\r\n\r\n

TIÊU\r\nCHUẨN QUỐC GIA

\r\n\r\n

TCVN\r\n6099-3 : 2007

\r\n\r\n

IEC 60060-3 : 2006

\r\n\r\n

KỸ THUẬT THỬ NGHIỆM ĐIỆN ÁP CAO - PHẦN\r\n3: ĐỊNH NGHĨA VÀ YÊU CẦU ĐỐI VỚI THỬ NGHIỆM TẠI HIỆN TRƯỜNG

\r\n\r\n

High-voltage\r\ntest techniques - Part 3: Definitions and requirements for on-site testing

\r\n\r\n

Lời nói đầu

\r\n\r\n

TCVN 6099-3 : 2007 hoàn\r\ntoàn tương đương với tiêu chuẩn IEC 60060-3 : 2006;

\r\n\r\n

TCVN 6099-3 : 2007 do\r\nBan kỹ thuật tiêu chuẩn TCVN/TC/E1 Máy điện khí cụ điện biên soạn, Tổng\r\ncục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

KỸ\r\nTHUẬT THỬ NGHIỆM ĐIỆN ÁP CAO - PHẦN 3: ĐỊNH NGHĨA VÀ YÊU CẦU ĐỐI VỚI THỬ NGHIỆM\r\nTẠI HIỆN TRƯỜNG

\r\n\r\n

High-voltage\r\ntest techniques - Part 3: Definitions and requirements for on-site testing

\r\n\r\n

1. Phạm vi áp dụng

\r\n\r\n

Tiêu chuẩn này áp dụng\r\ncho các giá trị điện áp thử nghiệm tại hiện trường và các ứng suất điện áp\r\ntrong vận hành dưới đây, có liên quan đến Phần 1:

\r\n\r\n

- điện áp một chiều;

\r\n\r\n

- điện áp xoay chiều;

\r\n\r\n

- điện áp xung sét có\r\ndạng dao động theo chu kỳ hoặc không theo chu kỳ;

\r\n\r\n

- điện áp xung đóng\r\ncắt có dạng dao động theo chu kỳ hoặc không theo chu kỳ.

\r\n\r\n

Đối với các thử\r\nnghiệm đặc biệt, sử dụng các điện áp dưới đây:

\r\n\r\n

- điện áp tần số rất\r\nthấp;

\r\n\r\n

- điện áp xoay chiều\r\ncó làm nhụt.

\r\n\r\n

Tiêu chuẩn này áp\r\ndụng cho thiết bị có điện áp cao nhất U_m lớn hơn 1 kV. Việc chọn các\r\nđiện áp thử nghiệm tại hiện trường, qui trình thử nghiệm và mức điện áp thử\r\nnghiệm cho thiết bị, hoặc cho hệ thống lắp đặt do ban kỹ thuật liên quan đưa\r\nra. Với các ứng dụng đặc biệt, ban kỹ thuật liên quan có thể qui định điện áp\r\nthử nghiệm tại hiện trường khác với điện áp mô tả trong tiêu chuẩn này.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 1: Các dạng\r\nsóng điện áp khác nhau liệt kê ở trên không nhất thiết phải tạo ra ứng suất như\r\nnhau trên đối tượng thử nghiệm.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 2: Việc\r\nchọn các mức điện áp thử nghiệm cần tính đến độ không đảm bảo đo và dung sai\r\nlớn hơn.

\r\n\r\n

2. Tài liệu viện dẫn

\r\n\r\n

Các tài liệu viện dẫn\r\nsau đây là cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn. Đối với các tài liệu ghi năm\r\nban hành thì áp dụng các bản được nêu. Đối với các tài liệu không ghi năm ban\r\nhành thì áp dụng phiên bản mới nhất, bao gồm cả các sửa đổi.

\r\n\r\n

TCVN 6099-1 : 2007 (IEC\r\n60060-1 : 1989), Kỹ thuật thử nghiệm điện áp cao - Phần 1: Định nghĩa chung và\r\nyêu cầu thử nghiệm

\r\n\r\n

TCVN 6099-2 : 2007 (IEC\r\n60060-2 : 1994), Kỹ thuật thử nghiệm điện áp cao - Phần 2: Hệ thống đo

\r\n\r\n

IEC 60071-1 : 1993, Insulation\r\nco-ordination - Part 1: Definitions, principles and rules (Phối hợp cách điện -\r\nPhần 1: Định nghĩa, nguyên tắc và nguyên lý)

\r\n\r\n

3. Thuật ngữ và định\r\nnghĩa

\r\n\r\n

Tiêu chuẩn này áp\r\ndụng các định nghĩa dưới đây. Tất cả các định nghĩa khác liên quan đến qui trình\r\nthử nghiệm, xem TCVN 6099-1 (IEC 60060-1), và các định nghĩa liên quan đến hệ thống\r\nđo, xem TCVN 6099-2 (IEC 60060-2). Định nghĩa về các tham số được nêu trong các\r\nđiều liên quan của tiêu chuẩn này.

\r\n\r\n

3.1. thử nghiệm tại\r\nhiện trường\r\n(on-site test)

\r\n\r\n

thử nghiệm tại vị trí\r\nsử dụng thiết bị hoặc hệ thống lắp đặt cần thử nghiệm và với đối tượng thử\r\nnghiệm ở vị trí càng xa càng tốt theo điều kiện vận hành của nó

\r\n\r\n

3.2. điện áp xung (impulse voltage)

\r\n\r\n

điện áp quá độ không theo\r\nchu kỳ hoặc theo chu kỳ được đặt vào có chủ ý, thường tăng nhanh đến giá trị\r\nđỉnh và sau đó đường bao của nó giảm chậm về "không"

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1 : 2007 (IEC\r\n60060-1 : 1989), thuật ngữ 3, có sửa đổi)

\r\n\r\n

3.3. điện áp xung sét\r\nvà xung đóng cắt\r\n(lightning and switching impulse voltages)

\r\n\r\n

Sự phân biệt giữa điện\r\náp xung sét và xung đóng cắt dựa vào thời gian đầu sóng. Các xung có thời\r\ngian đầu sóng đến 20 ms được định nghĩa là điện\r\náp xung sét và các xung có thời gian đầu sóng dài hơn được định nghĩa là điện\r\náp xung đóng cắt

\r\n\r\n

Thông thường, điện\r\náp xung đóng cắt được đặc trưng bởi độ rộng xung tổng dài hơn độ rộng xung\r\ntổng của điện áp xung sét.

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1 : 2007 (IEC\r\n60060-1 : 1989), thuật ngữ 3.1)

\r\n\r\n

3.4. đặc tính của\r\nđiện áp thử nghiệm\r\n(characteristics of the test voltage)

\r\n\r\n

các đặc tính qui định\r\ntrong tiêu chuẩn này để định rõ các loại điện áp khác nhau nhằm xác định điện\r\náp thử nghiệm

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1 : 2007 (IEC\r\n60060-1 : 1989), thuật ngữ 4.2)

\r\n\r\n

3.5. đặc tính kỳ vọng\r\ncủa điện áp thử nghiệm (prospective characteristics of a test voltage)

\r\n\r\n

đặc tính có được nếu\r\nkhông xảy ra phóng điện đánh thủng. Khi sử dụng đặc tính kỳ vọng thì phải nêu\r\nrõ

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1 : 2007 (IEC\r\n60060-1 : 1989), thuật ngữ 4.2.1)

\r\n\r\n

3.6. đặc tính thực\r\ncủa điện áp thử nghiệm (actual characteristics of a test voltage)

\r\n\r\n

đặc tính xuất hiện\r\ntrong quá trình thử nghiệm tại các đầu nối của đối tượng thử nghiệm

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1 : 2007 (IEC\r\n60060-1 : 1989), thuật ngữ 4.2.2)

\r\n\r\n

3.7. giá trị của điện\r\náp thử nghiệm\r\n(value of the test voltage)

\r\n\r\n

như định nghĩa trong\r\nđiều liên quan của bộ tiêu chuẩn này

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1 : 2007 (IEC\r\n60060-1 : 1989), thuật ngữ 4.2.3)

\r\n\r\n

3.8. phân loại cách\r\nđiện theo đối tượng thử nghiệm (classification of insulation in test\r\nobjects)

\r\n\r\n

về cơ bản, hệ thống\r\ncách điện của thiết bị và kết cấu điện áp cao phải được phân loại theo cách\r\nđiện tự phục hồi và cách điện không tự phục hồi và có thể bao gồm cách\r\nđiện ngoài và/hoặc cách điện trong (TCVN 6099-1 : 2007 (IEC 60060-1\r\n: 1989), thuật ngữ 5)

\r\n\r\n

3.8.1. cách điện\r\nngoài\r\n(external insulation)

\r\n\r\n

khoảng cách trong\r\nkhông khí, mà bề mặt tiếp xúc với không khí của cách điện rắn của thiết bị phải\r\nchịu các ứng suất điện môi, các ảnh hưởng của điều kiện khí quyển và các điều\r\nkiện bên ngoài khác như nhiễm bẩn, ẩm ướt, động vật, v.v...

\r\n\r\n

(IEC 60071-1:1993,\r\nthuật ngữ 3.2)

\r\n\r\n

3.8.2. cách điện\r\ntrong\r\n(internal insulation)

\r\n\r\n

cách điện rắn, lỏng\r\nhoặc khí, được bảo vệ khỏi ảnh hưởng của điều kiện khí quyển và các điều kiện\r\nbên ngoài khác

\r\n\r\n

(IEC 60071-1:1993,\r\nthuật ngữ 3.3)

\r\n\r\n

3.8.3. cách điện tự\r\nphục hồi\r\n(self-restoring insulation)

\r\n\r\n

cách điện phục hồi\r\nhoàn toàn các thuộc tính cách điện của nó sau một khoảng thời gian nhất định\r\nsau một phóng điện đánh thủng do đặt điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

(IEC 60071-1:1993,\r\nthuật ngữ 3.4, có sửa đổi)

\r\n\r\n

3.8.4. cách điện\r\nkhông tự phục hồi\r\n(non-self-restoring insulation)

\r\n\r\n

cách điện mất đi\r\nthuộc tính cách điện, hoặc không phục hồi hoàn toàn các thuộc tính sau một\r\nphóng điện đánh thủng do đặt điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

(IEC 60071-1:1993,\r\nthuật ngữ 3.5, có sửa đổi)

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Trong\r\nthiết bị cao áp, các phần của cách điện tự phục hồi và không tự phục hồi thường\r\nlàm việc kết hợp và một số phần có thể suy giảm do đặt điện áp lặp lại hay liên\r\ntục. Hoạt động của cách điện về khía cạnh này cần được ban kỹ thuật liên quan xem\r\nxét khi qui định qui trình thử nghiệm cần áp dụng.

\r\n\r\n

3.9. hệ thống đo và\r\ncác thành phần\r\n(measuring systems and their components)

\r\n\r\n

3.9.1. hệ thống đo (measuring system)

\r\n\r\n

tập hợp hoàn chỉnh\r\ncác thiết bị thích hợp để thực hiện phép đo điện áp cao

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2 : 2007 (IEC\r\n60060-2 : 1994), thuật ngữ 3.1.1, có sửa đổi)

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 1: Hệ\r\nthống đo thường có các thành phần sau: thiết bị biến đổi có dây dẫn theo yêu\r\ncầu để nối thiết bị này đến đối tượng thử nghiệm và đến các mối nối đất, một hệ\r\nthống truyền dẫn để nối các đầu nối ra của thiết bị với thiết bị ghi hoặc thiết\r\nbị chỉ thị cùng với mạng hoặc trở kháng suy giảm, kết cuối và thích nghi của hệ\r\nthống truyền dẫn, và cuối cùng là thiết bị ghi hoặc thiết bị chỉ thị có đủ đầu\r\nnối để nối với nguồn cao áp.

\r\n\r\n

Các thành phần có thể\r\nđược bố trí liền khối với nguồn điện áp cao. Việc này thường áp dụng cho thiết\r\nbị thử nghiệm di động dùng cho thiết bị trung áp.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 2: Hệ\r\nthống đo dựa trên các nguyên tắc không theo qui ước cũng được chấp nhận nếu\r\nchúng thỏa mãn các yêu cầu về độ chính xác qui định trong tiêu chuẩn này.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 3: Môi\r\ntrường trong đó hệ thống đo hoạt động, khoảng cách từ hệ thống đo đến\r\ncác phần mang điện hoặc kết cấu nối đất và sự có mặt của trường điện hoặc\r\ntrường từ có thể ảnh hưởng đáng kể đến độ chính xác của hệ thống đo.

\r\n\r\n

3.9.2. hồ sơ tính\r\nnăng của hệ thống đo\r\n(record of performance of a measuring system)

\r\n\r\n

hồ sơ chi tiết, do\r\nngười sử dụng lập, để mô tả hệ thống và chứa bằng chứng đáp ứng các yêu cầu nêu\r\ntrong tiêu chuẩn này. Bằng chứng này phải bao gồm các kết quả thử nghiệm\r\nchấp nhận ban đầu và trình tự cũng như các kết quả của từng thử nghiệm\r\ntính năng và kiểm tra tính năng tiếp theo

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2 : 2007 (IEC\r\n60060-2 : 1994), thuật ngữ 3.1.2)

\r\n\r\n

3.9.3. hệ thống đo\r\nđược chấp nhận\r\n(approved measuring system)

\r\n\r\n

hệ thống đo chứng tỏ sự phù hợp\r\nvới các yêu cầu của tiêu chuẩn này thông qua:

\r\n\r\n

- thử nghiệm tính\r\nnăng ban đầu;

\r\n\r\n

- các kiểm tra tính\r\nnăng và thử nghiệm tính năng tiếp theo;

\r\n\r\n

- tập hợp kết quả của\r\ncác thử nghiệm này vào hồ sơ tính năng.

\r\n\r\n

Hệ thống chỉ được\r\nchấp nhận đối với các cách bố trí và điều kiện làm việc nêu trong hồ sơ tính\r\nnăng của hệ thống.

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2 : 2007 (IEC\r\n60060-2 : 1994), thuật ngữ 3.1.3)

\r\n\r\n

3.9.4. hệ thống đo\r\nchuẩn\r\n(reference measuring system)

\r\n\r\n

hệ thống đo có đủ độ chính xác\r\nvà độ ổn định để sử dụng vào việc chấp nhận (hiệu chuẩn) các hệ thống khác bằng\r\ncách thực hiện các phép đo so sánh đồng bộ với các dạng sóng và dãy điện áp\r\nhoặc dòng điện qui định

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2 : 2007 (IEC\r\n60060-2 : 1994), thuật ngữ 3.1.4)

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Hệ thống đo\r\nchuẩn (duy trì theo các yêu cầu của TCVN 6099-2 : 2007 (IEC 60060-2 : 1994)) có\r\nthể sử dụng như hệ thống đo được chấp nhận nhưng ngược lại thì không đúng.

\r\n\r\n

3.9.5. thiết bị biến\r\nđổi\r\n(converting device)

\r\n\r\n

thiết bị dùng để biến\r\nđổi điện áp cao cần đo thành đại lượng khác, tương thích với thiết bị chỉ thị\r\nhoặc thiết bị ghi. Thường sử dụng bộ phân áp hoặc trở kháng đo điện áp

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2 : 2007 (IEC\r\n60060-2 : 1994), thuật ngữ 3.2, có sửa đổi)

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Các ví dụ\r\nkhác về thiết bị biến đổi là máy biến điện áp, cảm biến quang và đầu dò trường\r\nđiện.

\r\n\r\n

3.9.6. hệ thống\r\ntruyền dẫn\r\n(transmission system)

\r\n\r\n

tập hợp thiết bị\r\ntruyền tín hiệu ra của thiết bị biến đổi đến thiết bị chỉ thị và/hoặc thiết bị\r\nghi

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 1: Hệ thống\r\ntruyền dẫn thường là một cáp đồng trục có trở kháng đầu nối của nó, nhưng cũng\r\ncó thể gồm các bộ suy giảm hoặc các thiết bị khác nối giữa thiết bị biến đổi và\r\ndụng cụ đo. Ví dụ, đường liên kết quang gồm máy phát, cáp quang và máy thu cũng\r\nnhư các bộ khuếch đại liên quan.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 2: Hệ thống\r\ntruyền dẫn có thể nằm một phần hoặc hoàn toàn trong thiết bị biến đổi.

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2 : 2007 (IEC\r\n60060-2 : 1994), thuật ngữ 3.3)

\r\n\r\n

3.9.7. thiết bị chỉ\r\nthị hoặc thiết bị ghi\r\n(indicating or recording instrument)

\r\n\r\n

thiết bị được thiết\r\nkế để hiển thị hoặc cung cấp bản ghi giá trị của đại lượng đo được hoặc đại\r\nlượng dẫn xuất

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2 : 2007 (IEC\r\n60060-2 : 1994), thuật ngữ 3.4)

\r\n\r\n

3.9.8. hệ số thang đo\r\ncủa hệ thống đo\r\n(scale factor of a measuring system)

\r\n\r\n

hệ số khi nhân với\r\ngiá trị số đọc trên dụng cụ đo sẽ thu được giá trị của đại lượng đầu vào. Hệ số\r\nthang đo ấn định là hệ số xác định ở thử nghiệm tính năng gần nhất

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 1: Đối với\r\nmột số hệ thống đo, giá trị của đại lượng đầu vào được hiển thị trực tiếp\r\n(nghĩa là hệ số thang đo của hệ thống đo bằng một).

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 2: Hệ thống\r\nđo có thể có hai hệ số thang đo trở lên, ví dụ, hệ thống có thể có các hệ số\r\nthang đo khác nhau đối với các dải tần hoặc dạng xung khác nhau.

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2 : 2007 (IEC\r\n60060-2 : 1994), thuật ngữ 3.5, có sửa đổi)

\r\n\r\n

3.9.9. đáp ứng động\r\ncủa hệ thống đo\r\n(dynamic behaviour of a measuring system)

\r\n\r\n

đáp ứng của hệ\r\nthống đo trong trường hợp thay đổi mang tính quá độ của đại lượng đầu vào\r\nđược mô tả bằng đáp tuyến bậc thang hoặc đáp tuyến biên độ/tần số

\r\n\r\n

3.9.10. độ không đảm\r\nbảo đo\r\n(uncertainty of a measurement)

\r\n\r\n

tham số, cùng với kết\r\nquả của phép đo đặc trưng cho sự phân tán của các giá trị

\r\n\r\n

3.9.11. dung sai (tolerance)

\r\n\r\n

sai lệch cho phép\r\ngiữa giá trị đo được và giá trị qui định - khác với các sai số đo, là chênh\r\nlệch giữa giá trị đo được và giá trị thực

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 1: Điện áp\r\nthử nghiệm đo được phải nằm trong dung sai qui định của mức thử nghiệm qui\r\nđịnh. Các mức thử nghiệm được qui định bởi ban kỹ thuật liên quan. Giá trị thực\r\nkhông biết chính xác; được ước tính là nằm trong dải không đảm bảo đo có xác\r\nsuất phủ qui định. Vì vậy, giá trị thực, ch-a biết, có thể nằm ngoài phạm vi\r\ndung sai, đặc biệt là trong trường hợp giá trị đo sát với các giới hạn của phạm\r\nvi dung sai và độ không đảm bảo đo của nó phần lớn nằm bên ngoài.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 2: Giá trị\r\nđo được là giá trị hiển thị nhân với hệ số thang đo. Giá trị đúng là giá trị ch-a\r\nbiết và có thể lấy là giá trị trung bình của một số lượng vô hạn các phép đo\r\nđồng nhất.

\r\n\r\n

3.9.12. điện áp đo\r\ndanh định\r\n(rated measuring voltage)

\r\n\r\n

mức điện áp lớn nhất\r\ncó tần số hoặc dạng sóng qui định tại đó có thể sử dụng hệ thống đo, và\r\nhệ thống này nằm trong các giới hạn về độ không đảm bảo đo nêu trong tiêu chuẩn\r\nnày

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2:2007\r\n(IEC 60060-2:1994), thuật ngữ 3.9.1, có sửa đổi)

\r\n\r\n

3.9.13. dải điện áp\r\nhoặc dòng điện làm việc (operating voltage or current range)

\r\n\r\n

dải điện áp hoặc dòng\r\nđiện có tần số hoặc dạng sóng qui định tại đó có thể sử dụng hệ thống đo, và khi\r\nđó, hệ thống nằm trong các giới hạn độ không đảm bảo đo nêu trong tiêu chuẩn\r\nnày

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2:2007\r\n(IEC 60060-2:1994), thuật ngữ 3.9.2, có sửa đổi)

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Các giới\r\nhạn của dải làm việc do người sử dụng chọn và được kiểm tra bằng thử nghiệm\r\ntính năng qui định trong TCVN 6099-2:2007 (IEC 60060-2:1994).

\r\n\r\n

3.9.14. thời gian làm\r\nviệc\r\n(đối với điện áp một chiều hoặc xoay chiều) (operating time (for direct or\r\nalternating voltages))

\r\n\r\n

thời gian trong đó hệ\r\nthống đo có thể hoạt động tại điện áp đo danh định và nằm trong giới hạn độ\r\nkhông đảm bảo đo nêu trong tiêu chuẩn này

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2:2007\r\n(IEC 60060-2:1994), thuật ngữ 3.9.3, có sửa đổi)

\r\n\r\n

3.9.15. tốc độ đặt\r\nlớn nhất\r\n(maximum rate of application)

\r\n\r\n

của điện áp xung\r\ncó dạng sóng qui định mà tại đó hệ thống đo có thể hoạt động trong giới\r\nhạn độ không đảm bảo đo nêu trong tiêu chuẩn này ở điện áp đo danh định hoặc\r\ndòng điện đo danh định của hệ thống trong thời gian qui định

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2:2007\r\n(IEC 60060-2:1994), thuật ngữ 3.9.4, có sửa đổi)

\r\n\r\n

3.9.16. thử nghiệm\r\nchấp nhận\r\n(acceptance test)

\r\n\r\n

thử nghiệm trên thiết\r\nbị hoặc hệ thống đo trước khi chấp nhận để sử dụng. Thử nghiệm chấp\r\nnhận bao gồm các thử nghiệm điển hình (thực hiện trên thiết bị có cùng\r\nthiết kế) và thử nghiệm thường xuyên (thực hiện trên tất cả các thiết bị) để\r\nđánh giá các đặc tính riêng của chúng, ví dụ, phép đo hệ số nhiệt độ của phần\r\ntử, thử nghiệm chịu thử, v.v… Ngoài ra, thử nghiệm chấp nhận trên hệ\r\nthống đo còn bao gồm cả thử nghiệm tính năng đầu tiên

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2:2007\r\n(IEC 60060-2:1994), thuật ngữ 3.10.1)

\r\n\r\n

3.9.17. thử nghiệm\r\ntính năng\r\n(performance test)

\r\n\r\n

thử nghiệm trên hệ\r\nthống đo hoàn chỉnh để mô tả hệ thống trong các điều kiện làm việc tại hiện\r\ntrường

\r\n\r\n

3.9.18. kiểm tra tính\r\nnăng\r\n(performance check)

\r\n\r\n

qui trình để đảm bảo rằng\r\nthử nghiệm tính năng gần nhất vẫn còn hiệu lực. Kiểm tra tính năng\r\nđược thực hiện tại hiện trường

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2:2007\r\n(IEC 60060-2:1994), thuật ngữ 3.10.3, có sửa đổi)

\r\n\r\n

3.9.19. hồ sơ tham\r\nchiếu\r\n(reference record) (chỉ đối với phép đo điện áp xung)

\r\n\r\n

hồ sơ được lập trong\r\ncác điều kiện qui định trong thử nghiệm tính năng và được lưu giữ để so\r\nsánh với các hồ sơ được lập trong các thử nghiệm hoặc kiểm tra sau này trong\r\ncùng một điều kiện

\r\n\r\n

(TCVN 6099-2:2007\r\n(IEC 60060-2:1994), thuật ngữ 3.10.4)

\r\n\r\n

4. Thử nghiệm và kiểm\r\ntra thông thường trên hệ thống đo

\r\n\r\n

4.1. Thử nghiệm chấp\r\nnhận

\r\n\r\n

Thử nghiệm chấp nhận\r\ntrên các phần tử của hệ thống đo phải được thực hiện theo qui định của TCVN 6099-2\r\n(IEC 60060-2).

\r\n\r\n

4.2. Thử nghiệm tính\r\nnăng

\r\n\r\n

Phải thực hiện thử\r\nnghiệm tính năng đối với hệ thống đo tại hiện trường theo TCVN\r\n6099-2 (IEC 60060-2). Có thể thực hiện thử nghiệm trong mọi điều kiện miễn là\r\nchứng tỏ được hệ thống đo thực hiện đúng trong các điều kiện ở hiện trường.

\r\n\r\n

Phải thực hiện thử\r\nnghiệm khi kiểm tra tính năng cho thấy hệ số thang đo ấn định có thay\r\nđổi đáng kể. Nguyên nhân của thay đổi này phải được làm rõ trước khi thực hiện thử\r\nnghiệm tính năng.

\r\n\r\n

Khuyến cáo rằng hàng\r\nnăm cần thực hiện lại thử nghiệm tính năng và, trong mọi trường hợp, cứ\r\nnăm năm phải thực hiện lại ít nhất một lần.

\r\n\r\n

4.3. Kiểm tra tính\r\nnăng

\r\n\r\n

4.3.1. Qui định chung

\r\n\r\n

Đối với hệ thống\r\nđo lắp ráp tại hiện trường, kiểm tra tính năng hệ số thang đo của hệ\r\nthống phải được thực hiện ở nơi thử nghiệm trước khi tiến hành thử nghiệm để\r\nchứng tỏ rằng hệ thống đo không bị ảnh hưởng bởi việc vận chuyển đến hiện\r\ntrường và được lắp ráp đúng.

\r\n\r\n

Đối với hệ thống\r\nđo khác có độ tin cậy được chứng minh thì việc thực hiện thử nghiệm tính\r\nnăng ít nhất là hàng năm có thể thay cho việc kiểm tra tại hiện trường.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Điều này\r\nđề cập chủ yếu đến "máy thử" điện áp cao có hệ thống đo lắp sẵn\r\ndùng cho các thử nghiệm tại hiện trường ở hệ thống điện áp trung bình.

\r\n\r\n

Hệ số thang đo của hệ\r\nthống đo phải được kiểm tra bằng một trong các phương pháp dưới đây.

\r\n\r\n

4.3.2. Phương pháp 1:\r\nKiểm tra hệ số thang đo của các thành phần

\r\n\r\n

Hệ số thang đo của\r\nthiết bị biến đổi, hệ thống truyền dẫn và dụng cụ đo phải được kiểm tra, sử\r\ndụng máy hiệu chuẩn bên trong hoặc bên ngoài có độ không đảm bảo đo là 1 %. Nếu\r\nhệ số thang đo sai khác với các giá trị hiệu chuẩn của chúng trong hồ sơ\r\ntính năng không quá 3 % thì hệ số thang đo ấn định vẫn có hiệu lực. Nếu có\r\nchênh lệch bất kỳ vượt quá 3 % thì phải xác định hệ số thang đo ấn định mới\r\ntrong thử nghiệm tính năng theo TCVN 6099-2 (IEC 60060-2).

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Máy hiệu\r\nchuẩn có thể là đồng hồ đo tỉ lệ, nguồn điện áp chuẩn, mạch cầu, v.v...

\r\n\r\n

4.3.3. Phương pháp 2:\r\nSo sánh với hệ thống đo di động đã được công nhận

\r\n\r\n

Cả hai hệ thống đo\r\nphải nối song song trong quá trình thử nghiệm tại hiện trường. Thử\r\nnghiệm phải được thực hiện ở ít nhất một mức điện áp, tốt nhất là trên 20 %\r\nđiện áp đặt cao nhất trong các thử nghiệm. Ghi lại đồng thời các giá trị đọc\r\ncủa hai hệ thống. Nếu chênh lệch điện áp đo nhỏ hơn 5 % thì hệ thống đo được\r\nchấp nhận. Ngược lại, phải thực hiện các kiểm tra khác, ví dụ, phải thực hiện kiểm\r\ntra tính năng hoặc thử nghiệm tính năng theo TCVN 6099-2 (IEC\r\n60060-2).

\r\n\r\n

4.4. Hồ sơ tính năng

\r\n\r\n

Kết quả của kiểm tra\r\ntính năng và thử nghiệm tính năng phải được lưu trong hồ sơ tính năng.

\r\n\r\n

5. Thử nghiệm bằng\r\nđiện áp một chiều

\r\n\r\n

5.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

Các yêu cầu của điều\r\nnày thích hợp với điện áp thử nghiệm cho thử nghiệm điện môi như mô tả trong TCVN\r\n6099-1 (IEC 60060-1).

\r\n\r\n

5.2. Định nghĩa đối\r\nvới thử nghiệm điện áp một chiều

\r\n\r\n

5.2.1. giá trị của\r\nđiện áp thử nghiệm\r\n(value of the test voltage)

\r\n\r\n

giá trị trung bình số\r\nhọc

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1:2007\r\n(IEC 60060-1:1989), thuật ngữ 12.1)

\r\n\r\n

5.2.2. gợn sóng (ripple)

\r\n\r\n

sai lệch chu kỳ so\r\nvới giá trị trung bình số học của giá trị điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

5.2.3. biên độ gợn\r\nsóng\r\n(ripple amplitude)

\r\n\r\n

nửa hiệu của giá trị\r\nlớn nhất và giá trị nhỏ nhất

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1:2007\r\n(IEC 60060-1:1989), thuật ngữ 12.2, có sửa đổi)

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Trong thực\r\ntế, giá trị hiệu dụng thực nhân với hệ số ước tính 1,4 cũng được chấp nhận để\r\nxác định biên độ gợn sóng.

\r\n\r\n

5.2.4. hệ số gợn sóng (ripple factor)

\r\n\r\n

tỷ số giữa biên độ\r\ngợn sóng và giá trị điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

5.3. Điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

5.3.1. Yêu cầu đối\r\nvới điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

5.3.1.1. Dạng điện áp

\r\n\r\n

Nếu không có qui định\r\nnào khác của ban kỹ thuật liên quan thì điện áp thử nghiệm, khi đặt vào đối\r\ntượng thử nghiệm, nên là điện áp một chiều có hệ số gợn sóng không quá 3\r\n%. Chú ý rằng hệ số gợn sóng có thể bị ảnh hưởng bởi sự có mặt của đối\r\ntượng thử nghiệm và các điều kiện thử nghiệm.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Trong\r\ntrường hợp nghi ngờ có gợn sóng cao thì nên đo gợn sóng.

\r\n\r\n

5.3.1.2. Dung sai

\r\n\r\n

Nếu không có qui định\r\nnào khác của ban kỹ thuật liên quan thì giá trị điện áp thử nghiệm đo\r\nđược phải duy trì trong khoảng ± 3 % mức qui định trong suốt thử nghiệm. Với\r\nthời gian thử nghiệm quá 60 s,

\r\n\r\n

điện áp đo được phải\r\nduy trì trong khoảng ± 5 % mức qui định trong suốt thử nghiệm.

\r\n\r\n

5.3.1.3. Tạo điện áp\r\nthử nghiệm

\r\n\r\n

Điện áp thử nghiệm thường\r\nnhận được từ các bộ chỉnh lưu. Các yêu cầu đối với nguồn điện áp thử nghiệm phụ\r\nthuộc đáng kể vào loại thiết bị cần thử nghiệm và các điều kiện thử nghiệm tại\r\nhiện trường. Các yêu cầu này chủ yếu được xác định bằng sự thay đổi trở\r\nkháng có thể có trong mạch thử nghiệm.

\r\n\r\n

Các đặc tính của\r\nnguồn cần phải đủ để cho phép nạp điện dung cho đối tượng thử nghiệm trong một\r\nthời gian ngắn hợp lý. Tuy nhiên, đối với cáp đã được lắp đặt quá dài thì đôi\r\nkhi phải chấp nhận thời gian nạp đến vài phút. Nguồn, kể cả điện dung dự trữ\r\ncủa nguồn, cũng cần phải đủ để cung cấp cho dòng điện rò không có quá độ và\r\ndòng điện hấp thụ không có quá độ của đối tượng thử nghiệm.

\r\n\r\n

5.4. Đo điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

5.4.1. Đo bằng hệ\r\nthống đo được công nhận

\r\n\r\n

Phép đo giá trị\r\nđiện áp thử nghiệm và biên độ gợn sóng, nếu cần, cần được thực hiện\r\nbằng các hệ thống đo được công nhận đã qua các thử nghiệm và kiểm tra\r\nqui định ở điều 4. Hơn nữa, hệ thống này phải có thời gian vận hành đủ\r\ncho thời gian thử nghiệm tại hiện trường. Cần chú ý đến các yêu cầu ở TCVN\r\n6099-2 (IEC 60060-2) về đặc tính đáp tuyến của thiết bị dùng để đo biên độ\r\ngợn sóng, các quá độ hoặc độ ổn định điện áp.

\r\n\r\n

5.4.2. Các yêu cầu\r\nđối với hệ thống đo được công nhận

\r\n\r\n

Yêu cầu chung là đo giá\r\ntrị điện áp thử nghiệm (trung bình số học) với độ không đảm bảo đo tổng là 5\r\n%. Các giới hạn độ không đảm bảo đo này cũng không được vượt quá gợn sóng\r\nnếu hệ số gợn sóng nhỏ hơn 3 %.

\r\n\r\n

Biên độ gợn sóng\r\nphải được đo với độ không đảm bảo đo tổng là 10 % biên độ gợn sóng.

\r\n\r\n

5.4.3. Độ ổn định của\r\nhệ số thang đo

\r\n\r\n

Hệ số thang đo của hệ\r\nthống đo phải không thay đổi quá ± 2 % trong dải điện áp sử dụng, dải nhiệt\r\nđộ và độ ẩm khí quyển, và khe hở không khí cho trong hồ sơ tính năng.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 1: Thiết bị\r\nbiến đổi dùng cho điện áp một chiều phải có kết cấu để dẫn thẳng tất cả các\r\ndòng phóng điện hoặc dòng rò trên bề mặt bên ngoài xuống đất và giữ dòng phóng\r\nđiện hoặc dòng rò bên trong không đáng kể so với dòng điện của hệ thống đo.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 2: Để duy\r\ntrì tỷ số thấp giữa dòng điện rò và dòng điện đo, có thể cần thiết phải có dòng\r\nđiện của hệ thống đo cao khoảng 0,5 mA tại điện áp danh định.

\r\n\r\n

5.4.4. Đáp ứng động\r\nđối với điện áp đo tăng

\r\n\r\n

Thời gian đáp ứng\r\nthực nghiệm T_N của hệ thống đo được công nhận không\r\nđược lớn hơn 0,5 s. Điều này sẽ cho phép đo với độ không đảm bảo đo qui định\r\ntrong 5.4.2 khi điện áp được tăng lên ở tốc độ qui định cho thử nghiệm chịu thử\r\nở 5.6.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Nếu bộ\r\nphân áp được dùng để đo điện áp gợn sóng thì độ rộng băng tần của nó phải ít\r\nnhất bằng năm lần tần số gợn sóng cơ bản.

\r\n\r\n

5.4.5. Đấu nối đến\r\nđối tượng thử nghiệm

\r\n\r\n

Việc đấu nối đến đối\r\ntượng thử nghiệm từ nguồn thử nghiệm và bộ phân áp phải được thực hiện với dây\r\ndẫn có đường kính đủ để tránh phóng điện và quầng sáng quá mức. Nối đất đối\r\ntượng thử nghiệm cần có kết cấu dây ngắn và vững chắc để tránh chênh lệch điện\r\náp nếu xảy ra phóng điện trong mạch thử nghiệm.

\r\n\r\n

5.5. Thử nghiệm và\r\nkiểm tra trên hệ thống đo

\r\n\r\n

Phải thực hiện thử\r\nnghiệm và kiểm tra theo điều 4 của tiêu chuẩn này.

\r\n\r\n

5.6. Qui trình thử nghiệm\r\nđiện áp chịu thử

\r\n\r\n

Điện áp phải được đặt\r\nlên đối tượng thử nghiệm bắt đầu ở một giá trị đủ thấp để ngăn ngừa bất kỳ ảnh\r\nhưởng nào của quá điện áp do các quá độ đóng cắt. Điện áp này được tăng đủ chậm\r\nđể cho phép đọc được trên dụng cụ đo nhưng không được chậm đến mức gây kéo dài\r\nứng suất không cần thiết trên đối tượng thử nghiệm khi gần đến điện áp thử\r\nnghiệm U. Các yêu cầu này thường được thỏa mãn nếu tốc độ tăng xấp xỉ 2\r\n% điện áp U mỗi giây khi điện áp đặt cao hơn 75 % của U. Điện áp\r\nnày phải được duy trì trong thời gian qui định và sau đó giảm bằng cách phóng\r\nđiện điện dung của mạch, kể cả của đối tượng thử nghiệm, qua một điện trở thích\r\nhợp.

\r\n\r\n

Ban kỹ thuật liên\r\nquan phải qui định thời gian thử nghiệm có tính đến thời gian đạt tới phân bố\r\nđiện áp ở trạng thái ổn định phụ thuộc vào điện trở và điện dung của các thành phần\r\ncủa đối tượng thử nghiệm. Nếu không có qui định nào khác của Ban kỹ thuật liên\r\nquan thì thời gian của thử nghiệm chịu điện áp phải là 60 s.

\r\n\r\n

Các yêu cầu của thử\r\nnghiệm được coi là thỏa mãn nếu không xảy ra phóng điện đánh thủng.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Qui trình\r\nthử nghiệm chẩn đoán cần được xác định bởi ban kỹ thuật liên quan.

\r\n\r\n

6. Thử nghiệm bằng\r\nđiện áp xoay chiều

\r\n\r\n

6.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

Các qui định của điều\r\nnày thích hợp với điện áp thử nghiệm cho thử nghiệm chịu thử và thử nghiệm chẩn\r\nđoán mô tả trong TCVN 6099-1 (IEC 60060-1).

\r\n\r\n

6.2. Định nghĩa đối\r\nvới thử nghiệm điện áp xoay chiều

\r\n\r\n

6.2.1. giá trị của\r\nđiện áp thử nghiệm\r\n(value of the test voltage)

\r\n\r\n

giá trị đỉnh của điện\r\náp chia cho

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1:2007\r\n(IEC 60060-1:1989), thuật ngữ 15.1.1)

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Ban kỹ\r\nthuật liên quan có thể yêu cầu phép đo giá trị hiệu dụng của điện áp thử nghiệm\r\nthay cho giá trị đỉnh trong các trường hợp giá trị hiệu dụng có thể quan trọng,\r\nví dụ, khi có liên quan đến các hiệu ứng nhiệt.

\r\n\r\n

6.2.2. giá trị đỉnh (peak value)

\r\n\r\n

giá trị lớn nhất của\r\nđiện áp xoay chiều. Tuy nhiên, phải bỏ qua các dao động cao tần nhỏ, phát sinh\r\ntừ các phóng điện không đánh thủng

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1:2007\r\n(IEC 60060-1:1989), thuật ngữ 15.2, có sửa đổi)

\r\n\r\n

6.2.3. giá trị hiệu\r\ndụng (r.m.s)\r\n(r.m.s value)

\r\n\r\n

căn bậc hai của giá\r\ntrị trung bình của bình phương các giá trị điện áp trong phạm vi một chu kỳ\r\nhoàn chỉnh của điện áp xoay chiều

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1:2007\r\n(IEC 60060-1:1989), thuật ngữ 15.3)

\r\n\r\n

6.3. Điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

6.3.1. Dạng sóng của\r\nđiện áp

\r\n\r\n

Điện áp thử nghiệm phải\r\nlà điện áp xoay chiều hình sin thường có tần số nằm trong dải từ 10 Hz đến 500\r\nHz, nếu không có giới hạn nào khác của Ban kỹ thuật liên quan.

\r\n\r\n

Dạng sóng điện áp thử\r\nnghiệm phải xấp xỉ hình sin với hai nửa chu kỳ gần giống nhau. Kết quả của thử\r\nnghiệm điện áp cao được coi là không bị ảnh hưởng bởi sai lệch nhỏ so với hình\r\nsin nếu tỷ số giữa giá trị đỉnh và giá trị hiệu dụng trong phạm vi  ± 15 %.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Nếu tỷ số\r\ngiữa giá trị đỉnh và giá trị hiệu dụng không nằm trong phạm vi  ± 5 % thì phải chứng tỏ rằng đỉnh\r\ndương và đỉnh âm không sai khác quá 2 %.

\r\n\r\n

6.3.2. Dung sai

\r\n\r\n

Nếu không có qui định\r\nnào khác của Ban kỹ thuật liên quan thì giá trị điện áp thử nghiệm đo\r\nđược phải được duy trì trong phạm vi ± 3 % mức qui định trong suốt quá trình\r\nthử nghiệm. Đối với các khoảng thời gian thử nghiệm dài hơn 60 s thì giá trị\r\nđiện áp thử nghiệm đo được phải được duy trì trong phạm vi ± 5 % mức qui định\r\ntrong suốt quá trình thử nghiệm.

\r\n\r\n

6.3.3. Tạo điện áp\r\nthử nghiệm

\r\n\r\n

Điện áp thử nghiệm thường\r\nđược cấp từ máy biến áp tăng áp hoặc mạch cộng hưởng. Mạch cộng hưởng có thể\r\nđiều hưởng nhờ cuộn kháng điều chỉnh được hoặc bộ biến đổi tần số.

\r\n\r\n

Điện áp trong mạch thử\r\nnghiệm phải đủ ổn định để không bị ảnh hưởng bởi các dòng điện rò khác nhau.\r\nCác phóng điện không đánh thủng trên đối tượng thử nghiệm không được làm giảm\r\nđiện áp thử nghiệm tới mức và đến lúc mà điện áp phóng điện đánh thủng đo được\r\ncủa đối tượng thử nghiệm bị ảnh hưởng đáng kể.

\r\n\r\n

6.3.3.1. Mạch biến áp

\r\n\r\n

Để có điện áp thử nghiệm\r\nthực tế không bị ảnh hưởng bởi các dòng điện rò khác nhau thì dòng điện ngắn\r\nmạch do máy biến áp cung cấp khi đối tượng thử nghiệm bị ngắn mạch ở điện áp\r\nthử nghiệm cần đủ lớn so với dòng điện rò. Trong trường hợp thử nghiệm khô trên\r\ncách điện không tự phục hồi bên ngoài (cái cách điện, dao cách ly,\r\nv.v...) thì yêu cầu dòng điện ngắn mạch không nhỏ hơn 0,1 A (giá trị hiệu\r\ndụng).

\r\n\r\n

Điện dung tổng của\r\nđối tượng thử nghiệm và điện dung phụ bất kỳ cần đủ để đảm bảo rằng điện áp\r\nphóng điện đo được không bị ảnh hưởng bởi phóng điện cục bộ không đánh thủng hoặc\r\ntiền phóng điện trên đối tượng thử nghiệm. Giá trị điện dung trong phạm vi từ\r\n0,5 nF đến 1,0 nF thường là đủ.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Nếu bất kỳ\r\nđiện trở bảo vệ nào bên ngoài máy biến áp thử nghiệm không vượt quá 10 kΩ, điện\r\ndung đầu cực hiệu lực của máy biến áp có thể được coi là ghép song song với đối\r\ntượng thử nghiệm.

\r\n\r\n

6.3.3.2. Mạch cộng\r\nhưởng nối tiếp

\r\n\r\n

Mạch cộng hưởng nối\r\ntiếp chủ yếu gồm một cuộn cảm mắc nối tiếp với đối tượng thử nghiệm hoặc tải điện\r\ndung và nối với nguồn điện trung áp (máy biến áp kích áp). Một cách khác, mạch\r\nnày có thể gồm một tụ điện mắc nối tiếp với điện cảm của đối tượng thử nghiệm.\r\nBằng cách thay đổi các tham số mạch hoặc tần số nguồn cấp, mạch có thể điều\r\nhưởng được. Khi điều hưởng, một điện áp lớn hơn đáng kể so với điện áp nguồn và\r\ncó dạng về cơ bản là hình sin được đặt vào đối tượng thử nghiệm.

\r\n\r\n

Sự ổn định của điều\r\nkiện cộng hưởng và điện áp thử nghiệm phụ thuộc vào sự không thay đổi của tần\r\nsố nguồn và đặc tính của mạch thử nghiệm.

\r\n\r\n

Khi xảy ra phóng\r\nđiện, nguồn tạo ra một dòng điện tương đối nhỏ hạn chế việc hỏng điện môi của\r\nđối tượng thử nghiệm.

\r\n\r\n

Mạch cộng hưởng nối\r\ntiếp đặc biệt có ích khi đối tượng thử nghiệm như cáp, tụ điện hoặc hệ thống\r\ncách điện bằng khí trong đó dòng điện rò trên cách điện ngoài rất nhỏ so\r\nvới dòng điện điện dung qua đối tượng thử nghiệm hoặc năng lượng hình thành\r\nphóng điện đánh thủng là rất nhỏ.

\r\n\r\n

6.4. Đo điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

6.4.1. Đo bằng các hệ\r\nthống đo được công nhận

\r\n\r\n

Việc đo giá trị đỉnh\r\n(hoặc giá trị hiệu dụng, nếu yêu cầu) được tiến hành với hệ thống đo được\r\ncông nhận đã qua các thử nghiệm và kiểm tra qui định trong điều 4. Hơn nữa,\r\nhệ thống này phải có thời gian vận hành đủ cho thời gian thử nghiệm tại\r\nhiện trường.

\r\n\r\n

Phép đo phải được\r\nthực hiện với đối tượng thử nghiệm được mắc trong mạch thử nghiệm.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Giá trị điện\r\náp thử nghiệm của đầu ra hoàn toàn hình sin của hệ thống cộng hưởng mắc nối tiếp\r\nđược xác định chính xác bằng cả đồng hồ đo giá trị trung bình tương ứng và đồng\r\nhồ đo giá trị hiệu dụng thực tương ứng, với điều kiện là hệ số thang đo được\r\nthiết lập theo các qui định của 4.2.

\r\n\r\n

6.4.2. Yêu cầu đối\r\nvới hệ thống đo được công nhận

\r\n\r\n

Yêu cầu chung là đo giá\r\ntrị điện áp thử nghiệm đỉnh với độ không đảm bảo đo là 5 %.

\r\n\r\n

6.4.3. Độ ổn định của\r\nhệ số thang đo

\r\n\r\n

Hệ số thang đo của hệ\r\nthống đo không được thay đổi quá ± 2 % trong dãy điện áp sử dụng, dải nhiệt\r\nđộ và độ ẩm khí quyển, và khe hở không khí cho trong hồ sơ tính năng.

\r\n\r\n

6.4.4. Đáp ứng động

\r\n\r\n

Đáp ứng động của hệ\r\nthống đo được xem là đủ để đo điện áp đỉnh nếu hệ số thang đo là hằng số\r\ntrong phạm vi ± 2 % dải tần sử dụng.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Cần phải\r\ntính đến thành phần hài khi chọn dải tần.

\r\n\r\n

6.4.5. Đấu nối đến\r\nđối tượng thử nghiệm

\r\n\r\n

Việc đấu nối đến đối\r\ntượng thử nghiệm từ nguồn thử nghiệm và bộ phân áp phải được tiến hành bằng các\r\ndây dẫn có đường kính đủ để tránh phóng điện và quầng sáng quá mức. Việc nối\r\nđất với đối tượng thử nghiệm cần kết cấu dây ngắn và chắc chắn để tránh chênh\r\nlệch điện áp nếu xảy ra phóng điện trong mạch thử nghiệm.

\r\n\r\n

6.5. Thử nghiệm và\r\nkiểm tra hệ thống đo

\r\n\r\n

Thực hiện thử nghiệm\r\nvà kiểm tra theo điều 4 của tiêu chuẩn này.

\r\n\r\n

6.6. Qui trình thử nghiệm\r\nđiện áp chịu thử

\r\n\r\n

Nếu không có qui định\r\nnào khác của ban kỹ thuật liên quan thì phải đặt điện áp lên đối tượng thử\r\nnghiệm bắt đầu ở một giá trị đủ thấp để ngăn ngừa bất kỳ ảnh hưởng nào của quá\r\nđiện áp do các quá độ đóng cắt. Điện áp này được tăng đủ chậm để cho phép đọc\r\nđược trên dụng cụ đo nhưng không được chậm đến mức gây kéo dài ứng suất không cần\r\nthiết trên đối tượng thử nghiệm khi gần đến điện áp thử nghiệm U. Các\r\nyêu cầu này thường được thỏa mãn nếu tốc độ tăng xấp xỉ 2 % điện áp U\r\nmỗi giây khi điện áp đặt cao hơn 75 % của U. Điện áp này này phải được\r\nduy trì trong thời gian qui định và sau đó giảm nhanh, nhưng không đột ngột vì\r\ncó thể tạo ra quá độ đóng cắt gây hỏng hóc hay ảnh hưởng đến kết quả thử\r\nnghiệm.

\r\n\r\n

Ban kỹ thuật liên\r\nquan phải qui định thời gian thử nghiệm; nếu không qui định thì thời gian của\r\nthử nghiệm chịu thử là 60 s. Các yêu cầu của thử nghiệm được đáp ứng nếu không xảy\r\nra phóng điện đánh thủng.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Qui trình\r\nthử nghiệm chẩn đoán cần được xác định bởi ban kỹ thuật liên quan.

\r\n\r\n

7. Thử nghiệm bằng\r\nđiện áp xung sét

\r\n\r\n

7.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

Các yêu cầu của điều này\r\nthích hợp với điện áp thử nghiệm cho thử nghiệm chịu thử và thử nghiệm chẩn\r\nđoán như mô tả trong TCVN 6099-1 (IEC 60060-1).

\r\n\r\n

7.2. Định nghĩa đối\r\nvới thử nghiệm điện áp xung sét

\r\n\r\n

Các định nghĩa này áp\r\ndụng cho điện áp xung theo chu kỳ và không theo chu kỳ. Cả hai loại điện\r\náp xung này đều có thể áp dụng cho thử nghiệm điện áp cao tại hiện trường.

\r\n\r\n

7.2.1. điện áp xung\r\nsét toàn sóng\r\n(full lightning impulse voltage)

\r\n\r\n

điện áp xung sét\r\nkhông bị gián đoạn bởi phóng điện đánh thủng

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1:2007\r\n(IEC 60060-1:1989), thuật ngữ 18.1.1)

\r\n\r\n

7.2.2. điện áp xung\r\nsét không theo chu kỳ\r\n(aperiodic lightning impulse voltage)

\r\n\r\n

điện áp xung tăng\r\nnhanh đến giá trị đỉnh và sau đó giảm chậm hơn không theo chu kỳ về\r\n"không". Xem hình 1.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Điện áp\r\nxung sét tiêu chuẩn 1,2/50 xác định trong TCVN 6099-1 (IEC 60060-1) là một ví\r\ndụ về điện áp xung không theo chu kỳ.

\r\n\r\n

7.2.3. điện áp xung\r\nsét theo chu kỳ\r\n(oscillating lightning impulse voltage)

\r\n\r\n

điện áp xung tăng nhanh đến giá\r\ntrị đỉnh và sau đó giảm về "không" có dao động tắt dần với tần số từ 15\r\nkHz đến 400 kHz có hoặc không thay đổi cực tính . Điện áp này được đặc trưng\r\nbởi đường cong bao quanh và tần số của dạng chu kỳ. Xem hình 2.

\r\n\r\n

7.2.4. giá trị điện\r\náp thử nghiệm\r\n(value of the test voltage)

\r\n\r\n

giá trị đỉnh

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1:2007\r\n(IEC 60060-1:1989), thuật ngữ 18.1.3)

\r\n\r\n

trong trường hợp\r\nphóng điện đánh thủng ở đầu sóng thì giá trị điện áp thử nghiệm là giá trị đỉnh\r\nkỳ vọng

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Trong\r\ntrường hợp dao động xếp chồng thì giá trị đỉnh cần được tính theo TCVN 6099-1\r\n(IEC 60060-1).

\r\n\r\n

\r\n\r\n

a) T₁/T₂\r\n= 0,8/50 ms

\r\n\r\n

\r\n\r\n

b) T₁/T₂\r\n= 20/100 ms

\r\n\r\n

Hình\r\n1 - Xung sét không theo chu kỳ

\r\n\r\n

\r\n\r\n

a) T₁/T₂\r\n= 0,8/50 ms, 370 kHz

\r\n\r\n

\r\n\r\n

b) T1/T2 = 20/100 ms, 16 kHz

\r\n\r\n

Hình\r\n2 - Xung sét theo chu kỳ

\r\n\r\n

7.2.5. thời gian đầu\r\nsóng\r\n(front time)

\r\n\r\n

T₁

\r\n\r\n

tham số giả định cho\r\ncả hai loại điện áp xung sét được xác định bằng 1,67 lần khoảng thời\r\ngian T giữa các thời điểm khi xung là 30 % và 90 % của giá trị đỉnh

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1:2007\r\n(IEC 60060-1:1989), thuật ngữ 18.1.4)

\r\n\r\n

7.2.6. điểm gốc giả định (virtual origin)

\r\n\r\n

O₁

\r\n\r\n

trước thời điểm khi điện\r\náp xung đạt đến 30 % giá trị đỉnh (xem hình 1 và 2) tại bằng 0,3 T₁.\r\nĐối với thang thời gian tuyến tính, điểm gốc giả định là giao điểm giữa trục\r\nthời gian và đường thẳng qua điểm 30 % và điểm 90 % giá trị đỉnh

\r\n\r\n

 (TCVN 6099-1:2007\r\n(IEC 60060-1:1989), thuật ngữ 18.1.5, có sửa đổi)

\r\n\r\n

7.2.7. thời gian tới\r\nnửa giá trị\r\n(time-to-half-value)

\r\n\r\n

T₂

\r\n\r\n

tham số giả định của điện\r\náp xung sét không theo chu kỳ được xác định bằng khoảng thời gian giữa điểm\r\ngốc giả định O₁ và thời điểm khi điện áp đã giảm tới nửa giá trị\r\nđỉnh

\r\n\r\n

Thời gian tới nửa giá\r\ntrị của điện áp xung sét không theo chu kỳ là tham số giả định được xác\r\nđịnh là thời gian giữa điểm gốc giả định O₁ và thời gian khi đường\r\nbao điện áp theo chu kỳ giảm xuống nửa giá trị đỉnh.

\r\n\r\n

7.3. Điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

7.3.1. Điện áp xung\r\nsét đầy đủ

\r\n\r\n

Điện áp xung phải có thời gian\r\nđầu sóng T₁ trong phạm vi từ 0,8 ms\r\nđến 20 ms và thời gian đến\r\nnửa giá trị T₂ trong phạm vi từ 40 ms đến 100 ms.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Dao động\r\nxếp chồng đối với điện áp xung không theo chu kỳ không được vượt quá 5 %\r\ngiá trị

\r\n\r\n

đỉnh.

\r\n\r\n

7.3.2. Dung sai

\r\n\r\n

Giá trị điện áp thử nghiệm đo được phải nằm trong\r\nphạm vi ± 5 % giá trị qui định trừ khi có qui định khác của ban kỹ thuật liên\r\nquan.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Giới hạn\r\nđối với tham số thời gian chấp nhận được nêu trong 7.3.1.

\r\n\r\n

7.3.3. Tạo điện áp\r\nthử nghiệm

\r\n\r\n

Xung sét thường được tạo ra\r\nbởi máy phát xung gồm có số lượng đáng kể các tụ điện được nạp song song từ\r\nnguồn điện áp một chiều và sau đó phóng điện nối tiếp vào mạch điện có đối\r\ntượng thử nghiệm. Để tạo xung không theo chu kỳ thì mạch điện chứa tải\r\nđiện trở và điện dung. Để tạo xung sét theo chu kỳ thì mạch điện chứa\r\ntải điện cảm, ví dụ như cuộn cảm được đóng cắt giữa máy phát và tải điện dung. Đối\r\nvới cùng một máy phát, mạch dao động cho phép tạo xung theo chu kỳ có giá trị\r\nđỉnh bằng khoảng hai lần giá trị đỉnh của xung không theo chu kỳ.

\r\n\r\n

7.4. Đo điện áp thử nghiệm\r\nvà xác định dạng điện áp xung

\r\n\r\n

7.4.1. Đo bằng hệ\r\nthống đo được công nhận

\r\n\r\n

Việc đo giá trị đỉnh,\r\ntham số thời gian và dao động của điện áp thử nghiệm phải được thực hiện bằng hệ\r\nthống đo được công nhận đã qua các thử nghiệm và kiểm tra qui định trong điều\r\n4. Hơn nữa, hệ thống đo phải có tốc độ đặt lớn nhất đủ để đặt số lần thử\r\nnghiệm khi thử nghiệm tại hiện trường.

\r\n\r\n

Phải tiến hành đo với\r\nđối tượng thử nghiệm ở trong mạch điện và, nói chung, dạng xung cần được kiểm\r\ntra với từng đối tượng thử nghiệm.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Xác định\r\ndạng xung bằng cách tính toán từ các tham số mạch điện thử nghiệm không được\r\nxem là thỏa mãn.

\r\n\r\n

7.4.2. Yêu cầu đối\r\nvới hệ thống đo được công nhận

\r\n\r\n

Yêu cầu chung như\r\nsau:

\r\n\r\n

- đo giá trị đỉnh của\r\nđiện áp xung sét đầy đủ với độ không đảm bảo đo 5 %;

\r\n\r\n

- đo các tham số thời\r\ngian của cả hai loại điện áp xung và tần số của điện áp xung theo chu\r\nkỳ xác định dạng sóng có độ không đảm bảo đo là 10 %;

\r\n\r\n

- đo dao động xếp\r\nchồng để đảm bảo rằng chúng không vượt quá mức ± 5 %.

\r\n\r\n

7.4.3. Độ ổn định của\r\nhệ số thang đo

\r\n\r\n

Hệ số thang đo của hệ\r\nthống đo không được thay đổi quá ± 2 % đối với dải nhiệt độ khí quyển và khe hở\r\nkhông khí cho trong hồ sơ tính năng.

\r\n\r\n

7.4.4. Đáp ứng động

\r\n\r\n

Đáp ứng động của hệ\r\nthống đo là đủ đối với phép đo điện áp đỉnh và tham số thời gian trong phạm\r\nvi dạng sóng qui định trong hồ sơ tính năng khi:

\r\n\r\n

- hệ số thang đo là\r\nhằng số trong phạm vi sai số ± 2 % đối với điện áp xung sét đầy đủ trong\r\nphạm vi thời gian đầu sóng qui định và

\r\n\r\n

- độ không đảm bảo đo\r\ncủa tham số thời gian đo bằng hệ thống trong phạm vi 10 %.

\r\n\r\n

7.4.5. Đấu nối đến\r\nđối tượng thử nghiệm

\r\n\r\n

Thiết bị biến đổi\r\nphải được nối trực tiếp với các đầu nối của đối tượng thử nghiệm.

\r\n\r\n

7.5. Thử nghiệm và\r\nkiểm tra trên hệ thống đo

\r\n\r\n

7.5.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

Thử nghiệm và kiểm\r\ntra phải được thực hiện theo điều 4 của tiêu chuẩn này.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Nên kiểm\r\ntra đáp ứng động bằng hồ sơ chuẩn.

\r\n\r\n

7.5.2. Kiểm tra nhiễu

\r\n\r\n

Kiểm tra nhiễu phải\r\nđược thử nghiệm ở hiện trường trên từng hệ thống đo (điện áp hoặc dòng điện)\r\nvới đầu nối vào của cáp hoặc hệ thống truyền dẫn khác nối tắt mà không thay đổi\r\nđầu nối đất của cáp hoặc hệ thống truyền dẫn. Điều kiện nhiễu tại đầu vào của hệ\r\nthống đo điện áp phải được tạo ra bằng cách phát điện áp thử nghiệm lớn\r\nnhất. Ghi lại giá trị đầu ra. Biên độ của nhiễu đo được phải nhỏ hơn 2 % giá\r\ntrị đầu ra của hệ thống đo khi đo điện áp.

\r\n\r\n

Cho phép nhiễu lớn\r\nhơn 2 % với điều kiện là điều này không ảnh hưởng đến phép đo.

\r\n\r\n

7.6. Qui trình thử nghiệm\r\nđiện áp chịu thử

\r\n\r\n

Qui trình thử nghiệm\r\nkhuyến cáo tuỳ thuộc vào bản chất của đối tượng thử nghiệm như qui định ở 3.4.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Qui trình\r\nđối với thử nghiệm chẩn đoán cần được xác định bởi ban kỹ thuật liên quan.

\r\n\r\n

7.6.1. Thử nghiệm\r\nđiện áp chịu thử: Qui trình A

\r\n\r\n

Đặt lên đối tượng thử\r\nnghiệm ba điện áp xung có dạng và cực tính qui định ở mức điện áp danh\r\nđịnh. Yêu cầu của thử nghiệm được thỏa mãn nếu không cho thấy có dấu hiệu hỏng\r\nkhi sử dụng các phương pháp phát hiện do Ban kỹ thuật liên quan qui định.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Qui trình\r\nnày được khuyến cáo đối với các thử nghiệm trên cách điện giảm chất lượng hoặc cách\r\nđiện không tự phục hồi.

\r\n\r\n

7.6.2. Thử nghiệm\r\nđiện áp chịu thử: Qui trình B

\r\n\r\n

Đặt lên đối tượng thử\r\nnghiệm mười lăm điện áp xung có dạng và cực tính qui định, ở mức điện áp\r\nchịu thử. Yêu cầu của thử nghiệm được thỏa mãn nếu xuất hiện không quá hai\r\nphóng điện đánh thủng trên phần tự phục hồi của cách điện và nếu không có dấu hiệu\r\nhỏng trên cách điện không tự phục hồi khi sử dụng các phương pháp phát hiện do\r\nBan kỹ thuật liên quan qui định.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Việc phát\r\nhiện sự cố đang được xem xét trong xuất bản tiếp theo của IEC 60060-1.

\r\n\r\n

7.6.3. Thử nghiệm\r\nđiện áp chịu thử khác

\r\n\r\n

Ban kỹ thuật liên\r\nquan có thể xác định thử nghiệm điện áp chịu thử cụ thể và tiêu chí chấp nhận\r\ncho các thiết bị liên quan nếu cần thiết.

\r\n\r\n

8. Thử nghiệm bằng\r\nđiện áp xung đóng cắt

\r\n\r\n

8.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

Các yêu cầu ở điều\r\nnày thích hợp với điện áp thử nghiệm cho thử nghiệm chịu thử và thử nghiệm chẩn\r\nđoán như mô tả ở TCVN 6099-1 (IEC 60060-1).

\r\n\r\n

8.2. Định nghĩa đối\r\nvới các thử nghiệm điện áp xung đóng cắt

\r\n\r\n

Các định nghĩa này áp\r\ndụng cho điện áp xung không theo chu kỳ và điện áp xung theo chu\r\nkỳ. Cả hai loại điện áp xung có thể được áp dụng cho thử nghiệm điện áp\r\ncao tại hiện trường.

\r\n\r\n

8.2.1. điện áp xung\r\nđóng cắt không theo chu kỳ (aperiodic switching impulse voltage)

\r\n\r\n

điện áp xung đóng cắt được định nghĩa\r\ntrong 3.3, tăng nhanh đến giá trị đỉnh và sau đó giảm không theo chu kỳ chậm\r\nhơn về "không". Xem hình 3.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Điện áp\r\nxung đóng cắt tiêu chuẩn 250/2 500 xác định trong TCVN 6099-1 (60060-1) là ví\r\ndụ về điện áp xung không theo chu kỳ.

\r\n\r\n

8.2.2. điện áp xung\r\nđóng cắt theo chu kỳ\r\n(oscillating switching impulse voltage)

\r\n\r\n

điện áp xung đóng cắt, như định nghĩa trong\r\n3.3, tăng nhanh đến giá trị đỉnh và sau đó giảm về "không" với dao\r\nđộng tắt dần và tần số từ 1 kHz đến 15 kHz có hoặc không đảo cực tính. Điện áp\r\nnày được đặc trưng bởi đường cong bao quanh và tần số dao động. Xem hình 4.

\r\n\r\n

8.2.3. giá trị của\r\nđiện áp thử nghiệm\r\n(value of the test voltage)

\r\n\r\n

giá trị đỉnh

\r\n\r\n

Trong trường hợp\r\nphóng điện đánh thủng ở đầu sóng thì giá trị này là giá trị đỉnh kỳ vọng.

\r\n\r\n

\r\n\r\n

a) T_p/T₂\r\n= 20/1 000 ms

\r\n\r\n

\r\n\r\n

b) T_p/T₂\r\n= 400/4 000 ms

\r\n\r\n

Hình\r\n3 - Xung đóng cắt không theo chu kỳ

\r\n\r\n

\r\n\r\n

a) T_p/T₂\r\n= 20/1 000 ms, 15 kHz

\r\n\r\n

\r\n\r\n

b) T_p/T₂\r\n= 400/4 000 ms, 1 kHz

\r\n\r\n

Hình\r\n4 - Xung đóng cắt theo chu kỳ

\r\n\r\n

8.2.4. thời gian tới\r\nđỉnh\r\n(time-to peak)

\r\n\r\n

T_p

\r\n\r\n

thời gian giữa điểm\r\ngốc thực và thời điểm khi điện áp xung đạt tới giá trị đỉnh của nó, được\r\nxác định là 2,4 lần thời gian T giữa thời điểm khi điện áp xung là 30 % và 90 %\r\ngiá trị đỉnh

\r\n\r\n

8.2.5. thời gian tới\r\nnửa giá trị\r\n(time-to-half-value)

\r\n\r\n

T₂

\r\n\r\n

đối với điện áp\r\nxung đóng cắt không theo chu kỳ, tham số được xác định là thời gian giữa\r\nđiểm gốc thực và thời điểm khi điện áp lần đầu tiên giảm tới nửa giá trị.

\r\n\r\n

Đối với điện áp\r\nxung đóng cắt theo chu kỳ, tham số được xác định là thời gian giữa điểm gốc\r\nthực và thời điểm khi đường bao của điện áp xung đóng cắt theo chu kỳ\r\ngiảm tới nửa giá trị

\r\n\r\n

8.2.6. tần số điện áp\r\nxung theo chu kỳ\r\n(frequency of an oscillating impulse voltage)

\r\n\r\n

nghịch đảo của hiệu\r\nthời gian giữa hai giá trị đỉnh liên tiếp

\r\n\r\n

8.3. Điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

8.3.1. Điện áp xung\r\nđóng cắt

\r\n\r\n

Điện áp xung có thời gian tới\r\nđỉnh T_p từ 20 ms đến 400 ms và thời gian tới nửa giá trị T₂\r\ntừ 1 000 ms đến 4 000 ms.

\r\n\r\n

8.3.2. Dung sai

\r\n\r\n

Giá trị điện áp thử nghiệm đo được phải nằm\r\ntrong phạm vi sai số ± 5 % giá trị qui định trừ khi có qui định khác của ban kỹ\r\nthuật liên quan.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Giới hạn\r\nđối với tham số thời gian chấp nhận được cho trong 8.3.1.

\r\n\r\n

8.3.3. Tạo điện áp\r\nthử nghiệm

\r\n\r\n

Điện áp xung đóng cắt thường được tạo ra\r\nbởi máy phát xung bao gồm số lượng đáng kể các tụ điện được nạp song song từ\r\nnguồn điện áp một chiều và sau đó phóng điện nối tiếp vào mạch điện có đối\r\ntượng thử nghiệm. Đối với việc tạo điện áp xung không theo chu kỳ thì\r\nmạch điện chứa tải điện trở và điện dung. Đối với việc tạo điện áp xung đóng\r\ncắt theo chu kỳ thì mạch điện chứa tải điện cảm, ví dụ như cuộn cảm được\r\nđóng cắt giữa máy phát và tải điện dung. Đối với cùng một máy phát mạch dao động\r\ncho phép tạo điện áp xung đóng cắt theo chu kỳ có giá trị đỉnh bằng khoảng\r\nhai lần xung không theo chu kỳ.

\r\n\r\n

Điện áp xung đóng cắt cũng có thể được tạo\r\nbởi việc đặt điện áp xung vào cuộn dây điện áp thấp của máy biến áp thử nghiệm.

\r\n\r\n

8.4. Đo điện áp thử nghiệm\r\nvà xác định dạng xung

\r\n\r\n

8.4.1 Đo bằng hệ\r\nthống đo được công nhận

\r\n\r\n

Giá trị đỉnh, tham số\r\nthời gian và tần số của điện áp thử nghiệm phải được đo bằng hệ thống đo\r\nđược công nhận đã qua các thử nghiệm và kiểm tra qui định ở điều 4. Hơn\r\nnữa, hệ thống đo phải có tốc độ đặt lớn nhất đủ để đặt số lần thử nghiệm\r\nkhi thử nghiệm tại hiện trường.

\r\n\r\n

Phải tiến hành đo với\r\nđối tượng thử nghiệm ở trong mạch điện và, nói chung, dạng điện áp xung\r\ncần được kiểm tra với từng đối tượng thử nghiệm.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Xác định dạng\r\nđiện áp xung bằng cách tính toán từ các tham số mạch điện thử nghiệm không\r\nđược xem là thỏa mãn.

\r\n\r\n

8.4.2. Yêu cầu đối\r\nvới hệ thống đo được công nhận

\r\n\r\n

Yêu cầu chung như\r\ndưới đây:

\r\n\r\n

- đo giá trị đỉnh của\r\nđiện áp xung đóng cắt với độ không đảm bảo đo 5 %;

\r\n\r\n

- đo tham số thời\r\ngian của cả hai loại điện áp xung và tần số của điện áp xung theo\r\nchu kỳ xác định dạng sóng với độ không đảm bảo đo 10 %.

\r\n\r\n

8.4.3. Độ ổn định của\r\nhệ số thang đo

\r\n\r\n

Hệ số thang đo của hệ\r\nthống đo không được sai lệch quá ± 2 % trong phạm vi nhiệt độ khí quyển và khe\r\nhở không khí cho trong hồ sơ tính năng.

\r\n\r\n

8.4.4. Đáp ứng động

\r\n\r\n

Đáp ứng động của hệ\r\nthống đo phù hợp để đo điện áp đỉnh và tham số thời gian trong vùng dạng\r\nsóng qui định trong hồ sơ tính năng khi:

\r\n\r\n

- hệ số thang đo\r\nkhông đổi trong phạm vi ± 2 % đối với điện áp xung đóng cắt trong vùng\r\nthời gian tới đỉnh qui định, và

\r\n\r\n

- độ không đảm bảo đo\r\ncủa tham số thời gian đo bằng hệ thống trong phạm vi 10 %.

\r\n\r\n

8.4.5. Đấu nối đến\r\nđối tượng thử nghiệm

\r\n\r\n

Thiết bị biến đổi\r\nphải được nối trực tiếp đến đầu nối của đối tượng thử nghiệm.

\r\n\r\n

8.5. Thử nghiệm và\r\nkiểm tra trên hệ thống đo

\r\n\r\n

8.5.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

Thử nghiệm và kiểm\r\ntra phải được tiến hành theo điều 4 của tiêu chuẩn này.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Nên kiểm\r\ntra đáp ứng động bằng hồ sơ chuẩn.

\r\n\r\n

8.5.2. Kiểm tra nhiễu

\r\n\r\n

Kiểm tra nhiễu phải\r\nđược thử nghiệm ở hiện trường trên từng hệ thống đo (điện áp hoặc dòng điện)\r\nvới đầu nối vào của cáp hoặc hệ thống truyền dẫn khác nối tắt mà không thay đổi\r\nđầu nối đất của cáp hoặc hệ thống truyền dẫn. Điều kiện nhiễu tại đầu vào của hệ\r\nthống đo điện áp phải được tạo ra bằng cách phát điện áp thử nghiệm lớn\r\nnhất. Ghi lại giá trị ra. Biên độ của nhiễu đo được phải nhỏ hơn 2 % giá trị đầu\r\nra của hệ thống đo khi đo điện áp. Cho phép nhiễu lớn hơn 2 % với điều\r\nkiện là điều này không ảnh hưởng đến phép đo.

\r\n\r\n

8.6. Qui trình thử nghiệm\r\nđiện áp chịu thử

\r\n\r\n

Qui trình thử nghiệm\r\nkhuyến cáo tuỳ thuộc vào bản chất của đối tượng thử nghiệm như qui định ở 3.8.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Việc chỉ\r\nra sự cố đang được xem xét trong bản xuất bản tiếp theo của IEC 60060-1.

\r\n\r\n

8.6.1. Thử nghiệm\r\nđiện áp chịu thử: Qui trình A

\r\n\r\n

Đặt lên đối tượng thử\r\nnghiệm ba điện áp xung có hình dạng và cực tính qui định ở mức điện áp\r\ndanh định. Yêu cầu của thử nghiệm được thỏa mãn nếu không cho thấy có dấu hiệu\r\nhỏng khi sử dụng các phương pháp phát hiện do Ban kỹ thuật liên quan qui định.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Qui trình\r\nnày được khuyến cáo đối với các thử nghiệm trên cách điện giảm chất lượng hoặc cách\r\nđiện không tự phục hồi.

\r\n\r\n

8.6.2. Thử nghiệm\r\nđiện áp chịu thử: Qui trình B

\r\n\r\n

Đặt lên đối tượng thử\r\nnghiệm mười lăm điện áp xung có hình dạng và cực tính qui định, ở mức\r\nđiện áp chịu thử. Yêu cầu của thử nghiệm được thỏa mãn nếu xuất hiện không quá\r\nhai phóng điện đánh thủng trên phần tự phục hồi của cách điện và nếu không phát\r\nhiện được dấu hiệu hỏng trên cách điện không tự phục hồi khi sử dụng các phương\r\npháp phát hiện do Ban kỹ thuật liên quan qui định.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Việc phát\r\nhiện sự cố đang được xem xét trong xuất bản tiếp theo của IEC 60060-1.

\r\n\r\n

8.6.3. Thử nghiệm\r\nđiện áp chịu thử khác

\r\n\r\n

Ban kỹ thuật liên\r\nquan có thể xác định thử nghiệm điện áp chịu thử cụ thể và tiêu chí chấp nhận\r\ncho các thiết bị liên quan nếu cần thiết.

\r\n\r\n

9. Thử nghiệm bằng\r\nđiện áp tần số rất thấp

\r\n\r\n

9.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

Các yêu cầu ở điều\r\nnày thích hợp với thử nghiệm đặc biệt.

\r\n\r\n

9.2. Định nghĩa đối\r\nvới thử nghiệm điện áp tần số rất thấp

\r\n\r\n

9.2.1. điện áp tần số\r\nrất thấp\r\n(VLF) (very low frequency (VLF) voltage)

\r\n\r\n

điện áp xoay chiều\r\ntần số rất thấp có dạng sóng ở giữa dạng hình chữ nhật và hình sin

\r\n\r\n

9.2.2. giá trị điện\r\náp thử nghiệm\r\n(value of the test voltage)

\r\n\r\n

giá trị đỉnh của điện áp VLF

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Ban kỹ\r\nthuật liên quan có thể yêu cầu đo giá trị hiệu dụng điện áp thử nghiệm\r\nthay cho giá trị đỉnh trong trường hợp giá trị hiệu dụng có thể đáng kể, ví dụ,\r\nkhi hiệu ứng vật lý ở cách điện phụ thuộc vào giá trị hiệu dụng.

\r\n\r\n

9.2.3. giá trị đỉnh (peak value)

\r\n\r\n

giá trị lớn nhất của\r\nđiện áp VLF bất kể dao động cao tần nhỏ

\r\n\r\n

9.2.4. giá trị hiệu\r\ndụng\r\n(r.m.s value)

\r\n\r\n

căn bậc hai giá trị\r\ntrung bình của bình phương các giá trị điện áp trong chu kỳ trọn vẹn của điện\r\náp xoay chiều

\r\n\r\n

(TCVN 6099-1:2007 (IEC\r\n60060-1:1989), thuật ngữ 15.3)

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 1: Với sóng\r\nhoàn toàn là hình sin, giá trị hiệu dụng là giá trị đỉnh chia cho căn bậc hai\r\ncủa 2.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH 2: Với sóng\r\nhoàn toàn là hình chữ nhật, giá trị hiệu dụng bằng giá trị đỉnh.

\r\n\r\n

9.3. Điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

9.3.1. Dạng sóng điện\r\náp

\r\n\r\n

Điện áp thử nghiệm\r\nnên là điện áp xoay chiều có tần số từ 0,01 Hz đến 1 Hz.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Với dải tần\r\nrộng, ban kỹ thuật liên quan cần qui định dải tần tuỳ thuộc vào hiệu ứng vật lý\r\nở đối tượng thử nghiệm, thời gian thử nghiệm và giá trị điện áp.

\r\n\r\n

Dạng điện áp VLF hình\r\nsin phải xấp xỉ hình sin ở cả hai nửa chu kỳ gần như nhau. Kết quả của thử\r\nnghiệm điện áp cao được xem là không bị ảnh hưởng bởi sai lệch nhỏ khỏi hình\r\nsin nếu tỷ số giữa giá trị đỉnh và giá trị hiệu dụng trong phạm vi  ± 5 %.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Nếu tỷ số\r\ngiữa giá trị đỉnh và giá trị hiệu dụng không nằm trong phạm vi  ± 5 %  thì cần phải chứng minh rằng\r\nđỉnh dương và đỉnh âm không chênh lệch quá 2 %.

\r\n\r\n

Dạng sóng điện áp VLF\r\nhình chữ nhật phải xấp xỉ sóng hình chữ nhật với hai nửa chu kỳ gần như nhau.\r\nThay đổi cực tính phải được điều chỉnh để tránh quá điện áp do quá độ gây ra.\r\nTỷ số giữa giá trị đỉnh và giá trị hiệu dụng phải trong phạm vi 1,0 ± 5\r\n%.

\r\n\r\n

9.3.2. Dung sai

\r\n\r\n

Giá trị điện áp thử nghiệm đo được phải nằm\r\ntrong phạm vi sai số ± 5 % giá trị qui định trừ khi có qui định khác của ban kỹ\r\nthuật liên quan.

\r\n\r\n

9.3.3. Tạo điện áp\r\nthử nghiệm

\r\n\r\n

Tạo điện áp VLF\r\nhình sin đạt được, ví dụ, bằng cách khống chế việc nạp điện dung vào đối\r\ntượng thử nghiệm từ nguồn dương và âm. Các điện trở điều chỉnh được phóng điện vào\r\nđối tượng thử nghiệm tương ứng.

\r\n\r\n

Tạo điện áp VLF\r\nhình chữ nhật cũng đạt được, ví dụ, dựa vào nguồn điện áp cao một chiều.\r\nPhát hiện đảo cực tính bằng chỉnh lưu đóng cắt được nối với mạch điện dao động\r\ncó chứa điện cảm và điện dung của tụ điện dự trữ và đối tượng thử nghiệm.

\r\n\r\n

Các yêu cầu được đáp\r\nứng nhờ nguồn điện áp phụ thuộc đáng kể vào loại thiết bị cần thử nghiệm và ở điều\r\nkiện thử nghiệm tại hiện trường. Các yêu cầu này được xác định chủ yếu bằng giá\r\ntrị và bản chất của dòng điện thử nghiệm cung cấp. Cần chọn nguồn có các đặc\r\ntính để đạt được điện áp danh định trên đối tượng thử nghiệm. Nguồn, kể cả điện\r\ndung dự trữ, cần đủ để cấp cho dòng điện rò và hấp thụ và dòng phóng điện không\r\nđánh thủng bên ngoài và bên trong mà không có điện áp rơi vượt quá 15 %.

\r\n\r\n

9.4. Đo điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

9.4.1. Đo bằng hệ\r\nthống đo được công nhận

\r\n\r\n

Việc đo điện áp thử\r\nnghiệm phải được thực hiện bằng hệ thống đo được công nhận đã qua các\r\nthử nghiệm và kiểm tra qui định trong điều 4. Hơn nữa, hệ thống đo phải có thời\r\ngian vận hành đủ cho thời gian thử nghiệm tại hiện trường.

\r\n\r\n

Phải tiến hành đo với\r\nđối tượng thử nghiệm ở trong mạch điện.

\r\n\r\n

9.4.2. Yêu cầu đối\r\nvới hệ thống đo được công nhận

\r\n\r\n

Yêu cầu chung là đo giá\r\ntrị đỉnh của điện áp thử nghiệm với độ không đảm bảo đo tổng là 5 %.

\r\n\r\n

9.4.3. Độ ổn định của\r\nhệ số thang đo

\r\n\r\n

Hệ số thang đo của hệ\r\nthống đo không được thay đổi quá ± 2 % đối với dải nhiệt độ khí quyển, độ ẩm và\r\nkhe hở không khí cho trong hồ sơ tính năng.

\r\n\r\n

9.4.4. Đáp ứng động

\r\n\r\n

Thời gian đáp ứng T_N\r\ncủa hệ thống đo được công nhận không được lớn hơn 0,5 ms. Đáp ứng động\r\ncủa hệ thống đo được xem là đủ nếu hệ số thang đo là hằng số trong phạm\r\nvi ± 2 % trong khoảng từ 0,5 đến 2 lần tần số của điện áp VLF.

\r\n\r\n

9.4.5. Đấu nối đến\r\nđối tượng thử nghiệm

\r\n\r\n

Thiết bị biến đổi\r\nphải được nối trực tiếp đến các đầu nối của đối tượng thử nghiệm.

\r\n\r\n

9.5. Thử nghiệm và\r\nkiểm tra trên hệ thống đo

\r\n\r\n

Thử nghiệm và kiểm\r\ntra phải được thực hiện theo điều 4 của tiêu chuẩn này.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Hệ thống đo\r\nđược công nhận với điện áp một chiều và xoay chiều cho thấy có đáp ứng tần số\r\nphẳng (trong phạm vi ± 2 %) trong khoảng tần số một chiều và tần số công nghiệp\r\nđược xem là hệ thống đo được công nhận đối với điện áp VLF.

\r\n\r\n

9.6. Qui trình thử nghiệm

\r\n\r\n

Qui trình thử nghiệm\r\nnên được qui định bởi ban kỹ thuật liên quan về dạng sóng, tần số thử nghiệm, giá\r\ntrị điện áp thử nghiệm và thời gian thử nghiệm.

\r\n\r\n

10.\r\nThử nghiệm bằng điện áp xoay chiều có làm nhụt

\r\n\r\n

10.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

Yêu cầu của điều này\r\nthích hợp với thử nghiệm đặc biệt.

\r\n\r\n

10.2. Định nghĩa đối\r\nvới thử nghiệm điện áp xoay chiều có làm nhụt

\r\n\r\n

10.2.1. điện áp xoay\r\nchiều có làm nhụt\r\n(damped alternating voltage)

\r\n\r\n

bắt đầu từ mức điện\r\náp nạp (âm hoặc dương) và có dao động hình sin tắt dần quanh mức\r\n"không". Điện áp này được đặc trưng bởi giá trị đỉnh, tần số mạch\r\nđiện và hệ số làm nhụt. Xem hình 5.

\r\n\r\n

10.2.2. giá trị điện\r\náp thử nghiệm\r\n(value of the test voltage)

\r\n\r\n

giá trị đỉnh

\r\n\r\n

10.2.3. giá trị đỉnh (peak value)

\r\n\r\n

U_p

\r\n\r\n

điện áp lớn nhất đặt\r\nlên đối tượng thử nghiệm bằng với điện áp nạp

\r\n\r\n

\r\n\r\n

Hình\r\n5 - Điện áp xoay chiều có làm nhụt (f_r = 1 kHz, D_f = 0,2)

\r\n\r\n

10.2.4. tần số mạch\r\nđiện\r\n(circuit frequency)

\r\n\r\n

f_r

\r\n\r\n

hàm số nghịch đảo của\r\nthời gian giữa hai đỉnh liên tiếp của cùng một cực tính

\r\n\r\n

10.2.5. hệ số làm\r\nnhụt\r\n(damping factor)

\r\n\r\n

D_f

\r\n\r\n

hiệu điện áp giữa\r\nđỉnh thứ nhất và đỉnh thứ hai của cùng một cực tính, chia cho giá trị điện áp\r\ncủa đỉnh thứ nhất

\r\n\r\n

10.3. Thử nghiệm điện\r\náp

\r\n\r\n

10.3.1. Dạng sóng\r\nđiện áp

\r\n\r\n

Điện áp xoay chiều có\r\nlàm nhụt được đặc trưng bởi tần số mạch điện từ 20 Hz đến 1 000 Hz và hệ\r\nsố làm nhụt thông thường trong phạm vi đến 40 %.

\r\n\r\n

10.3.2. Dung sai

\r\n\r\n

Giá trị điện áp thử nghiệm đo được phải trong phạm\r\nvi ± 5 % giá trị qui định trừ khi có qui định khác của ban kỹ thuật liên quan.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Giới hạn\r\nđối với tần số mạch điện chấp nhận được và hệ số làm nhụt được\r\nnêu ở 10.3.1, không

\r\n\r\n

được có thêm dung sai\r\nkhác.

\r\n\r\n

10.3.3. Tạo điện áp\r\nthử nghiệm

\r\n\r\n

Điện áp xoay chiều có\r\nlàm nhụt được tạo bằng cách cho điện tích nạp trong điện dung của đối tượng thử\r\nnghiệm phóng qua một điện cảm thích hợp. Mạch điện thử nghiệm về cơ bản bao gồm\r\nnguồn điện áp một chiều HV, cuộn cảm, tụ điện và công tắc thích hợp. Khi đạt\r\nđến điện áp nạp, công tắc sẽ đóng lại tạo ra trên đối tượng thử nghiệm điện áp\r\nxoay chiều có làm nhụt.

\r\n\r\n

Tần số mạch điện được\r\nxác định bởi giá trị điện cảm và điện dung. Để giảm ảnh hưởng của điện dung của\r\nđối tượng thử nghiệm ở tần số mạch điện, có thể cần nối một tụ điện dữ trữ bổ\r\nsung song song với đối tượng thử nghiệm. Hệ số làm nhụt phụ thuộc vào đặc trưng\r\ncủa mạch điện thử nghiệm và đối tượng thử nghiệm.

\r\n\r\n

10.4. Đo điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

10.4.1. Đo bằng hệ\r\nthống đo được công nhận

\r\n\r\n

Phải thực hiện đo giá\r\ntrị đỉnh bằng hệ thống đo được công nhận đã qua thử nghiệm và kiểm tra\r\nqui định ở điều 4. Ngoài ra, hệ thống phải có tốc độ đặt lớn nhất để đặt\r\nđủ số lượng thử nghiệm với thử nghiệm tại hiện trường.

\r\n\r\n

Phải thực hiện phép\r\nđo với đối tượng thử nghiệm nằm trong mạch điện và, nói chung, tần số mạch điện\r\nf_r và hệ số làm nhụt D_f cần được đo cho từng\r\nđối tượng thử nghiệm.

\r\n\r\n

CHÚ THÍCH: Xác định tần\r\nsố mạch điện f_r và hệ số làm nhụt D_f bằng cách\r\ntính từ tham số mạch điện không được xem là thỏa mãn.

\r\n\r\n

10.4.2. Yêu cầu đối\r\nvới hệ thống đo được công nhận

\r\n\r\n

Yêu cầu chung như\r\nsau:

\r\n\r\n

- đo giá trị đỉnh của\r\nđiện áp thử nghiệm trong phạm vi dải tần có độ không đảm bảo đo tổng là 5 %;

\r\n\r\n

- đo tần số mạch điện\r\nf_r và hệ số làm nhụt D_f có độ không đảm bảo đo là 10 %.

\r\n\r\n

10.4.3. Độ ổn định\r\ncủa hệ số thang đo

\r\n\r\n

Hệ số thang đo của hệ\r\nthống đo phải không sai lệch quá ± 2 % trong phạm vi nhiệt độ, độ ẩm khí quyển\r\nvà khe hở không khí cho trong hồ sơ tính năng.

\r\n\r\n

10.4.4. Đáp ứng động

\r\n\r\n

Đáp ứng động của hệ\r\nthống đo được xem là đủ để đo điện áp đỉnh và tham số thời gian nếu hệ số\r\nthang đo là hằng số trong phạm vi ± 2 % với dải tần từ DC đến 1 000 Hz.

\r\n\r\n

Trong trường hợp hệ\r\nthống đo được sử dụng riêng cho hệ thống thử nghiệm với tần số mạch điện\r\nf_r tối đa nhỏ hơn 1 000 Hz, đáp ứng động của hệ thống đo được\r\nxem là đủ đối với phép đo điện áp đỉnh và tham số thời gian nếu hệ số thang đo\r\nlà hằng số trong phạm vi ± 2 % trong dải tần từ DC đến tần số mạch điện f_r\r\ntối đa thực.

\r\n\r\n

10.4.5. Đấu nối đến\r\nđối tượng thử nghiệm

\r\n\r\n

Thiết bị biến đổi\r\nphải được nối trực tiếp đến đầu nối của đối tượng thử nghiệm.

\r\n\r\n

10.5. Thử nghiệm và\r\nkiểm tra hệ thống đo

\r\n\r\n

10.5.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

Thử nghiệm và kiểm\r\ntra phải được tiến hành theo điều 4 của tiêu chuẩn này.

\r\n\r\n

10.5.2. Kiểm tra\r\nnhiễu

\r\n\r\n

Kiểm tra nhiễu phải\r\nđược thử nghiệm ở hiện trường trên từng hệ thống đo (điện áp hoặc dòng điện)\r\nvới đầu nối vào của cáp hoặc hệ thống truyền dẫn khác nối tắt mà không thay đổi\r\nđầu nối đất của cáp hoặc hệ thống truyền dẫn. Điều kiện nhiễu tại đầu vào của hệ\r\nthống đo điện áp phải được tạo ra bằng cách phát điện áp thử nghiệm lớn\r\nnhất. Ghi lại giá trị ra. Biên độ của nhiễu đo được phải nhỏ hơn 2 % giá trị đầu\r\nra của hệ thống đo khi đo điện áp. Cho phép nhiễu lớn hơn 2 % với điều\r\nkiện là điều này không ảnh hưởng đến phép đo.

\r\n\r\n

10.6. Qui trình thử nghiệm

\r\n\r\n

Qui trình khuyến cáo\r\ncho các thử nghiệm này cần được ban kỹ thuật liên quan qui định mà có thể xác định\r\ntiêu chí chấp nhận được cho thiết bị điện áp cao liên quan.

\r\n\r\n

 

\r\n\r\n

MỤC\r\nLỤC

\r\n\r\n

Lời nói đầu

\r\n\r\n

1. Phạm vi áp dụng

\r\n\r\n

2. Tài liệu viện dẫn

\r\n\r\n

3. Thuật ngữ và định\r\nnghĩa

\r\n\r\n

4. Thử nghiệm và kiểm\r\ntra thông thường trên hệ thống đo

\r\n\r\n

4.1. Thử nghiệm chấp\r\nnhận

\r\n\r\n

4.2. Thử nghiệm tính\r\nnăng

\r\n\r\n

4.3. Kiểm tra tính\r\nnăng

\r\n\r\n

4.4. Hồ sơ tính năng

\r\n\r\n

5. Thử nghiệm bằng điện\r\náp một chiều

\r\n\r\n

5.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

5.2. Định nghĩa đối với\r\nthử nghiệm điện áp một chiều

\r\n\r\n

5.3. Điện áp thử\r\nnghiệm

\r\n\r\n

5.4. Đo điện áp thử\r\nnghiệm .

\r\n\r\n

5.5. Thử nghiệm và\r\nkiểm tra trên hệ thống đo

\r\n\r\n

5.6. Qui trình thử\r\nnghiệm điện áp chịu thử

\r\n\r\n

6. Thử nghiệm bằng điện\r\náp xoay chiều

\r\n\r\n

6.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

6.2. Định nghĩa đối\r\nvới thử nghiệm điện áp xoay chiều

\r\n\r\n

6.3. Điện áp thử\r\nnghiệm

\r\n\r\n

6.4. Đo điện áp thử\r\nnghiệm

\r\n\r\n

6.5. Thử nghiệm và\r\nkiểm tra trên hệ thống đo

\r\n\r\n

6.6. Qui trình thử\r\nnghiệm điện áp chịu thử

\r\n\r\n

7. Thử nghiệm bằng điện\r\náp xung sét

\r\n\r\n

7.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

7.2. Định nghĩa đối với\r\nthử nghiệm điện áp xung sét

\r\n\r\n

7.3. Điện áp thử\r\nnghiệm

\r\n\r\n

7.4. Đo điện áp thử\r\nnghiệm và xác định dạng điện áp xung

\r\n\r\n

7.5. Thử nghiệm và\r\nkiểm tra trên hệ thống đo

\r\n\r\n

7.6. Qui trình thử\r\nnghiệm điện áp chịu thử

\r\n\r\n

8. Thử nghiệm bằng\r\nđiện áp xung đóng cắt

\r\n\r\n

8.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

8.2. Định nghĩa đối\r\nvới thử nghiệm điện áp xung đóng cắt

\r\n\r\n

8.3. Điện áp thử\r\nnghiệm

\r\n\r\n

8.4. Đo điện áp thử\r\nnghiệm và xác định dạng điện áp xung

\r\n\r\n

8.5. Thử nghiệm và\r\nkiểm tra trên hệ thống đo

\r\n\r\n

8.6. Qui trình thử\r\nnghiệm điện áp chịu thử

\r\n\r\n

9. Thử nghiệm bằng điện\r\náp tần số rất thấp

\r\n\r\n

9.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

9.2. Định nghĩa đối\r\nvới thử nghiệm điện áp tần số rất thấp

\r\n\r\n

9.3. Điện áp thử\r\nnghiệm

\r\n\r\n

9.4. Đo điện áp thử nghiệm

\r\n\r\n

9.5. Thử nghiệm và\r\nkiểm tra trên hệ thống đo

\r\n\r\n

9.6. Qui trình thử\r\nnghiệm

\r\n\r\n

10. Thử nghiệm bằng điện\r\náp xoay chiều có làm nhụt

\r\n\r\n

10.1. Yêu cầu chung

\r\n\r\n

10.2. Định nghĩa đối\r\nvới thử nghiệm điện áp xoay chiều có làm nhụt

\r\n\r\n

10.3. Điện áp thử\r\nnghiệm

\r\n\r\n

10.4. Đo điện áp thử\r\nnghiệm

\r\n\r\n

10.5. Thử nghiệm và\r\nkiểm tra trên hệ thống đo

\r\n\r\n

10.6. Qui trình thử\r\nnghiệm

\r\n\r\n

Các hình vẽ

\r\n\r\n

Hình 1 - Xung sét\r\nkhông theo chu kỳ

\r\n\r\n

Hình 2 - Xung sét\r\ntheo chu kỳ

\r\n\r\n

Hình 3 - Xung đóng\r\ncắt không theo chu kỳ

\r\n\r\n

Hình 4 - Xung đóng\r\ncắt theo chu kỳ

\r\n\r\n

Hình 5 - Điện áp xoay\r\nchiều có làm nhụt (f_r = 1 kHz, D_f = 0,2)

\r\n\r\n