Specification\r\nfor radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 1-1:\r\nRadio disturbance and immunity measuring apparatus - Measuring apparatus
\r\n\r\nLời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 6989-1-1 : 2008 hoàn toàn\r\ntương đương với tiêu chuẩn CISPR 16-1-1 : 2006.
\r\n\r\nTCVN 6989-1-1 : 2008 do Ban kỹ thuật\r\ntiêu chuẩn TCVN/TC/E9 Tương thích điện tử biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn\r\nĐo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.
\r\n\r\nLời giới thiệu
\r\n\r\nTCVN 6989-1 : 2003 (CISPR 16-1)\r\nđược biên soạn lại thành 5 tiêu chuẩn mới theo phương pháp chấp nhận tiêu chuẩn\r\nquốc tế, có tiêu đề chung là “Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương\r\npháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số radio”. Các phần mới của TCVN như sau:
\r\n\r\nTCVN 6989-1-1 : 2008: Thiết bị đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm tần số radio - Thiết bị đo
\r\n\r\nTCVN 6989-1-3 : 2008: Thiết bị đo\r\nnhiễu v à miễn nhiễm tần số radio - Thiết bị đo phụ trợ - Công suất nhiễu
\r\n\r\nTCVN 6989-1-5 : 2008: Thiết bị đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm tần số radio - Vị trí thử nghiệm hiệu chuẩn anten trong dải\r\ntần từ 30 MHz đến 1000 MHz.
\r\n\r\nTrong thời gian chưa có TCVN\r\n6989-1-2 và TCVN 6989-1-4, các nội dung tương ứng trong TCVN 6989-1: 2003 \r\n(CISPR 16-1) vẫn có hiệu lực áp dụng.
\r\n\r\nCấu trúc của bộ tiêu chuẩn quốc tế\r\nCISPR 16 gồm 4 phần chia thành 14 tiêu chuẩn như sau:
\r\n\r\n1) CISPR 16-1-1, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 1-1:\r\nRadio disturbance and immunity measuring apparatus - Measurement apparatus.
\r\n\r\n2) CISPR 16-1-2, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 1-2:\r\nRadio disturbance and immunity measuring apparatus - Ancillary equipment -\r\nConducted disturbance.
\r\n\r\n3) CISPR 16-1-3, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 1-3:\r\nRadio disturbance and immunity measuring apparatus - Ancillary equipment -\r\nDisturbance power.
\r\n\r\n4) CISPR 16-1-4, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 1-4:\r\nRadio disturbance and immunity measuring apparatus - Ancillary equipment\r\n-Radiated disturbance.
\r\n\r\n5) CISPR 16-1-5, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 1-5:\r\nRadio disturbance and immunity measuring apparatus - Antenna calibration test\r\nsites for 30 MHz to 1 000 MHz.
\r\n\r\n6) CISPR 16-2-1, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 2-1:\r\nMethods of measurement of disturbances and immunity - Conducted disturbance\r\nmeasurements.
\r\n\r\n7) CISPR 16-2-2, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 2-2:\r\nMethods of measurement of disturbances and immunity - Measurements of\r\ndisturbance power.
\r\n\r\n8) CISPR 16-2-3, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 2-3:\r\nMethods of measurement of disturbances and immunity - Radiated disturbance\r\nmeasurements.
\r\n\r\n9) CISPR 16-2-4, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 2-4:\r\nMethods of measurement of disturbances and immunity - Immunity measurements
\r\n\r\n10) CISPR 16-3, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 3: CISPR\r\ntechnical reports
\r\n\r\n11) CISPR 16-4-1, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 4-1:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling - Uncertainties in standardized\r\nEMC tests
\r\n\r\n12) CISPR 16-4-2, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 4-2:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling - Uncertainties in EMC\r\nmeasurements
\r\n\r\n13) CISPR 16-4-3, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 4-3:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling - Statistics considerations in\r\nthe determination of EMC compliance of mass-produced products.
\r\n\r\n14) CISPR 16-4-4, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 4-4:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling - Statistics of compliants and a\r\nmodel for the calculation of limits.
\r\n\r\n\r\n\r\n
YÊU\r\nCẦU KỸ THUẬT ĐỐI VỚI THIẾT BỊ ĐO VÀ PHƯƠNG PHÁP ĐO NHIỄU VÀ MIỄN NHIỄM TẦN SỐ\r\nRAĐIÔ - PHẦN 1-1: THIẾT BỊ ĐO NHIỄU VÀ MIỄN NHIỄM TẦN SỐ RAĐIÔ - THIẾT BỊ ĐO
\r\n\r\nSpecification\r\nfor radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 1-1:\r\nRadio disturbance and immunity measuring apparatus - Measuring apparatus
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này là tiêu chuẩn cơ\r\nbản, qui định các đặc tính và tính năng của thiết bị dùng để đo điện áp, dòng\r\nđiện và trường của nhiễu tần số rađiô trong dải tần 9 kHz đến 18 GHz. Ngoài ra,\r\ntiêu chuẩn này cũng áp dụng cho các thiết bị chuyên dụng để đo nhiễu không liên\r\ntục. Các yêu cầu bao gồm cả phép đo nhiễu tần số rađiô loại băng rộng và băng\r\nhẹp.
\r\n\r\nDưới đây là các loại máy thu được\r\nđề cập:
\r\n\r\na) máy thu đo tựa đỉnh;
\r\n\r\nb) máy thu đo đỉnh;
\r\n\r\nc) máy thu đo trung bình;
\r\n\r\nd) máy thu đo hiệu dụng.
\r\n\r\nCác yêu cầu của tiêu chuẩn này phải\r\nđược tuân thủ ở tất cả các tần số và tất cả các mức điện áp, dòng điện, công\r\nsuất hoặc cường độ trường của nhiễu tần số rađiô nằm trong phạm vi chỉ thị\r\nCISPR của thiết bị đo.
\r\n\r\nPhương pháp đo được đề cập trong\r\nphần 2, các thông tin thêm về nhiễu tần số rađiô được nêu trong phần 3 của bộ\r\ntiêu chuẩn TCVN 6989 (CISPR 16). Độ không đảm bảo đo, số liệu thống kê và mô\r\nhình giới hạn được đề cập trong phần 4 của bộ tiêu chuẩn TCVN 6989 (CISPR 16).
\r\n\r\n\r\n\r\nCác tài liệu viện dẫn dưới đây là\r\ncần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu ghi năm công\r\nbố, áp dụng các bản được nêu. Đối với các tài liệu không ghi năm công bố thì áp\r\ndụng bản mới nhất bao gồm cả các sửa đổi.
\r\n\r\nTCVN 6988 : 2006 (CISPR 11 : 2004)\r\nThiết bị tần số rađiô dùng trong công nghiệp, nghiên cứu khoa học và y tế (ISM)\r\n- Đặc tính nhiễu điện từ - Giới hạn và phương pháp đo.
\r\n\r\nTCVN 7492-1 : 2005 (CISPR 14-1\r\n:2005), Tương thích điện từ - Yêu cầu đối với thiết bị điện gia dụng, dụng cụ điện\r\nvà các thiết bị tương tự - Phần 1: Phát xạ
\r\n\r\nIEC 60050-161 : 1990, International\r\nElectronical Vocabulary (IEV) - Chapter 161: Electromagnetic Amendment 1\r\n(1997), Amendment 2 (1998)
\r\n\r\nCISPR 16-3 : 2003, Specification\r\nfor radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 3:\r\nCISPR technical reports (Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô - Phần 3: Báo cáo kỹ thuật của CISPR)
\r\n\r\nBIPM/IEC/FCC/ISO/IUPAC/IUPAP/OIML :\r\n1993, International vocabulary of basic and general terms in metrology (Từ vựng\r\nquốc tế về các thuật ngữ cơ bản và thuật ngữ chung trong đo lường)
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này áp dụng các thuật\r\nngữ và định nghĩa dưới đây. Xem thêm IEC 60050 (161) và tài liệu “Từ vựng quốc\r\ntế về các thuật ngữ cơ bản và thuật ngữ chung trong đo lường”.
\r\n\r\n3.1 Độ rộng băng tần (bandwidth)
\r\n\r\nBn
\r\n\r\nĐộ rộng của đường cong chọn lọc\r\ntoàn băng của máy thu nằm giữa hai điểm có mức suy giảm quy định, bên dưới đáp\r\ntuyến giữa băng. Độ rộng băng tần ký hiệu là Bn, trong đó n là mức\r\nsuy giảm quy định, tính bằng đềxiben.
\r\n\r\n3.2 Độ rộng băng tần xung (impulse\r\nbandwidth)
\r\n\r\nBimp
\r\n\r\nTrong đó:
\r\n\r\nA(t)max là đỉnh của\r\nđường bao tại đầu ra IF của máy thu có điện tích xung IS đặt tại đầu vào của\r\nmáy thu;
\r\n\r\nGo là hệ số\r\nkhuếch đại của mạch ở tần số trung tâm.
\r\n\r\nRiêng đối với hai bộ biến đổi điều\r\nhưởng ghép nối tới hạn thì
\r\n\r\nBimp = 1,05 x B6 =\r\n1,31 x B3
trong đó:
\r\n\r\nB6 và B3 lần\r\nlượt là độ rộng băng tần tại các điểm -6 dB và -3 dB (xem điều A.2 để có thêm\r\nthông tin).
\r\n\r\n3.3 Diện tích xung (impulse\r\narea)
\r\n\r\nIS
\r\n\r\nDiện tích xung (đôi khi gọi là\r\ncường độ xung, IS) là vùng điện áp-thời gian của một xung được xác định\r\nbằng tích phân:
\r\n\r\nIS\r\n= V(t) dt (tính bằng mVs hoặc dB (mVs))
CHÚ THÍCH: Mật độ phổ (D) liên quan\r\nđến diện tích xung và biểu thị bằng mV/MHz\r\nhoặc dB(mV/MHz). Đối với xung chữ nhật\r\ncó độ rộng xung T ở các tần số f << 1/T thì áp dụng quan hệ D (mV/MHz) = x106\r\nIS (mVs)
3.4 Hằng số thời gian nạp điện\r\n(electrical charge time constant)
\r\n\r\nTc
\r\n\r\nThời gian cần thiết sau khi đặt tức\r\nthời điện áp sóng sin không đổi vào đầu vào của tầng ngay trước bộ tách sóng để\r\nđiện áp đầu ra bộ tách sóng đạt tới 63% giá trị cuối của nó.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Hằng số thời gian này\r\nđược xác định như sau: Đặt lên đầu vào tầng ngay trước bộ tách sóng một tín\r\nhiệu sóng sin có biên độ không đổi và có tần số bằng tần số giữa băng của bộ\r\nkhuếch đại IF. Ghi lại số chỉ D của thiết bị đo loại không có quán tính (ví dụ\r\nnhư máy hiện sóng ống tia catốt) được nối với đầu cuối của mạch khuếch đại một\r\nchiều sao cho không ảnh hưởng đến hoạt động của bộ tách sóng. Mức tín hiệu được\r\nchọn sao cho duy trì được đáp tuyến của các tầng liên quan trong phạm vi dải\r\nlàm việc tuyến tính. Một tín hiệu sóng sin của mức này, được đặt trong một thời\r\ngian nhất định và có chuỗi sóng có đường bao hình chữ nhật, được chặn sao cho\r\nđộ lệch là 0,63D. Khoảng thời gian đặt tín hiệu này bằng thời gian nạp của bộ\r\ntách sóng.
\r\n\r\n3.5 Hằng số thời gian phóng điện\r\n(electrical discharge time constant)
\r\n\r\nTD
\r\n\r\nThời gian cần thiết sau khi loại bỏ\r\ntức thời điện áp sóng sin không đổi đặt vào đầu vào tầng ngay trước bộ tách\r\nsóng để đầu ra bộ tách sóng giảm xuống còn 37% giá trị ban đầu.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Phương pháp đo này tương\r\ntự như phương pháp đo hằng số thời gian nạp nhưng thay việc đặt tín hiệu trong\r\nmột thời gian nhất định bằng việc ngắt tín hiệu trong một thời gian nhất định.\r\nThời gian cần thiết để độ lệch giảm xuống còn 0,37D là hằng số thời gian phóng\r\nđiện của bộ tách sóng.
\r\n\r\n3.6 Hằng số thời gian về cơ của\r\nthiết bị chỉ thị dao động tắt dần tới hạn (mechanical time constant of a\r\ncritically damped indicating instrument)
\r\n\r\nTM
\r\n\r\nTM\r\n= TL/2p
\r\n\r\ntrong đó:
\r\n\r\nTL là chu kỳ dao\r\nđộng tự do của thiết bị đo khi loại bỏ các yếu tố cản dịu.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Đối với thiết bị đo\r\ndao động tắt dần tới hạn, phương trình chuyển động của hệ thống này có thể viết\r\nthành:
\r\n\r\ntrong đó:
\r\n\r\n độ\r\nlệch;
i là dòng điện chạy qua\r\nthiết bị đo;
\r\n\r\nk là hằng số.
\r\n\r\nTừ phương trình trên có thể suy ra\r\nhằng số thời gian này cũng chính là độ rộng của xung chữ nhật (có biên độ không\r\nđổi) gây nên độ lệch 35% so với độ lệch ổn định gây ra do dòng điện liên tục có\r\ncùng biên độ với dòng điện của xung chữ nhật.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Phương pháp đo và\r\nphương pháp điều chỉnh được rút ra từ một trong hai điểm sau:
\r\n\r\na) Chu kỳ dao động tự do được điều\r\nchỉnh đến 2pTM, bổ sung yếu\r\ntố cản dịu sao cho T = 0,35
.
b) Nếu không thể đo được thời gian\r\ndao động thì yếu tố làm nhụt được điều chỉnh, chỉnh đến ngay dưới mức tới hạn\r\nsao cho dao động vượt quá không lớn hơn 5% và mômen quán tính của chuyển động\r\nnày làT = 0,35
.
3.7 Hệ số quá tải (overload\r\nfactor)
\r\n\r\nTỷ số giữa mức tương ứng với phạm\r\nvi hoạt động tuyến tính thực tế của một mạch điện (hoặc một nhóm mạch điện) và\r\nmức tương ứng với độ lệch toàn thang đo của thiết bị chỉ thị.
\r\n\r\nMức lớn nhất tại đó đáp tuyến ổn\r\nđịnh của một mạch điện (hoặc một nhóm mạch điện) không sai lệch quá 1 dB so với\r\nmức tuyến tính lý tưởng xác định trong phạm vi hoạt động tuyến tính thực tế của\r\nmột mạch điện (hoặc một nhóm mạch điện).
\r\n\r\n3.8 Điện áp đối xứng\r\n(symmetric voltage)
\r\n\r\nTrong mạch điện hai dây, ví dụ như\r\nnguồn điện lưới một pha, điện áp đối xứng là điện áp nhiễu tần số rađiô xuất\r\nhiện giữa hai dây. Điện áp này đôi khi còn gọi là điện áp phương thức vi sai.\r\nNếu Va là véctơ điện áp giữa một trong các đầu nối điện lưới và đất, còn Vb là\r\nvéctơ điện áp giữa đầu nối điện lưới kia và đất thì điện áp đối xung là hiệu\r\nvéctơ (Va - Vb).
\r\n\r\n3.9 Phạm vi chỉ thị CISPR\r\n(CISPR indicating range)
\r\n\r\nPhạm vi do nhà chế tạo qui định để\r\nđưa ra các chỉ số đồng hồ lớn nhất và nhỏ nhất mà nằm trong phạm vi này máy thu\r\nthỏa mãn các yêu cầu trong tiêu chuẩn này.
\r\n\r\n4. Máy thu đo\r\ntựa đỉnh trong dải tần 9 kHz đến 1 000 MHz
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật của máy thu phụ\r\nthuộc vào tần số làm việc. Có một yêu cầu kỹ thuật cho máy thu trong dải tần 9\r\nkHz đến 150 kHz (băng tần A), một yêu cầu kỹ thuật trong dải tần 150 kHz đến 30\r\nMHz (băng tần B), một yêu cầu kỹ thuật trong dải tần 30 MHz đến 300 MHz (băng\r\ntần C) và một yêu cầu kỹ thuật trong dải tần 300 MHz đến 1 000 MHz (băng tần\r\nD).
\r\n\r\n\r\n\r\nMạch đầu vào của máy thu đo phải là\r\nmạch không cân bằng. Để đặt chế độ điều khiển máy thu nằm trong phạm vi chỉ thị\r\nCISPR, trở kháng vào phải có giá trị danh nghĩa là 50 W với hệ số điện áp sóng đứng không vượt quá 2,0:1 khi độ suy\r\ngiảm RF là 0 và không vượt quá 1,2:1 khi độ suy giảm RF lớn hơn hoặc bằng 10dB.
\r\n\r\nVới trở kháng vào đối xứng trong\r\ndải tần 9 kHz đến 30 MHz: sử dụng một biến áp đầu vào cân bằng để có thể thực\r\nhiện các phép đo đối xứng. Trở kháng vào ưu tiên là 600W ứng với dải tần 9 kHz đến 150 kHz. Trở kháng vào đối xứng này\r\ncó thể lắp trong mạng giả đối xứng liên quan cần được ghép nối với máy thu hoặc\r\nđặt tùy ỳ trong máy thu đó
\r\n\r\n\r\n\r\nĐáp tuyến với các xung như qui định\r\ntrong 4.4 được tính trên cơ sở máy thu đo có các đặc tính cơ bản dưới đây.
\r\n\r\nBảng\r\n1 - Các đặc tính cơ bản của máy thu tựa đỉnh
\r\n\r\n\r\n Đặc\r\n tính \r\n | \r\n \r\n Băng\r\n tần \r\n | \r\n ||
\r\n Băng\r\n tần A | \r\n \r\n Băng\r\n tần B | \r\n \r\n Băng\r\n tần C | \r\n |
\r\n Độ rộng băng tần ở điểm -6 dB, B6\r\n tính bằng kHz \r\n | \r\n \r\n 0,20 \r\n | \r\n \r\n 9 \r\n | \r\n \r\n 120 \r\n | \r\n
\r\n Hằng số thời gian nạp điện của bộ\r\n tách sóng, tính bằng ms \r\n | \r\n \r\n 45 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n
\r\n Hằng số thời gian phóng điện của\r\n bộ tách sóng, tính bằng ms \r\n | \r\n \r\n 500 \r\n | \r\n \r\n 160 \r\n | \r\n \r\n 550 \r\n | \r\n
\r\n Hằng số thời gian về cơ của thiết\r\n bị chỉ thị có dao động tắt dần tới hạn, tính bằng ms \r\n | \r\n \r\n 160 \r\n | \r\n \r\n 160 \r\n | \r\n \r\n 100 \r\n | \r\n
\r\n Hệ số quá tải của các mạch trước\r\n bộ tách sóng, tính bằng dB \r\n | \r\n \r\n 24 \r\n | \r\n \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n 43,5 \r\n | \r\n
\r\n Hệ số quá tải của bộ khuếch đại\r\n một chiều giữa bộ tách sóng và thiết bị chỉ thị, tính bằng dB \r\n | \r\n \r\n 6 \r\n | \r\n \r\n 12 \r\n | \r\n \r\n 6 \r\n | \r\n
\r\n CHÚ THÍCH 1: Định nghĩa hằng số\r\n thời gian về cơ (xem 3.6) được giả thiết rằng thiết bị chỉ thị là tuyến tính,\r\n nghĩa là dòng điện tăng lên các giá trị bằng nhau thì độ lệch cũng tăng lên\r\n các giá trị bằng nhau. Có thể sử dụng thiết bị chỉ thị có quan hệ khác giữa\r\n dòng điện và độ lệch với điều kiện là thiết bị đó thỏa mãn các yêu cầu của\r\n 4.2. Trong một thiết bị điện tử, hằng số thời gian về cơ có thể được mô phỏng\r\n bằng mạch điện. \r\nCHÚ THÍCH 2: Không đưa ra dung\r\n sai đối với các hằng số thời gian điện và cơ. Giá trị thực được sử dụng trong\r\n từng máy thu riêng biệt được xác định bởi thiết kế để thỏa mãn các yêu cầu\r\n trong 4.4 \r\n | \r\n
4.3 Độ chính\r\nxác của điện áp sóng sin
\r\n\r\nĐộ chính xác của phép đo điện áp\r\nsóng sin phải tốt hơn ± 2 dB khi đặt một tín hiệu sóng sin ở trở kháng nguồn có\r\nđiện trở là 50 W
\r\n\r\n\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Phụ lục B và Phụ lục C\r\nmô tả các phương pháp xác định đặc tính đầu ra của máy phát xung dùng trong thử\r\nnghiệm theo các yêu cầu của 4.4
\r\n\r\n4.4.1 Quan hệ về biên độ (hiệu\r\nchuẩn tuyệt đối)
\r\n\r\nĐáp tuyến của máy thu đo với xung\r\ncó diện tích xung là a) mVs (microvôn\r\ngiây) sức điện động ở trở kháng nguồn 50W,\r\ncó phổ đồng nhất lên đến ít nhất là b) MHz, lặp lại với tần số c) Hz phải bằng\r\nđáp tuyến với tín hiệu sóng sin không điều chế ở tần số điều hưởng có giá trị\r\nhiệu dụng của sức điện động là 2mV [66 dB(mV)].\r\nTrở kháng nguồn của máy phát xung và máy phát tín hiệu phải giống nhau. Ở mức\r\nđiện áp sóng sin, dung sai ±1,5 dB là chấp nhận được.
\r\n\r\nBảng\r\n2 - Đặc tính xung thử nghiệm dùng cho máy thu đo tựa đỉnh
\r\n\r\n\r\n Dải\r\n tần \r\n | \r\n \r\n a)\r\n mVs \r\n | \r\n \r\n b)\r\n MHz \r\n | \r\n \r\n c)\r\n Hz \r\n | \r\n
\r\n 9 kHz đến 150 kHz \r\n | \r\n \r\n 13,5 \r\n | \r\n \r\n 0,15 \r\n | \r\n \r\n 25 \r\n | \r\n
\r\n 0,15 MHz đến 30 MHz \r\n | \r\n \r\n 0,316 \r\n | \r\n \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n 100 \r\n | \r\n
\r\n 30 MHz đến 300 MHz \r\n | \r\n \r\n 0,044 \r\n | \r\n \r\n 300 \r\n | \r\n \r\n 100 \r\n | \r\n
\r\n 300 MHz đến 1 000 MHz \r\n | \r\n \r\n 0,044 \r\n | \r\n \r\n 1\r\n 000 \r\n | \r\n \r\n 100 \r\n | \r\n
4.4.2 Sự thay đổi theo tần số\r\nlặp (hiệu chuẩn tương đối)
\r\n\r\nĐáp tuyến của máy thu đo với xung\r\nlặp phải sao cho chỉ thị trên máy thu đo là không đổi, quan hệ giữa biên độ và\r\ntần số lặp theo Hình 1a, 1b hoặc 1c.
\r\n\r\nHình\r\n1a - Đường cong đáp tuyến xung (Băng tần A)
\r\n\r\nHình\r\n1b - Đường cong đáp tuyến xung (Băng tần B)
\r\n\r\nHình\r\n1c - Đường cong đáp tuyến xung (Băng tần C và D)
\r\n\r\nHình\r\n1d - Đường cong đáp tuyến xung lý thuyết của máy thu tách sóng tựa đỉnh và máy\r\nthu tách sóng trung bình (xem 6.4.2)
\r\n\r\nHình\r\n1 - Các đường cong đáp tuyến xung
\r\n\r\nĐường cong đáp tuyến của một máy\r\nthu đo cụ thể phải nằm giữa các giới hạn được xác định trên hình thích hợp và\r\nsố liệu trong Bảng 3.
\r\n\r\nBảng\r\n3 - Đáp tuyến xung của máy thu tựa đỉnh
\r\n\r\n\r\n Tần\r\n số lặp \r\nHz \r\n | \r\n \r\n Mức\r\n tương đương tương đối của xung trong băng tần qui định, tính bằng dB \r\n | \r\n |||
\r\n Băng\r\n tần A | \r\n \r\n Băng\r\n tần B | \r\n \r\n Băng\r\n tần C | \r\n \r\n Băng\r\n tần D | \r\n |
\r\n 1\r\n 000 \r\n | \r\n \r\n chú\r\n thích 4 \r\n | \r\n \r\n -4,5\r\n ± 1,0 \r\n | \r\n \r\n -8,0\r\n ± 1,0 \r\n | \r\n \r\n -8,0\r\n ± 1,0 \r\n | \r\n
\r\n 100 \r\n | \r\n \r\n -4,0\r\n ± 1,0 \r\n | \r\n \r\n 0\r\n (chuẩn) \r\n | \r\n \r\n 0\r\n (chuẩn) \r\n | \r\n \r\n 0\r\n (chuẩn) \r\n | \r\n
\r\n 60 \r\n | \r\n \r\n -3,0\r\n ± 1,0 \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n
\r\n 25 \r\n | \r\n \r\n 0\r\n (chuẩn) \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n
\r\n 20 \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n +6,5\r\n ± 1,0 \r\n | \r\n \r\n +9,0\r\n ± 1,0 \r\n | \r\n \r\n +9,0\r\n ± 1,0 \r\n | \r\n
\r\n 10 \r\n | \r\n \r\n +4,0\r\n ± 1,0 \r\n | \r\n \r\n +10,0\r\n ± 1,5 \r\n | \r\n \r\n +14,0\r\n ± 1,5 \r\n | \r\n \r\n +14,0\r\n ± 1,5 \r\n | \r\n
\r\n 5 \r\n | \r\n \r\n +7,5\r\n ± 1,0 \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n
\r\n 2 \r\n | \r\n \r\n +13,0\r\n ± 2,0 \r\n | \r\n \r\n +20,5\r\n ± 2,0 \r\n | \r\n \r\n +26,0\r\n ± 2,0 \r\n | \r\n \r\n +26,0\r\n ± 2,0* \r\n | \r\n
\r\n 1 \r\n | \r\n \r\n +17,0\r\n ± 2,0 \r\n | \r\n \r\n +22,5\r\n ± 2,0 \r\n | \r\n \r\n +28,5\r\n ± 2,0 \r\n | \r\n \r\n +28,5\r\n ± 2,0* \r\n | \r\n
\r\n Xung\r\n đơn lẻ \r\n | \r\n \r\n +19,0\r\n ± 2,0 \r\n | \r\n \r\n +23,5\r\n ± 2,0 \r\n | \r\n \r\n +31,5\r\n ± 2,0 \r\n | \r\n \r\n +31,5\r\n ± 2,0* \r\n | \r\n
\r\n CHÚ THÍCH 1: Ảnh hưởng của đặc\r\n tính máy thu lên đáp tuyến xung của máy thu được xem xét trong Phụ lục D. \r\nCHÚ THÍCH 2: Quan hệ giữa các đáp\r\n tuyến xung của máy thu tựa đỉnh với các máy thu có các loại bộ tách sóng khác\r\n được cho trong 5.4, 6.4.1 và 7.4.1. \r\nCHÚ THÍCH 3: Đường cong đáp tuyến\r\n xung lý thuyết của máy thu tách sóng tựa đỉnh và máy thu tách sóng trung bình\r\n kết hợp trên một thang đo tuyệt đối được cho trên Hình 1d. Trục tung của Hình\r\n 1d chỉ ra diện tích xung mạch hở, tính bằng dB (mVs) tương ứng với điện áp sóng sin mạch hở là 66 dB (mV) hiệu dụng. Chỉ thị trên máy thu đo có đầu\r\n vào tương thích với máy phát hiệu chuẩn khi đó sẽ là 60 dB (mV). Nếu độ rộng băng tần đo nhỏ hơn tần số\r\n lặp xung thì các đường cong ở Hình 1d là phù hợp khi máy thu được điều hướng\r\n đến một đường rời rạc trên phổ. \r\nCHÚ THÍCH 4: Do có sự xếp chồng của\r\n các xung trong bộ khuếch đại IF nên không thể quy định được đáp tuyến trên\r\n 100 Hz trong dải tần 9 kHz đến 150 kHz. \r\nCHÚ THÍCH 5: Phụ lục A đề cập đến\r\n cách xác định đường cong đáp tuyến với xung lặp. \r\nCHÚ THÍCH 6: Đáp tuyến xung bị\r\n giới hạn do quá tải ở đầu vào máy thu ở tần số trên 300 MHz. Các giá trị được\r\n đánh dấu sao (*) trong bảng này là các giá trị tùy chọn, không phải là thiết\r\n yếu. \r\n | \r\n
4.5.1 Độ chọn lọc trên toàn băng\r\n(băng thông)
\r\n\r\nĐường cong biểu diễn độ chọn lọc\r\ntrên toàn băng của máy thu đo phải nằm trong các giới hạn chỉ ra trên Hình 2a,\r\n2b hoặc 2c.
\r\n\r\nĐộ chọn lọc phải được mô tả bằng sự\r\nbiến đổi biên độ điện áp sóng sin đầu vào theo tần số tạo ra một chỉ thị không\r\nđổi trên máy thu đo.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Để phép đo của thiết bị\r\ncó yêu cầu độ chọn lọc cao hơn ở tần số chuyển tiếp giữa 130 kHz và 150 kHz (ví\r\ndụ, thiết bị phát tín hiệu nguồn lưới như định nghĩa trong EN 50065-11))\r\nthì có thể lắp thêm bộ lọc thông cao trước máy thu đo để có được độ chọn lọc\r\nkết hợp dưới đáy giữa máy thu đo CISPR và bộ chọn thông cao.
\r\n\r\n\r\n Tần\r\n số | \r\n \r\n Độ\r\n suy giảm tương đối | \r\n
\r\n 150 \r\n | \r\n \r\n ≤\r\n 1 \r\n | \r\n
\r\n 146 \r\n | \r\n \r\n ≤\r\n 6 \r\n | \r\n
\r\n 145 \r\n | \r\n \r\n ≥\r\n 6 \r\n | \r\n
\r\n 140 \r\n | \r\n \r\n ≥\r\n 34 \r\n | \r\n
\r\n 130 \r\n | \r\n \r\n ≥\r\n 81 \r\n | \r\n
Máy thu đo kết hợp với bộ lọc thông\r\ncao cần thỏa mãn các yêu cầu của tiêu chuẩn này.
\r\n\r\n4.5.2 Tỷ số loại bỏ tần số trung\r\ngian
\r\n\r\nTỷ số giữa điện áp sóng sin đầu vào\r\nở tần số trung gian và điện áp ở tần số điều hưởng tạo ra cùng một chỉ thị trên\r\nmáy thu đo không được nhỏ hơn 40 dB. Nếu sử dụng nhiều hơn một tần số trung\r\ngian, yêu cầu này phải được thỏa mãn ở từng tần số trung gian.
\r\n\r\n4.5.3 Tỷ số loại bỏ tần số ảnh
\r\n\r\nTỷ số giữa điện áp sóng sin đầu vào\r\nở tần số ảnh và điện áp ở tần số điều hưởng tạo ra cùng một chỉ thị trên máy\r\nthu đo không được nhỏ hơn 40dB. Nếu sử dụng nhiều hơn một tần số trung gian,\r\nyêu cầu này phải được thỏa mãn ở các tần số ảnh hưởng ứng với từng tần số trung\r\ngian.
\r\n\r\nHình\r\n2b - Giới hạn độ chọn lọc trên toàn băng - băng thông (xem 4.5.1, 5.5, 6.5,\r\n7.5) (Băng tần A)
\r\n\r\nHình\r\n2b - Giới hạn độ chọn lọc trên toàn băng - Băng thông (xem 4.5.1, 5.5, 6.5)\r\n(Băng tần B)
\r\n\r\nHình\r\n2c - Giới hạn độ chọn lọc trên toàn băng - băng thông (xem 4.5.1, 5.5, 6.5,\r\n7.5) (Băng tần C và D)
\r\n\r\nHình\r\n2 - Giới hạn độ chọn lọc trên toàn băng.
\r\n\r\n4.5.4 Các đáp tuyến giả khác
\r\n\r\nTỷ số giữa điện áp sóng sin ở đầu\r\nvào tại các tần số không phải là tần số quy định trong 4.5.2 và 4.5.3 và điện áp\r\ntại tần số điều hưởng tạo ra cùng một chỉ thị trên máy thu đo không được nhỏ\r\nhơn 40 dB. Ví dụ về các tần số có thể xuất hiện các đáp tuyến giả là:
\r\n\r\n(1/m)(nfL\r\n± fi) và (1/k)(fo)
\r\n\r\ntrong đó:
\r\n\r\nm,n,k là số nguyên; fi là\r\ntần số trung gian;
\r\n\r\nfL là tần số bộ\r\ndao động nội; fo là tần số điều hưởng.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Nếu sử dụng từ hai tần\r\nsố trung gian trở lên thì tần số fL và fi có thể là một\r\ntrong các tần số trung gian và tần số bộ dao động nội được sử dụng. Ngoài ra,\r\nđáp tuyến giả có thể xuất hiện khi không có tín hiệu đầu vào đặt đến máy thu\r\nđo; ví dụ như khi các hài của bộ dao động nội khác biệt về tần số ở một trong\r\ncác tần số trung gian. Vì thế, các yêu cầu trong 4.5.4 không thể áp dụng trong\r\ntrường hợp xuất hiện các đáp tuyến giả. Ảnh hưởng của các đáp tuyến giả này\r\nđược đề cập trong 4.7.2.
\r\n\r\n4.6 Giới hạn\r\ncủa các hiệu ứng xuyên điều chế
\r\n\r\nĐáp tuyến của máy thu đo không được\r\nbị ảnh hưởng bởi các hiệu ứng xuyên điều chế khi được thử nghiệm như dưới đây.
\r\n\r\nViệc bố trí thiết bị như cho trên\r\nHình 3. Máy phát sung có phổ về cơ bản là đồng nhất đến tần số 3) nhưng ít nhất\r\nlà 10 dB ở tần số 4) của các tần số cho trong Bảng 4. Bộ lọc chặn băng có độ\r\nsuy giảm ít nhất là 40 dB ở tần số thử nghiệm. Độ rộng bằng tần, B6,\r\ncó liên quan đến độ suy giảm lớn nhất của bộ lọc phải nằm trong khoảng các tần\r\nsố 1) và 2) cho trong Bảng 4.
\r\n\r\nĐáp\r\ntuyến
\r\n\r\nα1a\r\n= α2a
\r\n\r\nα1b\r\n= α1a - 40 dB
\r\n\r\nα2b\r\n= α2a - 36 dB
\r\n\r\nHình\r\n3 - Bố trí thiết bị cho thử nghiệm các hiệu ứng xuyên điều chế
\r\n\r\nBảng\r\n4 - Đặc tính độ rộng băng tần dùng cho thử nghiệm xuyên điều chế của máy thu đo\r\ntựa đỉnh
\r\n\r\n\r\n Dải\r\n tần \r\n | \r\n \r\n 1)\r\n kHz \r\n | \r\n \r\n 2)\r\n kHz \r\n | \r\n \r\n 3)\r\n MHz \r\n | \r\n \r\n 4)\r\n MHz \r\n | \r\n
\r\n 9 kHz đến 150 kHz (băng tần A) \r\n | \r\n \r\n 0,4 \r\n | \r\n \r\n 4 \r\n | \r\n \r\n 0,15 \r\n | \r\n \r\n 0,3 \r\n | \r\n
\r\n 0,15 MHz đến 30 MHz (băng tần B) \r\n | \r\n \r\n 20 \r\n | \r\n \r\n 200 \r\n | \r\n \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n 60 \r\n | \r\n
\r\n 30 MHz đến 300 MHz (băng tần C) \r\n | \r\n \r\n 500 \r\n | \r\n \r\n 2\r\n 000 \r\n | \r\n \r\n 300 \r\n | \r\n \r\n 600 \r\n | \r\n
\r\n 300 MHz đến 1 000 MHz (băng tần\r\n D) \r\n | \r\n \r\n 500 \r\n | \r\n \r\n 6\r\n 000 \r\n | \r\n \r\n 1\r\n 000 \r\n | \r\n \r\n 2\r\n 000 \r\n | \r\n
Nối trực tiếp đầu ra của máy phát\r\nsóng sin với đầu vào của máy thu đo và điều chỉnh để có số đọc thích hợp. Thay\r\nthế máy phát sóng sin bằng máy phát xung và điều chỉnh để có cùng số đọc. Tần\r\nsố lặp xung phải là 100 Hz đối với băng tần A và 1 000 Hz đối với các băng tần\r\nkhác.
\r\n\r\nVới máy phát xung được nối như mô\r\ntả trên đây, việc đóng cắt bộ lọc vào mạch phải tạo ra độ suy giảm không nhỏ\r\nhơn 36 dB.
\r\n\r\n4.7 Hạn chế\r\ntạp của máy thu và tín hiệu giả phát sinh bên trong
\r\n\r\n4.7.1 Tạp ngẫu nhiên
\r\n\r\nTạp nền không được gây sai số quá 1\r\ndB.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Điểm mà tại đó tạp nền\r\ngây ra sai số 1 dB có thể tìm thấy bằng cách đặt một tín hiệu S, sao cho số chỉ\r\nthị của dụng cụ đo lớn hơn rất nhiều (ví dụ 40 dB) so với mức tạp N. Bằng cách\r\ngiảm mức tín hiệu S, chỉ số của dụng cụ đo sẽ đạt đến điểm S1, tại\r\nđó (S1 + N) sai lệch so với đặc tính tuyến tính là 1 dB.
\r\n\r\n4.7.2 Sóng liên tục
\r\n\r\nKhi sử dụng hai tần số trung gian\r\ntrở lên, sự tồn tại các đáp tuyến giả như được nêu trong chú thích của 4.5.4\r\nkhông được gây sai số đo quá 1 dB khi có tín hiệu đầu vào bất kỳ đến máy thu\r\nđo. Đối với máy thu đo có suy giảm trong bộ khuếch đại IF, yêu cầu này được coi\r\nlà thỏa mãn nếu máy thu tuân thủ 4.7.1 khi được thử nghiệm như mô tả trong\r\n4.7.1, tuy nhiên độ suy giảm ở các tầng trung gian phải được bù lại sau tần\r\ntrộn cuối cùng.
\r\n\r\n\r\n\r\nHiệu quả chống nhiễu là thước đo\r\nkhả năng của máy thu đo làm việc trong trường điện từ mà không suy giảm chất\r\nlượng. Yêu cầu này áp dụng với các máy thu làm việc trong “phạm vi chỉ thị\r\nCISPR” do nhà chế tạo quy định như mô tả trong 3.9.
\r\n\r\nViệc chống nhiễu của máy thu phải\r\nsao cho khi đặt máy thu trong trường điện từ 3 V/m bao quanh (không điều chế) ở\r\ntần số bất kỳ trong dải tần 9 kHz đến 1 000 MHz, sai số không lớn hơn 1 dB tại\r\ngiá trị lớn nhất và nhỏ nhất của phạm vi chỉ thị CISPR như quy định bởi nhà chế\r\ntạo máy thu. Trong trường hợp máy thu đo không miễn nhiễm với trường điện từ 3\r\nV/m thì nhà chế tạo phải nêu cường độ trường và tần số mà tại đó sai số vượt\r\nquá 1 dB. Thử nghiệm phải được thực hiện như mô tả dưới đây.
\r\n\r\nMáy thu phải được đặt bên trong một\r\nhộp chống nhiễu. Tín hiệu đầu vào phải được đặt vào máy thu qua một cáp có\r\nchống nhiễu tốt dài 2 m (ví dụ như cáp nửa cứng), thông qua ống dẫn trên thành\r\nhộp, đến máy phát tín hiệu đặt bên ngoài hộp. Mức tín hiệu vào phải ở giá trị\r\nlớn nhất và nhỏ nhất của phạm vi chỉ thị CISPR như quy định bởi nhà chế tạo máy\r\nthu. Tất cả các đầu nối đồng trục khác của máy thu phải được đấu theo trở kháng\r\nđặc tính của chúng.
\r\n\r\nChỉ các dây dẫn chính (ví dụ như\r\ncáp nguồn và cáp đầu vào) để sử dụng bình thường máy thu đo theo cấu hình tối\r\nthiểu của nó (không lắp các tùy chọn như các ống nghe) mới được nối vào trong\r\nquá trình thử nghiệm. Các dây dẫn này phải có chiều dài và phải được bố trí như\r\ntrong sử dụng điển hình.
\r\n\r\nCường độ trường bao quanh ở vùng lân\r\ncận máy thu đo phải được đo bằng thiết bị theo dõi cường độ trường.
\r\n\r\nChỉ thị trên đồng hồ đo của máy thu\r\ntrong trường hợp có trường điện tử bao quanh không được sai khác quá 1 dB so\r\nvới chỉ thị trên đồng hồ đo khi không có trường điện từ bao quanh.
\r\n\r\n4.8.1 Giới hạn phát xạ tần số\r\nrađiô từ máy thu đo
\r\n\r\n4.8.1.1 Phát xạ dẫn
\r\n\r\nĐiện áp nhiễu tần số rađiô tại chân\r\nnối bất kỳ của các đường dây ngoài (không chỉ riêng các đầu nối điện lưới)\r\nkhông được vượt quá giới hạn đối với thiết bị cấp B cho trong 5.1 của TCVN 6988\r\n(CISPR 11). Tuy nhiên, không yêu cầu đo điện áp nhiễu tần số rađiô trên các\r\nđường dẫn bên trong có các mạch nối có bọc kim tới thiết bị có chống nhiễu.\r\nCông suất đưa vào máy phát dao động nội ở đầu vào của máy thu đo nối với trở\r\nkháng đặc tính của nó không được vượt quá 34 dB(pW) tương đương với giá trị 50 mV rời trên điện trở 50 W.
\r\n\r\n4.8.1.2 Phát xạ bức xạ
\r\n\r\nCường độ trường nhiễu tần số rađiô\r\ndo máy thu đo phát xạ trong dải tần 9 kHz đến 1 000 MHz không được vượt quá\r\ngiới hạn đối với thiết bị cấp B nêu trong 5.2 của TCVN 6988 (CISPR 11). Các\r\ngiới hạn này cũng áp dụng cho dải tần số (tần số ISM) liệt kê trong Bảng 1 của\r\nTCVN 6988 (CISPR 11). Trong dải tần số 1 GHz đến 18 GHz, phải áp dụng giới hạn\r\n45 dB(pW).
\r\n\r\nTrước khi thực hiện phép đo phát xạ\r\nbức xạ và phát xạ dẫn, cần đảm bảo rằng tạp của thiết bị thử nghiệm (ví dụ điều\r\nkhiển bằng máy tính) không làm ảnh hưởng đến các kết quả đo.
\r\n\r\n4.9 Phương\r\ntiện để nối đến bộ phân tích nhiễu không liên tục
\r\n\r\nĐối với mọi băng tần, máy thu đo\r\nnhiễu phải có cả đầu ra tần số trung gian lẫn đầu ra từ bộ tách sóng tựa đỉnh\r\nđể thực hiện phép đo nhiễu không liên tục. Tải của các đầu ra này không được\r\nlàm ảnh hưởng đến thiết bị chỉ thị.
\r\n\r\n5. Máy thu đo\r\ncó bộ tách sóng đỉnh trong dải tần 9 kHz đến 18 GHz
\r\n\r\nĐiều này qui định các yêu cầu đối\r\nvới máy thu đo sử dụng bộ tách sóng đỉnh để đo nhiễu xung hoặc nhiễu có điều\r\nchế xung.
\r\n\r\nBộ phân tích phổ thỏa mãn các yêu\r\ncầu của điều này có thể được sử dụng trong các phép đo để chứng tỏ sự phù hợp.
\r\n\r\n\r\n\r\nĐầu vào của máy thu đo phải là mạch\r\nkhông cân bằng. Để đặt chế độ điều khiển máy thu trong phạm vi chỉ thị CISPR,\r\ntrở kháng vào phải có giá trị danh nghĩa là 50 W\r\nvới hệ số điện áp sóng đứng không vượt quá các giá trị cho trong Bảng 5.
\r\n\r\nBảng\r\n5 - Yêu cầu về hệ số điện áp sóng đứng (VSWR) đối với trở kháng vào của máy thu
\r\n\r\n\r\n Dải\r\n tần số \r\n | \r\n \r\n Độ\r\n suy giảm RF, dB \r\n | \r\n \r\n VSWR \r\n | \r\n
\r\n 9\r\n kHz đến 1 GHz \r\n | \r\n \r\n 0 \r\n | \r\n \r\n 2,0:1 \r\n | \r\n
\r\n 9\r\n kHz đến 1 GHz \r\n | \r\n \r\n ≥\r\n 10 \r\n | \r\n \r\n 1,2:1 \r\n | \r\n
\r\n 1\r\n GHz đến 18 GHz \r\n | \r\n \r\n 0 \r\n | \r\n \r\n 3,0:1 \r\n | \r\n
\r\n 1\r\n GHz đến 18 GHz \r\n | \r\n \r\n ≥\r\n 10 \r\n | \r\n \r\n 2,0:1 \r\n | \r\n
Khi trở kháng vào đối xứng trong\r\ndải tần 9 kHz đến 30 MHz thì sử dụng biến áp đầu vào cân bằng để thực hiện phép\r\nđo đối xứng (tức là không nối đất). (Trở kháng vào ưu tiên là 600 W đối với dải tần 9 kHz đền 150 MHz). Trở\r\nkháng vào đối xứng có thể lắp trong mạng mô phỏng đối xứng liên quan cần thiết\r\nđể ghép nối với máy thu hoặc lắp tùy chọn trong bản thân máy thu đo.
\r\n\r\n\r\n\r\n5.2.1 Độ rộng băng tần
\r\n\r\nĐối với tất cả các loại nhiễu băng\r\nrộng, giá trị thực của độ rộng băng tần phải được nêu khi đưa ra mức nhiễu và\r\nđộ rộng băng tần nằm trong phạm vi các giá trị cho ở Bảng 6.
\r\n\r\nBảng\r\n6 - Yêu cầu về độ rông băng tần
\r\n\r\n\r\n Dải\r\n tần số \r\n | \r\n \r\n Độ\r\n rộng băng tần B6 \r\n | \r\n \r\n Độ\r\n rộng băng tần chuẩn \r\n | \r\n
\r\n 9 kHz đến 150 kHz (Băng tần A) \r\n | \r\n \r\n 100\r\n Hz đến 300 Hz a \r\n | \r\n \r\n 200\r\n Hz (B6) \r\n | \r\n
\r\n 0,15 MHz đến 30 MHz (Băng tần B) \r\n | \r\n \r\n 8\r\n kHz đến 10 kHz a \r\n | \r\n \r\n 9\r\n kHz (B6) \r\n | \r\n
\r\n 30 MHz đến 1 000 MHz (Băng tần C\r\n và D) \r\n | \r\n \r\n 100\r\n kHz đến 500 kHz a \r\n | \r\n \r\n 120\r\n kHz (B6) \r\n | \r\n
\r\n 1 GHz đến 18 GHz (Băng tần E) \r\n | \r\n \r\n 300\r\n kHz đến 2 MHz a \r\n | \r\n \r\n 1\r\n MHz b (Bimp) \r\n | \r\n
\r\n a Vì đáp tuyến của máy\r\n thu đo đỉnh với xung không xếp chồng tỷ lệ với độ rộng băng tần xung của nó\r\n nên hoặc độ rộng băng tần thực tế được đưa vào kết quả hoặc mức có thể được\r\n đưa ra dưới dạng “tính theo độ rộng băng tần 1 MHz” tính được bằng cách lấy\r\n giá trị đo được chia cho độ rộng băng tần xung, tính bằng MHz (xem 3.2). Đối\r\n với các mẫu nhiễu băng rộng khác, qui trình này có thể gây sai số. Trong\r\n trường hợp có nghi ngờ, ưu tiên các dữ liệu đo được với băng tần chuẩn. \r\nb Độ rộng băng tần\r\n được chọn phải được xác định là độ rộng băng tần xung của máy thu đo với dung\r\n sai ± 10%. \r\n | \r\n
5.2.2 Tỷ số giữa hằng số thời\r\ngian nạp và phóng điện
\r\n\r\nĐể đạt được số đọc trên đồng hồ nằm\r\ntrong khoảng 10% giá trị đúng của đỉnh tại tốc độ lặp 1 Hz, tỷ số giữa hằng số\r\nthời gian phóng điện và hằng số thời gian nạp không được nhỏ hơn các giá trị\r\nnêu dưới đây.
\r\n\r\na) 1,89 x 104 trong dải\r\ntần 9 kHz đến 150 kHz.
\r\n\r\nb) 1,25 x 106 trong dải\r\ntần 150 kHz đến 30 MHz.
\r\n\r\nc) 1,67 x 107 trong dải\r\ntần 30 kHz đến 1 000 MHz.
\r\n\r\nd) 1,34 x 108 trong dải\r\ntần 1 GHz đến 18 GHz.
\r\n\r\nNếu máy thu thử nghiệm có khả năng\r\nduy trì đỉnh thì thời gian duy trì phải điều chỉnh được đến giá trị từ 30 ms\r\nđến 3 s.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đối với máy thu có sử dụng\r\nkỹ thuật duy trì đỉnh (và phóng điện cưỡng bức sau thời gian duy trì) hoặc tách\r\nsóng đỉnh kỹ thuật số thì yêu cầu về tỷ số giữa hằng số thời gian nạp và hằng\r\nsố thời gian phóng điện là không có liên quan. Có thể sử dụng chức năng duy trì\r\nlớn nhất của hiển thị đối với các tín hiệu có biên độ biến đổi theo thời gian.
\r\n\r\nnếu sử dụng bộ phân tích phổ cho\r\ncác phép đo đỉnh thì độ rộng băng tần tín hiệu hình (Bvideo) phải\r\nđược đặt đến giá trị lớn hơn hoặc bằng độ rộng băng tần phân giải (Bres).\r\nĐối với phép đo đỉnh, có thể đọc kết quả từ bộ phân tích phổ với bộ tách sóng\r\nlàm việc ở phương thức tuyến tính hoặc loga.
\r\n\r\n5.2.3 Hệ số quá tải
\r\n\r\nĐối với máy thu đo đỉnh, hệ số quá\r\ntải không cần phải lớn như đối với các loại máy thu đo khác. Với hầu hết các bộ\r\ntách sóng đọc trực tiếp, hệ số quá tải chỉ cần lớn hơn 1 một chút. Hệ số quá\r\ntải phải đủ cho các hằng số thời gian sử dụng (xem 5.2.2).
\r\n\r\n5.3 Độ chính\r\nxác của điện áp sóng sin
\r\n\r\nĐộ chính xác của phép đo điện áp\r\nsóng sin phải tốt hơn ±2 dB (± 2,5 dB đối với các tần số trên 1 GHz) khi cung\r\ncấp tín hiệu sóng sin ở trở kháng nguồn có điện trở 50 W.
\r\n\r\n\r\n\r\nỞ tần số đến 1 000 MHz, đáp tuyến\r\nxung của máy thu đo với các xung có diện tích 1,4/Bimp mVs (trong đó\r\nBimp tính bằng Hz), sức điện động ở trở kháng nguồn 50 W phải bằng đáp tuyến với tín hiệu sóng sin\r\nkhông điều chế tại tần số điều hưởng có sức điện động hiệu dụng là 2 mV [66 dB(mV)]. Trở kháng nguồn của máy phát xung và\r\ncủa máy phát tín hiệu phải như nhau. Các xung phải có phổ đồng nhất theo Bảng\r\n2. Trong mức điện áp sóng sin, dung sai cho phép là ±1,5 dB, và dung sai này là\r\nyêu cầu đối với mọi tần số lặp xung mà tại đó không xuất hiện xung xếp chồng ở\r\nđầu ra của bộ khuếch đại IF.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Phụ lục B và C mô tả\r\ncác phương pháp xác định đặc tính đầu ra của máy phát xung dùng trong thử\r\nnghiệm các yêu cầu củ điều 5.4 này.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Tại tốc độ lặp là 25\r\nHz đối với băng tần A và 100 Hz đối với các băng tần khác, quan hệ giữa các chỉ\r\nsố của máy thu đo đỉnh và máy thu đo tựa đỉnh với độ rộng băng tần ưu tiên được\r\ncho trong Bảng 7.
\r\n\r\nBảng\r\n7 - Đáp tuyến xung tương đối của máy thu đo đỉnh và máy thu đo tựa đỉnh đối với\r\ncùng một độ rộng băng tần (dải tần 9 kHz đến 1 000 MHz)
\r\n\r\n\r\n Tần\r\n số \r\n | \r\n \r\n IS | \r\n \r\n Bimp | \r\n \r\n Tỷ\r\n số đỉnh/tựa đỉnh (dB) đối với tốc độ lặp xung \r\n | \r\n |
\r\n 25\r\n Hz \r\n | \r\n \r\n 100\r\n Hz \r\n | \r\n |||
\r\n Băng tần A \r\n | \r\n \r\n 6,67\r\n x 10-3 \r\n | \r\n \r\n 0,21\r\n x 103 \r\n | \r\n \r\n 6,1 \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n
\r\n Băng tần B \r\n | \r\n \r\n 0,148\r\n x 10-3 \r\n | \r\n \r\n 9,45\r\n x 103 \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n 6,6 \r\n | \r\n
\r\n Băng tần C và D \r\n | \r\n \r\n 0,011\r\n x 10-3 \r\n | \r\n \r\n 126,0\r\n x 103 \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n 12,0 \r\n | \r\n
\r\n CHÚ THÍCH: Đáp tuyến xung trên cơ\r\n sở chỉ sử dụng độ rộng băng tần chuẩn (xem Bảng 6). \r\n | \r\n
Ở tần số trên 1 GHz, cường độ xung\r\nyêu cầu được xác định bằng cách sử dụng sóng mang có điều chế xung ở tần số thử\r\nnghiệm vì máy phát xung có phổ đồng nhất lên đến 18 GHz là không dễ dàng. (xem\r\nE.6)
\r\n\r\n\r\n\r\nVì các yêu cầu về độ rộng băng tần\r\ncủa 5.2.1 có thể khác so với các độ rộng băng tần cho trong Hình 2a, 2b và 2c\r\ncho nên các đường cong chọn lọc này áp dụng cho các máy thu đo đỉnh chỉ liên\r\nquan đến hình dáng, và trục tần số phải có thang đo phù hợp. Ví dụ, B6/2\r\nứng với 100 Hz trên Hình 2a.
\r\n\r\nÁp dụng các yêu cầu của 4.5.2,\r\n4.5.3 và 4.5.4.
\r\n\r\nYêu cầu về độ chọn lọc của máy thu\r\nđo đối với băng tần E đang được xem xét.
\r\n\r\n5.6 Hiệu ứng\r\nxuyên điều chế, tạp máy thu và chống nhiễu
\r\n\r\nĐối với dải tần thấp hơn 1 GHz, áp\r\ndụng các yêu cầu nêu trong 4.6, 4.7 và 4.8. Áp dụng thêm 4.7 và 4.8.1 đối với\r\nbăng tần E.
\r\n\r\nNgoài ra, đối với băng tần E áp\r\ndụng các yêu cầu sau:
\r\n\r\n- Yêu cầu đối với hiệu ứng xuyên\r\nđiều chế đang được xem xét;
\r\n\r\n- Bộ lọc chọn trước đối với băng\r\ntần E: khi đo các tín hiệu giả mức thấp khi có tín hiệu cơ bản cao đối với một\r\nsố thiết bị cần thử nghiệm thì lắp thêm bộ lọc ở đầu vào máy thu đo (bên trong\r\nhoặc bên ngoài) để tạo ra đủ độ suy giảm thích hợp ở tần số cơ bản để bảo vệ\r\nmạch đầu vào của máy thu khỏi bị quá tải và hư hại và để ngăn ngừa việc tạo ra\r\ncác tín hiệu hài và xuyên điều chế.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Thông thường, độ suy\r\ngiảm 30 dB khi có bộ lọc ở tần số cơ bản của thiết bị cần thử nghiệm được coi\r\nlà đủ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Có thể yêu cầu có một\r\nsố bộ lọc khi có nhiều tần số cơ bản.
\r\n\r\nYêu cầu về hiệu quả chống nhiễu,\r\ntức là miễn nhiễm với nhiễu bức xạ cao, đang được xem xét.
\r\n\r\n6. Máy thu đo\r\ncó bộ tách sóng trung bình trong dải tần 9 kHz đến 18 GHz
\r\n\r\nNhìn chung, máy thu đo trung bình\r\nkhông sử dụng cho phép đo nhiễu xung. Loại máy thu này có bộ tách sóng được\r\nthiết kế để thể hiện giá trị trung bình của đường bao tín hiệu đi qua các tầng\r\ntrước bộ tách sóng. Bộ tách sóng trung bình được sử dụng để đo tín hiệu băng\r\nhẹp nhằm khắc phục các vấn đề liên quan đến thành phần điều chế hoặc sự có mặt\r\ncủa nhiễu băng rộng.
\r\n\r\nBộ phân tích phổ thỏa mãn các yêu\r\ncầu của điều này có thể được sử dụng trong các phép đo để chứng tỏ sự phù hợp.
\r\n\r\n\r\n\r\nCổng đầu vào của máy thu đo phải là\r\nmạch không cân bằng. Để đặt chế độ điều khiển máy thu nằm trong phạm vi chỉ thị\r\nCISPR, trở kháng vào phải có giá trị danh nghĩa là 50 W với hệ số điện áp sóng đứng không vượt quá các giá trị cho\r\ntrong Bảng 5.
\r\n\r\nKhi trở kháng vào đối xứng (cân\r\nbằng) trong dải tần 9 kHz đến 150 kHz: Cho phép sử dụng biến áp đầu vào cân\r\nbằng để thực hiện phép đo đối xứng (tức là không nối đất). (Trở kháng vào tốt\r\nnhất là 600 W đối với dải tần 9 kHz đến\r\n150 kHz). Trở kháng vào đối xứng có thể được lắp vào mạng giả đối xứng liên\r\nquan cần thiết để ghép nối với máy thu hoặc được lắp tùy ý trong bản thân máy\r\nthu đo.
\r\n\r\n\r\n\r\nĐộ rộng băng tần phải nằm trong\r\nphạm vi các giá trị cho ở Bảng 8.
\r\n\r\nBảng\r\n8 - Yêu cầu về độ rộng băng tần
\r\n\r\n\r\n Dải\r\n tần số \r\n | \r\n \r\n Độ\r\n rộng băng tần B6 \r\n | \r\n \r\n Độ\r\n rộng băng tần chuẩn \r\n | \r\n
\r\n 9 kHz đến 150 kHz (Băng tần A) \r\n | \r\n \r\n 100\r\n Hz đến 300 Hz a \r\n | \r\n \r\n 200\r\n Hz (B6) \r\n | \r\n
\r\n 150 MHz đến 30 MHz (Băng tần B) \r\n | \r\n \r\n 8\r\n kHz đến 10 kHz a \r\n | \r\n \r\n 9\r\n kHz \r\n | \r\n
\r\n 30 MHz đến 1 000 MHz (Băng tần C\r\n và D) \r\n | \r\n \r\n 100\r\n kHz đến 500 kHz a \r\n | \r\n \r\n 120\r\n kHz (B6) \r\n | \r\n
\r\n 1 GHz đến 18 GHz (Băng tần E) \r\n | \r\n \r\n 300\r\n kHz đến 2 MHz a \r\n | \r\n \r\n 1\r\n MHz b (Bimp) \r\n | \r\n
\r\n a Độ rộng băng tần\r\n được nêu trong E.1. Nếu sử dụng độ rộng băng tần khác với độ rộng băng tần\r\n chuẩn thì phải nêu độ rộng băng tần này khi báo cáo thử nghiệm. \r\nb Độ rộng băng tần\r\n được chọn phải được xác định như trong Bảng 6. \r\n | \r\n
6.2.2 Hệ số quá tải
\r\n\r\nĐối với máy thu đo có bộ tách sóng\r\ntrung bình, hệ số quá tải của mạch đặt trước bộ tách sóng ở tốc độ lặp xung n\r\nHz phải là Bimp/n, với Bimp tính bằng Hz.
\r\n\r\nMáy thu không được quá tải đối với\r\ntốc độ xung lớn hơn hoặc bằng 25 Hz đối với băng tần A, 500 Hz đối với băng tần\r\nB và 5 000 Hz đối với băng tần C và D.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Nhìn chung, đối với loại\r\nmáy thu này, không thể có hệ số quá tải đủ để ngăn ngừa hoạt động không tuyến\r\ntính của máy thu ở tốc độ xung rất thấp (không xác định được đáp tuyến với xung\r\nđơn).
\r\n\r\n6.3 Độ chính\r\nxác của điện áp sóng sin
\r\n\r\nĐộ chính xác của phép đo điện áp\r\nsóng sin phải tốt hơn ±2 dB (± 2,5 dB đối với các tần số trên 1 GHz) khi máy\r\nthu được cung cấp một tín hiệu sóng sin ở trở kháng nguồn có điện trở 50 W.
\r\n\r\n\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Phụ lục B và C mô tả các\r\nphương pháp xác định đặc tính đầu ra của máy phát xung để dùng trong thử nghiệm\r\ncác yêu cầu của điều này trong dải tần thấp hơn 1 GHz.
\r\n\r\n6.4.1 Quan hệ về biên độ
\r\n\r\nBảng\r\n9 - Đáp tuyến xung tương đối với máy thu đo trung bình và tựa đỉnh có cùng độ\r\nrộng băng tần (dải tần 9 kHz đến 1 GHz)
\r\n\r\n\r\n Dải\r\n tần số của máy thu đo \r\n | \r\n \r\n Tỷ\r\n số tựa đỉnh/trung bình (dB) dùng cho tốc độ lặp xung \r\n | \r\n ||||
\r\n 25\r\n Hz \r\n | \r\n \r\n 500\r\n Hz \r\n | \r\n \r\n 500\r\n Hz \r\n | \r\n \r\n 1\r\n 000 Hz \r\n | \r\n \r\n 5\r\n 000 Hz \r\n | \r\n |
\r\n 9 kHz đến 150 kHz (Băng tần A) \r\n | \r\n \r\n 12,4 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
\r\n 0,15 MHz đến 30 MHz (Băng tần B) \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n (32,9) \r\n | \r\n \r\n 22,9 \r\n | \r\n \r\n (17,4) \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
\r\n 30 MHz đến 1 000 MHz (Băng tần C\r\n và D) \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n (38,1) \r\n | \r\n \r\n 26,3 \r\n | \r\n
\r\n CHÚ THÍCH 1: Đáp tuyến xung trên\r\n cơ sở chỉ sử dụng độ rộng băng tần chuẩn (xem Bảng 8) \r\nCHÚ THÍCH 2: Giá trị trong ngoặc\r\n đơn chỉ để tham khảo. \r\n | \r\n
Đối với tần số lớn hơn 1 GHz (băng\r\ntần E), có hai phương thức về bộ tách sóng trung bình (có trọng số): tuyến tính\r\nvà loga;
\r\n\r\nĐối với bộ tách sóng trung bình\r\ntuyến tính, đáp tuyến của máy thu đo với các xung có tốc độ lặp n Hz và có diện\r\ntích xung là 1,4/n mVs sức điện động ở trở kháng nguồn 50 W, phải bằng vói đáp tuyến của tín hiệu sóng\r\nsin không điều chế ở tần số điều hưởng có sức điện động hiệu dụng là 2 mV [66\r\ndB(mV)]. Xung phải được xác định như\r\nsóng mang có điều chế xung. Giá trị n phải là 50 000. Dung sai cho phép là ±1,5\r\ndB tính theo mức điện áp sóng sin.
\r\n\r\nĐối với bộ tách sóng trung bình\r\nloga, đáp tuyến của máy thu đo với các xung có tốc độ lặp 333 kHz (nghịch đảo\r\ncủa chu kỳ 3 ms) và có diện tích xung\r\n6,7 nVs sức điện động ở trở kháng nguồn 50 W\r\nphải bằng với đáp tuyến của tín hiệu sóng sin không điều chế ở tần số điều\r\nhưởng có sức điện động hiệu dụng là 2 mV [66 dB(mV)].\r\nDung sai cho phép là ±4 dB tính theo mức điện áp song sin (10% dung sai của độ\r\nrộng băng tần gây ra sự thay đổi xấp xỉ ±2,5 dB).
\r\n\r\nĐể có thêm thông tin, xme điều E.6.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Tách sóng trung bình\r\ncó thể đạt được bằng bộ phận tích phổ làm việc với độ rộng băng tần tín hiệu\r\nhình Bvideo << Bres để có được giá trị lấy trung\r\nbình thích hợp dựa trên tần số lặp của tín hiệu đo được. Đối với phép đo dựa\r\ntrên việc giảm độ rộng băng tần tín hiệu hình, phải đảm bảo thời gian quét đủ\r\ndài để bộ lọc tín hiệu hình đáp ứng đúng.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Đối với phép đo trung\r\nbình (có trọng số) ở phương thức tuyến tính, kết quả sẽ tương ứng với mức trung\r\nbình của tín hiệu đo được. Nếu sử dụng phương thức loga, kết quả sẽ tương ứng\r\nvới mức trung bình của các giá trị loga của tín hiệu đo được. Do đó, đối với\r\ntín hiệu sóng vuông lấy giá trị 20 dB(mV)\r\nvà 60 dB(mV), mức đạt được ở phương\r\nthức loga là 40 dB(mV), trong khi đó ở\r\nphương thức tuyến tính, mức 54,1 dB(mV)\r\nđại diện cho giá trị trung bình thực của tín hiệu.
\r\n\r\n6.4.2 Sự thay đổi theo tần số\r\nlặp
\r\n\r\nĐáp tuyền với xung lặp của máy thu\r\nđo có bộ tách sóng trung bình tuyến tính phải sao cho, với chỉ số không đổi\r\ntrên máy thu đo, quan hệ giữa biên độ và tần số lặp tuân thủ quy tắc dưới đây:
\r\n\r\nBiên\r\nđộ tỷ lệ nghịch với tần số lặp
\r\n\r\nCho phép dung sai là +3 dB đến -1\r\ndB trong dải tần từ tần số lặp thấp nhất có thể sử dụng được đến tần số B3/2,\r\nnhư đã xác định từ các xem xét quá tải.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đường cong đáp tuyến\r\nxung theo lý thuyết của máy thu tách sóng tựa đỉnh và máy thu tách sóng trung\r\nbình, kết hợp trên một thang đo giá trị tuyệt đối, được thể hiện trên Hình 1d.\r\nĐáp tuyến với xung lặp của máy thụ đo có bộ tách sóng trung bình theo phương\r\nthức loga (ở tần số trên 1 GHz) bị ảnh hưởng bởi mức tạp giữa các xung. Khi sử\r\ndụng các giá trị dưới đây:
\r\n\r\nLlogAv là mức được\r\nchỉ thị trên bộ tách sóng trung bình loga
\r\n\r\nTP là độ rộng\r\nxung
\r\n\r\nLP là mức xung,\r\ntính bằng dB(mV)
\r\n\r\nTN là thời gian\r\ncủa mức tạp
\r\n\r\nLN là mức tạp,\r\ntính bằng dB(mV)
\r\n\r\nthì áp dụng quan hệ gần đúng sau:
\r\n\r\nVí dụ: Nếu mức xung Lp\r\nlà 85 dB(mV), mức tạp LN là\r\n8 dB(mV), Tp = 1/Bimp\r\n= 1 ms, tốc độ xung là 100 000 thì TN\r\n» 9 ms.\r\nTừ công thức này, Llog Av = 15,7 dB(mV).\r\nTrong thực tế, Llog Av có giá trị lớn hơn vì Tp lớn hơn,\r\nbởi vì tín hiệu xung ở đầu ra IF không giảm ngay về mức tạp sau 1 ms.
\r\n\r\nDung sai đang được xem xét.
\r\n\r\n6.4.3 Đáp tuyến với nhiễu băng\r\nhẹp gián đoạn, không ổn định và trôi
\r\n\r\nĐáp tuyến với nhiễu băng hẹp gián\r\nđoạn, không ổn định và trôi phải sao cho kết quả đo tương đương với số đọc đỉnh\r\ncủa đồng hồ đo với hằng số thời gian là 160 ms đối với băng tần A và B và 100\r\nms đối với băng tần C và D, như mô tả trên Hình 5. Hằng số thời gian được xác\r\nđịnh như trong A.3.1. Điều này có thể được thực hiện bằng mạng mô phỏng đồng hồ\r\nđo lắp phía sau bộ tách đường bao sóng của máy thu. Giá trị đọc đỉnh có thể có\r\nđược, ví dụ, bằng cách theo dõi liên tục đầu ra của đồng hồ sử dụng bộ chuyển\r\nđổi A/D và bộ vi xử lý, như thể hiện trên Hình 4.
\r\n\r\nHình\r\n4 - Sơ đồ khối của bộ tách sóng trung bình
\r\n\r\nĐối với băng tần E, hằng số thời\r\ngian của đồng hồ đo đối với bộ tách sóng trung bình tuyến tính là 100 ms. Đối\r\nvới bộ tách trung bình loga, yêu cầu đang được xem xét.
\r\n\r\nTừ yêu cầu trên có thể suy ra là\r\nmáy thu đo trung bình phải tạo ra số đọc lớn nhất được liệt kê trong Bảng 10\r\nđối với tín hiệu đầu vào là sóng sin tần số rađiô được điều chế với các xung\r\nchữ nhật lặp lại có độ rộng xung và chu kỳ xung thể hiện trong bảng. Đối với\r\nyêu cầu này, cho phép dung sai ±1,0 dB.
\r\n\r\nBảng\r\n10 - Số đọc lớn nhất của máy thu đo trung bình đối với đầu vào là sóng sin điều\r\nchế xung khi so sánh với đáp tuyến với sóng sin liên tục có cùng biên độ
\r\n\r\n\r\n Xung\r\n chữ nhật lặp lại để điều chế \r\n | \r\n \r\n Máy\r\n thu băng tầng A/B | \r\n \r\n Máy\r\n thu băng tầng C/D | \r\n
\r\n Độ\r\n rộng xung = TM \r\nChu\r\n kỳ xung = 1,6 s \r\n | \r\n \r\n 0,353\r\n ( = -9,0 dB) \r\n | \r\n \r\n 0,353\r\n ( = -9,0 dB) \r\n | \r\n
\r\n CHÚ THÍCH: Trong băng tần E, yêu\r\n cầu này chỉ áp dụng với bộ tách sóng trung bình tuyến tính \r\n | \r\n
CHÚ THÍCH 1: Đáp tuyến với nhiễu\r\nbăng hẹp gián đoạn có thể được xác định với bộ tách sóng trung bình loga làm\r\nviệc với độ rộng băng tần tín hiệu hình nhất định, ví dụ 10 Hz, và với chức\r\nnăng lưu giữ đường quét cực đại của phổ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Đáp tuyến thể hiện trên\r\nhình do tín hiệu băng hẹp gián đoạn gây ra với độ rộng xung 0,3s và tần số lặp\r\n1 Hz, khi sử dụng hằng số thời gian 100 ms. Nếu hằng số thời gian là 160 ms thì\r\ncác đỉnh ở đầu ra của mạng mô phỏng đồng hồ đo sẽ thấp hơn.
\r\n\r\nHình\r\n5 - Đáp tuyến của mạng mô phỏng đồng hồ đo với tín hiệu băng hẹp gián đoạn
\r\n\r\n\r\n\r\nĐối với máy thu có độ rộng băng tần\r\n200 Hz (trong dải tần 9 kHz đến 150 kHz) hoặc độ rộng băng tần 9 kHz (trong\r\ndải tần 0,15 MHz đến 30 MHz), độ chọn lọc trên toàn băng phải nằm trong phạm vi\r\ngiới hạn thể hiện trên Hình 2c. Đối với máy thu có độ rộng băng tần khác. Hình\r\n2a, 2b và 2c chỉ mô tả hình dạng, còn trục tần số phải có thang đo thích hợp.\r\nĐối với máy thu có băng tần E, độ chọn lọc đang được xem xét.
\r\n\r\nÁp dụng các yêu cầu của 4.5.2,\r\n4.5.3 và 4.5.4.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Để phép đo của thiết bị\r\ncó yêu cầu độ chọn lọc cao hơn ở tần số chuyển tiếp giữa 130 kHz và 150 kHz (ví\r\ndụ, thiết bị phát tín hiệu nguồn lưới như định nghĩa trong EN 50065-1 1))\r\nthì có thể lắp thêm bộ lọc thông cao trước máy thu đo để có được độ chọn lọc\r\nkết hợp dưới đây giữa máy thu đo CISPR và bộ lọc thông cao.
\r\n\r\n\r\n Tần\r\n số | \r\n \r\n Suy\r\n giảm tương đối | \r\n
\r\n 150 \r\n | \r\n \r\n ≤\r\n 1 \r\n | \r\n
\r\n 146 \r\n | \r\n \r\n ≤\r\n 6 \r\n | \r\n
\r\n 145 \r\n | \r\n \r\n ≥\r\n 6 \r\n | \r\n
\r\n 140 \r\n | \r\n \r\n ≥\r\n 34 \r\n | \r\n
\r\n 130 \r\n | \r\n \r\n ≥\r\n 81 \r\n | \r\n
Máy thu đo kết hợp với bộ lọc thông\r\ncao cần thỏa mãn các yêu cầu của tiêu chuẩn này.
\r\n\r\n6.6 Hiệu ứng\r\nxuyên điều chế, tạp máy thu và chống nhiễu
\r\n\r\nÁp dụng các yêu cầu nêu trong 5.6.
\r\n\r\n7. Máy thu đo\r\ncó bộ tách sóng hiệu dụng dùng trong dải tần 9 kHz đến 18 GHz
\r\n\r\nBộ phân tích phổ thỏa mãn các yêu\r\ncầu của điều này có thể được sử dụng trong các phép đo để chứng tỏ sự phù hợp.
\r\n\r\n\r\n\r\nCổng đầu vào của máy thu đo phải là\r\nmạch không cân bằng. Để đặt chế độ điều khiển máy thu trong phạm vi chỉ thị\r\nCISPR, trở kháng vào phải có giá trị danh nghĩa là 50 W với hệ số điện áp sóng đứng không vượt quá các giá trị cho\r\ntrong Bảng 5.
\r\n\r\nKhi trở kháng vào đối xứng (cân\r\nbằng) trong dải tần 9 kHz đến 30 MHz thì sử dụng biến áp đầu vào cân bằng để\r\nthực hiện phép đo đối xứng (tức là không nối đất). (Trở kháng vào ưu tiên là\r\n600 W đối với dải tần 9 kHz đến 150\r\nMHz). Trở kháng vào đối xứng có thể lắp trong mạng mô phỏng đối xứng liên quan\r\ncần thiết để ghép nối với máy thu hoặc lắp tùy chọn trong bản thân máy thu đo.
\r\n\r\n\r\n\r\n7.2.1 Độ rộng băng tần
\r\n\r\nĐộ rộng băng tần phải nằm trong\r\nphạm vi các giá trị cho ở Bảng 11.
\r\n\r\nBảng\r\n11 - Yêu cầu về độ rộng băng tần
\r\n\r\n\r\n Dải\r\n tần số \r\n | \r\n \r\n Độ\r\n rộng băng tần Bo \r\n | \r\n \r\n Độ\r\n rộng băng tần chuẩn \r\n | \r\n
\r\n 9 kHz đến 150 kHz (Băng tần A) \r\n | \r\n \r\n 100\r\n Hz đến 300 Hz a \r\n | \r\n \r\n 200\r\n Hz (B6) \r\n | \r\n
\r\n 0,15 MHz đến 30 MHz (Băng tần B) \r\n | \r\n \r\n 8\r\n kHz đến 10 kHz a \r\n | \r\n \r\n 9\r\n kHz \r\n | \r\n
\r\n 30 MHz đến 1 000 MHz (Băng tần C\r\n và D) \r\n | \r\n \r\n 100\r\n kHz đến 500 kHz a \r\n | \r\n \r\n 120\r\n kHz (B6) \r\n | \r\n
\r\n 1 GHz đến 18 GHz (Băng tần E) \r\n | \r\n \r\n 300\r\n kHz đến 2 MHz a \r\n | \r\n \r\n 1\r\n MHz b (Bimp) \r\n | \r\n
\r\n a Độ rộng băng tần\r\n được nêu trong E.1. Nếu sử dụng độ rộng băng tần khác với độ rộng băng tần\r\n chuẩn thì phải nêu độ rộng băng tần này khi báo cáo thử nghiệm. \r\nb Độ rộng băng tần\r\n được chọn phải được xác định như trong Bảng 6. \r\n | \r\n
7.2.2 Hệ số quá tải
\r\n\r\nĐối với máy thu đo có bộ tách sóng\r\ngiá trị hiệu dụng, hệ số quá tải của mạch đặt trước bộ tách sóng ở tốc độ lặp\r\nxung n Hz phải là 1,27(B3/n)1/2, với B3\r\ntính bằng Hz.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Nói chung, đối với bộ\r\ntách sóng loại này, không thể có hệ số quá tải đủ để ngăn ngừa hoạt động không\r\ntuyến tính của máy thu ở tốc độ xung rất thấp (không xác định được đáp tuyến\r\nvới xung đơn). Trong bất kỳ ứng dụng nào của bộ tách sóng này, cần xác định\r\nđược tốc độ lặp xung nhỏ nhất mà không gây quá tải.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Phụ lục A nêu cách\r\ntính hệ số quá tải.
\r\n\r\n7.3 Độ chính\r\nxác của điện áp sóng sin
\r\n\r\nĐộ chính xác của phép đo điện áp\r\nsóng sin phải tốt hơn ±2 dB (± 2,5 dB đối với các tần số trên 1 GHz) khi máy\r\nthu được cung cấp một tín hiệu sóng sin ở trở kháng nguồn có điện trở 50 W.
\r\n\r\n\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Phụ lục B và C mô tả các\r\nphương pháp xác định đặc tính đầu ra của máy phát xung để dùng trong thử nghiệm\r\ncác yêu cầu của điều này trong dải tần thấp hơn 1 GHz.
\r\n\r\n7.4.1 Quan hệ về biên độ
\r\n\r\nỞ tần số đến 1 000 MHz, bộ tách\r\nsóng giá trị hiệu dụng được xác định như sau: đáp tuyến của máy thu đo ở băng\r\ntần A với các xung có diện tích xung [278 (B3)-1/2] mVs sức điện động (với B3 tính\r\nbằng Hz) ở trở kháng nguồn 50 W có phổ\r\nđồng nhất ít nhất là đến tần số cao nhất có thể điều hưởng được của máy thu,\r\nlặp lại với tấn số 25 Hz, tại mọi tần số điều hưởng, phải bằng đáp tuyến với\r\ntín hiệu sóng sin không điều chế ở tần số điều hưởng có sức điện động hiệu dụng\r\nlà 2 mV [66 dB(mV)].
\r\n\r\nĐối với máy thu đo ở băng tần B, C\r\nvà D, các giá trị tương ứng là [139(B3)-1/2] mVs (với B3 tính bằng Hz) và 100\r\nHz. Trở kháng nguồn của máy phát xung và máy phát tín hiệu phải như nhau. Ở các\r\nmức điện áp sóng sin nêu trên, dung sai cho phép là ±1,5 dB.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Phụ lục A nêu cách tính\r\nđáp tuyến xung của bộ tách sóng hiệu dụng. Tại tần số lặp 25 Hz và 100 Hz,\r\ntương ứng, quan hệ giữa các chỉ số của máy thu đo hiệu dụng và máy thu đo tựa\r\nđỉnh có cùng độ rộng băng tần được cho trong Bảng 12.
\r\n\r\nBảng\r\n12 - Đáp tuyến xung tương đối của máy thu đo hiệu dụng và máy thu đo tựa đỉnh
\r\n\r\n\r\n Dải\r\n tần số của máy thu đo \r\n | \r\n \r\n Tốc\r\n độ lặp xung, Hz \r\n | \r\n \r\n Tỷ\r\n số tựa đỉnh/ hiệu dụng, dB \r\n | \r\n
\r\n 9 kHz đến 150 kHz (Băng tần A) \r\n | \r\n \r\n 25 \r\n | \r\n \r\n 4,2 \r\n | \r\n
\r\n 0,15 MHz đến 30 MHz (Băng tần B) \r\n | \r\n \r\n 100 \r\n | \r\n \r\n 14,3 \r\n | \r\n
\r\n 30 MHz đến 1 000 MHz (Băng tần C\r\n và D) \r\n | \r\n \r\n 100 \r\n | \r\n \r\n 20,1 \r\n | \r\n
\r\n CHÚ THÍCH: Đáp tuyến xung này dựa\r\n trên cơ sở chỉ sử dụng độ rộng băng tần chuẩn (xem Bảng 11). \r\n | \r\n
Đối với tần số trên 1 GHz (Băng tần\r\nE), đáp tuyến của máy thu đo với các xung có tốc độ lặp 1 000 Hz và có diện\r\ntích xung sức điện động tại trở kháng nguồn 50 W\r\nlà (44 (B3)-1/2) mVs, phải\r\nbằng với đáp tuyến của tín hiệu sóng sin không điều chế ở tần số điều hưởng có\r\nsức điện động hiệu dụng là 2 mV [ 66 dB(mV)].\r\nXung phải được xác định như sóng mang có điều chế xung. Để có thêm thông tin,\r\nxem E.6.
\r\n\r\n7.4.2 Sự thay đổi theo tần số\r\nlặp
\r\n\r\nĐáp tuyến với xung lặp của máy thu\r\nđo có bộ tách sóng hiệu dụng phải sao cho, với chỉ số không đổi trên máy thu\r\nđo, quan hệ giữa biên độ và tần số lặp tuân thủ quy tắc dưới đây:
\r\n\r\nBiên\r\nđộ tỷ lệ nghịch với căn bậc hai của tần số lặp
\r\n\r\nĐường cong đáp tuyến đối với máy\r\nthu cụ thể phải nằm trong phạm vi các giới hạn trong Bảng 13.
\r\n\r\nBảng\r\n13 - Đáp tuyến xung của máy thu hiệu dụng
\r\n\r\n\r\n Tần\r\n số lặp \r\nHz \r\n | \r\n \r\n Mức\r\n tương đương tương đối của xung, tính bằng dB \r\n | \r\n |||
\r\n Băng\r\n tần A \r\n | \r\n \r\n Băng\r\n tần B \r\n | \r\n \r\n Băng\r\n tần C và D \r\n | \r\n \r\n Băng\r\n tần E \r\n | \r\n |
\r\n 100000 \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n -20\r\n ± 2,0 \r\n | \r\n
\r\n 10\r\n 000 \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n -20\r\n ± 2,0 \r\n | \r\n \r\n -10±\r\n 1,0 \r\n | \r\n
\r\n 1\r\n 000 \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n -10±\r\n 1,0 \r\n | \r\n \r\n -10±\r\n 1,0 \r\n | \r\n \r\n 0\r\n (chuẩn) \r\n | \r\n
\r\n 100 \r\n | \r\n \r\n -6\r\n ± 0,6 \r\n | \r\n \r\n 0\r\n (chuẩn) \r\n | \r\n \r\n 0\r\n (chuẩn) \r\n | \r\n \r\n -10±\r\n 1,0 \r\n | \r\n
\r\n 25 \r\n | \r\n \r\n 0\r\n (chuẩn) \r\n | \r\n \r\n +6\r\n ± 0,6 \r\n | \r\n \r\n -6\r\n ± 0,6 \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n
\r\n 20 \r\n | \r\n \r\n +1\r\n ± 0,7 \r\n | \r\n \r\n +7\r\n ± 0,7 \r\n | \r\n \r\n +7\r\n ± 0,7 \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n
\r\n 10 \r\n | \r\n \r\n +4\r\n ± 1,0 \r\n | \r\n \r\n +10\r\n ± 1,0 \r\n | \r\n \r\n +10\r\n ± 2,0 \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n
\r\n 2 \r\n | \r\n \r\n +11\r\n ± 1,7 \r\n | \r\n \r\n +17\r\n ± 1,7 \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n
\r\n 1 \r\n | \r\n \r\n +14\r\n ± 2,0 \r\n | \r\n \r\n +20\r\n ± 2,0 \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n \r\n - \r\n | \r\n
Ví yêu cầu độ rộng băng tần của\r\n7.2.1 có khác so với các độ rộng băng tần cho trong hình 2a, 2b và 2c, nên các\r\nđường cong chọn lọc này áp dụng cho máy thu đo hiệu dụng chỉ về mặt hình dạng,\r\ncòn trục tần số phải được chia phù hợp. Ví dụ, B6/2 ứng với 100 Hz\r\ntrên hình 2a. Đối với máy thu đo băng tần E, độ chọn lọc đang được xem xét.
\r\n\r\nÁp dụng các yêu cầu của 4.5.2,\r\n4.5.3 và 4.5.4.
\r\n\r\n7.6 Hiệu ứng\r\nxuyên điều chế, tạp máy thu và chống nhiễu
\r\n\r\nÁp dụng các yêu cầu nêu trong 5.6.
\r\n\r\n8. Máy thu đo\r\ntrong dải tần 1 GHz đến 18 GHz có chức năng đo phân bố xác suất biên độ (APD)
\r\n\r\nPhân bố xác suất biên độ của nhiễu\r\nđược xác định là phân bố lũy tiến của “xác suất theo thời gian mà biên độ nhiễu\r\nvượt quá mức qui định”.
\r\n\r\nAPD có thể được đo tại đầu ra của\r\nbộ tách đường bao sóng hoặc các mạch kế tiếp của máy thu đo tần số rađiô hoặc\r\nbộ phân tích phổ. Biên độ nhiễu cần được thể hiện theo cường độ trường tương\r\nứng hoặc điện áp tại đầu vào máy thu. Thông thường, phép đo APD được thực hiện\r\nở một giá trị tần số cố định.
\r\n\r\nChức năng đo APD là chức năng bổ\r\nsung của thiết bị đo và có thể gắn với hoặc tích hợp trong thiết bị đo.
\r\n\r\nChức năng đo APD có thể được thực\r\nhiện bằng cách sử dụng các phương pháp dưới đây. Một cách tiếp cận sử dụng bộ\r\nso sánh và bộ đếm (Hình G.1). Thiết bị xác định xác suất vượt quá một tập hợp\r\ncác mức biên độ ấn định trước (tức là điện áp). Số lượng các mức bằng với số\r\nlượng bộ so sánh. Một phương pháp khác liên quan đến việc sử dụng bộ chuyển đổi\r\ntương tự - số, mạch logic và bộ nhớ (Hình G.2). Thiết bị cũng có thể cung cấp\r\ngiá trị APD đối với một tập hợp các mức biên độ ấn định trước. Số lượng mức phụ\r\nthuộc vào độ phân giải của bộ chuyển đổi tương tự - số (ví dụ 256 mức đối với\r\nbộ chuyển đổi 8 bít).
\r\n\r\nPhép đo APD sử dụng chức năng nêu\r\ntrên có thể áp dụng cho các sản phẩm hoặc họ sản phẩm nếu cần xác định khả năng\r\nchúng có thể gây nhiễu đến hệ thống thông tin số (xem CISPR 16-3, sửa đổi 1,\r\n4.7).
\r\n\r\nCác yêu cầu kỹ thuật dưới đây áp\r\ndụng cho chức năng APD. Cơ sở của các yêu cầu kỹ thuật này được nêu trong Phụ\r\nlục G.
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật
\r\n\r\na) Dải động của biên độ phải lớn\r\nhơn 60 dB.
\r\n\r\nb) Độ chính xác biên độ, kể cả sai\r\nsố chế độ đặt mức ngưỡng, phải tốt hơn ±2,7 dB.
\r\n\r\nc) Thời gian lớn nhất có thể đo\r\nnhiễu phải dài hơn hoặc bằng 2 min. Có thể sử dụng phép đo gián đoạn nếu thời\r\ngian giữa các phép đo ít hơn 1% tổng thời gian đo.
\r\n\r\nd) Xác suất nhỏ nhất có thể đo phải\r\nlà 10-7.
\r\n\r\ne) Chức năng đo APD phải có khả\r\nnăng ấn định ít nhất là hai mức biên độ. Các xác suất tương ứng với tất cả các\r\nmức ấn định trước phải được đo đồng thời. Độ phân giải của các mức biên độ ấn\r\nđịnh trước tối thiểu phải là 0,25 dB hoặc tốt hơn.
\r\n\r\nf) Tốc độ lấy mẫu phải lớn hơn hoặc\r\nbằng 10 triệu mẫu mỗi giây khi sử dụng độ rộng băng tần phân giải là 1 MHz.
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật khuyến cáo
\r\n\r\ng) Độ phân giải biên độ của hiển\r\nthị APD cần nhỏ hơn 0,25 dB đối với thiết bị APD có bộ chuyển đổi tương tự/số.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Phép đo APD có thể áp\r\ndụng trong dải tần thấp hơn 1 GHz.
\r\n\r\n\r\n\r\nBộ phân tích nhiễu được dùng để tự\r\nđộng đánh giá biên độ, tốc độ và thời gian của nhiễu không liên tục (nháy).
\r\n\r\n‘Nháy’ có các đặc tính dưới đây:
\r\n\r\na) biên độ tựa đỉnh vượt quá giới\r\nhạn tựa đỉnh của nhiễu liên tục;
\r\n\r\nb) thời gian nháy không lớn hơn 200\r\nms;
\r\n\r\nc) khoảng cách giữa nhiễu trước và\r\nnhiễu tiếp sau lớn hơn hoặc bằng 200 ms;
\r\n\r\nMột chỗi các xung ngắn được gọi là\r\nmột nháy nếu khoảng thời gian, được đo từ khi bắt đầu xung đầu tiên đến khi kết\r\nthúc xung cuối cùng, không dài hơn 200 ms và đồng thời thỏa mãn các điểm a) và\r\nc).
\r\n\r\nThông số thời gian được xác định từ\r\nkhi tín hiệu vượt quá mức chuẩn IF của máy thu đo.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Định nghĩa và đánh giá\r\nnháy phù hợp với TCVN 7492-1 : 2005 (CISPR 14-1 : 2005).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Các bộ phân tích hiện\r\nhành được thiết kế để sử dụng với máy thu đo tựa đỉnh thuộc loại làm việc với\r\nmức tín hiệu bên trong được hạn chế. Do vậy, bộ phân tích này có thể không hoàn\r\ntoàn thích hợp với mọi loại máy thu.
\r\n\r\n\r\n\r\na) Bộ phân tích phải có kênh đo\r\nthời gian kéo dài và đo khoảng cách giữa các nhiễu không liên tục; đầu vào của\r\nkênh này phải được nối với đầu ra IF của máy thu đo. Đối với các phép đo này,\r\nchỉ xem xét phần nhiễu vượt quá mức chuẩn IF của máy thu. Độ chính xác của các\r\nphép đo thời gian kéo dài không được xấu hơn ± 5%.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Mức chuẩn IF là giá\r\ntrị đầu ra IF của máy thu đo tương ứng với tín hiệu hình sin không điều chế tạo\r\nra giá trị tựa đỉnh bằng giới hạn đối với các nhiễu liên tục.
\r\n\r\nb) Bộ phân tích phải có kênh để\r\nđánh giá biên độ tựa đỉnh của nhiễu.
\r\n\r\nc) Biên độ trong kênh tựa đỉnh phải\r\nđược đo ở 250 ms sau sườn sau cuối cùng trong kênh IF
\r\n\r\nd) Sự kết hợp cả hai kênh phải phù\r\nhợp về mọi khía cạnh với các yêu cầu của 4.1.
\r\n\r\ne) Bộ phân tích phải có khả năng\r\nthể hiện các thông tin sau đây:
\r\n\r\n- số lượng các nháy có thời gian\r\nkéo dài nhỏ hơn hoặc bằng 200 ms;
\r\n\r\n- thời gian thử nghiệm, tính bằng\r\nphút;
\r\n\r\n- tốc độ của nháy;
\r\n\r\n- sự có mặt của các nhiễu, không\r\nphải nháy, vượt quá giới hạn tựa đỉnh của nhiễu liên tục.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Ví dụ về bộ phân tích\r\nnhiễu nêu ở dạng sơ đồ khối Hình 6.
\r\n\r\nf) Để đánh giá hiệu lực về đặc tính\r\ncơ bản, bộ phân tích nhiễu phải qua được các kiểm tra tính năng với tất cả các\r\ndạng sóng (xung thử nghiệm) trong Bảng 14.
\r\n\r\nHình 7 biểu diễn dưới dạng đồ thị\r\ncác dạng sóng liệt kê trong Bảng 14.
\r\n\r\nHình F.1 thể hiện dưới dạng đồ thị\r\ntất cả các dạng sóng liệt kê trong Bảng F.1 để kiểm tra tính năng của các dạng\r\nsóng ngoại lệ so với định nghĩa nháy theo 4.2.3 của TCVN 7492-1 : 2005 (CISPR\r\n14-1 : 2005).
\r\n\r\nHình\r\n6 - Ví dụ về bộ phân tích nhiễu
\r\n\r\nHình\r\n7 - Biểu diễn bằng biểu đồ các tín hiệu thử nghiệm sử dụng trong thử nghiệm của\r\nbộ phân tích nhiễu để kiểm tra tính năng theo định nghĩa về nháy theo Bảng 14
\r\n\r\nBảng\r\n14 - Thử nghiệm tính năng bộ phân tích nhiễu -
\r\n\r\nCác\r\ntín hiệu thử nghiệm dùng để kiểm tra theo định nghĩa về nháy
\r\n\r\n\r\n Thử\r\n nghiệm số \r\n | \r\n \r\n Thông\r\n số tín hiệu thử nghiệm \r\n | \r\n ||||||
\r\n 1 \r\n | \r\n \r\n 2 \r\n | \r\n \r\n 3 \r\n | \r\n \r\n 4 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n |||
\r\n Biên\r\n độ tựa đỉnh của các xung điều chỉnh riêng lẻ tương đối so với biên độ chuẩn\r\n tựa đỉnh của máy thu đo, dB \r\n | \r\n \r\n Thời\r\n gian xung f được điều chỉnh theo đầu ra tần số trung gian của máy\r\n thu đo, ms \r\n | \r\n \r\n Khoảng\r\n thời gian giữa các xung hoặc tính chu kỳ (đầu ra IF) | \r\n \r\n Đánh\r\n giá bằng độ phân tích \r\n | \r\n \r\n Thể\r\n hiện bằng đồ thị tín hiệu thử nghiệm đo được ở đầu ra IF và tín hiệu tựa đỉnh\r\n gắn liền tương đối so với chỉ thị chuẩn của máy thu đo \r\n | \r\n |||
\r\n Xung\r\n 1 \r\n | \r\n \r\n Xung\r\n 2 \r\n | \r\n \r\n Xung\r\n 1 \r\n | \r\n \r\n Xung\r\n 2 \r\n | \r\n ||||
\r\n 1 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 0,11 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 1\r\n nháy \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 2 a \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 9,5 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 1\r\n nháy \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 3 a \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 190 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 1\r\n nháy \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 4 a \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 1\r\n 333 b \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n không\r\n phải nháy \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 210 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n Không\r\n phải nháy (210 ms) \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 6 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n 180 \r\n | \r\n \r\n Không\r\n phải nháy (240 ms) \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 7 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n 130 \r\n | \r\n \r\n 1\r\n nháy \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 8 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n 210 \r\n | \r\n \r\n 2\r\n nháy \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 9 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 0,11 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n Chu\r\n kỳ 10, tối thiểu 21 xung \r\n | \r\n \r\n Không\r\n phải nháy \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 10 \r\n | \r\n \r\n -2,5 \r\n | \r\n \r\n 25 \r\n | \r\n \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n 265 \r\n | \r\n \r\n 1\r\n nháy \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 11 \r\n | \r\n \r\n 25 \r\n | \r\n \r\n -2,5\r\n c \r\n | \r\n \r\n 190 \r\n | \r\n \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n 1\r\n 034 e \r\n | \r\n \r\n 2\r\n nháy d \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 12 \r\n | \r\n \r\n 25 \r\n | \r\n \r\n -2,5\r\n c \r\n | \r\n \r\n 190 \r\n | \r\n \r\n 30 \r\n | \r\n \r\n 1166\r\n e \r\n | \r\n \r\n 1\r\n nháy \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n a Cần được thực hiện\r\n với mức tạp nền gồm các xung CISPR 200 Hz ở mức thấp hơn 2,5 dB so với mức\r\n ngưỡng tựa đỉnh. Các xung này cần xuất hiện ít nhất 1s trước khi bắt đầu xung\r\n thử nghiệm và kéo dài đến ít nhất 1 s sau khi kết thúc xung thử nghiệm. \r\nQuan sát: \r\n1) Thể hiện bằng đồ thị được thực\r\n hiện với các phép đo đỉnh trong thời gian giữ rất ngắn (< 1 ms) của máy\r\n thu thử nghiệm thể hiện xung 200 Hz. Khi gặp sóng sin có điều chế xung, xung\r\n 200 Hz không còn nhìn thấy nữa (khi nhìn trong đồ thị đối với thử nghiệm số\r\n 3) nhưng vẫn xuất hiện khi có nháy. \r\n2) Các đáp tuyến rất hẹp tại điểm\r\n gốc của các đồ thị là do sự không hoàn chỉnh ban đầu. \r\nb Xung 1,333 s kiểm\r\n tra ngưỡng của máy phân tích đối với các xung chỉ cao hơn mức ngưỡng tựa đỉnh\r\n là 1 dB. \r\nc Mức thấp này phải\r\n được đặt sao cho vượt quá được ngưỡng tần số trung gian nhưng không vượt quá\r\n ngưỡng tựa đỉnh. \r\nd Nếu hai xung này cần\r\n được đo như nhiễu riêng rẽ thì chỉ cần ghi một nháy. \r\ne Các giá trị tương\r\n ứng đối với dải tần số trên 30 MHz đang được xem xét và sẽ được rà soát lại\r\n sau khi xem xét thêm. \r\nf Thời gian tăng của\r\n các xung không được dài hơn 40 ms. \r\n | \r\n
9.2 Phương pháp\r\nthử nghiệm tính hiệu lực của kiểm tra tính năng đối với máy phân tích nháy
\r\n\r\n9.2.1 Yêu cầu cơ bản
\r\n\r\nMáy phân tích nhiễu được nối với\r\nmáy thu đo tựa đỉnh và điều hưởng đến tần số thích hợp.
\r\n\r\nYêu cầu cả tín hiệu sóng liên tục\r\nvà tín hiệu sóng liên tục dạng xung đều ở tần số điều hưởng của máy thu. Yêu\r\ncầu thêm tín hiệu được tạo ra bởi máy phát xung CISPR, như xác định trong Phụ\r\nlục B, với PRF 200 Hz bao trùm độ rộng băng tần máy thu ở tần số điều hưởng đối\r\nvới các thử nghiệm số 2 và số 3.
\r\n\r\nNguồn tín hiệu sóng liên tục dạng\r\nxung phải cung cấp hai xung biến đổi độc lập. Thời gian tăng của các xung không\r\nđược dài hơn 40 ms. Thời gian xung phải\r\nthay đổi được trong phạm vi từ 110 ms\r\nđến 1,3 s và biên độ thay đổi trong dải 44 dB. Tạp nền bất kỳ của nguồn tín\r\nhiệu sóng liên tục dạng xung ít nhất phải thấp hơn 20 dB so với mức chuẩn sử\r\ndụng trong bước a) trong thử nghiệm được đo trên đồng hồ đo tựa đỉnh của máy\r\nthu đo.
\r\n\r\nQuy trình thử nghiệm như dưới đây:
\r\n\r\na) Tín hiệu sóng liên tục được nối\r\nvới đầu vào của máy thu đo sử dụng kết hợp với máy phân tích nhiễu. Biên độ của\r\ntín hiệu sóng liên tục được điều chỉnh để đưa số chỉ của đồng hồ đo đến điểm\r\nchuẩn (điểm không) trên thang của đồng hồ đo của máy thu đo bằng với giá trị\r\ntương đồng với giới hạn tựa đỉnh đối với nhiễu liên tục. Cơ cấu điều khiển (bộ\r\nsuy giảm) độ nhạy tần số rađiô của máy thu được điều chỉnh đến mức cao hơn tạp\r\ncủa máy thu nhưng thấp hơn giới hạn nhiễu liên tục được sử dụng làm ngưỡng\r\ntrong kênh IF. Mức tương ứng của tín hiệu sóng liên tục ở đầu ra IF của máy thu\r\nlà mức chuẩn IF.
\r\n\r\nb) Tín hiệu sóng liên tục dạng xung\r\nđược nối với đầu vào của máy thu đo. Đối với thử nghiệm số 2 và số 3, tín hiệu\r\ntừ máy phát xung CISPR được cộng thêm vào tín hiệu sóng liên tục dạng xung. Các\r\ntham số tín hiệu được cho trong Bảng 14. Biên độ của các xung thể hiện trong\r\ncột 1 của Bảng 14 được điều chỉnh riêng rẽ theo số chỉ của giới hạn (tựa đỉnh)\r\nđối với nhiễu liên tục được sử dụng làm ngưỡng của kênh IF. Các mức này phải\r\nqui về mức chuẩn tần số rađiô và mức chuẩn IF thiết lập trong điểm a).
\r\n\r\n9.2.2 Yêu cầu bổ sung
\r\n\r\nPhương pháp thử nghiệm giống với\r\nphương pháp thử nghiệm mô tả trong 9.2.1 a).
\r\n\r\nTham số tín hiệu được cho trong\r\nBảng F.1.
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
(qui\r\nđịnh)
\r\n\r\nXác định đáp tuyến xung lặp của máy thu đo tựa\r\nđỉnh và máy thu đo hiệu dụng
\r\n\r\n(3.2,\r\n4.4.2, 7.2.2 và 7.4.1)
\r\n\r\nA.1 Quy định chung
\r\n\r\nPhụ lục này đưa ra các dữ liệu để\r\ntính toán bằng số và thủ tục để thiết lập đường cong đáp tuyến với xung lặp.\r\nCác giả thiết gắn với phương pháp này cũng được nêu. Việc tính toán được chia\r\ntheo ba tầng kế tiếp nhau.
\r\n\r\nA.2 Đáp tuyến của tầng trước bộ\r\ntách sóng
\r\n\r\nNói chung, đáp tuyến xung của tầng\r\nnày chỉ được xác định bằng tầng IF là tầng quyết định độ chọn lọc trên toàn\r\nbăng của máy thu.
\r\n\r\nThông thường, coi như độ chọn lọc\r\nnày có thể có được bằng sự kết hợp hai biến thế điều hưởng ghép tới hạn đặt\r\nthành tầng sao cho tạo được băng thông mong muốn ở điểm -6 dB. Mọi bố trí tương\r\nđương khác có thể được giản lược theo cách bố trí nêu trên để tính toán. Tính\r\nđối xứng thực tế của băng thông này cho phép sử dụng bộ lọc thông thấp tương\r\nđương để tính đường bao của đáp tuyến xung. Sai số do phép tính gần đúng này là\r\nkhông đáng kể.
\r\n\r\nĐường bao của đáp tuyến xung được\r\nviết:
\r\n\r\n (A.1a)
trong đó:
\r\n\r\nG là hệ số khuếch đại tổng\r\nở tần số điều hưởng;
\r\n\r\n là\r\ntần số góc có giá trị là (
) B6.
Từ công thức (A.1a), đường bao đáp\r\ntuyến của hai biến thế điều hưởng ghép tới hạn với diện tích xung là:
(A.1b)
Với <<1/
, đường cong chọn lọc tương ứng của bộ\r\nlọc thông thấp tương đương có thể được viết:
(A.2)
trong đó .
Độ rộng băng tần B3 và B6\r\nsẽ là:
\r\n\r\n (A.3a)
(A.3b)
Độ rộng băng tần hiệu lực của một\r\nmáy thu có chứa một bộ lọc có đáp tuyến chữ nhật lý tưởng tạo ra cùng một giá\r\ntrị hiệu dụng của đáp tuyến như máy thu thực, bằng với độ rộng băng tần công\r\nsuất được xác định là :
(A.4)
trong đó:
\r\n\r\nF(f) là đường cong chọn lọc;
\r\n\r\nFo là giá trị\r\nlớn nhất của F(f) (giả thiết đường cong chọn lọc có một đỉnh).
\r\n\r\nVới Fo = 1, độ rộng băng\r\ntần công suất là:
\r\n\r\n (A.5)
Lấy F(f) từ công thức (A.2) và đặt\r\nG =1, ta có:
\r\n\r\n (A.6)
từ đó:
\r\n\r\n (A.7)
vậy:
\r\n\r\nB3\r\n= 0,963 ∆f (A.8)
\r\n\r\nA.3 Đáp tuyến của bộ tách sóng\r\nvôn mét tựa đỉnh với đầu ra tầng trước
\r\n\r\nViệc tính toán được thực hiện dựa\r\ntrên giả thiết là việc nối mạch của bộ tách sóng với đầu ra của tầng IF phía\r\ntrước không ảnh hưởng đến biên độ hoặc hình dạng của tín hiệu từ đó. Nói cách\r\nkhác, trở kháng ra của tầng này được coi là không đáng kể so với trở kháng vào\r\ncủa bộ tách sóng.
\r\n\r\nBộ tách sóng bất kỳ có thể được\r\ngiản lược theo cấu trúc (thực tế hoặc tương đương) gồm phần tử phi tuyến (ví dụ\r\nnhư một điốt) lắp với một điện trở (tổng điện trở vượt trước S) và tiếp đến là\r\nmột mạch chứa tụ điện C mắc song song với điện trở phóng điện R.
\r\n\r\nHằng số thời gian nạp Tc\r\nliên quan với tích SC, còn hằng số thời gian phóng TD được cho bởi\r\ntích RC.
\r\n\r\nQuan hệ giữa TC và tích\r\nSC sẽ được thiết lập bằng cách thông thường, nếu trong một thời gian t = Tc,\r\nđặt đột ngột tín hiệu RF biên độ không đổi thì điện áp chỉ thị bằng 0,63 lần\r\ngiá trị ổn định cuối.
\r\n\r\nĐiện áp U trên tụ điện có liên quan\r\nđến biên độ A của tín hiệu RF đặt vào bộ tách sóng theo công thức:
\r\n\r\n (A.9)
trong đó là\r\ngóc dẫn ( U = A cos
)
Công thức này không thể tích phân\r\ntrực tiếp. Giá trị của tích SC, ứng với các hằng số thời gian được chọn thỏa\r\nmãn các điều kiện nêu trên, tìm được bằng phương pháp gần đúng, ví dụ:
\r\n\r\n\r\n trong băng tần A: \r\n | \r\n \r\n Tc \r\n | \r\n \r\n = \r\n | \r\n \r\n 45ms \r\n | \r\n
\r\n \r\n | \r\n \r\n TD \r\n | \r\n \r\n = \r\n | \r\n \r\n 500\r\n ms \r\n | \r\n
\r\n \r\n | \r\n \r\n 2,81SC \r\n | \r\n \r\n = \r\n | \r\n \r\n 1 ms \r\n | \r\n
\r\n trong băng tần B: \r\n | \r\n \r\n Tc \r\n | \r\n \r\n = \r\n | \r\n \r\n 1 ms \r\n | \r\n
\r\n \r\n | \r\n \r\n TD \r\n | \r\n \r\n = \r\n | \r\n \r\n 160\r\n ms \r\n | \r\n
\r\n \r\n | \r\n \r\n 3,95 SC \r\n | \r\n \r\n = \r\n | \r\n \r\n 1 ms \r\n | \r\n
\r\n trong băng tần C và D: \r\n | \r\n \r\n Tc \r\n | \r\n \r\n = \r\n | \r\n \r\n 1 ms \r\n | \r\n
\r\n \r\n | \r\n \r\n TD \r\n | \r\n \r\n = \r\n | \r\n \r\n 550\r\n ms \r\n | \r\n
\r\n \r\n | \r\n \r\n 4,07SC \r\n | \r\n \r\n = \r\n | \r\n \r\n 1ms \r\n | \r\n
Từ đó, đưa giá trị thu được vào\r\ncông thức (A.9), công thức này có thể tính được cho xung tách biệt hoặc xung\r\nlặp (cũng bằng phương pháp gần đúng) bằng cách thay hàm số A(t) trong công thức\r\n(A.1) của điều A.2 bằng biên độ không đổi A.
\r\n\r\nTrường hợp với xung lặp có thể tính\r\nđược bằng cách giả định một mức điện áp đầu ra nào đó của bộ tách sóng ở lúc\r\nbắt đầu của mỗi xung, xác định số gia của\r\nđiện áp này do xung gây ra, và sau đó tìm khoảng cách phải tồn tại giữa hai\r\nxung liên tiếp để lặp lại các điều kiện giả định ban đầu.
A.3.1 Đáp tuyến của thiết bị chỉ\r\nthị với tín hiệu từ bộ tách sóng
\r\n\r\nTuy đơn giản nhưng hoàn toàn hợp lý\r\nlà giả thiết phần tăng điện áp đầu ra của bộ tách sóng là tức thời.
\r\n\r\nKhi đó giải phương trình đặc trưng\r\ndưới đây:
\r\n\r\n (A.10)
trong đó
\r\n\r\n là\r\nđộ lệch của thiết bị đo;
TD là hằng số\r\nthời gian phóng điện của vôn mét tựa đỉnh;
\r\n\r\nTM là hằng số\r\nthời gian cơ học của thiết bị đo dao động tắt dẫn tới hạn.
\r\n\r\nCách giải quyết vấn đề tương đối\r\nđơn giản đối với hai cực bên của đường cong đáp tuyến; một mặt, cho các xung đủ\r\ntách biệt để điểm bắt đầu là “không” và do vậy đã biết, còn mặt khác, cho các\r\nxung có tốc độ lặp đủ cao để quán tính của thiết bị đo ngăn ngừa được việc dao\r\nđộng theo. Ở các vị trí trung gian, việc tính toán trở nên phức tạp hơn. Tại\r\nđiểm bắt đầu của mỗi xung, sai lệch của thiết bị đo thay đổi và cần phải tìm\r\ngiải pháp có tính đến vị trí và tốc độ ban đầu.
\r\n\r\nA.4 Đáp tuyến của bộ tách sóng\r\nhiệu dụng với điện áp ra của tầng trước
\r\n\r\nTheo định nghĩa, điện áp ra của bộ\r\ntách sóng hiệu dụng được cho bởi:
\r\n\r\n (A.11)
trong đó
\r\n\r\nn là tần số lặp xung, tính bằng\r\nHéc.
\r\n\r\nĐầu ra có thể được suy ra từ đường\r\ncong đáp tuyến tần số:
\r\n\r\n (A.12)
trong đó:
\r\n\r\nlà\r\ndiện tích xung có phổ tần số đồng nhất.
Từ đó suy ra:
\r\n\r\n (A.13)
Từ công thức (A.5), suy ra:
\r\n\r\n (A.14)
Từ công thức (A.14), có thể suy ra\r\nquan hệ biên độ bằng cách lấy:
\r\n\r\nUms\r\n= 2 mV, khi n = 100 Hz
\r\n\r\ndo đó:
\r\n\r\n = (100
) /\r\n
(mVs) (A.15)
hoặc từ công thức (A.8):
\r\n\r\n = 139 /
(mVs) (A.16)
A.4.1 Tính hệ số quá tải
\r\n\r\nHệ số quá tải tương ứng với tần số\r\nlặp xung n Hz được tính như sau:
\r\n\r\nTừ công thức (A.14):
\r\n\r\ntừ công thức (A.1), và với G = 1:
\r\n\r\nA(t)đỉnh\r\n= 0,944 x
do đó hệ số quá tải:
\r\n\r\nA(t)đỉnh\r\n/ (A.17)
A.5 Quan hệ giữa chỉ số của\r\nthiết bị đo hiệu dụng và thiết bị đo tựa đỉnh
\r\n\r\nQuan hệ biên độ đối với thiết bị đo\r\nhiệu dụng thể hiện giá trị của xung ()rms\r\ntrong trường hợp 100 Hz, tương đương với tín hiệu sóng sin 2 mV là , từ công\r\nthức (A.16):
()rms = 139 /
(mVs)
Đối với đặc tính chọn lọc nêu trong\r\ncông thức (A.2), công thức này tương đương với:
\r\n\r\n()rms = 155 / (mVs)
khi chuẩn được lấy theo độ rộng\r\nbăng tần ở 6 dB.
\r\n\r\nĐối với máy thu tựa đỉnh, giá trị\r\nxung ()qp tương đương với tín\r\nhiệu sóng sin 2 mV là:
đối với dải tần 0,15 MHz đến 30\r\nMHz:
\r\n\r\n()qp = 0,316 mVs
đối với dải tần 30 MHz đến 1 000\r\nMHz:
\r\n\r\n()qp = 0,044 mVs
Do đó, đối với máy thu đo có đặc\r\ntính băng thông theo công thức (A.2) và độ rộng băng tần ở 6 dB bằng độ rộng\r\nbăng tần nêu ở điều 4, 5, 6 và 7, quan hệ ()rms/(
)qp được thể hiện như sau:
đối với dải tần 0,15 MHz đến 30\r\nMHz:
\r\n\r\n()rms/(
)qp =14,3 dB
đối với dải tần 30 MHz đến 1 000\r\nMHz:
\r\n\r\n()rms/(
)qp =20,1 dB
Quan hệ này có giá trị đối với tần\r\nsố lặp xung là 100 Hz. Tại các tần số lặp khác, cần phải sử dụng đường cong đáp\r\ntuyến xung tương ứng.
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
(qui\r\nđịnh)
\r\n\r\nXác định phổ của máy phát xung
\r\n\r\n(4.4,\r\n5.4, 6.4 và 7.4)
\r\n\r\nB.1 Máy phát xung
\r\n\r\nMáy phát xung cần cho việc kiểm tra\r\nsự phù hợp với các yêu cầu của tiêu chuẩn này. Sự phù hợp với các yêu cầu của\r\n4.4, 4.6, 5.4, 6.4 và 7.4 có thể kiểm tra được bằng cách sử dụng kỹ thuật máy\r\nphát xung.
\r\n\r\nĐối với mỗi băng tần của máy thu đo\r\ncần thử nghiệm, máy phát xung được sử dụng phải có khả năng phát các xung có\r\ndiện tích qui định và trên dải tần số lặp nêu trong Bảng B.1. Diện tích xung\r\ncần nằm trong phạm vi ±0,5 dB và tần số lặp nằm trong khoảng 1%.
\r\n\r\nBảng\r\nB.1 - Đặc tính của máy phát xung
\r\n\r\n\r\n Băng\r\n tần của máy thu cần thử nghiệm \r\n | \r\n \r\n Diện\r\n tích xung | \r\n \r\n Tần\r\n số lặp | \r\n
\r\n 0,09\r\n MHz đến 0,15 MHz \r\n | \r\n \r\n 13,5 \r\n | \r\n \r\n 1,\r\n 2, 5, 10, 25, 60, 100 \r\n | \r\n
\r\n 0,15\r\n MHz đến 30 MHz \r\n | \r\n \r\n 0,316 \r\n | \r\n \r\n 1,\r\n 2, 10, 20, 100, 1 000 \r\n | \r\n
\r\n 30\r\n MHz đến 300 MHz \r\n | \r\n \r\n 0,044 \r\n | \r\n \r\n 1,\r\n 2, 10, 20, 100, 1 000 \r\n | \r\n
\r\n 300\r\n MHz đến 1 000 MHz \r\n | \r\n \r\n (xem\r\n chú thích) \r\n | \r\n \r\n 1,\r\n 2, 10, 20, 100, 1 000 \r\n | \r\n
\r\n CHÚ THÍCH: Máy phát xung phải có\r\n khả năng tạo ra các xung có diện tích xung thích hợp với phổ đến 1000 MHz\r\n càng đồng nhất càng tốt. \r\n | \r\n
B.1.1 Phổ của xung được tạo ra
\r\n\r\nPhổ được xác định bởi đường cong là\r\nhàm số của tần số điều hưởng của máy thu cần thử nghiệm, qui luật biến đổi điện\r\náp tương đương ở đầu vào thiết bị đo có độ rộng băng tần không đổi.
\r\n\r\nPhổ về cơ bản phải không đổi đến\r\ngiới hạn trên của băng tần của máy thu cần thử nghiệm. Phổ có thể coi là đồng\r\nnhất một cách thỏa đáng nếu, trong phạm vi băng tần này, sự thay đổi biên độ\r\nphổ không lớn hơn 2 dB so với giá trị ở tần số thấp hơn thuộc băng tần. Diện\r\ntích xung ở tần số đo phải nằm trong khoảng ± 0,5 dB.
\r\n\r\nĐể kiểm tra sự phù hợp với các yêu\r\ncầu của 4.6, phổ cao hơn giới hạn trên của băng tần phải được giới hạn (giảm đi\r\n10 dB ở hai lần tần số giới hạn trên). Cần tiêu chuẩn hóa mức khắc nghiệt của\r\nthử nghiệm vì kết quả xuyên điều chế giữa tất cả các thành phần phổ sẽ gộp vào\r\nđáp tuyến.
\r\n\r\nB.2 Phương pháp đo chung
\r\n\r\nPhương pháp để xác định chính xác\r\ngiá trị tuyệt đối biên độ phổ của xung được nêu trong Phụ lục C. Đối với phép\r\nđo sự thay đổi biên độ phổ theo tần số, có thể sử dụng phương pháp sau đây.
\r\n\r\nMáy phát xung được nối đến đầu vào\r\ncủa máy thu RF tiếp sau là một máy hiện sóng được nối để chỉ thị xung RF ở đầu\r\nra của máy thu.
\r\n\r\nTại mỗi tần số điều hưởng của máy\r\nthu, đo các giá trị sau:
\r\n\r\na) độ rộng băng tần, B6\r\nHz, của máy thu ở điểm -6 dB,
\r\n\r\nb) giá trị hiệu dụng, Eo\r\ncủa đầu ra từ máy phát tín hiệu tiêu chuẩn có cùng trở kháng với máy phát xung,\r\nđiều hưởng đến điểm giữa băng của máy thu và gây ra trên máy hiện sóng sai lệch\r\nbiên độ bằng đỉnh của xung RF.
\r\n\r\nBiên độ phổ tương ứng tại từng tần\r\nsố được lấy là:
\r\n\r\n = Eo/B6
Phép đo được lặp lại với các tần số\r\nthử nghiệm khác nhau trong băng tần cần xét.
\r\n\r\nPhổ của máy phát xung được cho bởi\r\nđường cong liên quan đến tần số đo.
Máy thu sử dụng cần tuyến tính ở\r\nmức đỉnh của tín hiệu sử dụng.
\r\n\r\nMức triệt đáp tuyến ký sinh, đặc\r\nbiệt là đáp tuyến tần số ảnh và đáp tuyến IF ít nhất phải là 40 dB.
\r\n\r\nPhép đo có thể được tiến hành với\r\nmáy thu tuân thủ yêu cầu kỹ thuật hiện hành, sử dụng bộ chỉ thị tựa đỉnh thay\r\ncho máy hiện sóng, với điều kiện là tần số lặp của xung được giữ không đổi\r\ntrong chuỗi các phép đo.
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
(qui\r\nđịnh)
\r\n\r\nPhép đo chính xác đầu ra của máy phát xung nanô\r\ngiây
\r\n\r\n(4.4,\r\n5.4, 6.4 và 7.4)
\r\n\r\nC.1 Phép đo diện tích xung (IS)
\r\n\r\nC.1.1 Qui định chung
\r\n\r\nNghiên cứu lý thuyết và thực tế cho\r\nthấy rằng, khi áp dụng có sự chú ý hợp lý, phương pháp đo chính xác bao gồm các\r\nphương pháp nêu trong C.1.2 đến C.1.5.
\r\n\r\nC.1.2 Phương pháp diện tích
\r\n\r\nCho xung cần đo đi qua bộ lọc băng\r\nhẹp có dải thông có tần số trung tâm f với đặc tính biên độ đối xứng và đặc\r\ntính pha không đối xứng (khi nối với bộ lọc, có thể sử dụng bộ khuếch đại với\r\nđiều kiện là bộ khuếch đại làm việc trong dải tuyến tính của nó).
\r\n\r\nĐo toàn bộ diện tích bên dưới đường\r\nbao A(t,f) của đầu ra từ bộ lọc thông dải (có tính đến dấu của các phần khác\r\nnhau của diện tích), sao cho tính được tích phân theo công thức:
\r\n\r\ntrong đó S(f) là mật độ phổ và\r\nA(t,f) là độ lớn của đường bao do một xung đơn tách biệt (được biểu diễn dưới\r\ndạng điện áp sóng sin đầu vào tương đương).
\r\n\r\nKhi áp dụng công thức này, bộ\r\nkhuếch đại tần số trung gian của máy thu tần số thấp hoặc máy thu đo nhiễu được\r\nsử dụng cùng với một dãy bộ chuyển đổi tần số để điều hưởng ngang qua phổ của\r\nxung. Đầu ra của bộ khuếch đại tần số trung gian cuối được đưa trực tiếp đến\r\nmáy hiện sóng để đo diện tích.
\r\n\r\nĐối với xung có độ rộng xung nhỏ\r\nhơn nhiều so với chu kỳ của tần số (f), diện tích xung có thể đo trực tiếp như\r\nmột diện tích tích phân bằng máy hiện sóng phù hợp (ví dụ, đối với các xung\r\nnanô giây, cần sử dụng máy hiện sóng lấy mẫu), khi tích phân có tính đến dấu\r\ncủa các phần khác nhau của diện tích này.
\r\n\r\nC.1.3 Phương pháp đường truyền\r\ntiêu chuẩn
\r\n\r\nĐường truyền có chiều dài tương ứng\r\nvới thời gian truyền và nạp đến điện áp Vo\r\nrồi phóng điện qua điện trở tải bằng trở kháng đặc tính của đường truyền. Đường\r\ntruyền được coi là gồm có đường dây thực tế cộng với đoạn dây nạp điện nằm\r\ntrong hộp đóng cắt. Có thể nhận thấy rằng mật độ phổ, S(f), có giá trị
trong phần phổ tần số thấp của xung\r\ntạo ra, trong đó biên độ không đổi theo tần số, biên độ này không phụ thuộc vào\r\nsự tồn tại của trở kháng tạp tán giữa đường dây và điện trở tải (ví dụ như cuộn\r\ncảm hoặc điện trở) hoặc vào thời gian đóng cắt có hạn.
C.1.4 Phép đo hài
\r\n\r\nPhương pháp này có thể áp dụng đối\r\nvới máy phát xung để tạo ra các xung liên tiếp có tần số lặp đủ cao và ổn định.
\r\n\r\nKhi tần số lặp xung F vượt quá giá\r\ntrị độ rộng băng tần của máy thu đo, thì máy đo có thể chọn một vạch từ phổ của\r\nxung. Trong trường hợp này, diện tích xung có thể được xác định như sau:
\r\n\r\ntrong đó là\r\ngiá trị đỉnh của hài bậc K.
Khi đó, máy phát xung có thể được\r\ndùng để hiệu chuẩn các đặc tính đáp tuyến xung của máy thu đo có độ rộng băng\r\ntần đủ rộng để chấp nhận nhiều thành phần hài (khoảng 10 hoặc nhiều hơn trong\r\nphạm vi độ rộng băng tần 6 dB).
\r\n\r\nC.1.5 Phương pháp năng lượng
\r\n\r\nMột phương pháp khác so sánh công\r\nsuất do nguồn nhiệt (điện trở) tạo ra với công suất do máy phát xung tạo ra.\r\nTuy nhiên, độ chính xác theo phương pháp này có phần kém hơn ba phương pháp đề\r\ncập ở trên. Phương pháp này có thể thích hợp ở các tần số khoảng 1 000 MHz.
\r\n\r\nC.2 Phổ của máy phát xung
\r\n\r\nC.2.1 Để xác định sự phù hợp\r\nvới 4.4.1, 5.4, 6.4.1 và 7.4.1, sai số của diện tích xung không được lớn hơn\r\n±0,5 dB.
\r\n\r\nC.2.2 Tần số lặp xung phải\r\ncó sai số không lớn hơn 1%.
\r\n\r\nC.2.3 Để xác định sự phù hợp\r\nvới 4.4.2, 5.4, 6.4.2 và 7.4.2, diện tích xung không được phụ thuộc vào tần số\r\nlặp của nó.
\r\n\r\nC.2.4 Để xác định sự phù hợp\r\nvới 4.4, 5.4, 6.4 và 7.4, phổ tần số của máy phát xung cần đồng nhất trên toàn\r\nbộ băng thông của máy thu đo. Yêu cầu này được coi là thỏa mãn trong các trường\r\nhợp sau nếu:
\r\n\r\na) sự thay đổi của phổ tần số về cơ\r\nbản là tuyến tính đối với tần số nằm trong băng thông tần số của máy thu, và độ\r\nkhông đều của phổ không vượt quá 0,5 dB trong phạm vi băng thông của máy thu\r\nđược đo ở điểm -6 dB;
\r\n\r\nb) phổ tần số thu hẹp dần ở cả hai\r\nphía từ tần số điều hưởng đến máy thu, và độ rộng phổ ở điểm -6 dB lớn hơn ít\r\nnhất là 5 lần so với băng thông của máy thu ở mức đó.
\r\n\r\nTrong cả hai trường hợp, coi diện\r\ntích xung bằng giá trị của nó tại tần số điều hưởng.
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
(qui\r\nđịnh)
\r\n\r\nẢnh hưởng của các đặc tính máy thu đo tựa đỉnh\r\nlên đáp tuyến xung của nó
\r\n\r\n(4.4.2)
\r\n\r\nMức của đường cong đáp tuyến xung\r\nđối với tần số lặp cao phụ thuộc chủ yếu vào độ lớn của độ rộng băng tần. Mặt\r\nkhác, đối với tần số lặp thấp, hằng số thời gian đóng vai trò quan trọng hơn.\r\nChưa có qui định về dung sai đối với các hằng số thời gian này nhưng giá trị\r\n20% được khuyến cáo là phù hợp.
\r\n\r\nTại tần số lặp rất thấp, ảnh hưởng\r\ncủa việc không có hệ số quá tải là đáng chú ý nhất. Giá trị yêu cầu đối với hệ\r\nsố quá tải là giá trị cần thiết cho độ chính xác của phép đo xung tách biệt sử\r\ndụng độ rộng băng tần và hằng số thời gian qui định.
\r\n\r\nViệc nghiên cứu đường cong đáp\r\ntuyến xung tại hai đầu dải của thiết bị chỉ thị cho phép kiểm tra đặc tính phi\r\ntuyến của bộ tách sóng. Tần số lặp quan trọng nhất về khía cạnh này chắc chắn\r\nnằm trong khoảng 20 Hz đến 100 Hz.
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
(qui\r\nđịnh)
\r\n\r\nĐáp tuyến của máy thu đo trung bình và máy thu\r\nđo đỉnh
\r\n\r\n(6.2.1)
\r\n\r\nE.1 Đáp tuyến của tầng trước bộ\r\ntách sóng
\r\n\r\nCó thể thấy *) diện\r\ntích bên dưới đường bao của đường cong đáp tuyến xung là một mạch băng hẹp có\r\nđặc tính tần số đối xứng không phụ thuộc vào độ rộng băng tần, và được cho bởi:
\r\n\r\n (E.1)
trong đó và\r\n
là biên độ và độ rộng của một xung\r\nchữ nhật có Bimp
<< 1 và Go\r\nlà hệ số khuếch đại của mạch ở tần số trung tâm.
Qui tắc này chỉ có giá trị trong\r\ntrường hợp đường bao không dao động. Đường bao dao động là đặc tính của mạch\r\nđiều hưởng kép, và trừ khi sử dụng bộ tách sóng nhạy pha, thì có thể cần phải\r\nbù bằng cách hiệu chuẩn sai số do đáp tuyến dao động gây ra. Trong trường hợp\r\nghép tới hạn, đỉnh thứ hai của đường bao bằng khoảng 8,3% đỉnh thứ nhất.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đáp tuyến của tầng trước\r\nbộ tách sóng như xác định ở điều A.2 là đáp tuyến dao động. Vì vậy, việc hiệu\r\nchuẩn sai số do đáp tuyến dao động gây ra phải được bù bằng dung sai dịch\r\nchuyển +2,5 dB/-0,5 dB trong 6.4.1.
\r\n\r\nVới điều kiện là xung không xếp\r\nchồng ở đầu ra của bộ khuếch đại IF thì giá trị trung bình tỷ lệ với tốc độ lặp\r\nxung n.
\r\n\r\nDo đó, điện áp trung bình bằng .
Theo công thức (E.1), không cần xác\r\nđịnh độ rộng băng tần hiệu quả đối với máy thu đo trung bình.
\r\n\r\nE.2 Hệ số quá tải
\r\n\r\nĐể tính toán hệ số quá tải và để sử\r\ndụng máy thu đo đỉnh, cần xác định một đại lượng là độ rộng băng tần xung hiệu\r\nquả của mạch trước bộ tách sóng như sau:
\r\n\r\nBimp\r\n= A(t)max/2Go (E.2)
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nA(t)max là đầu ra của\r\nđường bao đỉnh của tầng tần số trung gian có đặt một xung đơn vị.
\r\n\r\nTừ tính toán dẫn đến công thức\r\n(A.17) (Phụ lục A), ta có:
\r\n\r\n hoặc 1,31 B3 (E.3)
trong đó B6 và B3\r\nđược xác định trong 3.2.
\r\n\r\nĐối với các loại mạch điều hưởng\r\nkhác, tỷ số Bimp trên B6 có thể được ước lượng từ Hình\r\nE.1, nếu biết tỷ số B20 trên B3, trong đó B20\r\nlà độ rộng băng tần ở 20 dB.
\r\n\r\nHình\r\nE.1 - Hệ số hiệu chỉnh để đánh giá tỷ số Bimp/B6 đối với\r\ncác mạch điều hưởng khác
\r\n\r\nE.3 Quan hệ giữa chỉ số của máy\r\nthu đo trung bình và máy thu đo tựa đỉnh
\r\n\r\nỞ tốc độ lặp n Hz, giá trị của diện\r\ntích xung yêu cầu để tạo ra đáp tuyến trên máy thu đo trung bình tương đương\r\nvới đáp tuyến với tín hiệu sóng sin không điều chế tại tần số điều hưởng có giá\r\ntrị hiệu dụng là 2 mV từ máy phát tín hiệu có cùng trở kháng đầu ra với máy\r\nphát xung là:
\r\n\r\n = 1,4/n (mVs)
Ở tốc độ lặp 100 Hz, giá trị này là\r\n14 mVs.
\r\n\r\nDo đó, từ điều A.5 của Phụ lục A,\r\ntỷ số (trên
để\r\nđưa ra cùng một chỉ số sẽ là:
đối với dải tần 0,15 MHz đến 30\r\nMHz:
\r\n\r\nđối với dải tần 30 MHz đến 1 000\r\nMHz:
\r\n\r\nGiá trị trên giả thiết là có đủ hệ\r\nsố quá tải ở tốc độ lặp được đề cập và độ rộng băng tần sử dụng tương ứng với\r\ncác giá trị nêu ở điều 4. Tại tốc độ lặp 1 000 Hz, tỷ lệ tương ứng sẽ là 17,4\r\ndB và 38,1 dB.
\r\n\r\nE.4 Máy thu đo đỉnh
\r\n\r\nNếu sử dụng thiết bị đo đọc trực\r\ntiếp trong máy thu, thì yêu cầu đối với hằng số thời gian có thể được xác định\r\ntừ đường cong trên Hình E.2, thể hiện tỉ lệ phần trăm của số đọc liên quan đến\r\nđỉnh là hàm số của một tham số và bao gồm tỷ số giữa các hằng số thời gian, độ\r\nrộng băng tần B6 và tốc độ lặp xung. Khi sử dụng đường cong này, cần\r\nlưu ý là:
\r\n\r\nRo/RD\r\n= (1/4) (TC/TD) (E.4)
\r\n\r\ntrong đó TC và TD\r\nlà hằng số thời gian nạp và phóng.
\r\n\r\nVí dụ, nếu muốn có số đọc của máy\r\nthu ít nhất là 90% đỉnh thực ở tốc độ lặp 1 Hz, thì cần có tỷ số giữa hằng số\r\nthời gian phóng trên hằng số thời gian nạp bằng:
\r\n\r\n1,25 x 106 trong dải tấn\r\n0,15 MHz đến 30 MHz.
\r\n\r\n1,67 x 107 trong dải tần\r\n30 MHz đến 1 000 MHz.
\r\n\r\nE.5 Quan hệ giữa chỉ số của máy\r\nthu đo đỉnh và máy thu đo tựa đỉnh
\r\n\r\nGiá trị của diện tích xung, IS, yêu\r\ncầu để tạo đáp tuyến trên máy thu đo đỉnh tương đương với đáp tuyến tín hiệu\r\nsóng sin không điều chế tại tần số điều hưởng có giá trị hiệu dụng 2 mV là:
\r\n\r\n1,4/Bimp\r\n(mVs) (Bimp tính bằng Hz) (E.5)
\r\n\r\nTừ độ rộng băng tần 6 dB qui định\r\ntrong Bảng 1 (4.2), giá trị Bimp là 1,05B6 (điều E.2). Các giá trị\r\nnày và giá trị IS tương ứng yêu cầu đối với thiết bị đo đỉnh sẽ là:
\r\n\r\n\r\n Tần số \r\n | \r\n \r\n IS đỉnh (mVs) \r\n | \r\n \r\n Bimp (Hz) \r\n | \r\n
\r\n Băng tần A \r\n | \r\n \r\n 6,67 x 10-3 \r\n | \r\n \r\n 0,21 x 103 \r\n | \r\n
\r\n Băng tần B \r\n | \r\n \r\n 0,148 x 10-3 \r\n | \r\n \r\n 9,45 x 103 \r\n | \r\n
\r\n Băng tần C và D \r\n | \r\n \r\n 0,011 x 10-3 \r\n | \r\n \r\n 126 x 103 \r\n | \r\n
Do đó, dùng giá trị cho trong điểm\r\na) ở Bảng 2 (trong 4.4.1) đối với IS tựa đỉnh, tỷ số giữa IS tựa đỉnh và IS\r\nđỉnh để đưa ra cùng một chỉ số sẽ là:
\r\n\r\n\r\n Đối với băng tần A \r\n | \r\n \r\n 6,1 dB (ở tần số lặp xung 25 Hz) \r\n | \r\n
\r\n Đối với băng tần B \r\n | \r\n \r\n 6,6 dB (ở tần số lặp xung 100 Hz) \r\n | \r\n
\r\n Đối với băng tần C và D \r\n | \r\n \r\n 12,0 dB (ở tần số lặp xung 1 000\r\n Hz) \r\n | \r\n
Hình\r\nE.2 - Hệ số tách sóng xung P
\r\n\r\nE.6 Thử nghiệm đáp tuyến máy thu\r\nđo với các xung có tần số lớn hơn 1 GHz
\r\n\r\nMáy phát xung có phổ đồng nhất đến\r\n18 GHz là khó thực hiện. Để thử nghiệm đáp tuyến của máy thu đo trên 1 GHz với\r\ncác xung và để kiểm tra mối quan hệ biên độ của các loại máy thu đo khác nhau,\r\ntrên thực tế sử dụng tín hiệu mang điều chế xung được điều hưởng đến tần số\r\nthu. Độ rộng xung phải nhỏ hơn hoặc bằng (1/3 Bimp). Độ chính xác\r\ncủa độ rộng xung là quan trọng để tạo ra diện tích xung chính xác như yêu cầu\r\ntrong các điều liên quan. Ngoài phép đo thời gian xung sử dụng máy hiện sóng,\r\nthời gian xung của các xung chữ nhật có thể được kiểm tra bằng khoảng cách giữa\r\ncác giá trị nhỏ nhất trên phổ hiển thị (Xem Hình E.3 về mẫu dạng sóng).
\r\n\r\nĐối với máy thu đo có bộ tách sóng\r\nđỉnh có độ rộng băng tần Bimp là 1 MHz, yêu cầu diện tích xung (sức\r\nđiện động) là 1,4/Bimp mVs, tức là 1,4 nVs đối với đáp tuyến bằng\r\nvới đáp tuyến của tín hiệu sóng sin không điều chế được điều hưởng đến tần số\r\nthu có sức điện động có giá trị hiệu dụng là 2 mV [66 dB(mV)]. Tín hiệu sóng mang điều chế xung có\r\ndiện tích xung yêu cầu có thể được tạo ra với các độ rộng xung khác nhau như\r\nthể hiện trên Bảng E.1:
\r\n\r\nBảng\r\nE.1 - Mức sóng mang đối với tín hiệu điều chế xung là 1,4 nVs
\r\n\r\n\r\n Độ\r\n rộng xung wp/ns \r\n | \r\n \r\n Mức\r\n tín hiệu sóng mang (sức điện động) | \r\n
\r\n 100 \r\n | \r\n \r\n 86 \r\n | \r\n
\r\n 200 \r\n | \r\n \r\n 80 \r\n | \r\n
Đối với máy thu đo có bộ tách sóng\r\ntrung bình phương thức tuyến tính, diện tích xung (sức điện động) bằng với tín\r\nhiệu sóng sin không điều chế ở tần số thu có sức điện động có giá trị hiệu dụng\r\n2 mV [66 dB(mV)] phải bằng 1,4/n mVs (n\r\nlà tốc độ lặp xung). Đối với n = 50 000, diện tích xung là 28 nVs, tức là cao\r\nhơn 26 dB so với giá trị đối với máy thu đo đỉnh có Bimp là 1 MHz.
\r\n\r\nĐối với máy thu đo có bộ tách sóng\r\nhiệu dụng, diện tích xung (sức điện động) bằng với tín hiệu sóng sin không điều\r\nchế ở tần số thu bằng với sức điện động ở giá trị hiệu dụng 2 mV [66 dB(mV)] phải bằng 44 (B3-1/2) mVs đới với tốc độ lặp xung 1 kHz. Đối với độ\r\nrộng xung Bimp là 1 MHz, B3 tương ứng là 700 kHz. Do đó,\r\ndiện tích xung yêu cầu là 52,6 nVs, tức là cao hơn 31,5 dB so với máy thu đo\r\nđỉnh có Bimp là 1 MHz.
\r\n\r\nHình\r\nE.3 - Ví phụ (phổ) về tín hiệu điều chế xung có độ rộng xung là 200 ns.
\r\n\r\nE.7 Phép đo độ rộng xung của máy\r\nthu đo
\r\n\r\nĐộ rộng xung Bimp của\r\nmáy thu đo được xác định là giá trị đỉnh Up (được đo bằng máy thu)\r\nchia cho mật độ phổ xung D của xung thử nghiệm:
\r\n\r\nBimp\r\n= Up/D (E.6)
\r\n\r\nNếu giá trị Up đo được,\r\ntính bằng mV, và D tính bằng mV/MHz thì Bimp sẽ tính bằng MHz.\r\nCả hai đại lượng, Up và D, được coi là được hiệu chuẩn theo giá trị\r\nhiệu dụng của tín hiệu sóng sin không điều chế, là trường hợp của máy thu đo\r\nCISPR.
\r\n\r\nMật độ phổ xung D thường không có\r\nsẵn như một đại lượng chuẩn chính xác. Để giảm độ không đảm bảo đo của phép đo\r\nđộ rộng xung, phương pháp 1 và phương pháp 2 đang sử dụng hai phép đo. Trong\r\nmột số trường hợp nhất định, đường cong chọn lọc của máy thu đo cũng có thể\r\nđược sử dụng để tính Bimp (như mô tả trong phương pháp 3), vì Bimp\r\nlà độ “rộng xung điện áp” của máy thu đo (không được nhầm với độ rộng xung công\r\nsuất hoặc độ rộng xung tạp tương ứng, mà để xác định giá trị hiệu dụng của tạp\r\nGauxơ khi sử dụng bộ tách sóng hiệu dụng của máy thu đo). Bimp được\r\nxác định bằng đường cong chọn lọc của bộ lọc IF, đáp tuyến pha của bộ lọc (có\r\nthể là không tuyến tính) và độ rộng băng tần tín hiệu hình của máy thu. Giá trị\r\nBimp này lớn hơn B6, nhưng không có hệ số chung đối với\r\nmối quan hệ giữa Bimp và B6 hoặc B3 của máy\r\nthu.
\r\n\r\nPhương án 1: Phép đo bằng\r\ncách so sánh các đáp tuyến của Bimp với hai xung có biên độ và độ\r\nrộng giống nhau nhưng có tần số lặp xung (prf) thấp và cao.
\r\n\r\nPhương pháp này sử dụng tín hiệu\r\ntần số rađiô điều chế xung, có thời gian xung ngắn như thể hiện trên Hình E.4\r\nvà có hai tần số lặp xung khác nhau. Với tần số lặp xung cao (fp\r\n>> Bimp), máy thu có thể được điều hưởng với tần số của sóng\r\nmang như thể hiện trên Hình E.5 và với tần số lặp xung thấp (fp\r\n<< Bimp), phổ sẽ xuất hiện như tín hiệu băng rộng thể hiện\r\ntrên Hình E.6 với mật độ phổ xung D = U1*t. Dạng xung (biên độ U1 và thời gian t) phải độc lập với tần số lặp xung. Đối với\r\nBimp = 1 MHz, fp1 có thể được chọn là 30 MHz và fp2\r\nlà 30 kHz.
\r\n\r\nHình\r\nE.4 - Tín hiệu RF điều chế xung đặt lên máy thu đo
\r\n\r\nHình\r\nE.5 - Lọc với Bimp nhỏ hơn nhiều so với tần số lặp xung
\r\n\r\nHình\r\nE.6 - Lọc với Bimp lớn hơn nhiều so với tần số lặp xung
\r\n\r\nVới phép đo thứ nhất, biên độ hiệu\r\ndụng U2 có thể được tính từ U2 = U1*t*fp1. Có thể đạt được độ không\r\nđảm bảo đo thấp bằng tỷ số tín hiệu-tạp cao. Nhưng phải cẩn thận để tránh quá\r\ntải. Với phép đo thứ hai, đáp tuyến lớn nhất của giá trị hiệu dụng giữa đỉnh và\r\nquá độ có thể được tính từ Up = U1*t*Bimp. Trong hai phép đo, nếu\r\ntích số này hoàn toàn bằng nhau thì Bimp có thể được tính từ hai kết\r\nquả đo như thể hiện trên Hình E.7 bằng cách sử dụng (E.2):
\r\n\r\n (E.7)
Hình\r\nE.7 - Tính độ rộng băng tần xung
\r\n\r\nPhương pháp 2: Phép đo bằng\r\ncách so sánh đáp tuyến của Bimp với tín hiệu xung và đáp tuyến của\r\nđộ rộng băng hẹp với tín hiệu xung đó.
\r\n\r\nNếu không có sẵn máy phát xung duy\r\ntrì được biên độ không đổi, độc lập với tần số lặp xung được chọn, thì có thể\r\nsử dụng phương pháp 2 với tần số lặp xung tương đối thấp. Phương pháp này dựa\r\ntrên nguyên lý giống với phương pháp 1, đó là phép đo. Tuy nhiên, thay vì sử\r\ndụng tín hiệu tần số lặp xung, phép đo thứ hai được thực hiện với bộ lọc hẹp\r\nhơn rất nhiều so với tần số lặp xung. Phương pháp này cũng được mô tả trong\r\nC.1.5.
\r\n\r\nPhương pháp này xác định mật độ phổ\r\nxung D sử dụng công thức D = Uk/fp, trong đó Uk\r\nlà điện áp đo được của một vạch phổ (tức là tần số mang, nếu tín hiệu là loại\r\ntín hiệu mang điều chế xung, hoặc đường tâm tại tần số thu mà tại đó đo Bimp)\r\nvà fp là tần số lặp xung. Một lần nữa, fp phải lớn hơn\r\nrất nhiều so với độ rộng băng hẹp và nhỏ hơn rất nhiều so với Bimp\r\ncần đo, tức là Bhẹp << fp << Bimp.\r\nVí dụ về số đặt có thể là Bhẹp = 9 kHz, fp = 100 kHz đối\r\nvới Bimp = 1MHz. Phương pháp này yêu cầu so sánh giữa các đáp tuyến\r\ncủa bộ lọc băng hẹp và bộ lọc cần đo bằng cách đặt tín hiệu sóng sin chưa điều\r\nchế vào cả hai bộ lọc và suy ra hệ số hiệu chỉnh c để tính (c = U2/U1,\r\nvới U2 là giá trị đối với bộ lọc rộng và U1 là giá trị\r\nđối với bộ lọc hẹp). Do đó D = c*Uk/fp. Khi đã xác định\r\nđược D, Up sẽ được đo với bộ tách sóng đỉnh và Bimp có\r\nthể được tính bằng cách sử dụng công thức (E.2).
\r\n\r\nPhương pháp 3: Tích phân hàm\r\nchọn lọc tuyến tính chuẩn hóa.
\r\n\r\nPhương pháp này có ưu điểm là độ\r\nchính xác cao và có thể áp dụng cho các bộ lọc có chức năng chọn lọc hoàn toàn\r\ntuyến tính (ví dụ bộ lọc số hoặc theo yêu cầu kỹ thuật của nhà chế tạo) và sử\r\ndụng khi băng tần tín hiệu hình lớn hơn rất nhiều (ví dụ 10 lần) so với băng\r\ntần xung (Bvideo >> Bimp)
\r\n\r\nTrong trường hợp này độ rộng băng\r\ntần xung của máy thu đo được xác định là diện tích của hàm chọn lọc tuyến tính\r\nchuẩn hóa U(f) với 1/Umax là hệ số chuẩn hóa:
\r\n\r\nMáy thu đo có hiển thị tần số bằng\r\nkỹ thuật số độ phân giải cao có thể được điều hưởng theo N bước của ∆f để đo\r\nhàm chọn lọc U(fn). Phép đo giữa các điểm 60 dB với các bước 100 (N\r\n= 101) thường là đủ để đo chính xác độ rộng băng tần. Tương tự, máy thu quét có\r\nthể được đặt sao cho các tần số bắt đầu và kết thúc trùng khớp với các điểm 60\r\ndB của đường cong bộ lọc và thực hiện quét để có được các giá trị biên độ. Tín\r\nhiệu thử nghiệm là tín hiệu sóng liên tục để xác định được dạng lọc của bộ lọc.\r\nTrong trường hợp này, độ rộng băng tần xung có thể được đo và tính bằng công\r\nthức:
\r\n\r\nHình E.8 mô tả ví dụ về hàm chọn\r\nlọc tuyến tính chuẩn hóa 1 MHz.
\r\n\r\nTrục X được chia theo đơn vị là\r\nkHz.
\r\n\r\nHình\r\nE.8 - Ví dụ về hàm chọn lọc tuyến tính chuẩn hóa
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
(qui\r\nđịnh)
\r\n\r\n\r\n\r\nĐể áp dụng các trường hợp ngoại lệ\r\ncho trong TCVN 7492-1 : 2005 (CISPR 14-1 : 2005), máy phân tích nhiễu phải cung\r\ncấp các thông tin bổ sung sau:
\r\n\r\na) số lượng nháy có thời gian nhỏ\r\nhơn hoặc bằng 10 ms;
\r\n\r\nb) số lượng nháy có thời gian lớn\r\nhơn 10 ms nhưng nhỏ hơn hoặc bằng 20 ms;
\r\n\r\nc) số lượng nháy có thời gian lớn\r\nhơn 20 ms nhưng nhỏ hơn hoặc bằng 200 ms;
\r\n\r\nd) thời gian của từng nhiễu có biên\r\nđộ lớn hơn giới hạn mức tựa đỉnh đối với nhiễu liên tục;
\r\n\r\ne) chỉ thị để thể hiện rằng thiết\r\nbị không qua được thử nghiệm, nếu rõ ràng rằng thiết bị này tạo ra các nhiễu,\r\nkhông phải nháy, không tương ứng với định nghĩa của nháy và không thể áp dụng\r\ncác loại trừ cho chúng;
\r\n\r\nf) khoảng thời gian từ khi bắt đầu\r\nthử nghiệm đến khi xuất hiện nhiễu; được đề cập trong e)
\r\n\r\ng) tổng thời gian của các nhiễu,\r\nkhông phải nháy, có giới hạn mức tựa đỉnh lớn hơn giới hạn đối với nhiễu liên\r\ntục;
\r\n\r\nh) tốc độ nháy.
\r\n\r\nBảng\r\nF.1 - Các tín hiệu thử nghiệm của máy phân tích nhiễu a
\r\n\r\n\r\n Thử\r\n nghiệm số \r\n | \r\n \r\n Thông\r\n số tín hiệu thử nghiệm \r\n | \r\n ||||||
\r\n 1 \r\n | \r\n \r\n 2 \r\n | \r\n \r\n 3 \r\n | \r\n \r\n 4 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n |||
\r\n Biên\r\n độ tựa đỉnh của các xung điều chỉnh tương đối so với biên độ chuẩn tựa đỉnh\r\n của máy thu đo, dB \r\n | \r\n \r\n Thời\r\n gian xung b được điều chỉnh theo đầu ra tần số trung gian của máy\r\n thu đo, ms \r\n | \r\n \r\n Khoảng\r\n thời gian giữa các xung hoặc tính chu kỳ (đầu ra IF) | \r\n \r\n Đánh\r\n giá bằng độ phân tích \r\n | \r\n \r\n Thể\r\n hiện bằng đồ thị tín hiệu thử nghiệm đo được ở đầu ra IF và tín hiệu tựa đỉnh\r\n tương đối so với chỉ thị chuẩn của máy thu đo \r\n | \r\n |||
\r\n Xung\r\n 1 \r\n | \r\n \r\n Xung\r\n 2 \r\n | \r\n \r\n Xung\r\n 1 \r\n | \r\n \r\n Xung\r\n 2 \r\n | \r\n ||||
\r\n 1 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 0,11 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 1\r\n nháy \r\n≤\r\n 10 ms \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 2 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 9,5 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 1\r\n nháy \r\n≤\r\n 10 ms \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 3 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 10,5 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 1\r\n nháy \r\n>\r\n 10 ms \r\n≤\r\n 20 ms \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 4 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 19 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 1\r\n nháy \r\n>\r\n 10 ms \r\n≤\r\n 20 ms \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 21 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 1\r\n nháy \r\n>\r\n 20 ms \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 6 \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 190 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 1\r\n nháy \r\n>\r\n 20 ms \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 7 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 210 \r\n | \r\n \r\n 210 \r\n | \r\n \r\n 150 \r\n | \r\n \r\n Nếu\r\n chỉ xảy ra một lần trong một chu kỳ hoặc trong một đơn vị thời gian quan sát\r\n nhỏ nhất: được tính như 1 nháy >20 ms (xem chú thích 2, E2, qui tắc 600\r\n ms) \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n Cách\r\n khác, nhiễu liên tục (570 ms) \r\n | \r\n |
\r\n 8 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 220 \r\n | \r\n \r\n 220 \r\n | \r\n \r\n 190 \r\n | \r\n \r\n Không\r\n đạt | \r\n \r\n | \r\n
\r\n 9 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 190 \r\n | \r\n \r\n 190 \r\n | \r\n \r\n 190 \r\n | \r\n \r\n Nếu | \r\n \r\n | \r\n
\r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n Cách\r\n khác, nếu Cách\r\n khác | \r\n |
\r\n 10 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 50 \r\n | \r\n \r\n 50 \r\n | \r\n \r\n 185 \r\n | \r\n \r\n Nếu | \r\n \r\n | \r\n
\r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n Cách\r\n khác, nếu | \r\n |
\r\n 11 \r\n | \r\n \r\n 20 \r\n | \r\n \r\n 20 \r\n | \r\n \r\n 15 \r\n | \r\n \r\n 5 \r\n | \r\n \r\n 1\r\n x xung 1 + 9 x xung 2, được lặp lại cho đến khi xuất hiện 40 nháy, khi đó\r\n khoảng cách giữa từng xung sẽ là 13 s \r\n | \r\n \r\n 36\r\n nháy < 10 ms | \r\n
\r\n\r\n
Hình\r\nF.1 - Thể hiện bằng đồ thị của các tín hiệu thử nghiệm sử dụng để kiểm tra tính\r\nnăng của máy phân tích với các yêu cầu bổ sung theo Bảng F.1
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
(tham\r\nkhảo)
\r\n\r\nCơ sở các yêu cầu kỹ thuật của hàm đo phân bố\r\nxác suất biên độ (APD)
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật này dựa trên các\r\nđịnh nghĩa và xem xét dưới đây:
\r\n\r\na) Dải động của biên độ
\r\n\r\nDải động của biên độ được xác định\r\nlà dải cần thiết để đạt được APD. Giới hạn trên của dải động phải lớn hơn mức\r\nđỉnh của nhiều cần đo và giới hạn dưới phải nhỏ hơn mức giới hạn nhiễu qui định\r\nbởi yêu cầu kỹ thuật liên quan của sản phẩm.
\r\n\r\nTheo TCVN 6988 (CISPR 11), giới hạn\r\nđỉnh đối với nhóm 2, cấp B, đối với các thiết bị ISM được đặt tại 110 dB mV/m, và giới hạn theo trọng số được qui định\r\nlà 60 dBmV/m. Do đó, đề xuất đưa ra dải\r\nđộng lớn hơn 60 dB với biên dự phòng là 10 dB.
\r\n\r\nb) Tốc độ lấy mẫu
\r\n\r\nMột cách lý tưởng, APD của nhiễu\r\nđược đo sử dụng băng tần tương đương của dịch vụ tần số rađiô cần bảo vệ. Tuy\r\nnhiên, độ rộng băng tần phân giải của bộ phân tích phổ được qui định là 1 MHz\r\nđối với dải tần lớn hơn 1 GHz. Do đó, tốc độ lấy mẫu phải lớn hơn 10 triệu mẫu\r\ntrên một giây.
\r\n\r\nc) Thời gian đo lớn nhất
\r\n\r\nTCVN 6988 (CISPR 11) qui định thời\r\ngian duy trì lớn nhất là 2 s đối với các phép đo đỉnh của thiết bị dùng cho lò\r\nvi sóng có tần số trên 1 GHz. Do đó, thời gian đo được đối với phép đo APD phải\r\ntối thiểu là 2 min. Vì kích cỡ của bộ đếm và bộ nhớ có giới hạn nên có thể gặp\r\nkhó khăn khi thực hiện các phép đo liên tục trong thời gian đo dài. Do đó, cho\r\nphép đo gián đoạn trong điều kiện thời gian nghỉ nhỏ hơn 1% thời gian đo tổng.
\r\n\r\nd) Xác suất đo nhỏ nhất
\r\n\r\nCó thể phải thực hiện 100 lần đo để\r\ncó kết quả có ý nghĩa. Do đó, xác suất đo nhỏ nhất được tính như sau:
\r\n\r\nvới giả thiết thời gian đo là 2 min\r\nvới tốc độ lấy mẫu là 10 triệu mẫu trên 1 giây, xác suất được xác định là:
\r\n\r\n100/(120\r\nx 10 x 106) ~ 10-7
\r\n\r\ne) Hiển thị dữ liệu đo APD
\r\n\r\nĐộ phân giải biên độ để hiển thị\r\ncác kết quả APD phụ thuộc vào dải động và độ phân giải của bộ chuyển đổi A/D.\r\nVí dụ, độ phân giải hiển thị nhỏ hơn 0,25 dB (~ 60 dB/256) khi sử dụng bộ\r\nchuyển đổi A/D 8 bit cho dải động 60 dB.
\r\n\r\nHình G.1 và G.2 thể hiện các sơ đồ\r\nkhối thực hiện chức năng đo APD.
\r\n\r\nVí dụ về kết quả phép đo APD được\r\nthể hiện trên Hình G.3
\r\n\r\nHình\r\nG.1 - Sơ đồ khối của mạch đo APD không có bộ chuyển đổi A/D
\r\n\r\nHình\r\nG.2 - Sơ đồ khối của mạch đo APD có bộ chuyển đổi A/D
\r\n\r\nHình\r\nG.3 - Ví dụ về hiển thị phép đo APD
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
TCVN 6989-1-3 : 2008 (CISPR 16-1-3\r\n: 2003), Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn\r\nnhiễm tần số rađiô - Phần 1-3: Thiết bị đo nhiễu và miễn nhiễm tần số radio -\r\nThiết bị đo phụ trợ - Công suất nhiễu
\r\n\r\nTCVN 6989-1-5 : 2008(CISPR 16-1-5 :\r\n2003), Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn\r\nnhiễm tần số rađiô - Phần 1-5: Thiết bị đo nhiễu và miễn nhiễm tần số radio -\r\nVị trí thử nghiệm hiệu chuẩn anten trong dải tần từ 30 MHz đến 1000 MHz.
\r\n\r\nTCVN 6989-2-2 : 2008 (CISPR 16-2-2\r\n: 2003), Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn\r\nnhiễm tần số rađiô - Phần 2-2: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm - Đo công\r\nsuất nhiễm.
\r\n\r\nTCVN 6989-2-4 : 2008 (CISPR 16-2-4\r\n: 2003), Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn\r\nnhiễm tần số rađiô - Phần 2-4: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm - Phép đo\r\nmiễn nhiễm.
\r\n\r\nCISPR 16-1-2, Specification for\r\nradio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 1-2:\r\nRadio disturbance and immunity measuring apparatus - Ancillary equipment -\r\nDisturbance power ( Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô - Phần 1-2: Thiết bị đo nhiễu và miễn nhiễm\r\ntần số rađiô - Thiết bị phụ trợ - Nhiễu dẫn)
\r\n\r\nCISPR 16-1-4 ; 2003, Specification\r\nfor radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 1-4:\r\nRadio disturbance and immunity measuring apparatus - Ancillary equipment\r\n-Radiated disturbance (Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô - Phần 1-4: Thiết bị đo nhiễu và miễn nhiễm\r\ntần số rađiô - Thiết bị phụ trợ - Nhiễu bức xạ)
\r\n\r\nCISPR 16-2-1 : 2003, Specification\r\nfor radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 2-1:\r\nMethods of measurement of disturbances and immunity - Conducted disturbance\r\nmeasurements (Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và\r\nmiễn nhiễm tần số rađiô - Phần 2-1: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm - Đo\r\nnhiễu dẫn)
\r\n\r\nCISPR 16-2-3 :2003, Specification\r\nfor radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 2-3:\r\nMethods of measurement of disturbances and immunity - Radiated disturbance\r\nmeasurements (Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và\r\nmiễn nhiễm tần số rađiô - Phần 2-3: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm - Đo\r\nnhiễu bức xạ)
\r\n\r\nCISPR 16-4-1 : 2003, Specification\r\nfor radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 4-1:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling - Uncertainties in standardized\r\nEMC tests (Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn\r\nnhiễm tần số rađiô - Phần 4-1: Độ không đảm bảo đo, thống kê và mô hình giới\r\nhạn - Độ không đảm bảo đo trong các thử nghiệm EMC tiêu chuẩn)
\r\n\r\nCISPR 16-4-2 : 2003, Specification\r\nfor radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 4-2:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling - Uncertainties in EMC\r\nmeasurements (Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và\r\nmiễn nhiễm tần số rađiô - Phần 4-2: Độ không đảm bảo đo, thống kê và mô hình\r\ngiới hạn - Độ không đảm bảo đo trong các phép đo EMC)
\r\n\r\nCISPR 16-4-3 : 2004, Specification\r\nfor radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 4-3:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling - Statistics considerations in\r\nthe determination of EMC compliance of mass-produced products (Yêu cầu kỹ thuật\r\nđối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô - Phần\r\n4-2: Độ không đảm bảo đo, thống kê và mô hình giới hạn - Xem xét thống kê khi\r\nxác định sự phù hợp về EMC đối với các sản phẩm được sản xuất hàng loạt)
\r\n\r\nCISPR 16-4-4 : 2003, Specification\r\nfor radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 4-4:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling - Statistics of compliants and a\r\nmodel for the calculation of limits (Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và\r\nphương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô - Phần 4-2: Độ không đảm bảo\r\nđo, thống kê và mô hình giới hạn - Thống kê sự phù hợp và mô hình tính toán\r\ngiới hạn).
\r\n\r\n\r\n\r\n
MỤC\r\nLỤC
\r\n\r\nLời nói đầu
\r\n\r\nLời giới thiệu
\r\n\r\n1 Phạm vi áp dụng
\r\n\r\n2 Tài liệu viện dẫn
\r\n\r\n3 Thuật ngữ và định nghĩa
\r\n\r\n4 Máy thu đo tựa đỉnh trong dải tần\r\n9 kHz đến 1000 MHz
\r\n\r\n5 Máy thu đo có bộ tách sóng đỉnh\r\ntrong dải tần 9 kHz đến 1000 MHz
\r\n\r\n6 Máy thu đo có bộ tách sóng trung\r\nbình trong dải tần 9 kHz đến 18 GHz
\r\n\r\n7 Máy thu đo có bộ tách sóng hiệu\r\ndụng trong dải tần 9 kHz đến 18 GHz
\r\n\r\n8 Máy thu đo trong dải tần 1 GHz\r\nđến 18 GHz có chức năng đo phân bố xác suất biên độ
\r\n\r\n9 Bộ phân tích nhiễu
\r\n\r\nPhụ lục A (quy định) - Xác định đáp\r\ntuyến xung lặp của máy thu đo tựa đỉnh và máy thu đo hiệu dụng
\r\n\r\nPhụ lục B (quy định) - Xác định phổ\r\ncủa mý phát xung
\r\n\r\nPhụ lục C (quy định) - Phép đo\r\nchính xác đầu ra của máy phát xung nanô giây
\r\n\r\nPhụ lục D (quy định) - Ảnh hưởng\r\ncủa các đặc tính máy thu đo tựa đỉnh lên đáp tuyến xung của nó
\r\n\r\nPhụ lục E (quy định) - Đáp tuyến\r\ncủa máy thu đo trung bình và máy thu đo đỉnh
\r\n\r\nPhụ lục F (quy định) - Kiểm tra\r\ntính năng các trường hợp ngoại lệ từ định nghĩa nháy theo 4.2.3 của TCVN 7492-1\r\n(CISPR 14-1)
\r\n\r\nPhụ lục G (tham khảo) - Cơ sở các\r\nyêu cầu kỹ thuật của hàm phân bố xác suất biên độ (APD)
\r\n\r\nThư mục tài liệu tham khảo
\r\n\r\n\r\n\r\n
\r\n\r\n
1) EN 50065-1 : 2001, Phát tín hiệu trong\r\nhệ thống lắp đặt điện hạ áp ở dải tần số 3 kHz đến 148,5 kHz - Phần 1: Yêu cầu\r\nchung, các băng tần và nhiễu điện từ.
\r\n\r\n1) EN 50065-1 : 2001, Phát tín hiệu trong\r\nhệ thống lắp đặt điện hạ áp ở dải tần số 3 kHz đến 148,5 kHz - Phần 1: Yêu cầu\r\nchung, các băng tần và nhiễu điện từ.
\r\n\r\n*) “Đáp tuyến của thiết bị đo tạp rađiô\r\nlý tưởng với sóng sin liên tục, xung lặp và tạp ngẫu nhiên” do David\r\nB.Geselowit. Văn kiện IRE, RFI, tập RFI-3, số 1, trang 2-11, tháng 5, 1961. Xem\r\nthêm “Kích thích xung của tầng gồm các mạch điều hưởng nối tiếp” do S.Sabaroff,\r\nkỷ yếu IRE, tập 32, trang 758-760, tháng 12, 1944.
\r\n\r\nFile gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6989-1-1:2008 (CISPR 16-1-1 : 2006) về Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Phần 1-1: Thiết bị đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Thiết bị đo đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6989-1-1:2008 (CISPR 16-1-1 : 2006) về Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Phần 1-1: Thiết bị đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Thiết bị đo
Tóm tắt
Cơ quan ban hành | Đã xác định |
Số hiệu | TCVN6989-1-1:2008 |
Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
Người ký | Đã xác định |
Ngày ban hành | 2008-01-01 |
Ngày hiệu lực | |
Lĩnh vực | Xây dựng - Đô thị |
Tình trạng | Còn hiệu lực |