Lời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 6989-2-2 : 2008 hoàn toàn tương đương\r\nvới tiêu chuẩn CISPR 16-2-2: 2005;
\r\n\r\nTCVN 6989-2-2 : 2008 do Ban kỹ thuật tiêu\r\nchuẩn TCVN/TC/E9 Tương thích điện từ biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường\r\nChất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.
\r\n\r\nLời giới thiệu
\r\n\r\nTCVN 6989-2: 2001 (CISPR 16-2) được biên soạn\r\nlại thành 4 tiêu chuẩn mới theo phương pháp chấp nhận tiêu chuẩn quốc tế, có\r\ntiêu đề chung là “Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu\r\nvà miễn nhiễm tần số radio”. Các phần mới của TCVN như sau:
\r\n\r\nTCVN 6989-2-2 : 2008, Phương pháp đo nhiễu và\r\nmiễn nhiễm – Đo công suất nhiễu
\r\n\r\nTCVN 6989-2-4 : 2008, Phương pháp đo nhiễu và\r\nmiễn nhiễm – Đo miễn nhiễm
\r\n\r\nTrong thời gian chưa có TCVN 6989-2-1 và TCVN\r\n6989-2-3, các nội dung tương ứng trong TCVN 6989-2: 2003 (CISPR16-2) vẫn có\r\nhiệu lực áp dụng.
\r\n\r\nCấu trúc của bộ tiêu chuẩn quốc tế CISPR 16\r\ngồm 4 phần chia thành 14 tiêu chuẩn như sau:
\r\n\r\n1) CISPR 16-1-1, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 1-1: Radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus – Measurement apparatus
\r\n\r\n2) CISPR 16-1-2, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 1-2: Radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus – Ancillary equypment – Conducted\r\ndisturbance
\r\n\r\n3) CISPR 16-1-3, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 1-3: Radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus – Ancillary equypment –\r\nDisturbance power
\r\n\r\n4) CISPR 16-1-4, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 1-4: Radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus – Ancillary equypment – Radiated\r\ndisturbance
\r\n\r\n5) CISPR 16-1-5, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 1-5: Radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus – Antenna calibration test sites\r\nfor 30 MHz to 1 000 MHz
\r\n\r\n6) CISPR 16-2-1, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 2-1: Methods of\r\nmeasurement of disturbances and immunity – Conducted disturbance measurements
\r\n\r\n7) CISPR 16-2-2, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 2-2: Methods of\r\nmeasurement of disturbances and immunity – Measurements of disturbance power
\r\n\r\n8) CISPR 16-2-3, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 2-3: Methods of\r\nmeasurement of disturbances and immunity – Radiated disturbance measurements
\r\n\r\n9) CISPR 16-2-4, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 2-4: Methods of\r\nmeasurement of disturbances and immunity – Immunity measurements
\r\n\r\n10) CISPR 16-3, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 3: CISPR\r\ntechnical reports
\r\n\r\n11) CISPR 16-4-1, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 4-1:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling – Uncertainties in standardized\r\nEMC tests
\r\n\r\n12) CISPR 16-4-2, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 4-2:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling – Uncertainties in EMC\r\nmeasurements
\r\n\r\n13) CISPR 16-4-3, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 4-3:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling – Statistics considerations in\r\nthe determination of EMC compliance of mass-produced products
\r\n\r\n14) CISPR 16-4-4, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 4-4:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling – Statistics of compliants and a\r\nmodel for the calculation of limits
\r\n\r\n\r\n\r\n
Tiêu chuẩn này là tiêu chuẩn cơ bản quy định\r\ncác phương pháp đo công suất nhiễu sử dụng kẹp hấp thụ trong dải tần từ 30 MHz\r\nđến 1 000 MHz.
\r\n\r\n\r\n\r\nCác tài liệu viện dẫn dưới đây là cần thiết\r\nđể áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu có ghi năm công bố, chỉ áp dụng\r\ncác bản được nêu. Đối với các tài liệu không ghi năm công bố, áp dụng bản mới\r\nnhất (kể cả các sửa đổi).
\r\n\r\nTCVN 6989-1-1: 2008 (CISPR 16-1-1: 2003), Yêu\r\ncầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số\r\nrađiô – Phần 1-1: Thiết bị đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Thiết bị đo
\r\n\r\nTCVN 6989-1-3: 2008 (CISPR 16-1-3: 2003), Yêu\r\ncầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số\r\nrađiô – Phần 1-3: Thiết bị đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Thiết bị thụ\r\nđộng – Công suất nhiễu
\r\n\r\nTCVN 6989-2-4: 2008 (CISPR 16-2-4: 2003), Yêu\r\ncầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số\r\nrađiô – Phần 2-4: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm – Đo miễn nhiễm
\r\n\r\nTCVN 7492-1: 2005 (CISPR 14-1: 2002), Tương\r\nthích điện từ – Yêu cầu đối với thiết bị điện gia dụng, dụng cụ điện và các\r\nthiết bị tương tự – Phần 1: Phát xạ
\r\n\r\nTCVN 7600: 2006 (CISPR 13: 2001), Sound and\r\ntelevision broadcast receivers and associated equypment – Radio disturbance\r\ncharacteristics – Limits and methods of measurement (Máy thu thanh, thu hình và\r\nthiết bị kết hợp – Đặc tính nhiễu tần số rađiô – Giới hạn và phương pháp đo)
\r\n\r\nCISPR 16-2-1: 2003, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 2-1: Methods of\r\nmeasurement of disturbances and immunity – Conducted disturbance measurements\r\n(Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần\r\nsố rađiô – Phần 2-1: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm – Đo nhiễu dẫn)
\r\n\r\nCISPR 16-2-3: 2003, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 2-3: Methods of\r\nmeasurement of disturbances and immunity – Radiated disturbance measurements\r\n(Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần\r\nsố rađiô – Phần 2-3: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm – Đo nhiễu bức xạ)
\r\n\r\nCISPR 16-3: 2003, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 3: CISPR\r\ntechnical reports (Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu\r\nvà miễn nhiễm tần số rađiô – Phần 3: Báo cáo kỹ thuật của CISPR)
\r\n\r\nCISPR 16-4-1: 2003, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 4-1:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling – Uncertainties in standardized\r\nEMC tests (Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn\r\nnhiễm tần số rađiô – Phần 4-1: Độ không đảm bảo đo, số liệu thống kê và mô hình\r\ngiới hạn – Độ không đảm bảo đo trong thử nghiệm EMC tiêu chuẩn hóa)
\r\n\r\nCISPR 16-4-2: 2003, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 4-2: Uncertainties,\r\nstatistics and limit modelling – Measurement instrumentation uncertainties (Yêu\r\ncầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số\r\nrađiô – Phần 4-2: Độ không đảm bảo đo, số liệu thống kê và mô hình giới hạn –\r\nĐộ không đảm bảo của dụng cụ đo)
\r\n\r\nCISPR 16-4-3: 2003, Specification for radio\r\ndisturbance and immunity measuring apparatus and methods – Part 4-3:\r\nUncertainties, statistics and limit modelling – Statistical considerations in\r\nthe determination of EMC compliance of mass-produced products (Yêu cầu kỹ thuật\r\nđối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Phần\r\n4-3: Độ không đảm bảo đo, số liệu thống kê và mô hình giới hạn – Xem xét thống\r\nkê khi xác định sự phù hợp về EMC của các sản phẩm sản xuất hàng loạt)
\r\n\r\nITU-R Recommendation BS.468-4: Measurement of\r\naudio-frequency noise voltage level in sound broadcasting (Đo mức điện áp tạp\r\ntần số âm thanh trong quảng bá âm thanh)
\r\n\r\n\r\n\r\nTiêu chuẩn này áp dụng các định nghĩa của IEC\r\n60050(161), cùng với các định nghĩa dưới đây.
\r\n\r\n3.1. Thiết bị kết hợp
1) Bộ chuyển đổi (ví dụ đầu dò, mạng và\r\nanten) nối đến máy thu đo hoặc máy phát thử nghiệm.
\r\n\r\n2) Bộ chuyển đổi (ví dụ đầu dò, mạng, anten)\r\nđược sử dụng trong việc truyền tín hiệu hoặc truyền nhiễu giữa EUT và thiết bị\r\nđo hoặc máy phát tín hiệu (thử nghiệm).
\r\n\r\n3.2. EUT
\r\n\r\nTrang thiết bị (dụng cụ, thiết bị và hệ\r\nthống) chịu các thử nghiệm chứng tỏ sự phù hợp về EMC (phát xạ).
\r\n\r\n3.3. Tiêu chuẩn sản phẩm
Tiêu chuẩn quy định các yêu cầu về EMC đối\r\nvới sản phẩm hoặc họ sản phẩm, có tính đến các khía cạnh cụ thể của sản phẩm\r\nhoặc họ sản phẩm này.
\r\n\r\n3.4. Giới hạn phát xạ
Mức phát xạ lớn nhất quy định của nguồn nhiễu\r\nđiện từ.
\r\n\r\n[IEV 161-03-12]
\r\n\r\n3.5. Đất chuẩn
Việc ghép nối mà tạo ra điện dung ký sinh xác\r\nđịnh xác định ở xung quanh EUT và đóng vai trò là điện thế chuẩn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Xem thêm IEV 161-04-36.
\r\n\r\n3.6. Phát xạ (điện từ)
Hiện tượng mà nhờ đó năng lượng điện từ được\r\nphát ra từ nguồn. [IEV 161-01-08]
\r\n\r\n3.7. Cáp đồng trục
Cáp gồm một hoặc nhiều dây đồng trục, được sử\r\ndụng chủ yếu để nối thiết bị kết hợp với thiết bị đo hoặc máy phát tín hiệu\r\n(thử nghiệm) một cách tương thích để có trở kháng đặc tính quy định và trở kháng\r\nđường truyền cáp lớn nhất cho phép quy định.
\r\n\r\n3.8. Phương thức chung
Điện áp RF giữa điểm giữa giả của một tuyến\r\nhai dây dẫn và điểm đất chuẩn, hoặc trong trường hợp một bó dây, điện áp nhiễu\r\nRF hiệu dụng của cả bó dây (tổng vectơ các điện áp mất đối xứng) so với điểm\r\nđất chuẩn được đo bằng kẹp (máy biến dòng) tại trở kháng đầu cuối xác định.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Xem thêm IEV 161-04-09.
\r\n\r\n3.9. Dòng điện phương thức chung
Tổng vectơ của các dòng điện chạy qua hai\r\nhoặc nhiều dây dẫn tại một mặt cắt quy định của một mặt phẳng "toán\r\nhọc" cắt ngang các dây dẫn đó.
\r\n\r\n3.10. Máy thu đo
Máy thu để đo nhiễu với các bộ tách sóng khác\r\nnhau.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Máy thu được quy định theo TCVN\r\n6989-1-1 (CISPR 16-1-1).
\r\n\r\n3.11. Cấu hình thử nghiệm
Bố trí đo theo quy định để đo mức phát xạ của\r\nEUT.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Mức phát xạ được đo theo yêu cầu\r\ncủa IEV 161-03-11, IEV 161-03-12, IEV 161-03-14 và IEV 161-03-15, các định\r\nnghĩa về mức phát xạ.
\r\n\r\n3.12. Trọng số
Sự chuyển đổi phụ thuộc vào tốc độ lặp của\r\nđiện áp xung tách sóng đỉnh thành chỉ số tương ứng với mức gây khó chịu về tâm\r\nlý do nhiễu xung (nghe thấy hoặc nhìn thấy) theo đặc tính trọng số hoặc đưa ra\r\nphương thức thay thế quy định để đánh giá mức phát xạ hoặc mức miễn nhiễm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Đặc tính trọng số được quy định\r\ntrong TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Mức phát xạ hoặc mức miễn nhiễm\r\nđược đánh giá theo yêu cầu của IEC 60050(161), định nghĩa về mức (xem IEV\r\n161-03-01, IEV 161-03-11 và IEV 161-03-14).
\r\n\r\n3.13. Nhiễu liên tục
Nhiễu RF kéo dài trong khoảng thời gian lớn\r\nhơn 200 ms tại đầu ra IF của máy thu đo, gây độ lệch trên đồng hồ đo của máy\r\nthu đo ở phương thức tách sóng tựa đỉnh, độ lệch này không giảm ngay. [IEV\r\n161-02-11, có sửa đổi]
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Máy thu đo được quy định trong\r\nTCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1).
\r\n\r\n3.14. Nhiễu không liên tục
Đối với các nháy đếm được, nhiễu kéo dài\r\ntrong khoảng thời gian ngắn hơn 200 ms tại đầu ra IF của máy thu đo, gây độ\r\nlệch nhất thời trên đồng hồ đo của máy thu đo ở phương thức tách sóng tựa đỉnh.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Xem IEV 161-02-08 đối với nhiễu\r\nxung.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Máy thu đo được quy định trong\r\nTCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1).
\r\n\r\n3.15. Thời gian đo
Tm
\r\n\r\nThời gian hiệu quả, nhất quán đối với kết quả\r\ncủa phép đo tại một tần số (trong một số trường hợp còn gọi là thời gian dừng)
\r\n\r\n- đối với bộ tách sóng đỉnh, thời gian hiệu\r\nquả để tách giá trị cực đại của đường bao tín hiệu,
\r\n\r\n- đối với bộ tách sóng tựa đỉnh, thời gian\r\nhiệu quả để đo giá trị cực đại của đường bao trọng số,
\r\n\r\n- đối với bộ tách sóng trung bình, thời gian\r\nhiệu quả để lấy giá trị trung bình của đường bao tín hiệu.
\r\n\r\n- đối với bộ tách sóng hiệu dụng, thời gian\r\nhiệu quả để xác định giá trị hiệu dụng của đường bao tín hiệu.
\r\n\r\n3.16. Rà (sweep)
\r\n\r\nSự biến đổi tần số liên tục trong khoảng tần\r\nsố cho trước.
\r\n\r\n3.17. Quét (scan)
\r\n\r\nSự biến đổi tần số liên tục hoặc theo bước\r\ntrong khoảng tần số cho trước.
\r\n\r\n3.18. Thời gian rà hoặc thời gian quét
Ts
\r\n\r\nThời gian tính từ tần số bắt đầu đến tần số\r\nkết thúc của quá trình rà hoặc quét.
\r\n\r\n3.19. Khoảng tần số
∆ƒ
\r\n\r\nHiệu giữa tần số kết thúc và tần số bắt đầu\r\ncủa quá trình rà hoặc quét.
\r\n\r\n3.20. Tốc độ rà hoặc quét
Khoảng tần số chia cho thời gian rà hoặc thời\r\ngian quét.
\r\n\r\n3.21. Số lần rà trong một đơn vị thời gian (ví\r\ndụ, trong một giây)\r\n(number of sweeps per time (e.g. per second)
\r\n\r\nns
\r\n\r\n1/(thời gian rà + thời gian trở về)
\r\n\r\n3.22. Thời gian quan sát
To
\r\n\r\nTổng các thời gian đo Tm\r\ntrên một tần số nhất định trong trường hợp rà nhiều lần. Nếu n là số lần rà hoặc\r\nquét thì To = n x Tm
\r\n\r\n3.23. Thời gian quan sát tổng
Ttot
\r\n\r\nThời gian hiệu quả để quan sát phổ (rà một\r\nlần hoặc rà nhiều lần). Nếu c là số kênh trong một lần quét hoặc rà thì Ttot\r\n= c x n x Tm.
\r\n\r\n3.24. Dây dẫn cần thử nghiệm
LUT
\r\n\r\nDây dẫn, kết hợp với EUT, là đối tượng của\r\nthử nghiệm phát xạ hoặc thử nghiệm miễn nhiễm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Nói chung, một EUT có thể có một\r\nhoặc nhiều dây dẫn được dùng để liên kết với nguồn lưới hoặc các mạng khác,\r\nhoặc để liên kết với thiết bị phụ trợ. Các dây dẫn này thường là cáp điện, ví\r\ndụ như cáp điện nguồn, cáp đồng trục, cáp truyền dữ liệu, v.v...
\r\n\r\n3.25. Phương pháp đo sử dụng kẹp hấp thụ
ACMM
\r\n\r\nPhương pháp đo công suất nhiễu của thiết bị\r\ncần thử nghiệm (EUT) bằng kẹp hấp thụ kẹp xung quanh (các) dây dẫn của EUT.
\r\n\r\n3.26. Vị trí thử nghiệm sử dụng kẹp hấp thụ
ACTS
\r\n\r\nVị trí thử nghiệm có hiệu lực để thực hiện\r\ncác phép đo công suất nhiễu bằng phương pháp đo sử dụng kẹp hấp thụ (ACMM).
\r\n\r\n3.27. Hệ số kẹp
CF
\r\n\r\nTỷ số giữa công suất nhiễu của EUT và điện áp\r\nthu được tại đầu ra của kẹp hấp thụ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Hệ số kẹp là hệ số chuyển đổi của\r\nkẹp hấp thụ.
\r\n\r\n3.28. Điểm kẹp chuẩn
CRP
\r\n\r\nĐánh dấu trên phía ngoài của kẹp hấp thụ, dấu\r\nnày liên quan đến vị trí theo chiều dọc của mép phía trước của máy biến dòng\r\nbên trong kẹp và được sử dụng để xác định vị trí theo chiều ngang của kẹp trong\r\nquá trình đo.
\r\n\r\n3.29. Điểm trượt chuẩn
SRP
\r\n\r\nĐầu của bàn trượt kẹp, tại đó đặt EUT và được\r\nsử dụng để xác định khoảng cách theo chiều ngang đến điểm kẹp chuẩn (CRP) của\r\nkẹp hấp thụ trong suốt quá trình đo.
\r\n\r\n\r\n\r\nĐiều này quy định việc phân loại các loại\r\nnhiễu khác nhau và các bộ tách sóng thích hợp để đo các loại nhiễu đó.
\r\n\r\n4.1. Các loại nhiễu
\r\n\r\nVì lý do vật lý và tâm lý, tùy thuộc vào phân\r\nbố phổ, độ rộng băng tần máy thu đo, khoảng thời gian, mức độ xuất hiện và mức\r\nđộ khó chịu trong quá trình đánh giá và đo nhiễu tần số rađiô, cần có sự phân\r\nbiệt giữa các loại nhiễu sau đây:
\r\n\r\na) nhiễu liên tục băng hẹp, là nhiễu ở\r\ncác tần số rời rạc, ví dụ như sóng cơ bản và hài được phát ra cùng với ứng dụng\r\ncủa năng lượng RF định trước của thiết bị ISM, tạo nên phổ tần số chỉ có các\r\nvạch phổ riêng biệt có khoảng phân cách lớn hơn độ rộng băng tần của máy thu\r\nđo, sao cho trong quá trình đo, chỉ một vạch phổ rơi vào độ rộng băng tần, ngược\r\nvới điểm b);
\r\n\r\nb) nhiễu liên tục băng rộng, thường được\r\ntạo ra không chủ ý do xung lặp của, ví dụ, động cơ cổ góp, và có tần số lặp\r\nthấp hơn độ rộng băng tần của máy thu đo sao cho trong quá trình đo có nhiều\r\nhơn một vạch phổ rơi vào băng tần này; và
\r\n\r\nc) nhiễu không liên tục băng rộng,\r\nphát sinh không chủ ý do quá trình đóng cắt cơ hoặc điện tử, ví dụ bằng bộ điều\r\nnhiệt hoặc cơ cấu điều khiển theo chương trình có tốc độ lặp thấp hơn 1 Hz (tốc\r\nđộ nháy nhỏ hơn 30/min).
\r\n\r\nPhổ tần số của điểm b) và c) được đặc trưng\r\nbởi có phổ liên tục trong trường hợp có các xung riêng biệt (đơn lẻ) và phổ\r\nkhông liên tục trong trường hợp xung lặp, cả hai loại phổ được đặc trưng bởi\r\ncùng có một dải tần rộng hơn độ rộng băng tần của máy thu đo quy định trong\r\nTCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1).
\r\n\r\n4.2. Chức năng của bộ tách sóng
\r\n\r\nTùy thuộc vào các loại nhiễu, có thể thực\r\nhiện các phép đo sử dụng máy thu đo có:
\r\n\r\na) bộ tách sóng trung bình thường sử dụng\r\ntrong phép đo nhiễu và tín hiệu băng hẹp, và đặc biệt, để phân biệt giữa nhiễu\r\nbăng hẹp và nhiễu băng rộng;
\r\n\r\nb) bộ tách sóng tựa đỉnh dùng cho phép đo có\r\ntrọng số của nhiễu băng rộng để đánh giá mức độ khó chịu về tín hiệu âm thanh\r\ntới người nghe đài, nhưng cũng có thể sử dụng đối với nhiễu băng hẹp;
\r\n\r\nc) bộ tách sóng đỉnh có thể sử dụng cho phép\r\nđo nhiễu băng rộng hoặc băng hẹp.
\r\n\r\nMáy thu đo kết hợp với các bộ tách sóng trên\r\nđược quy định trong TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1).
\r\n\r\n\r\n\r\nĐiều này mô tả cách đấu nối thiết bị đo, máy\r\nthu đo và thiết bị kết hợp, ví dụ như mạng giả, đầu dò điện áp và dòng diện,\r\nkẹp hấp thụ và anten.
\r\n\r\n5.1. Đấu nối thiết bị kết hợp
\r\n\r\nCáp nối giữa máy thu đo và thiết bị kết hợp\r\nphải được bọc kim và trở kháng đặc tính của nó phải phù hợp với trở kháng đầu\r\nvào của máy thu đo.
\r\n\r\nĐầu ra của thiết bị kết hợp phải được nối với\r\ntrở kháng quy định.
\r\n\r\n5.2. Đấu nối tới điểm đất chuẩn RF
\r\n\r\nMạng nguồn giả (AMN) phải được nối vào điểm\r\nđất chuẩn qua trở kháng RF thấp, ví dụ qua liên kết trực tiếp của vỏ AMN tới\r\nđiểm đất chuẩn hoặc vách chuẩn của phòng có bọc kim, hoặc qua vật dẫn càng ngắn\r\nvà càng rộng càng tốt (tỷ lệ chiều dài và chiều rộng lớn nhất là 3:1) và có trở\r\nkháng thấp.
\r\n\r\nPhép đo điện áp đầu nối phải được lấy chuẩn\r\ntheo điểm đất chuẩn. Phải tránh các mạch vòng với đất (ghép nối trở kháng\r\nchung). Điều này cũng cần được tuân thủ đối với thiết bị đo (ví dụ như máy thu\r\nđo và thiết bị kết hợp như máy hiện sóng, máy phân tích, máy ghi âm, v.v...) được\r\nnối với dây đất bảo vệ (PE) của thiết bị bảo vệ cấp 1. Nếu mối nối PE của thiết\r\nbị đo và mối nối PE của lưới điện tới điểm đất chuẩn không cách ly RF với điểm\r\nđất chuẩn thì phải trang bị cách ly RF cần thiết bằng cuộn cản RF và biến áp\r\ncách ly, hoặc, nếu có thể, bằng cách cấp nguồn cho thiết bị đo từ acquy để mạch\r\nnối RF của thiết bị đo với điểm đất chuẩn chỉ đi qua một đường.
\r\n\r\nĐể xử lý mối nối PE của EUT đến điểm đất\r\nchuẩn, xem A.4 của CISPR 16-2-1.
\r\n\r\nCấu hình thử nghiệm tĩnh tại không yêu cầu\r\nđấu nối với dây đất bảo vệ nếu điểm đất chuẩn được nối trực tiếp và đáp ứng được\r\ncác yêu cầu về an toàn đối với các dây đất bảo vệ (mối nối PE).
\r\n\r\n5.3. Đấu nối giữa EUT và mạng nguồn giả
\r\n\r\nCác hướng dẫn chung để chọn có nối đất hoặc\r\nkhông nối đất của mạch nối giữa EUT và AMN được đề cập trong Phụ lục A của\r\nCISPR 16-2-1.
\r\n\r\nCác phép đo nhiễu tần số rađiô phải:
\r\n\r\na) có khả năng tái lập, tức là không phụ\r\nthuộc vào địa điểm đo và các điều kiện môi trường, đặc biệt là tạp ở xung\r\nquanh;
\r\n\r\nb) không có tác động qua lại, nghĩa là mạch\r\nnối EUT đến thiết bị đo không ảnh hưởng đến chức năng của EUT cũng như không\r\nảnh hưởng đến độ chính xác của thiết bị đo.
\r\n\r\nCác yêu cầu này có thể được đáp ứng bằng cách\r\ntuân thủ cách điều kiện sau:
\r\n\r\nc) đảm bảo tỷ số tín hiệu trên tạp thích hợp\r\ntại mức đo mong muốn, ví dụ, mức giới hạn nhiễu liên quan;
\r\n\r\nd) có bố trí đo, đầu nối và các điều kiện làm\r\nviệc xác định của EUT;
\r\n\r\ne) đầu dò có trở kháng đủ cao tại điểm đo,\r\ntrong trường hợp phép đo dùng đầu dò điện áp;
\r\n\r\nf) khi sử dụng máy phân tích phổ hoặc máy thu\r\nquét, phải xem xét tính đúng mức các yêu cầu làm việc và hiệu chuẩn cụ thể của\r\nmáy.
\r\n\r\nPhép đo tỷ số tín hiệu trên tạp liên quan đến\r\ntạp xung quanh phải đáp ứng được các yêu cầu dưới đây. Nếu mức tạp giả vượt quá\r\nmức cho phép thì phải nêu trong báo cáo thử nghiệm.
\r\n\r\n6.1.1. Thử nghiệm sự phù hợp
\r\n\r\nVị trí thử nghiệm phải cho phép phân biệt được\r\nphát xạ từ EUT với tạp xung quanh. Mức tạp xung quanh so với mức đo mong muốn\r\ntốt nhất là thấp hơn 20 dB nhưng tối thiểu phải thấp hơn 6 dB. Đối với điều\r\nkiện 6 dB, mức nhiễu biểu kiến từ EUT sẽ tăng đến 3,5 dB. Vị trí thích hợp đối\r\nvới mức tạp xung quanh yêu cầu có thể được xác định bằng cách đo mức tạp xung\r\nquanh với sự có mặt đúng chỗ của thiết bị thử nghiệm nhưng không làm việc.
\r\n\r\nTrong trường hợp phép đo sự phù hợp theo một\r\ngiới hạn, mức tạp xung quanh được phép vượt quá mức ưu tiên –6 dB với điều kiện\r\nlà mức tạp xung quanh và mức phát xạ của nguồn không vượt quá giới hạn quy\r\nđịnh. Khi đó, EUT được coi là đáp ứng giới hạn. Có thể thực hiện theo cách\r\nkhác, ví dụ, giảm độ rộng băng tần đối với tín hiệu băng hẹp và/hoặc chuyển\r\nanten tới gần EUT hơn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Nếu cả cường độ trường xung quanh\r\nvà cường độ trường của môi trường xung quanh và EUT được đo riêng rẽ thì có thể\r\nước lượng cường độ trường EUT theo mức độ định lượng về độ không đảm bảo đo.\r\nTham khảo thêm Phụ lục C của TCVN 6989 (CISPR 11).
\r\n\r\n\r\n\r\n6.2.1. Nhiễu liên tục băng hẹp
\r\n\r\nThiết bị đo phải duy trì được điều hưởng đến\r\ntần số rời rạc trong quá trình khảo sát và được điều hưởng lại nếu tần số biến\r\nđộng.
\r\n\r\n6.2.2. Nhiễu liên tục băng rộng
\r\n\r\nĐể đánh giá nhiễu liên tục băng rộng có mức\r\nnhiễu không ổn định thì phải tìm được giá trị lớn nhất của phép đo có khả năng\r\ntái lập lớn nhất. Chi tiết xem trong 6.4.1.
\r\n\r\n6.2.3. Sử dụng máy phân tích phổ và máy thu\r\nquét
\r\n\r\nSử dụng máy phân tích phổ và máy thu quét cho\r\ncác phép đo nhiễu là hiệu quả, đặc biệt là để giảm thời gian đo. Tuy nhiên, cần\r\nphải xem xét đặc biệt đến các đặc tính nhất định của các dụng cụ này, trong đó\r\nbao gồm: quá tải, tuyến tính, khả năng chọn lọc, đáp tuyến thông thường với\r\nxung, tốc độ quét tần số, thu tín hiệu, độ nhạy, độ chính xác biên độ, tách\r\nsóng đỉnh, tách sóng trung bình và tách sóng tựa đỉnh. Các đặc tính này được\r\nxem xét trong Phụ lục B.
\r\n\r\nEUT phải làm việc trong các điều kiện dưới\r\nđây.
\r\n\r\n6.3.1. Điều kiện tải bình thường
\r\n\r\nĐiều kiện tải bình thường phải được xác định\r\nnhư trong quy định kỹ thuật sản phẩm liên quan với EUT và với các EUT không được\r\nđề cập thì phải chỉ ra như trong hướng dẫn của nhà chế tạo.
\r\n\r\n6.3.2. Thời gian làm việc
\r\n\r\nTrong trường hợp EUT có thời gian làm việc\r\ndanh định cho trước, thời gian làm việc phải theo ghi nhãn; trong tất cả các trường\r\nhợp khác, không hạn chế thời gian.
\r\n\r\n6.3.3. Thời gian chạy rà
\r\n\r\nKhông quy định thời gian chạy rà trước khi\r\nthử nghiệm nhưng EUT phải làm việc trong một khoảng thời gian đủ để đảm bảo\r\nrằng các phương thức và điều kiện làm việc là điển hình cho suốt tuổi thọ của\r\nthiết bị. Đối với một số EUT, các điều kiện thử nghiệm đặc biệt có thể được mô\r\ntả trong các tiêu chuẩn của thiết bị liên quan.
\r\n\r\n6.3.4. Nguồn cung cấp
\r\n\r\nEUT phải làm việc với nguồn có điện áp danh\r\nđịnh của EUT. Nếu mức nhiễu biến đổi đáng kể theo điện áp cung cấp thì phép đo\r\nphải được lặp lại với điện áp cung cấp trong dải từ 0,9 đến 1,1 lần điện áp\r\ndanh định. EUT có nhiều hơn một điện áp danh định phải được thử nghiệm tại điện\r\náp danh định gây nhiễu lớn nhất.
\r\n\r\n6.3.5. Phương thức làm việc
\r\n\r\nEUT phải làm việc trong các điều kiện thực tế\r\ngây nhiễu lớn nhất tại tần số đo.
\r\n\r\n\r\n\r\n6.4.1. Nhiễu liên tục
\r\n\r\na) Nếu mức nhiễu không ổn định thì việc đọc\r\ntrên máy thu đo được theo dõi ít nhất 15 s đối với mỗi phép đo; phải ghi lại số\r\nđọc cao nhất, trừ các nháy đơn lẻ thì được bỏ qua (xem 4.2 của TCVN 7492-1\r\n(CISPR 14-1)).
\r\n\r\nb) Nếu mức nhiễu chung không ổn định nhưng\r\nthể hiện sự tăng hoặc giảm quá 2 dB trong thời gian 15 s thì các mức điện áp\r\nnhiễu phải được theo dõi thêm một khoảng thời gian và các mức này phải được thể\r\nhiện theo các điều kiện sử dụng bình thường của EUT như sau:
\r\n\r\n1) nếu EUT là thiết bị có thể đóng và ngắt thường\r\nxuyên hoặc EUT có thể đảo chiều quay thì tại mỗi tần số đo, EUT cần được đóng\r\nđiện hoặc đảo chiều quay ngay trước mỗi phép đo, và ngắt điện ngay sau mỗi phép\r\nđo. Mức lớn nhất thu được trong phút đầu tiên tại mỗi tần số của phép đo phải được\r\nghi lại;
\r\n\r\n2) nếu EUT là thiết bị vận hành trong khoảng\r\nthời gian dài trong sử dụng bình thường thì cần đóng điện cho EUT trong suốt\r\nthời gian thử nghiệm và tại mỗi tần số, phải ghi lại mức nhiễu chỉ sau khi có\r\nsố đọc ổn định (với điều kiện là đạt được điểm a)).
\r\n\r\nc) Nếu dạng nhiễu từ EUT thay đổi từ phần đặc\r\ntính ổn định sang phần đặc tính ngẫu nhiên thì khi đó EUT phải được thử nghiệm\r\ntheo điểm b).
\r\n\r\nd) Phép đo được thực hiện trên toàn bộ dải\r\nphổ và được ghi lại ít nhất ở tần số có số đọc lớn nhất theo yêu cầu của tiêu\r\nchuẩn CISPR liên quan.
\r\n\r\n6.4.2. Nhiễu không liên tục
\r\n\r\nPhép đo nhiễu không liên tục có thể được thực\r\nhiện ở một số tần số nhất định. Chi tiết xem TCVN 7492-1 (CISPR 14-1).
\r\n\r\n6.4.3. Đo khoảng thời gian nhiễu
\r\n\r\nEUT được nối với mạng nguồn giả tương ứng.\r\nNếu có sẵn thiết bị đo thì thiết bị đo này được nối với nguồn lưới và máy hiện\r\nsóng tia catốt được nối với đầu ra IF của thiết bị đo. Nếu không có sẵn máy thu\r\nthì máy hiện sóng được nối trực tiếp với nguồn. Gốc thời gian của máy hiện sóng\r\ncó thể được bắt đầu bằng nhiễu cần thử nghiệm; gốc thời gian được đặt ở giá trị\r\ntừ 1 ms/vạch chia đến 10 ms/vạch chia đối với EUT có chuyển mạch tức thời và từ\r\n10 ms/vạch chia đến 200 ms/vạch chia đối với các EUT khác. Khoảng thời gian\r\nnhiễu có thể được ghi lại trực tiếp bằng máy hiện sóng lưu giữ hoặc máy hiện\r\nsóng kỹ thuật số hoặc bằng ảnh hoặc bản copy màn hình.
\r\n\r\nĐối với cả phép đo thủ công và phép đo tự\r\nđộng hoặc bán tự động, thời gian đo và tốc độ quét của máy thu đo và máy thu\r\nquét phải được đặt sao cho đo được phát xạ lớn nhất. Đặc biệt trong trường hợp\r\nsử dụng bộ tách sóng đỉnh để quét sơ bộ, thời gian đo và tốc độ quét phải tính\r\nđến thời gian phát xạ cần thử nghiệm. Hướng dẫn chi tiết hơn về việc thực hiện\r\ncác phép đo tự động có thể xem trong điều 8.
\r\n\r\n6.5.1. Thời gian đo nhỏ nhất
\r\n\r\nĐiều B.7 của tiêu chuẩn này đưa ra bảng thời\r\ngian rà nhỏ nhất hoặc tốc độ quét nhanh nhất có thể đạt được trong thực tế. Từ\r\nbảng đó, rút ra được bảng thời gian quét nhỏ nhất dưới đây cho từng băng tần CISPR:
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Thời gian quét trong Bảng 1 áp dụng cho tín\r\nhiệu sóng liên tục (CW). Tùy thuộc vào loại nhiễu, thời gian quét có thể phải\r\ntăng lên - ngay cả đối với phép đo tựa đỉnh. Trong các trường hợp cực biên,\r\nthời gian đo Tm tại tần số nhất định có thể phải tăng lên 15 s, nếu\r\nmức phát xạ quan sát được này không ổn định (xem 6.4.1). Tuy nhiên, không tính\r\ncác nháy đơn lẻ.
\r\n\r\nTốc độ quét và thời gian đo để sử dụng với bộ\r\ntách sóng trung bình được cho trong Phụ lục C.
\r\n\r\nHầu hết các tiêu chuẩn sản phẩm quy định tách\r\nsóng tựa đỉnh đối với các phép đo sự phù hợp mà việc này rất mất thời gian, nếu\r\nkhông áp dụng các quy trình tiết kiệm thời gian (xem điều 8). Trước khi có thể áp\r\ndụng các quy trình tiết kiệm thời gian thì cần phải phát hiện sự phát xạ trong\r\nquá trình quét sơ bộ. Để đảm bảo rằng, ví dụ, các tín hiệu không liên tục không\r\nbị bỏ sót trong quá trình quét tự động thì cần tính đến các xem xét trong các\r\nđiều từ 6.5.2 đến 6.5.4.
\r\n\r\n6.5.2. Tốc độ quét đối với máy thu quét và bộ\r\nphân tích phổ
\r\n\r\nMột trong hai điều kiện cần đáp ứng để đảm\r\nbảo tín hiệu không bị bỏ qua trong quá trình quét tự động trong các khoảng tần\r\nsố:
\r\n\r\n1) trong trường hợp rà một lần: thời gian đo\r\ntại mỗi tần số phải lớn hơn thời gian giữa các xung đối với các tín hiệu gián\r\nđoạn;
\r\n\r\n2) trong trường hợp rà nhiều lần có lưu giữ đường\r\nquét cực đại: thời gian quan sát tại từng tần số phải đủ để thu các tín hiệu\r\ngián đoạn.
\r\n\r\nTốc độ quét tần số bị hạn chế bởi độ rộng\r\nbăng tần phân giải của dụng cụ đo và chế độ đặt độ rộng băng tần tín hiệu hình.\r\nNếu tốc độ quét được chọn quá nhanh so với trạng thái của dụng cụ đo cho trước\r\nthì sẽ cho các kết quả đo không đúng. Vì vậy, cần chọn thời gian rà đủ dài với\r\nkhoảng tần số đã chọn. Các tín hiệu gián đoạn có thể thu được bởi quá trình rà\r\nmột lần với thời gian quan sát thích hợp tại từng tần số hoặc quá trình rà\r\nnhiều lần có lưu giữ đường quét cực đại. Thông thường với phát xạ chưa biết thì\r\nquá trình rà nhiều lần có hiệu quả cao: miễn là hiển thị phổ thay đổi, có thể\r\nvẫn phát hiện được các tín hiệu gián đoạn cần phát hiện. Thời gian quan sát\r\nphải được chọn theo định kỳ tại đó xuất hiện các tín hiệu nhiễu. Trong một số\r\ntrường hợp, thời gian rà có thể biến đổi để tránh các hiệu ứng đồng bộ hóa.
\r\n\r\nKhi xác định thời gian rà nhỏ nhất cho các\r\nphép đo với máy phân tích phổ hoặc máy thu quét nhiễu điện từ, dựa trên chế độ\r\nđặt cho trước của dụng cụ đo và sử dụng tách sóng đỉnh, thì phải phân biệt hai trường\r\nhợp khác nhau. Nếu độ rộng băng tần tín hiệu hình được chọn là rộng hơn so với\r\nđộ rộng băng tần phân giải thì có thể sử dụng công thức dưới đây để tính thời\r\ngian rà nhỏ nhất:
\r\n\r\ntrong đó:
\r\n\r\nTs min
∆ƒ = Khoảng tần số
\r\n\r\nBres
Nếu độ rộng băng tần tín hiệu hình được chọn\r\nbằng hoặc nhỏ hơn độ rộng băng tần phân giải thì có thể sử dụng công thức dưới\r\nđây để tính thời gian rà nhỏ nhất:
\r\n\r\ntrong đó, Bvideo = Độ rộng\r\nbăng tần tín hiệu hình.
\r\n\r\nHầu hết các máy phân tích phổ và máy thu quét\r\nnhiễu điện từ tự động kết hợp thời gian rà với khoảng tần số được chọn và các\r\nchế độ đặt độ rộng băng tần. Thời gian rà được điều chỉnh để duy trì hiển thị đã\r\nhiệu chuẩn. Việc chọn thời gian quét tự động có thể quá dài nếu yêu cầu thời\r\ngian quan sát dài hơn, ví dụ, để thu các tín hiệu biến đổi chậm.
\r\n\r\nNgoài ra, đối với các rà lặp lại, số lần rà\r\ntrong một giây sẽ được xác định bằng thời gian quét Ts min và thời\r\ngian trở về (thời gian cần để điều hưởng lại máy hiện sóng cục bộ và để lưu giữ\r\ncác kết quả đo, v.v...).
\r\n\r\n6.5.3. Thời gian quét đối với máy thu theo bước
\r\n\r\nMáy thu nhiễu điện từ theo bước được điều hưởng\r\nliên tiếp đến các tần số đơn lẻ với cỡ bước đã xác định trước. Trong khi bao\r\ntrùm dải tần cần xét theo các bước tần số rời rạc, yêu cầu dụng cụ đo phải có\r\nthời gian dừng nhỏ nhất tại mỗi tần số để đo chính xác tín hiệu vào.
\r\n\r\nVới phép đo thực tế, yêu cầu cỡ bước tần số\r\nxấp xỉ 50 % độ rộng băng tần phân giải sử dụng hoặc nhỏ hơn 50 % (tùy thuộc vào\r\nhình dạng bộ lọc phân giải) để giảm độ không đảm bảo đo đối với các tín hiệu\r\nbăng hẹp do độ rộng của bước. Với các giả định này, đối với máy thu theo bước\r\ncó thể tính thời gian quét Ts min bằng cách sử dụng công thức dưới\r\nđây:
\r\n\r\ntrong đó Tm min = Thời gian\r\nđo nhỏ nhất (thời gian dừng) tại mỗi tần số.
\r\n\r\nNgoài thời gian đo, đôi khi phải xem xét đến\r\nbộ tổng hợp để chuyển sang tần số tiếp theo và chương trình để lưu giữ kết quả\r\nđo, mà trong hầu hết các máy thu đo, điều này được thực hiện tự động sao cho thời\r\ngian đo được chọn là thời gian hiệu quả đối với kết quả đo. Ngoài ra, bộ tách\r\nsóng được chọn, ví dụ, tách sóng đỉnh hoặc tựa đỉnh, cũng xác định khoảng thời\r\ngian này.
\r\n\r\nĐối với phát xạ hoàn toàn là băng rộng, có\r\nthể tăng cỡ bước tần số. Trong trường hợp này, mục đích chỉ là để tìm phổ phát\r\nxạ lớn nhất.
\r\n\r\n6.5.4. Cách lấy tổng thể phổ sử dụng bộ tách\r\nsóng đỉnh
\r\n\r\nVới mỗi phép đo ở trước quá trình quét, xác\r\nsuất thu tất cả các thành phần tới hạn của phổ EUT phải bằng 100 % hoặc càng\r\ngần với 100 % càng tốt. Tùy thuộc vào kiểu máy thu đo và đặc trưng của nhiễu mà\r\ncó thể có các phần tử băng thông hẹp và băng thông rộng, đề xuất hai phương\r\npháp tiếp cận chung sau:
\r\n\r\n- quét theo bước: thời gian đo (dừng) phải đủ\r\ndài tại mỗi tần số để đo đỉnh tín hiệu, ví dụ, đối với tín hiệu dạng xung, thời\r\ngian đo (dừng) nên dài hơn giá trị nghịch đảo của tần số lặp của tín hiệu.
\r\n\r\n- quét rà: thời gian đo phải lớn hơn khoảng\r\nthời gian giữa các tín hiệu gián đoạn (rà một lần) và số lần quét tần số trong\r\nthời gian quan sát cần lớn nhất để tăng xác suất thu tín hiệu.
\r\n\r\nHình 1, 2 và 3 đưa ra các ví dụ về mối quan\r\nhệ giữa phổ phát xạ biến đổi theo thời gian khác nhau và hiển thị tương ứng\r\ntrên máy thu đo. Trong từng trường hợp, phần phía trên của hình vẽ chỉ ra vị\r\ntrí của độ rộng máy thu khi rà qua hoặc có bậc qua phổ này.
\r\n\r\n![](\"00910226_files/image001.gif\")
Tp là thời gian lặp xung của tín\r\nhiệu xung. Xung xuất hiện tại mỗi đường thẳng đứng của hiển thị phổ - thời gian\r\n(phần phía trên của hình vẽ).
\r\n\r\nNếu loại phát xạ chưa biết thì rà nhiều lần\r\nvới thời gian rà ngắn nhất có thể và tách sóng đỉnh cho phép xác định đường bao\r\nphổ. Rà một lần thời gian ngắn là đủ để đo giá trị tín hiệu băng hẹp liên tục\r\ncủa phổ EUT. Với các tín hiệu băng rộng liên tục và băng hẹp gián đoạn, rà\r\nnhiều lần với tốc độ quét khác nhau sử dụng chức năng "lưu giữ đường quét\r\ncực đại" có thể cần thiết để xác định đường bao phổ. Với tín hiệu xung có\r\ntần số lặp thấp, việc rà nhiều lần là cần thiết để điền đầy đường bao phổ của\r\nthành phần băng rộng.
\r\n\r\nViệc giảm thời gian đo đòi hỏi phải phân tích\r\ntheo thời gian của các tín hiệu cần đo. Có thể thực hiện việc này bằng máy thu\r\nđo có hiển thị tín hiệu hình ảnh được sử dụng theo phương thức mở rộng điểm 0\r\nhoặc sử dụng máy hiện sóng nối với đầu ra tín hiệu hình hoặc đầu ra IF của máy\r\nthu như ví dụ chỉ ra trên Hình 2.
\r\n\r\n![](\"00910226_files/image002.jpg\")
Nhiễu từ động cơ một chiều cổ góp: vì có\r\nnhiều phiến góp nên tần số lặp xung cao (xấp xỉ 800 Hz) và biên độ xung biến\r\nđổi mạnh. Do đó, với ví dụ này, thời gian đo (dừng) khuyến cáo với tách sóng\r\nđỉnh lớn hơn 10 ms.
\r\n\r\nĐộ rộng xung và tần số lặp xung theo cách này\r\ncó thể được xác định và tốc độ quét hoặc thời gian dừng được chọn tương ứng\r\ntheo:
\r\n\r\n- đối với nhiễu băng hẹp không điều biến\r\nliên tục, có thể sử dụng thời gian quét nhanh nhất có thể với chế độ đặt\r\ndụng cụ đo được chọn;
\r\n\r\n- đối với nhiễu băng rộng liên tục thuần túy,\r\nví dụ như động cơ có đánh lửa, máy hàn hồ quang, và động cơ cổ góp, có thể sử\r\ndụng quét theo bước (có tách sóng đỉnh hoặc ngay cả tách sóng tựa đỉnh) để lấy\r\nmẫu phổ phát xạ. Trong trường hợp này, dùng hiểu biết về loại nhiễu để vẽ đường\r\ncong gồm nhiều đoạn thẳng là đường bao phổ (xem Hình 3). Phải chọn cỡ bước sao\r\ncho không bỏ qua các biến đổi đáng kể trong đường bao phổ. Đo rà một lần – nếu\r\ntiến hành đủ chậm – cũng sẽ có được đường bao phổ;
\r\n\r\n- đối với nhiễu băng hẹp không liên tục với\r\ntần số chưa biết, có thể sử dụng rà nhanh trong thời gian ngắn có lưu giữ đường\r\nquét cực đại (xem Hình 4) hoặc rà một lần chậm. Có thể yêu cầu phân tích thời\r\ngian trước phép đo thực tế để đảm bảo thu đúng tín hiệu.
\r\n\r\n![](\"00910226_files/image003.gif\")
Thời gian đo (dừng) Tm nên dài hơn\r\nthời gian lặp xung Tp, là nghịch đảo của tần số lặp xung.
\r\n\r\n![](\"00910226_files/image004.gif\")
CHÚ THÍCH: Ở ví dụ trên, yêu cầu 5 lần rà cho\r\nđến khi tất cả các thành phần phổ được thu lại. Số lần rà yêu cầu hoặc thời\r\ngian rà có thể phải tăng lên, tùy thuộc vào độ rộng xung và thời gian lặp xung.
\r\n\r\nNhiễu băng hẹp gián đoạn phải được đo\r\nvới quy trình phân tích nhiễu không liên tục, như mô tả trong TCVN 6989-1-1\r\n(CISPR 16-1-1).
\r\n\r\nVới các thiết bị cần thử nghiệm (EUT) cỡ nhỏ\r\nchỉ được nối bằng một dây dẫn nguồn, hoặc dây dẫn loại khác, phương pháp đo sử\r\ndụng kẹp hấp thụ (ACMM) cung cấp một phương pháp đo phát bức xạ để lựa chọn.\r\nACMM xác định công suất nhiễu bằng cách sử dụng kẹp hấp thụ. Thuận lợi của ACMM\r\nliên quan đến thử nghiệm phát bức xạ chủ yếu là giảm thời gian đo và giảm chi\r\nphí cho vị trí thử nghiệm.
\r\n\r\nCơ sở của ACMM là thừa nhận rằng việc phát\r\nbức xạ từ thiết bị nhỏ về điện (xem 7.2.2) chủ yếu là do dòng điện phương thức\r\nchung chạy trên dây dẫn chính nối vào thiết bị. Điện thế nhiễu của EUT có một\r\ndây dẫn bên ngoài có thể được lấy là công suất mà nó cung cấp cho dây dẫn đóng\r\nvai trò là anten bức xạ. Công suất này giả định là gần bằng công suất mà EUT\r\ncung cấp cho kẹp hấp thụ đặt xung quanh dây dẫn cần thử nghiệm (LUT) tại vị trí\r\nmà dòng điện phương thức chung là lớn nhất. Mô hình chính xác của ACMM không có\r\nsẵn. Do đó, việc xem xét độ không đảm bảo đo và so sánh giữa phương pháp đo\r\nphát bức xạ và ACMM trở nên khó khăn. Lịch sử về kẹp hấp thụ được mô tả chi\r\ntiết trong Phụ lục A.
\r\n\r\nĐiều này thiết lập các yêu cầu chung đối với\r\nphép đo công suất nhiễu sinh ra trên các dây dẫn của EUT. Đối với các sản phẩm\r\ncụ thể, có thể cần quy trình đo và các điều kiện làm việc cụ thể hơn. Các hạn\r\nchế của ACMM được nêu trong 7.2. Phương pháp hiệu chuẩn và đánh giá hiệu lực\r\ncủa ACMM được nêu trong điều 4 của TCVN 6989-1-3 (CISPR 16-1-3). Các xem xét về\r\nđộ không đảm bảo đo của thiết bị đo cho ACMM được mô tả trong CISPR 16-4-2.
\r\n\r\nKhả năng áp dụng (phạm vi áp dụng) của ACMM\r\nlà hạn chế. Khả năng áp dụng ACMM đối với các hạng mục sản phẩm nào đó phải được\r\nquyết định bởi ban kỹ thuật về sản phẩm, bằng cách tính đến các hạn chế nêu\r\ntrong các điều dưới đây. Quy trình đo chính xác và khả năng áp dụng phải được quy\r\nđịnh cho mỗi hạng mục sản phẩm trong tiêu chuẩn sản phẩm.
\r\n\r\n7.2.1. Dải tần
\r\n\r\nACMM được mô tả trong điều này có thể được áp\r\ndụng để đo công suất nhiễu của EUT từ 30 MHz đến 1 000 MHz.
\r\n\r\n7.2.2. Kích thước của khối EUT
\r\n\r\nKhối EUT là vỏ bọc của EUT nhưng không có các\r\ndây nối. ACMM là phương pháp chính xác nhất đối với khối EUT có các kích thước\r\nđiển hình nhỏ hơn một phần tư bước sóng của tần số đo cao nhất và với một hoặc\r\nnhiều dây dẫn là nguồn bức xạ nhiễu chính. Nếu các kích thước của khối EUT đạt\r\nđến một phần tư bước sóng tần số đo cao nhất thì có thể xuất hiện bức xạ trực\r\ntiếp trong khối EUT. Khi đó, ACMM có thể không thích hợp để đánh giá đầy đủ các\r\nđặc tính bức xạ của EUT. Nói chung, phương pháp này có ích nhất đối với EUT cỡ\r\nnhỏ và trong dải tần từ 30 MHz đến 300 MHz. ACMM có thể áp dụng cho cả EUT đặt\r\ntrên mặt bàn và EUT đặt trên sàn nhà.
\r\n\r\n7.2.3. Yêu cầu đối với LUT
\r\n\r\nBan đầu, ACMM được áp dụng cho EUT có một dây\r\ndẫn nguồn (xem Phụ lục A). Khi EUT có các dây dẫn bên ngoài khác dây dẫn nguồn\r\nthì các dây dẫn này cũng có thể bức xạ nhiễu. Các dây dẫn phụ này có thể được\r\nnối với thiết bị phụ. ACMM cũng có thể được sử dụng để đo các dây dẫn này. Sự\r\ngóp phần tạo nhiễu của các dây dẫn phụ nối với thiết bị phụ này tùy thuộc vào\r\nchiều dài của dây dẫn phụ so với bước sóng. Nếu chiều dài của dây dẫn phụ lớn\r\nhơn một nửa bước sóng tần số đo cao nhất thì sự góp phần của dây dẫn phụ phải được\r\ntính đến trong quy trình đo. Các tiêu chuẩn sản phẩm phải nêu thông tin cụ thể\r\nvề việc xử lý dây dẫn phụ (ví dụ như kéo dài các dây dẫn này), việc bố trí các\r\ndây dẫn phụ và thiết bị phụ để cho phép khả năng tái lập phép đo nhiễu.
\r\n\r\nNếu dây dẫn phụ được nối cố định vào thiết bị\r\nvà vào thiết bị phụ và nếu chiều dài của dây dẫn phụ nhỏ hơn một nửa bước sóng\r\ntại tần số cao nhất thì không phải thực hiện phép đo trên các dây dẫn này.
\r\n\r\nSơ đồ khối của ACMM được cho trên Hình 5. Các\r\nyêu cầu dưới đây áp dụng cho các phần khác nhau của dụng cụ đo và cho vị trí\r\nthử nghiệm.
\r\n\r\n7.3.1. Máy thu đo
\r\n\r\nMáy thu đo phải phù hợp với các yêu cầu của\r\nTCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1). Khi sử dụng máy phân tích phổ hoặc máy thu quét,\r\nphải xem xét các khuyến cáo nêu trong Phụ lục B.
\r\n\r\n7.3.2. Cụm kẹp hấp thụ
\r\n\r\nCụm kẹp hấp thụ gồm các bộ phận sau:
\r\n\r\na) kẹp hấp thụ (kể cả máy biến dòng bên trong\r\nvà vật hấp thụ dọc theo dây dẫn cần thử nghiệm (LUT) và cáp đo; xem Hình 5);
\r\n\r\nb) bộ suy giảm 6 dB;
\r\n\r\nc) cáp đo.
\r\n\r\nCụm kẹp hấp thụ phải phù hợp với các yêu cầu\r\nnêu trong điều 4 của TCVN 6989-1-3 (CISPR 16-1-3). Hệ số kẹp hấp thụ (CF) của\r\ncụm kẹp hấp thụ phải được xác định theo quy trình đo nêu trong điều 4 của TCVN\r\n6989-1-3 (CISPR 16-1-3). Đồng thời hệ số khử ghép của cụm kẹp hấp thụ cũng phải\r\nđược kiểm tra theo quy trình đo nêu trong điều 4 của TCVN 6989-1-3 (CISPR\r\n16-1-3).
\r\n\r\nĐiểm kẹp chuẩn (CRP) chỉ thị vị trí theo\r\nchiều dọc của cạnh trước của máy biến dòng bên trong kẹp.
\r\n\r\nĐiểm chuẩn này được dùng để xác định vị trí\r\ncủa kẹp trong suốt quy trình đo. CRP phải được chỉ ra trên vỏ bọc bên ngoài của\r\nkẹp hấp thụ.
\r\n\r\n![](\"00910226_files/image005.jpg\")
CHÚ THÍCH 1: Bộ suy giảm 6 dB và cáp đo là bộ\r\nphận tích hợp của kẹp hấp thụ và phải được hiệu chuẩn đồng thời.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Bộ suy giảm 6 dB có thể được\r\nđịnh vị bên trong khối kẹp hấp thụ.
\r\n\r\n7.3.3. Yêu cầu về vị trí thử nghiệm kẹp hấp\r\nthụ
\r\n\r\nVị trí thử nghiệm kẹp hấp thụ (ACTS) là vị\r\ntrí được sử dụng cho ứng dụng của ACMM. ACTS được quy định chi tiết trong điều\r\n4 của TCVN 6989-1-3 (CISPR 16-1-3). ACTS có thể là thiết bị trong nhà hoặc\r\nngoài trời và gồm có các phần tử dưới đây (Hình 6):
\r\n\r\n• bàn phi kim loại để đỡ khối EUT;
\r\n\r\n• bàn trượt kẹp để đỡ LUT và kẹp hấp thụ;
\r\n\r\n• hệ thống đỡ hoặc móc di chuyển được dùng\r\ncho cáp đo của kẹp hấp thụ;
\r\n\r\n• phương tiện phụ trợ, ví dụ như dây để di\r\nchuyển kẹp hấp thụ.
\r\n\r\nCác phần tử của ACTS nêu trên phải có trong quy\r\ntrình đánh giá hiệu lực của ACTS.
\r\n\r\nỞ gần cuối của bàn trượt kẹp hấp thụ (về phía\r\nEUT) được đánh dấu là điểm trượt chuẩn (SRP, xem Hình 6). SRP này được dùng để\r\nxác định khoảng cách theo chiều ngang so với điểm kẹp chuẩn. Một số yêu cầu đối\r\nvới các phần tử được đề cập ở trên của ACTS, được quy định chi tiết trong điều\r\n4 của TCVN 6989-1-3 (CISPR 16-1-3), được nhắc lại như dưới đây cho thuận tiện.
\r\n\r\na) Chiều dài của bàn trượt kẹp phải đảm bảo\r\nrằng kẹp hấp thụ có thể di chuyển trên khoảng cách sao cho công suất nhiễu lớn\r\nnhất được đo tại tần số thấp nhất là 30 MHz. Chiều dài của bàn trượt kẹp phải\r\nlà (6 ± 0,05) m.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Theo lý thuyết, chiều dài của\r\nbàn trượt kẹp được xác định bằng tổng chiều dài quét lớn nhất theo lý thuyết\r\n(trên nửa bước sóng = 5 m tại 30 MHz), khoảng cách giữa SRP và CRP (0,1 m) và\r\nchiều dài của kẹp hấp thụ (0,7 m) và chiều dài biên dự phòng để chứa các cơ cấu\r\ncố định dây dẫn ở một đầu (0,1 m). Tất cả cho tổng chiều dài của bàn trượt là\r\nnày là 5,9 m. Để có khả năng tái lập, chiều dài bàn trượt kẹp phải được lấy cố\r\nđịnh là 6 m (và không nhỏ hơn 6 m).
\r\n\r\nb) Chiều dài quét của kẹp hấp thụ phải là 5\r\nm. Do đó, CRP phải từ 0,1 m đến 5,1 m tính từ SRP.
\r\n\r\nc) Độ cao bàn trượt kẹp phải là 0,8 m ± 0,05\r\nm đối với cả EUT đặt trên mặt bàn và đặt trên sàn nhà. Do đó, độ cao của LUT\r\nphải xấp xỉ 0,8 m phía trên sàn của vị trí thử nghiệm. Cần chú ý rằng bên trong\r\nkẹp hấp thụ, độ cao của LUT so với sàn sẽ lớn hơn một vài centimét.
\r\n\r\nd) Bàn EUT, bàn trượt kẹp và phương tiện phụ\r\ntrợ (dây) phải không phản xạ, không dẫn điện và đặc tính điện môi phải gần\r\ngiống đặc tính điện môi của không khí. Theo cách đó, các hạng mục này (bàn EUT,\r\nbàn trượt kẹp và các phương tiện phụ trợ khác sát với EUT và LUT) là trong suốt\r\nvề điện từ (trung tính). Ngoài các đặc tính của vật liệu, bản thân vật liệu\r\n(chiều dày và kết cấu) cũng rất quan trọng. Gỗ khô là vật liệu thích hợp cho\r\nkết cấu của bàn EUT và bàn trượt kẹp ở tần số từ 30 MHz đến 300 MHz.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Các yêu cầu và phương pháp đánh\r\ngiá hiệu lực đối với bàn định vị EUT và cột anten được nêu trong TCVN 6989-1-3\r\n(CISPR 16-1-3). Nên sử dụng vật liệu có hằng số điện môi tương đối
Mức tạp xung quanh xuất hiện ở ACTS phải phù\r\nhợp với các yêu cầu nêu ở 6.1.
\r\n\r\nCông suất nhiễu xung quanh phải được đánh giá\r\ntheo 7.8.1. Mức tạp xung quanh phải thấp hơn giới hạn áp dụng ít nhất là 6 dB.
\r\n\r\nCông suất nhiễu phải được đo ở từng dây dẫn\r\n(xem thêm 7.2.3), mỗi lần một dây. Quy trình đo được nêu ở 7.8. Các yêu cầu đối\r\nvới dây dẫn như dưới đây.
\r\n\r\n7.5.1. Dây dẫn cần thử nghiệm
\r\n\r\nChiều dài của LUT phải ít nhất là nửa bước\r\nsóng tại tần số thấp nhất của phép đo, cộng với chiều dài bổ sung để nối dây\r\ndẫn với mối nối nguồn ở trên sàn. Điều này nghĩa là chiều dài dây dẫn phải ít\r\nnhất là 7,5 m.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Chiều dài dây dẫn được xác định\r\nlà chiều dài nhỏ nhất của bàn trượt kẹp là 6 m + 1 m (độ dài để LUT chạm tới\r\nsàn) + 0,5 m biên dự phòng = 7,5 m. Có thể yêu cầu thêm chiều dài dây cho phần\r\nLUT giữa EUT và điểm kẹp chuẩn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Nói chung, dây dẫn ban đầu nối\r\nvới EUT ngắn hơn nhiều so với 7,5 m và dây dẫn phải được tăng thêm hoặc thay\r\nthế hoàn toàn bằng dây dẫn có chiều dài yêu cầu và có kiểu và kết cấu giống như\r\ndây dẫn ban đầu của EUT. Tăng thêm dây dẫn thường không thực tế vì nói chung,\r\nphích cắm kéo dài sẽ không đi qua được kẹp hấp thụ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Kiểu phân phối hạ áp có thể khác\r\nở các quốc gia khác nhau và phòng thử nghiệm có thể có mạng điện khác nhau hoặc\r\nkiểu đấu nối nguồn khác nhau. Với các EUT nhất định, đặc tính nhiễu có thể phụ\r\nthuộc rất nhiều vào kiểu đấu nối nguồn. Đấu nối nguồn có thể không đối xứng\r\n(pha-đất) hoặc đối xứng (sử dụng biến áp cách ly). Đây có thể là lý do gây ra\r\ncác rắc rối về khả năng tái lập. Chú ý rằng các vấn đề về khả năng tái lập do\r\n"đấu nối nguồn gây ra" là phổ biến mà không riêng cho ACMM. Vấn đề về\r\nkhả năng tái lập có thể được đánh giá bằng cách đấu nối nguồn qua biến áp cách\r\nly.
\r\n\r\n7.5.2. Dây dẫn không thử nghiệm
\r\n\r\nNếu EUT có nhiều hơn một dây dẫn (xem 7.2.3)\r\nthì các dây dẫn không phải đo (kể cả trang bị phụ trợ nối cùng) phải được tháo\r\nra nếu vẫn có thể hoạt động, tại thời điểm khi dây dẫn khác được đo. Dây dẫn\r\nkhông thể tháo ra phải được cách ly bằng thiết bị hấp thụ phương thức chung\r\n(CMAD). CMAD có thể có một số xuyến ferit tổn hao hoặc cơ cấu hấp thụ khác đặt\r\nxung quanh dây dẫn ngay liền kề vỏ bọc của EUT. Dây dẫn đã cách ly phải được\r\nđịnh vị gần EUT trên bàn EUT. Các yêu cầu về tính năng đối với CMAD đang được\r\nxem xét.
\r\n\r\n7.6.1. Yêu cầu chung
\r\n\r\nÁp dụng các yêu cầu chung dưới đây đối với bố\r\ntrí thử nghiệm:
\r\n\r\na) bố trí thử nghiệm của EUT và LUT trên ACTS\r\nđược chỉ ra trong Hình 6 và Hình 7;
\r\n\r\nb) khoảng cách giữa bố trí thử nghiệm kẹp\r\n(EUT, LUT, kẹp) và vật thể bất kỳ (kể cả con người, các vách và trần nhưng\r\nngoại trừ sàn) phải ít nhất là 0,8 m;
\r\n\r\nc) kết cấu của ACTS phải giống như trong quá\r\ntrình xác nhận tính năng ACTS.
\r\n\r\n7.6.2. Bố trí EUT
\r\n\r\nBố trí EUT phải phù hợp với các yêu cầu dưới\r\nđây:
\r\n\r\na) EUT phải được đặt trên bàn đỡ. Chiều cao\r\ncủa bàn phải là 0,8 m ± 0,05 m đối với EUT đặt trên mặt bàn. Tấm đỡ EUT được\r\nthiết kế để sử dụng chủ yếu ở trên sàn, phải cao (0,1 ± 0,01) m;
\r\n\r\nb) EUT phải được định vị trên bàn EUT ở tư\r\nthế làm việc càng giống với tư thế bình thường càng tốt. LUT phải hướng trực\r\ntiếp đến SRP của bàn trượt kẹp. Trong trường hợp không xác định được vị trí\r\nbình thường thì EUT phải được định vị sao cho LUT của nó hướng trực tiếp đến\r\nbàn trượt kẹp. Khoảng cách từ khối EUT đến SRP phải càng ngắn càng tốt.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Với các loại sản phẩm nhất định như\r\nmáy giặt hoặc máy pha cà phê, vị trí làm việc bình thường là rõ ràng. Tuy\r\nnhiên, đối với các sản phẩm như máy sấy tóc hoặc máy khoan, vị trí làm việc\r\nbình thường ít rõ ràng hơn và EUT sẽ chỉ được đặt trên bàn. Điều quan trọng của\r\nđiều này là nâng cao khả năng tái lập của thử nghiệm. Ban kỹ thuật về sản phẩm\r\ncó thể quyết định đưa ra hướng dẫn cụ thể để đảm bảo vị trí có khả năng tái lập\r\ncủa EUT.
\r\n\r\n![](\"00910226_files/image006.gif\")
![](\"00910226_files/image007.jpg\")
7.6.3. Bố trí LUT
\r\n\r\nLUT được định vị theo hướng duỗi thẳng nằm\r\nngang phía trên bàn trượt kẹp hấp thụ để có thể biến đổi vị trí kẹp hấp thụ dọc\r\ntheo dây dẫn nhằm tìm ra số đọc lớn nhất. Bên ngoài kẹp hấp thụ, độ cao của LUT\r\nphía trên sàn phải càng gần với 0,8 m càng tốt. Để gắn LUT tốt hơn trong quy\r\ntrình trượt kẹp nên cố định LUT ở hai đầu của bàn trượt kẹp bằng cách sử dụng\r\nhãm nhả nhanh.
\r\n\r\n7.6.4. Kẹp hấp thụ
\r\n\r\nÁp dụng các yêu cầu dưới đây liên quan đến\r\nđịnh vị kẹp hấp thụ.
\r\n\r\na) Kẹp hấp thụ được đặt bao quanh LUT như chỉ\r\nra trên Hình 6. Phải định vị kẹp hấp thụ trên bàn trượt kẹp với biến dòng nằm\r\nvề phía EUT.
\r\n\r\nb) Trong khi kẹp quét, khoảng cách theo chiều\r\nngang nhỏ nhất giữa CRP và SRP phải là (10 ± 1) cm. Yêu cầu khoảng cách này là\r\n10 cm để đặt các kiểu kẹp khác nhau do các vị trí khác nhau có thể có của CRP.\r\nKết quả thử nghiệm phụ thuộc rất nhiều vào vị trí ban đầu. Để có khả năng tái\r\nlập, nhất thiết phải có quy định bổ sung này để đảm bảo rằng tất cả các vị trí\r\nban đầu có thể giống nhau.
\r\n\r\nc) LUT phải được giữ ở tâm của kẹp hấp thụ\r\ntại vị trí đặt máy biến dòng, tức là tại CRP. Với mục đích này, hầu hết các kẹp\r\nđều có cơ cấu đỡ tại tâm.
\r\n\r\n7.6.5. Cáp đo
\r\n\r\nCáp đo của kẹp hấp thụ phải đáp ứng các yêu\r\ncầu dưới đây.
\r\n\r\na) Trong trường hợp bộ suy giảm 6 dB không được\r\ntích hợp với cụm lắp ráp kẹp hấp thụ thì cần nối bộ suy giảm 6 dB riêng gần với\r\nbộ nối đo của kẹp. Chú ý rằng bộ suy giảm 6 dB phải là bộ suy giảm đồng trục có\r\nVSWR lớn nhất là 1,12 và dung sai suy giảm tối đa là ± 0,3 dB (xem điều 4 của\r\nTCVN 6989-1-3 (CISPR 16-1-3)).
\r\n\r\nb) Cáp đo được nối với máy thu đo hoặc máy\r\nphân tích phổ.
\r\n\r\nc) Cáp đo phải chạy trên puli trượt sao cho\r\ncáp đo chạy ở góc gần vuông so với kẹp hấp thụ và không chạm đất.
\r\n\r\nKhi thực hiện đo công suất nhiễu, EUT phải\r\nlàm việc ở chế độ làm việc bình thường của nó, kể cả chế độ chờ. Quy trình quét\r\nsơ bộ (7.8.2 a)) được dùng để xác định chế độ làm việc tạo ra phát xạ cao nhất.\r\nCác điều kiện làm việc nói chung của EUT được nêu ở điều 6 phải được đáp ứng.\r\nCó thể cần các điều kiện bổ sung cho các sản phẩm cụ thể. Nếu thuộc đối tượng\r\náp dụng, phải quy định các điều kiện làm việc cụ thể của sản phẩm trong tiêu\r\nchuẩn sản phẩm.
\r\n\r\n\r\n\r\n7.8.1. Quy trình đo môi trường xung quanh
\r\n\r\nTín hiệu môi trường xung quanh phải được đo\r\ntrước thử nghiệm thực tế của EUT bằng cách sử dụng LUT (dây dẫn nguồn, hoặc nếu\r\nkhông thuộc đối tượng áp dụng, dây dẫn khác). Công suất nhiễu xung quanh được\r\nđo trong khi EUT được cắt điện. Phải đo tín hiệu xung quanh trong khi kẹp hấp\r\nthụ di chuyển theo quy trình quét kết thúc mô tả trong 7.8.2 b). Công suất\r\nnhiễu xung quanh được tính bằng công thức (4) phải thấp hơn giới hạn có thể áp\r\ndụng ít nhất là 6 dB.
\r\n\r\n7.8.2. Quy trình đo EUT
\r\n\r\nVới mỗi dây dẫn nối với EUT (xem 7.5), phải\r\náp dụng quy trình đo dưới đây.
\r\n\r\na) Quét sơ bộ tại vị trí cố định
\r\n\r\nKẹp phải được định vị ở khoảng cách nằm ngang\r\nbằng 0,1 m so với SRP. Phải đóng điện cho EUT và các điều kiện làm việc phải như\r\nquy định trong 7.7. ở vị trí cố định này và với mỗi chế độ làm việc liên quan\r\ncủa EUT, phải tiến hành quét tần số để tìm ra chế độ làm việc đạt được mức phát\r\nxạ cao nhất. Với chế độ làm việc tại đó xuất hiện phát xạ tối đa, phải tiến\r\nhành quy trình quét kết thúc. Có thể sử dụng bộ tách sóng đỉnh trong quy trình\r\nquét sơ bộ này. Quy trình quét sơ bộ cũng được sử dụng để có được các thông tin\r\nvề loại nhiễu (băng hẹp, băng rộng).
\r\n\r\nb) Quy trình quét kết thúc
\r\n\r\nQuy trình quét kết thúc tùy thuộc vào loại\r\nnhiễu tìm được trong quy trình quét sơ bộ. Hướng dẫn về quy trình cho nhiễu\r\nbăng hẹp, băng rộng, liên tục và không liên tục có thể xem trong 6.2 và 6.4 và\r\nTCVN 7492-1 (CISPR 14-1). Tùy thuộc vào loại nhiễu tìm được trong quy trình\r\nquét sơ bộ, hai quy trình thay thế nhau có thể được áp dụng cho quy trình quét\r\nkết thúc.
\r\n\r\n1) Phép đo tại tần số cố định và kẹp quét\r\nliên tục
\r\n\r\nVị trí CRP của kẹp hấp thụ dọc theo dây dẫn\r\nphải biến đổi liên tục trên khoảng cách ứng với ít nhất một nửa bước sóng\r\n(không gian tự do) của tần số cần xét. Tại mỗi tần số, phải xác định số chỉ lớn\r\nnhất có được trên máy thu đo nối với kẹp hấp thụ. Tốc độ dịch chuyển của kẹp\r\nphải sao cho thời gian đo tại tần số nhất định tương ứng với cỡ bước của kẹp\r\nnhỏ hơn 1/15 bước sóng.
\r\n\r\n2) Phép đo tại vị trí kẹp cố định và máy thu\r\nquét trên toàn bộ băng tần
\r\n\r\nCó thể thuận tiện hơn nếu đặt kẹp hấp thụ dọc\r\ntheo bàn trượt kẹp tại một số vị trí rời rạc thích hợp tùy thuộc vào việc đặt\r\ntần số giới hạn trên. Ví dụ, khoảng cách cỡ bước bằng 0,02 m là đủ nếu tần số\r\nlớn nhất là 1 000 MHz (cỡ bước là 1/15 bước sóng). Máy thu đo phải thực hiện\r\nquét tần số ở mỗi vị trí kẹp. Máy thu đo phải duy trì số đọc lớn nhất ở mọi vị\r\ntrí. Khoảng cách cỡ bước không đổi dọc theo toàn bộ dây dẫn cần thử nghiệm sẽ\r\nlàm tăng thời gian đo một cách đáng kể. Khi khoảng cách giữa EUT và kẹp hấp thụ\r\ntăng thì có thể sử dụng cỡ bước rộng hơn. Như vậy sẽ giảm được số bước đi rất\r\nnhiều. Bảng 2 và 3 nêu cách sắp xếp mẫu có thể áp dụng tùy thuộc vào tần số\r\ngiới hạn trên được sử dụng. Có thể giảm thêm thời gian thử nghiệm bằng cách hạn\r\nchế quét tần số là hàm số theo vị trí của kẹp. Tần số giới hạn trên đối với máy\r\nthu có thể được tính từ vị trí kẹp tương ứng với nửa bước sóng.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
Từ dữ liệu đo được đối với mỗi LUT, phải tính\r\ncông suất nhiễu theo công thức (4). Công suất nhiễu P ứng với điện áp đo được\r\nlớn nhất V tại mỗi tần số thử nghiệm được xác định bằng cách sử dụng hệ số kẹp\r\n(CF) có được từ quy trình hiệu chỉnh kẹp hấp thụ mô tả trong điều 4 của TCVN\r\n6989-1-3 (CISPR 16-1-3).
\r\n\r\ntrong đó
\r\n\r\nP là công suất nhiễu, tính bằng\r\ndB(pW);
\r\n\r\nV là điện áp đo được, tính bằng dB(
CF là hệ số kẹp, tính bằng dB(pW/
CHÚ THÍCH: Hệ số kẹp được rút ra có tính đến\r\nhệ số bộ suy giảm bằng 6 dB (xem 7.3.2).
\r\n\r\nVới mỗi phương tiện thử nghiệm kẹp hấp thụ,\r\ngiá trị độ không đảm bảo của dụng cụ đo thực tế Ulab phải được xác định bằng\r\ncách sử dụng hướng dẫn nêu trong CISPR 16-4-2.
\r\n\r\nĐộ không đảm bảo của dụng cụ đo lên đến một\r\nmức độ nào đó phải được tính đến trong tiêu chí phù hợp (7.11). Điều này có\r\nnghĩa là nếu độ không đảm bảo đo vượt quá giá trị chấp nhận Ucispr thì phải có\r\ntrong tiêu chí phù hợp. Giá trị Ucispr đối với phương pháp thử\r\nnghiệm kẹp hấp thụ là 4,5 dB (xem 4.1 của CISPR 16-4-2).
\r\n\r\n\r\n\r\nTại mỗi tần số, phải kiểm tra sự phù hợp của\r\ncông suất nhiễu P đạt được đối với từng LUT so với giới hạn có thể áp dụng PL.\r\nTiêu chí phù hợp phải kết hợp với độ không đảm bảo của dụng cụ đo khi vượt quá\r\nUcispr = 4,5 dB. Hướng dẫn áp dụng tiêu chí phù hợp được nêu trong\r\nCISPR 16-4-2.
\r\n\r\nCó thể loại bỏ được việc lặp lại phép đo\r\nnhiễu điện từ nhờ kỹ thuật tự động hóa. Giảm thiểu được sai số trong việc đọc\r\nvà ghi giá trị của phép đo. Tuy nhiên, bằng cách sử dụng máy tính để thu thập\r\ndữ liệu, người thao tác có thể phát hiện các dạng sai số mới được đưa vào.\r\nTrong một số trường hợp, thử nghiệm tự động có thể dẫn đến độ không đảm bảo đo\r\nlớn hơn trong các dữ liệu thu thập được so với người thao tác có kỹ năng thực\r\nhiện phép đo bằng tay. Về cơ bản, không có khác nhau về độ chính xác của giá\r\ntrị phát xạ đo được khi đo bằng tay hoặc dùng phần mềm điều khiển. Ở cả hai trường\r\nhợp, độ không đảm bảo đo dựa vào quy định về độ chính xác của thiết bị được sử\r\ndụng trong bố trí thử nghiệm. Tuy nhiên, có thể nảy sinh các rắc rối khi tình\r\ntrạng của phép đo dòng điện khác với chương trình phần mềm.
\r\n\r\nVí dụ, phát xạ của EUT gần tần số ở tín hiệu\r\nxung quanh ở mức cao có thể không đo được chính xác, nếu tín hiệu xung quanh\r\nxuất hiện trong suốt thời gian thử nghiệm tự động. Tuy nhiên, người thao tác có\r\nkiến thức có nhiều khả năng phân biệt giữa nhiễu thực tế với tín hiệu xung\r\nquanh; vì vậy, phương pháp đo phát xạ của EUT có thể được điều chỉnh khi yêu\r\ncầu. Tuy nhiên, có thể tiết kiệm thời gian thử nghiệm bằng cách tiến hành quét\r\nmôi trường xung quanh trước khi đo phát xạ thực tế với EUT đã tắt điện để ghi\r\nlại các tín hiệu xung quanh xuất hiện trên OATS. Trong trường hợp phần mềm này\r\ncó khả năng cảnh báo người thao tác về sự xuất hiện tiềm ẩn của các tín hiệu\r\nxung quanh ở một số tần số nhất định bằng cách áp dụng thuật giải nhận dạng tín\r\nhiệu thích hợp.
\r\n\r\nNên có sự tương tác giữa những người thao tác\r\nnếu phát xạ của EUT biến đổi chậm, nếu phát xạ EUT có chu kỳ đóng cắt thấp hoặc\r\nkhi có thể xuất hiện các tín hiệu quá độ xung quanh (ví dụ, quá độ hàn hồ\r\nquang).
\r\n\r\n\r\n\r\nMáy thu nhiễu điện từ cần thu các tín hiệu trước\r\nkhi chúng được cực đại hóa và được đo. Sử dụng bộ tách sóng tựa đỉnh trong quá\r\ntrình cực đại hóa phát xạ ở tất cả các tần số trong phổ tần cần đo sẽ làm cho\r\nthời gian thử nghiệm quá mức (xem 6.5.1). Quy trình tiêu tốn thời gian như quét\r\ntheo độ cao anten không được yêu cầu ở mỗi tần số phát xạ. Nên hạn chế các quy\r\ntrình này ở các tần số tại đó biên độ đỉnh đo được của phát xạ cao hơn hoặc gần\r\ngiới hạn phát xạ. Vì vậy, chỉ các phát xạ tại các tần số tới hạn có biên độ gần\r\nhoặc vượt quá giới hạn sẽ được cực đại hóa và được đo.
\r\n\r\nThủ tục đo chung dưới đây sẽ giảm thời gian\r\nđo:
\r\n\r\n![](\"00910226_files/image008.jpg\")
Bước ban đầu này trong toàn bộ quy trình đo\r\nđáp ứng nhiều mục đích. Quét sơ bộ đặt ra số lượng tối thiểu các hạn chế và các\r\nyêu cầu đối với hệ thống thử nghiệm vì mục đích chính của nó là thu thập lượng\r\nthông tin tối thiểu dựa vào đó xác định các tham số của thử nghiệm hoặc quét bổ\r\nsung. Có thể sử dụng phương thức đo này để thử nghiệm sản phẩm mới, trong trường\r\nhợp biết rất ít về phổ phát xạ. Nói chung, quét sơ bộ là quy trình thu thập dữ\r\nliệu được sử dụng để xác định xem các tín hiệu có nghĩa nằm ở đâu trong dải tần\r\ncần xét. Tùy thuộc vào mục đích của phép đo này, có thể cần thiết phải có cột\r\nanten và bàn xoay (đối với thử nghiệm phát bức xạ) cũng như tăng cường độ chính\r\nxác về tần số (ví dụ, đối với quá trình xử lý thêm trên OATS) và giản lược dữ\r\nliệu thông qua so sánh biên độ. Các yếu tố này xác định trình tự đo trong quá\r\ntrình tiến hành quét sơ bộ. Trong mọi trường hợp, kết quả phải được lưu giữ trong\r\ndanh mục tín hiệu để xử lý thêm.
\r\n\r\nNếu thực hiện phép đo khi quét sơ bộ để có được\r\ncác thông tin một cách nhanh chóng trên phổ phát xạ chưa biết của EUT thì có\r\nthể thực hiện quét tần số bằng cách áp dụng các xem xét ở 6.5.
\r\n\r\n• Xác định thời gian đo yêu cầu
\r\n\r\nNếu phổ phát xạ và đặc biệt là thời gian lặp\r\nxung lớn nhất Tp của EUT là chưa biết thì cần phải khảo sát để đảm\r\nbảo thời gian đo Tm không ngắn hơn Tp. Đặc trưng gián\r\nđoạn của phát xạ EUT đặc biệt liên quan đến các giá trị đỉnh tới hạn của phổ\r\nphát xạ. Đầu tiên, cần xác định tần số tại đó biên độ phát xạ là không ổn định.\r\nCó thể thực hiện việc này bằng cách so sánh chức năng lưu giữ đường quét cực\r\nđại với chức năng lưu giữ đường quét cực tiểu hoặc chức năng xóa/ghi của thiết\r\nbị đo hoặc phần mềm và quan sát phát xạ trong thời gian 15 s. Trong suốt thời\r\ngian này, không nên có thay đổi về bố trí (không thay dây dẫn trong trường hợp\r\nphát xạ dẫn, không di chuyển kẹp hấp thụ, không di chuyển bàn xoay hoặc anten\r\ntrong trường hợp phát bức xạ). Các tín hiệu có chênh lệch, ví dụ, lớn hơn 2 dB\r\ngiữa giá trị lưu giữ đường quét cực đại và giá trị lưu giữ đường quét cực tiểu\r\nđược đánh dấu là các tín hiệu gián đoạn. (Cần cẩn thận để không đánh dấu tín\r\nhiệu tạp thành tín hiệu gián đoạn). Trong trường hợp phát bức xạ, việc thay đổi\r\nphân cực của anten và lặp lại phép đo để giảm rủi ro sẽ không tìm được các giá\r\ntrị đỉnh gián đoạn nhất định vì chúng duy trì ở mức thấp hơn mức tạp. Từ mỗi\r\ntín hiệu gián đoạn, có thể đo thời gian lặp xung Tp bằng cách áp\r\ndụng khoảng zero hoặc sử dụng máy hiện sóng nối với đầu ra IF của máy thu đo.\r\nThời gian đo chính xác cũng có thể được xác định bằng cách tăng thời gian này\r\ncho đến khi chênh lệch giữa hiển thị lưu giữ đường quét cực đại và hiển thị\r\nxóa/ghi thấp hơn 2 dB. Trong các phép đo thêm (phép đo cực đại hóa và phép đo\r\nkết thúc), phải chắc chắn rằng thời gian đo Tm không nhỏ hơn chu kỳ\r\nlặp xung Tp được áp dụng đối với mỗi phần của dải tần.
\r\n\r\nKiểu đo xác định định nghĩa về phép đo quét\r\nsơ bộ theo cách dưới đây.
\r\n\r\n- Đối với phép đo sử dụng kẹp hấp thụ,\r\ncó thể tiến hành quét sơ bộ với kẹp hấp thụ đặt gần với EUT.
\r\n\r\nĐối với phát xạ dẫn hoặc phát xạ đo bằng kẹp hấp\r\nthụ, có thể yêu cầu hai giới hạn đối với bộ tách sóng tựa đỉnh và bộ tách sóng\r\ntrung bình. Trong trường hợp này, quét sơ bộ có thể bao gồm phép đo với bộ tách\r\nsóng trung bình nếu dữ liệu đỉnh vượt quá giới hạn trung bình, trước khi áp\r\ndụng giản lược dữ liệu. Nếu không, phát xạ băng hẹp vượt quá giới hạn trung\r\nbình có thể bị che bởi phát xạ băng rộng thấp hơn giới hạn tựa đỉnh; do đó\r\nkhông thể phát hiện được trường hợp không phù hợp. Cần chú ý rằng đáp tuyến\r\nbăng hẹp không nhất thiết là tương ứng với các giá trị đỉnh phát xạ băng rộng.
\r\n\r\n\r\n\r\nBước thứ hai trong toàn bộ quy trình đo được\r\nsử dụng để giảm số lượng tín hiệu thu thập được trong quá trình quét sơ bộ và\r\ndo đó hướng vào việc giản lược hơn nữa thời gian đo tổng thể. Các quy trình này\r\ncó thể hoàn thiện các nhiệm vụ khác nhau, ví dụ như xác định các tín hiệu lớn\r\ntrong phổ, phân biệt giữa tín hiệu xung quanh hoặc tín hiệu của thiết bị phụ\r\ntrợ với phát xạ EUT, so sánh tín hiệu với các đường giới hạn hoặc giản lược dữ\r\nliệu dựa trên quy tắc do người sử dụng xác định. Một ví dụ khác của phương pháp\r\ngiản lược dữ liệu liên quan đến trình tự sử dụng các bộ tách sóng khác nhau và\r\nso sánh biên độ theo giới hạn. Ví dụ này được nêu trong sơ đồ cây trong Phụ lục\r\nC của CISPR 16-2-1. Giản lược dữ liệu có thể tiến hành tự động hoàn toàn hoặc\r\ncó tương tác, bao hàm các công cụ phần mềm hoặc tương tác bằng tay giữa những\r\nngười vận hành. Giản lược dữ liệu không cần phải là một phần riêng của thử\r\nnghiệm tự động, tức là nó có thể là một phần của quét sơ bộ.
\r\n\r\nTrong các dải tần nhất định, đặc biệt là băng\r\nFM, sự phân biệt về âm thanh xung quanh là rất hiệu quả. Điều này đòi hỏi tín\r\nhiệu đã được giải điều chế có khả năng nghe được thành phần điều chế của chúng.\r\nNếu danh mục đầu ra khi quét sơ bộ có chứa số lượng lớn các tín hiệu và cần\r\nphân biệt âm thanh thì quy trình có thể khá dài. Tuy nhiên, nếu có thể quy định\r\ndải tần dùng cho điều hưởng và nghe thì chỉ các tín hiệu nằm trong các dải tần\r\nnày mới được giải điều hưởng. Kết quả của quy trình giản lược dữ liệu được lưu\r\nlại trong danh mục tín hiệu riêng rẽ để xử lý thêm.
\r\n\r\nTrong thử nghiệm cuối cùng, phát xạ được cực\r\nđại hóa để xác định mức cao nhất của chúng. Sau khi cực đại hóa tín hiệu, biên\r\nđộ phát xạ được đo sử dụng tách sóng tựa đỉnh và/hoặc tách sóng trung bình\r\ntrong thời gian đo thích hợp (ít nhất 15 s nếu giá trị đọc cho thấy sự dao động\r\ngần với giới hạn).
\r\n\r\nKiểu phép đo
- đối với các phép đo dùng kẹp hấp thụ:\r\ncực đại hóa biên độ bằng cách biến đổi vị trí kẹp dọc theo dây dẫn.
\r\n\r\nPhần cuối cùng của quy trình thử nghiệm quy\r\nđịnh các yêu cầu về tài liệu. Chức năng để xác định chuỗi sắp xếp và chuỗi so\r\nsánh mà sau đó có thể áp dụng một cách tự động hoặc tương tác cho danh mục tín\r\nhiệu hỗ trợ người sử dụng biên soạn các hồ sơ và tài liệu cần thiết. Biên độ\r\nsóng đỉnh, tựa đỉnh hoặc trung bình đã được hiệu chỉnh cần sẵn có như tiêu chí\r\nphân loại hoặc lựa chọn. Kết quả của các quy trình này được lưu giữ trong danh\r\nmục riêng rẽ hoặc có thể kết hợp trong một danh mục và sẵn có để lập tài liệu\r\nhoặc xử lý thêm.
\r\n\r\nKết quả phải sẵn có ở dạng bảng và dạng đồ\r\nthị để sử dụng trong hồ sơ thử nghiệm. Ngoài ra, thông tin về chính hệ thống\r\nthử nghiệm, ví dụ, bộ chuyển đổi được sử dụng, dụng cụ đo, và tài liệu về bố\r\ntrí EUT theo yêu cầu của tiêu chuẩn sản phẩm, cũng cần là một phần của hồ sơ\r\nthử nghiệm.
\r\n\r\n\r\n\r\n
A.1. Lịch sử
\r\n\r\nMặc dù phép đo cường độ trường, về lý thuyết,\r\nlà phương pháp thích hợp nhất cho việc xác định khả năng gây nhiễu của các loại\r\nthiết bị ở tần số cao hơn 30 MHz, nhưng các phương pháp này đòi hỏi các lưu ý\r\nđi kèm chứng tỏ có khó khăn trong việc áp dụng. Vì vậy, người kỹ sư phải mất\r\nmột quãng thời gian dài sử dụng phương pháp điện áp đầu nối trong khi chờ đợi\r\nphương pháp thỏa đáng hơn. Một số phương pháp đã được đưa ra để thay thế các phương\r\npháp liên quan đến các phép đo trường ngoài trời bằng các phép đo bức xạ trong\r\nphòng thí nghiệm. Trong số đó đáng chú ý nhất là phương pháp bộ lọc chặn và phương\r\npháp dòng điện nối đất. Đây là các phương pháp thay thế, trong đó bộ lọc đồng\r\ntrục kiểu khe hở có tổn hao không đáng kể được dùng để điều chỉnh độ dài bức xạ\r\ncủa dây dẫn nguồn của nguồn nhiễu sao cho thu được mức bức xạ lớn nhất. ở các\r\nphương pháp này, khả năng gây nhiễu của thiết bị được xác định là công suất mà\r\nmáy phát tiêu chuẩn phải truyền vào một anten đơn giản có các đặc tính xác định\r\nnhằm thu được hiệu ứng trên anten nối với dụng cụ đo giống với hiệu ứng gây ra\r\ndo nguồn nhiễu. Một số phương pháp thuận lợi hơn đã được thiết lập từ các phương\r\npháp vừa đề cập.
\r\n\r\nPhép đo điện áp đầu nối đã được cải thiện\r\nđáng kể bằng việc thay thế mạng nguồn giả V bằng mạng Y, sao cho đạt được điện\r\náp thực phương thức chung do nguồn nhiễu gây ra. Phương pháp tương tự sử dụng\r\nbộ lọc đồng trục kiểu khe hở tác dụng trở lại đã được xây dựng. Phương pháp đo\r\ncông suất mà nguồn nhiễu có thể truyền vào dây dẫn nguồn cũng được đề xuất. Phương\r\npháp này dựa trên phép đo dòng điện tại đầu vào của cơ cấu đồng trục hấp thụ.
\r\n\r\nƯu điểm của phương pháp sau so với các phương\r\npháp điện áp đầu nối là ở chỗ không cần phải ngắt dây dẫn nguồn. Phương pháp\r\nnày cho các giá trị công suất nhiễu tương ứng với các giá trị thu được bằng các\r\nphương pháp trong đó bức xạ của dây dẫn nguồn được đo trong điều kiện cộng hưởng.
\r\n\r\nMặc dù, do dễ thực hiện, phương pháp điện áp\r\nđầu nối và phương pháp cơ cấu đồng trục hấp thụ được ưu tiên hơn phương pháp bộ\r\nlọc chặn và phương pháp dòng điện nối đất, nhưng vẫn cần phải chỉ ra rằng các\r\nkết quả chúng mang lại phù hợp với các kết quả thu được trên thực tế.
\r\n\r\nCác phép đo thống kê về nguồn nhiễu cho thấy\r\nnhiễu đo được bằng phương pháp bộ lọc chặn thích hợp hơn so với nhiễu đo được\r\nbằng phương pháp điện áp đầu nối, với tác động chính của các nguồn này đo được\r\ntại đầu vào của máy thu đặt trong cùng một công trình. Các phép đo thực hiện\r\nbằng phương pháp cơ cấu hấp thụ cho các kết quả trung gian giữa hai phương pháp\r\ntrên. Các phương pháp khác đã được so sánh.
\r\n\r\nA.2. Phát triển phương pháp
\r\n\r\nTrong phương pháp bộ lọc chặn, đo các giá trị\r\nliên quan trực tiếp đến dòng điện ở tâm anten cộng hưởng nửa sóng. Điều quan\r\ntrọng nhất không phải là hệ thống bức xạ mà là công suất nguồn nhiễu có khả\r\nnăng truyền đến hệ thống bức xạ. Nguyên lý tương tự áp dụng cho phương pháp\r\ndòng điện nối đất. Nếu có thể đo được công suất này mà không phải đo trường,\r\nthì có thể loại bỏ những bất lợi phát sinh do ảnh hưởng của các đối tượng xung\r\nquanh lên sự truyền dẫn giữa các phần tử bức xạ và anten thu. Nỗ lực để thay\r\nthế bộ lọc chặn đồng trục bằng ống ferit cho thấy là phần lớn năng lượng do\r\nnguồn nhiễu tạo ra bị tiêu tán trong ống này. Sau đó, người ta cho rằng phép đo\r\ndòng điện tại đầu vào của ống ferit có thể thay thế, ít nhất một phần, phép đo\r\ntrường bằng phương pháp bộ lọc chặn. Điều này là nguồn gốc của cơ cấu mô tả\r\ntrong Phụ lục B của TCVN 6989-1-3 (CISPR 16-1-3).
\r\n\r\nVấn đề tiếp theo được nghiên cứu là làm thế nào\r\nđể so sánh các phương pháp đo khác nhau trong trường hợp cụ thể của nguồn\r\nnhiễu có che chắn có công suất sẵn có cho trước, có trở kháng trong thuần\r\ntrở trong quá trình truyền toàn bộ năng lượng nhiễu của nó đến dây dẫn nguồn\r\ntheo phương thức chung khi mà kích thước của nguồn biến đổi. Các điều tra thực\r\nnghiệm cho thấy một thực tế đáng chú ý là thiết bị mới cho các kết quả gần như\r\nkhông phụ thuộc vào kích thước của nguồn nhiễu (3,5 dm3 đến 1 700 dm3)\r\nvà cũng ít thay đổi các kết quả thu được bằng các phương pháp khác.
\r\n\r\nTrên thực tế, người ta có thể rút gọn hệ\r\nthống đo cơ cấu hấp thụ thành mạch sau: nguồn nhiễu có trở kháng trong ZS\r\ncung cấp tải ZC qua đường dây có trở kháng đặc tính tổn hao thấp ZL.\r\nNếu độ dài đường dây này biến đổi từ “không” thì công suất hấp thụ được bằng\r\ntải ZC (khi ZC khác với ZL) đi qua các giá trị\r\nlớn nhất và nhỏ nhất ứng với sự cộng hưởng và chống cộng hưởng của hệ thống.
\r\n\r\nBỏ qua bức xạ và các tổn hao khác của đường\r\ndây và nghiên cứu trường hợp tải được đặt ở khoảng cách tương ứng với giá trị\r\nlớn nhất đầu tiên, ta xét một điểm trên đường dây tại đó nguồn và tải là điện\r\ntrở thuần RS và RC. Vì vậy, có thể chỉ ra rằng nếu Pd\r\nlà công suất vốn có của nguồn, PC là công suất do tải hấp thụ và
\r\n\r\nthì
\r\n\r\nCông thức này cho
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
![](\"00910226_files/image011.gif\"){kind=small}
=Có thể thấy rằng sự phù hợp của nguồn với dây\r\ndẫn không phải là tối quan trọng và, nếu sử dụng kẹp hấp thụ để cấu thành tải,\r\nví dụ cỡ khoảng 200 Ω, thì kết quả thu được sẽ không khác biệt nhiều so với các\r\nkết quả thu được nếu tải được đặt ở đầu ra của nguồn nhiễu dưới dạng đường dẫn\r\nở điều kiện cộng hưởng bằng bộ lọc chặn đồng trục.
\r\n\r\nMô tả chi tiết hơn về phát triển phương pháp\r\nvà lý thuyết hoạt động của kẹp hấp thụ được nêu trong [1]1.
\r\n\r\nA.3. Lý do cải thiện phương pháp đo sử dụng\r\nkẹp
\r\n\r\nPhương pháp đo sử dụng kẹp hấp thụ đã chứng\r\ntỏ là phương pháp thuận tiện để thử nghiệm sự phù hợp và được sử dụng rộng rãi\r\ncho một số loại thiết bị điện tử dùng trong thương mại (TCVN 7600 (CISPR 13) và\r\nTCVN 7492-1 (CISPR 14-1)). Tuy nhiên, phương pháp này không phải là không có\r\ncác chỉ trích. Ví dụ, trong [2] mô tả một số hạn chế của phương pháp và nêu các\r\ngợi ý về việc cải thiện phương pháp này. Hiệu lực của "mô hình đường\r\ntruyền dẫn" của phương pháp đo sử dụng kẹp ở tần số cao hơn cũng được phê\r\nphán trong tài liệu này.
\r\n\r\nPhương pháp đo sử dụng kẹp hấp thụ cũng có\r\ních cho mục đích thử nghiệm sơ bộ sự phù hợp. Tuy nhiên, mối quan hệ giữa kết\r\nquả của phương pháp kẹp hấp thụ và phương pháp phát bức xạ không thể luôn dễ\r\ndàng xác định được, do độ không đảm bảo đo tương đối lớn và các loại nguồn gây\r\nra không đảm bảo khác kèm theo cả hai phương pháp.
\r\n\r\nTrong thập kỷ trước, độ không đảm bảo đo và\r\nkhả năng tái lập của phương pháp đo EMC nói chung đã trở thành một vấn đề rất\r\nquan trọng. Điều này do thực tế là phép đo EMC phải chịu độ không đảm bảo đo\r\nvốn có tương đối lớn và cơ quan công nhận yêu cầu phải đưa độ không đảm bảo đo\r\nvào tiêu chí phù hợp. Với phương pháp hiệu chuẩn kẹp và phương pháp đo sử dụng\r\nkẹp, điều này cũng thúc đẩy sự cải tiến, tức là giảm độ không đảm bảo liên quan\r\nđến phương pháp đo sử dụng kẹp và phương pháp hiệu chuẩn kẹp.
\r\n\r\nCác kết quả của nghiên cứu mở rộng về độ\r\nkhông đảm bảo đo của việc hiệu chuẩn và sử dụng kẹp hấp thụ được báo cáo trong\r\n[3]. Nhiều đại lượng ảnh hưởng khảo sát bằng thực nghiệm và cho các gợi ý để\r\ncải tiến, ví dụ như:
\r\n\r\n• áp dụng thiết bị hấp thụ thứ cấp (SAD);
\r\n\r\n• giữ dây dẫn cần thử nghiệm ở giữa kẹp;
\r\n\r\n• các vật thể và người vận hành phải cách bố\r\ntrí này 1 m;
\r\n\r\n• áp dụng bộ suy giảm 6 dB trực tiếp tại đầu\r\nra của kẹp.
\r\n\r\nBa gợi ý sau được kết hợp với phương pháp đo\r\nsử dụng kẹp và trong phương pháp hiệu chuẩn kẹp. Thiết bị hấp thụ thứ cấp được\r\náp dụng trong hiệu chuẩn kẹp và đánh giá hiệu lực của vị trí thử nghiệm kẹp.
\r\n\r\nCuối cùng, cần chú ý là do không có mô hình\r\nhiệu lực của phương pháp đo sử dụng kẹp và thiếu kiến thức về hệ số nhạy thực\r\ngắn với từng đại lượng ảnh hưởng nên việc đánh giá độ không đảm bảo đo trên cơ\r\nsở mô hình là rất khó khăn.
\r\n\r\nA.4. Tài liệu tham khảo
\r\n\r\n[1] Meyer De Stadelhofen, J. A new device for\r\nradio interference measurements at VHF: the absorbing clamp. Proceedings, IEEE\r\nInt. EMC Symposium, 1969, p.189-193.
\r\n\r\n[2] Kwan, HK. A theory of operation of the\r\nCISPR absorbing clamp. Proceedings of the IEE Symposium on EMC, 1988,\r\np.141-143.
\r\n\r\n[3] Williams, T. Calibration and use of the\r\nCISPR absorbing clamp. EMC Europe Symposium, Brugge, 2000, pp 527-532.
\r\n\r\n\r\n\r\n
B.1. Lời giới thiệu
\r\n\r\nKhi sử dụng các máy phân tích phổ và thiết bị\r\nđo quét, phải tính đến các đặc tính sau:
\r\n\r\nB.2. Quá tải
\r\n\r\nHầu hết các máy phân tích phổ không chọn trước\r\nRF trong dải tần đến 2 000 MHz; điều này nghĩa là, tín hiệu đầu vào được cấp\r\ntrực tiếp cho bộ trộn băng rộng. Để ngăn ngừa quá tải, tránh làm hỏng và để máy\r\nphân tích phổ làm việc tuyến tính, biên độ tín hiệu ở bộ trộn phải nhỏ hơn 150\r\nmV, giá trị đỉnh. Suy giảm RF hoặc bổ sung chọn trước RF có thể cần thiết để\r\ngiảm tín hiệu đầu vào đến mức này.
\r\n\r\nB.3. Thử nghiệm tính tuyến tính
\r\n\r\nTính tuyến tính có thể được đo bằng cách đo\r\nmức tín hiệu cụ thể đang nghiên cứu và lặp lại phép đo này sau bộ suy giảm X dB\r\ntại đầu vào thiết bị đo hoặc, nếu sử dụng, bộ tiền khuếch đại (X ≥ 6 dB). Số đọc\r\nmới của thiết bị đo được hiển thị do có X dB chỉ sai khác so với số đọc ban đầu\r\nkhông quá ± 0,5 dB khi hệ thống đo là tuyến tính.
\r\n\r\nB.4. Độ chọn lọc
\r\n\r\nBộ phân tích phổ và bộ đo quét phải có độ\r\nrộng băng tần được quy định trong TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1) để đo đúng tín\r\nhiệu băng rộng và các tín hiệu xung và nhiễu băng hẹp có một số thành phần phổ\r\nnằm trong độ rộng băng tần tiêu chuẩn.
\r\n\r\nB.5. Đáp tuyến thông thường với xung
\r\n\r\nĐáp tuyến của máy phân tích phổ và thiết bị\r\nđo quét có tách sóng tựa-đỉnh có thể được kiểm tra với các xung thử nghiệm hiệu\r\nchuẩn quy định trong TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1). Điện áp đỉnh lớn của các\r\nxung thử nghiệm hiệu chuẩn thường đòi hỏi việc đặt bộ suy giảm RF là 40 dB hoặc\r\nlớn hơn để thỏa mãn yêu cầu về tuyến tính. Việc này làm giảm độ nhạy và làm cho\r\nphép đo có tốc độ lặp thấp, không thể tách các xung thử nghiệm hiệu chuẩn đối\r\nvới băng tần B, C và D. Nếu dùng bộ lọc chọn trước đặt trước thiết bị đo, thì\r\nmức suy giảm RF có thể giảm. Bộ lọc hạn chế độ rộng phổ của xung thử nghiệm hiệu\r\nchuẩn khi nhìn từ phía bộ trộn.
\r\n\r\nB.6. Tách sóng đỉnh
\r\n\r\nPhương thức tách sóng (đỉnh) thông thường của\r\nthiết bị phân tích phổ cung cấp chỉ số hiển thị, về cơ bản, không nhỏ hơn chỉ\r\nsố tựa đỉnh. Điều này thuận lợi cho việc đo phát xạ sử dụng tách sóng đỉnh vì\r\nnó cho phép quét tần số nhanh hơn tách sóng tựa đỉnh. Sau đó, cần đo lại các\r\ntín hiệu gần với giới hạn phát xạ bằng cách sử dụng tách sóng tựa đỉnh để ghi\r\nlại các biên độ tựa đỉnh.
\r\n\r\nB.7. Tốc độ quét tần số
\r\n\r\nTốc độ quét của thiết bị phân tích phổ hoặc\r\nthiết bị đo quét cần được hiệu chỉnh với băng tần CISPR và phương thức tách\r\nsóng sử dụng. Thời gian quét nhỏ nhất/tần số hoặc tốc độ quét nhanh nhất được\r\nliệt kê trong bảng sau:
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Đối với thiết bị phân tích phổ hoặc thiết bị\r\nđo quét sử dụng ở phương thức không quét được chỉnh cố định, thời gian quét\r\nhiển thị có thể được hiệu chỉnh không phụ thuộc vào phương thức tách sóng vào\r\ntheo yêu cầu theo dõi tác động của phát xạ. Nếu mức nhiễu không ổn định, thì số\r\nđọc trên thiết bị đo phải được quan sát trong ít nhất 15 s để xác định giá trị\r\nlớn nhất (xem 6.4.1).
\r\n\r\nB.8. Thu tín hiệu
\r\n\r\nPhổ của phát xạ gián đoạn có thể thu được với\r\ntách sóng đỉnh và lưu giữ hiển thị kỹ thuật số nếu được cung cấp. Việc quét tần\r\nsố nhanh, nhiều lần rút ngắn thời gian thu phát xạ so với quét tần số chậm, một\r\nlần. Thời gian bắt đầu quét cần được biến đổi nhằm tránh trùng lặp với phát xạ\r\nvà do đó che lấp nó. Tổng thời gian theo dõi đối với dải tần cho trước phải dài\r\nhơn thời gian giữa các phát xạ. Tùy theo loại nhiễu cần đo, các phép đo tách\r\nsóng đỉnh có thể thay thế toàn bộ hoặc một phần các phép đo cần sử dụng tách\r\nsóng tựa đỉnh. Sau đó, cần thực hiện việc thử nghiệm lại, sử dụng bộ tách sóng\r\ntựa-đỉnh ở các tần số mà thu được phát xạ lớn nhất.
\r\n\r\nB.9. Tách sóng trung bình
\r\n\r\nTách sóng trung bình với thiết bị phân tích\r\nphổ đạt được bằng cách giảm độ rộng băng tần tín hiệu hình cho đến khi không\r\nnhìn thấy sự san bằng tín hiệu hiển thị. Thời gian quét phải tăng cùng với việc\r\ngiảm độ rộng băng tần tín hiệu hình để duy trì hiệu chuẩn biên độ. Đối với các\r\nphép đo như vậy, thiết bị đo phải được sử dụng bộ tách sóng theo phương thức\r\ntuyến tính. Sau khi thực hiện việc tách sóng tuyến tính, tín hiệu có thể được\r\nxử lý theo lôga để hiển thị, trong trường hợp đó, giá trị được hiệu chỉnh ngay\r\ncả khi nó là hàm lôga của tín hiệu tách sóng tuyến tính.
\r\n\r\nPhương thức hiển thị biên độ dạng lôga có thể\r\nđược sử dụng, ví dụ, để phân biệt tốt hơn giữa tín hiệu băng hẹp và tín hiệu\r\nbăng rộng. Giá trị hiển thị là giá trị trung bình của hình bao tín hiệu méo IF\r\ntheo lôga. Nó dẫn đến sự tắt dần của tín hiệu băng rộng nhanh hơn là theo phương\r\nthức tách sóng tuyến tính mà không ảnh hưởng đến giá trị hiển thị của tín hiệu\r\nbăng hẹp. Việc lọc tín hiệu hình theo phương thức lôgarit, vì thế, đặc biệt có\r\ních cho việc đánh giá thành phần băng hẹp trong phổ có chứa cả hai dạng.
\r\n\r\nB.10. Độ nhạy
\r\n\r\nĐộ nhạy có thể tăng với khuếch đại sơ bộ RF\r\ntạp thấp đặt trước thiết bị phân tích phổ. Mức tín hiệu đầu vào bộ khuếch đại\r\ncần được điều chỉnh bằng bộ suy giảm để thử nghiệm tính tuyến tính của toàn bộ\r\nhệ thống đối với tín hiệu đang nghiên cứu.
\r\n\r\nĐộ nhạy với phát xạ băng tần cực rộng, đòi\r\nhỏi suy giảm RF lớn để đạt được tuyến tính hệ thống sẽ tăng lên với bộ lọc chọn\r\ntrước RF đặt trước thiết bị phân tích phổ. Bộ lọc làm giảm biên độ đỉnh của\r\nphát xạ băng rộng và có thể sử dụng suy giảm RF nhỏ hơn. Các bộ lọc này có thể\r\ncần thiết để loại bỏ hoặc làm giảm tín hiệu mạnh ngoài băng tần và các sản phẩm\r\nđiều biến tương hỗ do chúng gây ra. Nếu các bộ lọc này được sử dụng thì chúng\r\nphải được hiệu chuẩn với tín hiệu băng rộng.
\r\n\r\nB.11. Độ chính xác về biên độ
\r\n\r\nĐộ chính xác về biên độ của thiết bị phân\r\ntích phổ hoặc thiết bị đo quét có thể được kiểm tra bằng cách sử dụng máy phát\r\ntín hiệu, dụng cụ đo công suất và bộ suy giảm chính xác. Các đặc tính của trang\r\nthiết bị, cáp và tổn hao do không phối hợp trở kháng phải được phân tích để\r\nđánh giá sai số trong thử nghiệm kiểm tra.
\r\n\r\n\r\n\r\n
C.1. Yêu cầu chung
\r\n\r\nPhụ lục này nêu hướng dẫn về việc chọn tốc độ\r\nquét và thời gian đo khi đo nhiễu xung bằng bộ tách sóng trung bình.
\r\n\r\nBộ tách sóng trung bình có mục đích dưới đây:
\r\n\r\na) khử tạp xung và vì vậy mở rộng phép đo\r\nthành phần CW trong tín hiệu nhiễu cần đo b) khử điều biên (AM) để đo mức mang\r\ncủa tín hiệu điều biên
\r\n\r\nc) chỉ ra số đọc giá trị đỉnh có trọng số đối\r\nvới nhiễu băng hẹp không liên tục, không ổn định hoặc nhiễu trôi sử dụng hằng\r\nsố thời gian của đồng hồ đo tiêu chuẩn hóa.
\r\n\r\nĐiều 6 của tiêu chuẩn này định nghĩa máy thu\r\nđo trung bình ở dải tần từ 9 kHz đến 1 GHz.
\r\n\r\nĐể chọn độ rộng băng tần tín hiệu hình thích\r\nhợp và tốc độ quét hoặc thời gian đo tương ứng, áp dụng các xem xét dưới đây:
\r\n\r\nC.1.1. Khử nhiễu xung
\r\n\r\nĐộ rộng xung Tp của nhiễu\r\nxung thường được xác định bằng độ rộng băng tần IF Bres: Tp\r\n= 1/Bres. Để khử tạp này, hệ số khử nhiễu a được xác định nhờ\r\nđộ rộng băng tần tín hiệu hình Bvideo tương đối so với độ rộng băng tần IF: a =\r\n20lg (Bres/ Bvideo). Bvideo\r\nđược xác định bằng độ rộng băng tần của bộ lọc thông thấp sau bộ tách sóng bao.\r\nĐể có xung dài hơn, hệ số khử nhiễu phải thấp hơn a. Thời gian quét nhỏ nhất Ts\r\nmin (và tốc độ quét lớn nhất Rs max) được xác định bằng công\r\nthức sau:
\r\n\r\ntrong đó, ∆f là khoảng tần số và k là hệ số\r\ntỷ lệ, phụ thuộc vào tốc độ của máy thu đo/bộ phân tích phổ.
\r\n\r\nĐể có thời gian quét dài hơn, k phải gần với\r\n1. Nếu chọn độ rộng băng tần tín hiệu hình là 100 Hz thì phải đạt được tốc độ\r\nquét lớn nhất và hệ số khử xung lớn nhất cho trong Bảng C.1.
\r\n\r\n| \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Dải tần \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Độ rộng băng tần IF Bres \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Độ rộng băng tần tín hiệu hình Bvideo \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Tốc độ quét lớn nhất \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Hệ số khử nhiễu lớn nhất \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Có thể áp dụng bảng này cho tiêu chuẩn sản\r\nphẩm có yêu cầu các giới hạn tựa đỉnh và giới hạn trung bình trong băng tần B\r\n(và C) nếu có khả năng có xung ngắn trong tín hiệu nhiễu. Phải thể hiện sự phù\r\nhợp của EUT với cả hai giới hạn này. Nếu tần số lặp xung lớn hơn 100 Hz và giới\r\nhạn tựa đỉnh không bị vượt quá do nhiễu xung thì các xung ngắn được khử thích\r\nhợp đối với tách sóng trung bình có độ rộng băng tần tín hiệu hình là 100 Hz.
\r\n\r\nC.1.2. Khử nhiễu xung bằng cách lấy trung\r\nbình số học
\r\n\r\nTách sóng trung bình có thể thực hiện được\r\nbằng cách lấy trung bình số học của biên độ tín hiệu hiệu quả. Khử nhiễu tương\r\nđương có hiệu quả có thể đạt được nếu thời gian lấy trung bình bằng với nghịch đảo\r\ncủa độ rộng băng tần bộ lọc tín hiệu hình. Trong trường hợp này, hệ số khử\r\nnhiễu a = 20 lg (Tav * Bres), trong đó Tav là\r\nthời gian lấy trung bình (hoặc thời gian đo) tại tần số nhất định. Do đó, thời\r\ngian đo bằng 10 ms sẽ cho hệ số khử nhiễu giống như độ rộng băng tần tín hiệu\r\nhình 100 Hz. Lấy trung bình số học có thuận lợi là thời gian trễ bằng 0 khi\r\nchuyển từ tần số này sang tần số khác. Mặt khác, để lấy trung bình của tần số\r\nlặp xung nhất định fp thì kết quả có thể biến đổi tùy thuộc vào n\r\nhoặc n+1 xung được tính trung bình. ảnh hưởng này là nhỏ hơn 1 dB nếu Tav*fp\r\n> 10.
\r\n\r\nC.2. Khử điều biên
\r\n\r\nĐể đo sóng mang của tín hiệu điều biến, phải\r\nkhử điều biên bằng cách lấy trung bình tín hiệu trong một thời gian đủ dài hoặc\r\nbằng cách sử dụng bộ lọc tín hiệu hình với sự suy giảm thích hợp tại tần số\r\nthấp nhất. Nếu fm là tần số điều biến nhỏ nhất và nếu giả thiết là\r\nsai số đo lớn nhất do điều biến 100 % được giới hạn ở 1 dB thì thời gian đo Tm\r\nnên là Tm = 10 / fm.
\r\n\r\nC.3. Phép đo nhiễu băng hẹp gián đoạn, không\r\nổn định hoặc trôi chậm
\r\n\r\nTrong 6.4.3 của TCVN 6989-1-1 (CISPR 16-1-1)\r\nđáp tuyến của nhiễu băng hẹp gián đoạn, không ổn định hoặc trôi được xác định\r\nbằng cách sử dụng giá trị đọc đỉnh với hằng số thời gian của đồng hồ đo là 160\r\nms (đối với băng tần A và B) và 100 ms (đối với băng tần C và D). Các hằng số\r\nthời gian này tương ứng với độ rộng băng tần bộ lọc tín hiệu hình thứ hai tương\r\nứng là 0,64 Hz hoặc 1 Hz. Để có phép đo đúng, các độ rộng băng tần này đòi hỏi\r\nthời gian đo rất dài (xem Bảng C.2).
\r\n\r\n| \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Dải tần \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Độ rộng băng tần IF Bres \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Hằng số thời gian của đồng hồ đo \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Độ rộng băng tần tín hiệu hình Bvideo \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Tốc độ quét lớn nhất \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
Tuy nhiên, chỉ có thể áp dụng bảng này cho\r\ncác tần số lặp xung bằng 5 Hz hoặc nhỏ hơn. Đối với tất cả các độ rộng xung và\r\ntần số điều biến cao hơn, có thể sử dụng độ rộng băng tần bộ lọc tín hiệu hình\r\ncao hơn (xem C.1.1). Hình C.1 và C.2 biểu thị hàm trọng số của xung có độ rộng\r\n10 ms so với tần số lặp xung fp có số đọc giá trị đỉnh ("CISPR AV")\r\nvà lấy trung bình thực tế ("AV") đối với hằng số thời gian của đồng\r\nhồ đo là 160 ms (Hình C.1) và 100 ms (Hình C.2).
\r\n\r\nMức tương đối, dB
\r\n\r\n![](\"00910226_files/image012.jpg\")
\r\nvà tách sóng trung bình có số đọc đỉnh ("CISPR AV") và không có số\r\nđọc đỉnh ("AV"):
\r\nhằng số thời gian của đồng hồ đo là 160 ms
Mức tương đối, dB
\r\n\r\n![](\"00910226_files/image013.jpg\")
\r\nvà tách sóng trung bình có số đọc đỉnh ("CISPR AV") và không có số\r\nđọc đỉnh ("AV"):
\r\nhằng số thời gian của đồng hồ đo là 100 ms
Hình C.1 và C.2 hàm ý là chênh lệch giữa tách\r\nsóng trung bình có giá trị đọc đỉnh ("CISPR AV") và không có giá trị\r\nđọc đỉnh ("AV") tăng khi tần số lặp xung fp giảm. Hình C.3\r\nvà C.4 thể hiện chênh lệch với fp = 1 Hz là hàm của độ rộng xung.
\r\n\r\nMức tương đối, dB
\r\n\r\n![](\"00910226_files/image014.jpg\")
Mức tương đối, dB
\r\n\r\n![](\"00910226_files/image015.jpg\")
C.4. Quy trình khuyến cáo dùng cho phép đo tự\r\nđộng hoặc bán tự động
\r\n\r\nKhi đo EUT không phát ra nhiễu băng hẹp gián\r\nđoạn, không ổn định hoặc trôi chậm thì nên đo bằng bộ tách sóng trung bình sử\r\ndụng độ rộng băng tần bộ lọc tín hiệu hình, ví dụ 100 Hz, tức là thời gian tính\r\ntrung bình ngắn trong suốt quy trình quét sơ bộ. Tại tần số mà phát xạ ở gần\r\ngiới hạn trung bình thì nên thực hiện phép đo kết thúc sử dụng độ rộng băng tần\r\nbộ lọc tín hiệu hình thấp hơn, tức là thời gian tính trung bình dài hơn. (Đối\r\nvới quy trình đo quét sơ bộ/đo kết thúc, xem thêm điều 8 của tiêu chuẩn này).
\r\n\r\nĐối với nhiễu băng hẹp gián đoạn, không ổn\r\nđịnh hoặc trôi chậm thì phép đo bằng tay là giải pháp được ưu tiên.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Lời nói đầu
\r\n\r\nLời giới thiệu
\r\n\r\n1. Phạm vi áp dụng
\r\n\r\n2. Tài liệu viện dẫn
\r\n\r\n3. Thuật ngữ và định nghĩa
\r\n\r\n4. Các loại nhiễu cần đo
\r\n\r\n5. Đấu nối thiết bị đo
\r\n\r\n6. Yêu cầu chung về các phép đo và điều kiện\r\nđo
\r\n\r\n7. Phép đo sử dụng kẹp hấp thụ
\r\n\r\n8. Phép đo tự động về phát xạ
\r\n\r\nPhụ lục A (tham khảo) – Lịch sử về phương\r\npháp đo công suất nhiễu do các thiết bị điện gia dụng và các thiết bị tương tự\r\ngây ra trong dải tần VHF
\r\n\r\nPhụ lục B (tham khảo) – Sử dụng máy phân tích\r\nphổ và máy thu quét
\r\n\r\nPhụ lục C (tham khảo) – Tốc độ quét và thời\r\ngian đo sử dụng với bộ tách sóng trung bình
\r\n\r\n\r\n\r\n
\r\n\r\n
1\r\nCon số trong ngoặc đề cập đến tài liệu tham khảo trong A.4 tại cuối phụ lục\r\nnày.
\r\n\r\nFile gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6989-2-2:2008 (CISPR 16-2-2 : 2005) về Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Phần 2-2: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm – Đo công suất nhiễu đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6989-2-2:2008 (CISPR 16-2-2 : 2005) về Yêu cầu kỹ thuật đối với thiết bị đo và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm tần số rađiô – Phần 2-2: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm – Đo công suất nhiễu
Tóm tắt
| Cơ quan ban hành | Đã xác định |
| Số hiệu | TCVN6989-2-2:2008 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 2008-01-01 |
| Ngày hiệu lực | |
| Lĩnh vực | Xây dựng - Đô thị |
| Tình trạng | Còn hiệu lực |