\r\n\r\n

TCVN\r\n6855-14:2001

\r\n\r\n

IEC\r\n151-14:1975

\r\n\r\n

ĐO ĐẶC TÍNH ĐIỆN CỦA ĐÈN ĐIỆN TỬ - PHẦN 14:\r\nPHƯƠNG PHÁP ĐO ỐNG TIA CATốT DÙNG TRONG MÁY HIỆN SÓNG VÀ RAĐA

\r\n\r\n

Measurements\r\nof the electrical properties of electronic tubes - Part 14: Methods of\r\nmeasurement of radar and oscilloscope cathode-ray tubes

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

Lời nói đầu

\r\n\r\n

TCVN 6855-14:2001 hoàn\r\ntoàn tương đương với tiêu chuẩn IEC 151-14:1975;

\r\n\r\n

TCVN 6855-14:2001 do\r\nBan kỹ thuật tiêu chuẩn TCVN/TC/E3 Thiết bị điện tử dân dụng biên soạn, Tổng\r\ncục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học Công nghệ và Môi trường\r\n(nay là Bộ khoa học và Công nghệ) ban hành.

\r\n\r\n

Tiêu chuẩn này được\r\nchuyển đổi năm 2008 từ Tiêu chuẩn Việt Nam cùng số hiệu thành Tiêu chuẩn Quốc gia\r\ntheo quy định tại khoản 1 Điều 69 của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật và\r\nđiểm a khoản 1 Điều 6 Nghị định số 127/2007/NĐ-CP ngày 1/8/2007 của Chính phủ quy\r\nđịnh chi tiết thi hành một số điều của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật.

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

ĐO\r\nĐẶC TÍNH ĐIỆN CỦA ĐÈN ĐIỆN TỬ - PHẦN 14: PHƯƠNG PHÁP ĐO ỐNG TIA CATốT DÙNG\r\nTRONG MÁY HIỆN SÓNG VÀ RAĐA

\r\n\r\n

Measurements\r\nof the electrical properties of electronic tubes - Part 14: Methods of\r\nmeasurement of radar and oscilloscope cathode-ray tubes

\r\n\r\n

1. Quy định chung

\r\n\r\n

1.1. Phạm vi áp dụng

\r\n\r\n

Các phép đo mô tả\r\ntrong tiêu chuẩn này không phải tất cả đều thích hợp cho mọi kiểu ống tia catốt.\r\nDo đó các phép đo này chỉ được áp dụng khi có quy định rõ.

\r\n\r\n

1.2. Chú ý

\r\n\r\n

Ngoài các chú ý chung\r\nđược nêu trong IEC151-0 Phần 0: Các chú ý liên quan đến các phương pháp đo đèn\r\nđiện tử và đèn van, còn phải đưa vào các chú ý sau:

\r\n\r\n

1.2.1. Để đảm bảo an\r\ntoàn, cần chú ý để bảo vệ người thao tác tránh bị giật ở điện áp cao, bức xạ\r\ntia X và nổ đèn hình.

\r\n\r\n

1.2.2. Để đo các đặc\r\ntính quang của màn hình, cần khống chế nhiệt độ môi trường khi đo. Phải che chắn\r\nbảo vệ để tránh bị ảnh hưởng của các nguồn năng lượng bức xạ khác.

\r\n\r\n

1.2.3. Để đo dòng\r\nchùm tia cường độ cao

\r\n\r\n

Nhằm tránh các nguy\r\nhiểm làm hỏng màn hình, nên đo ở điện áp lái tia yêu cầu để đạt giá trị quy\r\nđịnh của dòng chùm tia với các chấm sáng bị lái khỏi vùng màn hình hữu ích hoặc\r\nquét vượt ra ngoài màn hình.

\r\n\r\n

2. Thuật ngữ

\r\n\r\n

Định nghĩa các thuật\r\nngữ chung sử dụng trong tiêu chuẩn này có thể căn cứ vào Từ vựng kỹ thuật điện\r\nquốc tế (IEC 50(531)) Chương 531: Đèn điện tử. Chủ yếu áp dụng mục 531-14,\r\n531-22 và 531-42.

\r\n\r\n

3. Đo các đặc tính\r\nquang

\r\n\r\n

3.1. Đặc tính độ chói

\r\n\r\n

3.1.1. Cường độ sáng\r\nphải được đo trên các mành quét có kích cỡ thích hợp được hội tụ tốt nhất bằng cách\r\nsử dụng thiết bị quang-điện có đáp tuyến toàn bộ xấp xỉ với thiết bị trắc quang\r\ntheo tiêu chuẩn C.I.E.*

\r\n\r\n

Phải điều chỉnh điện\r\náp quy định để đạt được cường độ sáng yêu cầu và phải đo dòng điện hoặc điện áp\r\ncủa các điện cực đó.

\r\n\r\n

Độ chói trung bình\r\ncủa mành quét có quan hệ với cường độ sáng theo công thức:

\r\n\r\n

I\r\n= L x A

\r\n\r\n

trong đó:

\r\n\r\n

I - cường độ sáng (cd)\r\n

\r\n\r\n

L - độ chói (cd/m²)

\r\n\r\n

A - diện tích chiếu\r\nsáng (m²) được xác định bằng\r\nthiết bị quang-điện

\r\n\r\n

3.1.2. Tiến hành phép\r\nđo cường độ sáng của một màu cụ thể phát ra từ màn hình bằng cách sử dụng bộ\r\nlọc màu phù hợp cùng với thiết bị trắc quang theo tiêu chuẩn C.I.E.*.\r\nTổ hợp bộ lọc/tế bào quang này được hiệu chuẩn theo nguồn sáng có đặc tính đã\r\nbiết.

\r\n\r\n

Sau đó, áp dụng quy\r\ntrình trong 3.1.1 để hiệu chuẩn lại.

\r\n\r\n

Các bộ lọc màu và tổ\r\nhợp bộ lọc/tế bào quang cũng có thể được sử dụng cho các phép đo độ tăng sáng\r\nvà thời gian lưu ảnh của màn hình (xem 3.6). Cần nêu đầy đủ các chi tiết của\r\ncác bộ lọc và tổ hợp bộ lọc/tế bào quang.

\r\n\r\n

3.1.3. Cường độ sáng\r\nhoặc dòng chùm tia là hàm của thiên áp phải được đo bằng cách thay đổi thiên áp\r\ntừ giá trị ngưỡng đến giá trị tương ứng với cường độ sáng yêu cầu hoặc đến dòng\r\nchùm tia làm việc.

\r\n\r\n

3.2. Độ rọi tạp tán

\r\n\r\n

Đặt điện áp nung sợi quy\r\nđịnh, còn mọi điện áp khác bằng không, đo độ chói của màn hình do ánh sáng từ\r\ncụm catốt. Vì độ chói ở mức rất thấp, nên độ rọi của môi trường phải gần như\r\nbằng “không”.

\r\n\r\n

3.3. Phát xạ tạp tán

\r\n\r\n

3.3.1. Điều kiện đo

\r\n\r\n

Lắp đèn cần đo vào\r\nmạch điện cho trước, đặt các điện áp quy định kể cả điện áp ngưỡng và điện áp\r\nlái tia.

\r\n\r\n

Độ rọi của môi trường,\r\nđo tại màn hình, không được vượt quá 5 lx.

\r\n\r\n

Người quan sát phải\r\nđiều tiết mắt cho thích nghi theo độ rọi của môi trường trước khi quan sát màn\r\nhình của đèn.

\r\n\r\n

3.3.2. Kết quả đo

\r\n\r\n

Kết quả đo là sự\r\nkhẳng định xem có thể nhìn thấy độ chói trong khoảng thời gian cho trước hay\r\nkhông.

\r\n\r\n

3.4. Hồ quang lóe sáng

\r\n\r\n

3.4.1. Đo bằng phương\r\npháp A

\r\n\r\n

3.4.1.1. Điều kiện đo

\r\n\r\n

Đèn phải được lắp\r\ntrong mạch điện cho trước với các điện áp quy định.

\r\n\r\n

3.4.1.2. Kết quả đo

\r\n\r\n

Kết quả đo là số lần\r\nhồ quang lóe sáng quan sát được trên màn hình của đèn trong khoảng thời gian\r\ncho trước.

\r\n\r\n

3.4.2. Đo bằng phương\r\npháp B

\r\n\r\n

3.4.2.1. Điều kiện đo

\r\n\r\n

Lắp đèn vào mạch điện\r\ncho trước với các điện áp quy định. Mạch gồm một trở kháng xác định trong mạch catốt\r\nvà một thiết bị đếm thích hợp để đếm các xung điện áp đi qua trở kháng catốt gây\r\nra hồ quang lóe sáng. Phải nêu các đặc tính của thiết bị đếm (trở kháng đầu\r\nvào, độ nhạy, sự phân biệt thời gian giữa các xung liên tiếp).

\r\n\r\n

3.4.2.2. Kết quả đo

\r\n\r\n

Kết quả đo là số lần\r\nlóe sáng đếm được trong khoảng thời gian cho trước.

\r\n\r\n

3.5. Đo điện áp ngưỡng

\r\n\r\n

Điện áp ngưỡng phải được\r\nđo tại ngưỡng nhìn thấy được chấm sáng hội tụ không bị lái. Cường độ sáng (độ\r\nrọi trong phòng) trên màn hình phải ở mức thấp. Một cách khác, cũng có thể đo\r\nđiện áp ứng với dòng chùm tia cường độ thấp được quy định (điển hình là 0,1 µA),\r\ncó tính đến dòng điện rò.

\r\n\r\n

3.6. Đo độ tăng sáng\r\nvà thời gian lưu ảnh của màn hình

\r\n\r\n

3.6.1. Phương pháp 1

\r\n\r\n

Cho đèn làm việc ở\r\ncác điện áp điện cực quy định. Không đặt điện áp làm lệch. Dòng chùm tia được\r\nxung hóa có tần số lặp, độ dài xung và biên độ xung quy định. Nếu không có các\r\nđiều kiện đặc biệt áp dụng cho phép đo độ tăng sáng, thì khoảng thời gian giữa\r\ncác xung phải lớn hơn nhiều so với thời gian lưu ảnh của màn hình được đo.

\r\n\r\n

Ánh sáng đầu ra được đưa\r\nđến bộ nhân quang, đầu ra của bộ nhân quang được đưa đến thiết bị ghi phù hợp.

\r\n\r\n

Đối với các đèn dùng\r\nđể quan sát, phép đo đặc tính đáp tuyến của bộ nhân quang và các thiết bị liên\r\nquan của nó phải được điều chỉnh bằng bộ lọc phù hợp để tương ứng với thiết bị trắc\r\nquang theo tiêu chuẩn C.I.E.^*. Đối với các đèn dùng cho các mục đích khác,\r\nví dụ để chụp ảnh, có thể sử dụng các bộ lọc khác.

\r\n\r\n

Thiết bị ghi phải có\r\nthời gian đáp trả đủ ngắn để tái tạo trung thực độ tăng sáng và thời gian lưu\r\nảnh của màn hình được đo. Đối với phép đo độ tăng sáng và thời gian lưu ảnh trong\r\nthời gian ngắn thì tốt nhất là dùng dao động ký; đối với lưu ảnh trong thời\r\ngian rất dài, có thể chỉ cần sử dụng thiết bị đo sáng và đồng hồ bấm giây.

\r\n\r\n

3.6.2. Phương pháp 2

\r\n\r\n

Cho đèn làm việc ở\r\nđiện áp điện cực và dòng chùm tia quy định. Chấm sáng được quét bằng hệ thống lái\r\ntia phù hợp dọc theo vạch sáng với tốc độ quét đã biết. Cần triệt tiêu tác động\r\ncủa tia quét ngược nếu nó gây kích thích màn hình. Một màn chắn có khe hở với\r\nđộ rộng cho trước được đặt trước màn hình sao cho khe hở vuông góc với vạch\r\nsáng quét, và chỉ nhìn thấy một phần nhỏ của vạch sáng.

\r\n\r\n

Độ rộng của khe hẹp\r\nvà tốc độ quét phải sao cho thời gian chấm sáng đi ngang qua khe hẹp ngắn hơn\r\nthời gian lưu ảnh được đo.

\r\n\r\n

Ánh sáng phát ra từ\r\nphần nhỏ này của màn hình được hứng bằng bộ nhân quang rồi đưa vào thiết bị ghi\r\nphù hợp mô tả trong phương pháp 1.

\r\n\r\n

Thời gian kích thích màn\r\nhình có thể tính bằng đường kính chấm sáng và tốc độ quét. Đường kính chấm sáng\r\nphải được đo trong cùng một điều kiện làm việc (xem 3.7).

\r\n\r\n

3.6.3. Phương pháp 3

\r\n\r\n

Phương pháp này có\r\nthể sử dụng cho các đèn có thời gian lưu ảnh dài và trong trường hợp ánh sáng\r\nđầu ra thấp. Đèn hoạt động trong điều kiện điện áp điện cực, dòng chùm tia và\r\nnhiệt độ môi trường quy định. Sử dụng hệ thống lái tia phù hợp, chùm tia tạo\r\nthành mành quét. Thời gian kích thích đối với mành quét phải ngắn hơn thời gian\r\nlưu ảnh được đo.

\r\n\r\n

Sau đó, kích thích\r\nmàn hình với số lần kích thích quy định và ánh sáng đầu ra từ toàn bộ diện tích\r\nđược đưa vào bộ nhân quang, ánh sáng đầu ra của bộ nhân quang được ghi lại như\r\nmô tả trong phương pháp 1.

\r\n\r\n

Cần chú ý rằng thời\r\ngian kích thích không phải là thời gian trường quét, mà là đường kính chấm sáng\r\nchia cho tốc độ quét.

\r\n\r\n

3.7. Đo chất lượng\r\nhội tụ

\r\n\r\n

Chất lượng hội tụ có thể\r\nđược xác định bằng phép đo độ rộng vạch sáng sử dụng một trong các phương pháp\r\ndưới đây.

\r\n\r\n

Để tránh cháy hỏng màn\r\nhình, cần đưa xung dương có độ rộng và tần số lặp quy định vào lưới có điện áp\r\nngưỡng.

\r\n\r\n

Các đèn có sử dụng\r\nhội tụ và/hoặc lái tia bằng nam châm nên đo bằng các thiết bị hội tụ/lái tia\r\nxác định.

\r\n\r\n

3.7.1. Phương pháp\r\nkiểm tra bằng kính hiển vi

\r\n\r\n

3.7.1.1. Dãn rộng\r\nmành quét

\r\n\r\n

Đặt mành quét tạo bởi\r\nsố vạch sáng quy định ở tần số kích thích cho trước vào tâm màn hình, điều\r\nchỉnh điện áp lưới để đạt được cường độ sáng hoặc dòng chùm tia quy định.

\r\n\r\n

Độ dài của các vạch\r\nsáng phải được quy định và được giữ không đổi. Sau đó bảng chuẩn được dãn rộng để\r\ncấu trúc vạch sáng rõ ràng và để đảm bảo các vị trí đo. Tiêu tụ phải được điều\r\nchỉnh tốt nhất tại giữa mành quét, và độ rộng vạch sáng được đo bằng kính hiển\r\nvi như quy định trong 3.7.

\r\n\r\n

Quy trình này được\r\nlặp lại, nhưng không điều chỉnh tiêu tụ, mà thay đổi điện áp quét và điều chỉnh\r\ncỡ mành quét để có cùng độ dài vạch sáng.

\r\n\r\n

Đối với các đèn lái\r\ntia bằng tĩnh điện, phải sử dụng điện áp lái tia đối xứng.

\r\n\r\n

3.7.1.2. Vết sáng\r\nhình tròn hoặc hình elip

\r\n\r\n

Sử dụng vết sáng hình\r\ntròn hoặc hình elip có độ dài trục và tần số quy định, điều chỉnh điện áp lưới\r\nđể đạt cường độ sáng hoặc dòng chùm tia quy định.

\r\n\r\n

Tiêu tụ được điều\r\nchỉnh tốt nhất và độ rộng của vết sáng được đo ở điểm có độ nét kém nhất.

\r\n\r\n

3.7.1.3. Vạch sáng\r\nđứt đoạn

\r\n\r\n

Sử dụng vạch sáng có độ\r\ndài và tần số lặp quy định và điều chỉnh điện áp lưới đến giá trị ứng với giá\r\ntrị có cường độ sáng hoặc dòng chùm tia quy định trên mành quét. Có thể đưa\r\nxung dương thích hợp với tần số lặp quy định vào lưới có điện áp ngưỡng để đạt\r\nđiều kiện dòng chùm tia đỉnh hoặc cường độ sáng tương đương.

\r\n\r\n

Tiêu tụ phải được\r\nđiều chỉnh tốt nhất và độ rộng vạch sáng được đo ở chính giữa của vết sáng.

\r\n\r\n

3.7.2. Phương pháp\r\nlàm co mành quét

\r\n\r\n

Cho đèn làm việc ở\r\ncác điều kiện quy định, kể cả điều kiện mành được quét tuyến tính mà các tần số\r\nquét ngang và dọc của nó được ấn định. Tiêu tụ cần được điều chỉnh tốt nhất.

\r\n\r\n

Trước tiên, biên độ\r\ncủa bảng chuẩn được tăng lên cho đến khi nhìn rõ cấu trúc vạch sáng, và sau đó\r\ngiảm biên độ đến tình trạng mà các cạnh của các vạch sáng kề nhau hòa vào nhau và\r\nhiển thị với cùng một độ chói.

\r\n\r\n

Sau đó đo kích thước đã\r\ngiảm của bảng chuẩn rồi chia cho số vạch sáng hiển thị. Thương số là độ rộng\r\nvạch sáng.

\r\n\r\n

Lưu ý rằng việc xác định\r\nđộ rộng vạch sáng đối với phép đo trên đây khác đáng kể so với việc xác định\r\ntrong các phép đo độ rộng vạch sáng đơn hoặc chấm sáng. Mối quan hệ giữa hai\r\nloại phép đo phụ thuộc vào sự phân bố năng lượng trong vạch sáng hoặc chấm sáng,\r\nnhưng cũng nhận thấy rằng, trong nhiều trường hợp, độ rộng vạch sáng đạt được\r\nbằng phương pháp làm co mành quét xấp xỉ một nửa độ rộng vạch sáng đạt được\r\nbằng phép đo vạch sáng đơn hoặc chấm sáng.

\r\n\r\n

Phương pháp này đơn\r\ngiản và yêu cầu số thiết bị phụ trợ ít nhất, tuy nhiên độ chính xác của phép đo\r\nphụ thuộc vào độ tuyến tính của trường quét.

\r\n\r\n

3.7.3. Phương pháp\r\nkhe hẹp

\r\n\r\n

Cho đèn làm việc ở\r\nđiều kiện điện áp điện cực và dòng chùm tia quy định, chùm tia được quét thành\r\nvạch sáng.

\r\n\r\n

Ánh sáng từ vạch sáng\r\nnày được hội tụ bằng hệ thống quang thích hợp để tạo ra ảnh thực phóng to trên\r\nmặt phẳng đã cho.

\r\n\r\n

Một khe hẹp được đặt\r\ntrên mặt phẳng này. Độ rộng của khe hẹp phải nhỏ hơn độ rộng của ảnh vạch sáng\r\ncần đo. Điều quan trọng là ảnh và khe hẹp phải hoàn toàn song song với nhau.

\r\n\r\n

Ánh sáng xuyên qua\r\nkhe hẹp được hội tụ trên catốt quang của bộ nhân quang, bộ nhân quang này được\r\nghép với thiết bị ghi phù hợp. Bằng cách đo cường độ sáng tại một số điểm ngang\r\nqua độ rộng vạch sáng có thể vẽ được đường cong phân bố, và khi biết độ phóng\r\nđại của hệ thống quang có thể xác định độ rộng vạch sáng.

\r\n\r\n

Phép đo có thể được\r\ntiến hành bằng cách:

\r\n\r\n

a) di chuyển khe hẹp\r\nngang qua ảnh của vạch sáng;

\r\n\r\n

hoặc

\r\n\r\n

b) di chuyển vạch\r\nsáng quét trên đèn theo cách để ảnh di chuyển ngang qua khe hẹp.

\r\n\r\n

Phương pháp này cung cấp\r\nthông tin về sự phân bố cường độ sáng toàn bộ ngang qua độ rộng vạch sáng. Khi\r\ncó sẵn thông tin này, việc xác định đối với bất kỳ độ rộng vạch sáng nào (ví dụ\r\ngiới hạn ở 20% cường độ sáng đỉnh) đều có thể được sử dụng.

\r\n\r\n

3.8. Xác định độ phân\r\ngiải của đèn hình bằng phương pháp tần số khoảng trống

\r\n\r\n

Có thể áp dụng nguyên\r\nlý đo sau đây cho mọi loại đèn hình, nhưng kỹ thuật chính xác được sử dụng thay\r\nđổi theo thời gian lưu ảnh của lớp bắt nhạy và độ lớn (giá trị cao hay thấp) của\r\ndòng chùm tia chạy qua.

\r\n\r\n

3.8.1. Nguyên lý

\r\n\r\n

Ống tia catốt chỉ tái\r\ntạo bảng chuẩn mong muốn nếu trạng thái tự nhiên của bảng chuẩn thô hơn điểm\r\nrọi sáng vẽ nên nó. Nếu bảng chuẩn có cấu trúc sắc nét, tương phản của vết sáng\r\nđối với điều biến cho trước có xu hướng giảm và sẽ bị mất ở điểm cực biên của bảng\r\nchuẩn.

\r\n\r\n

Nếu đặt vào đèn một\r\ntín hiệu hình sin đủ nhỏ để tạo điều biến cường độ, thì đặc tính giữa cường độ\r\nvết sáng và biên độ tín hiệu điều biến đặt vào chủ yếu là tuyến tính. Do đó, độ\r\nphân giải của đèn có thể xác định bằng cách quan sát vết sáng trong việc phát\r\ntín hiệu đối với một tín hiệu đầu vào cho trước, ngược với tần số khoảng trống của\r\nbảng chuẩn, khi tần số này được xác định như là số chu kỳ hình sin/ đơn vị độ\r\ndài vết sáng. Do đó, phép đo đáp tuyến tần số khoảng trống của ống tia catốt cung\r\ncấp phương tiện đánh giá tính năng của đèn khi được sử dụng để hiển thị điều\r\nbiến cường độ cũng như trong các phép đo độ rộng vạch sáng hoặc kích cỡ chấm\r\nsáng thông thường.

\r\n\r\n

Để thuận tiện, đáp\r\ntuyến tần số khoảng trống của đèn được mô tả theo phần trăm của đáp tuyến của đèn\r\ntại tần số thấp mà tại đó độ phân giải được coi là lớn nhất.

\r\n\r\n

Tuy nhiên, để đơn\r\ngiản phép đo, đáp tuyến tần số khoảng trống của đèn có thể được đánh giá bằng cách\r\ngiữ cường độ vết sáng không đổi và đặt lên một bảng chuẩn tiêu chuẩn ngoài mà\r\nbảng chuẩn này mô phỏng các vùng đen và trắng được tạo ra bởi vết sáng điều\r\nbiến.

\r\n\r\n

Trong trường hợp này,\r\nphải chú ý rằng việc sử dụng bảng chuẩn tiêu chuẩn ngoài như vậy sẽ tạo ra dạng\r\nsóng điều biến tương đương với dạng của sóng vuông.

\r\n\r\n

Hai đường đặc tính,\r\nchỉ ra mối quan hệ (a) giữa độ sâu điều biến, tính bằng phần trăm, theo đáp\r\ntuyến tần số khoảng trống và điều biến dạng sóng sin, và (b) giữa độ sâu điều\r\nbiến, tính bằng phần trăm, theo đáp tuyến tần số khoảng trống và điều biến dạng\r\nsóng vuông, là khác nhau.

\r\n\r\n

Do đó, phải tính toán\r\nsự khác nhau và điều này có thể được thực hiện bằng cách sử dụng các đường cong\r\ntương tự với đường cong được chỉ ra trong hình 1, 2, 3 và 4.

\r\n\r\n

Các đường cong này\r\nchỉ ra quan hệ giữa độ sâu điều biến, tính bằng phần trăm, với tần số khoảng\r\ntrống, tạo ra độ sâu điều biến 60%, coi rằng cường độ chấm sáng theo phân bố gauxơ.\r\nĐộ sâu điều biến 60% được lấy trong ví dụ cụ thể này là mức có thể chấp nhận được\r\ncủa phép đo đèn.

\r\n\r\n

Chú thích - Lưu ý là độ sâu điều\r\nbiến 60% được chọn là mức chuẩn tiêu chuẩn.

\r\n\r\n

Nếu coi cường độ chấm\r\nsáng theo phân bố gauxơ, có thể sử dụng công thức sau:

\r\n\r\n

;                                     f_60(sin) =

\r\n\r\n

trong đó:

\r\n\r\n

M - độ sâu điều biến\r\ntại tần số khoảng trống f

\r\n\r\n

f_60(sin) - tần số khoảng trống\r\ndạng hình sin khi độ sâu điều biến là 60%

\r\n\r\n

2d - độ rộng chấm sáng tại độ cao 60,6% (xem\r\nhình 4)

\r\n\r\n

Từ hình 1 và hình 2,\r\ncó thể thấy, với độ sâu điều biến 60%, tỷ số giữa đáp tuyến tần số khoảng trống\r\ncó điều biến dạng sóng vuông (1) và đáp tuyến tần số khoảng trống có điều biến\r\ndạng sóng sin (2) được cho bởi:

\r\n\r\n

 = 1,21 (đoạn thẳng AA’)

\r\n\r\n

trong đó:

\r\n\r\n

f_60(sq) - tần số khoảng trống\r\ndạng sóng vuông tại đó độ sâu điều biến là 60%

\r\n\r\n

Từ các công thức\r\ntrên, quan hệ giữa kích cỡ chấm sáng và đáp tuyến sóng vuông là:

\r\n\r\n

f_60(sq) =

\r\n\r\n

Nói cách khác, sự\r\nkhác nhau phát sinh do dạng sóng điều biến có thể được mô tả là sự khác nhau giữa\r\nđộ sâu điều biến, tính bằng phần trăm, tại giá trị tần số khoảng trống cho trước.

\r\n\r\n

Đối với phép đo này,\r\nmột vết sáng được hiển thị trên ống tia catốt và được chiếu qua vật kính của kính\r\nhiển vi lên một bảng chuẩn tiêu chuẩn mà bảng chuẩn này có dạng một cách tử xác\r\nđịnh gồm các dải trong suốt và các dải chắn sáng xen kẽ có độ rộng bằng nhau. Nếu\r\nđường quét ngang qua các dải xen kẽ này, tức là quét vuông góc với chiều dài\r\ncủa dải, như hình 5, thì lượng ánh sáng được truyền qua cách tử phụ thuộc vào\r\ntốc độ quét và kích thước tương đối của các độ rộng dải và điểm rọi sáng. Ví\r\ndụ, nếu chấm sáng rộng hơn độ rộng dải, một phần ánh sáng được phát ra sẽ bị\r\nchắn lại bởi các phần chắn sáng khi tâm của chấm sáng nằm trong dải trong suốt,\r\nvà chiếu sáng dạng dải sẽ xảy ra khi chấm sáng ở ngay sau một dải chắn sáng\r\n(xem hình 6a và 6b). Ngoài ra, khi ánh sáng phát ra phụ thuộc vào năng lượng\r\ntrong các lớp bắt nhạy, thì một vòng quét quá nhanh sẽ không đủ năng lượng cho\r\nphần tử để tạo ra cường độ lớn nhất, và/hoặc có thể không cho phép năng lượng\r\ntừ lần quét trước tiêu tán hết. ảnh hưởng của tốc độ quét có thể triệt tiêu nếu\r\nlựa chọn tốc độ quét thích hợp. Quan sát sự thay đổi cường độ sáng truyền qua cách\r\ntử, có độ rộng dải tương đương với cấu trúc bảng chuẩn mong muốn, cho phép đo\r\nkhả năng phân giải của đèn.

\r\n\r\n

3.8.2. Phép đo

\r\n\r\n

3.8.2.1. Nguyên lý

\r\n\r\n

Một chấm sáng hoặc\r\nvết sáng, nếu có liên quan, được hiển thị trên đèn và được tạo ảnh thông qua vật\r\nkính của kính hiển vi lên một cách tử như cho trên hình 5. Các dải trong suốt\r\nvà chắn sáng có kích thước sao cho tạo ra tần số khoảng trống thử nghiệm yêu\r\ncầu, có liên quan đến độ phóng đại của vật kính của kính hiển vi.

\r\n\r\n

Chiều di chuyển tương\r\nđối của chấm sáng và cách tử là ngang qua các dải xen kẽ, như hình 5.

\r\n\r\n

Ánh sáng truyền được\r\ntập trung bằng bộ nhân quang có đáp tuyến quang phổ xác định, qua một ống kính\r\ntập hợp để hội tụ khe mở của vật kính của kính hiển vi lên catốt của bộ nhân\r\nquang. Đầu ra của bộ nhân quang được đưa trực tiếp đến thiết bị hiển thị (ví dụ\r\nmáy hiển thị dao động hoặc thiết bị tự ghi) mà thời gian gốc của nó được đồng\r\nbộ với tốc độ di chuyển tương đối.

\r\n\r\n

Biên độ được chỉ ra\r\ntrên thiết bị hiển thị, là số đo của ánh sáng truyền qua cách tử, được đo cho\r\ncả khoảng cách đơn rộng và chuỗi các khoảng cách hẹp. Biên độ đo được ở khoảng cách\r\nhẹp được so sánh với biên độ đo được ở khoảng cách rộng, mà biên độ này đại\r\ndiện cho biên độ có thể đạt được ở tần số “không”. Tỷ số của hai biên độ được\r\ntính bằng phần trăm đối với tần số khoảng trống xác định.

\r\n\r\n

3.8.2.2. Các phương\r\npháp đo

\r\n\r\n

Đo đèn có hội tụ\r\nvà/hoặc lái tia bằng nam châm phải sử dụng các thiết bị hội tụ và/hoặc cuộn dây\r\nlái tia xác định.

\r\n\r\n

Cho đèn làm việc\r\ntrong các điều kiện điện áp điện cực và dòng chùm tia cho trước trong hệ thống được\r\nbố trí như hình 7. Phương pháp đo được lựa chọn phải phù hợp với thời gian lưu\r\nảnh của lớp bắt nhạy trên màn hình và độ lớn của dòng chùm tia; biểu hiện của dòng\r\nchùm tia phụ thuộc vào sự dễ cháy lớp bắt nhạy khi sử dụng.

\r\n\r\n

Ba phương pháp dưới\r\nđây lưu ý đến các yếu tố này:

\r\n\r\n

Phương pháp A - Đối\r\nvới các đèn có dòng chùm tia cường độ thấp và các lớp bắt nhạy có thời gian lưu\r\nảnh từ trung bình đến ngắn

\r\n\r\n

Chùm tia được quét\r\nngang qua màn hình của đèn, ở tần số thấp, để tạo vạch sáng ngắn. Tốc độ được\r\nthực hiện đủ thấp để đảm bảo năng lượng trong các lớp bắt nhạy được tiêu tán trước\r\nkhi vẽ tiếp các vạch sáng tiếp theo. Chiều quét ngang qua các dải của cách tử\r\n(xem hình 5).

\r\n\r\n

Chú ý - Để giảm thiểu\r\nhiệu ứng nhiễu màn hình huỳnh quang, chấm sáng phải dao động với tần số cao\r\ntheo hướng vuông góc với đường quét.

\r\n\r\n

Phương pháp B - Đối\r\nvới các đèn có dòng chùm tia cường độ thấp và lớp bắt nhạy có thời gian lưu ảnh\r\ndài

\r\n\r\n

Một chấm sáng đứng\r\nyên được hiển thị trên đèn hình còn cách tử thì di chuyển ngang qua ảnh của chấm\r\nsáng theo chiều vuông góc với các dải của cách tử. Phương tiện di chuyển cách\r\ntử không được gây rung động hay ồn cơ khí.

\r\n\r\n

Chú ý - Vì các chất\r\nhuỳnh quang trong màn hình lưu ảnh lâu, đặc biệt là florua, dễ bị cháy, nên\r\nkhuyến cáo rằng chấm sáng phải dao động với tần số cao theo hướng song song với\r\ncác dải của cách tử. Việc làm lệch này sẽ giảm tải cục bộ của chất huỳnh quang\r\nvà cũng giảm thiểu hiệu ứng nhiễu màn hình huỳnh quang.

\r\n\r\n

Đối với các đèn có\r\ndòng chùm tia cường độ cao

\r\n\r\n

Khi mật độ dòng điện\r\ntrung bình tại điểm nào đó trên đèn hình đủ cao để gây cháy chất huỳnh quang\r\ntrong thời gian tiến hành phép đo, thì quy trình của phép đo phải thay đổi để\r\ngiảm dòng điện trung bình đến mức an toàn.

\r\n\r\n

Có thể sử dụng riêng\r\nrẽ hoặc đồng thời hai phương pháp dưới đây:

\r\n\r\n

a) Quét lặp lại chấm\r\nsáng theo hướng vuông góc với hướng di chuyển của cách tử. Biên độ quét phải đủ\r\nđể giảm mật độ dòng điện trung bình tại mọi điểm trên đèn hình đến mức an toàn.\r\nTốc độ quét phải xấp xỉ tốc độ dùng trong hoạt động bình thường.

\r\n\r\n

b) Chấm sáng được\r\nxung hóa giữa mức sáng nhất và mức ngưỡng bằng một tín hiệu thích hợp đặt giữa\r\nlưới và catốt. Tỷ lệ thời gian bật và tắt tín hiệu điều biến phải đủ thấp để\r\ngiảm mật độ dòng điện trung bình tại mọi điểm trên đèn hình đến mức an toàn, và\r\nthời gian chuyển đổi giữa hai mức phải ngắn so với thời gian “bật”.

\r\n\r\n

Việc di chuyển tương\r\nđối giữa ảnh vết sáng và cách tử phải sao cho có đủ số lượng xung (ví dụ 20) trong\r\nmột chu kỳ tần số khoảng trống của cách tử.

\r\n\r\n

c) Trong trường hợp\r\nđặc biệt, hai phương pháp này có thể được kết hợp với nhau: sử dụng quét lặp lại\r\nnhư trong a) với đèn được giữ trên mức ngưỡng, và các vết sáng được xung hóa một\r\ncách tuần hoàn như trong b) để đạt mức sáng nhất trong một lần quét hoàn chỉnh.\r\nTốc độ lặp lại của các xung làm sáng phụ thuộc vào mức yêu cầu giảm mật độ dòng\r\nđiện trung bình tại mọi điểm trên màn hình. Hơn nữa, yêu cầu phải đạt ít nhất\r\n20 xung trong một chu kỳ tần số khoảng trống của cách tử.

\r\n\r\n

3.8.3. Yêu cầu về phương\r\ntiện đo

\r\n\r\n

Vật kính của kính\r\nhiển vi, cách tử, thấu kính tập hợp và bộ nhân quang được đặt trong một hộp tránh\r\nsáng được lắp đặt để cho phép dịch chuyển tương đối với bề mặt của ống tia catốt\r\nđược đo. Khoảng cách giữa vật kính của kính hiển vi, cách tử và đèn phải điều\r\nchỉnh được để cho phép dễ dàng điều chỉnh độ phóng đại trong khi hiệu chuẩn.

\r\n\r\n

Thấu kính tập hợp được\r\nđặt ngay sau cách tử (hình 7) còn catốt của bộ nhân quang được đặt thích hợp ở\r\nkhoảng cách xấp xỉ với khoảng cách từ thấu kính tập hợp đến vật kính của kính\r\nhiển vi.

\r\n\r\n

3.8.4. Cách tử

\r\n\r\n

Dạng cách tử được chỉ\r\nra trên hình 5, có một chu kỳ ở tần số rất thấp, phần còn lại ở tần số đo cao duy\r\nnhất xác định. Các khoảng cách, cùng với độ phóng đại thích hợp của vật kính,\r\ntạo ra tần số khoảng trống yêu cầu. Ví dụ, khi khoảng cách là 0,0167 cm (0,0066\r\nin) với độ phóng đại 5 lần, thì tần số khoảng trống dạng sóng vuông của phép đo\r\nlà 150 chu kỳ/centimet

\r\n\r\n

\r\n\r\n

Cách tử có thể đạt được\r\nbằng cách thu nhỏ ảnh chụp từ nguyên mẫu. Để duy trì độ chính xác của nguyên\r\nmẫu trên cách tử đạt được này, cần rất thận trọng trong quá trình chụp ảnh.

\r\n\r\n

3.8.5. Bộ nhân quang

\r\n\r\n

Bộ nhân quang có thể\r\nlà một ống thích hợp bất kỳ, nhưng phù hợp là loại có cửa sổ ở một đầu. Đáp\r\ntuyến và các đặc tính phổ phải thích hợp với phép đo.

\r\n\r\n

3.8.6. Máy hiện sóng

\r\n\r\n

Độ nhạy làm lệch phải\r\ncó giá trị sao cho tạo ra độ lệch thích hợp trên đèn hình lưu ảnh để dễ dàng đo\r\nbiên độ. Điều này thuận lợi nếu sử dụng máy hiện sóng có gốc thời gian dạng\r\nxung răng c-a để cung cấp đầu vào cho bộ khuếch đại quét để làm lệch điểm sáng\r\ntrên ống tia catốt được đo.

\r\n\r\n

3.8.7. Hiệu chuẩn

\r\n\r\n

Phương pháp A

\r\n\r\n

Hiệu chuẩn hệ thống có\r\nthể tiến hành bằng cách bỏ bộ nhân quang ra và đặt một bóng đèn thích hợp trong\r\nmặt phẳng catốt quang. ảnh được chiếu của cách tử được quan sát nhờ một kính\r\nhiển vi gắn với bàn soi micromet đã hiệu chuẩn. Khoảng cách giữa vật kính của kính\r\nhiển vi và cách tử được điều chỉnh cho đến khi số lượng thích hợp các vùng đen\r\nvà trắng có độ dài đã cho trên bàn soi micromet. Khi đó vị trí của vật kính được\r\ncố định và thay bộ nhân quang vào.

\r\n\r\n

Phương pháp B

\r\n\r\n

Đặt vào đường đi của tia\r\nsáng giữa cách tử và bộ nhân quang một thiết bị phân tia kiểu quang và kính\r\nhiển vi, cho phép người quan sát có thể nhìn thấy cách tử (như hình 8). Khi các\r\ntia sáng đến kính hiển vi được hội tụ trên cách tử, nó được giữ ở vị trí đó còn\r\nbàn soi micromet được đặt trong mặt phẳng đối tượng cũng là mặt phẳng đặt đèn được\r\nđo.

\r\n\r\n

Vị trí của vật kính\r\ncủa hệ thống đo và vị trí của bàn soi micromet được điều chỉnh sao cho ảnh ảo\r\ncủa bàn soi micromet trùng lên cách tử và cả hai có thể được quan sát đồng thời\r\nnhờ kính hiển vi.

\r\n\r\n

Kính hiển vi cũng có\r\nthể được sử dụng để giúp việc hình thành tiêu tụ điện của đèn được đo, hội tụ\r\nảnh vết sáng tại mặt phẳng cách tử và sắp xếp chính xác các ảnh của vết sáng\r\nvới các dải cách tử.

\r\n\r\n

Cách tử phải được\r\nchứa trong hộp tránh sáng.

\r\n\r\n

4. Đo độ lệch và độ\r\ndịch chuyển của chấm sáng

\r\n\r\n

4.1. Độ nhạy lái tia\r\nvà hệ số lái tia

\r\n\r\n

4.1.1. Độ nhạy lái\r\ntia (S)

\r\n\r\n

Độ lệch đối xứng\r\n(hoặc không đối xứng, nếu có quy định) phủ 75% kích thước màn hình hữu ích được\r\nđặt lần lượt vào mỗi trục. Tỷ số giữa độ lệch tương ứng, tính bằng milimét, và\r\nđiện áp lái tia tức thời phải được đo đối với mỗi trục.

\r\n\r\n

4.1.2. Hệ số lái tia

\r\n\r\n

Là đại lượng nghịch\r\nđảo của độ nhạy lái tia.

\r\n\r\n

Độ lệch đối xứng\r\n(hoặc không đối xứng, nếu có quy định) phủ 75% kích thước màn hình hữu ích được\r\nđặt lần lượt vào mỗi trục. Tỷ số giữa điện áp lái tia và độ lệch tương ứng,\r\ntính bằng milimét, phải được đo đối với mỗi trục.

\r\n\r\n

4.2. Hệ số lái tia\r\nđồng đều - lái tia tĩnh điện (F)

\r\n\r\n

Sử dụng phương pháp\r\nđo được mô tả trong 4.1.1, độ nhạy lái tia S được đo tại hai điểm lệch quy định\r\ndọc theo mỗi trục. Kết quả S₁ và S₂ thường được tính bằng milimét/vôn và hệ số\r\nlái tia đồng đều (F) đối với mỗi trục tính bằng phần trăm, được xác định từ\r\ncông thức:

\r\n\r\n

\r\n\r\n

Nếu không có quy định\r\nnào khác, vì độ nhạy lái tia thay đổi theo lượng làm lệch, việc xác định đầy đủ\r\nhệ số lái tia đồng dạng chỉ có thể có được từ đường cong hệ số lái tia đồng đều\r\nnhư là hàm số của lượng làm lệch, được đo từ tâm màn hình.

\r\n\r\n

4.3. Méo độ lái tia -\r\nlái tia tĩnh điện

\r\n\r\n

4.3.1. Méo bảng chuẩn

\r\n\r\n

Với diện tích màn\r\nhình yêu cầu được quét bởi điện áp lái tia đối xứng (hoặc không đối xứng, nếu\r\ncó quy định), các mép của mành quét phải nằm trong phạm vi các hình chữ nhật\r\nđồng tâm có các kích thước quy định.

\r\n\r\n

4.4. Dịch chuyển chấm\r\nsáng bằng cơ khí

\r\n\r\n

Vị trí tương đối của chấm\r\nsáng so với điểm chuẩn quy định trên màn hình được đo khi không có bất kỳ trường\r\nlái tia nào, bằng cách loại bỏ mọi ảnh hưởng gây ra bởi trường tĩnh điện hoặc\r\ntrường bên ngoài hoặc đưa chúng vào tính toán.

\r\n\r\n

Đối với các đèn lái\r\ntia bằng điện, các phiến lái tia phải được nối trực tiếp với các điện cực tương\r\nứng.

\r\n\r\n

Đối với các đèn hội\r\ntụ bằng tĩnh điện, các chấm sáng nên được điều chỉnh để đạt hội tụ tốt nhất.

\r\n\r\n

Đối với các đèn hội\r\ntụ bằng nam châm, không có trường hội tụ nào khác, thiên áp phải được điều\r\nchỉnh để không làm hỏng màn hình.

\r\n\r\n

4.5. Dịch chuyển chấm\r\nsáng bằng điện

\r\n\r\n

4.5.1. Hiệu ứng dòng\r\nđiện rò

\r\n\r\n

Với các chấm sáng được\r\nđiều chỉnh để hội tụ tốt nhất và mỗi điện cực lái tia được nối đến các điện cực\r\nthích hợp, đo độ lệch của chấm sáng gây ra do mắc nối tiếp điện trở quy định với\r\nlần lượt mỗi điện cực lái tia.

\r\n\r\n

Thiên áp phải được\r\nđiều chỉnh để không làm hỏng màn hình.

\r\n\r\n

4.5.2. Hiệu ứng dòng\r\nchùm tia

\r\n\r\n

Với các điện trở quy\r\nđịnh trong các mạch điện cực lái tia và các điện cực lái tia được nối một cách\r\nđối xứng, phải đo sự dịch chuyển các chấm sáng, vạch sáng hoặc mành quét khi\r\nđiện áp lưới được thay đổi từ điện áp ngưỡng đến điện áp yêu cầu để đạt được cường\r\nđộ sáng quy định.

\r\n\r\n

Khi cần, lưới có thể\r\nđược cấp xung để ngăn ngừa việc hỏng màn hình.

\r\n\r\n

5. Đo điện dung giữa\r\ncác điện cực

\r\n\r\n

Phép đo điện dung giữa\r\ncác điện cực khác nhau phải được thực hiện tại các chân của đèn và khi đèn\r\nnguội, sử dụng các phương pháp mô tả trong IEC100 Phương pháp đo điện dung điện\r\ncực trực tiếp của các đèn hình và đèn van điện tử.

\r\n\r\n

\r\n\r\n

Tỷ\r\nlệ hóa tần số khoảng trống (c/cm) với độ sâu điều biến là 60%

\r\n\r\n

Hình\r\n1 - So\r\nsánh độ sâu điều biến đạt được với điều biến dạng sóng vuông và dạng sóng sin

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n

\r\n Điều biến \r\n \r\n Tỷ số tần số khoảng trống “sóng vuông/sóng\r\n sin” \r\n

\r\n Nhân tần số sóng\r\n sin với tỷ số để có sóng vuông \r\n Chia tần số sóng\r\n vuông cho tỷ số để có sóng sin \r\n

\r\n\r\n

Hình\r\n2 - Đường\r\ncong quan hệ giữa các tần số khoảng trống sóng vuông/sóng sin đối với các độ\r\nsâu điều biến khác nhau

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n

\r\n Điều biến \r\n \r\n Tỷ số tần số khoảng\r\n trống sóng vuông \r\n

\r\n Ví dụ: Cho một đáp\r\n tuyến 48% ở 167 c/cm, tìm tần số khoảng trống ở 60%. \r\n Tìm tỷ số đối với\r\n 48% rồi chia tần số cho trước cho tỷ số. \r\n Tần số ở 60% là: \r\n \r\n

\r\n\r\n

Hình\r\n3 - Đường\r\ncong quan hệ giữa tần số khoảng trống sóng vuông và điều biến

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

\r\n\r\n

Hình\r\n4 - Phân\r\nbố cường độ chấm sáng (gauxơ)

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

\r\n\r\n

Hình\r\n5 - Cách\r\ntử điển hình (không theo tỷ lệ)

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

\r\n\r\n

Hình\r\n6a -\r\nĐiều biến sóng sin

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

\r\n\r\n

Hình\r\n6b -\r\nĐiều biến sóng vuông

\r\n\r\n

Hình\r\n6 - ánh\r\nsáng quan sát được với các điều biến khác nhau

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

\r\n\r\n

Hình\r\n7 - Phép\r\nđo đáp tuyến tần số khoảng trống

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

\r\n\r\n

Hình\r\n8 - Sắp\r\nxếp hệ thống hiệu chuẩn (phương pháp B)

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n