Lời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 7317 : 2003 hoàn toàn tương đương\r\nvới tiêu chuẩn CISPR 24 : 1997;
\r\n\r\nTCVN 7317 : 2003 do Ban kỹ thuật tiêu\r\nchuẩn TCVN/TC/E9 Tương thích điện từ biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường\r\nChất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ ban hành.
\r\n\r\nTiêu chuẩn này được chuyển đổi năm 2008\r\ntừ Tiêu chuẩn Việt Nam cùng số hiệu thành Tiêu chuẩn Quốc gia theo quy định tại\r\nKhoản 1 Điều 69 của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật và điểm a khoản 1 Điều\r\n6 Nghị định số 127/2007/NĐ-CP ngày 1/8/2007 của Chính phủ quy định chi tiết thi\r\nhành một số điều của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Tiêu chuẩn này áp dụng cho thiết bị công nghệ\r\nthông tin (ITE) qui định trong TCVN 7189 : 2002 (CISPR 22).
\r\n\r\nTiêu chuẩn này xác định các qui trình cho\r\nphép đo ITE và qui định các giới hạn cho ITE trong phạm vi dải tần từ 0 Hz đến\r\n400 GHz.
\r\n\r\nMục đích của tiêu chuẩn này là thiết lập các\r\nyêu cầu đối với mức miễn nhiễm bên trong đủ để thiết bị làm việc được trong môi\r\ntrường theo thiết kế.
\r\n\r\nĐối với các điều kiện môi trường ngoại lệ, có\r\nthể cần các biện pháp giảm nhẹ riêng.
\r\n\r\nNhờ có các nghiên cứu thử nghiệm và đánh giá\r\ntính năng, mà một số thử nghiệm được qui định trong băng tần xác định hoặc tại\r\ncác tần số lựa chọn. Thiết bị thỏa mãn các yêu cầu tại các tần số này được coi\r\nlà thỏa mãn các yêu cầu trong toàn bộ dải tần từ 0 Hz đến 400 GHz đối với hiện\r\ntượng điện từ.
\r\n\r\nTiêu chuẩn này nhằm xác định các yêu cầu thử nghiệm\r\nmiễn nhiễm cho các thiết bị xác định trong phạm vi áp dụng đối với nhiễu liên\r\ntục, nhiễu quá độ, nhiễu dẫn và nhiễu bức xạ, kể cả phóng điện tĩnh điện (ESD).
\r\n\r\nCác yêu cầu thử nghiệm được qui định cho từng\r\ncổng được xét.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH
\r\n\r\n1) Các xem xét về an toàn không được đề cập\r\ntrong tiêu chuẩn này.
\r\n\r\n2) Trong trường hợp đặc biệt, có thể nảy sinh\r\ntình huống khi mức nhiễu vượt quá các mức qui định trong tiêu chuẩn này, ví dụ\r\nkhi sử dụng máy phát cầm tay ở gần thiết bị. Trong trường hợp này, có thể phải\r\nsử dụng biện pháp giảm nhẹ đặc biệt.
\r\n\r\n\r\n\r\nIEC 60050(161):1990 International\r\nElectrotechnical Vocabulary (IEV) - Chapter 161: Electromagnetic compatibility\r\n(Từ vựng kỹ thuật điện quốc tế (IEV) - Chương 161: Tương thích điện từ)
\r\n\r\nIEC 60318:1970 An IEC artificial ear, of the wideband\r\ntype, for the calibration of earphones used in audiometry (Tai giả IEC, loại\r\nbăng tần rộng, để hiệu chuẩn ống nghe dùng trong phép đo thính lực)
\r\n\r\nIEC 61000-4-2:1995 Electromagnetic compatibility\r\n(EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques - Section 2: Electrostatic discharge\r\nimmunity test - Basic EMC Publication (Tương thích điện từ (EMC) - Phần 4: Kỹ\r\nthuật thử nghiệm và đo - Mục 2: Thử nghiệm miễn nhiễm phóng điện tĩnh điện -\r\nTiêu chuẩn EMC cơ bản)
\r\n\r\nIEC 61000-4-3:1995 Electromagnetic compatibility\r\n(EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques - Section 3: Radiated,\r\nradio-frequency, electromagnetic field immunity test - Basic EMC Publication (Tương\r\nthích điện từ (EMC) - Phần 4: Kỹ thuật thử nghiệm và đo - Mục 3: Thử nghiệm\r\nmiễn nhiễm trường điện từ bức xạ tần số rađiô - Tiêu chuẩn EMC cơ bản)
\r\n\r\nIEC 61000-4-4:1995 Electromagnetic compatibility\r\n(EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques -Section 4: Electrical fast transient/burst\r\nimmunity test - Basic EMC Publication (Tương thích điện từ (EMC) - Phần 4: Kỹ\r\nthuật thử nghiệm và đo - Mục 4: Thử nghiệm miễn nhiễm bướu/quá độ nhanh về điện\r\n- Tiêu chuẩn EMC cơ bản)
\r\n\r\nIEC 61000-4-5:1995 Electromagnetic compatibility\r\n(EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques -Section 5: Surge immunity\r\ntests - Basic EMC Standard (Tương thích điện từ (EMC) - Phần 4: Kỹ thuật thử\r\nnghiệm và đo - Mục 5: Thử nghiệm miễn nhiễm với sự đột biến - Tiêu chuẩn EMC cơ\r\nbản)
\r\n\r\nIEC 61000-4-6:1996 Electromagnetic compatibility\r\n(EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques - Section 6: Immunity to\r\nconducted disturbances, induced by radio-frequency fields (Tương thích điện từ\r\n(EMC) - Phần 4: Kỹ thuật thử nghiệm và đo - Mục 6: Miễn nhiễm với nhiễu dẫn do\r\ntrường tần số rađiô gây ra)
\r\n\r\nIEC 61000-4-8:1993 Electromagnetic compatibility\r\n(EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques - Section 8: Power frequency\r\nmagnetic field immunity test (Tương thích điện từ (EMC) - Phần 4: Kỹ thuật thử\r\nnghiệm và đo - Mục 8: Thử nghiệm miễn nhiễm từ trường tần số nguồn)
\r\n\r\nIEC 61000-4-11:1994 Electromagnetic compatibility\r\n(EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques - Section 11: Voltage dips, short\r\ninterruptions and voltage variations immunity tests (Tương thích điện từ (EMC) -\r\nPhần 4: Kỹ thuật thử nghiệm và đo - Mục 11: Thử nghiệm miễn nhiễm sụt điện áp,\r\ngián đoạn ngắn hạn và thay đổi điện áp)
\r\n\r\nTCVN 7189 : 2002 (CISPR 22:1997) Thiết bị\r\ncông nghệ thông tin - Đặc tính nhiễu tần số rađiô - Giới hạn và phương pháp đo
\r\n\r\nTCVN 7318-3 : 2003 (ISO 9241-3:1992) Yêu cầu\r\nvề egonomi đối với công việc văn phòng sử dụng thiết bị đầu cuối có màn hình\r\nhiển thị (VDT) - Phần 3: Yêu cầu về màn hình hiển thị
\r\n\r\nCISPR 20 : 2002 Sound and television\r\nbroadcast receivers and associated equipment - Immunity characteristics -\r\nLimits and methods of measurement (Máy thu thanh, thu hình quảng bá và thiết bị\r\nphụ trợ - Đặc tính miễn nhiễm - Giới hạn và phương pháp đo)
\r\n\r\nITU-T Recommendation 1.241.1: Telephony\r\n(Khuyến cáo ITU-T I.241.1: Hệ thống điện thoại)
\r\n\r\nITU-T Recommendation 1.411: Integrated service\r\ndigital network (ISDN) user network interfaces (Khuyến cáo ITU-T I.411: Giao\r\ndiện mạng người sử dụng mạng số dịch vụ tích hợp (ISDN))
\r\n\r\nITU-T Recommendation K.15: Protection of high\r\ncapacity transmission systems against overvoltages and HF-disturbances (Khuyến\r\ncáo ITU-T K.15: Bảo vệ hệ thống truyền dung lượng cao khỏi quá điện áp và nhiễu-HF)
\r\n\r\nITU-T Recommendation K.17: Tests on power fed\r\nrepeaters using solid state devices in order to check the arrangements for\r\nprotection from external interferences (Khuyến cáo ITU-T K.17: Thử nghiệm bộ\r\nlặp cung cấp công suất sử dụng thiết bị bán dẫn để kiểm tra việc bố trí bảo vệ\r\nkhỏi nhiễu bên ngoài)
\r\n\r\nITU-T Recommendation K.20: Resistibility of\r\ntelecommunication switching equipment to overvoltages and overcurrents (Khuyến\r\ncáo ITU-T K.20: Khả năng chịu quá điện áp và quá dòng điện của thiết bị chuyển\r\nmạch viễn thông)
\r\n\r\nITU-T Recommendation K.21: Resistibility of\r\nsubscribers' terminals to overvoltages and overcurrents (Khuyến cáo ITU-T K.21:\r\nKhả năng chịu quá điện áp và quá dòng điện của các đầu nối thuê bao)
\r\n\r\nITU-T Recommendation K.22: Overvoltage\r\nresistibility of equipment connected to an ISDN T/S bus, Blue Book, Volume IX,\r\nNovember 1988 (Khuyến cáo ITU-T K.22: Khả năng chịu quá điện áp của thiết bị\r\nnối đến kênh T/S ISDN, Blue Book, tập IX, Tháng 10 năm 1988)
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này áp dụng các định nghĩa trong Khuyến\r\ncáo ITU-T I.411, IEC 60050 (161), Từ vựng kỹ thuật điện quốc tế (IEV), Chương\r\n161. Ngoài ra, tiêu chuẩn này còn áp dụng các định nghĩa cụ thể dưới đây:
\r\n\r\n3.1. Sóng liên tục (CW): Sóng điện từ\r\ncó dạng hình sin, dao động liên tục và đồng nhất trong điều kiện ổn định, có\r\nthể bị gián đoạn hoặc điều biến sóng này để truyền thông tin.
\r\n\r\n3.2. Suy giảm: Thay đổi không mong muốn\r\nvề tính năng hoạt động của EUT do nhiễu điện từ. Điều này không nhất thiết là\r\ncó sự cố hoặc hỏng nặng.
\r\n\r\n3.3. Thiết bị cần thử nghiệm (EUT):\r\nMột ITE đại diện hoặc nhóm ITE tương tác chức năng (hệ thống) bao gồm một hoặc\r\nnhiều máy chủ và được dùng để đánh giá.
\r\n\r\n3.4. Thiết bị công nghệ thông tin\r\n(ITE): Định nghĩa về ITE như mô tả trong TCVN 7189 : 2002 (CISPR 22).
\r\n\r\n3.5. Giật ảnh (của màn hình ống tia\r\nđiện tử (CRT)): Sự thay đổi đỉnh-đỉnh theo vị trí hình học của phần tử ảnh trên\r\nmàn hình CRT.
\r\n\r\n3.6. Độ không ổn định theo thời gian (nhấp\r\nnháy): Cảm nhận về sự thay đổi độ chói không có chủ ý theo thời gian.
\r\n\r\n3.7. Cổng: Giao diện đặc biệt của thiết bị\r\nqui định với môi trường điện từ bên ngoài (xem hình 1).
\r\n\r\n![](\"00914451_files/image001.jpg\")
3.8. Cổng vỏ bọc: Biên giới vật lý của\r\nthiết bị mà trường điện từ có thể bức xạ hoặc tác động qua đó. Đối với thiết bị\r\ncó phích cắm thì biên giới vật lý do máy chủ xác định.
\r\n\r\n3.9. Cổng cáp: Điểm mà tại đó dây dẫn\r\nhoặc cáp được nối vào thiết bị. Ví dụ như cổng tín hiệu và cổng nguồn.
\r\n\r\n3.10. Cuộc gọi điện thoại: Quá trình\r\ndiễn ra trong mạng và trong thiết bị kết nối viễn thông (TTE) để cho phép trao\r\nđổi thông tin (tiếng nói, hình ảnh hoặc dữ liệu) với TTE khác thông qua mạng.
\r\n\r\nChú thích: Cuộc gọi phải thực hiện theo cách\r\nnhà chế tạo qui định. Đối với các dịch vụ chuyển mạch mạch, việc trao đổi dữ\r\nliệu phải được coi là có thể khi có sẵn kênh 64 kbit/s hoặc tương đương cho cả\r\nhai bên. Đối với dịch vụ chuyển mạch gói, việc trao đổi thông tin phải được coi\r\nlà có thể khi tuyến ảo được thiết lập cho TTE được gọi.
\r\n\r\n3.11. Thiết lập cuộc gọi điện thoại: Qui\r\ntrình thao tác dành cho người sử dụng hoặc quá trình tự động nối mạng để có được\r\nkhả năng trao đổi thông tin với TTE khác. Xem chú thích ở 3.10.
\r\n\r\n3.12. Nhận cuộc gọi điện thoại: Qui\r\ntrình thao tác dành cho người sử dụng hoặc quá trình tự động bắt đầu bởi mạng\r\nvà nối mạng để có được khả năng trao đổi thông tin với TTE khác. Xem chú thích\r\nở 3.10.
\r\n\r\n3.13. Duy trì cuộc gọi điện thoại
3.14. Hủy cuộc gọi điện thoại
3.15. Thiết bị đầu cuối của mạng (NT):\r\nThiết bị phụ trợ dùng để kết nối mạng viễn thông.
\r\n\r\n3.16. Dịch vụ điện thoại: Dịch vụ cung\r\ncấp cho người sử dụng khả năng đối thoại hai chiều thời gian thực thông qua\r\nmạng (xem khuyến cáo ITU-T I.241.1).
\r\n\r\n3.17. Thiết bị kết nối viễn thông: Thiết\r\nbị được thiết kế để kết nối với mạng viễn thông công cộng hoặc tư nhân, đó là:
\r\n\r\na) nối trực tiếp đến đầu cuối của mạng viễn\r\nthông để gửi, xử lý hoặc nhận thông tin; hoặc
\r\n\r\nb) tạo ảnh hưởng lẫn nhau với mạng viễn thông\r\nđược nối trực tiếp hoặc gián tiếp tới đầu cuối của mạng viễn thông để gửi, xử\r\nlý hoặc nhận thông tin.
\r\n\r\n3.18. Thiết bị đa chức năng: Thiết bị\r\ncông nghệ thông tin trong đó có hai hay nhiều chức năng nằm trong cùng một khối\r\nlà đối tượng của tiêu chuẩn này và/hoặc của các tiêu chuẩn khác.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Ví dụ về thiết bị công nghệ thông\r\ntin bao gồm:
\r\n\r\n- máy tính cá nhân có chức năng truyền thông\r\nvà/hoặc chức năng thu quảng bá;
\r\n\r\n- máy tính cá nhân có chức năng đo, v.v…
\r\n\r\n4.1. Qui định chung
\r\n\r\nCác yêu cầu về thử nghiệm miễn nhiễm đối với\r\nthiết bị được đưa ra trên cơ sở từng cổng một.
\r\n\r\nThử nghiệm phải được thực hiện theo cách được\r\nxác định rõ và có khả năng lặp lại.
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành theo trình tự\r\ntừng thử nghiệm. Trình tự thử nghiệm là tùy chọn.
\r\n\r\nMô tả về thử nghiệm, bộ tạo tín hiệu thử\r\nnghiệm, phương pháp thử nghiệm và bố trí thử nghiệm được nêu trong tiêu chuẩn\r\nIEC cơ bản về EMC đề cập trong các bảng của tiêu chuẩn này.
\r\n\r\nNội dung các tiêu chuẩn IEC cơ bản về EMC\r\nkhông được nhắc lại ở đây; tuy nhiên, thông tin sửa đổi hoặc bổ sung cần thiết\r\ncho ứng dụng thực tế của thử nghiệm đều được nêu trong tiêu chuẩn này.
\r\n\r\n4.2. Yêu cầu cụ thể
\r\n\r\n4.2.1. Phóng điện tĩnh điện (ESD)
\r\n\r\nPhóng điện tĩnh điện chỉ phải áp dụng cho\r\nnhững điểm hoặc bề mặt của EUT chạm tới được trong quá trình sử dụng bình thường,\r\nkể cả tiếp xúc của người sử dụng, ví dụ như để thay con lăn hoặc cuộn giấy, như\r\nqui định trong sổ tay người sử dụng.
\r\n\r\nPhóng điện phải được áp dụng theo hai cách:
\r\n\r\na) phóng điện tiếp xúc đến bề mặt dẫn điện và\r\nmặt phẳng ghép nối:
\r\n\r\nEUT phải chịu ít nhất 200 lần phóng điện, 100\r\nlần tại cực âm và 100 lần tại cực dương, tại ít nhất bốn điểm thử nghiệm (ít\r\nnhất 50 lần phóng điện tại mỗi điểm). Một trong các điểm thử nghiệm phải chịu\r\nít nhất 50 lần phóng điện gián tiếp (tiếp xúc) đến tâm của mép phía trước của mặt\r\nphẳng ghép nối nằm ngang. Ba điểm thử nghiệm còn lại, mỗi điểm phải chịu ít\r\nnhất 50 lần phóng điện tiếp xúc trực tiếp. Nếu không có điểm thử nghiệm tiếp\r\nxúc trực tiếp thì phải áp dụng theo phương thức gián tiếp ít nhất 200 lần phóng\r\nđiện gián tiếp (xem IEC 61000-4-2 về sử dụng mặt phẳng dẫn thẳng đứng (VCP)).\r\nCác thử nghiệm phải được thực hiện ở tốc độ lặp lại lớn nhất là một lần phóng\r\nđiện trên một giây.
\r\n\r\nb) phóng điện qua không khí tại các khe, kẽ\r\nhở và bề mặt cách điện:
\r\n\r\nTrên các phần này của EUT là những chỗ không thể\r\nthực hiện được thử nghiệm phóng điện tiếp xúc, thiết bị cần được kiểm tra để\r\nnhận biết các điểm người sử dụng chạm tới được có thể xuất hiện đánh thủng; ví dụ\r\nnhư các khe tại gờ phím hoặc trên nắp của bàn phím và ống nghe điện thoại.\r\nNhững điểm này được thử nghiệm sử dụng phương pháp phóng điện qua không khí. Xem\r\nthêm IEC 61000-4-2 về bề mặt sơn. Việc kiểm tra này cần giới hạn ở những khu vực\r\nmà người sử dụng thường chạm tới. Phải áp dụng ít nhất 10 phóng điện đơn qua không\r\nkhí tại điểm thử nghiệm được chọn cho từng khu vực.
\r\n\r\nTiêu chuẩn này không yêu cầu áp dụng phóng\r\nđiện tĩnh điện ở các tiếp điểm của các bộ nối mở.
\r\n\r\n4.2.2. Quá độ điện nhanh (EFT)
\r\n\r\nPhương pháp thử nghiệm được nêu trong IEC 61000-4-4.\r\nTuy nhiên, bố trí thử nghiệm đối với phép đo tại hiện trường không áp dụng được\r\ncho ITE.
\r\n\r\nQui trình thử nghiệm như nêu trong IEC 61000-4-4\r\ncùng với các thay đổi và tóm tắt dưới đây:
\r\n\r\n- nếu thiết bị có các cổng giống hệt nhau thì\r\nchỉ phải thử nghiệm một cổng;
\r\n\r\n- cáp nhiều dây dẫn, như cáp viễn thông 50 cặp,\r\nphải được thử nghiệm như cáp đơn. Với thử nghiệm này, không được tách hoặc chia\r\ncáp thành các nhóm dây dẫn;
\r\n\r\n- cổng giao diện, được nhà chế tạo thiết kế\r\nđể nối với cáp dữ liệu dài không quá 3 m, thì không phải thử nghiệm.
\r\n\r\n4.2.3. Nhiễu liên tục tần số rađiô
\r\n\r\nDải tần ưu tiên cho thử nghiệm trường bức xạ từ\r\n80 MHz đến 1 000 MHz. Dải tần ưu tiên cho thử nghiệm dẫn liên tục là từ 0,15\r\nMHz đến 80 MHz. Tuy nhiên, thử nghiệm bức xạ có thể thực hiện với tần số ban đầu\r\nthấp hơn 80 MHz; trong trường hợp đó, chỉ cần tiến hành thử nghiệm dẫn liên tục\r\n(nếu áp dụng được) đến tần số ban đầu này.
\r\n\r\nDải tần được quét như qui định; tuy nhiên, có\r\nthể cần một thử nghiệm chức năng toàn diện hơn ở số lượng tần số lựa chọn giới\r\nhạn. Yêu cầu thực hiện thử nghiệm tần số lựa chọn bổ sung này không được áp\r\ndụng phổ biến với mọi sản phẩm mà chỉ với những sản phẩm có yêu cầu này qui\r\nđịnh trong phụ lục A (ở yêu cầu cụ thể đối với sản phẩm cụ thể). Các tần số lựa\r\nchọn được cho trong các bảng từ 1 đến 4.
\r\n\r\nThời gian dừng tại từng tần số không được\r\nngắn hơn thời gian cần thiết cho EUT thực hiện và có khả năng đáp ứng; tuy\r\nnhiên, thời gian dừng này không được vượt quá 5 s tại từng tần số trong quá\r\ntrình quét.
\r\n\r\nThời gian sử dụng EUT không được coi là tổng\r\nthời gian của chương trình hoặc chu trình liên quan đến thời gian phản ứng\r\ntrong trường hợp hỏng EUT.
\r\n\r\n4.2.3.1. Nhiễu bức xạ liên tục
\r\n\r\nQui trình thử nghiệm phù hợp với IEC 61000-4-3.
\r\n\r\nEUT phải được đặt sao cho bốn phía của EUT\r\nphải lần lượt chịu trường điện từ. Kiểm tra tính năng của EUT tại từng vị trí.
\r\n\r\nTrong trường hợp đã biết phía bề mặt nhạy\r\nnhất của EUT trên toàn bộ dải tần (ví dụ như thông qua thử nghiệm sơ bộ), thì\r\ncó thể chỉ giới hạn việc thử nghiệm ở phía bề mặt đó.
\r\n\r\nTrong trường hợp có tranh chấp, yêu cầu phải\r\nthử nghiệm trên bốn phía bề mặt.
\r\n\r\nNếu EUT quá lớn để anten bức xạ có thể chiếu\r\nsáng thích hợp thì phải sử dụng chiếu sáng từng phần.
\r\n\r\nViệc chiếu sáng từng phần phải được tiến hành\r\ntheo một trong hai cách sau đây:
\r\n\r\n- EUT có thể được đặt lại sao cho bề mặt phía\r\ntrước duy trì một khoảng cách với anten bức xạ bằng khoảng cách thử nghiệm\r\n(vuông góc với trục giữa điểm hiệu chuẩn và anten bức xạ) để chiếu sáng các\r\nphần của EUT nằm ngoài độ rộng chùm tia của anten trước;
\r\n\r\n- nếu EUT gồm các môđun riêng thì các môđun\r\nnày có thể được thử nghiệm riêng rẽ trong phạm vi độ rộng chùm tia của anten.
\r\n\r\nTrong trường hợp có tranh chấp, yêu cầu phải\r\nchiếu sáng toàn bộ EUT.
\r\n\r\nDải tần có thể được quét lớn dần với kích thước\r\nbước không vượt quá 4 % bước cơ bản có mức thử nghiệm gấp hai lần giá trị của\r\nmức thử nghiệm qui định.
\r\n\r\nTrong trường hợp có tranh chấp, ưu tiên thử\r\nnghiệm với các bước 1 %.
\r\n\r\n4.2.3.2 Nhiễu dẫn liên tục
\r\n\r\nKhông được có sai lệch nào khác với IEC 61000-4-6\r\n(khác với những điều qui định trong 4.2.3.1).
\r\n\r\n4.2.4. Trường từ tần số nguồn
\r\n\r\nQui trình thử nghiệm phải phù hợp với IEC\r\n61000-4-8.
\r\n\r\nEUT phải được bố trí và đấu nối để thỏa mãn\r\ncác yêu cầu về chức năng, và phải được đặt tại tâm của hệ thống cuộn dây (phương\r\npháp nhúng).
\r\n\r\nPhải sử dụng cáp do nhà chế tạo thiết bị cung\r\ncấp hoặc, nếu không có, phải sử dụng cáp thay thế phù hợp, thích hợp với tín\r\nhiệu liên quan.
\r\n\r\nCác sản phẩm có kích thước vật lý lớn không cần\r\nđặt hoàn toàn trong trường từ mà chỉ các thiết bị nhạy đặt hoàn toàn trong đó\r\n(ví dụ như màn hình CRT nếu màn hình là phần nhạy duy nhất). Trong trường hợp\r\nnày, và nếu màn hình CRT tích hợp với ITE thì có thể tách riêng màn hình CRT\r\nhoặc thiết bị nhạy để thử nghiệm.
\r\n\r\n4.2.5. Đột biến
\r\n\r\nQui trình thử nghiệm phải phù hợp với IEC\r\n61000-4-5 hoặc, nếu thích hợp, ITU-T K20, K21 hoặc K22.
\r\n\r\n4.2.6. Sụt và ngắt điện áp
\r\n\r\nQui trình thử nghiệm phù hợp với IEC 61000-4-11.\r\nKhông được có sai lệch nào so với tiêu chuẩn đó.
\r\n\r\n\r\n\r\nThö nghiệm phải được áp dụng với các cổng\r\nliên quan của thiết bị theo các Bảng từ 1 đến 4. Chỉ cần tiến hành thử nghiệm khi\r\ncó cổng liên quan.
\r\n\r\nKhả năng áp dụng có thể xác định từ việc xem\r\nxét các đặc tính điện và cách sử dụng của thiết bị cụ thể mà một số thử nghiệm\r\nkhông thích hợp nên không cần thiết. Trong trường hợp này, cần ghi trong báo cáo\r\nthử nghiệm quyết định và chứng minh không áp dụng thử nghiệm cụ thể bất kỳ với\r\ncổng cụ thể bất kỳ.
\r\n\r\nThiết bị đa chức năng đồng thời tuân thủ các\r\nđiều khác nhau của tiêu chuẩn này và/hoặc các tiêu chuẩn khác phải đ-ợc thử\r\nnghiệm với từng chức năng hoạt động độc lập, nếu có thể thực hiện được việc này\r\nmà không cần sửa đổi bên trong thiết bị. Do đó thiết bị thử nghiệm phải được\r\ncoi là tuân thủ với các yêu cầu của tất cả các điều/các tiêu chuẩn khi từng chức\r\nnăng đã thỏa mãn các yêu cầu của điều/tiêu chuẩn liên quan. Ví dụ, một máy tính\r\ncá nhân có chức năng thu quảng bá phải được thử nghiệm khi chức năng thu quảng\r\nbá không hoạt động theo CISPR 24 và sau đó thử nghiệm với riêng chức năng thu\r\nquảng bá hoạt động theo CISPR 20, nếu thiết bị có thể thực hiện từng chức năng\r\nđộc lập trong điều kiện hoạt động bình thường.
\r\n\r\nĐối với thiết bị không thể thực hiện thử\r\nnghiệm với từng chức năng hoạt động độc lập, hoặc sự độc lập của một chức năng\r\ncụ thể có thể làm cho thiết bị không thể hoàn thành chức năng cơ bản, hoặc sự\r\nhoạt động đồng thời của một số chức năng có thể dẫn tới tiết kiệm thời gian đo,\r\nthì thiết bị đó phải được coi là tuân thủ nếu nó thỏa mãn các qui định của điều/tiêu\r\nchuẩn liên quan với các chức năng cần thiết hoạt động. Ví dụ, nếu một máy tính\r\ncá nhân có chức năng thu quảng bá không thể thực hiện chức năng thu quảng bá\r\nđộc lập với chức năng tính toán, thì máy tính cá nhân đó có thể được thử nghiệm\r\nvới chức năng tính toán và chức năng thu quảng bá hoạt động theo CISPR 24 và\r\nCISPR 20 đối với các yêu cầu này.
\r\n\r\nKhi trong tiêu chuẩn cho phép loại trừ các\r\ncổng hoặc tần số hoặc chức năng cụ thể do qui định kỹ thuật thử nghiệm và/hoặc\r\nbố trí thử nghiệm và/hoặc tiêu chí tính năng khác nhau, thì có thể thực hiện\r\nviệc loại trừ khi các chức năng liên quan trong thiết bị đa chức năng được thử\r\nnghiệm dựa trên tiêu chuẩn khác (ví dụ như không áp dụng bảng 2 với cổng anten\r\nhoặc không đánh giá chức năng quảng bá trong quá trình đo của thiết bị có chức\r\nnăng thu quảng bá theo CISPR 24).
\r\n\r\n6.1. Điều kiện chung
\r\n\r\nThử nghiệm phải tiến hành để thể hiện được\r\ntất cả các chức năng cơ bản ở phương thức đại diện nhất phù hợp với các ứng dụng\r\nđiển hình. Mẫu thử nghiệm phải có cấu hình theo cách phù hợp với thực tế lắp đặt\r\nđiển hình.
\r\n\r\nNếu thiết bị là một phần của hệ thống hoặc có\r\nthể nối với thiết bị phụ trợ, thì thiết bị phải được thử nghiệm trong khi nối\r\nvới cấu hình đại diện tối thiểu của thiết bị phụ trợ cần thiết để thể hiện cổng\r\ntheo cách tương tự với mô tả trong TCVN 7189 : 2002 (CISPR 22).
\r\n\r\nCấu hình và phương thức hoạt động trong quá\r\ntrình thử nghiệm phải được ghi rõ trong báo cáo thử nghiệm. Không phải khi nào\r\ncũng có thể thử nghiệm được mọi chức năng của thiết bị; trong trường hợp này,\r\nphải chọn phương thức hoạt động quan trọng nhất.
\r\n\r\nNếu thiết bị có số lượng đầu nối lớn hoặc có\r\nsố lượng cổng lớn có đấu nối giống nhau thì phải chọn số lượng vừa đủ để mô\r\nphỏng điều kiện làm việc thực tế và để đảm bảo bao quát được tất cả các kiểu\r\nđầu nối khác nhau.
\r\n\r\nKhông được cố ý kéo căng cáp xoắn (như cáp\r\nbàn phím) trong quá trình thử nghiệm. Đối với loại cáp này, chiều dài qui định\r\ntrong các chú thích của bảng là chiều dài cáp khi không kéo căng.
\r\n\r\nThiết bị thử nghiệm hoặc thiết bị phụ trợ (ví\r\ndụ như NT hoặc bộ mô phỏng) nối với EUT không được có bất kỳ ảnh hưởng nào đến\r\nkết quả thử nghiệm.
\r\n\r\nTrong trường hợp qui định kỹ thuật của nhà\r\nchế tạo yêu cầu qui định rõ trong sổ tay của người sử dụng các cơ cấu hoặc biện\r\npháp bảo vệ bên ngoài, thì phải áp dụng các yêu cầu thử nghiệm của tiêu chuẩn\r\nnày với cơ cấu hoặc biện pháp bảo vệ bên ngoài thích hợp.
\r\n\r\nTrong quá trình thử nghiệm, điều kiện môi trường\r\nvà điện áp cung cấp phải duy trì trong phạm vi dải làm việc qui định cho sản\r\nphẩm đó, nếu không có qui định nào khác trong tiêu chuẩn cơ bản.
\r\n\r\nNếu có nối đất độc lập với cáp nguồn công suất\r\nthì đầu nối đất này phải được đặt tại tất cả các cổng khác theo qui định kỹ\r\nthuật của nhà chế tạo cho thử nghiệm (cho trong các Bảng từ 1 đến 4).
\r\n\r\n6.2. Điều kiện cụ thể (phương thức hoạt động\r\ncủa EUT, v.v…)
\r\n\r\nĐiều kiện cụ thể qui định trong các phụ lục được\r\nưu tiên hơn các phần điều kiện chung tương ứng.
\r\n\r\nNếu trong tiêu chuẩn này không nêu điều kiện cụ\r\nthể đối với chức năng cụ thể thì phải áp dụng các điều kiện chung.
\r\n\r\n6.3. Bố trí thiết bị
\r\n\r\nCó một số bố trí thiết bị riêng của ITE để\r\nthử nghiệm miễn nhiễm, ví dụ như bố trí thiết bị để đo mức thanh áp (spl) giải\r\nđiều biến và tín hiệu phương thức vi sai giải điều biến của thiết bị đầu cuối viễn\r\nthông. Trong trường hợp như vậy, khuyến cáo EUT có cấu hình và bố trí phù hợp\r\nvới các hình từ A.1 đến A.8 của phụ lục A.
\r\n\r\nCác hình từ A.1 đến A.8 đưa ra ví dụ về các\r\nbố trí thử nghiệm riêng thích hợp cho hệ thống điện thoại phím nhỏ. Loại hệ\r\nthống này điển hình gồm một EUT chính (M-EUT) và một EUT phụ (S-EUT, ví dụ như\r\nđầu cuối điện thoại). Mục đích ở đây là thử nghiệm lần lượt hai phần này của\r\nEUT.
\r\n\r\n\r\n\r\nNhà chế tạo có trách nhiệm đưa ra các tiêu\r\nchí tính năng về mặt liên quan đến tính năng sản phẩm cụ thể của mình khi sử\r\ndụng như đã định.
\r\n\r\nÁp dụng các tiêu chí tính năng dưới đây, và\r\nchỉ đánh giá khi các chức năng đề cập đến được sử dụng.
\r\n\r\n7.1. Tiêu chí tính năng chung
\r\n\r\nVí dụ về các chức năng được nhà chế tạo xác\r\nđịnh cần đánh giá trong quá trình thử nghiệm bao gồm, nhưng không giới hạn ở\r\ncác điểm dưới đây:
\r\n\r\n- các phương thức và trạng thái hoạt động cơ\r\nbản;
\r\n\r\n- thử nghiệm của tất cả các thiết bị truy cập\r\nngoại vi (đĩa cứng, đĩa mềm, máy in, bàn phím, chuột, v.v…);
\r\n\r\n- chất lượng thực hiện của phần mềm;
\r\n\r\n- chất lượng hiển thị và truyền dữ liệu
\r\n\r\n- chất lượng truyền tiếng nói.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng A
\r\n\r\nThiết bị phải tiếp tục hoạt động theo chủ ý\r\nmà không cần có sự can thiệp của người thao tác. Không được phép có suy giảm\r\ntính năng hoặc suy giảm chức năng dưới mức tính năng do nhà chế tạo qui định\r\nkhi thiết bị được sử dụng như đã định. Mức tính năng có thể bị thay thế bằng suy\r\ngiảm tính năng cho phép. Nếu nhà chế tạo không qui định mức tính năng tối thiểu\r\nhoặc suy giảm tính năng cho phép thì có thể rút ra từ bản mô tả hoặc tài liệu\r\nvề sản phẩm, và theo mong muốn hợp lý của người sử dụng về thiết bị khi sử dụng\r\nnhư đã định.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng B
\r\n\r\nSau thử nghiệm, thiết bị phải tiếp tục hoạt\r\nđộng như đã định mà không cần có sự can thiệp của người thao tác. Sau khi áp\r\ndụng các hiện tượng, không được phép có suy giảm tính năng hoặc suy giảm chức\r\nnăng dưới mức tính năng do nhà chế tạo qui định, khi thiết bị được sử dụng như\r\nđã định. Mức tính năng có thể được thay bằng suy giảm tính năng cho phép.
\r\n\r\nTrong quá trình thử nghiệm, cho phép có suy\r\ngiảm tính năng. Tuy nhiên, không được phép duy trì thay đổi trạng thái hoạt\r\nđộng hoặc dữ liệu lưu trữ sau thử nghiệm.
\r\n\r\nNếu nhà chế tạo không qui định mức tính năng\r\ntối thiểu (hoặc suy giảm tính năng cho phép) thì có thể rút ra từ bản mô tả\r\nhoặc tài liệu về sản phẩm, và theo mong muốn hợp lý của người sử dụng về thiết bị\r\nkhi sử dụng như đã định.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng C
\r\n\r\nCho phép có suy giảm chức năng miễn là chức năng\r\nđó có thể tự phục hồi hoặc có thể khôi phục lại bằng việc người sử dụng thao\r\ntác bộ điều khiển theo hướng dẫn của nhà chế tạo.
\r\n\r\nKhông được làm mất các chức năng, và/hoặc\r\nthông tin được lưu trữ trong bộ nhớ cố định, hoặc được bảo vệ bằng nguồn dự\r\nphòng.
\r\n\r\n7.2. Tiêu chí tính năng cụ thể
\r\n\r\nTiêu chí tính năng cụ thể qui định trong các\r\nphụ lục qui định được ưu tiên hơn các phần tương ứng của tiêu chí tính năng\r\nchung.
\r\n\r\nKhi không nêu tiêu chí tính năng cụ thể cho\r\nchức năng cụ thể thì phải áp dụng tiêu chí tính năng chung.
\r\n\r\n\r\n\r\nQui định kỹ thuật mà nhà chế tạo sử dụng để\r\nxác định tiêu chí tính năng cho thử nghiệm theo yêu cầu của tiêu chuẩn này phải\r\nđược cung cấp theo yêu cầu của người sử dụng.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n Trường từ tần số nguồn \r\n | \r\n \r\n 1 \r\n50 hoặc 60 \r\n | \r\n \r\n A/m (r.m.s) Hz \r\n | \r\n \r\n IEC 61000-4-8 \r\n | \r\n \r\n Xem 1) \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n Trường điện từ \r\n\r\n tần số rađiô \r\nBiên độ điều biến \r\n | \r\n \r\n 3 \r\n\r\n ≤ 80-1 000 \r\n80 \r\n | \r\n \r\n V/m (không điều bến r.m.s) \r\nMHz \r\n% AM (1 kHz) \r\n | \r\n \r\n IEC 61000-4-3 \r\n | \r\n \r\n Mức thử nghiệm qui định trước khi điều biến \r\nXem 2) và 3) \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n Phóng điện tĩnh điện \r\n | \r\n \r\n 4 (phóng điện tiếp xúc) \r\n8 (phóng điện qua không khí) \r\n | \r\n \r\n kV (điện áp nạp) \r\nkV (điện áp nạp) \r\n | \r\n \r\n IEC 61000-4-2 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 1) Chỉ áp dụng được cho thiết bị có cơ cấu\r\n nhạy với trường từ, như màn hình CRT, phần tử Hall, micrô điện động, bộ cảm\r\n biến trường từ, v.v… \r\n2) Dải tần được quét theo qui định. Tuy\r\n nhiên, khi có qui định trong phụ lục A, thì phải tiến hành thêm thử nghiệm\r\n chức năng bao trùm ở một số tần số giới hạn. Các tần số được chọn là: 80,\r\n 120, 160, 230, 434, 460, 600, 863 và 900 MHz (± 1 %). \r\n3) Có thể tiến hành thử nghiệm với tần số ban\r\n đầu thấp hơn 80 MHz, nhưng không được thấp hơn 26 MHz. \r\n | \r\n ||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 2.1 \r\n | \r\n \r\n Nhiễu dẫn liên tục tần số rađiô \r\n | \r\n \r\n 3 \r\n0,15 - 80 \r\n80 \r\n | \r\n \r\n V (không điều biến, r.m.s) MHz \r\n% AM (1 kHz) \r\n | \r\n \r\n IEC 61000-4-6 \r\n | \r\n \r\n Xem 1), 3) và 4) \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 2.2 \r\n | \r\n \r\n Đột biến \r\n | \r\n \r\n 1,5 \r\n4 \r\n10/700 \r\n | \r\n \r\n kV (đỉnh) \r\nkV (đỉnh) Tr/Th µs \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Xem 2) và 5) \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 2.3 \r\n | \r\n \r\n Quá độ nhanh \r\n | \r\n \r\n 0,5 \r\n5/50 \r\n5 \r\n | \r\n \r\n kV (đỉnh) Tr/Th µs \r\nkHz (Tần số lặp) \r\n | \r\n \r\n IEC 61000-4-4 \r\n | \r\n \r\n Xem 3) \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 1) Dải tần được quét theo qui định. Tuy\r\n nhiên, khi có qui định trong phụ lục A, thì phải tiến hành thêm thử nghiệm\r\n chức năng bao trùm ở một số tần số giới hạn. Các tần số được chọn cho thử\r\n nghiệm dẫn là: 0,2; 1; 7,1; 13,56; 21; 27,12 và 40,68 MHz (± 1 %). \r\n2) Chỉ áp dụng được cho các cổng mà theo qui\r\n định kỹ thuật của nhà chế tạo có thể được nối trực tiếp với cáp ở ngoài. \r\n3) Chỉ áp dụng với cáp mà theo qui định kỹ\r\n thuật của nhà chế tạo trợ giúp liên lạc trên cáp có chiều dài lớn hơn 3 m. \r\n4) Nếu thử nghiệm bức xạ được tiến hành ở tần\r\n số thấp hơn thì dải thử nghiệm chỉ phải mở rộng đến tần số này. \r\n5) Đối với các cổng được thiết kế có bảo vệ\r\n sơ cấp, khi có lắp bộ bảo vệ sơ cấp, đột biến được đặt ở điện áp đến 4 kV.\r\n Nếu không thì đặt mức tốt nhất là 1,5 kV khi không lắp bảo vệ sơ cấp. \r\n | \r\n ||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 3.1 \r\n | \r\n \r\n Nhiễu dẫn liên tục tần số rađiô \r\n | \r\n \r\n 3 \r\n0,15 - 80 \r\n80 \r\n | \r\n \r\n V (không điều biến, r.m.s) MHz \r\n% AM (1 kHz) \r\n | \r\n \r\n IEC 61000-4-6 \r\n | \r\n \r\n Xem 1) và 3) \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 3.2 \r\n | \r\n \r\n Đột biến \r\n | \r\n \r\n 1,2/50 (8/20) \r\n0,5 \r\n | \r\n \r\n Tr/Th µs \r\nkV (đỉnh) \r\n | \r\n \r\n IEC 61000-4-5 \r\n | \r\n \r\n Thử nghiệm áp dụng cho đường dây nối đất \r\nXem 2) \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 3.3 \r\n | \r\n \r\n Quá độ nhanh \r\n | \r\n \r\n 0,5 \r\n5/50 \r\n5 \r\n | \r\n \r\n kV (đỉnh) Tr/Th ns \r\nkHz (Tần số lặp \r\n | \r\n \r\n IEC 61000-4-4 \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 1) Dải tần được quét theo qui định. Tuy\r\n nhiên, khi có qui định trong phụ lục A, thì phải tiến hành thêm thử nghiệm\r\n chức năng bao trùm ở một số tần số giới hạn. Các tần số được chọn cho thử\r\n nghiệm dẫn là: 0,2; 1; 7,1; 13,56; 21; 27,12 và 40,68 MHz (± 1 %). \r\n2) Chỉ áp dụng được cho các cổng mà theo qui\r\n định kỹ thuật của nhà chế tạo có thể được nối trực tiếp với cáp ở ngoài. \r\n3) Nếu thử nghiệm bức xạ được tiến hành ở tần\r\n số thấp hơn thì dải thử nghiệm chỉ phải mở rộng đến tần số này. \r\n | \r\n ||||||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 4.1 \r\n | \r\n \r\n Nhiễu dẫn liên tục tần số rađiô \r\n | \r\n \r\n 3 \r\n0,15 - 80 \r\n80 \r\n | \r\n \r\n V (không điều biến, r.m.s) MHz \r\n% AM (1 kHz) \r\n | \r\n \r\n IEC 61000-4-6 \r\n | \r\n \r\n Xem 1) và 3) \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 4.2 \r\n | \r\n \r\n Sụt điện áp \r\n | \r\n \r\n >95 \r\n0,5 \r\n | \r\n \r\n % giảm \r\nchu kỳ \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Xem 2) \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 30 \r\n25 \r\n | \r\n \r\n % giảm \r\ncác chu kỳ \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||||
| \r\n 4.3 \r\n | \r\n \r\n Ngắt điện áp \r\n | \r\n \r\n >95 \r\n250 \r\n | \r\n \r\n % giảm \r\ncác chu kỳ \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Xem 2) \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 4.4 \r\n | \r\n \r\n Đột biến \r\n | \r\n \r\n 1,2/50 (8/20) \r\n1 pha-pha \r\n2 pha-đất \r\n | \r\n \r\n Tr/Th µs \r\nkV (đỉnh) \r\nkV (đỉnh) \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n Xem 4) \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 4.5 \r\n | \r\n \r\n Quá độ nhanh \r\n | \r\n \r\n 1,0 \r\n5/50 \r\n5 \r\n | \r\n \r\n kV (đỉnh) \r\nTr/Th ns \r\nkHz (Tần số lặp) \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n 1) Dải tần được quét theo qui định. Tuy\r\n nhiên, khi có qui định trong phụ lục A, thì phải tiến hành thêm thử nghiệm\r\n chức năng bao trùm ở một số tần số giới hạn. Các tần số được chọn cho thử\r\n nghiệm dẫn là: 0,2; 1; 7,1; 13,56; 21; 27,12 và 40,68 MHz (± 1 %). \r\n2) Các thay đổi xuất hiện tại điểm giao 0 độ\r\n của dạng sóng điện áp. \r\n3) Nếu thử nghiệm bức xạ được tiến hành ở tần\r\n số thấp hơn thì dải thử nghiệm chỉ phải mở rộng đến tần số này. \r\n4) Khi nhà chế tạo qui định các biện pháp bảo\r\n vệ và không thể mô phỏng được các biện pháp này trong quá trình thử nghiệm\r\n thì phải giảm mức thử nghiệm áp dụng xuống còn 0,5 kV và 1 kV. \r\n | \r\n ||||||
\r\n\r\n
A.1. Thiết bị kết nối viễn thông (TTE)\r\ncó giao diện tương tự
\r\n\r\nA.1.1. Điều kiện thử nghiệm cụ thể
\r\n\r\nThiết bị kết nối viễn thông (TTE) phải\r\ncó cấu hình để nối với đường dây viễn thông (hoặc đường dây chuẩn) ở trở kháng\r\ndanh nghĩa. Có thể sử dụng thiết bị phụ trợ để mô phỏng mạng viễn thông.
\r\n\r\nA.1.2. Tiêu chí tính năng cụ thể
\r\n\r\nCác tiêu chí tính năng dưới đây chỉ áp\r\ndụng được khi sử dụng các chức năng.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng A
\r\n\r\na) Thử nghiệm tần số quét
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành theo một trong\r\nhai phương pháp đo mô tả dưới đây.
\r\n\r\nTrong trường hợp có tranh chấp, thử nghiệm\r\nphải được tiến hành như thử nghiệm đã hoàn thành ban đầu.
\r\n\r\nPhương pháp đo 1
\r\n\r\nNút điều chỉnh âm lượng (nếu có) phải được\r\nđặt càng gần càng tốt với vị trí cho giá trị danh nghĩa do nhà chế tạo ấn định.
\r\n\r\nMức thanh áp (spl) phải được đo bằng tai giả\r\nđã hiệu chuẩn như xác định trong IEC 60318, ghép nối không suy hao đến cơ cấu\r\nthu âm của TTE. Tạp âm nền phải thấp hơn 40 dB(spl). Kênh audio phải được mở và\r\nhoạt động.
\r\n\r\nPhải thỏa mãn các yêu cầu dưới đây trong quá\r\ntrình quét ở toàn bộ dải tần qui định:
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng duy trì cuộc gọi được\r\nthiết lập;
\r\n\r\n- đối với TTE hỗ trợ dịch vụ điện thoại, áp\r\ndụng thêm yêu cầu dưới đây:
\r\n\r\ntín hiệu phương thức vi sai băng tần hẹp giải\r\nđiều biến 1 kHz (độ rộng băng tần đo lớn nhất là 100 Hz) đo được trên cổng viễn\r\nthông không được lớn hơn các giá trị nêu trong bảng A.1, đo được ở trở kháng\r\ndanh nghĩa của TTE (như qui định của nhà chế tạo);
\r\n\r\n- đối với TTE có giao diện âm thanh, áp dụng thêm\r\nyêu cầu sau:
\r\n\r\nmức thanh áp (spl) giải điều biến theo hướng\r\nthu không được lớn hơn các giá trị nêu trong bảng A.1.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n * Yêu cầu này không áp dụng được với các nước\r\n không tồn tại dịch vụ di động số hoạt động ở 900 MHz. \r\nChú thích: Các thử nghiệm này được thiết kế\r\n để đảm bảo mức miễn nhiễm tối thiểu chấp nhận được với nhiễu tần số rađiô\r\n điều biến biên độ đối với thiết bị có giao diện âm học. Mức nhiễu giải điều\r\n biến cao hơn mức chấp nhận đ-ợc xuất hiện trong thực tế. Các mức ở thử nghiệm\r\n đã được chọn để thuận tiện cho việc thực hiện thử nghiệm, có xét đến mức tạp\r\n âm nền lớn nhất cho phép là 40 dB(spl) và mức thử nghiệm được áp dụng cho thử\r\n nghiệm chức năng. Từ các mối nối bán dẫn hoạt động giống như bộ tách sóng\r\n theo luật bình phương mang tính ngẫu nhiên sẽ xuất hiện nhiễu giải điều biến\r\n biên độ, hầu như không đổi. Điều này có nghĩa là cứ mỗi 1 dB thay đổi trong\r\n mức tín hiệu tần số rađiô sử dụng thì mức giải điều biến sẽ thay đổi 2 dB. Do\r\n đó, nếu thử nghiệm miễn nhiễm bức xạ đưa EUT chịu mức mang của trường thử\r\n nghiệm là 3 V/m gây cho đầu ra nhiễu 1 kHz âm học giải điều biến 55 dB(spl)\r\n (mức âm học khó chịu rõ rệt đối với hầu hết người nghe có thính giác bình thường,\r\n nhưng cao hơn mức tạp nền cho phép là 40 dB (spl)), thì thử nghiệm đảm bảo rằng\r\n trường nhiễu điều biến biên độ 1 V/m (thấp hơn cường độ trường khoảng 10 dB)\r\n áp dụng với chính thiết bị đó trong tình huống thực tế có thể gây mức nhiễu\r\n âm học giải điều biến xấp xỉ 35 dB(spl), là mức mà hầu hết mọi người trong\r\n môi trường nghe thực tế không cảm thấy khó chịu. \r\n | \r\n |||
Phương pháp đo 2
\r\n\r\nNúm điều chỉnh âm lượng (nếu có) phải được\r\nđặt ở mức cố định trong quá trình hiệu chuẩn và không được thay đổi trong quá\r\ntrình thử nghiệm.
\r\n\r\nTrong quá trình quét ở toàn bộ dải tần qui\r\nđịnh, phải thỏa mãn các yêu cầu sau đây:
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng duy trì cuộc gọi được\r\nthiết lập;
\r\n\r\n- đối với TTE hỗ trợ dịch vụ điện thoại, áp\r\ndụng thêm yêu cầu dưới đây:
\r\n\r\nkênh audio mở và hoạt động, tạp phương thức\r\nvi sai giải điều biến tại cổng viễn thông đo được ở trở kháng danh nghĩa của TTE\r\n(theo qui định của nhà chế tạo) không được lớn hơn các giá trị nêu trong bảng\r\nA.1. Độ rộng băng tần đo ở 1 kHz phải lớn nhất là 100 Hz;
\r\n\r\n- đối với TTE có giao diện âm thanh, áp dụng thêm\r\nyêu cầu sau:
\r\n\r\nđưa tín hiệu hình sin 1 kHz, -40 dBm vào đường\r\ndây viễn thông (mức tín hiệu không có trường tần số rađiô). Sử dụng micrô để đo\r\nmức âm thanh thu được. Mức đo được phải sử dụng và ghi lại làm mức chuẩn. Tín\r\nhiệu dùng để thiết lập mức chuẩn được ngắt trong quá trình thử nghiệm thực tế.\r\nĐộ rộng băng tần đo phải lớn nhất là 100 Hz.
\r\n\r\nTạp nền không được vượt quá mức 15 dB bên dưới\r\nmức chuẩn.
\r\n\r\nTạp phương thức vi sai giải điều biến theo hướng\r\nthu, đo được theo cách đã mô tả đối với mức chuẩn, không được lớn hơn các giá\r\ntrị nêu trong bảng A.2.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n * Yêu cầu này không áp dụng được với các nước\r\n không tồn tại dịch vụ di động số hoạt động ở 900 MHz. Xem chú thích của bảng\r\n A.1. \r\n | \r\n ||
b) Thử nghiệm tần số lựa chọn
\r\n\r\nPhải thỏa mãn các yêu cầu dưới đây tại các\r\ntần số qui định trong các bảng 1, 2, 3 và 4 (điều này có thể được chỉ ra bằng cách\r\nkiểm tra dữ liệu gửi trên đường dây, để tránh phải có người thao tác trong trường\r\nnày):
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng thiết lập cuộc gọi\r\nbằng dịch vụ điện thoại;
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng nhận cuộc gọi;
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng hủy cuộc gọi;
\r\n\r\n- nếu TTE được thiết kế để cung cấp dịch vụ\r\ndữ liệu (không phải điện thoại) thì thời gian cần thiết để truyền không được\r\ntăng quá giới hạn do nhà chế tạo xác định, như là kết quả của việc áp dụng thử\r\nnghiệm.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng B
\r\n\r\nPhải thỏa mãn yêu cầu dưới đây:
\r\n\r\nPhải duy trì cuộc gọi được thiết lập trước\r\nkhi đặt nhiễu.
\r\n\r\nSau khi đặt nhiễu, cần kiểm tra các yêu cầu\r\nsau:
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng thiết lập cuộc gọi;
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng nhận cuộc gọi;
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng hủy cuộc gọi.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng C
\r\n\r\nSau khi đặt nhiễu, cần kiểm tra các yêu cầu\r\nsau:
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng thiết lập cuộc gọi;
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng nhận cuộc gọi;
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng hủy cuộc gọi.
\r\n\r\nA.2. Thiết bị kết nối viễn thông (TTE) có\r\ngiao diện số
\r\n\r\nA.2.1. Điều kiện thử nghiệm cụ thể
\r\n\r\nTTE phải có cấu hình để nối với đường dây\r\nviễn thông (hoặc đường dây chuẩn) ở trở kháng danh nghĩa. Có thể sử dụng thiết bị\r\nphụ trợ để mô phỏng mạng viễn thông.
\r\n\r\nĐối với truy cập cơ sở số, giao diện ISDN\r\ncung cấp dịch vụ điện thoại cho TTE phải ở trạng thái rỗi như áp dụng cho\r\nchuyển đổi số sang tương tự.
\r\n\r\nA.2.2. Tiêu chí tính năng cụ thể
\r\n\r\nCác tiêu chí tính năng dưới đây chỉ áp dụng được\r\nkhi sử dụng các chức năng.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng A
\r\n\r\na) Thử nghiệm tần số quét
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành theo một trong\r\nhai phương pháp đo mô tả dưới đây.
\r\n\r\nTrong trường hợp có tranh chấp, thử nghiệm\r\nphải được tiến hành như thử nghiệm đã hoàn thành ban đầu.
\r\n\r\nPhương pháp đo 1
\r\n\r\nNút điều chỉnh âm lượng (nếu có) phải được\r\nđặt càng gần càng tốt với vị trí cho giá trị danh nghĩa do nhà chế tạo ấn định.
\r\n\r\nMức thanh áp (spl) phải được đo bằng tai giả\r\nđã hiệu chuẩn như xác định trong IEC 60318, ghép nối không có suy hao đến cơ\r\ncấu thu âm của TTE. Tạp âm nền phải thấp hơn 40 dB(spl). Kênh audio phải được\r\nmở và hoạt động.
\r\n\r\nPhải thỏa mãn các yêu cầu dưới đây trong quá\r\ntrình quét ở toàn bộ dải tần qui định:
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng duy trì cuộc gọi được\r\nthiết lập;
\r\n\r\n- đối với TTE hỗ trợ dịch vụ điện thoại, áp\r\ndụng thêm yêu cầu dưới đây:
\r\n\r\ntạp phương thức vi sai giải điều biến và mức\r\nthanh áp theo hướng thu không được lớn hơn các giá trị nêu trong bảng A.3;
\r\n\r\n- đối với TTE có giao diện âm học, áp dụng thêm\r\nyêu cầu sau:
\r\n\r\nmức thanh áp (spl) giải điều biến âm học theo\r\nhướng thu không được lớn hơn các giá trị nêu trong bang A.3.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n * Yêu cầu này không áp dụng được với các\r\n nước không tồn tại dịch vụ di động số hoạt động ở 900 MHz. Xem chú thích của\r\n bảng A.1. \r\n | \r\n |||
Phương pháp đo 2
\r\n\r\nNúm điều chỉnh âm lượng (nếu có) phải được\r\nđặt ở mức cố định trong quá trình hiệu chuẩn và không được thay đổi trong quá\r\ntrình thử nghiệm.
\r\n\r\nTrong quá trình quét ở toàn bộ dải tần qui\r\nđịnh, phải thỏa mãn các yêu cầu sau đây:
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng duy trì cuộc gọi được\r\nthiết lập;
\r\n\r\n- đối với TTE hỗ trợ dịch vụ điện thoại, áp\r\ndụng thêm yêu cầu dưới đây:
\r\n\r\nkênh audio mở và hoạt động, tạp phương thức vi\r\nsai giải điều biến và mức thanh áp từ EUT, đo được ở kênh B, không được lớn hơn\r\ncác giá trị nêu trong bảng A.3. Độ rộng băng tần đo lớn nhất phải là 100 Hz ở 1\r\nkHz;
\r\n\r\n- đối với TTE có giao diện âm học, áp dụng thêm\r\nyêu cầu sau:
\r\n\r\nĐưa tín hiệu số mã hóa theo luật A đại diện\r\ncho tín hiệu hình sin 1 kHz, -40 dBmO vào đường dây viễn thông (mức tín hiệu\r\nkhông có nhiễu tần số rađiô). Sử dụng micrô để đo mức thanh áp thu được. Mức đo\r\nđược phải sử dụng và ghi lại làm mức chuẩn. Tín hiệu dùng để thiết lập mức chuẩn\r\nđược ngắt trong quá trình thử nghiệm thực tế. Độ rộng băng tần đo lớn nhất phải\r\nlà 100 Hz.
\r\n\r\nTrong quá trình thử nghiệm, mã rỗi phải được\r\ngửi đến EUT ở kênh B.
\r\n\r\nTạp nền không được vượt quá mức 15 dB bên dưới\r\nmức chuẩn như đã ấn định.
\r\n\r\nTạp phương thức vi sai giải điều biến theo hướng\r\nthu, đo được theo cách mô tả đối với mức chuẩn, không được lớn hơn các giá trị\r\nnêu trong bảng A.4.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n * Yêu cầu này không áp dụng được với các nước\r\n không tồn tại dịch vụ số di động hoạt động ở 900 MHz. Xem chú thích của bảng\r\n A.1. \r\n | \r\n ||
b) Thử nghiệm tần số lựa chọn
\r\n\r\nPhải thỏa mãn các yêu cầu dưới đây tại các\r\ntần số qui định trong các bảng 1, 2, 3 và 4:
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng thiết lập cuộc gọi\r\nbằng dịch vụ điện thoại;
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng nhận cuộc gọi;
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng hủy cuộc gọi;
\r\n\r\n- nếu TTE được thiết kế để cung cấp dịch vụ\r\ndữ liệu (không phải tiếng nói) thì thời gian cần thiết để truyền không được tăng\r\nquá giới hạn do nhà chế tạo xác định, như là kết quả của việc áp dụng thử\r\nnghiệm.
\r\n\r\nĐối với thiết bị ISDN chỉ để truy cập ban đầu\r\nthì áp dụng thêm yêu cầu sau:
\r\n\r\nLượng tổn hao do các liên kết khung phải nhỏ hơn\r\n10 trong khoảng thời gian thử nghiệm là 10 giây. Nếu có thể chứng minh rõ rằng\r\ncó thể duy trì cuộc gọi có tiếng nói trong suốt thử nghiệm thì khi đó không cần\r\nphải đánh giá tổn hao của liên kết khung.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng B
\r\n\r\nPhải thoả mãn yêu cầu dưới đây:
\r\n\r\nPhải duy trì cuộc gọi được thiết lập trước khi\r\náp dụng hiện tượng. Sau khi áp dụng hiện tượng, cần kiểm tra các yêu cầu sau:
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng thiết lập cuộc gọi;
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng nhận cuộc gọi;
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng hủy cuộc gọi.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng C
\r\n\r\nSau khi áp dụng hiện tượng, cần kiểm tra các\r\nyêu cầu sau:
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng thiết lập cuộc gọi;
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng nhận cuộc gọi;
\r\n\r\n- TTE phải có khả năng hủy cuộc gọi.
\r\n\r\nA.3. Fax
\r\n\r\nA.3.1. Điều kiện thử nghiệm cụ thể
\r\n\r\nEUT phải được nối với EUT thứ hai hoặc bộ mô\r\nphỏng cho phép gửi và nhận được dạng thử nghiệm từ EUT. Dạng thử nghiệm chọn từ\r\nkhuyến cáo của ITU-T liên quan được ưu tiên nhưng không bắt buộc. Các yêu cầu dưới\r\nđây được bổ sung cho các yêu cầu tính năng của TTE.
\r\n\r\nA.3.2. Tiêu chí tính năng cụ thể
\r\n\r\nTiêu chí tính năng A
\r\n\r\nEUT phải hoạt động bình thường trong và sau\r\nthử nghiệm mà không có:
\r\n\r\n- lỗi truyền dữ liệu, ví dụ không có thử lại\r\nvượt quá cực đại qui định;
\r\n\r\n- suy giảm của ảnh in vượt quá qui định kỹ\r\nthuật của nhà chế tạo;
\r\n\r\n- mất toàn bộ hoặc một phần văn bản, ví dụ như\r\nchữ bị mất đầu;
\r\n\r\n- cấp dòng hoặc trang không theo chủ ý;
\r\n\r\n- thay đổi màu vượt quá qui định kỹ thuật của\r\nnhà chế tạo;
\r\n\r\n- bắt đầu lại cuộc gọi.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng B
\r\n\r\nCũng như đối với tiêu chí tính năng A, trừ\r\ncác trường hợp dưới đây, được phép trong quá trình đặt nhiễu, miễn là hoạt động\r\nbình thường của EUT được khôi phục lại điều kiện ngay trước khi đặt nhiễu:
\r\n\r\n- suy giảm ảnh in vượt quá qui định kỹ thuật\r\ncủa nhà chế tạo;
\r\n\r\n- cấp dòng không chủ ý.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng C
\r\n\r\nCho phép mọi sự suy giảm tính năng, miễn là\r\nhoạt động bình thường của EUT có thể tự phục hồi, hoặc có thể lưu giữ lại sau\r\nthử nghiệm bằng cách sử dụng núm điều khiển thao tác, và miễn là:
\r\n\r\n- cập nhật mọi sự gián đoạn khi truyền và\r\nkhai báo người sử dụng;
\r\n\r\n- EUT có thể thiết lập lại cuộc gọi;
\r\n\r\n- EUT có thể nhận cuộc gọi;
\r\n\r\n- EUT có thể hủy cuộc gọi.
\r\n\r\nCác thành phần
\r\n\r\nM-EUT Thiết bị chính cần\r\nthử nghiệm (khối dịch vụ điện thoại phím)
\r\n\r\nS-EUT Thiết bị phụ cần\r\nthử nghiệm (điện thoại phím)
\r\n\r\nAE Thiết bị kết nối\r\n(cấp acqui và đầu nối điện thoại)
\r\n\r\nCDN Mạng ghép khử ghép
\r\n\r\nAH Tay giả
\r\n\r\nSG Bộ tạo tín hiệu
\r\n\r\n1 - Nếu M-EUT cũng có ống nghe, thì\r\nống nghe phải được đặt và thử nghiệm theo cách tương tự như với ống nghe của S-EUT.
\r\n\r\n2 - Vùng tiếp xúc trên ống nghe dựa\r\ntrên hình 54a của TCVN 6989-1 : 2003 (CISPR 16-1)1).
\r\n\r\n3 - R0 là trở kháng đầu ra\r\ncủa bộ tạo tín hiệu và cũng là trở kháng đầu nối của CDN.
\r\n\r\nCác thành phần
\r\n\r\nM-EUT Thiết bị chính cần\r\nthử nghiệm (khối dịch vụ điện thoại phím)
\r\n\r\nS-EUT Thiết bị phụ cần\r\nthử nghiệm (điện thoại phím)
\r\n\r\nAE Thiết bị kết nối\r\n(cấp acqui và đầu nối điện thoại)
\r\n\r\nCDN Mạng ghép khử ghép
\r\n\r\nAH Tay giả
\r\n\r\nSG Bộ tạo tín hiệu.
\r\n\r\n1 - Nếu M-EUT cũng có ống nghe, thì\r\nống nghe phải được đặt và thử nghiệm theo cách tương tự như với ống nghe của S-EUT.
\r\n\r\n2 - Vùng tiếp xúc trên ống nghe dựa\r\ntrên hình 54a của TCVN 6989-1 : 2003 (CISPR 16-1).
\r\n\r\n3 - R0 là trở kháng đầu ra\r\ncủa bộ tạo tín hiệu và cũng là trở kháng đầu nối của CDN.
\r\n\r\nCác thành phần
\r\n\r\nM-EUT Thiết bị chính cần\r\nthử nghiệm (khối dịch vụ điện thoại phím)
\r\n\r\nS-EUT Thiết bị phụ cần\r\nthử nghiệm (điện thoại phím)
\r\n\r\nAE Thiết bị kết nối\r\n(cấp acqui và đầu nối điện thoại)
\r\n\r\nCDN Mạng ghép khử ghép
\r\n\r\nAH Tay giả
\r\n\r\nSG Bộ tạo tín hiệu
\r\n\r\n1 - Nếu M-EUT cũng có ống nghe, thì\r\nống nghe phải được đặt và thử nghiệm theo cách tương tự như với ống nghe của S-EUT.
\r\n\r\n2 - Vùng tiếp xúc trên ống nghe dựa\r\ntrên hình 54a của TCVN 6989-1 : 2003 (CISPR 16-1).
\r\n\r\n3 - R0 là trở kháng đầu ra\r\ncủa bộ tạo tín hiệu và cũng là trở kháng đầu nối của CDN.
\r\n\r\nCác thành phần
\r\n\r\nM-EUT Thiết bị chính cần\r\nthử nghiệm (khối dịch vụ điện thoại phím)
\r\n\r\nS-EUT Thiết bị phụ cần\r\nthử nghiệm (điện thoại phím)
\r\n\r\nAE Thiết bị kết nối\r\n(cấp acqui và đầu nối điện thoại)
\r\n\r\nCDN Mạng ghép khử ghép
\r\n\r\nAH Tay giả
\r\n\r\nSG Bộ tạo tín hiệu
\r\n\r\n1 - Nếu M-EUT cũng có ống nghe, thì\r\nống nghe phải được đặt và thử nghiệm theo cách tương tự như với ống nghe của S-EUT.
\r\n\r\n2 - Vùng tiếp xúc trên ống nghe dựa\r\ntrên hình 54a của TCVN 6989-1 : 2003 (CISPR 16-1).
\r\n\r\n3 - R0 là trở kháng đầu ra\r\ncủa bộ tạo tín hiệu và cũng là trở kháng đầu nối của CDN.
\r\n\r\n![](\"00914451_files/image006.gif\")
Các thành phần
\r\n\r\nM-EUT Thiết bị chính cần thử\r\nnghiệm (khối dịch vụ điện thoại phím)
\r\n\r\nS-EUT Thiết bị phụ cần thử\r\nnghiệm (điện thoại phím)
\r\n\r\nAE Thiết bị kết nối (cấp\r\nacqui và đầu nối điện thoại)
\r\n\r\nAH Tay giả
\r\n\r\n1 - Nếu M-EUT cũng có ống nghe, thì ống nghe phải\r\nđược đặt và thử nghiệm theo cách tương tự như với ống nghe của S-EUT.
\r\n\r\n2 - Vùng tiếp xúc trên ống nghe dựa trên hình\r\n54a của TCVN 6989-1 : 2003 (CISPR 16-1).
\r\n\r\n3 - Bộ lọc này phải được đặt phía trên mặt\r\nphẳng nền hoặc mặt phẳng kim loại trong phòng. Bộ lọc phải được chọn theo IEC\r\n61000-4-6.
\r\n\r\n4 - Cáp trần phải được chiếu sáng theo phương\r\npháp nêu trong iec 61000-4-3.
\r\n\r\n![](\"00914451_files/image007.jpg\")
Các thành phần
\r\n\r\nM-EUT Thiết bị chính cần thử\r\nnghiệm (khối dịch vụ điện thoại phím)
\r\n\r\nS-EUT Thiết bị phụ cần thử\r\nnghiệm (điện thoại phím)
\r\n\r\nAE Thiết bị kết nối (cấp\r\nacqui và đầu nối điện thoại)
\r\n\r\nAH Tay giả
\r\n\r\n1 - Nếu M-EUT cũng có ống nghe, thì ống nghe phải\r\nđược đặt và thử nghiệm theo cách tương tự như với ống nghe của S-EUT.
\r\n\r\n2 - Bộ lọc này phải được đặt phía trên mặt\r\nphẳng nền hoặc mặt phẳng kim loại trong phòng. Bộ lọc phải được chọn theo IEC\r\n61000-4-6.
\r\n\r\n3 - Cáp trần phải được chiếu sáng theo phương\r\npháp nêu trong IEC 61000-4-3.
\r\n\r\n![](\"00914451_files/image008.gif\")
1 - Khi sử dụng trong quá trình thử nghiệm miễn\r\nnhiễm bức xạ, tai giả cần được che chắn. Trong quá trình thử nghiệm miễn nhiễm\r\nnhiễu dẫn thì vỏ che chắn này phải được tháo ra.
\r\n\r\n![](\"00914451_files/image009.jpg\")
Chú giải:
\r\n\r\n1 - Có thể dùng ống nhựa thông thường. Các\r\nthuộc tính âm học được bù lại bằng qui trình hiệu chuẩn. Đường kính trong và đường\r\nkính ngoài tương ứng (điển hình) là 15 mm và 19 mm. Tổng chiều dài của ống nhựa\r\nlà 1,5 m (điển hình).
\r\n\r\n2 - Bộ nối dạng hình nón được nối về mặt âm\r\nhọc với các dạng ống nghe khác nhau là loại cao su mềm nhất định. Sự ghép nối\r\ncố định này giữa ống nghe và ống dẫn âm không được thay đổi giữa việc hiệu\r\nchuẩn và phép đo.
\r\n\r\nThử nghiệm phải được tiến hành sử dụng\r\nchương trình thực hiện có thể lặp lại trình tự chức năng của thiết bị và, trong\r\ntrường hợp hỏng hóc, có thể làm cho người thao tác nhận ra bản chất hỏng bằng hiển\r\nthị hoặc bằng quá trình vận hành của người thao tác.
\r\n\r\nTrình tự thử nghiệm phải được chọn từ\r\ncác điểm dưới đây theo chức năng do nhà chế tạo thiết bị cần thử nghiệm xác\r\nđịnh và tiêu chí tính năng A, B hoặc C phải được chọn theo nhiễu cần thử nghiệm.
\r\n\r\nB.1. Đọc, ghi và lưu trữ dữ liệu
\r\n\r\nB.1.1. Điều kiện thử nghiệm cụ thể
\r\n\r\nChu kỳ đọc và ghi dữ liệu phải được\r\nlặp lại với thiết bị lưu trữ bên trong như bộ nhớ bán dẫn, đĩa từ, đĩa quang\r\nhoặc cơ cấu băng từ và sau đó so sánh dữ liệu được sao lại với dữ liệu gốc.
\r\n\r\nBộ nhớ chỉ đọc (ROM) phải được đọc lại\r\nnhiều lần và so sánh dữ liệu này với dữ liệu mong muốn.
\r\n\r\nB.1.2. Tiêu chí tính năng cụ thể
\r\n\r\nTiêu chí tính năng A
\r\n\r\nCơ cấu lưu trữ phải duy trì hoạt động\r\nbình thường ở cả điều kiện đọc/ghi lẫn điều kiện chờ.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng B
\r\n\r\nCho phép các hỏng hóc có thể phục hồi\r\nbằng việc thử lại đọc và ghi (sự trễ tạm thời quá trình xử lý do qui trình này\r\ngây ra là chấp nhận được).
\r\n\r\nHoạt động bình thường của EUT phải được\r\nkhôi phục lại sau thử nghiệm, chấp nhận việc tự phục hồi lại điều kiện ngay trước\r\nkhi áp dụng thử nghiệm nếu đó là biện pháp phục hồi thông thường. Trong trường\r\nhợp này, người thao tác được phép bắt đầu lại hoạt động.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng C
\r\n\r\nCho phép các hỏng hóc gây trễ trong quá\r\ntrình xử lý sau khi loại bỏ nhiễu bên ngoài mà có thể phục hồi lại hoạt động\r\nbình thường bằng việc đặt lại hoặc khởi động lại.
\r\n\r\nCho phép các hỏng hóc làm hủy bỏ hệ\r\nthống mà có thể phục hồi lại hoạt động bình thường bằng việc đặt lại hoặc khởi\r\nđộng lại.
\r\n\r\nB.2. Hiển thị dữ liệu
\r\n\r\nB.2.1. Điều kiện thử nghiệm cụ thể
\r\n\r\nVăn bản hoặc đồ họa phải được hiển thị\r\ntrên thiết bị hiển thị như màn hình CRT, màn hình tinh thể lỏng, plasma hoặc\r\nLED.
\r\n\r\nB.2.2. Tiêu chí tính năng cụ thể
\r\n\r\nTiêu chí tính năng A
\r\n\r\nKhi nhìn từ khoảng cách nhìn bình thường,\r\nEUT phải hoạt động mà không có thay đổi vượt quá qui định kỹ thuật của nhà chế\r\ntạo, về độ rung, màu sắc, tiêu cự và giật (ngoại trừ thử nghiệm trường từ tần\r\nsố nguồn).
\r\n\r\nThử nghiệm trường từ tần số nguồn
\r\n\r\nĐối với màn hình CRT, áp dụng thêm như\r\nsau:
\r\n\r\nPhải đo giật ảnh bằng kính hiển vi đo\r\nnhư qui định ở 6.6.14 của TCVN 7318-3 : 2003 (ISO 9241-3).
\r\n\r\n| \r\n Giật ảnh (tính bằng mm) không được\r\n vượt quá giá trị \r\n | \r\n \r\n (chiều cao ký tự, tính bằng mm +\r\n 0,3) x 2,5 \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n
khi màn hình CRT đặt trong trường từ\r\nliên tục là 1 A/m (r.m.s) ở một trong hai tần số nguồn là 50 Hz hoặc 60 Hz.
\r\n\r\nĐể thay thế, có thể sử dụng trường 50\r\nA/m và sử dụng mặt nạ trong suốt được chia độ để đánh giá độ giật. Trong trường\r\nhợp đó, mức giật không được vượt quá 50 lần giá trị trong công thức trên.
\r\n\r\nChú thích: Mức thử nghiệm này được\r\ndùng để đơn giản phép đo giật ảnh. Có thể sử dụng mức thử nghiệm thấp hơn nếu\r\nthấy độ phi tuyến tính, do, ví dụ, sự bão hòa của vật liệu chắn.
\r\n\r\nEUT phải được thử nghiệm ở hai vị trí,\r\ncả hai đều vuông góc với trường từ.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng B
\r\n\r\nCho phép nhiễu màn hình trong quá\r\ntrình áp dụng thử nghiệm.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng C
\r\n\r\nCho phép hỏng hóc không tự phục hồi\r\nsau khi loại bỏ nhiễu bên ngoài nhưng có thể phục hồi lại hoạt động bình thường\r\nbằng việc đặt lại hoặc khởi động lại.
\r\n\r\nB.3. Đầu vào dữ liệu
\r\n\r\nB.3.1. Điều kiện thử nghiệm cụ thể
\r\n\r\nPhải thu được dữ liệu bằng thiết bị\r\nđầu vào như bàn phím, chuột, máy đọc thẻ từ, máy đọc ký tự quang học, máy quét\r\nảnh, bút đầu vào hoặc cảm biến hỗn hợp.
\r\n\r\nMặc dù ưu tiên đầu vào liên tục nhưng cho\r\nphép thử nghiệm ở điều kiện chờ đối với thiết bị đòi hỏi người thao tác theo\r\ndõi hoạt động.
\r\n\r\nKhi EUT là một thiết bị đầu vào dữ\r\nliệu lớn, như máy đọc ký tự hoặc máy quét, thì bộ xử lý trung tâm phải chạy chương\r\ntrình đọc biểu đồ thử nghiệm thích hợp liên tục trong suốt thời gian thử nghiệm.\r\nĐầu vào dữ liệu đọc được hiển thị, in trực tiếp hoặc lưu trữ để đánh giá về\r\nsau.
\r\n\r\nB.3.2. Tiêu chí tính năng cụ thể
\r\n\r\nTiêu chí tính năng A
\r\n\r\nKhông cho phép đưa tín hiệu đầu vào\r\nkhông chủ ý từ thiết bị đầu vào. Thiết bị đầu vào phải duy trì chất lượng qui\r\nđịnh của dữ liệu ảnh.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng B
\r\n\r\nKhông được phép “khóa” bàn phím/chuột.
\r\n\r\nĐối với thiết bị nhập dữ liệu vào bằng\r\ntay có thể xác nhận bằng cách đọc trên màn hình, cho phép có các lỗi mà người\r\nthao tác có thể nhận ra và dễ dàng sửa chữa.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng C
\r\n\r\nCho phép các hỏng hóc gây trễ trong quá\r\ntrình xử lý sau khi loại bỏ nhiễu bên ngoài mà có thể phục hồi lại hoạt động\r\nbình thường bằng việc đặt lại hoặc khởi động lại.
\r\n\r\nCho phép các hỏng hóc làm hủy bỏ hệ\r\nthống mà có thể phục hồi lại hoạt động bình thường bằng việc đặt lại hoặc khởi\r\nđộng lại.
\r\n\r\nB.4. In dữ liệu
\r\n\r\nB.4.1. Điều kiện thử nghiệm cụ thể
\r\n\r\nDữ liệu phải được in bằng máy in hoặc máy\r\nvẽ. Đối với thiết bị có nhiều phương thức hoạt động, thử nghiệm phải chọn phương\r\nthức hoạt động điển hình nhất.
\r\n\r\nB.4.2. Tiêu chí tính năng cụ thể
\r\n\r\nTiêu chí tính năng A
\r\n\r\nMáy in phải duy trì chất lượng in và\r\nhoạt động bình thường qui định.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng B
\r\n\r\nKhông được phép có suy giảm chất lượng\r\nin vượt quá qui định kỹ thuật của nhà chế tạo (như méo ký tự hoặc mất điểm\r\nảnh).
\r\n\r\nTiêu chí tính năng C
\r\n\r\nCho phép có lỗi in hoặc thiếu (các) ký\r\ntự cần phải in lại.
\r\n\r\nCho phép hỏng đầu vào/đầu ra có thể\r\nphục hồi lại hoạt động bình thường bằng cách đặt lại hoặc khởi động lại.
\r\n\r\nB.5. Xử lý dữ liệu
\r\n\r\nB.5.1. Điều kiện thử nghiệm cụ thể
\r\n\r\nXử lý dữ liệu, như tính toán, chuyển\r\nđổi, lưu trữ hoặc truyền dữ liệu phải được thực hiện và phải so sánh kết quả xử\r\nlý dữ liệu với kết quả trong hoạt động bình thường.
\r\n\r\nB.5.2. Tiêu chí tính năng cụ thể
\r\n\r\nTiêu chí tính năng A
\r\n\r\nCho phép hỏng hóc không ảnh hưởng đến hoạt\r\nđộng qui định trong qui định kỹ thuật sản phẩm và không ngăn sự phục hồi tự\r\nđộng.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng B
\r\n\r\nCho phép hỏng hóc tự động phục hồi nhưng\r\ngây trễ tạm thời quá trình xử lý.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng C
\r\n\r\nCho phép các hỏng hóc gây trễ trong quá\r\ntrình xử lý sau khi loại bỏ nhiễu bên ngoài mà có thể phục hồi lại hoạt động\r\nbình thường bằng việc đặt lại hoặc khởi động lại.
\r\n\r\nCho phép các hỏng hóc làm huỷ bỏ hệ\r\nthống mà có thể phục hồi lại hoạt động bình thường bằng việc
Cho phép hỏng hóc có báo động và có thể\r\nphục hồi lại hoạt động bình thường nhờ sự can thiệp của người thao tác.
\r\n\r\n\r\n\r\n
C.1. Điều kiện thử nghiệm cụ thể
\r\n\r\nCấu hình thử nghiệm tối thiểu gồm hai\r\nthiết bị kết nối nối với nhau bằng cáp do nhà chế tạo qui định. Thiết bị kết\r\nnối cần thiết để LAN hoạt động phải bao gồm trong cấu hình thử nghiệm. Các cổng\r\nkhông sử dụng phải được xử lý theo hướng dẫn của nhà chế tạo.
\r\n\r\nHệ thống phải có khả năng phân phối và\r\nnhận dữ liệu với tốc độ truyền danh nghĩa qui định.
\r\n\r\nThiết bị LAN chạy chương trình thực\r\nhiện các chức năng của LAN. ít nhất phải đánh giá các chức năng dưới đây.
\r\n\r\nC.2. Tiêu chí tính năng cụ thể
\r\n\r\nTiêu chí tính năng A
\r\n\r\nEUT phải hoạt động bình thường trong\r\nvà sau thử nghiệm mà không có:
\r\n\r\n- tỷ lệ lỗi vượt quá giá trị nhà chế\r\ntạo ấn định;
\r\n\r\n- yêu cầu thử lại vượt quá giá trị nhà\r\nchế tạo ấn định;
\r\n\r\n- tốc độ truyền dữ liệu vượt quá giá\r\ntrị nhà chế tạo ấn định;
\r\n\r\n- sai giao thức;
\r\n\r\n- mất liên kết.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng B
\r\n\r\nTỷ lệ lỗi, yêu cầu thử lại và tốc độ\r\ntruyền dữ liệu có thể giảm trong quá trình áp dụng thử nghiệm.
\r\n\r\nĐược phép có suy giảm tính năng như mô\r\ntả trong tiêu chí A miễn là hoạt động bình thường của EUT có thể tự phục hồi\r\nlại điều kiện ngay trước khi áp dụng thử nghiệm. Trong trường hợp này, người\r\nthao tác được phép vận hành lại từ đầu.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng C
\r\n\r\nĐược phép có suy giảm tính năng như mô\r\ntả trong tiêu chí A và B miễn là hoạt động bình thường của EUT có thể tự phục hồi\r\nlại điều kiện ngay trước khi áp dụng thử nghiệm hoặc người thao tác có thể khôi\r\nphục lại sau thử nghiệm.
\r\n\r\n\r\n\r\n
D.1. Điều kiện thử nghiệm cụ thể
\r\n\r\nDữ liệu phải được in bằng máy in hoặc máy vẽ.\r\nKhông có yêu cầu về ảnh tiêu chuẩn, nhưng khuyến cáo sử dụng văn bản có từ ba\r\nphông chữ trở lên và có ít nhất là một ô lưới. Số ký tự trong một inch và\r\nkhoảng cách dòng cần phải nhỏ. Nếu có thể chọn mật độ điểm thì phải chọn mật độ\r\ncao nhất. Thử nghiệm phải được tiến hành với EUT ở chế độ in.
\r\n\r\nD.2. Tiêu chí tính năng cụ thể
\r\n\r\nTiêu chí tính năng A
\r\n\r\nTrong và sau khi đặt nhiễu, EUT phải hoạt động\r\nmà không có suy giảm tính năng. Ví dụ như không được có:
\r\n\r\n- mất hoặc sai dữ liệu trong quá trình hoạt\r\nđộng vào/ra;
\r\n\r\n- giảm chất lượng ảnh in vượt quá qui định kỹ\r\nthuật của nhà chế tạo;
\r\n\r\n- thay đổi chế độ đầu ra hoặc phông chữ;
\r\n\r\n- thay đổi mật độ điểm in nhận thấy được;
\r\n\r\n- cấp dòng hoặc trang không theo chủ ý.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng B
\r\n\r\nTheo như tiêu chí tính năng A, với các ngoại\r\nlệ sau đây:
\r\n\r\n- được phép giảm chất lượng ảnh in vượt quá\r\nqui định kỹ thuật của nhà chế tạo;
\r\n\r\n- cho phép các dòng khung lưới không thẳng\r\nhàng;
\r\n\r\n- được phép cấp dòng không theo chủ ý.
\r\n\r\nSau khi loại bỏ nhiễu, hoạt động bình thường của\r\nEUT tự phục hồi lại điều kiện ngay trước khi áp dụng thử nghiệm; việc này có\r\nthể cần đến phản ứng của người thao tác để vận hành lại từ đầu.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng C
\r\n\r\nĐ-ợc phép có suy giảm tính năng như mô tả\r\ntrong tiêu chí A và B miễn là hoạt động bình thường của EUT có thể tự phục hồi\r\nlại điều kiện ngay trước khi áp dụng thử nghiệm hoặc người thao tác có thể khôi\r\nphục lại sau thử nghiệm.
\r\n\r\n\r\n\r\n
E.1. Điều kiện thử nghiệm cụ thể
\r\n\r\nKhông có yêu cầu về ảnh tiêu chuẩn, nhưng khuyến\r\ncáo sử dụng dạng ảnh có khung lưới và tông màu xám.
\r\n\r\nThử nghiệm phải được thực hiện ở chế độ chờ\r\nvà chế độ sao chụp.
\r\n\r\nE.2. Tiêu chí tính năng cụ thể
\r\n\r\nTiêu chí tính năng A
\r\n\r\nTrong và sau khi đặt nhiễu, EUT phải hoạt động\r\nmà không có suy giảm tính năng. Ví dụ như không được có:
\r\n\r\n- khởi động ngoài chủ ý;
\r\n\r\n- thay đổi chương trình hoặc bố trí chương\r\ntrình, ví dụ:
\r\n\r\n• một mặt hoặc hai mặt;
\r\n\r\n• số lượng bản sao;
\r\n\r\n• sắp trang và/hoặc dập ghim;
\r\n\r\n• độ tương phản;
\r\n\r\n• kích thước bản sao, thu nhỏ hoặc phóng to;
\r\n\r\n• mất dữ liệu lưu trữ hoặc dữ liệu truyền;
\r\n\r\n- gián đoạn quá trình sao chụp (ví dụ như kẹt\r\ngiấy);
\r\n\r\n- chỉ thị sai (ví dụ như kẹt giấy, ít mực, ít\r\ngiấy, đèn chỉ thị điều khiển);
\r\n\r\n- chuyển từ chế độ sao chụp về chế độ chờ;
\r\n\r\n- hoạt động không chủ ý của khóa liên động an\r\ntoàn;
\r\n\r\n- giảm chất lượng ảnh sao chụp xuống quá qui\r\nđịnh kỹ thuật của nhà chế tạo;
\r\n\r\n- lỗi ở cơ cấu làm hóa đơn.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng B
\r\n\r\nTheo như tiêu chí tính năng A, với ngoại lệ\r\nsau đây:
\r\n\r\nTrong quá trình thử nghiệm, đèn chỉ thị được\r\nphép báo nhầm, ví dụ như kẹt giấy, ít mực, ít giấy.
\r\n\r\nMọi chỉ thị sai phải được loại bỏ khi máy sao\r\nchụp được đặt lại chế độ chờ sau khi hoàn thành thử nghiệm.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng C
\r\n\r\nĐược phép có suy giảm tính năng như qui định\r\nở tiêu chí A, cùng với các hạn chế và ngoại lệ sau đây:
\r\n\r\n- chỉ được phép hỏng đầu ra/đầu vào nếu có\r\nthể khôi phục được hoạt động bình thường bằng việc đặt lại hoặc khởi động lại;
\r\n\r\n- không cho phép khởi động việc sao chụp\r\nngoài chủ ý ở chế độ chờ.
\r\n\r\n\r\n\r\n
F.1. Điều kiện thử nghiệm cụ thể
\r\n\r\nATM phải được nối với từng thiết bị ngoại vi\r\ncủa nó và một trong mỗi loại đường dây viễn thông phải được nối vào thiết bị\r\nkết nối đúng hoặc tải đại diện. Cáp liên kết phải thuộc loại qui định và có\r\nchiều dài qui định trong yêu cầu về thiết bị riêng. Trong ATM cần đánh giá phải\r\ncó một cụm của từng loại ITE cần thiết cho hoạt động cơ bản. Đối với hệ thống, trong\r\nATM phải có mỗi loại một ITE có thể có trong cấu hình hệ thống.
\r\n\r\nTrong trường hợp ATM tương tác chức năng với\r\nITE khác, kể cả ITE bất kỳ phụ thuộc vào ATM về giao diện công suất, thì có thể\r\nsử dụng EUT giao diện thực hoặc mô phỏng để cung cấp điều kiện làm việc đại\r\ndiện, miễn là ảnh hưởng của bộ mô phỏng có thể tách rời hoặc phân định được.
\r\n\r\nATM phải chạy chương trình thực hiện từng \r\nchức năng có tính tích hợp được đánh giá trong quá trình thử nghiệm. ít nhất\r\nphải đánh giá các chức năng nêu dưới đây. Khi cần đánh giá hai chức năng trở\r\nlên thì phần mềm phải đủ linh hoạt để cho phép người thao tác thử nghiệm lựa\r\nchọn đúng các chức năng mong muốn. Được phép chạy chương trình thử\r\nnghiệm song song hoặc nối tiếp miễn là ATM có thể hoạt động theo cách đó.\r\nĐể thuận tiện cho việc thử nghiệm, phần mềm phải báo động cho người thao tác\r\nkhi xảy ra sai hỏng.
\r\n\r\nATM phải hoạt động sử dụng các cài đặt mặc\r\nđịnh trên phần khởi động. ATM phải được đánh giá ở tất cả các chế độ trừ khi đã\r\nbiết chế độ nhạy nhất từ thử nghiệm sơ bộ hoặc kinh nghiệm trước đó, trong trường\r\nhợp này, phải sử dụng chế độ nhạy nhất.
\r\n\r\nF.2. Tiêu chí tính năng cụ thể
\r\n\r\nTiêu chí tính năng A
\r\n\r\nTrong và sau khi đặt nhiễu, EUT phải hoạt động\r\nmà không có suy giảm tính năng. Ví dụ như không được có:
\r\n\r\n- thời gian đáp ứng của hệ thống vượt quá giá\r\ntrị do nhà chế tạo ấn định;
\r\n\r\n- lỗi bộ nhớ;
\r\n\r\n- sai dữ liệu;
\r\n\r\n- lỗi tự phục hồi lặp lại vượt quá giá trị do\r\nnhà chế tạo qui định;
\r\n\r\n- mất dữ liệu lưu trữ;
\r\n\r\n- khóa bàn phím;
\r\n\r\n- khởi động lại hoặc tắt hệ thống;
\r\n\r\n- thay đổi trạng thái hệ thống;
\r\n\r\n- rơi đầu nối mạng;
\r\n\r\n- phân phối tiền hoặc biên lai không phù hợp;
\r\n\r\n- lỗi vào/ra;
\r\n\r\n- thay đổi trạng thái vào/ra.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng B
\r\n\r\nTrong quá trình đặt nhiễu, không được mất dữ\r\nliệu lưu trữ. Có thể hủy bỏ việc chuyển giao miễn là việc này được ghi lại\r\nchính xác. Không được phép phân phối sai tiền hoặc biên lai in.
\r\n\r\nĐược phép có suy giảm tính năng như mô tả\r\ntrong tiêu chí A miễn là hoạt động bình thường của EUT có thể tự phục hồi lại\r\nđiều kiện ngay trước khi áp dụng thử nghiệm. Trong trường hợp này, người thao\r\ntác được phép vận hành lại từ đầu.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng C
\r\n\r\nKhông được có suy giảm chức năng sau khi người\r\nthao tác khôi phục lại hệ thống. Không được phép mất hoặc sai lạc nội dung của bộ\r\nnhớ truy cập ngẫu nhiên (RAM) và thông tin lưu trữ trên phương tiện lưu trữ cố\r\nđịnh, như đĩa cứng, đĩa mềm hoặc đĩa quang.
\r\n\r\nĐược phép có suy giảm tính năng như mô tả\r\ntrong tiêu chí A và B miễn là hoạt động bình thường của EUT có thể tự phục hồi\r\nhoặc người thao tác có thể khôi phục lại sau thử nghiệm.
\r\n\r\n\r\n\r\n
G.1. Điều kiện thử nghiệm cụ thể
\r\n\r\nĐầu nối điểm bán (POST) phải được nối với\r\ntừng thiết bị ngoại vi của nó (như hệ thống đo, máy quét, máy đọc thẻ) và một\r\ntrong mỗi loại đường dây viễn thông phải được nối vào thiết bị kết nối đúng\r\nhoặc tải đại diện. Cáp liên kết phải thuộc loại và có chiều dài qui định trong\r\nyêu cầu về thiết bị riêng. Trong POST cần đánh giá phải bao gồm một cụm lắp ráp\r\ncủa từng loại ITE cần thiết cho hoạt động cơ bản. Đối với hệ thống, trong POST phải\r\ncó mỗi loại một ITE có thể có trong cấu hình hệ thống.
\r\n\r\nTrong trường hợp POST tương tác với ITE khác\r\nvề mặt chức năng, kể cả ITE bất kỳ phụ thuộc vào bộ xử lý trung tâm (CPU) về giao\r\ndiện công suất, thì có thể sử dụng EUT giao diện thực hoặc bộ mô phỏng để cung cấp\r\nđiều kiện làm việc đại diện, miễn là ảnh hưởng của bộ mô phỏng có thể cách ly\r\nhoặc nhận biết được.
\r\n\r\nCần chú ý là mọi bộ mô phỏng được sử dụng thay\r\ncho ITE giao diện thực phải đại diện được các đặc tính điện và, trong một số trường\r\nhợp, đặc tính cơ của ITE giao diện, đặc biệt là tín hiệu RF và trở kháng.
\r\n\r\nPOST phải chạy chương trình theo từng chức năng.\r\nĐộ trung thực phải được đánh giá trong quá trình thử nghiệm. ít nhất phải đánh\r\ngiá các chức năng nêu dưới đây. Khi cần đánh giá hai chức năng trở lên thì phần\r\nmềm phải đủ linh hoạt để cho phép người thao tác thử nghiệm lựa chọn đúng các\r\nchức năng mong muốn. Được phép chạy chương trình thử nghiệm song song hoặc nối\r\ntiếp miễn là POST có thể hoạt động theo cách đó. Để thuận tiện cho việc thử\r\nnghiệm, phần mềm phải báo lỗi cho người thao tác khi xảy ra sai hỏng.
\r\n\r\nPOST phải hoạt động trong điều kiện phát hiện\r\nthấy phát xạ tổng thể cao nhất, trong trường hợp không biết điều kiện này thì\r\ntheo các cài đặt mặc định vào lúc khởi động. POST phải được đánh giá ở tất cả\r\ncác chế độ trừ khi đã biết chế độ nhạy nhất từ thử nghiệm sơ bộ hoặc kinh nghiệm\r\ntrước đó, trong trường hợp này, phải sử dụng chế độ nhạy nhất.
\r\n\r\nG.2. Tiêu chí tính năng cụ thể
\r\n\r\nTiêu chí tính năng A
\r\n\r\nTrong và sau khi đặt nhiễu, EUT phải hoạt động\r\nmà không có suy giảm tính năng. Ví dụ như không được có:
\r\n\r\n- thời gian đáp ứng của hệ thống vượt quá giá\r\ntrị do nhà chế tạo ấn định;
\r\n\r\n- lỗi bộ nhớ;
\r\n\r\n- sai dữ liệu;
\r\n\r\n- lỗi tự phục hồi lặp lại vượt quá giá trị do\r\nnhà chế tạo qui định;
\r\n\r\n- mất dữ liệu lưu trữ;
\r\n\r\n- khóa bàn phím;
\r\n\r\n- khởi động lại hoặc tắt hệ thống;
\r\n\r\n- thay đổi trạng thái hệ thống;
\r\n\r\n- ngắt quãng kết nối mạng;
\r\n\r\n- phân phối tiền hoặc biên lai không phù hợp;
\r\n\r\n- lỗi vào/ra;
\r\n\r\n- thay đổi trạng thái vào/ra.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng B
\r\n\r\nNhư đối với tiêu chí tính năng A, với ngoại lệ\r\nsau:
\r\n\r\nTrong quá trình đặt nhiễu, việc khóa bàn phím\r\nhoặc cắt thông tin của một hạng mục trong một giao dịch là được phép, với điều\r\nkiện là sự kiện này được ghi lại và báo cho người sử dụng.
\r\n\r\nTiêu chí tính năng C
\r\n\r\nKhông được có suy giảm chức năng sau khi người\r\nthao tác khôi phục lại hệ thống. Không được làm mất hoặc cắt bộ nhớ động hoặc\r\nbộ nhớ tĩnh.
\r\n\r\nĐược phép suy giảm tính năng như mô tả trong\r\ntiêu chí A và B miễn là hoạt động bình thường của EUT có thể tự phục hồi hoặc\r\nngười thao tác có thể khôi phục lại sau thử nghiệm.
\r\n\r\n\r\n\r\n
1. Phạm vi áp dụng
\r\n\r\n2. Tài liệu viện dẫn
\r\n\r\n3. Định nghĩa
\r\n\r\n4. Yêu cầu thử nghiệm miễn nhiễm
\r\n\r\n5. Khả năng áp dụng
\r\n\r\n6. Điều kiện trong quá trình thử nghiệm
\r\n\r\n7. Tiêu chí tính năng
\r\n\r\n8. Tài liệu sản phẩm
\r\n\r\nCác phụ lục
\r\n\r\nA Thiết bị kết nối viễn thông (qui định)
\r\n\r\nB Thiết bị xử lý dữ liệu (qui định)
\r\n\r\nC Mạng cục bộ (LAN) (qui định)
\r\n\r\nD Máy in (qui định)
\r\n\r\nE Máy sao chụp (qui định)
\r\n\r\nF Máy thu ngân tự động (ATM) (qui\r\nđịnh)
\r\n\r\nG Đầu nối điểm bán (POST) (qui định)
\r\n\r\n\r\n\r\n
\r\n\r\n
1)\r\nTCVN 6989−1 :\r\n2003 (CISPR 16−1:1999) Qui định kỹ thuật đối với phương pháp đo và thiết bị đo\r\nnhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô − Phần 1: Thiết bị đo nhiễu và miễn nhiễm tần\r\nsố rađiô.
\r\n\r\nFile gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7317:2003 (CISPR 24 : 1997) về Thiết bị công nghệ thông tin – Đặc tính miễn nhiễm – Giới hạn và phương pháp đo đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7317:2003 (CISPR 24 : 1997) về Thiết bị công nghệ thông tin – Đặc tính miễn nhiễm – Giới hạn và phương pháp đo
Tóm tắt
| Cơ quan ban hành | Bộ Khoa học và Công nghệ |
| Số hiệu | TCVN7317:2003 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 2003-01-01 |
| Ngày hiệu lực | |
| Lĩnh vực | Xây dựng - Đô thị |
| Tình trạng | Còn hiệu lực |