Lời nói đầu
\r\n\r\nTCVN 6749-1 : 2009 thay thế TCVN 6749-1:\r\n2000;
\r\n\r\nTCVN 6749-1 : 2009 hoàn toàn tương đương với\r\nIEC 60384-1: 2008; TCVN 6749-1: 2009 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia\r\nTCVN/TC/E3 Thiết bị điện tử dân dụng biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo\r\nlường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.
\r\n\r\n1.1. Phạm vi áp dụng
\r\n\r\nTiêu chuẩn này là một yêu cầu kỹ thuật chung\r\nvà áp dụng cho các tụ điện không đổi dùng trong thiết bị điện tử.
\r\n\r\nTiêu chuẩn này quy định các thuật ngữ tiêu\r\nchuẩn, các quy trình kiểm tra và các phương pháp thử nghiệm dùng trong các yêu\r\ncầu kỹ thuật cụ thể và yêu cầu kỹ thuật từng phần của các linh kiện điện tử để\r\nđánh giá chất lượng hoặc mục đích khác.
\r\n\r\n1.2. Tài liệu viện dẫn
\r\n\r\nCác tài liệu viện dẫn sau đây là cần thiết\r\ncho việc áp dụng tiêu chuẩn. Đối với các tài liệu ghi năm công bố thì áp dụng\r\ncác bản được nêu. Đối với các tài liệu không ghi năm công bố thì áp dụng bản\r\nmới nhất, bao gồm cả các sửa đổi.
\r\n\r\nIEC 60027, Letter symbols to be used in\r\nelectrical technology (Ký hiệu bằng chữ dùng trong kỹ thuật điện)
\r\n\r\nTCVN 8095 (IEC 60050) (tất cả các phần), Từ\r\nvựng kỹ thuật điện quốc tế (IEV) TCVN 6747 (EC 60062), Hệ thống mã dùng cho\r\nđiện trở và tụ điện
\r\n\r\nIEC 60063, Preferred number series for\r\nresistors and capacitors (Dãy số ưu tiên đối với điện trở và tụ điện)
\r\n\r\nTCVN 7699-1: 2007 (IEC 60068-1:1988), Thử\r\nnghiệm môi trường - Phần 1: Quy định chung và hướng dẫn
\r\n\r\nTCVN 7699-2-1 : 2007 (IEC 60068-2-1: 2007),\r\nThử nghiệm môi trường - Phần 2-1: Các thử nghiệm - Thử nghiệm A: Lạnh
\r\n\r\nIEC 60068-2-2: 2007, Environmental testing -\r\nPart 2: Tests - Tests B: Dry heat (Thử nghiệm môi trường - Phần 2-2: Các thử\r\nnghiệm - Thử nghiệm B: Nóng khô)
\r\n\r\nTCVN 7699-2-6: 2009 (IEC 60068-2-6: 2007),\r\nThử nghiệm môi trường - Phần 2-6: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Fc: Rung (hình\r\nsin))
\r\n\r\nTCVN 7699-2-13 : 2007 ( IEC 60068-2-13:1983),\r\nThử nghiệm môi trường - Phần 2-13, Các thử nghiệm - Thử nghiệm M: áp suất không\r\nkhí thấp
\r\n\r\nTCVN 7699-2-14 : 2007 (IEC 60068-2-14:1984),\r\nThử nghiệm môi trường - Phần 2-14, Các thử nghiệm - Thử nghiệm N: Thay đổi\r\nnhiệt độ
\r\n\r\nIEC 60068-2-17: 1994, Environmental testing -\r\nPart 2-17: Tests - Tests Q: Sealing (Thử nghiệm môi trường - Phần 2-17: Các thử\r\nnghiệm - Thử nghiệm Q: Gắn kín)
\r\n\r\nIEC 60068-2-20: 1979, Environmental testing -\r\nPart 2-20: Tests - Test T: Soldering (Thử nghiệm môi trường - Phần 2-20, Các\r\nthử nghiệm - Thử nghiệm T: Hàn thiếc)
\r\n\r\nIEC 60068-2-21: 2006, Environmental testing -\r\nPart 2: Tests - Test U: Robustness of terminations and integral mounting\r\ndevices (Thử nghiệm môi trường - Phần 2-21, Các thử nghiệm - Thử nghiệm U: Độ\r\nvững chắc của các chân và cơ cấu lắp đặt không tháo rời được)
\r\n\r\nTCVN 7699-2-27: 2007 (IEC 60068-2-27:1987),\r\nThử nghiệm môi trường - Phần 2-27, Các thử nghiệm - Thử nghiệm Ea và hướng dẫn:\r\nXóc
\r\n\r\nTCVN 7699-2-29: 2007 (IEC 60068-2-29: 1987),\r\nThử nghiệm môi trường - Phần 2-29: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Eb và hướng dẫn:\r\nVa đập
\r\n\r\nTCVN 7699-2-30: 2007 (IEC 60068-2-30: 2005), Thử\r\nnghiệm môi trường - Phần 2-30: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Db: Nóng ẩm, chu kỳ\r\n(12 h + chu kỳ 12 h)
\r\n\r\nTCVN 7699-2-45 : 2007 (IEC 60068-2-45: 1980),\r\nThử nghiệm môi trường - Phần 2-45: Các thử nghiệm - Thử nghiệm XA và hướng dẫn:\r\nNgâm trong dung môi làm sạch
\r\n\r\nIEC 60068-2-54: 2006, Environmental testing -\r\nPart 2-54: Tests - Test Ta: Solderability testing of electronic components by\r\nthe wetting balance method (Thử nghiệm môi trường - Phần 2-54: Các thử nghiệm -\r\nThử nghiệm Ta: Thử nghiệm khả năng hàn của linh kiện điện tử bằng phương pháp\r\ncân bằng ướt)
\r\n\r\nIEC 60068-2-58: 2005, Environmental testing -\r\nPart 2-58: Tests . Test Td: Solderability, resistance to dissolution of\r\nmetallization and to soldering heat of Surface Mounting Devices (SMD) (Thử\r\nnghiệm môi trường - Phần 2-58: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Td: Khả năng hàn,\r\nkhả năng chịu hoàn tan của kim loại và khả năng chịu nhiệt khi hàn của cơ cấu\r\ndùng để lắp đặt bề mặt (SMD))
\r\n\r\nIEC 60068-2-69: 2007, Environmental testing -\r\nPart 2-69: Tests - Test Te: Solderability testing of electronic components for\r\nsurface mounting devices (SMD) by the wetting balance method (Thử nghiệm môi\r\ntrường - Phần 2-69: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Te: Thử nghiệm khả năng hàn của\r\ncác linh kiện điện tử dùng cho thiết bị lắp đặt bề mặt (SMD) bằng phương pháp\r\ncân bằng ướt)
\r\n\r\nTCVN 7699-2-78 : 2007 (IEC 60068-2-78:2001),\r\nThử nghiệm môi trường - Phần 2-78: Các thử nghiệm - Thử nghiệm Cab: Thử nghiệm\r\nnóng ẩm, không đổi
\r\n\r\nIEC 60294: 1969, Measurement of the\r\ndimensions of a cylindrical component having two axial terminations (Phương\r\npháp đo kích thước của linh kiện hình trụ có hai chân theo trục)
\r\n\r\nIEC 60410:1973, Sampling plans and procedures\r\nfor inspection by attributes (Kế hoạch lấy mẫu và quy trình lấy mẫu để kiểm tra\r\nđịnh tính)
\r\n\r\nTCVN 7922: 2008 (IEC 60617: 2002), Ký hiệu\r\nbằng hình vẽ trên sơ đồ
\r\n\r\nIEC 60695-11-5: 2004, Fire hazard testing -\r\nPart 11-5: Test flames - Needle-flame test method - Apparatus, confirmatory\r\ntest arrangement and guidance (Thử nghiệm nguy cơ cháy - Phần 11-5: Ngọn lửa\r\nthử nghiệm - Phương pháp thử nghiệm ngọn lửa hình kim - Trang bị, bố trí thử\r\nnghiệm xác nhận và hướng dẫn)
\r\n\r\nIEC 60717, Method for the determination of\r\nthe space requyred by capacitors and resistors with unidirectional termination\r\n(Phương pháp xác định không gian yêu cầu bởi tụ điện và điện trở có chân nối đơn\r\nhướng)
\r\n\r\nIEC 61193-2: 2007, Quality assessment systems\r\n- Part 2: Selection and use of sampling plans for inspection of electronic\r\ncomponents and packages (Hệ thống đánh giá chất lượng - Phần 2: Chọn và sử dụng\r\nkế hoạch lấy mẫu để kiểm tra các linh kiện điện tử và bao gói)
\r\n\r\nIEC 61249-2-7: 2005, Materials for printed\r\nboards and other interconnecting structures - Part 2-7: Reinforced base\r\nmaterials clad and unclad - Epoxide woven E-glass laminated sheet of defined\r\nflammability (vertical burning test), copper-clad (Vật liệu dùng làm tấm mạch\r\nin và các kết cấu liên kết khác - Phần 2-7: Vật liệu nền tăng cường có phủ và\r\nkhông phủ - Tấm mỏng bằng len kính E epoxy có tính dễ cháy xác định (thử nghiệm\r\ncháy thẳng đứng), phủ đồng)
\r\n\r\nIEC QC 001002-3, Rules of procedure - Part 3:\r\nApproval procedures (Nguyên tắc của quy trình - Phần 3: Quy trình phê chuẩn)
\r\n\r\nISO 3, Preferred numbers - Series of\r\npreferred numbers (Số ưu tiên - Dãy số ưu tiên)
\r\n\r\nISO 1000, SI units and recommendations for\r\nthe use of their multiples and of certain other units (Hệ đơn vị SI và các\r\nkhuyến cáo dùng cho các bội số của chúng và các hệ đơn vị khác)
\r\n\r\nTCVN ISO 9000: 2007 (ISO 2005), Hệ thống quản\r\nlý chất lượng - Cơ sở và từ vựng
\r\n\r\n\r\n\r\n2.1. Đơn vị và ký hiệu
\r\n\r\nCác đơn vị, ký hiệu bằng hình vẽ và ký hiệu\r\nbằng chữ, nếu áp dụng, phải được lấy theo các tiêu chuẩn sau:
\r\n\r\n- IEC 60027;
\r\n\r\n- TCVN 8095 (IEC 60050);
\r\n\r\n- TCVN 7922 (IEC 60617);
\r\n\r\n- ISO 1000
\r\n\r\nKhi có yêu cầu các thuật ngữ khác, thì các\r\nthuật ngữ đó phải phù hợp với các nguyên tắc của các tài liệu liệt kê trên đây.
\r\n\r\n2.2. Thuật ngữ và định nghĩa
\r\n\r\nTiêu chuẩn này áp dụng các thuật ngữ và định\r\nnghĩa dưới đây.
\r\n\r\n2.2.1. Tụ điện xoay chiều
Tụ điện được thiết kế về cơ bản dùng cho ứng\r\ndụng với điện áp xoay chiều.
\r\n\r\n2.2.2. Tụ điện lưỡng cực
Tụ điện phân được thiết kế để chịu được điện\r\náp xoay chiều và/hoặc điện áp một chiều có đổi hướng đặt lên tụ điện.
\r\n\r\n2.2.3. Mức về khả năng cháy thụ động
Mức về khả năng cháy thụ động được cho bởi\r\nthời gian cháy dài nhất sau khi đặt ngọn lửa trong thời gian quy định.
\r\n\r\n2.2.4. Dải nhiệt độ mức
Dải nhiệt độ môi trường mà tụ điện được thiết\r\nkế để làm việc liên tục; được cho bởi nhiệt độ mức dưới và mức trên.
\r\n\r\n2.2.5. Điện áp mức Uc
Điện áp lớn nhất có thể đặt liên tục vào tụ\r\nđiện tại nhiệt độ mức trên của tụ (xem 2.2.14).
\r\n\r\n2.2.6. Tụ điện một chiều
Tụ điện được thiết kế về cơ bản dùng cho ứng\r\ndụng với điện áp một chiều.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Tụ điện một chiều có thể không\r\nthích hợp để sử dụng cho nguồn cung cấp xoay chiều.
\r\n\r\n2.2.7. Họ (của linh kiện điện tử) (family (of\r\nelectronic components)
\r\n\r\nNhóm các linh kiện điện tử có đặc tính vật lý\r\ntrội hơn hẳn và/hoặc thỏa mãn một chức năng xác định.
\r\n\r\n2.2.8. Hạng (grade)
\r\n\r\nThuật ngữ chỉ các đặc tính chung bổ sung liên\r\nquan đến việc sử dụng dự kiến của linh kiện.
\r\n\r\n2.2.9. Tụ điện cách điện
Tụ điện trong đó tất cả các chân của ngăn có\r\nthể tăng đến hiệu điện thế (nhưng không nhỏ hơn điện áp danh định) từ hiệu điện\r\nthế của bất kỳ bề mặt dẫn nào mà vỏ có thể tiếp xúc trong sử dụng bình thường.
\r\n\r\n2.2.10. Nhiệt độ mức dưới
Nhiệt độ môi trường xung quanh nhỏ nhất mà tụ\r\nđiện được thiết kế để làm việc liên tục.
\r\n\r\n2.2.11. Nhiệt độ lưu giữ lớn nhất
Nhiệt độ môi trường xung quanh lớn nhất mà tụ\r\nđiện chịu được trong điều kiện không làm việc mà không bị hư hại.
\r\n\r\n2.2.12. Nhiệt độ cao nhất của tụ điện
CHÚ THÍCH: Các chân được coi như một phần của\r\nmặt ngoài tụ điện.
\r\n\r\n2.2.13. Nhiệt độ lưu giữ nhỏ nhất
Nhiệt độ môi trường xung quanh nhỏ nhất cho\r\nphép mà tụ điện chịu được trong điều kiện không làm việc mà không bị hư hại.
\r\n\r\n2.2.14. Nhiệt độ thấp nhất của tụ điện
CHÚ THÍCH: Các chân được coi như một phần của\r\nmặt ngoài tụ điện.
\r\n\r\n2.2.15. Điện dung danh nghĩa (CN)
Giá trị điện dung được ấn định thường được\r\nchỉ ra trên tụ điện.
\r\n\r\n2.2.16. Khả năng cháy thụ động
Khả năng cháy thành ngọn lửa của tụ điện do\r\nđặt nguồn nhiệt bên ngoài.
\r\n\r\n2.2.17. Tụ điện phân cực
2.2.18. Tụ điện xung
Tụ điện làm việc với các xung dòng điện hoặc\r\nđiện áp.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: áp dụng các định nghĩa của IEC\r\n60469-1 và IEC 60469-2.
\r\n\r\n2.2.19. Mạch tương đương xung của tụ điện
Mạch tương đương của tụ điện gồm có tụ điện\r\nlý tưởng mắc nối tiếp với điện cảm dư và điện trở nối tiếp tương đương (ESR).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đối với chế độ xung, điện trở nối\r\ntiếp tương đương không giống hoàn toàn ESR đo ở điện áp hình sin. Xung ESR phải\r\ntính đến chuỗi các hài trong xung và sự thay đổi của tổn hao theo tần số.
\r\n\r\n2.2.20. Tải xoay chiều danh định
Tải xoay chiều hình sin lớn nhất có thể đặt\r\nliên tục vào tụ điện tại nhiệt độ bất kỳ trong khoảng nhiệt độ mức dưới và\r\nnhiệt độ danh định (xem 2.2.24); tải xoay chiều danh định có thể được biểu thị\r\nbằng:
\r\n\r\na) điện áp xoay chiều danh định ở tần số\r\nthấp;
\r\n\r\nb) dòng điện xoay chiều danh định ở tần số\r\ncao;
\r\n\r\nc) công suất phản kháng danh định (var) ở tần\r\nsố trung bình.
\r\n\r\nĐiều này được chỉ ra trên hình sau:
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image001.gif\")
CHÚ THÍCH 1: Đối với loại tụ điện cụ thể, có\r\nthể phải quy định một hoặc nhiều đặc tính trên.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Các tụ điện trong phạm vi áp\r\ndụng của yêu cầu kỹ thuật này thường nhỏ hơn 500 var ở tần số 50 Hz đến 60 Hz.\r\nTần số thấp có thể là 50 Hz đến 60 Hz; 100 Hz đến 120 Hz hoặc 400 Hz. Điện áp\r\nhiệu dụng có thể đến 600 V ở 50 Hz đến 60 Hz. Tuy nhiên, các tụ điện dùng cho\r\nbộ lọc, máy phát hoặc mạch chuyển đổi có thể được yêu cầu làm việc ở công suất\r\ntrên toàn bộ dải tần số rộng và đến 10 kvar ở tần số cao hơn với điện áp hiệu\r\ndụng đến 1 000 V.
\r\n\r\n2.2.21. Tải xung danh định
Tải xung danh định là tải xung lớn nhất đặt\r\nlên các chân của tụ điện ở tần số lặp lại xung nhất định tại nhiệt độ bất kỳ\r\ntrong khoảng nhiệt độ mức dưới và nhiệt độ danh định (xem 2.2.24); nó có thể\r\nđược biểu diễn như điểm a) và b) và điểm còn lại bất kỳ:
\r\n\r\na) dòng điện đỉnh trên ![](\"00912408_files/image002.gif\"){kind=small}
(V/
b) khoảng thời gian tương đối của chu kỳ\r\nphóng và nạp điện;
\r\n\r\nc) dòng điện;
\r\n\r\nd) điện áp đỉnh;
\r\n\r\ne) điện áp ngược đỉnh;
\r\n\r\nf) tần số lặp xung (xem chú thích 1);
\r\n\r\ng) công suất tác dụng lớn nhất.
\r\n\r\nCác thông số này không thay đổi theo các xung\r\nchu kỳ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Trong trường hợp xung gián đoạn\r\nphải quy định hệ số lấp đầy. Trong trường hợp xung ngẫu nhiên, phải nêu tổng số\r\nxung có khả năng đi qua trong khoảng thời gian nhất định.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Dòng điện xung hiệu dụng cần\r\nđược tính theo IEC 60469-1, 2.5.2.4. Trong trường hợp các xung gián đoạn hoặc\r\nxung ngẫu nhiên, thời gian nghỉ cần được chọn theo độ tăng nhiệu lớn nhất.
\r\n\r\n2.2.22. Dòng điện nhấp nhô danh định
Giá trị hiệu dụng của dòng điện xoay chiều\r\nlớn nhất cho phép có tần số quy định, tại đó tụ điện có thể làm việc liên tục ở\r\nnhiệt độ quy định.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Vì dòng điện nhấp nhô sinh ra điện\r\náp nhấp nhô qua tụ điện nên tổng điện áp một chiều và giá trị điện áp xoay\r\nchiều đỉnh đặt lên tụ điện không được vượt quá điện áp danh định hoặc điện áp\r\ngiảm thông số nhiệt độ khi áp dụng.
\r\n\r\n2.2.23. Điện áp nhấp nhô danh định
Giá trị hiệu dụng của điện áp xoay chiều lớn\r\nnhất cho phép có tần số quy định xếp chồng lên điện áp một chiều tại đó tụ điện\r\ncó thể làm việc liên tục ở nhiệt độ quy định.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Tổng điện áp một chiều và giá trị\r\nđiện áp xoay chiều đỉnh đặt lên tụ điện không được vượt quá điện áp danh định\r\nhoặc điện áp giảm thông số nhiệt độ khi áp dụng.
\r\n\r\n2.2.24. Nhiệt độ danh định
Nhiệt độ môi trường xung quanh lớn nhất mà\r\ntại đó điện áp danh định có thể đặt liên tục.
\r\n\r\n2.2.25. Điện áp danh định (UR)
2.2.25.1. Điện áp một chiều danh định
Giá trị điện áp một chiều lớn nhất có thể đặt\r\nliên tục vào tụ điện ở nhiệt độ danh định.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Điện áp một chiều lớn nhất là tổng\r\ncủa điện áp một chiều và điện áp xoay chiều giá trị đỉnh hoặc điện áp xung giá\r\ntrị đỉnh đặt lên tụ điện.
\r\n\r\n2.2.25.2. Điện áp xoay chiều danh định
Giá trị điện áp xoay chiều hiệu dụng lớn nhất\r\ncó thể đặt liên tục vào tụ điện ở nhiệt độ danh định và tần số cho trước.
\r\n\r\n2.2.25.3. Điện áp xung danh định
Giá trị đỉnh của điện áp xung trong dạng sóng\r\nxung cho trước có thể đặt liên tục vào tụ điện ở nhiệt độ danh định.
\r\n\r\n2.2.26. Điện áp ngược (chỉ đối với tụ điện\r\nphân cực)\r\n(reverse voltage (for polar capacitors only))
\r\n\r\nĐiện áp đặt vào các chân của tụ điện ngược\r\nvới hướng phân cực.
\r\n\r\n2.2.27. Tự phục hồi
Quá trình mà sau khi bị đánh thủng điện môi\r\ncục bộ, các đặc tính điện nhanh chóng và về cơ bản được phục hồi về các giá trị\r\ntrước khi bị đánh thủng.
\r\n\r\n2.2.28. Kiểu
Sự chia nhỏ của một loại, chủ yếu dựa theo\r\nkích thước, có thể có một vài biến thể khác nhau, thường là về cơ khí.
\r\n\r\n2.2.29. Nhánh (của linh kiện điện tử)
Nhóm các linh kiện trong họ được chế tạo bằng\r\ncùng phương pháp công nghệ.
\r\n\r\n2.2.30. Tụ điện chíp
Tụ điện không đổi có kích thước nhỏ và bản\r\nchất cũng như hình dạng các chân thích hợp cho việc dùng trong mạch lai và tấm\r\nmạch in.
\r\n\r\n2.2.31. Tỷ số điện áp đột biến
Thương số giữa điện áp tức thời lớn nhất có\r\nthể đặt vào các chân của tụ điện trong thời gian quy định ở nhiệt độ bất kỳ nào\r\ntrong dải nhiệt độ mức và điện áp danh định hoặc điện áp không theo nhiệt độ,\r\nnếu có.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Phải quy định số lần có thể đặt\r\nđiện áp này trong 1 h.
\r\n\r\n2.2.32. Tang góc tổn hao (tg
Tổn hao công suất của tụ điện chia cho công\r\nsuất phản kháng của tụ điện ở điện áp hình sin có tần số quy định.
\r\n\r\n2.2.33. Đặc tính nhiệt độ của điện dung
Biên thiên điện dung lớn nhất sinh ra trên dải\r\nnhiệt độ cho trước trong dải nhiệt độ mức, thường được biểu diễn bằng phần trăm\r\ncủa điện dung liên quan đến nhiệt độ chuẩn bằng 20 oC.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thuật ngữ đặc trưng cho tính chất\r\nnày chủ yếu áp dụng cho tụ điện có biến thiên điện dung là hàm của nhiệt độ,\r\ntuyến tính hoặc không tuyến tính, không thể thể hiện theo độ chính xác và độ\r\nđảm bảo.
\r\n\r\n2.2.34. Hệ số nhiệt độ của điện dung (
Tốc độ thay đổi của điện dung theo nhiệt độ\r\nđo trên dải nhiệt độ quy định, thường được biểu diễn bằng phần triệu trên độ\r\nkenvin.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thuật ngữ đặc trưng cho tính chất\r\nnày chủ yếu áp dụng cho tụ điện có biến thiên điện dung là hàm của nhiệt độ,\r\ntuyến tính hoặc gần tuyến tính và không thể thể hiện theo độ chính xác nhất\r\nđịnh.
\r\n\r\n2.2.35. Độ trôi theo chu kỳ nhiệt độ của điện\r\ndung\r\n(temperature cyclic driff of capacitance)
\r\n\r\nSự biến đổi không thuận nghịch lớn nhất của\r\ntụ điện được quan sát ở nhiệt độ phòng trong khi hoặc sau khi hoàn thành một số\r\nlượng các chu kỳ nhiệt độ quy định; độ trôi này thường được biểu diễn là phần\r\ntrăm của tụ điện quy về nhiệt độ chuẩn, thường là 20 oC.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Thuật ngữ đặc trưng cho tính\r\nchất này chủ yếu áp dụng cho tụ điện có biến thiên điện dung là hàm của nhiệt\r\nđộ, tuyến tính hoặc gần tuyến tính và không thể thể hiện theo độ chính xác nhất\r\nđịnh.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Các điều kiện đo, trong hoặc sau\r\nchu kỳ nhiệt độ, bản mô tả chu kỳ nhiệt độ và số lượng chu kỳ, cần được quy\r\nđịnh.
\r\n\r\n2.2.36. Điện áp giảm thông số nhiệt độ
Điện áp lớn nhất có thể đặt liên tục lên tụ\r\nđiện, khi ở bất kỳ nhiệt độ nào từ nhiệt độ danh định đến mức trên (xem Hình\r\n2).
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Thông tin về sự phụ thuộc vào điện\r\náp/nhiệt độ các nhiệt độ từ nhiệt độ danh định đến nhiệt độ mức trên cần được\r\nnêu trong yêu cầu kỹ thuật liên quan, nếu thuộc đối tượng áp dụng.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image003.jpg\")
2.2.37. Độ tăng nhiệt
Độ tăng nhiệt của tụ điện liên quan đến nhiệt\r\nđộ môi trường do tổn hao công suất trong tụ điện vì hoạt động ở điện xoay chiều\r\nhoặc ở điều kiện xung.
\r\n\r\n2.2.38. Hằng số thời gian
Tích của điện trở cách điện và điện dung và\r\nthường được biểu thị bằng giây.
\r\n\r\n2.2.39. Loại
Nhóm linh kiện có cùng đặc điểm thiết kế và\r\ncông nghệ chế tạo, cho phép nhóm lại để kiểm tra phê chuẩn chất lượng hoặc kiểm\r\ntra phù hợp chất lượng. Chúng được đề cập chung bằng một quy định cụ thể.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Các linh kiện được mô tả trong một\r\nsố quy định cụ thể, có thể trong một vài trường hợp, được xem như cùng loại.
\r\n\r\n2.2.40. Tụ điện không cách điện
Tụ điện có tất cả các chân của một ngăn không\r\nthể tăng đến hiệu điện thế (nhưng không nhỏ hơn điện áp danh định) so với bất\r\nkỳ bề mặt dẫn nào mà vỏ có thể tiếp xúc trong sử dụng bình thường.
\r\n\r\n2.2.41. Nhiệt độ mức trên
Nhiệt độ môi trường lớn nhất mà tụ điện được\r\nthiết kế để làm việc liên tục.
\r\n\r\n2.2.42. Biến thiên điện dung theo nhiệt độ
Biến thiên điện dung theo nhiệt độ được biểu\r\nthị hoặc là các đặc tính nhiệt độ của điện dung hoặc hệ số nhiệt độ của điện\r\ndung.
\r\n\r\n2.2.43. Hư hại nhìn thấy được
Hư hại nhìn thấy được dẫn đến giảm khả năng\r\nsử dụng của tụ điện đối với các mục đích dự kiến của nó.
\r\n\r\n2.3. Giá trị ưu tiên
\r\n\r\n2.3.1. Quy định chung
\r\n\r\nMỗi yêu cầu kỹ thuật từng phần phải nêu các\r\ngiá trị ưu tiên tương ứng với từng nhánh; đối với điện dung danh định, xem thêm\r\n2.3.2.
\r\n\r\n2.3.2. Giá trị ưu tiên của điện dung danh\r\nnghĩa
\r\n\r\nCác giá trị ưu tiên của điện dung danh nghĩa\r\nđược lấy từ dãy quy định trong IEC 60063.
\r\n\r\n2.3.3. Giá trị ưu tiên của điện áp danh định
\r\n\r\nCác giá trị ưu tiên của điện áp danh định là\r\ncác giá trị của dãy R10 của ISO 3: 1,0-1,25-1,6-2,0-2,5-3,15-4,0-5,0-6,3-8,0 và\r\nbội số thập phân của chúng (x10n, n: số nguyên).
\r\n\r\n2.4. Ghi nhãn
\r\n\r\n2.4.1. Quy định chung
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật từng phần phải chỉ rõ các\r\ntiêu chí nhận biết và các thông tin khác cần ghi trên tụ điện và/hoặc trên bao\r\nbì.
\r\n\r\nThứ tự ưu tiên để ghi nhãn các tụ điện nhỏ\r\nphải được quy định.
\r\n\r\n2.4.2. Ghi mã
\r\n\r\nKhi ghi mã cho giá trị điện dung, dung sai\r\nhoặc ngày tháng chế tạo, phương pháp ghi mã phải được chọn theo quy định trong\r\nTCVN 6747 (IEC 60062).
\r\n\r\nKhi tiêu chuẩn này và các tiêu chuẩn liên\r\nquan được sử dụng cho mục đích của hệ thống đánh giá chất lượng đầy đủ như hệ\r\nthống đánh giá chất lượng IEC đối với linh kiện điện tử (IECQ) thì áp dụng các\r\nđiều liên quan của Phụ lục Q.
\r\n\r\nThông tin chung về quy trình thử nghiệm và đo
\r\n\r\n| \r\n Quy định chung \r\n | \r\n \r\n 4.1 \r\n | \r\n
| \r\n Điều kiện khí quyển tiêu chuẩn đối với thử\r\n nghiệm \r\n | \r\n \r\n 4.2 \r\n | \r\n
| \r\n Làm khô \r\n | \r\n \r\n 4.3 \r\n | \r\n
| \r\n Bảo quản \r\n | \r\n \r\n 4.25 \r\n | \r\n
| \r\n Lắp đặt (chỉ đối với tụ điện chíp) \r\n | \r\n \r\n 4.33 \r\n | \r\n
Thử nghiệm và phép đo về điện
\r\n\r\n| \r\n Điện trở cách điện \r\n | \r\n \r\n 4.5 \r\n | \r\n
| \r\n Chịu điện áp \r\n | \r\n \r\n 4.6 \r\n | \r\n
| \r\n Điện dung \r\n | \r\n \r\n 4.7 \r\n | \r\n
| \r\n Tang của góc tổn hao và điện trở nối tiếp\r\n tương đương (ESR) \r\n | \r\n \r\n 4.8 \r\n | \r\n
| \r\n Dòng điện rò \r\n | \r\n \r\n 4.9 \r\n | \r\n
| \r\n Trở kháng \r\n | \r\n \r\n 4.10 \r\n | \r\n
| \r\n Tần số hoặc điện cảm cộng hưởng riêng \r\n | \r\n \r\n 4.11 \r\n | \r\n
| \r\n Sự thay đổi điện dung theo nhiệt độ \r\n | \r\n \r\n 4.24 \r\n | \r\n
| \r\n Quá áp \r\n | \r\n \r\n 4.26 \r\n | \r\n
| \r\n Thử nghiệm quá dòng cao \r\n | \r\n \r\n 4.39 \r\n | \r\n
| \r\n Thử nghiệm nạp điện và phóng điện \r\n | \r\n \r\n 4.27 \r\n | \r\n
| \r\n Sự hấp thụ điện môi \r\n | \r\n \r\n 4.36 \r\n | \r\n
| \r\n Quá tải ở điện áp quá độ (đối với tụ điện\r\n phân nhôm có chất điện phân không thuộc loại rắn) \r\n | \r\n \r\n 4.40 \r\n | \r\n
Thử nghiệm và phép đo về cơ
\r\n\r\n| \r\n Kiểm tra bằng cách xem xét và kiểm tra kích\r\n thước \r\n | \r\n \r\n 4.4 \r\n | \r\n
| \r\n Điểm nối bản cực kim loại ngoài \r\n | \r\n \r\n 4.12 \r\n | \r\n
| \r\n Độ vững chắc của các chân \r\n | \r\n \r\n 4.13 \r\n | \r\n
| \r\n Rung \r\n | \r\n \r\n 4.17 \r\n | \r\n
| \r\n Va đập \r\n | \r\n \r\n 4.18 \r\n | \r\n
| \r\n Xóc \r\n | \r\n \r\n 4.19 \r\n | \r\n
| \r\n Độ kín của vỏ \r\n | \r\n \r\n 4.20 \r\n | \r\n
| \r\n Độ bám chắc \r\n | \r\n \r\n 4.34 \r\n | \r\n
| \r\n Thử nghiệm uốn chất nền \r\n | \r\n \r\n 4.35 \r\n | \r\n
| \r\n Thử nghiệm về môi trường và khí hậu \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Thay đổi nhanh nhiệt độ \r\n | \r\n \r\n 4.16 \r\n | \r\n
| \r\n Trình tự theo khí hậu \r\n | \r\n \r\n 4.21 \r\n | \r\n
| \r\n Nóng ẩm không đổi \r\n | \r\n \r\n 4.22 \r\n | \r\n
| \r\n Độ bền \r\n | \r\n \r\n 4.23 \r\n | \r\n
| \r\n Các đặc tính ở nhiệt độ cao và nhiệt độ\r\n thấp \r\n | \r\n \r\n 4.29 \r\n | \r\n
| \r\n Thử nghiệm ổn định nhiệt \r\n | \r\n \r\n 4.30 \r\n | \r\n
| \r\n Nóng ẩm gia tốc không đổi (chỉ đối với tụ\r\n sứ nhiều lớp) \r\n | \r\n \r\n 4.37 \r\n | \r\n
| \r\n Thử nghiệm liên quan đến lắp ráp linh kiện \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Khả năng chịu nhiệt hàn \r\n | \r\n \r\n 4.14 \r\n | \r\n
| \r\n Khả năng hàn \r\n | \r\n \r\n 4.15 \r\n | \r\n
| \r\n Khả năng chịu dung môi của linh kiện \r\n | \r\n \r\n 4.31 \r\n | \r\n
| \r\n Khả năng chịu dung môi của nhãn \r\n | \r\n \r\n 4.32 \r\n | \r\n
Thử nghiệm liên quan đến an toàn
\r\n\r\n| \r\n Giảm áp suất (đối với tụ điện phân) \r\n | \r\n \r\n 4.28 \r\n | \r\n
| \r\n Khả năng cháy thụ động \r\n | \r\n \r\n 4.38 \r\n | \r\n
4.1. Quy định chung
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật từng phần và/hoặc yêu cầu kỹ\r\nthuật cụ thể còn để trống phải có các bảng chỉ rõ các thử nghiệm cần thực hiện,\r\ncác phép đo trước và sau mỗi thử nghiệm hoặc một nhóm nhỏ các thử nghiệm cũng\r\nnhư trình tự thực hiện. Các bước của mỗi thử nghiệm được thực hiện theo đúng\r\ntrình tự đã ghi. Các điều kiện đo phải giống nhau từ phép đo đầu đến phép đo\r\ncuối.
\r\n\r\nNếu các yêu cầu kỹ thuật quốc gia trong hệ\r\nthống đánh giá chất lượng nào đó có các phương pháp khác với các phương pháp quy\r\nđịnh trong các tài liệu trên thì phải được mô tả đầy đủ.
\r\n\r\nCác giới hạn cho trong tất cả các yêu cầu kỹ\r\nthuật là các giới hạn tuyệt đối. Phải áp dụng các quy tắc thực hiện phép đo có\r\ntính đến sự không đảm bảo đo (xem IEC QC 001002-3, Phụ lục C, Điều 2).
\r\n\r\n4.2. Điều kiện khí quyển tiêu chuẩn
\r\n\r\n4.2.1. Điều kiện khí quyển tiêu chuẩn đối với\r\nthử nghiệm
\r\n\r\nNếu không có quy định nào khác, tất cả các\r\nthử nghiệm và phép đo đều được thực hiện ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn như\r\ncho trong 5.3 của TCVN 7699-1 (IEC 60068-1):
\r\n\r\n- Nhiệt độ: từ\r\n15 oC đến 35 oC
\r\n\r\n- Độ ẩm tương đối: từ 25 %\r\nđến 75 %
\r\n\r\n- áp suất không khí: từ 86\r\nkPa đến 106 kPa.
\r\n\r\nTrước khi thực hiện phép đo, tụ điện cần được\r\nđể ở nhiệt độ đo trong thời gian đủ để toàn bộ tụ điện đạt được nhiệt độ này.\r\nThời gian phục hồi ở cuối mỗi thử nghiệm là đủ cho mục đích này.
\r\n\r\nKhi các phép đo được thực hiện ở nhiệt độ\r\nkhác với nhiệt độ quy định thì các kết quả đo được hiệu chỉnh theo nhiệt độ quy\r\nđịnh, nếu cần thiết. Nhiệt độ môi trường trong quá trình đo được ghi trong báo\r\ncáo thử nghiệm. Trường hợp có tranh chấp, các phép đo được thực hiện lại tại\r\nmột nhiệt độ trong dải nhiệt độ chuẩn (như trong 4.2.3) và các điều kiện khác\r\nnhư được nêu trong yêu cầu kỹ thuật này.
\r\n\r\nNếu các thử nghiệm được thực hiện tuần tự thì\r\ncác phép đo kết thúc của thử nghiệm này có thể dùng làm các phép đo đầu của thử\r\nnghiệm tiếp theo.
\r\n\r\nTrong quá trình đo, điện trở không được đặt\r\ntrước luồng gió hoặc dưới ánh nắng mặt trời hay các ảnh hưởng khác có thể gây\r\nra sai số.
\r\n\r\n4.2.2. Điều kiện phục hồi
\r\n\r\nNếu không có quy định nào khác, phục hồi được\r\nthực hiện ở các điều kiện khí quyển tiêu chuẩn cho thử nghiệm (4.2.1).
\r\n\r\nNếu phục hồi cần thực hiện dưới các điều kiện\r\nkhống chế chặt chẽ, thì sử dụng các điều kiện phục hồi có khống chế như ở 5.4.1\r\ncủa TCVN 7699-1 (IEC 60068-1).
\r\n\r\nNếu không có quy định nào khác trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan, thì sử dụng khoảng thời gian phục hồi từ 1 h đến 2 h.
\r\n\r\nĐịnh nghĩa về phục hồi được nêu trong TCVN\r\n7699-1 (IEC 60068-1) ,4.1.3, được hạn chế hơn cho tụ điện như sau:
\r\n\r\nKhi giai đoạn phục hồi được quy định là, ví\r\ndụ, 1 h đến 2 h thì điều này có nghĩa là phép đo (hoặc một chuỗi hành động\r\nkhác) trên một lô tụ điện có thể bắt đầu sau 1 h và phải hoàn thành trước 2 h\r\ntừ khi bắt đầu giai đoạn phục hồi.
\r\n\r\nPhương pháp ưu tiên để quy định giai đoạn\r\nphục hời theo dạng "x h đến y h".
\r\n\r\n4.2.3. Điều kiện trọng tài
\r\n\r\nVới mục đích trọng tài, một trong các điều\r\nkiện khí quyển tiêu chuẩn đối với thử nghiệm trọng tài nêu trong 5.2 của TCVN\r\n7699-1 (IEC 60068-1), được chọn từ các điều kiện cho sau đây:
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
4.2.4. Điều kiện chuẩn
\r\n\r\nCác điều kiện khí quyển tiêu chuẩn cho trong\r\n5.1 của TCVN 7699-1 (IEC 60068-1) được dùng làm chuẩn, như sau:
\r\n\r\n- Nhiệt độ: 20 oC;
\r\n\r\n- Áp suất không khí: 101,3 kPa.
\r\n\r\n4.3. Làm khô
\r\n\r\nNếu không có quy định nào khác trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan, tụ điện phải được giữ trong 96 h ± 4 h bằng cách đặt trong\r\ntủ sấy có không khí tuần hoàn có nhiệt độ 55 oC ± 2 oC và\r\nđộ ẩm tương đối không quá 20 %.
\r\n\r\nTụ điện sau đó được làm nguội trong bình hút\r\nẩm có chất hút ẩm thích hợp, như nhôm hoạt tính hoặc silica gel, và được giữ\r\ntrong khoảng thời gian từ khi lấy ra khỏi tủ sấy đến khi bắt đầu các thử nghiệm\r\nquy định.
\r\n\r\n4.4. Kiểm tra bằng cách xem xét và kiểm tra\r\nkích thước
\r\n\r\n4.4.1. Kiểm tra bằng cách xem xét
\r\n\r\nĐiều kiện, chất lượng tay nghề và chất lượng\r\nbề mặt phải được đáp ứng, khi được kiểm tra bằng cách xem xét (xem 2.2.43).
\r\n\r\nNhãn phải rõ ràng và được kiểm tra bằng cách\r\nxem xét. Nhãn phải phù hợp với các yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.4.2. Kích thước (kiểm tra bằng dưỡng)
\r\n\r\nCác kích thước được chỉ ra trong yêu cầu kỹ\r\nthuật cụ thể để kiểm tra bằng dưỡng phải được kiểm tra và phải phù hợp với các\r\ngiá trị được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nKhi áp dụng, các phép đo phải được thực hiện\r\nphù hợp với IEC 60294 hoặc IEC 60717.
\r\n\r\n4.4.3. Kích thước (kiểm tra cụ thể)
\r\n\r\nTất cả các kích thước được mô tả trong yêu\r\ncầu kỹ thuật cụ thể phải được kiểm tra và phải phù hợp với các giá trị quy\r\nđịnh.
\r\n\r\n4.5. Điện trở cách điện
\r\n\r\n4.5.1. Ổn định trước
\r\n\r\nTrước khi thực hiện phép đo này, tụ điện phải\r\nđược phóng điện hoàn toàn.
\r\n\r\n4.5.2. Điều kiện đo
\r\n\r\nNếu không có quy định nào khác trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan thì điện trở cách điện phải được đo ở điện áp quy định trong\r\nBảng 2.
\r\n\r\nĐiện trở cách điện phải được đo sau khi đặt\r\nđiện áp trong 60 s ± 5 s, trừ khi có quy định khác trong yêu cầu kỹ thuật cụ\r\nthể.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n * Khi đã thấy rõ là điện áp không ảnh hưởng\r\n đến kết quả đo hoặc biết rõ các quan hệ hiện có, phép đo có thể được thực\r\n hiện ở điện áp lên đến điện áp danh định hoặc điện áp mức (trong trường hợp\r\n tranh chấp, nếu không có quy định nào khác của yêu cầu kỹ thuật từng phần, sử\r\n dụng điện áp 10 V). \r\n | \r\n |
Udđ là điện áp danh định dùng để\r\nxác định điện áp đo được sử dụng trong điều kiện khí quyển tiêu chuẩn đối với\r\nthử nghiệm.
\r\n\r\nUc là điện áp mức dùng để xác định\r\nđiện áp đo được sử dụng ở nhiệt độ mức trên.
\r\n\r\n4.5.3. Điểm thử nghiệm
\r\n\r\nĐiện trở cách điện phải được đo giữa các điểm\r\ndùng để đo xác định trong Bảng 3, được quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên\r\nquan.
\r\n\r\nThử nghiệm A, giữa các chân, áp dụng cho tất\r\ncả các tụ điện dù được cách điện hay không cách điện.
\r\n\r\nThử nghiệm B, cách điện bên trong, áp dụng\r\ncho tụ điện cách điện có vỏ kim loại không cách điện và áp dụng cho tụ điện\r\nnhiều ngăn, không cách điện hoặc cách điện.
\r\n\r\nThử nghiệm C, cách điện bên ngoài, áp dụng\r\ncho các tụ điện cách điện có vỏ phi kim loại hoặc vỏ kim loại được cách điện.\r\nĐối với thử nghiệm này, điện áp đo phải đặt theo một trong ba phương pháp dưới đây\r\nnhư quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.5.4. Phương pháp thử nghiệm
\r\n\r\n4.5.4.1. Phương pháp lá kim loại
\r\n\r\nLá kim loại phải được bọc xung quanh thân tụ\r\nđiện.
\r\n\r\nĐối với các tụ điện có các chân theo trục, lá\r\nkim loại phải được thừa ra mỗi phía ít nhất là 5 mm, với điều kiện là duy trì\r\nkhoảng cách tối thiểu 1 mm giữa lá kim loại và các chân. Nếu khoảng cách tối\r\nthiểu không đạt được thì kích thước thừa ra của lá kim loại có thể giảm đến mức\r\ncần thiết để thiết lập khoảng cách 1 mm.
\r\n\r\nĐối với các tụ điện có các chân về một phía,\r\nkhoảng cách tối thiểu 1 mm phải được duy trì giữa mép của lá kim loại và mỗi\r\nchân.
\r\n\r\n4.5.4.2. Phương pháp đối với tụ có cơ cấu lắp\r\nđặt
\r\n\r\nTụ điện phải được lắp đặt theo cách thông\r\nthường trên tấm kim loại, tấm này rộng hơn bề mặt lắp đặt của tụ điện ít nhất\r\n12,7 mm theo mọi hướng.
\r\n\r\n4.5.4.3. Phương pháp khối V
\r\n\r\nTụ điện phải được kẹp trong máng kim loại\r\nkhối V 90o có kích cỡ sao cho thân tụ điện không được dài hơn máng\r\nđó.
\r\n\r\nLực kẹp phải đủ để đảm bảo tiếp xúc tốt giữa\r\ntụ điện và khối V.
\r\n\r\nTụ điện phải được đặt phù hợp như sau:
\r\n\r\na) Đối với tụ điện hình trụ: Tụ điện phải\r\nđược đặt trong khối sao cho chân xa trục tụ điện nhất là chân gần nhất với một\r\ntrong các bề mặt của khối;
\r\n\r\nb) Đối với tụ điện hình chữ nhật: Tụ điện\r\nphải được đặt trong khối sao cho chân gần gờ tụ điện nhất là chân gần nhất với\r\nmột trong các bề mặt của khối;
\r\n\r\nĐối với tụ điện hình trụ và hình chữ nhật có\r\ncác chân dọc trục, điểm nhô ra của các chân tụ điện tính từ thân có vị trí\r\nngoài tâm bất kỳ thì được bỏ qua.
\r\n\r\n4.5.5. Bù nhiệt độ
\r\n\r\nKhi được nêu trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể,\r\nnhiệt độ mà tại đó phép đo được thực hiện phải được ghi lại. Nếu nhiệt độ này\r\nkhác với 20 oC thì phải hiệu chỉnh giá trị đo bằng cách nhân giá trị\r\nđo được với hệ số hiệu chỉnh tương ứng được nêu trong yêu cầu kỹ thuật từng\r\nphần.
\r\n\r\n4.5.6. Điều kiện cần quy định trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải nêu:
\r\n\r\na) các điểm đo và điện áp đo tương ứng với\r\ntừng điểm thử nghiệm đó;
\r\n\r\nb) phương pháp đặt điện áp (một trong các\r\nphương pháp được nêu trong 4.5.3.1; 4.5.3.2 và 4.5.3.3);
\r\n\r\nc) thời gian đặt điện áp nếu khác 1 min;
\r\n\r\nd) mọi phòng ngừa đặc biệt trong quá trình\r\nđo;
\r\n\r\ne) mọi hệ số hiệu chỉnh yêu cầu đối với phép\r\nđo trên toàn bộ dải nhiệt độ được nêu trong điều kiện khí quyển tiêu chuẩn cho\r\nthử nghiệm;
\r\n\r\nf) nhiệt độ khi đo nếu khác với điều kiện khí\r\nquyển tiêu chuẩn để thử nghiệm;
\r\n\r\ng) giá trị điện trở cách điện nhỏ nhất đối\r\nvới các điểm đo khác nhau (xem Bảng 3).
\r\n\r\n| \r\n Thử nghiệm \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n 1) Tụ điện một ngăn \r\n | \r\n \r\n 2) Tụ điện nhiều ngăn có một chân chung cho\r\n tất cả các ngăn \r\n | \r\n \r\n 3) Tụ điện nhiều ngăn không có chân chung \r\n | \r\n
| \r\n A. Giữa các chân (xem chú thích 1) \r\n | \r\n \r\n Tất cả các tụ điện \r\n | \r\n \r\n 1a) Giữa các chân \r\n | \r\n \r\n 2a) Giữa mỗi chân và chân chung \r\n | \r\n \r\n 3a) Giữa các chân của từng ngăn \r\n | \r\n
| \r\n B. Cách điện bên trong \r\n | \r\n \r\n Tụ điện đơn và tụ điện nhiều ngăn cách điện\r\n có vỏ kim loại không cách điện (1b), 2b), 3b)) \r\n | \r\n \r\n 1b) Giữa các chân nối với nhau và vỏ \r\n | \r\n \r\n 2b) Giữa tất cả các chân được nối với nhau\r\n và vỏ \r\n | \r\n \r\n 3b) Giữa tất cả các chân được nối với nhau\r\n và vỏ \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n Tụ điện nhiều ngăn không cách điện và tụ\r\n điện cách điện (2c) và 3c)) \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n 2c) Giữa chân riêng của từng ngăn và tất cả\r\n các chân khác được nối với nhau \r\n | \r\n \r\n 3c) Giữa các chân của các ngăn riêng biệt,\r\n hai chân của từng ngăn nối với nhau \r\n | \r\n
| \r\n C. Cách điện ngoài \r\n | \r\n \r\n Tụ điện cách điện có vỏ phi kim loại hoặc\r\n trong các vỏ kim loại được cách điện \r\n | \r\n \r\n 1c) Giữa hai chân nối với nhau và lá kim\r\n loại, tấm kim loại của khối kim loại V \r\n | \r\n \r\n 2d) \r\n | \r\n \r\n 3d) \r\n | \r\n
| \r\n Giữa tất cả các chân được nối với nhau, nếu\r\n có, và lá kim loại, tấm kim loại hoặc khối V \r\n | \r\n ||||
| \r\n CHÚ THÍCH: Trong trường hợp tụ điện có ba\r\n chân trở lên, các điểm đo phải là hai chân cách điện với một chân khác nhờ\r\n phần tử điện môi của tụ điện. Ví dụ: đối với tụ điện có dây đi qua đồng trục,\r\n các điểm đo phải là một trong các chân được nối đến dây ở giữa và vỏ kim loại\r\n đồng trục hoặc bề mặt lắp đặt. \r\n | \r\n ||||
4.6. Chịu điện áp
\r\n\r\nThử nghiệm sau đây là thử nghiệm dòng điện\r\nmột chiều. Khi các yêu cầu kỹ thuật liên quan quy định thử nghiệm ở dòng điện\r\nxoay chiều, mạch thử nghiệm phải được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật đó.
\r\n\r\n4.6.1. Mạch thử nghiệm (đối với thử nghiệm\r\ngiữa các chân)
\r\n\r\nCác phần tử mạch thử nghiệm phải được chọn\r\ntheo cách đảm bảo duy trì được các điều kiện liên quan đến dòng điện nạp, phóng\r\nvà hằng số thời gian nạp được nêu trong yêu cầu kỹ thuật liên quan. Hình 3 quy\r\nđịnh các đặc tính của mạch điện thử nghiệm thích hợp.
\r\n\r\nGiá trị điện trở của vônmét không được nhỏ\r\nhơn 10 000 W
Điện trở R1 bao gồm điện trở bên\r\ntrong của nguồn điện áp.
\r\n\r\nĐiện trở R1 và R2 phải\r\ncó giá trị đủ để hạn chế dòng điện nạp và dòng điện phóng ở giá trị được nêu\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nĐiện dung của tụ điện C1 không\r\nđược nhỏ hơn 10 lần điện dung của tụ điện thử nghiệm.
\r\n\r\nNếu áp dụng hằng số thời gian R1 x\r\n(Cx + C1) thì hằng số này phải nhỏ hơn hoặc bằng giá trị\r\nnêu trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image004.gif\")
CHÚ THÍCH: Tụ điện C1 có thể không\r\ncó đối với thử nghiệm một số loại tụ điện nhất định. Điều này phải được nêu\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật từng phần.
\r\n\r\n4.6.2. Thử nghiệm
\r\n\r\nTùy thuộc vào từng trường hợp, thử nghiệm gồm\r\nmột hoặc nhiều phần phù hợp với Bảng 3 và các yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật liên\r\nquan.
\r\n\r\nÁp dụng lại thử nghiệm chịu điện áp có thể\r\ngây ra hỏng vĩnh viễn tụ điện và cần tránh trong chừng mực có thể.
\r\n\r\n4.6.2.1. Thử nghiệm A - Giữa các chân
\r\n\r\n4.6.2.1.1. Điểm thử nghiệm
\r\n\r\nĐặt điện áp thử nghiệm lên 1a, 2a, 3a của\r\nBảng 3 phù hợp với yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.6.2.1.2. Quy trình
\r\n\r\nĐặt chuyển mạch ở vị trí 2, nối hai chân trên\r\nHình 3 với nguồn điện một chiều điều chỉnh được, có công suất đủ để điều chỉnh\r\nđến điện áp thử nghiệm yêu cầu.
\r\n\r\nTụ điện thử nghiệm (Cx) được nối\r\ntới mạch thử nghiệm như chỉ ra trên Hình 3.
\r\n\r\nChuyển mạch được đưa về vị trí 1 để nạp điện\r\ncho tụ điện C1 và Cx qua R1.
\r\n\r\nGiữ chuyển mạch ở vị trí này trong khoảng\r\nthời gian quy định sau khi đạt được điện áp thử nghiệm.
\r\n\r\nCác tụ điện C1 và Cx\r\nsau đó được phóng điện qua R2 bằng cách đưa chuyển mạch về vị trí 2.\r\nNgay sau khi chỉ số của vôn mét giảm về không, các tụ điện được nối tắt bằng\r\ncách đưa chuyển mạch về vị trí 3 và tụ điện Cx được tháo ra.
\r\n\r\n4.6.2.2. Thử nghiệm B - Cách điện bên trong
\r\n\r\n4.6.2.2.1. Điểm thử nghiệm
\r\n\r\nĐặt điện áp thử nghiệm lên 1b, 2b, 2c, 3b và\r\n3c của Bảng 3 phù hợp với yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.6.2.2.2. Quy trình
\r\n\r\nĐiện áp thử nghiệm quy định được đặt tức thời\r\nqua điện trở trong của nguồn cung cấp trong khoảng thời gian được quy định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan. Đối với điểm 2c dùng mạch thử nghiệm và quy\r\ntrình được nêu đối với thử nghiệm giữa các chân (4.6.1 và 4.6.2.1).
\r\n\r\n4.6.2.3. Thử nghiệm C - Cách điện ngoài (chỉ\r\náp dụng cho tụ điện cách điện có vỏ phi kim loại hoặc có vỏ kim loại được cách\r\nđiện)
\r\n\r\n4.6.2.3.1. Điểm thử nghiệm
\r\n\r\nĐặt điện áp thử nghiệm lên 1c, 2d hoặc 3d sử\r\ndụng một trong ba phương pháp dưới đây để đặt điện áp theo yêu cầu của yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.6.2.3.2. Phương pháp lá kim loại
\r\n\r\nLá kim loại được quấn sát xung quanh thân tụ\r\nđiện.
\r\n\r\nĐối với các tụ điện có các chân dọc trục, lá\r\nkim loại phải thừa ra ở mỗi đầu ít nhất là 5 mm, với điều kiện là phải duy trì\r\nkhoảng cách tối thiểu 1 mm/kV giữa lá kim loại và các chân. Nếu khoảng cách tối\r\nthiểu không đạt được thì kích thước thừa ra của lá kim loại có thể giảm đến mức\r\ncần thiết để thiết lập khoảng cách 1 mm/kV điện áp thử nghiệm.
\r\n\r\nĐối với các tụ điện có các chân cùng phía\r\nkhoảng cách tối thiểu 1 mm/kV phải được duy trì giữa mép của lá kim loại và mỗi\r\nchân.
\r\n\r\nTrong mọi trường hợp, khoảng cách giữa lá kim\r\nloại và các chân không được nhỏ hơn 1 mm.
\r\n\r\n4.6.2.3.3. Phương pháp đối với tụ có cơ cấu\r\nlắp đặt
\r\n\r\nTụ điện phải được lắp đặt theo cách thông\r\nthường trên tấm kim loại, tấm này rộng hơn bề mặt lắp đặt của tụ điện ít nhất\r\n12,7 mm theo mọi hướng.
\r\n\r\n4.6.2.3.4. Phương pháp khối V
\r\n\r\nTụ điện phải được kẹp trong máng kim loại\r\nkhối V 90o có kích thước sao cho thân tụ điện không dài hơn máng.
\r\n\r\nLực kẹp phải đủ để đảm bảo tiếp xúc giữa tụ\r\nđiện và khối V.
\r\n\r\nTụ điện được đặt phù hợp như sau:
\r\n\r\na) Đối với tụ điện hình trụ: Tụ điện được đặt\r\ntrong khối sao cho chân xa trục tụ điện nhất là chân gần nhất với một trong các\r\nmặt của khối;
\r\n\r\nb) Đối với tụ điện hình chữ nhật: Tụ điện\r\nđược đặt trong khối sao cho chân gần nhất so với cạnh của tụ điện là chân gần\r\nnhất với một trong các mặt của khối;
\r\n\r\nĐối với tụ điện hình trụ và hình chữ nhật có\r\ncác chân dọc trục, điểm nhô ra của các chân tụ điện tính từ thân có vị trí\r\nngoài tâm bất kỳ thì được bỏ qua.
\r\n\r\n4.6.2.3.5. Quy trình
\r\n\r\nĐiện áp thử nghiệm quy định được đặt tức thời\r\nqua điện trở trong của nguồn cung cấp trong khoảng thời gian được quy định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.6.3. Yêu cầu
\r\n\r\nĐối với mỗi điểm thử nghiệm quy định, không\r\nđược có dấu hiệu phóng điện đánh thủng hoặc phóng điện bề mặt trong suốt thời\r\ngian thử nghiệm.
\r\n\r\n4.6.4. Điều kiện cần quy định trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải quy định:
\r\n\r\na) Điểm thử nghiệm (xem Bảng 3) và điện áp\r\nthử nghiệm theo từng điểm.
\r\n\r\nb) Phương pháp đặt điện áp thử nghiệm (một\r\ntrong các phương pháp được quy định trong 4.6.2.3), đối với thử nghiệm cách\r\nđiện ngoài (thử nghiệm C).
\r\n\r\nc) Thời gian đặt điện áp.
\r\n\r\nd) Dòng điện nạp và phóng lớn nhất.
\r\n\r\ne) Giá trị lớn nhất của hằng số thời gian nạp\r\n(R1 (C1 + Cx)), nếu thuộc đối tượng áp dụng.
\r\n\r\n4.7. Điện dung
\r\n\r\n4.7.1. Tần số đo và điện áp đo
\r\n\r\nNếu không có quy định nào khác trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan thì điện dung phải được đo tại một trong các tần số sau:
\r\n\r\n- Tụ điện phân: 100 Hz đến 120 Hz
\r\n\r\n- Các tụ điện khác:
\r\n\r\nCdđ £ 1 nF: 100 kHz, 1 MHz hoặc 10 MHz (1 MHz là tần số chuẩn)
\r\n\r\n1 nF < Cdđ
Cdđ > 10
Dung sai ở tất cả các tần số dùng cho mục\r\nđích đo không được vượt quá ± 20 %.
\r\n\r\nĐiện áp đo không được vượt quá 3 % Udđ\r\nhoặc 5 V, chọn giá trị nhỏ hơn, nếu không có quy định khác trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan.
\r\n\r\n4.7.2. Thiết bị đo
\r\n\r\nĐộ chính xác của thiết bị đo phải sao cho sai\r\nsố không vượt quá:
\r\n\r\na) 10 % dung sai điện dung danh định hoặc 2 %\r\nđiện dung tuyệt đối, chọn giá trị nào nhỏ hơn, đối với phép đo điện dung tuyệt\r\nđối;
\r\n\r\nb) 10 % thay đổi lớn nhất được quy định của\r\nđiện dung, đối với phép đo độ thay đổi điện dung.
\r\n\r\nKhông trường hợp nào của a) và b) cần độ\r\nchính xác cao hơn sai số đo tuyệt đối nhỏ nhất (ví dụ 0,5 pF) được nêu trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.7.3. Điều kiện cần quy định trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải nêu:
\r\n\r\na) nhiệt độ khi đo nếu khác với điều kiện khí\r\nquyển tiêu chuẩn đối với thử nghiệm;
\r\n\r\nb) các tần số để đo và toàn bộ dải điện dung\r\nsử dụng, nếu khác với quy định trong 4.7.1;
\r\n\r\nc) sai số đo tuyệt đối, nếu thuộc đối tượng\r\náp dụng (ví dụ: 0,5 pF);
\r\n\r\nd) điện áp đo nếu khác với điện áp được quy\r\nđịnh trong 4.7.1;
\r\n\r\ne) điện áp phân cực được dùng, nếu thuộc đối\r\ntượng áp dụng.
\r\n\r\n4.8. Tang góc tổn hao và điện trở nối tiếp\r\ntương đương (ESR)
\r\n\r\n4.8.1. Tang góc tổn hao
\r\n\r\n4.8.1.1. Tần số đo
\r\n\r\nTang góc tổn hao phải được đo ở cùng điều\r\nkiện đã cho đối với phép đo điện dung tại một hoặc nhiều tần số lấy từ 4.7.1\r\nnhư được nêu trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.8.1.2. Độ chính xác khi đo
\r\n\r\nNếu không có quy định nào khác trong yêu cầu\r\nkỹ thuật từng phần, phương pháp đo phải đảm bảo sai số không được vượt quá 10 %\r\ngiá trị quy định hoặc 0,000 3, chọn giá trị nào lớn hơn.
\r\n\r\n4.8.2. Điện trở nối tiếp tương đương (ESR)
\r\n\r\nESR phải được đo ở một trong các tần số dưới\r\nđây, trừ khi được quy định khác trong yêu cầu kỹ thuật liên quan:
\r\n\r\n50 Hz, 60 Hz, 100 Hz, 120 Hz, 1 kHz, 10 kHz,\r\n100 kHz, 1 MHz and 10 MHz.
\r\n\r\n4.8.2.2. Độ chính xác khi đo
\r\n\r\nNếu không có quy định nào khác trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan, thiết bị đo phải đảm bảo sai số không được vượt quá 10 %\r\ngiá trị yêu cầu.
\r\n\r\n4.8.2.3. Điều kiện cần quy định trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải quy định:
\r\n\r\na) tần số đo;
\r\n\r\nb) sai số đo tuyệt đối;
\r\n\r\nc) điện áp đo nếu khác với điện áp được quy\r\nđịnh trong 4.7.1;
\r\n\r\nd) điện áp phân cực được dùng, nếu thuộc đối\r\ntượng áp dụng;
\r\n\r\ne) nhiệt độ khi đo nếu khác với điều kiện khí\r\nquyển tiêu chuẩn đối với thử nghiệm.
\r\n\r\n4.9. Dòng điện rò
\r\n\r\n4.9.1. Ổn định trước
\r\n\r\nTrước khi phép đo được thực hiện, tụ điện\r\nphải được phóng điện hoàn toàn.
\r\n\r\n4.9.2. Phương pháp thử nghiệm
\r\n\r\nNếu không có quy định nào khác trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan, dòng điện rò phải được đo với điện áp một chiều (Udđ\r\nhoặc Uc) thích hợp với nhiệt độ thử nghiệm, sau thời gian đặt điện\r\náp lớn nhất là 5 min. Nếu giới hạn dòng điện rò quy định đạt được trong thời\r\ngian ngắn hơn thì không nhất thiết phải đặt đủ 5 min.
\r\n\r\n4.9.3. Nguồn điện
\r\n\r\nPhải sử dụng nguồn điện ổn định điều chỉnh\r\nđược.
\r\n\r\n4.9.4. Độ chính xác khi đo
\r\n\r\nSai số đo không được vượt quá ± 5 % hoặc 0,1
4.9.5. Mạch điện thử nghiệm
\r\n\r\nKhi được quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên\r\nquan, phải mắc nối tiếp điện trở bảo vệ 1 000 W với tụ điện để hạn chế dòng điện nạp.
\r\n\r\n4.9.6. Điều kiện cần quy định trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải quy định:
\r\n\r\na) giới hạn dòng điện rò ở nhiệt độ chuẩn 20 oC\r\nvà ở các nhiệt độ quy định khác;
\r\n\r\nb) hệ số hiệu chỉnh, khi cần, nếu phép đo\r\nđược thực hiện ở nhiệt độ khác với 20 oC nhưng nằm trong dải nhiệt\r\nđộ ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn cho thử nghiệm;
\r\n\r\nc) thời gian đặt điện áp nếu khác 5 min;
\r\n\r\nd) dù trong trường hợp nào, điện trở bảo vệ 1\r\n000 W
4.10. Trở kháng
\r\n\r\nTrở kháng phải được đo bằng phương pháp\r\nvônmét - ampemét theo mạch điện ở Hình 4, hoặc mạch tương đương.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image005.gif\")
Trở kháng Zx của tụ điện Cx\r\nđược cho bằng Zx = U/I.
\r\n\r\nTần số của điện áp đo phải ưu tiên chọn từ\r\ncác giá trị sau:
\r\n\r\n50 Hz, 60 Hz, 100 Hz, 120 Hz, 1 kHz, 10 kHz,\r\n100 kHz, 1 MHz và 10 MHz.
\r\n\r\nĐộ chính xác của thiết bị đo phải sao cho sai\r\nsố không quá 10 % yêu cầu, nếu không có quy định nào khác trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Ở tần số lớn hơn 120 Hz, cần có phòng\r\nngừa để tránh sai số do dòng điện ngược. Dòng điện qua tụ điện phải được hạn\r\nchế sao cho kết quả đo không bị ảnh hưởng đáng kể do độ tăng nhiệt của tụ điện.
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải nêu:
\r\n\r\na) tần số của phép đo;
\r\n\r\nb) nhiệt độ mà tại đó phép đo được thực hiện;
\r\n\r\nc) các giới hạn của trở kháng hoặc tỷ số của\r\ncác trở kháng được đo ở các nhiệt độ khác nhau.
\r\n\r\n4.11. Tần số hoặc điện cảm cộng hưởng riêng
\r\n\r\n4.11.1. Tần số cộng hưởng riêng (fr)
\r\n\r\nCó ba phương pháp được mô tả cho phép đo này.\r\nPhương pháp thứ nhất dùng cho ứng dụng chung, các phương pháp còn lại có thể\r\nphù hợp để đo loại tụ điện có điện dung thấp.
\r\n\r\nĐộ chính xác của thiết bị đo phải sao cho sai\r\nsố không vượt quá 10 % yêu cầu, nếu không có quy định nào khác trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan.
\r\n\r\n4.11.1.1. Phương pháp 1
\r\n\r\nSử dụng phương pháp đo trở kháng ở 4.10 và\r\nnguồn có tần số biến đổi, tần số thấp nhất được xác định là tần số tại đó trở\r\nkháng đi qua là nhỏ nhất. Đây chính là tần số cộng hưởng riêng.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Trong trường hợp khó xác định\r\nchính xác tần số mà tại đó trở kháng là nhỏ nhất thì có thể dùng pha mét để so\r\nsánh pha của điện áp đặt lên tụ điện với pha của điện áp đặt lên điện trở có\r\nđiện cảm thấp mắc nối tiếp với tụ. Tần số cộng hưởng là tần số tại đó không có\r\nsự khác nhau về pha. Q-mét có thể sử dụng cho mục đích này.
\r\n\r\n4.11.1.2. Phương pháp 2
\r\n\r\nĐối với phương pháp đo này, phải sử dụng dụng\r\ncụ đo hấp thụ sóng dao động (máy đo sụt dòng lưới).
\r\n\r\n4.11.1.2.1. Lắp đặt tụ điện có các chân trong\r\nsử dụng thông thường
\r\n\r\nBốn tụ điện có giá trị và hình dạng gần bằng\r\nnhau được hàn nối tiếp, vuông góc để tạo thành mạch khép kín. Các dây nối phải\r\ncó chiều dài quy định và không được cuốn lại hoặc nối thêm (xem Hình 5). Mạch\r\nđiện này phải được ghép lỏng với thiết bị đo sóng dao động hấp thụ và sau đó\r\nxác định tần số cộng hưởng.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image006.gif\")
4.11.1.2.2. Lắp đặt các tụ điện có các chân\r\ndùng cho mạch in
\r\n\r\nĐể xác định tần số cộng hưởng trong điều kiện\r\nlắp đặt trên tấm mạch in và trong trường hợp hình dạng vỏ và/hoặc các chân\r\nkhông cho phép tạo thành mạch bốn tụ chính xác, mạch phải được tạo thành từ hai\r\ntụ (gần) giống nhau có các chân thẳng có chiều dài quy định (xem Hình 6).
\r\n\r\nTụ thứ hai có thể được thay thế bằng hình đối\r\nxứng gương của nó trên mặt dẫn theo cách sau:
\r\n\r\nDùng tấm mạch in vật liệu gốc, không khắc\r\naxit, phủ đồng, các mép của tấm có kích thước lớn hơn ít nhất là ba lần kích\r\nthước lớn nhất của tụ điện được khoan ở chính giữa để chứa tụ điện theo cách\r\nlắp thông thường của tụ điện.
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải mô tả cụ thể\r\nviệc lắp đặt. Tụ điện được hàn vào vị trí tụ điện bị ngắn mạch bằng lá đồng.\r\nSau đó tụ điện được nối đến cuộn thăm dò và được đo như trong 4.11.1.2.4.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Tụ điện vỏ kim loại có thể có sự\r\nchuẩn bị đặc biệt để nối, chuẩn bị này phải được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image007.jpg\")
l và d cần quy định, trong đó l\r\ncần đo từ mặt lắp đặt.
\r\n\r\n4.11.1.2.3. Mô tả phương pháp
\r\n\r\nThiết bị đo sóng dao động hấp thụ có bộ dao\r\nđộng tần số thay đổi L - C với cuộn cảm được tạo thành như cuộn thăm dò ngoài.\r\nKhi cuộn dây này được ghép vào mạch cộng hưởng khác, công suất bị hấp thụ sẽ\r\ngây ra sự thay đổi trong điện áp lưới điều khiển (cực cổng FET). Sự thay đổi\r\nđiện áp này được phát hiện và "sụt xuống" ở tần số cộng hưởng của\r\nmạch ghép. Mạch ghép này gồm bốn tụ điện được lắp đặt như mô tả trong\r\n4.11.1.2.1 và được mắc nối tiếp để giảm tối thiểu hỗ cảm.
\r\n\r\nSơ đồ điển hình sử dụng thiết bị đo sóng dao\r\nđộng hấp thụ được cho trên Hình 7.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image008.gif\")
1 Thiết bị đo sóng dao động hấp thụ (đồng đồ\r\nđo độ sụt điện áp lưới điều khiển)
\r\n\r\n2 Mạch cộng hưởng ghép nối
\r\n\r\n3 Hệ số ghép nối
\r\n\r\n4.11.1.2.4. Sử dụng thiết bị đo sóng dao động\r\nhấp thụ
\r\n\r\nVới cuộn dây thăm dò của thiết bị đo sóng đặt\r\ngần các tụ điện kiểm tra, tần số cộng hưởng được dò từ phía tần số thấp hơn. Độ\r\nsụt phải được kiểm tra bằng cách dịch chuyển thiết bị đo sóng ra xa các tụ điện\r\n(giảm công suất hấp thụ) để chắc chắn độ sụt không làm ảnh hưởng đến thiết bị\r\nđo sóng. Tần số cộng hưởng phải được đo bằng cách ghép lỏng để tránh ảnh hưởng\r\nđến bộ dao động.
\r\n\r\n4.11.1.2.5. Yêu cầu
\r\n\r\nTần số cộng hưởng không được vượt quá giới\r\nhạn quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.11.1.3. Phương pháp 3
\r\n\r\nPhương pháp này đặc biệt phù hợp với các tụ\r\nđiện có điện dung thấp và có tần số cộng hưởng riêng nằm trong dải làm việc của\r\nQ-mét. Dùng Q-mét và mạch cho trên hình 5, tần số thấp nhất phải được xác định\r\nlà tần số mà tại đó đạt được tần số cộng hưởng, bất luận có dây nối tắt tụ hay\r\nkhông. Tần số này có thể xem như bằng với tần số cộng hưởng riêng của tụ.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image009.jpg\")
4.11.2. Điện cảm
\r\n\r\nĐiện cảm nối tiếp Lx của tụ điện\r\nđược tính theo công thức liên quan đến tần số cộng hưởng riêng fr đo\r\nđược của tụ điện như sau:
\r\n\r\ntrong đó: Cx là điện dung của tụ\r\nđiện đo theo 4.7 và theo các yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan.
\r\n\r\n4.11.3. Điều kiện cần quy định trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải nêu:
\r\n\r\na) phương pháp thử nghiệm ưu tiên;
\r\n\r\nb) chiều dài dây dẫn của tụ điện được dùng\r\ntrong khi đo;
\r\n\r\nc) mọi chuẩn bị lắp đặt đặc biệt;
\r\n\r\nd) các giới hạn của điện cảm nối tiếp hoặc\r\ntần số cộng hưởng riêng.
\r\n\r\n4.12. Điểm nối bản cực kim loại ngoài
\r\n\r\nViệc chỉ đúng điểm nối tới bản cực kim loại\r\nngoài phải được kiểm tra để tụ không bị hỏng. Phương pháp thích hợp được cho\r\ntrên Hình 9. Tần số của máy phát có thể từ 50 Hz đến vài nghìn héc và phải được\r\nchọn để cho kết quả đo rõ ràng, giá trị phù hợp phụ thuộc vào loại tụ điện thử\r\nnghiệm.
\r\n\r\nĐiện áp phải trong khoảng 10 V.
\r\n\r\nVônmét phải có trở kháng đầu vào không nhỏ\r\nhơn 1 MW
Điện dung ký sinh giữa các dây phải giữ ở giá\r\ntrị thấp.
\r\n\r\nKhi chuyển mạch ở vị trí 1, độ lệch của\r\nvônmét phải nhỏ hơn hẳn so với độ lệch khi chuyển mạch ở vị trí 2.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image011.gif\")
4.13. Độ vững chắc của các chân
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu được các thử nghiệm Ua1,\r\nUb, Uc và Ud của IEC 60068-2-21, nếu thuộc đối tượng áp dụng.
\r\n\r\n4.13.1. Thử nghiệm Ua1 - Kéo
\r\n\r\nLực kéo đặt vào là:
\r\n\r\n- 20 N, đối với các chân không phải là sợi\r\ndây;
\r\n\r\n- đối với các chân là sợi dây, xem Bảng 4.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n CHÚ THÍCH: Đối với các sợi dây mặt cắt\r\n tròn, dải hoặc trụ: diện tích mặt cắt danh nghĩa bằng giá trị tính được từ\r\n (các) kích thước danh nghĩa được cho trong yêu cầu kỹ thuật liên quan. Đối\r\n với sợi dây bện, diện tích mặt cắt danh nghĩa có được bằng cách lấy tổng của\r\n các diện tích mặt cắt danh nghĩa của từng sợi bện của ruột dẫn được quy định\r\n trong yêu cầu kỹ thuật liên quan. \r\n | \r\n ||
4.13.2. Thử nghiệm Ub - Uốn (cho một nửa mẫu)
\r\n\r\nPhương pháp 1: Đặt hai lần uốn liên tiếp về\r\nmỗi hướng. Thử nghiệm này không áp dụng nếu trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể nêu\r\ncác chân là loại cứng.
\r\n\r\n4.13.3. Thử nghiệm Uc - Xoắn (cho mẫu còn\r\nlại)
\r\n\r\nPhương pháp A: Phải sử dụng mức khắc nghiệt 2\r\n(quay 180o liên tục hai lần).
\r\n\r\nThử nghiệm này không áp dụng, nếu trong yêu\r\ncầu kỹ thuật cụ thể nêu các chân là loại cứng và nếu các linh kiện có các chân\r\ncùng phía được thiết kế để lắp vào tấm mạch in.
\r\n\r\n4.13.4. Thử nghiệm Ud - Mômen xoắn (đối với\r\ncác chân là bu lông hoặc vít và đối với các cơ cấu lắp đặt không tháo rời được)
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |
4.13.5. Kiểm tra bằng cách xem xét
\r\n\r\nSau mỗi thử nghiệm trên, các tụ điện phải\r\nđược kiểm tra bằng cách xem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được.
\r\n\r\n4.14. Khả năng chịu nhiệt hàn
\r\n\r\n4.14.1. Ổn định trước
\r\n\r\nKhi được quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên\r\nquan, các tụ điện phải được làm khô theo phương pháp ở 4.3.
\r\n\r\nCác tụ điện phải được đo như mô tả trong yêu\r\ncầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.14.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nNếu không có quy định khác trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan thì thì áp dụng một trong các thử nghiệm dưới dây như được\r\ntrình bày trong cùng một yêu cầu kỹ thuật.
\r\n\r\nĐiều kiện thử nghiệm phải được xác định trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\na) Đối với tất cả các tụ điện, trừ tụ điện ở\r\nđiểm b) và c) dưới đây:
\r\n\r\nIEC 60068-2-20, Thử nghiệm Tb, phương pháp 1\r\n(bể hàn).
\r\n\r\nb) Các tụ điện không được thiết kế để dùng\r\ncho tấm mạch in nhưng có các mối nối được thiết kế để hàn khi được chỉ ra trong\r\nyêu cầu kỹ thuật cụ thể:
\r\n\r\n1) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Tb, phương pháp\r\n1 (bể hàn)
\r\n\r\n2) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Tb, phương pháp\r\n2 (hàn sắt).
\r\n\r\nc) Đối với tụ điện chíp:
\r\n\r\nIEC 60068-2-58, phương pháp nóng chảy chất\r\nhàn hoặc bể hàn.
\r\n\r\n4.14.3. Phục hồi
\r\n\r\nNếu không có quy định khác trong yêu cầu kỹ\r\nthuật cụ thể thì thời gian phục hồi không được nhỏ hơn 1 h và không dài hơn 2\r\nh, trừ điện trở chíp, thời gian phục hồi là 24 h ± 2 h.
\r\n\r\n4.14.4. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nĐối với tất cả các tụ điện, ngoại trừ các tụ\r\nđiện chíp, phải áp dụng như sau:
\r\n\r\n- khi tiến hành thử nghiệm, các tụ điện phải\r\nđược kiểm tra bằng cách xem xét.
\r\n\r\n- không được có hư hại nhìn thấy được và ghi\r\nnhãn phải rõ ràng.
\r\n\r\n- sau đó các tụ điện phải được đo như mô tả\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nTụ điện chíp phải được kiểm tra bằng cách xem\r\nxét, đo và phải đáp ứng các yêu cầu như mô tả trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.15. Khả năng hàn
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Không áp dụng cho các chân mà yêu\r\ncầu kỹ thuật cụ thể quy định là không được thiết kế để hàn.
\r\n\r\n4.15.1. Ổn định trước
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải quy định có\r\náp dụng lão hoá không. Nếu yêu cầu lão hoá nhanh thì phải áp dụng một trong các\r\nquy trình lão hoá nêu trong IEC 60068-2-20.
\r\n\r\nNếu không có quy định trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan thì thử nghiệm được thực hiện với chất gây chảy chưa hoạt động.
\r\n\r\n4.15.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nNếu không có quy định trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan thì áp dụng một trong các thử nghiệm dưới dây như được trình bày\r\ntrong cùng một yêu cầu kỹ thuật.
\r\n\r\nĐiều kiện thử nghiệm phải được xác định trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\na) Đối với tất cả các tụ điện, trừ tụ điện ở\r\nđiểm b) và c) dưới đây:
\r\n\r\n1) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Ta, phương pháp\r\n1 (bể hàn)
\r\n\r\nĐộ sâu nhúng (tính từ bề mặt nhúng hoặc từ\r\nthân linh kiện):
\r\n\r\n2,0
2) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Ta, phương pháp\r\n2 (hàn sắt);
\r\n\r\n3) IEC 60068-2-54, phương pháp bể hàn cân\r\nbằng ướt.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Chỉ áp dụng IEC 60068-2-54 khi\r\nđược quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể hoặc khi có thoả thuận giữa nhà chế\r\ntạo và khách hàng.
\r\n\r\nb) Các tụ điện được không thiết kế để dùng\r\ncho tấm mạch in nhưng có các mối nối được thiết kế để hàn khi được chỉ ra trong\r\nyêu cầu kỹ thuật cụ thể:
\r\n\r\n1) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Ta, phương pháp\r\n1 (bể hàn)
\r\n\r\nĐộ sâu nhúng (tính từ bề mặt nhúng hoặc từ\r\nthân linh kiện): 3,5![](\"00912408_files/image012.gif\")
mm
2) IEC 60068-2-20, Thử nghiệm Ta, phương pháp\r\n2 (hàn sắt).
\r\n\r\nc) Đối với tụ điện chíp:
\r\n\r\n1) IEC 60068-2-58, phương pháp nóng chảy chất\r\nhàn hoặc bể hàn;
\r\n\r\n2) IEC 60068-2-69, phương pháp bề hàn cân\r\nbằng ướt hoặc phương pháp giọt hàn cân bằng ướt.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Chỉ áp dụng IEC 60068-2-69 khi\r\nđược quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể hoặc khi có thoả thuận giữa nhà chế\r\ntạo và khách hàng.
\r\n\r\n4.15.3. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nCác chân phải được kiểm tra độ bám thiếc tốt\r\nvới bằng chứng là dòng thiếc hàn chảy tự do làm ướt các chân tụ điện.
\r\n\r\nTụ điện phải đáp ứng các yêu cầu như quy định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.16. Thay đổi nhanh nhiệt độ
\r\n\r\n4.16.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo được mô tả trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.16.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu thử nghiệm Na của TCVN\r\n7699-2-14 (IEC 60068-2-14) và mức khắc nghiệt mô tả trong yêu cầu kỹ thuật liên\r\nquan.
\r\n\r\n4.16.3. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nSau khi phục hồi các tụ điện phải được kiểm\r\ntra bằng cách xem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được.
\r\n\r\nCác phép đo được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan phải được thực hiện.
\r\n\r\n4.17. Rung
\r\n\r\n4.17.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nCác phép đo được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan phải được thực hiện.
\r\n\r\n4.17.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu thử nghiệm Fc của TCVN\r\n7699-2-6 (IEC 60068-2-6), dùng phương pháp lắp đặt và mức khắc nghiệt được mô\r\ntả trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.17.3. Thử nghiệm điện
\r\n\r\nKhi được quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ\r\nthể, trong thời gian 30 min cuối của thử nghiệm rung, ở mỗi hướng chuyển động,\r\nphép đo về điện phải được thực hiện để kiểm tra các tiếp xúc không tốt hoặc\r\nkhông tiếp xúc hoặc ngắn mạch.
\r\n\r\nPhương pháp đo phải được mô tả trong yêu cầu\r\nkỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nKhoảng thời gian đo phải là thời gian cần\r\nthiết cho một vòng quét qua dải tần số từ tần số đầu đến tần số cuối.
\r\n\r\n4.17.4. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nSau thử nghiệm, các tụ điện phải được kiểm\r\ntra bằng cách xem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được. Khi tụ điện được\r\nthử nghiệm như quy định trong 4.17.3, các yêu cầu phải được nêu trong yêu cầu\r\nkỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nSau đó, các phép đo được mô tả trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan phải được thực hiện.
\r\n\r\n4.18. Va đập
\r\n\r\n4.18.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nCác phép đo được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan phải được thực hiện.
\r\n\r\n4.18.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu thử nghiệm Eb của TCVN\r\n7699-2-29 (IEC 60068-2-29), dùng phương pháp lắp đặt và mức khắc nghiệt được mô\r\ntả trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.18.3. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nSau thử nghiệm, các tụ điện phải được kiểm\r\ntra bằng cách xem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được.
\r\n\r\nSau đó, các phép đo được mô tả trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan phải được thực hiện.
\r\n\r\n4.19. Xóc
\r\n\r\n4.19.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo nêu trong các yêu\r\ncầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.19.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu thử nghiệm Ea của TCVN\r\n7699-2-27 (IEC 60068-2-27), sử dụng phương pháp lắp đặt và khắc nghiệt nêu\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.19.3. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nSau thử nghiệm, tụ điện được kiểm tra bằng\r\ncách xem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được.
\r\n\r\nSau đó phải thực hiện phép đo được mô tả\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.20. Độ kín của vỏ
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu được quy trình theo\r\nphương pháp phù hợp của thử nghiệm Q của IEC 60068-2-17 như được mô tả trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.21. Trình tự theo khí hậu
\r\n\r\nTrong trình tự theo khí hậu, khoảng gián đoạn\r\nlớn nhất cho phép giữa các thử nghiệm là ba ngày, ngoại trừ thử nghiệm lạnh\r\nphải được áp dụng ngay sau thời gian phục hồi của chu kỳ đầu tiên của nóng ẩm,\r\nchu kỳ, thử nghiệm Db của TCVN 7699-2-30 (IEC 60068-2-30).
\r\n\r\n4.21.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nThực hiện các phép đo được mô tả trong yêu\r\ncầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.21.2. Nóng khô
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu thử nghiệm Bb của IEC\r\n60068-2-2 trong 16 h sử dụng mức khắc nghiệt của nhiệt độ mức trên như mô tả\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nMẫu thử nghiệm có thể được đưa vào tủ thử ở\r\nnhiệt độ bất kỳ từ nhiệt độ phòng thí nghiệm đến nhiệt độ mức cao hơn.
\r\n\r\nTrong khi vẫn còn ở nhiệt độ cao được quy\r\nđịnh và ở cuối chu kỳ nhiệt độ cao, các phép đo được mô tả trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan phải được thực hiện.
\r\n\r\nSau thời gian ổn định quy định, các tụ điện\r\nđược chuyển khỏi tủ thử và được đặt không ít hơn 4 h ở điều kiện khí quyển tiêu\r\nchuẩn đối với thử nghiệm.
\r\n\r\n4.21.3. Nóng ẩm, chu kỳ, thử nghiệm Db, chu kỳ\r\nthứ nhất
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu thử nghiệm Db của TCVN\r\n7699-2-30 (IEC 60068-2-30) trong một chu kỳ 24 h, ở nhiệt độ 55 oC\r\n(mức khắc nghiệt b).
\r\n\r\nNếu không có quy định khác trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan thì sử dụng phương án 2.
\r\n\r\nNgay sau khi phục hồi, các tụ điện phải chịu\r\nthử nghiệm lạnh.
\r\n\r\n4.21.4. Lạnh
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu thử nghiệm Ab của IEC\r\nTCVN 7699-2-1 (60068-2-1) trong 2 h sử dụng mức khắc nghiệt của nhiệt độ mức\r\ndưới như mô tả trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nMẫu thử nghiệm có thể được đưa vào tủ thử ở\r\nnhiệt độ bất kỳ từ nhiệt độ phòng thí nghiệm đến nhiệt độ mức cao hơn.
\r\n\r\nTrong khi các tụ điện đang ở nhiệt độ mức\r\ndưới quy định và ở cuối chu kỳ nhiệt độ thấp, các phép đo được mô tả trong yêu\r\ncầu kỹ thuật liên quan phải được thực hiện.
\r\n\r\nSau thời gian ổn định quy định, các tụ phải\r\nđược chuyển khỏi tủ thử và được đặt ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn đối với\r\nthử nghiệm không ít hơn 4 h.
\r\n\r\n4.21.5. Áp suất không khí thấp
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu thử nghiệm M của TCVN\r\n7699-2-13 (IEC 60068-2-13) sử dụng mức khắc nghiệt thích hợp được mô tả trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan. Thời gian thử nghiệm phải là 10 min, nếu không có quy\r\nđịnh nào khác trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải nêu:
\r\n\r\na) thời gian thử nghiệm, nếu khác 10 min;
\r\n\r\nb) nhiệt độ;
\r\n\r\nc) mức khắc nghiệt.
\r\n\r\nKhi ở áp suất thấp quy định, đặt điện áp danh\r\nđịnh trong thời gian 1 min cuối của chu kỳ thử nghiệm, nếu không có quy định\r\nnào khác trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nTrong và sau khi thử nghiệm không được có:\r\nphóng điện đánh thủng, phóng điện bề mặt, biến dạng có hại của vỏ hoặc rò rỉ\r\nchất tẩm.
\r\n\r\n4.21.6. Nóng ẩm, chu kỳ, thử nghiệm Db, các\r\nchu kỳ còn lại
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu thử nghiệm Db của TCVN\r\n7699-2-30 (IEC 60068-2-30) đối với số chu kỳ 24 h tiếp theo như chỉ ra trong\r\nBảng 6, trong các điều kiện giống như sử dụng cho chu kỳ thứ nhất.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n
4.21.7. Phép đo kết thúc
\r\n\r\nSau khi phục hồi, phải thực hiện các phép đo\r\nnêu trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.22. Nóng ẩm không đổi
\r\n\r\n4.22.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo được mô tả trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.22.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu thử nghiệm Cab của TCVN\r\n7699-2-78 (IEC 60068-2-78) sử dụng mức khắc nghiệt theo mức khí hậu của tụ điện\r\nnhư chỉ ra trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nKhi được quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ\r\nthể còn để trống, yêu cầu kỹ thuật cụ thể có thể quy định việc áp dụng điện áp\r\nphân cực trong suốt thời gian ổn định nóng ẩm. Đối với tụ điện màng kim loại,\r\nthử nghiệm này cần được thực hiện theo Phụ lục G.
\r\n\r\nKhông kể các tụ điện phân, trong vòng 15 min\r\ntừ khi chuyển khỏi tủ thử nghiệm, thử nghiệm chịu điện áp của 4.6 chỉ phải thực\r\nhiện ở điểm thử nghiệm A, dùng điện áp danh định, nếu không có quy định nào\r\nkhác trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.22.3. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nSau khi phục hồi, tụ điện phải được kiểm tra\r\nbằng cách xem xét. Không được có hư hại nhìn thấy được. Sau đó, phải thực hiện\r\ncác phép đo được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nTrong trường hợp tụ điện màng kim loại, khi\r\nđược quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể còn để trống, sai lệch cho phép của\r\ngiá trị C trung bình của nhóm thử nghiệm có và nhóm thử nghiệm không có điện áp\r\nmột chiều phải được quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể liên quan.
\r\n\r\n4.23. Độ bền
\r\n\r\n4.23.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo được mô tả trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.23.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu các thử nghiệm độ bền.\r\nCác thử nghiệm của IEC 60068-2-2 áp dụng như sau:
\r\n\r\na) thử nghiệm điện một chiều - Thử nghiệm Bb;
\r\n\r\nb) thử nghiệm điện xoay chiều - Thử nghiệm Bb\r\nhoặc Bd, nếu thuộc đối tượng áp dụng;
\r\n\r\nc) thử nghiệm xung - Thử nghiệm Bb hoặc Bd,\r\nnếu thuộc đối tượng áp dụng.
\r\n\r\nCác mẫu thử nghiệm có thể được đưa vào trong\r\ntủ thử ở nhiệt độ bất kỳ trong khoảng từ nhiệt độ phòng đến nhiệt độ mức trên\r\nnhưng điện áp không được đặt vào tụ điện trước khi tụ đạt tới nhiệt độ của tủ\r\nthử.
\r\n\r\n4.23.3. Điều kiện cần quy định trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải quy định:
\r\n\r\na) khoảng thời gian thử nghiệm (ví dụ số giờ\r\nhoặc số xung);
\r\n\r\nb) nhiệt độ thử nghiệm (ví dụ nhiệt độ phòng,\r\nnhiệt độ danh định hoặc nhiệt độ mức trên);
\r\n\r\nc) điện áp hoặc dòng điện được đặt vào (xem\r\nthêm 4.23.4).
\r\n\r\nKhi tụ điện phải đáp ứng các yêu cầu bổ sung\r\nvề bảo vệ chống điện giật thì các điều kiện thử nghiệm bổ sung đối với thử\r\nnghiệm độ bền (ví dụ đặt điện áp xung) phải được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan.
\r\n\r\n4.23.4. Điện áp thử nghiệm
\r\n\r\nNếu không có quy định nào khác trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan, điện áp đặt trong quá trình thử nghiệm phải được chọn như\r\nsau:
\r\n\r\na) thử nghiệm điện một chiều
\r\n\r\nThử nghiệm phải được thực hiện ở bội số của\r\nđiện áp danh định (điện áp một chiều) ở nhiệt độ lên đến nhiệt độ danh định.\r\nNhiệt độ thử nghiệm và giá trị của bội số phải được quy định trong yêu cầu kỹ\r\nthuật liên quan. Đối với thử nghiệm ở nhiệt độ mức trên, phải nêu hệ số suy\r\ngiảm điện áp để đảm bảo khả năng làm việc khi gia tăng nhiệt độ.
\r\n\r\nb) thử nghiệm điện xoay chiều (điện áp hình\r\nsin)
\r\n\r\nThử nghiệm phải được thực hiện ở tần số 50 -\r\n60 Hz và ở bội số của điện áp danh định (điện áp xoay chiều) (xem 2.2.20 a))\r\ntại nhiệt độ đến nhiệt độ danh định hoặc tại nhiệt độ mức trên, với hệ số suy\r\ngiảm điện áp để đảm bảo khả năng làm việc khi gia tăng nhiệt độ. Nhiệt độ thử\r\nnghiệm và giá trị của bội số/hệ số suy giảm điện áp phải được quy định trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nc) thử nghiệm điện xoay chiều (dòng điện hình\r\nsin)
\r\n\r\nThử nghiệm này phải được thực hiện với dòng\r\nđiện được đặt phù hợp với 2.2.20b). Nhiệt độ thử nghiệm, giá trị của dòng điện\r\nvà tần số phải được quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Để thuận tiện cho việc thử\r\nnghiệm, thử nghiệm có thể được thực hiện với điện áp có tần số quy định áp dụng\r\ncho nhóm các tụ điện được mắc song song hoặc mắc nối tiếp/song song.
\r\n\r\nd) thử nghiệm điện xoay chiều hình sin (công\r\nsuất phản kháng)
\r\n\r\nThử nghiệm phải được thực hiện với công suất\r\nphản kháng phù hợp với 2.2.32c). Nhiệt độ thử nghiệm, giá trị của công suất\r\nphản kháng và tần số phải được quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Để thuận tiện cho việc thử\r\nnghiệm, thử nghiệm có thể được thực hiện với điện áp có tần số quy định áp dụng\r\ncho nhóm các tụ điện được mắc song song hoặc mắc nối tiếp/song song.
\r\n\r\nThử nghiệm ổn định nhiệt (xem 4.30) có thể\r\nthay cho thử nghiệm này. Thử nghiệm được tiến hành phải quy định trong yêu cầu\r\nkỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\ne) Thử nghiệm xung
\r\n\r\nThử nghiệm phải được thực hiện với các xung\r\nđược đặt vào phù hợp với 2.2.33 và như quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên\r\nquan. Hướng dẫn thử nghiệm xung cho trong Phụ lục E.
\r\n\r\nf) Thử nghiệm xoay chiều hình sin hoặc thử\r\nnghiệm xung có dòng điện một chiều xếp chồng
\r\n\r\nCác thử nghiệm từ b) đến e) có thể được tiến\r\nhành với dòng điện một chiều xếp chồng như được nêu trong yêu cầu kỹ thuật liên\r\nquan (xem thêm 2.2.23).
\r\n\r\nVí dụ về mạch thử nghiệm phù hợp với các tụ\r\nđiện phân được cho trên Hình 10.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image013.gif\")
4.23.5. Cách đặt trong tủ thử nghiệm
\r\n\r\nTụ điện phải được đặt trong tủ thử nghiệm\r\ntheo cách sau đây:
\r\n\r\na) đối với tụ điện tản nhiệt, các tụ đặt cách\r\nnhau không ít hơn 25 mm;
\r\n\r\nb) đối với tụ điện không tản nhiệt, các tụ\r\nđặt cách nhau không ít hơn 5 mm.
\r\n\r\n4.23.6. Phục hồi
\r\n\r\nSau thời gian quy định, các tụ điện phải được\r\nđể nguội về điều kiện khí quyển tiêu chuẩn dùng cho thử nghiệm và trong trường\r\nhợp có quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan, tụ điện phải được phục hồi.
\r\n\r\n4.23.7. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nSau đó các tụ điện phải được kiểm tra bằng\r\ncách xem xét.
\r\n\r\nCác phép đo được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật\r\nliên quan phải được thực hiện. Tụ điện được coi là không đạt nếu trong thời\r\ngian thử nghiệm hoặc cuối thử nghiệm không đáp ứng được các yêu cầu của yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.24. Sự thay đổi điện dung theo nhiệt độ
\r\n\r\n4.24.1. Phương pháp tĩnh
\r\n\r\n4.24.1.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nCác phép đo điện dung phải được thực hiện ở\r\nđiều kiện được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.24.1.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nTụ điện phải được duy trì lần lượt ở từng\r\nnhiệt độ sau đây:
\r\n\r\na) 20 oC ± 2 oC;
\r\n\r\nb) nhiệt độ mức dưới ± 3 oC;
\r\n\r\nc) nhiệt độ trung gian, nếu được yêu cầu\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật cụ thể;
\r\n\r\nd) 20 oC ± 2 oC;
\r\n\r\ne) nhiệt độ trung gian, nếu được yêu cầu\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật cụ thể;
\r\n\r\nf) nhiệt độ mức trên ± 2 oC;
\r\n\r\ng) 20 oC ± 2 oC.
\r\n\r\nNếu có yêu cầu đối với loại tụ điện cụ thể,\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan phải nêu có phải tránh sốc nhiệt, hoặc có phải quy\r\nđịnh tốc độ thay đổi nhiệt độ lớn nhất hay không.
\r\n\r\n4.24.1.3. Phương pháp đo
\r\n\r\nPhép đo điện dung phải được thực hiện ở mỗi\r\nnhiệt độ được quy định trên đây sau khi tụ điện đạt ổn định nhiệt.
\r\n\r\nĐiều kiện ổn định nhiệt được coi là đạt khi\r\nsự khác nhau giữa hai lần đọc trị số điện dung trong khoảng thời gian không nhỏ\r\nhơn 5 min không lớn hơn một lượng có thể phân biệt được đối với thiết bị đo.
\r\n\r\nPhép đo nhiệt độ thực phải được thực hiện với\r\nđộ chính xác thích hợp theo các yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nPhải chú ý trong quá trình đo để tránh ngưng\r\ntụ hoặc đọng sương trên bề mặt của các tụ điện.
\r\n\r\n4.24.1.4. Quy trình rút gọn
\r\n\r\nĐối với thử nghiệm phù hợp chất lượng từng\r\nlô, yêu cầu kỹ thuật cụ thể có thể được mô tả trình tự rút gọn, ví dụ các phép\r\nđo d), f) và g) (ở 4.24.1.2) trong dải nhiệt độ từ 20 oC đến nhiệt độ mức trên.
\r\n\r\n4.24.2. Phương pháp động
\r\n\r\nPhương pháp vẽ đồ thị có thể áp dụng để thay\r\nthế phương pháp tĩnh của 4.24.1. Các tụ điện phải chịu nhiệt độ thay đổi chậm.
\r\n\r\nThiết bị cảm biến nhiệt được cắm vào tụ điện\r\ngiả bao gồm cả tụ điện thử nghiệm sao cho đảm bảo nhiệt độ đo giống với nhiệt\r\nđộ xuất hiện trong tụ điện thử nghiệm. Sử dụng cầu tự cân bằng hoặc thiết bị so\r\nsánh để đo điện dung.
\r\n\r\nĐầu ra của cầu đo hoặc bộ so sánh phải được\r\nghép với trục "Y" của bảng vẽ đồ thị.
\r\n\r\nĐầu ra của thiết bị cảm biến nhiệt phải được\r\nghép với trục "X" của bảng vẽ đồ thị.
\r\n\r\nNhiệt độ phải được thay đổi chậm đủ để tạo\r\nnên đường cong đều đặn khép kín tại nhiệt độ mức dưới hoặc mức trên. Nhiệt độ\r\nphải được thay đổi tuần tự từ 20 oC về nhiệt độ mức dưới rồi đến\r\nnhiệt độ mức trên và về 20 oC. Phải thực hiện hai chu kỳ.
\r\n\r\nPhương pháp này có thể chỉ được sử dụng khi\r\ncó thể chứng minh rằng các kết quả giống như các kết quả của phương pháp sử\r\ndụng nhiệt độ ổn định.
\r\n\r\nTrong trường hợp có mâu thuẫn, phải sử dụng\r\nphương pháp tĩnh.
\r\n\r\n4.24.3. Phương pháp tính
\r\n\r\náp dụng như sau:
\r\n\r\nCo = điện dung đo được theo điểm\r\nd) của 4.24.1.2;
\r\n\r\nTo = nhiệt độ đo được theo điểm d)\r\ncủa 4.24.1.2;
\r\n\r\nCi = điện dung đo được theo nhiệt\r\nđộ thử nghiệm, khác với điểm a), d) và g) của 4.24.1.2;
\r\n\r\nTi = nhiệt độ đo được trong thử\r\nnghiệm.
\r\n\r\n4.24.3.1. Đặc tính nhiệt điện dung
\r\n\r\nSự thay đổi điện dung là hàm số của nhiệt độ\r\nphải được tính cho tất cả các giá trị của Ci như sau:
\r\n\r\nSự thay đổi điện dung thường được tính bằng\r\nphần trăm.
\r\n\r\n4.24.3.2. Hệ số nhiệt điện dung và độ trôi\r\nđiện dung theo chu kỳ nhiệt độ
\r\n\r\na) Hệ số nhiệt điện dung (
Hệ số nhiệt điện dung (
Hệ số nhiệt thường được biểu thị bằng phần\r\ntriệu trên nhiệt độ kenvin (10-6/K).
\r\n\r\nb) Độ trôi điện dung theo chu kỳ nhiệt độ
\r\n\r\nĐộ trôi điện dung theo chu kỳ nhiệt độ phải\r\nđược tính cho các điểm đo của 4.24.1.2 a), d) và g) theo công thức sau:
\r\n\r\nnhư yêu cầu trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.\r\nĐộ trôi điện dung theo chu kỳ nhiệt độ là giá trị lớn nhất trong các giá trị\r\nđó.
\r\n\r\nĐộ trôi điện dung thường biểu thị bằng phần\r\ntrăm.
\r\n\r\n4.25. Bảo quản
\r\n\r\n4.25.1. Lưu giữ ở nhiệt độ cao
\r\n\r\n4.25.1.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo được mô tả trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.25.1.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nTụ điện phải chịu thử nghiệm Bb của IEC\r\n60068-2-2 và sử dụng mức khắc nghiệt sau:
\r\n\r\n- nhiệt độ: Nhiệt độ mức trên
\r\n\r\n- thời gian: 96 h ± 4 h
\r\n\r\n4.25.1.3. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các\r\nyêu cầu
\r\n\r\nSau khi phục hồi ít nhất là 16 h phải thực\r\nhiện các phép đo được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.25.2. Lưu giữ ở nhiệt độ thấp
\r\n\r\n4.25.2.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo được mô tả trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.25.2.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu thử nghiệm Ab của TCVN\r\n7699-2-1 (IEC 60068-2-1). Các tụ điện phải được lưu giữ ở -40 oC\r\ntrong khoảng thời gian 4 h sau khi đạt ổn định nhiệt, hoặc bảo quản trong 16 h,\r\nchọn thời gian nào ngắn hơn.
\r\n\r\nMẫu thử nghiệm có thể được đưa vào tủ thử ở\r\nnhiệt độ bất kỳ từ nhiệt độ phòng thí nghiệm về -40 oC.
\r\n\r\n4.25.2.3 .Kiểm tra kết thúc, phép đo và các\r\nyêu cầu
\r\n\r\nSau khi phục hồi ít nhất là 16 h, phải thực\r\nhiện các phép đo mô tả trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.26. Quá áp
\r\n\r\n4.26.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo được mô tả trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.26.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nMạch thử nghiệm thích hợp được chỉ ra ở Hình\r\n11 và Hình 12.
\r\n\r\nChú thích: Mạch thyristor có ưu điểm là tỷ lệ\r\nlặp lại cao và không bị tiếp xúc xấu và nảy tiếp điểm.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image019.jpg\")
![](\"00912408_files/image020.jpg\")
Dạng sóng điện áp qua tụ điện thử nghiệm phải\r\nxấp xỉ như trên Hình 13.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image021.jpg\")
4.26.3. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo được quy định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.26.4. Thông tin cần nêu trong yêu cầu kỹ\r\nthuật cụ thể liên quan
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải cho các thông\r\ntin sau:
\r\n\r\na) hằng số thời gian nạp điện do điện trở\r\ntrong của nguồn cung cấp, điện trở của mạch nạp điện và tụ điện thử nghiệm;
\r\n\r\nb) hằng số thời gian phóng điện do điện trở\r\ncủa mạch phóng điện và tụ điện thử nghiệm;
\r\n\r\nc) tỷ số của quá áp trên điện áp danh định\r\nhoặc điện áp mức (nếu có);
\r\n\r\nd) số chu kỳ thử nghiệm;
\r\n\r\ne) thời gian của chu kỳ nạp điện;
\r\n\r\nf) thời gian của chu kỳ phóng điện;
\r\n\r\ng) tốc độ lặp lại (số chu kỳ mỗi giây);
\r\n\r\nh) nhiệt độ, nếu khác với điều kiện khí quyển\r\ntiêu chuẩn cho thử nghiệm.
\r\n\r\n4.27. Thử nghiệm nạp điện và phóng điện
\r\n\r\n4.27.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo được quy định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nMạch thử nghiệm phù hợp được cho trong\r\n4.26.2, Hình 11 và Hình 12.
\r\n\r\nDạng sóng điện áp ngang qua và dạng sóng dòng\r\nđiện chạy qua tụ điện thử nghiệm tương tự như chỉ ra trên Hình 14.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image023.jpg\")
4.27.3. Nạp và phóng
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải nêu các thông\r\ntin sau đây:
\r\n\r\na) hằng số thời gian nạp điện do điện trở\r\ntrong của nguồn cung cấp, điện trở của mạch nạp điện và điện dung của tụ điện\r\nthử nghiệm;
\r\n\r\nb) hằng số thời gian phóng điện do điện trở\r\ncủa mạch phóng điện và điện dung của tụ điện thử nghiệm;
\r\n\r\nc) điện áp được đặt trong quá trình nạp điện,\r\nnếu khác với điện áp danh định;
\r\n\r\nd) số chu kỳ thử nghiệm;
\r\n\r\ne) thời gian của quá trình nạp điện;
\r\n\r\nf) thời gian của quá trình phóng điện;
\r\n\r\ng) tốc độ lặp lại (số chu kỳ mỗi giây);
\r\n\r\nh) nhiệt độ, nếu khác với điều kiện khí quyển\r\ntiêu chuẩn cho thử nghiệm.
\r\n\r\n4.27.4. Dòng điện khởi động
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải nêu các thông\r\ntin sau đây:
\r\n\r\na) dòng điện nạp đỉnh;
\r\n\r\nb) điện áp được đặt trong quá trình nạp điện,\r\nnếu khác với điện áp danh định;
\r\n\r\nc) số chu kỳ thử nghiệm;
\r\n\r\nd) thời gian của quá trình nạp điện, tính\r\nbằng mili giây;
\r\n\r\ne) thời gian của quá trình phóng điện;
\r\n\r\nf) tốc độ lặp lại;
\r\n\r\ng) nhiệt độ, nếu khác với điều kiện khí quyển\r\ntiêu chuẩn cho thử nghiệm.
\r\n\r\n4.27.3. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo được quy định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.28. Giảm áp suất (đối với tụ điện phân)
\r\n\r\nNếu không có quy định nào khác trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan, một trong các thử nghiệm sau phải được sử dụng để thử\r\nnghiệm cơ cấu giảm áp suất của tụ điện.
\r\n\r\n4.28.1. Thử nghiệm điện xoay chiều
\r\n\r\nĐiện áp đặt: điện áp xoay chiều có giá trị\r\nhiệu dụng không quá 0,7 lần điện áp một chiều danh định. Tần số của điện áp\r\nđặt: 50 Hz hoặc 60 Hz.
\r\n\r\nĐiện trở nối tiếp R = 0,5 lần trở kháng của\r\ntụ điện ở tần số thử nghiệm.
\r\n\r\n4.28.2. Thử nghiệm điện một chiều
\r\n\r\nĐiện áp đặt: điện áp một chiều được đặt theo\r\nchiều ngược lại với biên độ cần thiết để sinh ra dòng điện từ 1 A đến 10 A.
\r\n\r\n4.28.3. Thử nghiệm bằng khí nén
\r\n\r\nÁp suất khí nén đặt: áp suất khí được đưa vào\r\ntừ nguồn ngoài được tăng liên tục với tốc độ 20 kPa/s.
\r\n\r\n4.28.4. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo được quy định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.29. Các đặc tính ở nhiệt độ cao và nhiệt độ\r\nthấp
\r\n\r\n4.29.1. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nCác tụ điện phải chịu được các quy trình thử\r\nnghiệm nóng khô và thử nghiệm lạnh (4.21.2 và 4.21.4 tương ứng) cụ thể như dưới\r\nđây.
\r\n\r\nMức khắc nghiệt đối với các thử nghiệm này\r\nphải giống như đối với thử nghiệm nóng khô và thử nghiệm lạnh. Các thử nghiệm ở\r\nnhiệt độ trung gian có thể được mô tả trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nThực hiện các phép đo ở từng nhiệt độ quy\r\nđịnh sau khi tụ điện đã ổn định nhiệt.
\r\n\r\nĐiều kiện ổn định nhiệt coi là đạt được khi\r\nsự khác nhau giữa hai lần đọc của một đặc tính trong thời gian không nhỏ hơn 5\r\nmin, không lớn hơn một lượng có thể phân biệt được của thiết bị đo.
\r\n\r\n4.29.2. Yêu cầu
\r\n\r\nCác tụ điện không được vượt quá giới hạn như\r\nđược mô tả trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.30. Thử nghiệm ổn định nhiệt
\r\n\r\nThử nghiệm độ ổn định nhiệt có thể coi như\r\nthay thế cho thử nghiệm độ bền phù hợp với 4.23.4 d). Thử nghiệm được tiến hành\r\nphải được quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nTụ điện được cấp tải với bội số quy định của\r\ntổn thất công suất phản kháng danh định tại nhiệt độ danh định và trong khoảng\r\nthời gian theo quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nThử nghiệm ổn định nhiệt phải được thực hiện\r\nbằng cách đo độ tăng nhiệt là hàm số của thời gian ở cuối thời gian quy định.\r\nĐộ tăng nhiệt phải nằm trong giới hạn quy định.
\r\n\r\nPhép đo độ tăng nhiệt có thể được thực hiện\r\nbằng cách dùng nhiệt ngẫu, nhiệt trở bán dẫn, nhiệt kế hồng ngoại, nhiệt kế\r\nhồng ngoại tự ghi, v.v... Phải chú ý để đảm bảo sai số của phép đo không được\r\nvượt quá ± 1oC và chú ý để các sai số do dẫn nhiệt dọc theo dây đo\r\nlà nhỏ nhất.
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải quy định điểm\r\nđo và phương pháp lắp đặt (xem IEC 60068-2-2, 6.4).
\r\n\r\n4.31. Khả năng chịu dung môi của linh kiện
\r\n\r\n4.31.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo mô tả trong yêu\r\ncầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.31.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nCác linh kiện phải chịu thử nghiệm XA của\r\nTCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45) cụ thể như sau:
\r\n\r\na) dung môi được sử dụng: IPA (TCVN 7699-2-45\r\n(IEC 60068-2-45), 3.1.2);
\r\n\r\nb) nhiệt độ dung môi: 23 oC ± 5 oC,\r\nnếu không có quy định nào khác trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể;
\r\n\r\nc) thử nghiệm: phương pháp 2 (không chà xát);
\r\n\r\nd) thời gian phục hồi: 48 h, nếu không có quy\r\nđịnh nào khác trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.31.3. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo được mô tả trong\r\nyêu cầu kỹ thuật liên quan và phải đáp ứng các yêu cầu quy định.
\r\n\r\n4.32. Khả năng chịu dung môi của nhãn
\r\n\r\n4.32.1. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nCác linh kiện phải chịu thử nghiệm XA của\r\nTCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45) cụ thể như sau:
\r\n\r\na) dung môi được sử dụng: IPA (TCVN 7699-2-45\r\n(IEC 60068-2-45), 3.1.2);
\r\n\r\nb) nhiệt độ dung môi: 23 oC ± 5 oC;
\r\n\r\nc) thử nghiệm: phương pháp 1 (có chà xát);
\r\n\r\nd) vật liệu chà xát: len cotton;
\r\n\r\ne) thời gian phục hồi: không áp dụng nếu\r\nkhông có quy định nào khác trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.32.2. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nSau thử nghiệm, nhãn vẫn phải rõ ràng.
\r\n\r\n4.33. Lắp đặt (chỉ đối với tụ điện chíp)
\r\n\r\n4.33.1. Chất nền
\r\n\r\nTụ điện chíp phải được lắp đặt trên tấm nền\r\nphù hợp, phương pháp lắp đặt phụ thuộc vào kết cấu của tụ điện. Vật liệu nền\r\nthường là epoxy len thủy tinh dạng tấm mạch in (được xác định trong IEC\r\n61249-2-7) dày 1,6 mm ± 0,20 mm hoặc 0,8 mm ± 0,10 mm hoặc bằng tấm nền 90 %\r\nđến 98 % nhôm, dày 0,635 mm ± 0,05 mm hoặc lớn hơn, và không được ảnh hưởng đến\r\nkết quả của thử nghiệm hoặc phép đo bất kỳ. Yêu cầu kỹ thuật cụ thể phải chỉ ra\r\nvật liệu được dùng cho các phép đo điện.
\r\n\r\nTấm nền phải có diện tích tiếp xúc phủ kim\r\nloại có khoảng cách thích hợp để cho phép lắp đặt tụ điện chíp và nối điện đến\r\nchân tụ điện chíp. Chi tiết phải được quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nCác ví dụ về tấm nền thử nghiệm đối với các\r\nthử nghiệm cơ và điện được chỉ ra tương ứng trên Hình 15 và Hình 16.
\r\n\r\nNếu áp dụng phương pháp lắp đặt khác thì phải\r\nmô tả rõ ràng trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.33.1.1. Hàn sóng
\r\n\r\nNếu yêu cầu kỹ thuật cụ thể quy định hàn\r\nsóng, dán, mà chi tiết được quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan, phải\r\nđược dùng để gắn linh kiện vào tấm nền trước khi hàn.
\r\n\r\nCác điểm dán nhỏ phải được đặt giữa hai phần\r\ndẫn của tấm nền bằng thiết bị phù hợp để có thể lặp lại kết quả như trên.
\r\n\r\nCác tụ điện chíp được đặt lên các điểm dán\r\nbằng các kẹp. Để keo dính không dính vào phần dẫn, các tụ điện chíp không được\r\nxê dịch sang hướng khác.
\r\n\r\nTấm nền có tụ điện chíp phải được xử lý nhiệt\r\ntrong lò ở 100 oC trong 15 min.
\r\n\r\nTấm nền phải được hàn bằng hệ thống hàn sóng.\r\nHệ thống phải được điều chỉnh để có nhiệt độ ban đầu từ 80 oC đến\r\n100 oC, bể hàn ở 260 oC ± 5 oC và thời gian\r\nhàn là 5 s ± 0,5 s.
\r\n\r\nTấm nền phải được làm sạch trong 3 min trong\r\ndung môi phù hợp (xem TCVN 7699-2-45 (IEC 60068-2-45), 3.1.2).
\r\n\r\n4.33.1.2. Hàn nóng chảy thiếc
\r\n\r\nNếu yêu cầu kỹ thuật cụ thể quy định hàn bằng\r\ncách làm nóng chảy thiếc, áp dụng trình tự lắp đặt sau:
\r\n\r\na) Chất hàn dùng ở dạng thành phẩm hoặc dạng\r\nbột nhão phải chứa bạc (tối thiểu 2 %) chất hàn Sn/Pb eutecti cùng với chất gây\r\nchảy như trong IEC 60068-2-20. Có thể thay chất hàn khác như 60/40 hoặc 63/37\r\nđối với tụ điện chíp có kết cấu màng lọc chất hàn. Thiếc hàn không chì sử dụng\r\nở dạng thành phẩm hoặc dạng bột nhão phải là Sn96,5Ag3,0Cu0,5 hoặc thành phần\r\ntương tự, cùng với chất gây chảy như được quy định trong IEC 60068-2-58;
\r\n\r\nb) Sau đó đặt tụ điện chíp lên vùng tiếp xúc\r\nphủ kim loại của tấm nền thử nghiệm để tạo tiếp xúc giữa tụ điện chíp và vùng\r\ntiếp xúc của tấm nền.
\r\n\r\nc) Sau đó đặt tấm nền trong hoặc trên hệ\r\nthống nhiệt phù hợp (nấu chảy thiếc, tấm nhiệt, lò tunel, v.v...). Nhiệt độ của\r\ntừng loại phải duy trì trong khoảng từ 215 oC đến 26 0oC\r\ncho đến khi chất hàn nóng chảy và tạo thành liên kết chất hàn đồng nhất, nhưng\r\nkhông lâu hơn 10 s.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1: Chất gây chảy phải được làm sạch\r\nbằng dung môi thích hợp (xem IEC 60068-2-45, 3.1.2). Mọi thao tác bằng tay phải\r\ntránh bị ô nhiễm. Phải chú ý giữ sạch phòng thử nghiệm và duy trì thời gian đặt\r\ncác phép đo thử nghiệm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 2: Yêu cầu kỹ thuật cụ thể có thể\r\nyêu cầu dải nhiệt độ hạn chế hơn.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Nếu áp dụng phương pháp hàn hơi,\r\nphương pháp tương tự có thể được áp dụng với nhiệt độ thích hợp.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image024.gif\")
Vật liệu: len thuỷ tinh epoxy
\r\n\r\nChiều dày: 1,6 mm ± 0,20 mm hoặc 0,8 mm ±\r\n0,10 mm
\r\n\r\n
\r\n(có thể không thích hợp cho phép đo trở kháng)
![](\"00912408_files/image025.jpg\")
Vật liệu: nền nhôm 90 % đến 98 %
\r\n\r\nChiều dày: 0,635 mm ± 0,05 mm hoặc lớn hơn
\r\n\r\nCác chú thích cho Hình 15 và Hình 16
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 1:
\r\n\r\n| \r\n
| \r\n \r\n Vùng bám thiếc \r\n | \r\n
| \r\n
| \r\n \r\n Vùng không bám thiếc (phủ sơn không bám\r\n thiếc) \r\n | \r\n
![](\"00912408_files/image026.gif\"){kind=small}
![](\"00912408_files/image027.gif\"){kind=small}
CHÚ THÍCH 2: Tất cả các kích thước tính bằng\r\nmilimét.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 3: Các kích thước không nêu hoặc\r\nkhông phù hợp đối với loại linh kiện quy định phải được mô tả trong yêu cầu kỹ\r\nthuật cụ thể theo thiết kế và cỡ linh kiện thử nghiệm.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 4: Phần dẫn này có thể bỏ qua hoặc\r\nsử dụng như một điện cực bảo vệ.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH 5: Kích thước W phụ thuộc vào thiết\r\nkế của thiết bị thử nghiệm.
\r\n\r\n4.34. Độ bám chắc
\r\n\r\n4.34.1. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nTụ điện chíp phải được lắp đặt như mô tả\r\ntrong IEC 60068-2-21, thử nghiệm U.
\r\n\r\nTụ điện phải chịu thử nghiệm Ue3 ở IEC\r\n60068-2-21 trong các điều kiện dưới đây.
\r\n\r\nĐặt lực vào thân tụ điện chíp một cách tăng\r\ndần, không đột ngột, và phải duy trì trong 10 s ± 1 s. Nếu không có quy định\r\nkhác trong yêu cầu kỹ thuật liên quan thì lực đặt phải được chọn là 1 N, 2 N, 5\r\nN hoặc 10 N.
\r\n\r\n4.34.2. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nTụ điện chíp phải được kiểm tra bằng cách xem\r\nxét trong tình trạng đã lắp đặt. Không được có hư hại nhìn thấy được.
\r\n\r\n4.35. Thử nghiệm uốn chất nền
\r\n\r\n4.35.1. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nTụ điện chíp được lắp đặt trên tấm mạch in\r\nbằng len thủy tinh epoxy như mô tả trong 4.33.
\r\n\r\na) Điện dung của tụ điện chíp phải được đo\r\nnhư quy định trong 4.57 và trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nb) Tụ điện phải chịu thử nghiệm Ue của IEC\r\n60068-2-21 sử dụng các điều kiện như quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan\r\nđối với độ lệch D và số lần uốn.
\r\n\r\nc) Phải đo điện dung của tụ điện chíp như quy\r\nđịnh ở điểm a), với tấm mạch ở tư thế uốn. Thay đổi giá trị điện dung không\r\nđược vượt quá các giới hạn quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.35.2. Phục hồi
\r\n\r\nTấm mạch in phải được để phục hồi từ tư thế\r\nuốn rồi sau đó lấy ra khỏi gá thử nghiệm.
\r\n\r\n4.35.3. Kiểm tra kết thúc và yêu cầu
\r\n\r\nTụ điện chíp phải được kiểm tra bằng mắt và\r\nkhông được có hư hại nhìn thấy được.
\r\n\r\n4.36. Sự hấp thụ điện môi
\r\n\r\n4.36.1. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nTụ điện thử nghiệm được đặt trong vỏ chống\r\nnhiễu để giảm hiệu ứng trường điện.
\r\n\r\nĐối với phép đo điện áp, sử dụng đồng hồ đo\r\nđiện hoặc các thiết bị đo phù hợp khác có điện trở đầu vào tối thiểu là 10 000\r\nMW
Điện trở của gá, các chuyển mạch, v.v... khi\r\nsử dụng không được ảnh hưởng đến điện trở đầu vào của hệ thống đo.
\r\n\r\nSau đó tụ điện phải được nạp điện ở điện áp\r\nmột chiều trong 60 min ± 1 min. Quá dòng ban đầu không được vượt quá 50 mA.
\r\n\r\nỞ cuối chu kỳ này, tháo tụ điện khỏi nguồn\r\ncung cấp và cho phóng điện qua điện trở 5 W\r\n± 5 % trong 10 s ± 1 s, trừ khi vượt quá giá trị quy định du/dt.
\r\n\r\nĐiện trở phóng điện phải được tháo khỏi tụ\r\nđiện tại cuối chu kỳ phóng điện 10 s. Phải đo điện áp duy trì hoặc điện áp phục\r\nhồi trên tụ điện.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Điện áp phục hồi là giá trị điện\r\náp lớn nhất xuất hiện giữa các chân của tụ trong thời gian ± 15 min.
\r\n\r\nSự hấp thụ điện môi phải được tính theo công\r\nthức sau:
\r\n\r\ntrong đó:
\r\n\r\nd là sự hấp thụ điện môi tính bằng phần trăm;
\r\n\r\nU1 là điện áp phục hồi;
\r\n\r\nU2 là điện áp nạp;
\r\n\r\nCx là điện dung của tụ điện thử\r\nnghiệm;
\r\n\r\nCo là điện dung đầu vào của hệ\r\nthống đo.
\r\n\r\nNếu Co nhỏ hơn 10 % Cx\r\nthì công thức trên có thể được đơn giản thành:
\r\n\r\n4.36.2. Yêu cầu
\r\n\r\nSự hấp thụ điện môi qua tính toán không được\r\nvượt quá giới hạn quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.37. Nóng ẩm gia tốc không đổi (chỉ đối với\r\ntụ sứ nhiều lớp)
\r\n\r\n4.37.1. Lắp đặt tụ điện
\r\n\r\nTụ điện phải được lắp đặt sao cho mỗi tụ được\r\nmắc nối tiếp với một điện trở. Nửa số tụ phải được mắc nối tiếp với các điện\r\ntrở 100 kW
4.37.2. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nTụ điện được lắp đặt như 4.37.1 phải được đo\r\nđiện trở cách điện bằng điện áp có giá trị là 1,5 V ± 0,1 V đặt qua tụ điện và\r\nđiện trở mắc nối tiếp.
\r\n\r\nĐiện trở cách điện phải đáp ứng các yêu cầu\r\nnêu trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.37.3. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nTụ điện và điện trở được mắc phải được giữ ở\r\nnhiệt độ (85 ± 2) oC; độ ẩm tương đối (85 ± 3) % trong thời gian\r\nđược quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan. Các tụ điện được nối với các\r\nđiện trở 100 kW
Phải lưu ý tránh đọng nước trên các tụ điện\r\nhoặc tấm nền. Điều này có thể xảy ra nếu mở cửa trong quá trình thử nghiệm\r\ntrước khi độ ẩm xuống thấp.
\r\n\r\n4.37.4. Phục hồi
\r\n\r\nNgắt điện áp cung cấp, các tụ điện và điện\r\ntrở được đưa ra khỏi tủ thử nghiệm và để phục hồi từ 4 h đến 24 h trong điều\r\nkiện khí quyển tiêu chuẩn cho thử nghiệm.
\r\n\r\n4.37.5. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nCác tụ điện được lắp đặt như trong 4.37.1\r\nphải được đo điện trở cách điện như 4.37.2 trên đây.
\r\n\r\nĐiện trở cách điện phải lớn hơn 0,1 lần giới\r\nhạn ban đầu.
\r\n\r\n4.38. Khả năng cháy thụ động
\r\n\r\n4.38.1. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nThử nghiệm phải được thực hiện theo IEC\r\n60695-11-5.
\r\n\r\nCác tụ điện thử nghiệm phải được giữ trong\r\nlửa ở vị trí tốt nhất thúc đẩy quá trình cháy (nếu vị trí không được cho trong\r\nyêu cầu kỹ thuật cụ thể thì nó phải được ước lượng bằng thử nghiệm trước đó).\r\nMỗi mẫu thử nghiệm chỉ được đưa vào ngọn lửa một lần.
\r\n\r\nPhải thử nghiệm cỡ vỏ nhỏ nhất, trung bình\r\n(trong trường hợp có năm cỡ vỏ trở lên) và lớn nhất. Ba mẫu có điện dung lớn\r\nnhất và ba mẫu có điện dung nhỏ nhất của mỗi cỡ vỏ phải được thử nghiệm, lấy\r\nkết quả theo sáu mẫu thử cho mỗi cỡ vỏ.
\r\n\r\nThời gian đưa vào ngọn lửa và thời gian cháy,\r\nxem Bảng 2. Nếu áp dụng, yêu cầu kỹ thuật cụ thể phải quy định loại khả năng\r\ncháy thụ động.
\r\n\r\n4.38.2. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nThời gian cháy của mẫu bất kỳ không được vượt\r\nquá thời gian quy định trong Bảng 2. Phần cháy hoặc than đỏ rơi xuống không\r\nđược làm cháy giấy bản.
\r\n\r\n| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n |||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n ||
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
| \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n \r\n | \r\n
4.39. Thử nghiệm quá dòng cao
\r\n\r\n4.39.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nKhông yêu cầu.
\r\n\r\n4.39.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nThử nghiệm phải được thực hiện ở nhiệt độ (23\r\n± 3) oC.
\r\n\r\nMạch thử nghiệm được chỉ ra trên Hình 17.\r\nChuyển mạch có thể là cơ khí hoặc điện tử, nhưng ưu tiên chuyển mạch điện tử.\r\nKhi chuyển mạch ở vị trí A, tụ điện cần thử nghiệm được nạp điện trong 1 s từ\r\ntụ điện phân trở kháng thấp có điện dung tối thiểu là 20 000
Phải kiểm soát được điện áp qua tụ điện cần\r\nthử nghiệm. Phải thực hiện thêm 4 lần nạp và phóng của tụ điện cần thử nghiệm\r\ntrong các điều kiện giống nhau.
\r\n\r\nCác tụ điện có thể được thử nghiệm trong mạch\r\nsong song với điều kiện là:
\r\n\r\na) điện dung tổng của chúng nhỏ hơn 2 % điện\r\ndung của tụ điện dự trữ, và
\r\n\r\nb) tất cả các điều kiện quy định ở trên được\r\nđáp ứng cho từng tụ điện thử nghiệm.
\r\n\r\nCầu chảy có thể là một sợi dây chảy được\r\nthiết kế để chảy trong phạm vi 0,5 A đến 2,0 A hoặc mạch điện tử được thiết kế\r\nđể nhả trong dải dòng điện như vậy.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image030.jpg\")
4.39.3. Yêu cầu đối với mạch nạp
\r\n\r\nQuy trình thử nghiệm ở 4.39.2 phải được thực\r\nhiện với tụ điện 47 m![](\"00912408_files/image031.gif\")
và đạt được 90 % điện áp\r\nđỉnh trong vòng 60 m
CHÚ THÍCH: Yêu cầu này có nhiều khả năng\r\nkhông đáp ứng được nếu điện trở một chiều của mạch nạp điện bao gồm dây dẫn,\r\ncầu chảy và cơ cấu giữ không nhỏ hơn 0,5 W.
\r\n\r\n4.39.4. Các linh kiện không phù hợp
\r\n\r\nTụ điện phải được xem là linh kiện không phù\r\nhợp nếu cầu chảy chảy hoặc mạch điện tử nhả ở từng giai đoạn nạp hoặc phóng bất\r\nkỳ nào của tụ điện
\r\n\r\n4.40. Quá tải ở điện áp quá độ (đối với tụ\r\nđiện phân nhôm có chất điện phân không thuộc loại rắn)
\r\n\r\n4.40.1. Phép đo ban đầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo được quy định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n4.40.2 Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\n(Các) tụ điện phải được ổn định ở nhiệt độ\r\nthử nghiệm bằng cách đặt điện áp UR ± 1 % từ nguồn điện đã điều\r\nchỉnh. ở cuối giai đoạn này, thử nghiệm có thể được bắt đầu nhưng không chậm\r\nhơn 48 h sau khi ổn định.
\r\n\r\nVí dụ về mạch thử nghiệm được chỉ ra trên\r\nHình 18.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image032.jpg\")
Tụ điện cần thử nghiệm CX được nạp\r\ntừ khối nguồn cung cấp 1 và dãy tụ điện phụ CA được nạp đến điện áp\r\ncao hơn điện áp thử nghiệm UP từ khối nguồn cung cấp 2. Khi kích\r\nhoạt thyristor T, dãy tụ điện CA được phóng qua cuộn cảm L nạp cho\r\ntụ điện cần thử nghiệm CX đến UP. Khi ngắt thyristor, tụ\r\nđiện thử nghiệm CX được phóng qua điện trở R từ UP về UR.
\r\n\r\nDạng sóng điện áp qua tụ điện cần thử nghiệm\r\nphải xấp xỉ như chỉ ra trên Hình 19.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image033.jpg\")
4.40.3. Kiểm tra kết thúc, phép đo và các yêu\r\ncầu
\r\n\r\nPhải thực hiện các phép đo được quy định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\n4.40.4. Điều kiện cần quy định trong yêu cầu\r\nkỹ thuật liên quan
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật liên quan phải quy định:
\r\n\r\na) thời gian của giai đoạn ổn định;
\r\n\r\nb) giá trị của điện áp đỉnh quá độ UP;
\r\n\r\nc) giá trị của CA, L và R để cho\r\nthời gian nạp lớn nhất là 15 ms;
\r\n\r\nd) thời gian của từng chu kỳ thử nghiệm;
\r\n\r\ne) số chu kỳ thử nghiệm;
\r\n\r\nf) nhiệt độ, nếu khác với điều kiện khí quyển\r\ntiêu chuẩn cho thử nghiệm.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Trong tiêu chuẩn này, khi sử dụng IEC 60410\r\nđể kiểm tra định tính thì có một số giải thích cho các điều của tiêu chuẩn IEC\r\n60410 như dưới đây.
\r\n\r\n1. Cơ quan chức trách là cơ quan uỷ quyền\r\nquốc gia ban hành các nguyên tắc cơ bản và các nguyên tắc về quy trình.
\r\n\r\n1.5. Đơn vị sản phẩm là linh kiện điện tử\r\nđược xác định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\n2. Chỉ yêu cầu các định nghĩa sau đây:
\r\n\r\n- Khuyết tật là sự không phù hợp bất kỳ của\r\nđơn vị sản phẩm so với các yêu cầu quy định.
\r\n\r\n- Có khuyết tật là một đơn vị sản phẩm có\r\nchứa một hoặc nhiều khuyết tật.
\r\n\r\n3.1. Mức độ không phù hợp của sản phẩm được\r\ntính bằng phần trăm sản phẩm có khuyết tật
\r\n\r\n3.3. Không áp dụng
\r\n\r\n4.5. Cơ quan chức trách là Ban kỹ thuật IEC\r\nbiên soạn yêu cầu kỹ thuật cụ thể còn để trống, nó là một phần của yêu cầu kỹ\r\nthuật chung hoặc yêu cầu kỹ thuật từng phần.
\r\n\r\n5.4. Nhà chức trách là Trưởng ban thanh tra\r\n(DMR), hoạt động theo các quy trình được cho trong tài liệu định rõ sự giám sát\r\nđược nhà sản xuất đồng ý và Ban kiểm tra, giám sát nhà nước chấp nhận.
\r\n\r\n6.2. Nhà chức trách là Trưởng ban thanh tra.
\r\n\r\n6.3. Không áp dụng.
\r\n\r\n6.4. Nhà chức trách là Trưởng ban thanh tra.
\r\n\r\n8.1. Kiểm tra thông thường luôn được áp dụng\r\nở phần đầu của quá trình kiểm tra
\r\n\r\n8.3.3. d) Nhà chức trách là Trưởng ban thanh\r\ntra
\r\n\r\n8.4. Nhà chức trách là Ban kiểm tra, giám sát\r\nnhà nước.
\r\n\r\n9.2. Cơ quan chức trách là Ban kỹ thuật IEC\r\nbiên soạn yêu cầu kỹ thuật cụ thể còn để trống, nó là một phần của yêu cầu kỹ\r\nthuật chung hoặc yêu cầu kỹ thuật từng phần.
\r\n\r\n9.4. (Chỉ câu thứ tư) không áp dụng
\r\n\r\n(Chỉ câu thứ năm) nhà chức trách là Trưởng\r\nban thanh tra.
\r\n\r\n10.2. Không áp dụng.
\r\n\r\n\r\n\r\n
B.1. Nếu có yêu cầu, ban kỹ thuật số 40 của IEC\r\nphải đưa ra dự thảo yêu cầu kỹ thuật cụ thể cho các điện trở và tụ điện dùng\r\ntrong thiết bị điện tử, chỉ khi thoả mãn các điều kiện sau:
\r\n\r\na) yêu cầu kỹ thuật chung đã được phê chuẩn
\r\n\r\nb) yêu cầu kỹ thuật từng phần, nếu có, đã\r\nđược lưu hành để chấp nhận là dự thảo cuối
\r\n\r\nc) yêu cầu kỹ thuật cụ thể còn để trống liên\r\nquan đã được lưu hành để chấp nhận là dự thảo cuối.
\r\n\r\nd) Có bằng chứng là ít nhất ba Uỷ ban nhà\r\nnước chấp nhận chính thức như tiêu chuẩn quốc gia, các yêu cầu kỹ thuật đảm bảo\r\nmột linh kiện có tính năng giống nhau nhất.
\r\n\r\nNếu Ủy ban nhà nước yêu cầu chính thức áp\r\ndụng phần lớn hoặc hầu hết trên toàn đất nước như mô tả trong các tiêu chuẩn\r\nquốc gia khác thì yêu cầu này phải được thêm vào cùng với các yêu cầu ở trên.
\r\n\r\nB.2. Yêu cầu kỹ thuật cụ thể, do ban kỹ thuật số\r\n40 soạn thảo, phải sử dụng các giá trị tiêu chuẩn hoặc các giá trị thích hợp,\r\ncác thông số đặc trưng, đặc tính và mức khắc nghiệt đối với các thử nghiệm về\r\nmôi trường, v.v... được cho trong yêu cầu kỹ thuật từng phần hoặc yêu cầu kỹ thuật\r\nchung tương ứng.
\r\n\r\nNhững ngoại lệ của yêu cầu kỹ thuật cụ thể so\r\nvới nguyên tắc này chỉ được thừa nhận khi được ban kỹ thuật số 40 đồng ý.
\r\n\r\nB.3. Yêu cầu kỹ thuật cụ thể không được lưu hành\r\nnhư một dự thảo cuối, cho tới khi các yêu cầu kỹ thuật từng phần và yêu cầu kỹ\r\nthuật còn để trống được phê chuẩn để công bố.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Tên nhà chế tạo
\r\n\r\nĐịa điểm
\r\n\r\nPhê chuẩn năng lực số Số\r\nyêu cầu kỹ thuật PCP/CQC Phát hành
\r\n\r\nSố tham chiếu trong sổ tay năng lực Ngày
\r\n\r\nMô tả PCP/CQC
\r\n\r\nMục đích của PCP/CQC
\r\n\r\nBản vẽ viện dẫn
\r\n\r\nNhận dạng phần
\r\n\r\n\r\n\r\n
D.1. Lời giới thiệu
\r\n\r\nHồ sơ thử nghiệm phải ghi ngày tháng năm và\r\nphải gồm có các thông tin nêu trong Điều D.2, D.3 và D.4:
\r\n\r\nD.2. Quy định chung
\r\n\r\nPhải nêu các thông tin dưới đây:
\r\n\r\n- tên và địa chỉ của nhà chế tạo;
\r\n\r\n- nơi chế tạo, nếu khác với ở trên;
\r\n\r\n- số hiệu của yêu cầu kỹ thuật chung và từng\r\nphần, ngày phát hành và sửa đổi;
\r\n\r\n- số phát hành và ngày của bản mô tả năng\r\nlực;
\r\n\r\n- tham khảo yêu cầu kỹ thuật PCP/QCQ;
\r\n\r\n- tham khảo chương trình thử nghiệm phê chuẩn\r\nnăng lực, nếu áp dụng;
\r\n\r\n- danh mục thiết bị thử nghiệm được sử dụng\r\nkèm theo độ không đảm bảo đo thích hợp.
\r\n\r\nD.3. Tóm tắt thông tin thử nghiệm (đối với\r\ntừng CQC)
\r\n\r\nPhải nêu thông tin thử nghiệm dưới đây:
\r\n\r\n- các thử nghiệm;
\r\n\r\n- số lượng mẫu được thử nghiệm;
\r\n\r\n- số hạng mục không phù hợp cho phép;
\r\n\r\n- số hạng mục không phù hợp tìm được.
\r\n\r\nD.4. Ghi lại kết quả đo
\r\n\r\nGhi lại các kết quả đo được thực hiện trước\r\nvà sau các thử nghiệm về cơ, môi trường và thử nghiệm độ bền khác nhau trong đó\r\ncó quy định các giới hạn sau thử nghiệm hoặc các phép đo kết thúc.
\r\n\r\n\r\n\r\n
E.1. Giới thiệu
\r\n\r\nCác phương pháp thử nghiệm hiện có được đề\r\ncập trong tiêu chuẩn này phù hợp với tụ điện làm việc trong mạch điện có điện\r\náp đặt chủ yếu là điện áp một chiều. Hiện nay, có nhiều ứng dụng mà trong đó điện\r\náp đặt dưới dạng xung có đảo cực tính hoặc không đảo cực tính. Các xung này có\r\nthể liên tục, gián đoạn hoặc ngẫu nhiên.
\r\n\r\nTài liệu này quy định các yếu tố ảnh hưởng\r\ntới đặc tính xung và cách kiểm tra các đặc tính bằng thử nghiệm độ bền tương\r\nứng. Các tham số của xung được xác định. Các tổ hợp khác nhau của các tham số\r\nnày có thể tạo nên nguyên nhân hỏng khác nhau như dưới đây.
\r\n\r\n| \r\n Loại \r\n | \r\n \r\n Nguyên nhân hỏng \r\n | \r\n \r\n Thử nghiệm \r\n | \r\n
| \r\n Điện phân \r\n | \r\n \r\n Quá điện áp đột ngột \r\n | \r\n \r\n Quá áp \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n Quá điện áp ngược \r\n | \r\n \r\n Điện áp ngược \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n Quá nhiệt (I2R) \r\n | \r\n \r\n Xung hoặc xoay chiều \r\n | \r\n
| \r\n Bọc kim loại \r\n | \r\n \r\n Dòng điện đỉnh \r\n | \r\n \r\n Nạp điện/phóng điện (gián đoạn) \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n du/dt \r\n | \r\n \r\n Xung \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n Quá nhiệt (I2R) \r\n | \r\n \r\n Nạp điện/phóng điện \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n (gián đoạn) \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Các loại khác \r\n | \r\n \r\n du/dt \r\n | \r\n \r\n Xung \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n Quá nhiệt (I2R) \r\n | \r\n \r\n Xung hoặc xoay chiều \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n Quá điện áp đỉnh \r\n | \r\n \r\n Quá áp \r\n | \r\n
| \r\n \r\n | \r\n \r\n Ion hóa \r\n | \r\n \r\n Xoay chiều \r\n | \r\n
E.2. Điều kiện xung điển hình của tụ điện
\r\n\r\nCác con số liệt kê dưới đây áp dụng điển hình\r\nchỉ ra rằng các quy định thử nghiệm yêu cầu 100 000 hoặc 1 000 000 xung được quy\r\nvề chỉ hoạt động trong 5 s đến 50 s.
\r\n\r\nKhông có khả năng tạo nên một mạch điện mô\r\nphỏng tất cả các điều kiện yêu cầu.
\r\n\r\nTuy nhiên, có thể tạo được mạch mô phỏng các\r\nnhóm điều kiện khác nhau. Hiện tại không thể quy định rút gọn các điều kiện thử\r\nnghiệm để mô phỏng, ví dụ, làm việc trong năm năm.
\r\n\r\nE.2.1. Các ví dụ cho ứng dụng TV
\r\n\r\nE.2.1.1. S - Hiệu chỉnh
\r\n\r\n| \r\n \r\n | \r\n \r\n \r\n | \r\n
| \r\n Điện áp đỉnh điển hình \r\n | \r\n \r\n 25 V, 50 V, 180 V \r\n | \r\n
| \r\n Dòng điện đỉnh điển hình \r\n | \r\n \r\n 5 A đến 15 A \r\n | \r\n
| \r\n du/dt khoảng \r\n | \r\n \r\n 5 V/ms \r\n | \r\n
| \r\n Tần số \r\n | \r\n \r\n 15 kHz đến 20 kHz \r\n | \r\n
| \r\n Công suất phản kháng đến \r\n | \r\n \r\n 250 var \r\n | \r\n
E.2.1.2. Điều chỉnh dòng
\r\n\r\n| \r\n Điện áp đỉnh điển hình \r\n | \r\n \r\n đến 1 500 V \r\n | \r\n
| \r\n Dòng điện đỉnh điển hình \r\n | \r\n \r\n 5 A \r\n | \r\n
| \r\n du/dt \r\n | \r\n \r\n 180 V/ms \r\n | \r\n
E.2.1.3. Tụ điện nhiều tầng
\r\n\r\n| \r\n Điện áp đỉnh điển hình \r\n | \r\n \r\n 10 kV dòng một chiều có gợn sóng \r\n | \r\n
| \r\n Dòng điện đỉnh điển hình \r\n | \r\n \r\n 0,1 A \r\n | \r\n
| \r\n du/dt \r\n | \r\n \r\n đến 1 000 V/ms \r\n | \r\n
E.2.2. Ví dụ đối với thiết bị điện tử công\r\nsuất
\r\n\r\n| \r\n Điện áp đỉnh điển hình \r\n | \r\n \r\n 60 V đến 100 V \r\n | \r\n
| \r\n Dòng điện đỉnh điển hình \r\n | \r\n \r\n 40 A đến 100 A \r\n | \r\n
| \r\n du/dt \r\n | \r\n \r\n 1 V/ms\r\n đến 20 V/m | \r\n
| \r\n Tần số \r\n | \r\n \r\n 50 Hz đến 20 kHz \r\n | \r\n
| \r\n Công suất phản kháng đến \r\n | \r\n \r\n 500 var \r\n | \r\n
E.2.3. Ví dụ đối với thiết bị chuyển đổi một\r\nchiều - một chiều
\r\n\r\n| \r\n Điện áp đỉnh điển hình \r\n | \r\n \r\n 30 V \r\n | \r\n
| \r\n Dòng điện đỉnh điển hình \r\n | \r\n \r\n 6 A \r\n | \r\n
| \r\n du/dt \r\n | \r\n \r\n 600 V/ms \r\n | \r\n
| \r\n Tần số \r\n | \r\n \r\n đến 20 kHz \r\n | \r\n
E.2.4. Ví dụ đối với nguồn có phương thức\r\nđóng cắt
\r\n\r\n| \r\n Điện áp đỉnh điển hình \r\n | \r\n \r\n 15 V đến 400 V \r\n | \r\n
| \r\n Dòng điện đỉnh điển hình \r\n | \r\n \r\n 2 A đến 10 A \r\n | \r\n
| \r\n Tần số \r\n | \r\n \r\n 100 Hz đến 40 kHz \r\n | \r\n
E.2.5. Ví dụ đối với nguồn sáng xung và nguồn\r\nsáng laze
\r\n\r\n| \r\n Điện áp đỉnh điển hình \r\n | \r\n \r\n 1 kV đến 3 kV \r\n | \r\n
| \r\n Dòng điện đỉnh điển hình \r\n | \r\n \r\n 1 000 A \r\n | \r\n
| \r\n du/dt \r\n | \r\n \r\n khoảng 500 V/ms \r\n | \r\n
| \r\n Tần số \r\n | \r\n \r\n 1 kHz đến 5 kHz \r\n | \r\n
E.3. Ảnh hưởng của điện cảm lên thử nghiệm\r\nxung
\r\n\r\nCác phương pháp thử nghiệm xung được đề xuất\r\nbao gồm mạch thử nghiệm có sự nạp điện lặp lại và phóng điện của các tụ điện\r\ntrong mạch điện trở. Điều này tạo ra các đặc tính điện áp và dòng điện tăng luỹ\r\ntiến quy ước.
\r\n\r\nTuy nhiên, trong đa số ứng dụng, các ảnh\r\nhưởng điện cảm là quan trọng và có ảnh hưởng lớn đến khả năng phù hợp của tụ\r\nđiện ứng dụng.
\r\n\r\nĐiều này đặc biệt quan trọng với giá trị cao\r\ncủa dv/dt. Nếu tồn tại các điều kiện đối với suy giảm tới hạn (R2 =\r\n4L/C) thì ảnh hưởng là sự thay đổi nhỏ hình dáng đường cong nạp điện hoặc phóng\r\nđiện có ảnh hưởng không đáng kể tới mức khắc nghiệt của thử nghiệm.
\r\n\r\nTuy nhiên, nếu R2 < 4L/C thì có\r\nthể xuất hiện xung nhô lên có hoặc không có dao động tắt dần.
\r\n\r\nĐiều này có thể dẫn đến quá ứng suất và tăng\r\ntiêu tán công suất.
\r\n\r\n\r\n\r\n
F.1. Lời giới thiệu
\r\n\r\nViệc lặp lại thường xuyên các thử nghiệm độ\r\nbền trong khi kiểm tra sự phù hợp chất lượng của hệ thống IECQ tạo ra cơ hội để\r\nthu thập không chỉ các kết quả của chúng cho hồ sơ thử nghiệm được chứng nhận\r\n(CTR) mà còn tích luỹ chúng, trong khi có thể, để đánh giá dữ liệu về độ tin\r\ncậy. Vì thời gian thông thường của các thử nghiệm độ bền trên tụ điện là 1 000\r\nh hoặc 2 000h nên các bên quan tâm mong muốn kéo dài các thử nghiệm này để đánh\r\ngiá đáp ứng dài hạn của linh kiện cần đánh giá và để cải thiện cơ sở để đánh\r\ngiá độ tin cậy. Dưới đây là hướng dẫn để thực hiện và đánh giá các thử nghiệm\r\nđộ bền được kéo dài này.
\r\n\r\nF.2. Hướng dẫn
\r\n\r\nÁp dụng các hướng dẫn dưới đây.
\r\n\r\na) Điều kiện thử nghiệm tốt nhất là giống như\r\nđối với thử nghiệm độ bền tiêu chuẩn. Với lý do thích hợp bất kỳ, nếu chọn các\r\nđiều kiện thử nghiệm khác thì cần chỉ ra rõ ràng.
\r\n\r\nb) Đối với phép đo kết thúc, cần đo đặc tính\r\ngiống như đối với thử nghiệm độ bền tiêu chuẩn.
\r\n\r\nc) Thời gian ưu tiên đối với các thử nghiệm\r\nđộ bền kéo dài này là 8 000 h.
\r\n\r\nd) Thử nghiệm kéo dài chỉ để tham khảo cho\r\nđáp ứng dài hạn và độ tin cậy. Do đó, các giá trị đo được ghi lại cho các phân\r\ntích khác nhau hoặc đánh giá độ tin cậy khác mà không liên quan đến các tiêu\r\nchí hỏng hóc như quy định.
\r\n\r\ne) Có thể thực hiện các phép đo trung gian\r\n(từ 2 000 h đến 8 000 h).
\r\n\r\nf) Nếu có thỏa thuận giữa các bên quan tâm\r\nthì kết quả của thử nghiệm có thể được gộp vào trong hồ sơ thử nghiệm được\r\nchứng nhận (CTR) của lô xuất xưởng.
\r\n\r\ng) "Giải thích" các kết quả của các\r\nthử nghiệm tích lũy trong dữ liệu độ tin cậy thường là trách nhiệm của nhà chế\r\ntạo. Nếu người khác muốn sử dụng các kết quả của thử nghiệm tích luỹ để đánh\r\ngiá độ tin cậy thì hệ số gia tốc thích hợp đối với các linh kiện cần quan tâm\r\ncần được tính đến.
\r\n\r\n\r\n\r\n
G.1. Lời giới thiệu
\r\n\r\nĐể phát hiện hoạt tính về ăn mòn kim loại của\r\nmàng chất điện môi, phải thực hiện một thử nghiệm bổ sung đối với nóng ẩm,\r\nkhông đổi có đặt điện áp một chiều.
\r\n\r\nSai lệch các giá trị trung bình của điện dung\r\ncủa nhóm thử nghiệm có và không có điện áp một chiều chỉ ra ăn mòn có thể trên\r\nkim loại.
\r\n\r\nG.2. Quy trình thử nghiệm
\r\n\r\nThử nghiệm nóng ẩm, không đổi có đặt điện áp\r\nmột chiều phải được thực hiện trên nhóm thử nghiệm bổ sung. Mẫu dùng cho cả hai\r\nnhóm thử nghiệm có hoặc không có điện áp một chiều chỉ được nhà chế tạo linh\r\nkiện chuẩn bị để đảm bảo rằng mẫu dùng cho cả hai nhóm được chế tạo cùng vật\r\nliệu và có quy trình chế tạo đồng nhất. Số lượng mẫu dùng cho nhóm thử nghiệm\r\nbổ sung có điện áp một chiều bằng số lượng mẫu dùng cho nhóm thử nghiệm không\r\ncó điện áp một chiều.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Q.1. Quy định chung
\r\n\r\nKhi tiêu chuẩn này và các tiêu chuẩn liên\r\nquan khác được sử dụng cho mục đích của hệ thống đánh giá chất lượng đầy đủ như\r\nhệ thống đánh giá chất lượng IEC đối với linh kiện điện tử (IECQ) đòi hỏi phải\r\nphù hợp với Điều Q.5, Q.6 hoặc Q.14.
\r\n\r\nKhi các tiêu chuẩn này không sử dụng cho hệ\r\nthống đánh giá chất lượng mà cho các mục đích th nghiệm thiết kế hoặc thử\r\nnghiệm điển hình thì có thể sử dụng các quy trình và các yêu cầu của Q.5.1 và\r\nQ.5.3b), nhưng các thử nghiệm và các phần của thử nghiệm phải được tiến hành\r\ntheo thứ tự cho trong danh mục thử nghiệm.
\r\n\r\nTrước khi các linh kiện có thể đạt chất lượng\r\ntheo quy trình của điều này thì nhà chế tạo phải có được phê chuẩn công ty của\r\nmình theo các điều khoản của IEC QC 001002-3.
\r\n\r\nPhương pháp sẵn có để phê chuẩn các linh kiện\r\nđã được đánh giá chất lượng và được đề cập trong các điều dưới đây:
\r\n\r\n- phê chuẩn chất lượng theo các điều khoản\r\ncủa IEC QC 001002-3, Điều 3;
\r\n\r\n- phê chuẩn năng lực theo các điều khoản của\r\nIEC QC 001002-3, Điều 4;
\r\n\r\n- phê chuẩn công nghệ theo các điều khoản của\r\nIEC QC 001002-3, Điều 6.
\r\n\r\nĐối với nhóm các linh kiện cho trước, yêu cầu\r\nkỹ thuật từng phần riêng rẽ để phê chuẩn chất lượng và phê chuẩn năng lực là\r\ncần thiết và do đó, phê chuẩn năng lực chỉ sẵn có khi đã có yêu cầu kỹ thuật từng\r\nphần riêng.
\r\n\r\nQ.1.1. Khả năng áp dụng phê chuẩn chất lượng
\r\n\r\nPhê chuẩn chất lượng thích hợp cho dãy các\r\nlinh kiện tiêu chuẩn được chế tạo theo cùng một thiết kế và quy trình sản xuất\r\nvà phù hợp với yêu cầu kỹ thuật cụ thể đã xuất bản.
\r\n\r\nChương trình của các thử nghiệm được xác định\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật cụ thể để đánh giá tính thích hợp và các mức tính năng\r\náp dụng trực tiếp cho dãy linh kiện đạt chất lượng, như mô tả ở Điều Q.5 và yêu\r\ncầu kỹ thuật từng phần liên quan.
\r\n\r\nQ.1.2. Khả năng áp dụng phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nPhê chuẩn năng lực thích hợp khi các linh\r\nkiện dựa theo quy tắc thiết kế thông dụng được chế tạo theo một nhóm các quy\r\ntrình thông dụng. Việc này đặc biệt thích hợp khi các linh kiện được chế tạo\r\ntheo các yêu cầu cụ thể của người sử dụng.
\r\n\r\nKhi phê chuẩn năng lực, các yêu cầu kỹ thuật\r\ncụ thể được chia làm ba mức.
\r\n\r\nQ.1.2.1. Linh kiện đạt tiêu chuẩn năng lực\r\n(CQC), kể cả phương tiện thử nghiệm quy trình hiệu lực
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật cụ thể phải được chuẩn bị\r\ncho từng CQC theo thỏa thuận với ban kiểm tra giám sát (NSI). Yêu cầu kỹ thuật\r\nnày phải nhận dạng mục đích của CQC và gồm có tất cả các mức khắc nghiệt và\r\ngiới hạn của thử nghiệm liên quan.
\r\n\r\nQ.1.2.2. Catalô tiêu chuẩn của linh kiện
\r\n\r\nKhi nhà chế tạo yêu cầu một linh kiện được\r\nphê chuẩn theo quy trình phê chuẩn năng lực được liệt kê trong danh sách phê\r\nchuẩn của IECQ, thì phải điền yêu cầu kỹ thuật cụ thể về phê chuẩn năng lực phù\r\nhợp với yêu cầu kỹ thuật cụ thể để trống. Các yêu cầu kỹ thuật này phải được\r\nđăng ký trong IECQ và linh kiện phải được liệt kê trong IEC QC 001005
Q.1.2.3. Linh kiện theo yêu cầu cụ thể của\r\nkhách hàng
\r\n\r\nNội dung của yêu cầu kỹ thuật cụ thể (thường\r\nđược xem là yêu cầu kỹ thuật cụ thể của khách hàng (CDS)) phải theo thoả thuận\r\ngiữa nhà chế tạo và khách hàng theo IEC QC 001002-3, 4.4.3.
\r\n\r\nCác thông tin khác về các yêu cầu kỹ thuật cụ\r\nthể này được nêu trong yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan.
\r\n\r\nViệc phê chuẩn được đưa ra cho phương tiện\r\nchế tạo dựa trên cơ sở các quy tắc thiết kế có hiệu lực, các quy trình đánh giá\r\nvà kiểm soát chất lượng và các kết quả thử nghiệm về linh kiện đạt tiêu chuẩn\r\nnăng lực kể cả các phương tiện thử nghiệm quy trình có hiệu lực. Xem Điều Q.6\r\nvà yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan để có thêm thông tin.
\r\n\r\nQ.1.3. Khả năng áp dụng phê chuẩn công nghệ
\r\n\r\nPhê chuẩn công nghệ thích hợp khi quy trình\r\ncông nghệ hoàn thiện (thiết kế, thực hiện quá trình, chế tạo sản phẩm, thử\r\nnghiệm và gửi hàng) bao trùm các khía cạnh chất lượng phổ biến cho tất cả các\r\nlinh kiện do công nghệ quy định.
\r\n\r\nQ.2. Giai đoạn đầu của quá trình chế tạo
\r\n\r\nGiai đoạn đầu của quá trình chế tạo phải được\r\nquy định trong yêu cầu kỹ thuật từng phần.
\r\n\r\nQ.3. Hợp đồng phụ
\r\n\r\nNếu sử dụng hợp đồng phụ ở giai đoạn đầu của\r\nquá trình chế tạo và/hoặc giai đoạn tiếp theo thì phải theo IEC QC 001002-3,\r\n4.2.2.
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật từng phần có thể hạn chế hợp\r\nđồng phụ, theo IEC QC 001002-3, 4.2.2.
\r\n\r\nQ.4. Các linh kiện tương tự về cấu trúc
\r\n\r\nViệc nhóm các linh kiện giống nhau về cấu\r\ntrúc để thử nghiệm phê chuẩn chất lượng hoặc thử nghiệm sự phù hợp chất lượng\r\ntrong phê chuẩn chất lượng, phê chuẩn chất lượng hoặc phê chuẩn công nghệ phải\r\nđược quy định trong yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan.
\r\n\r\nQ.5. Quy trình phê chuẩn chất lượng
\r\n\r\nQ.5.1. Tính thích hợp để được phê chuẩn chất\r\nlượng
\r\n\r\nNhà chế tạo phải tuân thủ theo IEC QC\r\n001002-3, 3.1.1.
\r\n\r\nQ.5.2. Đơn xin phê chuẩn chất lượng
\r\n\r\nNhà chế tạo phải tuân thủ theo IEC QC\r\n001002-3, 3.1.3.
\r\n\r\nQ.5.3. Quy trình thử nghiệm để được phê chuẩn\r\nchất lượng
\r\n\r\nPhải sử dụng một trong các quy trình dưới\r\nđây.
\r\n\r\na) nhà chế tạo phải có bằng chứng thử nghiệm\r\nchứng tỏ phù hợp với các yêu cầu quy định cho ba lô kiểm tra đối với kiểm tra\r\ntừng lô một được tiến hành trong thời gian ngắn nhất có thể và một lô đối với\r\nkiểm tra định kỳ. Quá trình chế tạo trong khoảng thời gian các lô được lấy kiểm\r\ntra không được có thay đổi đáng kể.
\r\n\r\nCác mẫu phải được lấy từ các lô phù hợp với\r\nIEC 60410 (xem Phụ lục A). Phải thực hiện kiểm tra bình thường, nhưng khi cỡ\r\nmẫu cần chấp nhận khuyết tật bằng không, thì các mẫu bổ sung phải được đưa đến\r\nđể đáp ứng các yêu cầu cỡ mẫu chấp nhận là một khuyết tật;
\r\n\r\nb) nhà chế tạo phải có bằng chứng thử nghiệm\r\nchứng tỏ phù hợp với yêu cầu kỹ thuật theo danh mục thử nghiệm cỡ mẫu không đổi\r\ncho trong yêu cầu kỹ thuật từng phần.
\r\n\r\nCác mẫu được lấy làm mẫu phải được chọn ngẫu nhiên\r\ntừ sản phẩm hiện có hoặc phải thỏa thuận với NSI.
\r\n\r\nĐối với cả hai quy trình này, cỡ mẫu và số\r\nlượng không phù hợp cho phép phải là tương tự nhau. Điều kiện thử nghiệm và yêu\r\ncầu thử nghiệm phải như nhau.
\r\n\r\nQ.5.4. Cấp phê chuẩn chất lượng
\r\n\r\nPhê chuẩn chất lượng phải được cấp khi quy\r\ntrình phù hợp với IEC QC 001002-3, 3.1.4 được thoả mãn hoàn toàn.
\r\n\r\nQ.5.5. Duy trì phê chuẩn chất lượng
\r\n\r\nPhê chuẩn chất lượng phải được duy trì bằng\r\ncách biểu thị sự phù hợp với các yêu cầu phù hợp chất lượng một cách thường\r\nxuyên (xem Q.5.6).
\r\n\r\nQ.5.6. Kiểm tra sự phù hợp chất lượng
\r\n\r\n(Các) yêu cầu kỹ thuật cụ thể để trống kèm\r\ntheo yêu cầu kỹ thuật từng phần phải quy định chương trình thử nghiệm để kiểm\r\ntra sự phù hợp chất lượng. Chương trình này cũng quy định lập nhóm, lấy mẫu và\r\ntính định kỳ đối với kiểm tra từng lô và kiểm tra định kỳ.
\r\n\r\nHoạt động của quy luật đóng cắt để giảm việc\r\nxem xét trong nhóm C là được phép cho tất cả các nhóm nhỏ trừ độ bền.
\r\n\r\nKế hoạch lấy mẫu và các mức kiểm tra phải\r\nđược chọn từ các kế hoạch và mức nêu trong IEC 60410 hoặc IEC 61193-2.
\r\n\r\nNếu cần, có thể quy định nhiều hơn một chương\r\ntrình.
\r\n\r\nQ.6. Quy trình phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nQ.6.1. Quy định chung
\r\n\r\nPhê chuẩn năng lực bao gồm:
\r\n\r\n- thiết kế hoàn thiện, chuẩn bị vật liệu và\r\nkỹ thuật chế tạo, kể cả quy trình điều khiển và các thử nghiệm;
\r\n\r\n- các giới hạn về tính năng yêu cầu cho quy\r\ntrình và sản phẩm, nghĩa là, các giới hạn được quy định cho các linh kiện để\r\nphê chuẩn năng lực (CQC) và các tham số điều khiển quá trình (PCP).
\r\n\r\n- dãy kết cấu cơ khí để cấp phê chuẩn chất\r\nlượng.
\r\n\r\nĐối với sơ đồ chung về phê chuẩn năng lực,\r\nxem Hình Q.1.
\r\n\r\n![](\"00912408_files/image034.gif\")
Q.6.2. Tính thích hợp để được phê chuẩn năng\r\nlực
\r\n\r\nNhà chế tạo phải tuân thủ các yêu cầu ở IEC\r\nQC 001002-3, 4.2.1.
\r\n\r\nQ.6.3. Nộp đơn xin phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nNhà chế tạo phải tuân thủ các yêu cầu ở IEC\r\nQC 001002-3, 4.2.4, và với các yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật từng phần liên\r\nquan.
\r\n\r\nQ.6.4. Mô tả năng lực
\r\n\r\nNăng lực phải được mô tả trong sổ tay năng\r\nlực theo IEC QC 001002-3, 4.2.5, và với các yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật từng\r\nphần liên quan. Sổ tay phải gồm có hoặc tham chiếu tới tối thiểu là các yêu cầu\r\nsau:
\r\n\r\n- giới thiệu chung và mô tả về công nghệ liên\r\nquan;
\r\n\r\n- khía cạnh liên lạc với khách hàng gồm có\r\ncác quy tắc thiết kế (nếu thích hợp) và hỗ trợ khách hàng khi trình bày các yêu\r\ncầu của họ;
\r\n\r\n- bản mô tả chi tiết các quy tắc thiết kế\r\nđược sử dụng;
\r\n\r\n- quy trình kiểm tra quy tắc thiết kế phù hợp\r\nvới công nghệ của linh kiện liên quan được chế tạo theo yêu cầu kỹ thuật cụ\r\nthể;
\r\n\r\n- danh mục tất cả các vật liệu được sử dụng,\r\nliên quan đến yêu cầu kỹ thuật mua hàng tương ứng và yêu cầu kỹ thuật về kiểm\r\ntra bên trong hàng hoá;
\r\n\r\n- biểu đồ toàn bộ quá trình, chỉ ra các điểm\r\nkiểm soát chất lượng và các vòng lặp cho phép và bao gồm tham chiếu đến tất cả\r\ncác quy trình chế biến và quy trình kiểm soát chất lượng;
\r\n\r\n- công bố các quy trình mà việc phê chuẩn cần\r\ntìm phù hợp với các yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan;
\r\n\r\n- công bố các giới hạn mà việc phê chuẩn cần\r\ntìm phù hợp với các yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan;
\r\n\r\n- danh mục CQC được sử dụng để đánh giá năng\r\nlực, với bản mô tả chung của từng CQC, có bảng chi tiết chỉ ra trong trường hợp\r\nnào các giới hạn công bố năng lực được chứng minh bởi thiết kế CQC riêng.
\r\n\r\n- yêu cầu kỹ thuật cụ thể của từng CQC;
\r\n\r\n- kế hoạch kiểm soát chi tiết, bao gồm PCP\r\nđược sử dụng cho các quy trình kiểm soát, có bản mô tả chung của từng PCP và\r\nchỉ ra mối quan hệ giữa PCP cho trước và các đặc tính liên quan và tính năng\r\ncủa linh kiện thành phẩm;
\r\n\r\n- hướng dẫn về áp dụng sự tương tự về kết cấu\r\ntrong việc lấy mẫu để thử nghiệm phù hợp chất lượng.
\r\n\r\nNSI phải coi sổ tay năng lực là một tài liệu\r\ntin cậy. Nhà chế tạo có thể công khai một phần hoặc tất cả sổ tay cho bên thứ\r\nba, nếu muốn.
\r\n\r\nQ.6.5. Chứng minh và kiểm tra năng lực
\r\n\r\nNhà chế tạo phải chứng minh và kiểm tra năng\r\nlực phù hợp với IEC QC 001002-3, 4.2.6 và các yêu cầu của yêu cầu kỹ thuật từng\r\nphần liên quan với thông tin chi tiết dưới đây.
\r\n\r\nQ.6.5.1. CQC để chứng minh năng lực
\r\n\r\nNhà chế tạo phải thoả thuận với NSI các thông\r\nsố đạt chất lượng quá trình và dãy các linh kiện đạt chất lượng năng lực cần\r\nthiết để chứng minh dãy năng lực trong sổ tay năng lực.
\r\n\r\nViệc chứng minh phải được thực hiện bằng thử\r\nnghiệm dãy CQC theo thoả thuận, được thiết kế, chế tạo và các tham số quá trình\r\nđược kiểm soát phù hợp với sổ tay năng lực. CQC phải phù hợp với các yêu cầu\r\ndưới đây:
\r\n\r\na) dãy CQC được sử dụng phải thể hiện tất cả\r\ncác giới hạn về năng lực công bố. CQC phải được chọn để chứng tỏ các phối hợp\r\ncác giới hạn đạt được lẫn nhau;
\r\n\r\nb) CQC phải là một trong các linh kiện sau:
\r\n\r\n- linh kiện được thiết kế đặc biệt để chứng\r\ntỏ phối hợp các giới hạn năng lực hoặc
\r\n\r\n- linh kiện có thiết kế được sử dụng trong\r\nchế tạo thông dụng hoặc
\r\n\r\n- phối hợp cả hai loại linh kiện trên, với\r\nđiều kiện là đáp ứng yêu cầu a).
\r\n\r\nKhi CQC được thiết kế và chế tạo đơn chiếc để\r\nphê chuẩn năng lực thì nhà chế tạo phải sử dụng các quy tắc thiết kế, vật liệu\r\nvà quy trình chế tạo giống như được áp dụng cho các sản phẩm được xuất xưởng.
\r\n\r\nYêu cầu kỹ thuật cụ thể phải được chuẩn bị\r\ncho từng CQC và trình bày trang đầu phải theo Phụ lục D. Yêu cầu kỹ thuật cụ\r\nthể phải nhận biết mục đích của CQC và phải gồm có tất cả các mức ứng suất liên\r\nquan và các giới hạn thử nghiệm. Yêu cầu kỹ thuật này có thể đề cập đến tài\r\nliệu kiểm soát nội bộ quy định thử nghiệm và ghi chép chế tạo để chứng minh\r\nviệc kiểm soát và bảo trì các quy trình và giới hạn năng lực.
\r\n\r\nQ.6.5.2. Giới hạn năng lực
\r\n\r\nCác giới hạn về năng lực phải được mô tả\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan.
\r\n\r\nQ.6.6. Chương trình phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nTheo IEC QC 001002-3, 4.2.6, nhà chế tạo phải\r\nchuẩn bị một chương trình để đánh giá năng lực công bố. Chương trình này phải\r\nđược thiết kế sao cho từng giới hạn năng lực công bố được kiểm chứng bởi CQC\r\nthích hợp.
\r\n\r\nChương trình này phải gồm có:
\r\n\r\n- một biểu đồ hoặc phương pháp khác chỉ ra thời\r\ngian biểu đề xuất để thực hành cho việc phê chuẩn;
\r\n\r\n- chi tiết về tất cả các CQC được sử dụng có\r\ntham chiếu đến các yêu cầu kỹ thuật cụ thể của chúng;
\r\n\r\n- sơ đồ chỉ ra tính chất cần chứng minh của\r\ntừng CQC;
\r\n\r\n- liên quan đến kế hoạch kiểm soát cần sử\r\ndụng cho kiểm soát quá trình.
\r\n\r\nQ.6.7. Báo cáo thử nghiệm phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nTheo IEC QC001002-3, 4.2.6.3, báo cáo thử\r\nnghiệm phê chuẩn năng lực phải được phát hành. Báo cáo này phải đáp ứng các yêu\r\ncầu cụ thể ở Phụ lục E của tiêu chuẩn này và phải có thông tin dưới đây:
\r\n\r\n- số hiệu và ngày ban hành của sổ tay năng\r\nlực;
\r\n\r\n- chương trình phê chuẩn năng lực phù hợp với\r\nQ.6.6;
\r\n\r\n- tất cả các kết quả thử nghiệm có được trong\r\nquá trình thực hiện chương trình;
\r\n\r\n- phương pháp thử nghiệm sử dụng;
\r\n\r\n- báo cáo các hành động thực hiện khi hỏng\r\nhóc (xem Q.6.10.1).
\r\n\r\nBáo cáo phải có chữ ký của trưởng đại diện\r\nđược chỉ định (DMR) để chứng thực các kết quả đạt được và nộp cho tổ chức có\r\ntrách nhiệm cấp phê chuẩn chất lượng được ấn định trong các quy tắc quốc gia.
\r\n\r\nQ.6.8. Bản tóm tắt mô tả năng lực
\r\n\r\nBản tóm tắt dự kiến để phát hành chính thức\r\ntrong IEC QC 0010052 sau khi cấp phê chuẩn năng lực. Bản tóm tắt phải gồm có\r\nbản mô tả ngắn gọn năng lực chế tạo và nêu thông tin đầy đủ về công nghệ, phương\r\npháp kết cấu và dãy sản phẩm mà nhà chế tạo được phê chuẩn.
\r\n\r\nQ.6.9. Sửa đổi có khả năng ảnh hưởng đến phê\r\nchuẩn năng lực
\r\n\r\nBất kỳ việc sửa đổi nào có khả năng ảnh hưởng\r\nđến phê chuẩn năng lực phải thỏa mãn các yêu cầu của IEC QC 001002-3, 4.2.11.
\r\n\r\nQ.6.10. Phê chuẩn năng lực ban đầu
\r\n\r\nPhê chuẩn được cấp khi:
\r\n\r\n- dãy CQC được chọn thoả mãn các yêu cầu đánh\r\ngiá chung của yêu cầu kỹ thuật cụ thể của CQC, với hạng mục không phù hợp cho\r\nphép;
\r\n\r\n- kế hoạch kiểm soát được thực hiện đầy đủ\r\ntrong hệ thống kiểm soát quá trình.
\r\n\r\nQ.6.10.1. Quy trình trong trường hợp không\r\nđạt
\r\n\r\nXem IEC QC 001002-3, 4.2.10, với chi tiết\r\ndưới đây.
\r\n\r\nTrong trường hợp các mẫu không đáp ứng các\r\nyêu cầu thử nghiệm thì nhà chế tạo phải thông báo cho NSI và phải chỉ ra dự\r\nđịnh của mình để thực hiện một trong các hành động mô tả ở a) và b) dưới đây.
\r\n\r\na) sửa đổi phạm vi đề xuất về năng lực;
\r\n\r\nb) tiến hành kiểm tra để thiết lập nguyên\r\nnhân không đạt do:
\r\n\r\n- không đạt thử nghiệm, ví dụ, thiết bị thử\r\nnghiệm không đạt hoặc sai lỗi của người vận hành;
\r\n\r\nhoặc
\r\n\r\n- thiết kế hoặc quy trình không đạt.
\r\n\r\n2 IEC QC 001005 đã hủy bỏ; xem www.iecq.org\\certificates\r\nđể có thông tin liên quan.
\r\n\r\nNếu nguyên nhân không đạt được phát hiện là\r\ndo chính thử nghiệm không đạt thì mẫu không đạt hoặc một mẫu mới, nếu thích\r\nhợp, phải được thử nghiệm lại theo chương trình thử nghiệm sau khi thực hiện hành\r\nđộng khắc phục cần thiết. Nếu sử dụng mẫu mới thì mẫu này phải chịu tất cả các\r\nthử nghiệm theo trình tự đã cho của (các) chương trình thử nghiệm thích hợp cho\r\nmẫu đã hỏng.
\r\n\r\nNếu nguyên nhân không đạt được thiết lập do\r\nthiết kế hoặc quy trình không đạt thì phải thực hiện chương trình thử nghiệm để\r\nchứng tỏ rằng nguyên nhân không đạt đã được xoá bỏ và tất cả các biện pháp khắc\r\nphục, kể cả tài liệu, đã được thực hiện. Khi đã hoàn thành việc này, trình tự\r\nthử nghiệm trong đó xuất hiện hỏng hóc phải được lặp lại đầy đủ sử dụng CQC\r\nmới.
\r\n\r\nSau khi đã thực hiện xong, nhà chế tạo phải\r\ngửi báo cáo cho NSI và phải kèm bản sao trong báo cáo thử nghiệm phê chuẩn năng\r\nlực (xem Q.6.7).
\r\n\r\nQ.6.10.2. Kế hoạch chung để chọn PCP và CQC
\r\n\r\nMỗi nhà chế tạo phải chuẩn bị một biểu đồ quá\r\ntrình, dựa trên ví dụ nêu trong yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan. Đối với\r\ntất cả các bước trong quá trình có trong biểu đồ của mình, nhà chế tạo phải kèm\r\ntheo các quy trình điều khiển quá trình tương ứng.
\r\n\r\nQuy trình điều khiển phải được nhà chế tạo\r\nchỉ ra như thể hiện trong ví dụ ở yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan.
\r\n\r\nQ.6.10.3. Kế hoạch thử nghiệm trong hệ thống\r\nkiểm soát quá trình
\r\n\r\nKế hoạch thử nghiệm phải tạo thành một phần\r\ncủa hệ thống kiểm soát quá trình do nhà chế tạo sử dụng. Khi sử dụng hệ thống kiểm\r\nsoát điều khiển quá trình bằng thống kê (SPC) phải thực hiện phù hợp với các\r\nyêu cầu cơ bản của SPC. Kế hoạch SPC thể hiện các quy trình kiểm soát bắt buộc\r\nở các giao điểm của quá trình.
\r\n\r\nĐối với từng bước quá trình sử dụng thiết bị\r\nsản xuất, nhà chế tạo phải theo dõi các tham số quá trình đều đặn và so sánh\r\ncác số đọc với các giới hạn điều khiển và hoạt động mà họ thiết lập.
\r\n\r\nQ.6.10.4. Kế hoạch thử nghiệm đối với CQC để\r\nchứng minh các giới hạn về năng lực
\r\n\r\nKế hoạch thử nghiệm CQC để chứng minh các\r\ngiới hạn về năng lực phải được quy định trong yêu cầu kỹ thuật từng phần liên\r\nquan.
\r\n\r\nQ.6.11. Cấp phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nPhê chuẩn năng lực được cấp khi thoả mãn hoàn\r\ntoàn các quy trình phù hợp với IEC QC 001002-3, 4.2.6 và đáp ứng các yêu cầu\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan.
\r\n\r\nQ.6.12. Duy trì phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nPhê chuẩn năng lực được duy trì bằng cách\r\ntuân thủ các yêu cầu của IEC 001002-3, 4.2.9, và với các yêu cầu được công bố\r\ntrong sổ tay năng lực và chương trình duy trì nêu trong yêu cầu kỹ thuật liên\r\nquan.
\r\n\r\nNgoài ra, áp dụng các chi tiết dưới đây:
\r\n\r\na) phê chuẩn năng lực giữ hiệu lực mà không\r\nphải thử nghiệm lại trong hai năm;
\r\n\r\nb) chương trình để thử nghiệm lại của CQC\r\nphải được nhà chế tạo quy định. Đối với quy trình điều khiển quá trình, nhà chế\r\ntạo phải thiết lập hệ thống điều khiển. Ví dụ về biểu đồ chương trình điều\r\nkhiển có thể được nêu trong yêu cầu kỹ thuật từng phần. Để chứng minh các giới\r\nhạn về năng lực, nhà chế tạo phải đảm bảo rằng tất cả các kế hoạch thử nghiệm ở\r\nQ.6.10.4 liên quan đến phê chuẩn năng lực của mình được lặp lại ít nhất hai năm\r\nmột lần.
\r\n\r\nc) kiểm tra sự phù hợp chất lượng của các\r\nlinh kiện để tiêu thụ có thể được sử dụng để hỗ trợ việc duy trì phê chuẩn năng\r\nlực khi có liên quan. Nói chung, trong trường hợp nhà chế tạo giữ phê chuẩn năng\r\nlực cho một dãy các linh kiện được chế tạo theo các quá trình giống nhau và\r\ncũng rơi vào các giới hạn năng lực mà nhà chế tạo giữ phê chuẩn năng lực, các\r\nkết quả thử nghiệm quy trình điều khiển quá trình và các kết quả của thử nghiệm\r\nsự phù hợp chất lượng định kỳ nảy sinh từ phê chuẩn chất lượng có thể được sử\r\ndụng để hỗ trợ việc duy trì phê chuẩn năng lực;
\r\n\r\nd) nhà chế tạo phải đảm bảo rằng dãy CQC vẫn\r\nlà đại diện của các sản phẩm xuất xưởng và phù hợp với các yêu cầu của yêu cầu\r\nkỹ thuật từng phần liên quan;
\r\n\r\ne) nhà chế tạo phải duy trì sản xuất, để
\r\n\r\n- các quá trình quy định trong sổ tay năng\r\nlực, trừ các điều bổ sung hoặc lược bỏ theo thoả thuận với NSI sau quy trình ở\r\nQ.6.9, phải duy trì không đổi;
\r\n\r\n- không thay đổi nơi chế tạo, và thử nghiệm\r\nkết thúc;
\r\n\r\n- việc sản xuất của nhà chế tạo không ngừng\r\nquá sáu tháng trong trường hợp có phê chuẩn năng lực;
\r\n\r\nf) nhà chế tạo phải duy trì báo cáo sự tiến\r\ntriển của việc duy trì chương trình năng lực để bất kỳ thời điểm nào, các giới\r\nhạn về năng lực đã được chứng minh và các giới hạn về năng lực đang chờ để\r\nchứng minh trong thời gian quy định có thể được thiết lập.
\r\n\r\nQ.6.13. Gia hạn phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nNhà chế tạo có thể gia hạn các giới hạn phê\r\nchuẩn năng lực của mình bằng cách tiến hành kế hoạch thử nghiệm từ Q.6.10.4,\r\nliên quan đến kiểu giới hạn cần gia hạn. Nếu gia hạn đề xuất liên quan đến kiểu\r\ngiới hạn khác với các giới hạn quy định ở Q.6.10.4 thì nhà chế tạo phải đề xuất\r\nlấy mẫu và các thử nghiệm cần sử dụng và việc này phải được NSI phê chuẩn. Nhà\r\nchế tạo cũng phải thiết lập quy trình điều khiển quá trình cho bất kỳ quá trình\r\nmới nào cần thiết để chế tạo đến giới hạn mới.
\r\n\r\nĐơn xin gia hạn năng lực phải được thực hiện\r\ntheo cách giống như phê chuẩn ban đầu.
\r\n\r\nQ.6.14. Kiểm tra phù hợp chất lượng
\r\n\r\nCác yêu cầu thử nghiệm sự phù hợp chất lượng\r\nđược nêu trong yêu cầu kỹ thuật chi tiết và phải được tiến hành phù hợp với IEC\r\nQC 001002-3, 4.3.1.
\r\n\r\nQ.7. Gia công lại và sửa chữa
\r\n\r\nQ.7.1. Gia công lại
\r\n\r\nKhông được gia công lại, được định nghĩa\r\ntrong IEC QC 001002-3, 4.1.4, nếu yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan không\r\ncho phép. Yêu cầu kỹ thuật từng phần liên quan phải chỉ ra nếu có hạn chế về số\r\ncơ hội có thể thực hiện gia công lại trên một linh kiện cụ thể.
\r\n\r\nTất cả việc gia công lại phải được thực hiện\r\ntrước khi hình thành lô kiểm tra để kiểm tra theo các yêu cầu của yêu cầu kỹ\r\nthuật cụ thể.
\r\n\r\nCác quy trình gia công lại này phải được mô\r\ntả đầy đủ trong tài liệu liên quan do nhà chế tạo thiết lập và phải được tiến\r\nhành với sự kiểm soát trực tiếp của DMR. Việc gia công lại không có trong hợp\r\nđồng phụ.
\r\n\r\nQ.7.2. Sửa chữa
\r\n\r\nLinh kiện cần sửa chữa như định nghĩa trong\r\nIEC QC 001002-3, 4.1.5 không được xuất xưởng theo hệ thống IECQ.
\r\n\r\nQ.8. Xuất xưởng để tiêu thụ
\r\n\r\nCác linh kiện phải được xuất xưởng để tiêu\r\nthụ theo Q.5.6 và IEC QC 001002-3, 4.3.2, sau khi thực hiện kiểm tra sự phù hợp\r\nchất lượng được quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nQ.8.1. Xuất xưởng để tiêu thụ khi có phê chuẩn\r\nchất lượng trước khi hoàn thành các thử nghiệm nhóm B
\r\n\r\nKhi các điều kiện ở IEC 60410 để thay đổi\r\nviệc kiểm tra giảm lược được thoả mãn cho tất cả các thử nghiệm nhóm B thì nhà\r\nchế tạo được phép xuất xưởng các linh kiện trước khi hoàn thành các thử nghiệm\r\nnày.
\r\n\r\nQ.9. Báo cáo thử nghiệm được chứng nhận về\r\ncác lô hàng đã xuất xưởng
\r\n\r\nKhi người mua yêu cầu báo cáo thử nghiệm được\r\nchứng nhận thì phải có trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nCHÚ THÍCH: Đối với phê chuẩn năng lực, báo\r\ncáo thử nghiệm được chứng nhận chỉ đề cập đến các thử nghiệm được tiến hành\r\ntrên các linh kiện đạt tiêu chuẩn năng lực.
\r\n\r\nQ.10. Tiêu thụ trễ
\r\n\r\nCác linh kiện đã lưu giữ quá 2 năm (nếu không\r\ncó quy định nào khác trong yêu cầu kỹ thuật từng phần), kể từ khi xuất xưởng lô\r\nhàng, trước khi tiêu thụ, phải kiểm tra lại năng lực hàn và các đặc tính điện\r\nnhư quy định trong yêu cầu kỹ thuật cụ thể.
\r\n\r\nQuy trình kiểm tra lại, do Trưởng Ban kiểm\r\ntra của nhà chế tạo lựa chọn, phải được Ban kiểm tra giám sát Quốc gia phê\r\nchuẩn.
\r\n\r\nKhi lô hàng thoả mãn các yêu cầu kiểm tra lại\r\nthì chất lượng phải được đảm bảo trong một khoảng thời gian quy định.
\r\n\r\nQ.11. Phương pháp thử nghiệm thay thế
\r\n\r\nXem IEC QC 001002-3, 3.2.3.7, với chi tiết\r\ndưới đây.
\r\n\r\nTrong trường hợp có tranh chấp, chỉ các\r\nphương pháp được quy định mới là phương pháp trọng tài.
\r\n\r\nQ.12. Chế tạo bên ngoài các giới hạn địa lý\r\ncủa IECQ NSI
\r\n\r\nNhà chế tạo có thể gia hạn phê chuẩn của họ\r\nđể bao trùm một phần hoặc hoàn toàn linh kiện được chế tạo trong nhà máy của\r\ncông ty đặt tại một quốc gia không có NSI cho lĩnh vực công nghệ liên quan, mặc\r\ndù đất nước này là một nước thành viên IECQ hoặc không phải, miễn là đáp ứng\r\ncác yêu cầu của IEC QC 001002-3, 2.5.1.3.
\r\n\r\nQ.13. Thông số không kiểm tra
\r\n\r\nChỉ những thông số của linh kiện được cho\r\ntrong yêu cầu kỹ thuật cụ thể và đã trải qua các thử nghiệm mới được coi là nằm\r\ntrong giới hạn quy định. Không được coi một thông số bất kỳ không được quy định\r\nlà không thay đổi giữa linh kiện này với linh kiện khác. Nếu vì một lý do nào\r\nđó, khi một hoặc nhiều thông số khác cần được khống chế thì phải dùng một yêu\r\ncầu kỹ thuật mới, mở rộng hơn.
\r\n\r\nMột hoặc nhiều phương pháp thử bổ sung được\r\nmô tả đầy đủ, các giới hạn thích hợp, mức phê chuẩn chất lượng và mức kiểm tra\r\nphải được quy định.
\r\n\r\nQ.14. Quy trình phê chuẩn công nghệ
\r\n\r\nQ.14.1. Quy định chung
\r\n\r\nPhê chuẩn công nghệ của linh kiện bao trùm\r\nquá trình công nghệ hoàn thiện. Nó mở rộng nội dung sẵn có - phê chuẩn chất\r\nlượng và phê chuẩn năng lực - để thêm vào là điều kiện bắt buộc:
\r\n\r\na) sử dụng phương pháp kiểm soát trong quá\r\ntrình, ví dụ, SPC;
\r\n\r\nb) chiến lược cải tiến chất lượng liên tục;
\r\n\r\nc) giám sát công nghệ và hoạt động tổng thể;
\r\n\r\nd) tính linh hoạt của quy trình do hệ thống\r\nquản lý đảm bảo chất lượng và các yêu cầu của khu vực thị trường;
\r\n\r\ne) chấp nhận tài liệu hoạt động của nhà chế\r\ntạo để cung cấp phương tiện phê chuẩn nhanh hoặc gia hạn phê chuẩn.
\r\n\r\nQ.14.2. Tính thích hợp để phê chuẩn công nghệ
\r\n\r\nNhà chế tạo phải tuân thủ QC 001002-3, 6.2.1.
\r\n\r\nQ.14.3. Nộp đơn xin phê chuẩn công nghệ
\r\n\r\nNhà chế tạo phải tuân thủ QC 001002-3, 6.2.2.
\r\n\r\nQ.14.4. Mô tả công nghệ
\r\n\r\nCông nghệ phải được mô tả trong tài liệu công\r\nbố phê chuẩn công nghệ (TADD) và chương trình phê chuẩn công nghệ (TAS) phù hợp\r\nvới QC 001002-3, 6.4.
\r\n\r\nQ.14.5. Chứng minh và kiểm tra công nghệ
\r\n\r\nNhà chế tạo phải chứng minh và kiểm tra công\r\nnghệ phù hợp với QC 001002-3, 6.4 và 6.5.
\r\n\r\nQ.14.6. Cấp phê chuẩn công nghệ
\r\n\r\nPhê chuẩn công nghệ phải được cấp khi các quy\r\ntrình phù hợp với QC 001002-3, 6.7.3 đã được thỏa mãn hoàn toàn.
\r\n\r\nQ.14.7. Duy trì phê chuẩn công nghệ
\r\n\r\nPhê chuẩn công nghệ phải được duy trì bằng\r\nviệc tuân thủ các yêu cầu ở QC 001002-3, 6.7.5.
\r\n\r\nQ.14.8. Kiểm tra sự phù hợp chất lượng
\r\n\r\nThử nghiệm và các yêu cầu phù hợp chất lượng\r\nphải được tiến hành theo yêu cầu kỹ thuật cụ thể liên quan và chương trình phê\r\nchuẩn công nghệ.
\r\n\r\nQ.14.9. Xác định mức tỷ lệ không đạt
\r\n\r\nViệc xác định mức tỷ lệ không đạt và chứng\r\nnhận phải được quy định trong yêu cầu kỹ thuật liên quan.
\r\n\r\nQ.14.10. Mức chất lượng sắp hết hạn
\r\n\r\nViệc xác định phải được thoả thuận giữa khách\r\nhàng và nhà chế tạo.
\r\n\r\n\r\n\r\n
Lời nói đầu
\r\n\r\n1. Quy định chung
\r\n\r\n1.1. Phạm vi áp dụng
\r\n\r\n1.2. Tài liệu viện dẫn
\r\n\r\n2. Dữ liệu kỹ thuật
\r\n\r\n2.1. Đơn vị và ký hiệu
\r\n\r\n2.2. Thuật ngữ và định nghĩa
\r\n\r\n2.3. Giá trị ưu tiên
\r\n\r\n2.4. Ghi nhãn
\r\n\r\n3. Quy trình đánh giá chất lượng
\r\n\r\n4. Quy trình thử nghiệm và đo
\r\n\r\n4.1. Quy định chung
\r\n\r\n4.2. Điều kiện khí quyển tiêu chuẩn
\r\n\r\n4.3. Làm khô
\r\n\r\n4.4. Kiểm tra bằng cách xem xét và kiểm tra\r\nkích thước
\r\n\r\n4.5. Điện trở cách điện
\r\n\r\n4.6. Chịu điện áp
\r\n\r\n4.7. Điện dung
\r\n\r\n4.8. Tang của góc tổn hao và điện trở nối\r\ntiếp tương đương (ESR)
\r\n\r\n4.9. Dòng điện rò
\r\n\r\n4.10. Trở kháng
\r\n\r\n4.11. Tần số hoặc điện cảm cộng hưởng riêng
\r\n\r\n4.12. Điểm nối bản cực kim loại ngoài
\r\n\r\n4.13. Độ vững chắc của các chân
\r\n\r\n4.14. Khả năng chịu nhiệt hàn
\r\n\r\n4.15. Khả năng hàn
\r\n\r\n4.16. Thay đổi nhanh nhiệt độ
\r\n\r\n4.17. Rung
\r\n\r\n4.18. Va đập
\r\n\r\n4.19. Xóc
\r\n\r\n4.20. Độ kín của vỏ
\r\n\r\n4.21. Trình tự theo khí hậu
\r\n\r\n4.22. Nóng ẩm không đổi
\r\n\r\n4.23. Độ bền
\r\n\r\n4.24. Sự thay đổi điện dung theo nhiệt độ
\r\n\r\n4.25. Bảo quản
\r\n\r\n4.26. Quá áp
\r\n\r\n4.27. Thử nghiệm nạp điện và phóng điện
\r\n\r\n4.28. Giảm áp suất (đối với tụ điện phân)
\r\n\r\n4.29. Các đặc tính ở nhiệt độ cao và nhiệt độ\r\nthấp
\r\n\r\n4.30. Thử nghiệm ổn định nhiệt
\r\n\r\n4.31. Khả năng chịu dung môi của linh kiện
\r\n\r\n4.32. Khả năng chịu dung môi của nhãn
\r\n\r\n4.33. Lắp đặt (chỉ đối với tụ điện chíp)
\r\n\r\n4.34. Độ bám chắc
\r\n\r\n4.35. Thử nghiệm uốn chất nền
\r\n\r\n4.36. Sự hấp thụ điện môi
\r\n\r\n4.37. Nóng ẩm gia tốc không đổi (chỉ đối với\r\ntụ sứ nhiều lớp)
\r\n\r\n4.38. Khả năng cháy thụ động
\r\n\r\n4.39. Thử nghiệm quá dòng cao
\r\n\r\n4.40. Quá tải ở điện áp quá độ (đối với tụ\r\nđiện phân nhôm có chất điện phân không thuộc loại rắn)
\r\n\r\nPhụ lục A (quy định) - Giải thích kế hoạch\r\nlấy mẫu và các quy trình như quy định trong IEC 60410 sử dụng trong hệ thống\r\nIECQ
\r\n\r\nPhụ lục B (quy định) - Nguyên tắc soạn thảo\r\ncác yêu cầu kỹ thuật cụ thể của các điện trở và tụ điện dùng trong các thiết bị\r\nđiện tử để sử dụng trong hệ thống IECQ
\r\n\r\nPhụ lục C (quy định) - Trình bày trang đầu\r\ncủa yêu cầu kỹ thuật PCP/CQC
\r\n\r\nPhụ lục D (quy định) - Yêu cầu đối với hồ sơ\r\nthử nghiệm phê chuẩn năng lực
\r\n\r\nPhụ lục E (tham khảo) - Hướng dẫn đối với thử\r\nnghiệm xung của tụ điện
\r\n\r\nPhụ lục F (tham khảo) - Hướng dẫn đối với kéo\r\ndài các thử nghiệm độ bền trên tụ điện cố định
\r\n\r\nPhụ lục G (quy định) - Nóng ẩm, không đổi có\r\nđặt điện áp, chỉ đối với tụ điện màng kim loại
\r\n\r\nPhụ lục Q (quy định) - Quy trình đánh giá\r\nchất lượng
\r\n\r\n\r\n\r\n
\r\n\r\n
1
File gốc của Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6749-1:2009 (IEC 60384-1 : 2008) về Tụ điện không đổi dùng trong thiết bị điện tử – Phần 1: Yêu cầu kỹ thuật chung đang được cập nhật.
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6749-1:2009 (IEC 60384-1 : 2008) về Tụ điện không đổi dùng trong thiết bị điện tử – Phần 1: Yêu cầu kỹ thuật chung
Tóm tắt
| Cơ quan ban hành | Đã xác định |
| Số hiệu | TCVN6749-1:2009 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 2009-01-01 |
| Ngày hiệu lực | |
| Lĩnh vực | Xây dựng - Đô thị |
| Tình trạng | Còn hiệu lực |