THỬ KHÔNG PHÁ HỦY MỐI HÀN - THỬ SIÊU ÂM - SỰ MÔ TẢ ĐẶC TÍNH\r\nCỦA CÁC CHỈ THỊ TRONG MỐI HÀN
\r\n\r\nNon-destructive\r\ntesting of welds - Ultrasonic testing - Characterization of discontinuities in\r\nwelds
\r\n\r\nLời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 11763:2016 hoàn toàn tương đương với\r\nISO 23279:2010.
\r\n\r\nTCVN 11763:2016 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn\r\nquốc gia TCVN/TC 135 Thử không phá hủy biên soạn Tổng\r\ncục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng\r\nđề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.
\r\n\r\n\r\n\r\n
THỬ KHÔNG PHÁ HỦY\r\nMỐI HÀN - THỬ SIÊU ÂM - SỰ MÔ TẢ ĐẶC TÍNH CỦA CÁC CHỈ THỊ TRONG MỐI HÀN
\r\n\r\nNon-destructive\r\ntesting of welds - Ultrasonic testing - Characterization of discontinuities in\r\nwelds
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này quy định cách mô tả đặc\r\ntính các chỉ thị nằm bên trong bằng việc phân loại chúng là phẳng hay không phẳng.
\r\n\r\nQuy trình này cũng thích hợp cho các chỉ\r\nthị khi bề mặt hở ra sau khi loại bỏ phần gia cường mối hàn.
\r\n\r\n\r\n\r\nCác tài liệu viện dẫn sau rất cần thiết\r\ncho áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn có ghi năm công bố thì áp dụng\r\nphiên bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp\r\ndụng phiên bản mới nhất, bao gồm cả các sửa đổi.
\r\n\r\nISO 17640, Non-destructive testing of\r\nwelds - Ultrasonic testing - Techniques, testing levels and assessment (Thử\r\nkhông phá hủy mối hàn - Thử siêu âm - Kỹ thuật, mức thử nghiệm và đánh giá).
\r\n\r\n\r\n\r\nViệc phân loại các chỉ thị là phẳng hay không phẳng\r\ntrên cơ sở các thông số sau:
\r\n\r\na) các kỹ thuật hàn;
\r\n\r\nb) vị trí hình học của chỉ thị;
\r\n\r\nc) biên độ âm dội lớn nhất;
\r\n\r\nd) hệ số phản xạ theo hướng;
\r\n\r\ne) mẫu âm dội tĩnh (nghĩa là quét-A);
\r\n\r\nf) mẫu âm dội động.
\r\n\r\nQuá trình phân loại đòi hỏi việc kiểm tra từng\r\nthông số dựa vào tất cả các thông số khác để đi đến một kết luận chính xác.
\r\n\r\nĐể hướng dẫn, Hình A.1 đưa ra việc phân loại các chỉ thị\r\nmối hàn bên trong thích hợp cho các áp dụng chung. Hình A.1 nên được áp dụng kết\r\nhợp chung với hai thông số đầu tiên đã liệt\r\nkê ở trên và không thực hiện một cách riêng biệt.
\r\n\r\nQuy trình phân loại quy định trong tiêu chuẩn\r\nnày cũng thích hợp\r\ncho các chỉ thị khi bề mặt hở ra sau khi loại bỏ phần gia cường mối hàn (xem Hình 1).
\r\n\r\nKích thước tính\r\nbằng milimét
\r\n\r\n\r\n\r\n
CHÚ DẪN:
\r\n\r\nA mối hàn đã được mài
\r\n\r\nHình 1 - Vị trí\r\ncủa các chỉ thị trong mối hàn
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\nSự phân loại được thực hiện bằng việc áp\r\ndụng liên tiếp các tiêu chí có thể phân biệt sau:
\r\n\r\na) biên độ âm dội;
\r\n\r\nb) hệ số phản xạ theo hướng;
\r\n\r\nc) mẫu âm dội tĩnh (nghĩa là quét-A);
\r\n\r\nd) mẫu âm dội động.
\r\n\r\nCác tiêu chí này được áp dụng bằng sử\r\ndụng một quy trình theo lưu đồ\r\n(xem Phụ lục A).
\r\n\r\nKhuyến nghị sử dụng các đầu dò giống\r\nnhau đối với việc phát hiện các khuyết tật và đối với việc phân loại. Quy trình theo lưu đồ chuẩn hóa một hệ thống phân loại.\r\nNhiều ngưỡng được xác định theo đề-xi- bel bằng so sánh với đường cong biên độ\r\nkhoảng cách (DAC) hoặc bằng so sánh giữa các chiều cao âm dội lớn nhất từ mất\r\nliên tục khi được thử từ các phương khác nhau.
\r\n\r\nCác ngưỡng được đề xuất cho các giai đoạn\r\nkhác nhau trong quy trình theo lưu đồ được cho trong Bảng A.1.
\r\n\r\nQuy trình theo lưu đồ yêu cầu năm giai đoạn:
\r\n\r\na) giai đoạn 1: để tránh sự phân loại\r\ncác chỉ thị với các\r\nbiên độ âm dội rất thấp;
\r\n\r\nb) giai đoạn 2: để phân loại tất cả các chỉ thị với biên độ\r\nâm dội cao là dạng\r\nphẳng;
\r\n\r\nc) giai đoạn 3: chủ yếu để phân loại không\r\nngấu;
\r\n\r\nd) giai đoạn 4: chủ yếu để phân loại các ngậm\r\ntạp chất;
\r\n\r\ne) giai đoạn 5: chủ yếu để phân loại\r\ncác nứt.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Các chỉ thị gây ra bởi một kết hợp của ngậm\r\ntạp chất và không ngấu được phân loại là phẳng bởi quy trình theo lưu đồ. Ví dụ của loại khuyết tật\r\nnày được cho trong Hình A.2.
\r\n\r\n4.2 Tiêu chí\r\nbiên độ âm dội (các giai đoạn 1 và 2)
\r\n\r\n4.2.1 Biên độ thấp\r\n(giai đoạn 1)
\r\n\r\nChấp nhận rằng một chỉ thị với một biên\r\nđộ âm dội thấp hơn mức đánh giá như quy định trong TCVN 11760 (ISO 11666[1] (được định\r\nnghĩa là T1 trên Hình A.1)\r\nlà không quan trọng và không phải mô tả đặc tính.
\r\n\r\nĐối với các áp dụng đặc biệt, giá trị T1 này có thể được\r\nhạ thấp, nếu được định nghĩa bởi đặc tính kỹ thuật.
\r\n\r\n4.2.2 Biên độ cao\r\n(giai đoạn 2)
\r\n\r\nThừa nhận rằng một chỉ thị với một biên\r\nđộ âm dội mà ít nhất bằng mức tham chiếu cộng thêm 6 dB (được định nghĩa là T2 trên Hình A.1)\r\nlà một chỉ thị phẳng.
\r\n\r\n4.3 Tiêu chí hệ\r\nsố phản xạ theo hướng (giai đoạn 3)
\r\n\r\n4.3.1 Khả năng áp dụng\r\ntrên cơ sở chiều dài
\r\n\r\nGiai đoạn 3 của quy trình theo lưu đồ phải được\r\náp dụng chỉ cho các chỉ thị vượt quá:
\r\n\r\na) t đối với dải chiều dày 8 mm ≤ t ≤ 15 mm;
\r\n\r\nb) t/2 hoặc 15 mm, lấy giá trị nào lớn\r\nhơn, đối với các chiều dày trên 15 mm.
\r\n\r\nĐối với các chỉ thị không vượt quá chiều\r\ndài quy định chuyển đến giai đoạn 4.
\r\n\r\n4.3.2 Các điều kiện\r\náp dụng
\r\n\r\nÁp dụng các điều kiện sau:
\r\n\r\na) các âm dội được so sánh phải nhận được\r\ntừ cùng một vật phản xạ;
\r\n\r\nb) việc so sánh phải được thực hiện tại\r\nvị trí mà ở đó chiều cao âm dội, Hd.max, là cao nhất dọc theo chỉ thị;
\r\n\r\nc) khi sử dụng một đầu dò chùm tia thẳng\r\nvà một đầu dò chùm tia góc, các tần số của chúng phải được chọn để cho các chiều\r\ndài bước sóng tương tự nhau (ví dụ 4 MHz đối với các sóng dọc và 2 MHz đối với\r\ncác sóng ngang);
\r\n\r\nd) khi sử dụng hai hoặc nhiều hơn hai\r\ngóc dò, các chênh lệch giữa các góc khúc xạ danh nghĩa phải bằng hoặc lớn\r\nhơn 10°;
\r\n\r\ne) nếu việc so sánh được thực hiện giữa\r\nmột chùm tia đi xuyên qua mối hàn và một chùm tia chỉ đi xuyên qua vật liệu cơ\r\nbản, thì phải tính đến độ suy giảm trong mối hàn.
\r\n\r\n4.3.3 Tiêu chí
\r\n\r\nBiên độ âm dội cao nhất, Hd.max, nhận được từ\r\nchỉ thị được so sánh với biên độ âm dội nhỏ nhất, Hd.min, nhận được từ\r\ntất cả các phương khác.
\r\n\r\nĐể thỏa mãn hệ số phản xạ theo hướng, phải\r\nđáp ứng đồng thời các điều kiện sau:
\r\n\r\na) Hd.max lớn hơn hoặc bằng\r\nT3 (mức tham chiếu trừ đi 6 dB);
\r\n\r\nb) trị tuyệt đối của hiệu các biên độ âm\r\ndội của chỉ thị, |Hd.max - Hd.min|, từ hai phương khác\r\nnhau nhỏ nhất bằng:
\r\n\r\n1) 9 dB chỉ sử dụng các đầu dò chùm tia\r\ngóc sóng ngang, hoặc
\r\n\r\n2) 15 dB sử dụng một đầu dò chùm tia góc\r\nsóng ngang và một đầu dò chùm tia thẳng sóng dọc.
\r\n\r\nCác hệ số phân xạ theo hướng phụ thuộc\r\nvào góc khúc xạ và các điều kiện kiểm tra (một nửa bước nhảy (half skip), toàn\r\nbộ bước nhảy (full skip))..
\r\n\r\nVí dụ các phương kiểm tra khác nhau được cho trên\r\nHình B.1.
\r\n\r\nVí dụ áp dụng các tiêu chí này được cho\r\ntrên Hình B.2.
\r\n\r\n4.4 Tiêu chí mẫu\r\nâm dội tĩnh (giai đoạn 4)
\r\n\r\nTại giai đoạn này, mẫu âm dội tĩnh (tức\r\nlà quét A) của chỉ thị được so sánh với mẫu nhận được từ vật phản xạ tham chiếu\r\n(lỗ được khoan ở mặt bên đường kính 3 mm).
\r\n\r\nNếu mẫu âm dội tĩnh là đơn lẻ và trơn,\r\nchỉ thị được phân loại là không phẳng.
\r\n\r\nNếu mẫu âm dội tĩnh không đơn lẻ và\r\nkhông trơn, tiến đến giai đoạn 5.
\r\n\r\nTiêu chí này phải được thỏa mãn đối với ít nhất hai phương kiểm\r\ntra.
\r\n\r\n4.5 Tiêu chí mẫu\r\nâm dội động ngang (giai đoạn 5)
\r\n\r\nMẫu âm dội động ngang của một chỉ thị là đường\r\nbao của các âm dội đạt được khi đầu dò siêu âm được di chuyển vuông góc với chỉ\r\nthị, phù hợp với ISO 17640. Không chỉ thực hiện phân tích đường bao, mà còn\r\nphân tích thuộc tính của các âm dội bên trong nó.
\r\n\r\nSự phân loại các chỉ thị phụ thuộc vào các\r\nmẫu được quan sát:
\r\n\r\na) mẫu 1: không phẳng đơn;
\r\n\r\nb) mẫu 2: được loại trừ bởi giai đoạn trước đó;
\r\n\r\nc) mẫu 3 và mẫu 4: phẳng, nếu được quan\r\nsát đối với hai phương có khả năng phản xạ cao nhất - nếu chỉ được quan sát đối\r\nvới một phương phản xạ, sử dụng kiểm tra bổ sung (xem 4.6);
\r\n\r\nd) mẫu 5: cụm không phẳng.
\r\n\r\nCác mẫu sử dụng cho việc phân loại được\r\ncho trong Phụ lục C.
\r\n\r\nCác tiêu chí này phải được thỏa mãn đối\r\nvới ít nhất hai phương kiểm tra.
\r\n\r\n\r\n\r\nTrong trường hợp nghi ngờ, tiến hành các kiểm\r\ntra bổ sung, ví dụ:
\r\n\r\na) sử dụng các phương hoặc các đầu dò khả\r\nnăng phản xạ bổ sung;
\r\n\r\nb) phân tích mẫu âm dội động khi đầu dò\r\nđược di chuyển song song với chỉ thị [xem các Hình C.1 c), C.2 c), C.3 c), C.4 c), C.5 c)];
\r\n\r\nc) các kết quả nhận được từ thử không\r\nphá hủy khác (ví dụ thử chụp ảnh bức xạ).
\r\n\r\nDanh sách này không hạn chế.
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
Phân loại các chỉ thị bên trong ở mối hàn - Quy trình theo\r\nlưu đồ
\r\n\r\nQuy trình theo lưu đồ được xác định ở\r\nHình A.1.
\r\n\r\n\r\n\r\n
CHÚ DẪN:
\r\n\r\n\r\n Hd \r\n | \r\n \r\n biên độ âm dội chỉ thị \r\n | \r\n
\r\n Hd,max \r\n | \r\n \r\n biên độ âm dội lớn nhất \r\n | \r\n
\r\n Hd,min \r\n | \r\n \r\n biên độ âm dội nhỏ nhất \r\n | \r\n
\r\n L \r\n | \r\n \r\n chiều dài \r\n | \r\n
\r\n Lspec \r\n | \r\n \r\n chiều dài quy định \r\n | \r\n
\r\n T1, T2, T3, T4 \r\n | \r\n \r\n xem Bảng A.1 \r\n | \r\n
Hình A.1 - Quy\r\ntrình theo lưu đồ
\r\n\r\nBảng A.1 - Các\r\nngưỡng khác nhau được sử dụng trong quy trình theo lưu đồ
\r\n\r\n\r\n Ngưỡng \r\n | \r\n \r\n T1 \r\n | \r\n \r\n T2 \r\n | \r\n \r\n T3 \r\n | \r\n \r\n T4 \r\n | \r\n
\r\n Các giá trị\r\n ngưỡng \r\n | \r\n \r\n Mức đánh giá \r\n | \r\n \r\n Mức tham chiếu cộng với 6\r\n dB \r\n | \r\n \r\n Mức tham chiếu\r\n trừ đi 6 dB \r\n | \r\n \r\n 9 dBa\r\n hoặc 15 dBb \r\n | \r\n
\r\n a Sóng ngang. \r\nb Giữa các vật\r\n phản xạ nhận được với một sóng ngang và một sóng dọc. \r\n | \r\n
Giai đoạn 1 (T1, nghĩa là mức đánh giá): Tất cả\r\ncác chỉ thị ≤ T1 không được\r\nphân loại.
\r\n\r\nGiai đoạn 2 (T2, nghĩa là mức\r\ntham chiếu cộng với 6 dB); Một chỉ thị có ít nhất phản xạ bằng hai lần mức tham\r\nchiếu được phân loại là phẳng.
\r\n\r\nGiai đoạn 3 (T3, nghĩa là mức\r\ntham chiếu trừ đi 6 dB): Nếu biên độ âm dội chỉ thị ít nhất bằng một nửa âm dội\r\ntham chiếu và, nếu sự mất cân bằng ở khả năng phản xạ lớn hơn hoặc bằng T4,\r\nchỉ thị được phân loại là phẳng:
\r\n\r\n- với T4 = 9 dB đối với sóng\r\nngang;
\r\n\r\n- với T4 = 15 dB giữa các phản\r\nxạ nhận được với các sóng ngang và các sóng dọc.
\r\n\r\nCác góc tại đó chùm siêu âm tới chỉ thị\r\nphải có một chênh lệch ít nhất là 10°. Sự so sánh phải được thực hiện trên cùng\r\nmột diện tích của chỉ thị.
\r\n\r\nCác giai đoạn 4 và 5: Các tiêu chí này\r\nphải được thỏa mãn đối với ít nhất hai phương kiểm tra.
\r\n\r\nGiai đoạn 5: Nếu mẫu âm dội động không\r\nkhớp với mẫu 3, chỉ thị được phân loại là không phẳng.
\r\n\r\nCác mẫu âm dội là các mẫu được xác định\r\ntrong Phụ lục C.
\r\n\r\nCác chỉ thị do bởi sự kết hợp của một ngậm\r\ntạp chất và không ngấu được phân loại là phẳng bằng quy trình theo lưu đồ. Một ví dụ của loại khuyết tật\r\nnày được cho trên Hình A.2.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Hình A.2 - Ví dụ\r\nvề kết hợp của ngậm tạp chất và không ngấu
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
\r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
\r\n a) sóng\r\n ngang, T \r\n | \r\n \r\n b) sóng dọc,\r\n L \r\n | \r\n
\r\n\r\n
\r\n CHÚ DẪN: \r\n | \r\n |
\r\n A, B, C \r\n | \r\n \r\n các vị trí đầu dò \r\n | \r\n
\r\n L \r\n | \r\n \r\n sóng dọc \r\n | \r\n
\r\n T \r\n | \r\n \r\n sóng ngang \r\n | \r\n
\r\n 1 \r\n | \r\n \r\n mài cục bộ \r\n | \r\n
Hình B.1 - Ví dụ\r\nvề các phương kiểm tra
\r\n\r\n\r\n\r\n
\r\n CHÚ DẪN: \r\n | \r\n |
\r\n 1 \r\n | \r\n \r\n vị trí 1 \r\n | \r\n
\r\n 2 \r\n | \r\n \r\n vị trí 2 \r\n | \r\n
\r\n 3 \r\n | \r\n \r\n mức tham chiếu \r\n | \r\n
\r\n 4 \r\n | \r\n \r\n mức tham chiếu trừ đi 9 dB \r\n | \r\n
\r\n d \r\n | \r\n \r\n đường truyền âm \r\n | \r\n
\r\n H \r\n | \r\n \r\n biên độ \r\n | \r\n
Hình B.2 - Ví dụ\r\ncủa ứng dụng tiêu chí hệ số phản xạ theo hướng
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n
Các mẫu âm dội động cơ bản của các vật phản xạ
\r\n\r\nC.1 Mẫu 1
\r\n\r\nĐáp ứng của vật phản xạ kiểu điểm được\r\nthể hiện trên Hình C.1. Tại vị trí bất kỳ của đầu dò, quét A chỉ ra một âm dội nhọn đơn\r\nlẻ. Do đầu dò được di chuyển, âm dội này tăng biên độ một cách trơn chu đến một\r\ngiá trị lớn nhất trước khi giảm một cách trơn chu xuống mức nhiễu.
\r\n\r\n\r\n\r\n
a) vị trí đầu dò của quét A\r\nvà biến đổi biên độ tín\r\nhiệu
\r\n\r\n\r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
\r\n b) sự xuất hiện\r\n điển hình theo phương chiều dày xuyên qua \r\n | \r\n \r\n c) sự xuất hiện\r\n điển hình theo\r\n phương ngang (chiều dài) \r\n | \r\n
CHÚ DẪN:
\r\n\r\n1 quét A
\r\n\r\n2 biến đổi biên độ tín hiệu đỉnh
\r\n\r\n3 vật phản xạ
\r\n\r\n4 mối hàn
\r\n\r\nd vùng khảo sát
\r\n\r\nH biên độ
\r\n\r\nx vị trí đầu dò
\r\n\r\nHình C.1 - Đáp ứng\r\nsiêu âm mẫu 1
\r\n\r\nC.2 Mẫu 2
\r\n\r\nĐáp ứng của vật phản xạ nhẵn mở rộng được thể hiện\r\ntrên Hình C.2. Tại vị trí bất kỳ của đầu dò, quét A chỉ ra một âm dội nhọn đơn\r\nlẻ. Khi chùm siêu âm được di chuyển trên vật phản xạ, âm dội này tăng một cách trơn chu\r\nđến một giá trị ổn định và được duy trì, với các biến đổi nhỏ về biên độ đến 4\r\ndB, cho đến khi chùm tia dịch chuyển khỏi gương phản xạ, khi đó âm dội giảm một\r\ncách trơn chu xuống mức nhiễu.
\r\n\r\n\r\n\r\n
a) vị trí đầu\r\ndò của quét A và biến đổi biên độ tín hiệu
\r\n\r\n\r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
\r\n b) sự xuất hiện\r\n điển hình theo phương chiều dày xuyên qua \r\n | \r\n \r\n c) sự xuất hiện\r\n điển hình theo phương ngang (chiều dài) \r\n | \r\n
CHÚ DẪN:
\r\n\r\n1 quét A
\r\n\r\n2 biến đổi biên độ tín hiệu đỉnh
\r\n\r\n3 vật phản xạ
\r\n\r\nd vùng khảo sát
\r\n\r\nH biên độ
\r\n\r\nx vị trí đầu dò
\r\n\r\nHình C.2 - Đáp ứng\r\nsiêu âm mẫu 2
\r\n\r\nC.3 Mẫu 3
\r\n\r\nCó hai phương án của đáp ứng của vật phản\r\nxạ gồ ghề mở rộng, phụ thuộc\r\nvào góc tới của chùm tia đầu dò trên vật phản xạ.
\r\n\r\nMột phương án, tại góc tới gần như vuông\r\ngóc, được thể hiện trên Hình C.3. Tại vị trí bất kỳ của đầu dò, quét A chỉ ra một âm dội\r\nđơn lẻ nhưng gồ ghề. Khi đầu dò được di chuyển, điều này có thể tạo ra các thăng\r\ngiáng ngẫu nhiên lớn của biên độ (lớn hơn ± 6 dB). Các thăng giáng này gây ra bởi\r\nsự phản xạ từ các bề mặt nhỏ khác nhau của vật phản xạ, và bởi sự giao thoa ngẫu\r\nnhiên của các sóng bị tán xạ từ các nhóm bề mặt nhỏ.
\r\n\r\n\r\n\r\n
a) vị trí đầu dò của quét A\r\nvà biến đổi biên độ tín\r\nhiệu
\r\n\r\n\r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
\r\n b) sự xuất hiện\r\n điển hình theo phương chiều dày xuyên qua \r\n | \r\n \r\n c) sự xuất hiện\r\n điển hình theo phương ngang (chiều dài) \r\n | \r\n
CHÚ DẪN:
\r\n\r\n1 quét A
\r\n\r\n2 biến đổi biên độ tín hiệu đỉnh
\r\n\r\n3 vật phản xạ
\r\n\r\nd vùng khảo sát
\r\n\r\nH biên độ
\r\n\r\nx vị trí đầu dò
\r\n\r\nHình C.3 - Đáp ứng\r\nsiêu âm mẫu 3
\r\n\r\nC.4 Mẫu 4
\r\n\r\nPhương án thứ hai của đáp ứng của vật phản xạ gồ ghề mở rộng, góc tới xiên, “mẫu âm dội di động”, được\r\nthể hiện trên Hình C.4. Tại vị trí bất kỳ của đầu dò, quét A chỉ ra một dãy các tín hiệu\r\nmở rộng (“các đỉnh phụ”) nằm\r\ntrong một đường bao xung dạng chuông. Do đầu dò được di chuyển, mỗi một đỉnh phụ\r\ndi chuyển qua đường bao xung, tăng lên đến giá trị lớn nhất của nó hướng vào tâm của đường\r\nbao, và sau đó giảm xuống. Tín hiệu tổng thể có thể thể hiện các thăng giáng ngẫu\r\nnhiên lớn của biên độ\r\n(lớn hơn ± 6 dB).
\r\n\r\n\r\n\r\n
a) vị trí đầu\r\ndò của quét A và biến đổi biên độ tín hiệu
\r\n\r\n\r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
\r\n b) sự xuất hiện\r\n điển hình theo\r\n phương chiều dày xuyên qua \r\n | \r\n \r\n c) sự xuất hiện\r\n điển hình theo phương ngang (chiều dài) \r\n | \r\n
CHÚ DẪN:
\r\n\r\n1 quét A
\r\n\r\n2 đường bao của xung
\r\n\r\n3 biến đổi biên độ tín hiệu đỉnh
\r\n\r\n4 vật phản xạ
\r\n\r\nd vùng khảo sát
\r\n\r\nH biên độ
\r\n\r\nx vị trí đầu dò
\r\n\r\nHình C.4 - Đáp ứng siêu âm mẫu 4
\r\n\r\nC.5 Mẫu 5
\r\n\r\nĐáp ứng của nhiều vật phản xạ được thể\r\nhiện trên Hình C.5. Tại vị trí bất kỳ của đầu dò, quét A chỉ ra một cụm các tín\r\nhiệu có thể hoặc không được phân giải tốt trong vùng khảo sát. Khi đầu dò được\r\ndi chuyển, các tín hiệu tăng và giảm ngẫu nhiên, nhưng tín hiệu từ mỗi một phần\r\ntử vật phản xạ riêng biệt, nếu được phân giải, thể hiện đáp ứng mẫu 1.
\r\n\r\n\r\n\r\n
a) vị trí đầu dò của\r\nquét A và biến đổi biên độ tín hiệu
\r\n\r\n\r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
\r\n b) đáp ứng\r\n siêu âm mẫu 5 xuyên qua phương \r\n | \r\n \r\n c) đáp ứng\r\n siêu âm mẫu 5 theo phương chiều dày ngang (chiều\r\n dài) \r\n | \r\n
CHÚ DẪN:
\r\n\r\n\r\n 1 \r\n | \r\n \r\n quét A \r\n | \r\n
\r\n 2 \r\n | \r\n \r\n biến đổi biên độ tín hiệu đỉnh \r\n | \r\n
\r\n \r\n | \r\n \r\n đường nét liền: các âm dội vùng khảo\r\n sát dài \r\n | \r\n
\r\n \r\n | \r\n \r\n đường nét đứt: các âm dội vùng khảo\r\n sát ngắn \r\n | \r\n
\r\n d \r\n | \r\n \r\n vùng khảo sát \r\n | \r\n
\r\n H \r\n | \r\n \r\n biên độ \r\n | \r\n
\r\n x \r\n | \r\n \r\n vị trí đầu dò \r\n | \r\n
Hình C.5 - Đáp ứng\r\nsiêu âm mẫu 5
\r\n\r\n\r\n\r\n
Thư mục tài liệu\r\ntham khảo
\r\n\r\n[1] TCVN 11760 (ISO 11666), Thử không\r\nphá hủy mối hàn - Thử siêu âm - Mức chấp nhận
\r\n\r\nFile gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 11763:2016 (ISO 23279:2010) về Thử không phá huỷ mối hàn – Thử siêu âm – Sự mô tả đặc tính của các chỉ thị trong mối hàn đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 11763:2016 (ISO 23279:2010) về Thử không phá huỷ mối hàn – Thử siêu âm – Sự mô tả đặc tính của các chỉ thị trong mối hàn
Tóm tắt
Cơ quan ban hành | Đã xác định |
Số hiệu | TCVN11763:2016 |
Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
Người ký | Đã xác định |
Ngày ban hành | 2016-01-01 |
Ngày hiệu lực | |
Lĩnh vực | Công nghiệp |
Tình trạng | Còn hiệu lực |