L
TCVN 6099-2 : 2007\r\nthay thế TCVN 6099-3 : 1996 và TCVN 6099-4\r\n:1996;
\r\n\r\nTCVN 6099-2 : 2007\r\nhoàn toàn tương đương với tiêu chuẩn IEC 60060-2 : 1994 và sửa\r\nđổi 1 : 1996;
\r\n\r\nTCVN 6099-2 : 2007 do\r\nBan kỹ thuật tiêu chuẩn TCVN/TC/E1 Máy điện khí cụ điện biên soạn, Tổng\r\ncục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Tiêu chuẩn này áp\r\ndụng cho hệ thống đo hoàn chỉnh và các
Giới hạn về độ không\r\nđảm bảo đo qui định trong tiêu chuẩn này áp dụng cho các mức thử nghiệm qui\r\nđịnh trong IEC 60071-1. Các nguyên tắc của tiêu chuẩn này cũng áp
Tiêu chuẩn này:
\r\n\r\n- định\r\nnghĩa các thuật ngữ được sử dụng;
\r\n\r\n- đưa\r\nra các yêu cầu mà hệ thống đo phải thỏa mãn;
\r\n\r\n- mô t
- mô\r\ntả qui trình mà qua đó người sử dụng sẽ chứng tỏ rằng hệ thống đo thỏa mãn các\r\nyêu cầu của tiêu chuẩn này.
\r\n\r\n\r\n\r\nCác tài liệu viện dẫn\r\nsau đây là cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn. Đối với các tài liệu ghi năm\r\nban hành thì áp dụng các bản được nêu. Đối với các tài liệu kh
TCVN 6099-1 (IEC\r\n60060-1), Kỹ thuật thử nghiệm điện áp\r\ncao – Phần 1: Định nghĩa chung và yêu cầu thử\r\nnghiệm
\r\n\r\nIEC 60050 (301, 302,\r\n303):1983, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Chapter 301:\r\nGeneral terms on measurements in electricity; Chapter 302: Electrical measuring\r\nInstruments: Chapter 303: Electronic measuring i
IEC 60050(321) :\r\n1986, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Chapter 321: Instrument\r\ntransformers (Từ vựng kỹ thuật điện quốc tế -\r\nChương 321: Máy biến áp đo lường)
\r\n\r\nIEC 60051, Direct\r\nacting indicating analogue electrical-measuring i
IEC 60052 : 2002, Voltage\r\nmeasurement by means of standard air gaps (Phép đo điện áp bằng\r\nkhe hở không khí tiêu chuẩn)
\r\n\r\nIEC 60071-1 : 2006,
IEC 790 : 1984,\r\nOscilloscopes and peak voltmeters for impulse tests (Máy hiện sóng và vôn mét\r\nđỉnh dùng cho thử nghiệm xung)
IEC 60833 : 1987,\r\nMeasurement of power-frequency electric fields\r\n(Phép đo trường điện tần số công nghiệp)
\r\n\r\nIEC 61083-1 : 2001,\r\nInstruments and software used for measurement in high-voltage impulse tests -\r\nPart 1: Requirements for instruments (Dụng cụ đo và phần mềm dùng\r\ncho các phép đo trong thử nghiệm xung điện áp cao - Phần 1: Yêu cầu đối với\r\ndụng cụ đo)
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này áp d
3.1.1
\r\n\r\nhệ thống đo
tập hợp hoàn chỉnh\r\ncác thiết bị thích hợp để thực hiện phép đo\r\nđiện áp cao hoặc dòng điện xung
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Hệ thống\r\nđo thường có các thành phần sau: thiết bị biến\r\nđổi có dây dẫn cần thiết để nối thiết bị này với đối tượng thử nghiệm hoặc để\r\nnối vào mạch dòng điện và các mối nối đất, hệ th
CHÚ TH
3.1.2
\r\n\r\nhồ sơ tính năng của\r\nhệ thống đo (record of performance\r\nof a measuring system) hồ sơ chi tiết, do người sử dụng lập, mô tả hệ thống và\r\ncó bằng chứng là đáp ứng các yêu cầu nêu trong tiêu chuẩn này. Bằng chứng này\r\nphải bao gồm các kết quả của thử nghiệm tính năng ban đầu và chương trình cũng\r\nnhư các kết quả của từng thử nghiệm tính\r\nnăng và kiểm tra tính năng tiếp theo
\r\n\r\n3.1.3
\r\n\r\nhệ thống
hệ thống đo chứng tỏ\r\nphù hợp với một hoặc nhiều tập hợp các yêu cầu\r\nđặt ra trong tiêu chuẩn này thông qua:
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm tính năng ban đầu;
\r\n\r\n- các\r\nkiểm tra tính năng và thử nghiệm tính năng tiếp theo;
\r\n\r\n- tập\r\nhợp các kết quả của các thử nghiệm này trong hồ sơ tính năng.
\r\n\r\nHệ thống chỉ được\r\nchấp nhận cho các cách bố trí\r\nvà điều kiện làm việc nêu trong hồ sơ\r\ntính năng của hệ thống.
\r\n\r\n3.1.4.
\r\n\r\nhệ thống đo chuẩn
hệ thống đo có đủ độ\r\nchính xác và tính ổn định để sử dụng vào việc chấp nhận các hệ thống khác bằng\r\ncách thực hiện các phép đo so sánh đồng\r\nthời với các loại dạng sóng và dãy điện áp hoặc dòng\r\nđiện cụ thể
\r\n\r\nCH
3.1.5
\r\n\r\nthiết b
thiết bị có thể sử d
3.2.1
\r\n\r\nthiết bị biến đổi
thiết bị dùng để biến\r\nđổi đại lượng đo thành đại lượng khác, tương thích với dụng cụ ghi hoặc chỉ thị
\r\n\r\n3.2.2
\r\n\r\nbộ phân áp
thiết bị biến đổi gồm\r\nmột nhánh điện áp cao và một nhánh điện áp thấp\r\nsao cho điện áp đầu vào được đặt
CHÚ THÍCH: Các phần\r\ntử của hai nhánh thường là\r\ncác điện trở hoặc tụ điện hoặc kết\r\nhợp cả hai\r\nvà thiết bị được mô tả theo loại và cách bố trí của các ph
3.2.3
\r\n\r\nmáy biến điện áp
máy biến áp giảm áp\r\ntheo nấc dùng cho phép đo các tham số điện áp cao xoay chiều [IEV 321-03-01,\r\nsửa đổi]
\r\n\r\n3.2.4
\r\n\r\ntrở kháng do
3.2.5
\r\n\r\nsun đo dòng điện
điện trở qua đó điện\r\náp tỷ lệ với dòng điện cần đo [IEV 321-06-05, sửa đổi]
\r\n\r\n3.2.6
\r\n\r\nthiết bị đo dòng có\r\nbù (compensated current-measuring device) thiết bị đo dòng điện\r\ncó mạch điện bù
\r\n\r\n3.2.7
\r\n\r\nmáy biến dòng điện
m
CHÚ THÍCH: Cuộn dây\r\nRogowski sử dụng với mạch tích hợp l
3.2.8
\r\n\r\nĐ
thiết bị biến đổi d
CHÚ TH
tập hợp các thiết bị\r\ntruyền tín hiệu đầu ra của thiết bị biến đổi đến dụng cụ\r\nchỉ thị và/hoặc dụng
CHÚ TH
CHÚ THÍCH 2: Hệ thống\r\ntruyền dẫn có thể nằm một phần hoặc hoàn toàn trong thiết b
thiết bị được thiết\r\nkế để hiển thị hoặc cung cấp hồ sơ về giá trị của đại lượng đo hoặc giá trị\r\nliên quan [lEV 301-02-11 và 12, sửa đổi]
\r\n\r\n\r\n\r\n3.5.1
\r\n\r\nhệ số thang đo của hệ\r\nthống đo (scale factor of a measuring\r\nsystem)
\r\n\r\nhệ số khi nhân với gi
CHÚ THÍCH 1: Hệ thống\r\nđo có thể có nhiều\r\nhơn một hệ số thang đo, ví dụ, hệ thống có thể có các hệ s
CH
3.5.2
\r\n\r\nhệ
hệ số khi nhân với\r\nđầu ra của thiết bị biến đổi sẽ thu được đại lượng đầu vào của thiết bị
\r\n\r\nCHÚ TH
3.5.3
\r\n\r\nhệ số thang đo của hệ\r\nthống truyền dẫn (scale f
hệ số khi nhân với\r\nđầu ra của hệ thống truyền dẫn sẽ thu được đại lượng đầu vào của hệ thống
\r\n\r\n3.5.4
\r\n\r\nhệ số thang đo của\r\ndụng cụ ghi hoặc chỉ thị (scale
3.5.5
\r\n\r\nhệ số thang đo ấn\r\nđịnh (assigned scale factor)
\r\n\r\nhệ số thang đo của hệ\r\nthống đo xác định được ở thử nghiệm tính năng mới nhất
\r\n\r\nCH
3.6.1
\r\n\r\nmốc danh nghĩa
dãy giá trị từ nhỏ\r\nnhất (tmin) đến lớn nhất\r\n(tmax)
th
thời gian đến thời\r\nđiểm cắt Tc đối với xung cắt ở đầu\r\nsóng
\r\n\r\nthời gian tới đỉnh Tp
CH
- đối\r\nvới xung sét toàn sóng có hệ s
- đố
- đối\r\nvới xung đóng cắt có hệ số thang đo ấn định\r\nF3 trên mốc danh nghĩa
CH
3.6.2
\r\n\r\nđáp tuyến G của hệ\r\nthống đo (response of a measuring system G)
\r\n\r\nđ
3.6.3
\r\n\r\nđáp tuyến biên độ/tần\r\nsố G(f) (amplitude/
tỷ số giữa đầu ra và\r\nđầu vào của hệ thống đo là hàm số của tần số f, khi đầu vào
3.6.4
\r\n\r\nđáp tuyến bậc thang\r\nG(t)\r\n(step response G(t))
\r\n\r\nđ
3.7.1
\r\n\r\ntham số đáp tuy
tham số được rút ra\r\ntừ đáp tuyến biên độ/tần số đo được hoặc đáp tuyến bậc thang đo được bằng cách\r\náp dụng qui trình qui định
\r\n\r\n3.7.2
\r\n\r\ntần số g
giới hạn trên và giới\r\nhạn dưới của dải mà trong phạm vi đó đáp tuyến biên độ/tần số gần như kh
3.7.3
\r\n\r\nmức chuẩn
giá trị trung bình\r\ncủa đáp tuyến bậc thang lấy từ mốc danh nghĩa (xem\r\nhình 2)
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Hệ thống\r\nđo có thể có nhiều hơn một mức chuẩn, ví dụ, h
3.7.4
\r\n\r\nđiểm gốc giả định
điểm giao nhau với\r\ntrục thời gian của đường thẳng vẽ tiếp tuyến với\r\nphần dốc nhất của đầu sóng của đáp tuyến bậc thang. Trong trường hợp đáp tuyến\r\ncó các dao động trên đầu sóng, qua các dao động vẽ một đường cong trung bình và\r\nsử dụng để xác định đường tiếp tuyến. Bỏ qua méo ban đầu\r\nbất kỳ khi vẽ đường tiếp tuyến (xem hình 3a)
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Tất cả\r\ncác giá trị thời gian đều được đo từ điểm gốc giả định
CH
3.7.5
\r\n\r\nđáp tuyến bậc thang\r\nchuẩn hóa g(t)\r\n(normalized step response g(t))
\r\n\r\nđáp tuyến bậc thang\r\nđược chuẩn hóa sao cho mức chuẩn là một
\r\n\r\nCH
3.7.6
\r\n\r\ntích ph
tích phân từ
3.7.7
\r\n\r\nthời gian đáp ứng\r\nthực nghiệm TN (experimental response time\r\nTN)
\r\n\r\ngiá trị của tích phân\r\nđáp tuyến bậc thang ở tmax (xem 3.6.1):
\r\n\r\n3.7.8
\r\n\r\nthời gian đáp ứng\r\ntừng phần Ta (partial response time T
giá trị lớn nhất của\r\ntích phân đáp tuyến bậc thang (xem hình 3b)
\r\n\r\nCH
3.7.9
\r\n\r\nthời gian đáp ứng dư
thời gian đáp tuyến\r\nthực nghiệm trừ đi giá trị của tích phân đáp t
3.7.10
\r\n\r\nvượt quá
lượng mà giá trị l
3.7.11
\r\n\r\nthời gian méo ban
vùng được giới hạn\r\nbởi đường thẳng “kh
3.7.12
\r\n\r\nthời gian đi xuống
thời gian ngắn nhất\r\nđạt đến thời gian đáp ứng dư TR
đối v
3.7.13
\r\n\r\nthời gian tương đư
thông số thời gian\r\ncủa dạng sóng hiệu chuẩn mà:
\r\n\r\n- đối\r\nvới điện một chiều TE
- đối\r\nvới điện xoay chiều TE bằng một phần tư thời gian,
\r\n\r\n- đối\r\nvới xung TE
ước lượng đặc trưng\r\ncho dãy giá trị quanh kết quả của phép đo mà giá trị thực của đại lượng đo có\r\nthể nằm trong phạm vi đó; đây là kết hợp của nhiều độ không đảm bảo đo riêng rẽ\r\ndo sự có mặt của nhiều đại lượng gây ảnh hưởng
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Trong tiêu\r\nchuẩn này giả định rằng hầu hết các nguồn không\r\nđảm bảo đo được coi là có tính ngẫu\r\nnhiên và có thể được coi là độc lập;
trong đó e và\r\ntừng ei được biểu diễn
3.9.1
\r\n\r\nđiện áp đo danh định\r\nhoặc dòng điện đo danh định
mức lớn nhất của điện\r\náp hoặc dòng điện có tần số hoặc dạng sóng qui định, tại đó có thể sử d
3.9.2
\r\n\r\ndãy điện áp hoặc dòng\r\nđiện làm việc
dãy điện
CH
3.9.3
\r\n\r\nthời gian
thời gian trong đó có\r\nthể vận hành hệ thống đo ở điện áp đo danh định của hệ thống trong phạm vi giới\r\nhạn độ không đảm bảo đo nêu trong tiêu chuẩn này
\r\n\r\n3.9.4
\r\n\r\ntốc độ đặt lớn nhất (đối\r\nvới xung)
3.10.1
\r\n\r\nthử nghiệm chấp nhận
thử nghiệm trên thiết\r\nbị hoặc hệ thống đo trước khi chấp nhận để sử dụng. Thử nghiệm chấp nhận bao\r\ngồm thử nghiệm điển hình (thực hiện trên thiết bị có cùng thiết kế) và thử\r\nnghiệm thường xuyên (thực hiện trên mọi thiết bị) để đánh giá các đặc tính\r\nriêng, ví dụ, phép đo hệ số nhiệt độ của phần tử, thử nghiệm chịu thử, v.v...\r\nNgoài ra, thử nghiệm chấp nhận trên hệ thống đo còn bao gồm cả thử nghiệm tính\r\nnăng đầu tiên
\r\n\r\n3.10.2
\r\n\r\nthử nghiệm tính năng
thử nghiệm trên hệ\r\nthống đo hoàn chỉnh để mô tả hệ thống trong các đi
3.10.3
\r\n\r\nkiểm tra tính năng
qui trình đơn giản để\r\nđảm bảo rằng thử nghiệm tính năng gần nhất\r\nvẫn còn hiệu lực
\r\n\r\n3.10.4
\r\n\r\nhồ sơ tham chiếu
hồ sơ được lập trong\r\ncác điều kiện qui định trong thử nghiệm tính nă
Hệ thống đo được công\r\nnhận cần phải trải qua các thử nghiệm chấp nhận và sau đó là các thử nghiệm và\r\nkiểm tra trong suốt thời gian phục vụ của hệ thống.
\r\n\r\nThông thường, cần có:
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm chấp nhận trên các thành phần của hệ thống (ch
- thử\r\nnghiệm tính năng trên hệ thống (định kỳ, xem 4.2),
\r\n\r\n- kiểm\r\ntra tính năng trên hệ thống (định kỳ, xem 4.3).
\r\n\r\nYêu c
Hệ số thang đo được\r\nxác định trong thử nghiệm tính năng.
\r\n\r\nCơ s
Các quốc gia lựa chọn\r\nchấp nhận các qui trình công nhận để có được khả năng truy tìm\r\nnguồn gốc được chứng nhận khi áp dụng tiêu chuẩn này phải thỏa mãn các yêu cầu\r\nnêu trong phụ lục A. Phụ lục A không áp dụng cho những\r\nnước không chọn áp dụng các qui trình công\r\nnhận.
\r\n\r\nBảng tổng hợp các thử\r\nnghiệm cần tiến hành trên từng loại hệ thống đo được cho trong phụ lục F.
\r\n\r\nĐể duy trì chất
Phải thực hiện thử\r\nnghiệm tính năng sau các sửa chữa lớn của hệ thống đo và bất cứ khi nào cần sử\r\ndụng bố trí mạch điện vượt xa các giới hạn\r\ncho trước trong hồ sơ tính năng.
\r\n\r\nKhi thử nghiệm tính\r\nnăng được yêu cầu do việc kiểm tra tính năng\r\ncho thấy là hệ số thang đo ấn định có thay đổi đáng kể, nguyên nhân của thay\r\nđổi này phải được nghiên cứu trước khi thực hiện thử nghiệm tính năng.
\r\n\r\nKiểm tra tính năng\r\nphải được thực hiện tại các khoảng thời gian dựa\r\ntrên tính ổn định ghi được của hệ thống đo như thể hiện trong hồ sơ tính năng.
\r\n\r\nKiểm tra tính năng\r\nban đầu phải được thực hiện
Kiểm tra tính năng\r\nnhư mô tả trong 7.4, 8.4, 9.4, 10.4 và 11.4.
\r\n\r\nKhông có phương pháp\r\nchuẩn đối với kiểm tra tính năng do độ chính\r\nxác yêu cầu thấp hơn so với yêu cầu đối với thử nghiệm tính năng: người sử dụng\r\nđòi hỏi độ chính xác cao hơn c
4.4.1. Nội\r\ndung hồ sơ tính năng
\r\n\r\nKết quả của tất cả\r\ncác thử nghiệm và kiểm tra với các điều kiện trong đó thu được các kết quả này\r\nphải được lưu trong hồ sơ tính năng\r\ndo người sử dụng lập và duy trì.
\r\n\r\nĐề cương của hồ sơ tính\r\nnăng được cho trong 4.4.3, dạng đầy đủ\r\ncủa hồ sơ tính năng khuyến cáo được cho trong phụ lục B (tham khảo), điều B.1\r\nđến B.6 và mẫu tối thiểu được cho trong điều B.7.
\r\n\r\n4.4.2. Ngoại\r\nlệ
\r\n\r\nTrong trường hợp\r\nthiết bị được chế tạo trước ngày ban hành tiêu chuẩn này, nếu không có sẵn bằng\r\nchứng yêu cầu trong một số thử nghiệm chấp nhận (v
Hệ thống đo được công\r\nnhận gồm nhiều mẫu thiết bị sử dụng đổi lẫn,\r\ncó thể đề cập trong một hồ sơ tính năng bao gồm cả các kết hợp có thể với lượng\r\nnhân đôi ít nhất. Đặc biệt, từng thiết bị biến đổi phải được lưu riêng nhưng hệ\r\nthống truyền dẫn và trang thiết bị có thể được lưu\r\nchung sao cho có thể chỉ ra dãy chiều dài cáp hoặc công cụ tương tự thỏa mãn\r\ncác yêu cầu của
4.4.3. Đ
Khuy
Chương A: M
Chương B: Kết quả của\r\nthử nghiệm chấp nhận trên thiết bị biến đổi, hệ thống truyền\r\ndẫn và dụng cụ đo (xem điều B.3)
\r\n\r\nChương C: Kết quả của\r\nthử nghiệm thường xuyên trên hệ thống đo, khi hoàn thành (xem điều B.4)
\r\n\r\nChương D: Kết quả của\r\nthử nghiệm tính năng trên hệ thống đo (xem điều B.5)
\r\n\r\nChương E: Kết qu
Các chương liên tiếp\r\nđược phân định bằng chữ số thông thường khi cần (ví dụ,\r\nchương A1 là mô tả chung đầu tiên của hệ thống, Chương A2 là mô tả về hệ thống\r\nsau khi có thay đổi đáng kể đầu tiên, v.v..., Chương D1 thử nghiệm tính năng\r\nban đầu của hệ thống, Chương D2 thử nghiệm thứ\r\nhai, v.v... nhưng Chương B và Chương C\r\nkhông cần thiết phải lặp lại). Thông tin chi tiết xem phụ lục B.
\r\n\r\nHệ số thang đo ấn\r\nđịnh cần sử dụng phải là hệ số xác định ở thử\r\nnghiệm tính năng mới nhất và phải được điền vào cuối\r\nChương D.
\r\n\r\n\r\n\r\nHệ thống đo được công\r\nnhận về điện áp phải được nối trực tiếp với các đầu nối của đối tượng thử\r\nnghiệm. Việc ghép ký sinh giữa mạch thử nghiệm và mạch đo cần
Hệ thống đo được công\r\nnhận về dòng điện phải được mắc nối tiếp với đối tượng thử nghiệm.
\r\n\r\nHệ thống đo được công\r\nnhận thường được thiết kế để làm việc trong phạm vi gi
Nếu không có qui định\r\nnào khác, hệ thống đo dùng cho điện áp một chiều và xoay chi
Nếu không có qui định\r\nnào khác, tốc độ đặt lớn nhất đối với hệ thống đo dùng cho xung phải là hai lần\r\nđặt trên một phút.
\r\n\r\n5.1.
Các thử nghiệm mô tả\r\ntrong điều này cần thiết đối với các thành phần của hệ thống đo. Tuy nhiên,\r\nkhông yêu cầu các thử nghiệm này đối với hệ thống truyền dẫn ch
Đối với một số thử\r\nnghiệm mô tả trong điều này, cần phải có thành phần trong hệ thống đo th
5.2.
Việc xác định hệ số\r\nthang đo của một thành phần có thể được thực hiện\r\nbằng một trong các phương pháp sau đây:
\r\n\r\n- đo\r\nđồng thời các đại lượng đầu vào và đầu ra của thành phần đó;
\r\n\r\n- phương\r\npháp bắc cầu;
\r\n\r\n- t
Hệ s
5.3.
Giá trị hệ số thang\r\nđo của hệ thống đo phải được đo ở điện áp (hoặc dòng điện) nh
Phương pháp chuẩn là\r\nso sánh với hệ thống đo chuẩn theo 6.2 a).
\r\n\r\nCác phương pháp thay\r\nthế:
\r\n\r\n- so\r\nsánh với hệ thống đo được công nhận mà tính tuyến tính được thiết lập bằng\r\nphương pháp chuẩn,
\r\n\r\n- hoặc\r\nmột trong các phương pháp bổ sung mô tả trong các đi
Các phương pháp bổ\r\nsung này được cung cấp để cho phép người sử dụng có các thử nghiệm thay thế\r\ntiết kiệm hơn. Tuy nhiên, việc không thỏa mãn yêu cầu của các thử nghiệm này\r\nkhông nhất thiết chứng tỏ rằng hệ thống đo là không
Trong trường hợp như\r\nvậy, phải sử dụng phương pháp chuẩn hoặc phương pháp so sánh v
5.4.
Phải đặt lên thiết bị\r\ntoàn bộ điện áp hoặc dòng điện danh định một cách liên tục (hoặc trong trường\r\nhợp xung thì đặt ở tốc độ lớn nhất) trong một khoảng thời gian thích hợp v
Phải đo hệ số thang\r\nđo trước và ngay (trong vòng 10 min)\r\nsau khi đặt điện áp hoặc dòng điện. Hai giá trị này không được chênh lệch quá 1\r\n%.
\r\n\r\n5.5.
Đặc tính
Các đặc tính này có\r\nthể được lấy từ dữ liệu của nhà chế tạo hoặc được chứng minh\r\nbằng các thử nghiệm tính năng liên tiếp.
\r\n\r\n5.6.
Các thay đổi của hệ số\r\nthang đo hoặc thông số (ví dụ như điện trở hoặc điện dung) của\r\nthiết bị do thay đổi nhiệt độ môi trường\r\nđược xác định bằng tính toán sử dụng hệ số nhiệt độ của các phần tử đơn lẻ hoặc\r\nbằng cách thực hiện phép đo ở các nhiệt độ khác nhau.
\r\n\r\nCác hệ số nhiệt độ\r\nphải được liệt kê trong hồ sơ tính năng và có thể\r\nlấy từ dữ liệu của nhà chế tạo.
\r\n\r\nCó thể sử dụng hệ số\r\nhiệu chỉnh nhiệt độ trong trường hợp nhiệt độ môi trường biến thiên trong dải\r\nrộng. Việc hiệu chỉnh nhiệt độ bất kỳ được sử dụng phải được liệt kê trong hồ sơ\r\ntính năng.
\r\n\r\nTrong từng trường\r\nhợp, phải chứng tỏ rằng hệ số thang đo nằm trong phạm vi 1 %, có tính đến hiệu\r\nchỉnh nhiệt độ bất kỳ (xem phụ lục D).
\r\n\r\n5.7.
Các thay đổi của hệ\r\nsố thang đo hoặc thông số của thiết bị, do các ảnh hư
Đối với mỗi dãy\r\nkhoảng cách được liệt kê trong hồ sơ tính năng, phải chứng tỏ rằng hệ
Đối với phép đo dòng\r\nđiện, có thể xác định ảnh hưởng của các tuyến ngoài tâm (khi có liên quan) và
CHÚ THÍCH: Một số cơ\r\nsở thử nghiệm có thể chọn để công nhận hệ\r\nthống đo của mình chỉ đối v
5.8.
Đáp tuyến của một\r\nthành phần phải được xác định khi hệ thống đo đại diện cho các đi
5.8.1. Xác\r\nđịnh đáp tuyến biên độ/tần số
\r\n\r\nCho hệ thống chịu đầu\r\nvào hình sin có biên độ cho trước, thường là ở mức thấp, v
5.8.2. Xác\r\nđịnh đáp tuyến bậc thang
\r\n\r\nCho hệ thống chịu\r\nđiện áp hoặc dòng điện bậc thang và đo đầu ra của hệ thống (xem phụ lục C).\r\nThời gian tăng của nấc đặt cần nhỏ hơn 1/10 thời\r\ngian đáp ứng từng phần T
5.9.
Thiết bị biến đổi\r\nphải đạt thử nghiệm chịu thử khô được thực hiện với điện áp hoặc dòng điện có\r\ntần số hoặc hình dạng yêu cầu ở mức bằng 110 % điện áp đo danh định hoặc dòng\r\nđiện đo danh định. Đối với qui trình của thử nghiệm chịu thử, xem TCVN 6099-1\r\n(IEC 60060-1).
\r\n\r\nThử nghiệm ẩm và thử\r\nnghiệm nhiễm bẩn, khi qui định, được thực hiện như thử nghiệm điển hình.
\r\n\r\nThử nghiệm chịu thử\r\nphải được thực hiện ở cực tính hoặc các cực tính mà hệ thống\r\nđược sử dụng.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thiết kế\r\nvà kết cấu của thành phần bất kỳ của hệ thống đo được công nhận cần phải sao\r\ncho có thể chịu được phóng điện đánh thủng trên đối tượng
Hệ số thang đo ấn\r\nđịnh của hệ thống đo được xác định bằng việc hiệu chuẩn sử dụng các thử nghiệm\r\ntính năng qui định. Đối với hệ thống đo xung, thử nghiệm tính\r\nnăng cũng chứng tỏ rằng tính năng linh hoạt của hệ\r\nthống là thích hợp với các phép đo qui định và rằng tất cả các\r\nmức nhiễu nhỏ hơn giới hạn qui định.
\r\n\r\nTrong thử nghiệm điện\r\náp cao, kích thước của thiết bị, mức điện áp và dòng điện sử dụng cũng như ảnh\r\nhưởng lẫn nhau giữa các mạch thử nghiệm và\r\ncác mạch đo thường đòi hỏi phải thực hiện các thử nghiệm hiệu chuẩn theo khả\r\nnăng thử nghiệm của người sử dụng.
\r\n\r\nTuy nhiên, hệ thống\r\nđo hoặc các thành phần của hệ thống có thể được chuyển đến phòng thử nghiệm\r\nkhác để hiệu chuẩn khi được bố trí giống nhau v
Trừ khi thử nghiệm\r\nđiển hình chứng tỏ thiết bị biến đổi không nhạy với ảnh hưởng do khoảng cách\r\ngần trong dãy khoảng cách qui định, hệ số thang đo\r\nấn định của hệ thống đo bất kỳ dựa vào thiết bị biến đổi đó phải được đo trong\r\ntừng điều kiện sử dụng. Từng tập hợp khoảng cách\r\nhoặc dãy khoảng cách phải được đưa vào hồ sơ\r\ntính năng.
\r\n\r\nĐiện áp hoặc dòng\r\nđiện đầu vào sử dụng để hiệu chuẩn cần phải cùng loại, tần số hoặc dạng sóng v
Phương pháp chuẩn để\r\nxác định hệ số thang đo ấn định là so sánh với hệ\r\nthống đo chuẩn ở điện áp đo danh định hoặc dòng\r\nđiện đo danh định bất cứ khi nào có thể. Tuy nhiên, vì hệ thống đo chuẩn không\r\nphải lúc nào cũng có sẵn ở điện áp và dòng điện\r\ncao nhất nên có thể thực hiện việc so sánh
Đối với xung sét có\r\ngiá trị đỉnh trên 1 MV, có thể thực hiện ở 200 kV. Một cách khác, có thể xác\r\nđịnh hệ số thang đo ấn định bằng cách đo hệ số thang đo của từng thành phần,\r\nthường là ở điện áp thấp và lấy tích của các\r\nhệ số thang đo của các thành phần (xem 6.2 b)).
\r\n\r\nĐiện
Tất cả các thiết bị\r\ndùng cho việc thiết lập hệ số thang đo của hệ thống đo và tất\r\ncả các dụng cụ sử dụng trong hệ thống đo phải có vạch chia theo tiêu chuẩn đo\r\nlường quốc gia (chuẩn).
\r\n\r\nCác điều kiện thực\r\nhiện việc hiệu chuẩn phải được nêu trong hồ sơ tính năng.
\r\n\r\na) Phương\r\npháp chuẩn: so sánh với hệ thống đo chuẩn
\r\n\r\nHệ thống đo chuẩn\r\nphải được mắc song song (điện áp) hoặc mắc nối tiếp (
nhỏ hơn 1 % của Fm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Có thể\r\nlấy giá trị làm tròn F
CHÚ THÍCH 2: Đối với\r\nphép đo điện áp một chiều và xoay chiều, có thể thu được các số\r\nđọc độc lập bằng cách đặt điện áp thử nghiệm và lấy n số đọc hoặc bằng\r\ncách đặt điện áp thử nghiệm n l
Thử nghiệm phải được\r\nthực hiện ở một mức điện áp hoặc dòng điện (xem 6.1). Có thể thay đổi giá trị\r\nđặt của dụng cụ đo hoặc có thể sử dụng dụng cụ đo khác để thu được độ nhạy\r\nthích hợp, với điều kiện là thay đổi này không làm thay đổi phần còn lại của hệ\r\nthống đo và các giá trị đặt sử dụng trên từng dụng cụ đều được hiệu chuẩn.
\r\n\r\nNếu ch
Hệ thống đo có nhiều\r\nhệ số thang đo (ví dụ, sử dụng các nhánh điện áp thấp khác nhau cho bộ phân áp)\r\nphải được hiệu chuẩn cho từng hệ số thang\r\nđo. Hệ thống đo có bộ phân áp thứ cấp có thể chỉ\r\ncần hiệu chuẩn trên một giá trị đặt với điều kiện
CHÚ THÍCH: Đ
b) Phương pháp thay\r\nthế: hiệu chuẩn thành phần
\r\n\r\nHệ số thang đo ấn\r\nđịnh phải được xác định là tích của các hệ số thang đo c
Đối với thiết bị biến\r\nđổi và hệ thống truyền dẫn hoặc kết hợp cả hai, hệ số thang đo\r\nphải được đo bằng một trong các phương pháp nêu trong 5.2 để đ
Hệ số thang đo của\r\ndụng cụ được xác định theo tiêu chuẩn liên quan (xem điều 2) hoặc bằng cách\r\nthực hiện các thử nghiệm liên quan nêu trong tiêu chuẩn này.
\r\n\r\na) Phương\r\npháp chuẩn: so sánh với hệ thống đo chuẩn
\r\n\r\nCó thể sử dụng các hồ\r\nsơ tương tự lấy từ thử nghiệm của 6.2 a)\r\nvà các thông số thời gian liên quan của xung đo được đánh giá cho từng hệ thống\r\nvà:
\r\n\r\n- giá\r\ntrị của mỗi thông số thời gian phải trong phạm vi ± 10 % giá trị tương ứng đo\r\nđược bằng hệ thống đo chuẩn,
\r\n\r\n- đối\r\nvới mỗi thông số thời gian, độ lệch chuẩn thực nghiệm của tỷ số giữa các số đọc\r\ntương ứng của hệ thống cần thử nghiệm và hệ thống đo chuẩn phải nhỏ hơn 5 % giá\r\ntrị tỷ số trung bình.
\r\n\r\nb) Phương\r\npháp thay thế: đo đáp tuyến bậc thang
\r\n\r\nĐáp tuyến bậc thang của\r\nhệ thống đo phải được đo theo 5.8.2. Các thông số đáp tuyến liên quan phải được\r\nxác định và phải thỏa mãn các yêu cầu cho trong điều liên\r\nquan của tiêu chuẩn này,
\r\n\r\nThử nghiệm phải được\r\nthực hiện trên hệ thống đo khi cáp hoặc hệ thống\r\ntruyền dẫn của hệ thống được nối tắt ở đầu\r\nnối vào nhưng không làm thay đổi đấu nối đất của cáp hoặc hệ thống truyền dẫn.\r\nTình trạng nhiễu phải được tạo ra ở đầu\r\nvào của hệ thống đo (đối với phép đo điện áp - bằng phóng
Biên độ của nhiễu đo\r\nđược phải nhỏ hơn 1 % đầu ra của hệ thống đo khi đo điện\r\náp hoặc dòng điện thử nghiệm. Cho phép nhiễu lớn hơn 1 % với
Yêu cầu chung là đo\r\ngiá trị (trung bình số học) điện áp thử nghiệm có độ không đảm bảo đo tổng\r\ntrong phạm vi ± 3 %.
\r\n\r\nGiới hạn độ không đ
CH
7.1.1. Độ
Hệ số thang đo của\r\nthiết bị biến đổi và hệ thống truyền\r\nkhông được biến thiên quá ± 1 % trong phạm vi dãy nhiệt độ và độ ẩm môi trường\r\nnêu trong hồ sơ tính năng.
\r\n\r\nThiết bị biến đổi\r\ndùng cho điện áp một chiều phải có kết cấu để dẫn trực tiếp tất cả dòng điện rò\r\ntrên bề mặt bên ngoài của thiết bị xuống đất và\r\nduy trì dòng điện rò bên trong không đáng kể so\r\nvới dòng điện đo.
\r\n\r\nCH
Dụng cụ đo phải phù\r\nhợp với các yêu cầu của cấp 0,5 của IEC 60051 hoặc phải được thử nghiệm theo\r\ntiêu chuẩn này.
\r\n\r\n7.1.2. Đáp\r\nứng động đối với điện áp đo tăng
\r\n\r\nThời gian đáp ứng\r\nthực nghiệm TN của hệ thống đo được công nhận không được lớn\r\nhơn 0,5 s. Điều này sẽ cho phép đo với độ chính xác yêu cầu ở 7.1 khi điện áp\r\nđược tăng lên ở tốc độ qui đinh cho thử nghiệm điện m
CHÚ THÍCH 1: Trong\r\nmột số trường hợp, thời gian đáp ứng của thiết bị\r\nchuyển đổi giữ thấp hơn nhiều so với 0,5 s để cải thiện đáp ứng của thiết bị\r\ntrong trường hợp phóng điện bề mặt trong mạch thử\r\nnghiệm. Tuy nhiên, để tránh nhấp nhô trên nguồn điện áp cao ảnh hưởng đến giá\r\ntrị đo được, thời gian đáp ứng của hệ thống
CHÚ THÍCH 2: Trong\r\nmột số trường hợp nhất định, ví dụ, trong thử nghiệm\r\nnhiễm bẩn, có thể cần phát hiện và đo các thành phần quá độ. Tiêu chuẩn này
Các yêu cầu của thử\r\nnghiệm điển hình có thể được thỏa mãn
Thành phần của hệ\r\nthống đo phải thỏa mãn các yêu cầu của thử nghiệm điển hình và thử nghiệm\r\nthường xuyên sau đây:
\r\n\r\nThử nghiệm điển hình:
\r\n\r\n- ảnh\r\nhưởng của nhiệt độ lên thiết bị biến đổi
- tính\r\nổn định trong thời gian dài (5.5),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm chịu ẩm hoặc nhiễm bẩn trên\r\nthiết bị
- đáp\r\nứng động (5.8).
\r\n\r\nThử nghiệm thường\r\nxuyên:
\r\n\r\n- xác\r\nđịnh hệ số thang đo (5.2),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm tính tuyến tính (5.3, phương pháp thay thế bổ sung 7.2.1),
\r\n\r\n- tính\r\nổn định trong thời gian ngắn (5.4),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm chịu khô trên thiết bị biến đổi (nếu có yêu
7.2.1. Thử\r\nnghiệm tính tuyến tính: yêu cầu và phương pháp thay\r\nthế bổ sung
\r\n\r\nThử nghiệm tính tuyến\r\ntính phải được thực hiện theo 5.3 sử dụng\r\ntừng cực tính mà hệ thống cần\r\nđược công nhận với cực tính đó.
\r\n\r\nPhương pháp thay th
a) So\r\nsánh với khe hở thanh/thanh
\r\n\r\nPhải kiểm tra hệ\r\nthống đo dựa vào sử dụng khe hở thanh/thanh, như thể hiện trên hình 19 của TCVN\r\n6099-1 (IEC 60060-1), và trong phạm vi giới hạn khoảng khe h
Phải thực hiện hoàn\r\nchỉnh thử nghiệm tính tuyến tính trong thời gian ngắn sao cho đi
Sử dụng qui tr
b) Thử\r\nnghiệm riêng cho thiết bị nhiều phần
\r\n\r\nĐối với thiết bị biến\r\nđổi làm từ nhiều khối điện áp cao đồng nhất, phả
c) So\r\nsánh với điện áp vào của thiết bị biến đổi xoay chi
Đầu ra của hệ thống\r\nđo phải được kiểm tra theo giá trị đỉnh của đầu vào điện áp xoay chiều đến mạng\r\nchỉnh lưu. Phải thực hiện thử nghiệm ở giá\r\ntrị nhỏ nhất và lớn nhất của dãy điện áp làm việc và ở ba giá trị điện áp cách\r\nxấp xỉ bằng nhau giữa các cực.
\r\n\r\nNếu mỗi trong số năm\r\ntỷ số giữa điện áp đo được với giá trị đỉnh tương ứng của đầu vào điện áp xoay\r\nchiều đến bộ chỉnh lưu nằm trong phạm vi ± 1\r\n% giá trị trung bình của chúng thì hệ thống\r\nđo có thể coi là tuyến tính.
\r\n\r\nPhải xác định hệ số\r\nthang đo ấn định theo 6.2.
\r\n\r\n\r\n\r\nHệ số thang đo của hệ\r\nthống đo được công nhận phải được kiểm tra bằng một trong các phương pháp dưới\r\nđây.
\r\n\r\na) Kiểm\r\ntra hệ số thang đo của các thành phần của hệ thống
\r\n\r\n(Các) hệ số thang đo\r\ncủa từng thành phần phải được kiểm tra, sử dụng thiết bị hiệu chuẩn bên trong\r\nhoặc bên ngoài có độ không đảm bảo đo nằm trong phạm vi ± 1 %. Nếu chênh lệch\r\ngiữa từng hệ số thang đo so với giá trị trước đó của nó không l
b) Kiểm\r\ntra hệ số thang đo của hệ thống đo
\r\n\r\nPhải thực hiện việc\r\nso sánh với hệ thống đo được công nhận khác theo qui trình của 6.2 a) hoặc bằng\r\nthiết bị đo chuẩn IEC sử dụng theo phụ lục C của\r\nTCVN 6099-1 (IEC 60060-1). Khi chênh lệch giữa hai giá trị đo được nằm trong\r\nphạm vi ± 3 %, hệ số thang đo ấn định được lấy là vẫn còn hiệu lực. Khi chênh\r\nlệch lớn hơn thì phải xác định một g
Khe hở thanh/thanh,\r\nthiết kế và sử dụng theo phụ lục c của TCVN 6099-1 (
7.6.1. Yêu\r\ncầu đối với hệ thống đo được công nhận
\r\n\r\nBiên độ nhấp nhô phải\r\nđược đo với độ không đảm bảo đo tổng trong phạm
Có thể sử dụng hệ\r\nthống đo riêng rẽ để đo giá trị trung bình của điện áp và biên độ nhấp nhô,\r\nhoặc có thể sử dụng cùng một thiết bị biến đổi có hai dụng cụ đo riêng rẽ.
\r\n\r\nChỉ phải áp dụng thử\r\nnghiệm qui định trong 7.6.2 và 7.6.3 với hệ thống sử dụng để đo biên độ nhấp\r\nnhô và là các thử nghiệm tính năng,
\r\n\r\n7.6.2.
Hệ số thang đo của hệ\r\nthống đo phải được xác định ở tần số cơ bản
7.6.3. Đáp\r\nứng động
\r\n\r\nTần số giới hạn trên,\r\nf2, của đáp tuyến biên độ/tần số của hệ thống đo phải lớn hơn 10 lần\r\ntần số cơ bản f của nhấp nhô.
\r\n\r\n\r\n\r\nYêu cầu chung là để\r\nđo giá trị đỉnh hoặc giá trị hiệu dụng của điện áp thử nghiệm ở tần số danh định\r\nvới độ không đảm bảo đo\r\ntổng trong phạm vi ± 3 %.
\r\n\r\n8.1.1. Độ\r\nổn định của hệ số thang đo
\r\n\r\nHệ số thang đo của\r\nthiết bị biến đổi và hệ thống truyền dẫn không được biến thiên quá ± 1 % đối\r\nvới dãy nhiệt độ môi trường và khe hở không khí nêu trong h
Dụng cụ đo phải phù\r\nhợp với các yêu cầu của cấp 0,5 của IEC 60051 hoặc phải được thử nghiệm theo\r\ntiêu chuẩn này. Nếu sử dụng vôn kế đỉnh thì độ không đảm bảo đo c
8.1
Đáp tuyến biên độ/tần\r\nsố của hệ thống đo không được chênh lệch quá ± 2 %
CHÚ THÍCH 1: Trong\r\nmột số trường hợp nhất định, có thể cần đo các quá độ điện
CHÚ THÍCH 2: Một số\r\nnguồn không sinh ra hài (ví dụ như bộ thử nghiệm cộng hư
Các yêu cầu của thử\r\nnghiệm điển hình có thể được thỏa mãn bằng thử nghiệm trên khối cùng kiểu hoặc\r\nđôi khi có được từ dữ liệu của nhà chế tạo. Phải thực hiện thử nghiệm thường\r\nxuyên trên mỗi khối. Xem chi tiết ở điều 5 và cá
Thành phần của hệ\r\nthống đo phải thỏa mãn các yêu cầu của thử nghiệm điển hình và thử nghiệm\r\nthường xuyên sau đây:
\r\n\r\nThử nghiệm điển hình:
\r\n\r\n- ảnh\r\nhưởng của nhiệt độ lên thiết bị biến đổi và hệ thống truyền dẫn và
- t
- ảnh\r\nhưởng do khoảng cách gần (nếu có y
- thử\r\nnghiệm chịu ẩm hoặc chịu nhiễm bẩn trên thiết bị biến đổi (nếu có
- đáp\r\nứng động (5.8).
\r\n\r\nThử nghiệm thường\r\nxuyên:
\r\n\r\n- xác\r\nđịnh hệ số thang đo (5.2),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm tính tuyến tính (5.3, phương pháp thay thế bổ sung 8.2.1),
\r\n\r\n- tính\r\nổn định trong thời gian ngắn (5.4),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm chịu khô trên thiết bị biến đổi (5.9).
\r\n\r\n8.2.1. Thử\r\nnghiệm tính tuyến tính: yêu cầu và phương pháp thay thế bổ sung
\r\n\r\nThử nghiệm tính tuyến\r\ntính phải được thực hiện theo 5.3.
\r\n\r\nPhương pháp thay thế\r\nbổ sung là:
\r\n\r\na) So\r\nsánh với khe hở
Phải kiểm tra hệ\r\nthống đo dựa vào sử dụng khe hở cầu theo 8.5 của IEC\r\n60052. Phải thực hiện thử nghiệm với các khoảng khe hở ứng với các giá trị nhỏ\r\nnhất và lớn nhất của dãy điện áp làm việc và tại ba giá trị khoảng khe hở đặt\r\ntương đối bằng nhau giữa các cực biên này.
\r\n\r\nPhải thực hiện hoàn\r\nchỉnh thử nghiệm tính tuyến tính trong thời gian ngắn sao cho điều kiện
b) Phương\r\npháp dùng cho thiết bị biến đổi tụ điện nhiều ngăn
\r\n\r\nĐối v
- thử\r\nnghiệm điển hình trên thiết bị biến đổi\r\nhoàn chỉnh tương đương (có các điện cực của thiết bị) như qui định trong 5.3,
\r\n\r\n- đo\r\nđiện dung của từng khối điện áp cao ở năm giá trị điện áp qui định trong 5.3.\r\nĐiện dung của từng khối không được thay đổi quá ± 1 %\r\ntrên toàn dãy điện áp,
\r\n\r\n- cụm\r\nthiết bị biến đổi phải không có vầng quang nhì
c) So\r\nsánh với điện áp vào của máy biến áp hoặc tầng biến áp
\r\n\r\nHệ thống đo phải được\r\nnối để đo đầu ra của máy biến áp. Đầu ra của hệ thống đo phải được kiểm tra\r\ntheo điện áp vào của máy biến áp. Phải thực hiện thử nghiệm ở giá trị nhỏ nhất\r\nvà lớn nhất của dãy điện áp làm việc và ở ba giá trị điện áp cách\r\nxấp xỉ bằng nhau giữa các cực. Nếu mỗi trong số\r\nnăm tỷ số điện áp đo được với giá trị điện áp đầu vào tương ứng nằm trong phạm\r\nvi ± 1 % giá trị trung bình của chúng thì hệ\r\nthống đo có thể coi là tuyến tính.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH:
d) So\r\nsánh với đầu ra của thiết bị đo trường điện
\r\n\r\nHệ thống đo phải được\r\nkiểm tra dựa vào dụng cụ đo trường điện được bố
8.2.2. Xác\r\nđịnh hệ số thang đo của v
Hệ số thang đo phải\r\nđược xác định bằng cách sử dụng điện áp h
CHÚ THÍCH: Dụng cụ\r\nchỉ thị không phải là vôn mét đỉnh được hiệu chuẩn theo IEC 60051.
\r\n\r\nPhải xác định hệ số\r\nthang đo ấn định theo 6.2.
\r\n\r\n\r\n\r\n(Các) hệ số thang đo\r\ncủa hệ thống đo được công nhận phải được kiểm tra bằng một trong các phương\r\npháp dưới đây.
\r\n\r\na) Kiểm\r\ntra hệ số thang đo của các thành phần
\r\n\r\n(Các) hệ số thang đo\r\ncủa từng thành phần có thể được kiểm tra bằng cách sử dụng thiết bị hiệu chuẩn\r\nbên trong hoặc bên ngoài có độ không\r\nđảm bảo đo nằm trong phạm vi ± 1 %. Nếu chênh lệch giữa từng hệ số thang đo so\r\nvới giá trị trước đó của nó không l
b) Kiểm\r\ntra hệ số thang đo của hệ thống đo
\r\n\r\nPhải thực hiện việc\r\nso sánh với hệ thống đo được công nhận khác theo qui trình của 6.2 a) hoặc bằng\r\nthiết bị đo chuẩn IEC sử dụng theo IEC 60052.
\r\n\r\nNếu chênh lệch giữa\r\nhai giá trị đo được nằm trong phạm vi ± 3 % thì hệ số thang đo ấn định được lấy\r\nlà vẫn còn hiệu lực. Khi chênh lệch
Khe hở cầu, được sử\r\ndụng theo IEC 60052, là một thiết bị đo chuẩn IEC đối với giá trị đỉnh có độ\r\nkhông đảm bảo đo nằm trong phạm vi ± 3 %.
\r\n\r\n\r\n\r\nYêu cầu chung là để:
\r\n\r\n- đo\r\ngiá trị đỉnh của các xung toàn sóng với độ không đảm bảo đo tổng trong phạm vi\r\n± 3 %,
\r\n\r\n- đo\r\ngiá trị đỉnh của xung cắt có độ không đảm bảo đo tổng e phụ thuộc vào thời gian\r\ncắt Tc như sau:
\r\n\r\n- đo\r\ncác thông số thời gian xác định dạng sóng v
- đo\r\ncác dao động có thể xếp chồng l
CHÚ THÍCH 1: Xung cắt\r\ncó Tc <\r\n0,5 m
CHÚ TH
9.1.1. Độ\r\nổn định của hệ số thang đo
\r\n\r\nHệ số thang đo của\r\nthiết bị biến đổi và hệ thống truyền dẫn không được biến thiên quá ± 1 % đối\r\nvới dãy nhiệt độ môi trường và khe hở không khí nêu trong hồ sơ tính năng.
\r\n\r\nDụng cụ đo phải phù\r\nhợp với IEC 790 hoặc IEC 61083-1.
\r\n\r\n9.1.2. Đáp\r\nứng động
\r\n\r\nĐáp ứng động của hệ\r\nthống đo là thích hợp đối với phép đo điện áp đỉnh và thông số thời gian trong\r\ndãy dạng sóng qui định trong hồ sơ tính năng khi:
\r\n\r\n- hệ
trong phạm vi ± 1 %\r\nđối với xung toàn sóng và xung cắt ở\r\nđuôi sóng
\r\n\r\ntrong phạm vi ± 3 %\r\nđối với xung cắt ở đầu sóng
\r\n\r\n- độ\r\nkhông đảm bảo đo của các thông số thời gian đo\r\nđược bằng hệ thống nằm trong phạm vi ± 10 %.
\r\n\r\nĐể t
f2
f2
Trước kia, một hệ th
9.1.3. Nối\r\nvới đối tượng thử nghiệm
\r\n\r\nThiết bị biến đổi\r\nphải được nối trực tiếp đến các đầu nối của đối tượng thử nghiệm. Không được\r\nnối thiết bị biến đổi giữa ngu
Các yêu cầu của thử\r\nnghiệm điển hình có thể được thỏa mãn bằng thử nghiệm tr
Thành phần của hệ\r\nthống đo phải thỏa mãn các yêu cầu của thử nghiệm điển hình v
Thử nghiệm điển hình:
\r\n\r\n- ảnh\r\nhưởng của\r\nnhiệt độ lên thiết bị biến đổi và hệ thống truyền dẫn và lên các hệ số thang đo\r\n(5.6),
\r\n\r\n- tính\r\nổn định trong thời gian dài (5.5),
\r\n\r\n- ảnh\r\nhưởng do khoảng cách gần (nếu có yêu cầu) (5.7),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm chịu ẩm hoặc chịu nhiễm bẩn trên thiết bị biến đổi (nếu có yêu cầu)\r\n(5.9),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm nhiễu trên hệ thống truyền dẫn có các phần tử hoạt động (6.4),
\r\n\r\n- đáp\r\nứng động (5.8).
\r\n\r\nThử nghiệm thường\r\nxuyên:
\r\n\r\n- x
- thử\r\nnghiệm tính tuyến tính (5.3, phương pháp thay thế bổ sung 9.2.1),
\r\n\r\n- t
- thử\r\nnghiệm chịu khô trên thiết bị biến đổi (5.9).
\r\n\r\n9.2.1. Thử\r\nnghiệm tính tuyến tính: yêu cầu và phương pháp thay thế bổ sung
\r\n\r\nThử nghiệm tính tuyến\r\ntính phải được thực hiện theo 5.3, sử dụng từng cực tính mà hệ thống được công\r\nnhận và xung sét có dạng sóng đơn. Có thể sử dụng các xung sét toàn sóng để\r\nthiết lập tính tuyến tính của hệ thống đo đối vớ
Phương pháp thay thế\r\nbổ sung là:
\r\n\r\na) So\r\nsánh với khe hở cầu
\r\n\r\nPhải kiểm tra hệ\r\nthống đo dựa vào sử dụng khe hở cầu theo 9.5. Phải thực hiện thử nghiệm với\r\nkhoảng khe hở ứng với các giá trị nhỏ nhất và lớn nhất của\r\ndãy điện áp làm việc và tại ba giá trị khe hở\r\ntương đối bằng nhau giữa các cực biên này.
\r\n\r\nPhải thực hiện hoàn\r\nchỉnh thử nghiệm tính tuyến tính trong thời gian ngắn sao cho điều kiện môi\r\ntrường không thay đổi và do đó không cần\r\nphải thực hiện việc hiệu chỉnh. Nếu mỗi trong số năm tỷ số giữa điện áp phóng\r\nđiện đánh thủng của khe hở cầu với đầu ra tương ứng của hệ th
b) Phương\r\npháp dùng cho thiết bị biến đổi nhiều phần
\r\n\r\nĐối với thiết bị biến\r\nđổi gồm nhiều khối điện áp cao đồng\r\nnhất, phải thực hiện thử nghiệm gồm ba bước\r\nsau đây:
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm điển hình trên thiết bị biến đổi hoàn chỉ
- thử\r\nnghiệm tính tuyến tính của mỗi khối theo 5.3,
\r\n\r\n- cụm\r\nthiết bị biến đổi phải không có vầng quang nhìn thấy được
c) So\r\nsánh với điện áp nạp của bộ tạo xung
\r\n\r\nHệ thống đo phải được\r\nkiểm tra dựa vào điện áp nạp của bộ tạo xung. Phải thực hiện thử nghiệm ở giá\r\ntrị nhỏ nhất và lớn nhất của dãy điện áp làm việc và\r\nở ba giá trị điện áp cách xấp xỉ bằng nhau giữa các cực. Nếu mỗi trong số năm\r\ntỷ số điện áp đo được với giá trị điện áp nạp\r\ntương ứng nằm trong phạm vi ± 1 % giá trị trung bình của chúng thì hệ thống đo\r\ncó thể coi là tuyến tính.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Trong\r\nphương pháp này, các điều kiện nạp trong thời điểm khởi động của\r\nbộ tạo xung cần giống nhau.
\r\n\r\nd) So\r\nsánh với đầu ra của dụng cụ đo trường điện
\r\n\r\nHệ thống đo phải được\r\nkiểm tra dựa vào dụng cụ đo trường điện được bố trí để đo trường t
Phải thực hiện các\r\nthử nghiệm sau đây:
\r\n\r\n- xác\r\nđịnh hệ số thang đo ấn định (9.3.1),
\r\n\r\n- đáp\r\nứng động (9.3.1),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm nhiễu (6.4).
\r\n\r\n9.3.1. Xác\r\nđịnh hệ số thang đo ấn định và (các) mốc danh nghĩa (đáp ứng động)
\r\n\r\na) Phương\r\npháp chuẩn
\r\n\r\nHệ
Đối với xung toàn\r\nsóng và xung cắt ở đuôi sóng:
\r\n\r\n- thời\r\ngian đầu sóng ngắn hơn cho
- thời\r\ngian đầu sóng dài hơn cho t
- c
Đối\r\nvới xung cắt ở đầu sóng:
\r\n\r\n- thời\r\ngian tới thời điểm cắt ngắn hơn cho tm
- thời\r\ngian tới thời điểm cắt dài hơn cho tmax
Một cách khác, có
b) Phép\r\nđo so sánh sử dụng xung có dạng sóng đơn kèm\r\nthêm phép đo đáp tuyến bậc thang
\r\n\r\nPhải thực hiện phép\r\nđo so sánh dựa trên hệ thống đo chuẩn theo 6.2 a) và 6.3 a) sử dụng các xung\r\ntoàn sóng có thời gian đầu sóng T
Ngoài ra, đáp tuyến\r\nbậc thang của hệ thống đo phải được đo theo 5.8.2. (Các) mức chuẩn của (các)\r\nmốc danh nghĩa mà hệ thống đo được công\r\nnhận không được sai khác so với giá trị của đáp tu
± 1 % đối với xung\r\ntoàn sóng và xung cắt ở đuôi sóng
\r\n\r\n± 3 % đối với xung\r\ncắt ở đầu sóng
\r\n\r\nhoặc nếu có các dao\r\nđộng cao tần trên đáp tuyến bậc thang ở mốc danh nghĩa đó thì phải ch
- thời\r\ngian đặt ts
- thời\r\ngian đáp ứng dư TR(t) nhỏ hơn t/200 trong toàn bộ mốc danh\r\nnghĩa đối với xung cắt ở đầu sóng.
\r\n\r\nĐáp tuyến bậc thang\r\nkhông được thay đổi quá 5 % trong dãy từ t
c) Đo\r\nhệ số thang đo của thành phần và xác định thông số đáp tuyến từ đáp tuyến bậc\r\nthang
\r\n\r\nHệ số thang đo ấn\r\nđịnh của hệ thống đo phải được xác định theo 6.2 b).
\r\n\r\nĐáp tưyến bậc th
Đối với xung toàn\r\nsóng và xung cắt ở đuôi sóng, đáp tuyến bậc thang phải không đổi trong phạm vi\r\n± 1 % đối với mốc danh nghĩa. Một cách khác, nếu có các dao động cao tần trên\r\nđáp tuyến bậc thang thì phải đủ để chứng tỏ rằng thời gian đặt
Ngoài ra, đáp tuyến\r\nbậc thang không được sai lệch so với mức chuẩn quá 5 % đối với thời gian dài\r\nnhất đến nửa giá trị mà việc công nhận yêu cầu.
\r\n\r\nCH
Khi đo xung c
- thời\r\ngian đặt phải sao cho:
\r\n\r\n- thời\r\ngian đáp ứng thực nghiệm TN và\r\nthời gian đáp ứng từng phần Ta\r\nphải sao cho:
\r\n\r\n- và thời\r\ngian méo ban đầu To
Khi sử dụng đáp tuyến\r\nbậc thang để đánh giá các đặc tính của hệ thống\r\nđo, hồ sơ tính năng phải bao gồm:
\r\n\r\n- hồ\r\nsơ về đáp tuyến bậc thang đơn vị, với chỉ số\r\ncủa O1 và đư
- giá\r\ntrị của Ta,
9.3.2. Hồ\r\nsơ chuẩn (tuỳ chọn)
\r\n\r\nKhi cần thiế
9.4.1. Kiểm\r\ntra hệ số thang đo và đáp ứng động
\r\n\r\n(Các) hệ số thang đo\r\nvà đáp ứng động của hệ thống đo được công nhận có thể được kiểm tra bằng một\r\ntrong các phương pháp dưới đây.
\r\n\r\na) Kiểm\r\ntra hệ số thang đo của các thành phần và đáp tuyến bậc thang của hệ thống đo
\r\n\r\n(Các) hệ s
Trong mỗi lần kiểm\r\ntra, phải ghi lại đáp tuyến bậc thang theo cùng một cách và trong cùng mạch\r\nđiện như đã được sử dụng để có được hồ sơ chuẩn\r\n(xem 9.3.2). Hồ sơ đáp tuyến bậc thang phải\r\nđược so sánh với các hồ sơ từ những l
b) So\r\nsánh với hệ thống đo được công nhận
\r\n\r\nPhải thực hiện việc\r\nso sánh với hệ thống đo được công nhận khác\r\n(hoặc hệ thống đo chuẩn) theo qui trình nêu trong 6.2 a) và 6.3 a) với
Khi chênh lệch l
c) Kiểm\r\ntra hệ số thang đo bằng khe hở cầu và đo đáp tuyến\r\nbậc thang của hệ thống đo
\r\n\r\nThực hiện việc so\r\nsánh bằng khe hở cầu\r\ntheo 9.5. Nếu chênh lệch giữa hai giá trị hệ số thang đo đo được không lớn hơn\r\n3 % thì hệ số thang đo ấn định được lấy vẫn còn hiệu lực. Khi chênh lệch lớn\r\nhơn thì trong thử nghiệm tính năng phải xác định một giá trị mới cho hệ số\r\nthang đo ấn định (xem đoạn thứ ba của 4.2).
\r\n\r\nTrong mỗi lần kiểm\r\ntra, phải ghi lại đáp tuyến bậc thang theo cùng một cách và trong cùng mạch\r\nđiện như đã được sử dụng để thu được hồ sơ chuẩn (xem 9.3.2). Hồ sơ đáp tuyến\r\nbậc thang phải được so sánh với các hồ sơ từ những lần kiểm tra trư
Khe hở cầu, bức xạ\r\nbởi tia lửa hở nhưng không theo IEC 60052, là một thiết bị đo chuẩn IEC để đo\r\ngiá trị đỉnh của xung sét tiêu chuẩn, có độ không đảm bảo đo không vượt quá ± 3\r\n%. Bức xạ từ đèn tia cực tím không được coi là thích hợp.
\r\n\r\nYêu c
- đo\r\ngiá trị đỉnh của các xung đóng cắt với độ\r\nkhông đảm bảo đo tổng trong phạm vi ± 3 %,
\r\n\r\n- đo\r\ncác thông số thời gian xác định dạng sóng với độ\r\nkhông đảm bảo đo tổng trong phạm vi ±
10.1.1.
Hệ số thang đo của\r\nthiết bị biến đổi và hệ thống truyền dẫn không được biến thiên quá ± 1
Dụng cụ đo phải phù\r\nhợp với IEC 790 hoặc IEC 61083-1.
\r\n\r\n10.1.2.
Đáp ứng động của hệ\r\nthống đo là thích hợp khi:
\r\n\r\n- hệ số\r\nthang đo không đổi trong phạm vi ± 1 % trong dãy dạng xung qui định trong hồ sơ\r\ntính năng,
\r\n\r\n- độ\r\nkhông đảm bảo đo tổng của các thông số thời gian đo được nằm trong phạm vi ± 10\r\n%.
\r\n\r\n10.1.3.
Hệ thống đo được công\r\nnhận phải được nối trực tiếp đến các đầu nối của đối tượng thử nghiệm. Ngược\r\nvới phép đo xung sét (xem 9.1.3), hệ thống đo có thể được đặt giữa nguồn điện\r\náp và đối tượng thử nghiệm. Ghép nối giữa mạch thử nghiệm và mạch đo cần phải\r\nkhông đáng kể.
\r\n\r\nCác yêu cầu của thử\r\nnghiệm điển hình có thể được thỏa mãn bằng thử nghiệm tr
Thành phần của hệ\r\nthống đo phải thỏa mãn các yêu cầu của thử nghiệm điển hình v
Thử nghiệm điển hình:
\r\n\r\n- ảnh
- tính
- ảnh
- thử\r\nnghiện chịu ẩm hoặc chịu nhiễm bẩn trên thiết bị biến đổi (nếu có yêu cầu)\r\n(5.9),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm nhiễu trên hệ thống truyền dẫn có các phần tử hoạt động (6.4),
\r\n\r\n- đáp
Thử nghiệm thường\r\nxuyên:
\r\n\r\n- xác\r\nđịnh hệ số thang đo (5.2),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm tính tuyến tính (5.3, phương pháp thay thế
- tính\r\nổn định trong thời gian ngắn (5.4),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm chịu khô trên thiết bị biến đổi (5.9).
\r\n\r\n10.2.1.
Thử nghiệm tính tuyến\r\ntính phải được thực hiện theo 5.3, sử dụng\r\ntừng cực tính mà hệ thống
Phương pháp thay thế\r\nbổ sung là:
\r\n\r\na) So\r\nsánh có khe hở cầu
\r\n\r\nPhải kiểm tra hệ\r\nthống đo dựa vào khe hở cầu theo 10.5. Phải thực hiện thử nghiệm\r\nvới khoảng khe hở ứng với các giá trị nhỏ nhất và lớn nhất của dãy điện áp làm\r\nviệc của hệ thống và tại ba khoảng khe hở đặt tương đối bằng nhau giữa các cực\r\nbiên này. Phải thực hiện hoàn chỉnh thử nghiệm tính tuyến tính trong thời gian\r\nngắn sao cho điều kiện môi trường không thay đổi và do\r\nđó không cần phải thực hiện việc hiệu chỉnh.\r\nNếu mỗi trong số năm tỷ số giữa điện áp phóng điện đánh thủng của khe hở c
b) Phương\r\npháp dùng cho thiết bị biến đổi nhiều phần
\r\n\r\nĐối với thiết bị bi
- thử\r\nnghiệm điển hình trên
- đo\r\nhệ số thang đo của từng khối ở năm giá trị điện áp qui định trong 5.3. Hệ số\r\nthang đo của từng khối không được thay đổi quá ± 1 % trong\r\ntoàn bộ dãy điện áp,
\r\n\r\n- cụm\r\nthiết bị biến đổi phải không có vầng quang nhìn thấy được ở điện áp đo danh\r\nđịnh.
\r\n\r\nc) So\r\nsánh có điện áp nạp của bộ tạo xung
\r\n\r\nHệ thống đo phải được\r\nkiểm tra dựa vào điện áp nạp của bộ tạo xung. Phải thực hiện thử nghiệm ở giá\r\ntrị nhỏ nhất và lớn nhất của dãy điện áp làm việc và\r\nở ba giá trị điện áp cách xấp xỉ bằng\r\nnhau giữa các cực. Nếu mỗi trong số năm tỷ số giữa điện áp đo được với giá trị\r\nđiện áp nạp tương ứng nằm trong phạm vi ± 1 % giá
CHÚ THÍCH: Trong\r\nphương pháp này, các điều kiện nạp trong thời điểm kh
d) So\r\nsánh có đầu ra của dụng cụ đo trường điện
\r\n\r\nHệ thống đo phải được\r\nkiểm tra dựa vào dụng cụ đo trường điện được bố trí để đo t
Phải thực hiện các\r\nthử nghiệm sau đây.
\r\n\r\n- xác\r\nđịnh hệ số thang đo ấn định (xem 10.3.1),
\r\n\r\n- đáp\r\nứng động (xem 10.3.1),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm nhiễu (xem 6.4).
\r\n\r\n10.3.1.
a) Phương\r\npháp chuẩn
\r\n\r\nHệ số thang đo ấn\r\nđịnh và đáp ứng động của hệ thống đo phải được xác định bằng cách so sánh với\r\nhệ thống đo chuẩn, sử dụng qui trình cho trong 6.2 a) và 6.3 a). Mốc danh nghĩa\r\nphải được xác định bằng cách sử dụng các xung có\r\nhai dạng sóng khác nhau sao cho:
\r\n\r\n- thời\r\ngian tới đỉnh (hoặc thời gian đầu sóng) ngắn hơn cho tm
- th
- cả\r\nhai xung này cần có thời gian dài nhất đến nửa giá trị (hoặc thời gian trên 90\r\n% hoặc thời gian tới ''không") (xấp xỉ) mà hệ thống đo được công nhận.
\r\n\r\nMột cách khác, có thể\r\nsử dụng một trong các thử nghiệm sau đây:
\r\n\r\nb) Phép\r\nđo so sánh sử dụng xung có dạng sóng đơn kèm thêm phép đo đáp tuyến bậc thang
\r\n\r\nPhải thực hiện phép\r\nđo so sánh bằng dạng sóng đơn dựa trên hệ thống đo chuẩn theo 6.2 a) v
Ngoài ra, đáp tuyến\r\nbậc thang của hệ thống đo phải được ghi theo 5.8.2. (Các) mức chuẩn của (các)\r\nmốc danh nghĩa mà hệ thống đo được\r\ncông nhận không được sai khác so với giá trị của đáp tuyến bậc thang tại thời\r\ngian TPc
Đáp tuyến bậc thang\r\nkhông được thay đổi quá 5 % đối với các\r\nthời gian đến thời gian dài nhất tới nửa giá trị (hoặc thời gian trên 90 % hoặc\r\nthời gian tới "không") mà hệ thống\r\nđược công nhận.
\r\n\r\nc) Đo\r\nhệ số thang đo của thành phần và xác định thông số\r\nđáp tuyến từ đáp tuyến bậc thang
\r\n\r\nHệ số thang đo ấn\r\nđịnh của hệ thống đo phải được xác định theo 6.2 b). Dãy đi
Đáp tuyến bậc thang\r\ncủa hệ thống đo phải được ghi theo 5.8.2. Đáp tuyến bậc thang này phải không\r\nđổi trong phạm vi ± 1 % từ tmin
Thời gian đặt ts\r\nphải nhỏ hon 10 ms.
\r\n\r\nd) Đo\r\nhệ số thang đo ấn định bằng điện áp cao xoay chiều kèm theo phép đo đáp tuyến\r\nbậc thang
\r\n\r\nHệ số thang đo của hệ\r\nthống đo phải được xác định theo qui trình của 6.2 b), sử dụng điện áp cao xoay\r\nchiều và đáp tuyến bậc thang của hệ thống đo phải được đo theo 5.8.2. Đáp tuyến\r\nbậc thang này phải được đặt trong phạm vi ± 1 % và duy trì trong phạm vi ± 1 %\r\ntừ tmin
Thời gian đ
Khi sử dụng đáp tuyến\r\nbậc thang để đánh giá các đặc tính của hệ thống đo, hồ sơ tính năng phải bao\r\ngồm:
\r\n\r\n- hồ\r\nsơ về đáp tuyến bậc thang đơn vị, với chỉ số\r\ncủa O1 v
- giá\r\ntrị của ts.
\r\n\r\n10.3.2.
Khi cần thiết để sử\r\ndụng trong các kiểm tra tính năng, đáp tuyến bậc thang của hệ thống đo phải\r\nđược ghi lại theo phương pháp của 5.8.2. Điều này phải được nêu trong hồ sơ\r\ntính năng để sử dụng như hồ sơ chuẩn ("đặc trưng riêng”) để cho phép phát\r\nhiện các thay đổi trong đáp ứng động ở\r\ncác kiểm tra tính năng tiếp theo (xem 10.4.2).
\r\n\r\n10.3.3.
Thử nghiệm phải được\r\ntiến hành theo 5.5.4.
\r\n\r\n\r\n\r\n10.4.1.
Hệ số thang đo của hệ\r\nthống đo được công nhận có thể được kiểm tra bằng một trong các phương pháp\r\ndưới đây.
\r\n\r\na) Kiểm\r\ntra hệ số thang đo của các thành phần
\r\n\r\n(Các) hệ số thang đo\r\ncủa từng thành phần phải được kiểm tra bằng cách sử dụng bộ hiệu chuẩn trong\r\nhoặc ngoài có sai số nằm trong phạm vi ± 1 %. Nếu chênh lệch giữa các hệ số\r\nthang đo so với giá trị trước đ
b) Kiểm\r\ntra hệ số thang đo của hệ thống đo
\r\n\r\nPhải thực hiện việc\r\nso sánh với hệ thống đo được công nhận khác (hoặc hệ thống đo chuẩn) theo qui\r\ntrình nêu trong 6.2 a) hoặc bằng khe hở cầu theo 10.5 (chỉ riêng hệ số th
Nếu chênh lệch giữa\r\nhai giá trị đỉnh đo được không lớn\r\nhơn 3 % (5 % khi sử dụng khe hở cầu) thì hệ số thang\r\nđo ấn định được lấy vẫn còn hiệu lực. Nếu chênh lệch l
G
10.4.2.
Trong mỗi lần kiểm\r\ntra, phải ghi lại đáp tuyến bậc thang theo cùng một c
Cách khác là có thể kiểm\r\ntra đáp ứng động bằng cách so sánh với hệ thống đo\r\nđược công nhận khác (hoặc hệ thống đo chuẩn) sử dụng qui\r\ntrình của 6.3.
\r\n\r\nKhe hở cầu, bức xạ\r\nvới một lỗ tia sáng nhưng không theo IEC 60052, là một thiết bị đo chuẩn IEC để\r\nđo giá trị đỉnh của xung đóng cắt tiêu chuẩn, có độ không đ
Điện áp phóng điện\r\nđánh thủng (giá trị 50 %) của khe hở cầu\r\nđối với xung đóng cắt được lấy từ bảng dùng cho xung sét có cùng cực tính cho\r\ntrong IEC 60052.
\r\n\r\n\r\n\r\nYêu cầu chung là để:
\r\n\r\n- đo\r\ngiá trị đỉnh với độ không đảm bảo đo tổng\r\ntrong phạm vi ± 3 %,
\r\n\r\n- đo\r\ncác thông số thời gian (xác định dạng sóng) với độ không đảm bảo đo tổng trong\r\nphạm vi ± 10 %,
\r\n\r\n- cho\r\nphép phát hiện các dao động xếp chồng lên xung dòng điện.
\r\n\r\nCH
11.1.1.
Hệ số thang đo của\r\nthiết bị biến đổi và hệ thống truyền dẫn không được biến thiên quá ± 1 % đối
Dụng cụ đo phải phù\r\nhợp với IEC 790 hoặc IEC 61083-1.
\r\n\r\n11.1.2.
Đáp ứng động của hệ\r\nthống đo là thích hợp đối với dãy dạng sóng qui định trong hồ sơ tính năng khi:
\r\n\r\n- hệ số\r\nthang đo không đổi trong phạm vi ± 1 % trong mỗi dãy dạng sóng,
\r\n\r\n- độ\r\nkhông đảm bảo đo của các thông số thời gian đo được nằm trong phạm vi ± 10 %.
\r\n\r\nCác yêu cầu của thử\r\nnghiệm điển hình có thể được thỏa mãn bằng thử nghiệm trên khối cùng kiểu hoặc\r\nđôi khi có được từ dữ liệu của nhà chế tạo. Phải thực hiện thử\r\nnghiệm thường xuyên\r\ntrên mỗi khối. Xem chi tiết ở điều 5 và các ngoại\r\nlệ ở 4.4.2.
\r\n\r\nThành phần c
Thử nghiệm điển hình:
\r\n\r\n- ảnh\r\nhưởng của nhiệt độ lên thiết bị biến đổi và hệ thống truyền dẫn và lên các hệ s
- tính\r\nổn định trong thời gian dài (5.5),
\r\n\r\n- ảnh\r\nhưởng do khoảng cách gần (nếu có yêu cầu) (5.7),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm chịu ẩm hoặc chịu nhiễm bẩn trên thiết bị\r\nbiến đổi (nếu có yêu cầu) (5.9),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm nhiễu trên hệ thống truyền dẫn có các phần tử hoạt động (6.4),
\r\n\r\n- đáp\r\nứng động (5.8).
\r\n\r\nThử nghiệm thường\r\nxuyên:
\r\n\r\n- xác\r\nđịnh hệ số thang đo (5.2),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm tính tuyến tính (5.3, phương pháp thay thế bổ sung 11.2.1),
\r\n\r\n- t
-
11.2.1.
Thử nghiệm tính tuyến\r\ntính phải được thực hiện theo 5.3, sử dụng xung dòng điện có dạng sóng đ
Phương pháp thay thế\r\nbổ sung là:
\r\n\r\nDòng điện xung được\r\nmang bởi một điện tr
Phải thực hiện các\r\nthử nghiệm sau đây:
\r\n\r\n- xác\r\nđịnh hệ số thang đo ấn định (11.3.1),
\r\n\r\n- đáp\r\nứng động (11.3.1),
\r\n\r\n- thử\r\nnghiệm nhiễu (6.4).
\r\n\r\n11.3.1.
a) Phương\r\npháp chuẩn đối với sun có đáp tuyến bậc thang đề
Đối với sun c
CHÚ THÍCH: T
b) Phương\r\npháp chuẩn đối với các thiết bị biến đổi khác
\r\n\r\nHệ số thang đo ấn\r\nđịnh và đáp ứng động của hệ thống đo phải được xác định theo\r\n6.2 a) và 6.3 a). Mốc d
- thời\r\ngian đầu sóng ngắn hơn cho
- thời\r\ngian đầu sóng dài hơn cho tmax (xem 3.6.1),
\r\n\r\n- cả\r\nhai dạng sóng này cần có thời gian dà
Một cách khác, có thể\r\nsử dụng thử nghiệm sau đây:
\r\n\r\nc) Đo\r\nhệ số thang đo của thành phần và xác định thông\r\nsố đáp tuyến từ đáp tuyến bậc thang
\r\n\r\nHệ số thang đo ấn\r\nđịnh của hệ thống đo phải được xác định theo quy
Đáp tuyến bậc thang\r\ncủa hệ thống đo phải được ghi theo 5.8.2. Đáp tuyến bậc thang này phải không\r\nđổi trong phạm vi ± 1 % từ tm
Đáp tuy
Một cách khác, nếu có\r\ncác dao động cao tần trên đáp tuyến bậc thang thì phải chứng tỏ\r\nrằng thời gian đặt ts
Ngoài ra, đáp tuyến\r\nbậc thang không được sai lệch so với mức chuẩn quá 5 % đối với thời gian dài\r\nnhất tới nửa giá trị yêu cầu cho việc công nhận.
\r\n\r\nKhi đo dòng điện xung\r\ntiêu chuẩn với thời gian đầu sóng T
Khi sử dụng đáp tuyến\r\nbậc thang để đánh giá các đặc tính của hệ thống đo, hồ sơ tính năng phải bao
- hồ\r\nsơ về đáp tuyến bậc thang đơn vị, với chỉ số của
- giá\r\ntrị của Ta,
11.3.2.
Khi cần thiết để sử\r\ndụng trong các kiểm tra tính năng, đáp tuyến bậc thang của hệ\r\nthống đo phải được ghi lại theo phương pháp của 5.8.2. Điều này phải được nêu\r\ntrong hồ sơ tính năng để sử dụng như hồ sơ\r\nchuẩn ("đặc trưng riêng”) để cho phép phát hiện các thay đổi trong đáp ứng\r\nđộng ở các kiểm tra\r\ntính năng tiếp theo (xem 11.4.2).
\r\n\r\n\r\n\r\n11.4.1.
Hệ số thang đo của hệ\r\nthống đo được công nhận có thể được kiểm tra bằng một trong các phương pháp\r\ndưới đây.
\r\n\r\na) Kiểm\r\ntra hệ số thang đo của các thành phần
\r\n\r\n(Các) hệ số thang đo\r\ncủa từng thành phần có thể được kiểm tra bằng cách sử dụng thiết bị hiệu chuẩn\r\nbên trong hoặc bên ngoài có độ không đảm\r\nbảo đo không vượt quá ± 1 %. Nếu chênh lệch giữa các hệ s
b) Kiểm\r\ntra hệ số thang đo của hệ thống đo
\r\n\r\nPhải thực hiện việ
11.4.2.
Trong mỗi lần kiểm\r\ntra, phải ghi lại đáp tuyến bậc thang theo cùng một\r\ncách và trong cùng mạch điện như đã được sử dụng để thu được hồ sơ chuẩn (xem\r\n11.3.2). Hồ sơ đáp tuyến bậc thang phải được so sánh với các
Cách khác
12.1.1.
Hệ thống đo chuẩn\r\ndùng cho điện áp một chiều phải có độ không đảm bảo đo tổng trong\r\nphạm vi ± 1 % trong dãy sử dụng của hệ thống. Độ chính xác không
12.1.2.
Hệ thống đo chuẩn\r\ndùng cho điện áp xoay chiều phải có độ\r\nkhông đảm bảo đo tổng trong phạm vi ± 1 % trong\r\ndãy sử dụng của hệ thống.
\r\n\r\n12.1.3.
Hệ thống đo chuẩn\r\ndùng cho điện áp xung toàn sóng và xung sét cắ
12.1.4.
Hệ thống đo chuẩn\r\ndùng cho xung sét cắt ở đầu sóng phải có độ không đảm bảo đo\r\ntổng trong phạm vi
12.1.5.
Hệ thống đo chuẩn đối\r\nvới dòng điện xung phải có độ không đảm bảo đo tổng trong phạm vi ±
Sự phù hợp của hệ\r\nthống đo chuẩn với các yêu cầu liên quan cho trong 12.1 của tiêu chuẩn này phải\r\nđược chứng tỏ bằng thử nghiệm của 12.2.1.\r\nCách khác là có thể sử dụng thử nghiệm của 12.2.2.
\r\n\r\n12.2.1.
Sự thỏa mãn về tính\r\nnăng của hệ thống đo chuẩn phải được chứng tỏ\r\nbằng các phép đo so sánh ở điện áp cao hoặc dòng điện lớn trên hệ thống đo\r\nchuẩn mà bản thân hệ thống có khả năng truy nguyên từ các so\r\nsánh quốc gia hoặc quốc tế.
\r\n\r\nHệ số thang đo của hệ\r\nthống đo chuẩn phải được thiết lập với độ không đảm\r\nbảo đo trong phạm vi ± 0,5 %.
\r\n\r\n12.2.2.
Hệ số thang đo của hệ\r\nthống đo chuẩn phải được thiết lập với độ không đảm bảo đo trong phạm vi ± 0,5\r\n% theo qui trình cho trong 6.2 b). Thông số đáp tuyến cần thỏa mãn các yêu cầu\r\nsau đây:
\r\n\r\n| \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Th | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Th | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Thời gian đáp ứng\r\n từng phần Ta \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Thời gian méo ban | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Khi không có bằng\r\nchứng trái ngược, việc chứng nhận phải được lặ
Khuyến cáo là ch
Tần số giới hạn trên\r\nvà giới hạn dưới được thể hiện ở đường cong A.
\r\n\r\nĐường cong B biểu\r\ndiễn đáp tuyến không đổi giảm đến điện áp một chiều.
\r\n\r\n\r\n\r\n
A.
Khi các quốc gia có\r\nhệ thống công nhận của quốc gia sử\r\ndụng các hệ thống này trong việc áp dụng tiêu chuẩn này thì c
A.
Theo TCVN ISO/IEC\r\n17025, có hai loại phòng thí nghiệm\r\nđược công nhận:
\r\n\r\na) Phòng\r\nhiệu chuẩn được công nhận
b) Ph
A.
Hệ thống công nhận\r\nphải đòi hỏi các phòng hiệu chuẩn được công nhận sử\r\ndụng thiết bị đo có hiệu chuẩn có khả năng truy nguyên theo tiêu chuẩn đo lường\r\nquốc gia và sự phù hợp với yêu cầu này phải được chứng nhận.
\r\n\r\nA.
Để phù hợp v
CH
Cơ quan công nhận\r\nquốc gia có thể ủy quyền\r\ncho một phòng thử nghiệm được công nhận tiến hành các thử nghiệm tính năng liên\r\ntiếp trên hệ thống đo của mình.
\r\n\r\nỞ những quốc gia\r\nkhông có hệ thống công nhận nhưng có kế hoạch xây
A.
A.
TCVN
TCVN ISO/IEC 17025 :\r\n2001, Yêu cầu chung về năng lực của phòng thử nghiệm hiệu chuẩn
\r\n\r\nTCVN ISO/IEC 17020 :\r\n2001, Chuẩn mực chung cho các hoạt động của tổ chức tiến hành giám định
\r\n\r\nISO/IEC Guide 16 :\r\n1978, Code of principles on third-party certif
ISO/IEC Guide 23 : 1982,\r\nMethods of indicating conformity with standards for third-party\r\ncertification systems (Phương ph
ISO/IEC Guide 39 :\r\n1988, General requirements for the acceptance of inspection bodies (Yêu cầu\r\nchung đối với việc chấp nhận cơ quan kiểm tra)
\r\n\r\nISO/IEC\r\nGuide 40 : 1983, General requirements for the acceptance of certi
ISO/IEC Guide 42 :\r\n1984, Guidelines for a step-by-step approach to an in
ISO/IEC Guide 43 :\r\n1984, Development and operation of laboratory profi
ISO/IEC Guide 44 :\r\n1985, General rules for ISO or lEC international\r\nthird-party certification schemes for
ISO/IEC Guide 45 :\r\n1985, Guidelines for the presentation of test results (Hướng dẫn thể hiện kết\r\nquả thử nghiệm)
\r\n\r\nA.
Danh mục các hệ thống\r\ncông nhận phòng thử nghiệm quốc tế và các\r\nkế hoạch đánh giá phòng thử nghiệm khác, xuất bản lần thứ\r\nba, 1985. Hội nghị công nhận phòng thử nghiệm quốc tế, Tổ chức Tiêu chuẩn hóa\r\nquốc tế (ISO), Genevơ, Thụy Điển.
\r\n\r\nA.
Locke J.
\r\n\r\n
Đề cương hồ sơ tính\r\nnăng được cho trong 4.4.3, dạng đầy đủ của hồ sơ tính năng khuyến cáo được cho\r\ntrong điều B.1 đến B.6 và dạng tối thiểu được cho trong B.7.
\r\n\r\nB.1 Cấu trúc chung
\r\n\r\nCấu trúc cụ thể của h
Chương A1:
Chương B: Kết quả của\r\nthử nghiệm chấp nhận trên các thành phần
\r\n\r\nChương C: Kết quả thử\r\nnghiệm thường xuyên trên các thành phần
\r\n\r\nChương D1: Kết quả\r\ncủa thử nghiệm tính năng lần đầu trên hệ thống đo
\r\n\r\nChương E1: Kết quả\r\ncủa lần kiểm tra tính năng lần đầu
\r\n\r\nChương E2 đến EM: Kết\r\nquả của lần\r\nkiểm tra tính năng thứ hai đến thứ M
\r\n\r\nChương D2:
Chương E(M+1) đến EN:\r\nKết quả của lần kiểm tra tính năng thứ (M+1) đến thứ
Chương A2: M
Tài liệu do nhà chế\r\ntạo hoặc người khác phát hành phải được thêm vào hồ sơ tính năng và trích dẫn\r\nrõ ràng trong chương tương ứng.
\r\n\r\nB.2 Mô tả
Mô tả hệ thống phải\r\ngồm tất cả các thông tin cần thiết để nhận dạng\r\nhệ thống. Mô tả\r\ncần gồm các hạng mục nêu trong B.2.1 đến B.2.9.
\r\n\r\nB.2.1 Đặc điểm của hệ\r\nthống đo
\r\n\r\nĐối với hệ thống đo\r\nđiện áp: loại bộ phân áp (gồm các điện trở, tụ\r\nđiện hoặc kết hợp cả hai), máy biến\r\náp, trở kháng cao áp, bố trí đầu đo trường, v.v...
\r\n\r\nĐối với hệ thống đo\r\ndòng điện: loại điện trở sun, máy biến dòng, v.v...
\r\n\r\nLoại điện áp hoặc\r\ndòng điện có thể được đo bằng hệ thống (ví dụ như điện áp xoay chi
B.2.2 M
- sử\r\ndụng trong nhà hay ngoài trời,
\r\n\r\n- dãy\r\nđiều kiện khí hậu,
\r\n\r\n- các\r\nbiện pháp đề phòng cần thiết để tránh ứng suất cơ,
\r\n\r\n- bản\r\nvẽ và kích thước chính.
\r\n\r\nPhải chỉ ra
B.2.3 Sơ đ
- sơ\r\nđồ mạch điện của hệ thống đo hoàn chỉnh.
\r\n\r\nB.
Các giá trị, lấy từ\r\ntấm nhãn của nhà chế tạo, phải bao gồm:
\r\n\r\n- số\r\nsêri,
\r\n\r\n- thông\r\nsố điện áp hoặc dòng điện;
\r\n\r\n- (các)\r\ngiá trị danh nghĩa.
\r\n\r\nB.
Đ
- loại\r\ncáp,
\r\n\r\n- tr
- chiều\r\ndài cáp sử dụng,
\r\n\r\n- tr
Đối với các hệ thống\r\ntruyền dẫn khác
- loại\r\nvà các đấu nối,
\r\n\r\n- đặc\r\ntính đầu vào,
\r\n\r\n- đặc\r\ntính đầu ra.
\r\n\r\nB.
- loại\r\ndụng cụ ghi hoặc chỉ thị hoặc máy hiện sóng,
\r\n\r\n- điện\r\náp hoặc dòng điện danh định,
\r\n\r\n- đặc\r\ntính đầu vào,
\r\n\r\n- hồ\r\nsơ tính năng của dụng cụ (nếu được qui định bằng tiêu chuẩn
B.
Kích thước của dây\r\ndẫn cao áp và vị trí cũng như các tham số của dãy điện trở hoặc trở kháng bất\r\nkỳ.
\r\n\r\nB.
Kích thước và c
CHÚ THÍCH: Đấu nối\r\nnày có thể bao gồm các đấu nối với dụng cụ đo và n
B.
K
B.3 Kết quả thử nghiệm\r\nchấp nhận trên các thành phần\r\n(chương B)
\r\n\r\nNhà chế tạo cần đưa\r\nra thông tin và người sử dụng đưa và hồ sơ tính nă
Yêu cầu cụ thể và qui\r\ntrình thử nghiệm được cho trong các điều\r\ntương ứng của tiêu chuẩn này, theo loại điện áp hoặc dòng điện cần đo.
\r\n\r\nB.4 Kết quả thử\r\nnghiệm thường xuyên trên hệ thống đo hoàn chỉnh (chương C)
\r\n\r\nKhi hệ thống đo hoàn\r\nchỉnh được cung cấp, phương pháp sử dụng và kết quả của các thử nghiệm dưới đây\r\ncần được báo cáo:
\r\n\r\n- phép\r\nđo hệ số thang đo,
\r\n\r\n- đáp\r\nứng động (nếu có yêu cầu).
\r\n\r\nViệc xác định hệ số\r\nthang đo của hệ thống đo hoàn chỉnh này không thể\r\nthay thế cho phép đo tính năng thực hiện tại phòng thử nghiệm của người sử\r\ndụng.
\r\n\r\nB.5 Kết quả thử\r\nnghiệm tính năng (Chương D)
\r\n\r\nKết quả của thử\r\nnghiệm tính năng được thực hiện theo qui trình mô
B.
C
B.
Mô tả thiết bị biến\r\nđổi:
\r\n\r\n- Loại
\r\n\r\n- Nhà\r\nchế tạo
\r\n\r\n- Số\r\nsêri
\r\n\r\n- (Các)\r\ndạng sóng
\r\n\r\n- (Các)\r\nđiện áp danh nghĩa
\r\n\r\n- (Các)\r\ntỷ số danh nghĩa.
\r\n\r\nM
- Hệ\r\nthống truyền dẫn
\r\n\r\n- Bố\r\ntrí nối đất
\r\n\r\n- Dụng\r\ncụ đo.
\r\n\r\nThử nghiệm tính năng\r\n(hiệu chuẩn):
\r\n\r\n- Ngày,\r\ntháng, năm
\r\n\r\n- Hệ\r\nsố thang đo ấn định (ví dụ như (các) tỷ số đo được)
\r\n\r\n- Đáp\r\nứng động
\r\n\r\n- Tính\r\ntuyến tính
\r\n\r\n- Thời\r\nhạn hiệu lực.
\r\n\r\nPhương pháp truy\r\nnguyên:
\r\n\r\na) Bằng\r\ndịch vụ hiệu chuẩn
\r\n\r\n- Tên\r\ncủa công ty/phòng thử nghiệm.
\r\n\r\nb) Nội\r\nbộ
\r\n\r\n- Phương\r\npháp
\r\n\r\n-
- Tài\r\nliệu hiệu chuẩn dụng cụ.
\r\n\r\nKiểm tra tính năng:
\r\n\r\n- Ngày,\r\ntháng, năm
\r\n\r\n- (Các)\r\nhệ số thang đo (ví dụ như (các) tỷ số).
\r\n\r\n\r\n\r\n
C.
Bố trí mạch điện dùng\r\nđể xác định đáp tuyến bậc thang cần được mô tả
C
Mạch thích hợp được\r\ncho trên hình C.1. Mạch
Để tạo nấc, hệ thống\r\nđo được cung cấp xung tăng chậm hoặc điện áp một chiều bị cắt bởi rơle hoặc khe\r\nhở (hình C.1d). Cá
- bằng\r\nrơle có các tiếp điểm ngâm thủy ngân: việc này cho\r\ncác nấc đến vài trăm vôn,
\r\n\r\n- bằng\r\nkhe hở trường đồ
- bằng\r\nkhe hở đồng\r\nnhất có khoảng cách đến vài milimét dưới
Khi nấc được tạo ra\r\nbằng bộ tạo lặp, độ dài bậc thang và khoảng
C
Dòng điện bậc thang\r\nxấp xỉ được đưa vào các đầu nối vào\r\ncủa thiết bị biến đổi. Dòng điện hoặc điện áp ra được đo bằng bộ ghi kỹ thuật\r\nsố hoặc máy hiện sóng (thường có bộ khuếch đại).
\r\n\r\nHai phương pháp tạo\r\ndòng điện bậc thang được thể hiện trên hình C.2. Trên hình
\r\nG là khe hở
\r\n\r\n
Trong điều kiện làm\r\nviệc bình thường, điện trở và sun dòng điện của bộ phân áp phải tiêu\r\ntán một lượng năng lượng đáng kể trong thời gian ng
trong đó
\r\n\r\nDt
W
M
s
Trong trường hợp đối\r\ntượng thử nghiệm không đáp ứng yêu cầu\r\nkhi thử nghiệm dòng điện xung thì năng lượng dự trữ của máy phát xung sẽ tiêu\r\ntán chủ yếu trên điện trở sun. Điện trở sun cần có các đặc tính sao cho trong\r\nđiều kiện này độ tăng nhiệt không vượt quá 200 K.
\r\n\r\nĐối với độ tăng nhiệt\r\nlũy tiến cùng với việc đặt điện áp hoặc dòng điện l
E.
Nhóm nghiên cứu quốc\r\ntế Renardieres về hệ thống đo xung,\r\n"Các vấn đề gặp phải khi đo UHV", Electra 35, trang 157-254, tháng 7\r\nnăm 1974.
\r\n\r\nA.Bonamy,\r\nF.Deschamps, A.W. van Boetze
F.C.
R.E. Hebner và
T.R. McComb, F.A.\r\nChagas, K.Feser, B.l. Gururaj, R.C. Hughes,\r\nvà G.Rizzi, "Phương pháp đo tương đối xung HV\r\nđể đánh giá các giá trị đặt khác nhau của các thông số đáp tuyến" (90WM\r\n056-2), T-PWRD\r\ntháng 1 năm 91, trang 70-77, G.Carrara.
\r\n\r\nT.R. McComb, M.M.C Co
T.R. McComb, R.
E.2 Một s
G.W.
FC. Cree
R.E. Hebner, D.L.\r\nHillhouse và R.A, Bullock, "Đánh giá hệ thố
E.3 Thiết bị đo theo\r\ntiêu chuẩn IEC
\r\n\r\nK.
E.Gockenbach, Nhóm\r\nlàm việc 03 của Ban nghiên cứu 33, "Phép đo điện áp xung đóng cắt tiêu\r\nchuẩn bằng phương pháp khe hở cầu (một hình
\r\n\r\n
N
Chữ số chỉ đi
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||||
| \r\n 1) 2) 3) 4 5) | \r\n |||||||||
\r\n\r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||||
| \r\n 1 2) 3) 4) 5 | \r\n |||||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||||
| \r\n 1) 2 3) 4 5) | \r\n |||||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||||
| \r\n 1) 2 3) 4 5) | \r\n |||||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||||
| \r\n 1) 2 3) 4 5) | \r\n |||||||||
\r\n\r\n
G.
Tỷ số bộ chia có thể\r\nđược xác định bằng cách đo trở kháng của các nhánh\r\nđiện áp cao và điện áp thấp riêng rẽ. Sau đó, tỷ số này có được bằng cách chia\r\ntổng của các trở kháng cho trở kháng của nhánh điện áp thấp. Một phương pháp\r\nkhác để chọn lựa là đặt điện áp vào bộ chia và đo đồng thời điện áp v
Đối với bộ chia điện\r\ntrở, điện trở của các nhánh điện áp cao và điện áp thấp thường được đo v
Tỷ số bộ chia kiểu tụ\r\nđiện bị ảnh hưởng bởi điện dung tạp tán, vì vậy, cần xác định tỷ số của chúng\r\nbằng nhánh điện áp cao đặt ở vị trí bình thường trong quá trình thử nghiệm. Đối\r\nvới các bộ chia tụ điện hoặc điện trở/tụ điện mắc nối tiếp, điện dung của nhánh\r\nđiện áp cao có thể được đo bằng phương pháp cầ
Đối với bộ chia điện\r\ntrở/tụ điện mắc song song, có thể đo\r\nđiện trở và điện dung của nhánh điện áp cao bằng cách tạm thời tháo điện trở\r\nkhỏi nhánh điện áp cao và đo điện dung của nhánh còn lại dùng phương pháp được\r\nmô tả như trên. Điện trở của\r\nnhánh điện áp cao được đo khi ở đúng vị trí của nó hoặc khi các điện tr
G.
Cần\r\ncó các phòng ngừa đặc biệt để tránh thay đổi không chủ ý khi sử dụng đầu đo dao\r\nđộng cùng với bộ phân áp để làm giảm tín hiệu đến mức thích hợp đối với bộ ghi số\r\nhoặc máy hiện sóng. Cần phải điều chỉnh chính xác việc bù đầ
Cần chú ý rằng bộ\r\nphát sóng vuông lắp trong ở hầu hết các máy hiện sóng không có thời gian tăng\r\nđủ nhanh hoặc mức đỉnh đủ dài để bù nếu sử dụng đầ
G.
Hệ số thang đo của\r\nmột số đầu đo hiện sóng không thể xác định được từ phép đo trở kháng; trong các\r\ntrường hợp này thì có thể xác định hệ số thang đo bằng cách đặt điện áp vào đầu\r\nđo có thể đo một cách chính xác bằng vônmét bên ngoài và đo điện áp ra của máy\r\nhiện sóng (hiệu chỉnh theo tiêu chuẩn IEC liên quan).
\r\n\r\nViệc bù đầu đo phải\r\nđược điều chỉnh để có đáp ứng tối ưu trước khi\r\nđo. Có thể sử dụng máy phát một bậc và mức một chiều trước khi đặt tín hiệu bậc\r\nthang là tín hiệu đầu vào cần đo.
\r\n\r\nCách khác, có thể sử\r\ndụng tín hiệu xoay chiều với điều kiện là\r\ntần số của nó nằm trong khả năng đo của vônmét bên\r\nngoài. Một phương pháp khác là sử dụng máy phát xung chuẩn (
Khi sử dụng hai đ
G.
Để đạt đến độ chính\r\nxác yêu cầu trong quá tr
Độ không đảm bảo đo\r\ncó thể giảm nếu sử dụng bộ ghi số 10-bit hoặc 12-bit, với điều kiện là tốc độ\r\nlấy mẫu đủ nhanh để đo thời gian đ
Bộ ghi số hoặc máy\r\nhiện sóng có bộ suy giảm bên trong bất kỳ cần\r\nđược kiểm tra độ chính xác, tốt nhất là bằng máy phát xu
G.
Đồng hồ bên trong các\r\nbộ ghi số hiện đại thường có đủ độ chính xác và ổn định để bỏ qua các sai lệch\r\ntừ nguồn. Tuy nhiên, cần (và đủ) chứng tỏ rằng dụng cụ này phù hợp với các yêu\r\ncầu của IEC 61083-1.
\r\n\r\nH.1 Giới thiệu
\r\n\r\nTiêu chuẩn này nêu\r\ncác yêu cầu dùng cho hệ thống đo đã được công nhận sử dụng cho phép đo điện áp\r\ncao trong giới hạn độ không đảm bảo đo cho trong tiêu chuẩn này và nêu các yêu\r\ncầu đối với các qui định liên quan cần đưa vào hồ sơ tính năng.
\r\n\r\nPhụ lục này nêu qui\r\ntrình đánh giá độ không đảm bảo đo tổng ở mức tin cậy cho trước. Phụ lục này\r\ncũng nêu qui tắc làm tròn các giá trị đo được và đánh giá độ không đảm bảo đo.
\r\n\r\nH.2 Nguyên tắc chung
\r\n\r\nĐộ không đảm bảo đo\r\nlà:
\r\n\r\n- các giới hạn (± U)\r\ncủa dãy giá trị mà giá trị thực của phép đo có thể nằm trong đó và liên quan\r\nđến kết quả ghi được, và
\r\n\r\n- xác suất để giá trị\r\nthực nằm trong các giới hạn này; xác suất này được thể hiện là mức tin cậy.
\r\n\r\nMột ví dụ của phép đo\r\ncó độ không đảm bảo đo là:
\r\n\r\nTất cả các phép đo\r\nđều không thực sự hoàn hảo. Hệ thống đo bị ảnh hưởng bởi các đại lượng thay đổi\r\n(ví dụ như nhiệt độ, kết cấu nối đất hoặc kết cấu có điện ở gần, nhiễu,\r\nv.v...). Nói chung, dễ nhận thấy rằng khi lặp lại phép đo vài lần thì các kết\r\nquả sẽ nằm trong một khoảng rộng (khoảng này là nhỏ nếu đáp ứng được các y
Nhiều thử nghiệm điện\r\náp cao chỉ cho phép có một phép đo. Các thử nghiệm khác yêu cầu một vài phép\r\nđo, ví dụ như điều 6 của tiêu chuẩn này đòi hỏi 10 phép đo. Một phép đo có thể\r\ncho giá trị bất kỳ trong phạm vi phân bố có nhiều khả năng. Chênh lệch có thể\r\ncó giữa một giá trị (hoặc giá trị trung bình của một số ít phép đo) và trung\r\nbình của phân bố của tất cả các giá trị có thể có tạo ra độ không đảm bảo đo\r\nngẫu nhiên.
\r\n\r\nPhụ lục này nêu các\r\nqui trình giải quyết số lần lặp lại phép đo.
\r\n\r\nỞ hầu hết các phép\r\nđo, độ không đảm bảo đo tổng là kết quả của việc kết hợp một số thành phần được\r\nchia làm hai loại theo phương pháp đánh giá các giá trị số của chúng [1]
H.2.1 Các yếu tố góp phần\r\nvào độ không đảm bảo đo hệ thống (Kiểu B [1])
\r\n\r\nCác yếu tố góp phần\r\nvào độ không đảm bảo đo hệ thống là các thành phần không theo đánh giá thống kê\r\nmà được ước tính theo các phương pháp khác. Ví dụ như:
\r\n\r\n- độ không đảm bảo đo\r\ncủa việc hiệu chuẩn hệ thống đo (hoặc các thành phần của nó), qui định trong\r\nchứng chỉ hiệu chuẩn;
\r\n\r\n- sự trôi giá trị hệ số\r\nthang đo của hệ thống đo (ví dụ: già hoá);
\r\n\r\n- sử dụng hệ thống đo\r\ntrong các điều kiện không đổi khác các điều kiện hiệu chuẩn (ví dụ nhiệt độ khác\r\nnhau);
\r\n\r\n- độ phân giải của\r\ntừng dụng cụ.
\r\n\r\nKhi hệ thống đo (hoặc\r\nthành phần của hệ thống) được hiệu chuẩn và sau đó được sử dụng trong thử\r\nnghiệm, độ không đảm bảo đo của việc hiệu chuẩn được xem là một trong các độ\r\nkhông đảm bảo đo thành phần có hệ thống khi đánh giá độ không đảm bảo đo của\r\nkết quả thử nghiệm.
\r\n\r\nH.2.1.1 Các yếu tố góp\r\nphần vào độ không đảm bảo đo hệ thống (hình chữ nhật)
\r\n\r\nGiả thiết là các yếu\r\ntố góp phần vào độ không đảm bảo đo hệ thống này có phân bố theo hình chữ nhật,\r\nnghĩa là, giá trị đo bất kỳ trong giới hạn ước tí
Độ lệch tiêu chuẩn\r\ncủa phân bố chữ nhật là;
\r\n\r\nKhi kết hợp một số\r\n(n) yếu tố góp phần không tương quan với nhau (hình chữ nhật) [2] thì:
\r\n\r\na) độ lệch tiêu chuẩn\r\nlà:
\r\n\r\ntrong đó a1\r\nđến an là các giá trị nửa dãy của từng độ không đảm bảo đo thành\r\nphần:
\r\n\r\nb) khi có đủ số lượng\r\ncác yếu tố quan trọng thì sự phân bố là\r\nxấp xỉ Gauxơ.
\r\n\r\nH.2.1.2 Các yếu tố\r\ngóp phần vào độ không đảm bảo đo hệ thống (Gauxơ)
\r\n\r\nGiả thiết là các y
H.2.2 Kết hợp các yếu\r\ntố góp phần vào độ không đảm bảo đo hệ thống
\r\n\r\nSai lệch tiêu chuẩn\r\nđối với tất cả các yếu tố góp phần vào độ không đảm bảo đo hệ thống là;
\r\n\r\nH.2.3 Các yếu tố góp\r\nphần ngẫu nhiên (Kiểu A [1])
\r\n\r\nCác yếu tố góp phần\r\nngẫu nhiên là các giá trị được lấy theo thống kê từ phép đo lặp lại và, là các\r\ngiá trị ngẫu nhiên, thường nhận thấy do cách đo có xu hướng theo phân bố Gauxơ.\r\nTừng yếu tố góp phần ngẫu nhiên được đặc trưng bởi sai lệch tiêu chuẩn theo\r\nthực nghiệm (sr) của mẫu các giá trị đo (xem công thức (H.11) trong\r\nH.3.3.1).
\r\n\r\nH.2.4 Tương quan giữa\r\ncác yếu tố góp phần vào độ không đảm bảo đ
Không nên bỏ qua mối\r\ntương quan giữa các đại lượng đo được nếu nó tồn tại và lớn. Nếu có thể thì cần\r\nđánh giá bằng thực nghiệm mối tương quan này bằng cách thay đổi các đại lượng\r\ncó tương quan. Trong nhiều trường hợp, các đại lượng đo được là độc lập đủ để\r\ncó thể giả thiết các đại lượng ảnh hưởng là không tương quan. Nếu đã xác định\r\nrằng không thể bỏ qua và không thể xác định bằng thực nghiệm mối tương quan\r\ngiữa các đại lượng đo được thì cần áp dụng các qui trình trong ISO TAG 4, mục\r\n5.1 [1].
\r\n\r\nH.3 Độ không đảm bảo\r\nđo tổng
\r\n\r\nH.3.1 Kết hợp các yếu\r\ntố góp phần vào độ không đảm bảo đo
\r\n\r\nĐộ không đảm bảo đo\r\nđối với phân bố Gauxơ được cho bởi:
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nk là
P được cho ở dòng đầu\r\ntiên trong bảng H.1.
\r\n\r\nNế
Để kết hợp các yếu tố\r\ngóp phần vào độ không đảm bảo đo, qui trình của phụ lục này yêu cầu các các yếu\r\ntố góp phần vào độ không đảm bảo đo hệ thống và ngẫu nhiên của hệ thống đo được\r\ntính riêng rẽ. Sai lệch của độ không đảm bảo đo tổng U dựa trên căn bậc hai của\r\ntổng các bình phương của yếu tố góp phần vào độ không đảm bảo đo có hệ thống và\r\nđộ không đảm bảo đo ngẫu nhiên:
\r\n\r\nUs và Ur\r\nđược tính ở mức tin cậy như nhau và được lấy theo H.3.2 và H.3.3.
\r\n\r\nH.3.2
Công thức cơ bản đối\r\nvới độ không đảm bảo đo có hệ thống Us là:
\r\n\r\n(từ công thức (H.3) và\r\ncông thức (H.4)).
\r\n\r\nNếu đưa ra độ không\r\nđảm bảo đo hiệu chuẩn mà không chỉ ra bất kỳ mức tin cậy nào thì được coi là có\r\nphân bố chữ nhật với giá trị nửa dãy bằng với\r\nđộ không đảm bảo đo và là một trong các số hạng của công thức (H.2).
\r\n\r\nKhi cho độ không đảm\r\nbảo đo cùng với mức tin cậy thì giá trị này cần giả thiết là có phân bố Gauxơ.\r\nVì vậy, nếu độ không đảm bảo đo hiệu chuẩn được cho ở mức tin cậy là 95 % như\r\nkhuyến cáo chung thì giá trị này là 2s (tức là k = 2), và:
\r\n\r\nCụ thể, trong trường\r\nhợp chỉ có một hiệu chuẩn cho hệ thống đo hoàn chỉnh thì công thức (H.6) tr
trong đó a1\r\nđến an là các giá trị nửa dãy.
\r\n\r\nDạng tổng quát của\r\ncông thức (H.6) là:
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nU1 đến Um\r\nlà các yếu tố góp phần hiệu chuẩn được cho ở mức tin cậy qui định;
\r\n\r\nk1 đến kn,\r\nlà các hệ số phân bố chuẩn tương ứng.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Nếu có yếu\r\ntố góp phần bất kỳ khác hoặc được tính trên cơ sở giả thiết phân bố Gauxơ thì\r\nyếu tố này là một trong các số hạng (Um/km)2 trong\r\ncông thức (H.9).
\r\n\r\nH.3.3 Ước tính độ\r\nkhông đảm bảo đo ngẫu nhiên
\r\n\r\nTất cả các phép đo,\r\nđược lặp lại vài lần trong các điều kiện như nhau, sẽ cho một khoảng các giá\r\ntrị đo được (với điều kiện là đủ độ phân giải) và vì vậy, có độ không đảm bảo\r\nđo khi tính giá trị có thể có tiếp theo. Giá trị trung bình c
H.3.3.1 Ur\r\ncó được từ số ít lần đo (ví dụ: 10 lần như yêu cầu trong điều 6 của tiêu chuẩn\r\nnày)
\r\n\r\nKhi Ur là\r\nđộ không đảm bảo đo của giá trị trung bình, xm, của số ít các giá\r\ntrị (n) thì Ur được cho bởi:
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nt
P
trong đó
\r\n\r\nn
xi
xm
| \r\n n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 1) 2) | \r\n ||||
CHÚ THÍCH: Trong th
H.3.3.2 Ur\r\ncó được từ số lượng lớn các lần đo (n >> 10)
\r\n\r\nỞ mức tin cậy thích\r\nhợp 95 % đối với mẫu có số lần đo n >> 10, t\r\ntrong công thức (H.10) có thể được thay bằng k. Khi đó, độ không đảm bảo đo\r\ntrung bình, xm, của các mẫu trở thành:
\r\n\r\nH.3.3.3 Ur\r\ncó được từ số lượng lớn các lần đo được thiết lập từ trước
\r\n\r\nNếu giá trị sr\r\nđược thiết lập từ số lượng lớn các lần đo (ví dụ n1\r\n≥ 20 đối với mức tin cậy 95 %) với hệ thống đo không có thay đổi đáng kể thì độ\r\nkhông đảm bảo đo trong một lần đo tiếp theo (hay lặp lại) là:
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nn2 = 1\r\n(hoặc 2, v.v...) và n2 << n1.
\r\n\r\nH.4 Trình tự tính độ\r\nkhông đảm bảo đo tổng
\r\n\r\nTập hợp độ không đảm\r\nbảo đo là tập các giá trị ấn định cho từng yếu tố góp phần đáng kể. Tập hợp này\r\nđược sử dụng cùng qui trình cho trong phụ lục này để ước tính độ không đảm bảo\r\nđo tổng. Trình tự đối với các ước tính này\r\nnên giống như trình tự dùng cho các thử nghiệm tính năng.
\r\n\r\nH.5 Làm tròn các giá\r\ntrị đo được và các độ không đảm bảo đo ước tính
\r\n\r\nCác sai lệch phụ ở\r\ncác phép đo có thể được hạn chế bằng cách thực hiện tất cả các phép tính có số\r\ncon số có nghĩa nhiều hơn số con số có nghĩa giữ lại trong h
Độ không đảm bảo đo\r\nchỉ gồm một hoặc hai chữ số có nghĩa và độ không đảm bảo đo ghi được cần được làm\r\ntròn để tránh đưa ra con số quá lạc quan, ví dụ độ không đảm bảo đo được tính\r\nlà ± 0,82 % cần được làm tròn đến ± 0,9 % hoặc ± 1 %.
\r\n\r\nGiá trị đo được cần\r\nđược ghi lại với độ phân giải không quá 10 % độ không đảm bảo đo đã ghi lại và\r\ncần được làm tròn đến một đơn vị ở con số có\r\nnghĩa cuối cùng được giữ lại. Vì vậy, đối với điện áp đo với độ phân giải 0,01\r\n% và với độ không đảm bảo đo là ± 1 % thì giá trị đo được ghi lại cần làm tròn\r\nđến 0,1 %.
\r\n\r\nTuy nhiên, trong một\r\nsố trường hợp, một con số có nghĩa có thể cần đưa ra thêm để phát hiện sai lệch\r\ntrong một loạt phép đo, ví dụ như do sự thay đổi các điểu kiện đo.
\r\n\r\nH.6 Ví dụ về đánh giá\r\nđộ không đảm bảo đo của thử nghiệm tính năng bằng phương pháp chuẩn
\r\n\r\nH.6.1 Yêu cầu chung
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Các phép\r\nđo dưới đây được thực hiện trong phòng thí nghiệm sử dụng hệ thống đo chuẩn của\r\nphòng thí nghiệm đó.
\r\n\r\nỞ từng ví dụ, hệ\r\nthống đo được hiệu chuẩn về điều kiện sử dụng bình thường của nó. Hệ thống đo\r\nchuẩn cũng được nối vào đối tượng thử nghiệm và thực hiện đo đồng thời với 10\r\nlần đặt điện áp trên cả hai hệ thống đo.
\r\n\r\nHệ thống đo chuẩn\r\nđược hiệu chuẩn bởi phòng thí nghiệm chuẩn quốc gia. Chứng chỉ hiệu chuẩn bao\r\ngồm kết quả ở điện áp so sánh yêu cầu, báo cáo về điều kiện làm việc mà tại đó\r\nthu được kết quả và giá trị ước tính độ không đảm bảo đo được hiệu chuẩn ở mức\r\ntin cậy là 95 %.
\r\n\r\nĐể đơn giản hoá, giả\r\nthiết là phòng thử nghiệm có khả năng phát hiện được các điều kiện giống với\r\ncác điều kiện để hiệu chuẩn hệ thống đo chuẩn. Trong thực tế, điều này không\r\nphải lúc nào cũng có thể xảy ra, trong các trường hợp như vậy, dữ liệu bổ sung\r\nvề tính năng đối với hệ thống đo chuẩn có thể cần để tính hệ số hiệu chỉnh\r\nvà/hoặc ước tính các độ không đảm bảo đo bổ sung. Các độ không đảm bảo đo này\r\ncó thể trở thành các số hạng bổ sung trong công thức (H.9).
\r\n\r\nCần chú ý rằng các\r\nyếu tố góp phần vào độ không đảm bảo đo phải được xác định theo hiệu lực của\r\nthông số đo được bằng đại lượng nhiễu.
\r\n\r\nỞ hầu hết các trường\r\nhợp thực tế, sự kết hợp của các độ không đảm bảo đo, như mô tả
H.6.2
a) Độ không đảm bảo\r\nđo ngẫu nhiên (ước tính từ 10 cặp phép đo tương ứng)
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n
| \r\n \r\n
| \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Giá trị trung bình\r\ncủa thang đo Fm = 1,0042 (sau đó, giá trị này được hiệu chỉnh với\r\nsai lệch đã biết trong hệ thống đo chuẩn - xem e).
\r\n\r\nSai lệch chuẩn sr\r\n= 0,073 %
\r\n\r\ncho độ không đảm bảo\r\nđo ngẫu nhiên đối với P = 95 % là Ur = ± 0,052 %
\r\n\r\nb) Các yếu tố góp\r\nphần vào độ không đảm bảo đo hệ thống (công thức (H.8))
\r\n\r\n1) Độ phân giải của\r\ndụng cụ đo trong hệ thống đo chuẩn
\r\n\r\n± một nửa của chữ số\r\ncuối cùng đối với giá trị "không” = ± 0,05 kV
\r\n\r\n= ± 0,026 % của 190\r\nkV
\r\n\r\n± một nửa của chữ số\r\ncuối cùng đối với giá trị đọc = ± 0,05 kV
\r\n\r\n= ± 0,026% của 190 kV\r\n
\r\n\r\ndo đó, trong công\r\nthức (H.9): a1 =\r\n0,052 %
\r\n\r\n2) Độ phân giải của\r\ndụng cụ đo trong hệ thống đo
\r\n\r\n± một nửa của chữ số\r\ncuối cùng đối với giá trị "không" =\r\n± 0,05 kV
\r\n\r\n= ± 0,026% của 190 kV\r\n
\r\n\r\n± một nửa của chữ số\r\ncuối cùng đối với giá trị đọc = ± 0,05 kV
\r\n\r\n= ± 0,026% của 190 kV\r\n
\r\n\r\ndo đó, trong công\r\nthức (H.9): a2 =\r\n0,052 %
\r\n\r\n3) Sự trôi hệ số thang\r\nđo của hệ thống đo chuẩn
\r\n\r\nDựa trên kinh nghiệm\r\nvới các hệ thống tương tự, giả thiết giá trị a3 = 0,05 % để bù sự\r\ntrôi khi hiệu chuẩn hệ thống đo chuẩn từ thời điểm hiệu chuẩn l
4) Hiệu chuẩn độ không\r\nđảm bảo đo của hệ thống đo chuẩn
\r\n\r\nGiá trị cho trong\r\nchứng chỉ hiệu chuẩn là ± 0,3 % đối với mức tin cậy không nhỏ hơn 95 % (tức là\r\nk1 = 2) và vì vậy công thức\r\n(H.9) cho: (U1/k1) = 0,15 %.
\r\n\r\nc) Độ không đảm bảo\r\nđo tổng có hệ thống
\r\n\r\nTừ công thức (H.9),
\r\n\r\nvới k = 2 (tức là P =\r\n95 %): Us = ± 0,32 %
\r\n\r\nd) Độ không đảm bảo\r\nđo tổng với mức tin cậy không nhỏ hơn 95 %
\r\n\r\nTừ công thức (H.5): U\r\n= [(0,32)2 + (0,052)2]1/2
\r\n\r\n= ± 0,33 % được làm\r\ntròn lên là ± 0,4 %
\r\n\r\ne) Hiệu chỉnh sai số\r\nhiệu chuẩn của hệ thống đo chuẩn
\r\n\r\nSai số của hệ số\r\nthang đo của hệ thống đo chuẩn cho trong chứng chỉ hiệu chuẩn là - 0,1 %. Vì\r\nvậy, giá trị trung bình hiệu chỉnh của hệ số thang đo của hệ thống đo là:
\r\n\r\nFm =\r\n1,0042 x 1,001
\r\n\r\n= 1,0052 làm tròn là\r\n1,005
\r\n\r\nf) Kết quả hiệu chuẩn\r\ncủa hệ thống đo
\r\n\r\nGiá trị hệ số thang\r\nđo ấn định ở 190 kV là 1,005 có độ không đảm bảo đo là ± 0,4 % với mức tin cậy\r\nkhông nhỏ hơn 95 %.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Ví dụ này\r\ndùng cho hệ thống đo đọc trực tiếp có hệ số thang đo danh nghĩa là 1. Hệ
H.6.3
H.6.3.1 Giá trị đỉnh\r\ncủa xung sét tiêu chuẩn
\r\n\r\na) Độ không đảm bảo\r\nđo ngẫu nhiên (từ các cặp phép đo tương ứng) với các xung 1,2/50
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n
| \r\n \r\n
| \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Giá trị trung bình\r\ncủa hệ số thang đo: Fm = 1,0123 (sau đó, giá trị này được hiệu chỉnh\r\nvới sai số đã biết trong hệ thống đo chuẩn).
\r\n\r\nSai lệch chuẩn sr\r\n= 0,16 %
\r\n\r\ncho độ không đảm bảo\r\nđo ngẫu nhiên đối với P = 95 % là Ur = ± 0,12 %
\r\n\r\nb) Các yếu tố góp phần\r\nvào độ không đảm bảo đo có hệ thống (công thức (H.9))
\r\n\r\n1) Độ phân giải của\r\ndụng cụ đo trong hệ thống đo chuẩn
\r\n\r\n| \r\n ± một nửa của chữ\r\n số cuối cùng đối với giá trị "không" \r\n | \r\n \r\n = ± 1 / (2 x 255)\r\n giá trị toàn thang đo (với bộ ghi 8 bit) \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n = ± 0,245 % (với 80\r\n % giá trị toàn thang đo) \r\n | \r\n
| \r\n ± một nửa của chữ\r\n số cuối cùng đối với giá trị đọc \r\n | \r\n \r\n = ± 1 / (2 x 255)\r\n giá trị toàn thang đo | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n = ± 0,245 % (với 80\r\n % giá trị toàn thang đo) \r\n | \r\n
| \r\n do đó, trong công\r\n thức (H.9): \r\n | \r\n \r\n a1 =\r\n 0,49 % \r\n | \r\n
| \r\n 2) Độ phân giải của\r\n dụng cụ đo trong hệ thống đo \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
| \r\n ± một nửa của chữ\r\n số cuối cùng đối với giá trị "không" \r\n | \r\n \r\n = ± 1 / (2 x 255)\r\n giá trị toàn thang đo (với bộ ghi số 8 bit) \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n = ± 0,245 % (với 80\r\n % giá trị toàn thang đo) \r\n | \r\n
| \r\n ± một nửa của chữ\r\n số cuối cùng đối với giá trị đọc \r\n | \r\n \r\n = ± 1 / (2 | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n = ± 0,245 % (với 80\r\n % giá trị toàn thang đo) \r\n | \r\n
| \r\n do đó, trong công\r\n thức (H.9): \r\n | \r\n \r\n a1 =\r\n 0,49 % \r\n | \r\n
3) Sự trôi hệ số\r\nthang đo của dụng cụ đo trong hệ thống đo chuẩn
\r\n\r\nKhông tăng thêm độ\r\ntrôi, nếu kiểm tra thường xuyên cùng với bộ hiệu chuẩn xung mà hệ số thang đo không\r\nthay đổi.
\r\n\r\n4) Sự trôi hệ số\r\nthang đo của bộ phân áp trong hệ thống đo chuẩn
\r\n\r\nƯớc tính là a3\r\n= 0,2 %
\r\n\r\n5) Hiệu chuẩn độ\r\nkhông đảm bảo đo của dụng cụ đo trong hệ thống đo chuẩn
\r\n\r\nGiá trị cho trong\r\nchứng chỉ hiệu chuẩn là: U1 = 0,4 %\r\nđối với mức tin cậy không nhỏ hơn 95 % (k1 = 2) cho: (U1/k1)\r\n= 0,2 %
\r\n\r\n6) Hiệu chuẩn độ\r\nkhông đảm bảo đo của bộ phân áp trong hệ thống đo chuẩn
\r\n\r\nGiá trị cho trong\r\nchứng chỉ hiệu chuẩn là: U2 = 0,4 % đối với mức tin cậy không nhỏ hơn\r\n95 % (k2 = 2)
\r\n\r\ncho: (U2/k2)\r\n= 0,2 %
\r\n\r\nc) Độ không đảm bảo\r\nđo tổng có hệ thống
\r\n\r\nTừ công thức H.9, với\r\nk = 2 (tức là P = 95 %): Us = ± 0,95 %
\r\n\r\nĐộ không đảm bảo đo\r\ntổng với mức tin cậy không nhỏ hơn 95 %
\r\n\r\nTừ công thức (H.5): U\r\n= (0,952 + 0,122)1/2 %
\r\n\r\n= ± 0,96 % được làm\r\ntròn lên là ± 1 %
\r\n\r\ne) Hiệu chỉnh sai số\r\nhiệu chuẩn của hệ thống đo chuẩn
\r\n\r\nSai số của hệ số\r\nthang đo của hệ thống đo chuẩn cho trong chứng chỉ hiệu chuẩn là - 0,15 %
f) Kết quả hiệu chuẩn\r\nđối với giá trị đỉnh
\r\n\r\nGiá trị hệ số thang\r\nđo ấn định đối với các xung 1,2/50 ms, ở 500 kV là 1,014\r\nvới độ không đảm bảo đo là ± 1 % với\r\nmức tin cậy không nhỏ hơn 95 %.
\r\n\r\nCHÚ TH
H.6.3.2 Thời gian đầu\r\nsóng của xung sét (T1)
\r\n\r\na) Độ không đảm bảo\r\nđo ngẫu nhiên (ước tính từ 10 cặp phép đo tương ứng)
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n
| \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Giá trị trung bình\r\ncủa chênh lệch tương đối là + 8,1 %
\r\n\r\nSai lệch chuẩn sr\r\n= 3,5 %
\r\n\r\ncho độ không đảm bảo\r\nđo ngẫu nhiên đối với P = 95 % là Ur = ± 2,5 %
\r\n\r\nb) Các độ không đảm\r\nbảo đo có hệ thống
\r\n\r\nSai số bất kỳ của độ\r\nphân giải là nhỏ so với độ không đảm bảo đo ngẫu nhiên và chỉ độ không đảm bảo\r\nđo có hệ thống là độ không đảm bảo đo hiệu chuẩn của hệ thống đo và
Vì vậy độ không đảm\r\nbảo đo tổng có hệ thống với k = 2 là Us = ± 0,7 % với mức tin cậy là\r\n95 %.
\r\n\r\nc) Độ không đảm bảo\r\nđo tổng với mức tin cậy không nhỏ hơn 95 %
\r\n\r\nTừ công thức (H.5): U\r\n= (0,72 + 2,52)1/2 %
\r\n\r\n= ± 2,6 % được làm\r\ntròn lên là ± 3 %
\r\n\r\nd) Hiệu chỉnh sai số\r\nhiệu chuẩn của hệ thống đo chuẩn
\r\n\r\nSai số ở thang đo\r\nthời gian cho trong chứng chỉ hiệu chuẩn là - 0,66 %
\r\n\r\nVì vậy chênh lệch tương\r\nđối trung bình được hiệu chỉnh: = (+ 8,1 + 0,66) %
\r\n\r\n= + 8,76 % được làm tròn\r\nlên là ± 9 %
\r\n\r\ne) Kết quả của hiệu\r\nchuẩn thời gian đầu sóng
\r\n\r\nVới T1 =\r\n1,2 m
H.6.3.3 Thời gian đến\r\nnửa giá trị
\r\n\r\nSử dụng qui trình\r\nđược mô tả trong H.6.3.2.
\r\n\r\nH.7 Tài liệu tham\r\nkhảo
\r\n\r\n[1] ISO/TAG 4/WG3:\r\nJan 1993, "Guide to the expression of uncert
[2] Dietrich, C.F.\r\n"Uncertainty, calibration and probability",\r\n2 nd ed., Adam Hilger, London, U.K., 1991 ("Độ không đảm bảo đo, hiệu\r\nchuẩn và xác suất")
\r\n\r\n\r\n\r\n
Lời nói đầu
1. Phạm\r\nvi áp dụng ………………………………………………………………………………………
\r\n\r\n2. Tài\r\nliệu viện dẫn ……………………………………………………………………………………….
\r\n\r\n3. Định
3.1. Hệ\r\nthống đo …………………………………………………………………………………………
\r\n\r\n3.2. Thiết\r\nbị biến đổi …………………………………………………………………………………….
\r\n\r\n3.3. Hệ\r\nthống truyền dẫn\r\n………………………………………………………………………………
\r\n\r\n3.4. Dụng\r\ncụ chỉ thị và ghi
3.5. Hệ\r\nsố thang đo …………………………………………………………………………………….
\r\n\r\n3.6. Định\r\nnghĩa liên quan đến đáp ứng động của hệ thống đo
3.7. Tham\r\nsố đáp tuyến ………………………………………………………………………………
\r\n\r\n3.8. Độ\r\nkhông đảm bảo đo tổng e …………………………………………………………………..
\r\n\r\n3.9. Giá\r\ntrị danh định ………………………………………………………………………………….
\r\n\r\n3.10. Định\r\nnghĩa liên quan đến thử nghiệm ………………………………………………………..
\r\n\r\n4. Qui\r\ntrình hạn định và sử dụng hệ thống đo
4.1. Nguyên\r\ntắc chung ………………………………………………………………………………..
\r\n\r\n4.2. Chương\r\ntrình thử nghiệm tính năng
4.3. Chương\r\ntrình kiểm tra tính năng ………………………………………………………………..
\r\n\r\n4.4. Yêu\r\ncầu đối với hồ sơ tính n
4.5. Điều\r\nkiện làm việc ………………………………………………………………………………..
\r\n\r\n5. Thử\r\nnghiệm chấp nhận trên các thành phần đối\r\nvới hệ thống đo được công nhận ………..
\r\n\r\n5.1. Khả\r\nnăng áp dụng …………………………………………………………………………………
\r\n\r\n5.2. Xác\r\nđịnh hệ số thang đo ………………………………………………………………………….
\r\n\r\n5.3. Thử\r\nnghiệm tính tuyến tính ………………………………………………………………………
\r\n\r\n5.4. Thử\r\nnghiệm tính ổn định trong thời gian ngắn …………………………………………………
\r\n\r\n5.5. Độ
5.6. Ảnh\r\nhưởng của nhiệt độ …………………………………………………………………………
\r\n\r\n5.7. Ảnh\r\nhưởng do khoảng cách gần ………………………………………………………………..
\r\n\r\n5.8. Đáp\r\nứng động của thành phần ………………………………………………………………….
\r\n\r\n5.9. Thử\r\nnghiệm chịu thử ……………………………………………………………………………..
\r\n\r\n6. Thử\r\nnghiệm tính năng trên hệ thống đo
6.1. Yêu\r\ncầu chung …………………………………………………………………………………….
\r\n\r\n6.2. Xá
6.3. Thử\r\nnghiệm đáp ứng động (đối với hệ thống đo xung)
6.4 Thử nghiệm nhiễu\r\n(đối với hệ thống đo xung) ………………………………………………….
\r\n\r\n7. Đo\r\nđiện áp một chiều ……………………………………………………………………………….
\r\n\r\n7.1. Yêu\r\ncầu đối với hệ thống đo được công nhận ………………………………………………..
\r\n\r\n7.2. Thử\r\nnghiệm chấp nhận trên các thành phần đối với hệ thống
7.3. Thử\r\nnghiệm tính năng trên hệ thống đo
7.4. Kiểm\r\ntra tính năng …………………………………………………………………………………
\r\n\r\n7.5. Thiết\r\nbị đo chuẩn theo IEC\r\n……………………………………………………………………….
\r\n\r\n7.6. Đo\r\nbiên độ nhấp nhô . …………………………………………………………………………….
\r\n\r\n8. Đo\r\nđiện áp xoay chiều\r\n………………………………………………………………………………
\r\n\r\n8.1. Yêu\r\ncầu đối với hệ thống đo được công nhận
8.2. Thử\r\nnghiệm chấp nhận trên các thành phần đối với hệ thống đo được công
8.3. Thử\r\nnghiệm tính năng trên hệ thống đo
8.4. Kiểm\r\ntra tính năng …………………………………………………………………………………..
\r\n\r\n8.5. Thiết\r\nbị đo chuẩn theo IEC\r\n…………………………………………………………………………
\r\n\r\n9. Đo\r\nđiện áp xung sét …………………………………………………………………………………..
\r\n\r\n9.1. Yêu\r\ncầu đối với hệ thống đo được công nhận
9.2. Thử\r\nnghiệm chấp nhận trên các thành phần đối với hệ thống đo được công
9.3. Thử\r\nnghiệm tính năng trên hệ thống đo
9.4. Kiểm\r\ntra tính năng ………………………………………………………………………………….
\r\n\r\n9.5. Thiết\r\nbị đo chuẩn theo IEC ……………………………………………………………………….
\r\n\r\n10. Đo\r\nđiện áp xung đóng cắt …………………………………………………………………………
\r\n\r\n10.1. Yêu\r\ncầu đối với hệ thống đo được công nhận
10.2. Thử\r\nnghiệm chấp nhận trên các thành phần đối
10.3. Thử\r\nnghiệm tính năng trên hệ thống đo
10.4. Kiểm\r\ntra tính năng ………………………………………………………………………………..
\r\n\r\n10.5. Thiết\r\nbị đo chuẩn the
11. Đo\r\ndòng điện xung ………………………………………………………………………………….
\r\n\r\n11.1. Yêu\r\ncầu đối với hệ thống đo được công nhận
11.2. Thử\r\nnghiệm chấp nhận trên các thành phần đối
11.3. Thử\r\nnghiệm tính năng trên hệ thống đo
11.4. Kiểm\r\ntra tính năng …………………………………………………………………………………
\r\n\r\n12. Hệ\r\nthống đo chuẩn …………………………………………………………………………………..
\r\n\r\n12.1. Yêu\r\ncầu đối với hệ thống đo được công nhận ………………………………………………..
\r\n\r\n12.2. Thử\r\nnghiệm chấp nhận trên các thành phần đối với
12.3. Thử\r\nnghiệm tính năng trên hệ thống đo ………………………………………………………..
\r\n\r\nPhụ lục A (qui định)\r\n- Hệ thống công nhận ……………………………………………………………
\r\n\r\nPhụ lục B (tham khảo)\r\n- Cấu trúc\r\ncủa hồ sơ tính năng ……………………………………………….
\r\n\r\nPhụ lục
Phụ lục D (tham khảo)\r\n- Độ tăng nhiệt của điện trở đo
Phụ lục E (tham khảo)\r\n- Hệ thống đo chuẩn và phép đo so sánh\r\ndùng cho điện
Tài
Phụ lục F (tham khảo)\r\n- Tóm tắt các thử nghiệm
Phụ lục G
Phụ lục H (tham khảo)\r\n- Qui trình đánh giá độ không đảm bảo
File gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6099-2:2007 (IEC 60060-2:1994, With Amendment 1:1996) về kỹ thuật thử nghiệm điện áp cao – Phần 2: Hệ thống đo đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6099-2:2007 (IEC 60060-2:1994, With Amendment 1:1996) về kỹ thuật thử nghiệm điện áp cao – Phần 2: Hệ thống đo
Tóm tắt
| Cơ quan ban hành | Đã xác định |
| Số hiệu | TCVN6099-2:2007 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 2007-01-01 |
| Ngày hiệu lực | |
| Lĩnh vực | Xây dựng - Đô thị |
| Tình trạng | Hết hiệu lực |