Standard\r\npractice for use of calorimetric dosimetry systems for electron beam dose measurements\r\nand routine dosimeter calibration
\r\n\r\nLời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 8770:2011 hoàn toàn tương\r\nđương với ISO/ASTM 51631:2003;
\r\n\r\nTCVN 8770:2011 do Ban kỹ thuật tiêu\r\nchuẩn quốc gia TCVN/TC/F5 Vệ sinh thực phẩm và chiếu xạ biên soạn, Tổng\r\ncục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng thẩm định, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.
\r\n\r\nTIÊU\r\nCHUẨN THỰC HÀNH SỬ DỤNG HỆ ĐO LIỀU NHIỆT LƯỢNG ĐỂ ĐO LIỀU CHÙM TIA ĐIỆN TỬ VÀ\r\nHIỆU CHUẨN LIỀU KẾ ĐO THƯỜNG XUYÊN
Standard\r\npractice for use of calorimetric dosimetry systems for electron beam dose\r\nmeasurements and routine dosimeter calibration
\r\n\r\n\r\n\r\n1.1. Tiêu chuẩn thực hành\r\nnày bao gồm chuẩn bị và sử dụng các dụng cụ đo nhiệt lượng bán đoạn nhiệt để đo\r\nliều hấp thụ và hiệu chuẩn liều kế đo thường xuyên khi được chiếu xạ bằng điện\r\ntử để xử lý bức xạ. Dụng cụ đo nhiệt lượng cũng được vận chuyển bằng băng\r\nchuyền qua chùm tia điện tử được quét hoặc được để yên trong chùm tia mở rộng.
\r\n\r\n1.2. Tiêu chuẩn này áp dụng\r\ncho các chùm tia điện tử trong dải năng lượng từ 1,5 MeV đến 12 MeV.
\r\n\r\n1.3. Dải liều hấp thụ phụ\r\nthuộc vào vật liệu hấp thụ, các điều kiện chiếu xạ và các điều kiện đo. Liều\r\ntối thiểu khoảng 100 Gy và liều tối đa khoảng 50 kGy.
\r\n\r\n1.4. Suất liều hấp thụ trung\r\nbình thường phải lớn hơn 10 Gy.s-1.
\r\n\r\n1.5. Dải nhiệt độ sử dụng\r\ncủa các dụng cụ đo nhiệt này phụ thuộc vào độ bền nhiệt của vật liệu, dải hiệu\r\nchuẩn của bộ cảm nhiệt và độ nhạy của dụng cụ đo.
\r\n\r\n1.6. Tiêu chuẩn này không đề\r\ncập đến tất cả các vấn đề liên quan đến an toàn. Trách nhiệm của người sử dụng\r\ntiêu chuẩn này là phải tự xác lập các tiêu chuẩn thích hợp về thực hành an toàn\r\nvà sức khỏe và xác định khả năng áp dụng các giới hạn luật định trước khi sử\r\ndụng.
\r\n\r\n\r\n\r\n2.1. Tiêu chuẩn ASTM
\r\n\r\nASTM E 170, Terminology relating\r\nto radiation measurements and dosimetry (Thuật ngữ liên quan đến các phép đo\r\nbức xạ và đo liều)
ASTM E 666, Practice for\r\ncalculating absorbed dose from gamma or X radiation2) (Thực hành về\r\ntính toán liều hấp thụ của bức xạ gamma và tia X).
\r\n\r\nASTME 668, Practice for\r\napplication of thermoluminescence-dosimetry (TLD) systems for determining\r\nabsorbed dose in radiation-hardness testing of electronic devices2)\r\n(Thực hành đối với việc ứng dụng các hệ đo liều nhiệt huỳnh quang (TLD) để xác\r\nđịnh liều hấp thụ trong việc thử nghiệm khả năng chịu bức xạ của các thiết bị điện\r\ntử).
\r\n\r\n2.2. Tiêu chuẩn ISO/ASTM
\r\n\r\nTCVN 7249 (ISO/ASTM 51431), Tiêu\r\nchuẩn thực hành đo liều áp dụng cho thiết bị chiếu xạ chùm tia điện tử và tia X\r\n(bức xạ hãm) dùng để xử lý thực phẩm2).
\r\n\r\nISO/ASTM 51261, Guide for\r\nselection and calibration of dosimetry systems for radiation processing (Hướng\r\ndẫn lựa chọn và hiệu chuẩn các hệ đo liều trong công nghệ bức xạ)2).
\r\n\r\nISO/ASTM 51649, Practice for\r\ndosimetry in an electron beam facility for radiation processing at energies\r\nbetween 300 keV and 25 MeV (Thực hành đo liều trong thiết bị chiếu xạ chùm tia\r\nđiện tử ở năng lượng từ 300 keV đến 25 MeV trong Công nghệ bức xạ)2).
\r\n\r\nISO/ASTM 51707, Guide for\r\nestimating uncertainties in dosimetry for radiation processing (Hướng dẫn đánh\r\ngiá sai số đối với các phép đo liều trong công nghệ xử lý bằng bức xạ)2).
\r\n\r\n2.3. Báo cáo của Ủy ban quốc tế\r\nphép đo và đơn vị bức xạ (ICRU)
ICRU Report 34, The dosimetry of\r\npulsed radiation (Đo liều bức xạ xung).
\r\n\r\nICRU Report 35, Radiation\r\ndosimetry: Electron beams with energies between 1 and 50 MeV (Đo liều bức xạ:\r\nChùm tia điện tử có năng lượng từ 1 MeV đến 50 MeV).
\r\n\r\nICRU Report 37, Stopping powers\r\nfor electrons and positrons (Các năng lượng dừng đối với electron và positron).
\r\n\r\nICRU Report 44, Tissue\r\nsubstitutes in radiation dosimetry and measurements (Chuỗi thay thế trong phép\r\nđo liều bức xạ và các phép đo).
\r\n\r\nICRU Report 60, Fundamental\r\nquantilies and units for ionizing radiation (Các đơn vị và các loại cơ bản của\r\nbức xạ ion hóa).
\r\n\r\n\r\n\r\n3.1. Định nghĩa
\r\n\r\n3.1.1. Đoạn nhiệt (adiabatic)
\r\n\r\nKhông có sự trao đổi nhiệt với môi\r\ntrường xung quanh.
\r\n\r\n3.1.2. Dụng cụ đo nhiệt lượng (calorimeter)
\r\n\r\nBao gồm thân đo nhiệt lượng (bộ\r\nphận hấp thụ), bộ phận cách nhiệt và bộ cảm biến nhiệt độ có dây dẫn.
\r\n\r\n3.1.3. Thân đo nhiệt lượng (calorimetric\r\nbody)
\r\n\r\nKhối lượng của vật liệu hấp thụ\r\nnăng lượng bức xạ và có nhiệt độ cần đo.
\r\n\r\n3.1.4. Phản ứng hấp thụ nhiệt (endothermic\r\nreaction)
\r\n\r\nPhản ứng hóa học đốt cháy năng\r\nlượng.
\r\n\r\n3.1.5. Phản ứng tỏa nhiệt (exothermic\r\nreaction)
\r\n\r\nPhản ứng hóa học giải phóng năng\r\nlượng.
\r\n\r\n3.1.6. Sai số nhiệt lượng [heat\r\ndefect (thermal defect)]
\r\n\r\nLượng năng lượng giải phóng hoặc bị\r\nđốt cháy bởi phản ứng hóa học gây ra do hấp thụ năng lượng bức xạ.
\r\n\r\n3.1.7. Liều kế chuẩn đầu (primary\r\nstandard dosimeter)
\r\n\r\nLoại liều kế có chất lượng cao nhất\r\nđược dùng để thiết lập và duy trì như chuẩn quốc gia hoặc quốc tế.
\r\n\r\n3.1.8. Công suất nhiệt lượng\r\nriêng (specific heat capacity)
\r\n\r\nLượng nhiệt cần để làm tăng nhiệt\r\nđộ 1 kg vật liệu lên nhiệt độ 1 K.
\r\n\r\n3.1.9. Điện trở nhiệt (thermistor)
\r\n\r\nĐiện trở bằng điện có mối liên quan\r\nxác định giữa độ bền và nhiệt độ.
\r\n\r\n3.1.10. Cặp nhiệt điện (thermocouple)
\r\n\r\nMạch nối tiếp của hai loại kim loại\r\ntạo ra điện áp liên quan đến nhiệt độ.
\r\n\r\n3.1.11. Liều kế truyền chuẩn (transfer-standard\r\ndosimeter)
\r\n\r\nThông thường liều kế chuẩn chính\r\nthích hợp để vận chuyển từ các địa điểm khác nhau được sử dụng để so sánh các\r\nphép đo liều hấp thụ.
\r\n\r\n3.2. Định nghĩa về các thuật\r\nngữ khác dùng trong tiêu chuẩn này liên quan đến phép đo bức xạ và đo liều có\r\nthể tham khảo ở ASTM E170. Định nghĩa trong E170 phù hợp với ICRU 60; do đó, ICRU\r\n60 có thể sử dụng làm tài liệu tham khảo.
\r\n\r\n\r\n\r\n4.1. Tiêu chuẩn này có thể\r\náp dụng cho việc sử dụng dụng cụ đo nhiệt lượng đối với phép đo liều hấp thụ\r\ntrong chùm tia điện tử, tính năng của các thiết bị chiếu xạ điện tử, định kỳ\r\nkiểm tra các thông số vận hành của thiết bị chiếu xạ điện tử và hiệu chuẩn các\r\nliều kế khác trong chùm tia điện tử.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1 Các thông tin bổ sung\r\ncủa việc sử dụng hệ đo liều trong các thiết bị gia tốc điện tử, xem TCVN 7249\r\n(ISO/ASTM 51431) và ISO/ASTM 51649, các báo cáo của ICRU số 34, 35 và Tài liệu\r\ntham khảo (1-3)
4.2. Các dụng cụ đo nhiệt\r\nlượng được mô tả trong tiêu chuẩn này không phải là liều kế chuẩn đầu. Chúng có\r\nthể được sử dụng như liều kế truyền chuẩn hoặc các chuẩn nội tại ở cơ sở chiếu\r\nxạ chùm tia điện tử, hoặc có thể sử dụng làm liều kế đo thường xuyên trong các\r\nphép đo liều thường xuyên. Các dụng cụ đo nhiệt lượng được hiệu chuẩn bằng cách\r\nso sánh với các liều kế truyền chuẩn.
\r\n\r\n4.3. Phép đo liều này được\r\ndựa trên phép đo sự gia tăng nhiệt độ trong bộ phận hấp thụ (thân dụng cụ đo\r\nnhiệt lượng) được chiếu xạ bằng chùm tia điện tử. Có thể sử dụng các vật liệu\r\ncó độ hấp thụ khác nhau, nhưng độ nhạy thường được xác định theo liều hấp thụ\r\ntrong nước.
\r\n\r\n4.4. Có thể tính được liều\r\nhấp thụ trong các vật liệu chiếu xạ khác nhau trong các điều kiện tương đương.\r\nCác qui trình tính toán được đưa ra trong ASTM Practice E 666 và E 668,\r\nISO/ASTM Guide 51261 và Tài liệu tham khảo (1).
\r\n\r\n4.5. Có thể đo được liều hấp\r\nthụ trung bình theo thể tích của thân dụng cụ đo nhiệt lượng. Các gradient liều\r\ncó thể xuất hiện trong thể tích này và có thể cần được xem xét khi đánh giá\r\nliều trong các vật liệu khác.
\r\n\r\n4.6. Các thân đo nhiệt lượng\r\ncủa dụng cụ đo nhiệt lượng mô tả trong tiêu chuẩn này được làm từ các vật liệu\r\ncó số lượng nguyên tử thấp. Dòng điện tử trong các thân đo nhiệt lượng này sẽ\r\nxấp xỉ bằng nhau khi được chiếu xạ bằng chùm tia điện tử 1,5 MeV hoặc cao hơn.\r\nCó thể sử dụng việc hiệu chuẩn theo thuật ngữ liều hấp thụ trong nước cho các\r\ndụng cụ đo nhiệt lượng này.
\r\n\r\n4.6.1. Các dụng cụ đo nhiệt\r\nlượng dùng cho máy gia tốc điện tử công nghiệp được chế tạo sử dụng ống\r\ngraphit, polystyren hoặc đĩa Petri đổ đầy nước giống như thân đo nhiệt lượng (4-10).\r\nĐộ dày của thân đo nhiệt lượng sẽ nhỏ hơn dải điện tử đối với vật liệu đã qui\r\nđịnh.
\r\n\r\n4.6.2. Có thể sử dụng các\r\nvật liệu polyme thay cho polystyren trong phép đo nhiệt lượng. Polystyren được\r\nsử dụng vì nó được biết là chịu được bức xạ (11) và không gây ra phản\r\nứng tỏa nhiệt hoặc hấp thụ nhiệt (12).
\r\n\r\n5. Các thành\r\nphần gây cản trở
\r\n\r\n5.1. Phép ngoại suy: Các\r\ndụng cụ đo nhiệt lượng mô tả trong tiêu chuẩn này không đoạn nhiệt do sự thay\r\nđổi nhiệt với môi trường xung quanh hoặc trong bộ dụng cụ đo. Nhiệt độ tối đa\r\nđạt được của thân đo nhiệt lượng khác với nhiệt độ đạt được khi không có sự trao\r\nđổi nhiệt. Sự thăng giáng nhiệt độ trước và sau chiếu xạ được ngoại suy theo\r\nđiểm giữa của chu kỳ chiếu xạ trước để xác định nhiệt độ tăng thực do liều hấp\r\nthụ.
\r\n\r\n5.2. Thiếu hụt nhiệt: Các\r\nphản ứng hóa học trong vật liệu chiếu xạ (kết quả này được gọi là thiếu hụt\r\nnhiệt lượng hoặc nhiệt độ) có thể tỏa nhiệt hoặc hấp thụ nhiệt và có thể làm\r\nthay đổi nhiệt độ đo được. Trong nước, ví dụ, có sự thiếu hụt hoặc dư thừa\r\nnhiệt tương ứng, liên quan đến sự tăng nhiệt độ do hấp thụ năng lượng bức xạ\r\ntrong nước. Các ảnh hưởng này phụ thuộc vào độ tinh khiết hoặc hàm lượng khí\r\ncủa nước và các ảnh hưởng hóa học bất kỳ do vật chứa nước. Ở các liều hấp thụ\r\nvà suất liều thường thấy trong các dụng cụ đo nhiệt lượng này, thì các ảnh\r\nhưởng này là không đáng kể (3).
\r\n\r\n5.3. Hiệu ứng nhiệt độ từ cấu\r\ntrúc của máy gia tốc: Các dụng cụ đo nhiệt lượng thường được chiếu xạ trên\r\nbăng chuyền dùng để chuyển sản phẩm và mẫu qua vùng chiếu xạ. Nhiệt bức xạ từ\r\ncấu trúc máy móc của cơ sở chiếu xạ và từ băng chuyền có thể góp phần làm tăng\r\nnhiệt độ đo được trong dụng cụ đo nhiệt lượng.
\r\n\r\n5.4. Cân bằng nhiệt: Hầu hết\r\ncác kết quả tái lập đều thu được khi các dụng cụ đo nhiệt lượng được cân bằng\r\nnhiệt trước khi chiếu xạ.
\r\n\r\n5.5. Các vật liệu khác: Các\r\nbộ cảm biến nhiệt độ, dây điện.v.v.. của dụng cụ đo nhiệt lượng có mặt các tạp\r\nchất có thể làm ảnh hưởng đến việc tăng nhiệt độ của thân đo. Phải hạn chế các\r\nthành phần này, đến mức tối thiểu có thể.
\r\n\r\n5.6. Gradient liều: Gradient\r\nliều tồn tại trong thân đo nhiệt lượng khi được chiếu xạ bằng điện tử. Cần tính\r\nđến các gradient này, ví dụ khi hiệu chuẩn các liều kế khác bằng các so sánh\r\nvới các dụng cụ đo nhiệt lượng.
\r\n\r\n\r\n\r\n6.1. Dụng cụ đo nhiệt lượng có\r\ndạng đĩa graphit: Là một đĩa graphit đặt trong vật liệu cách nhiệt như nhựa\r\nxốp (4-6). Nhiệt điện trở hoặc cặp nhiệt điện đã được hiệu chuẩn được\r\nlắp và trong đĩa. Xem ví dụ ở Hình 1 về dụng cụ nhiệt lượng. Một vài ví dụ điển\r\nhình về độ dày và khối lượng của đĩa graphit được nêu trong Bảng 1 (2).
\r\n\r\nBảng\r\n1 - Độ dày và kích thước của một số thân đo nhiệt lượng dạng đĩa graphit được\r\nNIST thiết kế để sử dụng tại các năng lượng điện tử cụ thể
\r\n\r\n| \r\n Năng\r\n lượng điện tử MeV \r\n | \r\n \r\n Dải\r\n năng lượng trong GraphitA có tỷ trọng: 1,7 g cm-3 \r\n | \r\n \r\n Đĩa\r\n dụng cụ đo nhiệt lượng (đường kính 30 mm) \r\n | \r\n |||
| \r\n Độ\r\n dày \r\n | \r\n \r\n Khối\r\n lượng, g \r\n | \r\n ||||
| \r\n g\r\n cm-2 \r\n | \r\n \r\n cm \r\n | \r\n \r\n g\r\n cm-2 \r\n | \r\n \r\n cm \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n 4 \r\n | \r\n \r\n 2,32 \r\n | \r\n \r\n 1,36 \r\n | \r\n \r\n 0,84 \r\n | \r\n \r\n 0,49 \r\n | \r\n \r\n 5,9 \r\n | \r\n
| \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 2,91 \r\n | \r\n \r\n 1,71 \r\n | \r\n \r\n 1,05 \r\n | \r\n \r\n 0,62 \r\n | \r\n \r\n 7,5 \r\n | \r\n
| \r\n 6 \r\n | \r\n \r\n 3,48 \r\n | \r\n \r\n 2,05 \r\n | \r\n \r\n 1,25 \r\n | \r\n \r\n 0,74 \r\n | \r\n \r\n 8,9 \r\n | \r\n
| \r\n 8 \r\n | \r\n \r\n 4,59 \r\n | \r\n \r\n 2,70 \r\n | \r\n \r\n 1,65 \r\n | \r\n \r\n 0,97 \r\n | \r\n \r\n 11,7 \r\n | \r\n
| \r\n 10 \r\n | \r\n \r\n 5,66 \r\n | \r\n \r\n 3,33 \r\n | \r\n \r\n 2,04 \r\n | \r\n \r\n 1,20 \r\n | \r\n \r\n 14,4 \r\n | \r\n
| \r\n 11 \r\n | \r\n \r\n 6,17 \r\n | \r\n \r\n 3,63 \r\n | \r\n \r\n 2,22 \r\n | \r\n \r\n 1,31 \r\n | \r\n \r\n 15,7 \r\n | \r\n
| \r\n 12 \r\n | \r\n \r\n 6,68 \r\n | \r\n \r\n 3,93 \r\n | \r\n \r\n 2,40 \r\n | \r\n \r\n 1,41 \r\n | \r\n \r\n 16,9 \r\n | \r\n
| \r\n A đây là dải\r\n giảm liên tục (CSDA) r0 của các điện tử đối với chùm tia\r\n tới rộng trên chất hấp phụ nửa vô hạn. Nó được tính từ: \r\n
trong đó: \r\nE0 năng lượng\r\n điện tử ban đầu, và \r\n(S/r) công suất khối lượng dừng tổng số ở năng lượng điện tử\r\n đã cho (1). \r\nB độ dày qui\r\n định bằng 0,36 ro. \r\n | \r\n |||||
![](\"00912040_files/image001.gif\")
6.2. Dụng cụ đo nhiệt lượng bằng\r\nnước điển hình: còn được gọi là đĩa Petri polystyren đổ đầy nước được hàn\r\nkín và đặt trong nhựa xốp cách nhiệt (4). Bộ cảm ứng nhiệt độ (nhiệt\r\nđiện trở) hiệu chuẩn được đặt qua mặt đĩa vào nước.
\r\n\r\nHình\r\n1 - Ví dụ về dụng cụ đo nhiệt lượng sử dụng đĩa graphit ở máy gia tốc điện tử\r\ncông nghiệp 10 MeV (5)
\r\n\r\n6.3. Dụng cụ đo nhiệt lượng dùng\r\nđĩa polystyren điển hình: là đĩa polystyren được đặt trong nhựa xốp cách\r\nnhiệt. Nhiệt điện trở hoặc cặp nhiệt điện đã hiệu chuẩn được lắp vào trong đĩa.\r\nKích thước đĩa polystyren có thể giống với kích thước của đĩa của dụng cụ đo\r\nnhiệt lượng dùng đĩa graphit và nước (9). Xem ví dụ ở Hình 2 về dụng cụ\r\nđo nhiệt lượng 10 MeV. Hình 3 là ví dụ về dụng cụ đo nhiệt lượng dùng đĩa\r\npolystyren được thiết kế cho máy gia tốc điện tử từ 1,5 MeV đến 4 MeV.
\r\n\r\nCHÚ\r\nTHÍCH: Tất cả các kích thước được tính bằng mm.
\r\n\r\nHình\r\n2 - Ví dụ về dụng cụ đo nhiệt lượng dùng đĩa polystyren trong phép đo thường\r\nxuyên ở máy đo gia tốc điện tử công nghiệp 10 MeV
\r\n\r\nHình 3 - Ví dụ về dụng cụ đo nhiệt\r\nlượng dùng đĩa polystyren trong máy đo gia tốc điện tử công nghiệp ở 1,5 MeV\r\nđến 4 MeV (13)
\r\n\r\n6.4. Độ dày của thân đo\r\nnhiệt lượng phải nhỏ hơn dải điện tử chiếu xạ, thường không vượt quá 1/3 dải\r\nđiện tử đối với vật liệu qui định. Điều này sẽ hạn chế sự thay đổi gradient\r\nliều trong thân đo nhiệt lượng.
\r\n\r\n6.5. Các thành phần bền bức\r\nxạ cần được dùng cho các bộ phận của dụng cụ đo nhiệt lượng tiếp xúc với chùm\r\ntia điện tử. Điều này cũng được áp dụng để cách nhiệt các dây điện.
\r\n\r\n6.6. Giữa bộ cảm biến nhiệt\r\nđộ và thân đo nhiệt lượng phải có sự tiếp xúc nhiệt tốt. Đối với các dụng cụ đo\r\nnhiệt lượng dùng đĩa graphit và polystyren, thì cần bổ sung một lượng nhỏ hợp\r\nchất dẫn nhiệt khi lắp bộ cảm biến nhiệt.
\r\n\r\n6.7. Đọc dữ liệu: Các dụng\r\ncụ đo nhiệt lượng được đọc bằng cách đo nhiệt độ của thân đo nhiệt lượng. Nhiệt\r\nđộ này được ghi lại nhiệt điện trở hoặc cặp nhiệt điện.
\r\n\r\n6.7.1. Nhiệt điện trở: Dùng\r\nmáy đo điện trở có độ chính xác cao để đo độ bền của nhiệt điện trở. Dụng cụ đo\r\ncần có độ tái lập lớn hơn ± 0,1 % và độ chính xác lớn hơn ± 0,2%. Tốt nhất là\r\ncần được trang bị cho các phép đo điện trở kiểu bốn dây, đặc biệt nếu điện trở\r\ncủa nhiệt điện trở nhỏ hơn 10 kΩ. Với kỹ thuật đo bốn dây, thì hiệu quả của\r\nđiện trở trong các dây đo và tiếp xúc điện sẽ được giảm tối thiểu.
\r\n\r\n6.7.2. Có thể sử dụng các\r\nthiết bị thích hợp khác để đo điện trở của nhiệt điện trở, ví dụ dùng cầu đo\r\nđiện trở hoặc máy đọc nhiệt điện trở đã hiệu chuẩn có bán sẵn (5). Điều quan\r\ntrọng cho cả hai phép đo điện trở và cầu đo điện trở là để giảm tối thiểu nguồn\r\ntán xạ trong nhiệt điện trở, tốt nhất là thấp hơn 0,1 mW.
\r\n\r\n6.7.3. Cặp nhiệt điện: Sử\r\ndụng von kế hiện số có độ chính xác cao hoặc máy đọc số có bán sẵn (2).\r\nĐộ tái lập của vôn kế phải lớn hơn 0,1 μV và có độ chính xác phải lớn hơn ±\r\n0,2%.
\r\n\r\n\r\n\r\n7.1. Trước khi sử dụng, hệ\r\nthống đo liều nhiệt lượng (bao gồm dụng cụ đo nhiệt lượng và các thiết bị đo)\r\nphải được hiệu chuẩn theo các qui trình đã lập thành văn bản của người sử dụng,\r\ntheo các qui định chi tiết quá trình hiệu chuẩn và các yêu cầu đảm bảo chất\r\nlượng. Qui trình hiệu chuẩn này phải được lặp lại theo định kỳ để đảm bảo rằng\r\nđộ chính xác của phép đo liều hấp thụ được duy trì trong các giới hạn qui định.\r\nPhương pháp hiệu chuẩn được mô tả trong ISO/ASTM Guide 51261.
\r\n\r\n7.2. Các dụng cụ đo nhiệt\r\nlượng dùng đĩa graphit, nước hoặc polystyren có thể được hiệu chuẩn bằng cách\r\nso sánh với các liều kế truyền chuẩn từ các phòng thử nghiệm hiệu chuẩn đã được\r\ncông nhận đối với dụng cụ đo nhiệt lượng dùng để chiếu xạ và các liều kế và\r\ndụng cụ đo nhiệt lượng liên tiếp (hoặc đồng thời) ở máy gia tốc điện tử. Trường\r\nbức xạ trên vùng mặt cắt của thân đo nhiệt lượng sẽ phải đồng nhất trong khoảng\r\n± 2% và không đổi trong thời gian cần để chiếu xạ các dụng cụ đo nhiệt lượng và\r\ncác liều kế truyền chuẩn.
\r\n\r\n7.3. Phải đảm bảo rằng các\r\nliều kế truyền chuẩn và các dụng cụ đo nhiệt lượng được chiếu xạ ở liều giống\r\nnhau. Cần có các chất hấp thụ được thiết kế đặc biệt để chiếu xạ các liều kế\r\ntruyền chuẩn, xem ví dụ ở Hình 4.
\r\n\r\nCHÚ\r\nTHÍCH: Tất cả các kích thước được tính bằng mm.
\r\n\r\nHình\r\n4 - Chất hấp thụ chiếu xạ của liều kế đo thường xuyên và liều kế truyền chuẩn\r\n(10).
\r\n\r\n7.4. Nhiệt dung riêng của\r\npolystyren và graphit đều phụ thuộc vào nhiệt độ, trong khi nhiệt dung riêng\r\ncủa nước là một hằng số trong dải nhiệt độ thông thường sử dụng trong phép đo\r\nnhiệt lượng chùm tia điện tử. Do đó chức năng hiệu chuẩn của dụng cụ đo nhiệt\r\nlượng được đánh giá theo nhiệt độ trung bình của thân đo nhiệt lượng (xem Chú\r\nthích 2).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2 Các phép đo lặp lại của\r\nnhiệt dung riêng theo các kiểu dùng đĩa graphit khác nhau được tiến hành trên\r\ndải từ 0 oC đến 50 oC, cho biết giá trị cG\r\n(J.kg-1.0C-1) = 644,2 + 2,86 T,\r\ntrong đó T là nhiệt độ trung bình (oC) của graphit. Tuy nhiên\r\ngiá trị này không được coi là giá trị thông dụng (6).
\r\n\r\n7.5. Độ nhạy liều đối với\r\ndụng cụ đo nhiệt lượng dùng nước xấp xỉ bằng 3,4 kGy.0C-1\r\nvà đối với dụng cụ đo nhiệt lượng dùng đĩa polystyren thì độ nhạy xấp xỉ bằng\r\n1,4 kGy.0C-1. Đối với dụng cụ đo nhiệt lượng dùng đĩa\r\ngraphit, thì độ nhạy xấp xỉ bằng 0,75 kGy.0C-1.
\r\n\r\n7.6. Việc hiệu chuẩn tất cả\r\ncác loại dụng cụ đo nhiệt lượng được sử dụng như liều kế đo thường xuyên, phải\r\nđược kiểm tra bằng cách so sánh với liều kế chuẩn chính hoặc liều kế truyền\r\nchuẩn ở tần suất do người sử dụng xác định.
\r\n\r\n7.7. Các dụng cụ đo nhiệt\r\nlượng có thể được hiệu chuẩn bằng cách chiếu xạ ở phòng thử nghiệm hiệu chuẩn.\r\nViệc hiệu chuẩn thu được bằng cách này phải được đánh giá xác nhận bằng cách\r\nchiếu xạ liên tục các dụng cụ đo nhiệt lượng và liều kế truyền chuẩn trong cơ\r\nsở chiếu xạ.
\r\n\r\n7.8. Đánh giá xác nhận chất\r\nlượng vận hành và hiệu chuẩn dụng cụ đo: Hiệu chuẩn các dụng cụ đo và đánh giá\r\nchất lượng vận hành thiết bị giữa các lần hiệu chuẩn, xem ISO/ASTM Guide 51261\r\nvà/hoặc các sổ tay thao tác qui định cho thiết bị cụ thể.
\r\n\r\n\r\n\r\n8.1. Chiếu xạ băng chuyền:\r\nĐối với dụng cụ đo nhiệt lượng được tiến hành trên băng truyền qua chùm điện tử\r\nđược quét, dụng cụ đo nhiệt lượng thường không được nối với hệ thống đo nhiệt\r\nđộ trước khi chiếu xạ và được nối lại để đọc chỉ sau khi chiếu xạ (7).
\r\n\r\n8.1.1. Trước khi chiếu xạ,\r\nđo nhiệt độ của thân đo nhiệt lượng và kiểm tra nhiệt độ duy trì ổn định cho\r\ngiai đoạn trước ít nhất 10 min (thường chênh lệch nhỏ hơn 0,1 oC),\r\nxem Hình 5.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Vùng I, II, và III là các\r\nvùng trước, trong và sau chiếu xạ tương ứng. Đường cong nhiệt độ ngoại suy theo\r\nT0 và Tc tới điểm giữa của thời điểm chiếu\r\nxạ ở T’0 và T’c, tương ứng. ΔT = T’c\r\n- T’0 được dùng để tính liều.
\r\n\r\nHình\r\n5 - Ví dụ về phép đo liên tục của dụng cụ đo nhiệt lượng bằng graphit (5)
\r\n\r\n8.1.2. Ngắt các dây đo và\r\nđặt dụng cụ đo năng lượng trên băng chuyền khi vận chuyển qua vùng chiếu xạ.
\r\n\r\n8.1.3. Vận chuyển dụng cụ đo\r\nnhiệt lượng qua vùng chiếu xạ trên hệ thống băng chuyền.
\r\n\r\n8.1.4. Trong suốt quá trình\r\nchiếu xạ, ghi lại thời gian chiếu và các thông số chiếu xạ (năng lượng điện tử,\r\ndòng điện tử, độ rộng chùm tia quét và tốc độ băng chuyền).
\r\n\r\n8.1.5. Sau khi dụng cụ đo\r\nnhiệt lượng qua vùng chiếu xạ, nối lại dây để đo nhiệt độ và ghi lại thời gian\r\ntừ điểm kết thúc chiếu xạ đến khi bắt đầu đo nhiệt độ. Ghi lại sự thay đổi\r\nnhiệt độ theo thời gian từ 10 min đến 20 min sau khi chiếu xạ, đủ để thiết lập\r\ncác đặc tính phân hủy nhiệt của dụng cụ đo nhiệt lượng.
\r\n\r\n8.1.6. Vẽ đồ thị các giá trị\r\nnhiệt độ theo thời gian trước và sau chiếu xạ.
\r\n\r\n8.1.7. Ngoại suy các đường\r\ncong trước và sau chiếu xạ đến điểm giữa của thời điểm chiếu xạ. Hai giá trị\r\nnhiệt độ thu được từ phép ngoại suy được sử dụng là nhiệt độ trước chiếu xạ (T1)\r\nvà sau chiếu xạ (T2) phản ánh việc tăng nhiệt độ là do liều\r\nhấp thụ. Ví dụ về dữ liệu thu được bằng kỹ thuật đo này được nêu trong Hình 6.
\r\n\r\n8.1.8. Dựa trên sự chênh\r\nlệch nhiệt độ, T2 - T1, xác định liều hấp\r\nthụ trung bình trong thân đo nhiệt lượng từ hàm số hiệu chuẩn được thiết lập\r\ntrong Điều 7.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH ΔT là sự tăng\r\nnhiệt độ tính được bằng phép ngoại suy và dùng cho phép tính liều (xem 8.1.8).\r\nKhông nối các dây điện trong suốt quá trình chiếu xạ.
\r\n\r\nHình\r\n6 - Ví dụ về phép đo nhiệt độ của dụng cụ đo nhiệt lượng dùng đĩa graphit trước\r\nvà sau chiếu xạ (7)
\r\n\r\n8.1.9. Qui trình ngoại suy\r\n8.1.7 có thể không cần đến khi các điều kiện chiếu xạ được lặp lại tốt. Chỉ cần\r\nthực hiện một phép đo nhiệt độ trước chiếu xạ và một phép đo nhiệt độ sau chiếu\r\nxạ sau là đủ và ghi lại chênh lệch nhiệt độ ở thời điểm chiếu xạ bằng cách sử\r\ndụng hệ số hiệu chuẩn thu được trong suốt quá trình thiết lập qui trình chiếu\r\nxạ (4,5,7,8). Cần qui định thời điểm đo.
\r\n\r\n8.2. Chiếu xạ liên tục trên\r\nbăng chuyền: Có thể đo nhiệt độ của thân đo nhiệt lượng trong suốt quá trình\r\nchiếu xạ vì dụng cụ đo nhiệt lượng được vận chuyển qua vùng chiếu xạ trên băng\r\nchuyền có dây đo được kết nối. Tốt nhất là dùng phép đo bốn dây (xem 6.7.1) để\r\ngiảm độ không đảm bảo đo.
\r\n\r\n8.3. Chiếu xạ tĩnh: Các dụng\r\ncụ đo nhiệt lượng được mô tả trong tiêu chuẩn này cũng có thể được sử dụng\r\ntrong cấu hình tĩnh thay vì được vận chuyển trên hệ thống băng chuyền qua chùm\r\ntia điện tử. Trong việc sắp xếp này chùm tia có thể tạo ra chùm tia đồng nhất\r\ntrên vùng thân đo nhiệt lượng bằng cách sử dụng các lá phân tán bằng kim loại\r\nhoặc trường quét. Kiểm soát giai đoạn chiếu xạ từ khi bật chùm tia điện tử lên\r\nvà khi tắt.
\r\n\r\n8.3.1. Số đọc nhiệt độ của\r\ndụng cụ đo nhiệt lượng trong cấu hình tĩnh có thể được tiến hành trước, trong\r\nvà sau chiếu xạ, tốt hơn là chỉ đo trước và sau chiếu xạ như mô tả trong 8.1.
\r\n\r\n8.3.2. Khi tắt chùm tia điện\r\ntử, đặt dụng cụ đo nhiệt lượng trên trục trùm tia ở khoảng cách thích hợp với\r\ncửa sổ đi ra cửa chùm tia sao cho mặt nghiêng của chùm tia phải đồng nhất trong\r\nkhoảng ± 2% ngang qua đường kính đĩa của dụng cụ đo nhiệt lượng. Cần phải đo\r\nđược mặt nghiêng của chùm tia và nếu nó thay đổi nhiều hơn ± 2% ngang qua dụng\r\ncụ đo nhiệt lượng thì tiến hành hiệu chỉnh độ không đồng nhất. Nối các dây cảm\r\nbiến nhiệt độ với dụng cụ đo nhiệt lượng. Hệ thống đọc nhiệt độ được đặt ngoài\r\nvùng chiếu xạ và các dải kết nối dài tạo ra bản chất của các phép đo bốn dây.
\r\n\r\n8.3.3. Đo nhiệt độ của thân\r\nđo nhiệt lượng theo thời gian để đảm bảo rằng tốc độ trôi ban đầu nhỏ hơn các\r\ngiới hạn mong muốn (xem 8.1.1).
\r\n\r\n8.3.4. Trong khi nhiệt độ\r\ncủa thân đo nhiệt lượng được ghi lại liên tục, bật chùm tia điện tử trong thời\r\ngian chiếu xạ qui định. Sau khi ngắt chùm tia, tiếp tục ghi lại nhiệt độ trong\r\nmột khoảng thời gian đủ để thiết lập các đặc tính phân rã nhiệt của dụng cụ đo\r\nnhiệt lượng cụ thể được sử dụng.
\r\n\r\n8.3.5. Ngoại suy thời gian\r\ntheo đường cong nhiệt độ trước và sau chiếu xạ từ điểm giữa của thời gian chiếu\r\nxạ theo cùng một cách như trong 8.1.7. Liều hấp thụ trung bình trong thân đo\r\nnhiệt lượng được tính như trong 8.1.8 hoặc 8.1.9. Ví dụ về dữ liệu thu được\r\nbằng kỹ thuật đo này đưa ra trong Hình 5 (2, 5).
\r\n\r\n9. Hiệu chuẩn\r\ncác liều kế khác
\r\n\r\n9.1. Liều hấp thụ đo được\r\nbằng dụng cụ đo nhiệt lượng là liều trung bình trong thân đo nhiệt lượng.
\r\n\r\n9.2. Các dụng cụ đo nhiệt\r\nlượng có thể được sử dụng để hiệu chuẩn các liều kế khác. Các liều kế này phải\r\nđược chiếu xạ sao cho nhận được cùng liều hấp thụ trung bình như dụng cụ đo\r\nnhiệt lượng khi được đặt ở độ sâu qui định trong bộ hấp thụ tương tự thân đo\r\nnhiệt lượng, xem Hình 4. Các liều kế để hiệu chuẩn phải đủ nhỏ để gắn vào bên\r\ntrong độ dày của vật liệu hấp thụ (1,5).
\r\n\r\n9.3. Chiếu xạ liên tục (hoặc\r\nđồng thời) vật liệu hấp thụ và dụng cụ đo nhiệt lượng trong các điều kiện giống\r\nnhau, các liều kế hiệu chuẩn được chiếu xạ từ các liều đã biết chính xác.
\r\n\r\n9.4. Có thể thiết lập mối\r\nquan hệ giữa liều trung bình trong thân dụng cụ đo nhiệt lượng và liều ở điểm\r\ngiữa của liều kế được hiệu chuẩn, nếu đã biết sự phân bố liều qua thân đo nhiệt\r\nlượng. Sự phân bố liều này có thể đo được bằng cách chiếu xạ vật liệu hấp thụ\r\nnhiệt lượng giả chứa liều kế màng mỏng đã hiệu chuẩn được đặt ở góc trực tiếp\r\nvới chùm tia và phân tích màng mỏng bằng cách quét tỷ trọng (7, 14).
\r\n\r\n9.5. Cần phải xác định nhiệt\r\nđộ trung bình của các liều kế trong suốt quá trình chiếu xạ để hiệu chuẩn (5).\r\nĐiều này là cần thiết nếu có hiệu chỉnh nhiệt độ.
\r\n\r\n\r\n\r\n10.1. Đối với phép hiệu\r\nchuẩn và ứng dụng dụng cụ đo nhiệt lượng, lưu hồ sơ hoặc viện dẫn dữ liệu hiệu\r\nchuẩn của bộ cảm ứng nhiệt độ và dữ liệu hiệu chuẩn đối với các dụng cụ đo\r\nnhiệt lượng.
\r\n\r\n10.2. Lưu hồ sơ hoặc viện\r\ndẫn ngày chiếu xạ, nhiệt độ và thời gian chiếu xạ, thiết bị phân tích, liều thể\r\nhiện trên dữ liệu đo nhiệt lượng, các đặc tính của chùm tia điện tử và các\r\nthông số vận hành của máy gia tốc.
\r\n\r\n\r\n\r\n11.1. Phép đo liều phải kèm\r\ntheo độ không đảm bảo đo mới có giá trị.
\r\n\r\n11.2. Thành phần độ không\r\nđảm bảo đo sẽ được phân thành hai loại sau đây:
\r\n\r\n11.2.1. Loại A - Được đánh\r\ngiá bằng phương pháp thống kê, hoặc
\r\n\r\n11.2.2. Loại B - Được đánh\r\ngiá bằng phương pháp khác.
\r\n\r\n11.3. Do đó các cách khác\r\nphân loại độ không đảm bảo đo được dùng rộng rãi và tạo thuận tiện cho báo cáo\r\nvề độ không đảm bảo đo. Ví dụ, thuật ngữ độ chụm và độ chệch hoặc sai số ngẫu\r\nnhiên và sai số hệ thống (không ngẫu nhiên) được dùng để mô tả các loại độ không\r\nđảm bảo đo khác nhau.
\r\n\r\n11.4. Nếu thực hiện đánh giá\r\nđộ không đảm bảo theo tiêu chuẩn này, thì việc đánh giá độ không đảm bảo mở\r\nrộng của liều hấp thụ được xác định bởi hệ thống đo liều này không được nhỏ hơn\r\n4% đối với hệ số phủ k = 2 (xấp xỉ độ tin cậy 95% đối với các dữ liệu\r\nđược phân bố thông thường). Bảng 2 (9) đưa ra ví dụ về các thành phần độ\r\nkhông đảm bảo đo đối với hệ thống đo nhiệt lượng cụ thể. Các giá trị trong bảng\r\nnày không đánh giá được sự đại diện cho hệ thống đo nhiệt lượng khác hoặc các\r\nloại khác và chỉ có mục đích minh họa.
\r\n\r\nBảng\r\n2 - Độ không đảm bảo đo của dụng cụ đo nhiệt lượng dùng polystyren thông thường\r\ntừ phòng thử nghiệm chuẩn liều cao Riso (tính bằng phần trăm, ở k = 2) (9)
\r\n\r\nCHÚ THÍCH Ở mức liều cao hơn 10\r\nkGy, (2) và (3) được giảm đến 0,2 %.
\r\n\r\n| \r\n \r\n | \r\n \r\n Các\r\n nguồn của độ không đảm bảo đo \r\n | \r\n \r\n Loại\r\n B \r\n | \r\n \r\n Loại\r\n A \r\n | \r\n
| \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n Phép hiệu chuẩn \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 3,2 \r\n | \r\n
| \r\n 2 \r\n | \r\n \r\n Phép đo nhiệt độ của dụng cụ đo\r\n nhiệt lượng (ở 3 kGy) \r\n | \r\n \r\n 1,0 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 3 \r\n | \r\n \r\n Phép ngoại suy nhiệt độ của dụng\r\n cụ đo nhiệt lượng (ở 3 kGy) \r\n | \r\n \r\n 1,0 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 4 \r\n | \r\n \r\n Sự thay đổi độ nhạy nhiệt độ của nhiệt\r\n dung riêng của polystyren \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 0,5 \r\n | \r\n
| \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n Hiệu ứng nhiệt \r\n | \r\n \r\n 0,5 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Tổng bình phương \r\n | \r\n \r\n 1,5 \r\n | \r\n \r\n 3,2 \r\n | \r\n |
| \r\n Tổ hợp \r\n | \r\n \r\n 3,6% \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
CHÚ THÍCH 3 Việc nhận biết độ không\r\nđảm bảo đo loại A và loại B dựa trên phương pháp đánh giá độ không đảm bảo đo\r\ndo Tổ chức Tiêu chuẩn hóa quốc tế (ISO) xuất bản năm 1995 trong Hướng dẫn về\r\nbiểu thị độ không đảm bảo đo (15). Mục đích là để tăng cường sự hiểu\r\nbiết về độ không đảm bảo được xây dựng như thế nào và cung cấp cơ sở để so sánh\r\nquốc tế về các kết quả đo.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 4 ISO/ASTM Guide 51707\r\nxác định các nguồn gốc về độ không đảm bảo đo trong phép đo liều trong thiết bị\r\nxử lý chiếu xạ và đưa ra quy trình đánh giá độ không đảm bảo đo trong phép đo\r\nliều sử dụng hệ đo liều. Tài liệu này đưa ra và bàn luận các khái niệm cơ bản\r\nvề phép đo, bao gồm việc đánh giá giá trị định lượng, giá trị "đúng",\r\nsai số và độ không đảm bảo đo. Thành phần của độ không đảm bảo đo được xem xét\r\nvà đưa ra phương pháp đánh giá chung. Tài liệu này cũng đưa ra các phương pháp\r\ntính toán độ không đảm bảo đo chuẩn kết hợp và độ không đảm bảo đo mở rộng\r\n(tổng thể).
\r\n\r\n\r\n\r\n
A1.\r\nCác nhà cung cấp dụng cụ đo nhiệt lượng
\r\n\r\nA1.1. Có ba nhà cung cấp\r\ndụng cụ đo nhiệt lượng được liệt kê dưới đây:
\r\n\r\nA.1.1.1. Phòng thử nghiệm\r\nchuẩn liều cao
\r\n\r\nPhòng nghiên cứu bức xạ
\r\n\r\nPhòng thử nghiệm quốc gia, Riso DK\r\n4000 Roskilde, Đan Mạch
\r\n\r\nA1.1.2. Tương tác bức xạ và\r\nhệ đo liều bức xạ vật lý C229
\r\n\r\nViện tiêu chuẩn và công nghệ quốc\r\ngia, Gaitherburg, MD 20899-0001, Mỹ
\r\n\r\nA1.1.3. Hiệp hội GEX, 7330\r\nS. Alton Way, Suite 12-l, Centennial CO 80112, Mỹ
\r\n\r\nA1.1.4. Có thể tham khảo các\r\nnhà cung cấp này, nhưng các tổ chức ASTM hoặc ISO không chỉ định hoặc xác nhận\r\ncho sản phẩm của họ.
\r\n\r\n\r\n\r\n
THƯ\r\nMỤC TÀI LIỆU THAM KHẢO
\r\n\r\n(1) McLaughlin, W. L., Boyd, A, W.,\r\nChadwick, K.A., McDonald, J. C., and Miller. A., Dosimetry for Radiation\r\nProcessing. Taylor and Francis, London, 1989.
\r\n\r\n(2) Burns. D. T., and Morris, W.\r\nT., "Recent Developments in Graphite and Water Calorimeters for Electron\r\nBeam Dosimetry at NPL, "NRC Workshop on Water Calorimetry, NRC\r\nReport 29637, National Reseach Council, Ottawa, Canada, 1988.p.25.
\r\n\r\n(3) Miller. A., "Dosimetry for\r\nElectron Beam Applications," RisÆ-M-2401, RisÆ\r\nNational Laboratory. DK - 4000 Roskilde. Denmark, 1983.
\r\n\r\n(4) Miller, A., and Kovacs, A. "Calorimetry\r\nat Industrial Electron Accelerators", Applications of Accelerators in\r\nReseach and Industry 84, Part II. Proceedings of 8th Conference,\r\nDenton, Texas. Nuclear Instruments and Methods. B10/11. 1985.p.994.
\r\n\r\n(5) Humphreys, J.C., and\r\nMclaughlin, W.L., "Calorimetry of Electron Beams and the Calibration of\r\nDosimeters at High Doses," in Radiation Processing: State of the Art.\r\nProceeding of 7th International Meeting. Noordwijkerhout. The Netherlands.\r\n1989, Leemhorst J.G and Miller. A., Eds., Radiation Physis and Chemistry, Vol\r\n35. 1990.p, 744.
\r\n\r\n(6) Burns, D. T., and Morris. W.T.,\r\n"A Graphite Calorimeter for Electron Beam Dosimetry." High Dose\r\nDosimetry for Radiation Processing. IAEA, Vienna. 1991. p.123.
\r\n\r\n(7) Miller. A., and Kovacs. A., "Calibration\r\nand Routine Dosimetry for Industrial Electron Accelerators." Proceedings\r\nof 4th Conference on Applications of Radioisotopes and Radiation\r\nProcessing in Industry, Leipzig, 1988.
\r\n\r\n(8) Miller. A., and Kovacs. A., "Application\r\nof Calorimeters for Routine and Reference Dosimetry at 4-10 MeV Industrial\r\nElectron Accelerators," Radiation Processing: State of the Art, Vol\r\nII. Proceeding of 7th International Meeting, Noordwijkerhout. The Nethelands,\r\n1989. Leemhors, J.G. and Miller, A., Eds., Radiation Physic and Chemistry,\r\nVol 35.1990. p.774.
\r\n\r\n(9) Miller. A., "A Polystyrene\r\nCalorimeter for Electron Beam Dose Measurements, "Proceedings of the 9th\r\nInternational Meeting for Radiation Processing. Intanbul. Turkey. Sept.\r\n12-16. 1994 Radiation Physics and Chemistry. Vol 46, No. 4-6, 1995. p.\r\n1243.
\r\n\r\n(10) Sharpe, P.H.G. and Miller, A.,\r\n"Guidelines for the Calibration of Dosimeters for Use in Radiation\r\nProcessing." CIRM-29, National Physical Laboratory. Teddington. UK.1999.
\r\n\r\n(11) Skiens. W. E., "Sterilizing\r\nRadiation Effects on Selected Polymers." Radiation Physicsi, and\r\nChemistry. Vol 15.1980, p.47.
\r\n\r\n(12) Domen, S R., "Advances in\r\nCalorimetry for Radiation Dosimetry." The Dosimetry of lonizing\r\nRadiation, Vol II (eds. Kase.Bjărngard and Attix, 1987, p 425.
\r\n\r\n(13) Miller, A., Kovacs, A., and\r\nKuntz, F, "Development of Polystyrene Calorimeter for Application at Electron\r\nEnergies Down to 1.5 MeV," Rad Phys Chem., Vol 63, 2002, p 739.
\r\n\r\n(14) Miller. A., Kovacs. A.,\r\nWieser. A., and Regulla, D.F, "Measurement with Alanine and Film\r\nDosimeters for Industrial 10 MeV Electron Reference Dosimetry." ESR Dosimetry\r\nand Applications, Proceedings of 2nd International Symposium. Munich. 1988,\r\nRegulla, D. F., Scharmann. A., and McLaughlin. W.L., Eds., Applied Radiation\r\nand Isotopes, Vol 40, 1989, p.967.
\r\n\r\n(15) "Guide to the Expression\r\nof Uncertainty in Measurement," International Organization for\r\nStandardization, 1995. ISBN 92-67-1018-9. Availabe from The International\r\nOrganization for Standardization, I rue de Varembé, Case Postale 56. CH-1211,\r\nGeneva 20, Switzerland.
\r\n\r\n\r\n\r\n
\r\n\r\n
1) Tiêu chuẩn\r\nnày thuộc thẩm quyền của Ban kỹ thuật ASTM E 10 Công nghệ và ứng dụng hạt\r\nnhân, thuộc trách nhiệm của Tiểu ban kỹ thuật E10.01 Hệ đo liều và Ứng\r\ndụng và cũng thuộc thẩm quyền của ISO/TC 85/WG 3.
\r\n\r\nẤn bản hiện hành được\r\nASTM thông qua vào ngày 28 tháng 5 năm 2003, được xuất bản ngày 15 tháng 6 năm\r\n2003. Nguyên bản là E 1631-94. ASTM E 1631-96 được ISO thông qua vào năm 1998\r\nvới số hiệu tiêu chuẩn là ISO 51631:2003. Tiêu chuẩn ASTM/ISO 51631:2003 hiện\r\nhành là bản soát xét chính của ISO/ASTM 51631:2002 và thay thế ISO 15568.
\r\n\r\n2) Sổ tay\r\ntiêu chuẩn ASTM, Tập 12.02.
\r\n\r\n3) Ủy ban quốc\r\ntế về các phép đo và các đơn vị đo bức xạ (ICRU).7910 Woodmont Ave., Bethesda,\r\nMD 20814, Mỹ.
\r\n\r\n4) Số in đậm\r\ntrong dấu ngoặc đơn viện dẫn trong Tài liệu tham khảo ở cuối Tiêu chuẩn này.
\r\n\r\nFile gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 8770:2011 (ISO/ASTM 51631:2003) về Tiêu chuẩn thực hành sử dụng hệ đo liều nhiệt lượng để đo liều chùm tia điện tử và hiệu chuẩn liều kế đo thường xuyên đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 8770:2011 (ISO/ASTM 51631:2003) về Tiêu chuẩn thực hành sử dụng hệ đo liều nhiệt lượng để đo liều chùm tia điện tử và hiệu chuẩn liều kế đo thường xuyên
Tóm tắt
| Cơ quan ban hành | Đã xác định |
| Số hiệu | TCVN8770:2011 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 2011-01-01 |
| Ngày hiệu lực | |
| Lĩnh vực | Xây dựng - Đô thị |
| Tình trạng | Hết hiệu lực |