Lời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 6611-2 : 2001 hoàn toàn tương đương với\r\ntiêu chuẩn IEC 326-2 : 1990 và Sửa đổi 1 : 1992;
\r\n\r\nTCVN 6611-2 : 2001 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn\r\nTCVN/TC/E3 Thiết bị điện tử dân dụng biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường\r\nChất lượng đề nghị, Bộ Khoa học Công nghệ và Môi trường (nay là Bộ Khoa học và\r\nCông nghệ) ban hành.
\r\n\r\nTiêu chuẩn này được chuyển đổi năm 2008 từ\r\nTiêu chuẩn Việt Nam cùng số hiệu thành Tiêu chuẩn Quốc gia theo quy định tại\r\nkhoản 1 Điều 69 của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật và điểm a khoản 1\r\nĐiều 6 Nghị định số 127/2007/NĐ-CP ngày 1/8/2007 của Chính phủ quy định chi\r\ntiết thi hành một số điều của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Tiêu chuẩn này là danh mục các phương pháp\r\nthử nghiệm. Tiêu chuẩn này liên quan đến các phương pháp và qui trình thử\r\nnghiệm đối với các tấm mạch in được chế tạo bằng công nghệ bất kỳ, khi chúng đã\r\nsẵn sàng để lắp đặt các linh kiện.
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này mô tả các phương pháp thử\r\nnghiệm để đánh giá các đặc tính, kích thước và tính năng của tấm mạch in.
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này phải được sử dụng kết hợp với\r\ncác tiêu chuẩn:
\r\n\r\nIEC 68 Thử nghiệm môi trường – Qui trình thử\r\nnghiệm môi trường cơ bản
\r\n\r\nIEC 68-2-3 : 1969 Phần 2: Thử nghiệm - Thử\r\nnghiệm Ca: Nóng ẩm, không đổi
\r\n\r\nIEC 68-2-20 : 1979 Thử nghiệm T: Hàn
\r\n\r\nIEC 68-2-30 : 1980 Thử nghiệm Db và hướng\r\ndẫn: Nóng ẩm, chu kỳ (chu kỳ 12 +12 h) IEC 97 : 1970 Hệ thống lưới đối với mạch\r\nin
\r\n\r\nIEC 194 : 1988 Thuật ngữ và định nghĩa đối\r\nvới mạch in
\r\n\r\nIEC 249-1 : 1982 Vật liệu cơ bản dùng cho\r\nmạch in – Phần 1: Phương pháp thử
\r\n\r\nTCVN 6611-1 : 2001 (IEC 2326-1 : 1996) Tấm\r\nmạch in. Phần 1: Qui định kỹ thuật chung
\r\n\r\nTCVN 6611-3 : 2001 (IEC 326-3 : 1991) Tấm\r\nmạch in. Phần 3: Thiết kế và sử dụng tấm mạch in
\r\n\r\nTCVN 6611-4 : 2000 (IEC 326-4 : 1980) Phần 4:\r\nQui định kỹ thuật đối với tấm mạch in một mặt và hai mặt có các lỗ không phủ\r\nkim loại
\r\n\r\nTCVN 6611-5 : 2000 (IEC 326-5 : 1980) Phần 5:\r\nQui định kỹ thuật đối với tấm mạch in một mặt và hai mặt có các lỗ xuyên phủ\r\nkim loại
\r\n\r\nTCVN 6611-6 : 2000 (IEC 326-6 : 1980) Phần\r\n6: Qui định kỹ thuật đối với tấm mạch in nhiều lớp
\r\n\r\nIEC 454 Qui định kỹ thuật đối với băng dán\r\nnhạy áp lực dùng cho mục đích điện
\r\n\r\nIEC 454-3-1 : 1976 Phần 3: Qui định kỹ thuật\r\nđối với vật liệu riêng. Tờ 1: Yêu cầu đối với nhựa polyvinyl clorua có chất kết\r\ndính là nhựa nhiệt cứng.
\r\n\r\nIEC 695-2-1 : 1980 Thử nghiệm rủi ro cháy.\r\nPhần 2: Phương pháp thử. Thử nghiệm sợi dây nóng đỏ và hướng dẫn
\r\n\r\nIEC 695-2-2 : 1980 Thử nghiệm ngọn lửa hình\r\nkim. Các tiêu chuẩn khác
\r\n\r\nISO 1436 : 1982 Lớp phủ kim loại và lớp phủ\r\noxit – Phép đo chiều dày lớp phủ – Phương pháp kính hiển vi
\r\n\r\nISO 3448 : 1975 Chất bôi trơn dạng lỏng dùng\r\ntrong công nghiệp – Phân loại độ nhớt theo ISO ISO 6743 Chất bôi trơn, dầu công\r\nnghiệp và các sản phẩm liên quan (cấp L) – Phân loại.
\r\n\r\n\r\n\r\n4.1 Điều kiện khí quyển tiêu chuẩn đối với\r\nthử nghiệm
\r\n\r\nNếu không có qui định nào khác, tất cả các thử\r\nnghiệm phải được thực hiện ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn như được mô tả\r\ntrong IEC 68.
\r\n\r\nNhiệt độ môi trường và độ ẩm tương đối khi\r\nthực hiện các phép đo phải được nêu trong báo cáo thử nghiệm.
\r\n\r\nTrong trường hợp có tranh chấp giữa người mua\r\nvà người bán về kết quả thử nghiệm, các thử nghiệm phải được thực hiện ở một\r\ntrong các điều kiện trọng tài của IEC 68.
\r\n\r\n4.2. Mẫu thử
\r\n\r\nNếu có thể thực hiện được và nếu không có\r\nqui định nào khác thì thử nghiệm phải được tiến hành trên tấm mạch in thành\r\nphẩm.
\r\n\r\nMẫu thử nghiệm có thể là mẫu cần thiết hoặc\r\nmẫu đề nghị đối với các thử nghiệm nhất định.
\r\n\r\nMẫu thử nghiệm có thể nằm trên một panen mạch\r\nin thành phẩm hoặc có thể được chế tạo là mẫu thử nghiệm kết hợp riêng nối với\r\ncác tấm mạch in thành phẩm có vật liệu và qui trình chế tạo như nhau sao cho đại\r\ndiện cho tấm mạch in thành phẩm. Nếu các mẫu thử nghiệm kết hợp riêng được chế\r\ntạo, chúng phải là các sản phẩm phân bố đều theo số lượng sao cho kết quả đánh giá\r\nlà khách quan.
\r\n\r\n\r\n\r\n5.1. Thử nghiệm 1: Kiểm tra bằng mắt
\r\n\r\nKiểm tra bằng mắt là kiểm tra về nhận dạng,\r\nbề ngoài, chất lượng tay nghề, chất lượng bề mặt, dạng, v.v… của tấm mạch in\r\ndựa vào qui định kỹ thuật liên quan bằng cách quan sát có dùng hoặc không dùng\r\nkính phóng đại.
\r\n\r\n5.1.1. Thử nghiệm 1a: Phương pháp phóng đại\r\ntuyến tính 3 lần
\r\n\r\nKiểm tra bằng cách quan sát phải được thực\r\nhiện bằng cách dùng thiết bị quang học có độ phóng đại tuyến tính xấp xỉ ba lần\r\nvà tại nơi có chiếu sáng.
\r\n\r\n5.1.2 Thử nghiệm 1b: Phương pháp phóng đại\r\ntuyến tính 10 lần
\r\n\r\nKhi có qui định, việc kiểm tra bằng cách quan\r\nsát phải dùng thiết bị quang học có độ phóng đại tuyến tính xấp xỉ 10 lần và\r\ntại nơi có chiếu sáng.
\r\n\r\n5.1.3 Thử nghiệm 1c: Phương pháp phóng đại\r\ntuyến tính 250 lần
\r\n\r\nKhi có qui định, việc kiểm tra bằng cách quan\r\nsát phải dùng thiết bị quang học có độ phóng đại tuyến tính xấp xỉ 250 lần.\r\nĐiều này thường chỉ yêu cầu đối với kiểm tra cắt lớp.
\r\n\r\n5.2. Thử nghiệm 2: Kiểm tra kích thước
\r\n\r\nKiểm tra kích thước là phép đo các kích thước\r\nthực bằng dụng cụ đo và thiết bị đo theo qui định kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n5.2.1. Dụng cụ và thiết bị đo phải có độ\r\nchính xác và khả năng đọc phù hợp với kích thước và dung sai được đo.
\r\n\r\n5.2.2. Thử nghiệm 2a: Phương pháp quang học
\r\n\r\nKhi có qui định, các phép đo đặc biệt, ví dụ,\r\nkích thước lỗ, khuyết tật ở mép các đường dẫn, phải dùng thiết bị quang học có\r\nlưới đo và khả năng đọc tin cậy đến 0,025 mm.
\r\n\r\n5.2.3 Khi có qui định, các phép đo đặc biệt,\r\nví dụ, độ phẳng của tấm mạch in phải được thực hiện bằng dưỡng như được qui\r\nđịnh trong phương pháp thử nghiệm và/hoặc trong qui định kỹ thuật chi tiết.
\r\n\r\n\r\n\r\n6.1. Thử nghiệm 3: Điện trở
\r\n\r\n6.1.1 Thử nghiệm 3a: Điện trở đường dẫn
\r\n\r\n6.1.1.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định điện trở đường dẫn.
\r\n\r\n6.1.1.2. Mẫu
\r\n\r\nPhép đo phải được thực hiện trên các đường\r\ndẫn qui định. Các đường dẫn này càng dài và càng hẹp càng tốt.
\r\n\r\n6.1.1.3. Phương pháp
\r\n\r\nĐiện trở phải được đo bằng phương pháp phù\r\nhợp trên hai đường dẫn tại hai điểm. Sai số đo không được lớn hơn 5%. Dòng điện\r\nphải giữ đủ nhỏ để tránh làm nóng mẫu thử một cách đáng kể.
\r\n\r\nTrong trường hợp có tranh chấp, phải sử dụng\r\nphương pháp bốn đầu nối.
\r\n\r\n6.1.1.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) đường dẫn cần đo;
\r\n\r\nb) giá trị điện trở;
\r\n\r\nc) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n6.1.2. Thử nghiệm 3b: Điện trở giữa các mối\r\nnối
\r\n\r\n6.1.2.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định điện trở giữa các mối nối của tấm\r\nmạch in.
\r\n\r\n6.1.2.2. Mẫu
\r\n\r\nPhép đo phải được thực hiện trên các phần qui\r\nđịnh của tấm mạch in thành phẩm, của mẫu thử nghiệm hoặc tấm mẫu thử nghiệm kết\r\nhợp.
\r\n\r\n6.1.2.3. Phương pháp
\r\n\r\nĐiện trở phải được đo bằng phương pháp bốn\r\nđầu nối hoặc phương pháp tương đương giữa hai lỗ qui định.
\r\n\r\nDòng điện đo không được vượt quá 0,1 A. Sai\r\nsố đo tổng phải nhỏ hơn 5%.
\r\n\r\nHai phương pháp nối điển hình được phản ánh\r\ntrên hình 1 và hình 2.
\r\n\r\nPhương pháp nối A
\r\n\r\nDây dẫn được hàn tại các lỗ qui định theo\r\nhình 1.
\r\n\r\nPhương pháp nối B
\r\n\r\nMối nối được thực hiện bằng hai cặp tiếp xúc\r\ntheo hình 2.
\r\n\r\nChú thích – Đầu thử nghiệm như mô tả trong\r\nthử nghiệm 5a là phù hợp (xem hình 3).
\r\n\r\n6.1.2.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các lỗ và các điểm giữa các mối nối cần\r\nđo;
\r\n\r\nb) phương pháp nối;
\r\n\r\nc) giá trị điện trở lớn nhất;
\r\n\r\nd) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n6.1.3. Thử nghiệm 3c: Thay đổi điện trở của các\r\nlỗ xuyên phủ kim loại, chu trình nhiệt
\r\n\r\n6.1.3.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định độ tăng điện trở của các lỗ xuyên\r\nphủ kim loại có thể xuất hiện khi các lỗ phải chịu chu trình nhiệt bằng cách\r\nkiểm tra liên tục điện trở trong suốt quá trình thử nghiệm.
\r\n\r\nĐộ tăng điện trở phản ánh chất lượng của lớp\r\nphủ.
\r\n\r\n6.1.3.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được thực hiện trên tấm mạch\r\nin có số lượng thích hợp các lỗ xuyên phủ kim loại mắc nối tiếp.
\r\n\r\nNếu thỏa thuận dùng tấm mẫu thử nghiệm như qui\r\nđịnh trong TCVN 6611-5 : 2000 (IEC 326-5) hoặc TCVN 6611-6 : 2000 (IEC 326-6) thì\r\nthử nghiệm phải được tiến hành trên “mẫu D”.
\r\n\r\nTấm thử nghiệm tốt nhất là không phủ\r\nchì-thiếc. Nếu có, lớp phủ phải được tẩy bằng hóa chất trước khi thử nghiệm nhưng\r\nphải chú ý để tránh ảnh hưởng có hại đến đồng.
\r\n\r\nChú thích – Thành phần chất tẩy phù hợp:
\r\n\r\n− 330 ml axit nitric 60% (tỷ trọng 1,36 g/cm3\r\nở 20oC);
\r\n\r\n− 3 ml axit floboric 40% (tỷ trọng 1,32 g/cm3\r\nở 20oC);
\r\n\r\n− 670 ml nước đã khử ion.
\r\n\r\nChú ý: Khi dùng các chất để tẩy, cần chú ý để\r\ntránh gây tổn hại cho sức khỏe.
\r\n\r\n6.1.3.3. Phương pháp
\r\n\r\nĐiện trở (hoặc điện áp rơi tương ứng) của các\r\nlỗ mắc nối tiếp phải được đo ở dòng điện không đổi bằng 100 ± 5 mA dùng phương\r\npháp bốn đầu nối. Điện trở phải được kiểm tra liên tục trong quá trình thử\r\nnghiệm. Mẫu thử phải được nối đến thiết bị ghi, ví dụ, bằng bộ nối ở mép tấm\r\nmạch in phù hợp.
\r\n\r\nChu trình nhiệt phải được thực hiện bằng cách\r\ndùng hai bể chất lỏng riêng biệt thay phiên nhau:
\r\n\r\n− Bể nhiệt độ môi trường, như qui định trong 9.2.1,\r\nthử nghiệm 19a, nhưng được giữ ở nhiệt độ 25 ± 2oC; để đảm bảo hiệu\r\nsuất làm nguội cho bể ở 25oC, bể cần chứa chất lỏng có độ nhớt thấp.
\r\n\r\n\r\n\r\n 0\r\n
\r\n\r\n− Bể\r\nnóng, như được qui định trong 9.2.1, thử nghiệm 19a, giữ tại nhiệt độ 260\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n
\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n
Mẫu thử phải được nhúng trong chất lỏng theo phương\r\nthẳng đứng đến độ sâu chừa lại các vùng nối, ví dụ bộ nối ở mép tấm mạch in,\r\nphải nằm phía trên bề mặt của chất lỏng xấp xỉ 30 mm. Để truyền nhiệt tốt hơn\r\ntrong quá trình nhúng trong chất lỏng nóng, mẫu thử được di chuyển nhẹ (theo hướng\r\nnằm ngang song song với bề mặt của mẫu). Sau khi nhúng vào và lấy ra khỏi bể có\r\nnhiệt độ 25oC, chất lỏng sót lại trên tấm thử nghiệm phải được loại\r\nbỏ trước khi nhúng tiếp theo.
\r\n\r\nMẫu thử phải được nhúng luân phiên trong bể\r\n25oC và bể 260oC. Chu kỳ bắt đầu và kết thúc đều ở bể 25oC.\r\nMẫu thử phải được chuyển ngay lập tức từ bể 260oC sang bể 25oC.
\r\n\r\nTổng số lần nhúng phải như qui định. Mẫu thử\r\nphải lưu trong bể 25oC cho đến khi đọc được giá trị điện trở ổn\r\nđịnh. Mẫu thử phải được giữ trong bể 260oC với thời gian là 20 ± 1\r\ns. Nếu có yêu cầu về các đặc tính của vật liệu nền, thì số lần nhúng khác chút\r\nít có thể được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan hoặc theo thỏa thuận\r\ngiữa người mua và người bán.
\r\n\r\nGiá trị điện trở (hoặc điện áp rơi tương ứng)\r\nđược vẽ trên thang thời gian theo số lần nhúng. Đồ thị kết quả, ví dụ từ máy vẽ\r\nđồ thị có dạng giống như trên hình 4.
\r\n\r\n6.1.3.4. Nội dung cần được qui định a) mẫu\r\ncần thử;
\r\n\r\nb) số lần nhúng ở bể 260oC;
\r\n\r\nc) độ tăng điện trở cho phép lớn nhất, tính\r\nbằng phần trăm, giữa lần nhúng đầu tiên và lần nhúng cuối cùng trong bể 25oC;
\r\n\r\nd) độ tăng điện trở cho phép lớn nhất, tính\r\nbằng phần trăm, giữa lần nhúng đầu tiên và lần nhúng cuối cùng trong bể 260oC;
\r\n\r\ne) độ tăng điện trở cho phép lớn nhất, tính\r\nbằng phần trăm, trong thời gian một lần nhúng ở bể 260oC;
\r\n\r\nf) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n6.2. Thử nghiệm 4: Tính toàn vẹn về điện
\r\n\r\nTính toàn vẹn về điện phải được thiết lập bằng\r\nhai qui trình thử nghiệm: Thử nghiệm 4a: Độ cách ly của mạch; và Thử nghiệm 4b:\r\nĐộ liền mạch. Các thử nghiệm trên có thể kết hợp để tiến hành thử nghiệm này\r\nsau thử nghiệm kia trên cùng mẫu thử. Thường thử nghiệm liền mạch (Thử nghiệm\r\n4b) được thực hiện trước.
\r\n\r\nViệc áp dụng chung giá trị dòng điện như một\r\nđiều kiện giới hạn (ví dụ như ranh giới giữa các điều kiện cách ly và các điều\r\nkiện liên tục) cũng như sử dụng thiết bị thử nghiệm tự động có thể làm cho việc\r\nkết hợp thử nghiệm thuận lợi.
\r\n\r\nCác thử nghiệm này không được dùng để thay\r\ncho kiểm tra bằng cách quan sát (Thử nghiệm 1a).
\r\n\r\n6.2.1. Thử nghiệm 4a: Cách ly của mạch
\r\n\r\n6.2.1.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể kiểm tra độ cách ly giữa các phần qui định\r\ncủa dạng dẫn của tấm mạch in mà dự kiến không nối với nhau, phù hợp với qui\r\nđịnh kỹ thuật liên quan (ví dụ các bản vẽ mạch in, các yêu cầu của khách hàng,\r\ncác dữ liệu trợ giúp máy tính, v.v…).
\r\n\r\n6.2.1.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên tất cả hoặc\r\ntrên các phần qui định của các dạng dẫn trên hoặc giữa các lớp bất kỳ của tấm\r\nsản phẩm.
\r\n\r\n6.2.1.3. Phương pháp
\r\n\r\nCác điểm qui định của mỗi mạch có thể nối\r\nriêng biệt của dạng dẫn phải được nối tới nguồn thử nghiệm bằng phương tiện phù\r\nhợp, ví dụ, bằng đầu thử nghiệm tiếp xúc với các đường dẫn qui định hoặc vành\r\nkhuyên. Các mạch còn lại không thử nghiệm, có thể được nối lần lượt với nhau thành\r\nnhóm, hoặc lần lượt thử nghiệm riêng rẽ.
\r\n\r\nNếu thích hợp, có thể bố trí nhiều đầu thử\r\nnghiệm (ví dụ, các đinh cấy đầu đo, đầu đo dạng mạch tích hợp hoặc đầu đo dạng\r\nmạch lai, v.v…). Nếu tấm mạch in có các tiếp điểm ở mép tấm, có thể sử dụng \r\nluôn bộ ổ nối ở mép tấm hoặc đầu thử nghiệm thích hợp.
\r\n\r\nĐiện áp thử nghiệm qui định phải được đặt tới\r\ncác phần của dạng dẫn thử nghiệm, sao cho chịu được dòng ngắn mạch. Nguồn điện\r\náp thử nghiệm phải được kết hợp với các phương tiện để kiểm soát dòng cung cấp\r\nvà giới hạn dòng điện đến giá trị nằm trong khả năng mang dòng của mạch thử\r\nnghiệm để tránh quá nhiệt.
\r\n\r\nCó thể đánh giá nhanh ngắn mạch bằng bộ chỉ\r\nthị đơn giản, như chỉ thị bằng đèn hoặc bằng thiết bị đo hoặc bằng mạch điện\r\nbiến đổi dòng điện thành tín hiệu được đánh giá bằng thiết bị thử nghiệm tự\r\nđộng.
\r\n\r\nĐể đánh giá ngắn mạch một cách kỹ lưỡng, dòng\r\nđiện phải được kiểm soát sao cho xác định được giá trị điện trở thuần giữa các\r\ndạng dẫn riêng biệt ứng với độ không đảm bảo của phép đo không quá 100% giá trị\r\nnhỏ nhất của điện trở đã cho làm yêu cầu giới hạn đối với độ cách ly của mạch.
\r\n\r\nKhông được có ngắn mạch giữa các điểm qui định.\r\nKhi đánh giá các yêu cầu qui định, mạch được coi là cách ly nếu giá trị điện\r\ntrở lớn hơn 1 MΩ ứng với dòng điện bất kỳ chạy giữa các đường dẫn riêng biệt\r\ntrong thử nghiệm, hoặc theo qui định trong qui định kỹ thuật chi tiết của khách\r\nhàng.
\r\n\r\n6.2.1.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) điện áp thử nghiệm;
\r\n\r\nb) điện trở cho phép nhỏ nhất nếu khác với 1\r\nMΩ;
\r\n\r\nc) các phần của dạng dẫn cần thử nghiệm;
\r\n\r\nd) dòng điện cho phép lớn nhất;
\r\n\r\ne) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n6.2.2. Thử nghiệm 4b: Liền mạch
\r\n\r\n6.2.2.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể kiểm tra sự liền mạch qua các điểm nối qui\r\nđịnh của dạng dẫn của tấm mạch in phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan (ví\r\ndụ các bản vẽ mạch in, các yêu cầu của khách hàng, các dữ liệu trợ giúp máy\r\ntính, v.v…).
\r\n\r\n6.2.2.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành cho tất cả\r\nhoặc cho các phần qui định của dạng dẫn trên hoặc giữa các lớp bất kỳ của tấm\r\nsản phẩm.
\r\n\r\n6.2.2.3. Phương pháp
\r\n\r\nCác điểm qui định của dạng dẫn phải được nối\r\ntới mạch thử nghiệm bằng phương tiện phù hợp bất kỳ, ví dụ, bằng các đầu thử\r\nnghiệm tiếp xúc với các đường dẫn qui định hoặc với vành khuyên. Nếu thích hợp,\r\ncó thể bố trí nhiều đầu đo thử nghiệm. Nếu tấm mạch in chứa các tiếp điểm ở mép\r\ntấm, có thể dùng luôn bộ ổ nối ở mép tấm hoặc các đầu thử nghiệm thích hợp.
\r\n\r\nĐặt điện áp qui định, hoặc cho dòng điện qui\r\nđịnh chạy qua lần lượt từng đường dẫn được nối riêng biệt, qua điểm nối của mạch\r\ncó thể nối từ bên ngoài bất kỳ (ví dụ, vành khuyên, bộ nối ở mép tấm, tiếp\r\nđiểm) và lần lượt đến từng điểm nối bên ngoài khác dùng để nối.
\r\n\r\nĐể đánh giá nhanh sự liền mạch có thể thực\r\nhiện bằng bộ chỉ thị đơn giản, như chỉ thị bằng đèn hoặc bằng thiết bị đo hoặc\r\nbằng mạch điện biến đổi dòng điện thành tín hiệu được đánh giá bằng thiết bị\r\nthử nghiệm tự động.
\r\n\r\nĐể đánh giá kỹ lưỡng sự liền mạch, dòng điện\r\nchạy trong mỗi phần dẫn phải được kiểm soát để cho phép xác định được điện trở thuần\r\ngiữa các điểm bất kỳ trong mạch ứng với độ không đảm bảo của phép đo không quá\r\n100% giá trị điện trở lớn nhất đã cho là yêu cầu giới hạn đối với sự liền mạch.
\r\n\r\nCần bố trí để giới hạn dòng điện lớn nhất nằm\r\ntrong khả năng mang dòng của mạch thử nghiệm.
\r\n\r\nPhải đạt liền mạch giữa tất cả các điểm qui\r\nđịnh của mỗi mạch. Đối với thiết bị tinh xảo, liền mạch được coi là đạt khi\r\nđiện trở ứng với dòng điện bất kỳ chạy qua các điểm trong mạch nhỏ hơn 5 Ω,\r\nhoặc giá trị được qui định trong qui định kỹ thuật chi tiết của khách hàng.
\r\n\r\n6.2.2.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) điện áp thử nghiệm;
\r\n\r\nb) điện trở cho phép lớn nhất nếu khác 5 Ω;
\r\n\r\nc) các phần của dạng dẫn cần thử nghiệm;
\r\n\r\nd) dòng điện cho phép lớn nhất;
\r\n\r\ne) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n6.3. Thử nghiệm 5: Chịu dòng điện
\r\n\r\n6.3.1. Thử nghiệm 5a: Chịu dòng điện, các lỗ\r\nxuyên phủ kim loại
\r\n\r\n6.3.1.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đánh giá khả năng chịu dòng điện thử\r\nnghiệm qui định của lớp phủ kim loại trong các lỗ xuyên phủ kim loại.
\r\n\r\n6.3.1.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên các lỗ\r\nxuyên phủ kim loại của tấm sản phẩm. Thử nghiệm có thể được tiến hành với các\r\nlỗ có nghi ngờ khi kiểm tra bằng cách quan sát.
\r\n\r\n6.3.1.3. Phương pháp
\r\n\r\nCho dòng điện theo bảng 1 chạy qua lớp phủ kim\r\nloại trong lỗ xuyên phủ kim loại trong thời gian 30 s và phải được kiểm soát\r\nliên tục.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Dòng điện được tạo bằng nguồn một chiều hoặc\r\nxoay chiều phù hợp và được giữ không đổi.
\r\n\r\nDòng điện phải được đặt bằng các đầu thử\r\nnghiệm. Các đầu phù hợp được phản ánh trên hình 3. Lực ép phải đủ để đảm bảo\r\ntiếp xúc điện tốt. Lực khoảng 1 N là thích hợp.
\r\n\r\n6.3.1.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các lỗ cần thử nghiệm;
\r\n\r\nb) các yêu cầu và các phép đo cuối;
\r\n\r\nc) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n6.3.2. Thử nghiệm 5b: Chịu dòng điện, đường\r\ndẫn
\r\n\r\n6.3.2.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đánh giá khả năng chịu được dòng điện qui\r\nđịnh của các đường dẫn và các điểm nối giữa các đường dẫn và lớp phủ kim loại\r\ntrong các lỗ xuyên phủ kim loại.
\r\n\r\n6.3.2.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên các phần qui\r\nđịnh của các dạng tấm sản phẩm hoặc của mẫu thử nghiệm hoặc của mẫu thử nghiệm\r\nkết hợp.
\r\n\r\n6.3.2.3. Phương pháp
\r\n\r\nCho dòng điện một chiều hoặc xoay chiều qui\r\nđịnh chạy qua đường dẫn thử nghiệm trong thời gian qui định. Dòng điện phải được\r\nkiểm soát liên tục.
\r\n\r\nDòng điện phải được chọn phù hợp với thông\r\ntin cho trong TCVN 6611-3 : 2001 (IEC 326-3). Phải chú ý để đảm bảo tiếp xúc\r\nđiện tốt với đường dẫn trong thử nghiệm.
\r\n\r\n6.3.2.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các đường dẫn cần thử nghiệm, kể cả các\r\nđiểm nối;
\r\n\r\nb) dòng điện, giá trị và khoảng thời gian;
\r\n\r\nc) các yêu cầu và các phép đo cuối;
\r\n\r\nd) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n6.4. Thử nghiệm 6: Điện trở cách điện
\r\n\r\n6.4.1. Thử nghiệm 6a: Điện trở cách điện, các\r\nlớp bề mặt
\r\n\r\n6.4.1.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định điện trở cách điện giữa các phần\r\nqui định của các dạng dẫn trên bề mặt tấm mạch in hoặc trên bề mặt một lớp của\r\ntấm mạch in nhiều lớp trước khi ép.
\r\n\r\nĐiện trở cách điện phản ánh chất lượng của\r\nvật liệu cũng như chất lượng gia công sản phẩm.
\r\n\r\nQuan hệ giữa điện trở cách điện được qui định\r\ntrong IEC 249 đối với vật liệu nền phủ kim loại và điện trở cách điện qui định\r\nđối với thử nghiệm này được giải thích trong TCVN 6611-3 : 2001 (IEC 326-3).
\r\n\r\n6.4.1.2. Mẫu
\r\n\r\nĐiện trở cách điện phải được đo giữa hai điểm\r\nqui định bất kỳ của dạng dẫn trên tấm sản phẩm hoặc trên một lớp của tấm mạch\r\nin nhiều lớp trước khi ép.
\r\n\r\nMẫu thử phải được cầm cẩn thận để tránh làm\r\nbẩn, ví dụ in dấu tay, bụi, v.v…
\r\n\r\n6.4.1.3. Phương pháp
\r\n\r\nMẫu thử phải được ổn định trước, dùng thử\r\nnghiệm 18a.
\r\n\r\nĐiện trở cách điện phải được đo bằng thiết bị\r\nđo phù hợp. Điện áp thử nghiệm là điện áp đặt lên điện trở cách điện cần đo,\r\nbằng:
\r\n\r\nnhư qui định trong qui định kỹ thuật liên\r\nquan. Điện áp thử nghiệm phải được đặt với thời gian 1 min trước khi đo. Nếu số\r\nđo ổn định sớm hơn thì phép đo được thực hiện sớm hơn. Nếu số đo không ổn định\r\ntrong 1 min thì phải ghi lại trong báo cáo thử nghiệm.
\r\n\r\nQui định kỹ thuật liên quan có thể cần thiết\r\ncho phép đo điện trở cách điện tại nhiệt độ tăng cao, ví dụ trong quá trình thử\r\nnghiệm nóng khô hoặc thử nghiệm ẩm trong khi mẫu thử vẫn đặt trong tủ thử. Sau đó\r\náp dụng phương pháp tương tự.
\r\n\r\nTrong trường hợp có dây thử nghiệm đưa vào\r\ntrong tủ thử, phải chú ý để giảm thiểu ảnh hưởng đến số đo điện trở cách điện.
\r\n\r\n6.4.1.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các phần của dạng hình cần đo;
\r\n\r\nb) điện áp thử nghiệm;
\r\n\r\nc) nhiệt độ và/hoặc độ ẩm nếu khác với điều\r\nkiện tiêu chuẩn;
\r\n\r\nd) giá trị nhỏ nhất của điện trở cách điện;
\r\n\r\ne) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n6.4.2. Thử nghiệm 6b: Điện trở cách điện, các\r\nlớp trong
\r\n\r\n6.4.2.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định điện trở cách điện giữa các phần\r\nqui định của dạng dẫn ở lớp bên trong của tấm mạch in nhiều lớp.
\r\n\r\nĐiện trở cách điện phản ánh chất lượng của vật\r\nliệu cũng như chất lượng của quá trình được sử dụng cho sản phẩm.
\r\n\r\nVì điện trở cách điện này là sự kết hợp của điện\r\ntrở bề mặt và điện trở khối, không tương quan với giá trị qui định trong IEC\r\n249 đối với vật liệu nền phủ kim loại có thể đã biết.
\r\n\r\n6.4.2.2. Mẫu
\r\n\r\nĐiện trở cách điện phải được đo giữa hai điểm\r\nqui định bất kỳ của dạng dẫn ở lớp trong của tấm sản phẩm hoặc tấm thử nghiệm.
\r\n\r\nKhi qui định hai điểm này, phải chú ý để\r\ntránh bị ảnh hưởng của các lớp khác. Mãu thử phải được cầm cẩn thận để tránh\r\nlàm bẩn, ví dụ in dấu tay, bụi, v.v…
\r\n\r\n6.4.2.3. Phương pháp
\r\n\r\nPhải áp dụng phương pháp như qui định cho thử\r\nnghiệm 6a.
\r\n\r\n6.4.2.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các phần của dạng hình cần đo;
\r\n\r\nb) điện áp thử nghiệm;
\r\n\r\nc) nhiệt độ và/hoặc độ ẩm nếu khác với điều\r\nkiện tiêu chuẩn;
\r\n\r\nd) giá trị điện trở cách điện nhỏ nhất;
\r\n\r\ne) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n6.4.3. Thử nghiệm 6c: Điện trở cách điện giữa\r\ncác lớp
\r\n\r\n6.4.3.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định điện trở cách điện giữa các phần qui\r\nđịnh của các dạng dẫn trên các lớp sát nhau của tấm mạch in. Điện trở cách điện\r\nphản ánh chất lượng của quá trình chế tạo và chất lượng hoặc chiều dày không đủ\r\ncủa vật liệu nền hoặc của lớp kết dính.
\r\n\r\n6.4.3.2. Mẫu
\r\n\r\nĐiện trở cách điện phải được đo giữa hai điểm\r\nqui định của dạng dẫn trên các lớp giáp nhau của tấm mạch in. Mẫu thử phải được\r\ncầm cẩn thận để tránh làm bẩn, ví dụ in dấu tay, bụi, v.v…
\r\n\r\n6.4.3.3. Phương pháp
\r\n\r\nPhải áp dụng phương pháp như qui định cho thử\r\nnghiệm 6a.
\r\n\r\n6.4.3.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các phần cần đo;
\r\n\r\nb) điện áp thử nghiệm;
\r\n\r\nc) nhiệt độ và/hoặc độ ẩm nếu khác với điều\r\nkiện tiêu chuẩn;
\r\n\r\nd) giá trị điện trở cách điện nhỏ nhất;
\r\n\r\ne) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n6.5. Thử nghiệm 7: Chịu điện áp
\r\n\r\n6.5.1. Thử nghiệm 7a: Chịu điện áp, lớp bề mặt
\r\n\r\n6.5.1.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đánh giá khả năng chịu được các điện áp\r\nthử nghiệm qui định của các phần qui định của dạng hình trên bề mặt tấm mạch in\r\nmà không bị phóng điện gây hư hại như phóng điện bề mặt, phóng điện qua khe hở\r\nkhông khí, hoặc phóng điện đánh thủng. Phóng điện có thể nhìn thấy được bằng mắt\r\nhoặc chỉ thị bằng thiết bị thử nghiệm theo cách thích hợp.
\r\n\r\nChú thích – Thử nghiệm chịu điện áp không\r\nthay thế cho việc đo khoảng cách giữa các phần dẫn.
\r\n\r\n6.5.1.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên các phần\r\nqui định của dạng hình trên bề mặt tấm mạch in. Khi xác định các phần qui định\r\ntrên lớp bề mặt tấm mạch in nhiều lớp, phải chú ý để tránh ảnh hưởng của các\r\nphần hoặc các lớp khác.
\r\n\r\nMẫu thử phải được cầm cẩn thận để tránh làm\r\nbẩn, ví dụ in dấu tay, bụi, v.v…
\r\n\r\n6.5.1.3. Phương pháp
\r\n\r\nMẫu thử phải được ổn định trước bằng thử\r\nnghiệm 18a.
\r\n\r\nĐiện áp thử nghiệm phải là điện áp một chiều\r\nhoặc điện áp đỉnh xoay chiều có dạng sóng cơ bản là hình sin và có tần số nằm\r\ntrong khoảng từ 40 Hz đến 60 Hz.
\r\n\r\nThiết bị thử nghiệm phải có khả năng cung cấp\r\nđiện áp cao cần thiết và phản ánh khả năng phóng điện đánh thủng và/hoặc dòng\r\nđiện rò qui định trong trường hợp hỏng không nhìn thấy được.
\r\n\r\nĐiện áp phải được đặt giữa các điểm qui định\r\nvà phải điều chỉnh tăng dần trong thời gian là 5 s đến giá trị qui định và sau\r\nđó duy trì trong 1 min.
\r\n\r\n6.5.1.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các điểm đặt;
\r\n\r\nb) điện áp thử nghiệm;
\r\n\r\nc) dòng điện rò lớn nhất;
\r\n\r\nd) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n6.5.2. Thử nghiệm 7b: Chịu điện áp giữa các\r\nlớp
\r\n\r\n6.5.2.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đánh giá khả năng chịu được các điện áp\r\nthử nghiệm qui định của các phần qui định trên dạng hình của các lớp nằm sát\r\nnhau của tấm mạch in mà không bị phóng điện đánh thủng thể hiện trên thiết bị\r\nthử nghiệm.
\r\n\r\nPhóng điện đánh thủng cho biết sự khiếm\r\nkhuyết của quá trình chế tạo hoặc không đủ chiều dày của vật liệu nền hoặc lớp\r\nkết dính.
\r\n\r\n6.5.2.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên các phần\r\nqui định của dạng hình trên các lớp giáp nhau của tấm mạch in.
\r\n\r\nMẫu thử phải được cầm cẩn thận để tránh làm\r\nbẩn, ví dụ in dấu tay, bụi, v.v…
\r\n\r\n6.5.2.3. Phương pháp
\r\n\r\nÁp dụng phương pháp như qui định cho thử\r\nnghiệm 7a.
\r\n\r\n6.5.2.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\ne) các điểm đặt;
\r\n\r\nf) điện áp thử nghiệm;
\r\n\r\ng) dòng điện rò lớn nhất;
\r\n\r\nh) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n6.6. Thử nghiệm 8a: Trôi tần số
\r\n\r\n6.6.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định ảnh hưởng của điều kiện môi trường\r\nqui định lên các phần dạng hình trên tấm mạch in mà những phần đó là một phần\r\ncủa mạch dao động.
\r\n\r\n6.6.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên các phần\r\nqui định của một dạng hình hoặc các dạng hình trên tấm sản phẩm hoặc mẫu thử\r\nnghiệm.
\r\n\r\n6.6.3. Phương pháp
\r\n\r\nPhần qui định của dạng dẫn phải được nối vào\r\nmạch dao động của nguồn tần số cao bên ngoài. Tần số đó phải được qui định\r\ntrong qui định kỹ thuật chi tiết.
\r\n\r\nSự thay đổi tần số do điều kiện môi trường phải\r\nđược đo bằng phương tiện phù hợp, ví dụ trực tiếp bằng bộ đếm tần số, hoặc bằng\r\nphương pháp tần số phách.
\r\n\r\nCác điều kiện môi trường bao gồm ổn định trước,\r\nổn định và phục hồi phải phù hợp với IEC 68. ổn định phù hợp là thử nghiệm Ca\r\ncủa IEC 68-2-3, mức khắc nghiệt bốn ngày.
\r\n\r\nCác phép đo tần số phải được thực hiện:
\r\n\r\na) sau khi ổn định trước;
\r\n\r\nb) nếu yêu cầu, tại các điểm qui định của ổn\r\nđịnh;
\r\n\r\nc) sau khi phục hồi.
\r\n\r\n6.6.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) phần của dạng hình cần thử nghiệm;
\r\n\r\nb) các điều kiện môi trường;
\r\n\r\nc) các điểm đo theo trình tự ổn định;
\r\n\r\nd) tần số;
\r\n\r\ne) độ trôi cho phép;
\r\n\r\nf) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n6.7. Thử nghiệm 9a: Trở kháng của mạch
\r\n\r\nCó một số phương pháp dùng để đo trở kháng\r\ncủa mạch. Do phương pháp được dùng phụ thuộc vào cả ứng dụng của tấm mạch in\r\n(ví dụ dải tần số) lẫn thiết bị đo có sẵn, nên không trích dẫn phương pháp của\r\nIEC.
\r\n\r\nNếu có yêu cầu đo trở kháng của mạch trong\r\nqui định kỹ thuật chi tiết thì phương pháp đo cũng phải được qui định.
\r\n\r\n\r\n\r\n7.1. Thử nghiệm 10: Độ bền bong tróc
\r\n\r\n7.1.1. Thử nghiệm 10a: Độ bền bong tróc, điều\r\nkiện khí quyển tiêu chuẩn.
\r\n\r\n7.1.1.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định chất lượng kết dính của đường dẫn\r\nvới vật liệu nền ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn, để đảm bảo rằng độ kết dính\r\nlà đủ sau quá trình chế tạo.
\r\n\r\nĐộ bền bong tróc được đo là lực kéo trên mỗi\r\nđơn vị chiều rộng được yêu cầu để kéo đường dẫn rời khỏi bề mặt vật liệu nền.
\r\n\r\nChú thích – Độ dày của lá kim loại và lớp mạ\r\nbổ sung có ảnh hưởng đến độ bền bong tróc.
\r\n\r\n7.1.1.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên các đường\r\ndẫn thẳng có độ dài thích hợp và chiều rộng đồng đều.
\r\n\r\nĐộ dài đường dẫn không nên ngắn hơn 75 mm.\r\nCác đường dẫn có chiều rộng nhỏ hơn 0,8 mm không phải thử nghiệm. Trong trường hợp\r\ncó các đường dẫn được mạ trên tấm mạch in, một số đường dẫn trong số đó cũng\r\nphải thử nghiệm.
\r\n\r\n7.1.1.3. Phương pháp
\r\n\r\nĐường dẫn phải được tách một đầu khỏi vật\r\nliệu nền khoảng 10 mm. Tấm thử nghiệm phải được đỡ bằng phương pháp thích hợp.\r\nĐầu được tách của đường dẫn phải được giữ chặt trên toàn bộ chiều rộng của nó.\r\nVí dụ bằng kẹp, và đặt lực kéo tăng dần theo hướng vuông góc với bề mặt vật\r\nliệu nền cho đến khi đường dẫn bong ra với vận tốc ổn định khoảng 50 mm/min,\r\nyêu cầu phải đo lực này. Đường dẫn phải bong ra ít nhất là 25 mm từ một trong\r\nbốn đường dẫn ở vận tốc này. Lực kéo nhỏ nhất trên mỗi đơn vị chiều rộng yêu\r\ncầu để kéo đường dẫn bong ra trong quá trình thử nghiệm là lực kéo bong tróc.
\r\n\r\nCác kết quả thử nghiệm được thể hiện bằng niutơn\r\ntrên mỗi milimét chiều rộng đường dẫn, nhưng chiều rộng thực tế phải được nêu\r\ntrong báo cáo thử nghiệm.
\r\n\r\n7.1.1.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các đường dẫn cần thử nghiệm;
\r\n\r\nb) độ bền bong tróc nhỏ nhất;
\r\n\r\nc) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n7.1.2. Thử nghiệm 10b: Độ bền bong tróc,\r\nnhiệt độ tăng cao
\r\n\r\nĐang xem xét.
\r\n\r\n7.1.3. Thử nghiệm 10c: Độ bền bong tróc, tấm\r\nmạch in uốn được, điều kiện khí quyển tiêu chuẩn
\r\n\r\n7.1.3.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định chất lượng kết dính của đường dẫn\r\nvới vật liệu nền ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn, để đảm bảo rằng độ kết dính\r\nlà đủ sau quá trình chế tạo.
\r\n\r\nĐộ bền bong tróc được đo là lực kéo trên mỗi\r\nđơn vị chiều rộng yêu cầu để kéo rời đường dẫn khỏi bề mặt dính vào vật liệu\r\nnền.
\r\n\r\nChú thích – Độ dày của lá kim loại và lớp mạ\r\nbổ sung có ảnh hưởng đến độ bền bong tróc.
\r\n\r\n7.1.3.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên đường dẫn\r\nthẳng có độ dài thích hợp và chiều rộng đồng đều.
\r\n\r\nĐộ dài đường dẫn không nên ngắn hơn 75 mm.\r\nCác đường dẫn có chiều rộng nhỏ hơn 0,8 mm không phải thử nghiệm. Trong trường\r\nhợp có các đường dẫn được mạ trên tấm mạch in, một số đường trong số đó cũng được\r\nthử nghiệm. Trong trường hợp vật liệu mỏng, cần được gắn vào vật giữ cứng.
\r\n\r\n7.1.3.3. Phương pháp
\r\n\r\nMột đầu đường dẫn phải được tách khoảng 10 mm\r\nkhỏi vật liệu nền. Tấm thử nghiệm phải được đỡ bằng phương pháp thích hợp, ví dụ\r\nbằng cách kẹp giữa hai tấm cứng, phẳng có rãnh để kéo đường dẫn hoặc bằng cách\r\ndán vào một tang trống quay được. Đầu tách ra của đường dẫn phải được giữ chặt\r\ntrên toàn bộ chiều rộng của đường dẫn. Ví dụ bằng cách kẹp và đặt lực kéo tăng\r\ndần theo hướng vuông góc với bề mặt của vật liệu nền, cho đến khi đường dẫn\r\nbong ra với vận tốc ổn định khoảng 50 mm/min. Yêu cầu phải đo lực này. Đường\r\ndẫn phải bong ra ít nhất là 25 mm từ một trong bốn đường dẫn ở vận tốc này. Lực\r\nnhỏ nhất trên mỗi đơn vị chiều rộng yêu cầu để kéo đường dẫn trong quá trình\r\nthử nghiệm là lực bong tróc.
\r\n\r\nKết quả thử nghiệm được thể hiện bằng niutơn trên\r\nmỗi milimét chiều rộng đường dẫn, nhưng chiều rộng thực tế phải được nêu trong\r\nbáo cáo thử nghiệm.
\r\n\r\n7.1.3.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các đường dẫn cần thử nghiệm;
\r\n\r\nb) độ bền bong tróc nhỏ nhất;
\r\n\r\nc) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n7.2. Thử nghiệm 11: Độ bền kéo
\r\n\r\n7.2.1. Thử nghiệm 11a: Độ bền kéo đứt, các\r\nvành khuyên có lỗ không phủ kim loại.
\r\n\r\n7.2.1.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đánh giá chất lượng kết dính của vành\r\nkhuyên vào vật liệu nền dưới ứng suất hàn lặp lại.
\r\n\r\nĐộ bền kéo đứt được đo bằng lực vuông góc với\r\nbề mặt của tấm mạch in, yêu cầu để tách vành khuyên khỏi vật liệu nền.
\r\n\r\nThử nghiệm này cho chỉ số tương đối của độ\r\nbền kéo đứt sau khi hàn.
\r\n\r\n7.2.1.2. Mẫu
\r\n\r\nCác thử nghiệm phải được tiến hành trên các\r\nvành khuyên hình tròn được cách ly khỏi đường dẫn. Ưu tiên các kích thước của\r\nvành khuyên, lỗ, dây sau đây:
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Các kích thước khác của vành khuyên, lỗ, dây\r\ncó thể được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nCác thông tin về mối tương quan giữa kích thước\r\nvành khuyên và độ bền kéo đứt, xem TCVN 6611-3 : 2001 (IEC 326-3).
\r\n\r\n7.2.1.3. Phương pháp
\r\n\r\nDây phải được hàn vào vùng lỗ gần tâm của\r\nvành khuyên.
\r\n\r\nNếu được qui định trong qui định kỹ thuật\r\nliên quan, phải sử dụng thử nghiệm 19d đối với phương pháp hàn bằng mỏ hàn hoặc\r\nthử nghiệm 19e đối với phương pháp hàn nhúng. Số chu kỳ hàn phải như qui định\r\ntrong qui định kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nSau chu kỳ cuối cùng, mẫu thử phải được làm\r\nnguội 30 min ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn.
\r\n\r\nSau đó đặt lực bằng máy thử nghiệm sức căng,\r\nkéo dây theo hướng vuông góc với tấm mạch in. Lực này được tăng từ từ với vận\r\ntốc không quá 50 N/s cho đến khi vành khuyên tách khỏi vật liệu nền.
\r\n\r\nLực bất kỳ nhỏ nhất trong số lực để tách 10\r\nvành khuyên khỏi vật liệu nền là lực kéo đứt của tấm thử nghiệm.
\r\n\r\n7.2.1.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các vành khuyên cần thử nghiệm;
\r\n\r\nb) phương pháp hàn;
\r\n\r\nc) số chu kỳ hàn;
\r\n\r\nd) độ bền kéo đứt nhỏ nhất;
\r\n\r\ne) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n7.2.2. Thử nghiệm 11b: Độ bền kéo rời, lỗ\r\nxuyên phủ kim loại không có vành khuyên
\r\n\r\n7.2.2.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đánh giá khả năng chịu ứng suất hàn lặp\r\nlại của các lỗ xuyên phủ kim loại không có vành khuyên.
\r\n\r\n7.2.2.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên số lượng\r\nqui định lỗ xuyên phủ kim loại không có vành khuyên được chọn trên tấm sản\r\nphẩm, tấm thử nghiệm hoặc tấm thử nghiệm kết hợp như qui định trong qui định kỹ\r\nthuật liên quan.
\r\n\r\n7.2.2.3. Phương pháp
\r\n\r\nDây có độ dài, cỡ và vật liệu phù hợp phải được\r\nphủ thiếc một đầu. Độ dài phải đủ để thực hiện thử nghiệm độ bền kéo căng.
\r\n\r\nCỡ dây phải là cỡ sau khi phủ thiếc nó có thể\r\nluồn tự do trong lỗ cần thử nghiệm. Vật liệu của dây phải cho phép phủ thiếc\r\nvà đủ độ bền để đáp ứng các yêu cầu kéo căng của thử nghiệm.
\r\n\r\nĐầu phủ thiếc của dây được cắm vào lỗ và nhô\r\nra khỏi tấm mạch in ít nhất là 1,5 mm. Đầu nhô ra của dây phải thẳng.
\r\n\r\nDây được hàn vào lỗ. Như qui định trong qui\r\nđịnh kỹ thuật liên quan, phải sử dụng thử nghiệm 19d đối với phương pháp hàn\r\nbằng mỏ hàn hoặc thử nghiệm 19e đối với phương pháp hàn nhúng.
\r\n\r\nSố chu kỳ hàn phải như qui định trong qui\r\nđịnh kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nSau chu kỳ cuối cùng, mẫu thử nghiệm được làm\r\nnguội 30 min ở các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn.
\r\n\r\nSau đó đặt lực bằng máy thử kéo căng bằng cách\r\nkéo dây theo hướng vuông góc với tấm mạch in. Lực này được tăng từ từ với vận\r\ntốc không quá 50 N/s cho đến khi lớp phủ kim loại tách khỏi vật liệu nền.
\r\n\r\nNăm thử nghiệm kéo rời phải được thực hiện\r\ntrên mỗi phía của tấm mạch in. Lực nhỏ nhất trong số lực dùng để tách lớp phủ\r\nkim loại ra khỏi vật liệu nền trong số mười lỗ là lực kéo rời của tấm mạch in\r\nthử nghiệm.
\r\n\r\n7.2.2.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các lỗ cần thử nghiệm;
\r\n\r\nb) phương pháp hàn;
\r\n\r\nc) số chu kỳ hàn;
\r\n\r\nd) độ bền kéo rời nhỏ nhất;
\r\n\r\ne) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n7.3. Thử nghiệm 12a: Độ phẳng
\r\n\r\n7.3.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định độ không phẳng của tấm mạch in.
\r\n\r\n7.3.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên tấm sản\r\nphẩm.
\r\n\r\n7.3.3. Phương pháp
\r\n\r\nĐặt mặt lõm của tấm lên phía trên độ phẳng được\r\nđo bằng cách đưa một gờ thẳng sáng lên mặt trên (mặt lõm) và đo khe hở giữa bề\r\nmặt tấm mạch in và gờ thẳng tại chỗ lớn nhất lấy chính xác đến 0,1 mm.
\r\n\r\nĐộ phẳng là bán kính của đường cong được xác\r\nđịnh bằng công thức sau:
\r\n\r\ntrong đó:
\r\n\r\nr – bán kính của đường cong
\r\n\r\nL – khoảng cách giữa các điểm đỡ của gờ thẳng
\r\n\r\nh – độ hở lớn nhất giữa gờ thẳng và tấm.
\r\n\r\nBán kính nhỏ nhất của đường cong phải được\r\nghi lại nếu phép đo độ phẳng của tấm tiến hành đồng thời với phép đo kích thước\r\ncủa tấm thử nghiệm.
\r\n\r\n7.3.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) đường cong có bán kính nhỏ nhất cho phép;
\r\n\r\nb) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n7.4. Thử nghiệm 21a: Mỏi do uốn (tấm mạch in\r\nuốn được)
\r\n\r\n7.4.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đánh giá khả năng chịu uốn có thể xuất\r\nhiện trong quá trình sử dụng của tấm mạch in uốn được.
\r\n\r\n7.4.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên phần qui\r\nđịnh của tấm mạch in uốn được, được cắt ra với chiều dài nhỏ nhất bằng 100 mm\r\nvà chiều rộng bằng 22 ± 2 mm.
\r\n\r\n7.4.3. Phương pháp
\r\n\r\nDùng phương pháp thử nghiệm được mô tả trong\r\n3.12: Mỏi do uốn, của IEC 249-1.
\r\n\r\nVị trí của mẫu (ví dụ, vị trí phía hàn liên\r\nquan đến thiết bị kẹp của thiết bị thử nghiệm), hướng uốn và số chu kỳ uốn phải\r\nđược qui định trong qui định kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nĐường dẫn phù hợp, tốt nhất là một số đường\r\ndẫn mắc nối tiếp được dùng để kiểm tra liên tục.
\r\n\r\nSau khi uốn, mẫu thử phải kiểm tra bằng cách\r\nquan sát dùng thử nghiệm 1a. Không được có các đường dẫn bị gẫy (vẫn liền). Sự\r\ntách lớp giữa các đường dẫn và lớp bọc, giữa đường dẫn và vật liệu nền, giữa\r\nlớp vỏ và vật liệu nền không được vượt quá giá trị qui định.
\r\n\r\n7.4.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) phần cần thử nghiệm;
\r\n\r\nb) vị trí của mẫu và hướng uốn;
\r\n\r\nc) số chu kỳ uốn;
\r\n\r\nd) sự tách lớp cho phép;
\r\n\r\ne) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n\r\n\r\n8.1. Thử nghiệm 13: Chất lượng lớp phủ
\r\n\r\n8.1.1. Thử nghiệm 13a: Độ kết dính của lớp\r\nphủ, phương pháp dán băng
\r\n\r\n8.1.1.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đánh giá độ dính nhỏ nhất của lớp phủ với\r\ntấm nền.
\r\n\r\nThử nghiệm này không nêu bất kỳ thông tin nào\r\nđối với yếu tố bảo vệ, khả năng hàn, vật liệu, độ cứng, chiều dày của lớp phủ\r\nkim loại hoặc khả năng của lớp phủ phù hợp với mục đích điện, ví dụ như chất lượng\r\ntiếp xúc.
\r\n\r\n8.1.1.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên đường dẫn\r\nđược phủ của tấm sản phẩm.
\r\n\r\n8.1.1.3. Phương pháp
\r\n\r\nMặt dính được của băng dính trong suốt phải được\r\nđặt vào lớp phủ kim loại trong thử nghiệm bằng lực ép ngón tay, phải chú ý loại\r\ntrừ các bọt khí. Sau khoảng 10 s, băng phải được bóc ra bằng cách kéo từ từ\r\nbăng theo hướng vuông góc với bề mặt của lớp phủ thử nghiệm. Diện tích phủ kim\r\nloại để thử nghiệm ít nhất phải là 1 cm2.
\r\n\r\nSau khi bóc băng dính ra, phần băng dính tiếp\r\nxúc với bề mặt lớp phủ thử nghiệm cũng như bề mặt của chính lớp phủ phải được\r\nkiểm tra bằng cách quan sát, sử dụng thử nghiệm 1a.
\r\n\r\nBăng dính phù hợp là băng F-PVCp/90/0/Tp theo\r\nIEC 454.
\r\n\r\nChú thích – Nếu có thể, diện tích phủ thử\r\nnghiệm phải được tách khỏi vùng còn lại bằng cách cắt qua lớp phủ. Diện tích\r\nthử nghiệm có thể chia nhỏ tiếp bằng cách cắt tương tự các khoảng 2 mm nếu có\r\nthể chứa được diện tích phủ thử nghiệm.
\r\n\r\n8.1.1.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các yêu cầu;
\r\n\r\nb) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n8.1.2. Thử nghiệm 13b: Độ kết dính của lớp\r\nphủ, phương pháp chà xát
\r\n\r\n8.1.2.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đánh giá khả năng chịu ứng suất chà xát có\r\nthể xuất hiện khi sử dụng bình thường của lớp phủ, ví dụ như tiếp xúc bề mặt.
\r\n\r\nThử nghiệm này chỉ áp dụng với các loại lớp\r\nphủ nhất định.
\r\n\r\n8.1.2.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên các phần\r\nphủ qui định của (các) lớp dẫn điện trên tấm sản phẩm.
\r\n\r\n8.1.2.3. Phương pháp
\r\n\r\nMột diện tích nhỏ trên bề mặt phủ phải được\r\nchà xát nhanh và dứt khoát bằng đầu của một dụng cụ nhẵn phù hợp khoảng 15 s.\r\nLực ép phải đủ để chà xát lên lớp phủ ở mỗi vùng nhưng không đủ để rách lớp\r\nphủ.
\r\n\r\nDụng cụ phù hợp là một thanh thép có đường\r\nkính xấp xỉ 6,0 mm đến 6,5 mm có đầu hình cầu được làm nhẵn.
\r\n\r\nSau đó vùng thử nghiệm phải được kiểm tra\r\nbằng cách quan sát dùng thử nghiệm 1b.
\r\n\r\n8.1.2.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các yêu cầu;
\r\n\r\nb) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n8.1.3. Thử nghiệm 13c: Độ xốp, bọt khí
\r\n\r\n8.1.3.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể phát hiện chỗ đứt quãng trong các lớp phủ\r\nkim loại nhất định.
\r\n\r\nĐặt mẫu vào môi trường ẩm có chứa dioxit lưu\r\nhuỳnh và sunfua hydro làm ăn mòn sản phẩm tại các chỗ đứt quãng trong lớp phủ.
\r\n\r\nThử nghiệm phù hợp để kiểm tra lớp phủ vàng,\r\npalađi và rôđi trên lớp đồng, và thích hợp khi lớp đáy là niken.
\r\n\r\nKhả năng áp dụng và mức độ tin cậy của các\r\nkết luận rút ra từ các kết quả thử nghiệm rất hạn chế. Do vậy, chỉ nên áp dụng\r\nthử nghiệm khi có sự thỏa thuận giữa người mua và người bán.
\r\n\r\n8.1.3.2. Mẫu
\r\n\r\nPhần phù hợp của tấm sản phẩm có phủ rôđi,\r\npalađi hoặc vàng trên đồng và lớp đáy là niken.
\r\n\r\n8.1.3.3. Phương pháp
\r\n\r\nTủ thử phù hợp là bình hút ẩm bằng thủy tinh\r\nthường, có nắp đậy và có thể tích bên trong 10 lít. Giữa nắp và miệng bình được\r\nbôi mỡ chân không để tránh rò khí. Bình hút ẩm có tấm gốm tráng men có đục lỗ\r\nđể đỡ mẫu thử nghiệm.
\r\n\r\nLau sạch và sấy khô tấm gốm và mặt trong của tủ.\r\nĐổ 0,5 ml nước đã khử ion vào đáy tủ thử, bên dưới tấm gốm. Tẩy sạch mẫu thử\r\nbằng hơi tricloetylen hoặc dung môi phù hợp khác, lau bằng vải mềm và sau đó\r\nđặt mẫu để đạt đến nhiệt độ phòng. Đặt mẫu thử trên tấm gốm cho bề mặt thử\r\nnghiệm nằm phía trên.
\r\n\r\nChai thủy tinh hoặc ống đong khô và sạch có\r\ndung tích 100 ml được nạp đầy khí đioxit lưu huỳnh từ xiphông khí hóa lỏng bằng\r\ncách đưa từ bên dưới để đẩy không khí lên. Đặt chai thủy tinh và các thành phần\r\ntrong nó nằm ngang trên tấm gốm dọc theo mẫu thử nghiệm và mở nắp chai để lùa\r\nkhí vào trong tủ. Đóng nắp ngay lập tức và giữ trạng thái đó không ít hơn 24 h.\r\nCuối giai đoạn này, mở nắp và giữ mẫu 1 h trong điều kiện bình thường.
\r\n\r\nChuyển chai thủy tinh khỏi tủ, rút khí ra\r\ntheo ống dẫn bằng cách cho nước chiếm chỗ, lau khô phía ngoài chai thủy tinh\r\nrồi dẫn khí sunfua hyđrô lấy từ sắt sunfua và axit clohyđric vào chai.
\r\n\r\nĐặt chai thủy tinh và các thành phần trong nó\r\nvào tủ khí như trước, đậy nắp ngay lập tức và giữ trạng thái đó không ít hơn 24\r\nh.
\r\n\r\nCuối giai đoạn này, mở tủ và lấy mẫu thử ra,\r\nchú ý không chạm đến bề mặt thử nghiệm. Sau đó, mẫu thử phải được kiểm tra bằng\r\ncách quan sát sử dụng thử nghiệm 1b.
\r\n\r\n8.1.3.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các yêu cầu;
\r\n\r\nb) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n8.1.4. Thử nghiệm 13d: Độ xốp, thử nghiệm\r\nđiện đồ, vàng trên đồng
\r\n\r\n8.1.4.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể phát hiện chỗ đứt quãng trong các lớp phủ\r\nkim loại bằng phương pháp điện đồ.
\r\n\r\nThử nghiệm thích hợp để kiểm tra lớp phủ\r\npalađi, vàng và rôđi trên lớp đồng không có lớp đáy là niken.
\r\n\r\nKhả năng áp dụng và mức độ tin cậy của các\r\nkết luận rút ra từ các kết quả thử nghiệm rất hạn chế. Do vậy, chỉ nên áp dụng\r\nthử nghiệm khi có thỏa thuận giữa người mua và người bán.
\r\n\r\n8.1.4.2. Mẫu
\r\n\r\nPhần phù hợp của tấm sản phẩm có lớp phủ bằng\r\nvàng, rôđi hoặc palađi trên đồng.
\r\n\r\n8.1.4.3. Phương pháp
\r\n\r\nGiấy lọc 542 Whatman hoặc giấy giống như vải\r\nSpicers Plus hoặc giấy lọc có chất lượng tương đương được ngâm 10 min trong\r\ndung dịch mới pha chế chứa 10% cadmi clorua trong nước đã khử ion chứa 0,1% thể\r\ntích axit clohydric có nồng độ từ 1,16 đến 1,18 g/cm3. Dung dịch\r\nthừa được lấy ra bằng giấy thấm.
\r\n\r\nGiấy được hút ẩm từng phần và sau đó nhúng vào\r\ndung dịch 5% sunfua natri trong nước đã khử ion khoảng 30 s, sau thời gian đó\r\ngiấy phải có màu vàng đều (chứng tỏ kết tủa hợp chất sunfua cadmi). Sau đó giấy\r\nđược rửa bằng cách cho nước chảy qua khoảng 1 h, sau giai đoạn này giấy được sấy\r\ncẩn thận trong hệ thống không khí tuần hoàn.
\r\n\r\nGiấy thấm ảnh chất lượng cao được ngâm trong\r\nnước đã khử ion và được hút ẩm đến mức khô nhất, sao cho tạo nên điện đồ xác\r\nđịnh được rõ ràng.
\r\n\r\nLớp phủ kim loại được lau nhẹ bằng một ít bột\r\nnhôm (hoặc oxit magiê) và nước để làm sạch các chất bẩn ở mặt bên ngoài, và sau\r\nđó giội bằng nước đã khử ion rồi hút ẩm. Các bề mặt đã lau phải được giữ sạch\r\ncho đến khi thử nghiệm hoàn tất.
\r\n\r\nMiếng giấy sunfua cadmi được đặt trên mẫu đã\r\nđược phủ (dùng làm anốt) tiếp theo là miếng giấy thấm ảnh, tiếp xúc với tấm\r\nnhôm tinh khiết sạch và mới (dùng làm catốt). Khối lắp ráp được ép sao cho áp\r\nlực giữa giấy sunfua cadmi và mẫu thử là như nhau và nằm trong khoảng 140 N/cm2\r\nđến 170 N/cm2. Trong khi khối lắp ráp đang được ép, cho dòng điện\r\nmột chiều phẳng, ít nhấp nhô, từ nguồn không quá 12 V chạy qua. Dòng điện được\r\nđặt ban đầu ở 7,7 mA/cm2 ở diện tích anốt và chạy qua trong 30 s.
\r\n\r\nĐiện đồ được tạo ra trên giấy sunfua cadmi được\r\nphép sấy. Bất kỳ khuyết tật nào trong lớp vỏ phủ kim loại đều lộ ra bằng các\r\nvết màu nâu tương ứng trên giấy. Phải sử dụng hóa chất loại thuốc thử tinh\r\nkhiết phân tích.
\r\n\r\nSau đó mẫu thử được kiểm tra bằng cách quan sát\r\ndùng thử nghiệm 1b.
\r\n\r\nChú thích cho qui trình thử nghiệm
\r\n\r\n1) Các tấm nhôm tinh khiết phải luôn được giữ\r\nkhông có dầu mỡ và các chất ngoại lại có thể gây ra các diện tích không làm\r\nviệc trên giấy sunfua cadmi.
\r\n\r\n2) Để giữ được lâu, giấy sunfua cadmi phải được\r\nbảo quản trong hộp tránh sáng.
\r\n\r\n3) Thời hạn sử dụng của giấy khoảng 4 đến 6\r\ntuần.
\r\n\r\n4) Sau thử nghiệm này, các tiếp điểm phải được\r\nlàm sạch như trước, cuối cùng được rửa qua nước đã khử ion nóng rồi sấy cẩn\r\nthận. Sử dụng giấy sunfua cadmi, không được đặt tiếp xúc với bề mặt phủ kim\r\nloại của tấm mạch in khi cất giữ.
\r\n\r\n8.1.4.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các yêu cầu;
\r\n\r\nb) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n8.1.5. Thử nghiệm 13e: Độ xốp, thử nghiệm\r\nbằng điện đồ, vàng trên niken
\r\n\r\n8.1.5.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể phát hiện chỗ đứt quãng trong lớp phủ kim\r\nloại bằng phương pháp điện đồ.
\r\n\r\nThử nghiệm phù hợp để kiểm tra lớp phủ bằng\r\nvàng, palađi và rôđi trên lớp đáy là niken.
\r\n\r\nKhả năng áp dụng và mức độ tin cậy của các\r\nkết luận rút ra từ các kết quả thử nghiệm rất hạn chế. Do vậy, nó được khuyến\r\ncáo chỉ áp dụng thử nghiệm khi có thỏa thuận giữa người mua và người bán.
\r\n\r\n8.1.5.2. Mẫu
\r\n\r\nPhần thích hợp của tấm sản phẩm có lớp phủ\r\nbằng vàng, rôđi hoặc palađi trên lớp đáy là niken.
\r\n\r\n8.1.5.3. Phương pháp
\r\n\r\nGiấy lọc 542 Whatman hoặc giấy lọc có chất lượng\r\ntương đương được ngâm 10 min trong dung dịch 0,8% niôxin (xyclohexan 1:2 dion\r\ndiôxin) và nước đã khử ion. Dung dịch thừa được lấy ra bằng giấy thấm và giấy\r\nlọc được treo lên để hút ẩm.
\r\n\r\nÁp dụng qui trình thử nghiệm 13d, trừ phi\r\ngiấy niômin được làm ẩm bằng nước đã khử ion và được xông hơi amoniac. Dung\r\ndịch thừa được lấy ra bằng giấy thấm và giấy lót của giấy thấm ảnh được dùng để\r\nhút ẩm.
\r\n\r\nĐiện đồ hình thành trên giấy niôxim được đem\r\nxông hơi amoniac rồi hút ẩm. Bất kỳ khuyết tật nào trong lớp phủ kim loại đều\r\nlộ ra bằng vết ố tương ứng với màu đỏ tía trên giấy. Khi phủ trên lớp đồng, lớp\r\nđáy niken, khuyết tật được bộc lộ bằng các vết ố màu xanh nâu.
\r\n\r\nSau đó mẫu thử phải được kiểm tra bằng cách\r\nquan sát dùng thử nghiệm 1b.
\r\n\r\n8.1.5.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các yêu cầu;
\r\n\r\nb) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n8.1.6. Thử nghiệm 13f: Chiều dày lớp phủ
\r\n\r\n8.1.6.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định chiều dày lớp phủ ở một số điểm\r\nqui định của một dạng dẫn.
\r\n\r\n8.1.6.2. Mẫu
\r\n\r\nPhép đo phải được thực hiện trên một dạng dẫn\r\ncó các lớp phủ bổ sung.
\r\n\r\n8.1.6.3. Phương pháp
\r\n\r\nChiều dày lớp phủ phải được đo bằng phương pháp\r\nthích hợp đối với loại lớp phủ và nền, và nếu có thỏa thuận giữa người mua và\r\nngười bán, ưu tiên phương pháp được quốc tế chấp nhận, ví dụ như phương pháp\r\nISO.
\r\n\r\n8.1.6.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) phương pháp cần sử dụng;
\r\n\r\nb) các yêu cầu;
\r\n\r\nc) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n8.2. Thử nghiệm 14a: Khả năng hàn
\r\n\r\n8.2.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đánh giá khả năng hàn của tấm mạch in và\r\ncủa các lỗ xuyên phủ kim loại. Thử nghiệm được tiến hành trên tấm mạch in nhận\r\ntừ nhà cung ứng.
\r\n\r\nNên dùng các điều kiện lão hóa gia tốc để\r\nphản ánh khuyết tật do lưu kho về đặc tính khả năng hàn của tấm mạch in.
\r\n\r\nNếu các tấm mạch in được chuyển giao trong\r\nkiện hàng gắn kín thì lão hóa gia tốc phải thực hiện trên kiện hàng chưa mở.
\r\n\r\nĐiều này không thích hợp nếu tấm mạch in định\r\nhàn có thiết kế đặc biệt.
\r\n\r\n8.2.2. Mẫu
\r\n\r\nMẫu được qui định bằng qui định kỹ thuật liên\r\nquan phải được cắt từ tấm sản phẩm, tấm thử nghiệm hoặc tấm thử nghiệm kết hợp tương\r\nứng với thử nghiệm Tc: Khả năng hàn của các tấm mạch in và vật liệu ép tráng\r\nkim loại của IEC 68-2-20.
\r\n\r\n8.2.3. Phương pháp
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành phù hợp với\r\nIEC 68-2-20 và những qui định bổ sung sau:
\r\n\r\nChất trợ dung
\r\n\r\nChất trợ dung phải được thỏa thuận giữa người\r\nmua và người bán theo một trong hai chất trợ dung sau:
\r\n\r\na) chất trợ dung trung tính, như được qui\r\nđịnh trong 6.6.1 của IEC 68-2-20;
\r\n\r\nb) chất trợ dung hoạt tính (0,2%) như qui\r\nđịnh trong 6.6.2 của IEC 68-2-20.
\r\n\r\nLão hóa gia tốc
\r\n\r\nPhương pháp ưu tiên: Mẫu thử phải chịu được\r\nthử nghiệm phù hợp với thử nghiệm Ca của IEC 68-2-3, 10 ngày.
\r\n\r\nPhương pháp thay thế 1: Thử nghiệm Db của IEC\r\n68-2-30, 10 chu kỳ (không phải chịu số chu kỳ qui định trong IEC 68-2-30) mỗi\r\nchu kỳ 24 h ở nhiệt độ 55oC, nếu có thỏa thuận giữa người mua và người\r\nbán.
\r\n\r\nPhương pháp thay thế 2: 9.4 Thử nghiệm 20a, nếu\r\ncó thỏa thuận giữa người mua và người bán.
\r\n\r\nSau lão hóa gia tốc, mẫu thử được chuyển khỏi\r\nbuồng thử rồi được hút ẩm theo thỏa thuận giữa người mua và người bán. Sau đó\r\nmẫu thử phải được lau sạch, sấy khô, tẩm chất trợ dung và thử nghiệm phù hợp\r\nvới thử nghiệm 14a.
\r\n\r\nNhiệt độ hàn
\r\n\r\nNhiệt độ hàn là 235
Giữ sạch mẫu
\r\n\r\nKhi cầm mẫu thử phải chú ý để giảm\r\nthiểu ôxy hóa và bẩn bề mặt cần thử nghiệm.
\r\n\r\na) Tấm mạch in không được bảo vệ bằng\r\ncách phủ lắng đọng
\r\n\r\nMẫu thử phải được nhúng trong dung môi\r\nhữu cơ trung tính tại nhiệt độ phòng, được hút ẩm, rồi nhúng vào dung dịch HCl\r\n(tỷ lệ một phần HCl tỷ trọng 1,180 g/cm3 và bốn phần nước) trong 15\r\ns, sau đó rửa trong nước đã khử ion và sấy trong khí nóng.
\r\n\r\nb) Tấm mạch in có các đường dẫn và các\r\nlỗ được bảo vệ bằng cách phủ lắng đọng.
\r\n\r\nMẫu thử phải được nhúng vào dung môi\r\nhữu cơ trung tính trong 1 min và được sấy trong không khí nóng.
\r\n\r\nc) Tấm mạch in được bảo vệ bằng cách\r\nsơn chất trợ dung không cần loại bỏ trước khi hàn.
\r\n\r\nKhông phải áp dụng qui trình làm sạch.
\r\n\r\nKiểm tra cuối cùng.
\r\n\r\nNgoài việc đánh giá khả năng hàn phù\r\nhợp với 6.9 của IEC 68-2-20, mẫu thử còn phải được kiểm tra bằng cách quan sát\r\ndùng phương pháp phóng đại 10 lần, thử nghiệm 1b.
\r\n\r\nĐể minh họa bề mặt hàn, xem hình 5.
\r\n\r\n8.2.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) mẫu cần thử nghiệm;
\r\n\r\nb) chất trợ dung được sử dụng;
\r\n\r\nc) lão hóa gia tốc, nếu có;
\r\n\r\nd) số lần bám thiếc và xả thiếc;
\r\n\r\ne) các yêu cầu đối với kiểm tra bằng cách\r\nquan sát;
\r\n\r\nf) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n8.3. Bong lớp và cắt lớp
\r\n\r\n8.3.1. Thử nghiệm 15a: Bong lớp, sốc nhiệt
\r\n\r\n8.3.1.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định vật liệu thích hợp và qui trình được\r\nsử dụng đúng bằng cách chứng minh khả năng chịu sốc nhiệt qui định mà không có\r\ndấu hiệu bong lớp của tấm mạch in.
\r\n\r\n8.3.1.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên tấm sản\r\nphẩm, tấm thử nghiệm hoặc phần qui định của tấm thử nghiệm kết hợp.
\r\n\r\n8.3.1.3. Phương pháp
\r\n\r\nMẫu thử phải được ổn định trước phù hợp với\r\nthử nghiệm 18b.
\r\n\r\nSau khi phục hồi, áp dụng thử nghiệm sốc\r\nnhiệt 19c với thời gian như qui định trong qui định kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nSau đó mẫu được kiểm tra bằng cách quan sát\r\ndùng thử nghiệm 1a phương pháp phóng đại 3 lần.
\r\n\r\nNếu cần kiểm tra bong lớp bên trong thì mẫu\r\nthử phải được cắt lớp và sau đó phải kiểm tra bằng cách quan sát dùng thử\r\nnghiệm 1c phương pháp phóng đại 250 lần.
\r\n\r\n8.3.1.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) thời gian ổn định trước;
\r\n\r\nb) cắt lớp, nếu có;
\r\n\r\nc) các yêu cầu;
\r\n\r\nd) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n8.3.2. Thử nghiệm 15b: Cắt lớp
\r\n\r\n8.3.2.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định tình trạng bên trong của lỗ xuyên\r\nphủ kim loại, dạng dẫn và vật liệu nền của tấm mạch in bằng cách cắt lớp và\r\nkiểm tra bằng cách quan sát/kiểm tra kích thước. Phương pháp này bị hạn chế do\r\nkỹ thuật chuẩn bị mẫu hoặc khả năng cắt lớp và không áp dụng cho phép đo chiều\r\ndày lớp phủ quá mỏng (≤ 0,5 mm).
\r\n\r\n8.3.2.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm được tiến hành trên các phần qui\r\nđịnh của tấm sản phẩm, tấm thử nghiệm hoặc tấm thử nghiệm kết hợp.
\r\n\r\nKhi các tấm sản phẩm được thử nghiệm, mẫu thử\r\nưu tiên lấy ở vùng giữa tấm và vùng mép tấm. Ngoài ra mẫu thử là tấm mạch in\r\nnhiều lớp phải ưu tiên lấy sao cho có thể kiểm tra được theo hai chiều (chiều\r\ndài và đường chéo).
\r\n\r\n8.3.2.3. Phương pháp
\r\n\r\n8.3.2.3.1. Chuẩn bị mẫu
\r\n\r\nMẫu phải được cắt đủ lớn để tránh làm hỏng vùng\r\ncần thử nghiệm. Không kiểm tra dải cách mép 2 mm.
\r\n\r\nViệc đột lỗ trên mẫu phải tránh làm biến dạng\r\nmẫu thử.
\r\n\r\nTrong trường hợp lớp phủ mỏng và/hoặc mềm, ví\r\ndụ lớp phủ bằng vàng, thiếc hoặc chì thiếc, trước khi bao gói cần phủ một tấm\r\ncứng hơn lên trên cùng.
\r\n\r\nKhi cần kiểm tra lớp phủ hữu cơ, mẫu có thể được\r\nphủ thêm một lớp vật liệu có màu tương phản với lớp phủ cần kiểm tra.
\r\n\r\nChú thích – Nếu nhiều mẫu được phủ thêm cùng\r\nmột lúc thì từng mẫu phải được đánh dấu riêng.
\r\n\r\nMẫu thử phải được phủ thêm cẩn thận, dùng vật\r\nliệu phủ thêm phù hợp. Vật liệu phủ thêm và qui trình không được ảnh hưởng xấu\r\nđến mẫu thử, ví dụ không làm phồng rộp lớp hữu cơ cần đo kích thước v.v…
\r\n\r\nKhông được có bọt khí giữa vật liệu phủ thêm\r\nvà lớp bất kỳ của vùng cần đo chiều dày của lớp. Có thể loại bỏ các bọt khí\r\nbằng cách khuấy, lắc bằng tay, hoặc khử chân không, tùy theo vật liệu sử dụng.
\r\n\r\nSau đó mẫu thử được đặt và đánh bóng cẩn\r\nthận. Không có vết xước nhìn thấy được bằng cách quan sát và/hoặc kiểm tra kích\r\nthước dùng phương pháp kính hiển vi và phương pháp phóng đại. Khi kích thước\r\ncần đo (ví dụ chiều dày của lớp), vết xước không được rộng hơn 0,5
Khi cần kiểm tra mặt cắt vuông góc với mặt\r\nphẳng của tấm mạch in, mặt được đánh bóng của cắt lớp phải ở trong khoảng 85o\r\nđến 95o so với mặt phẳng của tấm mạch in. Nếu cần đo chiều dày phần\r\nvách xung quanh lỗ xuyên phủ kim loại thì đường kính lỗ lộ ra trong mặt cắt\r\nkhông được nhỏ hơn 90% đường kính thực đo được trước khi chuẩn bị cắt lớp.
\r\n\r\nSau khi đánh bóng và trước khi quan sát\r\nvà/hoặc kiểm tra kích thước, mẫu thử phải được ăn mòn theo cách nào đó để ranh giới\r\nlớp phủ được xác định rõ nét. Dung dịch ăn mòn được sử dụng phụ thuộc vào đặc\r\ntính cần kiểm tra. Nếu cần, phải qui định dung dịch ăn mòn cụ thể.
\r\n\r\nChú thích – Nếu cần có thể kiểm tra một số\r\nđặc tính trước khi thực hiện ăn mòn (xem 8.3.2.3.3).
\r\n\r\n8.3.2.3.2. Phương pháp kiểm tra
\r\n\r\nNếu không có qui định nào khác trong qui định\r\nkỹ thuật liên quan cho tấm mạch in cụ thể cần thử nghiệm, mẫu thử phải được\r\nkiểm tra bằng kính hiển vi phù hợp.
\r\n\r\nÁp dụng các độ phóng đại sau:
\r\n\r\n3.2.1 – xấp xỉ 100 lần tuyến tính
\r\n\r\n3.2.2 – xấp xỉ 250 lần tuyến tính
\r\n\r\n3.2.3 – xấp xỉ 500 lần tuyến tính
\r\n\r\n3.2.4 – xấp xỉ 1 000 lần tuyến tính
\r\n\r\nĐộ phóng đại phải được chọn sao cho phù hợp\r\nvới đặc tính cần kiểm tra. Khi cần đo các kích thước, phải phối hợp hệ thống đo\r\nđã hiệu chuẩn.
\r\n\r\nKhi đo các kích thước, cả hai biên của chi\r\ntiết cần đo phải được hội tụ đồng thời. Khi đo chiều dày lớp phủ, không kể đến\r\ncác điểm lồi, lõm và các vết nứt.
\r\n\r\nChú thích – Tiêu chuẩn ISO 1463 và phụ lục A,\r\nphụ lục B của nó được dùng làm tài liệu hướng dẫn cắt lớp.
\r\n\r\n8.3.2.3.3. Các đặc tính cần kiểm tra
\r\n\r\nNếu có qui định trong qui định kỹ thuật liên\r\nquan, một hoặc nhiều đặc tính và chi tiết dưới đây phải được kiểm tra:
\r\n\r\na) − chiều dày của đường dẫn, chiều dày lớp\r\nphủ và chiều dày lá đồng ép;
\r\n\r\n− các chỗ khuyết và vết nứt trong lớp phủ;
\r\n\r\n− vết nứt trong lá đồng ép;
\r\n\r\n− bavia và các vết lồi;
\r\n\r\n− chất lượng khoan (ví dụ như phoi khoan làm\r\nbẩn lớp trong, v.v…);
\r\n\r\n− độ so le của các cạnh;
\r\n\r\n− phần vách chung của các lỗ xuyên phủ kim\r\nloại và đường dẫn của các lớp bên trong;
\r\n\r\n− sự cách ly của lớp phủ;
\r\n\r\nb) − chiều dày của lớp hữu cơ (kể cả vật liệu\r\nnền)
\r\n\r\n− chỗ khuyết trong các lớp hữu cơ (kết cả vật\r\nliệu nền);
\r\n\r\n− ăn mòn mặt sau;
\r\n\r\n− chỗ nhô ra của sợi thủy tinh;
\r\n\r\n− tách lớp;
\r\n\r\nc) − định màu giữa các lớp;
\r\n\r\n− định màu giữa đường dẫn và các dạng lỗ;
\r\n\r\n− chiều rộng vành khuyên.
\r\n\r\nQui định kỹ thuật liên quan có thể yêu cầu kiểm\r\ntra phần vách chung của lỗ xuyên phủ kim loại và đường dẫn của các lớp bên\r\ntrong trước khi thực hiện ăn mòn.
\r\n\r\n8.3.2.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các phần của tấm mạch in cần cắt lớp;
\r\n\r\nb) dung dịch ăn mòn đặc biệt, nếu cần;
\r\n\r\nc) các đặc tính và các chi tiết cần kiểm tra\r\n(kể cả độ phóng đại cần sử dụng);
\r\n\r\nd) kiểm tra trước khi ăn mòn, nếu yêu cầu;
\r\n\r\ne) các yêu cầu cần đáp ứng;
\r\n\r\nf) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n8.4. Thử nghiệm 16: Khả năng cháy
\r\n\r\nCác thử nghiệm tiếp theo các thử nghiệm trong\r\nphòng thử nghiệm dùng nguồn năng lượng đánh lửa thấp mà không làm ảnh hưởng đến\r\ndự đoán tác động thực của tấm mạch in trong mọi qui mô cháy.
\r\n\r\nTrong một số trường hợp, tấm mạch in phải\r\nchịu một số thử nghiệm để kiểm tra ảnh hưởng của các nguồn đánh lửa khác nhau.
\r\n\r\nThử nghiệm 16a cũng là thử nghiệm trong IEC 249\r\nvà IEC 326. Nó được dùng để trích dẫn trong các qui định kỹ thuật và tiêu chuẩn\r\nhiện hành khác. Về giới hạn của nó, nên tham khảo 9.3 của TCVN 6611-3 : 2001\r\n(IEC 326-3).
\r\n\r\nHướng dẫn thử nghiệm khả năng cháy xem trong\r\nTCVN 6611-3 : 2001 (IEC 326-3).
\r\n\r\n8.4.1. Thử nghiệm 16a: Tấm mạch in, phần kim\r\nloại tháo rời
\r\n\r\n8.4.1.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đánh giá các đặc tính về khả năng cháy của\r\ntấm mạch in.
\r\n\r\n8.4.1.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên tấm sản\r\nphẩm, tấm thử nghiệm hoặc các phần qui định của tấm thử nghiệm kết hợp.
\r\n\r\n8.4.1.3. Phương pháp
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành phù hợp với\r\n4.3.3 của IEC 249-1.
\r\n\r\n8.4.1.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) phần tấm mạch in cần thử nghiệm;
\r\n\r\nb) khoảng thời gian cháy lớn nhất;
\r\n\r\nc) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n8.4.2. Thử nghiệm 16b: Thử nghiệm sợi dây\r\nnóng đỏ, tấm mạch in cứng
\r\n\r\n8.4.2.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định khả năng cháy của tấm mạch in khi\r\nđưa đến sợi dây nóng đỏ trong các điều kiện qui định. Cường độ của nguồn đánh\r\nlửa dùng tương tự như mức độ quá nhiệt do sự cố hoặc linh kiện điện tử đơn lẻ\r\nbị nóng đỏ.
\r\n\r\n8.4.2.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên các tấm\r\nsản phẩm hoặc trên các tấm thử nghiệm miễn là đại diện được cho các tấm sản\r\nphẩm, ví dụ về vật liệu, loại, kích cỡ
8.4.2.3. Phương pháp
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành phù hợp với\r\nIEC 695-2-1.
\r\n\r\nTấm gỗ có phủ lớp giấy bản, được đặt bên dưới\r\nmẫu thử nghiệm như mô tả trong IEC 695-2-1.
\r\n\r\nNếu không có qui định nào khác trong qui định\r\nkỹ thuật liên quan thì bề mặt mẫu cần thử phải ở vị trí thẳng đứng trong quá\r\ntrình thử nghiệm.
\r\n\r\nỔn định trước
\r\n\r\nNếu không có qui định nào khác, các mẫu thử\r\nphải được ổn định trước trong 24 h ở nhiệt độ 125 ± 2oC trong lò\r\ntuần hoàn không khí. Sau đó các mẫu được làm nguội trong bình hút ẩm chứa clorua\r\ncanxi khan trong 4 h ở nhiệt độ phòng.
\r\n\r\nMức khắc nghiệt
\r\n\r\nQui định kỹ thuật liên quan phải qui định mức\r\nkhắc nghiệt cần sử dụng.
\r\n\r\nƯu tiên tuân thủ một trong các nhiệt độ dưới\r\nđây được cho trong IEC 695-2-1:
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Nếu không có qui định nào khác trong qui định\r\nkỹ thuật liên quan, khoảng thời gian đặt phải là 30 ± 1 s.
\r\n\r\n8.4.2.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) số mẫu, nếu khác 5 mẫu;
\r\n\r\nb) vị trí của các mẫu, nếu khác với vị trí\r\nthẳng đứng;
\r\n\r\nc) điểm đặt của sợi dây nóng đỏ;
\r\n\r\nd) nhiệt độ của dây;
\r\n\r\ne) khoảng thời gian đặt, nếu khác 30 s;
\r\n\r\nf) các yêu cầu, nếu khác với các yêu cầu cho\r\ntrong IEC 695-2-1.
\r\n\r\n8.4.3. Thử nghiệm 16c: Thử nghiệm ngọn lửa\r\nhình kim, tấm mạch in cứng
\r\n\r\n8.4.3.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định khả năng cháy của tấm mạch in khi\r\nđưa đến ngọn lửa hình kim trong các điều kiện qui định. Cường độ nguồn đánh lửa\r\nđược dùng tương tự như mức độ quá nhiệt do sự cố hoặc linh kiện điện tử đơn lẻ bị\r\nnóng đỏ.
\r\n\r\n8.4.3.2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên các tấm\r\nsản phẩm hoặc trên các tấm thử nghiệm, miễn là đại diện cho các tấm sản phẩm,\r\nví dụ về vật liệu, loại, kích cỡ
Nếu không có qui định nào khác, phải thử\r\nnghiệm trên năm tấm mạch in.
\r\n\r\n8.4.3.3. Phương pháp
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành phù hợp với\r\nIEC 695-2-2.
\r\n\r\nTấm gỗ có phủ lớp giấy bản, được đặt bên dưới\r\nmẫu thử nghiệm như mô tả trong IEC 695-2-2.
\r\n\r\nỔn định trước
\r\n\r\nNếu không có qui định nào khác, các mẫu thử\r\nphải được ổn định trước trong 24 h ở nhiệt độ 125 ± 2oC trong lò\r\ntuần hoàn không khí. Sau đó các mẫu được làm nguội trong bình hút ẩm chứa clorua\r\ncanxi khan trong 4 h ở nhiệt độ phòng.
\r\n\r\nVị trí của mẫu thử
\r\n\r\nQui định kỹ thuật liên quan phải qui định vị\r\ntrí của mẫu thử và điểm đặt ngọn lửa (bề mặt, mép).
\r\n\r\nMỏ đèn phải được đặt ở góc 45o sao\r\ncho những giọt nhỏ bất kỳ rơi từ mẫu thử có thể rơi tự do lên lớp giấy bên dưới.
\r\n\r\nNếu được qui định trong qui định kỹ thuật\r\nliên quan thì bề mặt và/hoặc gờ của mẫu phải được thử nghiệm. Trong trường hợp\r\nđặt ở bề mặt, điểm đặt ngọn lửa phải cách mép gần nhất một khoảng không nhỏ hơn\r\n10 mm, nếu có thể, để tránh mọi ảnh hưởng mép tấm mạch in.
\r\n\r\nTrong trường hợp đặt ở mép, ngọn lửa phải được\r\nđặt ở khoảng cách không nhỏ hơn 10 mm tính từ góc gần nhất, nếu có thể.
\r\n\r\nMẫu cần thử nghiệm phải ở vị trí theo qui\r\nđịnh trong qui định kỹ thuật liên quan, ưu tiên vị trí làm việc bình thường, các\r\nví dụ được thể hiện trên hình 6.
\r\n\r\nNếu chưa biết vị trí làm việc hoặc có thể\r\nthay đổi thì mẫu phải được thử nghiệm ở vị trí sau:
\r\n\r\n− Nếu đặt ở mép tấm: Mép bên dưới phải đặt\r\nnằm ngang và mẫu đặt thẳng đứng. Ngọn lửa phải được đặt vào mép bên dưới (xem\r\nhình 6c).
\r\n\r\n− Nếu đặt ở bề mặt: Mép bên dưới phải được\r\nđặt nằm ngang và mẫu đặt nghiêng một góc xấp xỉ 80o. Ngọn lửa phải được\r\nđặt vào phía bên dưới của mẫu thử (xem hình 6).
\r\n\r\nNgọn lửa được đốt xa mẫu thử và chiều dài\r\nngọn lửa được điều chỉnh đến 12 ± 2 mm. Sau đó ngọn lửa được đưa vào vị trí thử\r\nnghiệm như mô tả ở trên sao cho mẫu thử nằm trong ngọn lửa xấp xỉ 2 mm. Khoảng cách\r\ntheo phương thẳng đứng giữa đầu của ngọn lửa và bề mặt hoặc mép tấm cần thử\r\nnghiệm từ 8 mm đến 10 mm là đủ đối với mục đích này, nhưng trong trường hợp đặt\r\nđến bề mặt thẳng đứng, khoảng cách theo phương nằm ngang xấp xỉ bằng 5 mm là\r\ncần thiết.
\r\n\r\nMức khắc nghiệt
\r\n\r\nQui định kỹ thuật liên quan phải qui định mức\r\nkhắc nghiệt cần sử dụng.
\r\n\r\nƯu tiên một trong các khoảng thời gian đặt\r\nngọn lửa thử nghiệm cho trong IEC 695-2-2 như sau:
\r\n\r\n8.4.3.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) số mẫu thử, nếu khác năm mẫu;
\r\n\r\nb) vị trí đặt mẫu;
\r\n\r\nc) điểm đặt ngọn lửa thử nghiệm;
\r\n\r\nd) khoảng thời gian đặt ngọn lửa thử nghiệm;
\r\n\r\ne) các yêu cầu, nếu khác với yêu cầu cho\r\ntrong IEC 695-2-2.
\r\n\r\n8.5. Thử nghiệm 17 a: Độ bền chịu dung môi và\r\nchất trợ dung
\r\n\r\n8.5.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đánh giá khả năng chịu được chất trợ dung\r\nvà dung môi qui định trước và/hoặc sau thao tác hàn qui định của nhãn, các lớp\r\nkháng hàn và lớp phủ cách điện trên tấm mạch in.
\r\n\r\nChú thích – Không áp dụng cho các nhãn, các\r\nlớp kháng hàn và lớp phủ cách điện trên các dạng đường dẫn là thiếc hoặc\r\nchì-thiếc khi sử dụng phương pháp ổn định trước bằng thử nghiệm 19b.
\r\n\r\n8.5.2. Mẫu
\r\n\r\nMẫu thử nghiệm phải là hình chữ nhật và các\r\nnhãn và/hoặc các lớp phủ phù hợp cần được đậy bằng đệm dạ.
\r\n\r\n8.5.3. Phương pháp
\r\n\r\nỔn định trước
\r\n\r\nMẫu thử phải được ổn định trước sử dụng thử\r\nnghiệm 18a trước và/hoặc sau khi hàn. Nếu yêu cầu, phải thực hiện việc hàn theo\r\nthử nghiệm 19c. Thời gian đỡ cho nổi là 5![](\"00914287_files/image003.gif\"){kind=small}
s.
Áp dụng các sai lệch so với phương pháp tiêu\r\nchuẩn sau đây: mẫu thử phải được tẩy như qui định trong qui định kỹ thuật liên\r\nquan, bỏ qua quá trình làm sạch như qui định trong thử nghiệm 19c.
\r\n\r\nDung môi
\r\n\r\nThử nghiệm được tiến hành trong hỗn hợp đồng\r\nsôi gồm 4% theo trọng lượng etanol hoặc isopropanol và 96% theo trọng lượng\r\ntricloflometan.
\r\n\r\nNếu có yêu cầu thử nghiệm trong các dung môi\r\nkhác thì phải được sự thỏa thuận giữa người mua và người bán.
\r\n\r\nCác dung môi điển hình: rượu etyl,\r\nisopropanol, toluen, tricloetan 1,1,1, tricloetylen, metyl etyl keton và nước\r\nnóng.
\r\n\r\nQui định chung
\r\n\r\nNếu không có qui định nào khác thì thử nghiệm\r\nphải được tiến hành trong điều kiện khí quyển tiêu chuẩn và với dung môi ở\r\nnhiệt độ môi trường.
\r\n\r\nThử nghiệm được tiến hành bằng cách chà xát\r\nbề mặt cần thử nghiệm theo cách qui định với loại đệm dạ qui định trong khi mẫu\r\nthử được đặt trong dung môi.
\r\n\r\nMẫu thử được giữ chắc chắn trong chậu theo cách\r\nnào đó để ngăn ngừa sự dịch chuyển trong quá trình thử nghiệm. Dung môi trong\r\nchậu phải ngập hoàn toàn bề mặt của mẫu. Việc chà xát phải bắt đầu ngay sau khi\r\ndung môi tràn qua mẫu thử.
\r\n\r\nViệc chà xát phải được thực hiện qua lại với\r\nhành trình xấp xỉ bằng 50 mm trong thời gian 1 s.
\r\n\r\nPhải thực hiện 25 chu kỳ qua lại.
\r\n\r\nMỗi loại dung môi thử nghiệm cho ba mẫu.
\r\n\r\nMỗi loại dung môi dùng một tấm đệm mới, hoặc\r\nđược làm sạch và sấy khô sau mỗi lần sử dụng, trước khi sử dụng lại với dung\r\nmôi khác.
\r\n\r\nPhương pháp thủ công
\r\n\r\nMẫu thử phải được chà xát với tấm đệm bằng dạ\r\nvà áp lực thấp xấp xỉ bằng 0,5 N/cm2. Tấm đệm bằng dạ phải có tối\r\nthiểu 85% len, dày khoảng 6 mm đến 7 mm và diện tích bề mặt ít nhất là 6,5 cm2.
\r\n\r\nỞ cuối thử nghiệm, dung môi phải được làm\r\nsạch khỏi mẫu và mẫu thử phải được kiểm tra bằng cách quan sát không cần phóng\r\nđại dùng thử nghiệm 1.
\r\n\r\nPhương pháp trọng tài
\r\n\r\nTrong trường hợp có tranh chấp giữa người mua\r\nvà người bán, thử nghiệm phải được tiến hành bằng thiết bị thử nghiệm tương đương\r\nthể hiện trên hình 7. Thiết bị là động cơ xi lanh có chứa không khí chuyển động\r\nqua lại, hoạt động liên tục.
\r\n\r\nCơ cấu chuyển động qua lại phải có kết cấu\r\nsao cho giữ bề mặt đệm dạ song song với bề mặt của mẫu thử; lực ép xuống bề mặt\r\nphải có giá trị như nhau ở mọi chỗ. Đệm dạ phải là loại dạ cuộn tròn, có khối lượng\r\n180 g/m2 cho mỗi milimét chiều dày, có chứa tối thiểu 85% len, độ\r\nbền kéo là 70 N/cm2. Bề mặt của đệm dạ phải ít nhất là 6,5 cm2\r\nvà lực ép bề mặt lên mẫu thử phải bằng 0,5 N/cm2. Chiều dày của đệm\r\ndạ khoảng 6 mm đến 7 mm.
\r\n\r\nCuối thử nghiệm, dung môi phải được loại khỏi\r\nmẫu và mẫu thử phải được kiểm tra bằng cách quan sát dùng thử nghiệm 1a.
\r\n\r\n8.5.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) thao tác hàn, nếu yêu cầu;
\r\n\r\nb) chất trợ dung, nếu yêu cầu thao tác hàn;
\r\n\r\nc) dung môi, nếu không tiêu chuẩn;
\r\n\r\nd) các yêu cầu đối với kiểm tra bằng cách\r\nquan sát;
\r\n\r\ne) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n\r\n\r\n9.1. Thử nghiệm 18: Ổn định trước
\r\n\r\n9.1.1. Thử nghiệm 18a: Ổn định trước, điều\r\nkiện khí quyển tiêu chuẩn
\r\n\r\n9.1.1.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể thiết lập các điều kiện về nhiệt và độ ẩm\r\ncủa tấm mạch in sao cho đạt được các kết quả quan trọng và tin cậy khi tiến\r\nhành thử nghiệm nào đó, ví dụ phép đo điện trở cách điện.
\r\n\r\n9.1.1.2. Phương pháp
\r\n\r\nMẫu thử phải được giữ ở các điều kiện khí\r\nquyển tiêu chuẩn trong 24 h.
\r\n\r\n9.1.1.3. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) Mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n9.1.2. Thử nghiệm 18b: Ổn định trước, 125oC
\r\n\r\n9.1.2.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể hút ẩm mẫu thử đến mức các kết quả thử\r\nnghiệm không bị ảnh hưởng bởi độ ẩm của vật liệu.
\r\n\r\n9.1.2.2. Phương pháp
\r\n\r\nMẫu thử phải được ổn định trước trong lò\r\nkhông khí lưu thông ở nhiệt độ 125 ± 5oC trong thời gian như qui định\r\ntrong qui định kỹ thuật liên quan. Sau đó mẫu thử phải được làm nguội ở điều\r\nkiện khí quyển tiêu chuẩn đến khi nhiệt độ của mẫu thấp hơn 35oC.\r\nTuy nhiên, trong mọi trường hợp, thời gian hồi phục không quá 8 h.
\r\n\r\n9.1.2.3. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) thời gian ổn định trước;
\r\n\r\nb) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n9.2. Thử nghiệm 19: Sốc nhiệt
\r\n\r\n9.2.1. Thử nghiệm 19a: Sốc nhiệt, nhúng, bể\r\ndầu
\r\n\r\n9.2.1.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đặt sốc nhiệt đồng thời lên tất cả các\r\nphía của mẫu thử.
\r\n\r\n9.2.1.2. Phương pháp
\r\n\r\nDùng bể silic được khuấy đều hoặc chất lỏng tương\r\nđương, giữ ở 260![](\"00914287_files/image001.gif\")
oC trong suốt\r\nthử nghiệm. Nhiệt độ phải được đo ở dưới bề mặt 25 mm.
Chú thích – Chất lỏng phù hợp phải có nhiệt\r\nđộ tự bốc cháy cao hơn 300oC, nhiệt độ phân ly cao hơn 250oC\r\nvà độ dẫn nhiệt và chịu oxy hóa có thể so sánh được với các giá trị của metyl\r\nphenyl polysiloxan.
\r\n\r\nMẫu thử phải được giữ ở vị trí nằm ngang, sâu\r\n25 mm bằng một vòng kẹp có khả năng dẫn nhiệt thấp sao cho nhiệt độ của chất\r\nlỏng không thấp hơn 260oC. Mẫu thử phải được nhúng hoàn toàn trong\r\nchất lỏng với thời gian được cho trong qui định kỹ thuật liên quan. Sau khi lấy\r\nra khỏi bể, mẫu thử được làm nguội đến nhiệt độ từ 15oC đến 35oC.
\r\n\r\nSau khi làm nguội, mẫu thử phải được nhúng \r\ntrong tricloetan 1,1,1 hoặc tricloetylen trong vài giây, sấy bằng không khí\r\nsạch, rửa sơ qua trong rượu isopropyl sạch rồi sấy lại bằng không khí sạch.
\r\n\r\n9.2.1.3. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) thời gian nhúng;
\r\n\r\nb) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n9.2.2. Thử nghiệm 19b: Sốc nhiệt, nhúng, bể\r\ncát giả hóa lỏng
\r\n\r\n9.2.2.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đặt đồng thời sốc nhiệt lên tất cả các\r\nphía của mẫu thử, trong trường hợp không muốn dùng dầu silic.
\r\n\r\n9.2.2.2. Phương pháp
\r\n\r\nSử dụng bể cát giả hóa lỏng có thiết kế phù hợp\r\n(ví dụ như hình 8) có nhiệt độ 260
9.2.2.3. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) thời gian nhúng;
\r\n\r\nb) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n9.2.3. Thử nghiệm 19c: Sốc nhiệt, đặt nổi, bể\r\nhàn
\r\n\r\n9.2.3.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đặt sốc nhiệt trong trường hợp các ảnh hưởng\r\nnhiệt tới mẫu chủ yếu từ một phía và trong trường hợp giống như bể hàn dùng để\r\nhàn trong thực tế.
\r\n\r\n9.2.3.2. Phương pháp
\r\n\r\nDùng bể hàn có thiết kế phù hợp được giữ ở\r\nnhiệt độ 260 oC trong suốt thử nghiệm.\r\nNhiệt độ phải được đo ở vị trí thấp hơn bề mặt 25 mm.
Trước khi đặt nổi mẫu, phải loại bỏ ôxit trên\r\nbề mặt thiếc.
\r\n\r\nMẫu thử phải được đặt nổi trên thiếc sao cho\r\nchỉ một mặt của mẫu tiếp xúc trực tiếp với thiếc. Mẫu thử phải được đặt nổi\r\ntrong thời gian được cho trong qui định kỹ thuật liên quan. Sau khi nhấc ra,\r\nmẫu thử được làm nguội đến nhiệt độ từ 15oC đến 35oC.
\r\n\r\nSau khi làm nguội, mẫu thử phải được nhúng trong\r\ntricloetan 1,1,1 hoặc tricloetylen trong vài giây, sấy bằng không khí sạch, rửa\r\nsơ qua trong rượu isopropyl sạch rồi sấy lại bằng không khí sạch.
\r\n\r\n9.2.3.3. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) thời gian đặt nổi;
\r\n\r\nb) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu chuẩn.
\r\n\r\n9.2.4. Thử nghiệm 19d: Sốc nhiệt, hàn thủ\r\ncông
\r\n\r\n9.2.4.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đặt sốc nhiệt bằng cách lặp lại thao tác\r\nhàn thủ công để mô phỏng việc hàn thiếc, xả thiếc và hàn thiếc lại.
\r\n\r\n9.2.4.2. Phương pháp
\r\n\r\nDụng cụ hàn
\r\n\r\nMỏ hàn phải có phần đồng dài 30 ± 5 mm, đường\r\nkính 5 ± 0,1 mm, có một đầu vát góc 45 ± 10o. Nhiệt độ của phần đồng\r\nphải là 270 ± 10oC trong suốt thử nghiệm. Dụng cụ phù hợp được cho\r\ntrên hình 9.
\r\n\r\nThiếc hàn
\r\n\r\nThiếc hàn phải là dây hợp kim chì-thiếc 60/40\r\ncó lõi nhựa thông không ăn mòn, đường kính dây không lớn hơn 1,5 mm.
\r\n\r\nChu kỳ hàn
\r\n\r\nVành khuyên phải phủ đều thiếc bằng mỏ hàn\r\ntrong 4 ± 1 s với lượng thiếc hàn ít nhất.
\r\n\r\nMột mẩu dây phủ thiếc trước được hàn vuông\r\ngóc với tấm thử nghiệm qua tâm vành khuyên. Thiếc phải điền đầy khoảng trống\r\ngiữa dây và vành khuyên. Thời gian hàn là 4 ± 1 s.
\r\n\r\nTrong quá trình hàn và làm mát sau đó, dây\r\nkhông được dịch chuyển. Để đảm bảo được điều này, sợi dây và tấm thử nghiệm có\r\nthể được giữ bằng gá.
\r\n\r\nVành khuyên cũng phải chịu quá trình hàn rồi làm\r\nnguội. Sau đó dây được xả thiếc và lấy ra khỏi vành khuyên bằng cách đặt mỏ hàn\r\nlần thứ hai trong thời gian 4 ± 1 s. Sau khi làm nguội, dây phải được hàn lại\r\nvào vành khuyên bằng cách đặt lại mỏ hàn trong thời gian 4 ± 1 s.
\r\n\r\nChu kỳ hàn thứ nhất gồm hàn thiếc, xả thiếc\r\nvà hàn thiếc lại. Mỗi chu kỳ tiếp sau là một lần xả thiếc và một lần hàn lại.\r\nTổng số chu kỳ hàn phải được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n9.2.4.3. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) số chu kỳ hàn;
\r\n\r\nb) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n9.2.5. Thử nghiệm 19e: Sốc nhiệt, hàn nhúng
\r\n\r\n9.2.5.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đặt sốc nhiệt bằng cách lặp lại thao tác\r\nhàn nhúng để mô phỏng bám thiếc, xả thiếc và bám thiếc lại.
\r\n\r\n9.2.5.2. Phương pháp
\r\n\r\nThiết bị hàn
\r\n\r\nMột chậu thiếc đủ rộng để cho phép nhúng mẫu\r\nthử và có độ sâu của thiếc đổ vào ít nhất là 75 mm, được gia nhiệt đến nhiệt độ\r\ncủa thiếc là 260 oC trong thời\r\ngian thử nghiệm. Nhiệt độ phải được đo ở 25 mm bên dưới bề mặt thiếc.
Thiếc hàn
\r\n\r\nThiếc hàn là hợp kim chì-thiếc 60/40 phù hợp\r\nvới IEC 68-2-20, phụ lục B, và nhiệt độ của thiếc hàn trong bể ngay trước khi\r\nthử nghiệm phải phù hợp với IEC 249. Ngay trước mỗi lần nhúng, phải loại bỏ\r\nôxit trên bề mặt thiếc.
\r\n\r\nChu kỳ hàn
\r\n\r\nMẫu thử và dây phải được làm sạch bằng chất\r\ntrợ dung phù hợp rồi lắp vào cơ cấu cố định thích hợp để giữ cẩn thận vị trí\r\ncủa dây và tấm mạch in. Ví dụ phản ánh trên hình 10. Mẫu thử phải được nhúng sâu\r\n25 mm trong thiếc hàn nóng chảy. Thời gian nhúng là 4 ± 0,5 s. Sau đó vành\r\nkhuyên được làm nguội ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn. Lần nhúng thứ hai trong\r\n4 ± 0,5 s mô phỏng được sốc nhiệt của dây bị xả thiếc. Sau khi làm nguội, lần\r\nnhúng thứ ba phải mô phỏng sự bám thiếc lại của dây.
\r\n\r\nChu kỳ đầu tiên là ba lần nhúng. Nếu cần\r\nthực hiện nhiều hơn một chu kỳ thì mỗi chu kỳ bổ sung cần thêm hai lần nhúng. \r\nTổng số chu kỳ phải được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n9.2.5.3. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) số chu kỳ bám thiếc;
\r\n\r\nb) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n9.2.6. Thử nghiệm 19f: Sốc nhiệt, đặt nổi, bể\r\nhàn 280oC
\r\n\r\n9.2.6.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đưa một phía của mẫu thử vào chịu sốc\r\nnhiệt bằng cách đặt nổi mẫu thử trên thiếc hàn được nấu chảy.
\r\n\r\n9.2.6.2. Ổn định trước
\r\n\r\nNếu có yêu cầu trong qui định kỹ thuật liên\r\nquan thì mẫu thử phải ổn định trước theo thử nghiệm 18b trong thời gian như qui\r\nđịnh trong qui định kỹ thuật liên quan. Qui định kỹ thuật liên quan phải qui\r\nđịnh chất trợ dung phù hợp để sử dụng.
\r\n\r\n9.2.6.3. Phương pháp
\r\n\r\nBể hàn có thiết kế phù hợp và giữ ở nhiệt độ 280
Ngay trước khi đặt nổi mẫu thử, phải gạt bỏ\r\noxit khỏi bề mặt thiếc.
\r\n\r\nMẫu thử phải được đặt nổi trên thiếc sao cho\r\nchỉ một phía của mẫu thử tiếp xúc trực tiếp với thiếc.
\r\n\r\nThời gian đặt nổi được cho trong qui định kỹ\r\nthuật liên quan. Sau khi nhấc ra, mẫu thử được làm nguội đến nhiệt độ từ 15oC\r\nđến 35oC.
\r\n\r\nSau khi làm nguội, chất trợ dung còn đọng lại\r\nphải được loại bỏ bằng cách nhúng mẫu thử vài giây trong dung môi phù hợp và\r\nsau đó được hút ẩm bằng không khí sạch.
\r\n\r\n9.2.6.4. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) ổn định trước và thời gian, nếu yêu cầu;
\r\n\r\nb) có chất trợ dung hoặc không có chất trợ\r\ndung, loại chất trợ dung, nếu có;
\r\n\r\nc) thời gian đặt nổi;
\r\n\r\nd) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n9.2.7. Thử nghiệm 19g: ứng suất nhiệt, mô\r\nphỏng thiếc hàn ở giai đoạn hóa hơi
\r\n\r\n9.2.7.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể xác định khả năng của tấm mạch in chịu được\r\nứng suất nhiệt sinh ra trong quá trình thao tác tái chảy thiếc ở giai đoạn hóa hơi.
\r\n\r\nChú thích – Thử nghiệm này là thử nghiệm\r\ntrọng tài đối với tấm mạch in dùng để lắp linh kiện trên bề mặt.
\r\n\r\n9.2.7.2. Mẫu
\r\n\r\nMẫu thử có thể là tấm mạch in hoặc tấm thử\r\nnghiệm nếu có thỏa thuận giữa nhà chế tạo và người sử dụng và phải có đủ các lỗ\r\nxuyên phủ kim loại, các đường dẫn và các dạng vành khuyên lắp đặt bề mặt để tạo\r\nnên các đánh giá nêu trong điều 6. Một số ví dụ điển hình của tấm thử nghiệm\r\nthích hợp được cho trên hình 12.
\r\n\r\nMẫu thử phải được thỏa thuận giữa nhà chế tạo\r\nvà người sử dụng và phải được lắp đặt như qui định trong qui định kỹ thuật liên\r\nquan.
\r\n\r\n9.2.7.3. Mô tả chung thử nghiệm
\r\n\r\nMức ứng suất nhiệt lên mẫu thử phụ thuộc vào\r\nnhiệt độ sôi của hóa chất flo, vào thời gian dừng lại ở giai đoạn hóa hơi và số\r\nchu kỳ thử nghiệm được chọn. Nhiệt độ của hơi trong quá trình hàn ở giai đoạn\r\nhóa hơi là biết chính xác.
\r\n\r\nCó thể đặt mẫu thử vào hơi bằng cách tĩnh\r\nhoặc bằng cách xếp thành hàng và phải được thỏa thuận giữa nhà chế tạo và người\r\nsử dụng.
\r\n\r\n9.2.7.3.1. Đặt tĩnh
\r\n\r\nMẫu thử phải được treo theo hướng nằm ngang\r\nvà treo thấp trong hơi hóa chất flo.
\r\n\r\n9.2.7.3.2. Đặt thành hàng
\r\n\r\nMẫu thử phải được đặt vào vị trí trên giá đỡ\r\nthích hợp, ví dụ băng tải, khay, giá, v.v… trong mặt phẳng nằm ngang và được\r\nchuyển vào hơi hóa chất flo. Có thể dùng thiết bị tự động.
\r\n\r\n9.2.7.4. Chuẩn bị mẫu thử nghiệm
\r\n\r\nMẫu thử phải được ổn định trước trong thời\r\ngian (60 ± 10) min theo thử nghiệm 18b. Ổn định trước ở 125oC, nếu\r\nkhông có qui định nào khác trong qui định kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n9.2.7.5. Tiến hành thử nghiệm
\r\n\r\nMẫu thử phải được phủ bằng chất trợ dung hoặc\r\nbột thiếc hàn có chất trợ dung như được xác định trong qui định kỹ thuật liên\r\nquan. Mẫu thử nghiệm đã phủ được nung trong (15 ± 2) min ở nhiệt độ (100 ± 2)oC\r\nhoặc theo khuyến cáo của nhà chế tạo chất trợ dung hoặc bột, để hóa hơi dung\r\nmôi trợ dung.
\r\n\r\nMẫu thử được đưa về nhiệt độ phòng. Nếu thử\r\nnghiệm không cần thực hiện trong 4 h thì mẫu thử phải được giữ trong bình hút\r\nẩm.
\r\n\r\nMẫu thử phải được lắp đặt trên giá đỡ phù hợp\r\ntrong qui trình đặt tĩnh rồi đưa vào ngăn ở giai đoạn hóa hơi của hóa chất flo\r\ncó nhiệt độ (215 ± 5)oC với thời gian được qui định trong qui định\r\nkỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nHoặc:
\r\n\r\nMẫu thử phải được đặt thành hàng trên giá đỡ\r\nvà chuyển vào ngăn ở giai đoạn hóa hơi của hóa chất flo có nhiệt độ ở (215 ± 5)oC\r\nvới thời gian được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nNếu qui định kỹ thuật liên quan yêu cầu nhiều\r\nchu kỳ thì lặp lại qui trình trên.
\r\n\r\n9.2.7.6. Kiểm tra cuối
\r\n\r\n9.2.7.6.1. Khuyết tật vật liệu
\r\n\r\nKhuyết tật vật liệu phải được kiểm tra bằng\r\ncách quan sát. Không xét đến khuyết tật nằm cách mép mẫu thử nghiệm trong\r\nkhoảng 2,5 mm.
\r\n\r\nCác giới hạn chấp nhận khuyết tật phải được qui\r\nđịnh trong qui định kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n9.2.7.6.2. Cắt lớp
\r\n\r\nViệc cắt lớp các lỗ xuyên phủ kim loại phải được\r\nthực hiện theo thử nghiệm 15b: Cắt lớp.
\r\n\r\nCác giới hạn chấp nhận khuyết tật của lỗ\r\nxuyên phủ kim loại phải được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n9.2.7.6.3. Độ bền bong tróc
\r\n\r\nĐộ bền bong tróc của đường dẫn phải được đo\r\ntrước và sau khi đặt vào giai đoạn hóa hơi, dùng thử nghiệm 10: Độ bền bong\r\ntróc.
\r\n\r\nCác yêu cầu về độ bền bong tróc sau khi thử\r\nứng suất nhiệt hoặc sự thay đổi giữa các giá trị đầu và cuối phải được qui định\r\ntrong qui định kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n9.2.7.6.4. Độ bền kéo đứt
\r\n\r\nĐộ bền kéo đứt phải được đo đối với các vành\r\nkhuyên dùng cho lắp đặt bề mặt trước và sau khi đưa vào giai đoạn hóa hơi dùng\r\nthử nghiệm X (đang xem xét).
\r\n\r\nTrị số về độ bền kéo đứt sau khi thử ứng suất\r\nnhiệt hoặc sự thay đổi giữa các giá trị đầu và cuối phải được qui định trong\r\nqui định kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n9.2.7.7. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) mẫu cần thử nghiệm;
\r\n\r\nb) thử nghiệm đặt tĩnh hoặc đặt thành hàng;
\r\n\r\nc) các yêu cầu lắp đặt mẫu;
\r\n\r\nd) nhiệt độ sôi nếu khác với (215 ± 5)oC;
\r\n\r\ne) loại chất trợ dung hoặc bột thiếc;
\r\n\r\nf) số chu kỳ;
\r\n\r\ng) yêu cầu về vật liệu;
\r\n\r\nh) yêu cầu về lỗ xuyên phủ kim loại;
\r\n\r\ni) yêu cầu về độ bền bong tróc;
\r\n\r\nj) yêu cầu về độ bền kéo đứt;
\r\n\r\nk) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n9.3. Ổn định môi trường khí hậu
\r\n\r\nKhi yêu cầu ổn định môi trường khí hậu, phương\r\npháp phải được chọn từ IEC 68.
\r\n\r\n9.4. Thử nghiệm 20a: Lão hóa gia tốc, hơi nước/khí\r\nôxy
\r\n\r\n9.4.1. Mục đích
\r\n\r\nĐể đặt khí quyển có hơi nước/khí oxy tới tấm\r\nmạch in như qui trình lão hóa gia tốc trong trường hợp muốn rút ngắn qui trình\r\n(xấp xỉ 80 min). Các điều kiện lão hóa gia tốc được khuyến cáo là tương đương\r\nvới 10 ngày thử nghiệm nóng ẩm đề cập trong IEC 68-2-3: Thử nghiệm Ca, hoặc IEC\r\n68-2-30: Thử nghiệm Db. Thử nghiệm được dùng để phản ánh các khuyết tật do lưu\r\nkho về đặc tính khả năng hàn của tấm mạch in.
\r\n\r\nChú thích – Các thử nghiệm so sánh được thực\r\nhiện trên tấm mạch in có các lỗ xuyên phủ kim loại phủ chì-thiếc.
\r\n\r\n9.4.2. Mẫu
\r\n\r\nNhư mô tả trong thử nghiệm 14a, 8.2.2.
\r\n\r\n9.4.3. Phương tiện thử nghiệm
\r\n\r\n9.4.3.1. Tủ thử
\r\n\r\nTủ thử nên có kết cấu để dễ dàng đặt các mẫu\r\nthử trên giá và sau đó đóng cửa tủ trong thời gian thử nghiệm. Tủ thử nên có vỏ\r\nđược cách nhiệt.
\r\n\r\nTủ thử phải được làm từ vật liệu không bị bẩn\r\ndo khí quyển thử nghiệm, ví dụ thủy tinh hoặc thép không gỉ.
\r\n\r\n9.4.3.2. Vận chuyển mẫu
\r\n\r\nGiá đỡ mẫu có thiết kế bất kỳ miễn là đỡ được\r\ncác mẫu ở vị trí thẳng đứng với khoảng cách giữa chúng xấp xỉ bằng 6 mm. Tốt\r\nnhất là thiết kế giá đỡ để hơi/khí không bị cản lại và cho phép phân bố đều\r\nhơi/khí trên các mẫu thử nghiệm. Các bộ phận này của giá đỡ và trục quay trong\r\ntủ thử nghiệm phải được làm từ thép không gỉ hoặc PTFE hoặc vật liệu phù hợp không\r\nbị bẩn do khí quyển thử nghiệm. Giá đỡ mẫu thử phải quay được bằng cơ cấu\r\ntruyền động thích hợp với vận tốc từ 5 đến 50 vòng/min.
\r\n\r\n9.4.3.3. Nguồn hơi, bộ ngưng, bộ điều chỉnh\r\nluồng hơi
\r\n\r\nHình 11 thể hiện cách bố trí nguồn hơi và\r\nthùng chứa nước đã được khử ion và làm nhiệm vụ phân phối hơi đi vào tủ thử\r\nnghiệm. Các ống dẫn hơi đầu vào được lắp với van đầu vào để nhận khí đi qua đồng\r\nhồ đo lưu lượng và bộ điều chỉnh.
\r\n\r\nĐường vào phải là khí nitơ có vai trò như là\r\nchất tẩy và ngăn chặn oxy hóa các mẫu trong thời gian đốt nóng ban đầu và giai\r\nđoạn làm nguội trong hệ thống được khống chế qua đồng hồ đo lưu lượng và bộ\r\nđiều chỉnh. Nhánh hơi/khí từ tủ thử phải được ngưng bằng bộ ngưng có nước lạnh.\r\nChất ngưng tụ có thể được thu lại và được đo như giá trị trung bình của vận tốc\r\nnguồn hơi. Nước lạnh của bộ ngưng có thể được cấp từ nguồn cấp nước.
\r\n\r\n9.4.4. Phương pháp thử
\r\n\r\n9.4.4.1. Chuẩn bị mẫu
\r\n\r\nMẫu thử phải được làm sạch và sấy khô phù hợp\r\nvới thử nghiệm 14a và được đặt trên giá đỡ trong tủ thử nghiệm.
\r\n\r\n9.4.4.2. Trình tự thử nghiệm
\r\n\r\nTủ thử phải được đóng chắc chắn. Nguồn khí\r\nnitơ được cung cấp và điều chỉnh để vận tốc theo lưu lượng đạt 500 ± 250 ml/min.\r\nBộ phận vận chuyển khí phải được quay với tốc độ từ 5 đến 50 vòng/min. Nguồn cung\r\ncấp hơi phải làm việc với toàn bộ công suất cho đến khi đạt nhiệt độ của tủ thử\r\ncao hơn 90oC và việc ngưng tụ xuất hiện ở bộ ngưng. Nhiệt độ trong\r\ntủ thử nghiệm phải được duy trì ở 100 ± 2oC. Sau khi nhiệt độ đã ổn định\r\nkhoảng 5 ± 1 min, cắt khí nitơ. Vận tốc của hơi sinh ra trong tủ thử nghiệm\r\nphải được điều chỉnh đến 5 ± 0,5 l/min. Hỗn hợp 20% oxy tinh khiết và 80% nitơ\r\nphải được cấp và duy trì ở vận tốc theo lưu lượng là 100 ± 10 ml/min trong tủ\r\nthử trong thời gian 60 ± 5 min. Một cách khác, có thể dùng oxy tinh khiết và\r\nvận tốc theo lưu lượng được điều chỉnh đến 20 ± 5 ml/min. Sau đó mẫu thử phải đưa\r\ntới hỗn hợp hơi/oxy trong thời gian 60 min, phải theo trình tự sau:
\r\n\r\na) cắt nguồn hỗn hợp oxy/nitơ (hoặc oxy);
\r\n\r\nb) cắt cơ cấu quay mẫu;
\r\n\r\nc) cấp khí nitơ tinh khiết để tạo ra tác động\r\nbọt nhẹ, tốc độ theo lưu lượng xấp xỉ bằng 500 ml/min;
\r\n\r\nd) cắt nguồn hơi;
\r\n\r\ne) cho phép nhiệt độ trong tủ thử nghiệm hạ\r\ntới 40 – 50oC trước khi cắt nitơ.
\r\n\r\n9.4.4.3. Thử nghiệm khả năng hàn
\r\n\r\nMẫu thử phải được lấy ra khỏi tủ thử, được\r\nhút ẩm và được thử nghiệm khả năng hàn như 8.2.3.
\r\n\r\n9.4.5. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các mẫu cần thử nghiệm;
\r\n\r\nb) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n![](\"00914287_files/image005.jpg\")
Khoảng cách giữa dây dẫn và lỗ là không quan trọng.
\r\n\r\n![](\"00914287_files/image006.gif\")
![](\"00914287_files/image007.gif\")
![](\"00914287_files/image008.gif\")
Các chữ cái c, d, e tương ứng với các chữ cái\r\ncho trong 6.1.3.4.
\r\n\r\n![](\"00914287_files/image009.jpg\")
![](\"00914287_files/image010.jpg\")
![](\"00914287_files/image011.jpg\")
![](\"00914287_files/image012.jpg\")
![](\"00914287_files/image013.jpg\")
![](\"00914287_files/image014.jpg\")
![](\"00914287_files/image015.jpg\")
![](\"00914287_files/image016.jpg\")
Các phần rắn nhỏ có thể dễ dàng “giả hóa lỏng”\r\nbằng luồng khí (không khí) phù hợp. Sơ đồ mặt cắt ngang của bể cát giả hóa lỏng\r\nđược phản ánh như trên. Không khí khô và sạch có áp suất không đổi khoảng 2\r\nN/cm2 từ bơm hoặc từ ống dẫn không khí được cung cấp qua van điều\r\nkhiển tới khoang đáy của bộ khuếch tán (tấm xốp). Tấm xốp này đảm bảo lưu lượng\r\nkhông khí đi qua mặt cắt toàn phần của thùng chứa là đồng đều và hoạt động như\r\nmột tấm đỡ đối với lớp cát rắn.
\r\n\r\nNếu van điều khiển được mở nhỏ, thì lớp cát\r\nrắn được giữ lại không xáo trộn được và không khí luồn qua giữa các hạt; ở các\r\nđiều kiện như vậy, việc sụt áp suất tỷ lệ với vận tốc dòng không khí. Khi van được\r\nmở thêm lớn hơn lực đẩy của không khí trên các hạt sẽ tách chúng ra và khối lượng\r\ntoàn bộ của lớp cát có thể nở ra. Khối cát bây giờ gần như là linh động và gọi\r\nlà “giả hóa lỏng”. Việc mở tiếp van không dẫn đến làm tăng thêm sự sụt áp nữa\r\nmà áp suất được giữ không đổi ở giá trị tương ứng với đoạn đầu của cột hạt, nhưng\r\nlớp cát chuyển động hỗn loạn hơn và giống như dung dịch sôi. Sự truyền nhiệt\r\ntốt nhất và nhiệt độ đồng đều nhất đạt được khi bể ở trạng thái “sôi” này.
\r\n\r\n![](\"00914287_files/image017.jpg\")
![](\"00914287_files/image018.jpg\")
![](\"00914287_files/image019.jpg\")
![](\"00914287_files/image020.jpg\")
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n Kiểm tra chung \r\nKiểm tra bằng cách quan sát \r\nPhương pháp phóng đại 3 lần \r\nPhương pháp phóng đại 10 lần \r\nPhương pháp phóng đại 250 lần \r\nKiểm tra kích thước \r\nPhương pháp quang học \r\nCác thử nghiệm điện \r\nĐiện trở \r\nĐiện trở của đường dẫn \r\nĐiện trở giữa các mối nối \r\nSự thay đổi điện trở của lỗ xuyên phủ kim\r\n loại, chu kỳ nhiệt \r\nSự toàn vẹn về điện \r\nSự cách ly của mạch \r\nSự liền mạch \r\nChịu dòng điện \r\nChịu dòng điện, các lỗ xuyên phủ kim loại \r\nChịu dòng điện, các đường dẫn \r\nĐiện trở cách điện \r\nĐiện trở cách điện, các lớp bề mặt \r\nĐiện trở cách điện, các lớp bên trong \r\nĐiện trở cách điện giữa các lớp \r\nChịu điện áp \r\nChịu điện áp, các lớp bề mặt \r\nChịu điện áp giữa các lớp \r\nTrôi tần số \r\nTrở kháng của mạch \r\nCác thử nghiệm cơ \r\nĐộ bền bong tróc \r\nĐộ bền bong tróc, các điều kiện khí quyển\r\n tiêu chuẩn \r\nĐộ bền bong tróc, nhiệt độ tăng cao \r\nĐộ bền bong tróc, các tấm mạch in uốn được,\r\n các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n Độ bền kéo \r\nĐộ bền kéo đứt, các vành khuyên có lỗ không\r\n phủ kim loại \r\nĐộ bền kéo rời, các lỗ xuyên phủ kim loại không\r\n có vành khuyên \r\nĐộ bằng phẳng \r\nMỏi do uốn (các tấm mạch in uốn được) \r\nCác thử nghiệm khác \r\nChất lượng lớp phủ kim loại \r\nKhả năng kết dính của lớp phủ kim loại, phương\r\n pháp dán băng \r\nKhả năng kết dính của lớp phủ kim loại, phương\r\n pháp chà xát \r\nĐộ xốp, bọt khí \r\nĐộ xốp, thử nghiệm bằng điện đồ, vàng trên\r\n đồng \r\nĐộ xốp, thử nghiệm bằng điện đồ, vàng trên\r\n niken \r\nĐộ dày của lớp phủ kim loại \r\nKhả năng hàn \r\nTách lớp và cắt lớp \r\nTách lớp, sốc nhiệt \r\nCắt lớp \r\nKhả năng cháy \r\nCác tấm mạch in cứng, phần kim loại được\r\n tháo rời \r\nThử nghiệm sợi dây nóng đỏ, tấm mạch in\r\n cứng \r\nThử nghiệm ngọn lửa hình kim, các tấm mạch\r\n in cứng \r\nKhả năng chịu dung môi và các chất trợ dung \r\nCác điều kiện môi trường \r\nỔn định trước \r\nỔn định trước, điều kiện khí quyển tiêu\r\n chuẩn \r\nỔn định trước,125oC \r\nSốc nhiệt \r\nSốc nhiệt, nhúng, bể dầu \r\nSốc nhiệt, nhúng, bể cát giả hóa lỏng \r\nSốc nhiệt, đặt nổi, bể hàn \r\nSốc nhiệt, hàn thủ công \r\nSốc nhiệt, hàn nhúng \r\nSốc nhiệt, đặt nổi, bể hàn 280oC \r\nỔn định môi trường khí hậu \r\nLão hóa gia tốc, hơi/ôxy \r\n | \r\n \r\n | \r\n
\r\n\r\n
Chú ý chung: Các thử nghiệm trong phụ lục này\r\nchỉ để tham khảo.
\r\n\r\nB1. Mục đích
\r\n\r\nSử dụng phương pháp không phá hủy để kiểm tra\r\ncác lỗ xuyên phủ kim loại về sự thoát khí qua chân các lỗ hoặc kiểm tra vết nứt\r\ntrong các lớp phủ ở tấm mạch in khi chịu nhiệt. Điều này phù hợp với tấm mạch\r\nin hai mặt cứng và tấm mạch in nhiều lớp, và cũng có thể áp dụng cho tấm mạch\r\nin uốn được.
\r\n\r\nChú thích – Điều này không dùng để xác định\r\nkhả năng chịu các thử nghiệm không có một số chỗ đổi màu hoặc tách lớp hoặc\r\nhỏng lỗ xuyên phủ kim loại như có thể nhận ra trong lớp cắt v.v. của tấm mạch\r\nin.
\r\n\r\nB2. Mẫu
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành trên lỗ xuyên\r\nphủ kim loại bất kỳ của tấm sản phẩm hoặc tấm mẫu thử nghiệm hoặc tấm mẫu thử\r\nnghiệm kết hợp. Khi yêu cầu thử nghiệm các lỗ riêng biệt, kinh nghiệm của thử\r\nnghiệm này là giới hạn đến các lỗ có đường kính từ 0,6 mm đến 1,2 mm.
\r\n\r\nĐiều này phải được sự thỏa thuận giữa người\r\nmua và nhà chế tạo xem các tấm mạch in được đưa đến thử nghiệm có thể được\r\nchuyển giao và ở điều kiện như thế nào.
\r\n\r\nB3. Chuẩn bị mẫu
\r\n\r\nCác lỗ để thử nghiệm được điền đầy dầu sao\r\ncho tạo thành màng dầu có hình lòng chảo (xem hình B3) hoạt động như một thấu\r\nkính cho phép thoát khí và quan sát được điểm gốc của nó. Dầu phải được xác\r\nđịnh theo tiêu chuẩn ISO 3448 và ISO 6743 [ISO 32 (3E ở 40oC)] hoặc\r\ntương đương. Một vài phương pháp chuẩn bị có thể được chọn.
\r\n\r\nNếu nhiều lỗ được thử nghiệm, tấm mạch in có thể\r\nđược đặt trên các giá đỡ trong khay phù hợp, có chứa dầu sao cho bề mặt bên dưới\r\ncủa tấm mạch in tiếp xúc với dầu. Sau 3 s đến 5 s tiếp xúc giữa dầu và tấm mạch\r\nin là đủ, khi mức dầu ngập xấp xỉ 0,5 lần chiều dày mẫu thử như phản ánh trên\r\nhình B1 lấy tấm mạch in ra khỏi dầu và nghiêng đi một góc xấp xỉ 60o\r\ntừ 1 min đến 2 min, sao cho dầu thừa có thể rơi hết.
\r\n\r\nMẩu giấy thấm phù hợp phải được gấp dài hơn\r\ntừ 10 mm đến 15 mm so với chiều rộng của tấm mạch in. Giấy thấm nghiêng một góc\r\nxấp xỉ bằng 45o và giữ nó tiếp xúc với bề mặt trên của tấm, bề mặt\r\nphải được thấm cho đến khi màng dầu có hình lòng chảo.
\r\n\r\nDụng cụ nhỏ có thể dùng để giữ giấy thấm. Hai\r\nkẹp giấy hoặc kẹp cá sấu có thể được nối tới tay cầm để đỡ giấy thấm ở mỗi đầu.
\r\n\r\nNếu chỉ một hoặc một số lỗ được chọn để thử\r\nnghiệm thì các lỗ không nên nối tới khối nhiệt. Các lỗ phải điền đầy dầu bằng\r\ndụng cụ phù hợp, ví dụ, một chốt kim loại có đường kính từ 0,6 mm đến 0,7 mm.
\r\n\r\nTrong trường hợp còn quá nhiều dầu ở bề mặt\r\nbên trong lỗ, dầu thừa có thể lấy ra bằng giấy thấm hoặc bằng bút vẽ nhỏ có đường\r\nkính xấp xỉ 2 mm. Dầu thừa được lấy ra cho đến khi hình thành mặt cong lõm hình\r\nlòng chảo.
\r\n\r\nTấm mạch in được đặt trên giá đỡ thể hiện\r\ntrên hình B2, với bề mặt bám dầu ở phía dưới.
\r\n\r\nKính hiển vi lập thể được đặt ở vị trí bên\r\ntrên tấm mạch in như trên hình B2. Kính hiển vi có thể có độ phóng đại 5 lần để\r\nkiểm tra chung sự hình thành màng hoặc 25 lần đối với việc kiểm tra vùng thành lỗ\r\nnơi các màng bám vào.
\r\n\r\nChú thích – Nếu dùng độ phóng đại cao hơn thì\r\nphương pháp kiểm tra đó cũng được cung cấp (không dùng mỏ hàn) phương pháp hữu ích\r\nđể kiểm tra thành lỗ xuyên phủ kim loại để phát hiện chất lượng lớp phủ kim loại,\r\nchỗ nứt, chỗ trống, v.v….
\r\n\r\nB4. Phương pháp thử
\r\n\r\nMỏ hàn như được mô tả trong thử nghiệm 19d có\r\nnhiệt độ bằng 270 ± 10oC phải được đặt trên vành khuyên xung quanh\r\nlỗ trong 20 s.
Dầu trong lỗ được kiểm tra đồng thời qua kính\r\nhiển vi lập thể để phát hiện ra sự hình thành màng.
\r\n\r\nSự thoát khí được quan sát dưới dạng dãy bong\r\nbóng mà những bong bóng này thể hiện các khuyết tật như châm kim, các vết nứt\r\nhoặc các chỗ trống trong thành lỗ xuyên phủ kim loại (xem hình B3).
\r\n\r\nSau khi hoàn tất thử nghiệm, dầu đọng lại\r\nphải được tẩy sạch bằng cách dùng dung môi phù hợp, nếu có thể, dùng phương\r\npháp siêu âm.
\r\n\r\nChú thích – Các tấm mạch in có các lớp phủ\r\nchì-thiếc mạ điện không tái chảy có thể thể hiện sự hình thành bong bóng (thoát\r\nkhí) ngay tại thời điểm đặt nhiệt vào làm kim loại hóa lỏng. Loại thoát khí này\r\nđặc trưng cho chất hữu cơ bịt kín trong lớp lắng điện phân liên tục trong 2 s\r\nđến 3 s. Việc kiểm tra chéo được thực hiện trên diện tích bề mặt có thể giúp\r\nphân biệt giữa các nguồn gây thoát khí.
\r\n\r\nB5. Nội dung cần được qui định
\r\n\r\na) các yêu cầu;
\r\n\r\nb) mọi sai lệch với phương pháp thử tiêu\r\nchuẩn.
\r\n\r\n![](\"00914287_files/image022.jpg\")
![](\"00914287_files/image023.jpg\")
![](\"00914287_files/image024.jpg\")
![](\"00914287_files/image025.jpg\")
![](\"00914287_files/image026.jpg\")
![](\"00914287_files/image027.jpg\")
![](\"00914287_files/image028.jpg\")
\r\n\r\n
1. Phạm vi áp dụng
\r\n\r\n2. Mục đích
\r\n\r\n3. Tiêu chuẩn trích dẫn
\r\n\r\n4. Quy định chung
\r\n\r\n4.1. Điều kiện khí quyển tiêu chuẩn\r\nđối với thử nghiệm
\r\n\r\n4.2. Mẫu thử
\r\n\r\n5. Kiểm tra chung
\r\n\r\n5.1. Thử nghiệm 1: Kiểm tra bằng mắt
\r\n\r\n5.2. Thử nghiệm 2: Kiểm tra các kích thước
\r\n\r\n6. Thử nghiệm điện
\r\n\r\n6.1. Thử nghiệm 3: Điện trở
\r\n\r\n6.2. Thử nghiệm 4: Tính toàn vẹn về điện
\r\n\r\n6.3. Thử nghiệm 5: Chịu dòng điện
\r\n\r\n6.4. Thử nghiệm 6: Điện trở cách điện
\r\n\r\n6.5. Thử nghiệm 7: Chịu điện áp
\r\n\r\n6.6. Thử nghiệm 8a: Trôi tần số
\r\n\r\n6.7. Thử nghiệm 9a: Trở kháng của mạch
\r\n\r\n7. Thử nghiệm cơ
\r\n\r\n7.1. Thử nghiệm 10: Độ bền bong tróc
\r\n\r\n7.2. Thử nghiệm 11: Độ bền kéo
\r\n\r\n7.3. Thử nghiệm 12a: Độ phẳng
\r\n\r\n7.4. Thử nghiệm 21a: Mỏi do uốn (tấm mạch in\r\nuốn được)
\r\n\r\n8. Các thử nghiệm khác
\r\n\r\n8.1. Thử nghiệm 13: Chất lượng lớp phủ
\r\n\r\n8.2. Thử nghiệm 14a: Khả năng hàn
\r\n\r\n8.3. Bong lớp và cắt lớp
\r\n\r\n8.4. Thử nghiệm 16: Khả năng cháy
\r\n\r\n8.5. Thử nghiệm 17a: Độ bền chịu dung môi và\r\nchất trợ dung
\r\n\r\n9. Ổn định môi trường
\r\n\r\n9.1. Thử nghiệm 18: Ổn định trước
\r\n\r\n9.2. Thử nghiệm 19: Sốc nhiệt
\r\n\r\n9.3. Ổn định môi trường khí hậu
\r\n\r\n9.4. Thử nghiệm 20a: Lão hóa gia tốc, hơi nước/khí\r\nôxy
\r\n\r\nCác hình vẽ
\r\n\r\nPhụ lục A – Danh mục các thử nghiệm
\r\n\r\nPhụ lục B – Thử nghiệm thoát khí của lỗ xuyên\r\nphủ kim loại (không phá hủy)
\r\n\r\n\r\n\r\n
\r\n\r\n
*\r\nTấm thử nghiệm 150 mm x 150 mm thường là đủ lớn để đại diện cho tấm sản phẩm\r\nlớn hơn, nhưng những tấm sản phẩm nhỏ có thể phải được thử nghiệm theo kích\r\nthước thực tế của chúng.
\r\n\r\n*\r\nTấm thử nghiệm 150 mm x 150 mm thường là đủ lớn để đại diện cho tấm sản phẩm\r\nlớn hơn, nhưng những tấm sản phẩm nhỏ có thể phải được thử nghiệm theo kích\r\nthước thực tế của chúng.
\r\n\r\nTừ khóa: Tiêu chuẩn Việt Nam TCVN6611-2:2001, Tiêu chuẩn Việt Nam số TCVN6611-2:2001, Tiêu chuẩn Việt Nam TCVN6611-2:2001 của Bộ Khoa học Công nghệ và Mội trường, Tiêu chuẩn Việt Nam số TCVN6611-2:2001 của Bộ Khoa học Công nghệ và Mội trường, Tiêu chuẩn Việt Nam TCVN6611 2:2001 của Bộ Khoa học Công nghệ và Mội trường, TCVN6611-2:2001
File gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6611-2:2001 (IEC 326-2 : 1990 With Amendement 1 : 1992) về Tấm mạch in – Phần 2: Phương pháp thử đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6611-2:2001 (IEC 326-2 : 1990 With Amendement 1 : 1992) về Tấm mạch in – Phần 2: Phương pháp thử
Tóm tắt
| Cơ quan ban hành | Bộ Khoa học Công nghệ và Mội trường |
| Số hiệu | TCVN6611-2:2001 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 2001-01-01 |
| Ngày hiệu lực | |
| Lĩnh vực | Xây dựng - Đô thị |
| Tình trạng | Còn hiệu lực |