ thể duy nhất.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Linh kiện được mô tả trong một số quy\r\nđịnh kỹ thuật cụ thể có thể, trong một số trường hợp, được xem là thuộc về cùng\r\nloại và do đó có thể được nhóm lại với\r\nnhau để phê chuẩn chất lượng hoặc để kiểm tra sự phù hợp chất lượng.

\r\n\r\n

2.2.2. Kiểu (style)

\r\n\r\n

Sự chia nhỏ của một loại,\r\nthường dựa vào các yếu tố kích thước mà các yếu tố này có thể bao gồm một số biến\r\nthể, thường là trật tự cơ khí.

\r\n\r\n

2.2.3. Điện trở phi\r\ntuyến (điện trở phụ\r\nthuộc điện áp, VDR) (ký hiệu đồ họa Z) (varistor (voltage dependent resistor,\r\nVDR) (graphical symbol) Z)

\r\n\r\n

Linh kiện, có độ dẫn, ở nhiệt độ nhất\r\nđịnh, tăng lên nhanh\r\nchóng theo điện áp. Thuộc tính này được thể hiện bằng một trong các công thức\r\nsau đây:

\r\n\r\n

U = C I^b                                                 (1)

\r\n\r\n

hoặc

\r\n\r\n

I = AU^g                                                  (2)

\r\n\r\n

trong đó

\r\n\r\n

I là dòng điện chạy qua điện trở biến đổi;

\r\n\r\n

U là điện áp đặt lên điện trở biến\r\nđổi;

\r\n\r\n

b là chỉ số dòng điện;

\r\n\r\n

g là chỉ số điện áp;

\r\n\r\n

A và C là hằng số.

\r\n\r\n

2.2.4. Chỉ số đòng\r\nđiện phi tuyến b (non-linearity current index b)

\r\n\r\n

bắt đầu từ công thức (1) của 1.5.3, b được xác định theo\r\ncông thức:

\r\n\r\n

                (3)

\r\n\r\n

Để thuận tiện cho tính toán, có thể sử dụng\r\ncông thức sau đây:

\r\n\r\n

                                               (4)

\r\n\r\n

b luôn nhỏ hơn 1.

\r\n\r\n

2.2.5. Chỉ số điện\r\náp phi tuyến g\r\n(non-linearity voltage index g)

\r\n\r\n

bắt đầu từ công thức (2) của 1.5.3, g được xác định theo\r\ncông thức:

\r\n\r\n

                                          (5)

\r\n\r\n

Để thuận tiện cho tính toán, có thể sử\r\ndụng công thức sau đây:

\r\n\r\n

                                     (6)

\r\n\r\n

b luôn nhỏ hơn 1.

\r\n\r\n

2.2.6. Điện áp xoay\r\nchiều liên tục lớn nhất (maximum continuous a.c. voltage)

\r\n\r\n

Điện áp xoay chiều hiệu dụng lớn nhất\r\ncó dạng sóng về cơ bản là hình sin (tổng méo hài nhỏ hơn 5 %) có thể đặt lên các linh\r\nkiện trong điều kiện hoạt động liên tục ở nhiệt độ 25 °C. Ở nhiệt độ lớn\r\nhơn 25 °C, quy định kỹ\r\nthuật cụ thể phải đưa ra thông tin đầy đủ về các yêu cầu giảm tải.

\r\n\r\n

Thông thường giá trị điện áp này phải\r\nlà 1,1 lần điện áp nguồn.

\r\n\r\n

2.2.7. Điện áp một\r\nchiều liên tục lớn nhất (maximun continuous d.c. voltage)

\r\n\r\n

Điện áp một chiều lớn nhất (gợn sóng\r\nnhỏ hơn 5 %) có thể đặt lên các linh kiện trong điều kiện hoạt động liên tục ở nhiệt độ bên\r\nngoài là 25 °C. Ở nhiệt độ lớn\r\nhơn 25 °C, quy định kỹ\r\nthuật cụ thể phải đưa ra thông tin đầy đủ về các yêu cầu giảm tải.

\r\n\r\n

2.2.8. Điện áp nguồn (supply\r\nvoltage)

\r\n\r\n

điện áp mà qua đó hệ thống được ấn định\r\nrõ và tới đó\r\ncác đặc tính làm việc của hệ thống được\r\ntham chiếu đến.

\r\n\r\n

2.2.9. Điện áp điện\r\ntrở biến đổi danh nghĩa (nominal varistor voltage)

\r\n\r\n

Điện áp, ở dòng điện một chiều quy định,\r\nđược sử dụng như một điểm tham chiếu trong đặc tính linh kiện.

\r\n\r\n

2.2.10. Điều kiện điện\r\náp dưới xung\r\n(voltage-under-pulse conditions)

\r\n\r\n

Giá trị đỉnh của điện áp, xuất hiện ở các chân của điện trở biến đổi, khi có một\r\ndòng điện xung quy định đặt lên điện trở này.

\r\n\r\n

2.2.11. Điện áp kẹp (clamping voltage)

\r\n\r\n

Điện áp đỉnh hình thành trên các chân\r\nđiện trở biến đổi trong điều kiện khí quyển tiêu chuẩn, khi đi qua một dòng điện\r\nxung loại 8/20 (xem 1.5.15)

\r\n\r\n

2.2.12. Điện áp cách\r\nly\r\n(chỉ áp dụng cho\r\nđiện trở biến đổi được cách điện) (isolation voltage (applicable only to\r\ninsulated varistors)

\r\n\r\n

Điện áp đỉnh lớn nhất có thể đặt, trong điều kiện hoạt động liên tục giữa các\r\nchân điện trở biến đổi và\r\nbất kỳ bề mặt lắp đặt dẫn điện

\r\n\r\n

2.2.13. Dòng điện rò (leakage\r\ncurrent)

\r\n\r\n

Dòng điện đi qua các điện trở biến đổi tại\r\nđiện áp một chiều lớn nhất và ở nhiệt độ 25 °C hoặc tại bất kỳ nhiệt độ quy định khác

\r\n\r\n

2.2.14. Dòng diện đỉnh\r\nlớn nhất\r\n(maximum peak current)

\r\n\r\n

Dòng điện lớn nhất cho mỗi xung, có thể\r\nchạy qua điện trở biến đổi ở nhiệt độ môi trường 25 °C, đối với một số lượng\r\nnhất định các xung

\r\n\r\n

2.2.15. Loại dòng diện (class\r\ncurrent)

\r\n\r\n

Giá trị đỉnh của dòng điện bằng 1/10\r\ngiá trị đỉnh của dòng điện lớn nhất trong\r\n100 xung ở hai lần mỗi\r\nphút đối với xung 8/20.

\r\n\r\n

2.2.16. Xung hoặc\r\nxung nhịp\r\n(pulse or currents)

\r\n\r\n

Sóng chỉ theo một hướng của điện áp hoặc\r\ndòng điện mà không có dao động đáng kể

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Theo IEC 60060-2, từ\r\n"xung nhịp" được sử dụng, tuy nhiên, đối với yêu cầu kỹ thuật này, chỉ\r\nsử dụng từ “xung”.

\r\n\r\n

2.2.17. Dòng điện\r\nxung\r\n(pulse currents)

\r\n\r\n

Có hai loại dòng điện xung được sử dụng:

\r\n\r\n

1. Loại thứ nhất có hình dạng tăng từ\r\nkhông đến giá trị đỉnh trong một thời gian ngắn, và sau đó giảm xuống bằng\r\nkhông hoặc giảm gần như theo cấp số nhân hoặc theo cách thức của một đường cong\r\nsin bị làm nhụt nhanh.\r\nLoại này được xác định bởi thời gian\r\nsườn trước là T₁ và thời gian\r\ngiảm về một nửa giá trị là T₂, xem hình 1. Xung điện áp của tổ hợp\r\nxung (xem 2.2.29) có hình dạng tương tự.

\r\n\r\n

\r\n\r\n

Hình 1 - Hình dạng của\r\ndòng điện xung loại 1

\r\n\r\n

2. Loại thứ hai có hình dạng gần\r\nnhư hình chữ nhật và được xác định bởi thời gian ảo của đỉnh và tổng thời gian ảo,\r\nxem hình 2.

\r\n\r\n

\r\n\r\n

Hình 2 - Hình dạng của\r\ndòng điện xung loại 2

\r\n\r\n

2.2.18. Giá trị của\r\nxung dòng điện (value of pulse current)

\r\n\r\n

Dòng điện xung thường được xác định bằng\r\ngiá trị đỉnh của nó. Với một số mạch thử nghiệm, có thể có\r\ndòng điện quá đích hoặc dao động. Dòng điện xung được xác định bởi một đường\r\ncong vẽ qua các dao động với điều kiện là đỉnh của các dao động phù hợp với\r\n4.6.2

\r\n\r\n

2.2.19. Thời gian sườn\r\ntrước ảo T₁ (virtual from\r\ntime T₁)

\r\n\r\n

Thời gian sườn trước ảo T₁ của dòng điện\r\nxung là 1,25 lần khoảng\r\nthời gian giữa các thời điểm mà xung là 10% và 90% giá trị đỉnh của nó.

\r\n\r\n

Thời gian sườn trước ảo T₁ của xung điện\r\náp là 1,67 lần thời gian mà xung là 30 % và 90% giá trị đỉnh của nó.

\r\n\r\n

2.2.20. Gốc tọa độ ảo\r\nO₁ (virtural\r\norigin O₁)

\r\n\r\n

Gốc tọa độ ảo O₁ của một dòng\r\nđiện xung là thời điểm vượt trước một thời gian là 0,1 x T₁ mà tại đó\r\ndòng điện là 10 % giá trị đỉnh của nó. Gốc tọa độ ảo O₁ của một xung\r\nđiện áp là thời điểm vượt trước một thời gian là 0,3 x T₁ mà tại đó\r\ncác điện áp là 30% giá trị đỉnh của nó.

\r\n\r\n

Đối với các dao động có thời gian quét\r\ntuyến tính, gốc tọa độ ảo O₁ là giao điểm với trục X của một đường\r\nthẳng vẽ qua các điểm chuẩn 10 % (30 %, trong trường hợp là xung điện áp) và 90\r\n% ở sườn trước.

\r\n\r\n

2.2.21. Thời gian ảo\r\nđến một nửa giá trị T₂ (virtual time\r\nto half-value T₂)

\r\n\r\n

Thời gian ảo đến một nửa giá trị T₂\r\ncủa một dòng điện xung hoặc xung điện áp là khoảng thời gian giữa gốc tọa độ ảo\r\nvà thời điểm trên đuôi sóng mà tại đó dòng điện lần đầu tiên giảm xuống\r\ncòn một nửa giá trị đỉnh của nó

\r\n\r\n

2.2.22. Thời gian ảo\r\ncủa đỉnh của một dòng diện xung hình chữ nhật t_d (virtural\r\nduration of peak of a rectangular pulse current t_d)

\r\n\r\n

Khoảng thời gian mà dòng điện lớn hơn 90 % giá\r\ntrị đỉnh của nó

\r\n\r\n

2.2.23. Tổng thời\r\ngian ảo t_t của xung dòng điện (virtual total\r\nduration t₁ of a pulse\r\ncurrent)

\r\n\r\n

Khoảng thời gian trong đó biên độ của\r\nxung lớn hơn 10 % giá trị đỉnh của nó, nếu có dao động trên sườn trước, cần vẽ một đường\r\ncong trung bình để xác định thời gian mà tại đó đạt được giá trị 10 %.

\r\n\r\n

2.2.24. Loại dải nhiệt\r\nđộ\r\n(category temperature range)

\r\n\r\n

Dải nhiệt độ môi trường xung quanh mà\r\nđiện trở biến đổi được\r\nthiết kế để hoạt động liên tục, điều này được xác định bởi giới hạn nhiệt độ của\r\nloại khí hậu thích hợp\r\ncủa nó

\r\n\r\n

2.2.25. Nhiệt độ loại\r\ncao\r\n(upper category temperature)

\r\n\r\n

Nhiệt độ môi trường cao nhất mà một điện\r\ntrở biến đổi được thiết kế để hoạt động liên tục:

\r\n\r\n

- Đối với điện trở biến đổi có cấu trúc oxit\r\nkim loại, ở một phần của điện áp xoay chiều hoặc một chiều lớn nhất\r\nliên tục được chỉ ra trong các đường cong suy giảm nêu trong quy\r\nđịnh kỹ thuật cụ thể;

\r\n\r\n

- Hoặc, nếu thích hợp, đối với điện trở biến đổi có\r\ncấu trúc cacbua\r\nsilic, ở một phần của\r\ntiêu tán danh định được chỉ ra trong loại tiêu tán

\r\n\r\n

2.2.26. Nhiệt độ loại\r\nthấp\r\n(lower category temperature)

\r\n\r\n

Nhiệt độ môi trường thấp nhất mà một\r\nđiện trở biến đổi được thiết kế để hoạt động liên tục.

\r\n\r\n

2.2.27. Khả năng chịu\r\nnhiệt\r\n(thermal resistance)

\r\n\r\n

Tỷ số giữa độ tăng nhiệt của phần tử\r\nlà điện trở biến đổi trên nhiệt độ môi trường xung quanh và công suất đặt.

\r\n\r\n

2.2.28. Tiêu tán danh\r\nđịnh (rated\r\ndissipation)

\r\n\r\n

Tiêu tán lớn nhất cho phép tại nhiệt độ\r\n25 °C

\r\n\r\n

2.2.29. Xung kết hợp (rated\r\ndissipation)

\r\n\r\n

xung có dạng sóng điện áp 1,2 / 50 (T₁/T₂)\r\nvà dòng điện có dạng sóng 8/20 (T₁/T₂), được thể\r\nhiện bởi

\r\n\r\n

“điện áp đỉnh /dòng điện đỉnh”

\r\n\r\n

2.3. Giá trị và đặc tính\r\nưu tiên

\r\n\r\n

Mỗi yêu cầu kỹ thuật từng phần phải\r\nquy định các giá trị ưu tiên phù hợp với phân họ, được đề cập bởi\r\nquy định kỹ thuật từng phần.

\r\n\r\n

2.4. Ghi nhãn

\r\n\r\n

2.4.1. Quy định chung

\r\n\r\n

Các thông tin được đưa ra trên nhãn\r\nthường được chọn từ liệt kê dưới đây, tầm quan trọng tương đối của mỗi hạng\r\nmục được ấn định bởi thứ tự của nó trong liệt kê này:

\r\n\r\n

a) Điện áp xoay chiều liên tục cao nhất\r\nhoặc điện áp điện trở biến đổi danh nghĩa;

\r\n\r\n

b) Ngày tháng năm sản xuất;

\r\n\r\n

c) Số hiệu của quy định kỹ thuật cụ thể\r\nvà kiểu tham chiếu;

\r\n\r\n

d) Tên hoặc thương hiệu của nhà chế tạo.

\r\n\r\n

Các điện trở biến đổi phải được ghi\r\nnhãn rõ ràng với hạng mục a) trên đây cùng với càng nhiều hạng mục còn lại\r\ncàng tốt. Cần tránh lặp\r\nlại thông tin khi ghi nhãn trên điện trở biến đổi.

\r\n\r\n

Trong trường hợp các linh kiện rất nhỏ,\r\nquy định kỹ thuật từng phần phải quy định các yêu cầu.

\r\n\r\n

Bao gói của (các) điện trở biến đổi phải\r\nđược ghi nhãn rõ ràng tất cả các thông tin liệt kê ở trên.

\r\n\r\n

Mọi ghi nhãn bổ sung phải được đặt sao\r\ncho không dẫn đến hiểu lầm.

\r\n\r\n

2.4.2. Mã hóa

\r\n\r\n

Khi sử dụng mã hóa, phương pháp được\r\nưu tiên lựa chọn là từ phương pháp nêu trong IEC 60062.

\r\n\r\n

3. Quy trình đánh giá\r\nchất lượng

\r\n\r\n

3.1. Hệ thống phê duyệt chất\r\nlượng / đánh giá chất\r\nlượng

\r\n\r\n

Khi tiêu chuẩn này được sử dụng cho một\r\nhệ thống đánh giá chất lượng đầy đủ như hệ thống đánh giá chất lượng IEC đối với\r\nlinh kiện điện tử (IECQ), kèm theo phê duyệt chất lượng và kiểm tra sự phù hợp\r\nchất lượng, thì các quy trình của 3.4 và\r\n3.5 phải được tuân thủ.

\r\n\r\n

Khi tiêu chuẩn này được các hệ thống\r\nđánh giá chất lượng bên ngoài IECQ sử dụng cho các mục đích thử nghiệm thiết kế\r\nhoặc thử nghiệm điển hình, có thể sử dụng các quy trình và yêu cầu của 3.4.1 và 3.4.2 b), nhưng các\r\nthử nghiệm và các bộ phận thử nghiệm phải được áp dụng theo thứ tự được đưa ra\r\ntrong lịch trình thử nghiệm.

\r\n\r\n

3.2. Giai đoạn đầu của quá\r\ntrình sản xuất

\r\n\r\n

Đối với quy định kỹ thuật của điện trở\r\nbiến đổi, giai đoạn đầu của quá trình sản\r\nxuất là sự pha trộn các thành phần.

\r\n\r\n

3.3. Linh kiện tương tự\r\nnhau về cấu trúc

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi trong phạm vi yêu cầu\r\nkỹ thuật này có thể được nhóm thành các nhóm có cấu trúc tương tự để hình thành\r\ncác lô kiểm tra với điều kiện đáp ứng các yêu cầu sau.

\r\n\r\n

a) được sản xuất bởi một nhà chế tạo trên\r\nmột vị trí, về cơ bản sử dụng cùng một thiết kế, vật liệu, quy trình và phương\r\npháp.

\r\n\r\n

b) Đối với các thử nghiệm về điện, các cơ\r\ncấu có cùng các đặc tính về điện có thể được nhóm lại với điều kiện các yếu tố\r\ndùng để xác định các\r\nđặc trưng giống với tất cả các cơ cấu liên quan.

\r\n\r\n

c) Đối với các thử nghiệm về môi trường,\r\ncó thể nhóm thành các thiết bị có cùng một cách đóng gói, cùng cấu trúc bên\r\ntrong cơ bản và cùng một quy trình hoàn thiện.

\r\n\r\n

d) Đối với các kiểm tra bằng mắt (ngoại\r\ntrừ kiểm tra ghi nhãn) các cơ cấu có thể được nhóm lại nếu được thực hiện trên\r\nmột dây chuyền sản xuất giống nhau, có\r\ncùng kích thước bao gói và hoàn thiện bên ngoài.

\r\n\r\n

Việc nhóm thành các nhóm cũng có thể\r\nđược sử dụng đối với độ cứng vững của các chân và các thử nghiệm hàn trong trường\r\nhợp thuận tiện để nhóm các cơ cấu có cấu trúc bên trong khác nhau (xem c) ở trên).

\r\n\r\n

e) Đối với các thử nghiệm độ bền, thiết bị\r\ncó thể được nhóm lại nếu được thực hiện trên cùng một quy trình sản xuất, trong\r\ncùng một vị trí, sử dụng cùng một thiết kế và chỉ khác nhau ở đặc tính điện.\r\nNếu\r\ncó\r\nthể chỉ ra rằng một\r\nloại nào đó trong nhóm đã chịu được ứng suất nặng nề hơn so với các loại khác\r\nthì khi đó thử nghiệm trên loại này có thể được chấp nhận cho các phần tử còn lại\r\ncủa nhóm.

\r\n\r\n

3.4. Thủ tục chứng nhận chất\r\nlượng

\r\n\r\n

Nhà chế tạo phải tuân thủ:

\r\n\r\n

- Các yêu cầu chung của các quy tắc về quy\r\ntrình quản lý chứng nhận chất lượng (IEC QC 001 002-3, Điều 3);

\r\n\r\n

- Các yêu cầu đối với giai đoạn đầu của quá trình sản xuất được định nghĩa trong\r\n3.2 của tiêu chuẩn\r\nnày.

\r\n\r\n

Ngoài ra, các yêu cầu của quy trình a)\r\nhoặc b) dưới đây, phải được áp dụng.

\r\n\r\n

a) Nhà chế tạo phải có bằng chứng thử\r\nnghiệm phù hợp với các yêu cầu quy định trên ba lô thử nghiệm đại diện cho từng\r\nlô được lấy trong một thời gian ngắn nhất có thể và một lô đại diện cho thử nghiệm\r\nđịnh kỳ. Trong thời gian mà các lô thử nghiệm được lấy, không được có thay đổi\r\nđáng kể trong quá trình chế tạo.

\r\n\r\n

Các mẫu phải được lấy từ các lô phù hợp\r\nvới IEC 60410 (xem Phụ lục B). Phải sử dụng việc kiểm tra thông thường,\r\nnhưng nếu cỡ mẫu cung cấp cho chấp nhận\r\ntrên cơ sở không có sự không phù hợp, thì phải lấy các\r\nmẫu bổ sung để đáp ứng cỡ mẫu được yêu cầu để cung cấp cho chấp nhận trên một hạng\r\nmục không phù hợp.

\r\n\r\n

b) Nhà chế tạo phải có bằng chứng thử\r\nnghiệm phù hợp với các yêu cầu của quy định\r\nkỹ thuật trên các lịch trình thử nghiệm cỡ\r\nmẫu cố định được cho trong quy định kỹ thuật từng phần.

\r\n\r\n

Các mẫu được lấy để tạo thành bộ mẫu\r\nphải được chọn ngẫu nhiên từ sản xuất hoặc theo thỏa\r\nthuận với Cơ quan quốc gia về kiểm tra giám sát.

\r\n\r\n

Chứng nhận chất lượng là một phần của một hệ thống đánh giá chất lượng phải\r\nđược duy trì bởi các bằng chứng chứng minh hợp thức thường xuyên về việc tuân\r\nthủ các yêu cầu\r\nphù hợp chất lượng (xem 3.5). Nếu không, việc chứng nhận chất lượng này phải được\r\nkiểm tra xác nhận qua các quy tắc duy trì chứng nhận chất lượng được đưa ra\r\ntrong Quy tắc về quy trình của hệ thống\r\nđánh giá chất lượng IEC đối với linh kiện điện tử (IEC QC 001.002-3, 3.1.7).

\r\n\r\n

3.5. Kiểm tra sự phù hợp\r\nchất lượng

\r\n\r\n

Quy định kỹ thuật cụ thể còn để trống\r\nkết hợp với quy định kỹ thuật từng phần phải quy định lịch trình thử nghiệm đối với kiểm tra sự phù hợp chất\r\nlượng.

\r\n\r\n

Lịch trình\r\nnày cũng phải quy định cụ thể việc\r\nnhóm, lấy mẫu và chu kỳ cho từng lô và kiểm tra\r\nđịnh kỳ.

\r\n\r\n

Mức độ kiểm tra và AQL phải được chọn\r\ntừ các mức được nêu trong IEC 60410.

\r\n\r\n

Nếu cần thiết, có thể quy định nhiều\r\nhơn một lịch trình thử nghiệm.

\r\n\r\n

3.5.1. Hồ sơ chứng nhận của\r\ncác lô đưa ra bán

\r\n\r\n

Hồ sơ chứng nhận của các lô đưa ra bán nếu được quy định trong\r\nquy định kỹ thuật liên quan và có yêu cầu của người mua, tối thiểu phải nêu các\r\nthông tin dưới đây:

\r\n\r\n

- Thông tin thuộc tính (ví dụ như\r\nsố lượng các linh kiện được thử nghiệm và số lượng linh kiện không phù hợp) đối\r\nvới các thử nghiệm trong các phân nhóm thuộc kiểm tra định kỳ mà không cần tham\r\nchiếu đến các tham số mà việc không đạt đã loại bỏ.

\r\n\r\n

- Các thông tin có thể thay đổi được về thay đổi\r\nđiện áp hoặc dòng điện sau các thử nghiệm độ bền theo quy định trong quy định kỹ\r\nthuật từng phần.

\r\n\r\n

3.5.2. Giao hàng chậm

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi bị tồn đọng trong thời\r\ngian quá hai năm (trừ trường hợp có quy định\r\nkhác tại quy định kỹ thuật từng phần), cùng với việc đưa ra bán lô này, trước\r\nkhi giao hàng, phải kiểm tra lại về xem xét bằng mắt, khả năng hàn và điện áp tại\r\ndòng điện rò 1 mA như được quy định trong kiểm tra nhóm A hoặc nhóm B của quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Nếu ảnh hưởng của sự thay đổi theo điện\r\náp hoặc dòng điện phụ thuộc vào loại điện trở biến đổi, thì giá trị của\r\nnó và dung sai ban đầu, thủ tục do người đứng đầu bộ phận kiểm tra của nhà chế\r\ntạo phê duyệt để đảm bảo các yêu cầu điện áp tại dòng điện rò 1 mA được đáp ứng,\r\nđều phải được chấp thuận của cơ quan quốc\r\ngia về kiểm tra giám sát.

\r\n\r\n

Một khi một "lô" đã đáp ứng\r\nvới thử nghiệm lại, chất lượng của nó được\r\ntái đảm bảo trong thời hạn quy định.

\r\n\r\n

3.5.3. Giao hàng trước khi\r\nhoàn thành các thử nghiệm nhóm B

\r\n\r\n

Khi các điều kiện của IEC 60410 đối với các thay đổi để giảm bớt\r\ncông việc kiểm tra đã được đáp ứng cho tất cả các thử nghiệm nhóm B, nhà chế tạo\r\nđược phép đem bán các linh kiện trước khi hoàn thành các thử nghiệm này.

\r\n\r\n

3.6. Phương pháp thử nghiệm\r\nthay thế

\r\n\r\n

Phương pháp thử nghiệm và đo lường được\r\nđưa ra trong quy định kỹ thuật liên quan không nhất thiết phải là phương pháp\r\nduy nhất có thể được sử dụng. Tuy nhiên, nhà chế tạo phải đáp ứng các yêu cầu của cơ quan quốc gia về kiểm tra giám sát rằng\r\nbất kỳ phương pháp thay thế nào mà nhà chế tạo có thể sử dụng phải cho kết quả\r\ntương đương với kết quả thu được bằng các phương pháp quy định. Trong\r\ntrường hợp có tranh chấp, với\r\nmục đích trọng tài và mục đích chuẩn, chỉ sử dụng phương pháp quy định.

\r\n\r\n

3.7. Tham số chưa kiểm tra

\r\n\r\n

Chỉ các tham số của linh kiện đã được\r\nquy định trong quy\r\nđịnh kỹ thuật cụ thể và đó là đối tượng thử nghiệm mới có thể được coi là cần nằm\r\ntrong giới hạn quy định.

\r\n\r\n

Không nên cho rằng bất kỳ tham số nào\r\nkhông được quy định thì đều không thay đổi từ linh kiện này đến linh kiện khác.\r\nNếu vì lý do nào đó cần thiết để thêm tham số để kiểm soát, thì khi đó nên sử dụng\r\nquy định kỹ thuật mới, mở rộng hơn.

\r\n\r\n

Phương pháp thử nghiệm bổ sung phải được\r\nmô tả đầy đủ và quy định giới hạn, AQL và mức độ kiểm tra thích hợp.

\r\n\r\n

4. Quy trình thử nghiệm\r\nvà đo lường

\r\n\r\n

4.1. Quy định chung

\r\n\r\n

Quy định kỹ thuật cụ thể từng phần và\r\n/ hoặc quy định kỹ thuật còn để trống phải chứa các bảng thể hiện các thử nghiệm\r\ncần thực hiện, các phép đo cần tiến hành trước và sau mỗi thử nghiệm hoặc phân\r\nnhóm thử nghiệm, và trình tự cần thực hiện.\r\nCác giai đoạn của mỗi thử nghiệm được thực\r\nhiện theo thứ tự bằng văn bản. Các điều kiện đo cho các phép đo ban đầu và cuối\r\ncùng phải giống nhau.

\r\n\r\n

Nếu quy định kỹ thuật\r\nquốc gia nằm trong hệ thống đánh giá chất lượng nào đó kể cả các phương pháp\r\nkhông phải là phương pháp quy định tại các văn bản trên thì đều phải mô\r\ntả đầy đủ.

\r\n\r\n

Tình trạng sửa đổi và phát hành của bộ tiêu chuẩn\r\nthử nghiệm IEC 60068 nêu trong Điều\r\n4 này được đưa ra trong 1.3.

\r\n\r\n

4.2. Điều kiện khí quyển\r\ntiêu chuẩn

\r\n\r\n

4.2.1. Điều kiện khí quyển tiêu chuẩn\r\nđể thử nghiệm

\r\n\r\n

Nếu không có quy định khác, tất cả các\r\nthử nghiệm và phép đo đều phải được thực hiện theo điều kiện khí quyển tiêu chuẩn\r\nđể thử nghiệm như được đưa ra trong 5.3 của IEC 60068-1:

\r\n\r\n

Nhiệt độ: 15 ^oC đến 35 °C

\r\n\r\n

Độ ẩm tương đối: 25 % đến 75 %.

\r\n\r\n

Áp suất không khí: 86 kPa đến\r\n106 kPa

\r\n\r\n

Trước khi thực hiện phép đo, các điện\r\ntrở biến đổi phải được\r\nlưu giữ ở nhiệt độ\r\ndùng để đo trong một thời gian đủ để toàn bộ điện trở biến đổi đạt nhiệt độ\r\nnày. Thời gian giống như thời gian quy định cho việc phục hồi vào cuối của thử\r\nnghiệm thường là đủ cho mục đích này.

\r\n\r\n

Khi thực hiện phép đo ở nhiệt độ khác\r\nvới nhiệt độ quy định, kết quả phải, khi cần thiết, được quy đổi về nhiệt độ\r\nquy định. Nhiệt độ\r\nmôi trường xung quanh trong quá trình đo\r\nphải được nêu trong báo cáo thử nghiệm. Trong trường\r\nhợp có tranh chấp, các phép\r\nđo phải được lặp lại bằng cách sử dụng\r\nmột trong các nhiệt độ trọng tài (như được đưa ra trong 4.2.3) và các điều kiện\r\nkhác như được nêu trong quy định kỹ thuật này.

\r\n\r\n

Khi thử nghiệm được tiến hành theo một\r\ntrình tự, phép đo cuối cùng của một thử\r\nnghiệm có thể được lấy làm phép đo\r\nban đầu cho thử nghiệm tiếp theo.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Trong quá trình\r\nđo, các điện trở biến đổi không được tiếp xúc với gió lùa, tia nắng mặt trời trực tiếp\r\nhoặc các ảnh hưởng khác có nhiều khả năng gây sai số.

\r\n\r\n

4.2.2. Điều kiện phục hồi

\r\n\r\n

Nếu không có quy định khác, phục hồi\r\nphải diễn ra trong các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn dùng để thử nghiệm (xem\r\n4.2.1). Nếu phục hồi cần được thực hiện trong điều kiện kiểm soát chặt chẽ, thì\r\nphải sử dụng các điều kiện phục hồi có kiểm soát tại Điều 5.4.1 của IEC 60068-1.

\r\n\r\n

4.2.3. Điều kiện trọng tài

\r\n\r\n

Với mục đích trọng tài, phải chọn một\r\ntrong các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn để thử nghiệm trọng tài được lấy từ\r\n5.2 của IEC 60088-1, như được đưa ra trong Bảng 1.

\r\n\r\n

Bảng 1 - Điều kiện\r\nkhí quyển tiêu chuẩn

\r\n\r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n

\r\n Nhiệt độ \r\n °C \r\n	\r\n Độ ẩm tương đối \r\n % \r\n	\r\n Áp suất\r\n không khí \r\n kPa \r\n
\r\n 20 ± 1 \r\n	\r\n 63 đến 67 \r\n	\r\n 86 đến 106 \r\n
\r\n 23 ± 1 \r\n	\r\n 46 đến 52 \r\n	\r\n 86 đến 106 \r\n
\r\n 25 ± 1 \r\n	\r\n 48 đến 52 \r\n	\r\n 86 đến 106 \r\n
\r\n 27 ± 1 \r\n	\r\n 63 đến 67 \r\n	\r\n 86 đến 106 \r\n

\r\n\r\n

4.2.4. Điều kiện\r\nchuẩn

\r\n\r\n

Với mục đích làm chuẩn, áp\r\ndụng các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn để làm chuẩn được đưa ra trong 5.1 của TCVN\r\n7699-1 (IEC 60068-1):

\r\n\r\n

Nhiệt độ: 20 °C

\r\n\r\n

Áp suất không khí: 101,3 kPa

\r\n\r\n

4.3. Làm khô và phục hồi

\r\n\r\n

Trong trường hợp làm khô được quy định\r\ntrong quy định kỹ thuật, các điện trở biến đổi phải được ổn định trước khi thực\r\nhiện phép đo, sử dụng quy trình quy trình\r\nI hoặc quy trình II trong quy định kỹ thuật\r\ncụ thể.

\r\n\r\n

Quy trình I

\r\n\r\n

Trong 24 h ± 4 h bên trong lò có nhiệt\r\nđộ 55 °C ± 2 ° C và độ ẩm tương đối\r\nkhông cao hơn 20 %

\r\n\r\n

Quy trình\r\nII

\r\n\r\n

96 h ± 4 h bên trong lò có nhiệt độ\r\n100 °C ± 5 °C.

\r\n\r\n

Sau đó các điện trở biến đổi được để\r\nnguội trong bình hút ẩm có chất hút\r\nẩm thích hợp, chẳng hạn như nhôm hoạt tính hoặc silica gel, và được giữ trong\r\nđó tính từ thời gian lấy ra khỏi lò\r\nđến khi bắt đầu các thử nghiệm quy định.

\r\n\r\n

4.4. Kiểm tra bằng mắt và kiểm tra kích thước

\r\n\r\n

4.4.1. Kiểm tra bằng mắt

\r\n\r\n

Tình trạng, tay nghề và chất lượng bề\r\nmặt phải đáp ứng được các kiểm tra bằng mắt.

\r\n\r\n

4.4.2. Ghi nhãn

\r\n\r\n

Ghi nhãn phải rõ ràng, bằng cách kiểm\r\ntra bằng mắt. Ghi nhãn phải phù hợp với các yêu cầu của quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.4.3. Kích thước (đo kiểm)

\r\n\r\n

Tất cả các kích thước được chỉ ra\r\ntrong quy định kỹ thuật cụ thể là thích hợp để kiểm tra bằng cách đo đều phải\r\nđược kiểm tra và phải phù hợp với các giá trị quy định trong quy định kỹ thuật\r\ncụ thể.

\r\n\r\n

Khi áp dụng, các phép đo được thực hiện\r\ntheo quy định của IEC 60294 hoặc IEC 60717.

\r\n\r\n

4.4.4. Kích thước (chi tiết)

\r\n\r\n

Tất cả các kích thước được chỉ ra\r\ntrong quy định kỹ thuật cụ thể đều phải được kiểm tra và phải phù hợp với các\r\ngiá trị quy định.

\r\n\r\n

4.5. Điện áp hoặc dòng điện\r\nrò của điện trở biến đổi danh nghĩa (không áp dụng đối với các phép đo\r\nxung)

\r\n\r\n

4.5.1. Quy trình thử nghiệm

\r\n\r\n

Các điện trở biến đổi phải\r\nđược cố định vào kẹp chống ăn mòn bằng phương tiện thông thường. Phương tiện lắp\r\nđặt ưu tiên được đưa ra trong Phụ lục A để đo trong không khí và khi có thể xảy\r\nra tự gia nhiệt. Phương pháp trong Phụ lục A phải được sử dụng trong trường hợp có tranh chấp.

\r\n\r\n

4.5.2. Phép đo và yêu cầu

\r\n\r\n

Đo điện áp hoặc dòng điện rò của điện\r\ntrở biến đổi danh nghĩa được thực hiện bằng cách sử dụng một điện áp (hoặc dòng\r\nđiện) một chiều trong thời gian ngắn càng tốt, để nhiệt độ của các phần tử điện\r\ntrở biến đổi\r\nkhông tăng đáng kể trong quá trình đo.

\r\n\r\n

Trong trường hợp đòi hỏi điều kiện chính xác hơn thì\r\nphải được quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Phép đo phải được thực hiện theo hai\r\nhướng,

\r\n\r\n

Độ chính xác của thiết bị\r\nđo phải đảm bảo rằng sai số không vượt quá 10 % dung sai.

\r\n\r\n

Các giá trị đo được về điện áp (hoặc\r\ndòng điện rò) của điện\r\ntrở biến đổi danh nghĩa phải phù hợp với các giới hạn được đưa ra trong quy định\r\nkỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.6. Dòng điện xung

\r\n\r\n

Các điện trở biến đổi phải được cố định\r\nvào kẹp chống ăn mòn bằng phương tiện thông thường. Phương tiện lắp đặt ưu tiên\r\nđược đưa ra trong Phụ lục A để đo trong không khí và khi có thể xảy ra tự gia\r\nnhiệt. Phương pháp trong Phụ lục A phải được sử dụng trong trường hợp có tranh chấp.

\r\n\r\n

4.6.1. Dòng điện xung tiêu\r\nchuẩn

\r\n\r\n

Sử dụng dòng điện xung tiêu chuẩn\r\ntương ứng với loại xung thứ nhất được xác định trong 2.2.17. Một xung có thời\r\ngian sườn trước ảo là 8 ms và thời gian đến một nửa giá trị là 20 ms. Xung được mô tả\r\nnhư một xung 8/20. Một xung khác có thời gian sườn trước ảo là 10 ms và thời gian đến một\r\nnửa giá trị là 1 000 ms\r\nđược mô tả là xung 10/1 000.

\r\n\r\n

Dòng điện xung chữ nhật, tương ứng với\r\nloại xung thứ hai được định nghĩa trong 2.2.17 có thời gian ảo là tựa đỉnh, tới 50 ms, 1 000 ms hoặc 2 000 ms, nằm trong dung sai\r\nquy định.

\r\n\r\n

4.6.2. Dung sai

\r\n\r\n

Bảng 2 liệt kê sự khác nhau được chấp\r\nnhận giữa các giá trị quy định đối với dòng điện xung và giá trị thực được ghi lại, với\r\nđiều kiện là hệ thống đo đáp ứng các yêu\r\ncầu của IEC 60060-2.

\r\n\r\n

Bảng 2 - Sự\r\nsai khác được thừa nhận giữa\r\ncác giá trị quy định và\r\ndòng điện xung được ghi lại

\r\n\r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n

\r\n   \r\n	\r\n Đối với 8\r\n /20 \r\n	\r\n Đối với\r\n 10/1 000 \r\n
\r\n Giá trị đỉnh \r\n	\r\n ± 10% \r\n	\r\n ± 10% \r\n
\r\n   \r\n Thời gian sườn trước ảo T1 \r\n	\r\n ± 10% \r\n   \r\n	\r\n + 100% \r\n - 10 % \r\n
\r\n Thời gian ảo đến một nửa giá trị T2 \r\n	\r\n ± 10% \r\n	\r\n ± 20 % \r\n
\r\n Tổng thời gian ảo \r\n	\r\n   \r\n	\r\n 2,5 đến 4 lần\r\n T2 \r\n

\r\n\r\n

Cho phép quá đích hoặc dao động nhỏ với\r\nđiều kiện biên độ đỉnh duy nhất của chúng nằm trong vùng lân cận của đỉnh xung\r\nkhông vượt quá 5 % giá trị đỉnh. Mọi\r\nthay đổi cực tính sau khi dòng điện giảm về không đều không được lớn hơn 20 %\r\ngiá trị đỉnh

\r\n\r\n

Đối với xung chữ nhật

\r\n\r\n

Giá trị đỉnh %

\r\n\r\n

Thời gian ảo của đỉnh %

\r\n\r\n

Cho phép quá đích hoặc dao động với điều\r\nkiện là biên độ đỉnh không vượt quá 10 % giá trị đỉnh. Thời gian\r\ntổng của xung chữ nhật cần nhỏ hơn hoặc bằng 1,5 lần thời gian ảo của đỉnh và đảo\r\nngược cực tính cần được giới hạn đến 10 % giá trị đỉnh.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Dung sai được đề cập trên đây liên\r\nquan đến hệ thống đo tạo ra xung (hệ thống đo khi ngắn mạch) và không ghi lại\r\nxung trong quá trình thử nghiệm.

\r\n\r\n

4.6.3. Phép đo dòng điện\r\nxung

\r\n\r\n

Dòng điện xung cần được đo bằng thiết\r\nbị đã qua thủ tục chấp nhận liên quan đến IEC 60060-2. Xung này phải được định\r\nnghĩa trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.7. Điện áp trong điều kiện\r\nxung

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi phải được đặt vào\r\ncác kẹp chịu ăn mòn theo cách thông thường. Phương tiện lắp đặt ưu tiên được\r\ncho trong phụ lục A đối với phép đo trong không khí khi có tự gia nhiệt có thể xuất hiện.\r\nPhương pháp trong phụ lục A phải được sử dụng trong trường hợp có nghi ngờ.

\r\n\r\n

Khi phép đo đòi hỏi tăng điện áp đặt\r\nlên đối tượng thử nghiệm trong quá trình\r\nthử nghiệm với dòng điện xung cao, có thể sử dụng cơ cấu đo được thừa nhận để đo điện\r\náp xung theo IEC 60060-2 cho mục đích này.

\r\n\r\n

Dòng điện xung có thể gây ra điện áp\r\nđáng kể trong mạch đo điện áp xung dẫn đến sai số lớn. Khuyến cáo rằng các dây\r\ndẫn thường nối bộ phận áp với đầu\r\nmang điện của đối tượng thử nghiệm cần được\r\nngắt khỏi điểm này và được nối đến đầu nối đất của\r\nđối tượng thử nghiệm, nhưng duy trì một vòng lặp gần giống nhau. Một cách khác,\r\nđối tượng thử nghiệm có thể được nối tắt hoặc thay thế bằng một dây dẫn kim loại\r\nđặc. Điện áp được đo trong điều kiện bất kỳ, khi bộ phát phóng điện, không đáng\r\nkể so với điện\r\náp đặt lên đối tượng thử nghiệm, ở ít nhất là trong khoảng thời gian ở một phần\r\nquan trọng của xung dùng để đánh giá kết\r\nquả thử nghiệm.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Kiểm tra ngắn mạch này có\r\nthể thực hiện ở dòng điện\r\nsuy giảm.

\r\n\r\n

4.8. Điện dung

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi phải được đặt vào\r\ncác kẹp chịu ăn mòn theo cách thông thường. Phương tiện lắp đặt ưu tiên được\r\ncho trong phụ lục A đối với phép đo trong không khí khi có tự gia nhiệt có thể\r\nxuất hiện. Phương pháp trong phụ lục A phải được sử dụng trong trường hợp có\r\nnghi ngờ.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 1: Thuộc tính của điện trở biến đổi phụ thuộc vào tần số, phát\r\nsinh từ điện dung của chúng, cần quan tâm\r\nđến yếu tố này.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 2: Phép đo điện\r\ndung cần được thực hiện trên mẫu đã được phục hồi trong thời gian ít nhất 48 h sau bất kỳ thử nghiệm\r\nđiện nào khác.

\r\n\r\n

4.8.1. Các phép đo được thực\r\nhiện trong điều kiện bình thường, ở tần số 1 kHz và, trừ trường hợp quy định tại\r\ncác đặc điểm kỹ thuật chi tiết, ở mức tín hiệu ≤ 1 V giá trị hiệu dụng,\r\nkhông có định thiên bằng điện một chiều.

\r\n\r\n

4.8.2. Điện dung phải phù hợp\r\nvới giá trị nêu trong quy định kỹ thuật cụ thể có tính đến dung sai.

\r\n\r\n

4.9. Chịu điện áp (chỉ đối với\r\nđiện trở biến đổi cách ly)

\r\n\r\n

Thử nghiệm phải được thực hiện bằng\r\ncách sử dụng một trong ba phương pháp lắp đặt sau đây, nếu được quy định\r\ntại các quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.9.1. Phương pháp khối\r\nV

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi được kẹp trong máng\r\ncủa khối V 90 ° bằng kim loại\r\ncó kích thước sao cho thân điện trở biến đổi không nhô ra ngoài các\r\nđiểm xa nhất của khối. Lực kẹp phải đảm bảo đủ tiếp xúc giữa điện trở biến đổi\r\nvà khối. Lực kẹp phải được chọn theo cách cách không làm hỏng điện trở biến đổi. Điện\r\ntrở biến đổi phải được định vị phù hợp với những điều sau đây.

\r\n\r\n

- Đối với điện trở biến đổi hình trụ: điện\r\ntrở biến đổi phải\r\nđược định vị trong khối sao cho chân xa nhất tính từ trục của điện trở biến đổi là gần nhất với một trong\r\ncác bề mặt của khối.

\r\n\r\n

- Đối với điện trở biến đổi hình chữ nhật: điện\r\ntrở biến đổi phải\r\nđược định vị trong khối sao cho chân gần nhất tính từ mép của điện trở biến đổi là gần nhất với một trong\r\ncác bề mặt của khối.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi hình trụ\r\nvà hình chữ nhật\r\ncó dây ra dọc trục: mọi định vị lệch\r\ntâm của điểm nhô ra của các chân tính từ thân phải được bỏ qua.

\r\n\r\n

4.9.2. Phương pháp viên\r\nbi kim loại

\r\n\r\n

Các phần không cách điện của điện trở\r\nbiến đổi phải được bọc bằng vật liệu cách điện có giá trị cách ly rất cao.

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi hoàn chỉnh phải được\r\nđặt vào một thùng chứa các viên bi kim loại đường kính 1,6 mm ± 0,2 mm sao cho chỉ các\r\nchân của điện trở biến đổi nhô ra. Cắm một điện cực vào giữa các viên bi kim loại.

\r\n\r\n

4.9.3. Phương pháp lá kim loại

\r\n\r\n

Một lá kim loại phải được quấn chặt\r\nxung quanh thân của điện trở biến đổi.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi có các chân\r\ndọc trục, lá kim loại phải được quấn xung quanh toàn bộ thân của điện trở biến\r\nđổi nhô thêm ra ít nhất là 5 mm tính từ mỗi đầu với điều kiện là duy trì được khoảng\r\nkhông tối thiểu giữa lá kim loại và các chân là 1 mm. Các đầu của lá kim loại\r\nkhông được bị gập trên các đầu của\r\nđiện trở biến đổi.

\r\n\r\n

Điện áp đặt vào phải được quy định\r\ntrong tài liệu an toàn có thể áp dụng. Nếu không có tài liệu an toàn thì điện áp đặt\r\nphải như sau:

\r\n\r\n

Đặt trong thời gian 60 s ± 5 s một điện\r\náp xoay chiều có tần số 40 Hz đến 60 Hz, có giá trị đỉnh bằng 1,4 lần điện áp\r\ncách ly quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể lên tất cả các chân của điện trở\r\nbiến đổi nối với nhau thành một cục, các viên bi kim loại hoặc lá kim loại hoặc\r\nkhối V là một cực khác.

\r\n\r\n

Điện áp phải được đặt từ từ với tốc độ xấp xỉ\r\n100 V/s. Thời gian\r\nthử nghiệm có thể giảm đến 1 s với điều kiện điện áp thử nghiệm tăng 20 %.

\r\n\r\n

Không được có phóng điện đánh thủng hoặc\r\nphóng điện bề mặt

\r\n\r\n

4.10. Điện trở cách điện (chỉ đối với\r\nđiện trở biến đổi được cách ly)

\r\n\r\n

4.10.1. Quy trình thử nghiệm

\r\n\r\n

Thử nghiệm phải được thực hiện bằng cách sử dụng\r\nmột trong những phương pháp quy định\r\ntrong\r\n4.9,\r\ntheo quy định tại các quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.10.2. Phép đo và yêu cầu

\r\n\r\n

Điện trở cách điện phải được đo với điện\r\náp một chiều 100 V ± 15 V (đối với U_ISO < 500 V) hoặc 500 V ± 50 V (cho U_ISO > 500 V) giữa\r\nhai chân của điện trở biến đổi được\r\nnối với nhau tạo thành một cực và lá kim loại, viên bi kim loại, lá\r\nkim loại hoặc khối V tạo thành cực khác.

\r\n\r\n

Điện áp phải được đặt trong 1 min, hoặc\r\ntrong thời gian ngắn hơn nhưng đủ để đạt được số đọc ổn định, điện trở cách ly\r\nđược đọc ở cuối của giai đoạn này.

\r\n\r\n

Khi điện trở biến đổi được đo theo quy\r\nđịnh, điện trở cách ly không được nhỏ hơn các giá trị thích hợp quy định\r\ntrong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Không được có phóng điện đánh thủng hoặc phóng\r\nđiện bề mặt.

\r\n\r\n

Điện trở cách ly không được nhỏ hơn\r\ngiá trị quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.11. Độ cứng vững của các\r\nchân

\r\n\r\n

4.11.1. Quy định chung

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi phải chịu thử nghiệm\r\nUa1, Ub, Uc và Ud của IEC 60068-2-21, tùy\r\ntheo từng trường hợp.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi oxit kim loại,\r\nđiện áp ở dòng điện\r\nquy định phải được đo theo 4.5.

\r\n\r\n

4.11.2. Thử nghiệm Ua1 - Kéo\r\ncăng

\r\n\r\n

Lực đặt phải là:

\r\n\r\n

- 20 N đối với các chân không phải là sợi dây;

\r\n\r\n

- theo bảng 3 đối với các chân là sợi dây.

\r\n\r\n

Bảng 3 - Lực\r\ndành cho các chân là sợi dây

\r\n\r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n

\r\n Diện tích mặt\r\n cắt danh nghĩa \r\n mm2 \r\n	\r\n Đường kính\r\n tương ứng đối\r\n với dây mặt cắt tròn \r\n mm \r\n	\r\n Lực kéo \r\n N \r\n
\r\n S ≤ 0,05 \r\n	\r\n d ≤ 0,25 \r\n	\r\n 1 \r\n
\r\n 0,05 < S ≤ 0,07 \r\n	\r\n 0,25 < d\r\n ≤ 0,3 \r\n	\r\n 2,5 \r\n
\r\n 0,07 < S ≤ 0,2 \r\n	\r\n 0,3 < d ≤ 0,5 \r\n	\r\n 5 \r\n
\r\n 0,2 < S ≤\r\n 0,5 \r\n	\r\n 0,5 < d ≤\r\n 0,8 \r\n	\r\n 10 \r\n
\r\n 0,5 < S ≤\r\n 1,2 \r\n	\r\n 0,8 < d ≤\r\n 1,25 \r\n	\r\n 20 \r\n
\r\n 1,2 < S \r\n	\r\n 1,25 < d \r\n	\r\n 40 \r\n

\r\n\r\n

4.11.3. Thử nghiệm Ub - Uốn (một nửa số chân)

\r\n\r\n

Phương pháp 1, Phải đặt hai lần uốn\r\nliên tiếp theo mỗi hướng. Không áp dụng thử nghiệm này nếu quy định kỹ thuật cụ\r\nthể quy định các chân là loại cứng.

\r\n\r\n

4.11.4. Thử nghiệm Uc - Xoắn (một nửa số\r\nchân còn lại)

\r\n\r\n

Phương pháp 1, phải sử dụng độ khắc\r\nnghiệt 2 (2 lần xoay liên tiếp 180 °).

\r\n\r\n

Không áp dụng thử nghiệm này nếu trong\r\nquy định kỹ thuật cụ thể quy định các chân là cứng và không áp dụng cho các\r\nlinh kiện có các chân cùng một hướng được thiết kế cho các ứng dụng mạch in.

\r\n\r\n

4.11.5. Thử nghiệm Ud - Mô\r\nmen xoắn\r\n(dành cho các chân là vít hoặc bu lông và dành cho các cơ cấu lắp liền)

\r\n\r\n

Bảng 4 - Mô\r\nmen xoắn

\r\n\r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n

\r\n Đường kính\r\n ren danh nghĩa \r\n mm \r\n		\r\n 2,6 \r\n	\r\n 3 \r\n	\r\n 3,5 \r\n	\r\n 4 \r\n	\r\n 5 \r\n	\r\n 6 \r\n
\r\n Mô men xoắn (Nm) \r\n	\r\n Độ khắc\r\n nghiệt 1 \r\n	\r\n 0,4 \r\n	\r\n 0,5 \r\n	\r\n 0,8 \r\n	\r\n 1,2 \r\n	\r\n 2,0 \r\n	\r\n 2,5 \r\n
	\r\n Độ khắc\r\n nghiệt 2 \r\n	\r\n 0,2 \r\n	\r\n 0,25 \r\n	\r\n 0,4 \r\n	\r\n 0,6 \r\n	\r\n 1,0 \r\n	\r\n 1,25 \r\n

\r\n\r\n

4.11.6. Kiểm tra bằng mắt

\r\n\r\n

Sau khi phục hồi, điện trở biến đổi phải\r\nđược kiểm tra bằng mắt. Không được có hư hại nhìn thấy được.

\r\n\r\n

4.11.7. Phép đo cuối cùng

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi silicon\r\ncacbua, dòng điện rò phải được đo theo quy định tại 4.5, và không được vượt quá\r\ngiá trị quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi là oxit kim\r\nloại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định trong 4.4, và sự\r\nthay đổi từ giá trị\r\nđo được ban đầu không được vượt quá các giới hạn quy định trong quy định kỹ thuật\r\ncụ thể.

\r\n\r\n

4.12. Khả năng chịu nhiệt\r\nhàn

\r\n\r\n

4.12.1. Ổn định trước

\r\n\r\n

Khi có quy định của quy định kỹ thuật liên quan, điện trở nhiệt\r\nphải được làm khô bằng cách sử dụng phương pháp của\r\n4.3.

\r\n\r\n

Các nhiệt kế điện tử phải được đo theo\r\nquy định kỹ thuật liên quan.

\r\n\r\n

4.12.2. Quy trình thử nghiệm

\r\n\r\n

Nếu không có quy định khác trong quy định\r\nkỹ thuật liên quan, phải áp dụng một trong các thử nghiệm sau đây nếu\r\nđược quy định trong cùng một quy định kỹ thuật.

\r\n\r\n

Các điều kiện thử nghiệm được xác định\r\ntrong quy định kỹ thuật liên quan.

\r\n\r\n

a) Đối với tất cả các điện\r\ntrở nhiệt trừ các mục b) và c) dưới đây:

\r\n\r\n

IEC 60068-2-20. thử nghiệm Tb, phương pháp 1 (bể\r\nhàn).

\r\n\r\n

b) Đối với điện trở nhiệt không\r\nđược thiết kế để sử dụng trong tấm mạch in nhưng có các chân thích hợp với hàn\r\nthiếc như được chỉ ra trong quy định kỹ thuật cụ thể:

\r\n\r\n

1) IEC 60068-2-20. thử nghiệm Tb. phương\r\npháp 1 (bể hàn)

\r\n\r\n

2) IEC 60068-2-20. thử nghiệm Tb. phương\r\npháp 2 (mỏ hàn).

\r\n\r\n

c) Đối với điện trở nhiệt lắp đặt bề mặt:

\r\n\r\n

IEC 60068-2-58. Phương pháp chảy ngược\r\nhoặc phương pháp bể hàn

\r\n\r\n

4.12.3. Phục hồi

\r\n\r\n

Trừ trường hợp có quy định kỹ thuật cụ\r\nthể. Giai đoạn phục hồi không được sớm hơn 1 giờ hoặc lâu hơn 2 giờ, ngoại trừ\r\nđối với điện trở nhiệt lắp đặt bề mặt,\r\ntrong đó giai đoạn phục hồi phải là 24 h ± 2h.

\r\n\r\n

4.12.4. Kiểm tra cuối cùng, phép đo\r\nvà các yêu cầu

\r\n\r\n

Đối với tất cả các điện trở nhiệt, ngoại\r\ntrừ điện trở nhiệt lắp đặt\r\nbề mặt phải áp dụng như sau:

\r\n\r\n

- Khi thử nghiệm đã được thực hiện, các điện trở\r\nnhiệt vẫn phải được kiểm tra bằng mắt.

\r\n\r\n

- Không được có hư hại nhìn thấy được và ghi\r\nnhãn vẫn rõ ràng.

\r\n\r\n

- Các điện trở nhiệt sau đó phải được đo theo\r\nquy định tại quy định kỹ thuật liên quan.

\r\n\r\n

Điện trở nhiệt lắp đặt bề mặt\r\nphải được kiểm tra bằng mắt và đo và phải đáp ứng các yêu cầu theo quy định\r\ntrong quy định kỹ thuật liên quan.

\r\n\r\n

4.13. Khả năng hàn

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Không áp dụng cho các chân mà quy định\r\nkỹ thuật cụ thể mô tả là không được thiết kế để hàn.

\r\n\r\n

Quy định kỹ thuật liên quan cần quy định\r\ncó cần áp dụng lão hóa hay không. Nếu lão hóa gia tốc là cần thiết, thì áp dụng một trong các quy trình lão hóa được đưa ra trong IEC 60068-2-20.

\r\n\r\n

Trừ khi có quy định khác trong quy định\r\nkỹ thuật liên quan, thử nghiệm phải được thực hiện với chất gây chảy không hoạt\r\nhóa.

\r\n\r\n

4.13.1. Quy trình thử nghiệm

\r\n\r\n

Trừ khi có quy định khác trong quy định\r\nkỹ thuật liên quan, áp dụng một trong các\r\nthử nghiệm sau đây được quy định trong cùng một quy định kỹ thuật.

\r\n\r\n

a) Các điều kiện phải được quy định trong\r\nquy định kỹ thuật liên quan.

\r\n\r\n

1) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Ta, phương pháp\r\n1 (bể hàn).

\r\n\r\n

Độ sâu nhúng (tính từ mặt phẳng đặt hoặc\r\nthân linh kiện):

\r\n\r\n

2,0 mm, bằng cách sử dụng màn chắn\r\ncách nhiệt có chiều dày 1,5 mm ± 0,5 mm;

\r\n\r\n

2) IEC 60006-2-20, Thử nghiệm Ta. phương pháp\r\n2 (mỏ hàn).

\r\n\r\n

3) TCVN 7699-2-54 (IEC 60068-2-54)

\r\n\r\n

b) Đối với điện trở nhiệt không\r\nđược thiết kế để sử dụng trong tấm mạch in, nhưng các chân được thiết\r\nkế để hàn như được chỉ ra trong quy định kỹ thuật cụ thể:

\r\n\r\n

1) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Ta, phương\r\npháp 1 (bể hàn).

\r\n\r\n

Độ sâu nhúng (tính từ mặt phẳng đặt hoặc\r\nthân linh kiện): 3,5 mm.

\r\n\r\n

2) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Ta, phương\r\npháp 2 (mỏ hàn).

\r\n\r\n

c) Đối với điện trở nhiệt lắp đặt bề mặt:

\r\n\r\n

1) IEC 60068-2-58. Phương pháp chảy ngược\r\nhoặc phương pháp bể hàn

\r\n\r\n

2) IEC 60068-2-69, Phương pháp bể hàn hoặc\r\nphương pháp giọt nóng chảy

\r\n\r\n

4.13.2. Kiểm tra cuối cùng,\r\nphép đo và yêu cầu

\r\n\r\n

Các chân điện trở phải được kiểm tra về\r\nbám thiếc tốt mà bằng chứng là thiếc bám đều trên các chân.

\r\n\r\n

Các điện trở nhiệt phải đáp ứng các\r\nyêu cầu theo quy định trong quy định kỹ thuật liên quan.

\r\n\r\n

4.14. Thay đổi nhiệt độ đột ngột

\r\n\r\n

4.14.1. Phép đo ban đầu

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi là oxit kim\r\nloại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định trong 4.5.

\r\n\r\n

4.14.2. Quy trình thử nghiệm

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi phải chịu\r\nthử nghiệm Na của TCVN 7699-2-14 (IEC 60068-2-14) trong năm chu kỳ. Thời gian đặt\r\nvào mỗi cực biên của nhiệt độ phải là 30\r\nmin.

\r\n\r\n

Các điện trở biến đổi sau đó phải được\r\nduy trì trong điều\r\nkiện khí quyển tiêu chuẩn không sớm hơn 1 h hoặc không lâu hơn 2 h để phục hồi.

\r\n\r\n

4.14.3. Kiểm tra cuối cùng, phép đo\r\nvà yêu cầu

\r\n\r\n

Sau khi phục hồi, điện trở biến đổi được\r\nkiểm tra bằng mắt. Không được có hư hại nhìn thấy được và ghi nhãn vẫn phải rõ\r\nràng.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi silicon\r\ncacbua, dòng điện rò phải được đo theo quy định tại 4.5, và không được vượt quá giá trị quy định\r\ntrong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi là\r\noxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định trong\r\n4.5, và sự thay đổi từ giá trị đo được ban đầu không được vượt quá các giới hạn\r\nquy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.15. Va đập

\r\n\r\n

4.15.1. Phép đo ban đầu

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi là\r\noxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định trong\r\n4.5

\r\n\r\n

4.15.2. Quy trình thử nghiệm

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi được lắp đặt\r\nnhư được chỉ ra là chỉ ra\r\ntrong quy định kỹ thuật liên quan.

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi phải chịu\r\nthử nghiệm Eb của TCVN 7699-2-29 (IEC 60068-2-29) sử\r\ndụng độ khắc nghiệt quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.15.3. Kiểm tra cuối cùng,\r\nphép đo và yêu cầu

\r\n\r\n

Sau khi phục hồi, điện trở biến đổi được\r\nkiểm tra bằng mắt. Không được có hư hại nhìn thấy được.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi silicon cacbua,\r\ndòng điện rò phải được đo theo quy định tại 4.5 và không vượt quá giá trị quy định\r\ntrong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi oxit kim loại,\r\nđiện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định tại 4.5, và sự thay đổi\r\nso với giá trị đo được ban đầu không được vượt quá các giới hạn quy định trong\r\nquy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.16. Xóc

\r\n\r\n

4.16.1. Phép đo ban đầu

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi oxit kim loại\r\nđiện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định tại 4.5.

\r\n\r\n

4.16.2. Quy trình thử nghiệm

\r\n\r\n

Các điện trở biến đổi được lắp đặt bề\r\nmặt như là chỉ ra trong quy\r\nđịnh kỹ thuật liên quan.

\r\n\r\n

Các điện trở biến đổi phải chịu thử\r\nnghiệm Ea của TCVN 7699-2-27 (IEC\r\n60068-2-27) sử dụng độ khắc nghiệt quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.16.3. Kiểm tra cuối cùng,\r\nphép đo và yêu cầu

\r\n\r\n

Sau khi phục hồi, điện trở biến đổi được\r\nkiểm tra bằng mắt. Không được có hư hại nhìn thấy được.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi silicon\r\ncacbua, dòng điện rò phải được đo theo quy định tại 4.5 và không vượt quá giá\r\ntrị quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi\r\noxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định tại\r\n4.5, và sự thay đổi so với giá trị đo được ban đầu không được vượt quá các giới\r\nhạn quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.17. Rung

\r\n\r\n

4.17.1. Phép đo ban đầu

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi oxit kim loại\r\nđiện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định tại 4.5.

\r\n\r\n

4.17.2. Quy trình thử nghiệm

\r\n\r\n

Các điện trở biến đổi phải được lắp đặt\r\nnhư chỉ ra trong quy\r\nđịnh kỹ thuật liên quan.

\r\n\r\n

Trừ trường\r\nhợp có quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể, điện trở biến đổi phải\r\nchịu phương pháp B4 của thử nghiệm Fc\r\ntrong TCVN 7699-2-6 (IEC 60068-2-6) sử dụng độ khắc nghiệt quy định trong quy định\r\nkỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.17.3. Kiểm tra cuối cùng,\r\nphép đo và yêu cầu

\r\n\r\n

Sau khi phục hồi, điện trở biến đổi được kiểm tra bằng mắt. Không\r\nđược có hư hại nhìn thấy được.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi silicon\r\ncacbua, dòng điện rò phải được đo theo quy định tại 4.5 và không được vượt quá\r\ngiá trị quy định\r\ntrong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi oxit kim loại,\r\nđiện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định tại 4.5, và sự thay đổi\r\nso với giá trị đo được ban đầu không được vượt quá các giới hạn quy định trong\r\nquy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.18. Trình tự khí hậu

\r\n\r\n

Trong trình\r\ntự khí hậu, cho phép một khoảng thời gian tối đa là 3 ngày giữa các lần thử\r\nnghiệm bất kỳ, ngoại trừ thử nghiệm lạnh phải được áp dụng ngay lập tức sau\r\ngiai đoạn phục hồi quy định cho chu kỳ đầu tiên của thử nghiệm nhiệt ẩm chu kỳ,\r\nthử nghiệm Db.

\r\n\r\n

4.18.1. Phép đo ban đầu

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi\r\noxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định tại\r\n4.5.

\r\n\r\n

4.18.2. Nóng khô

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi phải chịu thử nghiệm\r\nBa của TCVN 7699-2-2 (IEC 60068-2-2) ở nhiệt độ mức cao trong thời hạn 16 h.

\r\n\r\n

4.18.3. Nóng ẩm, chu kỳ, thử\r\nnghiệm Db, chu kỳ thứ nhất

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi phải chịu thử nghiệm\r\nDb của TCVN 7699-2-30 (IEC 60066-2-30) trong một chu kỳ 24 giờ, sử dụng nhiệt độ\r\n55 °C (độ khắc\r\nnghiệt b), biến thể 1.

\r\n\r\n

4.18.4. Lạnh

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi phải chịu thử nghiệm\r\nAa của TCVN 7699-2-1 (IEC 60068-2-1) ở nhiệt độ mức\r\nthấp trong thời\r\ngian 2 h.

\r\n\r\n

4.18.5. Áp suất không khí thấp

\r\n\r\n

a) điện trở biến đổi phải chịu\r\nthử nghiệm M của TCVN 7699-2-13 (IEC 60068-2-13) sử dụng độ khắc nghiệt quy định\r\ntrong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

b) Thử nghiệm phải được thực hiện ở nhiệt độ từ\r\n15 °C đến 35 ° C. Thời gian\r\nthử nghiệm phải là 1 h.

\r\n\r\n

4.18.6. Nóng ẩm, chu kỳ, thử\r\nnghiệm Db, chu kỳ còn lại

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi phải chịu\r\nthử nghiệm Db của TCVN 7699-2-30 (IEC 60066-2-30)\r\ntrong chu kỳ tiếp theo là 24 h như được chỉ ra trong Bảng 5, ở nhiệt độ 55 °C (độ khắc\r\nnghiệt b), biến thể 1.

\r\n\r\n

Bảng 5 - Số chu kỳ

\r\n\r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n

\r\n Mức \r\n	\r\n Số chu kỳ \r\n
\r\n - / - / 56 \r\n	\r\n 5 \r\n
\r\n - / - / 21 \r\n	\r\n 1 \r\n
\r\n - / - / 10 \r\n	\r\n 1 \r\n
\r\n - / - / 04 \r\n	\r\n 0 \r\n
\r\n - / - / 00 \r\n	\r\n 0 \r\n

\r\n\r\n

Các điện trở biến đổi phải được duy trì trong điều\r\nkiện khí quyển tiêu chuẩn cho việc phục\r\nhồi trong thời gian không sớm hơn 1 h hoặc không muộn hơn 2 h.

\r\n\r\n

4.18.7. Kiểm tra cuối cùng,\r\nphép đo và yêu cầu

\r\n\r\n

Sau khi phục hồi các điện trở biến đổi\r\nphải được kiểm tra bằng mắt. Không được có hư hỏng nhìn thấy được và ghi nhãn vẫn\r\nrõ ràng.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi silicon\r\ncacbua, dòng điện rò phải được đo theo quy định tại 4.5 và không được vượt quá\r\ngiá trị quy định trong quy\r\nđịnh kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi oxit kim loại\r\nđiện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo 4.5, sự thay đổi so với giá trị\r\nđo được ban đầu không được vượt quá các giới hạn quy định trong quy định kỹ\r\nthuật cụ thể.

\r\n\r\n

Điện trở cách điện không được\r\nnhỏ hơn các giá trị quy định\r\ntrong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Thử nghiệm chịu điện áp bằng phải được\r\nthực hiện theo quy định tại 4.8. Không được có phóng điện đánh thủng hoặc phóng\r\nđiện bề mặt.

\r\n\r\n

4.19. Nóng ẩm, trạng thái ổn\r\nđịnh

\r\n\r\n

4.19.1. Phép đo ban đầu

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi\r\noxit kim loại điện áp tại\r\ndòng điện quy định phải được đo theo 4.5.

\r\n\r\n

4.19.2. Quy trình thử nghiệm

\r\n\r\n

Các điện trở biến đổi phải chịu thử nghiệm Ca của TCVN 7699-2-78 (IEC 60068-2-78) sử dụng độ khắc nghiệt tương ứng\r\nvới các loại khí hậu của điện trở biến đổi như được chỉ ra trong quy định kỹ\r\nthuật cụ thể.

\r\n\r\n

Các điện trở biến đổi được chia thành\r\nhai nhóm.

\r\n\r\n

a) Nhóm thứ nhất phải chịu thử nghiệm này\r\nmà không có điện áp.

\r\n\r\n

b) Nhóm thứ hai phải chịu thử nghiệm\r\nnày và đặt điện áp một chiều theo quy định trong quy định kỹ thuật từng phần hoặc\r\ntrong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Các điện trở biến đổi phải được duy trì trong điều\r\nkiện khí quyển tiêu chuẩn để phục\r\nhồi trong thời gian không sớm hơn 1 h cũng không muộn hơn 2 h.

\r\n\r\n

4.19.3. Kiểm tra cuối cùng, phép đo\r\nvà yêu cầu

\r\n\r\n

Sau khi phục hồi các điện trở biến đổi được\r\nkiểm tra bằng mắt. Không được có hư hại nhìn thấy được và ghi nhãn vẫn rõ\r\nràng.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi\r\noxit kim loại, điện áp tại dòng điện quy định phải được đo 4.5, sự thay đổi so\r\nvới giá trị đo được ban\r\nđầu không được\r\nvượt quá các giới hạn quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Điện trở cách điện không được nhỏ hơn\r\ncác giá trị quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.20. Nguy hiểm cháy

\r\n\r\n

Các điện trở biến đổi phải chịu thử\r\nnghiệm ngọn lửa hình kim của TCVN\r\n9900-11-5 (IEC 60695-11-5).

\r\n\r\n

Quy định kỹ thuật cụ thể quy định các\r\nchi tiết sau đây:

\r\n\r\n

a) chuẩn bị trước, nếu cần thiết;

\r\n\r\n

b) Số lượng mẫu thử nghiệm, nếu không phải\r\nlà ba mẫu;

\r\n\r\n

c) các tư thế của mẫu;

\r\n\r\n

d) bề mặt cần được thử nghiệm và điểm đặt;

\r\n\r\n

e) lớp rải bên dưới được sử dụng để đánh\r\ngiá tác động của tàn lửa;

\r\n\r\n

f) độ khắc nghiệt:

\r\n\r\n

- thời gian đặt ngọn lửa thử nghiệm (ta);

\r\n\r\n

g) các yêu cầu:

\r\n\r\n

- thời gian cho phép và mức độ cháy lan, xem\r\nxét thiết kế và bố trí các bộ phận khác nhau, vỏ bọc và tấm chắn bên\r\ntrong thiết bị;

\r\n\r\n

- Liệu các tiêu chí quy định đã\r\nđủ để kiểm tra\r\nviệc tuân thủ các yêu cầu an toàn hay cần đưa thêm các tiêu chí khác;

\r\n\r\n

h) Mọi suy giảm của tính chất cơ/điện cho\r\nphép.

\r\n\r\n

4.21. Độ bền ở nhiệt độ mức\r\ncao

\r\n\r\n

4.21.1. Đối với điện trở biến\r\nđổi oxit kim loại\r\nđiện áp tại dòng điện quy định được xác định theo 4.5.

\r\n\r\n

4.21.2. Điện trở biến đổi phải\r\nchịu thử nghiệm độ bền 1 000 h ± 24 h ở nhiệt độ môi trường xung quanh bằng với nhiệt\r\nđộ mức cao quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.21.3. Phải đặt liên tục điện\r\náp một chiều hoặc xoay chiều lớn nhất theo quy định trong quy định kỹ thuật cụ\r\nthể, có tính đến đường cong suy giảm theo chu kỳ 1,5 h bật và 0,5 h tắt xuyên\r\nsuốt thử nghiệm theo các điều kiện hoạt động tương ứng với nhiệt độ mức cao.

\r\n\r\n

Thời gian “nửa giờ tắt" được bao\r\ngồm trong tổng thời gian quy định trong 4.20.1.

\r\n\r\n

4.21.4. Điện trở biến đổi phải\r\nđược giữ ở vị trí bằng các chân của chúng\r\nbằng các kẹp phù hợp trên một giá bằng vật liệu cách điện.

\r\n\r\n

Khoảng cách giữa hai điện trở biến đổi liền kề\r\nkhông được nhỏ hơn ba lần so với\r\nkích thước chính của thân điện trở.

\r\n\r\n

Không được có gió lùa lên các điện trở\r\nbiến đổi.\r\nChỉ\r\ncó đối lưu tự nhiên tạo\r\nra từ các điện trở biến đổi nóng lên là được phép.

\r\n\r\n

4.21.5. Sau khoảng 48 h, 500\r\nh và 1 000 h các điện trở biến đổi được lấy ra khỏi tủ thử và được làm nguội\r\ntrong điều kiện khí quyển tiêu chuẩn để phục hồi trong 4 h ± 0,5 h.

\r\n\r\n

Lấy điện trở biến đổi ra\r\nkhỏi tủ thử ở cuối thời gian nửa giờ tắt.

\r\n\r\n

4.21.5.1. Sau khi phục hồi, điện\r\ntrở biến đổi được kiểm tra bằng mắt. Không được có hư hại nhìn thấy được và ghi nhãn vẫn\r\nphải rõ ràng.

\r\n\r\n

4.21.5.2. Đối với điện trở biến\r\nđổi silicon\r\ncacbua, dòng điện rò phải được đo theo quy định tại 4.4, và giá trị không được vượt quá\r\nquy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Đối với điện trở biến đổi oxit kim loại,\r\nđiện áp tại dòng điện quy định phải được đo theo quy định tại 4.4, và sự thay đổi\r\nso với giá trị đo được ban\r\nđầu không được vượt quá các giới hạn quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.21.6. Sau các phép đo trung\r\ngian, điện trở biến đổi được đặt lại vào tủ thử nghiệm. Khoảng thời gian từ lúc\r\nlấy điện trở biến đổi ra khỏi tủ và trả về với\r\nđiều kiện thử nghiệm không được vượt quá 12 h.

\r\n\r\n

4.21.7. Sau 1 000 h điện trở biến đổi phải\r\nchịu thêm các thử nghiệm sau đây.

\r\n\r\n

4.21.7.1. Điện áp ở loại dòng điện\r\nphải được đo và giá trị không vượt quá quy định trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.21.7.2. Điện trở cách điện phải\r\nđược đo và giá trị không được ít hơn so với quy định trong quy định kỹ thuật cụ\r\nthể.

\r\n\r\n

4.22. Khả năng chịu dung\r\nmôi của nhãn

\r\n\r\n

4.22.1. Quy trình thử nghiệm

\r\n\r\n

Các linh kiện phải chịu thử nghiệm XA của TCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45), với các\r\nchi tiết sau đây.

\r\n\r\n

a) dung môi được sử dụng: Xem 3.1,1 của\r\nTCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45).

\r\n\r\n

b) nhiệt độ dung môi: 23 ° C ± 5 ° C.

\r\n\r\n

c) ổn định: Phương pháp 1 (có chà xát).

\r\n\r\n

d) vật liệu chà xát: bông.

\r\n\r\n

e) Thời gian phục hồi: Không áp dụng, trừ\r\nkhi có quy định khác trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.22.2. Yêu cầu

\r\n\r\n

Sau khi thử nghiệm, nhãn vẫn phải dễ đọc.

\r\n\r\n

4.23. Khả năng chịu dung môi của\r\nlinh kiện

\r\n\r\n

4.23.1. Phép đo ban đầu

\r\n\r\n

Các phép đo theo quy định tại quy định\r\nkỹ thuật liên quan phải được thực hiện.

\r\n\r\n

4.23.2. Quy trình thử nghiệm

\r\n\r\n

Các linh kiện phải chịu thử nghiệm XA\r\ncủa TCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45) với các chi tiết sau đây.

\r\n\r\n

Dung môi được sử dụng: Xem 3.1.1 của\r\nTCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45).

\r\n\r\n

Nhiệt độ dung môi: 23 ° C ± 5 °C, trừ khi có\r\nquy định khác trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Ổn định: Phương pháp 2 (không chà xát).

\r\n\r\n

Thời gian phục hồi: 48 h, trừ khi có\r\nquy định khác trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.23.3. Phép đo và yêu cầu

\r\n\r\n

Các phép đo theo quy định tại quy định\r\nkỹ thuật liên quan được thực hiện và các yêu cầu quy định phải được đáp ứng.

\r\n\r\n

4.24. Lắp đặt (chỉ dành\r\ncho điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt)

\r\n\r\n

4.24.1. Ví dụ về lắp đặt đối với điện trở\r\nbiến đổi lắp đặt bề mặt được thể hiện trong hình A.4.

\r\n\r\n

4.24.2. Điện trở biến đổi lắp\r\nđặt bề mặt phải được đặt trên một bề mặt phù hợp. Phương pháp lắp đặt tùy thuộc\r\nvào cấu trúc của điện trở biến đổi. Vật liệu nền thông thường phải là tấm mạch in bằng\r\nvải thủy tinh ép epoxy dày 1,6 mm (theo quy định trong IEC\r\n61249-2-7, IEC -EP -GC- CU) hoặc tấm nền là nhôm dày 0,635 mm và không được ảnh\r\nhưởng đến kết quả của bất kỳ thử nghiệm hoặc phép đo nào. Quy định kỹ thuật cụ\r\nthể phải chỉ ra các vật\r\nliệu được sử dụng cho các phép đo điện.

\r\n\r\n

Tấm nền phải có diện tích tiếp đất bằng kim loại\r\ncó khoảng cách thích hợp để cho phép lắp đặt điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt\r\nvà có kết nối điện với các chân của điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt. Quy định\r\nchi tiết phải được nêu trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Nếu áp dụng phương pháp lắp đặt khác\r\nthì phương pháp này cần được mô tả rõ ràng trong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

4.24.3. Khi quy định kỹ thuật\r\ncụ thể có quy định hàn sóng, lớp keo thích hợp được sử dụng để giữ chặt các\r\nlinh kiện với lớp nền trước khi công việc hàn được thực hiện phải được chỉ định\r\ntrong quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

Chấm nhỏ bằng keo được đặt giữa các đường\r\ndẫn của tấm nền bằng một thiết bị phù hợp đảm bảo kết quả lặp lại.

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt phải\r\nđược đặt lên chấm bằng nhíp. Để đảm\r\nbảo không có keo dính vào thì dây dẫn của điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt không được\r\nxê dịch.

\r\n\r\n

Tấm nền có điện trở biến đổi lắp đặt bề\r\nmặt được xử lý nhiệt trong lò ở nhiệt độ 100 °C trong 15 min.

\r\n\r\n

Tấm nền phải được hàn bằng máy hàn\r\nsóng. Máy hàn phải được điều chỉnh để gia nhiệt trước đến nhiệt độ từ 80 °C đến 130 °C, một bể chất\r\nhàn có nhiệt độ 260 °C ± 5 °C và thời gian\r\nhàn là (5 ± 0,5) s.

\r\n\r\n

Các thao tác hàn phải được lặp lại một\r\nlần nữa (tổng số hai chu kỳ).

\r\n\r\n

Tấm nền được làm sạch trong vòng 3 min trong một\r\ndung môi thích hợp (xem 3.1.2 của TCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45)).

\r\n\r\n

4.24.4. Khi quy định kỹ thuật\r\ncụ thể có quy định hàn chảy ngược, áp dụng quy trình lắp đặt sau đây.

\r\n\r\n

a) Chất hàn được sử dụng có dạng định\r\nhình hoặc hỗn hợp nhão phải chứa bạc (tối thiểu 2 %) chất hàn eutectic Sn / Pb\r\ncùng với chất gây chảy không hoạt hóa như nêu trong IEC 60068-2-20. Chất hàn\r\nthay thế như 60/40 hoặc 63/37 có thể được sử dụng trên điện trở biến đổi lắp\r\nđặt bề mặt có cấu trúc bao gồm các lớp chắn ngấm hàn. Chất hàn không có Pb sử dụng\r\ntrong phôi định hình hoặc hỗn hợp\r\nnhão phải là Sn96,5 - Ag3.0 - Cu0,5 hoặc chất hàn phái sinh cùng với chất gây\r\nchảy như đã nêu trong IEC 60068-2-58.

\r\n\r\n

b) Các điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt\r\nsau đó được đặt trên diện tích nối đất bằng kim loại của tấm nền thử\r\nnghiệm để tạo tiếp xúc giữa điện trở biến đổi và diện tích tiếp đất của tấm nền.

\r\n\r\n

c) Tấm nền sau đó phải được đặt trong hoặc\r\ntrên một hệ thống gia nhiệt thích hợp (nóng chảy chất hàn, tấm nóng, lò ống. v.v.) Nhiệt độ của\r\ncác khối được duy trì giữa 215 °C và 260 °C cho đến khi\r\nchất hàn chảy ra và chảy ngược tạo thành liên kết chất hàn đồng đều, nhưng thời\r\ngian không dài hơn 10 s.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 1: Chất gây chảy cần được loại\r\nbỏ bằng một dung môi thích hợp (xem 3.1.2 của TCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45).\r\nTất cả các xử lý tiếp theo phải sao cho tránh được ô nhiễm, cẩn thận để giữ sạch\r\nphòng thử và giữ sạch trong quá trình thực hiện các phép đo.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 2: Quy định kỹ thuật cụ thể có thể yêu\r\ncầu dải nhiệt độ hạn chế hơn.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 3: Nếu áp dụng\r\nphương pháp hàn giai đoạn hóa hơi thì cùng một phương pháp có thể được sử dụng\r\nvới nhiệt độ thích nghi.

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

Phụ lục A

\r\n\r\n

(quy định)

\r\n\r\n

Lắp đặt để đo điện trở biến đổi

\r\n\r\n

Điện trở biến đổi có các dây\r\ndẫn phải được nối (mà không hàn) đến các sợi dây phốt pho-đồng\r\nthiếc có đường kính 1,3 mm ± 10 %, được lắp đặt trên một đế bằng vật liệu cách\r\nđiện, như thể hiện dưới đây.

\r\n\r\n

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Nếu không có quy định khác\r\ntrong quy định kỹ thuật cụ thể, các linh kiện cần được nối cách thân một khoảng 6 mm ± 1mm.

\r\n\r\n

Hình A.1 -\r\nPhương pháp lắp đặt để do

\r\n\r\n

Kích thước\r\ntính bằng milimet

\r\n\r\n

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Dây dẫn này có thể\r\nbỏ qua hoặc sử dụng như một điện cực bảo vệ.

\r\n\r\n

Hình A.2 - Phương pháp\r\nlắp đặt để đo điện trở biến đổi lắp đặt bề mặt

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

Phụ lục B

\r\n\r\n

(quy định)

\r\n\r\n

Giải thích phương án lấy mẫu và các thủ tục\r\nquy định trong IEC 60410 để sử dụng trong hệ thống đánh giá chất lượng đối với\r\nlinh kiện điện tử

\r\n\r\n

Khi sử dụng tiêu chuẩn IEC 60410 để\r\nkiểm tra các thuộc tính cách giải thích sau đây của các điều khoản chỉ áp dụng\r\ncho các mục đích của tiêu chuẩn này.

\r\n\r\n

1.1. Thẩm quyền chịu trách nhiệm là tổ chức\r\nquốc gia có thẩm quyền để thực hiện\r\ncác quy tắc cơ bản và các quy tắc về thủ tục.

\r\n\r\n

1.5. Đơn vị sản phẩm là linh kiện điện tử\r\nquy định tại quy định kỹ thuật cụ thể.

\r\n\r\n

2. Chỉ yêu cầu các định nghĩa sau đây từ\r\nđiều này:

\r\n\r\n

- một khiếm khuyết là sự không phù hợp bất kỳ của một đơn vị sản phẩm so với yêu\r\ncầu quy định;

\r\n\r\n

- một khiếm khuyết là một đơn vị sản phẩm,\r\ntrong đó có một hoặc nhiều khiếm khuyết.

\r\n\r\n

3.1. Mức độ không phù hợp của một sản phẩm phải được thể hiện dưới dạng phần trăm\r\ncác hạng mục khiếm khuyết.

\r\n\r\n

3.3. Không áp dụng.

\r\n\r\n

4.5. Cơ quan chịu trách nhiệm là Ủy ban kỹ thuật IEC soạn thảo các quy định kỹ\r\nthuật cụ thể còn để trống có dạng là một phần của quy định kỹ thuật chung hoặc\r\nquy định kỹ thuật từng phần.

\r\n\r\n

5.4. Người có trách nhiệm là người đứng đầu\r\ncơ quan kiểm tra, hành động\r\nphù hợp với các thủ tục quy định trong các tài liệu mô tả các bộ phận kiểm tra của các nhà sản xuất đã được phê duyệt và đã được\r\ncơ quan quốc gia về kiểm tra giám sát chấp nhận.

\r\n\r\n

6.2. Người có trách nhiệm là người đứng đầu\r\ncơ quan kiểm tra.

\r\n\r\n

6.3. Không áp dụng.

\r\n\r\n

6.4. Người có trách nhiệm là người đứng đầu\r\ncơ quan kiểm tra.

\r\n\r\n

8.1. Kiểm tra bình thường phải\r\nđược áp dụng thường xuyên ở giai đoạn\r\nbắt đầu kiểm tra.

\r\n\r\n

8.3.3. (d) Người có trách nhiệm là người đứng\r\nđầu cơ quan kiểm tra.

\r\n\r\n

8.4. Người có trách nhiệm trong cơ quan quốc\r\ngia về kiểm tra giám sát.

\r\n\r\n

9.2. Cơ quan chịu trách nhiệm là Ủy ban kỹ thuật IEC soạn thảo các quy định kỹ thuật cụ\r\nthể còn để trống có dạng là một phần của quy định kỹ thuật chung hoặc quy định\r\nkỹ thuật từng phần.

\r\n\r\n

9.4. (chỉ câu thứ tư) Không áp dụng. (Chỉ\r\ncâu thứ năm).\r\nNgười\r\ncó trách nhiệm là người đứng đầu cơ quan kiểm tra.

\r\n\r\n

10.2. Không áp dụng

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

Phụ lục C

\r\n\r\n

(quy định)

\r\n\r\n

Quy tắc để dự thảo quy định kỹ thuật cụ thể đối\r\nvới tụ điện và điện trở dùng cho thiết bị điện tử

\r\n\r\n

1. Việc dự thảo quy định kỹ thuật cụ thể\r\nhoàn chỉnh của Ban kỹ thuật 40 của IEC, nếu có yêu cầu, chỉ được bắt đầu khi tất\r\ncả các điều kiện dưới đây được đáp ứng.

\r\n\r\n

a) Quy định kỹ thuật chung đã được phê\r\nduyệt.

\r\n\r\n

b) Quy định kỹ thuật từng phần, khi thích\r\nhợp, đã được lưu hành để phê duyệt theo quy tắc sáu tháng.

\r\n\r\n

c) Quy định kỹ thuật cụ thể còn để trống\r\nkết hợp đã được lưu hành để phê duyệt theo quy tắc sáu tháng.

\r\n\r\n

d) Có bằng chứng cho thấy có ít nhất ba Ủy ban Quốc gia đã chính thức phê duyệt là tiêu\r\nchuẩn của quốc gia, quy định kỹ thuật bao gồm một\r\nlinh kiện có tính năng rất giống nhau.

\r\n\r\n

Trong trường\r\nhợp Ủy ban Quốc gia chính thức khẳng\r\nđịnh rằng trong nước của họ sử dụng chủ yếu hoặc đáng kể một phần của một số\r\ntiêu chuẩn quốc gia khác, khẳng định điều này có thể được tính vào yêu cầu nói\r\ntrên.

\r\n\r\n

2. Dự thảo các quy định kỹ thuật cụ thể\r\nthuộc trách nhiệm của Ủy ban kỹ thuật 40, phải sử dụng các tiêu chuẩn\r\nhoặc các giá trị ưu tiên, các thông số đặc trưng, các đặc tính và độ khắc nghiệt\r\nđể thử nghiệm môi trường,\r\nv.v, được đưa ra\r\ntrong các quy định kỹ thuật chung hoặc quy định kỹ thuật từng phần thích hợp.

\r\n\r\n

Ngoại lệ cho quy tắc này chỉ có thể\r\ncó cho một quy định kỹ thuật cụ thể khi được sự đồng ý của Ủy ban kỹ thuật 40.

\r\n\r\n

3. Quy định kỹ thuật cụ thể không được\r\nlưu hành theo Quy tắc sáu tháng cho đến khi quy định kỹ thuật từng phần và\r\nquy định kỹ thuật cụ thể còn để trống được phê duyệt để xuất bản.

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

MỤC LỤC

\r\n\r\n

Lời nói đầu

\r\n\r\n

1. Qui định chung

\r\n\r\n

2. Dữ liệu kỹ thuật

\r\n\r\n

3. Qui trình đánh giá chất lượng

\r\n\r\n

4. Qui trình thử nghiệm và đo lường

\r\n\r\n

Phụ lục A (quy định) - Lắp đặt để đo điện trở biến đổi

\r\n\r\n

Phụ lục B (quy định) - Giải thích phương án lấy mẫu và các thủ tục quy định trong IEC 60410 để sử dụng trong\r\nhệ thống đánh giá chất lượng\r\nđối với linh kiện điện tử

\r\n\r\n

Phụ lục C (quy định) - Qui tắc để dự thảo quy định kỹ thuật cụ thể đối với tụ điện và điện\r\ntrở dùng cho thiết bị\r\nđiện tử

\r\n\r\n